JPH064523Y2 - Shadow mask for color cathode ray tube - Google Patents

Shadow mask for color cathode ray tube

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JPH064523Y2
JPH064523Y2 JP1989133859U JP13385989U JPH064523Y2 JP H064523 Y2 JPH064523 Y2 JP H064523Y2 JP 1989133859 U JP1989133859 U JP 1989133859U JP 13385989 U JP13385989 U JP 13385989U JP H064523 Y2 JPH064523 Y2 JP H064523Y2
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JP
Japan
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shadow mask
aperture
ray tube
cathode ray
color cathode
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JP1989133859U
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Japanese (ja)
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JPH02111047U (en
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▲ぶん▼浩 安
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三星電管株式会社
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/02Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
    • H01J29/06Screens for shielding; Masks interposed in the electron stream
    • H01J29/07Shadow masks for colour television tubes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2229/00Details of cathode ray tubes or electron beam tubes
    • H01J2229/07Shadow masks
    • H01J2229/0794Geometrical arrangements, e.g. curvature

Landscapes

  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案はカラー陰極線管用シャドーマスクに関するもの
であって、特に露光用マスクとして用いられるシャドー
マスクに関する。
The present invention relates to a shadow mask for a color cathode ray tube, and more particularly to a shadow mask used as an exposure mask.

(従来の技術) インライン形電子銃を備えたカラー陰極線管にあって
は、電子銃の構造的特性上螢光面を構成する螢光体がス
トライプ形状で形成されなければならない。この螢光体
ストライプ間には外光による輝度の低下を防止するた
め、黒鉛等の光吸収性物質でブラックメトリックスが形
成される。
(Prior Art) In a color cathode-ray tube equipped with an in-line type electron gun, the fluorescent bodies forming the fluorescent surface must be formed in a stripe shape due to the structural characteristics of the electron gun. Black metrics are formed between the fluorescent stripes by a light-absorbing substance such as graphite in order to prevent a decrease in brightness due to external light.

この螢光体ストライプとブラックメトリックスはそれぞ
れ感光性合成樹脂を用いて写真蝕刻方法、即ち露光及び
現像を通じて形成される。ここで露光用マスクとしては
通常完成されたカラー陰極線管から電子ビームを誘導す
るシャドーマスクが使用される。かかる従来のシャドー
マスクの一つの例を第1図に示す。この第1図におい
て、シャドーマスク1′は、それぞれ幅hのスリット形
アパーチャ2が無数に形成された薄い金属板からなって
いる。
The fluorescent stripes and the black metrics are formed by using a photosensitive synthetic resin through a photo-etching method, that is, exposure and development. Here, as the exposure mask, a shadow mask for guiding an electron beam from a completed color cathode ray tube is usually used. One example of such a conventional shadow mask is shown in FIG. In FIG. 1, a shadow mask 1'is made of a thin metal plate on which a number of slit-shaped apertures 2 each having a width h are formed.

一方、このようなシャドーマスク1′を露光用マスクと
してパネル面を露光する方法を説明するために露光装置
の一例を第2図に示す。この露光装置は、その内面に感
光性物質が塗布されたパネル5の内側に露光用マスクと
してシャドーマスク1′を装着し、光源6から放射され
る光を、スリット7aを形成するシャッター7をパネル
5の短辺方向に移動させることにより、パネル5の内面
を段階的に連続的に露光させるブラックメトリックス、
又は、螢光体のストライプを形成するようになってい
る。
On the other hand, an example of an exposure apparatus is shown in FIG. 2 in order to explain a method of exposing the panel surface using such a shadow mask 1'as an exposure mask. In this exposure apparatus, a shadow mask 1'is mounted as an exposure mask on the inside of a panel 5 whose inner surface is coated with a photosensitive substance, and a panel is provided with a shutter 7 which forms a slit 7a for light emitted from a light source 6. 5 by moving in the direction of the short side of 5 to continuously expose the inner surface of the panel 5 stepwise,
Alternatively, the stripes of the fluorescent material are formed.

ところが、光源6からパネル5の内面の各部分までの距
離が異なり、各部分の照度に差異に生じるので、露光さ
れる程度が異なるようになる。従って、パネル5の内面
に形成されるブラックメトリックス又は螢光体ストライ
プの形成状態が不良になる。例えば、通常螢光体ストラ
イプより先に形成されるブラックメトリックスは露光さ
れた部分が剥離されるようになるので、露光が不足の場
合は第3A図のようにブラックメトリックス(B)の幅
が規定幅より不規則に大きくなり、露光が過多の場合に
は第3B図の如くその逆になり、ブラックメトリックス
(B)の直線度がすこぶる悪くなる。ブラックメトリッ
クス(B)の直線度が不良な場合には、その間に形成さ
れる螢光体ストライプの形成状態もすこぶる不良にな
る。
However, since the distance from the light source 6 to each part on the inner surface of the panel 5 is different and the illuminance of each part is different, the degree of exposure is different. Therefore, the formation state of the black metrics or the fluorescent stripes formed on the inner surface of the panel 5 becomes defective. For example, in the case of black metrics that is usually formed before the fluorescent stripes, the exposed portion is peeled off. Therefore, when the exposure is insufficient, the width of black metrics (B) is defined as shown in FIG. 3A. The width becomes irregularly larger than the width, and when the amount of exposure is excessive, it becomes the opposite as shown in FIG. 3B, and the linearity of the black metrics (B) becomes extremely poor. When the linearity of the black metrics (B) is poor, the formation state of the fluorescent stripes formed between them is also very poor.

