JPH0634679A - π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法 - Google Patents
π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法Info
- Publication number
- JPH0634679A JPH0634679A JP4192328A JP19232892A JPH0634679A JP H0634679 A JPH0634679 A JP H0634679A JP 4192328 A JP4192328 A JP 4192328A JP 19232892 A JP19232892 A JP 19232892A JP H0634679 A JPH0634679 A JP H0634679A
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- Japan
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- spectrum analyzer
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- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な構成で高精度な周波数測定を行う。
【構成】 π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波
をスペクトラムアナライザ１に入力し、該スペクトラム
アナライザ１をゼロスパンに設定して前記ＴＤＭＡバー
スト波から所望の１チャネル分のバースト波にチューニ
ングし、さらに、前記スペクトラムアナライザ１のＹ出
力信号を、パルス成分抽出回路２を通してパルス整形し
て周波数カウンタ３の外部同期信号として用い、該周波
数カウンタ３にて前記スペクトラムアナライザ１のＩＦ
出力信号の周波数を測定する。
をスペクトラムアナライザ１に入力し、該スペクトラム
アナライザ１をゼロスパンに設定して前記ＴＤＭＡバー
スト波から所望の１チャネル分のバースト波にチューニ
ングし、さらに、前記スペクトラムアナライザ１のＹ出
力信号を、パルス成分抽出回路２を通してパルス整形し
て周波数カウンタ３の外部同期信号として用い、該周波
数カウンタ３にて前記スペクトラムアナライザ１のＩＦ
出力信号の周波数を測定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はπ／４シフトＱＰＳＫの
ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法に関する。
ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、π／４シフトＱＰＳＫのＴＤＭＡ
バースト波についての周波数測定は、図３に示すよう
に、マルチチャネルで渡来するＴＤＭＡバースト波をア
ンテナ３１にて受信してプリアンプ３２で増幅した後、
チューニングフィルタ３３を通して１チャネルの成分を
分波し、パルスＲＦ専用周波数カウンタ３４を用いて行
っていた。
バースト波についての周波数測定は、図３に示すよう
に、マルチチャネルで渡来するＴＤＭＡバースト波をア
ンテナ３１にて受信してプリアンプ３２で増幅した後、
チューニングフィルタ３３を通して１チャネルの成分を
分波し、パルスＲＦ専用周波数カウンタ３４を用いて行
っていた。
【０００３】なお、前記プリアンプ３２とチューニング
フィルタ３３は、前後逆に接続してもよい。すなわち、
アンテナ３１で受信したマルチチャネルのＴＤＭＡバー
スト波から１チャネルの成分を分波した後、その成分を
増幅する構成としても同様に、周波数測定を行うことが
できる。
フィルタ３３は、前後逆に接続してもよい。すなわち、
アンテナ３１で受信したマルチチャネルのＴＤＭＡバー
スト波から１チャネルの成分を分波した後、その成分を
増幅する構成としても同様に、周波数測定を行うことが
できる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例の測定方法では、下記のような問題点がある。
来例の測定方法では、下記のような問題点がある。
【０００５】（１）周波数測定のために、アンテナにて
受信した受信信号の増幅用アンプとマルチチャネルの信
号から１チャネルの成分を分波するためのチューニング
フィルタ等の外付機器が必要であり、さらに、それら外
付機器は、受信する信号、すなわち周波数を測定する信
号によって、帯域を変化させなければならず構成が複雑
になる。
受信した受信信号の増幅用アンプとマルチチャネルの信
号から１チャネルの成分を分波するためのチューニング
フィルタ等の外付機器が必要であり、さらに、それら外
付機器は、受信する信号、すなわち周波数を測定する信
号によって、帯域を変化させなければならず構成が複雑
になる。
【０００６】（２）周波数測定の対象であるバースト波
は、その周波数が通常数百ＭＨｚ〜数ＧＨｚであるた
め、パルスＲＦ専用の周波数カウンタでないと測定でき
