JP3173940B2 - Manufacturing method of electrophotographic photoreceptor - Google Patents

Manufacturing method of electrophotographic photoreceptor

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JP3173940B2 JP31804493A JP31804493A JP3173940B2 JP 3173940 B2 JP3173940 B2 JP 3173940B2 JP 31804493 A JP31804493 A JP 31804493A JP 31804493 A JP31804493 A JP 31804493A JP 3173940 B2 JP3173940 B2 JP 3173940B2
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  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、アルミニウム基体上に
機能性膜を形成した電子写真感光体の製造方法に関し、
特に、珪素原子を含有したアルミニウム基体上にプラズ
マCVD法により珪素原子と水素原子を含む非単結晶堆
積膜を機能性膜として形成した電子写真感光体の製造方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing an electrophotographic photosensitive member having a functional film formed on an aluminum substrate.
In particular, the present invention relates to a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor in which a non-single crystal deposited film containing silicon atoms and hydrogen atoms is formed as a functional film on a silicon atom-containing aluminum substrate by a plasma CVD method.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子写真感光体の堆積膜を形成するため
の基体としては、ガラス、耐熱性合成樹脂、ステンレ
ス、アルミニウムなどが提案されている。しかし、実用
的には、帯電、露光、現像、転写、クリーニングといっ
た電子写真プロセスへの耐久性を持たせ、また常に位置
精度を高く保って画質を落さないようにするために、金
属を使用する場合が多い。中でもアルミニウムは加工性
が良好で、コストが低く、軽量である点から電子写真感
光体の基体として最適な材料の一つである。
2. Description of the Related Art Glass, heat-resistant synthetic resin, stainless steel, aluminum and the like have been proposed as a substrate for forming a deposited film of an electrophotographic photosensitive member. However, in practice, metal is used to provide durability to electrophotographic processes such as charging, exposure, development, transfer, and cleaning, and to always maintain high positional accuracy so that image quality does not deteriorate. Often do. Among them, aluminum is one of the most suitable materials for the base of the electrophotographic photoreceptor because of its good workability, low cost and light weight.

【0003】電子写真感光体の基体の材質に関する技術
が、特開昭59−193463号公報、特開昭60−2
62936号公報に記載されている。特開昭59−19
3463号公報には、支持体をFe含有率が2000p
pm以下のアルミニウム合金とすることにより、良好な
画質のアモルファスシリコン電子写真感光体を得る技術
が開示されている。さらに、その公報中では、円筒状
(シリンダー状)基体を旋盤により切削し、鏡面加工し
た後、グロー放電によりアモルファスシリコンを形成す
るまでの手順が開示されている。特開昭60−2629
36号公報には、Mgを3.0〜6.0wt%含有し、
不純物としてMnが0.3wt%以下、Crが0.01
wt%未満、Feが0.15wt%以下、Siが0.1
2wt%以下に抑制され、残部はAlからなる、アモル
ファスシリコンの蒸着性に優れた押し出しアルミニウム
合金が開示されている。しかし、これらの公報には特定
の成分を含む水による洗浄方法についての記載はない。
Techniques relating to the material of a substrate of an electrophotographic photosensitive member are disclosed in JP-A-59-193463 and JP-A-60-2630.
No. 62936. JP-A-59-19
No. 3463 discloses that the support has a Fe content of 2000 p.
A technique for obtaining an amorphous silicon electrophotographic photoreceptor having good image quality by using an aluminum alloy of pm or less is disclosed. Further, the publication discloses a procedure in which a cylindrical (cylindrical) substrate is cut by a lathe and mirror-finished, and then amorphous silicon is formed by glow discharge. JP-A-60-2629
No. 36 contains 3.0 to 6.0 wt% of Mg,
Mn is 0.3 wt% or less and Cr is 0.01 as impurities.
wt%, Fe is 0.15 wt% or less, Si is 0.1
An extruded aluminum alloy which is suppressed to 2 wt% or less and the balance is made of Al and which is excellent in vapor deposition of amorphous silicon is disclosed. However, these publications do not describe a washing method using water containing a specific component.

【0004】電子写真感光体の基体の加工方法に関する
技術が、特開昭61−171798号公報に記載されて
いる。この公報には、特定の成分を含む切削油を使用し
て基体を切削することにより、良好な品質のアモルファ
スシリコン等の電子写真感光体を得る技術が開示されて
いる。またその公報中には、切削後、基体をトリエタン
(トリクロルエタン:C23Cl3)で洗浄することが
記載されている。
A technique relating to a method of processing a substrate of an electrophotographic photosensitive member is described in JP-A-61-171798. This publication discloses a technique for obtaining a good quality electrophotographic photosensitive member such as amorphous silicon by cutting a substrate using a cutting oil containing a specific component. The publication also describes that after cutting, the substrate is washed with triethane (trichloroethane: C 2 H 3 Cl 3 ).

【0005】電子写真感光体の基体の表面処理に関する
技術としては、特開昭58−14841号公報、特開昭
61−273551号公報、特開昭63−264764
号公報、特開平1−130159号公報に提案がある。
Techniques relating to the surface treatment of a substrate of an electrophotographic photosensitive member are described in JP-A-58-14841, JP-A-61-273551, and JP-A-63-264774.
And Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-130159.

【0006】特開昭58−14841号公報には、アル
ミニウム支持体表面の自然酸化物皮膜を除去した後、温
度60℃以上の水中に浸漬して均一な酸化物皮膜を得る
技術が開示されている。
JP-A-58-14841 discloses a technique for removing a native oxide film on the surface of an aluminum support and then immersing the film in water at a temperature of 60 ° C. or higher to obtain a uniform oxide film. I have.

【0007】特開昭61−273551号公報には、S
e等をアルミニウム基体上に蒸着して電子写真感光体を
作る際に、基体の前処理として、アルカリ洗浄、トリク
レン洗浄、水銀ランプによる紫外線照射洗浄の技術が挙
げられ、また、紫外線照射洗浄の前処理として円筒状ア
ルミニウム基体の表面に付着した油脂除去のため液体脱
脂洗浄、蒸気脱脂洗浄および純水洗浄を行なうことが記
載されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-273551 discloses S
When e is deposited on an aluminum substrate to produce an electrophotographic photoreceptor, pretreatment of the substrate includes alkali cleaning, trichlene cleaning, and UV irradiation cleaning with a mercury lamp. It is described that liquid degreasing, steam degreasing and pure water cleaning are performed to remove oils and fats adhering to the surface of the cylindrical aluminum substrate as the treatment.

【0008】特開昭63−264764号公報には、水
ジェットにより基体表面を粗面化する技術が開示されて
いる。
[0008] Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-264764 discloses a technique for roughening the surface of a substrate with a water jet.

【0009】特開平1−130159号公報には、水ジ
ェットにより電子写真感光体支持体を洗浄する技術が開
示されている。この公報には感光体の例として、Se、
有機光導電体と同時にアモルファス珪素が挙げられてい
るが、プラズマCVD法特有の問題点については全く触
れられていない。
JP-A-1-130159 discloses a technique for cleaning an electrophotographic photosensitive member support with a water jet. In this publication, Se,
Amorphous silicon is mentioned at the same time as the organic photoconductor, but no problem specific to the plasma CVD method is mentioned at all.

【0010】一方、電子写真感光体以外の基体の前処理
方法として、特開昭60−876号公報には、ウェーハ
面上に静電気による放電破壊が生じないように、超純水
に炭酸ガスを吹き込む技術が開示されている。しかし、
この技術はウェーハのように高抵抗の基体に発生する静
電気に対する対策であり、アルミニウムのような導電性
の基体については全く触れられていない。
On the other hand, as a pretreatment method for a substrate other than an electrophotographic photosensitive member, Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-876 discloses a method in which carbon dioxide gas is added to ultrapure water to prevent discharge breakdown due to static electricity on a wafer surface. A blowing technique is disclosed. But,
This technique is a measure against static electricity generated on a high-resistance substrate such as a wafer, and does not mention a conductive substrate such as aluminum.

【0011】電子写真感光体に用いる素子部材の技術と
しては、セレン、硫化カドミウム、酸化亜鉛、アモルフ
ァスシリコン、フタロシアニン等の有機物など各種の材
料が提案されている。中でも、アモルファスシリコンに
代表される珪素原子を主成分として含む非単結晶堆積
膜、例えば水素および/またはハロゲン(例えば弗素、
塩素等)で補償されたアモルファスシリコン等のアモル
ファス堆積膜は高性能、高耐久性、無公害の感光体とし
て提案され、その幾つかは実用に付されている。特開昭
54−86341号公報には、光導電層を主としてアモ
ルファスシリコンで形成した電子写真感光体の技術が開
示されている。
Various materials such as organic substances such as selenium, cadmium sulfide, zinc oxide, amorphous silicon, and phthalocyanine have been proposed as techniques for element members used for electrophotographic photosensitive members. Among them, non-single-crystal deposited films containing silicon atoms typified by amorphous silicon as a main component, such as hydrogen and / or halogen (for example, fluorine,
Amorphous deposited films such as amorphous silicon compensated with chlorine or the like have been proposed as high-performance, high-durability, pollution-free photoconductors, and some of them have been put to practical use. Japanese Patent Application Laid-Open No. 54-86341 discloses an electrophotographic photosensitive member technology in which a photoconductive layer is mainly formed of amorphous silicon.

【0012】こうした珪素原子を主成分として含む非単
結晶堆積膜の形成方法として、従来、スパッタリング
法、熱により原料ガスを分解する方法(熱CVD法)、
光により原料ガスを分解する方法(光CVD法)、プラ
ズマにより原料ガスを分解する方法(プラズマCVD
法)等、多数の方法が知られている。
As a method for forming such a non-single-crystal deposited film containing silicon atoms as a main component, there have conventionally been known a sputtering method, a method of decomposing a source gas by heat (thermal CVD method),
A method of decomposing a source gas by light (photo CVD method), a method of decomposing a source gas by plasma (plasma CVD)
Numerous methods are known.

【0013】プラズマCVD法、すなわち、原料ガスを
直流、高周波またはマイクロ波グロー放電等によって分
解し、基体上に薄膜状の堆積膜を形成する方法は、電子
写真用アモルファスシリコン堆積膜の形成に最適であ
り、現在、かなり実用化が進んでいる。中でも、近年堆
積膜形成方法としてマイクロ波グロー放電分解を用いた
プラズマCVD法すなわちマイクロ波プラズマCVD法
が工業的にも注目されている。
The plasma CVD method, that is, a method in which a raw material gas is decomposed by direct current, high frequency or microwave glow discharge to form a thin deposited film on a substrate, is most suitable for forming an amorphous silicon deposited film for electrophotography. At present, practical application is progressing considerably. Among them, in recent years, a plasma CVD method using microwave glow discharge decomposition, that is, a microwave plasma CVD method has been attracting industrial attention as a deposition film forming method.

【0014】マイクロ波プラズマCVD法は、他の方法
に比べ高い堆積速度と高い原料ガス利用効率という利点
を有している。こうした利点を生かしたマイクロ波プラ
ズマCVD技術の1つの例が、米国特許4,504,5
18号に記載されている。その特許に記載の技術は、
0.1Torr以下の低圧でマイクロ波プラズマCVD
法により高速の堆積速度で良質の堆積膜を得るというも
のである。
The microwave plasma CVD method has the advantages of a higher deposition rate and higher source gas utilization efficiency than other methods. One example of a microwave plasma CVD technique that takes advantage of these advantages is disclosed in U.S. Pat.
No.18. The technology described in that patent is
Microwave plasma CVD at low pressure of 0.1 Torr or less
This is to obtain a high-quality deposited film at a high deposition rate by the method.

【0015】さらに、マイクロ波プラズマCVD法によ
り原料ガスの利用効率を改善するための技術が特開昭6
0−186849号公報に記載されている。その公報に
記載の技術は、マイクロ波エネルギーの導入手段を取り
囲むように基体を配置して内部チャンバー(すなわち放
電空間)を形成するようにして、原料ガス利用効率を大
幅に高めるようにしたものである。
Further, a technique for improving the utilization efficiency of a source gas by microwave plasma CVD is disclosed in
0-186849. The technique described in that publication is such that a substrate is arranged so as to surround a means for introducing microwave energy to form an internal chamber (that is, a discharge space), thereby greatly improving the raw material gas use efficiency. is there.

【0016】また、特開昭61−283116号公報に
は、半導体部材製造用の改良型マイクロ波技術が開示さ
れている。すなわち、当該公報は、放電空間中にプラズ
マ電位制御用に電極(バイアス電極)を設け、このバイ
アス電極に所望の電圧(バイアス電圧)を印加して堆積
膜へのイオン衝撃を制御しながら膜堆積を行なうことで
堆積膜の特性を向上させる技術を開示している。
Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 61-283116 discloses an improved microwave technology for manufacturing semiconductor members. That is, in this publication, an electrode (bias electrode) is provided in a discharge space for controlling a plasma potential, and a desired voltage (bias voltage) is applied to the bias electrode to control the ion bombardment of the deposited film. Discloses a technique for improving the characteristics of a deposited film.

【0017】基体としてアルミニウム合金製シリンダー
を用いた場合、これらの従来技術による電子写真感光体
製造方法は具体的には以下のように実施される。
When a cylinder made of an aluminum alloy is used as a substrate, the method for producing an electrophotographic photosensitive member according to the prior art is specifically carried out as follows.

【0018】精密切削用のエアダンパー付旋盤(PNEUMO
PRECLUSION INC. 製)に、ダイヤモンドバイト(商品
名:ミラクルバイト、東京ダイヤモンド製)を、シリン
ダー中心角に対して5°の角のすくい角を得るようにセ
ットする。次に、この旋盤の回転フランジに基体を真空
チャックし、付設したノズルから白燈油噴霧、同じく付
設した真空ノズルから切り粉の吸引を併用しつつ、周速
1000m/min、送り速度0.01mm/Rの条件
で外形が108mmとなるように鏡面切削を施す。
Lathe with air damper for precision cutting (PNEUMO
PRECLUSION INC.), Set a diamond bite (trade name: Miracle bite, made by Tokyo Diamond) so as to obtain a rake angle of 5 ° with respect to the cylinder center angle. Next, the base was vacuum-chucked to the rotating flange of the lathe, and a peripheral speed of 1000 m / min and a feed speed of 0.01 mm / were simultaneously used while spraying white kerosene from the attached nozzle and sucking chips from the attached vacuum nozzle. Mirror cutting is performed so that the outer shape becomes 108 mm under the condition of R.

【0019】次に、この切削した基体をトリクロルエタ
ンにより洗浄し、表面に付着している切削油および切り
粉の洗浄を行なう。
Next, the cut substrate is washed with trichloroethane, and the cutting oil and chips adhering to the surface are washed.

【0020】次に、鏡面加工および洗浄を行ったこれら
の基体上に、図3に示すグロー放電分解法による光導電
部材の堆積膜形成装置によって、アモルファスシリコン
を主体とした堆積膜を形成する。
Next, a deposited film mainly composed of amorphous silicon is formed on the mirror-finished and cleaned substrates by the apparatus for forming a deposited film of a photoconductive member by the glow discharge decomposition method shown in FIG.

【0021】図3において反応容器301は、ベースプ
レート302と壁303とトッププレート304から構
成され、この反応容器301内には、カソード電極30
5が設けられており、アモルファスシリコン堆積膜が形
成される基体306はカソード電極305の中央部に設
置され、アノード電極も兼ねている。
Referring to FIG. 3, a reaction vessel 301 comprises a base plate 302, walls 303 and a top plate 304.
The substrate 306 on which the amorphous silicon deposited film is formed is provided at the center of the cathode electrode 305, and also serves as an anode electrode.

【0022】この堆積膜形成装置を使用してアモルファ
スシリコン堆積膜を基体306上に形成するには、まず
原料ガス流入バルブ307およびリークバルブ308を
閉じ、排気バルブ309を設け、反応容器301を排気
する。真空計310の読みが約5×10-6Torrとな
った時点で原料ガス流入バルブ307を開いてマスフロ
ーコントローラ311内で所定の混合比に調整された原
料ガス、例えばSiH 4ガス等を反応容器301内に流
入させる。そして基体306の表面温度が加熱ヒーター
312により所定の温度に設定されていることを確認し
た後、高周波電源313を所望の電力に設定して反応容
器301内にグロー放電を生起させる。
Using this deposited film forming apparatus,
To form a silicon deposition film on the substrate 306, first,
The source gas inflow valve 307 and the leak valve 308
Close, provide an exhaust valve 309, and exhaust the reaction vessel 301
I do. Reading of vacuum gauge 310 is about 5 × 10-6Torr
When the source gas inflow valve 307 is opened,
-The source adjusted to a predetermined mixing ratio in the controller 311
Gas such as SiH FourGas flows into the reaction vessel 301
To enter. And the surface temperature of the base 306 is a heater
Check that the temperature is set to the specified value by 312
After that, the high-frequency power supply 313 is set to a desired power and the reaction volume is set.
A glow discharge is generated in the vessel 301.

【0023】また、堆積膜形成を行なっている間は、堆
積膜形成の均一化を図るために基体306をモーター3
14により一定速度で回転させる。このようにして、基
体306上にアモルファスシリコン堆積膜を形成するこ
とができる。
During the formation of the deposited film, the base 306 is moved to the motor 3 in order to make the deposited film uniform.
14 to rotate at a constant speed. Thus, an amorphous silicon deposition film can be formed on the base 306.

