JPH06324506A - Manufacture of electrophotographic photoreceptive member - Google Patents

Manufacture of electrophotographic photoreceptive member

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JPH06324506A
JPH06324506A JP5108991A JP10899193A JPH06324506A JP H06324506 A JPH06324506 A JP H06324506A JP 5108991 A JP5108991 A JP 5108991A JP 10899193 A JP10899193 A JP 10899193A JP H06324506 A JPH06324506 A JP H06324506A
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Abstract

PURPOSE:To manufacture an electrophotographic photoreceptive member capable of obtaining a uniform, high-quality image having no image density irregularity. CONSTITUTION:The process for forming a non-monocrystal deposit film containing silicon atom, hydrogen atom and/or fluorine atom on a conducting substrate by the plasma CVD method is included to manufacture an electrophotographic photoreceptive member. The contact angle of the substrate surface with water is suppressed to 90 deg. or below in the process for washing the substrate surface after cutting with the washing water before the process for forming the deposit film and after the process for cutting the surface of the substrate.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、導電性基体上に機能性
膜を形成した電子写真用光受容部材の製造方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing an electrophotographic light-receiving member having a functional film formed on a conductive substrate.

【0002】本発明は、特に導電性基体上にプラズマC
VD法により珪素原子、弗素原子と水素原子を含む非単
結晶堆積膜を機能性膜として形成した電子写真用光受容
部材の製造方法に関する。
The present invention is particularly applicable to plasma C on conductive substrates.
The present invention relates to a method for producing a light-receiving member for electrophotography, in which a non-single-crystal deposited film containing silicon atoms, fluorine atoms and hydrogen atoms is formed as a functional film by the VD method.

【0003】[0003]

【従来の技術】従来、電子写真用光受容部材に用いる素
子部材として、非単結晶堆積膜、例えば水素及び(また
は)ハロゲン(例えば弗素、塩素等)で補償されたアモ
ルファスシリコン等のアモルファス堆積膜が提案され、
その幾つかは実用に付されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a device member used in a light receiving member for electrophotography, a non-single crystal deposited film, for example, an amorphous deposited film such as amorphous silicon compensated with hydrogen and / or halogen (eg, fluorine, chlorine, etc.). Is proposed,
Some of them are put to practical use.

【0004】こうした堆積膜の形成方法として従来、ス
パッタリング法、熱により原料ガスを分解する方法(熱
CVD法)、光により原料ガスを分解する方法(光CV
D法)、プラズマにより原料ガスを分解する方法(プラ
ズマCVD法)等、多数の方法が知られている。中で
も、プラズマCVD法、すなわち、原料ガスを直流、高
周波またはマイクロ波グロー放電等によって分解し、基
本上に薄膜状の堆積膜を形成する方法は、電子写真用ア
モルファスシリコン堆積膜の形成方法に最適であり、現
在実用化が非常に進んでいる。こうした例が例えば特開
昭54−86341号公報に記載されている。
Conventionally, as a method of forming such a deposited film, a sputtering method, a method of decomposing a raw material gas by heat (thermal CVD method), a method of decomposing a raw material gas by light (optical CV)
D method), a method of decomposing the raw material gas by plasma (plasma CVD method), and many other methods are known. Among them, the plasma CVD method, that is, the method of decomposing the raw material gas by direct current, high frequency or microwave glow discharge to basically form a thin film deposition film is most suitable for the method of forming an amorphous silicon deposition film for electrophotography. Therefore, the practical application is very advanced now. Such an example is described in, for example, JP-A-54-86341.

【0005】これらのアモルファスシリコン光受容部材
は、無公害であり、高画質、高耐久性といった特徴があ
り、現在実用に付されているアモルファスシリコン光受
容部材も、充分にその特徴を現わしているものである。
しかしながら、アモルファスシリコン光受容部材が今
後、ますます普及して行くためにはコストダウン、さら
に電気特性のアップ、さらに高耐久が望まれている。
[0005] These amorphous silicon light receiving members are non-polluting and have the characteristics of high image quality and high durability, and the amorphous silicon light receiving members currently put into practical use sufficiently show the characteristics. There is something.
However, in order for the amorphous silicon light-receiving member to become more and more popular in the future, cost reduction, further improvement in electrical characteristics, and further high durability are desired.

【0006】また、近年では地球規模の環境汚染が問題
になってきており、環境汚染につながる物はもちろんの
こと製造段階での使用についても早急に改善しなければ
ならなくなっている。アモルファスシリコン光受容部材
自身は無公害であるがそれを製造する段階においてシリ
ンダーの洗浄から、製造後の梱包までこうした点から再
検討を行う必要が生じてきている。
Further, in recent years, global-scale environmental pollution has become a problem, and there is an urgent need to improve not only the substances that cause environmental pollution but also the use in the manufacturing stage. Although the amorphous silicon photoreceptive member itself is non-polluting, it is necessary to reexamine from the viewpoint of cleaning the cylinder to packaging after the manufacturing at the stage of manufacturing it.

【0007】アモルファスシリコン光受容部材を堆積す
るための基体としては、帯電、露光、現像、転写、クリ
ーニングといった電子写真プロセスに耐え、また画質を
低下させないために常に位置精度を高く保つように、金
属を使用する場合が多い。この場合、特に加工性、寸法
安定性などの優れているアルミニウム合金が広く採用さ
れている。一般にこれら基体の加工時には、切削油等の
油系物質を使い旋盤加工される。そのため、加工後の基
体には必ず油系物質の残査が付着しており、さらには加
工時の切削粉、空気中の粉塵等も付着している。洗浄が
不十分でこれらの残査が付着していると、欠陥の無い均
一な堆積膜が形成できなかったり、十分な電気特性が得
られず、特に長時間使ったとき画像不良を引き起こして
しまう問題点が知られている。
As a substrate for depositing the amorphous silicon light receiving member, a metal is used so as to withstand electrophotographic processes such as charging, exposure, development, transfer and cleaning, and to keep high position accuracy in order not to deteriorate image quality. Is often used. In this case, aluminum alloys, which are particularly excellent in workability and dimensional stability, are widely adopted. Generally, when processing these substrates, lathe processing is performed using an oil-based substance such as cutting oil. Therefore, the residue of the oil-based substance is always attached to the processed substrate, and further, cutting powder during processing, dust in the air, and the like are also attached. If these residues are adhered due to insufficient cleaning, it is not possible to form a defect-free and uniform deposited film, or sufficient electrical characteristics cannot be obtained, causing image defects especially when used for a long time. The problem is known.

【0008】従って、電子写真用光受容部材を製造する
際には、細心の注意を払い基体を十分に洗浄することが
必要である。
Therefore, when manufacturing the electrophotographic light-receiving member, it is necessary to carefully wash the substrate with great care.

【0009】こうした中で、例えば特開昭61−171
798号公報には電子写真感光体の基体の加工方法に関
する技術が記載されている。該公報には、特定の成分を
有する切削油を使用して基体を切削することにより、良
好な品質のアモルファスシリコン等の電子写真感光体を
得る技術が開示されている。また該公報中には切削後、
基体をトリエタン(トリクロルエタン:C2 3
3 )で洗浄することが記載されている。
Under these circumstances, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 61-171
Japanese Unexamined Patent Publication No. 798 describes a technique relating to a method for processing a substrate of an electrophotographic photosensitive member. This publication discloses a technique for obtaining an electrophotographic photoreceptor of good quality such as amorphous silicon by cutting a substrate with a cutting oil having a specific component. Also, in the publication, after cutting,
The substrate is triethane (trichloroethane: C 2 H 3 C
l 3 ) is described.

【0010】特開昭61−273551号公報には、S
e等をアルミニウム基体上に蒸着して電子写真感光体を
作る際に、基体の前処理として、アルカリ洗浄、トリク
レン洗浄、水銀ランプによる紫外線照射洗浄等の技術を
用いることが挙げられ、また紫外線照射の前処理とし
て、円筒状アルミ基体の表面に付着した油脂除去のため
の液体脱脂洗浄、蒸気脱脂洗浄及び純水洗浄を行うこと
が記載されている。このような方法によって洗浄された
基体を用いて作製された感光体はある程度の特性が得ら
れ、特に大きな問題もなく現在広く使用されているが、
トリクロルエタンのような有機溶剤は、人体のみならず
地域環境に悪影響を与えることから、その使用を避けな
ければならないものである。
In Japanese Patent Laid-Open No. 61-273551, S
When e and the like are vapor-deposited on an aluminum substrate to produce an electrophotographic photosensitive member, as a pretreatment of the substrate, it is possible to use a technique such as alkali cleaning, trichlene cleaning, ultraviolet irradiation cleaning with a mercury lamp, and the like. It is described that as the pretreatment of (1), liquid degreasing cleaning for removing oil and fat adhering to the surface of the cylindrical aluminum substrate, vapor degreasing cleaning and pure water cleaning are performed. The photoreceptor prepared by using the substrate washed by such a method has some characteristics and is widely used at present without any particular problems.
The use of organic solvents such as trichloroethane has a negative effect not only on the human body but also on the local environment, and therefore its use must be avoided.

【0011】この問題を解決すべく、近年では前述の洗
浄に替わって水による基体の洗浄方法がいくつか提案さ
れている。
In order to solve this problem, in recent years, several methods of cleaning the substrate with water have been proposed in place of the aforementioned cleaning.

【0012】特開平1−130159号公報には、水ジ
ェットにより電子写真感光体支持体を洗浄する技術が開
示されている。該公報には感光体の例として、Se、有
機光導電体と同時にアモルファス珪素が挙げられている
が、プラズマCVD法特有の問題点については全く触れ
られていない。
Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 1-130159 discloses a technique for cleaning an electrophotographic photosensitive member support with a water jet. The publication mentions Se and an organic photoconductor as well as amorphous silicon as an example of the photoconductor, but does not mention any problems peculiar to the plasma CVD method at all.

【0013】基体としてアルミニウム合金製シリンダー
を用いた場合、これらの従来の技術による電子写真用光
受容部材の製造は具体的には以下のように実施される。
When an aluminum alloy cylinder is used as the substrate, the manufacture of the electrophotographic light-receiving member by these conventional techniques is specifically carried out as follows.

【0014】精密切削用のエアダンパー付旋盤(PNE
UMO PRECLSION INC.製)に、ダイヤ
モンドバイト(商品名:ミラクルバイト、東京ダイヤモ
ンド製)を、シリンダー中心角に対して5°の角のすく
い角を得るようにセットする。次にこの旋盤の回転フラ
ンジに、基体を真空チャックし、付設したノズルから白
燈油噴霧、同じく付設した真空ノズルから切り粉の吸引
を併用しつつ、周速1000m/min、送り速度0.
01mm/Rの条件で外形が108mmとなるように鏡
面切削を施す。
Lathe with air damper for precision cutting (PNE
UMO PRECLSION INC. A diamond bite (trade name: Miracle bite, made by Tokyo Diamond) is set in the product) so as to obtain a rake angle of 5 ° with respect to the center angle of the cylinder. Next, while vacuum chucking the substrate to the rotary flange of this lathe, spraying white kerosene from the attached nozzle and suctioning chips from the vacuum nozzle also attached, the peripheral speed was 1000 m / min and the feed speed was 0.
Mirror cutting is performed so that the outer shape becomes 108 mm under the condition of 01 mm / R.

【0015】切削が終了した基体は、図5に示すような
方法で基体表面の処理を行う。洗浄条件としては洗浄媒
体:50℃の純水(比抵抗10MΩ・cmの高純度の
水)、ノズルにおける洗浄媒体の圧力:100kg/c
2 、基体回転数:100rpmであった。図5におい
て、矢印a方向に回転する基体501に対して、矢印b
方向に移動する噴射器502のノズル502aから洗浄
媒体503が基体501の外周面の接線方向に噴射され
洗浄される。
After the cutting, the substrate surface is treated by the method shown in FIG. The cleaning conditions are: cleaning medium: pure water at 50 ° C. (high-purity water with a specific resistance of 10 MΩ · cm), pressure of the cleaning medium at the nozzle: 100 kg / c
m 2 , substrate rotation speed: 100 rpm. In FIG. 5, a base 501 that rotates in the direction of the arrow a is indicated by an arrow b.
The cleaning medium 503 is sprayed in the tangential direction of the outer peripheral surface of the substrate 501 from the nozzle 502a of the injector 502 that moves in the direction to be cleaned.

