JPH0634712Y2 - Ｘ線検出装置 - Google Patents
Ｘ線検出装置Info
- Publication number
- JPH0634712Y2 JPH0634712Y2 JP1986104225U JP10422586U JPH0634712Y2 JP H0634712 Y2 JPH0634712 Y2 JP H0634712Y2 JP 1986104225 U JP1986104225 U JP 1986104225U JP 10422586 U JP10422586 U JP 10422586U JP H0634712 Y2 JPH0634712 Y2 JP H0634712Y2
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- JP
- Japan
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- ray
- collimator
- detector elements
- detector
- rays
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20183—Arrangements for preventing or correcting crosstalk, e.g. optical or electrical arrangements for correcting crosstalk
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4291—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1644—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using an array of optically separate scintillation elements permitting direct location of scintillations
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20185—Coupling means between the photodiode and the scintillator, e.g. optical couplings using adhesives with wavelength-shifting fibres
Description
【考案の詳細な説明】 〔考案の属する技術分野〕 本考案は、列状に配置された検出器要素と、コリメータ
板と、当該コリメータ板の間に形成されたコリメータ穴
とを有するＸ線検出装置であって、前記検出器要素はＸ
線入射方向で見てコリメータ穴の背後に配置されてお
り、前記検出器要素のそれぞれは放射線電気変換器を有
し、該放射線電気変換器は前記コリメータ穴とほぼ同じ
幅を有し、Ｘ線源から放射されたＸ線がコリメータ穴を
通過し、通過したＸ線が前記放射線電気変換器によって
捕捉され、前記放射線電気変換器はシンチレータと該シ
ンチレータに後置接続されたシリコンホトダイオードか
らなり、各シンチレータは所属のシリコンホトダイオー
ドとともに固有の共通のケースを有するＸ線検出装置に
関する。
板と、当該コリメータ板の間に形成されたコリメータ穴
とを有するＸ線検出装置であって、前記検出器要素はＸ
線入射方向で見てコリメータ穴の背後に配置されてお
り、前記検出器要素のそれぞれは放射線電気変換器を有
し、該放射線電気変換器は前記コリメータ穴とほぼ同じ
幅を有し、Ｘ線源から放射されたＸ線がコリメータ穴を
通過し、通過したＸ線が前記放射線電気変換器によって
捕捉され、前記放射線電気変換器はシンチレータと該シ
ンチレータに後置接続されたシリコンホトダイオードか
らなり、各シンチレータは所属のシリコンホトダイオー
ドとともに固有の共通のケースを有するＸ線検出装置に
関する。
この種のＸ線検出装置は、たとえば、Ｘ線管から発生さ
れたＸ線が診断対象物を透過し、その後この透過したＸ
線の強度分布に基づいて診察が行われるようなＸ線診察
装置のために必要である。たとえばコンピユータトモグ
ラフイおよびコンピユータラジオグラフイにおいて使用
されているようなＸ線検出装置は、直線状または円形状
に配置されてＸ線管に向けられた数百〜数千個の個別検
出器要素から構成されている。しばしばこの検出器アレ
イの前には、測定領域内に発生された散乱Ｘ線を抑制す
るために、Ｘ線吸収の強い材料から成りＸ線管に向けら
れた板によつて構成されたコリメータが配置される。こ
のような検出装置によれば、測定領域を直進する出来る
限りすべてのＸ線量子が検出される。すなわち、個々の
検出器要素とコリメータとから検出器アレイを幾何学的
に構成することにより、Ｘ線量子はごく僅かしか失なわ
れない。このことは、Ｘ線管出力が一定の場合には検出
されたＸ線量子の個数によつてたとえば像品質が決定さ
れるようになるので有利である。Ｘ線出力を高めたりお
よび（または）撮影時間を長くしたりする（これによつ
て不完全な吸収が補償されるかも知れない）と、たとえ
ば患者のＸ線被曝量、Ｘ線管の負担および（または）Ｘ
線像に及ぼす吸収運動等の影響が増大する。
