JPH064332A - Testing method for computer system - Google Patents

Testing method for computer system

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Publication number
JPH064332A
JPH064332A JP4163280A JP16328092A JPH064332A JP H064332 A JPH064332 A JP H064332A JP 4163280 A JP4163280 A JP 4163280A JP 16328092 A JP16328092 A JP 16328092A JP H064332 A JPH064332 A JP H064332A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
unit
test unit
designated
external
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4163280A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toru Kaneko
透 金子
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH064332A publication Critical patent/JPH064332A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To reduce man-hour for preparing a test program or the burden of management. CONSTITUTION:Either the designation of 'all' to successively execute test units according to a test unit table or the designation of a unit name to execute the designated test unit is discriminated (a) and in the case of the 'all' designation, the test units are successively executed until they are eliminated (b). When the designated test unit is existent on the test unit table in the case of the unit name designation, the designated test unit is executed (c) and when the designated test unit is not existent on the test unit table, the designated test unit is searched and executed by accessing an external storage device storing external test units (d).

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、計算機システムの試験
方法に関する。計算機システムの試験プログラムは、装
置開発時、量産試験、出荷後の保守等、さまざまな目的
に利用され、それぞれの目的に応じた試験ができるよう
な汎用性を要求されている。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a computer system test method. Computer system test programs are used for various purposes such as device development, mass production tests, and maintenance after shipment, and are required to have versatility so that tests can be performed according to each purpose.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の計算機システムの試験方法として
は、例えば図7に示すような試験プログラムがある。図
7において、1は複数の試験ユニットであり、試験ユニ
ット1は、例えば図形表示、文字表示、イメージ表示な
どの試験項目を実行する。
2. Description of the Related Art As a conventional computer system test method, there is a test program as shown in FIG. In FIG. 7, 1 is a plurality of test units, and the test unit 1 executes test items such as graphic display, character display, and image display.

【0003】2は試験ユニットテーブルであり、試験ユ
ニットテーブル2には試験ユニット1の各アドレスが格
納されている。3は共通部であり、共通部3は各試験ユ
ニット1で共通な関数やメッセージ、異常が発生した場
合の異常処理関数などで構成される。4は制御部であ
り、制御部4は試験ユニットテーブル2を参照し、順次
実行する試験ユニット1を呼び出す。呼び出された試験
ユニット1は固定された試験項目を実行する。
Reference numeral 2 is a test unit table, and each address of the test unit 1 is stored in the test unit table 2. Reference numeral 3 denotes a common unit, and the common unit 3 is composed of functions and messages common to each test unit 1, an abnormality processing function when an abnormality occurs, and the like. Reference numeral 4 denotes a control unit, and the control unit 4 refers to the test unit table 2 and calls the test units 1 to be sequentially executed. The called test unit 1 executes a fixed test item.

【0004】したがって、試験の目的によってそれぞれ
必要な項目が異なる場合には、別個に試験プログラムを
作成して、試験を実行している。
Therefore, when the required items differ depending on the purpose of the test, a test program is created separately and the test is executed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の計算機システムの試験方法にあっては、あら
ゆるテストに共通な基本機能試験とは別に、目的に応じ
た試験項目の実行が必要な場合、すべてを包含した試験
プログラムを作成するとプログラムが大きくなり、プロ
グラムを各目的の試験に必要最小なものとするために
は、各個別に試験ユニットをリンクして試験プログラム
を作成しなければならず、試験プログラムの作成工数が
増大するばかりでなく、版数管理にも大変な労力を要す
るという問題点があった。
However, in such a conventional computer system test method, in addition to the basic function test common to all tests, it is necessary to execute test items according to the purpose. , Creating a test program that includes all of them makes the program large, and in order to make the program the minimum necessary for each purpose test, it is necessary to link the test units to each and create the test program. However, there is a problem that not only the number of man-hours for creating the test program is increased, but also great effort is required for managing the version number.

【0006】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたものであって、試験プログラムの作成工数や
管理の負担を軽減することを目的としている。
The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and an object thereof is to reduce the number of man-hours for creating a test program and the burden of management.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図である。図1において、aは試験ユニットテーブルに
従って試験ユニットを順次実行するオールの指定か指定
の試験ユニットを実行するユニット名の指定かを判別す
るステップ、bはオールの指定のときは試験ユニットが
なくなるまで順次実行するステップ、cはユニット名の
指定のときはその指定の試験ユニットが試験ユニットテ
ーブル上にある場合は、その指定の試験ユニットを実行
するステップ、dはその指定の試験ユニットが試験ユニ
ットテーブル上にない場合は外部試験ユニットを格納し
た外部記憶装置にアクセスして指定の試験ユニットを探
して実行するステップである。
FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of the present invention. In FIG. 1, a is a step of discriminating whether all the test units are sequentially executed according to the test unit table or a unit name for executing the designated test unit is specified. Steps to be executed in sequence, c is a step of executing the designated test unit when the designated test unit is on the test unit table when the unit name is designated, and d is a step of executing the designated test unit on the test unit table. If not, the step is to access the external storage device storing the external test unit to search for the specified test unit and execute it.