【0016】次にこれらの鏡面加工し、洗浄した基体上
に図3に示すグロー放電分解法による光導電部材の堆積
膜形成装置により、アモルファスシリコンを主体とした
堆積膜を形成する。
Next, a deposited film mainly composed of amorphous silicon is formed on the mirror-finished and washed substrate by a deposition film forming apparatus for a photoconductive member by the glow discharge decomposition method shown in FIG.

【0017】図3において反応容器301は、ベースプ
レート302と壁303とトッププレート304から構
成されている。この反応容器301内には、カソード電
極305が設けられている。アモルファスシリコン堆積
膜が形成される基体306はカソード電極305の中央
部に設置され、アノード電極も兼ねている。
In FIG. 3, the reaction vessel 301 is composed of a base plate 302, a wall 303 and a top plate 304. A cathode electrode 305 is provided in the reaction container 301. The substrate 306 on which the amorphous silicon deposited film is formed is installed in the center of the cathode electrode 305 and also serves as the anode electrode.

【0018】この堆積膜形成装置を使用してアモルファ
スシリコン堆積膜を基体306上に形成するには、ま
ず、原料ガス流入バルブ307及びリークバルブ308
を閉じ、排気バルブ309を開け、反応容器301内を
排気する。真空計310の指示値が約5×10-6Tor
rになった時点で原料ガス流入バルブ307を開いてマ
スフローコントローラ311内で所定の混合比に調整さ
れた、例えばSiH4 ガス等の原料ガスを反応容器30
1内に流入させる。そして基体306の表面温度が加熱
ヒーター312により所定の温度に設定されていること
を確認した後、高周波電源313を所望の電力に設定し
て反応容器301内にグロー放電を生起させる。
In order to form an amorphous silicon deposited film on the substrate 306 using this deposited film forming apparatus, first, the source gas inflow valve 307 and the leak valve 308.
Is closed, the exhaust valve 309 is opened, and the inside of the reaction container 301 is exhausted. The reading of the vacuum gauge 310 is about 5 × 10 -6 Tor
When the temperature reaches r, the raw material gas inflow valve 307 is opened to supply the raw material gas such as SiH 4 gas adjusted to a predetermined mixing ratio in the mass flow controller 311 to the reaction vessel 30.
1. Then, after confirming that the surface temperature of the substrate 306 is set to a predetermined temperature by the heater 312, the high frequency power source 313 is set to a desired power to cause glow discharge in the reaction vessel 301.

【0019】また、堆積膜形成を行っている間は、堆積
膜形成の均一化を図るために基体306をモーター31
4により一定速度で回転させる。このようにして基体3
06上に、アモルファスシリコン堆積膜を形成すること
ができる。
During formation of the deposited film, the substrate 306 is moved to the motor 31 in order to make the deposited film uniform.
Rotate at a constant speed by 4. In this way the substrate 3
An amorphous silicon deposition film can be formed on 06.

【0020】[0020]

【発明が解決しようとしている課題】しかし、これら従
来の電子写真用光受容部材の製造方法では、特に堆積膜
の堆積速度の速い領域では、均一膜質で光学的及び電気
的諸特性の要求を満足し、かつ電子写真プロセスにより
画像形成時に画像品質の高い堆積膜を定常的に安定して
高収率(高歩留まり)で得るのは難しいという解決すべ
き問題点が残存している。
However, in these conventional methods for producing a photoreceptive member for electrophotography, the requirements for optical and electrical characteristics with uniform film quality are satisfied, especially in the region where the deposition rate of the deposited film is high. In addition, there remains a problem to be solved that it is difficult to constantly and stably obtain a deposited film of high image quality at the time of image formation by an electrophotographic process with a high yield (high yield).

【0021】即ち、基体洗浄後に基体表面に残留した油
やその他のしみになる要因の状態を肉眼で確認するのは
非常に困難であり、このため前述のような問題が発生す
るものである。
That is, it is very difficult to visually confirm the state of oil remaining on the surface of the substrate after cleaning the substrate and other factors that cause stains, and therefore the above-mentioned problems occur.

【0022】従来は、コピーの用途としては、活字だけ
の原稿(いわゆるラインコピー)が中心であったので、
これらのむら、及びしみは全く問題とならなかった。し
かし、近来複写機の画質が上がるにつれて、写真などの
ハーフトーンを含む原稿が多くコピーされるようにな
り、問題となってきた。特に、近来普及してきたカラー
複写機においては、これらのむら、及びしみは色のむら
となり、より視覚的に明らかなものとなるため、大きな
問題となってきた。
In the past, the main purpose of copying was to print only originals (so-called line copy).
These spots and stains did not cause any problems. However, recently, as the image quality of a copying machine has increased, many originals including halftones such as photographs have been copied, which has become a problem. In particular, in color copiers that have become widespread in recent years, such unevenness and spots cause unevenness in color and become more visually apparent, which has become a serious problem.

【0023】これらのむら、及びしみは微小なので、そ
の部分に電極を付けて導電率の測定を行っても検知する
ことはできないようなものである。しかし、電子写真用
光受容部材として電子写真プロセスにより帯電、露光、
現像を行ったときには、特にハーフトーンで均一の画像
を形成したときには、電子写真用光受容部材表面上の僅
かな電位の差も画像濃度のむらと成って視覚的に顕著な
ものとして現われてくる。
Since these irregularities and spots are minute, they cannot be detected even if an electrode is attached to the portion and the conductivity is measured. However, as a photoreceptor member for electrophotography, charging, exposure, and
When developing, especially when a halftone and uniform image is formed, even a slight difference in potential on the surface of the electrophotographic light-receiving member is visually noticeable as uneven image density.

【0024】更に、近年堆積膜形成方法としてマイクロ
波グロー放電分解を用いたプラズマCVD法すなわちマ
イクロ波プラズマCVD法が工業的にも注目されてい
る。
Further, in recent years, a plasma CVD method using microwave glow discharge decomposition, that is, a microwave plasma CVD method has been industrially attracting attention as a deposited film forming method.

【0025】マイクロ波プラズマCVD法は、他の方法
に比べ高いデポジション速度と高い原料ガス利用効率と
いう利点を有している。こうした利点を生かしたマイク
ロ波プラズマCVD技術の1つの例が、米国特許第4,
504,518号に記載されている。該特許に記載の技
術は、0.1Torr以下の低圧下でマイクロ波プラズ
マCVD法により高速の堆積速度で良質の堆積膜を得る
ものである。
The microwave plasma CVD method has the advantages of a higher deposition rate and higher source gas utilization efficiency than other methods. One example of microwave plasma CVD technology that takes advantage of these advantages is US Pat.
No. 504,518. The technique described in the patent is to obtain a good quality deposited film at a high deposition rate by a microwave plasma CVD method under a low pressure of 0.1 Torr or less.

【0026】更に、マイクロ波プラズマCVD法により
原料ガスの利用効率を改善するための技術が特開昭60
−186849号公報に記載されている。該公報に記載
の技術は、概要、マイクロ波エネルギーの導入手段を取
り囲むように基体を配置して内部チャンバー(すなわち
放電空間)を形成するようにし、これにより原料ガスの
利用効率を非常に高めるようにしたものである。
Furthermore, a technique for improving the utilization efficiency of the raw material gas by the microwave plasma CVD method is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. Sho 60.
No. 186849. The technique disclosed in the publication is generally arranged so that a substrate is arranged so as to surround a means for introducing microwave energy so as to form an internal chamber (that is, a discharge space), thereby significantly improving the utilization efficiency of raw material gas. It is the one.

【0027】また、特開昭61−283116号公報に
は、半導体部材製造用の改良形マイクロ波技術が開示さ
れている。すなわち、当該公報には、放電空間中にプラ
ズマ電位制御として電極(バイアス電極)を設け、この
バイアス電極に所望の電圧(バイアス電圧)を印加して
堆積膜へのイオン衝撃を制御しながら膜堆積を行うよう
にして堆積膜の特性を向上させる技術が開示されてい
る。しかし、このようなマイクロ波プラズマCVD法に
より作成した電子写真用光受容部材においては、前述の
問題は更に顕著に現われてしまうのである。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-283116 discloses an improved microwave technique for manufacturing a semiconductor member. That is, in this publication, an electrode (bias electrode) is provided in the discharge space for plasma potential control, and a desired voltage (bias voltage) is applied to the bias electrode to control the ion bombardment of the deposited film while depositing the film. The technique of improving the characteristics of the deposited film by performing the above is disclosed. However, in the electrophotographic light-receiving member produced by such a microwave plasma CVD method, the above-mentioned problems become more prominent.

【0028】一方、このような問題は、従来の工程で洗
浄処理した基体を用いても、プラズマCVD法以外の方
法(真空蒸着によるSe電子写真用光受容部材の作製、
ブレード塗布法またはディッピング法等によるOPC電
子写真用光受容部材の作製)で作製した電子写真用光受
容部材においては全く発生しないものである。
On the other hand, such a problem is that even if a substrate which has been washed in the conventional process is used, a method other than the plasma CVD method (manufacturing a light-receiving member for Se electrophotography by vacuum deposition,
It does not occur at all in the electrophotographic light-receiving member manufactured by the blade coating method or the dipping method or the like).

【0029】また、同じくプラズマCVD法で作製する
デバイスでも太陽電池のように基板上の位置による微妙
な特性の差がその性能に影響しないようなデバイスで
は、上述の問題は発生しないものである。
Similarly, even in the device manufactured by the plasma CVD method, the above-mentioned problem does not occur in a device such as a solar cell in which the subtle difference in the characteristics depending on the position on the substrate does not affect the performance.

【0030】本発明の目的は、上述のごとき従来の電子
写真用光受容部材の製造方法における諸問題を克服し、
安価に、安定して歩留まり良く高速形成し得る、使いや
すい電子写真用光受容部材の製造方法を提供することに
ある。
The object of the present invention is to overcome various problems in the conventional method for manufacturing a photoreceptive member for electrophotography as described above,
An object of the present invention is to provide an easy-to-use method for producing a light-receiving member for electrophotography, which can be stably formed at a high yield at a low cost.

【0031】また、本発明の目的は画像の濃度むら、及
びしみの一つの原因と考えられる、基体洗浄後の表面の
目に見えない洗浄むら、及びしみを定量化することで、
従来の問題を克服し、プラズマCVD法に特有の画像の
濃度むら、及びしみの発生という問題点を解決し、均一
な高品位の画像を得ることができる電子写真用光受容部
材の製造方法を提供することにある。
Further, an object of the present invention is to quantify the uneven density of the image and the invisible cleaning unevenness on the surface after cleaning the substrate, which is considered to be one of the causes of the unevenness, and the stain.
A method of manufacturing a photoreceptive member for electrophotography, which overcomes the conventional problems, solves the problem of uneven density of images and the generation of stains peculiar to the plasma CVD method, and can obtain a uniform high-quality image. To provide.

【0032】[0032]

【課題を解決するための手段】本発明の電子写真用光受
容部材の製造方法は導電性基体の表面を所定の精度で切
削する工程、切削後の基体表面を水で洗浄する工程、そ
して該導電性基体上に水素原子及び弗素原子のいずれか
一方または両方と珪素原子とを含む非単結晶堆積膜をプ
ラズマCVD法により形成する工程を備えた電子写真用
光受容部材の製造方法であって、前記洗浄後の導電性基
体の表面と水との接触角を90°以下とすることを特徴
としている。
The method for producing a light-receiving member for electrophotography of the present invention comprises a step of cutting the surface of a conductive substrate with a predetermined accuracy, a step of washing the surface of the substrate after cutting with water, and A method for manufacturing a photoreceptive member for electrophotography, comprising the step of forming a non-single crystal deposited film containing one or both of hydrogen atoms and fluorine atoms and silicon atoms on a conductive substrate by a plasma CVD method. The contact angle between the surface of the conductive substrate after cleaning and water is 90 ° or less.

