JPH063465B2 - Signal processor - Google Patents

Signal processor

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JPH063465B2
JPH063465B2 JP60007175A JP717585A JPH063465B2 JP H063465 B2 JPH063465 B2 JP H063465B2 JP 60007175 A JP60007175 A JP 60007175A JP 717585 A JP717585 A JP 717585A JP H063465 B2 JPH063465 B2 JP H063465B2
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JP
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measurement
voltage
amplifier
converter
gain
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崇夫 藤田
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Yokogawa Electric Corp
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  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、マルチプレクサを介して選択的にアンプに取
り込まれた複数のアナログ測定電圧を増幅して積分形の
A/D変換器に加え、デジタル信号に変換するように構
成された信号処理装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial field of use) The present invention amplifies a plurality of analog measurement voltages selectively taken into an amplifier via a multiplexer and adds the amplified analog measurement voltage to an integrating A / D converter, The present invention relates to a signal processing device configured to convert into a digital signal.

(従来の技術) 第2図は、従来のこのような信号処理装置の一例を要部
を示す構成構成図であり、記録計の例を示している。第
2図において、H,Lは熱電対や直流電圧などの入力端
子であり、H端子は抵抗R1およびスイッチSW1を介し
てアンプ1に接続され、L端子は共通電位点に接続され
ている。2は熱電対の冷接点温度を補償するための温度
信号を出力する温度センサであり、その出力端子はスイ
ッチSW2を介してアンプ1に接続されている。このよ
うな温度センサ2としては、例えばトランジスタのVbe
の温度変化を利用したものが用いられる。Rtは3端子
A,B,bを有する測温抵抗体であり、端子Aには基準
電流を加える定電流源3が接続され、端子bは抵抗R2
を介して共通電位点に接続されている。4は測温抵抗体
Rtの端子A,B間の電位差に基づいて抵抗値(Ω)を
温度値(℃)に変換する信号変換回路であり、その出力
端子スイッチSW3を介してアンプ1に接続されている
SW4は共通電位点をアンプ1に接続するためのスイッ
チである。これらスイッチSW1〜SW4はアンプ1の入
力を切り換えるマルチプレクサを構成している。アンプ
1の出力は抵抗R3および加算器5を介して例えば積分
形のA/D変換器6に加えられ、デジタル信号に変換さ
れる。7は正極性の基準電圧を出力する基準電圧源であ
り、8は負極性の基準電圧を出力する基準電圧源であ
る。基準電圧源7の出力電圧はA/D変換器6の積分器
の放電電流を設定する基準としてA/D変換器6に加え
られるとともに、基準電圧源8の出力電圧の基準として
基準電圧源8に加えられている。基準電圧源8の出力電
圧は抵抗R4および加算器5を介してA/D変換器6に
加えられ、A/D変換器6を電圧零を中心とする正極性
および負極性の電圧に対応させるためのオフセット電流
を設定する基準として用いられている。A/D変換器6
で変換されたデジタル信号は、フォトカプラなどの信号
絶縁回路9を介してマイクロプロセッサやデジタル回路
などで構成された演算回路10に加えられる。演算回路10
は、例えばSW4をオンにした状態でのA/D変換器6
のデジタル信号出力を基準にした測定結果に対するソフ
トウェアによる自動零点補償や熱電対の出力電圧の温度
信号への変換,測定信号に対するリニヤライズなどの必
要な演算処理を行う。このようにして演算された結果
は、図示しない記録部に加えられて記録される。
(Prior Art) FIG. 2 is a configuration diagram showing a main part of an example of such a conventional signal processing device, and shows an example of a recorder. In FIG. 2, H and L are input terminals for a thermocouple, a DC voltage, etc., the H terminal is connected to the amplifier 1 via the resistor R 1 and the switch SW 1 , and the L terminal is connected to the common potential point. There is. A temperature sensor 2 outputs a temperature signal for compensating the cold junction temperature of the thermocouple, and its output terminal is connected to the amplifier 1 via the switch SW 2 . An example of such a temperature sensor 2 is a Vbe of a transistor.
The one using the temperature change of is used. Rt is a resistance temperature detector having three terminals A, B, and b, a constant current source 3 for applying a reference current is connected to the terminal A, and a terminal b has a resistance R 2
Is connected to the common potential point via. Reference numeral 4 is a signal conversion circuit for converting a resistance value (Ω) into a temperature value (° C.) based on the potential difference between the terminals A and B of the resistance temperature detector Rt, which is connected to the amplifier 1 via the output terminal switch SW 3. SW 4 connected is a switch for connecting the common potential point to the amplifier 1. These switches SW 1 to SW 4 form a multiplexer that switches the input of the amplifier 1. The output of the amplifier 1 is applied to, for example, an A / D converter 6 of integral type via a resistor R 3 and an adder 5, and is converted into a digital signal. Reference numeral 7 is a reference voltage source that outputs a positive reference voltage, and 8 is a reference voltage source that outputs a negative reference voltage. The output voltage of the reference voltage source 7 is applied to the A / D converter 6 as a reference for setting the discharge current of the integrator of the A / D converter 6, and the reference voltage source 8 is used as a reference for the output voltage of the reference voltage source 8. Has been added to. The output voltage of the reference voltage source 8 is applied to the A / D converter 6 via the resistor R 4 and the adder 5, and the A / D converter 6 corresponds to positive and negative voltages centered at a voltage of zero. It is used as a reference for setting the offset current for the purpose. A / D converter 6
The digital signal converted by (1) is added to the arithmetic circuit 10 composed of a microprocessor, a digital circuit, etc. via a signal insulating circuit 9 such as a photocoupler. Arithmetic circuit 10
Is, for example, the A / D converter 6 with SW 4 turned on.
Performs necessary arithmetic processing such as automatic zero point compensation by software for the measurement result based on the digital signal output of, the conversion of the thermocouple output voltage to the temperature signal, and the linearization of the measurement signal. The result calculated in this way is added to a recording unit (not shown) and recorded.

