JPH0654223B2 - Printed circuit board soldering inspection apparatus and inspection method thereof - Google Patents

Printed circuit board soldering inspection apparatus and inspection method thereof

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JPH0654223B2
JPH0654223B2 JP63171667A JP17166788A JPH0654223B2 JP H0654223 B2 JPH0654223 B2 JP H0654223B2 JP 63171667 A JP63171667 A JP 63171667A JP 17166788 A JP17166788 A JP 17166788A JP H0654223 B2 JPH0654223 B2 JP H0654223B2
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JP
Japan
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image
wiring pattern
bridge
threshold value
wiring board
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芳弘 森
方大 松山
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日本電装株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、回路素子が実装された印刷配線基板のはんだ
付状態を検査する印刷配線基板のはんだ付検査装置及び
その検査方法に関し、詳しくは印刷配線基板のランド間
に生じるはんだのブリッジを検査する装置及びその検査
方法に関するものである。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a printed wiring board soldering inspection apparatus and inspection method for inspecting a soldered state of a printed wiring board on which circuit elements are mounted. The present invention relates to an apparatus and method for inspecting a solder bridge generated between lands of a printed wiring board.

[従来の技術] 印刷配線基板に回路素子をはんだ付する場合に、印刷配
線基板のランド間にはんだのブリッジが生じることがあ
る。このような不良を皆無とすることは難しく、従来
は、例えば特開昭62−299709号に如く、まず回
路素子が実装された印刷配線基板を工業用テレビカメラ
等で撮像し、この撮像画像を所定の閾値で2値化して、
ブリッジの検出に用いる2値画像を作成していた。即
ち、ブリッジを形成するはんだの部分が他の部分より強
い反射光となるので、反射光の強い高輝度部分とそれよ
り反射光の弱い低輝度部分とを所定の閾値で区分して2
値画像を作成していた。そして、その2値画像に基づい
てはんだ部分のみを抽出し、はんだ部分の面積の値の変
化によってブリッジの有無を検出していた。
[Prior Art] When soldering a circuit element to a printed wiring board, a solder bridge may occur between lands of the printed wiring board. It is difficult to eliminate such defects, and conventionally, for example, as in JP-A-62-299709, a printed wiring board on which a circuit element is mounted is first imaged by an industrial television camera or the like, and this image is taken. Binarize with a predetermined threshold,
A binary image used to detect the bridge was created. That is, since the solder portion forming the bridge has a stronger reflected light than the other portions, a high-luminance portion having a strong reflected light and a low-luminance portion having a weaker reflected light are divided by a predetermined threshold value.
I was creating a value image. Then, only the solder portion is extracted based on the binary image, and the presence or absence of the bridge is detected by the change in the value of the area of the solder portion.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、印刷配線基板上に形成されたブリッジの
幅がテレビカメラの画素より太い場合には、ブリッジは
高輝度部分と判別されて2値画像上にその画像を得るこ
とができるが、ブリッジの幅が1画素の幅より細い場合
には、ブリッジで反射する強い光と基板で反射する弱い
光が、1画素で一緒に受光されて低輝度部分と判断され
てしまい、その結果、ブリッジが2値画像上に現れない
ので、ブリッジは無いと誤判定されるという課題が生じ
ていた。
[Problems to be Solved by the Invention] However, when the width of the bridge formed on the printed wiring board is thicker than the pixel of the television camera, the bridge is determined to be a high-intensity portion and the image is displayed on the binary image. Although it can be obtained, when the width of the bridge is narrower than the width of one pixel, the strong light reflected by the bridge and the weak light reflected by the substrate are received together by one pixel and are judged to be the low brightness portion. As a result, since the bridge does not appear on the binary image, there is a problem that it is erroneously determined that there is no bridge.

この対策として、撮像する対象レンズ等で拡大して分解
能を高めることが考えられるが、この場合には処理すべ
きデータが分解能の2乗に比例して増加するために、検
査時間が長くなって検査の高速化が図れないという別の
問題が生じていた。一方、ブリッジを検出する閾値を低
下させる場合には、細いブリッジとともに反射光の弱い
配線パターンも高輝度部分と判断されて2値画像上に現
れるので、配線パターンがランドから伸びるリード線と
重なる場合にはブリッジと誤判定されてしまうという問
題が生じ、いずれの対策も上記課題の解決には至らなか
った。
As a countermeasure against this, it is conceivable to increase the resolution by enlarging with a target lens to be imaged, but in this case, the data to be processed increases in proportion to the square of the resolution, so that the inspection time becomes long. Another problem was that the inspection could not be speeded up. On the other hand, when the threshold value for detecting a bridge is lowered, a wiring pattern with weak reflected light is also judged to be a high-luminance portion along with a thin bridge and appears on the binary image, so that the wiring pattern overlaps the lead wire extending from the land. Has a problem of being erroneously determined to be a bridge, and none of the measures has solved the above problem.

