JPH0645334U - Substrate processing equipment - Google Patents
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- JPH0645334U JPH0645334U JP8773092U JP8773092U JPH0645334U JP H0645334 U JPH0645334 U JP H0645334U JP 8773092 U JP8773092 U JP 8773092U JP 8773092 U JP8773092 U JP 8773092U JP H0645334 U JPH0645334 U JP H0645334U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な構造により安価でメンテナンスが容易
な処理槽を備えた基板処理装置を提供する。
【構成】 処理液を充満して基板の表面処理を行なう内
槽1と、この処理槽1と分離して配設され前記内槽1か
ら溢れ出た処理液Lを回収する外槽2とを備え、内槽1
下部に設けられた処理液噴出パイプ3から処理液を内槽
1内に噴出するとともに、内槽1から溢れ出た処理液を
外槽2によって回収して循環ポンプ7で循環させ、濾過
器8で浄化した後再使用する。
(57) [Summary] [Object] To provide a substrate processing apparatus having a processing tank which has a simple structure and is inexpensive and easy to maintain. An inner tank 1 for filling a surface of a substrate with a processing liquid and an outer tank 2 which is arranged separately from the processing tank 1 and collects the processing liquid L overflowing from the inner tank 1. Prepared, inner tank 1
The treatment liquid is ejected from the treatment liquid ejecting pipe 3 provided in the lower portion into the inner tank 1, and the treatment liquid overflowing from the inner tank 1 is recovered by the outer tank 2 and circulated by the circulation pump 7, and the filter 8 Reuse after cleaning with.
Description
【0001】[0001]
本考案は、基板処理装置、特に、半導体基板や液晶用又はフォトマスク用ガラ ス基板等の薄板状基板(以下、単に「基板」という。)を表面処理するための基 板処理装置における処理槽の構成に関する。 The present invention relates to a substrate processing apparatus, particularly a processing tank in a substrate processing apparatus for surface-treating a thin substrate (hereinafter simply referred to as “substrate”) such as a semiconductor substrate or a glass substrate for a liquid crystal or a photomask. Regarding the configuration of.
【0002】[0002]
基板を処理槽に充満した処理液に浸漬し、処理槽下部から処理液を供給して処 理槽の上縁部から溢れ出させて当該基板の表面処理を行なう、いわゆるオーバー フロー方式の基板処理装置においては、基板表面に常に清浄な処理液が供給され るため、処理時間を短縮できるという利点がある。 Substrate processing of so-called overflow method, in which the substrate is immersed in the processing solution filled in the processing tank, the processing solution is supplied from the lower part of the processing tank to overflow from the upper edge of the processing tank, and the surface of the substrate is processed. In the apparatus, since a clean processing liquid is constantly supplied to the substrate surface, there is an advantage that the processing time can be shortened.
【0003】 このようなオーバーフロー方式の基板処理装置にあっては、通常、処理槽から 溢れ出た処理液を回収してポンプで循環させて再使用し、メンテナンスコストを 低減するようになっている。In such an overflow type substrate processing apparatus, usually, the processing liquid overflowing from the processing tank is collected and circulated by a pump for reuse, thereby reducing the maintenance cost. .
【0004】 従来、このような処理液を循環させるオーバーフロー方式の基板処理装置とし て、たとえば図8に示すようなものがあった。Conventionally, as an overflow type substrate processing apparatus for circulating such a processing liquid, for example, there is one as shown in FIG.
【0005】 同図8において石英製の処理槽101の外周上部には、当該処理槽101の上 縁部101aから溢れ出た処理液Lを回収するための石英製の回収槽102が前 記処理槽101と一体に形成されている。In FIG. 8, a quartz recovery tank 102 for recovering the processing liquid L overflowing from the upper edge portion 101a of the processing tank 101 is disposed above the outer periphery of the processing tank 101 made of quartz. It is formed integrally with the tank 101.
【0006】 回収槽102に貯溜した処理液Lは、廃液パイプ103より排出され、循環ポ ンプ104によって強制的に濾過器105に送られて浄化された後、処理液供給 パイプ106を介して上記処理槽101の下部に横設された処理液噴出パイプ1 07に供給され、その噴出孔107aから処理槽101内に噴出される。The treatment liquid L stored in the recovery tank 102 is discharged from the waste liquid pipe 103, forcibly sent to the filter 105 by the circulation pump 104 and purified, and then the treatment liquid L is supplied via the treatment liquid supply pipe 106. The liquid is supplied to the processing liquid jet pipe 107 provided in the lower portion of the processing bath 101, and jetted into the processing bath 101 from the jet hole 107a.
【0007】 紙面に垂直に並んでいる基板Wは、基板搬送容器(キャリア)108内に起立 状態で保持されたまま図示しない基板搬送装置によって搬送されて処理槽101 内に浸漬される。処理液噴出パイプ107から噴出された処理液Lは、基板Wの 表面に沿って流れ、やがて上縁部101aから溢れ出て循環される。The substrates W arranged perpendicularly to the paper surface are carried by a substrate carrying device (not shown) while being held upright in a substrate carrying container (carrier) 108 and immersed in the processing bath 101. The processing liquid L jetted from the processing liquid jet pipe 107 flows along the surface of the substrate W, and eventually overflows from the upper edge portion 101a and is circulated.
【0008】 なお、109は処理槽中間板であって、噴出孔107aから噴出された処理液 Lの流れが当該処理槽中間板109の孔109aを通過することにより均一化さ れて基板Wに供給されるようになっており、表面処理の均一化を目的として設置 される。Reference numeral 109 denotes a processing tank intermediate plate, and the flow of the processing liquid L ejected from the ejection holes 107 a is made uniform by passing through the holes 109 a of the processing tank intermediate plate 109 to form the substrate W. It is being supplied and will be installed for the purpose of uniform surface treatment.
