JPH0631139U - Vertical low pressure CVD equipment - Google Patents

Vertical low pressure CVD equipment

Info

Publication number
JPH0631139U
JPH0631139U JP6655592U JP6655592U JPH0631139U JP H0631139 U JPH0631139 U JP H0631139U JP 6655592 U JP6655592 U JP 6655592U JP 6655592 U JP6655592 U JP 6655592U JP H0631139 U JPH0631139 U JP H0631139U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
tube
furnace core
manifold
cap
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6655592U
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
一弘 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP6655592U priority Critical patent/JPH0631139U/en
Publication of JPH0631139U publication Critical patent/JPH0631139U/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 原料ガスとして腐食性ガスを使用した場合に
おいても、炉芯管を固定する金属製のマニホールド及び
キャップ兼エレベータの腐食を防止し、高寿命化を図れ
る縦型減圧CVD装置を提供する。 【構成】 パージガスであるN2 ガスを導入するための
ガス導入管11が、マニホールド4の側壁に貫通し、アウ
タチューブ2とインナチューブ3との間で上方へ開口す
るように配設されており、このガス導入管11には管14が
連結されている。この管14は、インナチューブ3の周方
向へ一様にN2 ガスを供給することができるようにその
上面側に複数の孔15を有する。従ってウェハ処理中及び
処理後にN2 ガスを供給し続ければ原料ガスの淀みが無
くなり、マニホールド4及びキャップ兼エレベータ8は
腐食されない。
(57) [Summary] [Purpose] A vertical decompression system that prevents corrosion of the metal manifold that fixes the furnace core tube and the cap / elevator even when a corrosive gas is used as the raw material gas, and extends the service life. A CVD apparatus is provided. [Structure] A gas introduction pipe 11 for introducing N 2 gas as a purge gas is provided so as to penetrate a side wall of the manifold 4 and open between the outer tube 2 and the inner tube 3 upward. A pipe 14 is connected to the gas introduction pipe 11. This tube 14 has a plurality of holes 15 on its upper surface side so that N 2 gas can be uniformly supplied in the circumferential direction of the inner tube 3. Therefore, if the N 2 gas is continuously supplied during and after the wafer processing, the stagnation of the raw material gas disappears and the manifold 4 and the cap / elevator 8 are not corroded.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、ウェハに成膜処理を行なうための縦型減圧CVD(hemical ap or eposition)装置に関し、特に原料ガスとして腐食性ガスを使用する縦型減 圧CVD装置に関する。This invention relates to a vertical decompression CVD (C hemical V ap or D eposition) apparatus for performing a film forming process on the wafer, about a vertical, down-pressure CVD apparatus used in particular corrosive gas as a source gas.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

図3は、このような縦型減圧CVD装置の構成を示す模式図である。図中20は 、石英製のアウタチューブ2とアウタチューブ2内に設けられた石英製の円筒状 のインナチューブ3との2重管構造をなす炉芯管である。炉芯管20の周囲には成 膜処理時に加熱を行うヒータ1が配設されている。炉芯管20(アウタチューブ2 及びインナチューブ3)の下端は、金属製のマニホールド4に固定されている。 また、炉芯管20内を排気するための排気口5が、炉芯管20に連通する態様にて、 マニホールド4に設けられている。なお、マニホールド4はこれらの各部材を固 定しているので、その材質は金属に限定され、他の材料は使用できない。 FIG. 3 is a schematic diagram showing the structure of such a vertical low pressure CVD apparatus. In the figure, reference numeral 20 denotes a furnace core tube having a double tube structure including an outer tube 2 made of quartz and a cylindrical inner tube 3 made of quartz provided in the outer tube 2. A heater 1 for heating the film during the film forming process is arranged around the furnace core tube 20. The lower ends of the furnace core tube 20 (outer tube 2 and inner tube 3) are fixed to a metal manifold 4. Further, an exhaust port 5 for exhausting the inside of the furnace core tube 20 is provided in the manifold 4 in a manner of communicating with the furnace core tube 20. Since the manifold 4 fixes each of these members, its material is limited to metal, and other materials cannot be used.