【0024】[0024]

【発明が解決しようとする課題】しかし、これら従来の
電子写真感光体製造方法では、特に堆積膜の堆積速度が
大きい領域では、均一膜質で光学的および電気的諸特性
に要求される要件を満足し、かつ電子写真プロセスによ
り画像形成時に画像品質の高い堆積膜を定常的かつ安定
的に高収率(高歩留り)で得るのは困難である。
However, these conventional methods for manufacturing an electrophotographic photoreceptor satisfy the requirements for uniform film quality and optical and electrical characteristics, particularly in a region where the deposition rate of the deposited film is high. In addition, it is difficult to obtain a deposited film having high image quality constantly and stably at a high yield (high yield) during image formation by an electrophotographic process.

【0025】すなわち、従来法によって製造される電子
写真感光体には、堆積膜中に異常成長が生じた微小面積
の部分があり、それが表面電荷の乗らない部分となる。
このような現象は、アモルファスシリコンのようにプラ
ズマCVD法によって堆積膜を形成した電子写真感光体
の場合に特に顕著である。しかし、その表面電位の乗ら
ない部分は、基体の表面加工条件および堆積条件の最適
化を行なえばかなり抑制することができ、従来は現像の
解像力またはそれ以下の程度の微小なものであったため
実用上問題は生じていなかった。
That is, in the electrophotographic photosensitive member manufactured by the conventional method, there is a portion having a very small area where abnormal growth has occurred in the deposited film, and this portion is a portion where the surface charge is not applied.
Such a phenomenon is particularly remarkable in the case of an electrophotographic photosensitive member having a deposited film formed by a plasma CVD method like amorphous silicon. However, the portion where the surface potential does not multiply can be suppressed considerably by optimizing the surface processing conditions and deposition conditions of the substrate. Conventionally, the resolution was small enough to be at or below the resolving power of development. No problems had occurred.

【0026】しかしながら近年では、 1)電子写真装置の高画質化が要求され、それに伴い現
像の解像力が向上し、 2)複写機の高速化が進み、帯電条件が過酷になるに従
い、表面での電位の乗らない部分が実質上周辺の電位に
対して大きな影響を与えるようになった。
However, in recent years, 1) higher image quality of the electrophotographic apparatus has been required, and accordingly, the resolution of development has been improved. 2) As the speed of the copying machine has increased and the charging conditions have become more severe, the surface of the electrophotographic apparatus has become more severe. The portion where the potential is not applied substantially has a great influence on the peripheral potential.

【0027】そのような状況では、従来問題となってい
なかった上記の電荷の乗らない微小な部分も画像欠陥と
して指摘されるようになってきた。
In such a situation, the above-mentioned minute portion on which the electric charge has not been raised, which has not been a problem in the past, has been pointed out as an image defect.

【0028】さらに、これまでコピーは活字だけの原稿
(いわゆるラインコピー)が主な用途であったことか
ら、そのような画像欠陥は実用上大きな問題とはならな
かったが、近年高画質を与える複写機が開発されるに連
れ、写真などのハーフトーンを含む原稿が多くコピーさ
れるようになって問題となってきた。特に、近来普及し
てきたカラー複写機においては、これらの欠陥は、より
視覚的に明らかなものとなるため、大きな問題となって
きた。
Further, since image copying has been mainly used for originals of only print (so-called line copy), such image defects have not been a serious problem in practical use, but recently, high image quality is provided. As copiers have been developed, many documents including halftones such as photographs have been copied, which has become a problem. In particular, in color copiers that have recently become widespread, these defects have become a serious problem because they become more visually apparent.

【0029】これらの変化は微小なので、上部に電極を
付けて導電率の測定を行なっても検知することはできな
い。しかし、電子写真感光体として電子写真プロセスに
より帯電、露光、現像を行なったとき、特にハーフトー
ンで均一の画像を形成したときに電子写真感光体表面上
の僅かな電位の差も画像欠陥となって視覚的に顕著なも
のとして現れてくる。特に、マイクロ波プラズマCVD
法により作成した電子写真感光体においては、前述の問
題はさらに顕著に現れてしまう。
Since these changes are very small, they cannot be detected even if the conductivity is measured by attaching an electrode to the upper portion. However, when the electrophotographic photosensitive member is charged, exposed, and developed by an electrophotographic process, particularly when a uniform image is formed by halftone, a slight potential difference on the surface of the electrophotographic photosensitive member also causes an image defect. And appear as visually striking. In particular, microwave plasma CVD
In an electrophotographic photosensitive member prepared by the method, the above-mentioned problem appears more remarkably.

【0030】一方、真空蒸着により作製したSe電子写
真感光体、ブレード塗布法またはディッピング法等によ
り作製したOPC電子写真感光体などに比べ、プラズマ
CV法で作製した電子写真感光体では、このような画像
欠陥が特に顕著に現れる。
On the other hand, the electrophotographic photosensitive member manufactured by the plasma CV method has such a structure as compared with the Se electrophotographic photosensitive member manufactured by vacuum deposition, the OPC electrophotographic photosensitive member manufactured by the blade coating method or the dipping method, and the like. Image defects are particularly pronounced.

【0031】また、同じくプラズマCVD法で作製する
デバイスでも太陽電池のように基板上の位置による微妙
な特性の差がその性能に影響しない、または後処理で補
修が可能なデバイスでは上述の問題は発生しない。
Also, in a device manufactured by the plasma CVD method, the above problem is not solved in a device such as a solar cell in which a delicate difference in characteristics depending on a position on a substrate does not affect its performance or can be repaired by post-processing. Does not occur.

【0032】本発明の目的は、上述のごとき従来の電子
写真感光体の製造方法における諸問題を克服して、安価
に安定して歩留り良く高速形成し得る、使いやすい電子
写真感光体の製造方法を提供することにある。
An object of the present invention is to overcome the above-mentioned problems in the conventional method for manufacturing an electrophotographic photosensitive member, and to provide a method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member which is easy to use and which can be formed stably at low cost and with good yield. Is to provide.

【0033】さらに本発明は、プラズマCVD法で特に
顕著な画像欠陥の発生という問題点を解決して、均一な
高品位の画像を得ることができる電子写真感光体の製造
方法を提供することもその目的とする。
The present invention also provides a method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member capable of solving the problem of occurrence of particularly remarkable image defects in the plasma CVD method and obtaining a uniform high-quality image. With that purpose.

【0034】[0034]

【課題を解決するための手段】本発明は、アルミニウム
基体上に機能性膜を形成する工程を含む電子写真感光体
製造方法において、機能性膜を形成する工程の前に、基
体の表面を二酸化炭素を導入して二酸化炭素を溶解した
水(以後、CO2水と称する)による洗浄および二酸化
炭素を導入して二酸化炭素を溶解した温水(以後、CO
2温水と称する)に該基体を浸漬させ、該温水から該基
体を引き上げることによって行われる引き上げ乾燥を行
うことを特徴とする電子写真感光体の製造方法を提供す
る。
According to the present invention, there is provided an electrophotographic photoreceptor manufacturing method including a step of forming a functional film on an aluminum substrate. Washing with water in which carbon is introduced to dissolve carbon dioxide (hereinafter referred to as CO 2 water) and warm water in which carbon dioxide is introduced to dissolve carbon dioxide (hereinafter referred to as CO 2 water)
2 ) The substrate is immersed in hot water.
The present invention provides a method for producing an electrophotographic photoreceptor, which comprises performing lifting and drying performed by lifting the body.

【0035】本発明者らが行った検討によれば、アルミ
ニウム基体を用いたときに発生する画像欠陥の原因は、
以下の2つに大別できる。 (A)基体上に塵などが付着し、それが核となる。 (B)基体の表面欠陥が核となる。
According to the studies conducted by the present inventors, the causes of image defects that occur when an aluminum substrate is used are as follows.
It can be roughly divided into the following two. (A) Dust or the like adheres to the substrate, which becomes a core. (B) The surface defects of the substrate become nuclei.

【0036】(A)の塵等の付着は、切削、洗浄など基
体を取り扱う場所のクリーン化を図り、成膜炉内の清掃
を厳密に行なった上で、しかも堆積膜形成の直前に基体
表面を洗浄することにより防止することが可能であっ
た。従来は、トリクロルエタン等の塩素系溶剤で洗浄す
ることによりこの目的を達成していた。しかし、近年オ
ゾン層の破壊等の理由でこうした塩素系の溶剤の使用が
制限されるようになってきたため、この問題点について
新たに検討を加える必要が生じてきた。
The adhesion of dust and the like in (A) is to clean the place where the substrate is handled, such as cutting and cleaning, and to clean the inside of the film forming furnace strictly, and furthermore, immediately before the formation of the deposited film, Could be prevented by washing. Conventionally, this object has been achieved by washing with a chlorine-based solvent such as trichloroethane. However, in recent years, the use of such chlorine-based solvents has been restricted for reasons such as destruction of the ozone layer, and thus it has become necessary to newly examine this problem.

【0037】一方、(B)の欠陥を減少させることは、
従来から極めて困難であった。
On the other hand, reducing the defect of (B)
Conventionally, it has been extremely difficult.

【0038】本発明者らは、特定の成分を含有するアル
ミニウムと特定の洗浄方法を組み合わせることにより、
これらの問題点を全て解決できないかという観点に立っ
て鋭意検討を行なった結果、本発明を完成するに至っ
た。
By combining aluminum containing a specific component and a specific cleaning method, the present inventors
As a result of intensive studies from the viewpoint of solving all of these problems, the present invention has been completed.

【0039】本発明者らの検討によって、アルミニウム
中に局所的に高硬度の部分があり、堆積膜形成に先立つ
前加工として切削等の表面加工を行う際に、これらの高
硬度の部分が加工機の刃によってえぐられることが、
(B)のアルミニウム基体上の表面欠陥の原因であるこ
とが明らかとなった。
According to the study of the present inventors, there are locally high hardness portions in aluminum, and when performing surface processing such as cutting as pre-processing prior to formation of a deposited film, these high hardness portions are processed. What can be excavated by the blade of the machine,
It became clear that this was the cause of the surface defect on the aluminum substrate of (B).

【0040】さらに、そのような現象を防ぐためには、
通常アルミニウムに含有される不純物は少ない方が良
い。しかしながら、非常に高純度のアルミニウムでは、
原材料のアルミニウムを基体の形状に応じて加工するた
めに溶解する際、酸化物の発生・成長が不可避であり、
それが前述の欠陥発生の原因となる。これを防ぐために
は、珪素原子を含有させることが効果的であることが明
らかになった。
Further, in order to prevent such a phenomenon,
Generally, it is better that the amount of impurities contained in aluminum is small. However, with very high purity aluminum,
When the raw material aluminum is melted for processing according to the shape of the base, the generation and growth of oxides is inevitable,
That causes the above-mentioned defect. In order to prevent this, it has been found that containing silicon atoms is effective.

【0041】基体表面の機械加工後、トリクロルエタン
等の塩素系の溶剤を用いた洗浄を行なう場合は、そのよ
うな改良を施すだけで基体の表面性による画像欠陥の発
生を防止することは十分可能である。
When cleaning with a chlorine-based solvent such as trichloroethane is performed after machining of the substrate surface, it is not sufficient to prevent the occurrence of image defects due to the surface properties of the substrate only by making such improvements. It is possible.

【0042】しかし前述のように、近年では環境問題の
ために塩素系溶剤を安易に用いることができないため、
本発明者らは洗浄についても検討を行なった。その結
果、アルミニウムは水により腐食し、特に珪素原子を含
むアルミニウムでは、洗浄の際に水に接触すると珪素原
子が局所的に多い部分を中心に水による腐食が顕著にな
ることが明らかになった。
However, as described above, in recent years, chlorine-based solvents cannot be easily used due to environmental problems.
The present inventors also studied cleaning. As a result, it was found that aluminum corrodes due to water, and especially for aluminum containing silicon atoms, when it comes into contact with water at the time of cleaning, the corrosion due to water becomes remarkable mainly in a portion where silicon atoms are locally large. .

【0043】この現象は、水の温度が高いほど顕著であ
り、またアルミ二ウム中に珪素原子とともに切削性を向
上する目的でマグネシウムを含有させる場合はさらに顕
著となった。アルミニウムの腐食防止の目的で各種の腐
食防止剤が提案されているが、本発明のように珪素を含
んだアルミニウム基体を電子写真感光体の基体に用いる
場合は、大面積の基体上に僅かに発生した欠陥でも問題
となるため効果が不十分であり、さらに、これらの腐食
防止剤が洗浄後も微量に基体表面に残るため、堆積膜形
成後の電子写真特性に悪影響が生じる。すなわち、アル
ミニウム基体表面上に水と同時に速やかに揮発しない不
揮発性の成分が付着していると、電子写真感光体を作製
した場合に画像上にしみ等の悪影響が発生する。従っ
て、従来の腐食防止剤の使用には限界がある。
This phenomenon is more remarkable when the temperature of water is higher, and is more remarkable when magnesium is contained in aluminum together with silicon atoms to improve machinability. Various corrosion inhibitors have been proposed for the purpose of preventing corrosion of aluminum. However, when an aluminum substrate containing silicon is used as a substrate for an electrophotographic photosensitive member as in the present invention, a slight amount of Even if the defect is generated, the effect is insufficient because it causes a problem. Further, since a small amount of such a corrosion inhibitor remains on the surface of the substrate even after cleaning, the electrophotographic characteristics after the formation of the deposited film are adversely affected. That is, when a non-volatile component that does not volatilize immediately with water adheres to the surface of the aluminum substrate, an adverse effect such as blotting on an image occurs when an electrophotographic photosensitive member is manufactured. Therefore, the use of conventional corrosion inhibitors is limited.

【0044】本発明者らは堆積膜形成に先立ち、塵など
の付着物を除去するために行なう洗浄工程で用いる水に
何らかの改良を加えることで上記のような欠陥発生を抑
制することができないかと考え、鋭意研究した結果、本
発明を完成させるに至った。本発明の方法のようにCO
2水を用いることで良好な結果が得られる理由(メカニ
ズム)については、未だ解明されていない点が多いが、
本発明者らは現在、次のように考えている。
The inventors of the present invention wondered if the above-mentioned defects could be suppressed by making some improvement to the water used in the cleaning step for removing the deposits such as dust prior to the formation of the deposited film. As a result of intensive thought and research, the present invention has been completed. As in the method of the present invention, CO 2
2 The reason why good results can be obtained by using water (mechanism) has not yet been elucidated in many respects,
The present inventors currently consider as follows.

【0045】アルミニウム基体表面に部分的に露出した
珪素原子が多い部分は、周囲の通常のアルミニウムの部
分と局部的な電池を形成して腐食を促進する。
The portion of the aluminum substrate surface that is largely exposed to silicon atoms forms a local battery with the surrounding normal aluminum portion to promote corrosion.

【0046】一方、水に溶解した二酸化炭素は水中で炭
酸イオンとなり、これらの局部電池の部分に引き寄せら
れ周囲を覆うことにより水中の酸素等の接近を防ぎ、効
果的に腐食を防止する。さらに炭酸イオンは、珪素原子
の多い部分表面に何らかの変質を生じさせ、それにより
堆積膜形成時にこの部分から異常成長が発生することを
防止する。
On the other hand, carbon dioxide dissolved in water turns into carbonate ions in the water, and is attracted to these local battery parts to cover the surroundings, thereby preventing access of oxygen and the like in the water and effectively preventing corrosion. Further, the carbonate ions cause some alteration on the surface of the portion containing a large amount of silicon atoms, thereby preventing abnormal growth from occurring in this portion during the formation of the deposited film.

【0047】さらに、本発明の方法の予期せぬ効果とし
て、画像ムラの低減と電子写真特性向上が認められた。
Further, as unexpected effects of the method of the present invention, reduction of image unevenness and improvement of electrophotographic characteristics were recognized.

【0048】プラズマCVD法により例えばアモルファ
スシリコン堆積膜を基体上に形成する場合、反応は、気
相における原料ガスの分解過程、放電空間から基体表面
までの活性種の輸送過程、基体表面での表面反応過程の
3つに分けて考えることができる。中でも、表面反応過
程は完成した堆積膜の構造の決定に非常に大きな役割を
果たしている。そしてその表面反応は、基体表面の温
度、材質、形状、吸着物質などによって大きく影響され
る。
When, for example, an amorphous silicon deposition film is formed on a substrate by the plasma CVD method, the reaction is a decomposition process of a raw material gas in a gas phase, a transport process of active species from a discharge space to a substrate surface, and a surface on the substrate surface. The reaction process can be divided into three parts. In particular, the surface reaction process plays a very important role in determining the structure of the completed deposited film. The surface reaction is greatly affected by the temperature, the material, the shape, the adsorbed substance and the like of the substrate surface.

【0049】特に純度の高いアルミニウム基体は、切削
後トリクロルエタンのような非水溶剤で洗浄を行なった
だけの状態あるいは切削後に他の洗浄を行わずに純水に
よるジェット洗浄処理を行っただけの状態では、基体表
面上の水の吸着が部分的に異なる状態となっている。こ
のような表面状態の基体上に例えばプラズマCVD法に
よりアモルファスシリコン膜のような珪素原子と水素原
子および/または弗素原子とを含んだ堆積膜を形成する
と、その表面の反応は、基体表面上に残った水分子の量
に特に大きく影響される。このことにより、基体の位置
の水の吸着量により堆積膜の界面の組成および構造が変
化し、その結果、電子写真プロセスの工程中においてそ
の基体部分からの電荷注入性が変化し、画像濃度を変え
るだけの表面電位差が現れる。
Particularly, a high-purity aluminum substrate is obtained by simply washing with a non-aqueous solvent such as trichloroethane after cutting, or simply performing jet cleaning treatment with pure water without performing other washing after cutting. In the state, the adsorption of water on the substrate surface is partially different. When a deposited film containing silicon atoms and hydrogen atoms and / or fluorine atoms, such as an amorphous silicon film, is formed on a substrate having such a surface state by, for example, a plasma CVD method, a reaction on the surface is caused on the substrate surface. It is particularly strongly affected by the amount of remaining water molecules. As a result, the composition and structure of the interface of the deposited film changes depending on the amount of water adsorbed at the position of the substrate, and as a result, the charge injection property from the substrate portion changes during the electrophotographic process, thereby reducing the image density. A surface potential difference that can be changed appears.

