JPH06338253A - 電子源の製造方法 - Google Patents

電子源の製造方法

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JPH06338253A
JPH06338253A JP12885593A JP12885593A JPH06338253A JP H06338253 A JPH06338253 A JP H06338253A JP 12885593 A JP12885593 A JP 12885593A JP 12885593 A JP12885593 A JP 12885593A JP H06338253 A JPH06338253 A JP H06338253A
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JP
Japan
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hot cathode
cathode
linear hot
vacuum
binder
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Pending
Application number
JP12885593A
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English (en)
Inventor
Ryuichi Murai
隆一 村井
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 レーザ・シール型の平板型画像表示装置にお
いて、線状熱陰極のバインダ分解を、排気工程中に行い
従来の封着工程を省力化することで、電極変形が少なく
かつ高性能な電子源の製造方法を提供する。 【構成】 レーザ・シール型の平板型CRTの排気工程
において、常温の状態で真空度が1Torr〜10-1
orrの範囲で、線状熱陰極2に通電し加熱する。この
とき残留酸素が〜300℃になった線状熱陰極2と反応
しバインダが分解される。このような方法で線状熱陰極
2のバインダを分解することで従来の封着工程が省略さ
れ、電極の熱歪の少ない平板型CRTを得ることができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カラーテレビジョン受
像機や、計算機の端末ディスプレイなどに用いられる螢
光表示管、CRTまたは平板CRTの陰極について熱分
解や活性化工程を改良した電子源の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、平板状表示装置(フラット・ディ
スプレイ)の一つとして平板型CRTの研究、開発が活
発に行なわれている。例えば、特開平1−130453
号公報には複数の線状熱陰極を用いた平板CRTが開示
されている。
【0003】図4に、上記従来の平板CRTの要部の構
成を示す。図に示すように、ガラス容器9、12からな
る真空容器内に、背面電極6、電子ビーム源としての線
状熱陰極7a〜7c、複数枚の電極8とを具備してい
る。
【0004】線状熱陰極7a〜7cは、水平方向にほぼ
一様な電流密度分布の電子流を発生するように水平方向
に架張されており、適当な間隔をあけて垂直方向に複数
本設けられている。これらの線状熱陰極7a〜7cは、
例えばタングステン線の表面に酸化物粉末が塗布されて
構成されている。背面電極6は平板状の導電材からなり
線状熱陰極に対し平行に設けられている。スクリーン1
1は、電子ビームの照射によって発光する螢光体10を
ガラス容器9の内面に塗布し、その表面にメタルバック
層(図示せず)が設けられている。
【0005】上記平板CRTの製造方法は、封着工程時
に陰極が装着されているのでCRTと異なった製造方法
がとられる。即ち、線状陰極7a〜7c、電極8を備え
たガラス容器9とガラス容器12の周縁に低融点フリッ
トガラスペーストを塗布し、加熱封着して真空容器を形
成する。この封着工程に必要な封着温度は、ガラスフリ
ットの特性によって若干異なるが、400〜450℃の
温度が必要である。図5にこの時の温度履歴を示す。室
温から300〜350℃まで大気雰囲気中で昇温する。
300〜350℃以上では、特公平3−36896号公
報に述べられているように電極8と、線状陰極7a〜7
cの芯線であるタングステン線の表面の酸化を防止する
ために二酸化炭素などの不活性ガスと置換する。ガス置
換後、再びおよそ450℃まで昇温する。そして1〜2
時間、450℃を維持し、その後室温まで徐冷する。
【0006】つぎに上記の封着工程によって一体化され
た容器内の真空排気を行う。これはCRTの排気工程と
ほぼ同等の工程である。排気工程は、真空排気の効率を
あげるために300〜350℃の雰囲気中で行う。真空
容器内を10-6Torr以上の高真空に排気した後に、
線状熱陰極27a〜27cに通電、加熱し酸化物陰極の
分割活性化を行う。その後封止管の先端を加熱封止す
る。
【0007】上記のような従来の平板CRTの製造方法
では以下の2つの欠点があった。 (1)封着工程では、ガス置換など複雑な処理が要求さ
れるために歩留まり、生産速度が低下する。 (2)電極は封着工程、排気工程の2回の熱工程を経な
ければならないために、電極に過度の熱履歴を与えるた
めに、電極構成の精度が低下する。
【0008】これらの欠点を解消するために、特開昭6
1−181028号公報には真空容器を金属板とガラス
板で構成する技術が開示されている。
【0009】図6に上記改良した真空容器の構成を示
す。図において15は真空容器の一部を形成し、画像表
示面を備えたガラス製凹型容器である。16は真空容器
の一部を構成する金属製背面板である。17は前記ガラ
ス製凹型容器15にフリットガラス19で接着されたフ
ランジである。19は前記フランジ17と前記ガラス製
凹型容器15を接着するフリットガラスである。20は
前記背面板16と前記フランジ17を溶接した溶接部で
ある。21は熱陰極を含む複数の電極構体である。この
ような構成を採用することの利点は、従来の熱的な封着
工程が不要になることにある。この構成の溶接は通常レ
ーザ・ビームにより行われるので、これらの真空容器レ