【0003】 またこのマニホールド4の下側には、昇降可能な金属製のキャップ兼エレベー タ8が設置されており、このキャップ兼エレベータ8上には、成膜処理時におけ るキャップ兼エレベータ8への放熱を防ぐための何れも石英製の断熱筒10, 保温 筒7がこの順に設けられている。保温筒7上には、処理対象のウェハ9を載置し た石英製の載置台6が設置されている。そして、キャップ兼エレベータ8の昇降 動に応じて、ウェハ9,載置台6及び保温筒7の炉芯管20に対する搬入,搬出が 制御されるようになっている。A metal cap / elevator 8 that can be raised and lowered is installed below the manifold 4, and the cap / elevator 8 is mounted on the cap / elevator 8 during film formation processing. A heat insulating cylinder 10 and a heat insulating cylinder 7, both of which are made of quartz, are provided in this order in order to prevent heat radiation. A quartz mounting table 6 on which a wafer 9 to be processed is mounted is installed on the heat insulating cylinder 7. The loading / unloading of the wafer 9, the mounting table 6 and the heat insulating cylinder 7 to / from the furnace core tube 20 is controlled in accordance with the vertical movement of the cap / elevator 8.

【0004】 図4は従来のガス導入管の配置態様を示す部分拡大断面図であり、成膜処理時 を示す。パージガスであるN2 ガスを導入するためのガス導入管11が、マニホー ルド4の側壁に貫通し、アウタチューブ2とインナチューブ3との間で上方へ開 口するように配設されている。さらに原料ガスであるSiH2 Cl2 ,NH3 等のガス を導入するためのガス導入管12, 13が、マニホールド4の側壁に貫通し、インナ チューブ3の下端部の下を通りインナチューブ3内で上方へ開口するように配設 されている。FIG. 4 is a partially enlarged cross-sectional view showing a layout of a conventional gas introduction pipe, showing a film forming process. A gas introduction pipe 11 for introducing N 2 gas as a purge gas is provided so as to penetrate the side wall of the manifold 4 and to open upward between the outer tube 2 and the inner tube 3. Further, gas introduction pipes 12 and 13 for introducing gases such as SiH 2 Cl 2 and NH 3 which are raw material gases penetrate the side wall of the manifold 4 and pass under the lower end portion of the inner tube 3 and inside the inner tube 3. It is arranged so as to open upward.

【0005】 次に、成膜処理時の動作について説明する。載置台6にウェハ9を載置し、キ ャップ兼エレベータ8を図3に示す白抜矢符方向に上昇させて、ウェハ9,載置 台6及び保温筒7を炉芯管20内に搬入する。排気口5から真空排気して炉芯管20 内を所定の真空度に維持すると共に、ヒータ1の加熱により炉芯管20内を所定温 度に維持した後、ガス導入管12, 13を介して原料ガスを炉芯管20内に導入して、 載置台6上のウェハ9に成膜処理を施す。成膜処理を施した後、ガス導入管11よ りN2 ガスを導入しN2 ガスパージを数回繰り返して、炉芯管20内に残留した原 料ガスを排気する。最後にキャップ兼エレベータ8を下降させて成膜後のウェハ 9を炉芯管20外に取り出して成膜処理の動作を完了する。Next, the operation during the film forming process will be described. The wafer 9 is placed on the mounting table 6, the cap / elevator 8 is lifted in the direction of the hollow arrow shown in FIG. 3, and the wafer 9, the mounting table 6 and the heat retaining tube 7 are loaded into the furnace core tube 20. To do. The inside of the furnace core tube 20 is maintained at a predetermined degree of vacuum by evacuation from the exhaust port 5 and the inside of the furnace core tube 20 is maintained at a predetermined temperature by heating the heater 1, and then the gas is introduced through the gas introduction tubes 12 and 13. The raw material gas is introduced into the furnace core tube 20, and the wafer 9 on the mounting table 6 is subjected to film formation processing. After performing the film forming process, N 2 gas is introduced through the gas introducing pipe 11 and N 2 gas purging is repeated several times to exhaust the raw material gas remaining in the furnace core tube 20. Finally, the cap / elevator 8 is lowered to take out the film-formed wafer 9 out of the furnace core tube 20 to complete the film-forming process operation.