ない。
は、その周波数が通常数百ＭＨｚ〜数ＧＨｚであるた
め、パルスＲＦ専用の周波数カウンタでないと測定でき
ない。
【０００７】本発明は、上記従来の技術が有する問題点
に鑑みてなされたもので、簡単な構成で高精度の周波数
測定を行うことができる、π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤ
ＭＡバースト波の周波数測定方法を提供することを目的
としている。
に鑑みてなされたもので、簡単な構成で高精度の周波数
測定を行うことができる、π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤ
ＭＡバースト波の周波数測定方法を提供することを目的
としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の、π／４シフト
ＱＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法は、前
記π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波をスペク
トラムアナライザに入力し、該スペクトラムアナライザ
をゼロスパンに設定して前記ＴＤＭＡバースト波から所
望の１チャネル分のバースト波にチューニングし、さら
に、前記スペクトラムアナライザのＹ出力信号を周波数
カウンタの外部同期信号として用いて、該周波数カウン
タにて前記スペクトラムアナライザのＩＦ出力信号の周
波数を測定するものであり、前記スペクトラムアナライ
ザのＹ出力信号をパルス整形して周波数カウンタの外部
同期信号として用いる場合がある。
ＱＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法は、前
記π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波をスペク
トラムアナライザに入力し、該スペクトラムアナライザ
をゼロスパンに設定して前記ＴＤＭＡバースト波から所
望の１チャネル分のバースト波にチューニングし、さら
に、前記スペクトラムアナライザのＹ出力信号を周波数
カウンタの外部同期信号として用いて、該周波数カウン
タにて前記スペクトラムアナライザのＩＦ出力信号の周
波数を測定するものであり、前記スペクトラムアナライ
ザのＹ出力信号をパルス整形して周波数カウンタの外部
同期信号として用いる場合がある。
【０００９】
【作用】本発明の、π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバ
ースト波の周波数測定方法は、前記ＴＤＭＡバースト波
をスペクトラムアナライザに入力し、該スペクトラムア
ナライザにて１チャネル分のバースト波にチューニング
して、そのときの前記スペクトラムアナライザのＩＦ出
力信号の周波数を測定する。
ースト波の周波数測定方法は、前記ＴＤＭＡバースト波
をスペクトラムアナライザに入力し、該スペクトラムア
ナライザにて１チャネル分のバースト波にチューニング
して、そのときの前記スペクトラムアナライザのＩＦ出
力信号の周波数を測定する。
【００１０】スペクトラムアナライザは、通常、内部
に、ＩＦ信号を生成するための、高確度のローカル信号
を発するローカル信号発生器および周波数混合器を備え
ており、該スペクトラムアナライザについての入力信号
は前記周波数混合器にてローカル信号と混合されてＩＦ
信号に変換される。そのため、前記スペクトラムアナラ
イザのＩＦ出力信号は各チャネルに応じた周波数とな
り、該ＩＦ出力信号の周波数を測定することで各チャネ
ル毎のバースト信号の周波数を知ることができる。
に、ＩＦ信号を生成するための、高確度のローカル信号
を発するローカル信号発生器および周波数混合器を備え
ており、該スペクトラムアナライザについての入力信号
は前記周波数混合器にてローカル信号と混合されてＩＦ
信号に変換される。そのため、前記スペクトラムアナラ
イザのＩＦ出力信号は各チャネルに応じた周波数とな
り、該ＩＦ出力信号の周波数を測定することで各チャネ
ル毎のバースト信号の周波数を知ることができる。
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１１】図１は本発明の、π／４シフトＱＰＳＫの
ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法を実施するための
構成の一実施例を示すブロック図である。
ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法を実施するための
構成の一実施例を示すブロック図である。
【００１２】本実施例では、スペクトラムアナライザ１
とパルス整形用のパルス成分抽出回路２と低周波用の周
波数カウンタ３とを用いた構成となっている。
とパルス整形用のパルス成分抽出回路２と低周波用の周
波数カウンタ３とを用いた構成となっている。
【００１３】スペクトラムアナライザ１は、周波数ｆ0
のローカル信号を発するローカル信号発生器１１と、Ｉ
Ｎ端子から入力された入力信号について中間周波信号