れたＸ線が診断対象物を透過し、その後この透過したＸ
線の強度分布に基づいて診察が行われるようなＸ線診察
装置のために必要である。たとえばコンピユータトモグ
ラフイおよびコンピユータラジオグラフイにおいて使用
されているようなＸ線検出装置は、直線状または円形状
に配置されてＸ線管に向けられた数百〜数千個の個別検
出器要素から構成されている。しばしばこの検出器アレ
イの前には、測定領域内に発生された散乱Ｘ線を抑制す
るために、Ｘ線吸収の強い材料から成りＸ線管に向けら
れた板によつて構成されたコリメータが配置される。こ
のような検出装置によれば、測定領域を直進する出来る
限りすべてのＸ線量子が検出される。すなわち、個々の
検出器要素とコリメータとから検出器アレイを幾何学的
に構成することにより、Ｘ線量子はごく僅かしか失なわ
れない。このことは、Ｘ線管出力が一定の場合には検出
されたＸ線量子の個数によつてたとえば像品質が決定さ
れるようになるので有利である。Ｘ線出力を高めたりお
よび（または）撮影時間を長くしたりする（これによつ
て不完全な吸収が補償されるかも知れない）と、たとえ
ば患者のＸ線被曝量、Ｘ線管の負担および（または）Ｘ
線像に及ぼす吸収運動等の影響が増大する。
西独特許第2840965号明細書によれば、冒頭で述べた種
類の検出装置が公知である。この検出装置においては、
検出器領域はＸ線管を中心として円弧状に配置され、そ
の場合に検出器要素はこの検出器要素のために備えられ
ているコリメータ穴内へ部分的に押し込められている。
コリメータ穴の壁は生じるおそれのある側面からの散乱
Ｘ線に対して検出器要素を遮蔽する。
類の検出装置が公知である。この検出装置においては、
検出器領域はＸ線管を中心として円弧状に配置され、そ
の場合に検出器要素はこの検出器要素のために備えられ
ているコリメータ穴内へ部分的に押し込められている。
コリメータ穴の壁は生じるおそれのある側面からの散乱
Ｘ線に対して検出器要素を遮蔽する。
上記西独特許第2840965号明細書の第４図には、１つの
コリメータ穴を通過するＸ線は一部分だけが検出器有効
面すなわちシンチレーシヨン結晶に入射することが開示
されている。大部分のＸ線はシンチレーシヨン結晶の傍
を通り過ぎ、従つてもはや検出することができない。ま
た、シンチレーシヨン結晶をカプセル内に封入すること
により、Ｘ線を検出することができなくなるデツドゾー
ンが或る程度形成されるおそれがある。
コリメータ穴を通過するＸ線は一部分だけが検出器有効
面すなわちシンチレーシヨン結晶に入射することが開示
されている。大部分のＸ線はシンチレーシヨン結晶の傍
を通り過ぎ、従つてもはや検出することができない。ま
た、シンチレーシヨン結晶をカプセル内に封入すること
により、Ｘ線を検出することができなくなるデツドゾー
ンが或る程度形成されるおそれがある。
スペースフアクタ（占積率）は検出器に到着する全Ｘ線
量子に対して検出器要素に実際に入射するＸ線量子の尺
度である。従つてスペースフアクタを高めるために、側
部にデツドゾーン（入射したＸ線を記録できない検出器
側部領域）を大幅に削減し、Ｘ線が入射する放射線電気
変換器を大きくすることにより検出器有効面積を大きく
することは望ましいことである。それにより、コリメー
タ穴を平行に走行するＸ線量子を最大限に検出すること
ができるようになる。
量子に対して検出器要素に実際に入射するＸ線量子の尺
度である。従つてスペースフアクタを高めるために、側
部にデツドゾーン（入射したＸ線を記録できない検出器
側部領域）を大幅に削減し、Ｘ線が入射する放射線電気
変換器を大きくすることにより検出器有効面積を大きく
することは望ましいことである。それにより、コリメー
タ穴を平行に走行するＸ線量子を最大限に検出すること
ができるようになる。
そこで本考案は、上述した種類のＸ線検出装置において
スペークフアクタを改善することを目的とする。
スペークフアクタを改善することを目的とする。
この目的を達成するために本考案は、コリメータ板の長
手方向に延在するケースの側壁はＸ線入射方向で見てコ
リメータ板の陰領域内に配置されており、Ｘ線入射方向
に対して横に並んで配置された２つの検出器要素の一方
は、少なくとも前記側壁の長さだけＸ線入射方向で見て
他方の検出器要素よりも後方にずらして配置されてお
り、当該２つの検出器要素の順次連続するケース側壁
は、所属のコリメータ板のＸ線陰領域内に前後一列に配
置されていることを特徴とする。
手方向に延在するケースの側壁はＸ線入射方向で見てコ
リメータ板の陰領域内に配置されており、Ｘ線入射方向
に対して横に並んで配置された２つの検出器要素の一方
は、少なくとも前記側壁の長さだけＸ線入射方向で見て
他方の検出器要素よりも後方にずらして配置されてお
り、当該２つの検出器要素の順次連続するケース側壁
は、所属のコリメータ板のＸ線陰領域内に前後一列に配
置されていることを特徴とする。
次に本考案の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
第１図は従来技術によるＸ線検出装置の概略図である。
第２図は検出器要素が相互にケース側壁の長さだけＸ線
入射方向でずらして配置された本考案によるＸ線検出装
置の実施例の概略図である。
第２図は検出器要素が相互にケース側壁の長さだけＸ線
