JP2000187339A - Cleaning method of object to be cleaned and production of electrophotographic photoreceptor - Google Patents

Cleaning method of object to be cleaned and production of electrophotographic photoreceptor

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JP2000187339A
JP2000187339A JP36721798A JP36721798A JP2000187339A JP 2000187339 A JP2000187339 A JP 2000187339A JP 36721798 A JP36721798 A JP 36721798A JP 36721798 A JP36721798 A JP 36721798A JP 2000187339 A JP2000187339 A JP 2000187339A
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JP
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substrate
water
less
range
inhibitor
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JP36721798A
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Japanese (ja)
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Hideaki Matsuoka
秀彰 松岡
Yoshio Seki
好雄 瀬木
Hiroyuki Katagiri
宏之 片桐
Kazuhiko Takada
和彦 高田
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a manufacturing method of an electrophotographic photoreceptor by which uniform picture of high grade having no defect and density uneveness can be obtained. SOLUTION: In the manufacturing method of the electrophotographic photoreceptor which contains a process for forming a functional membrane on a substrate 101, especially on an aluminum substrate containing silicon, iron and copper, the surface of the substrate 101 is degreased and cleaned by water containing a surfactant before the process for forming the electrophotographic photoreceptor and then is cleaned by water containing at least one of the surfactant, carbon dioxide and a specific inhibitor. After forming a film on the surfacce of the substrate 101, consisting essentially of Al, Si and O, with the thickness of a range between 5Å and 150Å and a specific range of composition, the surface of the substrate 101 is subject to a shower water of pure water or carbon dioxide-dissolved water or inhibitor-containing water with shower water blowing pressure within a range of >=4.9×103 to <=9.8×104 Pa and with a shower water blowing flow rate within a range of >=1 l/to <=20 l/min.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、被洗浄物の洗浄方
法及び機能性膜を有する電子写真感光体の製造方法に関
する。
The present invention relates to a method for cleaning an object to be cleaned and a method for manufacturing an electrophotographic photosensitive member having a functional film.

【0002】[0002]

【従来の技術】機能性膜を利用した製造物として例えば
表面に機能性膜を形成した電子写真感光体を挙げること
ができるが、電子写真感光体の堆積膜を形成する為の基
体としては、ガラス、耐熱性合成樹脂、ステンレス、ア
ルミニムなどが提案されている。その中で、実用的には
帯電、露光、現像、転写、クリーニングといった電子写
真プロセスに耐え、又、画質を落とさない為に常に位置
精度を高く保つようにする必要があり、金属を使用する
場合が多い。中でもアルミニウム(Al)は加工性が良
好で、コストが低く、重量が軽い点から電子写真感光体
の基体として最適な材料の1つである。
2. Description of the Related Art As a product utilizing a functional film, for example, an electrophotographic photosensitive member having a functional film formed on its surface can be cited, and as a substrate for forming a deposited film of the electrophotographic photosensitive member, Glass, heat-resistant synthetic resin, stainless steel, aluminum and the like have been proposed. Among them, practically, it is necessary to endure the electrophotographic process such as charging, exposure, development, transfer, and cleaning, and to keep the position accuracy high so as not to deteriorate the image quality. There are many. Among them, aluminum (Al) is one of the most suitable materials for the base of the electrophotographic photosensitive member because of its good workability, low cost and light weight.

【0003】電子写真感光体の基体の材質に関する技術
が、特開昭59−193463号公報、特開昭60−2
62936号公報に記載されている。特開昭59−19
3463号公報には、支持体の鉄(Fe)含有率が20
00ppm以下のアルミニウム合金にする事により、良
好な画質のアモルファスシリコン電子写真感光体を得る
技術が開示されている。
Techniques relating to the material of a substrate of an electrophotographic photosensitive member are disclosed in JP-A-59-193463 and JP-A-60-2630.
No. 62936. JP-A-59-19
No. 3463 discloses that the iron (Fe) content of the support is 20%.
There is disclosed a technique for obtaining an amorphous silicon electrophotographic photoreceptor having good image quality by using an aluminum alloy of not more than 00 ppm.

【0004】更に、該公報中では円筒状(シリンダー
状)基体を旋盤により切削を行い鏡面加工した後、グロ
ー放電によりアモルファスシリコンを形成するまでの手
順が開示されている。特開昭60−262936号公報
には、マグネシュウム(Mg)を3.0〜6.0wt%
を含有し、不純物として、マンガン(Mn)を0.3w
t%以下、クロム(Cr)を0.01wt%未満、鉄
(Fe)を0.15wt%以下、シリコン(Si)を
0.12wt%以下に抑制し、残部アルミニウム(A
l)からなるアモルファスシリコンの蒸着性に優れた押
し出しアルミニウム合金が開示されている。
Further, this publication discloses a procedure in which a cylindrical (cylindrical) substrate is cut by a lathe and mirror-finished, and then amorphous silicon is formed by glow discharge. JP-A-60-262936 discloses that magnesium (Mg) is 3.0 to 6.0 wt%.
Manganese (Mn) as an impurity
t% or less, chromium (Cr) less than 0.01 wt%, iron (Fe) 0.15 wt% or less, silicon (Si) 0.12 wt% or less, and the balance aluminum (A)
An extruded aluminum alloy excellent in vapor deposition property of amorphous silicon comprising 1) is disclosed.

【0005】これらの材料は電子写真感光体の用途に応
じ、基体の表面加工を施し、その表面に光受容部層が形
成される。その基体の表面加工に関する技術が特開昭6
1−231561号公報、特開昭62−95545号公
報に記載されている。アルミニウム合金を基体として用
いた場合の、水洗浄工程での腐食防止技術として、特開
平6−273955号公報には二酸化炭素を溶解した水
により基体を洗浄する技術についての提案がなされてい
るが、インヒビターを含んだ水によりある範囲の膜厚と
組成比を規定する事については全く述べられていない。
[0005] These materials are subjected to a surface treatment of a substrate according to the use of the electrophotographic photosensitive member, and a light receiving portion layer is formed on the surface. The technology relating to the surface processing of the substrate is disclosed in
These are described in JP-A-1-231561 and JP-A-62-95545. As a technique for preventing corrosion in a water washing step when an aluminum alloy is used as a base, Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-273955 proposes a technique for cleaning a base with water in which carbon dioxide is dissolved. There is no mention of defining a certain range of film thickness and composition ratio with water containing an inhibitor.

【0006】又、特開昭63−311261号公報、特
開平1−156758号公報、及び特公平7−3412
3号公報にはそれぞれAl基体上に酸化膜を形成する技
術について述べられているがインヒビターを含んだ水に
より洗浄する事で皮膜を形成する事については述べられ
ていない。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-31261, Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-156758, and Japanese Patent Publication No. 7-3412
Patent Document 3 describes a technique for forming an oxide film on an Al substrate, but does not describe a method of forming a film by washing with water containing an inhibitor.

【0007】電子写真感光体に用いる素子部材の技術と
しては、セレン、硫化カドミニウム、酸化亜鉛、アモル
ファスシリコン、フタロシアニン等の有機物など各種の
材料が提案されている。中でも、アモルファスシリコン
に代表される珪素原子を主成分として含む非単結晶堆積
膜、例えば水素及び(または)ハロゲン(例えば弗素、
塩素等)で補償されたアモルファスシリコン等のアモル
ファス堆積膜は高性能、高耐久性、無公害の感光体とし
て提案され、その幾つかは実用に付されている。特開昭
54−86341号公報には、光導電層を主としてアモ
ルファスシリコンで形成した電子写真感光体の技術が開
示されている。
Various materials such as organic substances such as selenium, cadmium sulfide, zinc oxide, amorphous silicon, and phthalocyanine have been proposed as techniques for element members used for electrophotographic photosensitive members. Among them, non-single-crystal deposited films mainly containing silicon atoms typified by amorphous silicon, such as hydrogen and / or halogen (for example, fluorine,
Amorphous deposited films such as amorphous silicon compensated with chlorine or the like have been proposed as high-performance, high-durability, pollution-free photoconductors, and some of them have been put to practical use. Japanese Patent Application Laid-Open No. 54-86341 discloses an electrophotographic photosensitive member technology in which a photoconductive layer is mainly formed of amorphous silicon.

【0008】こうした珪素原子を主成分として含む非単
結晶堆積膜の形成方法として従来、スパッタリング法、
熱により原料ガスを分解する方法(熱CVD法)、光に
より原料ガスを分解する方法(光CVD法)、プラズマ
により原料ガスを分解する方法(プラズマCVD法)
等、多数の方法が知られている。
Conventionally, as a method of forming such a non-single-crystal deposited film containing silicon atoms as a main component, a sputtering method,
A method of decomposing a source gas by heat (thermal CVD method), a method of decomposing a source gas by light (photo CVD method), and a method of decomposing a source gas by plasma (plasma CVD method)
And many other methods are known.

【0009】プラズマCVD法、すなわち、原料ガスを
直流、高周波またはマイクロ波グロー放電等によって分
解し、基体上に薄膜状の堆積膜を形成する方法は、電子
写真用アモルファスシリコン堆積膜の形成方法に最適で
あり、現在実用化が非常に進んでいる。中でも、近年堆
積膜形成方法としてマイクロ波グロー放電分解を用いた
プラズマCVD法すなわちマイクロ波プラズマCVD法
が工業的にも注目されている。
The plasma CVD method, that is, a method in which a raw material gas is decomposed by direct current, high frequency or microwave glow discharge to form a thin film deposited film on a substrate, is a method for forming an amorphous silicon deposited film for electrophotography. It is optimal and is currently in very practical use. Among them, in recent years, a plasma CVD method using microwave glow discharge decomposition, that is, a microwave plasma CVD method has been attracting industrial attention as a deposition film forming method.

【0010】マイクロ波プラズマCVD法は、他の方法
に比べ高いデポジション速度と高い原料ガス利用効率と
いう利点を有している。こうした利点を生かしたマイク
ロ波プラズマCVD技術の1つの例が、米国特許4,5
04,518号公報に記載されている。該特許に記載の
技術は、13.3Pa以下の低圧によりマイクロ波プラ
ズマCVD法により高速の堆積速度で良質の堆積膜を得
るというものである。
The microwave plasma CVD method has the advantages of a higher deposition rate and higher source gas utilization efficiency than other methods. One example of a microwave plasma CVD technique that takes advantage of these advantages is disclosed in US Pat.
No. 04,518. The technique described in this patent is to obtain a high-quality deposited film at a high deposition rate by a microwave plasma CVD method at a low pressure of 13.3 Pa or less.

【0011】更に、マイクロ波プラズマCVD法により
原料ガスの利用効率を改善するための技術が特開昭60
−186849号公報に記載されている。該公報に記載
の技術は、概要、マイクロ波エネルギーの導入手段を取
り囲むように基体を配置して内部チャンバー(すなわち
放電空間)を形成するようにして、原料ガス利用効率を
非常に高めるようにしたものである。又、特開昭61−
283116号公報には、半導体部材製造用の改良形マ
イクロ波技術が開示されている。すなわち、当該公報
は、放電空間中にプラズマ電位制御として電極(バイア
ス電極)を設け、このバイアス電極に所望の電圧(バイ
アス電圧)を印加して堆積膜へのイオン衝撃を制御しな
がら膜堆積を行なうようにして堆積膜の特性を向上させ
る技術を開示している。
Further, a technique for improving the utilization efficiency of raw material gas by microwave plasma CVD is disclosed in
No. 186849. The technology described in the publication generally provides an internal chamber (ie, a discharge space) by arranging a substrate so as to surround a means for introducing microwave energy, thereby greatly improving the efficiency of using a source gas. Things. Also, JP-A-61-
No. 283116 discloses an improved microwave technology for manufacturing semiconductor members. That is, in this publication, an electrode (bias electrode) is provided as a plasma potential control in a discharge space, and a desired voltage (bias voltage) is applied to the bias electrode to control the ion bombardment of the deposited film to perform film deposition. A technique for improving the characteristics of a deposited film in such a manner is disclosed.

【0012】基体としてアルミニウム合金製シリンダー
を用いた場合、これらの従来の技術による電子写真感光
体製造方法は具体的には以下のように実施される。
When a cylinder made of an aluminum alloy is used as a substrate, the method for producing an electrophotographic photosensitive member according to these conventional techniques is specifically carried out as follows.

【0013】必要に応じ旋盤、フライス盤等を用いたダ
イヤモンドバイト切削により所定範囲内の平面度に加工
され、その後トリエタン洗浄される。次にこれらの表面
加工を施した基体をトリエタン洗浄し、基体上にグロー
放電分解法によって光導電部材の堆積膜である、アモル
ファスシリコンを主体とした堆積膜を形成する。
If necessary, the workpiece is machined to a flatness within a predetermined range by diamond cutting using a lathe, a milling machine, or the like, and then washed with triethane. Next, the surface-treated substrate is washed with triethane, and a deposited film mainly composed of amorphous silicon, which is a deposited film of a photoconductive member, is formed on the substrate by a glow discharge decomposition method.

【0014】しかし、従来報告される電子写真製造装置
を用いて電子写真感光体を形成したり、あるいは従来報
告される電子写真製造方法によって電子写真感光体を形
成すると、堆積膜中に異常成長の部分が発生することが
ある。異常成長部分は、微小な面積で表面電荷の十分に
乗らない部分である。この現象は特にプラズマCVD法
によって形成されたアモルファスシリコンにおいて顕著
である。そして従来は表面電位の乗らない部分を減じる
方法としては基体の表面加工条件、洗浄条件及び堆積条
件の最適化を行っていた。
However, when an electrophotographic photosensitive member is formed by using a conventionally reported electrophotographic manufacturing apparatus, or when an electrophotographic photosensitive member is formed by a conventionally reported electrophotographic manufacturing method, abnormal growth in a deposited film occurs. Parts may occur. The abnormally grown portion is a portion having a very small area and not having sufficient surface charge. This phenomenon is particularly remarkable in amorphous silicon formed by a plasma CVD method. Conventionally, as a method of reducing the portion where the surface potential does not multiply, optimization of the surface processing conditions, cleaning conditions and deposition conditions of the substrate has been performed.

【0015】しかし、近年のように、 1)電子写真装置の高画質化が要求されそれに伴い現像
の解像力が向上し、又、 2)複写機の高速化が進み帯電条件が過酷になるに従
い、表面で電位の乗らない部分が実質上周辺の電位に対
して大きな影響を与え、その結果該異常成長部分による
画像欠陥が指摘されるようになってきた。
However, as in recent years, 1) higher image quality of the electrophotographic apparatus has been required and the resolution of development has been improved, and 2) as the speed of the copying machine has increased and charging conditions have become more severe, A portion where the potential is not applied on the surface substantially has a large effect on the peripheral potential, and as a result, an image defect due to the abnormally grown portion has been pointed out.

【0016】更に、従来の電子写真装置は文字を複写す
る事を主たる用途としており、活字だけの原稿(いわゆ
るラインコピー)が中心であったので、画像欠陥は実用
上大きな問題とならなかった。しかし、近来複写機の画
質が上がるにつれて、写真などのハーフトーンを含む原
稿が多くコピーされるようになり現在は異常成長部分の
少ない電子写真感光体が必要とされている。特に、近来
普及しているカラー複写機に於いては、より視覚的に明
らかなものとなるため、異常成長部分の少ない電子写真
感光体が必要となる。
Furthermore, the conventional electrophotographic apparatus is mainly used for copying characters, and is mainly used for originals of only printed characters (so-called line copy), so that image defects did not become a serious problem in practical use. However, recently, as the image quality of a copying machine has increased, many originals including halftones such as photographs have been copied, and an electrophotographic photoreceptor having a small abnormally growing portion has been required at present. In particular, in a color copier, which has been widely used recently, an electrophotographic photoreceptor having a small number of abnormally grown portions is required since the color copier becomes clearer.

【0017】又、異常成長部分は微小なので、電極を用
いて堆積膜中の導電率の測定を行なうことで異常成長部
分の存在をしらべてもその存在を検知する事はむずかし
い。また、電子写真感光体として電子写真プロセスによ
り帯電、露光、現像を行なったとき、特にハーフトーン
で均一の画像を形成した時、電子写真感光体表面上の僅
かな電位の差も画像欠陥となって視覚的に顕著なものと
して現れてくる。特に、マイクロ波プラズマCVD法に
より作成した電子写真感光体に於ては、前述の問題は更
に顕著に現れてしまうのである。
Further, since the abnormally grown portion is very small, it is difficult to detect the presence of the abnormally grown portion by measuring the conductivity in the deposited film using an electrode. Further, when the electrophotographic photosensitive member is charged, exposed, and developed by an electrophotographic process, particularly when a uniform image is formed by halftone, a slight potential difference on the surface of the electrophotographic photosensitive member also causes an image defect. And appear as visually striking. In particular, in the case of an electrophotographic photosensitive member prepared by a microwave plasma CVD method, the above-mentioned problem appears more remarkably.

【0018】一方、この様な画像欠陥は、真空蒸着によ
り作成したSe電子写真感光体、ブレード塗布法または
ディッピング法等により作成したOPC電子写真感光体
に比べ、プラズマCVD法で作成した電子写真感光体で
は特に顕著に現れる。
On the other hand, such an image defect is more likely to be caused by an electrophotographic photosensitive member formed by plasma CVD than by a Se electrophotographic photosensitive member formed by vacuum evaporation or an OPC electrophotographic photosensitive member formed by a blade coating method or dipping method. It is particularly prominent in the body.