【0050】本発明の方法では、プラズマCVD法によ
る堆積膜形成前に基体表面をCO2水で洗浄し、かつC
2温水で引き上げ乾燥することにより、基体表面を効
果的に均一化することができ、上述の画像の濃度ムラを
なくすことができる。
In the method of the present invention, the substrate surface is washed with CO 2 water before forming a deposited film by the plasma CVD method, and
By pulling up and drying with warm water of O 2 , the surface of the substrate can be effectively made uniform, and the above-mentioned unevenness in image density can be eliminated.

【0051】さらに炭酸イオンは、アルミニウム表面全
体を均一に僅かに溶解することにより表面の活性度を上
げ、堆積膜を形成する際良好な電荷のやり取りができる
界面を形成する効果を有する。このため、帯電の向上、
残留電位、光感度の低減等電子写真特性の向上を果たす
ことが可能となった。
Further, carbonate ions have the effect of increasing the surface activity by uniformly and slightly dissolving the entire aluminum surface and forming an interface through which good charge exchange can be performed when forming a deposited film. For this reason, improvement of electrification,
It has become possible to improve the electrophotographic characteristics, such as reducing the residual potential and the light sensitivity.

【0052】本発明は電子写真感光体の製造時において
発生する画像欠陥等を改善し、さらにその電子写真特性
を向上させるための新規の表面処理方法であり、単なる
表面汚染物質の洗浄とは全く異なった効果を与えるもの
である。
The present invention is a novel surface treatment method for improving image defects and the like generated during the production of an electrophotographic photosensitive member and further improving the electrophotographic characteristics. It has different effects.

【0053】さらに本発明の方法では、切削工程後、C
2水による洗浄工程の前に前洗浄工程を設けることに
より、洗浄工程の効果を低減させる油脂およびハロゲン
系の残流物の除去を完全に行なって効果を高めることも
できる。特に、前洗浄工程で水または界面活性剤を加え
た水による超音波洗浄を行なうことにより、本発明の方
法の効果を大幅に向上させることができる。
Further, in the method of the present invention, after the cutting step, C
By providing a pre-cleaning step before the cleaning step with O 2 water, the effect of the cleaning step can be completely improved by removing fats and oils and halogen-based residuals that reduce the effect of the cleaning step. In particular, by performing ultrasonic cleaning with water or water to which a surfactant is added in the pre-cleaning step, the effect of the method of the present invention can be significantly improved.

【0054】アルミニウム合金製シリンダーを基体とし
て、本発明の電子写真感光体製造方法により電子写真感
光体を実際に形成する手順の1例を、図1の基体前処理
装置ならびに図2(a)および図2(b)に示す堆積膜
形成装置を用いる場合について、以下に説明する。
One example of a procedure for actually forming an electrophotographic photosensitive member by the method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member of the present invention using a cylinder made of an aluminum alloy as a substrate will be described with reference to FIG. The case where the deposited film forming apparatus shown in FIG. 2B is used will be described below.

【0055】精密切削用のエアーダンパー付旋盤(PNEU
MO PECLUSION INC.製)に、ダイヤモンドバイト(商品
名:ミラクルバイト、東京ダイヤモンド製)を、シリン
ダー中心角に対して5°の角のすくい角を得るようにセ
ットする。次に、この旋盤の回転フランジに基体をチャ
ックし、付設したノズルから白燈油噴霧、同じく付設し
た真空ノズルから切り粉の吸引を併用しつつ、周速10
00m/min、送り速度0.01mm/Rの条件で外
形が108mmとなるように鏡面切削を施す。
Lathe with air damper for precision cutting (PNEU
MO PECLUSION INC.) Is set with a diamond bite (trade name: Miracle bite, manufactured by Tokyo Diamond) so as to obtain a rake angle of 5 ° with respect to the cylinder center angle. Next, the base was chucked to the rotating flange of the lathe, and the peripheral nozzle was sprayed with white kerosene from the attached nozzle and the suction speed of the cutting powder from the attached vacuum nozzle.
Under the conditions of 00 m / min and a feed rate of 0.01 mm / R, mirror cutting is performed so that the outer shape becomes 108 mm.

【0056】切削が終了した基体は、基体前処理装置に
より基体表面の処理を行なう。図1に示す基体前処理装
置は、処理部102と基体搬送機構103よりなってい
る。処理部102は、基体投入台111、基体前洗浄槽
121、CO2水による洗浄槽131、乾燥槽141、
基体搬送台151より成っている。前洗浄槽121、C
2水による洗浄槽131、CO2温水による乾燥層14
1とも液の温度を一定に保つための温度調節装置(図示
せず)が付いている。搬送機構103は、搬送レール1
65と搬送アーム161より成り、搬送アーム161
は、レール165上を移動する移動機構162、基体1
01を保持するチャッキング機構163およびチャッキ
ング機構163を上下させるためのエアーシリンダー1
64より成っている。
After the substrate has been cut, the surface of the substrate is processed by a substrate pretreatment device. The substrate pretreatment apparatus shown in FIG. 1 includes a processing unit 102 and a substrate transport mechanism 103. The processing unit 102 includes a substrate loading table 111, a pre-substrate cleaning bath 121, a cleaning bath 131 using CO 2 water, a drying bath 141,
It consists of a substrate carrier 151. Pre-cleaning tank 121, C
O 2 water cleaning tank 131, CO 2 hot water dry layer 14
Both have a temperature controller (not shown) for keeping the temperature of the liquid constant. The transport mechanism 103 includes the transport rail 1
65 and the transfer arm 161.
Is a moving mechanism 162 that moves on the rail 165,
01 for holding the chuck 01 and the air cylinder 1 for raising and lowering the chucking mechanism 163
It consists of 64.

【0057】切削後、投入台111上に置かれた基体1
01は、搬送機構103により洗浄槽121に搬送され
る。前洗浄槽121中の界面活性剤水溶液122中で超
音波処理することにより表面に付着している切削油およ
び切り粉の洗浄を行なう。
After cutting, the substrate 1 placed on the loading table 111
01 is transported to the cleaning tank 121 by the transport mechanism 103. Ultrasonic treatment is performed in the aqueous surfactant solution 122 in the pre-cleaning tank 121 to clean the cutting oil and chips adhering to the surface.

【0058】次に、搬送機構103により基体101を
CO2水による洗浄槽131に運び、25℃の温度に保
たれたCO2水によりさらに洗浄を行なう。CO2水につ
いては、工業用導電率計(商品名:α900R/C、堀
場製作所製)により随時導電率を測定し、必要に応じて
二酸化炭素を溶解することにより、導電率がほぼ10μ
S/cmに維持されるように制御する。CO2水による
洗浄の終了した基体101は、搬送機構103によりC
2温水による乾燥槽141に移動し、昇降装置(図示
せず)を用い、60℃の温度に保たれたCO2温水にて
引き上げ乾燥に付す。CO2温水については、工業用導
電率計(商品名α900R/C、堀場製作所製)により
随時導電率を測定し、必要により二酸化炭素を溶解する
ことにより、導電率がほぼ20μS/cmに維持される
ように制御する。乾燥工程の終了した基体101は、搬
送機構103により搬送台151に運ぶ。
Next, the substrate 101 is transported to the CO 2 water cleaning tank 131 by the transport mechanism 103, and further cleaned with CO 2 water maintained at a temperature of 25 ° C. As for CO 2 water, the conductivity is measured at any time by an industrial conductivity meter (trade name: α900R / C, manufactured by HORIBA, Ltd.).
It is controlled so as to be maintained at S / cm. The substrate 101, which has been washed with CO 2 water, is transported by
It is moved to a drying tank 141 using hot O 2 water, pulled up using CO 2 hot water maintained at a temperature of 60 ° C., and subjected to drying using an elevating device (not shown). The conductivity of CO 2 hot water is measured at any time by an industrial conductivity meter (trade name α900R / C, manufactured by HORIBA, Ltd.), and the conductivity is maintained at approximately 20 μS / cm by dissolving carbon dioxide as necessary. Control so that The substrate 101 after the drying step is carried to the carrier 151 by the carrier mechanism 103.

【0059】次に、これらの切削加工および前処理の終
了した基体上に、図2(a)および図2(b)に示すプ
ラズマCVD法による光導電部材堆積膜の形成装置によ
り、アモルファスシリコンを主体とした堆積膜を形成す
る。
Next, on the substrate which has been subjected to the cutting and pretreatment, amorphous silicon is deposited on the substrate by the apparatus for forming a photoconductive member deposited film by the plasma CVD method shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b). A main deposited film is formed.

【0060】図2(a)および図2(b)において、2
01は真空気密化構造を有する反応容器である。また2
02はマイクロ波電力を反応容器201内に効率良く透
過し、かつ真空気密を保持し得るような材料(例えば石
英ガラス、アルミナセラミックス等)で形成されたマイ
クロ波導入誘電体窓である。203はマイクロ波電力の
伝送を行なう導波管であり、マイクロ波電源から反応容
器近傍までの矩形の部分と反応容器に挿入された円筒形
の部分から成っている。導波管203はスタブチューナ
ー(図示せず)、アイソレーター(図示せず)とともに
マイクロ波電源(図示せず)に接続されている。誘電体
窓202は反応容器内の雰囲気を保持するために導波管
203の円筒形の部分内壁に気密封止されている。20
4は、一端が反応容器201に開口し、他端が排気装置
(図示せず)に連通している排気管である。206は基
体205により囲まれた放電空間を示す。電源211は
バイアス電極212に直流電圧を印加するための直流電
源(バイアス電源)であり、電極212に電気的に接続
されている。
In FIGS. 2A and 2B, 2
Reference numeral 01 denotes a reaction vessel having a vacuum tight structure. Also 2
Reference numeral 02 denotes a microwave introduction dielectric window formed of a material (for example, quartz glass, alumina ceramics or the like) capable of efficiently transmitting microwave power into the reaction vessel 201 and maintaining vacuum tightness. Reference numeral 203 denotes a waveguide for transmitting microwave power, which includes a rectangular portion extending from the microwave power source to the vicinity of the reaction vessel and a cylindrical portion inserted into the reaction vessel. The waveguide 203 is connected to a microwave power supply (not shown) together with a stub tuner (not shown) and an isolator (not shown). The dielectric window 202 is hermetically sealed to the inner wall of the cylindrical portion of the waveguide 203 to maintain the atmosphere in the reaction vessel. 20
Reference numeral 4 denotes an exhaust pipe having one end open to the reaction vessel 201 and the other end communicating with an exhaust device (not shown). Reference numeral 206 denotes a discharge space surrounded by the base 205. The power supply 211 is a DC power supply (bias power supply) for applying a DC voltage to the bias electrode 212, and is electrically connected to the electrode 212.

【0061】こうした堆積膜形成装置を使用した電子写
真感光体の製造は以下のようにして行なう。
The production of an electrophotographic photosensitive member using such a deposited film forming apparatus is performed as follows.

【0062】先ず、真空ポンプ(図示せず)により排気
管204を介して反応容器201を排気し、反応容器内
の圧力を1×10-7Torr以下に調整する。次いで、
ヒーター207により基体205の温度を所定の温度に
加熱保持する。そこで、不図示のガス導入手段を介し
て、アモルファスシリコンの原料ガスとしてシランガ
ス、ドーピングガスとしてジボランガス、希釈ガスとし
てヘリウムガス等の原料ガスを反応容器201内に導入
する。それと同時並行的にマイクロ波電源(図示せず)
により周波数2.45GHzのマイクロ波を発生させ、
導波管203を通じ、誘電体窓202を介して反応容器
201内に導入する。さらに、放電空間206中のバイ
アス電極212に電気的に接続された直流電源211に
より、バイアス電極212に基体205に対して直流電
圧を印加する。かくして基体205により囲まれた放電
空間206において、原料ガスはマイクロ波のエネルギ
ーにより励起されて解離し、さらにバイアス電極212
と基体205の間の電界により定常的に基体205上に
イオン衝撃を受けながら、基体205表面に堆積膜が形
成される。この時、基体205が設置された回転軸20
9をモーター210によって回転させ、基体205を基
体母線方向中心軸の回りに回転させることにより、基体
205全周にわたって均一に堆積膜層を形成する。
First, the reaction vessel 201 is evacuated through the exhaust pipe 204 by a vacuum pump (not shown), and the pressure in the reaction vessel is adjusted to 1 × 10 −7 Torr or less. Then
The temperature of the base 205 is heated and maintained at a predetermined temperature by the heater 207. Therefore, a source gas such as a silane gas as a source gas for amorphous silicon, a diborane gas as a doping gas, and a helium gas as a diluting gas is introduced into the reaction vessel 201 through a gas introducing unit (not shown). Microwave power supply (not shown) at the same time
Generates a microwave having a frequency of 2.45 GHz,
It is introduced into the reaction vessel 201 through the waveguide 203 through the dielectric window 202. Further, a DC voltage is applied to the bias electrode 212 to the base 205 by a DC power supply 211 electrically connected to the bias electrode 212 in the discharge space 206. Thus, in the discharge space 206 surrounded by the base 205, the source gas is excited by microwave energy to be dissociated, and further the bias gas 212
The deposited film is formed on the surface of the substrate 205 while constantly receiving ion bombardment on the substrate 205 by the electric field between the substrate 205 and the substrate 205. At this time, the rotating shaft 20 on which the base 205 is installed
By rotating the substrate 9 by the motor 210 and rotating the substrate 205 around the central axis in the direction of the base line of the substrate, a deposited film layer is formed uniformly over the entire periphery of the substrate 205.

【0063】本発明の方法においては、前洗浄を行なう
場合は特に、界面活性剤等を含有した水系の洗浄を行う
ことが望ましい。水系洗浄を行なう場合の界面活性剤を
溶解する前の水の水質に特に制限はないが、好ましくは
半導体グレードの純水、特に超LSIグレードの超純水
が望ましい。具体的には、水温25℃の時の抵抗率が1
MΩ・cm、好ましくは3MΩ・cm、最適には5MΩ
・cmを下限とする水である。その上限としては、理論
抵抗値(18.25MΩ・cm)以下の値であれば良い
が、コストおよび生産性の面から、17MΩ・cm、好
ましくは15MΩ・cm、最適には13MΩ・cmであ
る。
In the method of the present invention, particularly when pre-cleaning is performed, it is desirable to perform water-based cleaning containing a surfactant or the like. There is no particular limitation on the quality of the water before dissolving the surfactant in the case of the aqueous cleaning, but pure water of a semiconductor grade, particularly ultrapure water of an ultra LSI grade is desirable. Specifically, the resistivity at a water temperature of 25 ° C. is 1
MΩ · cm, preferably 3 MΩ · cm, optimally 5 MΩ
-Water with cm as the lower limit. The upper limit may be a value equal to or less than the theoretical resistance value (18.25 MΩ · cm), but from the viewpoint of cost and productivity, it is 17 MΩ · cm, preferably 15 MΩ · cm, and most preferably 13 MΩ · cm. .

【0064】微粒子量としては、0.2μm以上のもの
が1ml中に10000個以下、好ましくは1000個
以下、最適には100個以下である。微生物量として
は、総生菌数が1ml中に100個以下、好ましくは1
0個以下、最適には1個以下である。有機物量(TO
C)は1リットル中に10mg以下、好ましくは1mg
以下、最適には0.2mg以下である。
The amount of fine particles is not more than 10,000 μm, preferably not more than 1,000, and most preferably not more than 100 per 1 ml of particles having a particle size of 0.2 μm or more. The amount of microorganisms is such that the total viable count is 100 or less, preferably 1
0 or less, optimally 1 or less. Organic matter (TO
C) is 10 mg or less, preferably 1 mg per liter.
Hereinafter, the optimal amount is 0.2 mg or less.

【0065】上記の水質の水を得る方法としては、活性
炭法、蒸留法、イオン交換法、フィルターろ過法、逆浸
透法、紫外線殺菌法等があるが、これらの方法を複数組
み合わせて用い、所望の水質を達成することが望まし
い。
As a method for obtaining the above-mentioned water of the above-mentioned quality, there are activated carbon method, distillation method, ion exchange method, filter filtration method, reverse osmosis method, ultraviolet sterilization method and the like. It is desirable to achieve water quality of

【0066】洗浄工程における水の温度は、高すぎると
基体上に酸化膜が発生して堆積膜の剥がれ等の原因とな
り、逆に低すぎると洗浄効果が低くなる。このため、水
の温度としては、5℃以上90℃以下、好ましくは10
℃以上55℃以下、最適には15℃以上40℃以下とす
る。温水乾燥工程における温水の温度は、30℃以上9
0℃以下、好ましくは35℃以上80℃以下、最適には
40℃以上70℃以下である。
If the temperature of the water in the cleaning step is too high, an oxide film is generated on the substrate to cause peeling of the deposited film, and if the temperature is too low, the cleaning effect is reduced. For this reason, the temperature of water is 5 ° C. or more and 90 ° C. or less, preferably 10 ° C. or less.
C. to 55.degree. C., optimally 15 to 40.degree. The temperature of the hot water in the hot water drying step is 30 ° C. or higher and 9
The temperature is 0 ° C or lower, preferably 35 ° C or higher and 80 ° C or lower, and most preferably 40 ° C or higher and 70 ° C or lower.