【0009】[0009]
しかしながら、上述のような従来の基板処理装置における処理槽の構造におい ては、次のような問題点があった。 However, the structure of the processing tank in the conventional substrate processing apparatus as described above has the following problems.
【0010】 (1) 処理液Lには、硫酸などの強度の腐食性を有する薬液を使用する場合 が多く、そのためフッ酸を使用する場合を除いて処理槽101は石英で形成され るのが通常であるが、石英は強度が乏しいうえ、処理槽101と回収槽102が 一体構造なのでその外形が複雑であって取扱いに注意が必要であり、基板処理装 置の組み立て時や、処理槽の交換時などに破損するおそれが高かった。(1) As the treatment liquid L, a chemical liquid having a strong corrosive property such as sulfuric acid is often used. Therefore, the treatment tank 101 is made of quartz except when hydrofluoric acid is used. Normally, quartz has low strength, and since the processing tank 101 and the recovery tank 102 have an integral structure, the external shape is complicated and requires careful handling. When assembling the substrate processing apparatus or when processing the processing tank, There was a high risk of damage during replacement.
【0011】 (2) 上述のように回収槽102が処理槽101と一体形成されるため、回 収槽も当然石英製となるが、石英を素材としてこのような一体構造の処理槽を形 成するにはコストが高くつくという欠点がある。これを避けるため、回収槽のみ 安価で耐腐食性を有する樹脂で別個に形成して処理槽101に取り付けることも 考えられるが、別部材の回収槽102を処理槽101の周囲に密閉状態で取り付 けるためには、複雑な加工が必要になってかえってコストが高くなるという不都 合があるとともに、処理槽101の当該取り付け部分での強度が弱くなるという 欠点がある。(2) Since the recovery tank 102 is integrally formed with the processing tank 101 as described above, the recovery tank is naturally made of quartz. However, quartz is used as a raw material to form such an integrated processing tank. Has the drawback of being expensive. In order to avoid this, it is conceivable that only the recovery tank is separately formed from a resin that is inexpensive and has corrosion resistance and is attached to the processing tank 101. However, a separate collection tank 102 is provided around the processing tank 101 in a sealed state. In order to attach it, there is a disadvantage that complicated processing is required and the cost is rather high, and the strength of the attachment portion of the processing tank 101 is weak.
【0012】 (3) 最近は基板の径が6インチから8インチへと大型化する傾向にあり、 両方のサイズの基板を処理できるコンパチブルな基板処理装置が望まれているが 、その場合に従来の基板処理装置では一体化された処理槽101全体をサイズの 異なるものに交換する必要がある。ところが従来の処理槽101は上述のように 高価でしかも破損しやすく、取扱いが不便である。(3) Recently, the substrate diameter tends to increase from 6 inches to 8 inches, and a compatible substrate processing apparatus capable of processing substrates of both sizes is desired. In this substrate processing apparatus, it is necessary to replace the integrated processing bath 101 with one having a different size. However, the conventional processing tank 101 is expensive and easily damaged as described above, and is inconvenient to handle.
【0013】 (4) 特にオーバーフロー方式の基板処理装置においては処理液Lを循環濾 過して再使用する場合、濾過に時間がかかり回収槽102に処理液Lがしばらく 貯溜することになるので、当該回収槽102に所定の容量が望まれるが、従来の ように処理槽101の外周部に回収槽102を設けた場合には、所定の容量を確 保するためにその平面面積を大きくしなければならず、それだけ一体化された処 理槽が占める平面面積が大きくなる。通常、基板処理装置は複数の処理槽を一列 に配列して構成するので全体としてかなり大型化してしまう。(4) Particularly, in the overflow type substrate processing apparatus, when the processing liquid L is circulated and filtered and reused, it takes a long time to filter and the processing liquid L is stored in the recovery tank 102 for a while. A predetermined capacity is desired for the recovery tank 102. However, when the recovery tank 102 is provided on the outer peripheral portion of the processing tank 101 as in the conventional case, its planar area must be increased in order to ensure the predetermined capacity. In that case, the plane area occupied by the integrated processing tank becomes larger. In general, a substrate processing apparatus is constructed by arranging a plurality of processing tanks in a line, so that the size of the entire processing apparatus is considerably increased.
【0014】 (5) また回収槽102も石英なので破損しやすく、表面処理をしている際 に何かの原因、たとえば基板搬送装置のトラブルなどで当該回収槽102が破損 して劇薬の処理液が外部に流出すれば、基板処理装置を破損させるだけでなく、 作業員の人身事故にも繋がりかねないおそれがある。(5) Further, since the recovery tank 102 is also made of quartz, it is easily damaged, and during the surface treatment, the recovery tank 102 is damaged due to some cause, for example, a trouble of the substrate transfer device, and the treatment liquid of the powerful drug. If it leaks to the outside, it may not only damage the substrate processing apparatus but also cause personal injury to workers.
【0015】 本考案は、上述のような問題点を解消するためになされたものであって、簡単 な構造により安価でメンテナンスが容易な処理槽を備えた基板処理装置を提供す ることを目的とする。The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus having a processing tank which has a simple structure and is inexpensive and easy to maintain. And
【0016】[0016]
上記目的を達成するため、本考案にかかる基板処理装置は、 基板を処理槽に貯溜した処理液に浸漬して表面処理を行なう基板処理装置にお いて、 前記処理槽は、 前記処理液を充満して前記基板の表面処理を行なう内槽と、 前記内槽の外側に前記内槽と分離して配設され、前記内槽から溢れ出た処理液 を受けてこれを貯溜する外槽と、からなるとともに、 前記内槽に設けられ、前記処理液を前記内槽内に供給する処理液供給手段と、 前記外槽に貯溜した処理液を循環させて再度前記処理液供給手段に供給する処 理液循環手段と、を備える。 In order to achieve the above-mentioned object, the substrate processing apparatus according to the present invention is a substrate processing apparatus for performing surface treatment by immersing a substrate in a processing solution stored in a processing tank, wherein the processing tank is filled with the processing solution. An inner tank for performing the surface treatment of the substrate, and an outer tank disposed outside the inner tank and separated from the inner tank, for receiving the processing liquid overflowing from the inner tank and storing the same. And a treatment liquid supply means provided in the inner tank for supplying the treatment liquid into the inner tank, and a treatment liquid stored in the outer tank for being circulated and supplied again to the treatment liquid supply means. And a fluid circulation means.