【0019】又、同じくプラズマCVD法で作成するデ
バイスでも太陽電池のように異常成長部分の存在する位
置が基板上の任意の位置において集中しても微妙な特性
の差がその性能に実質的に影響しないもの、又は後処理
で修正が可能なデバイス等では、上述の問題は発生しな
いのである。
Also, in a device manufactured by the plasma CVD method, even if the position where the abnormally grown portion exists is concentrated at an arbitrary position on the substrate like a solar cell, a slight difference in the characteristics substantially causes the performance to be substantially different. The above-mentioned problem does not occur in a device that does not affect or a device that can be corrected by post-processing.

【0020】[0020]

【発明が解決しようとする課題】近年、環境保全の為
に、トリクロロエタン等の塩素系溶剤を洗浄工程におい
て使用することがむずかしい為に水系洗浄が有機溶剤に
よる洗浄に変わってきている。しかし、アルミニウムを
水で洗浄する際、アルミニウム表面に部分的に露出した
不純物(Si等)が多い部分において不純物が周囲の通
常のアルミニウムの部分と局部的な電池を形成して、基
体表面の腐食を促進するという問題が有り、その対策と
して二酸化炭素水溶液を用いて基体表面の腐食を防いで
いたがこの場合装置が複雑化し、その結果製造コストが
上がってしまう。そのため装置をより簡素化し、低コス
トで対策する必要が出てきた。又、長手方向に長い部材
の電子写真感光体を洗浄槽に入っている洗浄液中に浸
し、洗浄槽から引き上げる際には電子写真感光体の長手
方向に沿って洗浄ムラが発生しやすくなってしまう等の
問題が有った。
In recent years, it has been difficult to use a chlorinated solvent such as trichloroethane in the washing step for environmental protection, so that aqueous washing has been replaced by washing with an organic solvent. However, when the aluminum is washed with water, the impurity forms a local battery with the surrounding normal aluminum portion in a portion where the impurity (Si or the like) which is partially exposed on the aluminum surface is large, and the corrosion of the substrate surface is caused. As a countermeasure, corrosion of the substrate surface is prevented by using an aqueous solution of carbon dioxide. However, in this case, the apparatus becomes complicated and the production cost increases. Therefore, it has become necessary to simplify the apparatus and take measures at low cost. Further, when the electrophotographic photosensitive member of a member elongated in the longitudinal direction is immersed in the cleaning solution contained in the cleaning tank and is pulled up from the cleaning tank, cleaning unevenness is likely to occur along the longitudinal direction of the electrophotographic photosensitive member. And so on.

【0021】本発明の目的は被洗浄物の洗浄方法を提供
する。また本発明の目的は、基体加工時の腐食防止を図
り、高速形成し得る、異常成長部分の少ない高性能の電
子写真感光体を安価で高い歩留まりで製造する製造方法
を提供する事にある。
An object of the present invention is to provide a method for cleaning an object to be cleaned. Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a high-performance electrophotographic photoreceptor that can be formed at high speed and has a small amount of abnormally grown portions at low cost and with high yield while preventing corrosion during processing of a substrate.

【0022】更に本発明の目的は、プラズマCVD法で
作成された電子写真感光体において異常成長部分による
画像欠陥の発生という問題を解決して、均一な高品位の
画像を得る事が出来る電子写真感光体の製造方法を提供
する事にある。
It is a further object of the present invention to solve the problem of the occurrence of image defects due to abnormally grown portions in an electrophotographic photoreceptor formed by a plasma CVD method, and to obtain an electrophotographic photoreceptor capable of obtaining a uniform high-quality image. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a photoconductor.

【0023】[0023]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、基体に吹きつけるシャワー水の圧力を4.
9×103 Pa以上9.8×104 Pa以下に設定し、
且つ前記シャワー水の流量を1リットル/分以上20リ
ットル/分以下に設定し、前記基体の表面を前記シャワ
ー水でシャワーし、次いで前記表面に機能性膜を減圧気
相成長法により形成させてなる電子写真感光体の製造方
法を提供する。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a method for reducing the pressure of shower water sprayed on a substrate.
Set to 9 × 10 3 Pa or more and 9.8 × 10 4 Pa or less,
In addition, the flow rate of the shower water is set to 1 liter / min or more and 20 liter / min or less, the surface of the base is showered with the shower water, and then a functional film is formed on the surface by a reduced pressure vapor deposition method. The present invention provides a method for producing an electrophotographic photoreceptor.

【0024】また本発明は被洗浄体に吹きつけるシャワ
ー水の圧力を4.9×103 Pa以上9.8×104
a以下に設定し、且つ前記シャワー水の流量を1リット
ル/分以上20リットル/分以下に設定し、前記被洗浄
体の表面を前記シャワー水でシャワーすることを特徴と
する洗浄方法を提供する。
Further, according to the present invention, the pressure of the shower water sprayed on the object to be cleaned is set to 4.9 × 10 3 Pa or more and 9.8 × 10 4 P or more.
a, the flow rate of the shower water is set to 1 liter / min or more and 20 liters / min or less, and the surface of the object to be cleaned is showered with the shower water. .

【0025】[0025]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態では、本発明
で用いる被洗浄体である基体としてアルミニウムを1例
に挙げて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In the embodiments of the present invention, aluminum will be described as an example of a substrate to be cleaned used in the present invention.

【0026】アルミニウム基体の異常成長部分が発生す
る原因を、(A)基体上の粉塵、洗浄、乾燥工程の洗浄
水の汚物等が付着してそれが核となるため、あるいは
(B)基体の表面欠陥が核となるためとに大別出来る。
The cause of the abnormal growth of the aluminum substrate is as follows: (A) dust on the substrate, dirt from the washing water in the washing and drying steps adhere to the core, or (B) It can be broadly classified because surface defects are the core.

【0027】(A)で説明した付着は切削、洗浄など基
体を取り扱う場所のクリーン化を図る炉内の清掃を厳密
に行う事と共に堆積膜形成の直前に基体表面を洗浄する
事により、ある程度防止する事が可能になった。従来は
トリクロルエタン等の塩素系溶剤で洗浄する事によりこ
の目的を達成していた。しかし、近年オゾン層の破壊等
の理由でこうした塩素系の溶剤の使用が制限されるよう
になってきた為、水による洗浄方法を塩素系溶剤を用い
た洗浄方法として検討をする必要が生じた。
The adhesion described in (A) is prevented to some extent by strictly cleaning the inside of the furnace to clean the place where the substrate is handled, such as cutting and cleaning, and cleaning the surface of the substrate immediately before forming the deposited film. It became possible to do. Conventionally, this object has been achieved by washing with a chlorine-based solvent such as trichloroethane. However, in recent years, the use of such chlorinated solvents has been restricted for reasons such as destruction of the ozone layer, and it has become necessary to consider a washing method using water as a washing method using a chlorinated solvent. .

【0028】一方、(B)で説明した表面欠陥を更に減
少させる方法として特定の成分含有のアルミニウムと特
定の洗浄方法を組み合わせる事によりこれらの問題点を
全て解決出来ないかという観点に立ち鋭意検討を行った
結果、本発明の完成を得た。
On the other hand, as a method for further reducing the surface defects described in (B), diligent studies have been made from the viewpoint of solving all of these problems by combining a specific component-containing aluminum with a specific cleaning method. As a result, the present invention was completed.

【0029】本発明ではシリコンを含有するアルミニウ
ムを用いる。その理由は通常アルミニウムに含有される
不純物は少ない方が好ましいが、非常に高純度のアルミ
ニウムを基体の形状に溶融加工すると酸化物が成長しや
すくなり異常成長部分が多く発生するからである。異常
成長部分を防ぐ為にはSi原子をアルミニウムと含有さ
せる事が効果的である事が明らかとなっており、本発明
は珪酸塩等を腐食防止剤(インヒビター)として溶解さ
せた水系洗浄剤を用いて前記Si原子を含むアルミニウ
ムを洗浄する。
In the present invention, aluminum containing silicon is used. The reason is that it is usually preferable that the amount of impurities contained in aluminum is small, but when very high-purity aluminum is melt-processed into the shape of a base, an oxide is easily grown and many abnormally grown portions are generated. It has been clarified that it is effective to contain Si atoms with aluminum in order to prevent the abnormal growth portion, and the present invention uses an aqueous cleaning agent in which silicate or the like is dissolved as a corrosion inhibitor (inhibitor). To clean the aluminum containing Si atoms.

【0030】インヒビターを含む水系洗浄剤を用いる理
由は珪素(Si)原子を含むアルミニウムは、Si原子
が局所的に多い部分を中心に水によって腐食され易くな
っており、その腐食を防ぐためである。又はSi原子だ
けでなく、その他Fe原子、あるいはCu原子が局所的
に多い部分にも同様の腐食が発生する事があるが、珪酸
塩等によるインヒビターを用いる事で効果的に腐食を防
ぐことが出来る。
The reason for using the water-based detergent containing the inhibitor is that aluminum containing silicon (Si) atoms is easily corroded by water mainly in a portion where Si atoms are locally large, and the corrosion is prevented. . Or similar corrosion may occur not only in Si atoms but also in other parts where Fe atoms or Cu atoms are locally large, but it is possible to effectively prevent corrosion by using an inhibitor such as silicate. I can do it.

【0031】又、腐食は洗浄水の温度が高い場合や或い
は、アルミニウム中にSi,Fe,Cu原子と共に切削
性を向上する目的でマグネシウムを含む場合、顕著であ
り、Si,Fe,Cuを含んだ電子写真感光体の基体と
して用いるアルミニウム基体の腐食を防止する為の腐食
防止剤(インヒビター)を水洗浄剤に加える事が好まし
い。
The corrosion is remarkable when the temperature of the washing water is high or when aluminum contains magnesium for the purpose of improving machinability together with Si, Fe and Cu atoms, and contains Si, Fe and Cu. It is preferable to add a corrosion inhibitor (inhibitor) for preventing corrosion of the aluminum substrate used as the substrate of the electrophotographic photosensitive member to the water detergent.

【0032】このインヒビターはアルミニウム表面にA
l−Si−O皮膜を形成し、アルミニウム基体の腐食を
防ぐことが出来ると考える。そして、Al−Si−O皮
膜が形成されると基体表面には欠陥となるものが無くな
り、その結果、機能性膜形成時に異常成長の発生を防止
する事が出来る。
This inhibitor has A on the aluminum surface.
It is believed that an l-Si-O film can be formed to prevent corrosion of the aluminum substrate. When the Al—Si—O film is formed, there is no defect on the surface of the substrate, and as a result, it is possible to prevent the occurrence of abnormal growth during the formation of the functional film.

【0033】又、インヒビターとして珪酸塩を含む水洗
浄剤を用いてアルミニウムを洗浄する事で異常成長の発
生が防止されるだけでなく電子写真特性の向上がみられ
る。
Further, by cleaning aluminum by using a water detergent containing a silicate as an inhibitor, not only the occurrence of abnormal growth is prevented but also the electrophotographic characteristics are improved.

【0034】その理由を以下に詳述すると、本発明の実
施形態はプラズマCVD法によりアモルファスシリコン
堆積膜を基体上に形成する。プラズマCVD法は一般に
気相に於ける原料ガスの分解過程、放電空間から基体表
面までの活性種の輸送過程、基体表面での表面反応過程
の3つに分けて考えることが出来る。中でも、表面反応
過程は完成した堆積膜の構造の決定に非常に大きな役割
を果たしている。そして、前記表面反応は、基体表面の
温度、材質、形状、吸着物質などに影響を受けるが、特
に吸着物質による影響を大きく受ける。
The reason will be described in detail below. In the embodiment of the present invention, an amorphous silicon deposition film is formed on a substrate by a plasma CVD method. The plasma CVD method can be generally divided into three processes: a decomposition process of a raw material gas in a gas phase, a transport process of active species from a discharge space to a substrate surface, and a surface reaction process on the substrate surface. In particular, the surface reaction process plays a very important role in determining the structure of the completed deposited film. The surface reaction is affected by the temperature, the material, the shape, the adsorbed substance, and the like of the surface of the substrate, and is particularly greatly affected by the adsorbed substance.

【0035】特に純度の高いアルミニウム基体は、基体
表面に水が吸着しやすい。例えば基体上にプラズマCV
D法により珪素を、或いは水素及び弗素とを含んだ珪素
を用いてアモルファスシリコンからなる堆積膜を形成す
る場合、基体表面に吸着する水によって堆積膜の基体−
堆積膜界面の組成及び構造の変化した部分が存在する。
その結果、表面に堆積膜が形成された基体を電子写真感
光体として電子写真プロセスに用いると前記部分は基体
表面のその他の部分と電荷の注入性あるいは表面電位に
関して性質が異なっており、前記電子写真プロセスによ
って得られる画像の画質にむらが生じてしまう。
In particular, water is easily adsorbed on the surface of a high purity aluminum substrate. For example, plasma CV on a substrate
When a deposited film made of amorphous silicon is formed by the method D using silicon or silicon containing hydrogen and fluorine, the substrate of the deposited film is formed by water adsorbed on the surface of the substrate.
There are portions where the composition and structure of the interface of the deposited film have changed.
As a result, when a substrate having a deposited film formed on its surface is used in an electrophotographic process as an electrophotographic photoreceptor, the portion has a different property from other portions of the substrate surface in terms of charge injecting property or surface potential. The image quality of the image obtained by the photographic process becomes uneven.

【0036】本発明では、プラズマCVD法によるアモ
ルファスシリコンからなる機能性膜の形成前に基体表面
にインヒビターである珪酸塩にてAl−Si−O皮膜を
形成し、皮膜形成後の基体表面をシャワーして洗浄する
際の圧力を従来設定した圧力に比べて抑え、且つ、シャ
ワー流量を増やす事により例えば電子写真感光体の基体
の様な、長手方向で長い部材に対して洗浄ムラを無く
し、形成されたAl−Si−O皮膜が部分的にはがれる
ことがないようにより均一なものとし、強固な皮膜を形
成する事が出来、堆積膜を形成する際に良好な電荷のや
り取りが出来る界面を形成し、良質の堆積膜を形成する
事が出来る。この為、得られる基体は帯電性が向上し、
光感度等電子写真特性の向上を果たす事が可能となる。
In the present invention, an Al-Si-O film is formed on the surface of a substrate with a silicate as an inhibitor before forming a functional film made of amorphous silicon by a plasma CVD method, and the surface of the substrate after the film is formed is showered. The pressure at the time of cleaning is reduced compared to the pressure set conventionally, and by increasing the shower flow rate, for example, the cleaning unevenness is eliminated for a member that is long in the longitudinal direction, such as a base of an electrophotographic photosensitive member, and formed. The deposited Al-Si-O film is made more uniform so that it does not peel off partly, a strong film can be formed, and an interface that allows good charge exchange when forming a deposited film is formed. Thus, a high-quality deposited film can be formed. For this reason, the obtained substrate has improved chargeability,
It is possible to improve electrophotographic characteristics such as light sensitivity.

【0037】本発明では切削された基体に堆積膜を成膜
する成膜工程の前に基体の表面を脱脂洗浄する脱脂洗浄
工程、脱脂洗浄された基体表面をリンスするリンス工
程、そして基体表面を乾燥する乾燥工程の順で処理し、
前記3つの工程のうち少なくともいずれか一つの工程に
おいて珪酸塩を含んだ水によりアルミニウム基体に珪酸
皮膜を形成する。
In the present invention, before the film forming step of forming a deposited film on the cut substrate, a degreasing cleaning step of degreasing and cleaning the surface of the substrate, a rinsing step of rinsing the degreasing cleaned surface of the substrate, and Process in the order of drying process to dry,
In at least one of the three steps, a silicate film is formed on the aluminum substrate with water containing silicate.

【0038】また本発明は珪酸皮膜形成したアルミニウ
ム基体をリンス工程に於いて引き上げる際にシャワー
(シャワー水の)圧力(低圧力)/シャワー(シャワー
水の)流量(高流量)の比を一定の範囲内に設定してリ
ンスする事により、珪酸皮膜が強固に形成される前にシ
ャワー(シャワー水)の吹きつけ圧力によって、流れ落
とされるのを防ぐと共に、基体表面の乾きを防止すると
いう特徴を有しているため高品質のアモルファス堆積膜
を有したアルミニウム基体を得ることができる。
Further, in the present invention, when the aluminum substrate on which the silicate film is formed is lifted in the rinsing step, the ratio of shower (shower water) pressure (low pressure) / shower (shower water) flow rate (high flow rate) is kept constant. By setting the rinsing rate within the range, it is possible to prevent the silicate film from flowing down by the blowing pressure of the shower (shower water) before the silicate film is firmly formed and to prevent the substrate surface from drying. Therefore, an aluminum substrate having a high-quality amorphous deposited film can be obtained.

【0039】アルミニウム合金製シリンダーを基体とし
て用い、本発明の電子写真感光体基体製造方法により電
子写真感光体を実際に形成する手順の一例を、図1で示
す本発明による基体洗浄装置、及び、図3に示す堆積膜
形成装置を用いて以下に説明する。
An example of a procedure for actually forming an electrophotographic photosensitive member by the method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member substrate of the present invention using a cylinder made of an aluminum alloy as a substrate is shown in FIG. This will be described below using the deposited film forming apparatus shown in FIG.

【0040】図1に示す基体洗浄装置に収納される基体
は例えば以下の様な処理が予め施されていることがあ
り、その処理を詳述すると、精密切削用のエアダンパー
付旋盤に、ダイヤモンドバイト(商品名:ミラクルバイ
ト、東京ダイヤモンド製)を、シリンダー中心角に対し
て5°の角のすくい角を得るようにセットし、ついで、
この旋盤の回転フランジに、基体を真空チャックして固
定し、付設したノズルから白燈油噴霧、同じく付設した
真空ノズルから切り粉の吸引を併用しつつ、周速100
0m/min、送り速度0.01mm/Rの条件で外形
が108mmとなるように鏡面切削を施す。なお、本発
明で使用される基体は必ずしも上述の処理が予めなされ
ている必要はない。
The substrate accommodated in the substrate cleaning apparatus shown in FIG. 1 may be subjected to, for example, the following processing in advance. The processing is described in detail. Set a bite (trade name: Miracle bite, made by Tokyo Diamond) so as to obtain a rake angle of 5 ° with respect to the cylinder center angle.
The base was fixed to the rotating flange of the lathe by vacuum chucking, and spraying of white kerosene from the attached nozzle and suction of the swarf from the attached vacuum nozzle together with a peripheral speed of 100
Mirror cutting is performed so that the outer shape becomes 108 mm under the conditions of 0 m / min and a feed rate of 0.01 mm / R. The substrate used in the present invention does not necessarily need to have been subjected to the above-described treatment in advance.

