JPH0640867U - 試験検査端子 - Google Patents
試験検査端子Info
- Publication number
- JPH0640867U JPH0640867U JP8136892U JP8136892U JPH0640867U JP H0640867 U JPH0640867 U JP H0640867U JP 8136892 U JP8136892 U JP 8136892U JP 8136892 U JP8136892 U JP 8136892U JP H0640867 U JPH0640867 U JP H0640867U
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- Japan
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- terminal
- voltage
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 主任技術者 1人で高層建築物内の電圧を試験
的に極めて容易に検査可能にし、更に、構造を著しく簡
単にして、頗る安価に提供する。 【構成】 導電性を有する金属製の端子本体2の先端部
側に、需要者側のモールドジスコン内に掴持自在に円周
方向へ適宜間隔に配設された数個の端子片内側に案内す
る案内棒の案内穴3を長手方向へ沿って設け、且つ端子
本体2の基端面には、耐電圧試験用トランスにリード線
一端のクリップやY字形端子を介して接続する接続部材
4を設ける。
的に極めて容易に検査可能にし、更に、構造を著しく簡
単にして、頗る安価に提供する。 【構成】 導電性を有する金属製の端子本体2の先端部
側に、需要者側のモールドジスコン内に掴持自在に円周
方向へ適宜間隔に配設された数個の端子片内側に案内す
る案内棒の案内穴3を長手方向へ沿って設け、且つ端子
本体2の基端面には、耐電圧試験用トランスにリード線
一端のクリップやY字形端子を介して接続する接続部材
4を設ける。
Description
【0001】
本考案は、主として高層建築物の竣工時に、高層建築物の地面に近い外壁に設 置されている高圧キャビネットに内蔵された需要者側のモールドジスコンに差込 んで電圧を試験的に検査する際に使用される試験検査端子に関するものである。
【0002】
通常、高層建築物の竣工時に、主任技術者が竣工検査や耐圧試験として最高電 圧6900v ×1.5 倍×10分間=10350vになるように検査及び試験することが義務づ けられている関係上、従来は、高層建築物内の電圧を試験的に検査する際に、変 電所が設置されている高層建築物の屋上に耐電圧試験用トランス、電圧調整器、 電圧測定メーター等の数10kgを有する重い機器類を2 、3 人で運んで、高層建築 物内の電圧を計測していた。
【0003】
ところが、高層建築物内の電圧を試験的に検査する際に、変電所が設置されて いる高層建築物の屋上に耐電圧試験用トランス、電圧調整器、電圧測定メーター 等の数10kgを有する重い機器類を運ばなければならないため、2 、3 人の人手が 必要で、高層建築物内の電圧を試験的に検査する作業が極めて面倒であった。
【0004】 そこで、本考案は、上述のような課題を解決するために案出されたもので、主 任技術者 1人で高層建築物内の電圧を試験的に極めて容易に検査できるようにし 、更に、構造が著しく簡単で、頗る安価な試験検査端子を提供するものである。
【0005】
本考案は、上述のような目的を達成するために、導電性を有する金属製の端子 本体の先端部側に、需要者側のモールドジスコン内に掴持自在に円周方向へ適宜 間隔に配設された数個の端子片内側に案内する案内棒の案内穴を長手方向へ沿っ て設け、且つ端子本体の基端面には、耐電圧試験用トランスにリード線一端のク リップやY字形端子を介して接続する接続部材を設けたものである。
【0006】
そして、上述のような技術的手段により、高層建築物内の電圧を試験的に検査 する際に、高層建築物の地面に近い外壁に設置されている高圧キャビネットに内 蔵された需要者側のモールドジスコン内の各端子片内側に端子本体の先端部側を 、案内棒に案内穴が嵌込んで各端子片の内側方向への弾撥力に抗して押開くよう に差込んで、各端子片の内側方向への弾撥力にて掴持し、次に、端子本体の基端 側の接続部材に、互いに接続された耐電圧試験用トランス、電圧調整器、電圧測 定メーター等の機器類のうち耐電圧試験用トランスを、リード線一端のクリップ やY字形端子を介して接続し、この耐電圧試験用トランスにて高層建築物内の電 圧を計測するようにする。
【0007】
以下、本考案の一実施例を図面に基づいて説明する。
【0008】 本考案の試験検査端子1は、図1及び図2に示すように、導電性を有する金属 製の丸棒状の端子本体2の先端部側に、需要者側のモールドジスコンA内に掴持 自在に円周方向へ適宜間隔に配設された数個の端子片B内側に案内する案内棒C の案内穴3を長手方向へ沿って設け、且つ端子本体2の基端面には、耐電圧試験 用トランスにリード線D一端のクリップやY字形端子Eを介して接続する接続部 材4を設ける。更に、端子本体2の先端縁部には、前記各端子片B内側に円滑に 案内するためのテーパ5を設け、端子本体2の基端部近傍には、需要者側のモー ルドジスコンA内の相手のケーブルの色に合わせたカラーテープ6を巻設するよ うに形成したものである。
