JPH0221209A - Apparatus and method for inspecting soldering of printed wiring board - Google Patents

Apparatus and method for inspecting soldering of printed wiring board

Info

Publication number
JPH0221209A
JPH0221209A JP63171667A JP17166788A JPH0221209A JP H0221209 A JPH0221209 A JP H0221209A JP 63171667 A JP63171667 A JP 63171667A JP 17166788 A JP17166788 A JP 17166788A JP H0221209 A JPH0221209 A JP H0221209A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
wiring pattern
board
printed wiring
wiring board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63171667A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0654223B2 (en
Inventor
Yoshihiro Mori
森 芳弘
Masahiro Matsuyama
松山 方大
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
NipponDenso Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NipponDenso Co Ltd filed Critical NipponDenso Co Ltd
Priority to JP63171667A priority Critical patent/JPH0654223B2/en
Publication of JPH0221209A publication Critical patent/JPH0221209A/en
Publication of JPH0654223B2 publication Critical patent/JPH0654223B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To obtain a judge image wherein only a bridge periphery is divided clearly by using a threshold value dividing a solder part, a lead wire, a wiring pattern and any other board part to perform the processing of a binary image on the basis of a preliminarily stored wiring pattern. CONSTITUTION:An inspection apparatus is constituted of an image input system for converting the surface image of a printed wiring board 2 to which a circuit element 1 is soldered to an image signal and an image processing system 7 for confirming the soldered state of the printed wiring board 2 on the basis of said signal. The image input system 5 outputs the image signal to the image processing system 7 having an industrial TV camera 26 from the window 24 of the diffusion reflecting plate 23 arranged so as to surround the board 2 and said signal is binarized in said image processing system 7 and, when said signal is binarized, a threshold value is set by a histogram forming part 38. This forming part 38 forms the histogram of the brightness of a pixel and subsequently sets the threshold value when the image signal is binarized to output the same to a binarizing part 31. Then, a judge image wherein only a bridge periphery is divided clearly is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、回路素子が実装された印刷配線基板のはんだ
付状態を検査する印刷配線基板のはんだ付検査装置及び
その検査方法に関し、詳しくは印刷配線基板のランド間
に生じるはんだのブリッジを検査する装置及びその検査
方法に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention relates to a printed wiring board soldering inspection device and an inspection method for inspecting the soldering condition of a printed wiring board on which circuit elements are mounted. The present invention relates to an apparatus and method for inspecting solder bridges occurring between lands of a printed wiring board.

[従来の技術] 印刷配線基板に回路素子をはんだ付する場合に、印刷配
線基板のランド間にはんだのブリッジが生じることがあ
る。このような不良を皆無とすることは難しく、従来は
、例えば特開昭62−299709号の如く、まず回路
素子が実装された印刷配線基板を工業用テレビカメラ等
で撮像し、この撮像画像を所定の閾値で2値化して、ブ
リッジの検出に用いる2値画像を作成していた。即ち、
ブリッジを形成するはんだの部分が他の部分より強い反
射光となるので、反射光の強い高輝度部分とそれより反
射光の弱い低輝度部分とを所定の閾値で区分して2値画
像を作成していた。そして、その2値画像に基づいては
んだ部分のみを抽出し、はんだ部分の面積の値の変化に
よってブリッジの有無を検出していた。
[Prior Art] When soldering circuit elements to a printed wiring board, solder bridges may occur between lands of the printed wiring board. It is difficult to completely eliminate such defects, and conventionally, as in Japanese Patent Laid-Open No. 62-299709, a printed wiring board on which circuit elements are mounted is first imaged with an industrial television camera, and this captured image is then The images were binarized using a predetermined threshold value to create a binary image used for detecting bridges. That is,
Since the parts of the solder that form the bridge have stronger reflected light than other parts, a binary image is created by separating the high-brightness parts with strong reflected light and the low-brightness parts with weaker reflected light using a predetermined threshold. Was. Then, only the solder portion is extracted based on the binary image, and the presence or absence of a bridge is detected based on a change in the area value of the solder portion.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、印刷配線基板上に形成されたブリ・ンジ
の幅がテレビカメラの画素より太い場合には、ブリッジ
は高輝度部分と判別されて2値画像上にその画像を得る
ことができるが、ブリ・ンジの幅が1画素の幅より細い
場合には、ブリ・ンジで反射する強い光と基板で反射す
る弱い光が、1画素で一緒に受光されて低輝度部分と判
断されてしまい、その結果、ブリッジが2値画像上に現
れないので、ブリッジは無いと誤判定されるという課題
が生じていた。
[Problems to be Solved by the Invention] However, if the width of the bridge formed on the printed wiring board is wider than the pixels of a television camera, the bridge is determined to be a high-brightness part and is not displayed on the binary image. An image can be obtained, but if the width of the edge is narrower than the width of one pixel, the strong light reflected by the edge and the weak light reflected by the board are received together by one pixel, resulting in low light. As a result, the bridge does not appear on the binary image, causing a problem in that it is incorrectly determined that there is no bridge.

この対策として、撮像する対象をレンズ等で拡大して分
解能を高めることが考えられるが、この場合には処理す
べきデータが分解能の2乗に比例して増加するために、
検査時間が長くなって検査の高速化が図れないという別
の問題が生じていた。
As a countermeasure to this problem, it is possible to increase the resolution by enlarging the object to be imaged with a lens, but in this case, the amount of data to be processed increases in proportion to the square of the resolution.
Another problem has arisen in that the inspection time becomes long and it is not possible to speed up the inspection.