【0041】切削が終了した基体は図1に示す洗浄装置
に搬送される。図1は基体表面を洗浄する洗浄装置であ
る。洗浄装置は、処理部102と基体搬送機構103よ
り構成されている。処理部102は、基体投入台11
1、脱脂洗浄槽112、リンス槽113、乾燥槽11
4、基体搬出台115よりなっている。脱脂洗浄槽11
2、リンス槽113、乾燥槽114には、液温を一定に
保つ為の温度調節装置(図示せず)が付いている。搬送
機構103は、搬送レール165と搬送アーム161よ
りなり、搬送アーム161は、レール165上を移動す
る移動機構162、基体101を保持するチャッキング
機構163及びチャッキング機構163を上下させるた
めのエアーシリンダー164よりなっている。
The substrate after the cutting is transported to the cleaning device shown in FIG. FIG. 1 shows a cleaning apparatus for cleaning a substrate surface. The cleaning device includes a processing unit 102 and a substrate transport mechanism 103. The processing unit 102 includes the substrate loading table 11
1. Degreasing / washing tank 112, rinsing tank 113, drying tank 11
4. It is composed of a base carrier 115. Degreasing cleaning tank 11
2. The rinsing tank 113 and the drying tank 114 are provided with a temperature controller (not shown) for keeping the liquid temperature constant. The transport mechanism 103 includes a transport rail 165 and a transport arm 161. The transport arm 161 is a moving mechanism 162 that moves on the rail 165, a chucking mechanism 163 that holds the base 101, and air for moving the chucking mechanism 163 up and down. It consists of a cylinder 164.

【0042】投入台上111に置かれた基体101は、
搬送機構103により脱脂洗浄槽112に搬送される。
脱脂洗浄槽112中には界面活性剤を含む水洗浄剤12
2が入っており中で基体101を超音波洗浄して表面に
付着している塵、油脂等を洗浄する。
The substrate 101 placed on the loading table 111 is
The carrier is transported to the degreasing / cleaning tank 112 by the transport mechanism 103.
A water cleaning agent 12 containing a surfactant is contained in the degreasing cleaning tank 112.
2, the substrate 101 is subjected to ultrasonic cleaning to remove dust, oil, and the like adhering to the surface.

【0043】脱脂洗浄工程を終了した基体101は、次
にリンス工程に至る搬送機構103によりリンス槽11
3へ運ばれる。リンス槽113には珪酸塩を添加した洗
浄液123が入っており、25℃の温度に保たれた純水
等により更にすすぎ洗浄が行われる。その後、引き上げ
機構(図示せず)により基体101が引き上げられ、そ
の際にシャワーノズル126により洗浄液123が基体
101にシャワーされる。純水等は工業用導電率計(商
品名:α900R/C、堀場製作所製)により一定にそ
の純度が制御されている。このときシャワーノズル12
6は基体101の表面に対して垂直に吹きつけてもよい
が、あるいは槽外に水分がとびちらないように例えばノ
ズルが下方に向けて水を吹きつけることができるように
角度をかえて水の吹きつけ方向を槽内方向へ向う方向に
設定してもよい。
After the degreasing and cleaning step, the substrate 101 is transferred to the rinsing tank 11 by the transport mechanism 103 which is to be moved to the rinsing step.
It is carried to 3. The rinsing tank 113 contains a cleaning liquid 123 to which silicate has been added, and is further rinsed with pure water or the like kept at a temperature of 25 ° C. Thereafter, the base 101 is pulled up by a lifting mechanism (not shown), and at this time, the cleaning liquid 123 is showered on the base 101 by the shower nozzle 126. The purity of pure water or the like is constantly controlled by an industrial conductivity meter (trade name: α900R / C, manufactured by HORIBA, Ltd.). At this time, the shower nozzle 12
6 may be sprayed perpendicularly to the surface of the base 101, or at an angle so that the nozzle can spray water downward so that water does not flow out of the tank. May be set in the direction toward the inside of the tank.

【0044】リンス工程を終了した基体は次に乾燥工程
に至る、基体101は搬送機構103により乾燥槽11
4へ移動され、60℃の温度に保たれた温純水等にて昇
降装置(図示せず)により引き上げ乾燥が行われる。温
純水等は工業用導電率計(商品名:α900R/C、堀
場製作所製)により純度が一定に制御される。
The substrate after the rinsing step is then subjected to a drying step.
4 and is lifted and dried by a lifting device (not shown) using hot pure water or the like kept at a temperature of 60 ° C. The purity of hot pure water and the like is controlled to be constant by an industrial conductivity meter (trade name: α900R / C, manufactured by HORIBA, Ltd.).

【0045】乾燥工程の終了した基体101は、次に搬
送機構103により搬出台115に運ばれ図1に示す洗
浄装置から搬出される。
Next, the substrate 101 after the drying step is carried to the carry-out table 115 by the carrying mechanism 103 and carried out of the cleaning device shown in FIG.

【0046】次に基体上に図2に示すプラズマCVD法
による光導電部材の堆積膜形成装置を用いてアモルファ
スシリコンを主体とした堆積膜を形成する。
Next, a deposited film mainly composed of amorphous silicon is formed on the substrate by using a photoconductive member deposited film forming apparatus by the plasma CVD method shown in FIG.

【0047】図2に於て反応容器202は、ベースプレ
ート205とカソード電極を兼ねる壁203とトッププ
レート204から構成され、この反応容器202内に
は、アモルファスシリコン堆積膜が形成される基体20
1はカソード電極203の中央部に設置され、アノード
電極も兼ねている。
In FIG. 2, a reaction vessel 202 comprises a base plate 205, a wall 203 also serving as a cathode electrode, and a top plate 204. Inside the reaction vessel 202, a substrate 20 on which an amorphous silicon deposition film is formed is formed.
Reference numeral 1 is provided at the center of the cathode electrode 203 and also serves as an anode electrode.

【0048】この堆積膜形成装置を使用してアモルファ
スシリコン堆積膜を基体201上に形成するには、ま
ず、原料ガス流入バルブ211を閉じ、排気バルブ21
4を開け、反応容器202を排気する。真空計(図示せ
ず)の読みが約6.65×10-4Paになった時点で原
料ガス流入バルブ211を開く。ガスは原料ガス導入管
209、210を介して反応容器202内に供給され
る。原料ガス導入管は、複数の開口部を有する。開口部
は図2において点線で示されているが線がえがかれてい
ないところが複数の開口部に対応する。ガス流量は、マ
スフローコントローラー212内で所定の流量に調整さ
れる。例えばSiH4 ガス等の原料ガスを反応容器20
2内に流入させる。そして基体201の表面温度が加熱
ヒーター208により所定の温度に設定されている事を
確認した後、高周波電源(周波数:13.56MHz)
216を所望の電力に設定して反応容器202内にグロ
ー放電を生起させる。
In order to form an amorphous silicon deposited film on the substrate 201 using this deposited film forming apparatus, first, the source gas inflow valve 211 is closed, and the exhaust valve 21 is closed.
4 is opened, and the reaction vessel 202 is evacuated. When the reading of the vacuum gauge (not shown) reaches about 6.65 × 10 −4 Pa, the source gas inflow valve 211 is opened. The gas is supplied into the reaction vessel 202 through the source gas introduction pipes 209 and 210. The source gas introduction pipe has a plurality of openings. The openings are indicated by dotted lines in FIG. 2, but the portions not drawn correspond to the plurality of openings. The gas flow rate is adjusted to a predetermined flow rate in the mass flow controller 212. For example, a raw material gas such as SiH 4 gas
2 Then, after confirming that the surface temperature of the base 201 is set to a predetermined temperature by the heater 208, a high frequency power supply (frequency: 13.56 MHz)
216 is set to a desired electric power to cause glow discharge in the reaction vessel 202.

【0049】又、堆積膜形成を行っている間は、堆積膜
形成の均一化を図るために基体201をモーター(図示
せず)により長尺方向を軸に一定速度で回転させる。こ
の様にして基体201上に、アモルファスシリコン堆積
膜を形成する。
During formation of the deposited film, the substrate 201 is rotated at a constant speed about a longitudinal direction by a motor (not shown) in order to make the deposited film uniform. In this way, an amorphous silicon deposition film is formed on the base 201.

【0050】本発明に於いて、基体表面は凹凸を平坦に
処理され、前述したように鏡面加工したもの、あるいは
干渉縞防止等の目的で非鏡面にしたもの、或は所望形状
の凹凸を付与したものでも良い。
In the present invention, the surface of the substrate is processed to have a flat surface, and the surface is mirror-finished as described above, or the surface is made non-mirror for the purpose of preventing interference fringes, or irregularities having a desired shape are provided. May be done.

【0051】また、アルミニウム表面に部分的に露出し
ているSiあるいはFeあるいはCu等の原子が多い部
分では腐食が促進されやすい事から、本発明はリンス工
程に於いて珪酸塩を添加し基体表面上に皮膜形成を行う
ことは先述のとおりである。その理由は基体が純水等に
接触する前に皮膜を形成する必要があるからである。な
お本発明はリンス洗浄工程に於いてのみ珪酸塩を液体に
含めて使用する以外に、脱脂洗浄工程、乾燥工程の少な
くともいずれか一方の工程に於いても洗浄工程と併せて
珪酸塩を液体に含めて使用してもよい。
In addition, since corrosion is easily promoted in a portion of the aluminum surface which is partially exposed to atoms such as Si, Fe, or Cu, the present invention provides a method of adding a silicate in the rinsing step to add a silicate. The formation of a film thereon is as described above. The reason is that it is necessary to form a film before the substrate comes into contact with pure water or the like. In the present invention, in addition to using the silicate in the liquid only in the rinse cleaning step, the silicate is converted into the liquid together with the cleaning step in at least one of the degreasing cleaning step and the drying step. It may be used in combination.

【0052】本発明のインヒビターとして、燐酸塩、珪
酸塩、ほう酸塩等を挙げる事が出来るが、珪酸塩が本発
明には特に好ましい。
The inhibitors of the present invention include phosphates, silicates, borates and the like, and silicates are particularly preferred in the present invention.

【0053】又、珪酸塩の中でも、珪酸カリウム、珪酸
ナトリウム等のいずれを使用しても良いが珪酸カリウム
が本発明には特に好ましく、基体上に安定な皮膜を形成
することが出来る。
Further, among silicates, any of potassium silicate, sodium silicate and the like may be used, but potassium silicate is particularly preferred in the present invention, and a stable film can be formed on the substrate.

【0054】又、本発明に於いて用いられる界面活性剤
は、陰イオン性界面活性剤、陽イオン性界面活性剤、非
イオン性界面活性剤、両性界面活性剤、又はそれらの混
合したもの等いずれの物でも可能である。中でも、液体
(水)中がアルカリ性である場合カルボン酸塩、スルホ
ン酸塩、硫酸エステル塩、燐酸エステル塩等の陰イオン
性界面活性剤、又は、脂肪酸エステル等の非イオン性界
面活性剤を使用する事が本発明では好ましい。
The surfactant used in the present invention may be an anionic surfactant, a cationic surfactant, a nonionic surfactant, an amphoteric surfactant, or a mixture thereof. Any thing is possible. Above all, when the liquid (water) is alkaline, use an anionic surfactant such as a carboxylate, a sulfonate, a sulfate or a phosphate, or a nonionic surfactant such as a fatty acid ester. Is preferred in the present invention.

【0055】本発明の脱脂洗浄工程、リンス工程、ある
いは乾燥工程において用いられる半導体グレードの純
水、特に超LSIグレードの超純水が望ましい。具体的
には、水温25℃の時の抵抗率として、下限値は1MΩ
・cm以上、好ましくは3MΩ・cm以上、最適には5
Ω・cm以上が本発明には適している。上限値は理論抵
抗値(18.25MΩ・cm)までの何れの値でも可能
であるが、コスト、生産性の面から17MΩ・cm以
下、好ましくは15MΩ・cm以下、最適には13MΩ
・cm以下が本発明には適している。微粒子量として
は、0.2μm以上が1ミリリットル中に10000個
以下、好ましくは1000個以下、最適には100個以
下が本発明には適している。微生物量としては、総生菌
数が1ミリリットル中に100個以下、好ましくは10
個以下、最適には1個以下が本発明には適している。有
機物量(TOC)は、1リットル中に10mg以下、好
ましくは1mg以下、最適には0.2mg以下が本発明
には適している。
It is desirable to use semiconductor grade pure water, particularly ultra LSI grade ultrapure water, which is used in the degreasing washing step, rinsing step or drying step of the present invention. Specifically, the lower limit is 1 MΩ as the resistivity at a water temperature of 25 ° C.
Cm or more, preferably 3 MΩcm or more, optimally 5
Ω · cm or more is suitable for the present invention. The upper limit value can be any value up to the theoretical resistance value (18.25 MΩ · cm), but from the viewpoint of cost and productivity, 17 MΩ · cm or less, preferably 15 MΩ · cm or less, and optimally 13 MΩ / cm.
Cm or less is suitable for the present invention. Regarding the amount of fine particles, 0.2 μm or more is preferably 10,000 or less, preferably 1000 or less, and optimally 100 or less per milliliter in the present invention. As the amount of microorganisms, the total viable count is 100 or less per milliliter, preferably 10
No more than one, optimally no more than one is suitable for the present invention. An amount of organic matter (TOC) of 10 mg or less per liter, preferably 1 mg or less, optimally 0.2 mg or less is suitable for the present invention.

【0056】上記の水質の水を得る方法としては、活性
炭法、蒸留法、イオン交換法、フィルター濾過法、逆浸
透法、紫外線殺菌法等があるが、これらの方法を複数組
み合わせて用い、要求される水質まで高めることが望ま
しい。
As a method for obtaining the water having the above-mentioned water quality, there are an activated carbon method, a distillation method, an ion exchange method, a filter filtration method, a reverse osmosis method, an ultraviolet sterilization method, and the like. It is desirable to increase the water quality to be used.

【0057】本発明に於いて、界面活性剤を含む水系洗
浄剤の温度は、高すぎると基体表面に液跡によるシミが
発生し、堆積膜を剥れ易くしてしまう。又、温度が低す
ぎると充分な脱脂効果を得ることができない。本発明に
おいて用いられる液体の温度の範囲としては、10℃以
上、60℃以下、好ましくは15℃以上、50℃以下、
最適には20℃以上、40℃以下の範囲である。
In the present invention, if the temperature of the aqueous cleaning agent containing a surfactant is too high, spots due to liquid traces are generated on the surface of the substrate, and the deposited film is easily peeled off. If the temperature is too low, a sufficient degreasing effect cannot be obtained. The range of the temperature of the liquid used in the present invention is 10 ° C or higher and 60 ° C or lower, preferably 15 ° C or higher and 50 ° C or lower,
Optimally, it is in the range of 20 ° C. or more and 40 ° C. or less.

【0058】本発明に於いて、脱脂洗浄工程で用いられ
る単位体積中の水に含まれる界面活性剤は重量%濃度
は、濃すぎると液跡によるシミが発生してしまい、堆積
膜の剥れ等の原因となる。
In the present invention, if the surfactant contained in water in a unit volume used in the degreasing and washing step has a weight percent concentration, if the concentration is too high, stains due to liquid traces are generated, and the deposited film is peeled off. Etc.

【0059】薄すぎると脱脂効果が小さくなってしま
う。本発明において用いられる単位体積中の液体(水)
に含まれる界面活性剤の重量%濃度の範囲は、0.1w
t%以上、20wt%以下、好ましくは1wt%以上、
10wt%以下、最適には2wt%以上、8wt%以下
の範囲である。
If it is too thin, the degreasing effect will be reduced. Liquid (water) in unit volume used in the present invention
The range of the concentration by weight of the surfactant contained in is 0.1 w
t% or more, 20 wt% or less, preferably 1 wt% or more,
The range is 10 wt% or less, optimally 2 wt% or more and 8 wt% or less.

【0060】本発明に於いて、界面活性剤を含む水系洗
浄剤のpHは、高すぎると液跡によるシミが発生してし
まい、堆積膜を剥れ易くしてしまう。又、低すぎると脱
脂効果が小さく、本発明の効果が充分得られない。本発
明において用いられる界面活性剤を含む水系洗浄剤のp
Hの値の範囲は、8以上、12.5以下、好ましくは9
以上、12以下、最適には10以上、11.5以下の範
囲である。
In the present invention, if the pH of the aqueous detergent containing a surfactant is too high, stains due to liquid traces are generated, and the deposited film is easily peeled off. On the other hand, if it is too low, the degreasing effect is small, and the effect of the present invention cannot be sufficiently obtained. P of aqueous detergent containing surfactant used in the present invention
The range of the value of H is 8 or more and 12.5 or less, preferably 9 or more.
The range is not less than 12 and, optimally, not less than 10 and not more than 11.5.