【0067】本発明の方法の前洗浄工程で用いられる界
面活性剤は、陰イオン性界面活性剤、陽イオン性界面活
性剤、非イオン性界面活性剤、両性界面活性剤またはそ
れらの混合したもの等いずれのものでも可能である。中
でも、カルボン酸塩、スルホン酸塩、硫酸モノエステル
塩、燐酸エステル塩等の陰イオン性界面活性剤または脂
肪酸エステル等の非イオン性界面活性剤が特に効果的で
ある。ビルダーとしては、燐酸塩、炭酸塩、珪酸塩、ホ
ウ酸塩等が有効である。キレート剤としては、グルコン
酸塩、EDTA、NTA、燐酸塩等が有効である。
The surfactant used in the pre-cleaning step of the method of the present invention may be an anionic surfactant, a cationic surfactant, a nonionic surfactant, an amphoteric surfactant or a mixture thereof. Any of them is possible. Among them, anionic surfactants such as carboxylate, sulfonate, sulfate monoester salt and phosphate ester salt and nonionic surfactant such as fatty acid ester are particularly effective. As the builder, phosphates, carbonates, silicates, borates and the like are effective. As a chelating agent, gluconate, EDTA, NTA, phosphate and the like are effective.

【0068】本発明の方法において、前洗浄工程に超音
波を用いることは効果を向上させる上で有効である。超
音波の周波数は、好ましくは100Hz以上10MHz
以下、さらに好ましくは1kHz以上5MHz以下、最
適には10kHz以上100kHz以下である。超音波
の出力は、好ましくは0.1W/リットル以上1kW/
リットル以下、さらに好ましくは1W/リットル以上1
00W/リットル以下である。
In the method of the present invention, the use of ultrasonic waves in the pre-cleaning step is effective in improving the effect. The frequency of the ultrasonic wave is preferably 100 Hz or more and 10 MHz.
The frequency is more preferably 1 kHz or more and 5 MHz or less, and most preferably 10 kHz or more and 100 kHz or less. The output of the ultrasonic wave is preferably 0.1 W / liter or more and 1 kW /
1 liter or less, more preferably 1 W / liter or more and 1
00W / liter or less.

【0069】本発明において、二酸化炭素を溶解した水
による洗浄工程に使用される水の水質は非常に重要であ
り、二酸化炭素溶解前の状態では半導体グレードの純
水、特に超LSIグレードの超純水が望ましい。具体的
には、水温25℃の時の抵抗率として、1MΩ・cm、
好ましくは3MΩ・cm、最適には5MΩ・cmを下限
とする水である。その抵抗値の上限は、理論抵抗値(1
8.25MΩ・cm)以下であれば良いが、コストおよ
び生産性の面から17MΩ・cm、好ましくは15MΩ
・cm、最適には13MΩ・cmである。
In the present invention, the quality of the water used in the washing step with water in which carbon dioxide is dissolved is very important. Water is preferred. Specifically, the resistivity at a water temperature of 25 ° C. is 1 MΩ · cm,
Preferably, the water has a lower limit of 3 MΩ · cm, and optimally 5 MΩ · cm. The upper limit of the resistance value is the theoretical resistance value (1
8.25 MΩ · cm) or less, but 17 MΩ · cm, preferably 15 MΩ, in terms of cost and productivity.
Cm, optimally 13 MΩcm.

【0070】微粒子量としては、0.2μm以上のもの
が1ml中に10000個以下、好ましくは1000個
以下、最適には100個以下である。微生物量として
は、総生菌数が1ml中に100個以下、好ましくは1
0個以下、最適には1個以下である。有機物量(TO
C)は1リットル中に10mg以下、好ましくは1mg
以下、最適には0.2mg以下である。
The amount of the fine particles is 0.2 μm or more, 10000 or less, preferably 1000 or less, and optimally 100 or less in 1 ml. The amount of microorganisms is such that the total viable count is 100 or less, preferably 1
0 or less, optimally 1 or less. Organic matter (TO
C) is 10 mg or less, preferably 1 mg per liter.
Hereinafter, the optimal amount is 0.2 mg or less.

【0071】上記の水質の水を得る方法としては、活性
炭法、蒸留法、イオン交換法、フィルターろ過法、逆浸
透法、紫外線殺菌法等があるが、これらの方法を複数組
み合わせて用い、所望の水質を達成することが望まし
い。
Examples of the method for obtaining the water having the above-mentioned water quality include an activated carbon method, a distillation method, an ion exchange method, a filter filtration method, a reverse osmosis method, an ultraviolet sterilization method, and the like. It is desirable to achieve water quality of

【0072】これらの水に溶解する二酸化炭素の量は飽
和溶解度までのいずれの量でも可能であるが、多すぎる
と水温が変動する場合に発泡が起こり、基体表面に付着
してスポット上のシミ発生の原因となる場合がある。さ
らに、溶解した二酸化炭素の量が多いとpHが低くなっ
て基体にダメージを与える場合があり、逆に溶解した二
酸化炭素の量が少なすぎると効果が不十分となる。従っ
て、基体に要求される品質等を考慮しながら、状況に合
わせて二酸化炭素の溶解量を最適化する必要があるが、
本発明の方法において好ましい二酸化炭素溶解量は、飽
和溶解度の60%以下、さらに好ましくは40%以下で
ある。
The amount of carbon dioxide dissolved in water can be any amount up to the saturation solubility. However, if the amount is too large, foaming occurs when the water temperature fluctuates, and adheres to the surface of the base to cause spots on the spot. May cause outbreaks. Further, when the amount of dissolved carbon dioxide is large, the pH may be lowered to damage the substrate, and when the amount of dissolved carbon dioxide is too small, the effect becomes insufficient. Therefore, it is necessary to optimize the dissolved amount of carbon dioxide according to the situation while considering the quality and the like required for the substrate.
The preferred amount of dissolved carbon dioxide in the method of the present invention is 60% or less, more preferably 40% or less of the saturated solubility.

【0073】本発明の方法において、二酸化炭素の溶解
量は水の導電率またはpHで管理することが実用的であ
る。導電率で管理した場合、好ましい範囲は2μS/c
m以上40μS/cm以下、さらに好ましくは4μS/
cm以上30μS/cm以下、最適には6μS/cm以
上25μS/cm以下である。pHで管理した場合、好
ましい範囲は3.8以上6.0以下、さらに好ましくは
4.0以上5.0以下である。このような管理を行なう
ことにより本発明の方法の効果が顕著となる。導電率の
測定は導電率計等によって行ない、値としては温度補正
により25℃に換算した値を用いる。
In the method of the present invention, it is practical to control the dissolved amount of carbon dioxide by the conductivity or pH of water. When controlled by conductivity, the preferred range is 2 μS / c.
m or more and 40 μS / cm or less, more preferably 4 μS / cm
cm or more and 30 μS / cm or less, optimally 6 μS / cm or more and 25 μS / cm or less. When the pH is controlled, the preferred range is 3.8 or more and 6.0 or less, and more preferably 4.0 or more and 5.0 or less. By performing such management, the effect of the method of the present invention becomes remarkable. The conductivity is measured by a conductivity meter or the like, and a value converted to 25 ° C. by temperature correction is used.

【0074】水の温度は高すぎると基体上に酸化膜が発
生して堆積膜の剥がれ等の原因となり、逆に低すぎると
洗浄効果が小さくなって本発明の方法の効果が十分に得
られない。このため、水の温度としては、5℃以上90
℃以下、好ましくは10℃以上55℃以下、最適には1
5℃以上40℃以下とする。
[0074] The temperature of the water causes the peeling of the deposited film oxide film is generated in too high on the substrate, the effect is sufficiently obtained in the method of the present invention the cleaning effect is too low on the contrary smaller I can't. For this reason, the temperature of the water is 5 ° C. or more and 90 ° C.
° C or lower, preferably 10 ° C or higher and 55 ° C or lower, optimally 1 ° C or lower.
5 ° C. or higher and 40 ° C. or lower.

【0075】二酸化炭素を水に溶解する方法としては、
バブリングによる方法、隔膜を用いる方法等いずれでも
良い。本発明の方法においては、二酸化炭素を溶解した
水を用いることが重要であり、炭酸イオンを得るために
炭酸ナトリウム等の炭酸塩を用いた場合、ナトリウムイ
オン等の陽イオンが妨害因子として作用してしまう。
As a method for dissolving carbon dioxide in water,
Either a method using bubbling or a method using a diaphragm may be used. In the method of the present invention, it is important to use water in which carbon dioxide is dissolved, and when a carbonate such as sodium carbonate is used to obtain a carbonate ion, a cation such as sodium ion acts as an interfering factor. Would.

【0076】このようにして得られたCO2水により基
体表面を洗浄するときは、ディッピングにより洗浄する
方法、水圧をかけて吹き付ける方法等がある。
When the substrate surface is washed with the CO 2 water thus obtained, there are a method of washing by dipping, a method of spraying by applying water pressure, and the like.

【0077】ディッピングにより洗浄する場合、CO2
水を導入した水槽に基体を浸漬することが基本である
が、その際に超音波印加、水流、空気導入等によるバブ
リング等を併用すると、本発明の方法の効果はさらに顕
著となる。
When washing by dipping, CO 2
Basically, the substrate is immersed in a water tank into which water has been introduced. When the application of ultrasonic waves, the flow of water, the bubbling by air introduction, or the like is used in combination, the effect of the method of the present invention becomes more remarkable.

【0078】吹き付ける場合の水の圧力は、弱すぎると
効果が小さく、強すぎると得られた電子写真感光体の画
像上、特にハーフトーンの画像上で梨肌状の模様が発生
してしまう。このため、水の圧力としては、2kg・f
/cm2以上300kg・f/cm2以下、好ましくは1
0kg・f/cm2以上200kg・f/cm2以下、最
適には20kg・f/cm2以上150kg・f/cm2
以下とする。ただし、この場合の単位であるkg・f/
cm2は、重力キログラム毎平方センチメートルを意味
し、1kg・f/cm2は98066.5Paに等し
い。
If the pressure of the water to be sprayed is too weak, the effect is small, and if it is too strong, a pear-skinned pattern is generated on the obtained image of the electrophotographic photosensitive member, particularly on a halftone image. Therefore, the water pressure is 2 kg · f
/ Cm 2 or more and 300 kg · f / cm 2 or less, preferably 1
0 kg · f / cm 2 or more and 200 kg · f / cm 2 or less, optimally 20 kg · f / cm 2 or more and 150 kg · f / cm 2
The following is assumed. However, the unit kg · f /
cm 2 means kilograms of gravity per square centimeter, and 1 kg · f / cm 2 is equal to 98066.5 Pa.

【0079】水を吹き付ける方法には、ポンプにより高
圧化した水をノズルから吹き付ける方法、またはポンプ
で汲み上げた水をノズルの手前で高圧空気と混合して、
空気の圧力により吹き付ける方法等がある。
The method of spraying water is to spray water pressurized by a pump from a nozzle, or to mix water pumped by a pump with high-pressure air before the nozzle,
There is a method of blowing by the pressure of air.

【0080】水の流量としては、効果と経済性から、基
体1本当り1リットル/min以上200リットル/m
in以下、好ましくは2リットル/min以上100リ
ットル/min以下、最適には5リットル/min以上
50リットル/min以下である。
The flow rate of the water is from 1 liter / min to 200 liter / m per substrate from the viewpoints of effect and economy.
in, preferably 2 l / min to 100 l / min, optimally 5 l / min to 50 l / min.

【0081】水の温度は、高すぎると基体上に酸化膜が
発生して堆積膜の剥がれ等の原因となり本発明の方法の
効果が十分に得られないとともに、二酸化炭素の水への
溶解量を安定させておくことが困難である。逆に、低す
ぎてもやはり本発明の方法の効果は十分ではない。この
ため水の温度としては、15℃以上80℃以下、好まし
くは20℃以上75℃以下、最適には25℃以上60℃
以下である。
If the temperature of water is too high, an oxide film is formed on the substrate to cause peeling off of the deposited film, and the effect of the method of the present invention cannot be sufficiently obtained. Is difficult to keep stable. Conversely, if it is too low, the effect of the method of the present invention is still not sufficient. For this reason, the temperature of water is 15 ° C or more and 80 ° C or less, preferably 20 ° C or more and 75 ° C or less, and most preferably 25 ° C or more and 60 ° C or less.
It is as follows.

【0082】CO2水による洗浄処理の時間は、長すぎ
ると基体上に酸化膜が発生し、逆に短かすぎると効果が
小さいため、10秒以上30分以下、好ましくは20秒
以上20分以下、最適には30秒以上10分以下であ
る。
If the time of the cleaning treatment with CO 2 water is too long, an oxide film is formed on the substrate, and if the time is too short, the effect is small, so that the time is 10 seconds to 30 minutes, preferably 20 seconds to 20 minutes. Hereinafter, it is optimally 30 seconds or more and 10 minutes or less.

【0083】本発明の方法においては、堆積膜形成に悪
影響を与える基体表面の酸化皮膜等の生成を最小限に抑
えるために、基体表面の切削は堆積膜形成の直前に行な
うことが重要である。
In the method of the present invention, it is important that the substrate surface is cut immediately before the formation of the deposited film in order to minimize the formation of an oxide film on the substrate surface, which adversely affects the formation of the deposited film. .

【0084】切削からCO2水による洗浄処理までの時
間は、長すぎると基体表面に再度酸化膜が発生し、逆に
短かすぎると工程が安定しないため、1分以上16時間
以下、好ましくは2分以上8時間以下、最適には3分以
上4時間以下とする。
If the time from the cutting to the cleaning treatment with CO 2 water is too long, an oxide film is generated again on the substrate surface, and if the time is too short, the process is not stable. The time is from 2 minutes to 8 hours, optimally from 3 minutes to 4 hours.

【0085】本発明の方法において、CO2温水による
温水乾燥を行なう場合、使用される水の水質は非常に重
要であり、二酸化炭素溶解前の状態では半導体グレード
の純水、特に超LSIグレードの超純水が望ましい。具
体的には、水温25℃での抵抗率として、1MΩ・c
m、好ましくは3MΩ・cm、最適には5MΩ・cmを
下限とする水である。抵抗値の上限は、理論抵抗値(1
8.25MΩ・cm)以下の値であれば良いが、コスト
および生産性の面から17MΩ・cm、好ましくは15
MΩ・cm、最適には13MΩ・cmである。
In the method of the present invention, when hot water drying with CO 2 hot water is performed, the quality of the water used is very important. Before the carbon dioxide dissolution, pure water of semiconductor grade, particularly ultra LSI grade, is used. Ultrapure water is desirable. Specifically, as a resistivity at a water temperature of 25 ° C., 1 MΩ · c
m, preferably 3 MΩ · cm, most preferably 5 MΩ · cm. The upper limit of the resistance value is the theoretical resistance value (1
8.25 MΩ · cm) or less, but from the viewpoint of cost and productivity, 17 MΩ · cm, preferably 15 MΩ · cm.
MΩ · cm, optimally 13 MΩ · cm.

【0086】微粒子量としては、0.2μm以上のもの
が1ml中に10000個以下、好ましくは1000個
以下、最適には100個以下である。微生物量として
は、総生菌数が1ml中に100個以下、好ましくは1
0個以下、最適には1個以下である。有機物量(TO
C)は1リットル中に10mg以下、好ましくは1mg
以下、最適には0.2mg以下である。
The amount of fine particles is 0.2 μm or more, 10000 or less, preferably 1000 or less, and optimally 100 or less in 1 ml. The amount of microorganisms is such that the total viable count is 100 or less, preferably 1
0 or less, optimally 1 or less. Organic matter (TO
C) is 10 mg or less, preferably 1 mg per liter.
Hereinafter, the optimal amount is 0.2 mg or less.

【0087】上記の水質の水を得る方法としては、活性
炭法、蒸留法、イオン交換法、フィルターろ過法、逆浸
透法、紫外線殺菌法等があるが、これらの方法を複数組
み合わせて用い、所望の水質を達成することが望まし
い。
As a method for obtaining the water having the above-mentioned water quality, there are an activated carbon method, a distillation method, an ion exchange method, a filter filtration method, a reverse osmosis method, an ultraviolet sterilization method, and the like. It is desirable to achieve water quality of

【0088】その水に溶解する二酸化炭素の量は飽和溶
解度までのいずれの量でも可能であるが、多すぎると水
温が変動する場合に発泡し、基体表面に付着してスポッ
ト状のシミ発生の原因となる場合がある。さらに、溶解
した二酸化炭素の量が多いと、pHが低くなって基体に
ダメージを与える場合がある。一方、溶解した二酸化炭
素の量が少なすぎると、本発明の方法の効果を得ること
ができない。従って、基体に要求される品質等を考慮し
ながら、状況に合わせて二酸化炭素の溶解量を最適化す
る必要があるが、本発明の方法において好ましい二酸化
炭素溶解量は、飽和溶解度の60%以下、さらに好まし
くは40%以下である。
The amount of carbon dioxide dissolved in the water can be any amount up to the saturation solubility. However, if it is too large, it foams when the water temperature fluctuates and adheres to the surface of the substrate to cause spot-like stains. May cause. Furthermore, when the amount of dissolved carbon dioxide is large, the pH may be lowered and the substrate may be damaged. On the other hand, if the amount of dissolved carbon dioxide is too small, the effect of the method of the present invention cannot be obtained. Therefore, it is necessary to optimize the dissolved amount of carbon dioxide according to the situation while taking into account the quality required for the substrate and the like. However, the preferred amount of dissolved carbon dioxide in the method of the present invention is 60% or less of the saturated solubility. , More preferably 40% or less.