【0008】[0008]

【作用】本発明においては、開発時の試験、量産試験、
保守試験等、さまざまな目的に対応した試験プログラム
を、共通な試験項目は固定で持ち、別個に必要な試験項
目は外部記憶装置内に外部試験ユニットとして持ち、必
要に応じて指定した試験ユニットを判別して呼び出すよ
うにしたため、試験プログラムとしては、用途に応じて
必要最小限の構成で対応することが可能となり、試験プ
ログラムを用途別に作成することによって発生する工数
や管理の負担を軽減することができる。
In the present invention, the development test, mass production test,
Common test items have fixed test programs for various purposes such as maintenance tests, and test items required separately are stored as external test units in an external storage device. As the test program is called after being discriminated, it is possible to support the test program with the minimum required configuration according to the application, and to reduce the man-hours and management burden that are generated by creating the test program for each application. You can

【0009】[0009]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図2および図3は本発明の一実施例を示す図であ
る。図2において、11は複数の試験ユニットであり、
試験ユニット11は固定した試験項目を実行する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. 2 and 3 are diagrams showing an embodiment of the present invention. In FIG. 2, 11 is a plurality of test units,
The test unit 11 executes a fixed test item.

【0010】12は試験ユニットテーブルであり、試験
ユニットテーブル12には試験ユニット11のアドレス
が格納されている。13は共通部であり、共通部13は
各試験ユニット11で共通に必要な関数やメッセージ、
異常が発生した場合の異常処理関数などにより構成され
る。14は外部試験ユニットであり、外部試験ユニット
14は固定した試験項目(試験ユニットテーブル12に
羅列した試験ユニット11)以外の目的に応じた特異な
試験を実行するための手順及びデータを持ち、試験プロ
グラムとは別個に必要に応じて保持するものである。
Reference numeral 12 is a test unit table, and the test unit table 12 stores the address of the test unit 11. 13 is a common part, and the common part 13 is a function and a message commonly required in each test unit 11,
It is composed of an abnormality processing function when an abnormality occurs. Reference numeral 14 denotes an external test unit, and the external test unit 14 has procedures and data for executing a unique test according to the purpose other than a fixed test item (test unit 11 listed in the test unit table 12), and the test It is kept separately from the program as needed.

【0011】外部試験ユニット14は外部記憶装置(磁
気ディスク装置、FPD装置など)内に格納されてい
る。15は制御部であり、制御部15は試験ユニットテ
ーブル12を参照して順次実行する試験ユニット11を
呼び出す。また、制御部15はオペレータが指定する試
験方法を判別し、ユニット名の指定で、試験ユニットテ
ーブル12にないとき、外部試験ユニット14を呼び出
す。すなわち、制御部15は試験ユニットテーブル12
に従って試験ユニット11を順次実行するオールの指定
か指定の試験ユニット11を実行するユニット名の指定
かを判別する判別部15Aおよびユニット名の指定のと
き指定の試験ユニット11が試験ユニットテーブル12
にないとき外部試験ユニット14を呼び出すファイル呼
び出し部15Bとしての機能を有する。
The external test unit 14 is stored in an external storage device (magnetic disk device, FPD device, etc.). Reference numeral 15 is a control unit, and the control unit 15 refers to the test unit table 12 and calls the test units 11 to be sequentially executed. Further, the control unit 15 discriminates the test method designated by the operator, and calls the external test unit 14 when the unit name is designated and the test unit table 12 does not have the unit name. That is, the control unit 15 controls the test unit table 12
According to the determination unit 15A for determining whether all the test units 11 are sequentially executed or a unit name for executing the specified test unit 11 and the unit name is specified, the specified test unit 11 indicates the test unit table 12.
When not present, it has a function as a file calling unit 15B that calls the external test unit 14.

【0012】次に、動作を説明する。図3は試験プログ
ラムを実行する場合のフローチャートである。試験プロ
グラムがスタートすると、まず、ステップS1で試験方
法をオペレータに問い合わせる。オペレータは、(1)
試験ユニットテーブル12に従って順次実行する(‘A
LL’と入力)、(2)指定ユニットを実行する(ユニ
ット名を入力)、(3)終了(‘END’と入力)のい
ずれかを選択し、入力する。
Next, the operation will be described. FIG. 3 is a flowchart for executing the test program. When the test program starts, the operator is first inquired about the test method in step S1. The operator is (1)
Sequentially execute according to the test unit table 12 ('A
LL '), (2) execute the designated unit (input the unit name), and (3) end (input'END'), and input.