【0061】本発明に於いて、基体表面上に皮膜形成を
行う場合に用いられる水に含まれる珪酸塩の濃度は、濃
すぎると液跡によるシミが発生してしまい、堆積膜を剥
れ易くしてしまう。又、薄すぎると皮膜効果が小さく本
発明の効果が十分に得られない。この為、単位体積あた
りの前記水に含まれる珪酸塩の重量%濃度の範囲は、
0.05wt%以上、2wt%以下、好ましくは0.1
wt%以上、1.5wt%以下、最適には0.2wt%
以上、1wt%以下の範囲である。
In the present invention, if the concentration of the silicate contained in the water used for forming a film on the surface of the substrate is too high, spots due to liquid traces are generated and the deposited film is easily peeled off. Resulting in. On the other hand, if the thickness is too small, the effect of the film is small and the effect of the present invention cannot be sufficiently obtained. For this reason, the range of the concentration by weight of the silicate contained in the water per unit volume is as follows:
0.05 wt% or more and 2 wt% or less, preferably 0.1 wt%
wt% or more, 1.5 wt% or less, optimally 0.2 wt%
The range is 1 wt% or less.

【0062】本発明に於いて、アルミニウム基体上に形
成される皮膜の膜厚は薄くては効果が現れず厚過ぎると
アルミニウム基体とその上に形成される堆積膜との導電
性が下がるという弊害が出てしまう。この為、皮膜の膜
厚の範囲としては5Å以上150Å以下、好ましくは1
0Å以上130Å以下、最適には15Å以上120Å以
下の範囲である。
In the present invention, the effect is not exhibited if the thickness of the film formed on the aluminum substrate is too small. If the thickness is too large, the conductivity between the aluminum substrate and the deposited film formed thereon is reduced. Comes out. For this reason, the range of the thickness of the film is 5 ° to 150 °, preferably 1 °.
The range is from 0 ° to 130 °, optimally from 15 ° to 120 °.

【0063】本発明に於いて、アルミニウム基体上に形
成されるAl−Si−O皮膜の組成比としてはSiやO
が少なくてはAlの成分が多く皮膜として不十分であ
り、多くても導電性が下がってしまう為適さない。Al
を1とした時にSiは0.1以上1.0以下、好ましく
は0.15以上0.8以下、最適には0.2以上0.6
以下が適している。
In the present invention, the composition ratio of the Al—Si—O film formed on the aluminum substrate is set to Si or O.
If the content is small, the content of Al is large and the film is insufficient, and even if the content is large, the conductivity is lowered, which is not suitable. Al
Is set to 1, Si is 0.1 or more and 1.0 or less, preferably 0.15 or more and 0.8 or less, and most preferably 0.2 or more and 0.6 or less.
The following are suitable:

【0064】本発明に於いてリンス洗浄終了後、シャワ
ー洗浄を行う場合、水の圧力は、強すぎると皮膜が剥が
れ落ちてしまい、又、弱すぎるとリンスの効果が現れな
い為、シャワーする水の圧力と流量のバランスを上手く
取る事が重要であり水の圧力は4.9×103 (Pa)
以上9.8×104 (Pa)以下、より好ましくは6.
9×103 (Pa)以上7.8×104 (Pa)以下が
本発明には適しており、同時に流量は1l/min以
上、20l/min以下、より好ましくは3l/min
以上、16l/min以下が本発明には適している。こ
のとき、例えば図1に示すパソコン等の制御手段180
によって水の圧力と流量をコントロールすることも精度
の高い洗浄を短時間で行えるので好ましい。あるいは制
御手段180を用いず手動で制御してもよい。
In the present invention, when shower cleaning is performed after rinsing cleaning, if the pressure of water is too high, the film is peeled off, and if the pressure is too weak, the rinsing effect does not appear. It is important to balance the pressure and flow rate of the water well, and the water pressure is 4.9 × 10 3 (Pa)
Not less than 9.8 × 10 4 (Pa), more preferably not more than 6.
9 × 10 3 (Pa) or more and 7.8 × 10 4 (Pa) or less is suitable for the present invention, and at the same time, the flow rate is 1 l / min or more and 20 l / min or less, more preferably 3 l / min.
As described above, 16 l / min or less is suitable for the present invention. At this time, for example, the control unit 180 such as a personal computer shown in FIG.
It is also preferable to control the pressure and flow rate of water because highly accurate cleaning can be performed in a short time. Alternatively, the control may be performed manually without using the control unit 180.

【0065】本発明の脱脂洗浄工程、リンス工程で、超
音波を用いることは本発明の脱脂効果、あるいはリンス
効果を出す上で有効である。超音波の周波数の範囲は、
好ましくは100Hz以上、10MHz以下、更に好ま
しくは1kHz以上、5MHz以下、最適には10kH
z以上100kHz以下の範囲が効果的である。超音波
の出力は、好ましくは0.1W/リットル以上、1kW
/リットル以下、更に好ましくは1W/リットル以上、
100W/リットル以下が効果的である。
The use of ultrasonic waves in the degreasing and washing steps and the rinsing step of the present invention is effective in achieving the degreasing or rinsing effect of the present invention. The range of ultrasonic frequencies is
Preferably 100 Hz or more and 10 MHz or less, more preferably 1 kHz or more and 5 MHz or less, optimally 10 kHz
The range from z to 100 kHz is effective. The output of the ultrasonic wave is preferably 0.1 W / liter or more and 1 kW.
/ L or less, more preferably 1W / L or more,
100 W / liter or less is effective.

【0066】上述した様にリンス工程あるいは乾燥工程
に於いて用いられる水に珪酸塩を溶解させる事で基体に
皮膜を形成させる事も好ましい。又、本発明はリンス工
程、あるいは乾燥工程に於いて使用される水に、二酸化
炭素を溶解させてリンス効果、あるいは乾燥効果を向上
させても良い。この時水の水質は、非常に重要であり二
酸化炭素溶解前の状態では半導体グレードの純水、特に
超LSIグレードの超純水が望ましい。具体的には、水
温25℃の時の抵抗率として、下限値は1MΩ・cm以
上、好ましくは3MΩ・cm以上、最適には5MΩ・c
m以上が本発明には適している。抵抗値の上限は理論抵
抗値(18.25MΩ・cm)までの何れの値でも可能
であるが、コスト、生産性の面から17MΩ・cm以
下、好ましくは15MΩ・cm以下、最適には13MΩ
・cm以下が本発明には適している。微粒子量として
は、0.2μm以上が1ミリリットル中に10000個
以下、好ましくは1000個以下、最適には100個以
下が本発明には適している。微生物量としては、総生菌
数が1ミリリットル中に100個以下、好ましくは10
個以下、最適には1個以下が本発明には適している。有
機物量(TOC)は、1リットル中に10mg以下、好
ましくは1mg以下、最適には0.2mg以下が本発明
には適している。
As described above, it is also preferable to form a film on the substrate by dissolving the silicate in water used in the rinsing step or the drying step. In the present invention, carbon dioxide may be dissolved in water used in the rinsing step or the drying step to improve the rinsing effect or the drying effect. At this time, the quality of the water is very important, and in a state before dissolving carbon dioxide, pure water of a semiconductor grade, particularly ultrapure water of an ultra LSI grade is desirable. Specifically, the lower limit of the resistivity at a water temperature of 25 ° C. is 1 MΩ · cm or more, preferably 3 MΩ · cm or more, and optimally 5 MΩ · c.
m or more is suitable for the present invention. The upper limit of the resistance value can be any value up to the theoretical resistance value (18.25 MΩ · cm), but from the viewpoint of cost and productivity, 17 MΩ · cm or less, preferably 15 MΩ · cm or less, and optimally 13 MΩ / cm.
Cm or less is suitable for the present invention. Regarding the amount of fine particles, 0.2 μm or more is preferably 10,000 or less, preferably 1000 or less, and optimally 100 or less per milliliter in the present invention. As the amount of microorganisms, the total viable count is 100 or less per milliliter, preferably 10
No more than one, optimally no more than one is suitable for the present invention. An amount of organic matter (TOC) of 10 mg or less per liter, preferably 1 mg or less, optimally 0.2 mg or less is suitable for the present invention.

【0067】上記の水質の水を得る方法としては、活性
炭法、蒸留法、イオン交換法、フィルター濾過法、逆浸
透法、紫外線殺菌法等があるが、これらの方法を複数組
み合わせて用い、要求される水質まで高めることが望ま
しい。
As a method for obtaining the above-mentioned water of the quality, there are an activated carbon method, a distillation method, an ion exchange method, a filter filtration method, a reverse osmosis method, an ultraviolet sterilization method, and the like. It is desirable to increase the water quality to be used.

【0068】これらの水に溶解する二酸化炭素の量は飽
和溶解度までのいずれの量でも本発明は可能だが、多す
ぎると水温が変動した時に泡が発生し基体表面に付着す
る事により斑点状のシミが発生する場合がある。更に、
溶解した二酸化炭素の量が多いとpHが小さくなる為、
基体にダメージを与える場合がある。一方、溶解した二
酸化炭素の量が少なすぎると本発明の効果である高いリ
ンス効果、あるいは乾燥効果を得ることが出来ない。
The amount of carbon dioxide dissolved in water can be any amount up to the saturation solubility, but the present invention is possible. However, if it is too large, bubbles are generated when the water temperature fluctuates and adhere to the surface of the substrate to form spots. Spots may occur. Furthermore,
If the amount of dissolved carbon dioxide is large, the pH will decrease,
The substrate may be damaged. On the other hand, if the amount of dissolved carbon dioxide is too small, the high rinsing effect or drying effect of the present invention cannot be obtained.

【0069】基体に要求される品質等を考慮しながら、
状況に合わせて二酸化炭素の溶解量を最適化する必要が
ある。
Considering the quality and the like required for the substrate,
It is necessary to optimize the amount of dissolved carbon dioxide according to the situation.

【0070】一般的に本発明による好ましい二酸化炭素
の溶解量は飽和溶解度の60%以下、更に好ましくは4
0%の条件である。
In general, the preferred amount of carbon dioxide dissolved according to the present invention is not more than 60% of the saturation solubility, more preferably 4%.
The condition is 0%.

【0071】本発明のリンス工程に於いて二酸化炭素の
溶解量は水の導電率またはpHで管理することが実用的
であるが、導電率で管理した場合、好ましい範囲は2μ
S/cm以上、40μS/cm以下、更に好ましくは4
μS/cm以上、30μS/cm以下、6μS/cm以
上、25μS/cm以下、pHで管理した場合、好まし
い範囲は3.8以上、6.0以下、更に好ましくは4.
0以上、5.0以下で本発明は効果が顕著である。導電
率の測定は導電率計等により行い、値としては温度補正
により25℃に換算した値を用いる。
In the rinsing step of the present invention, it is practical to control the dissolved amount of carbon dioxide by the conductivity or pH of water, but when controlled by the conductivity, the preferable range is 2 μm.
S / cm or more, 40 μS / cm or less, more preferably 4 μS / cm or less
The range is preferably 3.8 or more and 6.0 or less, and more preferably 4.mu.S / cm or more, 30 .mu.S / cm or less, 6 .mu.S / cm or more, 25 .mu.S / cm or less and pH.
When the value is 0 or more and 5.0 or less, the effect of the present invention is remarkable. The conductivity is measured by a conductivity meter or the like, and a value converted to 25 ° C. by temperature correction is used.

【0072】二酸化炭素を含む水の温度は、5℃以上、
90℃以下、好ましくは10℃以上、55℃以下、最適
には15℃以上、40℃以下が本発明には適している。
The temperature of water containing carbon dioxide is 5 ° C. or more,
90 ° C. or lower, preferably 10 ° C. or higher and 55 ° C. or lower, optimally 15 ° C. or higher and 40 ° C. or lower are suitable for the present invention.

【0073】二酸化炭素を水に溶解させる方法はバブリ
ングによる方法、隔膜を用いる方法等いずれでも良い。
又、本発明に於いては、溶質として二酸化炭素を用いる
が、その理由は、溶質として例えば炭酸ナトリウム等の
炭酸塩を用いた場合に起こりうる、ナトリウムイオン等
の陽イオンによる基体への影響を防ぐことが出来る。
The method of dissolving carbon dioxide in water may be any of a method by bubbling and a method using a diaphragm.
Further, in the present invention, carbon dioxide is used as a solute, because the influence of a cation such as sodium ion on a substrate, which may occur when a carbonate such as sodium carbonate is used as a solute, is used. Can be prevented.

【0074】この様にして二酸化炭素を溶解した水を用
いて基体表面を洗浄する時は、二酸化炭素を溶解した水
を導入した水槽に基体を浸漬する事が基本であるが、そ
の際に超音波を印加したり、水流を与えたり、空気等に
よりバブリングを行ったりすることを併用すると本発明
は更に効果的なものとなる。
When the surface of the substrate is washed with water in which carbon dioxide is dissolved in this way, it is fundamental to immerse the substrate in a water tank into which water in which carbon dioxide is dissolved is introduced. The present invention will be more effective if sound waves are applied, a water stream is applied, or bubbling is performed with air or the like.

【0075】二酸化炭素を溶解した水による洗浄処理の
処理時間は、10秒以上、30分以下、好ましくは20
秒以上、20分以下、最適には30秒以上、10分以下
が本発明には適している。
The treatment time of the washing treatment with water in which carbon dioxide is dissolved is 10 seconds or more and 30 minutes or less, preferably 20 minutes or less.
A time period of not less than seconds and not more than 20 minutes, optimally not less than 30 seconds and not more than 10 minutes is suitable for the present invention.

【0076】本発明の乾燥工程に於いて二酸化炭素の溶
解量は水の導電率又はpHで管理する事が実用的である
が、導電率で管理した場合、好ましい範囲は5μS/c
m以上、40μS/cm以下、更に好ましくは6μS/
cm以上、35μS/cm以下、8μS/cm以上、3
0μS/cm以下、pHで管理した場合、好ましい範囲
は3.8以上、6.0以下、更に好ましくは4.0以
上、5.0以下で本発明は効果が顕著である。導電率の
測定は導電率計等により行い、値としては温度補正によ
り25℃に換算した値を用いる。なお二酸化炭素を溶解
させる水の純度、二酸化炭素を溶解させる溶解方法はリ
ンス工程における方法と同じである。
In the drying step of the present invention, it is practical to control the dissolved amount of carbon dioxide by the conductivity or pH of water, but when controlled by the conductivity, the preferable range is 5 μS / c.
m or more and 40 μS / cm or less, more preferably 6 μS / cm
cm or more, 35 μS / cm or less, 8 μS / cm or more, 3
When the pH is controlled at 0 μS / cm or less, the preferable range is 3.8 or more and 6.0 or less, more preferably 4.0 or more and 5.0 or less, and the effect of the present invention is remarkable. The conductivity is measured by a conductivity meter or the like, and a value converted to 25 ° C. by temperature correction is used. The purity of water for dissolving carbon dioxide and the dissolving method for dissolving carbon dioxide are the same as those in the rinsing step.

【0077】温水の温度は、30℃以上、90℃以下、
好ましくは35℃以上、80℃以下、最適には40℃以
上、70℃以下が本発明には適している。
The temperature of the hot water is 30 ° C. or more and 90 ° C. or less,
Preferably 35 ° C. or higher and 80 ° C. or lower, optimally 40 ° C. or higher and 70 ° C. or lower are suitable for the present invention.

【0078】引き上げ乾燥する際の引き上げ速度は非常
に重要であり、乾燥によるムラを発生させないようにす
ることが必要で、前記引き上げ速度の好ましい範囲は1
00mm/min以上、2000mm/min、更に好
ましくは200mm/min、最適には300mm/m
in以上、1000mm/minの範囲が本発明には適
している。
The pulling speed at the time of pulling and drying is very important, and it is necessary to prevent unevenness due to drying.
00 mm / min or more, 2000 mm / min, more preferably 200 mm / min, optimally 300 mm / m
The range of not less than in and 1000 mm / min is suitable for the present invention.

【0079】二酸化炭素を溶解した水による洗浄処理か
ら基体上に堆積膜を形成するための堆積膜形成装置へ投
入するまでの時間は、長すぎると本発明の効果が小さく
なってしまい、短すぎると工程が安定しないため、1分
以上、8時間以下、好ましくは2分以上、4時間以下、
最適には3分以上、2時間以下の範囲とすることが本発
明には適している。
If the time from the cleaning treatment with water in which carbon dioxide is dissolved to the introduction into the deposited film forming apparatus for forming the deposited film on the substrate is too long, the effect of the present invention is reduced, and the time is too short. And the process is not stable, so that it is 1 minute or more and 8 hours or less, preferably 2 minutes or more and 4 hours or less,
Optimally, the range of 3 minutes or more and 2 hours or less is suitable for the present invention.

【0080】本発明に於いて、基体の材質は、アルミニ
ウムを母体としたものであれば何れも可能であるが、ア
ルミニウム基体が鉄(Fe)を10ppm以上含有、ア
ルミニウム基体がケイ素(Si)を10ppm以上含
有、アルミニウム基体が銅(Cu)を10ppm以上含
有でFe+Si+Cuの総含有量が、0.01wt%を
越え、1wt%以下含有したものが本発明には適してい
る。
In the present invention, any material can be used for the substrate as long as it has aluminum as a base material. The aluminum substrate contains at least 10 ppm of iron (Fe) and the aluminum substrate contains silicon (Si). It is suitable for the present invention that the aluminum base contains 10 ppm or more, and the aluminum base contains 10 ppm or more of copper (Cu) and the total content of Fe + Si + Cu exceeds 0.01 wt% and 1 wt% or less.

【0081】本発明に於いて基体の加工性を向上させる
為にマグネシウムを含有させる事は有効である。好まし
いマグネシウムの含有量としては、0.1wt%を以
上、10wt%以下、更に好ましくは0.2wt%以
上、5wt%以下の範囲である。
In the present invention, it is effective to include magnesium in order to improve the workability of the substrate. The preferable content of magnesium is in the range of 0.1 wt% or more and 10 wt% or less, more preferably 0.2 wt% or more and 5 wt% or less.