【0017】 また、請求項2の基板処理装置は、請求項1において、内槽が石英で形成され 、外槽が耐腐食性樹脂で形成される。According to a second aspect of the substrate processing apparatus of the first aspect, the inner tank is made of quartz and the outer tank is made of a corrosion resistant resin.
【0018】[0018]
請求項1の考案によれば、内槽から溢れ出た処理液を回収する外槽を、前記内 槽から分離して配設した2層構造にしているので、内槽と外槽を別の部材で形成 することができるとともに、内槽のみの取り外しまたは交換が可能となる。外槽 に貯溜した処理液を処理液循環手段によって循環させて内槽下部に設けられた処 理液供給手段から供給し処理液を循環再使用する。 According to the invention of claim 1, since the outer tank for collecting the processing liquid overflowing from the inner tank has a two-layer structure in which it is arranged separately from the inner tank, the inner tank and the outer tank are separated from each other. It can be formed of a member, and only the inner tank can be removed or replaced. The treatment liquid stored in the outer tank is circulated by the treatment liquid circulating means and supplied from the treatment liquid supply means provided in the lower portion of the inner tank to circulate and reuse the treatment liquid.
【0019】 請求項2の考案によれば、内槽が石英で形成されているため十分な耐腐食性を 維持しながら表面処理できるとともに、外槽は耐腐食性樹脂で形成されているた め加工が容易で十分な強度を有する。According to the invention of claim 2, since the inner tank is made of quartz, the surface treatment can be performed while maintaining sufficient corrosion resistance, and the outer tank is made of the corrosion resistant resin. It is easy to process and has sufficient strength.
【0020】[0020]
以下、図面を参照して本考案にかかる基板処理装置の実施例を詳細に説明する が、本考案の技術的範囲がこれによって制限されるものではないことはもちろん である。 Hereinafter, embodiments of the substrate processing apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings, but it goes without saying that the technical scope of the present invention is not limited thereto.
【0021】 図1は本考案にかかる基板処理装置の要部の処理槽部分の正面縦断面図、図2 は図1のA−A線における矢視断面図である。FIG. 1 is a front vertical sectional view of a processing tank portion of a main part of a substrate processing apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA of FIG.
【0022】 石英で形成された内槽1の底面裏側には支持台として4本の円柱状の石英棒1 1が溶着されており、耐腐食性樹脂、たとえばテフロンで形成された外槽2内に 載置される。この際、石英棒11の下端を外槽2の底面に設けられた凹部21( 図2)に位置決めすることにより内槽1の設置を容易にし、また外部から振動が 加えられても位置ずれが生じないようになっている。Four cylindrical quartz rods 11 are welded as a support to the back side of the bottom of the inner tank 1 made of quartz, and the inside of the outer tank 2 made of a corrosion-resistant resin such as Teflon is used. Placed on. At this time, the lower end of the quartz rod 11 is positioned in the concave portion 21 (FIG. 2) provided on the bottom surface of the outer tank 2 to facilitate the installation of the inner tank 1 and to prevent the positional deviation even when vibration is applied from the outside. It does not happen.
【0023】 内槽1内の下部には石英で形成された2本の処理液噴出パイプ3が内槽1の側 面を貫通して水平に横設されており(図2)、その貫通部分で液密に溶着固定さ れる。処理液噴出パイプ3の端部31は閉塞されており、一方の端部32は内槽 1の側面から突出して第1の処理液供給パイプ33に接続され、継手34を介し て第2の処理液供給パイプ35に接続される。処理液噴出パイプ3の側面には、 複数の処理液噴出孔3aが、浸漬されるべき基板Wの配列間隔と等しいピッチで 1列に設けられており、処理液Lが基板Wの表面に均一に流れるように図1の矢 印方向に噴出する。噴出された処理液Lは内槽1内を流れてやがて上縁部12か ら溢れ出て外槽2に回収される。In the lower part of the inner tank 1, two processing liquid ejection pipes 3 made of quartz are horizontally provided so as to penetrate the side surface of the inner tank 1 (FIG. 2). It is welded and fixed in a liquid-tight manner. The end portion 31 of the processing liquid jetting pipe 3 is closed, and one end portion 32 projects from the side surface of the inner tank 1 to be connected to the first processing liquid supply pipe 33, and the second processing portion via the joint 34. It is connected to the liquid supply pipe 35. On the side surface of the processing liquid jetting pipe 3, a plurality of processing liquid jetting holes 3a are provided in one row at a pitch equal to the arrangement interval of the substrates W to be immersed, and the processing liquid L is evenly distributed on the surface of the substrate W. Eject in the direction of the arrow in Fig. The jetted processing liquid L flows in the inner tank 1 and eventually overflows from the upper edge portion 12 and is collected in the outer tank 2.