【0033】本発明者らは、前述の問題点を解決するた
めに洗浄後の基体表面の物性値に注目して検討を行った
ところ、従来の導電性基体上にプラズマCVD法により
水素原子及び弗素原子のいずれか一方または両方と珪素
原子とを含む非単結晶堆積膜の形成を行い、電子写真用
光受容部材を製造する方法において導電性基体の表面を
所定の精度で切削する工程及び切削後の基体表面を水で
洗浄する工程を行った後、基体表面は水をはじく部分が
全く無い、即ち脱脂が充分に行われている状態でも、水
との接触角が何れも非常に大きいことを発見した。
In order to solve the above-mentioned problems, the inventors of the present invention have conducted a study by paying attention to the physical property values of the surface of the substrate after cleaning. As a result, hydrogen atoms and A step of cutting a surface of a conductive substrate with a predetermined accuracy in a method for producing a non-single-crystal deposited film containing one or both of fluorine atoms and a silicon atom and manufacturing a photoreceptor member for electrophotography. After the subsequent step of washing the substrate surface with water, there is no part that repels water on the substrate surface, that is, even if it is sufficiently degreased, the contact angle with water is very large. I have found

【0034】しかし、このように基体表面を水で洗浄す
る工程を行い表面の水との接触角が大きな基体を用いて
も、プラズマCVD法以外の方法(真空蒸着によるSe
電子写真用光受容部材の作製、ブレード塗布法またはデ
ィッピング法等によるOPC電子写真用光受容部材の作
製)で作製した電子写真用光受容部材においては画像上
のむらやしみはほとんど認められなかった。
However, even when the step of cleaning the surface of the substrate with water is performed and a substrate having a large contact angle with water on the surface is used, a method other than the plasma CVD method (Se by vacuum deposition) is used.
In the electrophotographic light-receiving member produced by the production of the electrophotographic light-receiving member, the OPC electrophotographic light-receiving member by the blade coating method, the dipping method, or the like, almost no unevenness or stain on the image was observed.

【0035】更に、導電性基体の表面を所定の精度で切
削し、切削後の基体表面を塩素系溶剤、又は、有機系溶
剤、例えば1−1−1トリクロルエタン(以下トリエタ
ンと略記す)を用いて洗浄を行った場合、基体表面の接
触角は洗浄条件により比較的小さい物から比較的大きな
物まで様々な物が得られるが、このような導電性基体上
にプラズマCVD法により水素原子及び弗素原子のいず
れか一方または両方と珪素原子とを含む非単結晶堆積膜
の形成を行い電子写真用光受容部材を製造しても、接触
角が特定の値以上の物を含めて何れの接触角の基体を用
いて作成した電子写真用光受容部材においても画像上の
むらやしみは全く認められなかった。
Further, the surface of the conductive substrate is cut with a predetermined accuracy, and the substrate surface after cutting is subjected to chlorine-based solvent or organic solvent such as 1-1-1 trichloroethane (hereinafter abbreviated as triethane). When cleaning is performed using the above, the contact angle of the surface of the substrate can be varied from a relatively small one to a relatively large one depending on the washing condition. Even if a non-single-crystal deposited film containing one or both of fluorine atoms and silicon atoms is formed to manufacture an electrophotographic light-receiving member, any contact including those having a contact angle of a specific value or more No unevenness or stains on the image were observed even in the electrophotographic light-receiving member prepared using the corner substrate.

【0036】このため、従来は脱脂さえ充分行われてい
れば(水をはじく部分が無ければ)、画像上でむらやし
みの発生と堆積膜形成前の基体表面の水との接触角との
間には全く相関が無いと考えられていた。
For this reason, conventionally, if even degreasing is sufficiently carried out (if there is no part that repels water), the occurrence of unevenness or stains on the image and the contact angle of water on the substrate surface before the formation of the deposited film It was thought that there was no correlation between them.

【0037】しかし、本発明者らは、従来問題視されて
いなかった基体表面と水との接触角が水により洗浄を行
った基体を用いてプラズマCVDを行ったとき初めて画
像上のむらやしみの問題として生じるのではないかと考
え鋭意検討を行った結果、水洗浄を行った際には洗浄後
の基体表面と水との接触角を特定の値以下に抑えること
によって上記問題点の全てを解決できるという知見を得
て本発明を完成させるに至った。
However, the inventors of the present invention did not notice unevenness or stains on an image for the first time when plasma CVD was performed using a substrate whose contact angle between the surface of the substrate and water, which had not been regarded as a problem in the past, was washed with water. As a result of diligent investigations, it was thought that this might occur as a problem, and when water was washed, all of the above problems were solved by keeping the contact angle between the substrate surface after washing and water below a specified value. The present invention has been completed based on the knowledge that it can be obtained.

【0038】洗浄後の基体表面の接触角と画像上のむら
やしみとの関係についてのメカニズムについては未だ解
明されていない点が多いが、本発明者は現在、次のよう
に考えている。すなわち、プラズマCVD法により、例
えばアモルファスシリコン堆積膜を基体上に形成する場
合、反応は、気相における原料ガスの分解過程、放電空
間から基体表面までの活性種の輸送過程、基体表面での
表面反応過程の3つに分けて考えることができる。中で
も、表面反応過程は完成した堆積膜の構造の決定に非常
に大きな役割を果たしている。そして、これらの表面反
応は、基体表面の温度、材質、形状、吸着物質などに大
きな影響を受けるのである。特に接触角を気にせずに水
で洗浄を行った場合には微視的に基体表面の接触角の大
きい部分と接触角が小さく、水の吸着の大きい部分がモ
ザイク状に共存しており、プラズマCVDで堆積膜を形
成する場合堆積膜の成長が不均一となり、膜質のむらが
発生する。このように水により洗浄を行った基体を用い
てプラズマCVDを行ったときは、基体表面に吸着した
水分が他の場合に比べ極めて大きな影響を与えるのであ
る。
The mechanism of the relationship between the contact angle on the surface of the substrate after cleaning and the unevenness or smear on the image has not been clarified in many points, but the present inventor currently thinks as follows. That is, when, for example, an amorphous silicon deposited film is formed on a substrate by the plasma CVD method, the reaction includes the decomposition process of the source gas in the vapor phase, the transport process of active species from the discharge space to the substrate surface, and the surface on the substrate surface. The reaction process can be divided into three parts. Above all, the surface reaction process plays a very important role in determining the structure of the completed deposited film. These surface reactions are greatly affected by the temperature, material, shape, adsorbed substance, etc. of the surface of the substrate. Especially when washing with water without worrying about the contact angle, microscopically the part with a large contact angle on the substrate surface and the small contact angle, and the part with a large water adsorption coexist in a mosaic pattern, When a deposited film is formed by plasma CVD, the growth of the deposited film becomes non-uniform and uneven film quality occurs. When plasma CVD is performed using a substrate that has been washed with water in this way, the moisture adsorbed on the surface of the substrate has a significantly greater effect than in other cases.

【0039】アルミニウム合金製シリンダーを基体とし
て、本発明の電子写真用光受容部材製造方法により電子
写真用光受容部材を実際に形成する手順の一例を、図1
に示す前処理装置、及び、図2(a)、図2(b)に示
す堆積膜形成装置を用いて以下に説明する。
An example of a procedure for actually forming an electrophotographic light-receiving member by the method for producing an electrophotographic light-receiving member of the present invention using an aluminum alloy cylinder as a base is shown in FIG.
The pretreatment apparatus shown in FIG. 2 and the deposited film forming apparatus shown in FIGS. 2A and 2B will be described below.

【0040】精密切削用のエアダンパー付旋盤(PNE
UMO PRECLSION INC.製)に、ダイヤ
モンドバイト(商品名:ミラクルバイト、東京ダイヤモ
ンド製)を、シリンダー中心角に対して5°の角のすく
い角を得るようにセットする。次に、この旋盤の回転フ
ランジに、基体を真空チャックし、付設したノズルから
白灯油噴霧、同じく付設した真空ノズルから切り粉の吸
引を併用しつつ、周速1000m/min、送り速度
0.01mm/Rの条件で外形が108mmとなるよう
に鏡面切削を施す。
Lathe with air damper for precision cutting (PNE
UMO PRECLSION INC. A diamond bite (trade name: Miracle bite, made by Tokyo Diamond) is set in the product) so as to obtain a rake angle of 5 ° with respect to the center angle of the cylinder. Next, while vacuum chucking the substrate to the rotary flange of this lathe, spraying white kerosene from the attached nozzle, and suctioning chips from the vacuum nozzle also attached, the peripheral speed was 1000 m / min and the feed rate was 0.01 mm. Under the condition of / R, mirror cutting is performed so that the outer shape becomes 108 mm.

【0041】切削が終了した基体は、基体前処理装置に
より基体表面の処理を行う。図1に示す基体前処理装置
は、処理部102と基体搬送機構103よりなってい
る。処理部102は、基体投入台111、基体洗浄槽1
21、純水接触槽131、乾燥槽141、基体搬出台1
51よりなっている。洗浄槽121、純水接触槽131
とも液の温度を一定に保つための温度調節装置(図示せ
ず)が付いている。搬送機構103は、搬送レール16
5と搬送アーム161よりなり、搬送アーム161は、
レール165上を移動する移動機構162、基体101
を保持するチャッキング機構163及びチャッキング機
構163を上下させるためのエアーシリンダー164よ
りなっている。
After the cutting, the substrate surface is treated by the substrate pretreatment device. The substrate pretreatment apparatus shown in FIG. 1 includes a processing section 102 and a substrate transfer mechanism 103. The processing unit 102 includes a substrate loading table 111 and a substrate cleaning tank 1.
21, pure water contact tank 131, drying tank 141, substrate unloading table 1
It consists of 51. Cleaning tank 121, pure water contact tank 131
Both are equipped with a temperature control device (not shown) for keeping the temperature of the liquid constant. The transport mechanism 103 includes a transport rail 16
5 and the transfer arm 161, and the transfer arm 161 is
Moving mechanism 162 for moving on rail 165, base 101
And a chucking mechanism 163 for holding the chucking mechanism and an air cylinder 164 for moving the chucking mechanism 163 up and down.

【0042】切削後、投入台111上に置かれた基体1
01は、搬送機構103により洗浄槽121に搬送され
る。洗浄槽121中の界面活性剤水溶液122中でフェ
ライト振動子123よりなる超音波発振器より発振され
た周波数60kHz、出力400Wの超音波により表面
に付着している切削油及び切り粉の洗浄が行われる。
After cutting, the substrate 1 placed on the input table 111
01 is transported to the cleaning tank 121 by the transport mechanism 103. The cutting oil and chips adhering to the surface are cleaned by ultrasonic waves of a frequency of 60 kHz and an output of 400 W oscillated by an ultrasonic oscillator composed of a ferrite oscillator 123 in a surfactant aqueous solution 122 in a cleaning tank 121. .

【0043】次に基体101は、搬送機構103により
純水接触槽131へ運ばれ、25℃の温度に保たれた抵
抗率5MΩ−cmの純水中に浸漬後、ノズル132から
30kg・f/cm2 の圧力で高圧水を噴射し、同時に
基体101を、モーター184、回転ギア183を介し
て回転する。工程終了後、基体101を引き上げる際に
ノズル181より純水の蒸気を0.5kg・f/cm2
の圧力で噴射し蒸気雰囲気182を形成し1000mm
/minの速度で引き上げられる。その後、搬送機10
3により、乾燥槽141へ移動され、ノズル142から
高温の高圧空気を吹き付けられ乾燥される。
Next, the substrate 101 is carried to the pure water contact tank 131 by the carrying mechanism 103, immersed in pure water having a resistivity of 5 MΩ-cm and kept at a temperature of 25 ° C., and then 30 kg · f / from the nozzle 132. High-pressure water is jetted at a pressure of cm 2 , and at the same time, the substrate 101 is rotated via the motor 184 and the rotary gear 183. After the process is completed, when the substrate 101 is pulled up, 0.5 kg · f / cm 2 of pure water vapor is discharged from the nozzle 181.
With a pressure of 1000 mm to form a steam atmosphere 182
It is pulled up at a speed of / min. Then, the carrier 10
3 is moved to the drying tank 141, and high-temperature high-pressure air is blown from the nozzle 142 to be dried.