本発明は、データ量を増やすことなく検査の高速化を図
るとともに、更に容易かつ的確にブリッジを検出するこ
とを目的とする。
An object of the present invention is to speed up inspection without increasing the amount of data and to detect a bridge more easily and accurately.

[課題を解決するための手段] 上記課題を解決するためになされた請求項1の発明は、 配線パターンが形成された基板上のランドに回路素子を
はんだ付する際に、該ランド間に発生するはんだのブリ
ッジを検出する印刷配線基板のはんだ付検査装置であっ
て、 上記回路素子がはんだ付された印刷配線基板に光を照射
し、その反射光を受光することにより上記印刷配線基板
を撮像する撮像装置と、 該撮像装置で撮像した画像の2値化に用いる閾値として
は、はんだ部分及び配線パターンの反射光の強い高輝度
部分とそれ以外の基板部分の反射光の弱い低輝度部分と
に区別する閾値を設定する閾値設定手段と、 該閾値設定手段によって設定された閾値に基づいて、上
記撮像装置で撮像した画像を2値化して2値画像を出力
する2値画像作成手段と、 上記配線パターンを記憶するとともに、この配線パター
ンのうち所定のランド間を限定配線パターンとして記憶
する配線パターン記憶手段と、 該配線パターン記憶手段によって記憶した配線パターン
及び限定配線パターンに基づいて、上記2値画像作成手
段によって作成した画像から、上記限定配線パターン以
外の配線パターンを取り除いた判別画像を作成する判別
画像作成手段と 該判別画像作成手段によって作成した判別画像に基づい
て、ブリッジの検出を行うブリッジ検出手段と、 を備えたことを特徴とする印刷配線基板のはんだ付検査
装置を要旨とする。
[Means for Solving the Problems] The invention according to claim 1 made to solve the above problems is generated between lands when a circuit element is soldered to lands on a substrate on which a wiring pattern is formed. A soldering inspection device for a printed wiring board, which detects a solder bridge, wherein the printed wiring board on which the circuit element is soldered is irradiated with light and the reflected light is received to image the printed wiring board. And a threshold value used for binarizing an image captured by the imaging device, a high brightness portion where the reflected light of the solder portion and the wiring pattern is strong and a low brightness portion where the reflected light of the other substrate portion is weak. A threshold value setting means for setting a threshold value for discriminating between the two, and a binary image creator for binarizing the image picked up by the image pickup device based on the threshold value set by the threshold value setting means and outputting a binary image. And a wiring pattern storage means for storing the wiring pattern and for storing a predetermined land among the wiring patterns as a limited wiring pattern, and based on the wiring pattern and the limited wiring pattern stored by the wiring pattern storage means, A bridge image is detected based on a discrimination image creating unit that creates a discrimination image in which a wiring pattern other than the limited wiring pattern is removed from the image created by the binary image creating unit, and a discrimination image created by the discrimination image creating unit. A gist is a soldering inspection device for a printed wiring board, which comprises:

請求項2の発明は 配線パターンが形成された基板上のランドに回路素子を
はんだ付する際に、該ランド間に発生するはんだのブリ
ッジを検出する印刷配線基板のはんだ付検査方法であっ
て、 上記回路素子がはんだ付された印刷配線基板に光を照射
し、その反射光を受光して撮像し、 上記はんだ部分及び配線パターンの反射光の強い高輝度
部分とそれ以外の基板部分の反射光の弱い低輝度部分と
を区別する閾値を用いて、上記撮像した画像を2値化し
て2値画像を形成し、 この2値画像の配線パターンのうち、所定のランド間に
位置する部分以外を低輝度部分として処理してブリッジ
の判別画像を形成し、この判別画像に基づいてブリッジ
を検出することを特徴とする印刷配線基板のはんだ付検
査方法を要旨とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a soldering inspection method for a printed wiring board, which detects a bridge of solder generated between the lands when the circuit element is soldered to the lands on the board on which the wiring pattern is formed, The printed wiring board to which the circuit element is soldered is irradiated with light, the reflected light is received and imaged, and the high-brightness portion where the reflected light of the solder portion and the wiring pattern is strong and the reflected light of the other substrate portion The captured image is binarized to form a binary image by using a threshold value for distinguishing from a low-luminance portion having weak intensity, and a portion other than a portion located between predetermined lands in the wiring pattern of the binary image is formed. A soldering inspection method for a printed wiring board is characterized in that a bridge discrimination image is formed by processing as a low-luminance portion and the bridge is detected based on the discrimination image.