【0024】 上述のようなオーバーフロー方式の基板処理装置において処理液Lを循環濾過 して再使用する場合、濾過に所定時間要するため外槽2には一定の貯溜容量が要 求されるが、本実施例では内槽1の下面に石英棒11の支持台を設け外槽2から 浮いた状態で載置されているので、内槽1の下方の部分にも溢れ出した処理液L を貯溜することができ、外槽2の平面面積を大きくしなくても処理液Lの貯溜容 積を増やすことができる。その結果、基板処理装置全体の占める平面面積をコン パクトにすることができる。また、内槽1の取り外しができるので処理液Lと共 にオーバーフローした重金属の粉や基板の破片などが外槽の底部に溜っても、内 槽を取り外して容易に洗浄できるという利点もある。When the processing liquid L is circulated and filtered and reused in the above-described overflow type substrate processing apparatus, a certain storage capacity is required for the outer tank 2 because a predetermined time is required for the filtration. In the embodiment, since a support for the quartz rod 11 is provided on the lower surface of the inner tank 1 and is placed in a state of being floated from the outer tank 2, the overflowing processing liquid L 1 is also stored in the lower portion of the inner tank 1. Therefore, the storage volume of the processing liquid L can be increased without increasing the planar area of the outer tank 2. As a result, the plane area occupied by the entire substrate processing apparatus can be made compact. Further, since the inner tank 1 can be removed, there is also an advantage that even if the heavy metal powder or the debris of the substrate that overflows together with the processing liquid L collect at the bottom of the outer tank, the inner tank can be easily removed and cleaned.
【0025】 基板Wの表面処理を均一に行なうためには、処理液噴出パイプ3から噴出され た処理液Lが内槽1内を均一に循環することが望まれるが、そのためには内槽1 の上縁部12のレベルが同一で処理液Lが当該上縁部12から均一に溢れ出るこ とが要求される。そこで、本実施例では、外槽2のレベルを調整して内槽1のレ ベル出しを行なうようにしている。In order to uniformly perform the surface treatment of the substrate W, it is desired that the treatment liquid L jetted from the treatment liquid jet pipe 3 be uniformly circulated in the inner bath 1. For that purpose, the inner bath 1 It is required that the level of the upper edge portion 12 is the same and the processing solution L overflows uniformly from the upper edge portion 12. Therefore, in this embodiment, the level of the outer tank 2 is adjusted so that the inner tank 1 is leveled.
【0026】 外槽2は、その下面を支える4本のレベル調整ネジ5によって第1のバット4 に保持されている。このレベル調整ネジ5は、図2の断面図に示すように外ネジ 51と、この外ネジ51の中心部に形成されたネジ穴に螺合された内ネジ52と 、前記外ネジ51の中心部に回転自在に挿入され前記内ねじ52の先端に当接す る支持部材53とからなる。支持部材53の先端は上記外槽2の底面の位置決め 凹部22に位置決めされる。外ネジ51の外周にもネジ溝が刻設されており、第 1のバット4の底面部に形成されたネジ穴に螺合される。The outer tub 2 is held on the first butt 4 by four level adjusting screws 5 that support the lower surface of the outer tub 2. As shown in the sectional view of FIG. 2, the level adjusting screw 5 includes an outer screw 51, an inner screw 52 screwed into a screw hole formed at the center of the outer screw 51, and a center of the outer screw 51. And a support member 53 that is rotatably inserted into the section and comes into contact with the tip of the inner screw 52. The tip of the support member 53 is positioned in the positioning recess 22 on the bottom surface of the outer tank 2. A thread groove is also engraved on the outer circumference of the outer screw 51 and is screwed into a screw hole formed in the bottom surface of the first bat 4.
【0027】 このレベル調整ネジ5によるレベル出しは、まず、レベル調整ネジ5を回転さ せて、支持部材53の先端の高さが大体等しくなるように設定した後、外槽2、 内槽1を所定位置に載置し、水平器などで内槽1の上縁部12の水平度を確認し ながら、内ネジ52を回転させて微調整することにより達成される。For leveling with the level adjusting screw 5, first, the level adjusting screw 5 is rotated to set the heights of the tips of the supporting members 53 to be substantially equal, and then the outer tank 2 and the inner tank 1 are set. Is placed at a predetermined position, and while confirming the levelness of the upper edge portion 12 of the inner tank 1 with a leveler or the like, the inner screw 52 is rotated and finely adjusted.
【0028】 外槽2の下部側面には廃液穴23が設けられ、この廃液穴23に第1の廃液パ イプ24が液密に接続される。この第1の廃液パイプ24は、第1のバット4の 側面に形成された若干大きめな貫通穴41を通過して外部に引き出され、接続継 手25を介して第2の廃液パイプ26に接続される。貫通穴41の外周部には円 筒部材42が付設され、その開口部には円板状のカバー43がボルト44で支持 される。接続継手25の一部が、カバー43の中央に設けられた穴に嵌挿されて 保持されるが、ボルト44を貫通させるためカバー43に設けられた穴は、ボル ト44の径より少し大きめに形成されボルト44は軽く止めているだけなので、 円筒部材42に対してカバー43および接続継手25は若干移動可能であり、内 槽1のレベル出しのときにレベル調整ネジ5を操作して高さを変化させても、第 1の廃液パイプ24に曲げ力がかからないようになっている。A waste liquid hole 23 is provided on the lower side surface of the outer tank 2, and a first waste liquid pipe 24 is liquid-tightly connected to the waste liquid hole 23. The first waste liquid pipe 24 is pulled out to the outside through a slightly larger through hole 41 formed on the side surface of the first bat 4, and is connected to the second waste liquid pipe 26 via the connection joint 25. To be done. A cylindrical member 42 is attached to the outer peripheral portion of the through hole 41, and a disc-shaped cover 43 is supported by a bolt 44 in the opening. A part of the connection joint 25 is fitted and retained in a hole provided in the center of the cover 43, but the hole provided in the cover 43 for penetrating the bolt 44 is slightly larger than the diameter of the bolt 44. The cover 43 and the connection joint 25 are slightly movable with respect to the cylindrical member 42 because the bolts 44 are only lightly fastened to the cylindrical member 42, and the level adjusting screw 5 is operated when the inner tank 1 is leveled. Even if the height is changed, the bending force is not applied to the first waste liquid pipe 24.