【0044】乾燥工程の終了した基体101は、搬送機
構103により搬出台151に運ばれる。次にこれらの
切削加工及び前処理の終了した基体上に図2(a)、及
び、図2(b)に示すプラズマCVD法による光導電部
材堆積膜の形成装置により、アモルファスシリコンを主
体とした堆積膜を形成する。
The substrate 101 having undergone the drying process is carried to the carry-out table 151 by the carrying mechanism 103. Amorphous silicon is mainly used by the apparatus for forming a photoconductive member deposited film by the plasma CVD method shown in FIGS. 2A and 2B on the substrate on which the cutting process and the pretreatment are completed. Form a deposited film.

【0045】図2(a)、及び、図2(b)において、
201は反応容器であり、真空気密化構造を成してい
る。また、202は、マイクロ波電力を反応容器201
内に効率よく透過し、かつ真空気密を保持し得るような
材料(例えば石英ガラス、アルミナセラミックス等)で
形成されたマイクロ波導入誘電体窓である。203はマ
イクロ波電力の伝送を行う導波管であり、マイクロ波電
源から反応容器近傍までの矩形の部分と、反応容器に挿
入された円筒形の部分からなっている。導波管203は
スタブチューナー(図示せず)、アイソレーター(図示
せず)とともにマイクロ波電源(図示せず)に接続され
ている。誘電体窓202は反応容器内の雰囲気を保持す
るために円筒形導波管203の端部に気密封止されてい
る。204は、一端が反応容器201に開口し、他端が
排気装置(図示せず)に連通している排気管である。2
06は基体205により囲まれた放電空間を示す。電源
211はバイアス電極212に直流電圧を印加するため
の直流電源(バイアス電源)であり、電極212に電気
的に接続されている。
2 (a) and 2 (b),
Reference numeral 201 denotes a reaction vessel having a vacuum airtight structure. Reference numeral 202 denotes microwave power for the reaction vessel 201.
It is a microwave introduction dielectric window formed of a material (for example, quartz glass, alumina ceramics, etc.) that can efficiently penetrate into the inside and maintain vacuum tightness. Reference numeral 203 denotes a waveguide for transmitting microwave power, which includes a rectangular portion from the microwave power source to the vicinity of the reaction container and a cylindrical portion inserted in the reaction container. The waveguide 203 is connected to a microwave power source (not shown) together with a stub tuner (not shown) and an isolator (not shown). The dielectric window 202 is hermetically sealed at the end of the cylindrical waveguide 203 to maintain the atmosphere in the reaction vessel. Reference numeral 204 is an exhaust pipe having one end opened to the reaction vessel 201 and the other end communicating with an exhaust device (not shown). Two
Reference numeral 06 denotes a discharge space surrounded by the base 205. The power supply 211 is a DC power supply (bias power supply) for applying a DC voltage to the bias electrode 212, and is electrically connected to the electrode 212.

【0046】こうした堆積膜形成装置を使用した電子写
真用光受容部材の製造は以下のようにして行う。まず真
空ポンプ(図示せず)により排気管204を介して、反
応容器201内を排気し、反応容器201内の圧力を1
×10-7Torr以下に調整する。ついでヒーター20
7により、基体205の温度を所定の温度に加熱保持す
る。そこで原料ガスを不図示のガス導入手段を介して、
アモルファスシリコンの原料ガスとしてシランガス、ド
ーピングガスとしてジボランガス、希釈ガスとしてヘリ
ウムガス等の原料ガスを反応容器201内に導入させ
る。それと同時併行的にマイクロ波電源(図示せず)に
より周波数2.45GHzのマイクロ波を発生させ、導
波管203を通じ、誘電体窓202を介して反応容器2
01内にマイクロ波を導入する。更に放電空間206中
のバイアス電極212に電気的に接続された直流電源2
11によりバイアス電極212に基体205に対して直
流電圧を印加する。かくして基体205により囲まれた
放電空間206において、原料ガスはマイクロ波のエネ
ルギーにより励起されて解離し、更にバイアス電極21
2と基体205の間の電界により定常的に基体205上
にイオン衝撃を受けながら、基体205表面に堆積膜が
形成される。この時、基体205が設置された回転軸2
09をモーター210により回転させ、基体205を基
体母線方向中心軸の回りに回転させることにより、基体
205全周に渡って均一に堆積膜層を形成する。
Production of the electrophotographic light-receiving member using such a deposited film forming apparatus is carried out as follows. First, the inside of the reaction container 201 is evacuated by a vacuum pump (not shown) through the exhaust pipe 204, and the pressure inside the reaction container 201 is reduced to 1
It is adjusted to × 10 -7 Torr or less. Then heater 20
7, the temperature of the base 205 is heated and maintained at a predetermined temperature. Therefore, the raw material gas is passed through a gas introduction means (not shown),
A raw material gas such as silane gas as a raw material gas for amorphous silicon, diborane gas as a doping gas, and helium gas as a diluent gas is introduced into the reaction vessel 201. At the same time, a microwave power source (not shown) generates a microwave having a frequency of 2.45 GHz, and the reaction container 2 passes through the waveguide 203 and the dielectric window 202.
Microwave is introduced into 01. Further, the DC power supply 2 electrically connected to the bias electrode 212 in the discharge space 206.
11, a DC voltage is applied to the bias electrode 212 with respect to the substrate 205. Thus, in the discharge space 206 surrounded by the substrate 205, the source gas is excited by the energy of microwaves and dissociated, and the bias electrode 21
A deposited film is formed on the surface of the substrate 205 while constantly receiving ion bombardment on the substrate 205 by the electric field between the substrate 2 and the substrate 205. At this time, the rotary shaft 2 on which the base 205 is installed
09 is rotated by a motor 210 and the substrate 205 is rotated around the central axis in the substrate generatrix direction, whereby a deposited film layer is formed uniformly over the entire circumference of the substrate 205.

【0047】本発明において、基体表面の接触角の値は
0°以上90°以下、好ましくは5°以上88°以下、
最適には10°以上85°以下が本発明には適してい
る。
In the present invention, the value of the contact angle of the substrate surface is 0 ° or more and 90 ° or less, preferably 5 ° or more and 88 ° or less,
Optimally, 10 ° or more and 85 ° or less are suitable for the present invention.

【0048】接触角を測定する方法としては図8に示す
ように基体801上に水滴802を注射器を用いて一定
の大きさにし基体801と、水滴802の接触角θを測
定する方法にて行った。
As a method of measuring the contact angle, as shown in FIG. 8, a method of measuring the contact angle θ between the substrate 801 and the water droplet 802 by making a water droplet 802 on the substrate 801 to a certain size by using a syringe. It was

【0049】接触角を小さくする方法としては、高圧流
の噴射や、エアーのバブリングと蒸気噴射の併用や、洗
浄時に純水中と蒸気中を高速にて揺動させる方法等を用
いても本発明は有効である。
As a method for reducing the contact angle, it is possible to use a high-pressure jet, a combination of air bubbling and vapor jet, or a method in which pure water and vapor are swung at high speed during cleaning. The invention is effective.

【0050】高圧流を使用する際の圧力としては0.1
kg・f/cm2 以上、50kg・f/cm2 以下、好
ましくは0.5kg・f/cm2 以上、40kg・f/
cm 2 以下、最適には1kg・f/cm2 以上、30k
g・f/cm2 以下が本発明には適している。
The pressure when using a high pressure flow is 0.1
kgf / cm2Above, 50kgf / cm2Below, good
0.5kg ・ f / cm is better240kgf /
cm 2Below, optimally 1kgf / cm2Above, 30k
gf / cm2The following are suitable for the present invention.

【0051】エアーのバブリングを行う際の圧力は0.
1kg・f/cm2 以上、10kg・f/cm2 以下、
好ましくは0.2kg・f/cm2 以上、8kg・f/
cm 2 以下、最適には0.3kg・f/cm2 以上、5
kg・f/cm2 以下が本発明には適している。
The pressure for bubbling air is 0.
1kgf / cm2Above 10kg ・ f / cm2Less than,
Preferably 0.2 kgf / cm2Above, 8kgf /
cm 2Below, optimally 0.3 kgf / cm2Above 5
kgf / cm2The following are suitable for the present invention.

【0052】蒸気噴射を使用する際の圧力は、0.1k
g・f/cm2 以上、20kg・f/cm2 以下、好ま
しくは0.3kg・f/cm2 以上、10kg・f/c
2以下、最適には0.5kg・f/cm2 以上、5k
g・f/cm2 以下が本発明には適している。
The pressure when using steam injection is 0.1 k
g · f / cm 2 or more, 20kg · f / cm 2 or less, preferably 0.3kg · f / cm 2 or more, 10 kg · f / c
m 2 or less, optimally 0.5 kg · f / cm 2 or more, 5 k
A value of g · f / cm 2 or less is suitable for the present invention.

【0053】高速にて揺動させる際の揺動スピードは2
00mm/min以上、3000mm/min以下、好
ましくは300mm/min以上、2500mm/mi
n以下、最適には400mm/min以上、2000m
m/min以下が本発明には適している。
When rocking at high speed, the rocking speed is 2
00 mm / min or more and 3000 mm / min or less, preferably 300 mm / min or more and 2500 mm / mi
n or less, optimally 400 mm / min or more, 2000 m
m / min or less is suitable for the present invention.

【0054】本発明における圧力単位kg・f/cm2
は、重力キログラム毎平方センチメートルを意味し、1
kg・f/cm2 は98066.5Paと等しい。
Pressure unit in the present invention kg · f / cm 2
Means gravity kilogram per square centimeter, 1
kg · f / cm 2 is equal to 98066.5 Pa.

【0055】本発明においては、接触角を下げることが
目的でありどの方法を用いても有効である。
In the present invention, the purpose is to reduce the contact angle, and any method is effective.

【0056】洗浄工程に使用される洗浄液は、水または
水に界面活性剤を添加したものが望ましい。
The washing liquid used in the washing step is preferably water or a mixture of water and a surfactant.

【0057】本発明において、洗浄に使用される、界面
活性剤添加前の水の水質は、いずれでも可能であるが、
特に半導体グレードの純水が望ましい。具体的には、水
温25℃の時の抵抗率として、下限値は1MΩ−cm以
上、好ましくは3MΩ−cm以上、最適には5MΩ−c
m以上が本発明には適している。上限値は理論抵抗値
(18.25MΩ−cm)までの何れの値でも可能であ
るが、コスト、生産性の面から18.2MΩ−cm以
下、好ましくは18.0MΩ−cm以下、最適には1
7.8MΩ−cm以下が本発明には適している。微粒子
量としては、0.2μm以上が1ミリリットル中に10
000個以下、好ましくは1000個以下、最適には1
00個以下が本発明には適している。微生物量として
は、総生菌数が1ミリリットル中に100個以下、好ま
しくは10個以下、最適には1個以下が本発明には適し
ている。有機物量(TOC)は、1リットル中に10m
g以下、好ましくは1mg以下、最適には0.2mg以
下が本発明には適している。
In the present invention, the quality of water used for washing before the addition of the surfactant may be any,
Particularly, semiconductor grade pure water is desirable. Specifically, as the resistivity at a water temperature of 25 ° C., the lower limit value is 1 MΩ-cm or more, preferably 3 MΩ-cm or more, and most preferably 5 MΩ-c.
m or more is suitable for the present invention. The upper limit can be any value up to the theoretical resistance value (18.25 MΩ-cm), but from the viewpoint of cost and productivity, it is 18.2 MΩ-cm or less, preferably 18.0 MΩ-cm or less, and most preferably. 1
7.8 MΩ-cm or less is suitable for the present invention. As the amount of fine particles, 0.2 μm or more is 10 in 1 ml.
000 or less, preferably 1000 or less, optimally 1
00 or less is suitable for the present invention. As the microbial amount, 100 or less, preferably 10 or less, and most preferably 1 or less per 1 ml of total viable bacteria are suitable for the present invention. Organic matter amount (TOC) is 10m in 1 liter
g or less, preferably 1 mg or less, optimally 0.2 mg or less is suitable for the present invention.

【0058】上記の水質の水を得る方法としては、活性
炭法、蒸留法、イオン交換法、フィルターろ過法、逆浸
透法、紫外線殺菌法等があるが、これらの方法を複数組
み合わせて用い、要求される水質まで高めることが望ま
しい。
As a method of obtaining the above-mentioned water of water quality, there are an activated carbon method, a distillation method, an ion exchange method, a filter filtration method, a reverse osmosis method, an ultraviolet sterilization method and the like. It is desirable to improve the quality of the water used.