一方、ブリッジを検出する閾値を低下させる場合には、
細いブリッジとともに反射光の弱い配線パターンも高輝
度部分と判断されて2値画像上に現れるので、配線パタ
ーンがランドから伸びるリード線と重なる場合にはブリ
ッジと誤判定されてしまうという問題が生じ、いずれの
対策も上記課題の解決には至らなかった。
On the other hand, when lowering the threshold for detecting bridges,
Along with thin bridges, wiring patterns with weak reflected light are also judged as high-brightness areas and appear on the binary image, so if a wiring pattern overlaps a lead wire extending from a land, it will be mistakenly judged as a bridge. None of the measures solved the above problem.

本発明は、データ量を増やすことなく検査の高速化を図
るとともに、更に容易かつ的確にブリ・ンジを検出する
ことを目的とする。
An object of the present invention is to speed up inspection without increasing the amount of data, and to detect bridging more easily and accurately.

[課題を解決するための手段] 上記課題を解決するためになされた請求項1の発明は、 配線パターンが形成された基板上のランドに回路素子を
はんだ付する際に、該ランド間に発生するはんだのブリ
・ンジを検出する印刷配線基板のはんだ付検査装置であ
って、 上記回路素子がはんだ付された印刷配線基板に光を照射
し、その反射光を受光することにより上記印刷配線基板
を撮像する撮像装置と、該撮像装置で撮像した画像の2
値化に用いる閾値として、はんだ部分及び配線パターン
の反射光の強い高輝度部分とそれ以外の基板部分の反射
光の弱い低輝度部分とに区別する閾値を設定する閾値設
定手段と、 該閾値設定手段によって設定された閾値に基づいて、上
記撮像装置で撮像した画像を2値化して2値画像を出力
する2値画像作成手段とミ上記配線パターンを記憶する
とともに、この配線パターンのうち所定のランド間を限
定配線パターンとして記憶する配線パターン記憶手段と
、該配線パターン記憶手段によって記憶した配線パター
ン及び限定配線パターンに基づいて、上記2値画像作成
手段によって作成した画像から、上記限定配線パターン
以外の配線パターンを取り除いた判別画像を作成する判
別画像作成手段と該判別画像作成手段によって作成した
判別画像に基づいて、ブリッジの検出を行うブリッジ検
出手段と、 を備えたことを特徴とする印刷配線基板のはんだ付検査
装置を特徴とする 請求項2の発明は 配線パターンが形成された基板上のランドに回路素子を
はんだ付する際に、該ランド間に発生するはんだのブリ
ッジを検出する印刷配線基板のはんだ付検査方法であっ
て、 上記回路素子がはんだ付された印刷配線基板に光を照射
し、その反射光を受光して撮像し、上記はんだ部分及び
配線パターンの反射光の強い高輝度部分とそれ以外の基
板部分の反射光の弱い低輝度部分とを区別する閾値を用
いて、上記撮像した画像を2値化して2値画像を形成し
、この2値画像の配線パターンのうち、所定のランド間
に位置する部分以外を低輝度部分として処理してブリッ
ジの判別画像を形成し、この判別画像に基づいてブリッ
ジを検出することを特徴とする印刷配線基板のはんだ付
検査方法を要旨とする。
[Means for Solving the Problem] The invention of claim 1 made to solve the above problem provides that when a circuit element is soldered to a land on a board on which a wiring pattern is formed, a problem occurs between the lands. This is a soldering inspection device for a printed wiring board that detects bristle of solder, which irradiates light onto the printed wiring board to which the circuit element is soldered and receives the reflected light. An imaging device that captures an image, and two images captured by the imaging device.
a threshold value setting means for setting a threshold value used for value conversion to distinguish between high brightness parts of solder parts and wiring patterns with strong reflected light and low brightness parts of other board parts with weak reflected light; and the threshold value setting means. Binary image creation means for binarizing an image captured by the imaging device and outputting a binary image based on a threshold value set by the means; A wiring pattern storage means for storing the area between lands as a limited wiring pattern, and a wiring pattern other than the limited wiring pattern from the image created by the binary image creation means based on the wiring pattern and the limited wiring pattern stored by the wiring pattern storage means. A printed wiring comprising: a discrimination image creation means for creating a discrimination image from which a wiring pattern is removed; and a bridge detection means for detecting a bridge based on the discrimination image created by the discrimination image creation means. The invention according to claim 2, characterized by a board soldering inspection device, detects solder bridges that occur between lands when circuit elements are soldered to lands on a board on which a wiring pattern is formed. A soldering inspection method for a board, which irradiates light onto a printed wiring board to which the circuit elements are soldered, receives the reflected light, and captures an image, and detects a high brightness with strong reflected light from the solder portion and wiring pattern. The captured image is binarized to form a binary image using a threshold value that distinguishes between the part of the board and the low-luminance part of the other board parts where the reflected light is weak. Among the wiring patterns of this binary image, Summary of a printed wiring board soldering inspection method characterized by forming a bridge identification image by treating areas other than those located between predetermined lands as low-luminance areas, and detecting bridges based on this identification image. shall be.