【0082】更に本発明では、Fe,Cu,Siの元素
の他の元素記号であらわすH,Li,Na,K,Be,
Ca,Ti,Cr,Mn,Co,Ni,Ag,Zn,C
d,Hg,B,Ca,In,C,Ge,Sn,N,P,
As,O,S,Se,F,Cl,Br,I等の元素がア
ルミニウム中に含有されていてもよい。
Further, in the present invention, H, Li, Na, K, Be,
Ca, Ti, Cr, Mn, Co, Ni, Ag, Zn, C
d, Hg, B, Ca, In, C, Ge, Sn, N, P,
Elements such as As, O, S, Se, F, Cl, Br, and I may be contained in aluminum.

【0083】本発明に於いて基体の形状は、所望によっ
て決定されるが、例えば電子写真用として使用するので
あれば、連続高速複写機の場合には、無端ベルト状又は
前述した様に円筒形の物が本発明に最適である。円筒状
の場合基体の大きさは特に制限はないが、実用的には外
径20mm以上、500mm以下、長さ10mm以上、
1000以下が好ましい。支持体の厚みは、所望通りの
光導電部材が形成される様に適宜決定されるが、光導電
部材として可能性が要求される場合には、支持体として
の機能が十分発揮される範囲内であれば可能な限り薄く
される。しかしながら、この様な場合にも、支持体の製
造上及び取り扱い上、更には機械的強度等の点から、通
常は10μm以上とされる。
In the present invention, the shape of the substrate is determined as desired. For example, if the substrate is to be used for electrophotography, in the case of a continuous high-speed copying machine, it is in the form of an endless belt or cylindrical as described above. Are the most suitable for the present invention. In the case of a cylindrical shape, the size of the substrate is not particularly limited, but practically, the outer diameter is 20 mm or more, 500 mm or less, the length is 10 mm or more,
1000 or less is preferred. The thickness of the support is appropriately determined so that a desired photoconductive member is formed. However, when the possibility of the photoconductive member is required, the thickness is within a range where the function as the support is sufficiently exhibited. If possible, make it as thin as possible. However, even in such a case, the thickness is usually 10 μm or more from the viewpoints of production and handling of the support, mechanical strength and the like.

【0084】本発明で用いられる感光体は、アモルファ
スシリコン感光体、セレン感光体、硫化カドミニウム感
光体、有機物感光体等何れでも可能であるが、特にアモ
ルファスシリコン感光体等の珪素を含む非単結晶感光体
の場合その効果が顕著である。
The photoreceptor used in the present invention may be any of an amorphous silicon photoreceptor, a selenium photoreceptor, a cadmium sulfide photoreceptor, and an organic photoreceptor. In the case of a photoreceptor, the effect is remarkable.

【0085】珪素を含む非単結晶感光体を作成する場
合、堆積膜形成時に使用される原料ガスとしては、シラ
ン(SiH4 )、ジシラン(Si26 )、四弗化珪素
(SiF4 )、六弗化二珪素(Si26 )等のアモル
ファスシリコン形成原料ガス又はそれらの混合ガスが挙
げられる。
When a non-single-crystal photoconductor containing silicon is prepared, silane (SiH 4 ), disilane (Si 2 H 6 ), and silicon tetrafluoride (SiF 4 ) are used as source gases for forming a deposited film. And an amorphous silicon forming material gas such as disilicon hexafluoride (Si 2 F 6 ) or a mixed gas thereof.

【0086】希釈ガスとしては水素(H2 )、アルゴン
(Ar)、ヘリウム(He)等が挙げられる。
As the diluting gas, hydrogen (H 2 ), argon (Ar), helium (He) and the like can be mentioned.

【0087】又、堆積膜のバンドッギャップ幅を任意に
調節するため等に用いる特性改善ガスとして、窒素(N
2 )、アンモニア(NH3 )等の窒素原子を含む元素、
酸素(O2 )、一酸化窒素(NO)、二酸化窒素(NO
2 )、酸化二窒素(N2 O)、一酸化炭素(CO)、二
酸化炭素(CO2 )等酸素原子を含む元素、メタン(C
4 )、エタン(C26 )、エチレン(C24 )、
アセチレン(C22)、プロパン(C38 )等の炭
化水素、四弗化ゲルマニウム(GeF4 )、弗化窒素
(NF3 )等の弗素化合物またはこれらの混合ガスが挙
げられる。
As a characteristic improving gas used to arbitrarily adjust the band gap width of the deposited film, nitrogen (N
2 ), an element containing a nitrogen atom such as ammonia (NH 3 ),
Oxygen (O 2 ), nitric oxide (NO), nitrogen dioxide (NO
2 ), dinitrogen oxide (N 2 O), carbon monoxide (CO), carbon dioxide (CO 2 ) and other elements containing oxygen atoms, methane (C
H 4 ), ethane (C 2 H 6 ), ethylene (C 2 H 4 ),
Examples thereof include hydrocarbons such as acetylene (C 2 H 2 ) and propane (C 3 H 8 ), fluorine compounds such as germanium tetrafluoride (GeF 4 ) and nitrogen fluoride (NF 3 ), and a mixed gas thereof.

【0088】又、本発明に於ては、ドーピングを目的と
してジボラン(B26 )、フッ化ほう素(BF3 )、
ホスフィン(PH3 )等のドーパントガスを同時に放電
空間に導入しても本発明は同様に有効である。
In the present invention, diborane (B 2 H 6 ), boron fluoride (BF 3 ),
The present invention is similarly effective when a dopant gas such as phosphine (PH 3 ) is simultaneously introduced into the discharge space.

【0089】本発明の電子写真感光体では、基体上に堆
積した堆積膜の総膜厚はいずれでも良いが、5μm以
上、100μm以下、更に好ましくは10μm以上、7
0μm以下、最適には15μm以上、50μm以下に於
て、電子写真感光体として特に良好な画像を得る事が出
来た。
In the electrophotographic photoreceptor of the present invention, the total thickness of the deposited film deposited on the substrate may be any, but 5 μm or more and 100 μm or less, more preferably 10 μm or more and 7 μm or more.
When the thickness is 0 μm or less, optimally 15 μm or more and 50 μm or less, a particularly good image as an electrophotographic photosensitive member can be obtained.

【0090】本発明では、堆積膜の堆積中の放電空間の
圧力がいずれの領域でも効果が認められたが、特に6.
6×10-2Pa以上、13.3Pa以下、好ましくは1
3.3×10-2Pa以上、6.65Pa以下に於いて、
放電の安定性及び堆積膜の均一性の面で特に良好な結果
が再現性良く得られた。
In the present invention, the effect of the pressure in the discharge space during the deposition of the deposited film was observed in any region.
6 × 10 -2 Pa or more and 13.3 Pa or less, preferably 1
At 3.3 × 10 -2 Pa or more and 6.65 Pa or less,
Particularly good results were obtained with good reproducibility in terms of discharge stability and uniformity of the deposited film.

【0091】本発明に於いて、堆積膜の堆積時の基体温
度は、100℃以上、500℃以下の範囲で有効である
が、特に150℃以上、450℃以下、好ましくは20
0℃以上、400℃以下、最適には250℃以上、35
0℃以下に於いて著しい効果が確認された。
In the present invention, the substrate temperature at the time of depositing the deposited film is effective in the range of 100 ° C. or more and 500 ° C. or less, but is particularly 150 ° C. or more and 450 ° C. or less, preferably 20 ° C. or less.
0 ° C to 400 ° C, optimally 250 ° C to 35 ° C
A remarkable effect was confirmed below 0 ° C.

【0092】本発明に於いて、基体の加熱手段として
は、真空仕様の発熱体であれば良く、より具体的にはシ
ース状ヒーターの巻き付けヒーター、板状ヒーター、セ
ラミックスヒーター等の電気抵抗発熱体、ハロゲンラン
プ、赤外線ランプ等の熱放射ランプ発熱体、液体、気体
等を温媒とし熱交換手段による発熱体等が挙げられる。
加熱手段の表面材質は、ステンレス、ニッケル、アルミ
ニウム、銅等の金属類、セラミックス、耐熱性高分子樹
脂等を使用する事が出来る。又、それ以外にも、反応容
器とは別に加熱専用の容器を設け、加熱した後、反応容
器内に真空中で基体を搬送する等の方法も使用する事が
出来る。
In the present invention, the heating means for the substrate may be any heating element of a vacuum specification, and more specifically, an electric resistance heating element such as a winding heater of a sheath-like heater, a plate-like heater, or a ceramics heater. , Halogen lamps, infrared lamps and other heat radiation lamp heating elements, heating elements using liquids, gases, etc. as a heating medium and heat exchange means.
As the surface material of the heating means, metals such as stainless steel, nickel, aluminum, and copper, ceramics, heat-resistant polymer resins, and the like can be used. Alternatively, a method may be used in which a heating-only container is provided separately from the reaction container, and after heating, the substrate is transferred into the reaction container in a vacuum.

【0093】以上の手段を単独に又は併用して用いるこ
とが本発明では可能である。
In the present invention, it is possible to use the above means alone or in combination.

【0094】本発明に於いて、プラズマを発生させるエ
ネルギーは、DC、RF、マイクロ波あるいはVHF等
いずれでも可能である。特に、本発明はマイクロ波を用
いた場合に有効であるが、これは本発明が基体上の被膜
がはがれることなく均一に形成されるためであり、その
結果画質ムラの原因となり得る大きさの基体上に吸着す
る水分が存在することを防ぐことができるからである。
もしこの水分を除かぬままマイクロ波を使用して堆積膜
を形成すれば、その水分が原因して堆積膜に異常成長が
顕著に現れ易く、且つ、吸着した水分にマイクロ波が吸
収され、界面の変化がより顕著なものとなり易い。
In the present invention, the energy for generating the plasma may be DC, RF, microwave, VHF, or the like. In particular, the present invention is effective when microwaves are used, but this is because the present invention forms a uniform film without peeling off a film on a substrate, and as a result, a size that may cause unevenness in image quality. This is because it is possible to prevent the presence of moisture adsorbed on the substrate.
If the deposited film is formed using microwaves without removing the water, abnormal growth is likely to appear in the deposited film due to the water, and the absorbed water absorbs the microwave, The change in the interface tends to be more remarkable.

【0095】本発明に於いて、プラズマ発生の為にマイ
クロ波を用いる場合、マイクロ波電力は、放電を発生さ
せる事が出来ればいずれでも良いが、100W以上、1
0kW以下、好ましくは500W以上、4kWが本発明
を実施するに当たり適当である。
In the present invention, when microwaves are used for plasma generation, any microwave power may be used as long as discharge can be generated.
0 kW or less, preferably 500 W or more and 4 kW are suitable for practicing the present invention.

【0096】本発明に於いて、堆積膜形成中に放電空間
に電圧(バイアス電圧)を印加することは有効であり、
少なくとも基体に陽イオンが衝突する方向に電界が掛か
ることが好ましい。なおDC成分の電圧が1V以上、5
00V以下、好ましくは5V以上、100V以下である
バイアス電圧を堆積膜形成中に印加することが望まし
い。
In the present invention, it is effective to apply a voltage (bias voltage) to the discharge space during formation of the deposited film.
It is preferable that an electric field is applied at least in a direction in which cations collide with the substrate. Note that the DC component voltage is 1 V or more and 5
It is desirable to apply a bias voltage of 00 V or less, preferably 5 V or more and 100 V or less during formation of the deposited film.

【0097】本発明に於いて、反応容器内に誘電体窓を
用いてマイクロ波導入する場合、誘電体窓の材質として
はアルミナ(Al23 )、窒化アルミニウム(Al
N)、窒化ボロン(BN)、窒化珪素(SiN)、炭化
珪素(SiC)、酸化珪素(SiO2 )、酸化ベリリウ
ム(BeO)、テフロン(登録商標)、ポリスチレン等
マイクロ波の損失の少ない材料が通常使用される。
In the present invention, when microwaves are introduced into the reactor using a dielectric window, the dielectric window may be made of alumina (Al 2 O 3 ), aluminum nitride (Al
N), boron nitride (BN), silicon nitride (SiN), silicon carbide (SiC), silicon oxide (SiO 2 ), beryllium oxide (BeO), Teflon (registered trademark), polystyrene, and other materials with low microwave loss. Usually used.

【0098】複数の基体で放電空間を取り囲む構成の堆
積膜形成方法に於いては基体の間隔は1mm以上、50
mm以下が好ましい。基体の数は生産性を考慮し、放電
空間を形成出来るならばいずれでも良いが3本以上、よ
り好ましくは4本以上が適当である。
In the method of forming a deposited film in which a discharge space is surrounded by a plurality of substrates, the distance between the substrates is 1 mm or more.
mm or less is preferable. The number of substrates is not particularly limited as long as a discharge space can be formed in consideration of productivity, but is preferably 3 or more, more preferably 4 or more.

【0099】本発明は、いずれの電子写真感光体製造方
法にも適用が可能であるが、特に、放電空間を囲むよう
に基体を設け、少なくとも基体の一端側から導波管によ
りマイクロ波を導入する構成により堆積膜を形成する場
合大きな効果がある。
The present invention can be applied to any electrophotographic photosensitive member manufacturing method. In particular, a base is provided so as to surround a discharge space, and a microwave is introduced from at least one end of the base by a waveguide. When a deposited film is formed by such a configuration, there is a great effect.

【0100】本発明の方法で製造された電子写真感光体
は、電子写真複写機に利用するのみならず、レーザービ
ームプリンター、CRTプリンター、LEDプリンタ
ー、液晶プリンター、レーザー製版機などの電子写真応
用分野にも広く用いることが出来る。
The electrophotographic photosensitive member produced by the method of the present invention is used not only for electrophotographic copying machines but also for electrophotographic applications such as laser beam printers, CRT printers, LED printers, liquid crystal printers, and laser plate making machines. Can be widely used.

【0101】以下、本発明の効果を、実施例を用いて具
体的に説明するが、本発明はこれらにより何ら限定され
るものではない。
Hereinafter, the effects of the present invention will be described specifically with reference to Examples, but the present invention is not limited thereto.

【0102】(実施例1)Siが0.05wt%、Fe
が0.03wt%、Cuが0.01wt%のアルミニウ
ムよりなる直径108mm、長さ358mm、肉厚5m
mの円筒状基体を、前述の本発明による電子写真感光体
の製造方法の手順の一例と同様の手順で表面の切削を行
った。なお本発明で示す基体上に存在するすべての原子
の存在比はX線光電子分光法(XPS)を用いマグネシ
ウム(Mg)からなるX線アノードを使用し、15K
v、400wの出力条件で又、エネルギー分解能を0.
98ev(Ag3d5/2)で、真空度を1.33×1
-7Pa以下の条件として測定された値である。
(Example 1) 0.05 wt% of Si, Fe
Is made of aluminum of 0.03 wt%, Cu is 0.01 wt%, diameter 108 mm, length 358 mm, wall thickness 5 m
The surface of the cylindrical substrate having a length of m was cut in the same procedure as in the above-described example of the procedure of the method for producing an electrophotographic photosensitive member according to the present invention. The abundance ratio of all the atoms present on the substrate shown in the present invention was determined by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) using an X-ray anode made of magnesium (Mg) at 15K.
v, 400 w, and the energy resolution is set to 0.
At 98 ev (Ag3d5 / 2), the degree of vacuum was 1.33 × 1
This is a value measured under the condition of 0 −7 Pa or less.

【0103】基体を切削工程終了15分後に図1に示す
本発明の基体表面洗浄装置に搬送し、表1に示す条件に
て洗剤(非イオン性界面活性剤)による脱脂処理、リン
ス処理、乾燥処理をほどこした。また表3に示す様にイ
ンヒビターを入れる工程を変化させて得られた基体から
阻止型電子写真感光体を製造し、後述する黒ポチ、画像
欠陥の評価をもとに得られた画像を評価した。
The substrate was conveyed to the substrate surface cleaning apparatus of the present invention shown in FIG. 1 15 minutes after the completion of the cutting step, and was degreased, rinsed and dried with a detergent (nonionic surfactant) under the conditions shown in Table 1. The processing was given. Further, as shown in Table 3, an inhibition type electrophotographic photosensitive member was manufactured from the substrate obtained by changing the step of adding the inhibitor, and the obtained image was evaluated based on the evaluation of black spots and image defects described later. .

【0104】尚、本実施例において、脱脂洗浄に用いる
界面活性剤の単位体積あたりの水に含まれる界面活性剤
の濃度は3wt%としている。又、本実施例において使
用されるインヒビターは珪酸カリウムであり、単位体積
あたりの水に含まれる濃度を0.3wt%としている。
In this embodiment, the concentration of the surfactant contained in water per unit volume of the surfactant used for degreasing and washing is 3 wt%. The inhibitor used in this embodiment is potassium silicate, and the concentration of water per unit volume is 0.3 wt%.

【0105】作成した電子写真感光体の電子写真的特性
の評価は以下の通りに行った。つまり、作成した電子写
真感光体を実験用に予めプロセススピードを200〜8
00mm secの範囲で任意に変更し、帯電器に6〜
7kVの電圧を印加してコロナ帯電を行ない、788n
mのレーザー像露光にて電子写真感光体表面に潜像を形
成した後、通常の複写プロセスにより転写紙上に画像を
作製出来るように改造を行ったキヤノン社製複写機、N
P6650にいれ、黒ポチ、画像欠陥の画像評価をおこ
なった。その結果を表3に示す。
The evaluation of the electrophotographic characteristics of the produced electrophotographic photosensitive member was performed as follows. That is, the process speed of the prepared electrophotographic photosensitive member is set to 200 to 8 in advance for the experiment.
Arbitrarily changed within the range of 00 mm sec.
A voltage of 7 kV is applied to perform corona charging, and 788 n
m, a latent image was formed on the surface of the electrophotographic photoreceptor by laser image exposure, and then modified so that an image could be formed on transfer paper by a normal copying process.
In P6650, image evaluation of black spots and image defects was performed. Table 3 shows the results.

