JPH0646105A - Equipment for adding disturbance of digital signal - Google Patents

Equipment for adding disturbance of digital signal

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JPH0646105A
JPH0646105A JP4199844A JP19984492A JPH0646105A JP H0646105 A JPH0646105 A JP H0646105A JP 4199844 A JP4199844 A JP 4199844A JP 19984492 A JP19984492 A JP 19984492A JP H0646105 A JPH0646105 A JP H0646105A
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bit length
disturbance
digital signal
error
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Abstract

PURPOSE:To improve the reliability of an error detection test by setting a measuring period set for a frequency divider in accordance with the disturbance bit length without uniformly setting it to a normal bit length to equally add a bit error to all the pieces of bit data included in a disturbance object bit length. CONSTITUTION:In a controller 11, when an operator operates a condition setting part 13 to specify the normal bit length L and the disturbance object bit length A to input an experimental start command, respective frequency dividing ratios C1 and C2 corresponding to the combination are retrieved from a division ratio allotment table 12 formed in the internal storage part of the control part 11. Then, the frequency dividing ratio C1 is set to a frequency dividing circuit 4a in a first fixed period and the frequency dividing ratio C2 is set in a next fixed period. Besides, the value of a measurement bit length L1 (=C1) is set so that the value and the disturbance object bit length A are mutually prime and the value is less than the normal bit length L and the nearest to it. Besides, a measurement bit length L2 (=C2) is also set to be equal to the normal bit length L or to be not less than it and the nearest to it.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はデジタル信号に一定ビッ
ト周期毎に擾乱ビットを付加するデジタル信号の擾乱付
加装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a digital signal disturbance adding device for adding a disturbance bit to a digital signal at a constant bit period.

【0002】[0002]

【従来の技術】データ伝送システムに用いられる各種デ
ジタル信号の信号品質は例えば所定ビット数中に存在す
るビットエラー数、すなわち誤り発生率でもって統計的
に評価される。例えば代表的なデジタル信号であるPC
M信号においては、CCITT(国際電信電話諮問委員
会)のG・821規格において、誤り発生限界(SE
S;Severely Errered Seconds)として1秒間に平均し
て1000ビット長(規定ビット長L)の中に平均して
1個より上のビットエラーが検出されないことが、最低
品質レベルと決められている。
2. Description of the Related Art The signal quality of various digital signals used in a data transmission system is statistically evaluated by, for example, the number of bit errors existing in a predetermined number of bits, that is, the error occurrence rate. PC, which is a typical digital signal
For the M signal, the error occurrence limit (SE) is specified in the G.821 standard of CCITT (International Telegraph and Telephone Consultative Committee).
As S; Severely Errered Seconds), the minimum quality level is determined to be that no more than one bit error is detected in an average of 1000 bit length (specified bit length L) in 1 second.

【0003】したがって、このようなデジタル信号を取
扱うデジタル交換機を含む各種機器においては、この機
器から出力されるデジタル信号の誤り発生率が前述した
規格を満足するか否かを試験する必要がある。また、上
述したデジタル交換機を含むデジタル信号が入出力され
る機器においては、入力されるデジタル信号のビットエ
ラーを監視し、誤り発生率か前述した規格を越えた場合
には、入力信号異常と判断して監視員や操作員に警告す
る機能を有したものもある。
Therefore, in various devices including a digital exchange that handles such digital signals, it is necessary to test whether the error occurrence rate of the digital signals output from this device satisfies the above-mentioned standard. In addition, in devices that input and output digital signals, including the digital exchanges described above, monitor the bit errors of the input digital signals, and if the error occurrence rate exceeds the standards specified above, determine that the input signal is abnormal. Some have a function to warn a monitor or an operator.

【0004】したがって、このような機器のエラー検出
機能が正常に動作するか否かを試験する場合は、機器の
各種機能を試験するためにこの機器へ入力する試験用の
デジタル信号に故意にビットエラーを生じさせて、試験
対象の機器が正常にこのビットエラーを検出するか否か
を調べるようにしている。
Therefore, when testing whether or not the error detection function of such a device operates normally, a bit is intentionally added to a test digital signal input to this device in order to test various functions of the device. An error is generated to check whether the device under test normally detects this bit error.

【0005】図4は被試験装置が正しくビットエラーを
検出するか否かを調べる試験システムを示す模式図であ
る。
FIG. 4 is a schematic diagram showing a test system for checking whether or not the device under test correctly detects a bit error.

【0006】試験信号発生回路1は予め定められた伝送
フォーマットを有する試験用のデジタル信号aを次の擾
乱付加装置2内の擾乱付加回路3へ送出する。また、試
験信号発生回路1は出力するデジタル信号aを作成する
ために用いたクロック信号bを擾乱付加装置2内の分周
回路4へ送出する。したがって、このクロック信号bは
デジタル信号aのビットレート(符号速度)に等しい周
波数fを有し、デジタル信号aの各ビットデータに同期
する。分周回路4は予め設定された分周比Cでクロック
信号bの周波数fを分周して、周波数(f/C)を有す
る分周クロック信号dを擾乱付加回路3へ送出する。
The test signal generating circuit 1 sends a test digital signal a having a predetermined transmission format to the disturbance adding circuit 3 in the next disturbance adding device 2. Further, the test signal generating circuit 1 sends the clock signal b used to create the output digital signal a to the frequency dividing circuit 4 in the disturbance adding device 2. Therefore, the clock signal b has a frequency f equal to the bit rate (code rate) of the digital signal a and is synchronized with each bit data of the digital signal a. The frequency dividing circuit 4 divides the frequency f of the clock signal b by a preset frequency dividing ratio C, and sends the divided clock signal d having the frequency (f / C) to the disturbance adding circuit 3.