入射方向でずらして配置された本考案によるＸ線検出装
置の実施例の概略図である。
第１図には厚さｄのコリメータ板１とコリメータ穴９の
Ｘ線出口端部に直線状に配置された検出器要素２とを備
えた従来技術による検出装置が示されている。検出器要
素２は公知のシンチレーシヨン検出器によつて構成され
ており、各要素２は幅ｂが２つの隣合うコリメータ板１
の間隔ａよりも僅かに大きく形成されたシンチレーシヨ
ン結晶４を有している。このシンチレーシヨン結晶４は
側面およびＸ線入射面が反射膜５によつて覆われてい
る。コリメータ板１とは反対側にあるシンチレータ４の
面はエポキシ樹脂６内に埋設されたシリコンホトダイオ
ード７によつて覆われている。そして、それらすべては
アルミニウム製金属被覆８によつて覆われている。シン
チレーシヨン結晶（たとえばヨウ化ナトリウム）４内で
吸収されたＸ線量子によつて光量子が放射せしめられ
る。この光量子は、（直接または反射膜５によつて反射
されながら）シンチレーシヨン結晶４およびエポキシ樹
脂６を通過した後、シリコンホトダイオード７に入射
し、そこで電気信号の形にて検出される。
Ｘ線出口端部に直線状に配置された検出器要素２とを備
えた従来技術による検出装置が示されている。検出器要
素２は公知のシンチレーシヨン検出器によつて構成され
ており、各要素２は幅ｂが２つの隣合うコリメータ板１
の間隔ａよりも僅かに大きく形成されたシンチレーシヨ
ン結晶４を有している。このシンチレーシヨン結晶４は
側面およびＸ線入射面が反射膜５によつて覆われてい
る。コリメータ板１とは反対側にあるシンチレータ４の
面はエポキシ樹脂６内に埋設されたシリコンホトダイオ
ード７によつて覆われている。そして、それらすべては
アルミニウム製金属被覆８によつて覆われている。シン
チレーシヨン結晶（たとえばヨウ化ナトリウム）４内で
吸収されたＸ線量子によつて光量子が放射せしめられ
る。この光量子は、（直接または反射膜５によつて反射
されながら）シンチレーシヨン結晶４およびエポキシ樹
脂６を通過した後、シリコンホトダイオード７に入射
し、そこで電気信号の形にて検出される。
Ｘ線３はコリメータ板１の方向に平行にコリメータ穴９
を通過する。コリメータ板１に平行に走行しない散乱Ｘ
線はコリメータ板１による強い吸収によつて大幅に抑制
される。アルミニウム被覆８および反射膜５から成るカ
プセルの厚さをｃとする。同様に2cをｄよりも小さく選
定すると、Ｘ線検出のためには有効ではないアルミニウ
ム被覆８と反射膜５との側面領域はＸ線に対するコリメ
ータ板１の陰領域に位置するようになる。検出器の有効
幅ｂをコリメータ板１の間の間隔ａよりも大きくする
と、この検出器においては通常存在するシンチレータ４
の感度の低い側面縁部層が同様にコリメータ板１の上記
陰領域内に置かれるようになるという利点が付加的に得
られる。
を通過する。コリメータ板１に平行に走行しない散乱Ｘ
線はコリメータ板１による強い吸収によつて大幅に抑制
される。アルミニウム被覆８および反射膜５から成るカ
プセルの厚さをｃとする。同様に2cをｄよりも小さく選
定すると、Ｘ線検出のためには有効ではないアルミニウ
ム被覆８と反射膜５との側面領域はＸ線に対するコリメ
ータ板１の陰領域に位置するようになる。検出器の有効
幅ｂをコリメータ板１の間の間隔ａよりも大きくする
と、この検出器においては通常存在するシンチレータ４
の感度の低い側面縁部層が同様にコリメータ板１の上記
陰領域内に置かれるようになるという利点が付加的に得
られる。
しかし上記のような従来技術による構成では、コリメー
タ板の厚さが薄い場合、個々の検出器要素２を直線状に
並べて配置したのではアルミニウム被覆８と反射膜５が
Ｘ線に対するコリメータ板の陰領域からはみ出てしま
う。このような構成ではコリメータ穴を通過したＸ線を
すべて有効に検出することができない。
タ板の厚さが薄い場合、個々の検出器要素２を直線状に
並べて配置したのではアルミニウム被覆８と反射膜５が
Ｘ線に対するコリメータ板の陰領域からはみ出てしま
う。このような構成ではコリメータ穴を通過したＸ線を
すべて有効に検出することができない。
本考案では第２図に示すように、一方の検出器要素を少
なくともケースの側壁の長さだけＸ線入射方向で見て他
方の検出器要素よりも後方にずらして配置し、２つの検
出器要素のケース側壁が所属のコリメータ板のＸ線陰領
域内に前後に一列に配置される。このような構成によれ
ば、コリメータ板の厚さをより一層薄くすることができ
ると共に、シンチレータおよびシリコンホトダイオード
の幅ｂをより一層大きく選定することができるという利
点が得られる。
なくともケースの側壁の長さだけＸ線入射方向で見て他
方の検出器要素よりも後方にずらして配置し、２つの検
出器要素のケース側壁が所属のコリメータ板のＸ線陰領
域内に前後に一列に配置される。このような構成によれ
ば、コリメータ板の厚さをより一層薄くすることができ
ると共に、シンチレータおよびシリコンホトダイオード
の幅ｂをより一層大きく選定することができるという利
点が得られる。
それゆえ、これらの部品の機械的安定性は第１図に示し
た装置よりも改善される。コリメータが使用されない場
合でも、各検出器要素を互い違い（ジグザグ状）に配置
することは有利である。というのは、その場合には、左