【0089】本発明の方法において、二酸化炭素の溶解
量は水の導電率またはpHで管理することが実用的であ
る。導電率で管理した場合、好ましい範囲は5μS/c
m以上40μS/cm以下、さらに好ましくは6μS/
cm以上35μS/cm以下、最適には8μS/cm以
上30μS/cm以下である。pHで管理した場合、好
ましい範囲は3.8以上6.0以下、さらに好ましくは
4.0以上5.0以下である。このような管理を行なう
ことにより、本発明の方法の効果が顕著となる。導電率
の測定は導電率計等によって行ない、値としては温度補
正により25℃に換算した値を用いる。
In the method of the present invention, it is practical to control the dissolved amount of carbon dioxide by the conductivity or pH of water. When controlled by conductivity, a preferable range is 5 μS / c.
m or more and 40 μS / cm or less, more preferably 6 μS / cm
cm to 35 μS / cm, optimally 8 μS / cm to 30 μS / cm. When the pH is controlled, the preferred range is 3.8 or more and 6.0 or less, and more preferably 4.0 or more and 5.0 or less. By performing such management, the effect of the method of the present invention becomes remarkable. The conductivity is measured by a conductivity meter or the like, and a value converted to 25 ° C. by temperature correction is used.

【0090】二酸化炭素を水に溶解する方法としては、
バブリングによる方法、隔膜を用いる方法等いずれでも
良い。本発明の方法においては、二酸化炭素を溶解した
水を用いることが重要であり、炭酸イオンを得るために
炭酸ナトリウム等の炭酸塩を用いた場合、ナトリウムイ
オン等の陽イオンが阻害因子として作用してしまう。
As a method for dissolving carbon dioxide in water,
Either a method using bubbling or a method using a diaphragm may be used. In the method of the present invention, it is important to use water in which carbon dioxide is dissolved, and when a carbonate such as sodium carbonate is used to obtain carbonate ions, cations such as sodium ions act as inhibitors. Would.

【0091】温水の温度は、高すぎると基体上に酸化膜
が発生して堆積膜の剥がれ等の原因となり、逆に低すぎ
ると乾燥が不十分となって本発明の方法の効果が十分に
得られない。このため水の温度としては、30℃以上9
0℃以下、好ましくは35℃以上80℃以下、最適には
40℃以上70℃以下である。
If the temperature of the hot water is too high, an oxide film is generated on the substrate, which may cause peeling of the deposited film. Conversely, if the temperature of the hot water is too low, the drying becomes insufficient and the effect of the method of the present invention is sufficient. I can't get it. For this reason, the temperature of water is 30 ° C. or more and 9
The temperature is 0 ° C or lower, preferably 35 ° C or higher and 80 ° C or lower, and most preferably 40 ° C or higher and 70 ° C or lower.

【0092】引き上げ乾燥する際の引き上げ速度は非常
に重要であり、好ましい範囲は100mm/min以
上、最適には300mm/min以上1000mm/m
inである。
The pulling speed at the time of pulling and drying is very important, and the preferable range is 100 mm / min or more, and optimally 300 mm / min or more and 1000 mm / m.
in.

【0093】CO2水による洗浄処理から堆積膜形成装
置への投入までの時間は、長すぎると効果が小さくな
り、短かすぎると工程が安定しないため、1分以上8時
間以下、好ましくは2分以上4時間以下、最適には3分
以上2時間以下である。
The time from the cleaning treatment with CO 2 water to the introduction into the deposition film forming apparatus is too long, the effect is small, and if it is too short, the process is not stable. The time is from minutes to 4 hours, optimally from 3 minutes to 2 hours.

【0094】本発明の方法において、基体の加工性を向
上させるためにマグネシウムを含有させることができ
る。好ましいマグネシウム含有量は、0.1wt%以上
10wt%以下、さらに好ましくは0.2wt%以上5
wt%以下の範囲である。
In the method of the present invention, magnesium can be contained in order to improve the workability of the substrate. The preferred magnesium content is 0.1 wt% to 10 wt%, more preferably 0.2 wt% to 5 wt%.
wt% or less.

【0095】さらに本発明の方法では、H、Li、N
a、K、Be、Ca、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、
Ni、Cu、Ag、Zn、Cd、Hg、B、In、C、
Si、Ge、Sn、N、P、As、O、S、Se、F、
Cl、Br、I等いかなる物質をアルミニウム中に適宜
含有させることもできる。
Further, in the method of the present invention, H, Li, N
a, K, Be, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Co,
Ni, Cu, Ag, Zn, Cd, Hg, B, In, C,
Si, Ge, Sn, N, P, As, O, S, Se, F,
Any substance such as Cl, Br and I can be appropriately contained in aluminum.

【0096】本発明の方法において、基体の形状は任意
であり得るが、特に円筒状のものが好適である。基体の
大きさには特に制限はないが、実用的には直径20mm
以上500mm以下、長さ10mm以下1000mm以
上が好ましい。
In the method of the present invention, the shape of the substrate may be arbitrary, but a cylindrical shape is particularly preferable. The size of the substrate is not particularly limited, but is practically 20 mm in diameter.
The length is preferably 500 mm or more and 10 mm or less and 1000 mm or more in length.

【0097】本発明の方法で用いられる感光体として
は、アモルファスシリコン感光体、セレン感光体、硫化
カドミウム感光体、有機物感光体等のいずれでも可能で
あるが、特にアモルファスシリコン感光体等の珪素を含
む非単結晶感光体を用いた場合に、その効果が顕著であ
る。
The photoreceptor used in the method of the present invention may be any of an amorphous silicon photoreceptor, a selenium photoreceptor, a cadmium sulfide photoreceptor, and an organic photoreceptor. The effect is remarkable when a non-single crystal photoreceptor is used.

【0098】珪素を含む非単結晶感光体の場合、堆積膜
形成時に使用される原料ガスとしては、シラン(SiH
4)、ジシラン(Si26)、四弗化珪素(SiF4)、
六弗化二珪素(Si26)等のアモルファスシリコン形
成原料ガスまたはそれらの混合ガスが挙げられる。
In the case of a non-single crystal photoreceptor containing silicon, silane (SiH
4 ), disilane (Si 2 H 6 ), silicon tetrafluoride (SiF 4 ),
A material gas for forming amorphous silicon such as disilicon hexafluoride (Si 2 F 6 ) or a mixed gas thereof may be used.

【0099】希釈ガスとしては、水素(H2)、アルゴ
ン(Ar)、ヘリウム(He)等が挙げられる。
Examples of the diluent gas include hydrogen (H 2 ), argon (Ar), helium (He) and the like.

【0100】また、堆積膜のバンドギャップ幅を変化さ
せる等、特性を改善するためのガスとして、窒素
(N2)、アンモニア(NH3)等の窒素原子を含むガ
ス;酸素(O 2)、一酸化窒素(NO)、二酸化窒素
(NO2)、酸化二窒素(N2O)、一酸化炭素(C
O)、二酸化炭素(CO2)等の酸素原子を含むガス;
メタン(CH4)、エタン(C26)、エチレン(C2
4)、アセチレン(C22)、プロパン(C38)等の
炭化水素;四弗化ゲルマニウム(GeF4)、弗化窒素
(NF3)などの弗素化合物またはこれらの混合ガスが
用いられる。
The band gap width of the deposited film was changed.
Nitrogen as a gas for improving characteristics such as
(NTwo), Ammonia (NHThreeGas containing nitrogen atoms such as
S; oxygen (O Two), Nitric oxide (NO), nitrogen dioxide
(NOTwo), Nitrous oxide (NTwoO), carbon monoxide (C
O), carbon dioxide (COTwoGas containing oxygen atoms, such as
Methane (CHFour), Ethane (CTwoH6), Ethylene (CTwoH
Four), Acetylene (CTwoHTwo), Propane (CThreeH8)
Hydrocarbon; germanium tetrafluoride (GeFFour), Nitrogen fluoride
(NFThree) Or a mixture of these compounds
Used.

【0101】また本発明の方法においては、ドーピング
を目的として、ジボラン(B26)、弗化ホウ素(BF
3)、ホスフィン(PH3)などのドーパントガスを同時
に放電空間に導入しても良い。
In the method of the present invention, diborane (B 2 H 6 ), boron fluoride (BF)
3 ) A dopant gas such as phosphine (PH 3 ) may be simultaneously introduced into the discharge space.

【0102】本発明の方法で製造する電子写真感光体で
は、基体上に堆積した堆積膜の総膜厚に特に制限はない
が、好ましくは5μm以上100μm以下、さらに好ま
しくは10μm以上70μm以下、最適には15μm以
上50μm以下において、電子写真感光体として特に良
好な画像を得ることができた。
In the electrophotographic photoreceptor manufactured by the method of the present invention, the total thickness of the deposited film deposited on the substrate is not particularly limited, but is preferably 5 μm to 100 μm, more preferably 10 μm to 70 μm, and In particular, when the thickness was 15 μm or more and 50 μm or less, a particularly good image as an electrophotographic photosensitive member could be obtained.

【0103】本発明の方法では、堆積膜堆積中の放電空
間の圧力がいずれの領域でも効果が認められたが、特に
0.5mTorr以上100mTorr以下、好ましく
は1mTorr以上50mTorr以下において、放電
の安定性および堆積膜の均一性の面で特に良好な結果が
再現性良く得られた。
In the method of the present invention, the effect of the pressure in the discharge space during the deposition of the deposited film was observed in any region. In particular, when the pressure in the discharge space was 0.5 mTorr or more and 100 mTorr or less, preferably 1 mTorr or more and 50 mTorr or less. Particularly good results were obtained with good reproducibility in terms of the uniformity of the deposited film.

【0104】本発明の方法において、堆積膜堆積時の基
体温度は、100℃以上500℃以下の範囲で有効であ
るが、特に150℃以上450℃以下、好ましくは20
0℃以上400℃以下、最適には250℃以上350℃
以下とすることにより、顕著な効果が確認された。
In the method of the present invention, the substrate temperature at the time of depositing a deposited film is effective in the range of 100 ° C. to 500 ° C., but is particularly preferably 150 ° C. to 450 ° C., preferably 20 ° C.
0 ° C to 400 ° C, optimally 250 ° C to 350 ° C
A remarkable effect was confirmed by the following.

【0105】本発明の方法における基体の加熱手段とし
ては、真空仕様の発熱体であれば良く、より具体的には
シース状ヒーターの巻き付けヒーター、板状ヒーター、
セラミックスヒーター等の電気抵抗発熱体;ハロゲンラ
ンプ、赤外線ランプ等の熱放射ランプ発熱体;液体や気
体を温媒とする熱交換手段による発熱体等が挙げられ
る。加熱手段の表面材質としては、ステンレス、ニッケ
ル、アルミニウム、銅等の金属類;セラミックス;耐熱
性高分子樹脂等を使用することができる。またそれ以外
にも、反応容器とは別に加熱専用の容器を設け、加熱
後、反応容器内に真空中で基体を搬送する等の方法も使
用することができる。以上の手段を単独または併用して
用いることが可能である。
The heating means for the substrate in the method of the present invention may be a heating element of a vacuum specification, and more specifically, a winding heater of a sheath-like heater, a plate-like heater, or the like.
Electric resistance heating elements such as ceramic heaters; heat radiation lamp heating elements such as halogen lamps and infrared lamps; heating elements formed by heat exchange means using a liquid or gas as a heating medium; Examples of the surface material of the heating means include metals such as stainless steel, nickel, aluminum, and copper; ceramics; and heat-resistant polymer resins. In addition, a method in which a heating-only container is provided separately from the reaction container, and after heating, the substrate is transferred into the reaction container in a vacuum can be used. The above means can be used alone or in combination.

【0106】本発明の方法において、プラズマを発生さ
せるエネルギーは、DC、RF、マイクロ波等いずれで
も可能であるが、特に、プラズマの発生のエネルギーに
マイクロ波を用いた場合、基体の表面欠陥による異常成
長が顕著に現れ、かつ、吸着した水分にマイクロ波が吸
収され、界面の変化がより顕著なものとなるため、本発
明の方法の効果がより顕著なものとなる。
In the method of the present invention, the energy for generating the plasma may be any of DC, RF, microwave, etc. In particular, when the microwave is used for the energy for generating the plasma, it may be caused by surface defects of the substrate. Abnormal growth appears remarkably, and microwaves are absorbed by the adsorbed moisture, and the interface changes become more remarkable, so that the effect of the method of the present invention becomes more remarkable.

【0107】本発明の方法において、プラズマ発生のた
めにマイクロ波を用いる場合、マイクロ波電力は、放電
を発生させることができればいずれでも良いが、100
W以上10kW以下、好ましくは500W以上4kW以
下とする。
In the method of the present invention, when microwaves are used to generate plasma, any microwave power may be used as long as discharge can be generated.
It is set to W or more and 10 kW or less, preferably 500 W or more and 4 kW or less.

【0108】本発明の方法において、堆積膜形成中に放
電空間に電圧(バイアス電圧)を印加することは有効で
あり、少なくとも基体に陽イオンが衝突する方向に電界
がかかることが好ましい。バイアスを全くかけない場
合、本発明の効果は著しく低減されてしまうことから、
DC成分の電圧が1V以上500V以下、好ましくは5
V以上100V以下であるバイアス電圧を堆積膜形成中
に印加することが、本発明の効果を得るためには望まし
い。
In the method of the present invention, it is effective to apply a voltage (bias voltage) to the discharge space during the formation of the deposited film, and it is preferable that an electric field is applied at least in a direction in which cations collide with the substrate. If no bias is applied, the effect of the present invention is significantly reduced,
DC component voltage is 1V or more and 500V or less, preferably 5V or less.
It is desirable to apply a bias voltage of V or more and 100 V or less during formation of the deposited film in order to obtain the effects of the present invention.

【0109】本発明の方法において、反応容器内に誘電
体窓を用いてマイクロ波導入を行なう場合、誘電体窓の
材質としては、アルミナ(Al23)、窒化アルミニウ
ム(AlN)、窒化ボロン(BN)、窒化珪素(Si
N)、炭化珪素(SiC)、酸化珪素(SiO2)、酸
化ベリリウム(BeO)、テフロン(商品名、デュポン
社)、ポリスチレン等マイクロ波の損失の少ない材料を
使用するのが普通である。
In the method of the present invention, when microwaves are introduced into the reactor using a dielectric window, the dielectric window may be made of alumina (Al 2 O 3 ), aluminum nitride (AlN), boron nitride, or the like. (BN), silicon nitride (Si
N), silicon carbide (SiC), silicon oxide (SiO 2 ), beryllium oxide (BeO), Teflon (trade name, manufactured by DuPont), polystyrene, and other materials with low microwave loss are generally used.

【0110】複数の基体で放電空間を取り囲む構成の堆
積膜形成方法においては、基体の間隔は1mm以上50
mm以下とするのが好ましい。基体の数は放電空間を形
成できるのであればいずれでも良いが、3本以上、より
好ましくは4本以上とする。
In the method for forming a deposited film in which a discharge space is surrounded by a plurality of substrates, the distance between the substrates is 1 mm or more and 50 mm or more.
mm or less. The number of substrates may be any as long as a discharge space can be formed, but is preferably 3 or more, more preferably 4 or more.

【0111】本発明の方法は、いずれの電子写真感光体
の製造にも適用可能であるが、特に、放電空間を囲むよ
うに基体を設け、少なくとも基体の一端側から導波管に
よりマイクロ波を導入する構成によって堆積膜を形成す
る場合に大きな効果がある。
The method of the present invention can be applied to the production of any electrophotographic photoreceptor. In particular, a substrate is provided so as to surround a discharge space, and a microwave is supplied from at least one end of the substrate by a waveguide. There is a great effect when a deposited film is formed by the configuration introduced.

【0112】図6に本発明の方法で製造された電子写真
感光体を用いた一般的な転写式電子写真装置の1例の概
略を示す。
FIG. 6 schematically shows an example of a general transfer type electrophotographic apparatus using the electrophotographic photosensitive member manufactured by the method of the present invention.

【0113】この図において、601は像担持体として
の電子写真感光体であり、これは軸601aを中心とし
て矢印方向に所定の周速で回転駆動される。この電子写
真感光体は、その回転過程で帯電手段602によりその
周面に正または負の所定電位の均一帯電を受け、次いで
露光部によって不図示の像露光手段により光像露光L
(スリット露光、レーザービーム走査露光など)を受け
る。これにより、感光体周面に露光像に対応した静電潜
像が順次形成されていく。
In this figure, reference numeral 601 denotes an electrophotographic photosensitive member as an image carrier, which is driven to rotate around an axis 601a in the direction of an arrow at a predetermined peripheral speed. The electrophotographic photosensitive member is uniformly charged at a predetermined positive or negative potential on its peripheral surface by a charging means 602 during the rotation process, and then exposed by a light exposure unit (not shown) by an exposure unit.
(Slit exposure, laser beam scanning exposure, etc.). As a result, an electrostatic latent image corresponding to the exposure image is sequentially formed on the peripheral surface of the photoconductor.