【0009】 しかして、前記接続部材4は、端子本体2の基端面に捩込む接続ネジ7と、こ の接続ネジ7に螺合して端子本体2の基端面に圧接する緩止ナット8と、接続ネ ジ7に螺合してバネ座金9及び平座金10を介してリード線D一端のクリップや Y字形端子Eを緩止ナット8側へ締付ける蝶ナット等の締付ナット11とから形 成されている。
【0010】 本考案の一実施例によれば、端子本体2の基端部近傍に需要者側のモールドジ スコンA内の相手のケーブルの色に合わせたカラーテープ6を巻設したことによ って、高層建築物内の電圧を試験的に検査する際に、接続しようとする需要者側 のモールドジスコンA内の相手のケーブルに確実に接続することができる。
【0011】
本考案の試験検査端子1は、上述のように、導電性を有する金属製の端子本体 2の先端部側に、需要者側のモールドジスコンA内に掴持自在に円周方向へ適宜 間隔に配設された数個の端子片B内側に案内する案内棒Cの案内穴3を長手方向 へ沿って設け、且つ端子本体2の基端面には、耐電圧試験用トランスにリード線 D一端のクリップやY字形端子Eを介して接続する接続部材4を設けるように形 成したから、高層建築物内の電圧を試験的に検査する際には、図2に示すように 、先ず、高層建築物の地面に近い外壁に設置されている高圧キャビネットに内蔵 された需要者側のモールドジスコンA内の各端子片B内側に端子本体2の先端部 側を、案内棒Cに案内穴3が嵌込んで各端子片Bの内側方向への弾撥力に抗して 押開くように差込んで、各端子片Bの内側方向への弾撥力にて掴持し、次に、端 子本体2の基端側の接続部材4に、互いに接続された耐電圧試験用トランス、電 圧調整器、電圧測定メーター等の機器類のうち耐電圧試験用トランスを、リード 線D一端のクリップやY字形端子Eを介して接続し、この耐電圧試験用トランス にて高層建築物内の電圧を計測することができるため、従来のように変電所が設 置されている高層建築物の屋上に耐電圧試験用トランス、電圧調整器、電圧測定 メーター等の数10kgを有する重い機器類を運ぶことなく、主任技術者 1人で高層 建築物内の電圧を試験的に極めて容易に検査することができる。
【0012】 しかも、本考案の試験検査端子1は、端子本体2の先端部側に案内穴3を設け 、且つ端子本体2の基端面に接続部材4を設けるように形成したから、構造が著 しく簡単であるため、頗る安価に提供することができる。
【図1】本考案の一実施例を示す斜視図である。
【図2】図1の使用状態を示す一部切欠き側面図であ
る。
る。
1 試験検査端子 2 端子本体 3 案内穴 4 接続部材 5 テーパ 6 カラーテープ 7 接続ネジ 8 緩止ナット 9 バネ座金 10 平座金 11 締付ナット A モールドジスコン B 端子片 C 案内棒 D リード線 E クリップ、Y字形端子
Claims (1)
- 【請求項1】 導電性を有する金属製の端子本体の先端
部側に、需要者側のモールドジスコン内に掴持自在に円
周方向へ適宜間隔に配設された数個の端子片内側に案内
する案内棒の案内穴を長手方向へ沿って設け、且つ端子
本体の基端面には、耐電圧試験用トランスにリード線一
端のクリップやY字形端子を介して接続する接続部材を
設けたことを特徴とする試験検査端子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8136892U JP2506193Y2 (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 試験検査端子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8136892U JP2506193Y2 (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 試験検査端子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0640867U true JPH0640867U (ja) | 1994-05-31 |
JP2506193Y2 JP2506193Y2 (ja) | 1996-08-07 |
Family
ID=13744377
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8136892U Expired - Lifetime JP2506193Y2 (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | 試験検査端子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2506193Y2 (ja) |
-
1992
- 1992-10-30 JP JP8136892U patent/JP2506193Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2506193Y2 (ja) | 1996-08-07 |
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