【0106】(比較例1)インヒビターを用いなかった
以外は実施例1と同様の方法であり、また同様の方法に
て阻止型電子写真感光体を作成し同様の評価を行なっ
た。その結果を実施例1と同様に表3に示す。
Comparative Example 1 The procedure was the same as that of Example 1 except that no inhibitor was used. A blocking type electrophotographic photosensitive member was prepared in the same manner and evaluated in the same manner. The results are shown in Table 3 as in Example 1.

【0107】黒ポチ、画像欠陥の評価 プロセススピードを変え全面ハーフトーン原稿及び文字
原稿を原稿台に置いてコピーした時に得られた画像サン
プル中で一番画像欠陥の多く現れる画像サンプルを選び
評価を行った。評価の方法としては画像サンプル上を拡
大鏡で観察し同一面積内にある白点の状態により評価を
行った。評価の結果を以下の4つの記号を用いて表にあ
らわす。
Evaluation of Black Spots and Image Defects The image process with the largest number of image defects among the image samples obtained when the entire halftone original and the character original were copied on the platen by changing the process speed was selected and evaluated. went. As an evaluation method, the image sample was observed with a magnifying glass, and evaluation was performed based on the state of white spots within the same area. The results of the evaluation are shown in the table using the following four symbols.

【0108】 ◎…極めて良好 ○…一部微少な欠陥あるが実用上問題が無い良好なレベ
ル △…全面に微少な欠陥があるが実用上問題が無いレベル ×…全面に大きな欠陥があり問題有り
◎: Extremely good…: Good level with some small defects but no practical problem △: Level with slight defects on the entire surface but no practical problem ×: Large defect on the entire surface and problematic

【0109】[0109]

【表1】 [Table 1]

【0110】[0110]

【表2】 [Table 2]

【0111】[0111]

【表3】 [Table 3]

【0112】表3の画像評価結果が示すように基体を純
水接触する前にインヒビターが含まれる水で処理するこ
とにより画像評価の良好な結果を得ることができた。
As shown in the image evaluation results in Table 3, good results in image evaluation could be obtained by treating the substrate with water containing an inhibitor before contacting the substrate with pure water.

【0113】(実施例2)本発明の実施例2は、実施例
1と同様の基体を用い、表1に示すリンス工程でつかう
水を表4の乃至に示すように純水と二酸化炭素を3
通りの組合わせに変化させて用いた。また表5に示すよ
うに、リンス工程、乾燥工程において、インヒビターを
入れるタイミングを変化させた以外は実施例1と同様の
方法にて基体上に阻止型電子写真感光体を作成し、その
後実施例1と同様の方法にて評価を行なった。その結果
を表5に示す。
(Example 2) In Example 2 of the present invention, the same substrate as in Example 1 was used, and water used in the rinsing step shown in Table 1 was converted to pure water and carbon dioxide as shown in Table 4 through Table 4 below. 3
Varying combinations were used. Further, as shown in Table 5, in the rinsing step and the drying step, a blocking type electrophotographic photoreceptor was formed on a substrate in the same manner as in Example 1 except that the timing of adding an inhibitor was changed. Evaluation was performed in the same manner as in Example 1. Table 5 shows the results.

【0114】[0114]

【表4】 [Table 4]

【0115】[0115]

【表5】 [Table 5]

【0116】表5が示す画像評価結果が示すように、基
体を純水で処理する前に二酸化炭素水溶液、あるいはイ
ンヒビターを含む水で処理することで、画像評価の良好
な結果を得ることができた。
As shown in the image evaluation results shown in Table 5, good results in image evaluation can be obtained by treating the substrate with an aqueous solution of carbon dioxide or water containing an inhibitor before treating the substrate with pure water. Was.

【0117】(実施例3)実施例1と同様の基体を用
い、表6に示す方法にて処理を行ない、表7に示す様に
導入する珪酸塩の種類を変更させた。また、実施例1と
同様の方法にて基体上に阻止型電子写真感光体を作成し
同様の方法にて評価を行なった。その結果を表7に示
す。
Example 3 Using the same substrate as in Example 1, the treatment was carried out according to the method shown in Table 6, and the type of silicate to be introduced was changed as shown in Table 7. Further, a blocking type electrophotographic photosensitive member was formed on a substrate in the same manner as in Example 1 and evaluated in the same manner. Table 7 shows the results.

【0118】[0118]

【表6】 [Table 6]

【0119】[0119]

【表7】 [Table 7]

【0120】表7より明らかな様にいずれの珪酸塩を用
いても良好な結果が得られたが特に珪酸カリウムをイン
ヒビターとして用いると一番良好な総合評価を得ること
が出来た。
As is clear from Table 7, good results were obtained with any of the silicates, but the best overall evaluation was obtained especially when potassium silicate was used as the inhibitor.

【0121】(実施例4)実施例1と同様の基体を用
い、実施例3と同じく表6に示す条件にて洗浄を行なっ
た。その時に単位体積あたりの水に溶解させる珪酸カリ
ウムの濃度を表8に示す様に10通りに変化させ、洗浄
後の基体表面をシミの状態を後述する外観(シミ)の確
認方法にもとづき観察した。また、実施例1と同様の方
法にて阻止型電子写真感光体を作製し実施例1と同様の
方法にて評価を行なった。その結果を表8に示す。
(Example 4) Using the same substrate as in Example 1, washing was performed under the conditions shown in Table 6 in the same manner as in Example 3. At that time, the concentration of potassium silicate dissolved in water per unit volume was changed in ten ways as shown in Table 8, and the surface of the substrate after washing was observed based on a method for confirming the appearance (stain) described later. . Further, a blocking type electrophotographic photosensitive member was prepared in the same manner as in Example 1, and the evaluation was performed in the same manner as in Example 1. Table 8 shows the results.

【0122】外観(シミ)の確認 洗浄後の基体表面に強露光の光を反射させ肉眼で確認出
来る基体上のシミを確認した。確認した結果を次の3つ
の記号により表8に表わす。 ○…シミが全く無く良好 △…シミが大変薄く全く問題ない。 ×…シミがはっきりと認められる。
Confirmation of Appearance (Stain) Light of strong exposure was reflected on the surface of the substrate after cleaning, and a stain on the substrate which could be visually confirmed was confirmed. The results are shown in Table 8 using the following three symbols. …: Good without any stains Δ: very thin and no problem at all ×: Spots are clearly recognized.

【0123】[0123]

【表8】 [Table 8]

【0124】表8から単位体積あたりの水に溶解する珪
酸カリウムの濃度が0.05wt以上2.0wt以下の
範囲において良好な結果が得られることがわかった。
Table 8 shows that good results can be obtained when the concentration of potassium silicate dissolved in water per unit volume is in the range of 0.05 wt% to 2.0 wt%.

【0125】(実施例5)実施例1と同様の基体を用
い、表9に示す条件にて洗浄を行なった。その時にイン
ヒビターを入れた水を用い、リンス槽においてシャワー
リングする際の吹き付け圧力(シャワー圧力)とその流
量を表10、11に示す様に変化させ、洗浄後の基体表
面の外観状態を肉眼で観察した。その後、実施例1と同
様の方法にて阻止型電子写真感光体を作製し実施例1と
同様の方法にて評価を行なった。その外観状態の結果を
表10に、黒ポチ画像欠陥の結果を表11に示す。尚、
シャワー液として用いる水は、リンス工程にて使用して
いる純水(10MΩ・cm)にインヒビターを溶解させ
た水を使用した。
Example 5 Using the same substrate as in Example 1, cleaning was performed under the conditions shown in Table 9. At that time, using the water containing the inhibitor, the spraying pressure (shower pressure) and the flow rate at the time of showering in the rinsing bath were changed as shown in Tables 10 and 11, and the appearance state of the substrate surface after washing was visually observed. Observed. Thereafter, a blocking type electrophotographic photosensitive member was prepared in the same manner as in Example 1, and evaluated in the same manner as in Example 1. Table 10 shows the results of the appearance, and Table 11 shows the results of black spot image defects. still,
As the water used as the shower liquid, water in which an inhibitor was dissolved in pure water (10 MΩ · cm) used in the rinsing step was used.

【0126】[0126]

【表9】 [Table 9]

【0127】(外観観察評価)洗浄後の基体表面に強露
光の光を反射させた肉眼で確認出来る基体上のシミ及び
基体表面の面荒れの状況を総合的に評価した。その評価
結果を以下の4つの記号にて表に表わす。 ◎…非常に良好 ○…良好 △…実用上問題無し ×…実用上問題有り
(Evaluation of Appearance Observation) The condition of spots on the substrate and surface roughness of the substrate, which can be visually confirmed by reflecting strong exposure light on the surface of the substrate after cleaning, was comprehensively evaluated. The evaluation results are shown in the table with the following four symbols. ◎… very good ○… good △… No practical problem ×… Practical problem

【0128】[0128]

【表10】 [Table 10]

【0129】表10から明らかにな様に外観状態はシャ
ワーの圧力が4.9×103 (Pa)〜9.8×104
(Pa)の範囲で、且つ、シャワーの流量が1(1/m
in)〜20(1/min)の範囲で良好な結果となっ
た。
As is apparent from Table 10, the appearance was such that the pressure of the shower was 4.9 × 10 3 (Pa) to 9.8 × 10 4.
(Pa) and the flow rate of the shower is 1 (1 / m
good results were obtained in the range of (in) to 20 (1 / min).

【0130】[0130]

【表11】 [Table 11]

【0131】表11から明らかにな様に黒ポチ、画像欠
陥に於いても、シャワーの圧力が4.9×103 (P
a)〜9.8×104 (Pa)の範囲で、且つ、シャワ
ーの流量が1(1/min)〜20(1/min)の範
囲で良好な結果となった。
As is clear from Table 11, even in the case of black spots and image defects, the shower pressure was 4.9 × 10 3 (P
Good results were obtained in the range of a) to 9.8 × 10 4 (Pa) and the flow rate of the shower was in the range of 1 (1 / min) to 20 (1 / min).

【0132】(実施例6)実施例1と同等の基体を用
い、表12に示す条件にて処理温度と時間を変化させ皮
膜の膜厚を変化させ洗浄を行なった。その後実施例1と
同等の阻止型電子写真感光体を作製し同様の評価を行な
った。その結果を表13に示す。なお、総合評価方法お
よび基準は前述したものと同じである。
(Example 6) Using the same substrate as in Example 1, cleaning was performed by changing the processing temperature and time under the conditions shown in Table 12 to change the film thickness of the film. Thereafter, a blocking type electrophotographic photoreceptor equivalent to that of Example 1 was produced and subjected to the same evaluation. Table 13 shows the results. The overall evaluation method and criteria are the same as those described above.

【0133】[0133]

【表12】 [Table 12]

【0134】[0134]

【表13】 [Table 13]

【0135】表13の結果より皮膜の膜厚が5Å以上、
150Å以下の範囲に於いて、良好な結果が得られた。
According to the results shown in Table 13, the film thickness was 5 mm or more,
Good results were obtained in the range of 150 ° or less.

【0136】(実施例7)表15に示すように、Siの
含有量がそれぞれことなる9種類のAl基体を用い、表
14に示す条件で脱脂洗浄とリンスと乾燥とを行なっ
た。その後、実施例1と同様に各基体を用いて阻止型電
子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行なっ
た。その結果を表15に示す。また総合評価方法は前述
と同じである。
(Example 7) As shown in Table 15, nine types of Al substrates having different Si contents were used, and degreasing washing, rinsing and drying were performed under the conditions shown in Table 14. Thereafter, a blocking type electrophotographic photosensitive member was prepared using each substrate in the same manner as in Example 1, and the same evaluation as in Example 1 was performed. Table 15 shows the results. The overall evaluation method is the same as described above.

【0137】[0137]

【表14】 [Table 14]

【0138】[0138]

【表15】 [Table 15]

【0139】表15より明らかな様にAl基体に含まれ
るSiの重量百分率が0.001wt%≦Si≦1wt
%の範囲で含有量が変化しても良好な総合評価を得るこ
とができた。
As is clear from Table 15, the weight percentage of Si contained in the Al substrate was 0.001 wt% ≦ Si ≦ 1 wt
%, A good overall evaluation could be obtained even if the content varied.

【0140】(実施例8)Feの含有量を変化させた以
外は、実施例7と同様の方法である。また実施例7と同
様に阻止型電子写真感光体を作製し、評価を行なった。
その結果を同様に表16に示す。
(Example 8) A method similar to that of Example 7 was used, except that the content of Fe was changed. A blocking type electrophotographic photoreceptor was prepared and evaluated in the same manner as in Example 7.
Table 16 also shows the results.

【0141】[0141]

【表16】 [Table 16]

【0142】表16より明らかな様にAl基体中に含ま
れるFeの重量百分率の範囲が0.001wt%≦Fe
≦1wt%の範囲において良好な総合評価を得ることが
できた。
As is clear from Table 16, the range of the weight percentage of Fe contained in the Al substrate was 0.001 wt% ≦ Fe.
Good overall evaluation could be obtained in the range of ≦ 1 wt%.

【0143】(実施例9)Cuの含有量を変化させた以
外は実施例7と同様の方法である。また実施例7と同様
に阻止型電子写真感光体を作製し、評価を行なった。そ
の結果を同様に表17に示す。
(Example 9) A method similar to that of Example 7 was adopted except that the content of Cu was changed. A blocking type electrophotographic photoreceptor was prepared and evaluated in the same manner as in Example 7. Table 17 also shows the results.

【0144】[0144]

【表17】 [Table 17]

【0145】表17より明らかな様にAl基体に含まれ
るCuの重量百分率の範囲が0.001wt%≦Cu≦
1.0wt%の範囲において良好な総合評価を得ること
ができた。
As is clear from Table 17, the range of the weight percentage of Cu contained in the Al substrate was 0.001 wt% ≦ Cu ≦
Good overall evaluation could be obtained in the range of 1.0 wt%.

【0146】(実施例10)Si、Fe、Cu含有量を
表18に示す様に変化させた9種類のアルミニウム基体
を用い、実施例7と同様の方法にて脱脂洗浄、リンス、
乾燥の各処理を行なった。その後、実施例と同様に阻止
型電子写真感光体を作製し、実施例1と同様の評価を行
なった。その結果を同様に表18に示す。
(Example 10) Degreasing and washing, rinsing, and washing were performed in the same manner as in Example 7 using nine types of aluminum substrates in which the contents of Si, Fe, and Cu were changed as shown in Table 18.
Each drying process was performed. Thereafter, a blocking type electrophotographic photosensitive member was prepared in the same manner as in the example, and the same evaluation as in example 1 was performed. The results are also shown in Table 18.

【0147】[0147]

【表18】 [Table 18]

【0148】表18より明らかな様にSiと、Feと、
Cuの総含有量が0.01wt%<Si+Fe+Cu≦
1wt%の範囲で有効であることがわかった。
As is clear from Table 18, Si, Fe,
When the total content of Cu is 0.01 wt% <Si + Fe + Cu ≦
It was found to be effective in the range of 1 wt%.

【0149】(実施例11)実施例1と同様の基体を用
い、表19に示す条件にてリンス工程で使用する水の温
度とリンス工程に必要とされる時間を変化させ、表19
に示す条件にて皮膜を形成した。またAlに含まれるS
iとOの比率を変化させた。そして実施例1と同等の阻
止型電子写真感光体を作製し総合評価を行なった。総合
評価方法および基準は前述と同様である。表20はSi
の含有比率を7種にことならせ、そしてOの含有比率を
6種にことならせ計42種の基体を用いて行なわれた総
合評価結果を表わしたものである。この時の組成比率は
実施例1に示したXPS法によって測定された値であり
Alを1とした場合の各元素の存在数の比率のことであ
る。
Example 11 Using the same substrate as in Example 1, the temperature of water used in the rinsing step and the time required for the rinsing step were changed under the conditions shown in Table 19, and
A film was formed under the following conditions. In addition, S contained in Al
The ratio between i and O was changed. Then, a blocking type electrophotographic photosensitive member equivalent to that of Example 1 was produced and comprehensively evaluated. The overall evaluation method and criteria are the same as described above. Table 20 shows Si
The content ratio of O was changed to 7 types, and the content ratio of O was changed to 6 types, showing the total evaluation results performed using a total of 42 types of substrates. The composition ratio at this time is a value measured by the XPS method shown in Example 1, and is a ratio of the number of each element when Al is set to 1.

【0150】[0150]

【表19】 [Table 19]

【0151】[0151]

【表20】 [Table 20]

【0152】表20より明らかなに様Siの組成比率が
0.1以上、0.5以下、Oの組成比率が1以上、5以
下の範囲に於いて良好な結果を示した。
As is clear from Table 20, good results were obtained when the composition ratio of Si was 0.1 or more and 0.5 or less and the composition ratio of O was 1 or more and 5 or less.

