JPH06307962A - 差圧測定装置 - Google Patents

差圧測定装置

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JPH06307962A
JPH06307962A JP5149275A JP14927593A JPH06307962A JP H06307962 A JPH06307962 A JP H06307962A JP 5149275 A JP5149275 A JP 5149275A JP 14927593 A JP14927593 A JP 14927593A JP H06307962 A JPH06307962 A JP H06307962A
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pressure
pressure side
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seal diaphragm
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Saichiro Morita
佐一郎 森田
Akio Fujita
晃朗 藤田
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定ラインから差圧測定装置を取外す事無
く、封入液の漏洩を自己診断出来る差圧測定装置を提供
する。 【構成】 高圧側と低圧側の2個の封入液室を有する差
圧測定装置において、該差圧測定装置の高圧側と低圧側
の圧力を均圧にして得られた初期零点出力値をメモリー
するメモリー手段と、自己診断時に前記差圧測定装置の
高圧側と低圧側の圧力を均圧にして得られた診断時の零
点出力値と該メモリー手段の前記初期零点出力値とを比
較してその差が所定値を越えた場合に前記封入液が漏洩
していると判断するCPUとを具備したことを特徴とす
る差圧測定装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、測定ラインから差圧測
定装置を取外す事無く、封入液の漏洩を自己診断出来る
差圧測定装置に関するものである。更に詳述すれば、受
圧部の片側のシールダイアフラム部の封入液漏れによっ
て、均圧時の零点出力が設置時より変わることを利用し
て、受圧部の封入液漏れを検出する差圧測定装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】図6は従来より一般に使用されている従
来例の構成説明図で、例えば、特開昭59―56137
号の第1図に示されている。図において、ハウジング1
の両側にフランジ2、フランジ3が嵌合い組み立てられ
溶接等によって固定されており、両フランジ2,3には
測定せんとする圧力PHの高圧流体の導入口5、圧力PL
の低圧流体の導入口4が設けられている。
【0003】ハウジング1内に圧力測定室6が形成され
ており、この圧力測定室6内にセンタダイアフラム7と
シリコンダイアフラム8が設けられている。シリコンダ
イアフラム8は、単結晶のシリコン基板81に凹部82
を形成して形成される。
【0004】センタダイアフラム7とシリコンダイアフ
ラム8はそれぞれ別個に圧力測定室6の壁に固定されて
おり、センタダイアフラム7とシリコンダイアフラム8
の両者でもって圧力測定室6を2分している。センタダ
イアフラム7と対向する圧力測定室6の壁には、バック
プレ―ト6A,6Bが形成されている。センタダイアフ
ラム7は周縁部をハウジング1に溶接されている。
【0005】シリコン基板81の一方の面にボロン等の
不純物を選択拡散して4っのストレンゲ―ジ91を形成
する。4っのストレインゲ―ジ91は、シリコンダイア
フラム8が差圧ΔPを受けてたわむ時、2つが引張り、
2つが圧縮を受けるようになっており、これらがホイ―
トストン・ブリッジ回路に接続され、抵抗変化が差圧Δ
Pの変化として検出される。
【0006】92は、ストレインゲ―ジ91に一端が取
付けられたリ―ドである。93は、リ―ド92の他端が
接続されたハ―メチック端子である。支持体9は、ハ―
メチック端子を備えており、支持体9の圧力測定室6側