【0029】 なお、円筒部材42の開口部とカバー43の間には、シリコンゴムなどで形成 されたシール部材45を介在させており、万一処理液Lが第1のバット4内に流 出した場合でも、外部に漏れないようになっている。A seal member 45 made of silicon rubber or the like is interposed between the opening of the cylindrical member 42 and the cover 43 so that the processing liquid L flows out into the first vat 4. Even if you do, it will not leak outside.
【0030】 また、第2の処理液供給パイプ35は第1のバット4の貫通穴46を通過して 、接続継手36を介して第3の廃液パイプ37に接続されているが、当該接続継 手36も上述の接続継手25と全く同様にして、円筒部材47およびカバー48 などによって密閉かつ可動の状態で支持される。The second processing liquid supply pipe 35 passes through the through hole 46 of the first butt 4 and is connected to the third waste liquid pipe 37 via the connection joint 36. The hand 36 is also supported in a sealed and movable state by the cylindrical member 47, the cover 48 and the like, just like the connection joint 25 described above.
【0031】 図1に戻って、基板保持ホルダー6は、内槽1内で複数の基板Wを所定ピッチ で起立保持するためのものである。基板保持ホルダー6下部の基枠61には、3 本の保持棒62が紙面に垂直な方向に吊設されている。Returning to FIG. 1, the substrate holding holder 6 is for holding a plurality of substrates W upright in the inner tank 1 at a predetermined pitch. On the base frame 61 below the substrate holding holder 6, three holding rods 62 are suspended in a direction perpendicular to the paper surface.
【0032】 図4は、図1の基板保持ホルダー6の拡大図であって、説明の便宜上各保持棒 62はガイド溝63での断面が示されている。ガイド溝63は、各保持棒62側 面の基板Wと当接する方向に複数個等ピッチで形成されており、図示しない基板 搬送装置によって基板WをそのオリエンテーションフラットWaが下方にくるよ うにして把持し、そのまま下降させて前記ガイド溝63に基板Wの外周縁を挿入 させることにより基板Wが当該基板保持ホルダー6に起立保持される。FIG. 4 is an enlarged view of the substrate holding holder 6 of FIG. 1, and each holding rod 62 has a cross section taken along a guide groove 63 for convenience of explanation. A plurality of guide grooves 63 are formed at equal pitches in the direction of contact with the substrate W on the side surface of each holding rod 62, and the orientation flat Wa of the substrate W is placed downward by a substrate transfer device (not shown). The substrate W is erected and held by the substrate holding holder 6 by grasping and lowering it and inserting the outer peripheral edge of the substrate W into the guide groove 63.
【0033】 この場合、基板Wは、実質上3つの保持棒62のうち両端の2つで支持されて おり、中央の保持棒62は基板Wが前後に倒れるのを防止すると共に、処理槽内 での基板処理中に基板Wが回転しようとしたとき、当該オリエンテーションフラ ットWaの直線部に係合し、その回転を阻止して、処理槽内での安定した基板処 理を可能ならしめる。In this case, the substrate W is substantially supported by two of the three holding rods 62 at both ends, and the central holding rod 62 prevents the substrate W from falling back and forth, and also the inside of the processing bath. When the substrate W tries to rotate during the substrate processing in the above, it engages with the straight part of the orientation flat Wa and prevents the rotation, and enables stable substrate processing in the processing tank. .
【0034】 基板保持ホルダー6の上部には図2に示すように取り付け部64が水平方向に 延設されており、第1のバット4の内側に取り付けられたステー65、66にボ ルト67でネジ止めされている。このように基板保持ホルダー6は、第1のバッ ト4に直接固定されているため、内槽1のレベル出しの際、基板保持ホルダー6 は移動せず、上記基板搬送装置との位置関係を内槽1のレベル出しのたびに調整 する必要がない。As shown in FIG. 2, a mounting portion 64 extends horizontally in the upper part of the substrate holding holder 6, and is attached to the stays 65 and 66 mounted inside the first butt 4 with a bolt 67. It is screwed on. Since the substrate holding holder 6 is thus directly fixed to the first butt 4, the substrate holding holder 6 does not move when the inner tank 1 is leveled, and the positional relationship with the substrate transfer device is maintained. It is not necessary to adjust every time the level of the inner tank 1 is set.
【0035】 上述のような2層構造の処理槽にあっては、内槽1が、外槽2内に載置されて いるだけであり、外槽2に処理液Lを入れた状態で内槽1内の処理液Lを排出し た場合には内槽1が浮き上がるおそれがあるので、たとえば図5に示すような押 え部材を設けておいた方が望ましい。In the two-layer structure treatment tank as described above, the inner tank 1 is only placed in the outer tank 2, and the inner tank 1 is filled with the treatment liquid L. When the processing liquid L in the tank 1 is discharged, the inner tank 1 may rise, so that it is preferable to provide a holding member as shown in FIG. 5, for example.
【0036】 同図5(a)は、内槽1の側面の一部断面図であり、図5(b)は、図5(a )を上方から見た図である。内槽1外周上部の4角に石英製の当接部材13を溶 着し、一方外槽2の内面に付設されたステー23に押え部材24をボルト25に よって固定し、この押え部材24に押えネジ26を螺合させてこの押えネジ26 を締め付けることにより上記当接部材13を下方に押え付け内槽1の浮き上がり を防止する。FIG. 5A is a partial cross-sectional view of the side surface of the inner tank 1, and FIG. 5B is a view of FIG. 5A viewed from above. Quartz contact members 13 are welded to the four corners of the outer periphery of the inner tank 1, and the holding member 24 is fixed to the stay 23 attached to the inner surface of the outer tank 2 with bolts 25. By screwing the holding screw 26 and tightening the holding screw 26, the abutting member 13 is held downward to prevent the inner tank 1 from rising.