【0153】(実施例12)Siが0.03wt%、F
eが0.05wt%、Cuが0.02wt%含有したア
ルミニウムよりなる直径108mm、長さ358mm、
肉厚5mmの円筒状基体を、本発明の電子写真感光体の
製造方法によって処理した。また表面の切削方法は前述
した方法を採用した。なお本発明で示す基体上に存在す
るすべての原子の存在比はX線光電子分光法(XPS)
を用いマグネシウム(Mg)をX線アノードとして用
い、出力条件を15Kv、400wとしてまたエネルギ
ー分解能を0.98ev(Ag3d5/2)で、真空度
を1.33×10-7Pa以下の条件として測定された値
である。
(Example 12) 0.03 wt% of Si, F
e, made of aluminum containing 0.05 wt% and 0.02 wt% of Cu, a diameter of 108 mm, a length of 358 mm,
A cylindrical substrate having a thickness of 5 mm was processed by the method for producing an electrophotographic photosensitive member of the present invention. The method for cutting the surface employed was the method described above. Note that the abundance ratio of all atoms present on the substrate shown in the present invention is determined by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).
Using magnesium (Mg) as the X-ray anode, the output conditions were 15 Kv, 400 w, the energy resolution was 0.98 ev (Ag3d5 / 2), and the degree of vacuum was 1.33 × 10 −7 Pa or less. Value.

【0154】切削工程終了15分後に図1に示す基体表
面洗浄装置により、表21に示す条件にて洗剤(非イオ
ン性界面活性剤)により脱脂、リンス、乾燥を行なっ
た。
Fifteen minutes after the completion of the cutting step, degreasing, rinsing, and drying were performed with a detergent (nonionic surfactant) under the conditions shown in Table 21 using the substrate surface cleaning apparatus shown in FIG.

【0155】その後、図2に示す堆積膜形成装置を用
い、表22に示した条件で、基体上に堆積膜を形成し
た。図5−Aは本実施例において作製した阻止型電子写
真感光体の層構成を模式的にあらわした図である。尚こ
の時のAl−Si−O皮膜の各元素の組成比率は1:
0.25:3の組成で膜厚75Åとした。
Thereafter, a deposited film was formed on the substrate under the conditions shown in Table 22 using the deposited film forming apparatus shown in FIG. FIG. 5A is a diagram schematically illustrating the layer configuration of the blocking type electrophotographic photosensitive member manufactured in this example. In this case, the composition ratio of each element of the Al—Si—O film was 1:
The thickness was 75 ° with a composition of 0.25: 3.

【0156】このようにして作製した電子写真感光体の
電子写真的特性の評価を以下の様にして行なった。なお
評価結果は同一成膜条件で作製した10本の感光体から
得た結果である。
The electrophotographic photosensitive member thus produced was evaluated for electrophotographic characteristics as follows. The evaluation results are obtained from ten photoconductors manufactured under the same film forming conditions.

【0157】作成した電子写真感光体の外観を目視によ
り膜剥がれを観察し評価した後、実験用に予めプロセス
スピードを200〜800mm/secの範囲で任意に
変更し、帯電器に6〜7kVの電圧を印加してコロナ帯
電を行ない、788nmのレーザー像露光にて電子写真
感光体表面に潜像を形成した後通常の複写プロセスによ
り転写紙上に画像を作製出来る様に改造を行ったキヤノ
ン社製複写機、NP6650にいれ、画像性の評価を行
った。これらの評価結果を表23に示した。
After the appearance of the electrophotographic photosensitive member thus produced was visually observed for film peeling and evaluated, the process speed was arbitrarily changed in the range of 200 to 800 mm / sec for experiments, and the charging device was charged with 6 to 7 kV. A voltage was applied to perform corona charging, a latent image was formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member by laser image exposure at 788 nm, and then modified so that an image could be formed on transfer paper by a normal copying process. It was placed in a copying machine, NP6650, and evaluated for image quality. Table 23 shows the results of these evaluations.

【0158】画像評価は以下の方法にて行なった。又、
本実施例において説明した基体、つまりSiが0.03
wt%、Feが0.05wt%、Cuが0.02wt%
含有したアルミニウム基体を比較例として比較例1で示
した方法、つまり、脱脂洗浄、リンス、乾燥のいずれの
処理においてもインヒビターを使用しない方法にて処理
後、実施例12と同等の阻止型電子写真感光体を作製し
実施例12と同様の方法にて評価した。そしてその結果
を同じく表23に示す。
The image evaluation was performed by the following method. or,
The base described in the present embodiment, that is, Si is 0.03
wt%, Fe 0.05%, Cu 0.02%
A method shown in Comparative Example 1 using the contained aluminum substrate as a comparative example, that is, a treatment using no inhibitor in any of the degreasing, rinsing, and drying treatments, followed by the same inhibition type electrophotography as in Example 12. A photoreceptor was prepared and evaluated in the same manner as in Example 12. Table 23 also shows the results.

【0159】画像欠陥の評価 プロセススピードを変え全面ハーフトーン原稿及び文字
原稿を原稿台に置いて、コピーしたときに得られた複数
の画像サンプル中で一番画像欠陥の多く現れる画像サン
プルを選び評価を行った。評価の方法としては画像サン
プル上を拡大境で観察し同一面積内にある白点の状態に
より評価を行った。評価結果を以下の4つの記号をもっ
て表にあらわす。 ◎…微妙な白点はほとんど確認できず、極めて良好な画
像を得ることができる。 〇…一部微少な白点があるが良好な画像を得ることがで
きる。 △…全面に微少な白点があるが文字の確認には支障無
し。 ×…白点が多い為一部文字が読みにくい部分が有る。
Image Defect Evaluation The process speed was changed, and a halftone original and a text original were placed on an original platen, and an image sample having the most image defects among a plurality of image samples obtained when copying was selected and evaluated. Was done. As an evaluation method, the image sample was observed at an enlarged boundary, and evaluation was performed based on the state of white spots within the same area. The evaluation results are shown in the table with the following four symbols. ◎: Subtle white spots could hardly be confirmed, and an extremely good image could be obtained. 〇: A good image can be obtained although there are some small white spots. Δ: There is a slight white spot on the entire surface, but there is no problem in confirming the characters. X: Some characters are difficult to read due to many white spots.

【0160】黒しみの評価 プロセススピードを変え全面ハーフトーン原稿を原稿台
に置いて得られた画像の平均濃度が0.4±0.1にな
るように画像を出力した。このようにして得られた画像
サンプル中で一番しみの目立つものを選び評価を行っ
た。評価の方法としてはこれらの画像を目より40cm
離れたところで観察して、黒しみが認められるか調べ、
以下の基準で評価を行った。 ◎…いずれのコピー上にも黒しみは認められない。極め
て良好な画像を付与することができる。 〇…わずかに黒しみが認められるものがあった。しかし
軽微であり良好な画像を得ることが出来るので全く問題
ない。 △…いずれのコピー上にも黒しみは認められる。しかし
軽微であり実用上支障ない。 ×…全数のコピー上に大きな黒しみが認められる。
An image was output so that the average density of an image obtained by placing the entire halftone original on a platen was 0.4 ± 0.1 while changing the process speed for evaluating black spots . Among the image samples obtained in this way, the most noticeable one was selected and evaluated. As a method of evaluation, these images were placed 40 cm from the eyes.
Observe at a distance to see if black spots are observed,
Evaluation was performed based on the following criteria. A: No black spot is observed on any copy. Very good images can be provided. 〇: Some black spots were observed. However, there is no problem because the image is small and a good image can be obtained. Δ: Black spots are observed on all copies. However, it is slight and does not hinder practical use. X: Large black spots are observed on all copies.

【0161】電子写真特性の評価1(電子写真特性1と
以下称す) 通常のプロセススピードで同一の帯電電圧を与えたとき
に現像位置で得られる感光体の表面電位を帯電能として
相対値で評価する。なお、比較例1で得られて電子写真
感光体の帯電能を100%として評価している。
Evaluation of electrophotographic properties 1 (electrophotographic properties 1 and
Hereinafter referred) to evaluate a relative value of the surface potential of the resulting photosensitive member in the developing position as chargeability when given the same charge voltage in the normal process speed. In addition, the charging ability of the electrophotographic photosensitive member obtained in Comparative Example 1 was evaluated as 100%.

【0162】電子写真特性の評価(電子写真特性2と以
下称す) 通常のプロセススピードで同一の帯電電圧を与えた後、
光を照射し一定の電位に下がったときに得られる光量を
感度として相対値で評価する。なお、比較例1で得られ
た電子写真感光体の感度を100%として評価してい
る。
Evaluation of electrophotographic characteristics (electrophotographic characteristics 2 and
Under referred) after giving the same charge voltage in the normal process speed,
The light amount obtained when the light is irradiated and dropped to a certain potential is evaluated as a sensitivity as a relative value. Note that the sensitivity of the electrophotographic photosensitive member obtained in Comparative Example 1 was evaluated as 100%.

【0163】[0163]

【表21】 [Table 21]

【0164】[0164]

【表22】 [Table 22]

【0165】[0165]

【表23】 [Table 23]

【0166】表23より明らかな様に画像欠陥、黒し
み、電子写真特性の更なる向上を実現することができ
た。
As is clear from Table 23, image defects, black spots, and further improvement in electrophotographic characteristics were realized.

【0167】また更に別の方法にて評価した結果を表2
4に示す。
Table 2 shows the results of evaluation by another method.
It is shown in FIG.

【0168】すべり性の評価 前記改造を行ったキヤノン製複写機、NP6650に設
置されたブレードに任意の荷重をかけてピエゾ素子を用
い、ドラムの回転開始前後でのブレードがドラムに引っ
張られる力(摩擦力)を検出した。荷重と回転開始直前
の“最大静止摩擦力”から「最大静止摩擦係数」を、同
様に定常回転中の“動摩擦力”から「動摩擦係数」を算
出した時に従来例1を100%とした時の相対値で比較
した。(値が低い程、すべり性が良好で有ることを示
す。)画像むらの評価 A3方眼紙(コクヨ社製)を複写機の原稿台に置き、複
写機の絞りを変える事により原稿の露光量を、グラフの
線が辛うじて認められる程度から白地の部分がかぶり始
める程度迄の範囲の画像が得られるように変え、濃度の
異なる10枚のコピーを出力した。
Evaluation of Slipperiness An arbitrary load is applied to the blade installed in the modified Canon copier, NP6650, and a piezo element is used, and the blade pulling force before and after the start of rotation of the drum ( Friction force) was detected. When the “maximum static friction coefficient” was calculated from the load and the “maximum static friction force” immediately before the start of rotation, and similarly, the “dynamic friction coefficient” was calculated from the “dynamic friction force” during steady rotation. They were compared by relative values. (The lower the value, the better the slipperiness.) Evaluation of image unevenness A3 A grid paper (manufactured by KOKUYO Co., Ltd.) was placed on a platen of a copying machine, and the exposure of the document was changed by changing the aperture of the copying machine. Was changed so that an image was obtained in a range from barely recognizing the line of the graph to the level at which the white portion started to be fogged, and ten copies having different densities were output.

【0169】これらの画像を目より40cm離れたとこ
ろで観察して、濃度の違いが認められるか調べ以下の基
準で評価を行った。評価結果を以下の4つの記号をもっ
て表に表わす。 ◎…いずれのコピー上にも画像のむらは認められない。
極めて良好な状態である。 〇…画像むらが認められるコピーと認められないコピー
がある。しかし、いずれも軽微であり全く問題ない良好
な状態である。 △…いずれのコピー上にも画像むらが認められる。しか
し、少なくとも1枚のコ ピー上では画像むらが軽微であり実用上支障ない。 ×…全数のコピー上に大きな画像むらが認められる。
These images were observed at a distance of 40 cm from the eyes to see if there was any difference in density, and evaluated according to the following criteria. The evaluation results are shown in the table with the following four symbols. A: No image unevenness is observed on any copy.
Very good condition. 〇: There is a copy in which image unevenness is recognized and a copy in which image unevenness is not recognized. However, each is in a good state without any problem at all. Δ: Image unevenness is observed on any copy. However, the image unevenness is slight on at least one copy, which does not hinder practical use. ×: Large image unevenness is observed on all copies.

【0170】白地かぶりの評価 白地に全面文字よりなる通常の原稿を原稿台に置いてコ
ピーしたときに得られた画像サンプルを観察し、白地の
部分のかぶりを評価した。評価結果を以下の4つの記号
をもって表に示す。 ◎…白地の部分のかぶりがほとんどなく極めて良好。 〇…一部僅かにかぶりがあるが良好である。 △…全面に渡りかぶりがあるが文字の認識には全く支障
無し。 ×…かぶりのため文字が読みにくい部分がある。
Evaluation of fogging on white background An image sample obtained when a normal original consisting of whole characters was placed on a document table and copied on a white background was observed, and the fogging on the white background was evaluated. The evaluation results are shown in the table with the following four symbols. …: Very good with almost no fog on the white background. 〇: Some fogging is good, but good. Δ: There is a fog over the entire surface, but there is no problem in character recognition. ×: Some parts are difficult to read due to fog.

【0171】[0171]

【表24】 [Table 24]

【0172】表24より明らかな様にすべり性、画像特
性の更なる向上を図る事が出来た。
As is clear from Table 24, the sliding property and image characteristics could be further improved.

【0173】(実施例13)実施例12と同様の基体を
用い、実施例12と同様の方法にて表面処理を行なった
後、図3−(A)、図3−(B)に示すマイクロ波を出
力する堆積膜形成装置(μwPCVD)装置を用い表2
5に示す条件にて図5−Bに示す阻止型電子写真感光体
を作製し実施例12と同様の方法にて評価した結果を表
26に示す。
(Example 13) Using the same substrate as in Example 12, surface treatment was performed in the same manner as in Example 12, and the microstructure shown in FIGS. 3A and 3B was used. Table 2 using a deposition film forming device (μw PCVD) device that outputs waves
Table 26 shows the results of producing the blocking electrophotographic photosensitive member shown in FIG. 5-B under the conditions shown in FIG.

【0174】なお図3はマイクロ波CVD装置を説明す
る側面図であり、302は基体301を収容するチャン
バ、305は基体301の表面に膜を形成する際に基体
301を回転させるモーター、303は、膜を形成する
際に基体301を加熱するヒーター、304はチャンバ
302内を排気する排気路、また放電空間306は基体
301と電極307との間の空間である。電極307へ
は電力供給手段308によって直流電力が供給される。
また電極307は、ガスをチャンバ302内へ導入する
導入管の機能を兼ねる。309は、導入路310を伝わ
るマイクロ波をチャンバ302へ導入するマイクロ波導
入窓、また図3Bは、図3Aのマイクロ波CVD装置の
X−X断面図である 又、実施例1で示した方法にて処理後、同様の阻止型電
子写真感光体を作製し同様の方法にて評価した結果を同
じく表26に示す。尚:図5−Bに於て501、50
2、503−1、503−2及び504はそれぞれ、ア
ルミニウム基体、電荷注入阻止層、電荷輸送層、電荷発
生層、及び表面層を示している。
FIG. 3 is a side view for explaining a microwave CVD apparatus, wherein 302 is a chamber for accommodating the substrate 301, 305 is a motor for rotating the substrate 301 when a film is formed on the surface of the substrate 301, and 303 is a motor. A heater for heating the substrate 301 when forming a film, 304 is an exhaust path for exhausting the inside of the chamber 302, and a discharge space 306 is a space between the substrate 301 and the electrode 307. DC power is supplied to the electrode 307 by the power supply unit 308.
The electrode 307 also has a function of an introduction pipe for introducing gas into the chamber 302. 309 is a microwave introduction window for introducing microwaves transmitted through the introduction path 310 into the chamber 302, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line XX of the microwave CVD apparatus shown in FIG. 3A. , And the same blocking type electrophotographic photosensitive member was prepared and evaluated by the same method. Note: 501 and 50 in FIG.
Reference numerals 2, 503-1, 503-2, and 504 denote an aluminum substrate, a charge injection blocking layer, a charge transport layer, a charge generation layer, and a surface layer, respectively.

【0175】[0175]

【表25】 [Table 25]

【0176】[0176]

【表26】 [Table 26]

【0177】表26より明らかな様に装置及び層構成が
異なっても本発明は有効で有る。
As is clear from Table 26, the present invention is effective even if the apparatus and the layer structure are different.

【0178】(実施例14)実施例12と同様の基体を
用い、実施例12と同等の表面処理を行なった後、図4
に示すVHF波を出力するPCVD装置400を用い表
27に示す条件にて図5−Bに示す層構成の阻止型電子
写真感光体を作製し同様の方法にて評価した結果を表2
8に示す。また図4において405は基体401の表面
に膜を形成する際に基体401を回転させるモーター、
403は、膜を形成する際に基体401を加熱するヒー
ター、404は空間内を排気する排気路、また放電空間
406は基体401と電極408との間の空間である。
407は高周波マッチングボックス407である。
Example 14 Using the same substrate as in Example 12, and performing the same surface treatment as in Example 12, FIG.
A blocking type electrophotographic photosensitive member having a layer configuration shown in FIG. 5-B was produced under the conditions shown in Table 27 using a PCVD apparatus 400 which outputs a VHF wave shown in FIG.
FIG. In FIG. 4, reference numeral 405 denotes a motor for rotating the base 401 when forming a film on the surface of the base 401;
Reference numeral 403 denotes a heater for heating the base 401 when forming a film, 404 denotes an exhaust path for exhausting the inside of the space, and discharge space 406 denotes a space between the base 401 and the electrode 408.
407 is a high-frequency matching box 407.

【0179】原料ガス導入管(不図示)、電極408が
設置され、電極408には更に高周波マッチングボック
ス407が接続されている。また、放電空間406内は
排気管404を通じて不図示の拡散ポンプに接続されて
いる。
A source gas introduction pipe (not shown) and an electrode 408 are provided, and a high frequency matching box 407 is further connected to the electrode 408. The inside of the discharge space 406 is connected to a diffusion pump (not shown) through an exhaust pipe 404.