【0007】この分周回路4の分周比Cは、前記G・8
21規格の誤り発生限界(SES)で定められている1
000等の規定ビット長Lに等しい値C2 (=L)およ
び1ビット短い値C1 (=L−1)が選択され、交互に
切換え使用される。この規格によれば、C2 =1000,C
1 =999 となる。
The frequency dividing ratio C of the frequency dividing circuit 4 is G.8.
1 defined by the error occurrence limit (SES) of 21 standards
A value C2 (= L) equal to the prescribed bit length L such as 000 and a value C1 (= L-1) shorter by 1 bit are selected and used alternately. According to this standard, C2 = 1000, C
1 = 999.

【0008】擾乱付加回路3は、分周クロック信号dが
入力されない限り、試験信号発生回路1から入力された
デシタル信号aをそのまま被試験装置5へ送出する。そ
して、分周クロック信号dが入力すると、前記デジタル
信号aを構成する各ビットデータのうちこの分周クロッ
ク信号d入力に同期するビットデータの値を反転する。
すなわち、デジタル信号aは分周比Cで定まる一定ビッ
ト周期(1/C)毎に擬似ビットエラーが付加されるこ
とになる。
The disturbance adding circuit 3 sends the digital signal a input from the test signal generating circuit 1 to the device under test 5 as it is, unless the divided clock signal d is input. Then, when the divided clock signal d is input, the value of the bit data which is synchronized with the input of the divided clock signal d among the bit data forming the digital signal a is inverted.
That is, the pseudo bit error is added to the digital signal a every constant bit period (1 / C) determined by the frequency division ratio C.

【0009】その結果、被試験装置5には擬似ビットエ
ラーが付加されたデジタル信号a1が入力される。被試
験装置5は入力されたデジタル信号a1 に対するこの装
置本来のデータ処理を実行する共に、このデジタル信号
a1 内の特定データにビットエラーが存在するか否かを
調べて、1秒間のビットエラーを検出し、その割合が平
均して前記規定ビット長Lより短い場合に、エラー検出
信号eを次の誤り測定装置6へ送出する。誤り測定装置
6はエラー検出信号eを統計処理して被試験装置5のエ
ラー検出能力を評価する。
As a result, the digital signal a1 to which the pseudo bit error is added is input to the device under test 5. The device under test 5 performs the original data processing of the input digital signal a1 and checks whether or not there is a bit error in the specific data in the digital signal a1 to check the bit error for one second. If the average is detected and the ratio is shorter than the specified bit length L, the error detection signal e is sent to the next error measuring device 6. The error measuring device 6 statistically processes the error detection signal e to evaluate the error detection capability of the device under test 5.

【0010】ここで、前記分周器4の分周比Cを規定ビ
ット長Lに等しい値C2 (=L2 =L)に設定した場合
に、エラー検出信号eが出力されなくて、分周器4の分
周比Cを規定ビット長Lより1ビット短い値C1 (=L
1 =L−1)に設定した場合に、エラー検出信号eが出
力されると、この被試験装置5は正常なエラー検出能力
を有していると判断できる。
Here, when the frequency division ratio C of the frequency divider 4 is set to a value C2 (= L2 = L) equal to the specified bit length L, the error detection signal e is not output and the frequency divider 4 The division ratio C of 4 is a value C1 (= L
When 1 = L-1) is set, when the error detection signal e is output, it can be determined that the device under test 5 has a normal error detection capability.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら図4に示
す擾乱付加装置2においてもまだ改良すべき次のような
課題があった。
However, the disturbance adding device 2 shown in FIG. 4 still has the following problems to be improved.

【0012】すなわち、デジタルデータ伝送システムに
組込まれる被試験装置5においては、通常の稼働状態に
おいて、この被試験装置5へ入力されるデジタル信号は
一般に図5に示すような周期信号が多い。このような被
試験装置5に入力すべき試験用のデジタル信号aとして
は、前述した規定ビット長L(L1 ,L2 )毎に、1個
のビットエラーが付加されているのみならず、一定周期
で繰返す各ビットデータに対して必ずビットエラーが付
加されることが要求される。
That is, in the device under test 5 incorporated in the digital data transmission system, in a normal operating state, the digital signals input to the device under test 5 generally have many periodic signals as shown in FIG. As the test digital signal a to be input to the device under test 5, not only one bit error is added for each of the specified bit lengths L (L1, L2) described above, but also a fixed period. It is required that a bit error be added to each bit data that is repeated.

【0013】具体的には、図5に示すようなデジタル信
号aを用いる場合においては、必ずビットエラーが付加
される必要のある周期的な擾乱対象ビット長Aに含まれ
る各ビットデータA1 ,A2 ,…AA に必ずビットエラ
ーが付加されるの望ましい。例えば、特定のビットデー
タAn に対してのみビットエラーが全く付加されない試
験しか実行できない場合、実際の稼働時において、該当
ビットデータAn にビットエラーが発生した場合に、確
実にそのビットエラーが検出されることの確証が得られ
ない。
Specifically, when the digital signal a as shown in FIG. 5 is used, each bit data A1 and A2 included in the periodic disturbance target bit length A which must be added with a bit error. , ... It is desirable that a bit error is always added to AA. For example, when only a test in which no bit error is added to only a specific bit data An can be executed, when a bit error occurs in the corresponding bit data An during actual operation, that bit error is surely detected. I can't get any proof.

【0014】しかし、図4に示す擾乱付加装置2におい
ては、一つの擾乱対象ビット長Aに含まれる各ビットデ
ータA1 ,A2 ,…,AA に必ずビットエラーが付加さ
れるとは限らない。
However, in the disturbance adding device 2 shown in FIG. 4, a bit error is not always added to each bit data A1, A2, ..., AA contained in one disturbance target bit length A.