【0059】水の温度は、高すぎると基体上に酸化皮膜
が発生してしまい、堆積膜の剥れ等の原因となる。ま
た、低すぎると洗浄効果が小さく、さらに本発明の効果
が充分得られない。このため、水の温度としては、5℃
以上、90℃以下、好ましくは10℃以上、75℃以
下、最適には15℃以上、55℃以下が本発明には適し
ている。
If the temperature of the water is too high, an oxide film will be formed on the substrate, which may cause the deposited film to peel off. On the other hand, if it is too low, the cleaning effect is small and the effect of the present invention cannot be sufficiently obtained. Therefore, the temperature of water is 5 ℃
As described above, 90 ° C. or less, preferably 10 ° C. or more and 75 ° C. or less, most preferably 15 ° C. or more and 55 ° C. or less are suitable for the present invention.

【0060】また、洗浄工程で用いられる界面活性剤
は、陰イオン界面活性剤、陽イオン界面活性剤、非イオ
ン界面活性剤、両性界面活性剤、またはそれらの混合し
たもの等、いずれのものでも可能である。またトリポリ
リン酸ナトリウム等の添加剤を添加することも本発明に
おいては有効である。
The surfactant used in the washing step may be any of anionic surfactants, cationic surfactants, nonionic surfactants, amphoteric surfactants, and mixtures thereof. It is possible. It is also effective in the present invention to add an additive such as sodium tripolyphosphate.

【0061】洗浄工程に超音波を用いることは本発明の
効果を引き出す上で特に重要である。超音波の発振器と
してはフェライト等の磁歪振動子などが用いられる。洗
浄槽に超音波を入力する方法としては、このような振動
子を洗浄槽の液中に配置する方法、洗浄槽の底または壁
面に接着する方法、または、近くに設置した振動子から
ホーンによって超音波を洗浄槽に伝える方法等がある。
又、一つの洗浄槽に同時に複数の振動子を用いること
は、出力の調整や洗浄効果の均一化のために効果的であ
る。超音波の周波数は、比較的低周波領域は、キャビテ
ーションの作用が強く、洗浄の効果が大きいため従来多
く用いられてきたが、本発明においては、基体表面に物
理的なダメージを与えやすくなるため好ましくない。
又、比較的高周波領域は、本発明においては洗浄の効果
が低いため実際的ではない。具体的には、好ましくは5
kHz以上、10MHz以下、更に好ましくは10kH
z以上、5MHz以下、最適には20kHz以上、1M
Hz以下が効果的である。超音波の出力は、好ましくは
0.1W/リットル以上、500W/リットル以下、更
に好ましくは1W/リットル以上、100W/リットル
以下が効果的である。純水接触工程に使用される水の水
質は、水温25℃の時の抵抗率として、下限値は1kΩ
−cm以上、好ましくは1MΩ−cm以上、最適には3
MΩ−cm以上が本発明には適している。抵抗値の上限
は理論抵抗値(18.25MΩ−cm)までの何れの値
でも可能であるが、コスト、生産性の面から18.2M
Ω−cm以下、好ましくは18.0MΩ−cm以下、最
適には17.8MΩ−cm以下が本発明には適してい
る。微粒子量としては、0.2μm以上が1ミリリット
ル中に10000個以下、好ましくは1000個以下、
最適には100個以下が本発明には適している。微生物
量としては、総生菌数が1ミリリットル中に100個以
下、好ましくは10個以下、最適には1個以下が本発明
には適している。有機物量(TOC)は、1リットル中
に10mg以下、好ましくは1mg以下、最適には0.
2mg以下が本発明には適している。
The use of ultrasonic waves in the cleaning step is particularly important in order to bring out the effects of the present invention. As the ultrasonic oscillator, a magnetostrictive oscillator such as ferrite is used. As a method of inputting ultrasonic waves to the cleaning tank, such a vibrator is placed in the liquid of the cleaning tank, is adhered to the bottom or wall of the cleaning tank, or a horn is installed from a vibrator installed nearby. There is a method of transmitting ultrasonic waves to the cleaning tank.
Further, it is effective to use a plurality of vibrators in one cleaning tank at the same time in order to adjust the output and make the cleaning effect uniform. The frequency of ultrasonic waves has been used frequently in the comparatively low frequency region because of strong cavitation action and large cleaning effect, but in the present invention, it is easy to cause physical damage to the substrate surface. Not preferable.
Further, the relatively high frequency region is not practical in the present invention because the cleaning effect is low. Specifically, preferably 5
kHz or more and 10 MHz or less, more preferably 10 kHz
z or more and 5 MHz or less, optimally 20 kHz or more, 1M
Below Hz is effective. The ultrasonic output is preferably 0.1 W / liter or more and 500 W / liter or less, more preferably 1 W / liter or more and 100 W / liter or less. The water quality used in the pure water contact process has a lower limit of 1 kΩ as the resistivity when the water temperature is 25 ° C.
-Cm or more, preferably 1 MΩ-cm or more, optimally 3
MΩ-cm or more is suitable for the present invention. The upper limit of the resistance value can be any value up to the theoretical resistance value (18.25MΩ-cm), but from the viewpoint of cost and productivity, it is 18.2M.
Ω-cm or less, preferably 18.0 MΩ-cm or less, most preferably 17.8 MΩ-cm or less is suitable for the present invention. As the amount of fine particles, 0.2 μm or more is 10000 or less, preferably 1000 or less in 1 ml.
Optimally, 100 or less are suitable for the present invention. As the microbial amount, 100 or less, preferably 10 or less, and most preferably 1 or less per 1 ml of total viable bacteria are suitable for the present invention. The amount of organic matter (TOC) is 10 mg or less, preferably 1 mg or less, and optimally 0.
2 mg or less is suitable for the present invention.

【0062】上記の水質の水を得る方法としては、活性
炭法、蒸留法、イオン交換法、フィルターろ過法、逆浸
透法、紫外線殺菌法等があるが、これらの方法を複数組
み合わせて用い、要求される水質まで高めることが望ま
しい。
As a method for obtaining the above-mentioned water of water quality, there are an activated carbon method, a distillation method, an ion exchange method, a filter filtration method, a reverse osmosis method, an ultraviolet sterilization method, and the like. It is desirable to improve the quality of the water used.

【0063】搬入された基体を回転させる方法として
は、直接モーターにて回転させる方法が一番よいが、他
の方法でもよい。基体の回転数としては5rpm以上、
3000rpm以下、好ましくは10rpm以上、25
00rpm以下、最適には30rpm以上、2000r
pm以下が本発明には適している。
As a method of rotating the substrate that has been carried in, the method of directly rotating the substrate is best, but other methods may be used. The rotation speed of the substrate is 5 rpm or more,
3000 rpm or less, preferably 10 rpm or more, 25
00 rpm or less, optimally 30 rpm or more, 2000r
pm or less is suitable for the present invention.

【0064】水の流量としては、経済性から、基体1本
当り1リットル/min以上、200リットル/min
以下、好ましくは2リットル/min以上、100リッ
トル/min以下、最適には5リットル/min以上、
50リットル/min以下が本発明には適している。
From the economical viewpoint, the flow rate of water is 1 liter / min or more per substrate and 200 liter / min.
Or less, preferably 2 liters / min or more, 100 liters / min or less, optimally 5 liters / min or more,
50 liters / min or less is suitable for the present invention.

【0065】水に接触させる際の温度は、高すぎると基
体上に酸化皮膜が発生してしまい堆積膜の剥れ等の原因
となり、さらに本発明の効果が充分に得られない。ま
た、低すぎるとやはり効果は充分得られない。このた
め、水の温度としては、5℃以上、90℃以下、好まし
くは10℃以上、55℃以下、最適には15℃以上、4
0℃以下が本発明には適している。
If the temperature for contacting with water is too high, an oxide film will be formed on the substrate, which may cause peeling of the deposited film, and the effect of the present invention cannot be sufficiently obtained. Further, if it is too low, the effect cannot be obtained sufficiently. Therefore, the temperature of water is 5 ° C or higher and 90 ° C or lower, preferably 10 ° C or higher and 55 ° C or lower, and most preferably 15 ° C or higher and 4 ° C.
A temperature of 0 ° C or lower is suitable for the present invention.

【0066】純水接触処理の処理時間は、長すぎると基
体上に酸化皮膜が発生してしまい、短すぎると本発明の
効果が小さいため、10秒以上、30分以下、好ましく
は20秒以上、20分以下、最適には30秒以上、10
分以下が本発明には適している。
If the treatment time of the pure water contact treatment is too long, an oxide film is formed on the substrate, and if it is too short, the effect of the present invention is small, so that the treatment time is 10 seconds or longer and 30 minutes or shorter, preferably 20 seconds or longer. 20 minutes or less, optimally 30 seconds or more, 10
Minutes or less are suitable for the present invention.

【0067】堆積膜形成時の基体表面の酸化皮膜等の影
響を取り除くために、堆積膜形成の直前に基体表面の切
削を行うことは重要なことである。
It is important to cut the surface of the substrate immediately before the formation of the deposited film in order to remove the influence of the oxide film or the like on the surface of the substrate during the formation of the deposited film.

【0068】切削から純水接触処理までの時間は、長す
ぎると基体表面に再び酸化皮膜が発生してしまい、短す
ぎると工程が安定しないため、1分以上、16時間以
下、好ましくは2分以上、8時間以下、最適には3分以
上、4時間以下が本発明には適している。
If the time from cutting to the contact with pure water is too long, an oxide film will be formed again on the surface of the substrate, and if it is too short, the process will not be stable, so that the time is 1 minute or more and 16 hours or less, preferably 2 minutes. As described above, 8 hours or less, optimally 3 minutes or more and 4 hours or less are suitable for the present invention.

【0069】純水接触処理から堆積膜形成装置へ投入ま
での時間は、長すぎると本発明の効果が小さくなってし
まい、短すぎると工程が安定しないため、1分以上、8
時間以下、好ましくは2分以上、4時間以下、最適には
3分以上、2時間以下が本発明には適している。
If the time from the contact with pure water to the deposition film forming apparatus is too long, the effect of the present invention will be small, and if it is too short, the process will not be stable, and therefore, 1 minute or more, 8 minutes or more.
A time of not more than 2 minutes, preferably not less than 2 minutes and not more than 4 hours, optimally not less than 3 minutes and not more than 2 hours is suitable for the present invention.

【0070】堆積膜を形成するための基体材料として
は、表面が金属であれば本発明は可能であり、例えば、
ステンレス、Al、Cr、Mo、Au、In、Nb、T
e、V、Ti、Pt、Pd、Fe等が有効であるが、特
にアルミニウムの場合顕著な効果が認められる。基体材
料としてアルミニウムを用いる場合、切削性を上げるた
めに1重量%〜10重量%のマグネシウム(Mg)を含
有させることが好ましい。更に、マグネシウムを含有前
のアルミニウム純度としては95重量%以上、最適には
99重量%以上が効果的である。又、基体の表面粗さ
は、即ち切削精度は好ましくは10s以下、最適には5
s以下が本発明には適している。基体は任意の形状を有
し得るが、特に円筒形のものが本発明に最適である。基
体の大きさには特に制限はないが、実用的には直径20
mm以上、500mm以下、長さ10mm以上、100
0mm以下が好ましい。
The present invention is possible if the surface of the substrate material for forming the deposited film is a metal.
Stainless steel, Al, Cr, Mo, Au, In, Nb, T
Although e, V, Ti, Pt, Pd, Fe and the like are effective, particularly in the case of aluminum, a remarkable effect is recognized. When aluminum is used as the base material, it is preferable to contain 1% by weight to 10% by weight of magnesium (Mg) in order to improve machinability. Further, it is effective that the aluminum purity before containing magnesium is 95% by weight or more, optimally 99% by weight or more. The surface roughness of the substrate, that is, the cutting accuracy is preferably 10 s or less, and optimally 5
s or less is suitable for the present invention. The substrate may have any shape, but a cylindrical one is particularly suitable for the present invention. The size of the substrate is not particularly limited, but the diameter is practically 20
mm or more, 500 mm or less, length 10 mm or more, 100
It is preferably 0 mm or less.