[作用コ 本発明は、撮像装置によって、照射した光の反射光を受
光することにより、回路素子がはんだ付された印刷配線
基板を撮像する。そして、撮像した画像を閾値を用いて
2値化するが、この2値化に用いる閾値を、はんだ部分
及び配線パターンの反射光の強い高輝度部分と、それ以
外の基板部分の反射光の弱い低輝度部分とに分ける値に
設定する。従って、この閾値を用いて2値化することに
より、はんだ部分及び配線パターンと、それ以外の基板
部分とが明瞭に区分された2値画像が得られる。そして
、この2値画像から所定のランド間の限定配線パターン
以外の配線パターンを取り除いて判定画像を形成する。
[Function] The present invention images a printed wiring board to which circuit elements are soldered by using an imaging device to receive reflected light of irradiated light. The captured image is then binarized using a threshold value. Set to a value that separates the brightness into low brightness areas. Therefore, by performing binarization using this threshold value, a binary image in which the solder portions and wiring patterns are clearly separated from the other board portions can be obtained. Then, wiring patterns other than the limited wiring patterns between predetermined lands are removed from this binary image to form a determination image.

この処理によって、ブリッジが存在する場合には、判別
画像上にランド間を接続した状態のブリッジの画像が得
られるので、この判別画像に基づいてブリッジを検出す
ることができる。
Through this processing, if a bridge exists, an image of the bridge in which lands are connected is obtained on the discrimination image, so that the bridge can be detected based on this discrimination image.

すなわち、画像を2値化する際の閾値を下げると、1画
素以下の細いはんだのブリッジも検出されるが、これと
同時に配線パターンも検出されてしまいブリッジの検出
の支障となる。しかし本発明では、配線パターンのうち
所定のランド間以外を画像から除去しているので、実質
的にランド間のブリッジの発生し易い部分だけの閾値を
下げて検出していることになるので、細いブリッジの検
出も可能になる。
That is, if the threshold value for binarizing an image is lowered, thin solder bridges of one pixel or less can also be detected, but wiring patterns are also detected at the same time, which becomes a hindrance to detecting bridges. However, in the present invention, since parts of the wiring pattern other than between predetermined lands are removed from the image, the threshold value is lowered to detect only the parts where bridges between lands are likely to occur. It also becomes possible to detect thin bridges.

[実施例] 以下、本発明の好適な実施例を図面に基づいて説明する
[Examples] Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described based on the drawings.

第1図は、本発明の一実施例としての印刷配線基板のは
んだ付検査装置の概略構成図である。本実施例の検査装
置は、回路素子1がはんだ付された印刷配線基板2の表
面の画像を画像信号に変換する画像人力系5と、この画
像信号に基づいて印刷配線基板2のはんだ付状態を認識
する画像処理系7とから構成される。
FIG. 1 is a schematic diagram of a soldering inspection apparatus for printed wiring boards as an embodiment of the present invention. The inspection apparatus of this embodiment includes an image human power system 5 that converts an image of the surface of a printed wiring board 2 to which a circuit element 1 is soldered into an image signal, and a soldered state of the printed wiring board 2 based on this image signal. and an image processing system 7 that recognizes.

ここで、検査対象となる印刷配線基板2には、第2図に
示すように、印刷配線基板2のランド10に、回路素子
1のリード線12が挿入され、はんだ14によって固定
されている。本実施例の検査装置は、ランド10の間に
形成されるはんだ14のブリッジを検出するものである
Here, in the printed wiring board 2 to be inspected, as shown in FIG. 2, the lead wires 12 of the circuit element 1 are inserted into the lands 10 of the printed wiring board 2 and fixed with solder 14. The inspection device of this embodiment detects bridges of solder 14 formed between lands 10.

第1図において、まず画像人力系5は、印刷配線基板2
の斜め下方に印刷配線基板2を取り囲んで配置された拡
散照明装置21と、印刷配線基板2および照明装置21
を覆うように設けられたドーム状の拡散反射板23と、
拡散反射板23の頂点の窓24の上方に設けられた工業
用テレビカメラ26とを備えている。
In FIG. 1, first, the image human power system 5 is connected to the printed wiring board 2.
a diffused lighting device 21 arranged diagonally below surrounding the printed wiring board 2; a printed wiring board 2 and the lighting device 21;
a dome-shaped diffuse reflection plate 23 provided to cover the
An industrial television camera 26 is provided above the window 24 at the top of the diffuse reflection plate 23.

拡散反射板23は、外乱光を遮断するとともに照明装置
21からの光を反射して均一な拡散光を印刷配線基板2
0表面に照射する。そして、印刷配線基板2からの反射
光は窓24を通って工業用テレビカメラ26の撮像レン
ズ27に入射される。
The diffuse reflector 23 blocks external disturbance light and reflects light from the lighting device 21 to provide uniform diffused light to the printed wiring board 2.
0 surface. The reflected light from the printed wiring board 2 passes through the window 24 and enters the imaging lens 27 of the industrial television camera 26.

工業用テレビカメラ26は印刷配線基板2の画像を画像
信号に変換して画像処理系7へ出力する。
The industrial television camera 26 converts the image of the printed wiring board 2 into an image signal and outputs it to the image processing system 7.