【0114】この静電潜像は次いで、現像手段604で
トナー現像され、トナー現像像が転写手段により不図示
の給紙部から感光体601と転写手段605との間に感
光体601の回転と同期取りされた転写材Pの表面に順
次転写されていく。
Next, the electrostatic latent image is developed with toner by developing means 604, and the developed toner image is transferred between the photosensitive member 601 and the transfer means 605 from a paper feeding unit (not shown) by the transfer means. It is sequentially transferred onto the surface of the transfer material P that has been synchronized.

【0115】像転写を受けた転写材Pは、感光体面から
分離されて像定着手段608へ導入され、ここで像定着
を受けた後、複写物(コピー)として機外へプリントア
ウトされる。
The transfer material P having undergone the image transfer is separated from the photoreceptor surface and introduced into the image fixing means 608, where the image is fixed, and then printed out as a copy.

【0116】像転写後の感光体601の表面は、クリー
ニング手段606による転写残りトナーの除去を受けて
清浄化され、さらに前露光手段607により除電処理さ
れた後、繰返し像形成に使用される。
The surface of the photoreceptor 601 after the image transfer is cleaned by removing the transfer residual toner by the cleaning unit 606, and after being subjected to the charge removal treatment by the pre-exposure unit 607, the surface is repeatedly used.

【0117】感光体601の均一帯電手段602として
は、コロナ帯電装置が一般に広く使用されている。また
転写装置605にもコロナ帯電装置が一般に広く使用さ
れている。電子写真装置として、上述の感光体や現像手
段、クリーニング手段などの構成要素のうち、複数のも
のを装置ユニットとして一体に結合させて構成し、その
ユニットを装置本体に対して着脱自在の構成としてもよ
い。その場合、上記の装置ユニットの方に帯電手段およ
び/または現像手段を設ける構成としても良い。
As the uniform charging means 602 for the photosensitive member 601, a corona charging device is generally widely used. Also, a corona charging device is generally widely used for the transfer device 605. As an electrophotographic apparatus, of the above-described components such as the photoconductor, the developing unit, and the cleaning unit, a plurality of components are integrally combined as an apparatus unit, and the unit is detachably attached to the apparatus body. Is also good. In this case, the charging unit and / or the developing unit may be provided in the device unit.

【0118】光像露光Lは、電子写真装置を複写機やプ
リンタとして使用する場合には原稿からの反射光や透過
光であっても良く、あるいは原稿を読み取って信号化し
た信号によるレーザービームの走査、LEDアレーの駆
動、または液晶シャッターアレイの駆動などによって得
られたものであっても良い。
When the electrophotographic apparatus is used as a copying machine or a printer, the light image exposure L may be reflected light or transmitted light from the original, or a laser beam based on a signal obtained by reading the original and forming a signal. It may be obtained by scanning, driving an LED array, driving a liquid crystal shutter array, or the like.

【0119】ファクシミリのプリンターとして使用する
場合には、光像露光Lは受信データをプリントするため
の露光になる。図7はこの場合の1例をブロック図で示
したものである。
When used as a facsimile printer, the light image exposure L is an exposure for printing received data. FIG. 7 is a block diagram showing an example of this case.

【0120】コントローラ711は画像読取部710と
プリンター719を制御する。コントローラ711全体
はCPU717により制御されている。画像読取部71
0からの読取データは、送信回路713を通して相手局
に送信される。相手局から受けたデータは、受信回路7
12を通してプリンター719に送られる。画像メモリ
716には所定の画像データが記憶される。プリンタコ
ントローラ718はプリンター719を制御している。
714は電話である。
The controller 711 controls the image reading unit 710 and the printer 719. The entire controller 711 is controlled by the CPU 717. Image reading unit 71
The read data from 0 is transmitted to the partner station through the transmission circuit 713. The data received from the partner station is
12 and sent to the printer 719. The image memory 716 stores predetermined image data. The printer controller 718 controls the printer 719.
714 is a telephone.

【0121】回線715から受信された画像情報(回線
を介して接続されたリモート端子からの画像情報)は、
受信回路712で復調された後、CPU717で復号処
理が行なわれ、順次画像メモリ716に格納されると、
そのページの画像記録を行なう。CPU717は、メモ
リ716より1ページ分の画像情報を読出し、プリンタ
コントローラ718に復号された1ページの画像情報を
送出する。プリンタコントローラ718は、CPU71
7からの1ページの画像情報を受け取ると、そのページ
の画像情報記録を行なうようにプリンターを制御する。
The image information received from the line 715 (image information from a remote terminal connected via the line) is
After being demodulated by the receiving circuit 712, the decoding process is performed by the CPU 717 and sequentially stored in the image memory 716.
The image of the page is recorded. The CPU 717 reads out one page of image information from the memory 716 and sends out the decoded one page of image information to the printer controller 718. The printer controller 718 includes a CPU 71
When the printer receives the image information of one page from the printer 7, it controls the printer to record the image information of the page.

【0122】なお、CPU717は、プリンター719
による記録中に、次のページの画像情報を受信してい
る。
The CPU 717 is connected to the printer 719.
During the recording by, the image information of the next page is received.

【0123】以上のようにして、画像の受信と記録が行
なわれる。
As described above, image reception and recording are performed.

【0124】本発明の方法で製造された電子写真感光体
は、電子写真複写機に利用されるのみならず、レーザー
ビームプリンター、CRTプリンター、LEDプリンタ
ー、液晶プリンター、レーザー製版機などの電子写真応
用分野にも広く用いることができる。
The electrophotographic photosensitive member manufactured by the method of the present invention is used not only for electrophotographic copying machines but also for electrophotographic applications such as laser beam printers, CRT printers, LED printers, liquid crystal printers, and laser plate making machines. It can be widely used in the field.

【0125】次に、本発明の電子写真感光体の製造およ
び製造された感光体の評価について、実験例で詳細に説
明するが、本発明はこれらによって何ら限定されるもの
ではない。
Next, the production of the electrophotographic photoreceptor of the present invention and the evaluation of the produced photoreceptor will be described in detail with reference to experimental examples, but the present invention is not limited thereto.

【0126】(実験例1)洗浄工程の水中に溶解する二
酸化炭素の量を変化させて画像欠陥の発生と相関を調べ
た。
(Experimental Example 1) The amount of carbon dioxide dissolved in water in the washing step was changed to examine the correlation with the occurrence of image defects.

【0127】珪素原子の含有量が100ppmのアルミ
ニウムよりなる直径108mm、長さ358mm、肉厚
5mmの円筒状基体を、前述の本発明の電子写真感光体
製造方法の手順例と同様にして表面の切削を行なった。
A cylindrical substrate made of aluminum having a silicon atom content of 100 ppm and having a diameter of 108 mm, a length of 358 mm and a thickness of 5 mm was treated on the surface of the substrate in the same manner as in the above-described procedure of the method for producing an electrophotographic photosensitive member of the present invention. Cutting was performed.

【0128】切削工程終了15分後に図1に示す表面処
理装置により、表1に示す条件によって洗剤(非イオン
性界面活性剤)による洗浄、CO2水による洗浄、およ
びCO2温水による引き上げ乾燥を行なった。引き上げ
乾燥工程の温水は、抵抗率10MΩ・cmの純水中に二
酸化炭素を溶解させることにより導電率を20μS/c
mに固定して行なった。またその際、洗浄工程のCO2
水としては抵抗率10MΩ・cmの純水中に二酸化炭素
を溶解させることにより導電率を1μS/cmから50
μS/cmとした水を用いた。
Fifteen minutes after the end of the cutting step, cleaning with a detergent (nonionic surfactant), cleaning with CO 2 water, and pull-up and drying with hot CO 2 water were performed using the surface treatment apparatus shown in FIG. 1 under the conditions shown in Table 1. Done. The hot water in the pull-up drying step has a conductivity of 20 μS / c by dissolving carbon dioxide in pure water having a resistivity of 10 MΩ · cm.
m. At that time, CO 2 in the cleaning process
As water, the conductivity is adjusted from 1 μS / cm to 50 by dissolving carbon dioxide in pure water having a resistivity of 10 MΩ · cm.
Water at μS / cm was used.

【0129】[0129]

【表1】 さらにその後、図2(a)および(b)に示す堆積膜形
成装置を用い、表2の条件で、基体上にアモルファスシ
リコン堆積膜の形成を行ない、図4に示す層構成の阻止
型電子写真感光体を作製した。図4において、401、
402、403および404は、それぞれアルミニウム
基体、電荷注入阻止層、光導電層および表面層を示す。
[Table 1] Thereafter, an amorphous silicon deposited film was formed on the substrate under the conditions shown in Table 2 by using the deposited film forming apparatus shown in FIGS. 2A and 2B. A photoreceptor was produced. In FIG. 4, 401,
Reference numerals 402, 403 and 404 denote an aluminum substrate, a charge injection blocking layer, a photoconductive layer and a surface layer, respectively.

【0130】[0130]

【表2】 このようにして作製した電子写真感光体の電子写真特性
の評価を以下のようにして行なった。作製した電子写真
感光体を実験用に予めプロセススピードを200〜80
0mm/secの範囲で任意に変更できるように改造し
たキヤノン社製複写機NP6060に入れ、帯電器に6
〜7kVの電圧を印加してコロナ帯電を行ない、通常の
複写プロセスにより転写紙上に画像を作製し、以下の手
順および基準によって画像性の評価を行なった。このよ
うにして、同一作製条件で製造した電子写真感光体を各
10本ずつ評価した。評価結果は表3に示す。
[Table 2] The electrophotographic characteristics of the electrophotographic photoreceptor thus manufactured were evaluated as follows. The process speed of the produced electrophotographic photosensitive member was previously set to 200 to 80 for experiments.
A Canon copier NP6060, modified so that it can be arbitrarily changed within the range of 0 mm / sec.
A voltage of about 7 kV was applied to perform corona charging, an image was formed on transfer paper by a normal copying process, and the image quality was evaluated according to the following procedure and criteria. In this way, ten electrophotographic photoreceptors manufactured under the same manufacturing conditions were evaluated for each. Table 3 shows the evaluation results.

【0131】[0131]

【表3】 画像欠陥の評価 プロセススピードを変え、全面ハーフトーン原稿および
文字原稿を原稿台に置いてコピーした時に得られた画像
サンプル中で一番画像欠陥の多く現れる画像サンプルを
選び、評価を行なった。評価の方法としては、画像サン
プル上を拡大鏡で観察して同一面積内にある白点の状態
により、以下の基準で評価を行なった。
[Table 3] The image defect evaluation process speed was changed, and an image sample having the largest number of image defects among image samples obtained when the entire halftone original and the character original were placed on the original plate and copied was selected and evaluated. As an evaluation method, an image sample was observed with a magnifying glass, and evaluation was performed according to the following criteria according to the state of white spots within the same area.

【0132】◎・・・良好 ○・・・一部微小な白点有り △・・・全面に微小な白点があるが文字の認識には支障
なし ×・・・白点が多いため一部文字が読み難い部分があ
る。
◎ ・ ・ ・ Good ○ ・ ・ ・ Some small white spots △ ・ ・ ・ Some white spots but no problem in character recognition × ・ ・ ・ Some white spots Some parts are difficult to read.

【0133】黒しみの評価 プロセススピードを変え、全面ハーフトーン原稿を原稿
台に置いて得られた画像の平均濃度が0.4±0.1と
なるように画像を出力した。このようにして得られた画
像サンプル中で最もしみの目立つものを選び、評価を行
なった。評価の方法としては、これらの画像を目から4
0cm離れたところで観察して、黒しみの有無を調べ、
以下の基準で評価を行なった。
The process speed for evaluating black spots was changed, and an image was output such that the average density of the image obtained by placing the entire halftone original on the platen was 0.4 ± 0.1. Among the image samples obtained in this manner, the most noticeable one was selected and evaluated. As a method of evaluation, these images were
Observe at 0cm away, check for black spots,
The evaluation was performed according to the following criteria.

【0134】◎・・・いずれのコピー上にも黒しみは認
められない ○・・・わずかに黒しみが認められるものがあるが、軽
微であって全く問題ない △・・・いずれのコピー上にも黒しみが認められるが、
軽微であって実用上支障ない ×・・・全数のコピー上に大きな黒しみが認められる。
◎: No black spots are observed on any copy. ・ ・ ・: Some black spots are recognized, but slight and no problem. Δ: On any copy. Black spots are also observed,
Slight, no problem for practical use. X: Large black spots are observed on all copies.

【0135】電子写真特性の評価 通常のプロセススピードで同一の帯電電圧を与えた時に
現像位置で得られる感光体の表面電位を帯電能として相
対値により評価した。ただし、後述の比較実験例1で得
られた電子写真感光体の帯電能を100%とした。
Evaluation of Electrophotographic Characteristics The surface potential of the photosensitive member obtained at the developing position when the same charging voltage was applied at a normal process speed was evaluated as a relative value as charging ability. However, the charging ability of the electrophotographic photosensitive member obtained in Comparative Experimental Example 1 described later was set to 100%.

【0136】電子写真特性の評価 通常のプロセススピードで同一の帯電電圧を与えた後、
光を照射して一定の電位に下がった時に得られる光量を
感度として相対値により評価した。ただし、比較実験例
1で得られた電子写真感光体の帯電能を100%とし
た。
Evaluation of Electrophotographic Characteristics After applying the same charging voltage at a normal process speed,
The light amount obtained when the light was irradiated and the potential was lowered to a constant potential was evaluated as a sensitivity as a relative value. However, the charging ability of the electrophotographic photosensitive member obtained in Comparative Experimental Example 1 was set to 100%.

【0137】環境性の評価 ○・・・前処理工程にオゾン層の破壊に係わる物質を用
いない ×・・・前処理工程にオゾン層の破壊に係わる物質を用
いている。
Evaluation of environmental properties・ ・ ・: No substance relating to destruction of ozone layer is used in the pretreatment step ×: A substance relating to destruction of the ozone layer is used in the pretreatment step.

【0138】(実験例2)乾燥工程の温水中に溶解する
二酸化炭素の量を変化させて画像欠陥の発生と相関を調
べた。
(Experimental Example 2) The amount of carbon dioxide dissolved in the warm water in the drying step was changed to examine the correlation with the occurrence of image defects.

【0139】実験例1と同様の手順で、同様の基体につ
いて表面の切削を行なった。実験例1と同様に図1に示
す表面処理装置により、表4の条件で洗剤(非イオン性
界面活性剤)による洗浄、CO2水による洗浄およびC
2温水による引き上げ乾燥を行なった。洗浄工程の水
は抵抗率10MΩ・cmの純水中に二酸化炭素を溶解す
ることによって導電率を10μS/cmに固定して行な
った。またこの時、乾燥工程用のCO2温水としては、
10MΩ・cmの純水中に二酸化炭素を溶解することに
より導電率を1μS/cmから50μS/cmとした水
を用いた。
The surface of the same substrate was cut in the same procedure as in Experimental Example 1. As in Experimental Example 1, cleaning with a detergent (nonionic surfactant), cleaning with CO 2 water, and cleaning with C 2 were performed using the surface treatment apparatus shown in FIG.
Pull-up drying with O 2 warm water was performed. The water in the washing step was performed by dissolving carbon dioxide in pure water having a resistivity of 10 MΩ · cm so that the conductivity was fixed at 10 μS / cm. At this time, as the CO 2 hot water for the drying process,
Water having conductivity of 1 μS / cm to 50 μS / cm by dissolving carbon dioxide in 10 MΩ · cm pure water was used.

【0140】[0140]

【表4】 このようにして作製した電子写真感光体を実験例1と同
様の方法で評価した。結果は表5に示す。
[Table 4] The electrophotographic photosensitive member thus manufactured was evaluated in the same manner as in Experimental Example 1. The results are shown in Table 5.

【0141】[0141]

【表5】 (比較実験例1)実験例1と同様に珪素原子の含有量が
100ppmのアルミニウム基体を同様の手順で切削し
た。
[Table 5] Comparative Example 1 An aluminum substrate having a silicon atom content of 100 ppm was cut in the same procedure as in Example 1.

【0142】切削が終了した基体は、図8に示す従来の
基体表面洗浄装置により表6の条件で基体表面の処理を
行なった。
The substrate after the cutting was processed on the surface of the substrate under the conditions shown in Table 6 by a conventional substrate surface cleaning apparatus shown in FIG.

【0143】[0143]

【表6】 図8に示す基体洗浄装置は、処理槽802と基体搬送機
構803から成っている。処理槽802は、基体投入台
811、基体洗浄槽821、基体搬出台851より成っ
ている。洗浄槽821は液の温度を一定に保つための温
度調節装置(図示せず)が付いている。搬送機構803
は、搬送レール865と搬送アーム861よりなり、搬
送アーム861は、レール865上を移動する移動機構
862、基体801を保持するチャッキング機構86
3、およびこのチャッキング機構863を上下させるた
めのエアーシリンダー864より成っている。
[Table 6] The substrate cleaning apparatus shown in FIG. 8 includes a processing tank 802 and a substrate transport mechanism 803. The processing tank 802 includes a substrate loading table 811, a substrate cleaning tank 821, and a substrate discharge table 851. The cleaning tank 821 has a temperature controller (not shown) for keeping the temperature of the liquid constant. Transport mechanism 803
Comprises a transfer rail 865 and a transfer arm 861. The transfer arm 861 has a moving mechanism 862 that moves on the rail 865, and a chucking mechanism 86 that holds the base 801.
3 and an air cylinder 864 for moving the chucking mechanism 863 up and down.