【0015】この擾乱対象ビット長Aにおいてビットエ
ラーが付加されないビットデータが存在することを図6
に示す実際のデジタル信号を用いて説明する。図6はC
CITTのI・430に規定されているISDNの[2
B+D]で構成された信号回線における各端末(NT)
と網終端(NT)とを接続するT線およびR線上を伝送
されるデジタル信号aの伝送フォーマットを示す図であ
る。
FIG. 6 shows that there is bit data to which a bit error is not added in the disturbance target bit length A.
This will be described using the actual digital signal shown in. Figure 6 is C
ISDN [2 specified in CITT I ・ 430
Each terminal (NT) in the signal line composed of B + D]
It is a figure which shows the transmission format of the digital signal a transmitted on the T line and R line which connect with a network termination (NT).

【0016】ここで、ユーザに開放されている8ビット
構成の情報ビットB1 と制御ビットDとの合計9ビット
を故意に擾乱ビットを付加する擾乱対象ビット長Aとす
る。そして、擾乱対象ビット長Aに含まれる各ビットデ
ータをA1 ,A2 ,…,A8,A9 とする。また、規定
ビット長Lが1000の場合、分周器4に設定する分周
比CはC1=L1 =999 ,C2 =L2 =1000となる。
Here, a total of 9 bits of the information bits B1 of the 8-bit structure and the control bits D, which are open to the user, are set as a disturbance target bit length A to which a disturbance bit is intentionally added. Then, each bit data included in the disturbance target bit length A is set to A1, A2, ..., A8, A9. When the prescribed bit length L is 1000, the frequency division ratio C set in the frequency divider 4 is C1 = L1 = 999 and C2 = L2 = 1000.

【0017】ここで、分周比CがC2 (=1000)の場
合、最初の測定周期L2 において、擾乱対象ビット長A
に含まれる先頭のビットデータA1 に対してエラービッ
トが付加されると、次の測定周期L2 においては、その
周期性から、9・X≧1000となる最小値X=112
より(1000=9×111 +1 )、2番目のビットデータA2
にエラービットが付加される。さらに、次の測定周期L
2 においては、3番目のビットデータA3 にエラービッ
トが付加される。このように、測定周期L1 が到来する
毎に、擾乱対象ビット長Aに含まれる各ビットデータA
1 〜A9 に順番にビットエラーが付加されていくので、
全てのビットデータA1 〜A9 に対して均等にビットエ
ラーが付加される。
When the frequency division ratio C is C2 (= 1000), the disturbance target bit length A in the first measurement cycle L2.
When an error bit is added to the first bit data A1 included in the above, in the next measurement cycle L2, the minimum value X = 112, which is 9 · X ≧ 1000, due to its periodicity.
From (1000 = 9 × 111 + 1), the second bit data A2
An error bit is added to. Furthermore, the next measurement cycle L
In 2, an error bit is added to the third bit data A3. Thus, each time the measurement period L1 arrives, each bit data A included in the disturbance target bit length A is
Bit errors are added in order from 1 to A9, so
Bit errors are evenly added to all the bit data A1 to A9.

【0018】しかし、分周比CがC1 (=999 )の場
合、最初の測定周期L1 において、擾乱対象ビット長A
に含まれる先頭のビットデータA1 に対してビットエラ
ーが付加されると、次の測定周期L1 においては、その
周期性から、9・X≧999となる最小値X=111よ
り(999= 9×111 +0 )、同じく、先頭のビットデータ
A1 にビットエラーが付加される。同様に、次の測定周
期L1 においても、先頭のビットデータA1 にビットエ
ラーが付加される。すなわち、たとえ新たな測定周期L
1 が到来しても常に先頭のビットデータA1 に対しての
みビットエラーが付加される。
However, when the frequency division ratio C is C1 (= 999), the disturbance target bit length A is obtained in the first measurement cycle L1.
When a bit error is added to the first bit data A1 included in, in the next measurement cycle L1, due to its periodicity, the minimum value X = 111 that satisfies 9 · X ≧ 999 (999 = 9 × 111 +0), similarly, a bit error is added to the leading bit data A1. Similarly, also in the next measurement cycle L1, a bit error is added to the leading bit data A1. That is, even if a new measurement cycle L
Even if 1 comes, a bit error is always added only to the first bit data A1.

【0019】このように、擾乱対象ビット長Aの値によ
っては、この擾乱対象ビット長Aに含まれるビットデー
タA1 ,A2 ,…,A9 の内に全くビットエラーが付加
されないビットデータが発生することになる。このこと
は、例えばDビットのみを監視した場合、エラーが発生
しなかったことになる。
As described above, depending on the value of the disturbance target bit length A, the bit data A1, A2, ..., A9 included in the disturbance target bit length A may include bit data to which no bit error is added. become. This means that no error has occurred when only the D bit is monitored, for example.

【0020】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、分周器に設定する分周比で示される実際の
測定周期を一律に規定ビット長に設定するのではなく、
擾乱対象ビット長に応じて、規定ビット長に近傍値に移
動させることによって、擾乱対象ビット長に含まれる全
部のビットデータに対して必ず均等にビットエラーが付
加され、このデジタル信号を用いた各種のエラー検出試
験の信頼性を向上できるデジタル信号の擾乱付加装置を
提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances. Instead of uniformly setting the actual measurement cycle indicated by the frequency division ratio set in the frequency divider to the specified bit length,
Depending on the bit length to be disturbed, by moving it to a value close to the specified bit length, all bit data included in the bit length to be disturbed are added bit errors evenly. It is an object of the present invention to provide a device for adding disturbance to a digital signal, which can improve the reliability of the error detection test of.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明は、デジタル信号のクロック信号を所定の分周
比で分周する分周手段と、この分周手段にて得られる分
周クロック信号に同期してデジタル信号に分周比で定ま
る一定ビット周期毎に擾乱ビットを生じせしめる擾乱発
生手段とを備えたデジタル信号の擾乱付加装置におい
て、分周手段の分周比を、デジタル信号における擾乱ビ
ットを生じせしめる擾乱対象ビット長に対して互いに素
である関係を有し、かつデジタル信号におけるエラー評
価用の規定ビット長に等しいか又は最も近い値に設定し
ている。
In order to solve the above problems, the present invention provides a frequency dividing means for dividing a clock signal of a digital signal by a predetermined frequency dividing ratio, and a frequency dividing obtained by the frequency dividing means. In a digital signal disturbance adding device provided with a disturbance generating means for generating a disturbance bit at every constant bit period determined by a dividing ratio in a digital signal in synchronization with a clock signal, the dividing ratio of the dividing means is set to a digital signal. The bit length has a disjoint relationship with the disturbance target bit length that causes the disturbance bit in (1) and is set to a value equal to or closest to the specified bit length for error evaluation in the digital signal.