ーザ・シール容器と呼ぶことが多い。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】線状熱陰極には、電子
放出物質である(Ba、Sr、Ca)CO3 以外にバイ
ンダとして、ニトロセルローズやイソ・ブチルメタクリ
レートなどの物質が含まれている。図7に、上記イソ・
ブチルメタクリレートの空気中での燃焼特性を示す。
(分析は熱重量−示差熱分析法による。)図7の横軸は
温度を、縦軸は試料(バインダ)の重量変化を示してい
る。このグラフからバインダの燃焼は、〜250℃から
始まり〜350℃で終了することがわかる。従来の封着
工程では、真空容器の構成要素であるガラス容器9、1
2の接着だけでなく、前記線状陰極のバインダの分解が
結果的に行なわれていた。ところがいわゆるレーザ・シ
ール容器では、封着工程が省略されるために、線状熱陰
極のバインダーの分解が行われないために、線状熱陰極
の電子ビーム放射能力が所望の10%以下しか得られな
くなった。このためバインダの分解のためにレーザ・シ
ールパネルを空気中で、300℃〜350℃の雰囲気に
さらす必要があった。この結果線状熱陰極の電子ビーム
放射能力は従来並の特性が得られるようになった。しか
しこの方法では、レーザ・シールパネルの特徴である熱
工程の消滅ができないという課題があった。
【0011】本発明はこのような課題を解決するもの
で、レーザ・シール容器において、加熱工程を削減し、
信頼性が高く、製造工程の少ない平板状CRT用電子源
を提供することを目的とするものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明の線状熱陰極は、排気工程の初段階の真空容器
がほぼ常温で真空度が、1〜10-1Torrの状態に於
て線状熱陰極に通電し加熱することで、残留酸素との反
応によってバインダの分解を行う。さらに効果を高める
方法として一度10-3Torrまで真空排気した後に、
酸素を真空容器内に真空度として〜10-2Torr導入
し、線状熱陰極を通電加熱し、バインダの分解を行うよ
うにしたものである。
【0013】
【作用】この様に低真空な状態、あるいは、酸素置換し
た状態で線状熱陰極に通電すると、封着工程の時と同じ
様に有酸素状態で比較的高温度が維持されバインダの分
解が可能となる。この様なバインダ分解方法をとること
で、レーザ・シールパネルの特徴である熱工程を減らす
という利点をそのまま生かすことが可能となる。
【0014】
【実施例】以下に本発明の一実施例を図面を参照しなが
ら説明する。なお、本実施例の真空容器には上記のレー
ザ・シールパネルを用いた。
【0015】(実施例1)図1に、排気工程におかれた
レーザ・シールパネル内の真空度と線状熱陰極の熱分解
のタイミングを示す。図1で横軸は排気時間、縦軸はパ
ネル内の真空度を示している。真空度がおよそ1Tor
rに到達したところで線状熱陰極に約10秒間通電加熱
する。ここで用いられる線状熱陰極は、1.8mgのタン
グステンを芯線として外径が約35μmである。本実施
例の線状熱陰極の分解温度は約900℃、活性化温度は
約800℃、定格温度は約700℃である。上記の各温
度に対応する線状熱陰極への通電量は、80mA、65
mA、50mAになる。バインダの分解に必要な温度は
大気中では、上記の条件あるいは図7に示すように25
0℃から350℃必要であり、所望のライフ特性を得る
ためには300℃以上の温度が必要である。線状熱陰極
に通電することで、300℃まで加熱するためには、真
空度としておよそ10Torr以下の高真空度が必要で
ある。10Torr以上の高真空では線状陰極を通電に
よって高温にすることが可能である。ところが真空度が
高すぎると、酸素が不足して線状熱陰極のバインダの分
解を行うことは不可能になる。結局バインダの分解に
は、適正な真空度が存在する。図2にバインダの分解に
必要な適正な真空度を示す。図2の横軸は真空度を、縦
軸はエミッション能力を表わす飽和電流を示している。
この結果エミッションは10〜10-2Torrで可能で
あるが、必要なエミッション特性を得るためには、10
〜10-1Torrであることが分かった。またこのとき
線状熱陰極への通電量は、対流による放熱のため高真空
時(>10-3Torr)の通電量の約1.5倍必要であ
る。
【0016】(実施例2)さらに効果を高めるために
は、一度10-3Torrまで排気する。その後、真空容
器内に10-2Torr程度まで酸素を流入させ、線状熱
陰極を通電加熱する。このように酸素置換する場合、通
電量は酸素置換しない場合に較べて80%程度でよい。
これは同一真空度でも酸素の分圧が大きいことによると
思われる。このようにして線状熱陰極のバインダの分解
を終了した後、真空容器の雰囲気温度を上昇させなが
ら、真空排気を行う通常の排気工程を行う。
【0017】(実施例3)線状熱陰極のバインダの別の
分解方法について図3を用いて説明する。図3はカソー
ドユニットと呼ばれるもので、線状熱陰極2(カソー
ド)、カソードバネ4、カソード支持台3、カソード固
定台1からなる。なお5は固定具である。このカソード
ユニット単体を炉内にいれ、300℃まで昇温し1時間
保持する。その後徐冷し室温に戻す。このようにするこ
とで線状熱陰極にとっては、封着工程とほぼ同等の熱工
程を経たことになり、エミッション特性は従来と同等に
なる。
【0018】
【発明の効果】以上からわかるように本発明によれば、
1〜10-1Torrの低真空領域で線状熱陰極に通電加
熱することで、線状熱陰極のバインダを分解することが
可能となり高品位の平板CRT用電子源の製造が可能と
なる。この方法によれば、線状熱陰極からなる電子源を
少ない熱工程で歩留りよく作製することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例における線状熱陰極への
通電加熱のタイミングを示す図
【図2】同線状熱陰極への通電加熱の真空度と電子放出
特性の関係を示す図
【図3】同第3の実施例におけるカソード・ユニットの
構成を示す斜視図
【図4】従来の平板CRTの構成を示す斜視図
【図5】同平板CRTの封着工程の温度履歴を示す図
【図6】同レーザ・シールパネルの構成を示す断面図
【図7】同線状熱陰極のバインダの燃焼特性を示す図
【符号の説明】
1 カソード固定台 2 線状熱陰極 3 カソード支持台 4 カソードバネ 5 固定具