[作用] 本発明は、撮像装置によって、照射した光の反射光を受
光することにより、回路素子がはんだ付された印刷配線
基板を撮像する。そして、撮像した画像を閾値を用いて
2値化するが、この2値化に用いる閾値を、はんだ部分
及び配線パターンの反射光の強い高輝度部分と、それ以
外の基板部分の反射光の弱い低輝度部分とに分ける値に
設定する。従って、この閾値を用いて2値化することに
より、はんだ部分及び配線パターンと、それ以外の基板
部分とが明瞭に区分された2値画像が得られる。そし
て、この2値画像から所定のランド間の限定配線パター
ン以外の配線パターンを取り除いて判定画像を形成す
る。この処理によって、ブリッジが存在する場合には、
判別画像上にランド間を接続した状態のブリッジの画像
が得られるので、この判別画像に基づいてブリッジを検
出することができる。
[Operation] According to the present invention, the reflected light of the emitted light is received by the image pickup device to image the printed wiring board to which the circuit element is soldered. Then, the captured image is binarized by using a threshold value. The threshold value used for the binarization is set to a high brightness portion where the reflected light of the solder portion and the wiring pattern is strong, and a reflected light of the other substrate portion where the reflected light is weak. Set it to a value that is divided into the low-intensity part. Therefore, by binarizing using this threshold value, a binary image in which the solder portion and the wiring pattern and the other substrate portion are clearly separated can be obtained. Then, a wiring pattern other than the limited wiring pattern between the predetermined lands is removed from this binary image to form a determination image. By this process, if a bridge exists,
Since the image of the bridge in which the lands are connected is obtained on the discrimination image, the bridge can be detected based on the discrimination image.

すなわち、画像を2値化する際の閾値を下げると、1画
素以下の細いはんだのブリッジも検出されるが、これと
同時に配線パターンも検出されてしまいブリッジの検出
の支障となる。しかし本発明では、配線パターンのうち
所定のランド間以外を画像から除去しているので、実質
的にランド間のブリッジの発生し易い部分だけの閾値を
下げて検出していることになるので、細いブリッジの検
出も可能になる。
That is, if the threshold for binarizing an image is lowered, a thin solder bridge of 1 pixel or less is detected, but at the same time, a wiring pattern is also detected, which hinders the detection of the bridge. However, in the present invention, since portions other than the predetermined lands in the wiring pattern are removed from the image, it means that the threshold value of only the portion where the bridge between the lands is likely to occur is lowered and detected. It also enables the detection of thin bridges.

[実施例] 以下、本発明の好適な実施例を図面に基づいて説明す
る。
[Embodiment] A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は、本発明の一実施例としての印刷配線基板のは
んだ付検査装置の概略構成図である。本実施例の検査装
置は、回路素子1がはんだ付された印刷配線基板2の表
面の画像を画像信号に変換する画像入力系5と、この画
像信号に基づいて印刷配線基板2のはんだ付状態を認識
する画像処理系7とから構成される。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a printed wiring board soldering inspection apparatus as an embodiment of the present invention. The inspection apparatus of this embodiment includes an image input system 5 for converting an image of the surface of the printed wiring board 2 to which the circuit element 1 is soldered into an image signal, and a soldering state of the printed wiring board 2 based on the image signal. And an image processing system 7 for recognizing.

ここで、検査対象となる印刷配線基板2には、第2図に
示すように、印刷配線基板2のランド10に、回路素子
1のリード線12が挿入され、はんだ14によって固定
されている。本実施例の検査装置は、ランド10の間に
形成されるはんだ14のブリッジを検出するものであ
る。
Here, on the printed wiring board 2 to be inspected, as shown in FIG. 2, the lead wire 12 of the circuit element 1 is inserted into the land 10 of the printed wiring board 2 and fixed by the solder 14. The inspection apparatus of the present embodiment detects the bridge of the solder 14 formed between the lands 10.

第1図において、まず画像入力系5は、印刷配線基板2
の斜め下方に印刷配線基板2を取り囲んで配置された拡
散照明装置21と、印刷配線基板2および照明装置21
を覆うように設けられたドーム状の拡散反射板23と、
拡散反射板23の頂点の窓24の上方に設けられた工業
用テレビカメラ26とを備えている。
In FIG. 1, first, the image input system 5 is the printed wiring board 2
A diffused lighting device 21 arranged obliquely below and surrounding the printed wiring board 2, and the printed wiring board 2 and the lighting device 21.
A dome-shaped diffuse reflection plate 23 provided so as to cover the
An industrial television camera 26 provided above the window 24 at the top of the diffuse reflection plate 23.

拡散反射板23は、外乱光を遮断するとともに照明装置
21からの光を反射して均一な拡散光を印刷配線基板2
の表面に照射する。そして、印刷配線基板2からの反射
光は窓24を通って工業用テレビカメラ26の撮像レン
ズ27に入射される。工業用テレビカメラ26は印刷配
線基板2の画像を画像信号に変換して画像処理系7へ出
力する。
The diffuse reflection plate 23 shields ambient light and reflects the light from the lighting device 21 to generate uniform diffused light.
Irradiate the surface of. Then, the reflected light from the printed wiring board 2 enters the imaging lens 27 of the industrial television camera 26 through the window 24. The industrial television camera 26 converts the image on the printed wiring board 2 into an image signal and outputs it to the image processing system 7.