【0037】 この押え部材24の形状は、図5(b)に示すようにL字型に形成されて内槽 1のコーナに配設されるので、内槽1の水平方向の位置決めもなされる。The shape of the pressing member 24 is L-shaped as shown in FIG. 5B and is arranged at the corner of the inner tank 1, so that the inner tank 1 can be positioned in the horizontal direction. .
【0038】 なお、内槽1を押え付ける治具は上記のような構成に限定されず、また、この ような押え治具を第1のパッド4内面にも設けておき、レベル調整ネジ5で外槽 2の高さを調整した後、当該外槽2を下層に押し付けるようにしておけば、外部 から震動が加えられても外槽2が転倒するおそれがない。The jig for holding down the inner tank 1 is not limited to the above-mentioned structure, and such a holding jig is also provided on the inner surface of the first pad 4, and the level adjusting screw 5 is used. If the outer tub 2 is pressed against the lower layer after the height of the outer tub 2 is adjusted, the outer tub 2 will not fall down even if a vibration is applied from the outside.
【0039】 図3は、本実施例にかかる基板処理装置の全体の構成を示す図である。上記第 2の廃液パイプ26は循環ポンプ7に接続される。当該循環ポンプ7は、ベロー ズ式のポンプであって、対腐食性の可撓性樹脂で形成されたベローズをモータや 電磁石などの駆動機構によって外部から伸縮駆動させることにより、ポンプ動作 を行なうようになっている。循環ポンプ7から送り出された処理液Lは、中継パ イプ27を介して濾過器8に送られ、表面処理の結果生じた重金属のかけらや塵 などの異物を取り除いて浄化した後、第3、第2、第1の処理液供給パイプ37 、35、33を介して、処理液噴出パイプ3に供給され、内槽1内に処理液Lを 噴出し、上記の循環動作が繰り返される。FIG. 3 is a diagram showing the overall configuration of the substrate processing apparatus according to this embodiment. The second waste liquid pipe 26 is connected to the circulation pump 7. The circulation pump 7 is a bellows type pump, and the bellows formed of a flexible resin that is anticorrosive is expanded and contracted from the outside by a driving mechanism such as a motor or an electromagnet to perform a pump operation. It has become. The treatment liquid L sent out from the circulation pump 7 is sent to the filter 8 via the relay pipe 27 to remove foreign substances such as heavy metal fragments and dust generated as a result of the surface treatment, and then purify it. It is supplied to the processing liquid jetting pipe 3 through the second and first processing liquid supply pipes 37, 35, 33 to jet the processing liquid L into the inner tank 1, and the above circulation operation is repeated.
【0040】 この濾過器8のフィルターや処理液は、所定時間使用した後は新しいものに交 換され表面処理が続けられる。The filter of the filter 8 and the treatment liquid are replaced with new ones after being used for a predetermined time, and the surface treatment is continued.
【0041】 なお、循環ポンプ7の動作は、表面処理動作の進行状況に応じて制御装置9に よって制御される。また、第2のバット10は、循環ポンプ7や濾過器8から万 −処理液が漏れた場合に、これを回収し他の装置を破損しないようにするための ものである。The operation of the circulation pump 7 is controlled by the controller 9 according to the progress of the surface treatment operation. Further, the second vat 10 is for collecting the treatment liquid in the case of leakage from the circulation pump 7 and the filter 8 so as not to damage other devices.
【0042】 図6,図7は、レベル出しのための別のレベル調整機構の実施例を示す図であ る。第1のバット4の内面に取り付けられた支持台400の上部には係合部40 0aが形成され、この係合部400aを第1のバット4の係合穴400bに係合 させた状態で、ボルト401によって支持台400を第1のバット4に固定する 。一方外槽2の外周上部の4角には、L型の保持具402がボルト403によっ てネジ止めされている。6 and 7 are views showing an embodiment of another level adjusting mechanism for leveling. An engaging portion 400a is formed on the upper portion of the support base 400 attached to the inner surface of the first bat 4, and the engaging portion 400a is engaged with the engaging hole 400b of the first bat 4. The support base 400 is fixed to the first butt 4 with the bolts 401. On the other hand, L-shaped holders 402 are screwed to the four corners of the outer periphery of the outer tub 2 with bolts 403.
【0043】 図7(a)は、上記保持具402と支持台400の位置関係を示す拡大斜視図 であり、図7(b)は、図7(a)の矢印B方向から見たときの正面図である。FIG. 7A is an enlarged perspective view showing the positional relationship between the holder 402 and the support base 400, and FIG. 7B is a view when viewed from the direction of arrow B in FIG. 7A. It is a front view.
【0044】 図7(b)に示すように保持具402の水平部404には、ネジ穴404aと 貫通穴404bが設けられ、ネジ穴404aにはレベル調整ネジ405が螺合さ れ、貫通穴404bには固定用ネジ406が挿入される。この固定用ネジ406 は、支持台400の上面に設けられた固定用ネジ穴400cに螺合される。As shown in FIG. 7B, the horizontal portion 404 of the holder 402 is provided with a screw hole 404a and a through hole 404b, and a level adjusting screw 405 is screwed into the screw hole 404a. A fixing screw 406 is inserted into 404b. The fixing screw 406 is screwed into a fixing screw hole 400c provided on the upper surface of the support base 400.