かかる問題点を解決するための従来の試みは、例えば、
日本実用新案公報第58−41633号に開示されたよ
うに主にシャッターのスリット形状を変更させる方法等
であった。
Conventional attempts to solve such problems include, for example,
As disclosed in Japanese Utility Model Publication No. 58-41633, the method was mainly to change the slit shape of the shutter.

(考案が解決しようとする課題) しかし、この方法は、上述の問題点の適切な解決策とは
ならなかった。
(Problems to be solved by the invention) However, this method has not been an appropriate solution to the above-mentioned problems.

このような従来の問題点を勘案して本考案の目的は、露
光用マスクに使用するとき、パネル全面に対する露光量
を均一にすることができるカラー陰極線管用シャドーマ
スクを提供することである。
In view of the above conventional problems, an object of the present invention is to provide a shadow mask for a color cathode ray tube, which can be used for an exposure mask to make the exposure amount on the entire panel uniform.

(課題を解決するための手段) 本考案は、それぞれ電子ビームを誘導する多数のアパー
チャが形成されたカラー陰極線管用シャドーマスクにお
いて、 上記シャドーマスクにピンクッション形アパーチャとド
ラム形アパーチャ中の少なくともいずれかの1種類とス
リット形アパーチャが混合されて形成されることを特徴
とする。
(Means for Solving the Problems) The present invention relates to a shadow mask for a color cathode ray tube having a large number of apertures for respectively guiding electron beams, wherein at least one of a pin cushion type aperture and a drum type aperture is provided in the shadow mask. 1 and the slit-shaped aperture are mixed and formed.

(実施例) 以下、添付した図面を参照して、本考案の好ましい実施
例を詳細に説明する。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

第4A図は、本考案によるシャドーマスクに形成された
アパーチャの形態であって、ピンクッション形(Pin-cu
shion)形アパーチャ、第4B図は、本考案によるシャ
ドーマスクに形成されたアパーチャの形態であって、ド
ラム(drum)形アパーチャである。ピンクッション形ア
パーチャ3は最小幅(h1)と最大幅(h2)を有し、
ドラム形アパーチャ4は最小幅(h3)と最大幅(h
4)とを有する。ここでピンクッション形アパーチャ3
の最大幅(h2)とドラム形アパーチャ4の最小幅(h
3)は、それぞれ通常スリット形アパーチャ2の幅
(h)と殆んど同一に構成されるのが好ましい。従っ
て、ピンクッション形アパーチャ3の開口部面積はスリ
ット形アパーチャ2の開口部面積より少なくなり、ドラ
ム形アパーチャ4の開口部面積はスリット形アパーチャ
2の開口部面積より大きくなる。
FIG. 4A shows the shape of an aperture formed in the shadow mask according to the present invention, which is a pin-cushion type (Pin-cu
FIG. 4B shows a shape of an aperture formed in a shadow mask according to the present invention, which is a drum type aperture. The pin cushion type aperture 3 has a minimum width (h1) and a maximum width (h2),
The drum aperture 4 has a minimum width (h3) and a maximum width (h
4) and. Pincushion type aperture 3 here
Maximum width (h2) of the drum-shaped aperture 4 and minimum width (h2) of the drum-shaped aperture 4
It is preferable that the widths (3) of the slit-shaped apertures 2 are substantially the same as the widths (h) of the slit-shaped apertures 2. Therefore, the opening area of the pin cushion type aperture 3 becomes smaller than the opening area of the slit type aperture 2, and the opening area of the drum type aperture 4 becomes larger than the opening area of the slit type aperture 2.

ここで、ピンクッション形アパーチャ3の最小幅(h
1)とドラム形アパーチャ4の最大幅(h4)をそれぞ
れスリット形アパーチャ2の幅(h)と殆んど同一にす
る場合には、開口部面積が上述の実施例の場合と逆にな
る。このようにして、スリット形アパーチャ2と複合し
て使用するとき、インライン(in-line)状態に整列す
ることが難しいので好ましくない。
Here, the minimum width of the pincushion type aperture 3 (h
1) and the maximum width (h4) of the drum-shaped aperture 4 are almost the same as the width (h) of the slit-shaped aperture 2, the opening area is opposite to that in the above-mentioned embodiment. In this way, when it is used in combination with the slit-shaped aperture 2, it is difficult to align it in-line, which is not preferable.