【0006】 ところで、成膜処理における原料ガスとして、腐食性ガス(例えば塩素系ガス 等)が使用されることが多く、炉芯管20内に原料ガスが残留した状態でキャップ 兼エレベータ8を下降させると、大気中の水分と原料ガスとが反応して腐食性が 高い物質(例えば塩酸)が生成され、その結果、金属製のマニホールド4及びキ ャップ兼エレベータ8に腐食が発生することがあった。そのためにN2 ガスパー ジによる原料ガスの排気は数回行っている。By the way, a corrosive gas (eg, chlorine-based gas) is often used as a raw material gas in the film forming process, and the cap / elevator 8 is lowered with the raw material gas remaining in the furnace core tube 20. Then, moisture in the atmosphere reacts with the raw material gas to generate a highly corrosive substance (eg, hydrochloric acid), which may result in corrosion of the metal manifold 4 and the cap / elevator 8. It was Therefore, the raw material gas is exhausted by N 2 gas purge several times.

【0007】[0007]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

しかしながら、従来装置における数回のN2 ガスパージによる原料ガスの排気 処理では、N2 ガスのガス導入管11の導入口が1箇所であるため、マニホールド 4,保温筒7及びキャップ兼エレベータ8に囲まれた部分に淀んでいる原料ガス を充分に排気することができず、金属製のマニホールド4及びキャップ兼エレベ ータ8に腐食が発生し、使用寿命が短いという課題があった。However, in the exhaust treatment of the raw material gas by several times of N 2 gas purging in the conventional apparatus, since the N 2 gas gas introduction pipe 11 has only one introduction port, it is surrounded by the manifold 4, the heat insulating cylinder 7 and the cap / elevator 8. The raw material gas stagnating in the damaged part cannot be exhausted sufficiently, and the metal manifold 4 and the cap / elevator 8 are corroded, resulting in a problem that the service life is short.

【0008】 本考案は斯かる課題に鑑みてなされたものであり、アウタチューブとインナチ ューブとの間に、バックパージ用のN2 ガスを炉芯管内に一様に導入するための 複数の孔を有するリング状の管を備えることにより、成膜時の原料ガスとして腐 食性ガスを利用する場合においても、マニホールド及びキャップ兼エレベータの 腐食を防止でき、装置の使用寿命の長期化を図ることができる縦型減圧CVD装 置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above problems, and a plurality of holes for uniformly introducing N 2 gas for back purging into the furnace core tube is provided between the outer tube and the inner tube. By providing a ring-shaped tube with a valve, even when a corrosive gas is used as a source gas for film formation, corrosion of the manifold and cap / elevator can be prevented, and the service life of the device can be extended. It is an object of the present invention to provide a vertical type low pressure CVD apparatus that can be used.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

本考案に係る縦型減圧CVD装置は、載置台に載置された処理対象のウェハを 、アウタチューブ及びインナチューブを備える炉芯管内へ搬入し、原料ガスを前 記炉芯管内に導入して前記ウェハに成膜処理を施し、パージガスを前記炉芯管内 へ導入して前記炉芯管内の残留原料ガスの排気を行う縦型減圧CVD装置におい て、前記アウタチューブと前記インナチューブとの間に複数の孔を有するリング 状の管を備え、該管から前記パージガスを前記炉芯管内へ導入するように構成し てあることを特徴とする。 The vertical decompression CVD apparatus according to the present invention carries a wafer to be processed placed on a mounting table into a furnace core tube equipped with an outer tube and an inner tube, and introduces a raw material gas into the furnace core tube. Between the outer tube and the inner tube in a vertical depressurization CVD apparatus that performs a film forming process on the wafer and introduces a purge gas into the furnace core tube to exhaust the residual raw material gas in the furnace core tube. A ring-shaped tube having a plurality of holes is provided, and the purge gas is introduced into the furnace core tube from the tube.