【0013】ステップS3で(1)の‘ALL’が指定
されると、ステップS4で試験ユニットテーブル12を
参照して試験ユニット11の呼び出し、ステップS5で
実行を試験ユニットテーブル12上の試験ユニット11
がなくなるまで順次行う。試験ユニット11がなくなる
と試験プログラムを終了する。(2)のユニットが指定
されると、ステップS6で指定されたユニットが試験ユ
ニットテーブル12上に存在するか否かを調べ、存在す
る場合はステップS7でそのユニットを実行し、試験方
法の問い合わせに戻る。
When (1) 'ALL' is designated in step S3, the test unit 11 is called by referring to the test unit table 12 in step S4 and executed in step S5.
Repeat until there are no more. When the test unit 11 is exhausted, the test program ends. When the unit of (2) is designated, it is checked in step S6 whether or not the designated unit exists in the test unit table 12, and if it exists, the unit is executed in step S7 to inquire about the test method. Return to.

【0014】指定されたユニットが試験ユニットテーブ
ル12上に存在しない場合は、ステップS8で外部記憶
装置(磁気ディスク、FPD等)にアクセスし、入力さ
れた外部試験ユニット14を探す。外部試験ユニット1
4が見つかると、ステップS9でその試験を実行する。
見つからない場合はステップS10でオペレータに外部
試験ユニット14のファイルのマウント要求(FPD)
を行い、マウントされたFPDから外部試験ユニット1
4を呼び出して実行する。実行後は、試験方法の問い合
わせに戻る。
If the designated unit does not exist in the test unit table 12, the external storage device (magnetic disk, FPD, etc.) is accessed in step S8 to search for the input external test unit 14. External test unit 1
When 4 is found, the test is executed in step S9.
If not found, the operator is requested to mount the file of the external test unit 14 (FPD) in step S10.
From the mounted FPD to the external test unit 1
Call and execute 4. After execution, return to the inquiry about the test method.

【0015】ステップS2で(3)の‘END’が指定
されると、プログラムを終了する。ここで、外部試験ユ
ニット14の指定においては、図4のように外部試験ユ
ニット14を数個まとめたファイルとして持ち、そのフ
ァイル名を指定することによって試験項目をまとまった
単位で外付けとすることも可能となる。この場合、外部
試験ユニット14の実行処理は、外部記憶装置内の試験
ユニットテーブルを参照し、試験ユニットを順次実行す
るという処理になる。
When "END" of (3) is designated in step S2, the program is terminated. Here, in the designation of the external test unit 14, as shown in FIG. 4, the external test unit 14 is held as a file in which a plurality of files are collected, and the test items are externally attached in a unit by designating the file name. Will also be possible. In this case, the execution process of the external test unit 14 is a process of referring to the test unit table in the external storage device and sequentially executing the test units.

【0016】次に、図5および図6は本発明の他の実施
例を示す図である。図5に示すように、テスト対象のデ
バイス制御装置16に複数個のデバイス17〜19が接
続され、テスト対象のデバイス制御装置16の基本機能
試験が共通であり、接続されているデバイス17〜19
の接続試験が個別に必要であるとする。
Next, FIGS. 5 and 6 are views showing another embodiment of the present invention. As shown in FIG. 5, a plurality of devices 17 to 19 are connected to the device control device 16 to be tested, the basic function test of the device control device 16 to be tested is common, and the connected devices 17 to 19 are common.
It is assumed that the connection test of is required individually.

【0017】デバイス制御装置16に接続され、試験プ
ログラム20を内蔵し、外部試験ユニットと試験ユニッ
トテーブルを格納した外部記憶装置21を接続したホス
ト計算機22で試験を実行するときは、図6に示すよう
に、フローチャートを修正することによって、共通試験
(ALL)実行後、外付けの試験を任意に組合せて連続
して実行させることも可能となる。すなわち、デバイス
制御装置16の基本機能試験を共通として持ち、デバイ
ス17が接続された構成の場合はステップS11で‘A
LL+試験A’という指定を判別し、ステップS4,5
で‘ALL’に該当する試験ユニット(基本機能試験)
実行後、ステップS12〜S15で外部試験ユニットの
試験Aを実行する。試験Aの実行は前述と同様、外部記
憶装置21内の試験ユニットテーブルを参照し、試験A
に属する試験ユニットがなくなるまで順次実行する。
When the test is executed by the host computer 22 which is connected to the device control unit 16 and has the built-in test program 20 and which is connected to the external storage unit 21 storing the external test unit and the test unit table, the test is shown in FIG. As described above, by modifying the flow chart, after the common test (ALL) is executed, it is possible to arbitrarily combine external tests and continuously execute the tests. That is, in the case of the configuration having the basic function test of the device control device 16 in common and the device 17 being connected, in step S11'A
The designation of LL + test A'is determined, and steps S4 and S5
Test unit corresponding to'ALL '(Basic functional test)
After the execution, the test A of the external test unit is executed in steps S12 to S15. To execute the test A, the test unit table in the external storage device 21 is referred to and the test A is executed as described above.
Sequentially execute until there are no test units belonging to.