(発明が解決しようとする問題点) しかし、このような従来の構成によれば、A/D変換器
6のスパンを基準電圧源7,8の出力電圧に従って設定
しているために、これら基準電圧源7,8を含む周辺回
路を長期間にわたって高精度、高安定度を保たなければ
ならず、回路構成が複雑になるとともに高価な回路部品
を用いなければならないことからコストが高くなるとい
う欠点がある。
(Problems to be solved by the invention) However, according to such a conventional configuration, since the span of the A / D converter 6 is set according to the output voltages of the reference voltage sources 7 and 8, these reference voltages are set. The peripheral circuit including the voltage sources 7 and 8 must maintain high accuracy and high stability for a long period of time, the circuit configuration becomes complicated, and expensive circuit parts must be used, resulting in high cost. There are drawbacks.

本発明は、このような点に着目したものであって、その
目的は、比較的簡単な回路構成で精度の高い測定が行え
る信号処理装置を提供することにある。
The present invention focuses on such a point, and an object thereof is to provide a signal processing device capable of highly accurate measurement with a relatively simple circuit configuration.

(問題点を解決するための手段) このような目的を達成する本発明は、マルチプレクサを
介して選択的にアンプに取り込まれた複数のアナログ測
定電圧Vを増幅して積分形のA/D変換器に加え、デ
ジタル信号に変換するように構成された信号処理装置に
おいて、複数のアナログ測定電圧Vのそれぞれの測定
を1測定周期とする各測定周期毎に共通電位点の電圧V
およびA/D変換器のフルスパンに対応した既知の基
準電圧Vをマルチプレクサを介して選択的にアンプに
加え、アンプのゲインを第1のゲインG1に設定してV
,Vを測定することにより測定結果V(G1),V
(G1)を求めるとともに第2のゲインG2に設定して
,Vを測定することにより測定結果V(G2),V
(G2)を求め、これら測定結果および既知の基準電圧V
に基づいて、 V=[{V(G2)−V(G2)}/ {V(G1)−V(G1)}]V で表わされる演算を行うことを特徴とする。
(Means for Solving the Problems) In the present invention which achieves such an object, an A / D of an integral type is obtained by amplifying a plurality of analog measurement voltages V i selectively taken into an amplifier via a multiplexer. In the signal processing device configured to convert to a digital signal in addition to the converter, the voltage V of the common potential point is set for each measurement cycle in which each measurement of the plurality of analog measurement voltages V i is one measurement cycle.
A known reference voltage V F corresponding to the full span of the Z and A / D converters is selectively applied to the amplifier via a multiplexer, and the gain of the amplifier is set to a first gain G1 to set V
By measuring Z and V F , the measurement result V Z (G1), V F
(G1) is obtained and the second gain G2 is set to measure V i and V Z to obtain measurement results V i (G2) and V Z.
Z (G2) is obtained, and these measurement results and known reference voltage V
Based on F, and performs the calculation represented by V i = [{V i ( G2) -V Z (G2)} / {V F (G1) -V Z (G1)}] V F .