【0022】[0022]

【作用】このように構成されたデジタル信号の擾乱付加
装置においては、デジタル信号に一定ビット周期毎に擾
乱ビットを発生させる擾乱発生手段を駆動するタイミン
グを決める分周手段の分周比を、デジタル信号における
擾乱ビットを生じせしめる擾乱対象ビット長に対して互
いに素である関係を有し、かつデジタル信号におけるエ
ラー評価用の規定ビット長に等しいか又は最も近い値に
設定している。
In the digital signal disturbance adding device configured as described above, the frequency division ratio of the frequency dividing means for determining the timing for driving the disturbance generating means for generating the disturbance bit in the digital signal at every constant bit period is set to a digital value. It has a disjoint relation to the disturbance target bit length that causes the disturbance bit in the signal, and is set to a value equal to or closest to the specified bit length for error evaluation in the digital signal.

【0023】すなわち、擾乱対象ビット長をAとし、規
定ビット長をLとし、求められた分周比Cで定まる実際
の測定ビット長をLq とすると、この測定ビット長Lq
と擾乱対象ビット長Aとは互いに素の関係を有するの
で、1以外の公約数を有しない。このことは、例えばA
<Lq の場合、X=(Lq /A)は整数とならないの
で、K,Eを整数とすると、測定ビット長Lq を(1) 式
で示すことが可能である。
That is, assuming that the disturbance target bit length is A, the prescribed bit length is L, and the actual measurement bit length determined by the obtained frequency division ratio C is Lq, this measurement bit length Lq
And the disturbance target bit length A have a prime relationship with each other, and therefore have no common divisor other than 1. This means that A
In the case of <Lq, X = (Lq / A) is not an integer. Therefore, if K and E are integers, the measurement bit length Lq can be expressed by the equation (1).

【0024】 Lq =K・A+E (1) したがって、最初の測定ビット長Lq において、擾乱対
象ビット長Aに含まれる任意番目のビットデータAn に
対してビットエラーが付加されると、次の測定ビット長
Lq においては、擾乱対象ビット長Aの該当ビットデー
タAn に対してビットエラーが付加されることはなな
く。該当ビットデータAn からEビットだけ後のビット
データAn+E にビットエラーが付加される。このように
測定ビット長Lq が到来する毎に、ビットエラーが付加
されるビットデータがEビットずつ後方へずれて行く。
Lq = K · A + E (1) Therefore, in the first measurement bit length Lq, when a bit error is added to the arbitrary bit data An included in the disturbance target bit length A, the next measurement bit is added. At the length Lq, no bit error is added to the corresponding bit data An of the disturbance target bit length A. A bit error is added to the bit data An + E, which is E bits after the corresponding bit data An. Thus, each time the measured bit length Lq arrives, the bit data to which the bit error is added is shifted backward by E bits.

【0025】そして、(1) 式において、EはAで割切れ
ないので、例えば(A/E)を越える整数回目の測定ビ
ット長Lq が到来した時点においても、ビットエラーが
付加されるビットデータは1回目の測定ビット長Lq に
おけるビットデータAn に一致しない。すなわち、(A
+1)回目の測定ビット長Lq が到来した時点において
初めて、一番最初のビットデータAn にビットエラーが
付加されることになる。
In the equation (1), since E cannot be divided by A, bit data to which a bit error is added even when the integer number of measurement bit length Lq exceeding (A / E) arrives, for example. Does not match the bit data An in the first measurement bit length Lq. That is, (A
Only when the +1) th measurement bit length Lq arrives, a bit error is added to the very first bit data An.

【0026】したがって、A回の測定ビット長Lq が終
了すると、擾乱対象ビット長Aに含まれる全部のビット
データA1 〜AA に1回ずつ均等にビットエラーが付加
されることになる。
Therefore, when the measurement bit length Lq of A times is completed, the bit error is evenly added once to all the bit data A1 to AA included in the disturbance target bit length A.

【0027】そして、擾乱対象ビット長Aに対してこの
ような関係を満足する多数の測定ビット長Lq のうち
で、規定ビット長Lに一致するかまたは最も近い値を選
択すれば、例えば、CCITT規格の誤り発生限界(S
ES)を満足するか否かの試験に用いるデジタル信号が
得られる。
Then, among a large number of measurement bit lengths Lq satisfying such a relation with respect to the disturbance target bit length A, if a value that is equal to or closest to the specified bit length L is selected, for example, CCITT Standard error limit (S
A digital signal is obtained which is used to test whether ES) is satisfied.

【0028】[0028]

【実施例】以下本発明の一実施例を図面を用いて説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0029】図1は実施例のデジタル信号の擾乱付加装
置が組込まれた試験システムを示すブロック図である。
図4に示す試験システムと同一部分には同一符号が付さ
れている。したがって、重複する部分の詳細説明は省略
されている。
FIG. 1 is a block diagram showing a test system in which the digital signal disturbance adding device of the embodiment is incorporated.
The same parts as those of the test system shown in FIG. 4 are designated by the same reference numerals. Therefore, detailed description of the overlapping portions is omitted.