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】真空容器内に酸化物陰極を具備した熱陰極
    であって、前記真空容器を真空排気する工程中におい
    て、真空度が1Torr〜10-1Torrにあるとき、
    前記熱陰極を通電加熱する電子源の製造方法。
  2. 【請求項2】真空容器内に酸化物陰極を具備した熱陰極
    であって、前記真空容器を真空排気する工程中におい
    て、一旦高真空まで排気した後に、酸素分圧が1Tor
    r〜10-2Torrになるよう酸素を前記真空容器内に
    注入した後に、前記熱陰極を通電加熱する電子源の製造
    方法。
  3. 【請求項3】少なくとも複数の線状陰極と、前記線状陰
    極を支持する支持部材とを備えた陰極構体を、前記線状
    陰極を架張した状態で300〜350℃の大気中に保持
    した後、真空容器内に前記陰極構体を配設し真空排気す
    る電子源の製造方法。
JP12885593A 1993-05-31 1993-05-31 電子源の製造方法 Pending JPH06338253A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4115185A1 (de) * 1990-12-21 1992-07-02 Samsung Electronics Co Ltd Halbleiterbauelement mit nichtfluechtigem speicher und verfahren zu seiner herstellung

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4115185A1 (de) * 1990-12-21 1992-07-02 Samsung Electronics Co Ltd Halbleiterbauelement mit nichtfluechtigem speicher und verfahren zu seiner herstellung

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