このような本考案による各種アパーチャ等は第5A図、
第5B図に示した如く、シャドーマスク1に混合形成さ
れる。例えば、長辺部の外側中央付近の露光量が標準値
より過多であり短辺部の外側中央付近の露光量が標準値
より不足の場合には、露光量が過多な長辺部の外側中央
付近にはピンクッション形アパーチャ3を形成し、露光
量が不足な短辺部の外側中央付近にはドラム形アパーチ
ャ4を形成する。(その逆の場合は第5B図に示すとお
りである。) ここでピンクッション形アパーチャ3の最大幅(h2)
を、前述の如くスリット形アパーチャ2の幅と殆んど同
一に形成し、露光量の過多程度に従って漸次その最小幅
(h1)を増加させ、露光量が標準値に至る部分におい
てはスリット形アパーチャ2の形態に近接させるように
形成するのが好ましい。又ドラム形アパーチャ4もこれ
と同様漸次最大幅(h4)を減少させて形成するのが好
ましい。
The various apertures according to the present invention are shown in FIG. 5A,
As shown in FIG. 5B, the shadow mask 1 is mixed and formed. For example, if the exposure amount near the outer center of the long side is over the standard value and the exposure amount near the outer center of the short side is less than the standard value, the outer center of the long side where the exposure amount is excessive. A pincushion type aperture 3 is formed in the vicinity, and a drum type aperture 4 is formed in the vicinity of the outer center of the short side portion where the exposure amount is insufficient. (The reverse case is as shown in FIG. 5B.) Here, the maximum width (h2) of the pincushion type aperture 3
Is formed to be almost the same as the width of the slit aperture 2 as described above, and its minimum width (h1) is gradually increased in accordance with the excessive amount of the exposure amount. It is preferable to form so as to be close to the two forms. Also, it is preferable that the drum-shaped aperture 4 is formed by gradually decreasing the maximum width (h4) similarly to this.

上述の本考案によるシャドーマスクの作用を以下に説明
する。
The operation of the shadow mask according to the present invention will be described below.

本考案によって構成されたシャドーマスクは装着され、
その内面を露光するための露光用マスクとして使用され
る。以下においては説明の便宜上、ブラックメトリック
スの形成過程について説明するが、螢光体ストライプ形
成においてもこれとほぼ同様である。
The shadow mask constructed according to the present invention is installed,
It is used as an exposure mask for exposing the inner surface. In the following, for convenience of description, the process of forming black metrics will be described, but the same applies to the formation of fluorescent stripes.

光源6から光が照射されれば、この光束は移動するシャ
ッター7のスリット7aによってパネル5の内面を段階
的に露光するようになる。これは各アパーチャ2、3、
4をパネルの内面に対してその長手方向に移動させるの
と同じ効果を表わすようになる。
When the light is emitted from the light source 6, this luminous flux causes the slit 7a of the moving shutter 7 to expose the inner surface of the panel 5 stepwise. This is for each aperture 2, 3,
4 has the same effect as moving it in its longitudinal direction relative to the inner surface of the panel.

(考案の効果) 従って、パネル5の内面の各ストライプ形成位置に対す
る露光量が制御されるので、ピンクッション形アパーチ
ャ3の場合には、その開口部断面積が一般的なスリット
形アパーチャ2の開口部断面積に比べて小さいので平均
光通過量が減少され、ドラム形アパーチャ4においては
その逆になり、結果的にパネル5の内面の各部位に到達
する光の強さが殆んど均一になることによりパネルの全
体的な露光量が均一となる。
(Effect of the Invention) Therefore, since the exposure amount for each stripe forming position on the inner surface of the panel 5 is controlled, in the case of the pincushion type aperture 3, the opening cross-sectional area thereof is the opening of the slit type aperture 2 generally. Since the average cross-sectional area is smaller than the partial cross-sectional area, the average light passing amount is reduced, and the opposite is true in the drum-shaped aperture 4, and as a result, the intensity of light reaching each part of the inner surface of the panel 5 is almost uniform. As a result, the overall exposure amount of the panel becomes uniform.

これによりパネル全体において、露光部位の感光偏差が
減少して、ブラックメトリックスの形成状態、特に直線
性と密度が著しく均一になる。
As a result, in the entire panel, the photosensitive deviation at the exposed portion is reduced, and the black metric formation state, particularly the linearity and density, becomes extremely uniform.