(実施例) 以下、図面を用いて詳細に説明する。(Example) Hereinafter, it demonstrates in detail using drawing.

第1図は、本発明の一実施例の要部を示す構成説明図で
あり、第2図と同一部分には同一符号を付けている。第
1図において、測温抵抗体Rtの端子Aは抵抗R5を介
して電圧−Vが加えられる端子11に接続されるとともに
抵抗R6およびスイッチSW5を介してアンプ1に接続さ
れ、端子Bは抵抗R7およびスイッチSW6を介してアン
プ1に接続され、端子bは抵抗Rを介して共通電位点
に接続されるとともに抵抗R8およびスイッチSW7を介
してアンプ1に接続されている。ここで、抵抗Rとし
ては、抵抗値が既知で測定物理量による抵抗値の変化が
少ない安定度の高い抵抗体を用いるようにする。また、
アンプ1には、スイッチSW8を介してA/D変換器6
のフルスパン入力に対応した基準電圧Vを発生する基
準電圧源12が接続されている。A/D変換器6には従来
の基準電圧源7の代わりに電圧+Vが加えられる端子13
が接続され、加算器5には従来の基準電圧源8の代わり
に切換スイッチSW9および抵抗R9,R10を介して電圧
−Vが加えられる端子14が接続されている。ここで、ス
イッチSW1〜SW8はマルチプレクサを構成している。
FIG. 1 is a structural explanatory view showing a main part of an embodiment of the present invention, and the same parts as those in FIG. 2 are designated by the same reference numerals. In FIG. 1, a terminal A of the resistance temperature detector Rt is connected to a terminal 11 to which a voltage −V is applied via a resistance R 5 and to an amplifier 1 via a resistance R 6 and a switch SW 5 , B is connected to the amplifier 1 via the resistor R 7 and the switch SW 6 , the terminal b is connected to the common potential point via the resistor R s, and is also connected to the amplifier 1 via the resistor R 8 and the switch SW 7. ing. Here, as the resistance R s , a resistor having a known resistance value and a high stability with a small change in the resistance value due to the measured physical quantity is used. Also,
The amplifier 1 has an A / D converter 6 via a switch SW 8.
A reference voltage source 12 for generating a reference voltage V F corresponding to the full-span input is connected. A voltage + V is applied to the A / D converter 6 instead of the conventional reference voltage source 7 at a terminal 13
In addition to the conventional reference voltage source 8, the adder 5 is connected to a terminal 14 to which a voltage -V is applied via a changeover switch SW 9 and resistors R 9 and R 10 . Here, the switch SW 1 ~SW 8 constitutes a multiplexer.

このように構成された装置の動作について説明する。The operation of the apparatus thus configured will be described.