【0030】試験信号発生回路1は、例えば図5に示す
ようなPCM信号からなる試験用のデジタル信号aを次
の擾乱付加装置10内の擾乱付加回路3へ送出する。ま
た、試験信号発生回路1は出力するデジタル信号aを作
成するために用いたクロック信号bを擾乱付加装置10
内の分周回路4aへ送出する。分周回路4aは制御部1
1から指定された分周比Cでクロック信号bの周波数f
を分周して、周波数(f/C)を有する分周クロック信
号dを擾乱付加回路3へ送出する。なお、この分周クロ
ック信号dのパルス幅はデジタル信号aの各ビットデー
タの継続時間すなわち、クロック信号bのパルス幅に等
しく設定されている。
The test signal generating circuit 1 sends a test digital signal a consisting of a PCM signal as shown in FIG. 5 to the disturbance adding circuit 3 in the next disturbance adding device 10. In addition, the test signal generating circuit 1 uses the clock signal b used to create the output digital signal a as the disturbance adding device 10
It is sent to the internal frequency dividing circuit 4a. The frequency dividing circuit 4a is the control unit 1.
The frequency f of the clock signal b with the division ratio C specified from 1
And frequency-divided clock signal d having a frequency (f / C) is sent to the disturbance addition circuit 3. The pulse width of the divided clock signal d is set equal to the duration of each bit data of the digital signal a, that is, the pulse width of the clock signal b.

【0031】擾乱付加回路3は例えば図2に示すように
構成されている。試験信号発生回路1から入力されるP
CM信号からなるデジタル信号aはアンドゲート3aの
一方の入力端子へ入力されると共に、インバータ3bを
介して別のアンドゲート3cへ入力される。一方、分周
回路4aから入力された分周クロック信号dはインバー
タ3dを介してアンドケート3aの他方の入力端子へ入
力されると共に、別のインバータ3eを介してアンドゲ
ート3cの他方の入力端子へ印加される。各アンドゲー
ト3a,3cの各出力信号はオアゲート3fで信号合成
されて新たなデジタル信号a1 として次の被試験装置5
へ送出される。
The disturbance adding circuit 3 is constructed, for example, as shown in FIG. P input from the test signal generation circuit 1
The digital signal a composed of the CM signal is input to one input terminal of the AND gate 3a, and is also input to another AND gate 3c via the inverter 3b. On the other hand, the divided clock signal d input from the frequency dividing circuit 4a is input to the other input terminal of the AND gate 3a via the inverter 3d and the other input terminal of the AND gate 3c via another inverter 3e. Is applied to. The output signals of the AND gates 3a and 3c are combined by the OR gate 3f to form a new digital signal a1 as the next device under test 5.
Sent to.

【0032】このような構成の騒乱付加回路3におい
て、分周回路4aからの分周クロック信号dがロー
(L)レベル期間においては、アンドゲート3aは導通
状態であり、アンドゲート3cは遮断状態であるので、
入力されたデジタル信号aはそのままデジタル信号a1
として出力される。逆に、分周回路4aからの分周クロ
ック信号dがハイ(H)レベル期間においては、アンド
ゲート3aは遮断状態であり、アンドゲート3cは導通
状態であるので、入力されたデジタル信号aはインバー
タ3bで符号が反転されて、デジタル信号a1 として出
力される。
In the disturbance adding circuit 3 having such a configuration, the AND gate 3a is in the conducting state and the AND gate 3c is in the shut-off state while the divided clock signal d from the dividing circuit 4a is in the low (L) level period. Therefore,
The input digital signal a is the digital signal a1 as it is.
Is output as. Conversely, while the divided clock signal d from the frequency dividing circuit 4a is in the high (H) level period, the AND gate 3a is in the cutoff state and the AND gate 3c is in the conductive state, so that the input digital signal a is The sign is inverted by the inverter 3b and output as a digital signal a1.

【0033】すなわち、この擾乱付加回路3は、Hレベ
ルの分周クロック信号dが入力されない限り、試験信号
発生回路1から入力されたデシタル信号aをそのまま被
試験装置5へ送出する。そして、Hレベルの分周クロッ
ク信号dが入力すると、デジタル信号aを構成する各ビ
ットデータのうちこの分周クロック信号d入力に同期す
るビットデータの値を反転する。すなわち、デジタル信
号aは分周比Cで定まる一定の測定ビット長(ビット周
期)Lq (=1/C)毎に擬似ビットエラーが付加され
ることになる。
That is, the disturbance adding circuit 3 sends the digital signal a input from the test signal generating circuit 1 to the device under test 5 as it is, unless the divided clock signal d of H level is input. Then, when the H-level divided clock signal d is input, the value of the bit data that is synchronized with the input of the divided clock signal d among the bit data forming the digital signal a is inverted. That is, the pseudo bit error is added to the digital signal a for each constant measurement bit length (bit period) Lq (= 1 / C) determined by the frequency division ratio C.

【0034】その結果、被試験装置5には擬似ビットエ
ラーが付加されたデジタル信号a1が入力される。被試
験装置5は入力されたデジタル信号a1 に対するこの装
置本来のデータ処理を実行する共に、このデジタル信号
a1 にビットエラーが存在するか否かを調べて、1秒間
のピットエラーを検出して、その割合が平均して前記規
定ビット長Lより短い場合に、エラー検出信号eを次の
誤り測定装置6へ送出する。誤り測定装置6はエラー検
出信号eを統計処理して被試験装置5のエラー検出能力
を評価する。
As a result, the digital signal a1 to which the pseudo bit error is added is input to the device under test 5. The device under test 5 performs the original data processing of the input digital signal a1 and checks whether or not there is a bit error in the digital signal a1 to detect a pit error of 1 second, When the ratio is on average shorter than the specified bit length L, the error detection signal e is sent to the next error measuring device 6. The error measuring device 6 statistically processes the error detection signal e to evaluate the error detection capability of the device under test 5.