次に、画像処理系7は、画像信号を2値化して2値画像
を形成する2値化部31と、この2値画像を修正する配
線パターン除去部32と、その配線パターン除去部32
からの出力に基づいて画像処理を行う処理部34とを備
えている。更に、画像信号を2値化する際の閾値を定め
るヒストグラム作成部38,配線パターン除去部32で
の処理に用いる配線パターン等を記憶する配線パターン
記憶部35,及び印刷配線基板2のランドの形状パター
ン(ランドパターン)を記憶するランドパターン記憶部
40を備えている。
Next, the image processing system 7 binarizes the image signal to form a binary image, a binarizing unit 31, a wiring pattern removing unit 32 that corrects the binary image, and the wiring pattern removing unit 32.
And a processing unit 34 that performs image processing based on the output from the. Furthermore, a histogram creation unit 38 that determines a threshold value when binarizing an image signal, a wiring pattern storage unit 35 that stores a wiring pattern used for processing in the wiring pattern removal unit 32, and a land shape of the printed wiring board 2 A land pattern storage unit 40 that stores a pattern (land pattern) is provided.

上記ヒストグラム作成部38は、画素の明るさのヒスト
グラムを作成した後、画像信号を2値化する際の閾値T
を定め、2値化部31へ出力するものである。即ち、第
3図のヒストグラムに示すように画素の明るさは明るい
順に、1画素以上のはんだ14やリード線12を示す部
分(第1明部)LS1,配線パターン及び1画素以下の
はんだ14を示す部分(第2明部)LS2,印刷配線基
板2のみを示す部分(第3明部)LS3に対応する3つ
の大きな山が表れるので、そのうち上記第2明部LS2
と第3明部LS3との谷間を閾値Tとして設定する。従
って、この閾値Tより明るい第1明部LS1及び第2明
部LS2が高輝度部分として、一方、閾値Tより暗い第
3明部LS3が低輝度部分として2値化される。尚、こ
の閾値Tを定めるには、これらの山の間の谷を見つける
方法(所謂、モード法)等を用いることができる。
The histogram creation unit 38 creates a histogram of the brightness of the pixels, and then the threshold value T when binarizing the image signal.
Is output to the binarization unit 31. That is, as shown in the histogram of FIG. 3, in order of the brightness of the pixels, the solder 14 of 1 pixel or more and the portion (first bright part) LS1 showing the lead wire 12 and the wiring pattern and the solder 14 of 1 pixel or less are arranged. Three large peaks corresponding to the indicated portion (second bright portion) LS2 and the portion (third bright portion) LS3 indicating only the printed wiring board 2 appear, and thus the second bright portion LS2 among them.
The valley between the third bright part LS3 and the third bright part LS3 is set as the threshold value T. Therefore, the first bright portion LS1 and the second bright portion LS2 which are brighter than the threshold value T are binarized as the high luminance portion, while the third bright portion LS3 which is darker than the threshold value T is binarized as the low luminance portion. In order to determine the threshold value T, a method of finding a valley between these peaks (a so-called mode method) or the like can be used.

2値化部31は、ヒストグラム作成部38から出力され
る閾値Tに基づいて画像信号を2値化し、2値画像を作
成する。尚、この閾値Tによって2値化する際に、ブリ
ッジが高輝度部分として表示されるには、ブリッジの幅
が一定以上必要である。例えば第4図に示すように、1
画素Gの幅を1としブリッジBの幅をa(0<a<1)
とすると、1画素Gの明るさSは次式(1)で表現され
る。
The binarization unit 31 binarizes the image signal based on the threshold value T output from the histogram creation unit 38 and creates a binary image. When the threshold value T is binarized, the width of the bridge needs to be a certain value or more in order to be displayed as a high brightness portion. For example, as shown in FIG.
The width of the pixel G is 1, and the width of the bridge B is a (0 <a <1)
Then, the brightness S of one pixel G is expressed by the following equation (1).

S=a+S1+(1−a)+S3 …(1) S1:第1明部のモード S3:第3明部のモード またブリッジBが、第5図に示すように2つの画素Gに
またがる場合には、1画素Gの明るさは次式(2)で表
現される。
S = a + S 1 + ( 1-a) + S 3 ... (1) S 1: the first light portion Mode S 3: Mode The bridge B of the third light portion is two pixels G as shown in Figure 5 In the case of straddling, the brightness of one pixel G is expressed by the following equation (2).

S=a+S1/2+(1−a/2)+S3…(2) ここで、閾値Tと明るさSとが、次式(3) T<S …(3) を満たす場合に、つまりブリッジBを撮像する画素Gの
明るさSが閾値Tを上回る場合には、ブリッジBを2値
画像上に表現できるので、(2)式と(3)式より次式
(4)を得る。
S = a + S 1/2 + (1-a / 2) + S 3 ... (2) where is the threshold value T and brightness S, if the following expression is satisfied (3) T <S ... ( 3), i.e. the bridge When the brightness S of the pixel G that images B is higher than the threshold value T, the bridge B can be expressed on the binary image, and therefore the following expression (4) is obtained from the expressions (2) and (3).

a>2(T−S3)/(S1−S3) …(4) 即ち、ブリッジBの幅aが1画素Gの幅より細くても、
(4)式を満たした場合には、ブリッジBを2値画像上
に表示できる。
a> 2 (T-S3) / (S1-S3) (4) That is, even if the width a of the bridge B is smaller than the width of one pixel G,
When the expression (4) is satisfied, the bridge B can be displayed on the binary image.