端面に低融点ガラス接続等の方法でシリコンダイアフラ
ム8が接着固定されている。
【0007】ハウジング1とフランジ2、およびフラン
ジ3との間に、圧力導入室10,11が形成されてい
る。この圧力導入室10,11内に第1,第2シールダ
イアフラム13,12を設け、このシールダイアフラム
12,13と対向するハウジング1の壁10A,11A
にシールダイアフラム12,13と類似の形状のバック
プレ―トが形成されている。
【0008】シールダイアフラム12,13とバックプ
レ―ト10A,11Aとで形成される空間と、圧力測定
室6は、連通孔14,15を介して導通している。そし
て、シールダイアフラム12,13間にシリコンオイル
等の封入液101,102が満たされ、この封入液が連
通孔16,17を介してシリコンダイアフラム8の上下
面にまで至っている、封入液101,102はセンタダ
イアフラム7とシリコンダイアフラム8とによって2分
されているが、その量が、ほぼ均等になるように配慮さ
れている。
【0009】以上の構成において、高圧側から圧力が作
用した場合、シールダイアフラム13に作用する圧力が
封入液102によってシリコンダイアフラム8に伝達さ
れる。一方、低圧側から圧力が作用した場合、シールダ
イアフラム12に作用する圧力が封入液101によって
シリコンダイアフラム8に伝達される。
【0010】この結果、高圧側と低圧側との圧力差に応
じてシリコンダイアフラム8が歪み、この歪み量がスト
レインゲ―ジ91に因って電気的に取出され、差圧の測
定が行なわれる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この様
な装置においては、何らかの原因で、封入液101,1
02が漏洩しだした場合、漏れは、僅かづつ、しかも徐
々に漏れるので、出力がはっきりと異常になり、故障と
なるまで発見できなかった。
【0012】例えば、シールダイアフラム12,13が
ハウジング1にくっついて、入力が加わっても、出力が
変わらなくなるとか、あるいは、封入液101,102
がハウジング1内へ入り込み、絶縁劣化とか、断線とか
で、ストレインゲージ91が異常となり、出力が異常に
なるとかで、初めて発見される。
【0013】あるいは、入力テストをして、入力異常か
ら、故障個所を調べて初めて発見される。加えるに、シ
ールダイアフラム12,13に、封入液101,102
の漏れが生じた場合には、差圧測定装置そのものの特性
に直接影響があり、プロセスの自動制御に支障をきたす
ことになる。
【0014】本発明は、この問題点を、解決するもので
ある。本発明の目的は、測定ラインから差圧測定装置を
取外す事無く、封入液の漏洩を自己診断出来る。加える
に、差圧測定装置としての機能は全く影響を受けない差
圧測定装置を提供するにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明は、 (1)高圧側と低圧側の2個の封入液室を有する差圧測
定装置において、該差圧測定装置の高圧側と低圧側の圧
力を均圧にして得られた初期零点出力値をメモリーする
メモリー手段と、自己診断時に前記差圧測定装置の高圧
側と低圧側の圧力を均圧にして得られた診断時の零点出
力値と該メモリー手段の前記初期零点出力値とを比較し
てその差が所定値を越えた場合に前記封入液が漏洩して
いると判断するCPUとを具備したことを特徴とする差
圧測定装置。 (2)ハウジングの両側面にそれぞれ設けられた第1,
第2シールダイアフラムと、該第1,第2シールダイア
フラムに加わる差圧を封入液を介して検出する検出素子
とを具備する差圧測定装置において、前記第1シールダ
イアフラムを覆って設けられ該第1シールダイアフラム
と第3シールダイアフラム室を構成する第3シールダイ
アフラムと、前記第2ールダイアフラムを覆って設けら
れ該第2シールダイアフラムと第4シールダイアフラム
室を構成する第4シールダイアフラムと、前記差圧測定
装置の高圧側と低圧側の圧力を均圧にして得られたゼロ
点出力値の初期圧力特性をメモリーするメモリー手段
と、自己診断時に前記差圧測定装置の高圧側と低圧側の
圧力を均圧にして得られた診断時のゼロ点出力値と該メ
モリー手段の前記ゼロ点出力値の初期圧力特性とを比較