【0035】前記制御部11は一種のマイクロコンピュ
ータで構成されており、内部記憶部に分周比割付テーブ
ル12が形成されている。この分周比割付テーブル12
内には、例えばCCITTの誤り発生限界(SES)規
格に定められた規定ビット長Lと擾乱対象ビット長Aと
の各組合わせに対する実際の測定ビット長L1 ,L2に
対応する各分周比C1 (=L1 ),C2 (=L2)が記憶
されている。
The control unit 11 is composed of a kind of microcomputer, and a division ratio allocation table 12 is formed in the internal storage unit. This division ratio allocation table 12
For example, the frequency division ratio C1 corresponding to the actual measured bit lengths L1 and L2 for each combination of the prescribed bit length L defined in the error occurrence limit (SES) standard of CCITT and the disturbance target bit length A (= L1) and C2 (= L2) are stored.

【0036】測定ビット長L1 (=C1)は、前述したよ
うに、擾乱対象ビット長Aに対して互いに素であり、か
つ規定ビット長L未満で最も規定ビット長Lに近い値に
設定されている。また、測定ビット長L2 (=C2)は、
前述したように、擾乱対象ビット長Aに対して互いに素
であり、かつ規定ビット長L以上で規定ビット長Lに等
しいか、又はこの規定ビット長L以上で規定ビット長L
に最も近い値に設定されている。
As described above, the measured bit length L1 (= C1) is set to a value that is relatively prime to the disturbance target bit length A, and is less than the prescribed bit length L and closest to the prescribed bit length L. There is. The measurement bit length L2 (= C2) is
As described above, the bit length A is disjoint with respect to the disturbance target bit length A, and is equal to or greater than the prescribed bit length L when the prescribed bit length L is exceeded or equal to or greater than the prescribed bit length L.
Is set to the value closest to.

【0037】具体的に説明すると、規定ビット長Lが1
000であり、擾乱対象ビット長Aが9の場合、分周比
C1 (=L1 ),C2 (=L2 )はそれそれ998 ,1000
となる。さらに、規定ビット長Lが1000であり、擾
乱対象ビット長Aが256の場合、分周比C1 ,C2 は
それそれ999 ,1001となる。
Specifically, the specified bit length L is 1
000 and the bit length A of the disturbance target is 9, the frequency division ratios C1 (= L1) and C2 (= L2) are 998 and 1000, respectively.
Becomes Further, when the prescribed bit length L is 1000 and the disturbance target bit length A is 256, the frequency division ratios C1 and C2 are 999 and 1001, respectively.

【0038】擾乱対象ビット長A=9の場合についてさ
らに具体的に説明すると、9=32であるので、L1 お
よびL2 を因数分解した場合に、素数3が含まれなけれ
ばよい。そして、規定ビット長L=1000に等しいか又は
最も近似する値を選択すればよい。1000は3で割れない
ので、L2 =1000となる。また、1000 未満でかつ3で
割れない最大数字は998 であるので、L1 =998 とな
る。
The case where the perturbation target bit length A = 9 will be described more specifically. Since 9 = 3 2, it is sufficient that the prime number 3 is not included when L 1 and L 2 are factored. Then, a value equal to or closest to the specified bit length L = 1000 may be selected. Since 1000 does not break at 3, L2 = 1000. Also, since the maximum number that is less than 1,000 and does not break at 3 is 998, L1 = 998.

【0039】また、擾乱対象ビット長A=256 の場合に
おいては、256=28 であるので、L1 およびL2 を
因数分解した場合に、素数2が含まれなければよい。そ
して、規定ビット長L=1000に等しいか又は最も近似す
る値を選択すればよい。1001は2で割れないので、L2
=1001となる。また、1000 未満でかつ2で割れない最
大数字は999 であるので、L1 =999 となる。
In addition, since 256 = 2 8 in the case of the disturbance target bit length A = 256, it is sufficient that the prime number 2 is not included in the factorization of L1 and L2. Then, a value equal to or closest to the specified bit length L = 1000 may be selected. 1001 does not break at 2, so L2
= 1001. Also, since the maximum number less than 1,000 and not broken by 2 is 999, L1 = 999.

【0040】この制御部11には例えばキーボード等か
らなる条件設定部13が接続されている。そして、この
制御部11は、操作者がこの条件設定部13を操作し
て、規定ビット長Lおよび擾乱対象ビット長Aを指定し
て、実験開始指令を入力すると、この各ビット長L,A
の組合わせに対応する各分周比C1 .C2 が分周比割付
テーブル12から検索される。そして、最初の一定期間
T1 、分周回路4aに一方の分周比C1 を設定し、次の
一定期間T2 、分周回路4aに他方の分周比C2を設定
する。
A condition setting unit 13 such as a keyboard is connected to the control unit 11. Then, when the operator operates the condition setting unit 13 to specify the specified bit length L and the disturbance target bit length A and input the experiment start command, the control unit 11 inputs the bit lengths L and A.
Each division ratio C1. C2 is retrieved from the division ratio allocation table 12. Then, one frequency division ratio C1 is set in the frequency dividing circuit 4a for the first constant period T1, and the other frequency division ratio C2 is set in the frequency dividing circuit 4a for the next constant period T2.

【0041】このように構成されたデジタル信号の擾乱
付加装置において、規定ビット長L=1000, 擾乱対象ビ
ット長A=9を設定し、試験信号発生回路1を起動し
て、デジタル信号aを出力開始すると、先ず、分周比C
がC1 (=998 )に設定される。
In the digital signal disturbance adding device configured as described above, the prescribed bit length L = 1000 and the disturbance target bit length A = 9 are set, the test signal generating circuit 1 is activated, and the digital signal a is output. When you start, first, divide ratio C
Is set to C1 (= 998).