【0144】切削後、投入台811に置かれた基体80
1は、搬送機構803により洗浄槽821に搬送した。
洗浄槽821中のトリクロルエタン(商品名:エターナ
VG、旭化成工業社製)822により表面に付着してい
る切削油および切り粉を除去するための洗浄を行なっ
た。
After cutting, the substrate 80 placed on the loading table 811
1 was transported to the cleaning tank 821 by the transport mechanism 803.
Washing for removing cutting oil and chips adhering to the surface was performed with trichloroethane (trade name: Eterna VG, manufactured by Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd.) 822 in the washing tank 821.

【0145】洗浄後、基体801を搬送機構803によ
り搬出台851に運んだ。
After the cleaning, the substrate 801 was transported to the discharge table 851 by the transport mechanism 803.

【0146】さらにその後、図2(a)および図2
(b)に示す堆積膜形成装置を用い、表2の条件で、基
体上にアモルファスシリコン堆積膜の形成を行ない、図
4に示す層構成の阻止型電子写真感光体を作製した。
Thereafter, FIG. 2A and FIG.
An amorphous silicon deposited film was formed on the substrate under the conditions shown in Table 2 using the deposited film forming apparatus shown in (b) to produce a blocking type electrophotographic photoreceptor having the layer configuration shown in FIG.

【0147】このようにして作製した電子写真感光体
を、実験例1と同様の方法で評価した。結果は表3およ
び表5に示した。
The electrophotographic photosensitive member thus manufactured was evaluated in the same manner as in Experimental Example 1. The results are shown in Tables 3 and 5.

【0148】(比較実験例2)実験例1と同様に珪素原
子の含有量が100ppmのアルミニウム基体を同様の
手順で切削後、切削工程終了15分後に表7に示す条件
によって洗剤(非イオン性界面活性剤)による洗浄、純
水による洗浄および引き上げ乾燥を行なった。表面処理
装置としては図1のものを用い、但し洗浄槽131およ
び乾燥槽141では、二酸化炭素を溶解していない純水
を使用した。
(Comparative Experimental Example 2) As in Experimental Example 1, an aluminum substrate having a silicon atom content of 100 ppm was cut in the same procedure, and 15 minutes after the end of the cutting step, the detergent (non-ionic) was used under the conditions shown in Table 7. (Surfactant), cleaning with pure water, and lifting and drying. 1 was used as the surface treatment apparatus, except that pure water in which carbon dioxide was not dissolved was used in the cleaning tank 131 and the drying tank 141.

【0149】[0149]

【表7】 さらにその後、図2(a)および図2(b)に示す堆積
膜形成装置を用い、表2の条件で、基体上にアモルファ
スシリコン堆積膜の形成を行ない、図4に示す層構成の
阻止型電子写真感光体を作製した。
[Table 7] Further, thereafter, an amorphous silicon deposited film was formed on the substrate under the conditions shown in Table 2 using the deposited film forming apparatus shown in FIGS. 2A and 2B, and the blocking type shown in FIG. An electrophotographic photosensitive member was manufactured.

【0150】このようにして作製した電子写真感光体を
実験例1と同様の方法で評価した。結果は表3および表
5に示した。
The electrophotographic photosensitive member thus produced was evaluated in the same manner as in Experimental Example 1. The results are shown in Tables 3 and 5.

【0151】以上、表3および表5に示した結果から明
らかなように、本発明の方法で製造した電子写真感光体
は、洗浄工程でCO2水の導電率が6μS/cmから1
5μS/cmの範囲で、しかも乾燥工程でCO2温水の
導電率が10μS/cmから25μS/cmの範囲で、
画像欠陥について非常に良好な結果を与えた。
As is clear from the results shown in Tables 3 and 5, the electrophotographic photosensitive member manufactured by the method of the present invention has a CO 2 water conductivity of 6 μS / cm to 1 μm in the washing step.
In the range of 5 μS / cm, and the conductivity of CO 2 hot water in the drying step is in the range of 10 μS / cm to 25 μS / cm,
Very good results were obtained for image defects.

【0152】(実験例3)珪素原子の含有量を変化させ
たアルミニウム基体を実験例1と同様の手順で切削後、
切削工程終了15分後に図1に示す表面処理装置を用
い、表8に示す条件によりCO2水による洗浄および引
き上げ乾燥を行なった。
(Experimental Example 3) After cutting an aluminum substrate in which the content of silicon atoms was changed in the same procedure as in Experimental Example 1,
Fifteen minutes after the completion of the cutting step, washing with CO 2 water and lifting and drying were performed under the conditions shown in Table 8 using the surface treatment apparatus shown in FIG.

【0153】[0153]

【表8】 ただしこの時、洗浄工程の水としては、抵抗率10MΩ
・cmの純水中に二酸化炭素を溶解することによって導
電率10μS/cm、pHを約5.0とした水を用い、
引き上げ乾燥工程に用いるCO2温水としては、抵抗率
10MΩ・cmの純水中に二酸化炭素を溶解することに
より導電率を20μS/cm、pHを約4.2とした温
水を用いた。さらにその後、図2(a)および図2
(b)に示す堆積膜形成装置を用い、表2の条件で、基
体上にアモルファスシリコン堆積膜の形成を行ない、図
4に示す層構成の阻止型電子写真感光体を作製した。
[Table 8] However, at this time, the water in the cleaning step has a resistivity of 10 MΩ.
Using water having a conductivity of 10 μS / cm and a pH of about 5.0 by dissolving carbon dioxide in cm of pure water,
As the CO 2 warm water used in the pull-up drying step, warm water having a conductivity of 20 μS / cm and a pH of about 4.2 by dissolving carbon dioxide in pure water having a resistivity of 10 MΩ · cm was used. 2A and FIG.
An amorphous silicon deposited film was formed on the substrate under the conditions shown in Table 2 using the deposited film forming apparatus shown in (b) to produce a blocking type electrophotographic photoreceptor having the layer configuration shown in FIG.

【0154】このようにして作製した電子写真感光体を
実験例1と同様の方法で評価した。結果は表9に示し
た。
The electrophotographic photosensitive member thus manufactured was evaluated in the same manner as in Experimental Example 1. The results are shown in Table 9.

【0155】[0155]

【表9】 この表9から明らかな通り、本発明の方法で作製した電
子写真感光体は、基体のアルミニウム中に珪素原子を重
量基準で1ppmから1%含有した範囲で画像欠陥につ
いて非常に良好な結果を与えた。
[Table 9] As is evident from Table 9, the electrophotographic photoreceptor produced by the method of the present invention gives very good results on image defects when silicon atoms are contained in the base aluminum in a range of 1 ppm to 1% by weight. Was.

【0156】(実験例4)実験例1と同様の基体を同様
の手順で切削後、切削工程終了15分後に図1に示す表
面処理装置により、表8に示す条件で基体表面の前処理
を行なった。
(Experimental Example 4) The same substrate as in Experimental Example 1 was cut in the same procedure, and 15 minutes after the end of the cutting step, the surface treatment apparatus shown in FIG. Done.

【0157】さらにその後、図2(a)および図2
(b)に示す堆積膜形成装置を用い、表2の条件で基体
上にアモルファスシリコン堆積膜の形成を行ない、図4
に示す層構成の阻止型電子写真感光体を作製した。
Thereafter, FIG. 2A and FIG.
An amorphous silicon deposited film was formed on the substrate under the conditions shown in Table 2 using the deposited film forming apparatus shown in FIG.
Inhibition type electrophotographic photoreceptor having the layer constitution shown in was prepared.

【0158】本実験例では、CO2水による洗浄工程お
よび乾燥工程に使用する純水の水質(抵抗率)を、洗浄
工程および乾燥工程とも同様に変化させて電子写真感光
体を作製した。このようにして得られた電子写真感光体
を前述のキヤノン社製複写機NP6060改造機に入
れ、実験例1と同様の手順で評価した。同一の作製条件
で作製した電子写真感光体を各10本ずつ評価した。結
果は表10に示す。
In this experimental example, an electrophotographic photosensitive member was manufactured by changing the water quality (resistivity) of pure water used in the washing step and the drying step using CO 2 water in the same manner in the washing step and the drying step. The electrophotographic photosensitive member thus obtained was placed in the above-mentioned modified copy machine NP6060 manufactured by Canon Inc., and evaluated in the same procedure as in Experimental Example 1. Ten electrophotographic photosensitive members manufactured under the same manufacturing conditions were evaluated. The results are shown in Table 10.

【0159】[0159]

【表10】 また比較実験例1および2で作製した電子写真感光体に
ついても同様の評価を行ない、その結果も表10に示し
た。但し、表10中のコスト評価は、以下の基準に基づ
いて行なった。
[Table 10] The same evaluation was performed on the electrophotographic photosensitive members produced in Comparative Experimental Examples 1 and 2, and the results are also shown in Table 10. However, the cost evaluation in Table 10 was performed based on the following criteria.

【0160】コストの評価 必要な洗浄液を必要量得る場合 ◎・・・非常に安価に入手できる ○・・・安価に入手できる △・・・やや高価である ×・・・高価である。 Evaluation of Cost When a required amount of a required cleaning liquid is obtained. A: very inexpensive. O: inexpensive. Δ: somewhat expensive. X: expensive.

【0161】表10から明らかな通り、CO2水による
洗浄工程およびCO2温水による乾燥工程で使用する純
水の抵抗率が二酸化炭素溶解前に1MΩ・cm以上の場
合に、本発明の方法で作製された電子写真感光体は、画
像性について非常に良好な結果を与えた。
[0161] As apparent from Table 10, when the resistivity of pure water used in the drying step by washing and CO 2 heated by CO 2 water over 1 M.OMEGA · cm before dissolving carbon dioxide, in the method of the present invention The produced electrophotographic photoreceptor gave very good results on image quality.

【0162】[0162]

【実施例】次に、本発明を実施例および比較例により、
具体的に説明する。
Next, the present invention will be described based on Examples and Comparative Examples.
This will be specifically described.

【0163】(実施例1)珪素原子を100ppm含有
するアルミニウムよりなる直径108mm、長さ358
mm、肉厚5mmの円筒状基体について、前述の本発明
の電子写真感光体製造方法の手順例と同様にして表面の
切削を行なった。
Example 1 108 mm in diameter and 358 in length made of aluminum containing 100 ppm of silicon atoms
The surface of a cylindrical substrate having a thickness of 5 mm and a thickness of 5 mm was cut in the same manner as in the above-described procedure of the method for producing an electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【0164】切削工程終了15分後に図1に示す表面処
理装置により、表11に示す条件によって基体表面の処
理を行なった。ただし、洗剤としては非イオン性界面活
性剤と陰イオン性界面活性剤を混合したものを用いた。
Fifteen minutes after the end of the cutting step, the surface of the substrate was treated by the surface treatment apparatus shown in FIG. 1 under the conditions shown in Table 11. However, a mixture of a nonionic surfactant and an anionic surfactant was used as the detergent.

【0165】[0165]

【表11】 さらにその後、図2(a)および(b)に示す堆積膜形
成装置を用い、表2の条件で、基体上にアモルファスシ
リコン堆積膜の形成を行ない、図4に示す層構成の阻止
型電子写真感光体を作製した。
[Table 11] Thereafter, an amorphous silicon deposited film was formed on the substrate under the conditions shown in Table 2 by using the deposited film forming apparatus shown in FIGS. 2A and 2B. A photoreceptor was produced.

【0166】このようにして作製した電子写真感光体の
電子写真特性の評価を以下のようにして行なった。ただ
し、同一成膜条件で作製した感光体を各10本ずつ評価
した。
The electrophotographic characteristics of the thus produced electrophotographic photosensitive member were evaluated as follows. However, 10 photoconductors each manufactured under the same film forming conditions were evaluated.

【0167】作製した電子写真感光体の外観を膜剥がれ
の目視観察で評価した後、キヤノン社製複写機NP60
60を実験用に改造した複写装置に入れ、通常の複写プ
ロセスにより転写紙上に画像を作製し、画像性の評価を
行なった。ただしその際、帯電器に6kVの電圧を印加
してコロナ帯電を行なった。評価結果は表12に示し
た。
After the appearance of the produced electrophotographic photosensitive member was evaluated by visual observation of film peeling, a copier NP60 manufactured by Canon Inc. was evaluated.
60 was placed in a copying machine modified for experiment, and an image was prepared on a transfer paper by a normal copying process, and the image quality was evaluated. However, at that time, a voltage of 6 kV was applied to the charger to perform corona charging. The evaluation results are shown in Table 12.

【0168】[0168]

【表12】 表12中、「画像欠陥」、「黒しみ」、「電子写真特
性」および「環境性」の評価は前出の表3と同様の基準
によって行い、「画像むら」と「かぶり」の評価は、以
下の手順および基準によって行なった。
[Table 12] In Table 12, the evaluations of "image defect", "black spots", "electrophotographic properties" and "environmental properties" were performed according to the same criteria as in Table 3 described above. The procedure was performed according to the following procedures and criteria.

【0169】画像むらの評価 A3方眼紙(コクヨ社製)を複写機の原稿台に置き、複
写機の絞りを変えることにより、原稿の露光量、グラフ
の線が辛うじて認められる程度から白地の部分がかぶり
始める程度までの範囲の画像が得られるように変え、濃
度の異なる10枚のコピーを出力した。
Evaluation of Image Unevenness A3 grid paper (manufactured by KOKUYO Co., Ltd.) was placed on a platen of a copying machine, and the aperture of the copying machine was changed. The image was changed so as to obtain an image in a range up to the start of fogging, and ten copies with different densities were output.

【0170】これらの画像を目から40cm離れたとこ
ろで観察して、濃度の違いの有無を調べ、以下の基準で
評価を行なった。
These images were observed at a distance of 40 cm from the eyes to check for a difference in density, and evaluated according to the following criteria.

【0171】 ◎・・・いずれのコピー上にも画像のむらは認められな
い ○・・・画像むらが認められるコピーと認められないコ
ピーとがあるが、いずれも軽微でありまったく問題ない △・・・いずれのコピー上にも画像むらが認められる
が、少なくとも1枚のコピー上では画像むらが軽微であ
り、実用上支障はない ×・・・全数のコピー上に大きな画像むらが認められ
る。
◎: No image unevenness is recognized on any copy. ・ ・ ・: There is a copy in which image unevenness is recognized and a copy in which no image unevenness is recognized, but both are slight and have no problem at all. Image unevenness is observed on any copy, but image unevenness is slight on at least one copy and does not hinder practical use. X: Large image unevenness is observed on all copies.

【0172】白地かぶりの評価 白地に全面文字よりなる通常の原稿を原稿台に置いてコ
ピーした時に得られた画像サンプルを観察し、白地の部
分のかぶりを評価した。
Evaluation of fogging on white background An image sample obtained when a normal original consisting of whole characters was placed on a platen and copied on a white background was observed, and the fogging of the white background was evaluated.

【0173】◎・・・良好 ○・・・一部わずかにかぶりあり △・・・全面にかぶりがあるが、文字の認識には全く支
障はない ×・・・かぶりのため文字が読み難い部分がある。
◎: Good ○: Slight fog in part Δ: Fog is present on the entire surface, but there is no hindrance to character recognition ×: Part where characters are difficult to read due to fog There is.

【0174】(比較例1)珪素原子を含まない以外は実
施例1と同様のアルミニウム基体を、実施例1同様の手
順で切削した後、図8に示す基体表面の洗浄装置を用
い、従来の方法に従って表6の条件で、基体表面の洗浄
を行なった。
(Comparative Example 1) An aluminum substrate similar to that of Example 1 except that it did not contain silicon atoms was cut in the same procedure as in Example 1, and a conventional apparatus for cleaning the surface of the substrate shown in FIG. The surface of the substrate was cleaned under the conditions shown in Table 6 according to the method.

【0175】さらにその後、図3に示す堆積膜形成装置
を用い、表13の条件で基体上にアモルファスシリコン
堆積膜の形成を行ない、実施例1と同様に、図4に示す
層構成の阻止型電子写真感光体を作製した。
Thereafter, an amorphous silicon deposited film was formed on the substrate under the conditions shown in Table 13 using the deposited film forming apparatus shown in FIG. An electrophotographic photosensitive member was manufactured.

【0176】[0176]

【表13】 このようにして得られた電子写真感光体について、実施
例1と同様の評価を行ない、結果は実施例1とともに表
12に示した。
[Table 13] The electrophotographic photoreceptor thus obtained was evaluated in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 12 together with Example 1.

【0177】(比較例2)珪素原子を含まない以外は実
施例1と同様のアルミニウム基体を、実施例1と同様の
手順で切削後、図9に示す基体表面の水洗浄装置を用
い、基体表面の洗浄を行なった。図9に示す基体洗浄装
置は、基体901を固定・回転させるための回転軸90
2、基体に洗浄液を噴出するための噴射器903および
ノズル904からなっている。
(Comparative Example 2) An aluminum substrate similar to that of Example 1 was cut by the same procedure as that of Example 1 except that silicon atoms were not contained. The surface was cleaned. The substrate cleaning apparatus shown in FIG. 9 includes a rotating shaft 90 for fixing and rotating the substrate 901.
2. It comprises an injector 903 and a nozzle 904 for ejecting the cleaning liquid to the substrate.