次に、画像処理系7は、画像信号を2値化して2値画像
を形成する2値化部31と、この2値画像を修正する配
線パターン除去部32と、その配線パターン除去部32
からの出力に基づいて画像処理を行う処理部34とを備
えている。更に、画像信号を2値化する際の閾値を定め
るヒストグラム作成部3日、配線パターン除去部32で
の処理に用いる配線パターン等を記憶する配線パターン
記憶部35.及び印刷配線基板2のランドの形状パター
ン(ランドパターン)を記憶するランドパターン記憶g
iPJ40を備えている。
Next, the image processing system 7 includes a binarization unit 31 that binarizes the image signal to form a binary image, a wiring pattern removal unit 32 that corrects this binary image, and a wiring pattern removal unit 32 that corrects the binary image.
and a processing section 34 that performs image processing based on the output from. Furthermore, a histogram creation section 35 determines a threshold value for binarizing the image signal, and a wiring pattern storage section 35 stores wiring patterns used in processing in the wiring pattern removal section 32. and a land pattern memory g that stores the land shape pattern (land pattern) of the printed wiring board 2.
Equipped with iPJ40.

上記ヒストグラム作成部3日は、画素の明るさのヒスト
グラムを作成した後、画像信号を2値化する際の閾値T
を定め、2 fuffi化部31へ出力するものである
。u口ち、第3図のヒストグラムに示すように画素の明
るぎは明るい順に、1画素以上のはんだ14やリード線
12を示す部分(第1明部)LSl、配線パターン及び
1画素以下のはんだ14を示す部分(第2明部)LS2
.印刷配線基板2のみを示す部分(第白明部’)LS3
に対応する3つの大きな山が表れるので、そのうち上記
第2明部LS2と第3明部LS3との谷間を閾値Tとし
て設定する。従って、この閾値Tより明るい第1明部L
SI及び第2明部LS2が高輝度部分として、一方、閾
値Tより暗い第3明部LS3が低輝度部分として2値化
される。尚、この閾値Tを定めるには、これらの山の間
の谷を見つける方法(所謂、モード法)等を用いること
ができる。
The histogram creation section 3 creates a histogram of pixel brightness and then uses a threshold value T for binarizing the image signal.
is determined and output to the 2-fuffi conversion unit 31. As shown in the histogram in Figure 3, the brightness of the pixels is in descending order of brightness: the part (first bright part) indicating the solder 14 and lead wire 12 of one or more pixels, the wiring pattern, and the solder of one pixel or less. Part showing 14 (second bright part) LS2
.. Part showing only the printed wiring board 2 (first white part') LS3
Since three large peaks corresponding to appear, the valley between the second bright portion LS2 and the third bright portion LS3 is set as the threshold value T. Therefore, the first bright part L brighter than this threshold value T
The SI and the second bright part LS2 are binarized as a high brightness part, while the third bright part LS3, which is darker than the threshold value T, is binarized as a low brightness part. Note that to determine this threshold T, a method of finding a valley between these peaks (so-called mode method) or the like can be used.

2値化部31は、ヒストグラム作成部38から出力され
る閾(直Tに基づいて画像信号を21直化し、2値画像
を作成する。尚、この閾値Tによって2値化する際に、
ブリッジが高輝度部分として表示されるには、ブリッジ
の幅が一定以上必要である。
The binarization unit 31 converts the image signal into a binary image based on the threshold (direction T) output from the histogram creation unit 38 to create a binary image.
In order for the bridge to be displayed as a high-brightness portion, the width of the bridge must be at least a certain value.

例えは第4図に示すように、1画素Gの幅を1としブリ
・ンジBの中量をa (0<a<1)とすると、1画素
Gの明るさSは次式(1)で表現される。
For example, as shown in Fig. 4, if the width of one pixel G is 1 and the middle amount of bridge B is a (0<a<1), then the brightness S of one pixel G is calculated by the following formula (1). It is expressed as

またブリッジBが、第5図に示すように2つの画素Gに
またがる場合には、1画素Gの明るさは次式(2)で表
現される。
Further, when the bridge B spans two pixels G as shown in FIG. 5, the brightness of one pixel G is expressed by the following equation (2).

5=a−5t/2+ (1a/2)+s3”’ (2)
ここで、閾値Tと明るさSとが、次式(3)%式%(3
) を満たす場合に、つまりブリッジB11−撮像する画素
Gの明るさSが閾値Tを上回る場合には、ブリノジBを
2値画像上に表現できるので、 (2)式と(3)式よ
り次式(4)を得る。
5=a-5t/2+ (1a/2)+s3''' (2)
Here, the threshold value T and the brightness S are expressed by the following formula (3)% formula% (3
), that is, when the brightness S of the bridge B11 - the pixel G to be imaged exceeds the threshold T, the bridge B can be expressed on a binary image, so from equations (2) and (3), the following We obtain equation (4).

a>2 (T−93) / (Sl−93)    −
(4)即ち、ブリッジBの幅aが1画素Gの幅より細く
ても、 (4)式を満たした場合には、ブリッジBを2
値画像上に表示できる。
a>2 (T-93) / (Sl-93) −
(4) That is, even if the width a of bridge B is thinner than the width of one pixel G, if formula (4) is satisfied, bridge B is
Values can be displayed on the image.

配線パターン記憶部35は、印刷配線基板2上に形成さ
れた全ての配線パターンを予め記憶するとともに、その
配線パターンのうちブリッジBができ易い所定のランド
間に位置する限定配線パターンも記憶している。そして
、この配線パターン記憶部35は、上記配線パターン及
び限定配線パターンに基づいて修正配線パターンを出力
するが、この修正配線パターンは、上述した2値画像に
表示されたブリッジBの像が切断されない様に、全ての
配線パターンから限定配線パターンを取り除いたもので
ある。
The wiring pattern storage unit 35 stores in advance all wiring patterns formed on the printed wiring board 2, and also stores limited wiring patterns located between predetermined lands where bridges B are likely to occur among the wiring patterns. There is. The wiring pattern storage unit 35 then outputs a modified wiring pattern based on the wiring pattern and the limited wiring pattern, but in this modified wiring pattern, the image of bridge B displayed in the binary image described above is not cut. Similarly, limited wiring patterns are removed from all wiring patterns.