【0042】この場合、最初の測定周期(測定ビット長
L1 )において、擾乱対象ビット長Aに含まれる先頭の
ビットデータA1 に対してビットエラーが付加される
と、次の測定周期においては、その周期性から、9・X
≧998となる最小値X=110より(998= 9×110 +
8 )、9番目のビットデータA9 にビットエラーが付加
される。同様に、次の測定周期においては、8番目のビ
ットデータA8 にビットエラーが付加される。このよう
に、測定周期が到来する毎に、擾乱対象ビット長Aに含
まれる各ビットデータA9 〜A1 に順番にビットエラー
が付加されていくので、全てのビットデータA1 〜A9
に対して均等にビットエラーが付加される。
In this case, when a bit error is added to the first bit data A1 included in the disturbance target bit length A in the first measurement cycle (measurement bit length L1), the bit error is added in the next measurement cycle. From periodicity, 9 · X
From the minimum value X = 110 where ≧ 998 (998 = 9 × 110 +
8), a bit error is added to the 9th bit data A9. Similarly, in the next measurement cycle, a bit error is added to the eighth bit data A8. Thus, every time the measurement cycle arrives, bit errors are sequentially added to the respective bit data A9 to A1 included in the disturbance target bit length A, so that all the bit data A1 to A9 are added.
The bit error is evenly added to.

【0043】次に、一定期間T1 が経過すると、分周比
CがC2 (=1000)に設定される。この場合、最初の測
定周期(測定ビット長L2 )において、擾乱対象ビット
長Aに含まれる先頭のビットデータA1 に対してエラー
ビットが付加されると、次の測定周期においては、その
周期性から、9・X≧1000となる最小値X=112
より(1000= 9 ×111 +1 )、2番目のビットデータA
2 にエラービットが付加される。さらに、次の測定周期
においては、3番目のビットデータA3 にエラービット
が付加される。このように、測定周期が到来する毎に、
擾乱対象ビット長Aに含まれる各ビットデータA1 〜A
9 に順番にビットエラーが付加されていくので、全ての
ビットデータA1 〜A9 に対して均等にビットエラーが
付加される。
Next, when the fixed period T1 has elapsed, the frequency division ratio C is set to C2 (= 1000). In this case, if an error bit is added to the first bit data A1 included in the disturbance target bit length A in the first measurement cycle (measurement bit length L2), then in the next measurement cycle, due to its periodicity, , 9 · X ≧ 1000, the minimum value X = 112
From (1000 = 9 × 111 + 1), the second bit data A
An error bit is added to 2. Further, in the next measurement cycle, an error bit is added to the third bit data A3. In this way, each time the measurement cycle arrives,
Each bit data A1 to A included in the disturbance target bit length A
Since the bit errors are sequentially added to 9, the bit errors are evenly added to all the bit data A1 to A9.

【0044】このように、規定ビット長Lと擾乱対象ビ
ット長Aとが定まると、規定ビット長Lに近くて、かつ
擾乱対象ビット長Aと互いに素となる値を実際の測定ビ
ット長L1 .L2 に設定し、かつこの値を分周器4aに
設定している。したがって、擾乱対象ビット長Aに含ま
れる各ビットデータA,…,AA には必ず均一にビット
エラーが付加される。その結果、被試験装置5に対する
より完全なエラー検出機能に対する試験を実施すること
が可能となる。
In this way, when the specified bit length L and the disturbance target bit length A are determined, a value close to the specified bit length L and relatively prime to the disturbance target bit length A is actually measured bit length L1. It is set to L2, and this value is set to the frequency divider 4a. Therefore, bit errors are always added uniformly to each bit data A, ..., AA included in the disturbance target bit length A. As a result, it becomes possible to carry out a test for a more complete error detection function for the device under test 5.

【0045】なお、実施例装置においては、規定ビット
長Lと擾乱対象ビット長Aとの関係がL=1000,A=9
およびL=1000,A=256 の場合についてのみ説明した
が、例えば実際のISDNにおけるPCM通信において
は、クロック信号bの周波数(伝送速度)fが1.544 M
Hzおよび2.048 MHzとなり、また、デジタル信号におけ
る1フレームのビット長(擾乱対象ビット長A)は193
,256 となる。そして、規定ビット長Lを1000および1
000000 に設定した場合の、上述した各条件における各
測定周期L1 ,L2 は下表のようになる。
In the embodiment, the relationship between the prescribed bit length L and the disturbance target bit length A is L = 1000, A = 9.
Although only the case of L = 1000 and A = 256 has been described, for example, in the PCM communication in the actual ISDN, the frequency (transmission speed) f of the clock signal b is 1.544 M.
Hz and 2.048 MHz, and the bit length of one frame in a digital signal (disturbance target bit length A) is 193
, 256. Then, the specified bit length L is 1000 and 1
When set to 000000, the measurement periods L1 and L2 under the above conditions are as shown in the table below.

【0046】[0046]

【表1】 このように、実際の運用においては、規定ビット長Lは
大きい値であるので、実際の測定ビット長L1 ,L2 と
規定ビット長Lとの差は被試験装置5に対するエラー検
出性能を評価する場合において殆ど問題にならない。
[Table 1] As described above, since the specified bit length L is a large value in actual operation, the difference between the actual measured bit lengths L1 and L2 and the specified bit length L is used when evaluating the error detection performance for the device under test 5. It doesn't matter at all.

【0047】図3は本発明の他の実施例に係わるデジタ
ル信号の擾乱付加装置の概略構成を示すブロック図であ
る。図1に示す実施例装置と同一部分には同一符号が付
してある。したがって、重複する部分の詳細説明は省略
されている。
FIG. 3 is a block diagram showing the schematic arrangement of a digital signal disturbance adding device according to another embodiment of the present invention. The same parts as those of the embodiment shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. Therefore, detailed description of the overlapping portions is omitted.