【0045】 このような吊り下げ式のレベル調整機構においては、まず、貫通穴404bに 挿入された固定用ネジ406を支持台400の固定用ネジ穴400cに軽く螺合 させて水平方向の位置決めを行ない、次に内槽1の上縁部12の水平度を水平器 などで確認しながら、各レベル調整ネジ405を回転させてその捩じ込み長さを 調整してレベル調整を行ない、最後に固定用ネジ406を締め付けて外槽2を第 1のバット4に固定する。In such a hanging type level adjusting mechanism, first, the fixing screw 406 inserted into the through hole 404b is lightly screwed into the fixing screw hole 400c of the support base 400 to perform horizontal positioning. Then, while checking the levelness of the upper edge 12 of the inner tank 1 with a leveler, etc., rotate each level adjustment screw 405 to adjust the screwing length and adjust the level. Finally, The outer tank 2 is fixed to the first butt 4 by tightening the fixing screw 406.
【0046】 このようなレベル調整機構の第2の実施例によると、第1の実施例と異なり内 槽1の上方からの操作によりレベル出しができ、またレベル出しと外槽2の固定 が併せて行なえるという利点がある。According to the second embodiment of such a level adjusting mechanism, unlike the first embodiment, leveling can be performed by operating the inner tank 1 from above, and leveling and fixing of the outer tank 2 are combined. There is an advantage that it can be done.
【0047】 上述の実施例では処理槽が1槽のみの基板処理装置について説明したが、複数 の処理槽を配列して処理するバッチ式の基板処理装置においても適用できること はいうまでもない。この場合表面処理の種類に応じて各内槽の形状が変化しても 外槽は全て同一スペックで形成されるので、製造コストを低く押えることが可能 となる。In the above-described embodiment, the substrate processing apparatus having only one processing tank has been described, but it goes without saying that the present invention can also be applied to a batch type substrate processing apparatus in which a plurality of processing tanks are arranged and processed. In this case, even if the shape of each inner tank changes depending on the type of surface treatment, the outer tanks are all formed with the same specifications, so the manufacturing cost can be kept low.
【0048】 また、上述の実施例では基板Wを基板搬送用容器(キャリア)から出して、基 板Wのみ内槽1内の基板保持ホルダー6に保持して処理する、いわゆるキャリア レス方式のものについて述べたが、キャリアに載置したまま内槽1内に浸漬させ て処理するキャリア方式のものであってもよい。Further, in the above-mentioned embodiment, the so-called carrierless system in which the substrate W is taken out from the substrate transport container (carrier) and only the substrate W is held in the substrate holding holder 6 in the inner tank 1 for processing. However, the carrier type may be employed in which the carrier is placed in the carrier and immersed in the inner tank 1 for treatment.
【0049】 また、外槽2の開口部上方もしくは第1のバットの開口部に、開閉可能なカバ ーを設けておいて、基板の出し入れをする際のみ開放し、表面処理中や不使用の 時間帯には閉じるようにしておけば、処理中に処理液が空気中に飛散して環境が 劣化するおそれがなく、また空気中の塵などが処理液中に紛れ込んで基板処理の 精度が劣化することがない。A cover that can be opened and closed is provided above the opening of the outer tub 2 or above the opening of the first bat so that the cover is opened only when the substrate is taken in and out, and is not used during the surface treatment or when not in use. If it is closed during the time period, there is no risk that the processing solution will be scattered into the air during processing and the environment will deteriorate, and dust in the air will be scattered into the processing solution and the accuracy of substrate processing will deteriorate. There is nothing to do.
【0050】 また、外槽2の素材は、上述のテフロンの他、PVC,PE,SUSなどでも よい。また、上述した基板処理装置の構成要素のうちその素材を明記していない ものにおいても処理液Lと接触するものについては、少なくともその接触面に対 腐食性の素材が使用されることはいうまでもない。このとき、表面処理の種類に よっては、各々の槽の素材として石英の使用を要求される場合もあるが、外槽2 に貯溜する処理液Lは、濾過器8を通過した後に内槽1に供給されるため、外槽 2として石英槽を使用する必要はない。The material of the outer tank 2 may be PVC, PE, SUS, etc., in addition to the above-mentioned Teflon. Further, of the constituent elements of the substrate processing apparatus described above, even if the material thereof is not specified, as long as it is in contact with the processing liquid L, at least the corrosive material is used for the contact surface. Nor. At this time, depending on the type of surface treatment, it may be required to use quartz as a material for each tank, but the treatment liquid L stored in the outer tank 2 passes through the filter 8 and then the inner tank 1 Therefore, it is not necessary to use a quartz tank as the outer tank 2.
【0051】 なお、濾過器8としてはメンブレン膜を使用したもののほか、場合によっては 電気的その他の手段によって浄化するものでも可能であるし、表面処理の種類に よっては濾過器8を省略することも可能である。It should be noted that the filter 8 may be a filter using a membrane film, or may be a filter that purifies by electrical or other means in some cases, and the filter 8 may be omitted depending on the type of surface treatment. Is also possible.
【0052】[0052]
以上述べたように、請求項1の考案によれば基板処理装置の処理槽が、基板の 表面処理を行う内槽と、この内槽から溢れ出た処理液を回収する外槽との2層構 造であって、前記外槽は前記内槽と分離して設けられているので、 (1) 内槽が簡易な形状になって外形形状に凹凸部分がほとんどなくなるの で、移送時や基板処理装置の組み立て時などにおける取扱いが容易となり破損の おそれが低減する。 As described above, according to the first aspect of the present invention, the processing tank of the substrate processing apparatus has the two layers of the inner tank for performing the surface treatment of the substrate and the outer tank for collecting the processing liquid overflowing from the inner tank. Since it has a structure and the outer tank is provided separately from the inner tank, (1) the inner tank has a simple shape and there are almost no irregularities in the outer shape. Handling at the time of assembling the processing equipment is easy and the risk of damage is reduced.
【0053】 (2) 内槽と外槽を別々に形成できるので、製造コストを低く抑えることが できる。(2) Since the inner tank and the outer tank can be formed separately, the manufacturing cost can be kept low.