側デツドスペースと右側デツドスペースとは全デツドス
ペースに加算されないからである。
た装置よりも改善される。コリメータが使用されない場
合でも、各検出器要素を互い違い（ジグザグ状）に配置
することは有利である。というのは、その場合には、左
側デツドスペースと右側デツドスペースとは全デツドス
ペースに加算されないからである。
以上に説明したように本考案によれば、コリメータ穴を
通過した全Ｘ線を捕捉する放射線電気変換器を有する検
出器要素を使用することによつて、従来技術に比べて検
出器の有効面積を拡大することができる。検出器要素の
カプセルの側面部はその場合には特にＸ線に対するコリ
メータ板の陰領域内に位置するようになり、従つてデツ
ドゾーンはもはや存在しなくなる。
通過した全Ｘ線を捕捉する放射線電気変換器を有する検
出器要素を使用することによつて、従来技術に比べて検
出器の有効面積を拡大することができる。検出器要素の
カプセルの側面部はその場合には特にＸ線に対するコリ
メータ板の陰領域内に位置するようになり、従つてデツ
ドゾーンはもはや存在しなくなる。
第１図は従来技術によるＸ線検出装置の概略図、第２図
は本考案によるＸ線検出装置の実施例の概略図である。 １……コリメータ板、２……検出器要素、３……Ｘ線、
４……シンチレーシヨン結晶、５……反射膜、６……エ
ポキシ樹脂、７……シリコンホトダイオード、８……ア
ルミニウム被膜、９……コリメータ穴。
は本考案によるＸ線検出装置の実施例の概略図である。 １……コリメータ板、２……検出器要素、３……Ｘ線、
４……シンチレーシヨン結晶、５……反射膜、６……エ
ポキシ樹脂、７……シリコンホトダイオード、８……ア
ルミニウム被膜、９……コリメータ穴。
Claims (1)
- 【請求項１】列状に配置された検出器要素（２）と、 コリメータ板（１）と、 当該コリメータ板（１）の間に形成されたコリメータ穴
（９）とを有するＸ線検出装置であって、 前記検出器要素はＸ線入射方向で見てコリメータ穴
（９）の背後に配置されており、 前記検出器要素（２）のそれぞれは放射線電気変換器
（４、７）を有し、 該放射線電気変換器は前記コリメータ穴（９）とほぼ同
じ幅を有し、 Ｘ線源から放射されたＸ線（３）がコリメータ穴（９）
を通過し、通過したＸ線が前記放射線電気変換器によっ
て受光され、 前記放射線電気変換器はシンチレータ（４）と該シンチ
レータに後置接続されたシリコンホトダイオード（７）
からなり、 各シンチレータ（４）は所属のシリコンホトダイオード
（７）とともに固有の共通のケース（８）を有するＸ線
検出装置において、 コリメータ板（１）の長手方向に延在する前記ケースの
側壁はＸ線入射方向で見てコリメータ板（１）の陰領域
内に配置されており、 Ｘ線入射方向に対して横に並んで配置された２つの検出
器要素（２）の一方は、少なくとも前記側壁の長さだけ
Ｘ線入射方向で見て他方の検出器要素よりも後方にずら
して配置されており、 当該２つの検出器要素（２）の順次連続するケース側壁
は、所属のコリメータ板（１）のＸ線陰領域内に前後一
列に配置されていることを特徴とするＸ線検出装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3524975.7 | 1985-07-12 | ||
| DE3524975 | 1985-07-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6218680U JPS6218680U (ja) | 1987-02-04 |
| JPH0634712Y2 true JPH0634712Y2 (ja) | 1994-09-07 |
Family
ID=6275643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986104225U Expired - Lifetime JPH0634712Y2 (ja) | 1985-07-12 | 1986-07-07 | Ｘ線検出装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4731534A (ja) |
| EP (1) | EP0208225B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0634712Y2 (ja) |
| DE (1) | DE3669928D1 (ja) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| EP0416147B1 (de) * | 1989-09-06 | 1992-12-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendetektor |
| US5059798A (en) * | 1991-05-21 | 1991-10-22 | Siemens Gammasonics, Inc. | Frangible bonding of photomultiplier tubes for use in scintillation cameras and PET scanners |