【0048】この実施例においては、通常のデータ送信
装置21から送出されデータ受信装置22へ入力される
デジタル信号aの信号路に実施例の擾乱付加装置10が
備えられている。したがって、この実施例装置において
は、装置内に、デジタル信号aから直接クロック信号b
を再生するクロック信号再生回路23が設けられてい
る。そして、このクロック信号再生回路23で再生され
たクロック信号bが分周回路4aへ入力される。
In this embodiment, the disturbance adding device 10 of the embodiment is provided in the signal path of the digital signal a sent from the normal data transmitting device 21 and input to the data receiving device 22. Therefore, in this embodiment, the digital signal a is directly converted into the clock signal b in the device.
There is provided a clock signal reproducing circuit 23 for reproducing. Then, the clock signal b reproduced by the clock signal reproducing circuit 23 is input to the frequency dividing circuit 4a.

【0049】このように構成された擾乱付加装置10で
あっても、被試験装置としてのデータ受信装置22へ入
力されるデジタル信号a1 に前述した条件で擾乱ビット
が付加されるので、図1の実施例とほぼ同様の効果を得
ることが可能である。
Even in the disturbance adding device 10 configured as described above, since the disturbance bit is added to the digital signal a1 input to the data receiving device 22 as the device under test under the above-mentioned conditions, the disturbance adding device of FIG. It is possible to obtain almost the same effect as the embodiment.

【0050】[0050]

【発明の効果】以上説明したように本発明のデジタル信
号の擾乱付加装置によれば、分周器に設定する分周比で
示される実際の測定周期を一律に規定ビット長に設定す
るのではなく、擾乱対象ビット長に応じて、この測定対
象ビットと互いに素である関係を有し、かつ規定ビット
長に等しいかまたは近傍値になるように設定している。
したがって、擾乱対象ビット長に含まれる全部のビット
データに対して必ず均等にビットエラーが付加され、こ
のデジタル信号を用いた各種のエラー検出試験の信頼性
を向上できる。
As described above, according to the digital signal disturbance adding device of the present invention, the actual measurement cycle indicated by the frequency division ratio set in the frequency divider is not uniformly set to the specified bit length. Instead, it is set so as to have a disjoint relation with the measurement target bit according to the disturbance target bit length and be equal to or close to the specified bit length.
Therefore, bit errors are always evenly added to all bit data included in the disturbance target bit length, and the reliability of various error detection tests using this digital signal can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施例に係わるデジタル信号の擾
乱付加装置が組込まれた測定システムを示すブロック
図、
FIG. 1 is a block diagram showing a measurement system incorporating a digital signal disturbance adding device according to an embodiment of the present invention;

【図2】 同実施例装置の擾乱付加回路を示す回路図、FIG. 2 is a circuit diagram showing a disturbance adding circuit of the apparatus of the embodiment,

【図3】 本発明の他の実施例に係わるデジタル信号の
擾乱付加装置が組込まれた測定システムを示すブロック
図、
FIG. 3 is a block diagram showing a measurement system incorporating a digital signal disturbance adding device according to another embodiment of the present invention;

【図4】 従来の擾乱付加装置が組込まれた測定システ
ムを示すブロック図、
FIG. 4 is a block diagram showing a measurement system in which a conventional disturbance adding device is incorporated.

【図5】 一般的なデジタル信号を示すフレーム構成
図、
FIG. 5 is a frame configuration diagram showing a general digital signal,

【図6】 ISDN回線におけるデジタル信号を示すフ
レーム構成図。
FIG. 6 is a frame configuration diagram showing a digital signal in an ISDN line.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…試験信号発生回路、3…擾乱付加回路、4a…分周
回路、5…被試験装置、6…誤り測定装置、10…擾乱
付加装置、11…制御部、12…分周比割付テーブル、
13…条件設定部。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Test signal generating circuit, 3 ... Disturbance addition circuit, 4a ... Dividing circuit, 5 ... Device under test, 6 ... Error measuring device, 10 ... Disturbance adding device, 11 ... Control part, 12 ... Division ratio allocation table,
13 ... Condition setting section.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 デジタル信号(a) のクロック信号(b) を
所定の分周比で分周する分周手段(4a)と、この分周手段
にて得られる分周クロック信号(d) に同期して前記デジ
タル信号に前記分周比で定まる一定ビット周期毎に擾乱
ビットを生じせしめる擾乱発生手段(3) とを備えたデジ
タル信号の擾乱付加装置において、 前記分周比は、前記デジタル信号における擾乱ビットを
生じせしめる擾乱対象ビット長に対して互いに素である
関係を有し、かつ前記デジタル信号におけるエラー評価
用の規定ビット長に等しいか又は最も近い値であること
を特徴とするデジタル信号の擾乱付加装置。
1. A frequency dividing means (4a) for dividing a clock signal (b) of a digital signal (a) by a predetermined dividing ratio and a divided clock signal (d) obtained by this dividing means. In the disturbance adding device for a digital signal, which is provided with a disturbance generating means (3) for generating a disturbance bit at every constant bit period which is synchronously determined in the digital signal by the division ratio, the division ratio is the digital signal. A digital signal having a disjoint relation to a disturbance target bit length that causes a disturbance bit in and a value equal to or closest to a specified bit length for error evaluation in the digital signal. Disturbance addition device.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000028709A1 (en) * 1998-11-11 2000-05-18 Kabushiki Kaisha Kenwood Dummy error addition circuit
JP2020120250A (en) * 2019-01-23 2020-08-06 アンリツ株式会社 FEC error adding device, test signal generating device using the same, and FEC error adding method

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