【0010】[0010]

【作用】[Action]

本考案の縦型減圧CVD装置では、アウタチューブとインナチューブとの間に 複数の孔を有するリング状の管を備え、周方向へ一様にN2 ガスを供給すること ができるので、原料ガスの淀みを無くし、腐食性ガスを使用した場合においても 、マニホールド及びキャップ兼エレベータの腐食,堆積物付着を阻止することが できる。The vertical decompression CVD apparatus of the present invention is provided with a ring-shaped tube having a plurality of holes between the outer tube and the inner tube, and can supply N 2 gas uniformly in the circumferential direction. Even if a corrosive gas is used, it is possible to prevent corrosion of the manifold and cap / elevator and adhesion of deposits even if a corrosive gas is used.

【0011】[0011]

【実施例】【Example】

以下、本考案をその実施例を示す図面に基づいて具体的に説明する。 図1は本考案に係る縦型減圧CVD装置のガス導入管の配置態様を示す部分拡 大断面図であり、成膜処理時を示す。図中2,3は、夫々石英製のアウタチュー ブ,インナチューブであり、アウタチューブ2は炉内の真空状態を維持するため に設けられており、インナチューブ3はアウタチューブ2の内壁に堆積物を付着 させないために設けられている。アウタチューブ2の下端及びインナチューブ3 の下端は金属製のマニホールド4に固定されている。そしてパージガスであるN 2 ガスを導入するためのガス導入管11が、マニホールド4の側壁に貫通し、アウ タチューブ2とインナチューブ3との間で上方へ開口するように配設されている 。さらに原料ガスであるSiH2 Cl2 ,NH3 等のガスを導入するためのガス導入管 12, 13が、マニホールド4の側壁に貫通し、インナチューブ3の下端部の下を通 りインナチューブ3内で上方へ開口するように配設されている。 Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to the drawings showing an embodiment thereof. FIG. 1 is a partially enlarged cross-sectional view showing a layout of a gas introduction pipe of a vertical decompression CVD apparatus according to the present invention, showing a film forming process. In the figure, 2 and 3 are an outer tube and an inner tube made of quartz, respectively, the outer tube 2 is provided to maintain a vacuum state in the furnace, and the inner tube 3 is a deposit on the inner wall of the outer tube 2. It is provided to prevent the adherence. The lower end of the outer tube 2 and the lower end of the inner tube 3 are fixed to a metal manifold 4. And the purge gas N 2 A gas introduction pipe 11 for introducing gas is provided so as to penetrate the side wall of the manifold 4 and open upward between the outer tube 2 and the inner tube 3. In addition, the raw material gas, SiH2Cl2, NH3Gas introduction pipes 12 and 13 for introducing gas such as are provided so as to penetrate the side wall of the manifold 4, pass under the lower end of the inner tube 3 and open upward in the inner tube 3. There is.

【0012】 またこのマニホールド4の下側には、昇降可能な金属製のキャップ兼エレベー タ8が設置してあり、このキャップ兼エレベータ8とマニホールド4とは気密的 に封止される。キャップ兼エレベータ8上には、成膜処理時におけるキャップ兼 エレベータ8への放熱を防ぐための何れも石英製の断熱筒10, 保温筒7がこの順 に設けられている。A metal cap / elevator 8 that can move up and down is installed below the manifold 4, and the cap / elevator 8 and the manifold 4 are hermetically sealed. On the cap / elevator 8, a quartz heat insulating tube 10 and a heat insulating tube 7 are provided in this order in order to prevent heat radiation to the cap / elevator 8 during the film forming process.