配線パターン除去部32は、2値化部31によって作ら
れた2値画像から、配線パターン記憶部35から出力さ
れる修正配線パターンに相当する画像を除去して、判別
画像を作成する。
The wiring pattern removal unit 32 removes an image corresponding to the corrected wiring pattern output from the wiring pattern storage unit 35 from the binary image created by the binarization unit 31 to create a discrimination image.

ランドパターン記憶部40は、印刷配線基板2に形成さ
れたランドパターンを記憶する。
Land pattern storage section 40 stores land patterns formed on printed wiring board 2.

処理部34は、判別画像から得られる各ランドの面積と
ランドパターン記憶部40から出力される面積とを比較
して、一定比率以上あれはブリッジとして検出する。
The processing unit 34 compares the area of each land obtained from the discrimination image with the area output from the land pattern storage unit 40, and detects a bridge if the area exceeds a certain ratio.

次に、上記検査装置において実行される処理について第
6図に示すフローチャート、及び第7図ないし第11図
に示す画像の説明図に基づいて説明する。
Next, the processing executed in the inspection apparatus will be explained based on the flowchart shown in FIG. 6 and the explanatory diagrams of images shown in FIGS. 7 to 11.

まず、ステップ100にて、第7図に示す印刷配線基板
2のランドパターンをランドパターン記憶部40へ人力
する。具体的には、印刷配線基板2のランドパターンの
設計データを人力する処理、もしくは回路素子1が挿入
されていない印刷配線基板2を本検査装置に装着し、ラ
ンドパターンを撮像する処理等を行なう。
First, in step 100, the land pattern of the printed wiring board 2 shown in FIG. 7 is manually entered into the land pattern storage section 40. Specifically, a process of manually inputting the design data of the land pattern of the printed wiring board 2, or a process of mounting the printed wiring board 2 without the circuit element 1 inserted into this inspection apparatus and capturing an image of the land pattern, etc. .

次に、ステップ110にて、第8図に示す印刷配線基板
2の配線パターンHを配線パターン記憶部35へ人力す
る。具体的には上記ランドパターンと同様に、印刷配線
基板2の配線パターンHの設計データを人力する処理、
もしくは配線パターンl」を撮像する処理等を行う。
Next, in step 110, the wiring pattern H of the printed wiring board 2 shown in FIG. 8 is manually input into the wiring pattern storage section 35. Specifically, similar to the above-mentioned land pattern, the process of manually inputting the design data of the wiring pattern H of the printed wiring board 2;
Alternatively, processing to image the wiring pattern "l" is performed.

そして、ステップ120にて、上記配線パターンHのう
ちの限定配線パターンDHの設計データを配線パターン
記′1部35へ人力する。
Then, in step 120, the design data of the limited wiring pattern DH of the wiring patterns H is input into the wiring pattern recorder 1 section 35.

続くステップ130にて、上記ステ・ンプ110で人力
した配線パターンHから、ステップ120で人力した限
定配線パターンDHを除去して、第9図に示す修正配線
パターンSHを求める処理を行う。尚、この処理は毎回
行なう必要はなく、検査対象となる印刷配線基板2の種
類を変更した場合に行えばよい。
In the subsequent step 130, the limited wiring pattern DH manually created in step 120 is removed from the wiring pattern H manually created in the step 110 to obtain a modified wiring pattern SH shown in FIG. Note that this process does not need to be performed every time, and may be performed when the type of printed wiring board 2 to be inspected is changed.

次に、上述したランドパターン及び修正配線パターンS
H等の各種のデータを用いた撮像画像の処理について説
明する。尚、以下の説明においては、第7図のランドL
1とランドL2との間にブリ・ンジBが形成されている
ものと仮定する。
Next, the above-mentioned land pattern and modified wiring pattern S
Processing of captured images using various data such as H will be described. In the following explanation, the land L in FIG.
It is assumed that bridge B is formed between land L2 and land L2.

ステップ140にて、検査対象となる印刷配線基板2を
本実施例の検査装置に装着し、その表面を工業用テレビ
カメラ26で撮像して、撮像画像に対応する画像信号を
画像処理系7へ人力する。
In step 140, the printed wiring board 2 to be inspected is mounted on the inspection apparatus of this embodiment, its surface is imaged by the industrial television camera 26, and an image signal corresponding to the captured image is sent to the image processing system 7. Manpower.

続いて、ステップ150にて、ヒストグラム作成部3日
から出力される閾値T、即ち上述した第1明部LSI及
び第2明部LS2と第3明部LS3とを分ける閾値Tを
用いて、画像信号を2値化する。これによって画像信号
は、はんだ部分、リード線12及び配線パターンHを高
輝度部分とし、一方、それ以外の基板部分を低輝度部分
として2値化される。即ち、閾値のレベルは下げられて
いるので、ブリッジBの幅が1画素Gの幅より細い場合
でも、第10図に示すように配線パターンHとともにブ
リッジBも高輝度部分として判別される。
Subsequently, in step 150, the image is created using the threshold T output from the histogram creation section 3, that is, the threshold T that separates the first bright area LSI, the second bright area LS2, and the third bright area LS3 described above. Binarize the signal. As a result, the image signal is binarized with the solder portion, the lead wire 12, and the wiring pattern H as high-brightness portions, and the other board portions as low-brightness portions. That is, since the threshold level is lowered, even if the width of the bridge B is smaller than the width of one pixel G, the bridge B as well as the wiring pattern H is determined as a high brightness portion as shown in FIG.