【0018】[0018]

【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、特定な試験ユニットを外部記憶装置にファイルし、
任意に呼び出し実行する機能を保持することにより、試
験プログラムとしては用途に応じて必要最小限の構成で
対応することを可能とし、試験プログラムを用途別に作
成することによって発生する工数や管理の負担を軽減す
ることができる。
As described above, according to the present invention, a specific test unit is stored in an external storage device,
By holding the function to call and execute as desired, it is possible to support the test program with the minimum necessary configuration according to the application, and reduce the man-hours and management burden caused by creating the test program for each application. Can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の原理説明図FIG. 1 is an explanatory view of the principle of the present invention.

【図2】本発明の一実施例を示す図FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the present invention.

【図3】フローチャートFIG. 3 Flow chart

【図4】外部試験ユニットの構成図FIG. 4 is a block diagram of an external test unit.

【図5】本発明の他の実施例を示す図FIG. 5 is a diagram showing another embodiment of the present invention.

【図6】他のフローチャートFIG. 6 is another flowchart.

【図7】従来例を示す図FIG. 7 is a diagram showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11:試験ユニット 12:試験ユニットテーブル 13:共通部 14:外部試験ユニット 15:制御部 15A:判別部 15B:ファイル呼び出し部 16:デバイス制御装置 17〜19:デバイス 20:試験プログラム 21:外部記憶装置 22:ホスト計算機 11: Test unit 12: Test unit table 13: Common part 14: External test unit 15: Control part 15A: Discrimination part 15B: File call part 16: Device control device 17-19: Device 20: Test program 21: External storage device 22: Host computer

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】試験ユニットテーブルに従って試験ユニッ
トを順次実行するオールの指定か指定の試験ユニットを
実行するユニット名の指定かを判別し(a)、オールの
指定のときは試験ユニットがなくなるまで順次実行し
(b)、ユニット名の指定のときはその指定の試験ユニ
ットが試験ユニットテーブル上にある場合は、その指定
の試験ユニットを実行し(c)、その指定の試験ユニッ
トが試験ユニットテーブル上にない場合は外部試験ユニ
ットを格納した外部記憶装置にアクセスして指定の試験
ユニットを探して実行する(d)ことを特徴とする計算
機システムの試験方法。
1. According to a test unit table, it is discriminated whether all of the test units are sequentially executed or a unit name of a specified test unit is executed (a). If the designated test unit is on the test unit table when the unit name is designated (b), the designated test unit is executed (c), and the designated test unit is designated on the test unit table. If not, the test method for the computer system is characterized in that the external storage device storing the external test unit is accessed to search for and execute a designated test unit (d).
【請求項2】前記外部記憶装置にアクセスするとき、外
部試験ユニットを数個まとめてファイルとした外部試験
ユニットテーブルを参照して試験ユニットを順次実行す
ることを特徴とする請求項1の計算機システムの試験方
法。
2. The computer system according to claim 1, wherein when the external storage device is accessed, the test units are sequentially executed by referring to an external test unit table in which several external test units are put together into a file. Test method.
【請求項3】前記オールの指定またはオールの指定プラ
ス外部試験ユニットの指定か前記のユニット名の指定か
を判別し、オールの指定プラス外部試験ユニットの指定
のときはオールに該当する試験ユニットを実行後に、外
部記憶装置にアクセスして指定の外部試験ユニットを探
して実行することを特徴とする請求項1の計算機システ
ムの試験方法。
3. A test unit corresponding to all is designated when all is designated or all is designated plus an external test unit is designated or the unit name is designated. The test method for a computer system according to claim 1, wherein after execution, the external storage device is accessed to search for a specified external test unit and the specified external test unit is executed.
JP4163280A 1992-06-23 1992-06-23 Testing method for computer system Withdrawn JPH064332A (en)

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Effective date: 19990831