【0013】 図2は、ガス導入管11に連結された管14を示す模式図であり、図2(a) はその 側面図を示し、図2(b) は上面図を示す。リング状を呈する管14の1箇所には、 ガス導入管11に嵌合する孔が開設されており、管14とガス導入管11とは連結され ている。またこの管14の上面側には、周方向に複数の孔15が開設されている。FIG. 2 is a schematic view showing the pipe 14 connected to the gas introduction pipe 11, FIG. 2 (a) is a side view thereof, and FIG. 2 (b) is a top view thereof. A hole that fits into the gas introduction pipe 11 is formed at one location of the ring-shaped pipe 14, and the pipe 14 and the gas introduction pipe 11 are connected to each other. A plurality of holes 15 are formed in the circumferential direction on the upper surface side of the pipe 14.

【0014】 本考案の縦型減圧CVD装置では、複数の孔15を有する管14をガス導入管11に 連結してあるので、ウェハ処理中及び処理後にN2 ガスを供給し続ければ原料ガ スの淀みがなくなり、原料ガスとして腐食性ガスを使用した場合においても、金 属製のマニホールド4及びキャップ兼エレベータ8に腐食が生じることはない。 なおアウタチューブ及びインナチューブは、重金属による汚染がない、パーテ ィクル等のごみを発生しない、高温耐性がある等の性質を有することが要求され る。近年ではSiCの台頭もみられるが、純度の点から現在のところ石英製が最も 望ましい。 またガス導入管11と管14とが一体であるとマニホールド4内へ設置することが できないので、これらは取り外し可能な構成であることが必要である。そしてこ の連結は、ガスを導入することができれば、すりガラス合わせのような密着させ る方法でなくともよい。In the vertical decompression CVD apparatus of the present invention, since the tube 14 having the plurality of holes 15 is connected to the gas introduction tube 11, if the N 2 gas is continuously supplied during and after the wafer processing, the raw material gas is not supplied. Even if a corrosive gas is used as the raw material gas, the metal manifold 4 and the cap / elevator 8 will not be corroded. The outer tube and inner tube are required to have properties such as no contamination by heavy metals, no generation of dust such as particles, and high temperature resistance. Although the rise of SiC has been seen in recent years, quartz is currently the most desirable in terms of purity. Further, if the gas introduction pipe 11 and the pipe 14 are integrated, they cannot be installed in the manifold 4, and therefore they must be removable. And this connection does not have to be a contacting method such as frosted glass bonding as long as gas can be introduced.

【0015】[0015]

【考案の効果】[Effect of device]

以上のように、本考案の縦型減圧CVD装置にあっては、アウタチューブとイ ンナチューブとの間に、複数の孔を有するリング状の管を備え、周方向へ一様に N2 ガスを供給することができるので、原料ガスの淀みを無くし、腐食性ガスを 使用した場合においても、マニホールド及びキャップ兼エレベータの腐食,堆積 物付着を阻止することができ、効率良く成膜処理を行える、また装置の高寿命化 を図れる等、本考案は優れた効果を奏する。As described above, in the vertical decompression CVD apparatus of the present invention, the ring-shaped tube having a plurality of holes is provided between the outer tube and the inner tube, and the N 2 gas is evenly distributed in the circumferential direction. Since it can be supplied, the stagnation of the raw material gas can be eliminated, and even when a corrosive gas is used, the corrosion of the manifold and the cap / elevator and the adhesion of deposits can be prevented, and the film formation process can be performed efficiently. Further, the present invention has excellent effects such as a longer life of the device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案に係る縦型減圧CVD装置のガス導入管
の配置態様を示す部分拡大断面図である。
FIG. 1 is a partially enlarged cross-sectional view showing a layout of a gas introduction pipe of a vertical decompression CVD apparatus according to the present invention.

【図2】ガス導入管に連結された管を示す模式図であ
る。
FIG. 2 is a schematic view showing a pipe connected to a gas introduction pipe.

【図3】縦型減圧CVD装置の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 3 is a schematic diagram showing the configuration of a vertical low pressure CVD apparatus.