次に、ステップ160にて、上記2値画像(第10図)
から上記ステップ130で求めた修正配線パターン5F
−1(第9図)を取り除く。この処理によって、第11
図に示す様な判別画像が作成される。
Next, in step 160, the above binary image (FIG. 10)
Corrected wiring pattern 5F obtained in step 130 above from
-1 (Figure 9) is removed. By this process, the 11th
A discrimination image as shown in the figure is created.

次に、上述した処理によって得られた判別画像を用いて
行われる処理、即ち、ステ・ンブ160に引き続いて行
われるブリッジBを検出する処理について説明する。
Next, a process performed using the discrimination image obtained by the above-described process, that is, a process for detecting bridge B that is performed subsequent to the step 160 will be described.

ステップ170にて、第11図の判別画像に基づいて、
各ランドの面積の計測を行う。ここで第7図のランドL
1〜L8のうちランドL1とランドL2との間にブリッ
ジBがあるとすると、第11図ではランドL1とランド
L2が一体のランドLL2となり、他の部分は各々孤立
したランドLL3〜LL8として認識される。
At step 170, based on the discrimination image of FIG.
Measure the area of each land. Here, land L in Figure 7
Assuming that there is a bridge B between land L1 and land L2 among lands 1 to L8, in FIG. be done.

次に、ステップ180では、この様にして計測したラン
ドLL2〜LL8の面積を、第7図のランl”Ll〜L
8の面積と比較して、対応するランドの面積が一定比率
(例えは1.5)以上に増加しているか否か判定する。
Next, in step 180, the area of the lands LL2 to LL8 measured in this way is calculated from the areas of the lands l''Ll to Ll in FIG.
8, it is determined whether the area of the corresponding land has increased by a certain ratio (for example, 1.5) or more.

この判定は、複数のランドがブリッジBによって一体化
すると面積が増大するという性質を利用したものである
。従って、ランドL1及びランドL2とランドLL22
との関係の様に、面積が一定比率以上に増加している場
合には、ステップ190に進んでブリッジBがあると判
断する。一方、ランドL3〜L8とランドLL3〜LL
8との関係の様に、面積の増加が一定比率以下の場合に
は、ステップ200に進んで、ブリッジBが無いと判断
する。これによって、上記ステップ160で得られた判
別画像に基づいてブリッジの有無を判定できる。
This determination utilizes the property that when a plurality of lands are integrated by the bridge B, the area increases. Therefore, land L1, land L2, and land LL22
If the area has increased by a certain ratio or more, as in the relationship with , the process proceeds to step 190 and it is determined that bridge B exists. On the other hand, lands L3 to L8 and lands LL3 to LL
8, if the increase in area is less than a certain ratio, the process proceeds to step 200 and it is determined that bridge B is absent. Thereby, the presence or absence of a bridge can be determined based on the discrimination image obtained in step 160 above.

以上説明したように本実施例の印刷配線基板2のはんだ
付検査装置は、印刷配線基板2を撮像して得た画像を2
値化する際の閾値Tを低く設定することにより、基板部
分以外のはんだ部分、リード線12及び配線パターンH
に加えて、1画素Gの輻より細い反射光の少ないブリッ
ジBも高輝度部分と判定して、これらの画像を2値画像
上に表示できる。しかしながら、この2値画像では配線
パターンHもブリ・ンジBと同様に表示されているので
、2値画像から修正配線パターンSHを取り除くことに
よって、リード線12と配線パターンHがつながること
を防止できる。従って、ランドL4とランドL 7の間
にブリッジが形成されていると誤判定されることがない
。またこの修正配線パターンSHは、配線パターンHか
ら限定配線パターンDHを取り除いたものなので、(1
正配線パターンS Hを取り除いた際に、ブIルンジB
を切断することがなく、ランドL1とランドL2との間
を接続したブリッジBが明瞭に表示された判別画像を作
成することができる。従って、この判別画像を用いる乙
とにより、分解能上げることなく高速の検査を行うこと
ができ、更に容易かつ確実にブリッジBの検出ができる
As explained above, the soldering inspection apparatus for the printed wiring board 2 of this embodiment uses two images obtained by imaging the printed wiring board 2.
By setting the threshold value T low when converting into a value, the solder parts other than the board part, the lead wire 12 and the wiring pattern H
In addition, the bridge B, which is narrower than the convergence of one pixel G and has less reflected light, is also determined to be a high-brightness portion, and these images can be displayed on a binary image. However, since the wiring pattern H is also displayed in the same way as bridge B in this binary image, by removing the corrected wiring pattern SH from the binary image, it is possible to prevent the lead wire 12 and the wiring pattern H from being connected. . Therefore, it is not erroneously determined that a bridge is formed between the land L4 and the land L7. In addition, this modified wiring pattern SH is obtained by removing the limited wiring pattern DH from the wiring pattern H, so (1
When the positive wiring pattern S H is removed, Burundi B
It is possible to create a discrimination image in which the bridge B connecting the land L1 and the land L2 is clearly displayed without cutting the land L1 and the land L2. Therefore, by using this discrimination image, high-speed inspection can be performed without increasing the resolution, and bridge B can be detected more easily and reliably.