まず、直流電圧および熱電対の出力電圧Vの測定にあ
たっては、アンプ1のゲインを第1のゲインG1(例え
ば1)に設定した状態でスイッチSW4およびSW8を順
次選択的にオンにして共通電位点の電圧Vおよび基準
電圧源12の出力電圧Vを測定するとともに、アンプ1
のゲインを直流電圧および熱電対の出力電圧Vの測定
に必要な第2のゲインG2に設定した状態でスイッチS
1およびSW4を順次選択的にオンにして直流電圧また
は熱電対の出力電圧Vおよびアンプ1のオフセットを
補償するための共通電位点の電圧Vを測定し、これら
各測定結果V(G1),V(G1),V(G
2),V(G2)を演算回路10に格納する。そして、
演算回路10において、これら各測定結果V(G1),
(G1),V(G2),V(G2)および既知
の基準電圧源12の出力電圧値Vに基づいて第(1)式で
示すような演算を行う。
First, in measuring the DC voltage and the thermocouple output voltage V i , the switches SW 4 and SW 8 are sequentially and selectively turned on with the gain of the amplifier 1 set to the first gain G1 (for example, 1). The voltage V Z at the common potential point and the output voltage V F of the reference voltage source 12 are measured, and the amplifier 1
Is set to the second gain G2 required for measuring the DC voltage and the thermocouple output voltage V i , the switch S
W 1 and SW 4 are sequentially and selectively turned on to measure the DC voltage or the output voltage V i of the thermocouple and the voltage V Z at the common potential point for compensating the offset of the amplifier 1, and the respective measurement results V Z (G1), V F (G1), V i (G
2), V Z (G2) is stored in the arithmetic circuit 10. And
In the arithmetic circuit 10, these measurement results V Z (G1),
Based on V F (G1), V i (G2), V F (G2) and the output voltage value V F of the known reference voltage source 12, the calculation shown in the equation (1) is performed.

=[{V(G2)−V(G2)}/ {V(G1)−V(G1)}]V (1) このように構成することにより、基準電圧源12以外の各
回路は、これら4カ所の電圧を測定する期間においての
み特性が変化しなければよく、比較的簡単な回路構成と
することができ、回路部品も安価なものを用いることが
できることからコストの低減も図れる。
V i = [{V i (G2) −V Z (G2)} / {V F (G1) −V Z (G1)}] V F (1) With this configuration, except the reference voltage source 12 The characteristics of each of the circuits are not required to change only during the period of measuring the voltages at these four locations, and the circuit configuration can be relatively simple, and inexpensive circuit components can be used, resulting in cost reduction. It can be reduced.

また、熱電対の冷接点温度を補償するための温度センサ
2の出力電圧Vの測定にあたっては、前述と同様にア
ンプ1のゲインを1にしてV(G1),V(G1)
を測定するとともに、アンプ1のゲインを温度センサ2
の出力電圧の測定に必要なゲインGに設定した状態でス
イッチSW2およびSW4を順次選択的にオンにして温度
センサ2の出力電圧Vおよびアンプ1のオフセットを
補償するための共通電位点の電圧Vを測定し、これら
各測定結果V(G1),V(G1),V(G
2),V(G2)を演算回路10に格納する。そして、
演算回路10はこれら各測定結果V(G1),V(G
1),V(G2),V(G2)および既知の基準電
圧源12の出力電圧値Vに基づいて第(2)式で示すよう
な演算を行う。
When measuring the output voltage V J of the temperature sensor 2 for compensating for the cold junction temperature of the thermocouple, the gain of the amplifier 1 is set to 1 and V Z (G1) and V F (G1) are used as described above.
Is measured and the gain of the amplifier 1 is set to the temperature sensor 2
The common potential point for compensating the output voltage V J of the temperature sensor 2 and the offset of the amplifier 1 by sequentially turning on the switches SW 2 and SW 4 in a state where the gain G necessary for measuring the output voltage of is set. a voltage V Z and measurements, each of these measurements V Z (G1), V F (G1), V J (G
2), V Z (G2) is stored in the arithmetic circuit 10. And
The arithmetic circuit 10 uses the measurement results V Z (G1), V F (G
1), V J (G2), V F (G2) and a known output voltage value V F of the reference voltage source 12 are calculated as shown in the equation (2).

=[{V(G2)−V(G2)}/ {V(G1)−V(G1)}]V (2) さらに演算回路10は、このようにして演算された電圧V
を温度信号(℃)に変換する。
V J = [{V J ( G2) -V Z (G2)} / {V F (G1) -V Z (G1)}] V F (2) further calculating circuit 10, which is calculated this way Voltage V
Convert J into a temperature signal (° C).