配線パターン記憶部35は、印刷配線基板2上に形成さ
れた全ての配線パターンを予め記憶するとともに、その
配線パターンのうちブリッジBができ易い所定のランド
間に位置する限定配線パターンも記憶している。そし
て、この配線パターン記憶部35は、上記配線パターン
及び限定配線パターンに基づいて修正配線パターンを出
力するが、この修正配線パターンは、上述した2値画像
に表示されたブリッジBの像が切断されない様に、全て
の配線パターンから限定配線パターンを取り除いたもの
である。
The wiring pattern storage unit 35 stores in advance all the wiring patterns formed on the printed wiring board 2, and also stores the limited wiring pattern located between the predetermined lands in which the bridge B is easily formed among the wiring patterns. There is. Then, the wiring pattern storage unit 35 outputs the corrected wiring pattern based on the wiring pattern and the limited wiring pattern, but the image of the bridge B displayed in the above-described binary image is not cut off in the corrected wiring pattern. Similarly, the limited wiring pattern is removed from all the wiring patterns.

配線パターン除去部32は、2値化部31によって作ら
れた2値画像から、配線パターン記憶部35から出力さ
れる修正配線パターンに相当する画像を除去して、判別
画像を作成する。
The wiring pattern removal unit 32 removes the image corresponding to the corrected wiring pattern output from the wiring pattern storage unit 35 from the binary image created by the binarization unit 31 to create a discrimination image.

ランドパターン記憶部40は、印刷配線基板2に形成さ
れたランドパターンを記憶する。
The land pattern storage unit 40 stores the land pattern formed on the printed wiring board 2.

処理部34は、判別画像から得られる各ランドの面積と
ランドパターン記憶部40から出力される面積とを比較
して、一定比率以上あればブリッジとして検出する。
The processing unit 34 compares the area of each land obtained from the discrimination image with the area output from the land pattern storage unit 40, and if a certain ratio or more, detects it as a bridge.

次に、上記検査装置において実行される処理について第
6図に示すフローチャート、及び第7図ないし第11図
に示す画像の説明図に基づいて説明する。
Next, the processing executed in the inspection apparatus will be described based on the flowchart shown in FIG. 6 and the image explanatory views shown in FIGS. 7 to 11.

まず、ステップ100にて、第7図に示す印刷配線基板
2のランドパターンをランドパターン記憶部40へ入力
する。具体的には、印刷配線基板2のランドパターンの
設計データを入力する処理、もしくは回路素子1が挿入
されていない印刷配線基板2を本検査装置に装着し、ラ
ンドパターンを撮像する処理等を行なう。
First, in step 100, the land pattern of the printed wiring board 2 shown in FIG. 7 is input to the land pattern storage unit 40. Specifically, the process of inputting the design data of the land pattern of the printed wiring board 2 or the process of mounting the printed wiring board 2 in which the circuit element 1 is not inserted into the inspection device and imaging the land pattern is performed. .

次に、ステップ110にて、第8図に示す印刷配線基板
2の配線パターンHを配線パターン記憶部35へ入力す
る。具体的には上記ランドパターンと同様に、印刷配線
基板2の配線パターンHの設計データを入力する処理、
もしくは配線パターンHを撮像する処理等を行う。
Next, at step 110, the wiring pattern H of the printed wiring board 2 shown in FIG. 8 is input to the wiring pattern storage unit 35. Specifically, similar to the land pattern, a process of inputting design data of the wiring pattern H of the printed wiring board 2,
Alternatively, a process of capturing an image of the wiring pattern H is performed.

そして、ステップ120にて、上記配線パターンHのう
ちの限定配線パターンDHの設計データを配線パターン
記憶部35へ入力する。
Then, in step 120, the design data of the limited wiring pattern DH of the wiring patterns H is input to the wiring pattern storage unit 35.

続くステップ130にて、上記ステップ110で入力し
た配線パターンHから、ステップ120で入力した限定
配線パターンDHを除去して、第9図に示す修正配線パ
ターンSHを求める処理を行う。尚、この処理は毎回行
なう必要はなく、検査対象となる印刷配線基板2の種類
を変更した場合に行えばよい。
In a succeeding step 130, the limited wiring pattern DH input in the step 120 is removed from the wiring pattern H input in the step 110, and a process for obtaining the corrected wiring pattern SH shown in FIG. 9 is performed. This process does not have to be performed every time and may be performed when the type of the printed wiring board 2 to be inspected is changed.

次に、上述したランドパターン及び修正配線パターンS
H等の各種のデータを用いた撮像画像の処理について説
明する。尚、以下の説明においては、第7図のランドL
1とランドL2との間にブリッジBが形成されているも
のと仮定する。
Next, the above-mentioned land pattern and repair wiring pattern S
Processing of a captured image using various data such as H will be described. In the following description, the land L shown in FIG.
It is assumed that a bridge B is formed between 1 and the land L2.