尚、上記実施例では、明るさのヒストグラムを用いて2
値化の閾値を求めたが、ヒストグラムによらなくても、
例えは明るさの変動があまりない画像であれは、予め人
間が閾値を変えなから2(旧画像を観測して最適な2値
画像となるような閾値を設定し、以後その閾値を用いる
という手法を用いてもよい。また上記実施例の処理部で
は、判別画像からブリッジを検出する方法として、面積
比較を行っているが、本発明者による先の特許願(特願
昭62−230808号)に記載したように、ランド間
の連結性をチエツクすることによってブリッジを検出し
てもよい。尚、ドーム状の拡散反射板23を用いずに、
照明装置によって印刷配線基板2の上方から光を照射す
るようにしてもよい。
Note that in the above embodiment, the brightness histogram is used to calculate 2
I found the threshold for value conversion, but even without using a histogram,
For example, if the image does not have much variation in brightness, humans do not have to change the threshold value in advance.2 (Observe the old image and set the threshold value to create the optimal binary image, and use that threshold value from now on.) In addition, the processing section of the above embodiment performs area comparison as a method of detecting bridges from the discrimination image, but this method is similar to that described in the previous patent application by the present inventor (Japanese Patent Application No. 62-230808). ), bridges may be detected by checking the connectivity between lands.Incidentally, without using the dome-shaped diffuse reflection plate 23,
Light may be emitted from above the printed wiring board 2 using a lighting device.

[発明の効果コ 以上説明したように、本発明によれは、はんだ部分、リ
ード線及び配線パターンとそれ以外の基板部分とを区分
する閾値を用いることにより、はんだ部分、リード線及
び配線パターンに加えて1画素の幅より細くて反射光の
少ないブリッジも表示した2値画像を形成することがで
き、その21直画像を予め記憶した配線パターンを用い
て処理することにより、分解能を上げることなく、実質
的にブリッジ周辺のみが明瞭に区分された判別画像を得
ることができる。従って、この判別画像に基づいて、ブ
リ・ンジの有無を高速にかつ的確に判定できる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, the solder parts, lead wires, and wiring patterns can be separated by using a threshold value that distinguishes the solder parts, lead wires, and wiring patterns from other board parts. In addition, it is possible to form a binary image that displays bridges that are thinner than the width of one pixel and have less reflected light, and by processing the 21-direction image using pre-stored wiring patterns, it is possible to create a binary image without increasing the resolution. , it is possible to obtain a discrimination image in which only the area around the bridge is clearly separated. Therefore, based on this discrimination image, it is possible to quickly and accurately determine the presence or absence of brilliance.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例としての印刷配線基板のはん
だ付検査装置の概略構成図、第2図は印刷配線基板の断
面図、第3図は反射光のヒストクラム、第4図及び第5
図はブリッジを示す説明図、第6図は検査工程を示すフ
ローチャー1・、第7図ないし第11図は画像の処理過
程を示す説明図である。 1・・・回路素子  2・・・印刷配線基板10、Ll
〜L8.LL2〜LL8壷◆◆ランド12・・・リード
線  14・・弓よんだ31・・・2値化部  32・
・・配線パターン除去部34・・・処理部   35・
・・配線パターン記憶部3日・・・ヒストグラム作成部 40・・φランドパターン記憶部 B・・・ブリッジ   G・・・画素 H・・φ配線パターン DH−φ・限定配線パターンS
H・・・修正配線パターン 弁理士  定立 勉(ほか2名) 第4図 第5図
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a soldering inspection device for a printed wiring board as an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view of the printed wiring board, FIG. 3 is a histogram of reflected light, and FIGS. 5
FIG. 6 is an explanatory diagram showing the bridge, FIG. 6 is a flowchart 1 showing the inspection process, and FIGS. 7 to 11 are explanatory diagrams showing the image processing process. 1... Circuit element 2... Printed wiring board 10, Ll
~L8. LL2 to LL8 pot◆◆Land 12... Lead wire 14... Bow read 31... Binarization section 32.
...Wiring pattern removal section 34...Processing section 35.
...Wiring pattern storage section 3 days...Histogram creation section 40...φ land pattern storage section B...Bridge G...Pixel H...φ wiring pattern DH-φ・Limited wiring pattern S
H... Modified wiring pattern patent attorney Tsutomu Setate (and 2 others) Figure 4 Figure 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 配線パターンが形成された基板上のランドに回路素
子をはんだ付する際に、該ランド間に発生するはんだの
ブリッジを検出する印刷配線基板のはんだ付検査装置で
あって、 上記回路素子がはんだ付された印刷配線基板に光を照射
し、その反射光を受光することにより上記印刷配線基板
を撮像する撮像装置と、 該撮像装置で撮像した画像の2値化に用いる閾値として
、はんだ部分及び配線パターンの反射光の強い高輝度部
分とそれ以外の基板部分の反射光の弱い低輝度部分とに
区別する閾値を設定する閾値設定手段と、 該閾値設定手段によって設定された閾値に基づいて、上
記撮像装置で撮像した画像を2値化して2値画像を出力
する2値画像作成手段と、 上記配線パターンを記憶するとともに、この配線パター
ンのうち所定のランド間を限定配線パターンとして記憶
する配線パターン記憶手段と、該配線パターン記憶手段
によって記憶した配線パターン及び限定配線パターンに
基づいて、上記2値画像作成手段によって作成した画像
から、上記限定配線パターン以外の配線パターンを取り
除いた判別画像を作成する判別画像作成手段と該判別画
像作成手段によって作成した判別画像に基づいて、ブリ
ッジの検出を行うブリッジ検出手段と、 を備えたことを特徴とする印刷配線基板のはんだ付検査
装置。 2 配線パターンが形成された基板上のランドに回路素
子をはんだ付する際に、該ランド間に発生するはんだの
ブリッジを検出する印刷配線基板のはんだ付検査方法で
あって、 上記回路素子がはんだ付された印刷配線基板に光を照射
し、その反射光を受光して撮像し、上記はんだ部分及び
配線パターンの反射光の強い高輝度部分とそれ以外の基
板部分の反射光の弱い低輝度部分とを区別する閾値を用
いて、上記撮像した画像を2値化して2値画像を形成し
、この2値画像の配線パターンのうち、所定のランド間
に位置する部分以外を低輝度部分として処理してブリッ
ジの判別画像を形成し、この判別画像に基づいてブリッ
ジを検出することを特徴とする印刷配線基板のはんだ付
検査方法。
[Scope of Claims] 1. A printed wiring board soldering inspection device that detects solder bridges that occur between lands when circuit elements are soldered to lands on a board on which a wiring pattern is formed, , an imaging device that captures an image of the printed wiring board by irradiating light onto the printed wiring board to which the circuit element is soldered and receiving the reflected light; and use for binarizing the image captured by the imaging device. a threshold value setting means for setting a threshold value to distinguish between a high brightness part of the solder portion and the wiring pattern where the reflected light is strong and a low brightness part of the other board part where the reflected light is weak; a binary image creation means for binarizing an image captured by the imaging device and outputting a binary image based on a threshold value, and storing the wiring pattern and limiting between predetermined lands in the wiring pattern; A wiring pattern storage means for storing wiring patterns, and a wiring pattern other than the limited wiring pattern from the image created by the binary image creation means based on the wiring pattern and limited wiring pattern stored by the wiring pattern storage means. Soldering of a printed wiring board characterized by comprising: a discrimination image creating means for creating a removed discrimination image; and a bridge detecting means for detecting a bridge based on the discrimination image created by the discrimination image creating means. Inspection equipment. 2. A printed wiring board soldering inspection method for detecting solder bridges that occur between lands when circuit elements are soldered to lands on a board on which a wiring pattern is formed, the circuit elements being soldered The attached printed wiring board is irradiated with light, and the reflected light is received and imaged, and the high-brightness parts of the solder parts and wiring patterns with strong reflected light and the low-brightness parts of other board parts with weak reflected light are detected. The captured image is binarized to form a binary image using a threshold value that distinguishes between A soldering inspection method for a printed wiring board, comprising: forming a discrimination image of a bridge, and detecting a bridge based on the discrimination image.
JP63171667A 1988-07-08 1988-07-08 Printed circuit board soldering inspection apparatus and inspection method thereof Expired - Fee Related JPH0654223B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63171667A JPH0654223B2 (en) 1988-07-08 1988-07-08 Printed circuit board soldering inspection apparatus and inspection method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63171667A JPH0654223B2 (en) 1988-07-08 1988-07-08 Printed circuit board soldering inspection apparatus and inspection method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0221209A true JPH0221209A (en) 1990-01-24
JPH0654223B2 JPH0654223B2 (en) 1994-07-20