【図4】従来のガス導入管の配置態様を示す部分拡大断
面図である。
FIG. 4 is a partially enlarged cross-sectional view showing an arrangement mode of a conventional gas introduction pipe.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 アウタチューブ 3 インナチューブ 4 マニホールド 5 排気口 6 載置台 7 保温筒 8 キャップ兼エレベータ 9 ウェハ 10 断熱筒 11, 12, 13 ガス導入管 14 管 15 孔 20 炉芯管 2 Outer tube 3 Inner tube 4 Manifold 5 Exhaust port 6 Mounting table 7 Heat-insulating cylinder 8 Cap / elevator 9 Wafer 10 Insulating cylinder 11, 12, 13 Gas introduction pipe 14 Pipe 15 hole 20 Furnace core pipe

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 載置台に載置された処理対象のウェハ
を、アウタチューブ及びインナチューブを備える炉芯管
内へ搬入し、原料ガスを前記炉芯管内に導入して前記ウ
ェハに成膜処理を施し、パージガスを前記炉芯管内へ導
入して前記炉芯管内の残留原料ガスの排気を行う縦型減
圧CVD装置において、前記アウタチューブと前記イン
ナチューブとの間に複数の孔を有するリング状の管を備
え、該管から前記パージガスを前記炉芯管内へ導入する
ように構成してあることを特徴とする縦型減圧CVD装
置。
1. A wafer to be processed placed on a mounting table is loaded into a furnace core tube having an outer tube and an inner tube, and a source gas is introduced into the furnace core tube to perform a film forming process on the wafer. In a vertical decompression CVD apparatus for performing a purge gas introduction into the furnace core tube to exhaust the residual raw material gas in the furnace core tube, a ring-shaped ring having a plurality of holes between the outer tube and the inner tube. A vertical decompression CVD apparatus comprising a pipe, and being configured to introduce the purge gas into the furnace core pipe from the pipe.
JP6655592U 1992-09-24 1992-09-24 Vertical low pressure CVD equipment Pending JPH0631139U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6655592U JPH0631139U (en) 1992-09-24 1992-09-24 Vertical low pressure CVD equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6655592U JPH0631139U (en) 1992-09-24 1992-09-24 Vertical low pressure CVD equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0631139U true JPH0631139U (en) 1994-04-22

Family

ID=13319285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6655592U Pending JPH0631139U (en) 1992-09-24 1992-09-24 Vertical low pressure CVD equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0631139U (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8529701B2 (en) Substrate processing apparatus
JP3572247B2 (en) Gas inlet pipe for semiconductor heat treatment furnace
US5533736A (en) Thermal processing apparatus
US7479619B2 (en) Thermal processing unit
US8851886B2 (en) Substrate processing apparatus and method of manufacturing semiconductor device
JPH04269822A (en) Sealing device
JPH02174225A (en) Treatment device
JP3278011B2 (en) Heat treatment equipment
JP2002302770A (en) Substrate treating device
JP3173697B2 (en) Vertical heat treatment equipment
JP3181308B2 (en) Heat treatment equipment
JPH0631139U (en) Vertical low pressure CVD equipment
JPH03218017A (en) Vertical type heat-treating equipment
JP3256037B2 (en) Heat treatment equipment
JP2714576B2 (en) Heat treatment equipment
JP2002305190A (en) Heat treating apparatus and method for cleaning the same
JPH04184923A (en) Heat-treating equipment
JPH07263370A (en) Heat treatment device
JPH0577933U (en) Vertical low pressure CVD system
JP2004104029A (en) Substrate treatment apparatus and manufacturing method of semiconductor device
JP2602265B2 (en) Vertical furnace
JPH0817753A (en) Mounting jig for heat treatment of semiconductor wafer, and its heat treatment equipment
JP3463785B2 (en) Sealing device and processing device
JPH0286120A (en) Treatment
JP2000058530A (en) Vacuum processing device