ステップ140にて、検査対象となる印刷配線基板2の
本実施例の検査装置に装着し、その表面を工業用テレビ
カメラ26で撮像して、撮像画像に対応する画像信号を
画像処理系7へ入力する。
In step 140, the printed wiring board 2 to be inspected is mounted on the inspection apparatus of this embodiment, the surface thereof is imaged by the industrial television camera 26, and the image signal corresponding to the captured image is sent to the image processing system 7. input.

続いて、ステップ150にて、ヒストグラム作成部38
から出力される閾値T、即ち上述した第1明部LS1及
び第2明部LS2と第3明部LS3とを分ける閾値Tを
用いて、画像信号を2値化する。これによって画像信号
は、はんだ部分,リード線12及び配線パターンHを高
輝度部分とし、一方、それ以外の基板部分を低輝度部分
として2値化される。即ち、閾値のレベルは下げられて
いるので、ブリッジBの幅が1画素Gの幅より細い場合
でも、第10図に示すような配線パターンHとともにブ
リッジBも高輝度部分として判別される。
Then, in step 150, the histogram creation unit 38
The image signal is binarized by using the threshold value T output from the above, that is, the threshold value T that divides the first bright portion LS1 and the second bright portion LS2 and the third bright portion LS3. As a result, the image signal is binarized with the solder portion, the lead wire 12 and the wiring pattern H as the high-luminance portion, and the other substrate portion as the low-luminance portion. That is, since the threshold level is lowered, even if the width of the bridge B is narrower than the width of one pixel G, the bridge B is discriminated as a high-luminance portion together with the wiring pattern H as shown in FIG.

次に、ステップ160にて、上記2値画像(第10図)
から上記ステップ130で求めた修正配線パターンSH
(第9図)を取り除く。この処理によって、第11図に
示す様な判別画像が作成される。
Next, at step 160, the above binary image (FIG. 10).
From the corrected wiring pattern SH obtained in step 130 from
Remove (Fig. 9). By this processing, a discrimination image as shown in FIG. 11 is created.

次に、上述した処理によって得られた判別画像を用いて
行われる処理、即ち、ステップ160に引き続いて行わ
れるブリッジBを検出する処理について説明する。
Next, a process performed using the discriminant image obtained by the above-described process, that is, a process of detecting the bridge B performed after step 160 will be described.

ステップ170にて、第11図の判別画像に基づいて、
各ランドの面積の計測を行う。ここで第7図のランドL
1〜L8のうちランドL1とランドL2との間にブリッ
ジBがあるとすると、第11図ではランドL1とランド
L2が一体のランドLL2となり、他の部分は各々孤立
したランドLL3〜LL8として認識される。
At step 170, based on the discrimination image of FIG.
Measure the area of each land. Here, the land L in FIG. 7
If there is a bridge B between the lands L1 and L2 among the lands 1 to L8, the lands L1 and L2 are integrated lands LL2 in FIG. 11, and the other parts are recognized as isolated lands LL3 to LL8, respectively. To be done.

次に、ステップ180では、この様にして計測したラン
ドLL2〜LL8の面積を、第7図のランドL1〜L8
の面積と比較して、対応するランドの面積が一定比率
(例えば1.5)以上に増加しているか否かを判定す
る。この判定は、複数のランドがブリッジBによって一
体化すると面積が増大するという性質を利用したもので
ある。従って、ランドL1及びランドL2とランドLL
22との関係の様に、面積が一定比率以上に増加してい
る場合には、ステップ190に進んでブリッジBがある
と判断する。一方、ランドL3〜L8とランドLL3〜
LL8との関係の様に、面積の増加が一定比率以下の場
合には、ステップ200に進んで、ブリッジBが無いと
判断する。これによって、上記ステップ160で得られ
た判別画像に基づいてブリッジの有無を判定できる。
Next, in step 180, the areas of the lands LL2 to LL8 measured in this manner are set to the lands L1 to L8 of FIG.
It is determined whether or not the area of the corresponding land has increased by a certain ratio (for example, 1.5) or more compared with the area of No. This determination utilizes the property that the area increases when a plurality of lands are integrated by the bridge B. Therefore, the land L1 and the land L2 and the land LL
If the area increases by a certain ratio or more as in the case of the relationship with 22, the process proceeds to step 190 and it is determined that the bridge B exists. On the other hand, lands L3 to L8 and lands LL3 to
If the increase in area is equal to or less than a certain ratio as in the relationship with LL8, the process proceeds to step 200 and it is determined that the bridge B does not exist. As a result, the presence or absence of the bridge can be determined based on the determination image obtained in step 160.