また、本考案に基づくシャドーマスクを使用すれば良質
の螢光膜形成が可能になるので、優れた画像を提供する
高品位のカラー陰極線管の生産が可能になる利点があ
る。
In addition, since the use of the shadow mask according to the present invention makes it possible to form a high-quality fluorescent film, there is an advantage that a high-quality color cathode ray tube that provides an excellent image can be produced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は従来のシャドーマスクフレームの構造を示す一
部拡大斜視図、 第2図は通常の露光装置を示す概略断面図、 第3A図は、ブラックメトリックスの形成不良を示すパ
ネル内面の拡大平面図であって、露光の不足状態、第3
B図は、ブラックメトリックスの形成不良を示すパネル
内面の拡大平面図であって、露光の過多状態に関する図
である。 第4A図は、本考案に基づくシャドーマスクに形成され
るアパーチャの形態を示す概略図であって、ピンクッシ
ョン形、第4B図は、本考案に基づくシャドーマスクに
形成されるアパーチャの形態を示す概略図であって、ド
ラム形に関する図である。 第5A図、第5B図はそれぞれ本考案により構成された
シャドーマスクの実施例を示した平面図である。 1…シャドーマスク、2…スリット形アパーチャ、3…
ピンクッション形アパーチャ、4…ドラム形アパーチ
ャ、5…パネル、6…光源、7…シャッター、7a…ス
リット。
FIG. 1 is a partially enlarged perspective view showing the structure of a conventional shadow mask frame, FIG. 2 is a schematic sectional view showing an ordinary exposure apparatus, and FIG. 3A is an enlarged plan view of an inner surface of a panel showing defective formation of black metrics. It is a figure, underexposure state, 3rd
FIG. 6B is an enlarged plan view of the inner surface of the panel showing defective formation of black metrics, and is a diagram relating to an excessive exposure state. FIG. 4A is a schematic view showing a form of an aperture formed in a shadow mask according to the present invention, and FIG. 4B shows a form of an aperture formed in a shadow mask according to the present invention. It is a schematic diagram, and is a figure about a drum type. 5A and 5B are plan views showing an embodiment of the shadow mask constructed according to the present invention. 1 ... Shadow mask, 2 ... Slit aperture, 3 ...
Pincushion type aperture, 4 ... Drum type aperture, 5 ... Panel, 6 ... Light source, 7 ... Shutter, 7a ... Slit.

Claims (5)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】それぞれ電子ビームを誘導する多数のアパ
ーチャが形成されたカラー陰極線管用シャドーマスクに
おいて、 上記シャドーマスクにピンクッション形アパーチャとド
ラム形アパーチャ中の少なくもいずれかの一種類とスリ
ット形アパーチャが混合されて形成されることを特徴と
するカラー陰極線管用シャドーマスク。
1. A shadow mask for a color cathode ray tube having a plurality of apertures for respectively guiding an electron beam, wherein the shadow mask has at least one of a pin cushion type aperture and a drum type aperture and a slit type aperture. A shadow mask for a color cathode ray tube, characterized in that the shadow mask is formed by mixing.
【請求項2】上記ピンクッション形アパーチャが、上記
シャドーマスクが露光用マスクとして用いられるとき、
減光の要求される部分に形成されることを特徴とする請
求項1記載のカラー陰極線管用シャドーマスク。
2. The pincushion-shaped aperture, wherein the shadow mask is used as an exposure mask,
The shadow mask for a color cathode ray tube according to claim 1, wherein the shadow mask is formed in a portion where dimming is required.
【請求項3】上記ドラム形アパーチャが、上記シャドー
マスクが露光用マスクに使用されるとき、増光の要求さ
れる部分に形成されることを特徴とする請求項1記載の
カラー陰極線管用シャドーマスク。
3. The shadow mask for a color cathode ray tube according to claim 1, wherein the drum-shaped aperture is formed in a portion where brightening is required when the shadow mask is used as an exposure mask.
【請求項4】上記ピンクッション形アパーチャの最大幅
が上記スリット形アパーチャの幅と殆んど同一なことを
特徴とする、請求項1又は2のいずれかの1項に記載の
カラー陰極線管用シャドーマスク。
4. The shadow for a color cathode ray tube according to claim 1, wherein the maximum width of the pincushion type aperture is almost the same as the width of the slit type aperture. mask.
【請求項5】上記ドラム形アパーチャの最小幅が上記ス
リット形アパーチャの幅と殆んど同一なことを特徴とす
る請求項1又は3のいずれかの1項に記載のカラー陰極
線管用シャドーマスク。
5. The shadow mask for a color cathode ray tube according to claim 1, wherein the minimum width of the drum-shaped aperture is almost the same as the width of the slit-shaped aperture.
JP1989133859U 1988-11-26 1989-11-17 Shadow mask for color cathode ray tube Expired - Lifetime JPH064523Y2 (en)

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JPH02111047U JPH02111047U (en) 1990-09-05
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KR960010113Y1 (en) 1996-11-22

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