次に、測温抵抗体Rによる温度測定について説明す
る。測温抵抗体Rには、端子11から一定の電圧−Vを
加える。この状態で、アンプ1のゲインを一定に保ちな
がらスイッチSW5,SW6,SW7,SW4を順次選択的
にオンにし、測温抵抗体Rの各端子A,B,bの電圧
,V,Vおよび共通電位点の電圧Vを測定し
てこれら各測定結果V,V,V,Vを演算回路
10に格納する。そして、演算回路10において、これら各
測定結果V,V,V,Vおよび既知の抵抗値R
に基づいて第(3)式で示すような演算を行う。
Next, the temperature measurement by the resistance temperature detector R t will be described. The RTD R t, applying a constant voltage -V from the terminal 11. In this state, sequentially selectively turn on the switch SW 5, SW 6, SW 7 , SW 4 while keeping the gain of the amplifier 1 constant, the terminal A of the RTD R t, B, voltage b V A , V B , V b and the voltage V Z at the common potential point are measured, and the respective measurement results V A , V B , V b , V Z are calculated.
Store in 10. Then, in the arithmetic circuit 10, these measurement results V A , V B , V b , V Z and the known resistance value R
Based on s , the calculation shown in the equation (3) is performed.

=[{V+V−2V}/{V−V }]R (3) そしてさらに、演算回路10は、このようにして演算され
た抵抗値R(Ω)を温度信号(℃)に変換する。
R t = [{V A + V b -2V B} / {V b -V Z}] R s (3) and further, the arithmetic circuit 10, the thus calculated resistance value R t (Omega) Convert to temperature signal (℃).

このように構成することにより、従来の測温抵抗体R
を用いた温度測定装置に必要であった測温抵抗体R
基準電流を加えるための定電流源および測温抵抗体R
の端子A,B間の電位差に基づいて抵抗値(Ω)を温度
値(℃)に変換する信号変換回路は不要になり、回路構
成が比較的簡単になるとともに、長期間にわたって高精
度,高安定度が必要な回路部品も少なくてよく、コスト
の低減を図ることができる。
With this configuration, the conventional resistance temperature detector R t
A constant current source for applying a reference current to the RTD R t was required temperature measuring device using and RTD R t
A signal conversion circuit for converting a resistance value (Ω) into a temperature value (° C) based on the potential difference between the terminals A and B is unnecessary, the circuit configuration is relatively simple, and high accuracy and The number of circuit components that require stability is small, and the cost can be reduced.

ところで、第1図の構成において、測温抵抗体の抵抗値
測定動作時の測定電圧V,V,V,Vに関連し
たアンプ1の出力は、零から正極性の範囲のみになる。
これは、A/D変換器6がフルスパンで正,負の両極性
の範囲のアナログ入力信号をデジタル信号に変換できる
ように構成されている場合、1/2の分解能で変換するこ
とになってしまう。そこで、第1図の装置では、切換ス
イッチSW9により抵抗R9またはR10を選択的に加算器
5に接続してA/D変換器6に加えるオフセット量を変
えるようにしている。すなわち、例えば抵抗R9を接続
した場合にはA/D変換器6はフルスパンで零を中心に
して正,負両極性の範囲のアナログ入力信号をデジタル
信号に変換することができ、例えば抵抗R10を接続した
場合にはA/D変換器6はフルスパンで零から正極性の
範囲のアナログ入力信号をデジタル信号に変換できて、
分解能を高めることができる。
Incidentally, in the configuration of FIG. 1, the measurement voltage V A at the time of resistance measurement operation RTD, V B, V b, the output of the amplifier 1 in relation to V Z is only in the range from zero to positive Become.
This means that when the A / D converter 6 is configured to be able to convert an analog input signal in the range of both positive and negative polarities in full span into a digital signal, it is converted with 1/2 resolution. I will end up. Therefore, in the apparatus of FIG. 1, the resistor R 9 or R 10 is selectively connected to the adder 5 by the change-over switch SW 9 to change the offset amount applied to the A / D converter 6. That is, for example, when the resistor R 9 is connected, the A / D converter 6 can convert an analog input signal in the range of both positive and negative polarities centered on zero in full span into a digital signal. When 10 is connected, the A / D converter 6 can convert an analog input signal in the range of zero to positive polarity into a digital signal in full span,
The resolution can be increased.