以上説明したように本実施例の印刷配線基板2のはんだ
付検査装置は、印刷配線基板2を撮像して得た画像を2
値化する際の閾値Tを低く設定することにより、基板部
分以外のはんだ部分,リード線12及び配線パターンH
に加えて、1画素Gの幅より細い反射光の少ないブリッ
ジBも高輝度部分と判定して、これらの画素を2値画像
上に表示できる。しかしながら、この2値画像では配線
パターンHもブリッジBと同様に表示されているので、
2値画像から修正配線パターンSHを取り除くことによ
って、リード線12と配線パターンHがつながることを
防止できる。従って、ランドL4とランドL7の間にブ
リッジが形成されていると誤判定されることがない。ま
たこの修正配線パターンSHは、配線パターンHから限
定配線パターンDHを取り除いたものなので、修正配線
パターンSHを取り除いた際に、ブリッジBを切断する
ことがなく、ランドL1とランドL2との間を接続した
ブリッジBが明瞭に表示された判別画像を作成すること
ができる。従って、この判別画像を用いることにより、
分解能上げることなく高速の検査を行うことができ、更
に容易かつ確実にブリッジBの検出ができる。
As described above, the soldering inspection apparatus for the printed wiring board 2 according to the present embodiment provides the image obtained by picking up the image of the printed wiring board 2.
By setting the threshold value T when the value is set low, the solder portion other than the substrate portion, the lead wire 12 and the wiring pattern H
In addition, the bridge B, which is narrower than the width of one pixel G and has a small amount of reflected light, is also determined to be a high-luminance portion, and these pixels can be displayed on the binary image. However, since the wiring pattern H is displayed in the same manner as the bridge B in this binary image,
By removing the modified wiring pattern SH from the binary image, it is possible to prevent the lead wire 12 and the wiring pattern H from being connected. Therefore, it is not erroneously determined that the bridge is formed between the land L4 and the land L7. Further, since the modified wiring pattern SH is obtained by removing the limited wiring pattern DH from the wiring pattern H, the bridge B is not cut when the modified wiring pattern SH is removed, and the land between the land L1 and the land L2 is not cut. It is possible to create a discrimination image in which the connected bridge B is clearly displayed. Therefore, by using this discrimination image,
High-speed inspection can be performed without increasing the resolution, and the bridge B can be detected more easily and reliably.

尚、上記実施例では、明るさのヒストグラムを用いて2
値化の閾値を求めたが、ヒストグラムによらなくても、
例えば明るさの変動があまりない画像であれば、予め人
間が閾値を変えながら2値画像を観測して最適な2値画
像となるような閾値を設定し、以後その閾値を用いると
いう手法を用いてもよい。また上記実施例の処理部で
は、判別画像からブリッジを検出する方法として、面積
比較を行っているが、本発明者による先の特許願(特願
昭62−230808号)に記載したように、ランド間
の連結性をチェックすることによってブリッジを検出し
てもよい。尚、ドーム状の拡散反射板23を用いずに、
照射装置によって印刷配線基板2の上方から光を照射す
るようにしてもよい。
In the above embodiment, the brightness histogram is used to calculate 2
I calculated the threshold value, but without using the histogram,
For example, in the case of an image in which there is not much variation in brightness, a method is used in which a human observes a binary image while changing the threshold value in advance and sets a threshold value that provides an optimal binary image, and then uses that threshold value. May be. In the processing unit of the above embodiment, area comparison is performed as a method of detecting a bridge from a discriminated image. However, as described in the previous patent application (Japanese Patent Application No. 62-230808) by the present inventor, Bridges may be detected by checking connectivity between lands. In addition, without using the dome-shaped diffuse reflection plate 23,
Light may be emitted from above the printed wiring board 2 by an irradiation device.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、はんだ部分,リ
ード線及び配線パターンとそれ以外の基板部分とを区分
する閾値を用いることにより、はんだ部分,リード線及
び配線パターンに加えて1画素の幅より細くて反射光の
少ないブリッジも表示した2値画像を形成することがで
き、その2値画像を予め記憶した配線パターンを用いて
処理することにより、分解能を上げることなく、実質的
にブリッジ周辺のみが明瞭に区分された判別画像を得る
ことができる。従って、この判別画像に基づいて、ブリ
ッジの有無を高速にかつ的確に判定できる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, by using the threshold value for distinguishing the solder portion, the lead wire and the wiring pattern from the board portion other than the solder portion, the lead wire and the wiring pattern, In addition, it is possible to form a binary image in which a bridge narrower than the width of one pixel and less in reflected light is displayed, and by processing the binary image using a wiring pattern stored in advance, it is possible to increase the resolution. It is possible to obtain a discrimination image in which substantially only the periphery of the bridge is clearly divided. Therefore, the presence or absence of the bridge can be accurately determined at high speed based on the determination image.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例としての印刷配線基板のはん
だ付検査装置の概略構成図、第2図は印刷配線基板の断
面図、第3図は反射光のヒストクラム、第4図及び第5
図はブリッジを示す説明図、第6図は検査工程を示すフ
ローチャート、第7図ないし第11図は画像の処理過程
を示す説明図である。 1……回路素子、2……印刷配線基板 10,L1〜L8,LL2〜LL8……ランド 12……リード線、14……はんだ 31……2値化部、32……配線パターン除去部 34……処理部、35……配線パターン記憶部 38……ヒストグラム作成部 40……ランドパターン記憶部 B……ブリッジ、G……画素 H……配線パターン、DH……限定配線パターン SH……修正配線パターン
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a soldering inspection apparatus for a printed wiring board as an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view of the printed wiring board, FIG. 3 is a reflected light histocrum, FIG. 4 and FIG. 5
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a bridge, FIG. 6 is a flowchart showing an inspection process, and FIGS. 7 to 11 are explanatory diagrams showing an image processing process. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Circuit element, 2 ... Printed wiring board 10, L1-L8, LL2-LL8 ... Land 12 ... Lead wire, 14 ... Solder 31 ... Binarization part, 32 ... Wiring pattern removal part 34 ...... Processing unit 35 ...... Wiring pattern storage unit 38 …… Histogram creation unit 40 …… Land pattern storage unit B …… Bridge, G …… Pixel H …… Wiring pattern, DH …… Limited wiring pattern SH …… Modification Wiring pattern