【0054】 (3) サイズの異なる基板を処理する場合であっても外槽の大きさを一番大 きな基板サイズに合せて形成しておけば、内槽のみ交換すればよいので経済的で ある。(3) Even when processing substrates of different sizes, if the size of the outer tank is formed to match the largest substrate size, only the inner tank needs to be replaced, which is economical. Is.
【0055】 (4) 内槽と外槽が分離しているので、内槽を外槽から浮かした状態で保持 でき、内槽底面の下方にも処理液を貯溜できるので、外槽の平面面積を変えずに 容量を増加させることができ、基板処理装置をコンパクトにしながら濾過循環式 のオーバーフローに必要な貯溜容量を備えることができる。(4) Since the inner tank and the outer tank are separated, the inner tank can be held in a state of being floated from the outer tank, and the treatment liquid can be stored below the bottom surface of the inner tank. The volume can be increased without changing the flow rate, and the storage capacity required for the filtration circulation overflow can be provided while making the substrate processing apparatus compact.
【0056】 また、請求項2の考案によれば、内槽が石英で形成されて外槽が耐腐食性樹脂 で形成されているため、 (5) 内槽は長時間腐食性処理液を貯溜して表面処理を行なっても十分耐え ることができ異物も発生しない、また、外槽の耐腐食性樹脂は安価で成形しやす い上に強度が強く外部から衝撃を加えても容易に破損せず、処理液を外部に流出 して事故が起こるようなおそれがない。Further, according to the invention of claim 2, since the inner tank is made of quartz and the outer tank is made of a corrosion resistant resin, (5) the inner tank stores the corrosive treatment liquid for a long time. Even if it is subjected to surface treatment, it can withstand enough and no foreign matter is generated, and the corrosion-resistant resin in the outer tank is inexpensive and easy to mold, and it has strong strength and is easily damaged even when an external impact is applied. Without doing so, there is no risk that the processing solution will flow out and an accident will occur.
【図1】本考案の実施例にかかる基板処理装置の要部の
正面断面図である。FIG. 1 is a front sectional view of an essential part of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の基板処理装置の要部の側面断面図であ
る。FIG. 2 is a side sectional view of a main part of the substrate processing apparatus of FIG.
【図3】図1の基板処理装置の全体の構成を示す概略図
である。FIG. 3 is a schematic diagram showing an overall configuration of the substrate processing apparatus of FIG.
【図4】図1の基板処理装置における基板保持ホルダー
の形状を示す図である。4 is a diagram showing the shape of a substrate holding holder in the substrate processing apparatus of FIG.
【図5】内槽の浮き上がりを防止するための押え部材の
構成を側面断面および平面により示す図である。FIG. 5 is a side sectional view and a plan view showing a structure of a pressing member for preventing the inner tank from floating.
【図6】レベル調整機構の別の実施例を示す図である。FIG. 6 is a view showing another embodiment of the level adjusting mechanism.
【図7】図6のレベル調整機構を斜視および正面より示
す図である。7 is a perspective view and a front view of the level adjusting mechanism of FIG.
【図8】従来の基板処理装置の要部の正面断面図であ
る。FIG. 8 is a front sectional view of a main part of a conventional substrate processing apparatus.
1 内槽 2 外槽 3 処理液噴出パイプ 4 第1のバット 5,405 レベル調節ネジ 6 基板保持ホルダー 7 循環ポンプ 8 濾過器 9 制御装置 10 第2のバット 11 石英棒 1 Inner Tank 2 Outer Tank 3 Treatment Liquid Jet Pipe 4 First Vat 5,405 Level Adjusting Screw 6 Substrate Holding Holder 7 Circulation Pump 8 Filter 9 Control Device 10 Second Vat 11 Quartz Rod
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 橋本 浩一郎 滋賀県野洲郡野洲町大字三上字口ノ川原 2426番1 大日本スクリーン製造株式会社 野洲事業所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Koichiro Hashimoto Koichiro Hashimoto 2426-1 Kuchinogawara Mikami, Yasu-machi, Yasu-gun, Shiga Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Yasu Plant
Claims (2)
て表面処理を行なう基板処理装置において、 前記処理槽は、 前記処理液を充満して前記基板の表面処理を行なう内槽
と、 前記内槽の外側に前記内槽と分離して配設され、前記内
槽から溢れ出た処理液を受けてこれを貯溜する外槽と、
からなるとともに、 前記内槽に設けられ、前記処理液を前記内槽内に供給す
る処理液供給手段と、 前記外槽に貯溜した処理液を循環させて再度前記処理液
供給手段に供給する処理液循環手段と、 を備えることを特徴とする基板処理装置。1. A substrate processing apparatus for performing a surface treatment by immersing a substrate in a treatment liquid stored in a treatment bath, wherein the treatment bath comprises an inner bath for filling the treatment liquid to perform a surface treatment on the substrate. An outer tank, which is disposed outside the inner tank so as to be separated from the inner tank, receives the processing liquid overflowing from the inner tank, and stores it.
And a treatment liquid supply means that is provided in the inner tank and that supplies the treatment liquid into the inner tank, and a treatment liquid that is stored in the outer tank and circulates again to the treatment liquid supply means. A substrate processing apparatus comprising: a liquid circulating unit;
耐腐食性樹脂で形成されることを特徴とする請求項1記
載の基板処理装置。2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the inner tank is made of quartz and the outer tank is made of a corrosion resistant resin.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8773092U JPH0645334U (en) | 1992-11-26 | 1992-11-26 | Substrate processing equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8773092U JPH0645334U (en) | 1992-11-26 | 1992-11-26 | Substrate processing equipment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0645334U true JPH0645334U (en) | 1994-06-14 |
Family
ID=13923037
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8773092U Pending JPH0645334U (en) | 1992-11-26 | 1992-11-26 | Substrate processing equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0645334U (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1992
- 1992-11-26 JP JP8773092U patent/JPH0645334U/en active Pending
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