【0071】本発明で使用される堆積膜の原料ガスとし
ては、シラン(SiH4 )、ジシラン(Si2 6 )、
四弗化珪素(SiF4 )、六弗化二珪素(Si2 6
等のアモルファスシリコン形成原料ガス又はそれらの混
合ガスが挙げられる。
As the source gas for the deposited film used in the present invention, silane (SiH 4 ), disilane (Si 2 H 6 ),
Silicon tetrafluoride (SiF 4 ), disilicon hexafluoride (Si 2 F 6 )
Amorphous silicon forming raw material gas or a mixed gas thereof can be used.

【0072】希釈ガスとしては水素(H2 )、アルゴン
(Ar)、ヘリウム(He)等が挙げられる。
Examples of the diluent gas include hydrogen (H 2 ), argon (Ar) and helium (He).

【0073】又、堆積膜のバンドギャップ幅を変化させ
る等の特性改善ガスとして、窒素(N2 )、アンモニア
(NH3 )等の窒素原子を含む元素、酸素(O2 )、一
酸化窒素(NO)、二酸化窒素(NO2 )、酸化二窒素
(N2 O)、一酸化炭素(CO)、二酸化炭素(C
2 )等酸素原子を含む元素、メタン(CH4 )、エタ
ン(C2 6 )、エチレン(C2 4 )、アセチレン
(C2 2 )、プロパン(C 3 8 )等の炭化水素、四
弗化ゲルマニウム(GeF4 )、弗化窒素(NF3 )等
の弗素化合物またはこれらの混合ガスが挙げられる。
Further, the band gap width of the deposited film is changed.
Nitrogen (N2),ammonia
(NH3) And other elements containing a nitrogen atom, oxygen (O2),one
Nitric oxide (NO), nitrogen dioxide (NO2), Nitrous oxide
(N2O), carbon monoxide (CO), carbon dioxide (C
O2) Element containing oxygen atom such as methane (CHFour), Eta
(C2H6), Ethylene (C2HFour),acetylene
(C2H2), Propane (C 3H8) Etc. hydrocarbons, four
Germanium fluoride (GeFFour), Nitrogen fluoride (NF3)etc
Fluorine compounds or mixed gas thereof can be used.

【0074】また、本発明においては、ドーピングを目
的としてジボラン(B2 6 )、フッ化ほう素(B
3 )、ホスフィン(PH3 )等のドーパントガスを同
時に放電空間に導入してもよい。
Further, in the present invention, diborane (B 2 H 6 ) and boron fluoride (B) are used for the purpose of doping.
A dopant gas such as F 3 ) or phosphine (PH 3 ) may be introduced into the discharge space at the same time.

【0075】電子写真用光受容部材では、基体上に堆積
した堆積膜の総膜厚はいずれのものでもよいが、5μm
以上、100μm以下、更に好ましくは10μm以上、
70μm以下、最適には15μm以上、50μm以下に
おいて、電子写真用光受容部材として特に良好な画像を
得ることができる。
In the electrophotographic light-receiving member, the total thickness of the deposited film deposited on the substrate may be 5 μm.
Or more, 100 μm or less, more preferably 10 μm or more,
When the thickness is 70 μm or less, most preferably 15 μm or more and 50 μm or less, a particularly good image can be obtained as a light receiving member for electrophotography.

【0076】堆積膜の堆積中の放電空間の圧力がいずれ
の領域でも効果が認められるが、特に0.5mTorr
以上、100mTorr以下、好ましくは1mTorr
以上、50mTorr以下において、放電の安定性及び
堆積膜の均一性の面で特に良好な結果が再現性良く得ら
れる。
The effect of the pressure of the discharge space during the deposition of the deposited film is recognized in any region, but especially 0.5 mTorr
Above, 100 mTorr or less, preferably 1 mTorr
Above 50 mTorr, particularly good results in terms of stability of discharge and uniformity of deposited film can be obtained with good reproducibility.

【0077】本発明において、堆積膜の堆積時の基体温
度は、100℃以上、500℃以下の範囲が有効である
が、特に150℃以上、450℃以下、好ましくは20
0℃以上、400℃以下、最適には250℃以上、35
0℃以下において著しい効果が確認される。
In the present invention, the substrate temperature during deposition of the deposited film is effectively in the range of 100 ° C. to 500 ° C., but particularly 150 ° C. to 450 ° C., preferably 20 ° C.
0 ° C or higher, 400 ° C or lower, optimally 250 ° C or higher, 35
A remarkable effect is confirmed at 0 ° C or lower.

【0078】本発明において、基体の加熱手段として
は、真空仕様の発熱体であればよく、より具体的にはシ
ース状ヒーターの巻き付けヒーター、板状ヒーター、セ
ラミックスヒーター等の電気抵抗発熱体、ハロゲンラン
プ、赤外線ランプ等の熱放射ランプ発熱体、液体、気体
等を温媒とし熱交換手段による発熱体等が挙げられる。
加熱手段の表面材質は、ステンレス、ニッケル、アルミ
ニウム、銅等の金属類、セラミックス、耐熱性高分子樹
脂等を使用することができる。また、それ以外にも、反
応容器とは別に加熱専用の容器を設け、加熱した後、反
応容器内に真空中で基体を搬送する等の方法も使用する
ことができる。以上の手段を単独にまたは併用して用い
ることが可能である。
In the present invention, the heating means for the substrate may be a heating element of vacuum specification, and more specifically, an electric resistance heating element such as a wound heater of a sheath heater, a plate heater, a ceramics heater, a halogen. Examples include a heat-radiating lamp heating element such as a lamp and an infrared lamp, and a heating element using a heat exchange means using liquid, gas or the like as a heating medium.
As the surface material of the heating means, metals such as stainless steel, nickel, aluminum and copper, ceramics, heat resistant polymer resin and the like can be used. In addition to the above, a method of providing a heating-dedicated container separately from the reaction container and heating and then transporting the substrate into the reaction container in a vacuum can also be used. The above means can be used alone or in combination.

【0079】プラズマを発生させるエネルギーは、D
C、RF、マイクロ波等のいずれでも可能であるが、特
に、プラズマ発生のエネルギーにマイクロ波を用いる場
合、吸着した水分にマイクロ波が吸収され、界面の変化
がより顕著なものとなるため、本発明の効果がより顕著
なものとなる。
The energy for generating plasma is D
Although any of C, RF, microwaves, etc. is possible, particularly when microwaves are used as the energy for plasma generation, the microwaves are absorbed by the adsorbed moisture, and the change in the interface becomes more remarkable, The effect of the present invention becomes more remarkable.

【0080】プラズマ発生のためにマイクロ波を用いる
場合、マイクロ波電力は、放電を発生させることができ
ればいずれの範囲のものでもよいが、100W以上、1
0kW以下、好ましくは500W以上、4kW以下が適
当である。
When microwaves are used for plasma generation, microwave power may be in any range as long as discharge can be generated, but 100 W or more, 1
A value of 0 kW or less, preferably 500 W or more and 4 kW or less is suitable.

【0081】本発明において、堆積膜形成中に放電空間
に電圧(バイアス電圧)を印加することは有効であり、
少なくとも基体に陽イオンが衝突する方向に電界が掛か
ることが好ましい。バイアスを全く掛けない場合、本発
明の効果は著しく低減してしまうため、DC成分の電圧
が1V以上、500V以下、好ましくは5V以上、10
0V以下であるバイアス電圧を堆積膜形成中に印加する
ことが、本発明の効果を得るためには望ましい。
In the present invention, it is effective to apply a voltage (bias voltage) to the discharge space during formation of the deposited film,
It is preferable that the electric field be applied at least in the direction in which the cations collide with the substrate. When no bias is applied, the effect of the present invention is significantly reduced. Therefore, the voltage of the DC component is 1 V or more and 500 V or less, preferably 5 V or more and 10
It is desirable to apply a bias voltage of 0 V or less during the formation of the deposited film in order to obtain the effects of the present invention.

【0082】本発明において、反応容器内に誘電体窓を
用いてマイクロ波導入する場合、誘電体窓の材質として
はアルミナ(Al2 3 )、窒化アルミニウム(Al
N)、窒化ボロン(BN)、窒化珪素(SiN)、炭化
珪素(SiC)、酸化珪素(SiO2 )、酸化ベリリウ
ム(BeO)、テフロン、ポリスチレン等のマイクロ波
の損失の少ない材料が通常使用される。
In the present invention, when microwaves are introduced into the reaction vessel using a dielectric window, the material of the dielectric window is alumina (Al 2 O 3 ), aluminum nitride (Al
N), boron nitride (BN), silicon nitride (SiN), silicon carbide (SiC), silicon oxide (SiO 2 ), beryllium oxide (BeO), Teflon, polystyrene and other materials with low microwave loss are usually used. It

【0083】複数の基体で放電空間を取り囲む構成の堆
積膜形成方法においては基体相互間の間隔は1mm以
上、50mm以下が好ましい。基体の数は放電空間を形
成できるならばいずれでもよいが3本以上、より好まし
くは4本以上が適当である。
In the deposited film forming method in which the discharge space is surrounded by a plurality of substrates, the distance between the substrates is preferably 1 mm or more and 50 mm or less. The number of bases may be any as long as a discharge space can be formed, but 3 or more, more preferably 4 or more is suitable.

【0084】本発明は、いずれの電子写真用光受容部材
の製造方法にも適用が可能であるが、特に、放電空間を
囲むように基体を設け、少なくとも基体の一端側から導
波管によりマイクロ波を導入する構成により堆積膜を形
成する場合大きな効果がある。
The present invention can be applied to any method for manufacturing a light receiving member for electrophotography, but in particular, a base is provided so as to surround a discharge space, and a micro waveguide is provided at least from one end side of the base by a waveguide. A great effect is obtained when a deposited film is formed by the structure in which waves are introduced.

【0085】図6に本発明の方法で製造された電子写真
用光受容部材を用いた一般的な転写式電子写真装置の概
略構成例を示す。
FIG. 6 shows a schematic structural example of a general transfer type electrophotographic apparatus using the electrophotographic light-receiving member manufactured by the method of the present invention.

【0086】図において、601は像担持体としての電
子写真用光受容部材であり、これは軸601aを中心と
して矢印方向に所定の周速で回転駆動される。この電子
写真用光受容部材は、その回転過程で帯電手段602に
よりその周面に正または負の所定電位の均一帯電を受
け、次いで露光部によって不図示の像露光手段により光
像露光L(スリット露光、レーザービーム走査露光な
ど)を受ける。これにより光受容部材周面に露光像に対
応した静電潜像が順次形成されていく。
In the figure, reference numeral 601 denotes an electrophotographic light receiving member as an image bearing member, which is rotationally driven around an axis 601a in the arrow direction at a predetermined peripheral speed. This electrophotographic light-receiving member receives uniform charge of a predetermined positive or negative potential on its peripheral surface by the charging means 602 during its rotation process, and then is subjected to a light image exposure L (slit) by an image exposing means (not shown) by an exposing section. Exposure, laser beam scanning exposure, etc.). As a result, electrostatic latent images corresponding to the exposed image are sequentially formed on the peripheral surface of the light receiving member.

【0087】この静電潜像は次いで現像手段604でト
ナー現像され、トナー現像像が転写手段605により、
不図示の給紙部から光受容部材601と転写手段605
との間に光受容部材601の回転と同期取りされた転写
材Pの表面に順次転写されていく。
This electrostatic latent image is then toner-developed by the developing means 604, and the toner developed image is transferred by the transfer means 605.
A light receiving member 601 and a transfer unit 605 from a paper feeding unit (not shown).
In the meantime, the light is transferred to the surface of the transfer material P which is synchronized with the rotation of the light receiving member 601.

【0088】像転写を受けた転写材Pは、光受容部材面
から分離されて像定着手段608へ導入され、ここで像
定着を受けたのち複写物(コピー)として機外へプリン
トアウトされる。
The transfer material P which has received the image transfer is separated from the surface of the light receiving member and introduced into the image fixing means 608, where it is subjected to the image fixing and then printed out as a copy. .