なお、上記実施例では、変換抵抗体として温度を測定物
理量とする測温抵抗体を用いる例を示したが、圧力や歪
に応じて抵抗値が変化するゲージ抵抗体などであっても
よく、これら変換抵抗体よりなる測定系統を複数設けて
おいてマルチプレクサで切り換えるようにしてもよい。
In the above embodiment, an example in which a temperature measuring resistor whose temperature is a measurement physical quantity is used as the conversion resistor is shown, but a gauge resistor or the like whose resistance value changes according to pressure or strain may be used. A plurality of measurement systems including these conversion resistors may be provided and switched by a multiplexer.

また、上記実施例では、信号処理装置を記録計に組み込
んだ例について説明したが、データロガーなどにも組み
込むことができるものである。
Further, in the above embodiment, the example in which the signal processing device is incorporated in the recorder has been described, but it may be incorporated in a data logger or the like.

(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単な回
路構成で精度の高い測定が行える信号処理装置が実現で
きる。
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, it is possible to realize a signal processing device that can perform highly accurate measurement with a relatively simple circuit configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例を用いた記録計の要部を示す
構成説明図、第2図は従来の信号処理装置を用いた記録
計の一例の要部を示す構成構成図である。 1…アンプ、2…温度センサ、5…加算器、6…A/D
変換器、9…信号絶縁回路、10…演算回路、12…基準電
圧源、R…測温抵抗体、R…基準抵抗。
FIG. 1 is a structural explanatory view showing a main part of a recorder using an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a structural structural view showing a main part of an example of a recorder using a conventional signal processing device. . 1 ... Amplifier, 2 ... Temperature sensor, 5 ... Adder, 6 ... A / D
Converter, 9 ... signal insulation circuit, 10 ... computing circuit, 12 ... reference voltage source, R t ... RTD, R s ... reference resistor.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】マルチプレクサを介して選択的にアンプに
取り込まれた複数のアナログ測定電圧Vを増幅して積
分形のA/D変換器に加え、デジタル信号に変換するよ
うに構成された信号処理装置において、複数のアナログ
測定電圧Vのそれぞれの測定を1測定周期とする各測
定周期毎に共通電位点の電圧VおよびA/D変換器の
フルスパンに対応した既知の基準電圧Vをマルチプレ
クサを介して選択的にアンプに加え、アンプのゲインを
第1のゲインG1に設定してV,Vを測定すること
により測定結果V(G1),V(G1)を求めるとともに第
2のゲインG2に設定してV,Vを測定することに
より測定結果V(G2),V(G2)を求め、これら測定結
果および既知の基準電圧Vに基づいて、 V=[{V(G2)−V(G2)}/{V (G1)−V(G1)}]V で表わされる演算を行うことを特徴とする信号処理装
置。
1. A signal configured to amplify a plurality of analog measurement voltages V i selectively taken into an amplifier via a multiplexer, add the analog measurement voltage V i to an integrating A / D converter, and convert the analog measurement voltage into a digital signal. In the processing device, the voltage V Z at the common potential point and the known reference voltage V F corresponding to the full span of the A / D converter are measured for each measurement cycle with each measurement of the plurality of analog measurement voltages V i being one measurement cycle. Is added to the amplifier via a multiplexer, the gain of the amplifier is set to the first gain G1, and V Z and V F are measured to obtain the measurement results V Z (G1) and V F (G1). with V i is set to the second gain G2, determined by measuring the V Z results V i (G2), obtains the V Z (G2), based on these measurements and the known reference voltage V F, V i = [{V i ( G2) V Z (G2)} / { V F (G1) -V Z (G1)}] signal processing device and performing an arithmetic operation represented by V F.
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