Family

ID=15927467

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63171667A Expired - Fee Related JPH0654223B2 (en) 1988-07-08 1988-07-08 Printed circuit board soldering inspection apparatus and inspection method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0654223B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112867906A (en) * 2018-10-23 2021-05-28 株式会社富士 Component data, component data generating method, and component mounting machine

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112867906A (en) * 2018-10-23 2021-05-28 株式会社富士 Component data, component data generating method, and component mounting machine

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0654223B2 (en) 1994-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5148375A (en) Soldering appearance inspection apparatus
JPH0572961B2 (en)
US20050196996A1 (en) Component mounting board inspecting apparatus
JP2005121546A (en) Defect inspection method
KR101022187B1 (en) Substrate inspection device
JPH0221209A (en) Apparatus and method for inspecting soldering of printed wiring board
JP2745778B2 (en) Wiring pattern inspection equipment
JPH08152412A (en) Appearance inspection device
JP2005223006A (en) Inspection method of cream solder print
JPH09236487A (en) Method for inspecting cover tape of embossed tape
JP2005189167A (en) Bridge inspection device of cap
JPH1114317A (en) Appearance inspection method and device
JP2004084498A (en) Engine evaluation device and method
KR0152885B1 (en) Classifying method of soldering for pcb
JPH06104352A (en) Semiconductor device and its direction inspecting device
JPH0619252B2 (en) Soldering inspection device for printed wiring boards
JP2531694B2 (en) Method for detecting holes in the soldering part
JP3333280B2 (en) Bonding wire inspection method
JPH0413953A (en) Detect inspection preprocessor for electronic component molded form
JPH05335390A (en) Inspection apparatus of bonding wire
JPH06243235A (en) Checking device for mounted board
JPH02278105A (en) Inspecting apparatus for soldering
JPH0926313A (en) Object recognition method in visual inspection apparatus for electronic-component mounting board
JP2003215061A (en) Apparatus and method for inspecting pin, pin product and method for manufacturing pin product
JPH0210251A (en) Board checking apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees