JPH06316707A - Metal composite parts, production thereof and semiconductor equipment - Google Patents

Metal composite parts, production thereof and semiconductor equipment

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JPH06316707A
JPH06316707A JP29623393A JP29623393A JPH06316707A JP H06316707 A JPH06316707 A JP H06316707A JP 29623393 A JP29623393 A JP 29623393A JP 29623393 A JP29623393 A JP 29623393A JP H06316707 A JPH06316707 A JP H06316707A
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sintered body
metal
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metal composite
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Abstract

PURPOSE:To provide metal composite parts excellent in heat radiating effect, furthermore, free from the generation of cracks and indentations, workable into a desired surface shape and excellent in industrial mass-productivity. CONSTITUTION:This metal composite parts have a sintered body obtd. by sintering a Cu-Mo series composite material contg. Mo as a high m.p. metal and Cu as a metal having a m.p. lower than that of Mo and a coating layer constituted of Cu, one kind of metal in the Cu-Mo series composite material and coating the surface of the sintered body. This metal composite parts show a thermal expansion coefficient close to the theoretical value.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体を搭載する基板
等として用いられる金属複合部品およびその製造方法に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a metal composite part used as a substrate on which a semiconductor is mounted and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は、この種の金属複合部品を放熱基
板として用いた半導体パッケージの要部を示す断面図で
ある。図3において、この半導体パッケージは、放熱基
板10と、放熱基板10上に固着されたセラミック枠3
0と、セラミック枠30に埋設されたピン40と、放熱
基板10上のセラミック枠30間に、ろう剤50により
搭載および固着された半導体20とを有している。半導
体20の固着工程においては、放熱基板10と半導体2
0との間のろう剤50は、かなりの高温に加熱される。
2. Description of the Related Art FIG. 3 is a sectional view showing a main part of a semiconductor package using a metal composite component of this type as a heat dissipation substrate. In FIG. 3, this semiconductor package includes a heat dissipation board 10 and a ceramic frame 3 fixed on the heat dissipation board 10.
0, the pin 40 embedded in the ceramic frame 30, and the semiconductor 20 mounted and fixed by the brazing agent 50 between the ceramic frame 30 on the heat dissipation board 10. In the fixing process of the semiconductor 20, the heat dissipation substrate 10 and the semiconductor 2 are
The wax 50 between 0 and 0 is heated to a fairly high temperature.

【0003】上記構成において、放熱基板10として
は、半導体20の固着工程における加熱作業や半導体集
積回路の高密度化および高出力化に伴う発熱量の増加に
対処できるように、高い放熱効果を有するものが所望さ
れている。また、高い放熱効果に加えて、半導体20に
対する熱膨張係数のマッチングがとれていること、パッ
ケージ材料との熱膨張係数に近似しているかあるいは組
立後のマッチングを考慮して若干熱膨張係数の異なって
いることも所望されている。
In the above structure, the heat dissipation substrate 10 has a high heat dissipation effect so as to cope with the heating work in the fixing process of the semiconductor 20 and the increase in the amount of heat generated by the higher density and higher output of the semiconductor integrated circuit. Things are desired. In addition to the high heat dissipation effect, the coefficient of thermal expansion of the semiconductor 20 is matched, the coefficient of thermal expansion is close to that of the package material, or the coefficient of thermal expansion is slightly different considering the matching after assembly. It is also desired.

【0004】従来、熱膨張係数に関する要件を満たす放
熱基板に用いる部品として、Cu−Mo系あるいはCu
−W系の金属複合部品が提案され実用化されている。こ
れらの金属複合部品は、Cu板とMo板(あるいはW
板)とを張り合わせてなるクラッド複合材と、CuとM
oとの(あるいはCuとWとの)複合材料を焼結してな
る焼結体とに二大別される。
Conventionally, Cu--Mo system or Cu has been used as a component used for a heat dissipation board satisfying the requirements concerning the coefficient of thermal expansion.
A -W metal composite part has been proposed and put to practical use. These metal composite parts are made of Cu plate and Mo plate (or W
Clad composite material made by laminating a plate) and Cu and M
It is roughly classified into a sintered body obtained by sintering a composite material with o (or Cu and W).

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、この種の金
属複合部品には、熱膨張係数以外にも、パッケージング
に必要な機械加工、特に、半導体20を搭載する部分を
段付きや凹凸型などの特別な表面形状とすることも要求
されることがあるが、この要求に対して前記二つの金属
複合部品はいずれも適していないことが判明した。
By the way, in addition to the coefficient of thermal expansion, in addition to the coefficient of thermal expansion, the metal composite parts of this type are subjected to machining necessary for packaging, in particular, the portion on which the semiconductor 20 is mounted is stepped or uneven. However, it has been found that neither of the two metal composite parts is suitable for this requirement.

【0006】即ち、クラッド複合材は、段付きや凹凸型
などの表面形状とした場合に、異種材料の構成比が一様
でなくなることから不適当である。
That is, the clad composite material is unsuitable because the composition ratio of different materials becomes uneven when the surface shape is stepped or uneven.

【0007】他方、複合材料の焼結体は、異種粉末が均
一に分散および複合されていて諸特性も安定している点
では好ましいものの、複合材料を構成する構成材料間の
変形抵抗や変形能が著しく異なるため、塑性加工性、例
えば、圧延性が低く、生産効率に劣り、また、大きな素
材が製造できないという問題点がある。ここで、複合材
料の焼結体の製造方法には、Mo(あるいはW)の多孔
質焼結体にCuを含浸させ(溶浸法と呼ぶ)、この焼結
体を所定の板厚まで圧延加工する方法と、Cu粉末とM
o(あるいはW)粉末とを混合し(混合法と呼ぶ)、混
合した粉末をプレス成型し、焼結した後、この焼結体を
圧延加工する方法とがある。
On the other hand, the sintered body of the composite material is preferable in that the different powders are uniformly dispersed and compounded and the various characteristics are stable, but the deformation resistance and deformability between the constituent materials constituting the composite material are high. Therefore, there is a problem that plastic workability, for example, rollability is low, production efficiency is poor, and a large material cannot be manufactured. Here, in the method of manufacturing a sintered body of a composite material, a porous sintered body of Mo (or W) is impregnated with Cu (called an infiltration method), and this sintered body is rolled to a predetermined plate thickness. Processing method, Cu powder and M
There is a method in which an o (or W) powder is mixed (called a mixing method), the mixed powder is press-molded, sintered, and then the sintered body is rolled.

【0008】しかし、いずれの製造方法によっても、圧
延性が低い。即ち、溶浸法および混合法いずれにおいて
も、焼結体を圧延加工すると圧延方向に対して垂直にク
ラックが生じやすく、例えば、その加工率が30%〜5
0%程度で圧延が不可能となってしまう。仮に、50%
以上の加工が進行した段階で主要な部分にクラックが生
じない場合であっても、端辺部分にクラック(いわゆる
耳割れ)が発生し、良好な素材は得られない。
However, the rolling property is low by any manufacturing method. That is, in both the infiltration method and the mixing method, when the sintered body is rolled, cracks are likely to occur perpendicularly to the rolling direction. For example, the working rate is 30% to 5%.
Rolling becomes impossible at about 0%. 50%
Even if the main part is not cracked at the stage where the above-mentioned processing has progressed, cracks (so-called edge cracks) occur at the edge parts, and a good material cannot be obtained.

【0009】さらに、複合材料の焼結体は熱間圧延時に
おいて、表面に突起状のCu−Mo(W)酸化物を生じ
る。焼結体の表面に生じたこの酸化物はワークロールに
付着し、被圧延物である焼結体の表面には圧痕が残る。
このため、圧延された焼結体は、仕上がり状態の悪いも
のとなるという問題点がある。
[0009] Further, the sintered compact of the composite material produces a protruding Cu-Mo (W) oxide on the surface during hot rolling. This oxide produced on the surface of the sintered body adheres to the work roll, and an indentation remains on the surface of the sintered body which is the object to be rolled.
Therefore, there is a problem that the rolled sintered body has a poor finish.

【0010】本発明の課題は、放熱効果に優れていると
共に、クラックや圧痕が生じることなく所望の表面形状
に加工できる工業的量産性に優れた金属複合部品を提供
することである。
An object of the present invention is to provide a metal composite part which is excellent in heat dissipation and can be processed into a desired surface shape without cracks or indentations and which is excellent in industrial mass productivity.

【0011】本発明の他の課題は、上記金属複合部品を
放熱基板として用い、かつ、プラスチックパッケージさ
れた半導体装置を提供することである。
Another object of the present invention is to provide a plastic packaged semiconductor device which uses the above metal composite component as a heat dissipation substrate.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、高融点
金属および該高融点金属より低融点の金属を含む複合材
料を焼結することによって得られた焼結体と、該焼結体
の表面を覆う前記複合材料中の金属の一種から成る被覆
層とを有することを特徴とする金属複合部品が得られ
る。
According to the present invention, a sintered body obtained by sintering a composite material containing a high melting point metal and a metal having a lower melting point than the high melting point metal, and the sintered body And a coating layer made of one of the metals in the composite material covering the surface of the metal composite part.

【0013】本発明によればまた、高融点金属および該
高融点金属より低融点の金属を含む複合材料を焼結して
焼結体を得る工程と、得られた前記焼結体の表面を前記
複合材料中の金属の一種から成る板体で包装する工程
と、前記板体と前記焼結体とを一体化する工程と、前記
板体と一体化された前記焼結体を塑性加工する工程とを
有することを特徴とする金属複合部品の製造方法が得ら
れる。
According to the present invention, a step of sintering a composite material containing a high melting point metal and a metal having a melting point lower than that of the high melting point metal to obtain a sintered body, and the surface of the obtained sintered body are The step of packaging with a plate body made of one kind of metal in the composite material, the step of integrating the plate body with the sintered body, and the plastic working of the sintered body integrated with the plate body A method for manufacturing a metal composite component, which comprises the steps of:

【0014】即ち、本発明は、複合材料を焼結すること
によって得られた焼結体を、複合材料を構成する金属の
一種(例えばCu−Mo複合材の場合:CuあるいはM
o)から成る板体で包装等により少なくとも圧延面全体
を被覆した後、圧延加工を行うことにより、広範囲に亘
る組成比率を有する圧延板を容易に得るものである。
That is, according to the present invention, a sintered body obtained by sintering a composite material is used as a kind of metal constituting the composite material (for example, in the case of Cu-Mo composite material: Cu or M).
By rolling at least the whole rolling surface with the plate body of o) by wrapping or the like and then rolling, a rolled plate having a composition ratio in a wide range can be easily obtained.

【0015】尚、本発明において、板体で焼結体を包装
するとは、焼結体表面のうちの塑性加工の施される面、
例えば圧延加工が施される場合には、少くとも圧延面
(表裏二面)に、あるいは、焼結体の全表面に板体を配
することをいう。
In the present invention, wrapping a sintered body in a plate means that the surface of the sintered body to which plastic working is applied,
For example, when a rolling process is performed, it means to dispose the plate body on at least the rolling surface (two front and back surfaces) or on the entire surface of the sintered body.

【0016】また、板体の厚さは、焼結体組成および所
望する圧延板組成によって異なるが、焼結体厚みの0.
01〜2倍程度がよい。また、金属複合部品の表面の板
体は、圧延後に厚さ50〜300μmの被覆層として残
るが、金属複合部品の全体組成は、予め焼結体の組成を
調製すればよく、熱膨張係数や熱伝導率等の特性は広い
範囲で制御できる。しかも、被覆層は、単一種の金属で
あるため、混合層に比べるとより均一にめっき加工やロ
ー付けができる。さらに、段付き(凹凸)形状に加工を
施す場合には、包装板体として延性の高いCu板を用い
れば、加工時にCuが伸びて段付き形状の側面をも被覆
し得るのでその特性は均一で不変である。
Although the thickness of the plate varies depending on the composition of the sintered body and the desired composition of the rolled plate, the thickness of the sintered body is 0.
It is preferably about 1 to 2 times. Further, the plate body on the surface of the metal composite part remains as a coating layer having a thickness of 50 to 300 μm after rolling, but the overall composition of the metal composite part may be adjusted in advance by adjusting the composition of the sintered body. Properties such as thermal conductivity can be controlled over a wide range. Moreover, since the coating layer is made of a single kind of metal, it is possible to perform plating and brazing more uniformly than the mixed layer. Furthermore, when a stepped (concave and convex) shape is processed, if a highly ductile Cu plate is used as the packaging plate, Cu can extend during processing and even cover the side surface of the stepped shape, so the characteristics are uniform. Is unchanged.

【0017】また、圧延後の金属複合部品の表面に被覆
層が不要である場合には、ラッピング加工等により除去
することも可能である。
If the coating layer is not required on the surface of the metal composite part after rolling, it can be removed by lapping or the like.

【0018】本発明によればまた、放熱基板を備え、か
つ、プラスチックパッケージされた半導体装置におい
て、前記放熱基板は、高融点金属および該高融点金属よ
り低融点の金属を含む複合材料を焼結することによって
得られた焼結体と、該焼結体の表面を覆う前記複合材料
中の金属の一種から成る被覆層とを有することを特徴と
する半導体装置が得られる。
Further, according to the present invention, in a semiconductor device including a heat dissipation substrate and packaged in a plastic, the heat dissipation substrate is formed by sintering a composite material containing a high melting point metal and a metal having a lower melting point than the high melting point metal. A semiconductor device is obtained which has a sintered body obtained by the above and a coating layer which covers the surface of the sintered body and which is made of one of the metals in the composite material.

【0019】本発明によればさらに、前記放熱基板にお
いて、前記焼結体は、MoおよびWのうちの一方とCu
とを含む複合材料を焼結することによって得られ、前記
被覆層は、Cuから成ることを特徴とする前記半導体装
置が得られる。
Further, according to the present invention, in the heat dissipation substrate, the sintered body is one of Mo and W and Cu.
The semiconductor device is obtained by sintering a composite material including and the coating layer is made of Cu.

【0020】[0020]

【実施例】以下、本発明の金属複合部品を、その製造方
法に基づいて説明する。
The metal composite component of the present invention will be described below based on its manufacturing method.

【0021】本発明では、溶浸法あるいは混合法によ
り、高融点金属およびこの高融点金属より低融点の金属
を含む複合材料を焼結することによって得られた焼結体
(組成:所望組成の1〜5%減)を、複合材料を構成す
る金属のうちの一種(例えば、Cu)から成る板体で包
装する。尚、板体での包装は、焼結体の表面のうち、少
くとも圧延面上に板体を隙間無く配することをいう。こ
の包装された焼結体を、800℃〜1000℃の範囲で
加熱し、熱間圧延により所望する最終板厚よりも2mm
程度厚い厚さに仕上げる。尚、加熱温度は800℃〜1
000℃の範囲が好ましい。800℃に満たない場合は
変形能が小さいため容易にクラックが生じ、また100
0℃を越えるとCuが著しく軟化したり、加熱温度のゆ
らぎで一部溶融するためである。得られた金属複合部品
熱間圧延板は、焼鈍、酸化物を除去した後、冷間圧延に
より所望の板厚まで加工し仕上げる。このようにして得
られた金属複合部品の表面は、厚さ50μm〜300μ
mの被服層(Cu層)で覆われているが、金属複合部品
全体としては、比較的広範囲の組成を有した複合材であ
る。例えば、Cu−Mo金属複合部品(厚さ1mm)の
熱膨張係数および熱伝導率はそれぞれ、図1および図2
に示すように理論値とほぼ同じ値が得られた。
In the present invention, a sintered body obtained by sintering a composite material containing a high melting point metal and a metal having a lower melting point than the high melting point metal by the infiltration method or the mixing method (composition: desired composition 1-5% reduction) is packaged with a plate made of one of the metals (eg, Cu) that make up the composite material. In addition, the wrapping with a plate means that the plate is arranged on at least the rolling surface of the surface of the sintered body without any gap. This packaged sintered body is heated in the range of 800 ° C. to 1000 ° C. and hot-rolled to 2 mm from the desired final plate thickness.
Finish to a thick thickness. The heating temperature is 800 ° C to 1
The range of 000 ° C is preferred. If the temperature is less than 800 ° C, the deformability is small and cracks easily occur.
This is because if the temperature exceeds 0 ° C., Cu is significantly softened or partially melted due to fluctuations in heating temperature. The obtained metal composite part hot-rolled sheet is annealed and oxides are removed, and then cold-rolled to a desired sheet thickness for finishing. The surface of the metal composite component thus obtained has a thickness of 50 μm to 300 μm.
Although it is covered with m coating layer (Cu layer), the metal composite part as a whole is a composite material having a relatively wide range of compositions. For example, the coefficient of thermal expansion and the thermal conductivity of a Cu-Mo metal composite part (thickness 1 mm) are shown in FIGS. 1 and 2, respectively.
As shown in, almost the same value as the theoretical value was obtained.

【0022】以下、本発明をさらに具体的に説明する。The present invention will be described in more detail below.

【0023】[実施例1]混合法により、39重量%C
u−61重量%Moに調製した粉末状の複合材料を、3
トン/cm2 の圧力で成形したプレス体を還元性雰囲気
中で焼結する。焼結体の厚さは8mm、相対密度は90
〜98%である。そして、この焼結体を厚さ2mmの無
酸素銅板で包装する。この包装された焼結体を、水素雰
囲気中にて800〜1000℃の温度で15分間加熱保
持する。この後、圧下率20%以下で熱間圧延加工(1
パス目)する。尚、前記圧延工程の後、従来ならば必要
であったワークロールに付着した突起状の酸化物を除去
する作業は不要である。
Example 1 By the mixing method, 39% by weight of C
The powdery composite material prepared in u-61 wt% Mo was mixed with 3
The pressed body formed at a pressure of ton / cm 2 is sintered in a reducing atmosphere. The thickness of the sintered body is 8 mm, the relative density is 90
~ 98%. Then, this sintered body is packaged in an oxygen-free copper plate having a thickness of 2 mm. The packaged sintered body is heated and held at a temperature of 800 to 1000 ° C. for 15 minutes in a hydrogen atmosphere. After this, hot rolling (1
Pass) Incidentally, after the rolling step, it is not necessary to remove the projecting oxide adhering to the work roll, which is conventionally required.

【0024】続いて、同雰囲気、同温度で数分間加熱保
持した後、同圧下率で熱間圧延加工(2パス目)する。
この後の突起物除去工程も省くことが出来る。また、こ
の工程を繰り返し行ううちに、従来ならばクラックや耳
割れが多発していたが、今回は全く発生しなかった。
Then, after heating and holding in the same atmosphere and at the same temperature for several minutes, hot rolling (second pass) is performed at the same reduction rate.
It is also possible to omit the step of removing protrusions after this. In addition, while repeating this process, cracks and ear cracks were frequently generated in the past, but this time they were not generated at all.

【0025】このようにして目的板厚よりも2mm程度
厚い厚さで熱間加工を終了し、最終的に、冷間圧延加工
にて所望する板厚1mmに仕上げた。
In this way, the hot working was completed with a thickness of about 2 mm thicker than the target plate thickness, and finally the desired plate thickness of 1 mm was finished by cold rolling.

【0026】以上のようにして、本実施例による金属複
合部品が得られた。この時のCu層厚は100μm、C
u含有量は40重量%であった。表面状態も平滑であり
Ra=0.1μm程度であった。
As described above, the metal composite component according to this example was obtained. At this time, the Cu layer thickness is 100 μm, C
The u content was 40% by weight. The surface condition was also smooth and Ra was about 0.1 μm.

【0027】[実施例2]混合法により68重量%Cu
−32重量%Moに調製した粉末状の複合材料を、実施
例1と同圧力でプレス成形した後同雰囲気中で焼結し
た。焼結体の厚さは12mm、相対密度90〜98%を
有する。この焼結体を厚さ2mmの無酸素銅板で包装し
た。
[Example 2] 68 wt% Cu by the mixing method
The powdery composite material prepared to -32 wt% Mo was press-molded at the same pressure as in Example 1 and then sintered in the same atmosphere. The thickness of the sintered body is 12 mm and the relative density is 90 to 98%. This sintered body was packaged in an oxygen-free copper plate having a thickness of 2 mm.

【0028】この包装された焼結体を、実施例1と同条
件で加熱し、同圧延条件で加工を行ったところ、同様な
結果が得られ、板厚1mmの金属複合部品が得られた。
Cu層の厚さは150μm、Cu含有量は70重量%で
あった。Raは実施例1と同様であった。
When the packaged sintered body was heated under the same conditions as in Example 1 and processed under the same rolling conditions, similar results were obtained, and a metal composite part having a plate thickness of 1 mm was obtained. .
The Cu layer had a thickness of 150 μm and the Cu content was 70% by weight. Ra was the same as in Example 1.

【0029】[実施例3]混合法により41重量%Cu
−59重量%Moに調製した粉末状の複合材料を、実施
例1と同圧力でプレス成形した後同雰囲気中で焼結し
た。焼結体の厚さは8mm、相対密度90〜98%を有
する。この焼結体を厚さ0.3mmのMo板で包装し
た。
Example 3 41 wt% Cu by the mixing method
The powdery composite material prepared to -59 wt% Mo was press-molded at the same pressure as in Example 1 and then sintered in the same atmosphere. The thickness of the sintered body is 8 mm and the relative density is 90 to 98%. The sintered body was packaged in a Mo plate having a thickness of 0.3 mm.

【0030】この包装された焼結体を、実施例1と同条
件で加熱し、同圧延条件で加工を行ったところ、同様な
結果が得られ、板厚1mmの金属複合部品が得られた。
Mo層厚は50μm、Cu含有量は40重量%であっ
た。Raは実施例1と同様であった。
When the packaged sintered body was heated under the same conditions as in Example 1 and processed under the same rolling conditions, similar results were obtained, and a metal composite part having a plate thickness of 1 mm was obtained. .
The Mo layer thickness was 50 μm, and the Cu content was 40% by weight. Ra was the same as in Example 1.

【0031】[実施例4]混合法により84重量%Cu
−16重量%Wに調製した粉末状の複合材料を、、実施
例1と同圧力でプレス成形した後同雰囲気中で焼結し
た。焼結体の厚さは4mm、相対密度90〜98%を有
する。この焼結体を厚さ0.3mmのCu板で包装し
た。
[Embodiment 4] 84 wt% Cu by the mixing method
The powdery composite material prepared to -16 wt% W was press-molded at the same pressure as in Example 1 and then sintered in the same atmosphere. The thickness of the sintered body is 4 mm and the relative density is 90 to 98%. The sintered body was packaged in a Cu plate having a thickness of 0.3 mm.

【0032】包装された焼結体を、実施例1と同条件で
加熱し、同条件で圧延加工したところ同様な結果が得ら
れ、板厚1mmの金属複合部品が得られた。Cu層厚は
50μm、Cu含有量は85重量%であった。Raは実
施例1と同様であった。
The packaged sintered body was heated under the same conditions as in Example 1 and rolled under the same conditions, and similar results were obtained, and a metal composite part having a plate thickness of 1 mm was obtained. The Cu layer thickness was 50 μm, and the Cu content was 85% by weight. Ra was the same as in Example 1.

【0033】次に、実施例1〜4で得られた金属複合部
品を、ダイ・フローティング方式により25mm×25
mmの板状に打ち抜きを行ない、Niめっきを施した。
各金属複合部品いずれにおいても、打ち抜きによって外
周などにクラックは生じず、また、めっきはむらなく形
成できた。さらに、この各金属複合部品を、図3に示す
半導体パッケージの放熱基板10として用いた。即ち、
各金属複合部品上に半導体20およびセラミック枠30
等を固着してパッケージングし、半導体パッケージを製
造した。製造中において、半導体20を固着するために
ろう剤50をかなりの高温に加熱したが、各放熱基板1
10には、クラックや反り等は発生しなかった。続い
て、各半導体パッケージについて、半導体20を実際の
使用状態を想定した温度に加熱して、放熱基板110と
の整合性をみたが、各放熱基板110にはクラックや反
りは発生しなかった。
Next, the metal composite parts obtained in Examples 1 to 4 were processed into 25 mm × 25 by a die floating method.
The plate was punched into a plate of mm and plated with Ni.
In each of the metal composite parts, punching did not cause cracks in the outer periphery and the plating could be formed evenly. Further, each of the metal composite parts was used as the heat dissipation board 10 of the semiconductor package shown in FIG. That is,
Semiconductor 20 and ceramic frame 30 on each metal composite part
Etc. were fixed and packaged to manufacture a semiconductor package. During the manufacturing process, the brazing agent 50 was heated to a considerably high temperature in order to fix the semiconductor 20.
No crack or warpage occurred in No. 10. Next, for each semiconductor package, the semiconductor 20 was heated to a temperature that assumed the actual usage state to check the compatibility with the heat dissipation board 110, but no crack or warpage occurred in each heat dissipation board 110.

【0034】本発明者らの実験によれば、本発明に係る
放熱基板は9〜23×10-6/Kの熱膨張係数をも実現
できるため、特に、プラスチックパッケージされた半導
体装置に適用した場合に有効であることが判った。以
下、プラスチックパッケージされた半導体装置に使用さ
れる放熱基板およびその製造方法について説明する。
According to the experiments conducted by the present inventors, the heat dissipation substrate according to the present invention can realize a coefficient of thermal expansion of 9 to 23 × 10 −6 / K. Therefore, the heat dissipation substrate was applied to a semiconductor device packaged in a plastic package. It turned out to be effective in some cases. Hereinafter, a heat dissipation substrate used for a plastic packaged semiconductor device and a method for manufacturing the same will be described.

【0035】図4および図5はそれぞれ、樹脂流入モー
ルド形式のプラスチックパッケージの例を示す断面図で
ある。
4 and 5 are cross-sectional views showing examples of resin inflow mold type plastic packages.

【0036】まず、図4におけるプラスチックパッケー
ジには、放熱基板110と、放熱基板110上に接合さ
れた半導体チップ111と、放熱基板110上からパッ
ケージの外側へ延びた複数のピン112と、複数のピン
112と半導体チップ111との間を電気的に接続する
複数の導線113と、各部品にわたってモールドされた
合成樹脂115とが備えられており、これ等によって半
導体装置が構成されている。
First, in the plastic package shown in FIG. 4, a heat dissipation substrate 110, a semiconductor chip 111 bonded onto the heat dissipation substrate 110, a plurality of pins 112 extending from the heat dissipation substrate 110 to the outside of the package, and a plurality of pins 112. A plurality of conducting wires 113 for electrically connecting the pin 112 and the semiconductor chip 111 and a synthetic resin 115 molded over each component are provided, and these constitute a semiconductor device.

【0037】このプラスチックパッケージは、放熱基板
110、半導体チップ111、複数のピン112、およ
び複数の導線113に、合成樹脂(例えば、エポキシ樹
脂やフェノール樹脂等)115を流入モールドすること
によって製造される。ただし、図4に示すプラスチック
パッケージでは、放熱基板110の裏面はモールドされ
ておらず、外部に露出している。
This plastic package is manufactured by injecting and molding a synthetic resin (for example, epoxy resin or phenol resin) 115 into the heat dissipation substrate 110, the semiconductor chip 111, the plurality of pins 112, and the plurality of conducting wires 113. . However, in the plastic package shown in FIG. 4, the back surface of the heat dissipation substrate 110 is not molded and is exposed to the outside.

【0038】次に、図5におけるプラスチックパッケー
ジは、放熱基板110の厚さが図4に示すものより薄い
点と、この放熱基板110の裏面をも合成樹脂115に
よりモールドされている点とが、図4におけるプラスチ
ックパッケージと異っている。他の部分は、図4に示す
ものと同様の構成である。
Next, in the plastic package in FIG. 5, the thickness of the heat dissipation board 110 is thinner than that shown in FIG. 4, and the back surface of the heat dissipation board 110 is also molded with the synthetic resin 115. It differs from the plastic package in FIG. The other parts have the same configuration as that shown in FIG.

【0039】また、図4および図5における各放熱基板
115はいずれも、その板面が長方形を呈している。
Each of the heat dissipation boards 115 in FIGS. 4 and 5 has a rectangular plate surface.

【0040】本発明は、図4および図5に示す両タイプ
のプラスチックパッケージに用いられる放熱基板に関す
る。
The present invention relates to a heat dissipation board used for both types of plastic packages shown in FIGS.

【0041】上記プラスチックパッケージされた半導体
装置には、種々の構造のものがあるため、これ等に適用
できるように、種々の形状を呈する放熱基板が用意され
ることが望ましい。それ故、放熱基板は、種々の形状に
成形し得ることが必要である。
Since there are various structures of the plastic packaged semiconductor devices, it is desirable to prepare heat dissipation substrates having various shapes so that they can be applied to them. Therefore, it is necessary that the heat dissipation substrate can be formed into various shapes.

【0042】図6〜図8は、放熱基板の形状例を示す図
である。尚、図6において、(a)は平面図を示し、
(b)は側面図を示す。
6 to 8 are views showing examples of the shape of the heat dissipation board. In addition, in FIG. 6, (a) shows a plan view,
(B) shows a side view.

【0043】図6〜図8における放熱基板110a、1
10b、および110cはいずれも、基板部120と、
基板部120上に突出する突出部121とを有する一体
の段付き形状を呈している。これ等段付き形状は、後述
する方法によって形成される。突出部121は、図4あ
るいは図5に示した半導体チップ11を保持するもので
あるため、支持部ともいえる。
Heat dissipation substrates 110a, 1 shown in FIGS.
10b and 110c are both the substrate section 120,
It has an integrated stepped shape having a protrusion 121 protruding above the substrate 120. These stepped shapes are formed by the method described below. The protrusion 121 holds the semiconductor chip 11 shown in FIG. 4 or FIG. 5, and thus can be said to be a support.

【0044】より具体的に説明すると、まず、図6
(a)および(b)の放熱基板10aは、その突出部1
21が四隅が面取りされた長方形を呈している。突出部
121はまた、基板部120の図中水平方向の中心線C
1および図中垂直方向の中心線C2について対称位置に
ある。
More specifically, first, referring to FIG.
The heat dissipating board 10a of FIGS.
21 has a rectangular shape with four chamfered corners. The protrusion 121 also has a horizontal center line C in the drawing of the substrate 120.
1 and the center line C2 in the vertical direction in the drawing at symmetrical positions.

【0045】図7の放熱基板10bは、一隅が面取りさ
れた基板部120と、基板部120上に形成された長方
形を呈する突出部121とを有している。突出部121
の基板部120に対する位置は、図6と同様である。
The heat dissipation board 10b shown in FIG. 7 has a board part 120 whose one corner is chamfered, and a rectangular projection part 121 formed on the board part 120. Protrusion 121
The position with respect to the substrate portion 120 is the same as that in FIG.

【0046】図8の放熱基板10bは、四隅が円弧状に
面取りされた基板部120と、基板部120上に形成さ
れた長方形を呈する突出部121とを有している。突出
部121は、図6あるいは図7と同様に、基板部120
の中央に位置している。
The heat dissipation board 10b of FIG. 8 has a board portion 120 whose four corners are chamfered in an arc shape, and a rectangular projection 121 formed on the board portion 120. The protrusion 121 is similar to that of FIG.
Located in the center of.

【0047】図9は、さらに他の放熱基板を示す斜視図
である。図9において、放熱基板10dは、長方形の基
板部120と、基板部120上に形成された突出部12
1とを有している。放熱基板10dにおいて、突出部1
21は、図6(a)中の中心線C1、C2のような水平
および垂直方向の各中心線について、非対称な位置にあ
る。また、突出部121は、図中右方向に開口するU字
状の凹部122を備えている。
FIG. 9 is a perspective view showing still another heat dissipation board. In FIG. 9, the heat dissipation substrate 10 d includes a rectangular substrate portion 120 and a protruding portion 12 formed on the substrate portion 120.
1 and. In the heat dissipation board 10d, the protrusion 1
21 is asymmetrical with respect to the horizontal and vertical centerlines C1 and C2 in FIG. 6A. Further, the protrusion 121 is provided with a U-shaped recess 122 that opens rightward in the drawing.

【0048】以上説明した種々の形状を呈する放熱基板
は、プラスチックパッケージされた半導体装置に用いら
れる。
The heat dissipation substrate having various shapes described above is used for a plastic packaged semiconductor device.

【0049】以下、本発明による段付き形状を有する放
熱基板の製造方法を説明する。
Hereinafter, a method of manufacturing a heat dissipation board having a stepped shape according to the present invention will be described.

【0050】[実施例5]まず、前述の実施例2と同様
にして、混合法により68重量%Cu−32重量%Mo
に調製した粉末状の複合材料を、実施例1と同圧力でプ
レス成形した後同雰囲気中で焼結した。焼結体の厚さは
12mm、相対密度90〜98%を有する。この焼結体
を厚さ2mmの無酸素銅板で包装し、実施例1と同様に
加熱保持と熱間圧延加工を繰り返して、総厚が約3mm
の包装された焼結体を得た。
[Embodiment 5] First, in the same manner as in Embodiment 2 described above, 68 wt% Cu-32 wt% Mo was mixed by the mixing method.
The powdery composite material prepared in Example 1 was press-molded at the same pressure as in Example 1 and then sintered in the same atmosphere. The thickness of the sintered body is 12 mm and the relative density is 90 to 98%. This sintered body was wrapped in an oxygen-free copper plate having a thickness of 2 mm, and heating and holding and hot rolling were repeated in the same manner as in Example 1 to give a total thickness of about 3 mm.
A packaged sintered body of was obtained.

【0051】次に、この包装された焼結体を、100℃
以上に加熱保持し、かつ、温風に曝しつつ、図6(a)
および(b)に示した形状に応じた段付き形状を呈する
金型によって、段付け加工(サイジングと呼ばれる)を
施したところ、基板部と突出部とが一体に形成された段
付き形状を呈し、総厚が2.5mmの放熱基板が得られ
た。
Next, the packaged sintered body is treated at 100 ° C.
While heating and holding as described above and exposing to hot air, FIG.
Further, when a step processing (called sizing) is performed by a die having a stepped shape corresponding to the shape shown in (b), a stepped shape in which the substrate portion and the protruding portion are integrally formed is exhibited. A heat dissipation board having a total thickness of 2.5 mm was obtained.

【0052】図10は、得られた実施例5による放熱基
板を示す概念的な断面図である。図10を参照すると、
実施例5による放熱基板130は、CuおよびMoから
成り、段付き形状を呈する焼結体131と、Cuから成
り、その全表面にわたって形成された被覆層132とを
有している。被覆層132は、焼結体131のいかなる
部分においても、ほぼ一定の厚さを有している。特に、
本実施例では、包装板体として延性の高いCu板を用い
ているため、サイジングを施しても、加工時にCuが伸
びることによって、段付き形状の立上がり部分、即ち、
突出部の側面も被覆されていることが判る。
FIG. 10 is a conceptual sectional view showing the heat dissipation board according to the obtained Example 5. Referring to FIG.
The heat dissipation substrate 130 according to the fifth embodiment includes a sintered body 131 made of Cu and Mo and having a stepped shape, and a coating layer 132 made of Cu and formed on the entire surface thereof. The coating layer 132 has a substantially constant thickness in any part of the sintered body 131. In particular,
In this example, since a Cu plate having high ductility is used as the packaging plate, even if sizing is performed, Cu is stretched during processing, and thus the rising portion of the stepped shape, that is,
It can be seen that the side surface of the protrusion is also covered.

【0053】尚、本発明によれば、図6(a)および
(b)に示した形状に限らず、前述の図7〜図9に示し
た形状等、いかなる段付き形状に形成しても、その焼結
体の全ての表面に、ほぼ一定の厚さを有するCuから成
る被覆層を形成できる。即ち、本発明によれば、プラス
チックパッケージに要求される種々の形状を有する放熱
基板が得られる。
According to the present invention, not only the shape shown in FIGS. 6A and 6B, but also any stepped shape such as the shape shown in FIGS. A coating layer made of Cu having a substantially constant thickness can be formed on all surfaces of the sintered body. That is, according to the present invention, heat dissipation boards having various shapes required for plastic packages can be obtained.

【0054】[0054]

【発明の効果】本発明による金属複合部品は、高融点金
属および該高融点金属より低融点の金属を含む複合材料
を焼結することによって得られた焼結体と、該焼結体の
表面を覆う前記複合材料中の金属の一種から成る被覆層
とを有するため、熱間圧延時に、クラックや耳割れが生
ずることなく、加工性に優れている。また、突起状の酸
化物も発生しないため、表面(圧延面)に酸化物の圧痕
が生じることがなく、工業的量産性に優れている。具体
的には以下に示す項目〜の効果が得られる。
The metal composite part according to the present invention comprises a sintered body obtained by sintering a composite material containing a high melting point metal and a metal having a lower melting point than the high melting point metal, and the surface of the sintered body. Since it has a coating layer made of one kind of metal in the composite material for covering the above, it is excellent in workability without causing cracks or edge cracks during hot rolling. Further, since no projecting oxide is generated, no oxide indentation is generated on the surface (rolled surface), which is excellent in industrial mass productivity. Specifically, the effects of the following items 1 to 3 are obtained.

【0055】 圧延時のクラックや耳割れを発生させ
ることなく、圧延後の良品率が約95%以上である。
The yield of good products after rolling is about 95% or more without causing cracks or edge cracks during rolling.

【0056】 熱間圧延時に、ワークロールに付着し
ていた突起酸化物が付かなくなり、除去工程が省略でき
生産性が向上する。
At the time of hot rolling, the projecting oxide attached to the work roll is not attached, and the removal step can be omitted, thus improving the productivity.

【0057】 複合材料の混合成分と板体を構成する
金属との割合を調整することにより、例えば、Cu−M
o系等の中間熱特性の任意設定が容易である。
By adjusting the ratio of the mixed components of the composite material and the metal constituting the plate, for example, Cu-M
It is easy to arbitrarily set the intermediate heat characteristics of the o type.

【0058】 金属複合部品におけるCuとMo等と
の分散は均一であり、打ち抜きや切断等による如何なる
形状のチップにも、熱特性の差はみられない。また、サ
イジングによる段付き(凹凸)形状への加工や、曲げ加
工などを施しても、クラッド材のように異なる材質層が
生じることはなく、部位による熱特性も全く変わらな
い。さらに、打ち抜き加工によるクラックが発生しな
い。
The dispersion of Cu and Mo in the metal composite component is uniform, and there is no difference in thermal characteristics between chips having any shape by punching or cutting. Further, even if a stepped (concave / convex) shape is processed by sizing or a bending process is performed, a different material layer unlike the clad material does not occur, and the thermal characteristics of the parts do not change at all. Furthermore, cracks due to punching do not occur.

【0059】 十分に緻密化したCu−Mo系等の素
材をラッピング加工を施して薄くしようとする場合に、
比較的薄い仕上げ厚さ(例えば、0.5〜0.2mm)
にできる。
When a sufficiently densified Cu-Mo-based material is subjected to lapping to be thin,
Relatively thin finish thickness (eg 0.5-0.2mm)
You can

【0060】さらに、本発明によれば、放熱基板を備
え、かつ、プラスチックパッケージされた半導体装置に
おいて、放熱基板は、高融点金属およびこれより低融点
の金属を含む複合材料を焼結することによって得られた
焼結体と、焼結体の表面を覆う複合材料中の金属の一種
から成る被覆層とを有することを特徴とする半導体装置
が得られる。特に、放熱基板において、被覆層としてC
uを用いれば、いかなる段付き形状に形成しても、焼結
体の全ての表面に、ほぼ一定の厚さを有するCuから成
る被覆層を形成でき、プラスチックパッケージに要求さ
れる種々の形状を有する放熱基板が得られる。
Further, according to the present invention, in a semiconductor device having a heat dissipation substrate and packaged in a plastic, the heat dissipation substrate is obtained by sintering a composite material containing a high melting point metal and a metal having a lower melting point. A semiconductor device having the obtained sintered body and a coating layer made of a kind of metal in a composite material for covering the surface of the sintered body is obtained. Particularly, in the heat dissipation substrate, C is used as the coating layer.
If u is used, it is possible to form a coating layer made of Cu having a substantially constant thickness on all surfaces of the sintered body regardless of the stepped shape, and various shapes required for plastic packages can be obtained. A heat dissipation board having the same can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるCu−Mo金属複合部品のCu含
有量に対する熱膨張係数を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a coefficient of thermal expansion with respect to a Cu content of a Cu—Mo metal composite part according to the present invention.

【図2】本発明によるCu−Mo金属複合部品のCu含
有量に対する熱伝導率を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing the thermal conductivity with respect to the Cu content of the Cu—Mo metal composite part according to the present invention.

【図3】本発明の実施例および従来例による金属複合部
品を用いた半導体パッケージの要部を示す断面図であ
る。
FIG. 3 is a sectional view showing a main part of a semiconductor package using a metal composite component according to an example of the present invention and a conventional example.

【図4】モールドされて成るプラスチックパッケージの
一例を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing an example of a molded plastic package.

【図5】モールドされて成るプラスチックパッケージの
他の例を示す断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing another example of the molded plastic package.

【図6】図4あるいは図5に示した放熱基板の変形例を
示す図であり、(a)は平面図、(b)は側面図であ
る。
6A and 6B are views showing a modified example of the heat dissipation board shown in FIG. 4 or 5, in which FIG. 6A is a plan view and FIG. 6B is a side view.

【図7】図4あるいは図5に示した放熱基板の変形例を
示す平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing a modified example of the heat dissipation board shown in FIG. 4 or FIG.

【図8】図4あるいは図5に示した放熱基板の変形例を
示す平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing a modified example of the heat dissipation board shown in FIG. 4 or FIG.

【図9】図4あるいは図5に示した放熱基板の変形例を
示す斜視図である。
9 is a perspective view showing a modified example of the heat dissipation board shown in FIG. 4 or FIG.

【図10】本発明の実施例5による放熱基板を示す概念
的な断面図である。
FIG. 10 is a conceptual cross-sectional view showing a heat dissipation board according to a fifth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 放熱基板 20 半導体 30 セラミック枠 40 ピン 50 ろう剤 110 放熱基板 111 半導体チップ 112 ピン 113 電線 115 合成樹脂 120 基板部 121 突出部 130 放熱基板 131 焼結体 132 被覆層 10 heat dissipation board 20 semiconductor 30 ceramic frame 40 pins 50 brazing agent 110 heat dissipation board 111 semiconductor chip 112 pins 113 electric wire 115 synthetic resin 120 board part 121 protruding part 130 heat dissipation board 131 sintered body 132 coating layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 23/373 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI technical display location H01L 23/373

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 高融点金属および該高融点金属より低融
点の金属を含む複合材料を焼結することによって得られ
た焼結体と、該焼結体の表面を覆う前記複合材料中の金
属の一種から成る被覆層とを有することを特徴とする金
属複合部品。
1. A sintered body obtained by sintering a composite material containing a refractory metal and a metal having a melting point lower than that of the refractory metal, and a metal in the composite material covering the surface of the sintered body. And a coating layer made of one of the above.
【請求項2】 前記焼結複合材料は、Cu−Mo系およ
びCu−W系のうちの一方であることを特徴とする請求
項1記載の金属複合部品。
2. The metal composite component according to claim 1, wherein the sintered composite material is one of a Cu—Mo system and a Cu—W system.
【請求項3】 高融点金属および該高融点金属より低融
点の金属を含む複合材料を焼結して焼結体を得る工程
と、得られた前記焼結体の表面を前記複合材料中の金属
の一種から成る板体で包装する工程と、前記板体と前記
焼結体とを一体化する工程と、前記板体と一体化された
前記焼結体を塑性加工する工程とを有することを特徴と
する金属複合部品の製造方法。
3. A step of sintering a composite material containing a refractory metal and a metal having a melting point lower than that of the refractory metal to obtain a sintered body, and the surface of the sintered body thus obtained Having a step of packaging with a plate body made of one kind of metal, a step of integrating the plate body and the sintered body, and a step of plastically processing the sintered body integrated with the plate body And a method for manufacturing a metal composite part.
【請求項4】 放熱基板を備え、かつ、プラスチックパ
ッケージされた半導体装置において、前記放熱基板は、
高融点金属および該高融点金属より低融点の金属を含む
複合材料を焼結することによって得られた焼結体と、該
焼結体の表面を覆う前記複合材料中の金属の一種から成
る被覆層とを有することを特徴とする半導体装置。
4. In a semiconductor device including a heat dissipation substrate and packaged in a plastic, the heat dissipation substrate is
A sintered body obtained by sintering a composite material containing a refractory metal and a metal having a melting point lower than that of the refractory metal, and a coating made of one of the metals in the composite material, which covers the surface of the sintered body. A semiconductor device having a layer.
【請求項5】 前記放熱基板において、前記焼結体は、
MoおよびWのうちの一方とCuとを含む複合材料を焼
結することによって得られ、前記被覆層は、Cuから成
ることを特徴とする請求項4記載の半導体装置。
5. In the heat dissipation substrate, the sintered body is
5. The semiconductor device according to claim 4, wherein the coating layer is obtained by sintering a composite material containing one of Mo and W and Cu, and the coating layer is made of Cu.
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