（ＩＦ信号）を生成するための周波数混合器１２とを備
えている。
のローカル信号を発するローカル信号発生器１１と、Ｉ
Ｎ端子から入力された入力信号について中間周波信号
（ＩＦ信号）を生成するための周波数混合器１２とを備
えている。
【００１４】前記周波数混合器は、前記入力信号と前記
ローカル信号とを混合することでＩＦ信号を生成し、そ
のＩＦ信号は、ＩＦ ＯＵＴ端子から外部へ出力され
る。通常、スペクトラムアナライザにおいては、ＩＦ信
号の周波数が５０ＭＨｚに満たないものとなるように前
記ローカル信号の周波数ｆ0 が設定されている。前記ス
ペクトラムアナライザ１のＩＦ ＯＵＴ端子は、周波数
カウンタ３のＩＮＰＵＴ端子と接続されている。また、
前記スペクトラムアナライザ１のＩＮ端子へ信号を入力
することで、その入力信号に対応して該スペクトラムア
ナライザ１内部で生成されるＹ出力信号の出力端（Ｙ
ＯＵＴ端子）がパルス成分抽出回路２の入力端（ＩＮ端
子）へ接続されている。
ローカル信号とを混合することでＩＦ信号を生成し、そ
のＩＦ信号は、ＩＦ ＯＵＴ端子から外部へ出力され
る。通常、スペクトラムアナライザにおいては、ＩＦ信
号の周波数が５０ＭＨｚに満たないものとなるように前
記ローカル信号の周波数ｆ0 が設定されている。前記ス
ペクトラムアナライザ１のＩＦ ＯＵＴ端子は、周波数
カウンタ３のＩＮＰＵＴ端子と接続されている。また、
前記スペクトラムアナライザ１のＩＮ端子へ信号を入力
することで、その入力信号に対応して該スペクトラムア
ナライザ１内部で生成されるＹ出力信号の出力端（Ｙ
ＯＵＴ端子）がパルス成分抽出回路２の入力端（ＩＮ端
子）へ接続されている。
【００１５】パルス成分抽出回路２は、その出力端（Ｏ
ＵＴ端子）が前記周波数カウンタ３のＥＸＴ ＧＡＴＥ
端子と接続されており、前記Ｙ出力信号からパルス成分
を抽出および整形し、周波数測定の際の同期信号として
前記周波数カウンタ３へ供給する。
ＵＴ端子）が前記周波数カウンタ３のＥＸＴ ＧＡＴＥ
端子と接続されており、前記Ｙ出力信号からパルス成分
を抽出および整形し、周波数測定の際の同期信号として
前記周波数カウンタ３へ供給する。
【００１６】本実施例では、前記スペクトラムアナライ
ザ１のＩＮ端子に、図２に示すような、周波数の異なる
マルチチャネル（チャネル１〜ｎ）のπ／４シフトＱＰ
ＳＫＴＤＭＡバースト波を入力して各チャネル毎のバー
スト波（キャリア周波数ｆi＝数百ＭＨｚ〜数ＧＨｚ、
ｉ＝１，２，・・・，ｎ）の周波数測定を行う。
ザ１のＩＮ端子に、図２に示すような、周波数の異なる
マルチチャネル（チャネル１〜ｎ）のπ／４シフトＱＰ
ＳＫＴＤＭＡバースト波を入力して各チャネル毎のバー
スト波（キャリア周波数ｆi＝数百ＭＨｚ〜数ＧＨｚ、
ｉ＝１，２，・・・，ｎ）の周波数測定を行う。
【００１７】ここで、本実施例の周波数測定方法につい
て説明する。
て説明する。
【００１８】まず、スペクトラムアナライザ１のＩＮ端
子に前記ＴＤＭＡバースト波を入力し、該スペクトラム
アナライザ１をゼロスパン（ＺＥＲＯ ＳＰＡＮ）に設
定して、所望のチャネルについてチューニングを行う。
これにより、前記スペクトラムアナライザ１の周波数混
合器１１には前記所望のチャネルのバースト波が入力さ
れ周波数ｆINのＩＦ信号が生成されて前記周波数カウン
タ３のＩＮＰＵＴ端子へ印加される。
子に前記ＴＤＭＡバースト波を入力し、該スペクトラム
アナライザ１をゼロスパン（ＺＥＲＯ ＳＰＡＮ）に設
定して、所望のチャネルについてチューニングを行う。
これにより、前記スペクトラムアナライザ１の周波数混
合器１１には前記所望のチャネルのバースト波が入力さ
れ周波数ｆINのＩＦ信号が生成されて前記周波数カウン
タ３のＩＮＰＵＴ端子へ印加される。
【００１９】なお、前記キャリア周波数ｆi とＩＦ信号
の周波数ｆINとの関係は、 ｆIN＝ｆi −ｆ0 （ｉ：１，２・・・，ｎ） となっている。
の周波数ｆINとの関係は、 ｆIN＝ｆi −ｆ0 （ｉ：１，２・・・，ｎ） となっている。
【００２０】前記周波数カウンタ３へ印加されたＩＦ信
号は、前述したようにその周波数ｆ IN が５０ＭＨｚに
満たないものであり、本実施例のようにスペクトラムア
ナライザ１をＲＦ検波器として使用して１チャネル分の
バースト波を抽出し、さらに、前記Ｙ出力信号を周波数
カウンタ３の同期信号として用いることにより、バース
ト同期信号がなくても、前記周波数カウンタ３のような
低周波用のカウンタによって周波数測定が可能となる。
号は、前述したようにその周波数ｆ IN が５０ＭＨｚに
満たないものであり、本実施例のようにスペクトラムア
ナライザ１をＲＦ検波器として使用して１チャネル分の
バースト波を抽出し、さらに、前記Ｙ出力信号を周波数
カウンタ３の同期信号として用いることにより、バース
ト同期信号がなくても、前記周波数カウンタ３のような
低周波用のカウンタによって周波数測定が可能となる。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば下記
のような効果を奏する。
のような効果を奏する。
【００２２】（１）スペクトラムアナライザにて１チャ
ネル分のバースト波にチューニングするので、増幅器や