【0089】像転写後の光受容部材601の表面は、ク
リーニング手段606による転写残りトナーの除去を受
けて清浄面化され、さらに前露光手段607により除電
処理されたのち、繰り返して像形成に使用される。光受
容部材601の均一帯電手段602としては、コロナ帯
電装置が一般に広く使用されている。また転写装置60
5にもコロナ帯電装置が一般に広く使用されている。電
子写真装置として、上述の光受容部材や現像手段、クリ
ーニング手段などの構成要素のうち、複数のものを装置
ユニットとして一体に結合して構成し、このユニットを
装置本体に対して着脱自在の構成にしてもよい。この場
合、上記の装置ユニットの方に帯電手段及び(または)
現像手段を伴って構成してもよい。
After the image transfer, the surface of the light receiving member 601 is cleaned by removing the transfer residual toner by the cleaning unit 606, and is further subjected to charge removal processing by the pre-exposure unit 607, and then repeatedly used for image formation. To be done. As the uniform charging means 602 of the light receiving member 601, a corona charging device is generally widely used. In addition, the transfer device 60
The corona charging device is also widely used for the No. 5 device. The electrophotographic apparatus is configured by integrally combining a plurality of constituent elements such as the above-described light receiving member, developing unit, and cleaning unit as an apparatus unit, and this unit is detachable from the apparatus main body. You may In this case, charging means and / or
You may comprise with a developing means.

【0090】光像露光Lは、電子写真装置を複写機やプ
リンタとして使用する場合には、原稿からの反射光や透
過光であってもよく、あるいは原稿を読みとって信号化
した信号によるレーザービームの走査、LEDアレーの
駆動、または液晶シャッターアレイの駆動などによって
得られたものであってもよい。
When the electrophotographic apparatus is used as a copying machine or a printer, the optical image exposure L may be reflected light or transmitted light from an original document, or a laser beam based on a signal obtained by reading the original document and converting it into a signal. May be obtained by scanning, scanning an LED array, driving a liquid crystal shutter array, or the like.

【0091】ファクシミリのプリンターとして使用する
場合には、光像露光Lは受信データをプリントするため
の露光になる。図7はこの場合の1例をブロック図で示
したものである。
When used as a facsimile printer, the optical image exposure L is an exposure for printing received data. FIG. 7 is a block diagram showing an example of this case.

【0092】コントローラ711は画像読取部710と
プリンター719を制御する。コントローラ711全体
はCPU717により制御されている。画像読取部71
0からの読取データは、送信回路713を通して相手局
に送信される。相手局から受けたデータは受信回路71
2を通してプリンター719の送られる。画像メモリ7
16には所定の画像データが記憶される。プリンタコン
トローラ718はプリンター719を制御している。7
14は電話である。
The controller 711 controls the image reading section 710 and the printer 719. The entire controller 711 is controlled by the CPU 717. Image reading unit 71
The read data from 0 is transmitted to the partner station through the transmission circuit 713. The data received from the partner station is the receiving circuit 71.
2 is sent to the printer 719. Image memory 7
Predetermined image data is stored in 16. The printer controller 718 controls the printer 719. 7
14 is a telephone.

【0093】回線715から受信された画像情報(回線
を介して接続されたリモート端子からの画像情報)は、
受信回路712で復調された後、CPU717で復号処
理が行われ、順次画像メモリ716に格納されると、そ
のページの画像記録を行う。CPU717は、メモリ7
16より1ページ分の画像情報を読出し、プリンタコン
トローラ718に復号された1ページの画像情報を送出
する。プリンタコントローラ718は、CPU717か
らの1ページの画像情報を受け取ると、そのページの画
像情報記録を行うようにプリンターを制御する。
The image information received from the line 715 (image information from the remote terminal connected through the line) is
After demodulation by the reception circuit 712, decoding processing is performed by the CPU 717, and when sequentially stored in the image memory 716, image recording of the page is performed. The CPU 717 is the memory 7
The image information for one page is read from 16 and the decoded image information for one page is sent to the printer controller 718. Upon receiving the image information of one page from the CPU 717, the printer controller 718 controls the printer to record the image information of the page.

【0094】なお、CPU717は、プリンター719
による記録中に、次のページの画像情報を受信してい
る。
The CPU 717 is the printer 719.
The image information of the next page is being received during recording by.

【0095】以上のようにして、画像の受信と記録が行
われる。
Images are received and recorded as described above.

【0096】本発明の方法で製造された電子写真用光受
容部材は、電子写真複写機に利用するのみならず、レー
ザービームプリンター、CRTプリンター、LEDプリ
ンター、液晶プリンター、レーザー製版機などの電子写
真応用分野にも広く用いることができる。
The light-receiving member for electrophotography manufactured by the method of the present invention can be used not only in electrophotographic copying machines, but also in electrophotography such as laser beam printers, CRT printers, LED printers, liquid crystal printers and laser plate making machines. It can also be widely used in application fields.

【0097】[0097]

【実施例】以下、本発明を、実施例を用いて具体的に説
明するが、本発明はこれらにより何ら限定されるもので
はない。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited thereto.

【0098】(実施例1〜8、比較例1〜2)純度9
9.5%のアルミニウムよりなる直径108mm、長さ
358mm、肉厚5mmの円筒状基体を、前述の本発明
による電子写真用光受容部材の製造方法の手順の一例と
同様の手順で表面の切削を行い、切削工程終了15分後
に図1に示す表面処理装置により、表1に示す条件によ
り、水圧、蒸気圧力、引き上げ速度、回転数を変化させ
基体表面の前処理を行った。但し、界面活性剤としては
ポリエチレングリコールノニルフェニルエーテルを用い
て、これを1wt%水溶液とした。本実施例において、
洗浄液の量は100リットルとした。
(Examples 1-8, Comparative Examples 1-2) Purity 9
A surface of a cylindrical substrate made of 9.5% aluminum having a diameter of 108 mm, a length of 358 mm and a wall thickness of 5 mm was cut by the same procedure as the procedure of the method for manufacturing the electrophotographic light-receiving member according to the present invention. After 15 minutes from the end of the cutting process, the surface treatment apparatus shown in FIG. 1 was used to pretreat the surface of the substrate while changing the water pressure, vapor pressure, pulling rate, and rotation speed under the conditions shown in Table 1. However, polyethylene glycol nonyl phenyl ether was used as the surfactant, and this was made into a 1 wt% aqueous solution. In this example,
The amount of cleaning liquid was 100 liters.

【0099】[0099]

【表1】 この様にして洗浄した基体を作成し基体の表面に水滴を
滴下し、その接触角を表面上の任意の点につき測定し
た。
[Table 1] A substrate washed in this way was prepared, water droplets were dropped on the surface of the substrate, and the contact angle was measured at any point on the surface.

【0100】その後、図2(a)、及び、図2(b)に
示す堆積膜形成装置を用い、表2の条件で、基体上にア
モルファスシリコン堆積膜の形成を行い、図4に示す層
構成の阻止型電子写真用光受容部材を作製した。図4に
於て、401、402、403及び404は、それぞれ
アルミニウム基体、電荷注入阻止層、光導電層及び表面
層を示している。
After that, an amorphous silicon deposited film is formed on the substrate under the conditions of Table 2 by using the deposited film forming apparatus shown in FIGS. 2A and 2B, and the layer shown in FIG. A blocking type electrophotographic light receiving member having a constitution was produced. In FIG. 4, 401, 402, 403 and 404 respectively indicate an aluminum substrate, a charge injection blocking layer, a photoconductive layer and a surface layer.

【0101】[0101]

【表2】 作成した電子写真用光受容部材の電子写真的特性の評価
を以下のようにして行った。
[Table 2] The electrophotographic characteristics of the prepared electrophotographic light-receiving member were evaluated as follows.

【0102】作成した電子写真用光受容部材をキヤノン
社製複写機、NP6650を実験用に改造した複写装置
にいれ、帯電器に6kVの電圧を印加してコロナ帯電を
行ない、通常の複写プロセスにより転写紙上に画像を作
製し、下の手順により画像性の評価を行った。このよう
にして同一作製条件で製造した電子写真用光受容部材の
評価を行った。評価結果を表3に示す。
The prepared electrophotographic light-receiving member was put in a copying machine manufactured by Canon Inc. and a copying machine in which NP6650 was modified for an experiment, and a voltage of 6 kV was applied to the charger to carry out corona charging. An image was prepared on a transfer paper, and the image quality was evaluated by the following procedure. Thus, the electrophotographic light-receiving member produced under the same production conditions was evaluated. The evaluation results are shown in Table 3.

【0103】画像むらの評価 A3方眼紙(コクヨ社製)を複写機の原稿台に置き、複
写機の絞りを変える事により原稿の露光量を、グラフの
線が辛うじて認められる程度から白地の部分がかぶり始
める程度迄の範囲の画像が得られるように変え、濃度の
異なる20枚のコピーを出力した。
Evaluation of image unevenness A3 graph paper (manufactured by KOKUYO Co., Ltd.) is placed on the platen of the copying machine, and the exposure amount of the original is changed by changing the diaphragm of the copying machine. It was changed so that an image in a range up to the start of fogging was obtained, and 20 copies having different densities were output.

【0104】これらの画像を目より30cm離れたとこ
ろで観察して、濃度の違いが認められるか調べ、以下の
基準で評価を行った。 ◎…いずれのコピー上にも画像のむらは認められない。 〇…画像むらが認められるコピーと認められないコピー
がある。しかし、いずれも軽微であり全く問題無い。 △…いずれのコピー上にも画像むらが認められる。しか
し、大部分の画像むらは程度が軽微であり実用上支障な
い。 ×…全数のコピー上に大きな画像むらが認められる。
These images were observed at a distance of 30 cm from the eyes to check whether a difference in density was recognized, and evaluation was carried out according to the following criteria. ⊚: No image unevenness is observed on any of the copies. ○: There are some copies where image unevenness is recognized and others where it is not recognized. However, all of them are slight and there is no problem at all. Δ: Image unevenness is observed on any copy. However, most of the image unevenness is slight in degree, and there is no practical problem. X: Large image unevenness is observed on all copies.

【0105】白しみの評価 全面ハーフトーンの原稿を複写機の原稿台に置き、コピ
ーした時に得られた画像の平均濃度が0.3±0.1に
なるように画像を出力した。
Evaluation of white spots An original halftone original was placed on the original table of a copying machine, and an image was output so that the average density of the image obtained when copying was 0.3 ± 0.1.

【0106】これらの画像を目より30cm離れたとこ
ろで観察して、白しみが認められるか調べ、以下の基準
で評価を行った。 ◎…いずれのコピー上にも白しみは認められない。 〇…軽微な白しみが認められるものがあった。しかし、
いずれも全く問題無い。 △…いずれのコピー上にも白しみが認められる。しか
し、大部分の白しみは程度が軽微であり実用上支障な
い。 ×…全数のコピー上に大きな白しみが認められる。
These images were observed at a distance of 30 cm from the eyes to check if white spots were observed, and evaluated according to the following criteria. ⊚: No white spots are observed on any of the copies. 〇… Some had slight white spots. But,
There is no problem at all. Δ: White spots are observed on any copy. However, most of the white spots are slight in degree, and there is no practical problem. X: Large white spots are observed on all copies.

【0107】[0107]

【表3】 以上の様に接触角が90°以下に於いて良好な結果が得
られた。
[Table 3] As described above, good results were obtained when the contact angle was 90 ° or less.

【0108】(実施例9〜16、比較例3、4)実施例
1と同様の条件にて作成した基体を用い、図2(a)、
及び、図2(b)に示す堆積膜形成装置を用い、表4の
条件で、基体上にアモルファスシリコン堆積膜の形成を
行い、実施例1と同様に、図4に示す層構成の阻止型電
子写真用光受容部材を作成した。
(Examples 9 to 16 and Comparative Examples 3 and 4) Using the substrates prepared under the same conditions as in Example 1, as shown in FIG.
Further, using the deposited film forming apparatus shown in FIG. 2B, an amorphous silicon deposited film is formed on the substrate under the conditions shown in Table 4, and the blocking type of the layer structure shown in FIG. A light-receiving member for electrophotography was prepared.

【0109】この様にして作製した電子写真用光受容部
材を実施例1と同様の方法で評価した結果を表5に示
す。
Table 5 shows the results of evaluation of the electrophotographic light-receiving member thus produced by the same method as in Example 1.