【0180】該装置では、真空引きして圧力が安定した
ところで、例えば周波数500MHzのVHF電源(不
図示)を所望の電力に設定して、高周波マッチングボッ
クス407を通じて放電空間406にVHF電力を導入
し、グロー放電を生起させる。かくして基体401によ
り取り囲まれた放電空間406において、導入された原
料ガスは、放電エネルギーにより励起されて解離し、基
体401上に所定の堆積膜が形成される。
In this device, when the pressure is stabilized by evacuation, for example, a VHF power supply (not shown) having a frequency of 500 MHz is set to a desired power, and VHF power is introduced into the discharge space 406 through the high frequency matching box 407. Causes glow discharge. Thus, in the discharge space 406 surrounded by the base 401, the introduced source gas is excited by the discharge energy and dissociated, and a predetermined deposited film is formed on the base 401.

【0181】また該4図が示す装置は、図3で示す装置
と同様一度の製造により複数個の感光体を得ることがで
きるので、量産に適している。
The apparatus shown in FIG. 4 is suitable for mass production because a plurality of photoconductors can be obtained by one-time production as in the apparatus shown in FIG.

【0182】[0182]

【表27】 [Table 27]

【0183】[0183]

【表28】 [Table 28]

【0184】表26より明らかな様に装置及び層構成が
異なっても本発明は有効で有る。
As is clear from Table 26, the present invention is effective even if the apparatus and the layer structure are different.

【0185】[0185]

【発明の効果】以上に説明した様に、本発明によれば、
減圧気相成長法により、長手方向に長いアルミニウム基
体の表面にシリコン原子を母材とする機能性膜を堆積さ
せて形成される電子写真感光体の製造方法に於いて、前
記堆積膜を形成する工程の前にアルミニウム基体面を保
護する為のインヒビターを含んだ水を用い、Al−Si
−O皮膜を基体表面に形成させた後、基体表面をシャワ
ーリングする際に於いて、シャワー圧力を4.9×10
3 ≦P(Pa)≦9.8×104 の範囲とし、且つ、シ
ャワーの流量を1≦g(l/min)≦2 の範囲とす
る事により、前記皮膜が吹きつけ時にはがれることを防
止し、且つ、リンス効果を高めることができる。その結
果基体上に、強固で均一なAl−Si−O皮膜が形成さ
れるので、均一な高品位の画像を与える電子写真感光体
を高い生産性で製造する事が可能となった。
As described above, according to the present invention,
In a method of manufacturing an electrophotographic photoreceptor formed by depositing a functional film containing silicon atoms as a base material on the surface of an aluminum substrate that is long in the longitudinal direction by a reduced pressure vapor deposition method, the deposited film is formed. Before the process, water containing an inhibitor for protecting the aluminum substrate surface is used, and Al-Si
After forming the —O film on the surface of the substrate, the shower pressure was set to 4.9 × 10
By setting the range of 3 ≦ P (Pa) ≦ 9.8 × 10 4 and the flow rate of the shower within the range of 1 ≦ g (l / min) ≦ 2, it is possible to prevent the film from peeling off when spraying. In addition, the rinsing effect can be enhanced. As a result, a strong and uniform Al-Si-O film is formed on the substrate, so that it is possible to manufacture an electrophotographic photosensitive member that gives a uniform high-quality image with high productivity.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の電子写真感光体を実施する為に使用さ
れる洗浄装置の一例を示す該略図である。
FIG. 1 is a schematic view showing an example of a cleaning apparatus used to carry out the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図2】RFプラズマCVD法により円筒状基体上に堆
積膜を形成するための堆積膜形成装置の概略縦断面図。
FIG. 2 is a schematic longitudinal sectional view of a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by an RF plasma CVD method.

【図3】図3(A)はマイクロ波プラズマCVD法によ
り円筒状基体上に堆積膜を形成するための堆積膜形成装
置の概略縦断面図であり、図3(B)は図(A)のX−
X横断面図である。
FIG. 3A is a schematic longitudinal sectional view of a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by a microwave plasma CVD method, and FIG. 3B is a view in FIG. X-
It is X cross section.

【図4】VHFプラズマCVD法により円筒状基体上に
堆積膜を形成するための堆積膜形成装置の概略縦断面
図。
FIG. 4 is a schematic longitudinal sectional view of a deposited film forming apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by a VHF plasma CVD method.

【図5】電子写真感光体の層構成を示す断面図。FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a layer configuration of the electrophotographic photosensitive member.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101、201、301 基体 102 処理部 103 基体搬送機構 111 基体投入台 112 脱脂洗浄槽 113 リンス槽 122、123 洗浄液 114 乾燥槽 115 基体搬送出台 126 シャワーノズル 161 搬送アーム 162 移動機構 163 チャッキング機構 164 エアーシリンダー 165 搬送レール 180 制御手段 202、302 反応容器 203 カソード電極 204 トッププレート 205 ベースプレート 206 絶縁碍子 207 基体ホルダー 208、303、403 加熱ヒーター 209、210 原料ガス導入管 211 原料ガス流入バルブ 212、407 マイクローコントローラー 213、304、404 排気配管 214 排気バルブ 215 真空排気装置 216 高周波電源 301、401 基体 302 チャンバ 303、403 ヒーター 304、404 排気路 305、406、405 モーター 306、406 放電空間 307、408 電極 308 電力供給手段 407 高周波マッチングボックス 309 マイクロ波導入窓 310 導波管 408 高周波電極 501 アルミニウム基体 502 電荷注入阻止層 503 光導電層 503−1 電荷輸送層 503−2 電荷発生層 504 表面層 101, 201, 301 Substrate 102 Processing unit 103 Substrate transport mechanism 111 Substrate loading table 112 Degreasing / washing tank 113 Rinse tank 122, 123 Cleaning liquid 114 Drying tank 115 Substrate transport exit stand 126 Shower nozzle 161 Transport arm 162 Moving mechanism 163 Chucking mechanism 164 Air Cylinder 165 Transport rail 180 Control means 202, 302 Reaction vessel 203 Cathode electrode 204 Top plate 205 Base plate 206 Insulator 207 Base holder 208, 303, 403 Heater 209, 210 Source gas introduction pipe 211 Source gas inflow valve 212, 407 micro Controllers 213, 304, 404 Exhaust pipe 214 Exhaust valve 215 Vacuum exhaust device 216 High frequency power supply 301, 401 Base 302 Chamber 303, 403 Heater 304, 404 Exhaust passage 305, 406, 405 Motor 306, 406 Discharge space 307, 408 Electrode 308 Power supply means 407 High frequency matching box 309 Microwave introduction window 310 Waveguide 408 High frequency electrode 501 Aluminum substrate 502 Charge injection Blocking layer 503 Photoconductive layer 503-1 Charge transport layer 503-2 Charge generation layer 504 Surface layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03G 5/10 G03G 5/10 B (72)発明者 片桐 宏之 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内 (72)発明者 高田 和彦 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内 Fターム(参考) 2H068 AA42 CA33 CA34 DA24 DA62 DA64 DA72 EA05 EA24 3B201 AA18 AB24 BB02 BB23 BB82 BB83 BB90 BB92 BB93 BB94 CB01 CC01 CC11 CC21 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G03G 5/10 G03G 5/10 B (72) Inventor Hiroyuki Katagiri 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Within Canon Inc. (72) Inventor Kazuhiko Takada 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo F-term within Canon Inc. (reference) 2H068 AA42 CA33 CA34 DA24 DA62 DA64 DA72 EA05 EA24 3B201 AA18 AB24 BB02 BB23 BB82 BB83 BB90 BB92 BB93 BB94 CB01 CC01 CC11 CC21

Claims (27)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基体に吹きつけるシャワー水の圧力を
4.9×103 Pa以上9.8×104 Pa以下に設定
し、且つ前記シャワー水の流量を1リットル/分以上2
0リットル/分以下に設定し、前記基体の表面を前記シ
ャワー水でシャワーし、次いで前記表面に機能性膜を減
圧気相成長法により形成させてなる電子写真感光体の製
造方法。
1. The pressure of shower water sprayed on a substrate is set to 4.9 × 10 3 Pa or more and 9.8 × 10 4 Pa or less, and the flow rate of the shower water is 1 liter / minute or more.
A method for producing an electrophotographic photoreceptor, wherein the surface is set to 0 liter / min or less, the surface of the substrate is showered with the shower water, and then a functional film is formed on the surface by a reduced pressure vapor deposition method.
【請求項2】 前記シャワー水で前記基体をシャワーす
る前に前記基体を水から引き上げることを特徴とする請
求項1記載の電子写真感光体の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the substrate is pulled up from the water before showering the substrate with the shower water.
【請求項3】 前記水はインヒビターを含み、アルミニ
ウム(Al)からなる前記基板の前記表面に前記Alと
珪素(Si)と酸素(O)を主成分とした皮膜を5オン
グストローム以上150オングストローム以下の範囲で
形成し、且つ前記皮膜を構成するAlとSiとOとの組
成比が下記式(I)をみたす請求項2記載の電子写真感
光体の製造方法。Al:Si:O=a:b:cとし、a
=1としたときにbおよびcの範囲が 0.1≦b≦1.0で且つ1≦c≦5…(I)
3. The method according to claim 1, wherein the water contains an inhibitor, and the surface of the substrate made of aluminum (Al) is coated with a coating mainly composed of Al, silicon (Si) and oxygen (O) in a thickness of 5 Å to 150 Å. 3. The method of manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to claim 2, wherein the composition ratio of Al, Si and O constituting the film satisfies the following formula (I). Al: Si: O = a: b: c, a
= 1, the range of b and c is 0.1 ≦ b ≦ 1.0 and 1 ≦ c ≦ 5 (I)
【請求項4】 前記水は二酸化炭素を含むことを特徴と
する請求項2記載の電子写真感光体の製造方法。
4. The method according to claim 2, wherein the water contains carbon dioxide.
【請求項5】 前記インヒビターは珪酸塩である事を特
徴とする請求項3に記載の電子写真感光体の製造方法。
5. The method according to claim 3, wherein the inhibitor is a silicate.
【請求項6】 前記珪酸塩は珪酸カリウム塩である事を
特徴とする請求項5に記載の電子写真感光体の製造方
法。
6. The method according to claim 5, wherein the silicate is a potassium silicate.
【請求項7】 前記インヒビターを含んだ水の単位体積
あたりに含まれるインヒビターの重量%濃度の範囲は
0.05wt%以上、2wt%以下である事を特徴とす
る請求項3に記載の電子写真感光体の製造方法。
7. The electrophotograph according to claim 3, wherein the concentration of the inhibitor in the unit of water contained per unit volume of water containing the inhibitor is in the range of 0.05 wt% to 2 wt%. Manufacturing method of photoreceptor.
【請求項8】 前記減圧気相成長法であるプラズマCV
D法により水素及びフッ素の少なくともいずれか一方と
珪素とから構成される非晶質堆積膜を前記機能性膜とし
て前記基体上に形成する請求項2に記載の電子写真感光
体の製造方法。
8. A plasma CV according to the reduced pressure vapor phase epitaxy.
3. The method according to claim 2, wherein an amorphous deposited film composed of silicon and at least one of hydrogen and fluorine is formed as the functional film on the substrate by Method D.
【請求項9】 前記表面を前記シャワーした後、前記基
体を温水中に浸漬し、引き上げて前記表面を乾燥させる
請求項2に記載の電子写真感光体の製造方法。
9. The method according to claim 2, wherein after the surface is showered, the substrate is immersed in warm water, pulled up and the surface is dried.
【請求項10】 前記温水は、温純水である請求項9記
載の電子写真感光体の製造方法。
10. The method according to claim 9, wherein the hot water is hot pure water.
【請求項11】 前記温水は二酸化炭素を含む請求項9
記載の電子写真感光体の製造方法。
11. The hot water contains carbon dioxide.
The method for producing the electrophotographic photosensitive member according to the above.
【請求項12】 前記温水はインヒビターを含む請求項
9記載の電子写真感光体の製造方法。
12. The method according to claim 9, wherein the hot water contains an inhibitor.
【請求項13】 前記基体はアルミニウムを主たる成分
とするアルミニウム基体である請求項2記載の電子写真
感光体の製造方法。
13. The method according to claim 2, wherein the substrate is an aluminum substrate containing aluminum as a main component.
【請求項14】 前記アルミニウム基体が、Feを10
ppm以上、1wt%以下の範囲で含有するアルミニウ
ム基体であることを特徴とする請求項13に記載の電子
写真感光体の製造方法。
14. The method according to claim 1, wherein the aluminum substrate contains 10% Fe.
14. The method for producing an electrophotographic photoreceptor according to claim 13, wherein the aluminum substrate is contained in a range of not less than 1 ppm by weight and not more than 1 ppm.
【請求項15】 前記アルミニウム基体が、Siを10
ppm以上、1wt%以下の範囲で含有するアルミニウ
ム基体であることを特徴とする請求項13に記載の電子
写真感光体の製造方法。
15. The method according to claim 15, wherein the aluminum substrate comprises Si.
14. The method for producing an electrophotographic photoreceptor according to claim 13, wherein the aluminum substrate is contained in a range of not less than 1 ppm by weight and not more than 1 ppm.
【請求項16】 前記アルミニウム基体が、Cuを10
ppm以上、1wt%以下の範囲で含有するアルミニウ
ム基体であることを特徴とする請求項13に記載の電子
写真感光体の製造方法。
16. The method according to claim 16, wherein the aluminum substrate is made of Cu.
14. The method for producing an electrophotographic photoreceptor according to claim 13, wherein the aluminum substrate is contained in a range of not less than 1 ppm by weight and not more than 1 ppm.
【請求項17】 前記アルミニウム基体が、Fe+Si
+Cuの総含有量は、0.01wt%を越え、1wt%
以下の範囲で含有するアルミニウム基体であることを特
徴とする請求項13に記載の電子写真感光体の製造方
法。
17. The method according to claim 17, wherein the aluminum substrate is Fe + Si.
+ Cu total content exceeds 0.01 wt% and 1 wt%
14. The method for producing an electrophotographic photoreceptor according to claim 13, wherein the aluminum substrate contains the following range.
【請求項18】 前記基体を脱脂する脱脂工程と、前記
脱脂工程の後に前記基体をリンスするリンス工程と、前
記リンス工程の後に前記基体を乾燥させる乾燥工程を有
し、前記リンス工程において前記基体に前記シャワー水
をシャワーする請求項1記載の電子写真感光体の製造方
法。
18. A degreasing step for degreasing the base, a rinsing step for rinsing the base after the degreasing step, and a drying step for drying the base after the rinsing step, wherein the rinsing step 2. The method according to claim 1, wherein the shower water is showered.
【請求項19】 前記シャワー水はインヒビターを含
み、アルミニウム(Al)からなる前記基板の前記表面
に前記Alと珪素(Si)と酸素(O)を主成分とした
皮膜を5オングストローム以上150オングストローム
以下の範囲で形成し、且つ前記皮膜を構成するAlとS
iとOとの組成比が下記式(I)をみたす請求項2記載
の電子写真感光体の製造方法。Al:Si:O=a:
b:cとし、a=1としたときにbおよびcの範囲が 0.1≦b≦1.0で且つ1≦c≦5…(I)
19. The shower water contains an inhibitor, and a film mainly composed of Al, silicon (Si) and oxygen (O) is formed on the surface of the substrate made of aluminum (Al) in a range of 5 Å to 150 Å. Al and S which are formed in the range of
3. The method according to claim 2, wherein the composition ratio of i and O satisfies the following formula (I). Al: Si: O = a:
b: c, when a = 1, the range of b and c is 0.1 ≦ b ≦ 1.0 and 1 ≦ c ≦ 5 (I)
【請求項20】 前記シャワー水は二酸化炭素を含むこ
とを特徴とする請求項2記載の電子写真感光体の製造方
法。
20. The method according to claim 2, wherein the shower water contains carbon dioxide.
【請求項21】 前記インヒビターは珪酸塩である事を
特徴とする請求項19に記載の電子写真感光体の製造方
法。
21. The method according to claim 19, wherein the inhibitor is a silicate.
【請求項22】 前記珪酸塩は珪酸カリウム塩である事
を特徴とする請求項21に記載の電子写真感光体の製造
方法。
22. The method according to claim 21, wherein the silicate is a potassium silicate.
【請求項23】 前記インヒビターを含んだシャワー水
の単位体積あたりに含まれる前記インヒビターの重量%
濃度の範囲は0.05wt%以上、2wt%以下である
事を特徴とする請求項19に記載の電子写真感光体の製
造方法。
23. A weight% of the inhibitor contained in a unit volume of shower water containing the inhibitor.
20. The method according to claim 19, wherein the concentration ranges from 0.05 wt% to 2 wt%.
【請求項24】 前記水と前記シャワー水は同一の組成
であることを特徴とする請求項2記載の電子写真感光体
の製造方法。
24. The method according to claim 2, wherein the water and the shower water have the same composition.
【請求項25】 被洗浄体に吹きつけるシャワー水の圧
力を4.9×103Pa以上9.8×104 Pa以下に
設定し、且つ前記シャワー水の流量を1リットル/分以
上20リットル/分以下に設定し、前記被洗浄体の表面
を前記シャワー水でシャワーすることを特徴とする洗浄
方法。
25. The pressure of shower water sprayed on the object to be cleaned is set at 4.9 × 10 3 Pa or more and 9.8 × 10 4 Pa or less, and the flow rate of the shower water is 1 liter / minute or more and 20 liters. / Min or less, and the surface of the object to be cleaned is showered with the shower water.
【請求項26】 前記被洗浄体は電子写真感光体用の基
体であることを特徴とする請求項25記載の洗浄方法。
26. The cleaning method according to claim 25, wherein the object to be cleaned is a substrate for an electrophotographic photosensitive member.
【請求項27】 請求項25記載の洗浄方法で洗浄さ
れ、加工されて作成される電子写真感光体。
27. An electrophotographic photosensitive member prepared by being cleaned and processed by the cleaning method according to claim 25.
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