| US5378894A (en) * | 1991-12-11 | 1995-01-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray detector including scintillator channel separator capable of improving sensitivity of X-ray detector |
| JPH05256950A (ja) * | 1992-03-13 | 1993-10-08 | Toshiba Corp | Ｘ線コンピュータトモグラフィ装置用固体検出器 |
| FR2698184B1 (fr) * | 1992-08-26 | 1994-12-30 | Catalin Stoichita | Procédé et dispositif capteur d'images par rayons X utilisant la post-luminiscence d'un scintillateur. |
| US5773829A (en) * | 1996-11-05 | 1998-06-30 | Iwanczyk; Jan S. | Radiation imaging detector |
| US6266434B1 (en) * | 1998-07-17 | 2001-07-24 | General Electric Company | Methods and apparatus for reducing spectral artifacts in a computed tomograph system |
| US6304626B1 (en) * | 1998-10-20 | 2001-10-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Two-dimensional array type of X-ray detector and computerized tomography apparatus |
| DK175850B1 (da) * | 2001-04-24 | 2005-03-29 | Force Technology | System og fremgangsmåde til måling af lagtykkelser af et flerlagsrör |
| US9380987B2 (en) * | 2011-12-12 | 2016-07-05 | Hitachi Medical Corporation | X-ray CT device |
| EP3137924A1 (en) * | 2014-04-30 | 2017-03-08 | Analogic Corporation | Detector array for imaging modality |
| JP2017044588A (ja) * | 2015-08-27 | 2017-03-02 | 株式会社日立製作所 | Ｘ線検出器およびｘ線撮像システム |
| US10610191B2 (en) * | 2017-07-06 | 2020-04-07 | Prismatic Sensors Ab | Managing geometric misalignment in x-ray imaging systems |
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| WO2023081646A1 (en) * | 2021-11-04 | 2023-05-11 | Rapiscan Holdings, Inc. | Targeted collimation of detectors using rear collimators |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| DE2814242C3 (de) * | 1978-04-03 | 1981-07-09 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schichtgerät zur Herstellung von Transversalschichtbildern |
| DE2840965C2 (de) * | 1978-09-20 | 1982-11-11 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Strahlendiagnostikgerät für die Erzeugung von Schichtbildern eines Aufnahmeobjekts |
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-
1986
- 1986-06-30 EP EP86108898A patent/EP0208225B1/de not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
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| EP0208225B1 (de) | 1990-03-28 |
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