【0110】[0110]

【表4】 [Table 4]

【0111】[0111]

【表5】 以上の様に電子写真用光受容部材の組成を変化させても
接触角が90°以下に於いて良好な結果が得られた。
[Table 5] As described above, even when the composition of the electrophotographic light-receiving member was changed, good results were obtained when the contact angle was 90 ° or less.

【0112】(実施例17〜20)基体の種類を変化さ
せた基体を用いて、実施例1と同様の条件にて作成した
基体の内、接触角が良好な基体を用い、図2(a)、及
び、図2(b)に示す堆積膜形成装置を用い、実施例1
と同じ条件にて図4に示す層構成の阻止型電子写真用光
受容部材を作成した。この様にして作成した電子写真用
光受容部材を実施例1と同様の方法で評価した結果を表
6に示す。
(Examples 17 to 20) Of the substrates prepared under the same conditions as in Example 1 by using the substrates having different types of substrates, a substrate having a good contact angle was used. ) And the deposited film forming apparatus shown in FIG.
Under the same conditions as above, a blocking type electrophotographic light-receiving member having the layer structure shown in FIG. 4 was prepared. Table 6 shows the results of evaluation of the electrophotographic light-receiving member thus produced by the same method as in Example 1.

【0113】[0113]

【表6】 (実施例21〜25)Alの純度を変化させた基体を用
いて、実施例1と同様の条件にて作成した基体の内、接
触角が良好な基体を用い、図2(a)、及び、図2
(b)に示す堆積膜形成装置を用い、実施例1と同じ条
件にて図4に示す層構成の阻止型電子写真用光受容部材
を作成した。この様にして作成した電子写真用光受容部
材を実施例1と同様の方法で評価した結果を表7に示
す。
[Table 6] (Examples 21 to 25) Of the substrates prepared under the same conditions as in Example 1 by using the substrates having different Al purities, substrates having a good contact angle are used, and as shown in FIG. , Fig. 2
Using the deposited film forming apparatus shown in (b), a blocking type electrophotographic light receiving member having the layer structure shown in FIG. 4 was prepared under the same conditions as in Example 1. Table 7 shows the results of evaluating the electrophotographic light-receiving member thus produced by the same method as in Example 1.

【0114】但し、Alの純度はMg含有前の純度を示
している。
However, the purity of Al indicates the purity before containing Mg.

【0115】[0115]

【表7】 以上のようにAlの純度が95.0%以上に於いて良好
な結果が得られた。
[Table 7] As described above, good results were obtained when the purity of Al was 95.0% or more.

【0116】(実施例26〜30)実施例21〜25と
同様の条件にて作成した基体を用い、図2(a)、及
び、図2(b)に示す堆積膜形成装置を用い、実施例9
〜16と同じ条件にて、図4に示す層構成の阻止型電子
写真用光受容部材を作成した。この様にして作成した電
子写真用光受容部材を実施例1と同様の方法で評価した
結果を表8に示す。
(Examples 26 to 30) Using the substrates prepared under the same conditions as in Examples 21 to 25, using the deposited film forming apparatus shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b). Example 9
Under the same conditions as in Nos. 16 to 16, a blocking type electrophotographic light-receiving member having the layer structure shown in FIG. 4 was prepared. Table 8 shows the results of evaluating the electrophotographic light-receiving member thus produced by the same method as in Example 1.

【0117】[0117]

【表8】 以上のように電子写真用光受容部材の組成を変化させて
も95.0%以上に於いて良好な結果が得られた。
[Table 8] Even if the composition of the electrophotographic light-receiving member was changed as described above, good results were obtained at 95.0% or more.

【0118】(実施例31〜35)基体の表面粗さを変
化させた基体を用いて、実施例1と同様の条件にて作成
した基体の内、接触角が良好な基体を用い、図2
(a)、及び、図2(b)に示す堆積膜形成装置を用
い、実施例1と同じ条件にて図4に示す層構成の阻止型
電子写真用光受容部材を作成した。
(Examples 31 to 35) Of the substrates prepared under the same conditions as in Example 1 by using the substrates whose surface roughness was changed, the substrate having a good contact angle was used.
Using the deposition film forming apparatus shown in (a) and FIG. 2 (b), a blocking type electrophotographic light receiving member having the layer structure shown in FIG. 4 was prepared under the same conditions as in Example 1.

【0119】この様にして作成した電子写真用光受容部
材を実施例1と同様の方法で評価した結果を表9に示
す。
Table 9 shows the results of evaluation of the electrophotographic light-receiving member thus produced by the same method as in Example 1.

【0120】[0120]

【表9】 (実施例36〜40)実施例31〜35と同様の条件に
て作成した基体を用い、図2(a)、及び、図2(b)
に示す堆積膜形成装置を用い、実施例9〜16と同じ条
件にて、図4に示す層構成の阻止型電子写真用光受容部
材を作成した。この様にして作成した電子写真用光受容
部材を実施例1と同様の方法で評価した結果を表10に
示す。
[Table 9] (Examples 36 to 40) Using a substrate prepared under the same conditions as in Examples 31 to 35, FIG. 2 (a) and FIG. 2 (b).
Using the deposition film forming apparatus shown in FIG. 4, under the same conditions as in Examples 9 to 16, a blocking type electrophotographic light receiving member having a layer structure shown in FIG. 4 was prepared. Table 10 shows the results of evaluation of the electrophotographic light-receiving member thus produced by the same method as in Example 1.

【0121】[0121]

【表10】 以上の様に電子写真用光受容部材の組成を変化させても
表面粗さが10s以下に於いて良好な結果が得られた。
[Table 10] As described above, even when the composition of the electrophotographic light-receiving member was changed, good results were obtained when the surface roughness was 10 s or less.

【0122】[0122]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、導電性基体上に機能性膜を形成する工程を含む電子
写真用光受容部材製造方法に於いて、特に導電性基体上
水素原子及び弗素原子のいずれか一方または両方と珪素
原子とを含む非単結晶堆積膜をプラズマCVD法により
形成する工程を含む電子写真用光受容部材製造方法に於
いて、洗浄後の基体表面と水との接触角を90°以下に
する事により、従来の問題を解決し、均一な高品位の画
像を与え、電子写真用光受容部材を安価に、かつ安定し
て製造することが可能になる。
As described above, according to the present invention, in a method for producing a photoreceptive member for electrophotography, which comprises a step of forming a functional film on a conductive substrate, particularly hydrogen on the conductive substrate is used. In a method of manufacturing a photoreceptor member for electrophotography, which comprises a step of forming a non-single-crystal deposited film containing one or both of atoms and fluorine atoms and silicon atoms by a plasma CVD method, a substrate surface after washing and water By making the contact angle with 90 ° or less, it becomes possible to solve the conventional problems, provide a uniform high-quality image, and inexpensively and stably manufacture the electrophotographic light-receiving member. .

【0123】また本発明によれば以下の予期せぬ効果が
得られる事が解った。
Further, according to the present invention, it has been found that the following unexpected effects can be obtained.

【0124】電子写真用光受容部材の暗部電位および明
電位の温度依存性が良化した。また同時に色再現性も向
上し、より高品質な電子写真用光受容部材を提供する事
が出来た。
The temperature dependence of the dark potential and the bright potential of the electrophotographic light-receiving member was improved. At the same time, color reproducibility was improved, and a higher quality electrophotographic light-receiving member could be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の電子写真用光受容部材製造方法を実施
するために使用される前処理装置の概略縦断面図であ
る。
FIG. 1 is a schematic vertical cross-sectional view of a pretreatment apparatus used for carrying out the method for manufacturing a photoreceptor member for electrophotography of the present invention.

【図2】(a)はマイクロ波プラズマCVD法により円
筒状基体上に堆積膜を形成するための堆積膜形成装置の
概略縦断面図である。(b)は(a)の堆積膜形成装置
横断面図である。
FIG. 2A is a schematic vertical cross-sectional view of a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by a microwave plasma CVD method. (B) is a cross-sectional view of the deposited film forming apparatus of (a).

【図3】RFプラズマCVD法により円筒状基体上に堆
積膜を形成するための堆積膜形成装置の概略縦断面図で
ある。
FIG. 3 is a schematic vertical sectional view of a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by an RF plasma CVD method.

【図4】電子写真用光受容部材の層構成を示す断面図で
ある。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a layer structure of a light receiving member for electrophotography.

【図5】従来の前処理装置の概略図である。FIG. 5 is a schematic view of a conventional pretreatment device.

【図6】一般的な転写式電子写真装置の概略構成図であ
る。
FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a general transfer type electrophotographic apparatus.

【図7】図6の電子写真装置をプリンターとして使用し
たファクシミリのブロック図である。
7 is a block diagram of a facsimile using the electrophotographic apparatus of FIG. 6 as a printer.

【図8】接触角の測定方法概略図である。FIG. 8 is a schematic diagram of a method for measuring a contact angle.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101、801 基体 102 処理槽 103 基体搬送機構 111 基体投入台 121 基体洗浄槽 122 洗浄液 123 フェライト発振子 131 純水接触槽 132、142、172 ノズル 141 乾燥槽 151 基体搬出台 161 搬送アーム 162 移動機構 163 チャッキング機構 164 エアーシリンダー 165 レール 181 蒸気用ノズル 182 蒸気雰囲気 183 回転ギア 184 回転用モーター 201 反応容器 202 マイクロ波導入窓 203 導波管 204 排気管 205 基体 206 放電空間 207 ヒーター 209 回転軸 210 モーター 211 直流電源 212 バイアス電極 301 反応容器 302 ベースプレート 303 壁 304 トッププレート 305 カソード電極 306 基体 307 原料ガス流入バルブ 308 リークバルブ 309 排気バルブ 310 真空計 311 マスフローコントローラー 312 ヒーター 313 高周波電源 314 モーター 401 基体 402 電荷注入阻止層 403 光導電層 404 表面層 501 基体 502 噴射機 502−a ノズル 503 洗浄媒体 802 水滴 101, 801 Substrate 102 Processing Tank 103 Substrate Transfer Mechanism 111 Substrate Loading Table 121 Substrate Cleaning Tank 122 Cleaning Solution 123 Ferrite Oscillator 131 Pure Water Contact Tank 132, 142, 172 Nozzle 141 Drying Tank 151 Substrate Unloading Table 161 Transfer Arm 162 Moving Mechanism 163 Chucking mechanism 164 Air cylinder 165 Rail 181 Steam nozzle 182 Steam atmosphere 183 Rotating gear 184 Rotating motor 201 Reaction vessel 202 Microwave introduction window 203 Waveguide 204 Exhaust pipe 205 Base 206 Discharge space 207 Heater 209 Rotating shaft 210 Motor 211 DC power supply 212 Bias electrode 301 Reaction vessel 302 Base plate 303 Wall 304 Top plate 305 Cathode electrode 306 Base 307 Raw material gas inflow valve 308 Leak valve 309 Exhaust valve 310 Vacuum gauge 311 Mass flow controller 312 Heater 313 High frequency power supply 314 Motor 401 Base body 402 Charge injection blocking layer 403 Photoconductive layer 404 Surface layer 501 Base body 502 Injector 502-a nozzle 503 Cleaning medium 802 Water droplet

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導電性基体の表面を所定の精度で切削す
る工程、切削後の基体表面を水で洗浄する工程、そして
該導電性基体上に水素原子及び弗素原子のいずれか一方
または両方と珪素原子とを含む非単結晶堆積膜をプラズ
マCVD法により形成する工程を備えた電子写真用光受
容部材の製造方法であって、前記洗浄後の導電性基体の
表面と水との接触角が90°以下であることを特徴とす
る電子写真用光受容部材の製造方法。
1. A step of cutting the surface of a conductive substrate with a predetermined accuracy, a step of washing the surface of the substrate after cutting with water, and one or both of hydrogen atoms and fluorine atoms on the conductive substrate. A method of manufacturing a photoreceptive member for electrophotography, comprising a step of forming a non-single-crystal deposited film containing silicon atoms by a plasma CVD method, wherein the contact angle between the surface of the conductive substrate after cleaning and water is A method for producing a light-receiving member for electrophotography, which is 90 ° or less.
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