【0178】本比較例では、この洗浄装置を用い、従来
の方法に従って表14に示す条件により基体表面の洗浄
を行なった。
In this comparative example, the surface of the substrate was cleaned under the conditions shown in Table 14 according to the conventional method using this cleaning apparatus.

【0179】[0179]

【表14】 さらにその後、図3に示す堆積膜形成装置を用い、表1
3の条件で基体上にアモルファスシリコン堆積膜の形成
を行ない、実施例1と同様に、図4に示す層構成の阻止
型電子写真感光体を作製した。
[Table 14] Then, using the deposited film forming apparatus shown in FIG.
An amorphous silicon deposited film was formed on the substrate under the conditions of No. 3, and a blocking type electrophotographic photosensitive member having the layer configuration shown in FIG.

【0180】このようにして得られた電子写真感光体に
ついて、実施例1と同様の評価を行ない、結果を実施例
1および比較例1とともに表12に示した。
The electrophotographic photoreceptor thus obtained was evaluated in the same manner as in Example 1, and the results are shown in Table 12 together with Example 1 and Comparative Example 1.

【0181】表12に示した結果から、本発明の方法に
よって製造した電子写真感光体は、従来法によって製造
した電子写真感光体に比べ、その表に示されるいずれの
項目においても非常に良好な結果を与えた。
From the results shown in Table 12, the electrophotographic photoreceptor manufactured by the method of the present invention is much better in any of the items shown in the table than the electrophotographic photoreceptor manufactured by the conventional method. Gave the result.

【0182】(実施例2)実施例1とは層構成を変え
て、本発明の方法により電子写真感光体を製造した。す
なわち、実施例1と同様の基体を同様の手順で切削後、
切削工程終了15分後に図1に示す表面処理装置を用い
て、表11に示す条件により、基体表面の処理を行なっ
た。
Example 2 An electrophotographic photoreceptor was manufactured by the method of the present invention while changing the layer structure from that of Example 1. That is, after cutting the same substrate as in Example 1 by the same procedure,
Fifteen minutes after the end of the cutting step, the surface of the substrate was treated under the conditions shown in Table 11 using the surface treatment apparatus shown in FIG.

【0183】さらにその後、図2(a)および図2
(b)に示す堆積膜形成装置を用い、表15の条件で、
基体上にアモルファスシリコン堆積膜の形成を行ない、
図5に示す層構成の阻止型電子写真感光体を作製した。
Thereafter, FIG. 2A and FIG.
Using the deposited film forming apparatus shown in FIG.
Forming an amorphous silicon deposited film on the substrate,
A blocking type electrophotographic photosensitive member having the layer configuration shown in FIG. 5 was produced.

【0184】[0184]

【表15】 図5において、501はアルミニウム基体、505は赤
外線吸収層、502は電荷注入阻止層、503は光導電
層、504は表面層を示している。
[Table 15] In FIG. 5, reference numeral 501 denotes an aluminum substrate, 505 denotes an infrared absorbing layer, 502 denotes a charge injection blocking layer, 503 denotes a photoconductive layer, and 504 denotes a surface layer.

【0185】このようにして得られた電子写真感光体
を、実施例1と同様の手順で評価した。その結果、この
感光体は、実施例1の場合同様、いずれの項目でも非常
に良好な結果を与えた。
The thus obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same procedure as in Example 1. As a result, this photoreceptor gave very good results in any of the items, as in the case of Example 1.

【0186】(実施例3)実施例1と同様の基体を同様
の手順で切削後、切削工程終了15分後に図1に示す表
面処理装置により、表11に示す条件で、基体表面の処
理を行なった。
Example 3 The same substrate as in Example 1 was cut in the same procedure, and 15 minutes after the end of the cutting step, the surface of the substrate was treated with the surface treatment apparatus shown in FIG. Done.

【0187】さらにその後、図3に示す堆積膜形成装置
を用い、表13の条件で基体上にアモルファスシリコン
堆積膜の形成を行ない、図4に示す層構成の阻止型電子
写真感光体を作製した。
Thereafter, an amorphous silicon deposited film was formed on the substrate under the conditions shown in Table 13 using the deposited film forming apparatus shown in FIG. 3 to produce a blocking type electrophotographic photosensitive member having the layer structure shown in FIG. .

【0188】このようにして得られた電子写真感光体
を、実施例1と同様の手順および基準にて評価した。そ
の結果、この感光体は、実施例1同様、いずれの項目で
も非常に良好な結果を与えた。
The electrophotographic photosensitive member thus obtained was evaluated according to the same procedure and criteria as in Example 1. As a result, this photoreceptor gave very good results in any of the items as in Example 1.

【0189】(実施例4)実施例1と同様の基体を同様
の手順で切削後、切削工程終了15分後に、図1に示す
表面処理装置を用いて、表11に示す条件で、基体表面
の処理を行なった。
Example 4 The same substrate as in Example 1 was cut by the same procedure, and 15 minutes after the end of the cutting process, using the surface treatment apparatus shown in FIG. Was performed.

【0190】さらにその後、基体上に有機光半導体より
なる堆積膜の形成を行ない、電子写真感光体を作製し
た。
Thereafter, a deposited film made of an organic optical semiconductor was formed on the substrate to produce an electrophotographic photosensitive member.

【0191】このようにして得られた電子写真感光体
は、アモルファスシリコン感光体の場合同様、従来法で
作製した電子写真感光体に比べ、画像性の高い良好な結
果を与えた。
The electrophotographic photoreceptor thus obtained gave good results with high image quality as compared with the electrophotographic photoreceptor manufactured by the conventional method, similarly to the case of the amorphous silicon photoreceptor.

【0192】(実施例5)実施例1と同様の基体を同様
の手順で切削後、切削工程終了15分後に図1に示す表
面処理装置を用いて、表11に示す条件によって基体表
面の処理を行なった。
Example 5 The same substrate as in Example 1 was cut by the same procedure, and 15 minutes after the end of the cutting step, the surface of the substrate was treated using the surface treatment apparatus shown in FIG. Was performed.

【0193】さらにその後、基体上にセレンより成る堆
積膜の形成を行ない、電子写真感光体を作製した。
Thereafter, a deposited film made of selenium was formed on the substrate to produce an electrophotographic photosensitive member.

【0194】このようにして得られた電子写真感光体は
アモルファスシリコン感光体の場合と同様、従来法で作
製された電子写真感光体に比べて高い画像性を与えた。
The electrophotographic photoreceptor thus obtained gave higher image quality than the electrophotographic photoreceptor manufactured by the conventional method, similarly to the case of the amorphous silicon photoreceptor.

【0195】[0195]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明の方法では、
機能性膜形成の工程の前に基体の表面を二酸化炭素を溶
解した水により洗浄する工程および二酸化炭素を溶解し
た温水により乾燥する工程を行なってから、アルミニウ
ム基体上に機能性膜、特に、プラズマCVD法によって
水素原子および/または弗素原子と珪素原子とを含む非
単結晶堆積膜を形成して電子写真感光体を作製すること
から、均一な高品位の画像を与える電子写真感光体を安
価に、しかも安定的に提供することができる。
As described above, according to the method of the present invention,
Before the step of forming a functional film, after performing a step of washing the surface of the substrate with water in which carbon dioxide is dissolved and a step of drying with warm water in which carbon dioxide is dissolved, a functional film, particularly, plasma is formed on the aluminum substrate. Since an electrophotographic photosensitive member is manufactured by forming a non-single-crystal deposited film containing hydrogen atoms and / or fluorine atoms and silicon atoms by a CVD method, an electrophotographic photosensitive member that provides a uniform high-quality image can be manufactured at low cost. In addition, it can be provided stably.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の電子写真感光体製造方法に用いる前処
理装置の概略縦断面図である。
FIG. 1 is a schematic vertical sectional view of a pre-processing apparatus used in a method of manufacturing an electrophotographic photoreceptor of the present invention.

【図2】マイクロ波プラズマCVD法により円筒状基体
上に堆積膜形成するための装置の概略断面図で、(a)
は縦断面図、(b)は横断面図である。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of an apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by a microwave plasma CVD method.
Is a longitudinal sectional view, and (b) is a transverse sectional view.

【図3】RFプラズマCVD法により円筒状基体上に堆
積膜を形成する装置の概略縦断面図である。
FIG. 3 is a schematic longitudinal sectional view of an apparatus for forming a deposited film on a cylindrical substrate by an RF plasma CVD method.

【図4】電子写真感光体の1例の層構成を示す概略断面
図である。
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view illustrating a layer configuration of an example of an electrophotographic photosensitive member.

【図5】電子写真感光体の別の例の層構成を示す概略断
面図である。
FIG. 5 is a schematic sectional view showing a layer configuration of another example of the electrophotographic photosensitive member.

【図6】一般的な転写式電子写真装置の概略構成図であ
る。
FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a general transfer type electrophotographic apparatus.

【図7】図6の電子写真装置をプリンターとして使用し
たファクシミリの構成を示すブロック図である。
FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of a facsimile using the electrophotographic apparatus of FIG. 6 as a printer.

【図8】従来の方法で基体洗浄を行なう洗浄装置の1例
の概略縦断面図である。
FIG. 8 is a schematic vertical sectional view of one example of a cleaning apparatus for cleaning a substrate by a conventional method.

【図9】従来の方法で基体洗浄を行なう洗浄装置の他の
例の概略縦断面図である。
FIG. 9 is a schematic longitudinal sectional view of another example of a cleaning apparatus for cleaning a substrate by a conventional method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101、801、901 基体 102、802 処理部 103、803 基体搬送機構 111、811 基体投入台 121 基体前洗浄槽 122 前洗浄液 131 CO2 水による洗浄槽 132 CO2水 141 乾燥槽 142 CO2温水による引き上げ乾燥槽 151、851 基体搬送台 161、861 搬送アーム 162、862 移動機構 163、863 チャッキング機構 164、864 エアーシリンダー 165、865 レール 201 反応容器 202 マイクロ波導入窓 203 導波管 204 排気管 207 ヒーター 209 回転軸 210 モーター 211 直流電源 212 バイアス電極 301 反応容器 302 ベースプレート 303 壁 304 トッププレート 305 カソード電極 306 基体 307 原料ガス流入バルブ 308 リークバルブ 309 排気バルブ 310 真空計 311 マスフローコントローラ 312 ヒーター 313 高周波電源 314 モーター 401、501 基体 402、502 電荷注入阻止層 403、503 光導電層 404、504 表面層 505 赤外線吸収層 601 電子写真感光体 601a 軸 602 帯電手段 604 現像手段 605 転写手段 606 クリーニング手段 607 前露光手段 608 像定着手段 710 画像読取部 711 コントローラ 712 受信回路 713 送信回路 714 電話 715 回線 716 画像メモリ 717 CPU 718 プリンタコントローラ 719 プリンター 821 基体洗浄槽 822、905 洗浄液 902 回転軸 903 噴射器 904 ノズルBy 101,801,901 base 102,802 processor 103,803 base transport mechanism 111,811 base-on stand 121 base before washing tank 122 before the cleaning liquid 131 CO 2 cleaning tank 132 CO 2 water 141 drying vessel 142 CO 2 heated by water Pull-up drying tank 151, 851 Substrate transfer table 161, 861 Transfer arm 162, 862 Moving mechanism 163, 863 Chucking mechanism 164, 864 Air cylinder 165, 865 Rail 201 Reaction vessel 202 Microwave introduction window 203 Waveguide 204 Exhaust pipe 207 Heater 209 Rotating shaft 210 Motor 211 DC power supply 212 Bias electrode 301 Reaction vessel 302 Base plate 303 Wall 304 Top plate 305 Cathode electrode 306 Base 307 Source gas inflow valve 308 Leak Lube 309 Exhaust valve 310 Vacuum gauge 311 Mass flow controller 312 Heater 313 High frequency power supply 314 Motor 401, 501 Base 402, 502 Charge injection blocking layer 403, 503 Photoconductive layer 404, 504 Surface layer 505 Infrared absorption layer 601 Electrophotographic photosensitive member 601a Axis 602 Charging unit 604 Developing unit 605 Transfer unit 606 Cleaning unit 607 Pre-exposure unit 608 Image fixing unit 710 Image reading unit 711 Controller 712 Receiving circuit 713 Transmission circuit 714 Telephone 715 Line 716 Image memory 717 CPU 718 Printer controller 719 Printer 821 Substrate cleaning tank 822, 905 Cleaning liquid 902 Rotating axis 903 Injector 904 Nozzle

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−111955(JP,A) 特開 昭64−79754(JP,A) 特開 平5−281758(JP,A) 特開 昭61−23739(JP,A) 特開 平2−306251(JP,A) 特開 平2−310369(JP,A) 特開 平5−11481(JP,A) 特開 平4−320268(JP,A) 特開 平4−335355(JP,A) 特開 平4−335356(JP,A) 特開 平5−303212(JP,A) 特開 平5−88392(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G03G 5/00 Continuation of front page (56) References JP-A-2-111955 (JP, A) JP-A-64-79754 (JP, A) JP-A-5-281758 (JP, A) JP-A-61-23739 (JP, A) JP-A-2-306251 (JP, A) JP-A-2-310369 (JP, A) JP-A-5-11481 (JP, A) JP-A-4-320268 (JP, A) 4-335355 (JP, A) JP-A-4-335356 (JP, A) JP-A-5-303212 (JP, A) JP-A-5-88392 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G03G 5/00

Claims (9)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 アルミニウム基体上に機能性膜を形成す
る工程を含む電子写真感光体の製造方法において、機能
性膜を形成する工程の前に、基体の表面を二酸化炭素を
導入して二酸化炭素を溶解した水による洗浄および二酸
化炭素を導入して二酸化炭素を溶解した温水に該基体を
浸漬させ、該温水から該基体を引き上げることによって
行われる引き上げ乾燥を行うことを特徴とする電子写真
感光体の製造方法。
In a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor including a step of forming a functional film on an aluminum substrate, carbon dioxide is applied to the surface of the substrate before the step of forming the functional film.
The substrate is washed with water in which carbon dioxide is dissolved by introducing the same and warm water in which carbon dioxide is dissolved by introducing carbon dioxide.
By immersing and lifting the substrate from the warm water
A method for producing an electrophotographic photoreceptor, wherein the lifting and drying is performed.
【請求項2】 二酸化炭素を溶解した水の導電率が2μ
S/cm以上40μS/cm以下であり、二酸化炭素を
溶解した温水の導電率が5μS/cm以上40μS/c
m以下である請求項1記載の方法。
2. The conductivity of water in which carbon dioxide is dissolved is 2 μm.
S / cm or more and 40 μS / cm or less and conductivity of hot water in which carbon dioxide is dissolved is 5 μS / cm or more and 40 μS / c.
2. The method of claim 1, wherein m is less than or equal to m.
【請求項3】 二酸化炭素を溶解した水のpHが3.8
以上6.0以下であり、二酸化炭素を溶解した温水のp
Hが4.0以上6.0以下である請求項1記載の方法。
3. The pH of water in which carbon dioxide is dissolved is 3.8.
Not less than 6.0 and p of warm water in which carbon dioxide is dissolved
The method according to claim 1, wherein H is 4.0 or more and 6.0 or less.
【請求項4】 二酸化炭素を溶解した水および二酸化炭
素を溶解した温水は、抵抗率1MΩ・cm以上の純水に
二酸化炭素を溶解して得たものである請求項1ないし3
のいずれか1項に記載の方法。
4. The water in which carbon dioxide is dissolved and the warm water in which carbon dioxide is dissolved are obtained by dissolving carbon dioxide in pure water having a resistivity of 1 MΩ · cm or more.
The method according to any one of claims 1 to 4.
【請求項5】 二酸化炭素を溶解した水の温度が5℃以
上90℃以下であり、二酸化炭素を溶解した温水の温度
が30℃以上90℃以下である請求項1ないし4のいず
れか1項に記載の方法。
5. The temperature of water in which carbon dioxide is dissolved is 5 ° C. or more and 90 ° C. or less, and the temperature of hot water in which carbon dioxide is dissolved is 30 ° C. or more and 90 ° C. or less. The method described in.
【請求項6】 二酸化炭素を溶解した水の温度が20℃
以上40℃以下であり、二酸化炭素を溶解した温水の温
度が40℃以上70℃以下である請求項5記載の方法。
6. The temperature of water in which carbon dioxide is dissolved is 20 ° C.
The method according to claim 5, wherein the temperature is not less than 40 ° C and the temperature of the hot water in which carbon dioxide is dissolved is not less than 40 ° C and not more than 70 ° C.
【請求項7】 アルミニウム基体上に機能性膜を形成す
る工程が、水素原子および/または弗素原子と珪素原子
とを含む非単結晶堆積膜を、プラズマCVD法によりア
ルミニウム基体上に形成する工程を含む請求項1ないし
6のいずれか1項に記載の方法。
7. The step of forming a functional film on an aluminum substrate includes forming a non-single-crystal deposited film containing hydrogen atoms and / or fluorine atoms and silicon atoms on the aluminum substrate by a plasma CVD method. The method according to any one of claims 1 to 6, comprising:
【請求項8】 アルミニウム基体が、少なくとも珪素原
子を微量に含有している請求項1ないし7のいずれか1
項に記載の方法。
8. The method according to claim 1, wherein the aluminum substrate contains at least a trace amount of silicon atoms.
The method described in the section.
【請求項9】 アルミニウム基体に含有される珪素原子
の量が重量基準で1ppm以上1%以下である請求項8
記載の方法。
9. The amount of silicon atoms contained in the aluminum substrate is 1 ppm or more and 1% or less on a weight basis.
The described method.
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