フィルタ等のチューニング用の外付機器が不要となり、
簡単な構成で周波数を測定することが可能となる。
ネル分のバースト波にチューニングするので、増幅器や
フィルタ等のチューニング用の外付機器が不要となり、
簡単な構成で周波数を測定することが可能となる。
【００２３】（２）スペクトラムアナライザのＩＦ出力
信号は該スペクトラムアナライザの内部で発生される高
確度のローカル信号と入力信号とによって生成されるの
で、該ＩＦ出力信号の周波数を測定することで、入力バ
ースト信号の周波数を知ることができ、その精度は高い
ものとなる。
信号は該スペクトラムアナライザの内部で発生される高
確度のローカル信号と入力信号とによって生成されるの
で、該ＩＦ出力信号の周波数を測定することで、入力バ
ースト信号の周波数を知ることができ、その精度は高い
ものとなる。
【００２４】（３）スペクトラムアナライザのＩＦ出力
信号は、その周波数が、通常５０ＭＨｚに満たないよう
前記ローカル信号が設定されているので、一般的な周波
数カウンタによって測定が可能となる。
信号は、その周波数が、通常５０ＭＨｚに満たないよう
前記ローカル信号が設定されているので、一般的な周波
数カウンタによって測定が可能となる。
【図１】本発明のπ／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバー
スト波の周波数測定方法を実施するための構成の一実施
例を示すブロック図である。
スト波の周波数測定方法を実施するための構成の一実施
例を示すブロック図である。
【図２】ＴＤＭＡバースト波の周波数成分の一例を示す
図である。
図である。
【図３】従来の、π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバー
スト波の周波数測定方法を実施するための構成の一例を
示すブロック図である。
スト波の周波数測定方法を実施するための構成の一例を
示すブロック図である。
１ スペクトラムアナライザ ２ パルス成分抽出回路 ３ 周波数カウンタ １１ ローカル信号発生器 １２ 周波数混合器
Claims (2)
- 【請求項１】 π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバース
ト波をスペクトラムアナライザに入力し、該スペクトラ
ムアナライザをゼロスパンに設定して前記ＴＤＭＡバー
スト波から所望の１チャネル分のバースト波にチューニ
ングし、 さらに、前記スペクトラムアナライザのＹ出力信号を周
波数カウンタの外部同期信号として用いて、該周波数カ
ウンタにて前記スペクトラムアナライザのＩＦ出力信号
の周波数を測定することを特徴とする、π／４シフトＱ
ＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法。 - 【請求項２】 スペクトラムアナライザのＹ出力信号を
パルス整形して周波数カウンタの外部同期信号として用
いることを特徴とする請求項１記載の、π／４シフトＱ
ＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19232892A JP3145492B2 (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19232892A JP3145492B2 (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0634679A true JPH0634679A (ja) | 1994-02-10 |
| JP3145492B2 JP3145492B2 (ja) | 2001-03-12 |
Family
ID=16289466
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19232892A Expired - Fee Related JP3145492B2 (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | π／４シフトＱＰＳＫ ＴＤＭＡバースト波の周波数測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3145492B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101184156B1 (ko) | 2010-02-09 | 2012-09-18 | 김태찬 | 보석난집용 리드프레임과 이를 이용한 보석난집 및 액세서리 제품 |
-
1992
- 1992-07-20 JP JP19232892A patent/JP3145492B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3145492B2 (ja) | 2001-03-12 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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