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】配線パターンが形成された基板上のランド
に回路素子をはんだ付する際に、該ランド間に発生する
はんだのブリッジを検出する印刷配線基板のはんだ付検
査装置であって、 上記回路素子がはんだ付された印刷配線基板に光を照射
し、その反射光を受光することにより上記印刷配線基板
を撮像する撮像装置と、 該撮像装置で撮像した画像の2値化に用いる閾値として
は、はんだ部分及び配線パターンの反射光の強い高輝度
部分とそれ以外の基板部分の反射光の弱い低輝度部分と
に区別する閾値を設定する閾値設定手段と、 該閾値設定手段によって設定された閾値に基づいて、上
記撮像装置で撮像した画像を2値化して2値画像を出力
する2値画像作成手段と、 上記配線パターンを記憶するとともに、この配線パター
ンのうち所定のランド間を限定配線パターンとして記憶
する配線パターン記憶手段と、 該配線パターン記憶手段によって記憶した配線パターン
及び限定配線パターンに基づいて、上記2値画像作成手
段によって作成した画像から、上記限定配線パターン以
外の配線パターンを取り除いた判別画像を作成する判別
画像作成手段と 該判別画像作成手段によって作成した判別画像に基づい
て、ブリッジの検出を行うブリッジ検出手段と、 を備えたことを特徴とする印刷配線基板のはんだ付検査
装置。
1. A soldering inspection device for a printed wiring board, which detects a bridge of solder generated between lands when a circuit element is soldered to a land on a board on which a wiring pattern is formed, An image pickup device for picking up an image of the printed wiring board by irradiating the printed wiring board to which the circuit element is soldered with light and receiving the reflected light, and a threshold used for binarizing the image picked up by the image pickup device. Is a threshold value setting means for setting a threshold value for distinguishing between a high-brightness portion of the solder portion and the wiring pattern where the reflected light is strong and a low-brightness portion of the other substrate portion where the reflected light is weak, and the threshold value setting means. A binary image creating unit that binarizes an image captured by the image capturing device based on a threshold value and outputs a binary image; and stores the wiring pattern, and a predetermined one of the wiring patterns. Wiring pattern storage means for storing between the lands as a limited wiring pattern, and the limited wiring pattern from the image created by the binary image creation means based on the wiring pattern and the limited wiring pattern stored by the wiring pattern storage means. And a bridge detection unit for detecting a bridge based on the discrimination image created by the discrimination image generation unit. Wiring board soldering inspection device.
【請求項2】配線パターンが形成された基板上のランド
に回路素子をはんだ付する際に、該ランド間に発生する
はんだのブリッジを検出する印刷配線基板のはんだ付検
査方法であって、 上記回路素子がはんだ付された印刷配線基板に光を照射
し、その反射光を受光して撮像し、 上記はんだ部分及び配線パターンの反射光の強い高輝度
部分とそれ以外の基板部分の反射光の弱い低輝度部分と
を区別する閾値を用いて、上記撮像した画像を2値化し
て2値画像を形成し、 この2値画像の配線パターンのうち、所定のランド間に
位置する部分以外を低輝度部分として処理してブリッジ
の判別画像を形成し、この判別画像に基づいてブリッジ
を検出することを特徴とする印刷配線基板のはんだ付検
査方法。
2. A soldering inspection method for a printed wiring board, which detects a bridge of solder generated between lands when soldering a circuit element to a land on a board having a wiring pattern formed thereon. The printed circuit board to which the circuit element is soldered is irradiated with light, and the reflected light is received and imaged, and the high-brightness portion where the reflected light of the solder portion and the wiring pattern is strong and the reflected light of the other substrate portion The captured image is binarized to form a binary image by using a threshold value for distinguishing it from a weak low-luminance portion, and the wiring pattern of the binary image except the portion located between predetermined lands is reduced. A soldering inspection method for a printed wiring board, characterized in that a bridge discrimination image is formed by processing as a luminance portion and the bridge is detected based on this discrimination image.
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