してその差が所定値を越えた場合に前記封入液が漏洩し
ていると判断するCPUとを具備したことを特徴とする
差圧測定装置を構成したものである。
【0016】
【作用】以上の構成において、高圧側から圧力が作用し
た場合、シールダイアフラムに作用する圧力が封入液に
よってシリコンダイアフラムに伝達される。一方、低圧
側から圧力が作用した場合、シールダイアフラムに作用
する圧力が封入液によってシリコンダイアフラムに伝達
される。
【0017】従って、高圧側と低圧側との圧力差に応じ
てシリコンダイアフラムが歪み、この歪み量がストレイ
ンゲ―ジに因って電気的に取出され、差圧の測定が行な
われる。
【0018】次に、自己診断時においては、CPUにお
いて、差圧測定装置の高圧側と低圧側の圧力を均圧、例
えば大気圧にして測定温度で得られたゼロ点と、差圧測
定装置の高圧側と低圧側の圧力を均圧、例えば大気圧に
して校正温度で得られたゼロ点と、メモリー手段にメモ
リーされた初期ゼロ点出力値の特性値とを比較して、そ
の差が所定値を越えた場合には、封入液が漏洩している
と判断する。以下、実施例に基づき詳細に説明する。
【0019】
【実施例】図1は本発明の一実施例の要部構成説明図で
ある。図において、図6と同一記号の構成は同一機能を
表わす。以下、図6と相違部分のみ説明する。
【0020】21は、差圧測定装置の高圧側と低圧側の
圧力を均圧、この場合は大気圧P0、にしながら、所定
の校正温度T0、この場合は20℃、から上下限測定可
能温度−Tn〜Tn迄の、初期ゼロ点出力値の特性をメモ
リーするメモリー手段である。
【0021】22は、自己診断時に差圧測定装置の高圧
側と低圧側の圧力を均圧、この場合は大気圧P0、にし
て測定温度T1で得られたゼロ点出力値ε1と、校正温度
0で得られたゼロ点出力値ε0と、メモリー手段21の
初期ゼロ点出力値の特性値とを比較して、その差Zが所
定値Z0を越えた場合に、封入液101,102が漏洩
していると判断するCPUである。
【0022】なお、メモリー手段21とCPU22は、
この場合は、変換部ケース内のアンプに収納されてい
る。(図示せず)
【0023】以上の構成において、高圧側から圧力が作
用した場合、シールダイアフラム13に作用する圧力が
封入液102によってシリコンダイアフラム8に伝達さ
れる。一方、低圧側から圧力が作用した場合、シールダ
イアフラム12に作用する圧力が封入液101によって
シリコンダイアフラム8に伝達される。従って、高圧側
と低圧側との圧力差に応じてシリコンダイアフラム8が
歪み、この歪み量がストレインゲ―ジ91に因って電気
的に取出され、差圧の測定が行なわれる。
【0024】そして、自己診断時には,差圧測定装置の
高圧側と低圧側の圧力を均圧にして得られた診断時の零
点出力値と、メモリー手段21の初期零点出力値とを比
較してその差が所定値を越えた場合に、封入液が漏洩し
ているとCPU22が判断する。従って、プロセスの流
れを止めることなく、封入液の漏洩を自己診断出来る差
圧測定装置が得られる。
【0025】なお、均圧状態は、測定流体の流れる配管
から、差圧測定装置の高圧側と低圧側へそれぞれ連通す
る導管の連通を止め、差圧測定装置の高圧側と低圧側を
大気解放にする。あるいは、3岐弁を使用して、差圧測
定装置の高圧側と低圧側の測定流体の配管への連通を止
め、かつ、高圧側と低圧側とを連通するように操作し
て、高圧側と低圧側とを均圧にする等、種々の方法が採
用可能であり、測定流体の流れる配管に於ける流れを止
めることなく、差圧測定装置の高圧側と低圧側とを均圧
にする事は容易である。
【0026】即ち、具体的な自己診断動作に就いて以下
説明する。図2にゼロ点の温度特性図、図3に動作説明
図を示す。図2において、Aは初期温度特性曲線、Xは
液漏れ状態の温度特性曲線である。
【0027】(1)図2、図3のフロー1に示す如く、
前もって、差圧測定装置の製作時に高圧側と低圧側とを
均圧状態、この場合は大気圧P0、になるようにしなが
ら、上下限使用可能温度−Tn〜Tnまで変化させて、こ
の時のゼロ点出力値の初期温度特性をメモリー手段21
にインプットする。
【0028】(2)図2、図3のフロー2に示す如く、
差圧測定装置の高圧側と低圧側の圧力を測定圧P1に均
圧状態にして、校正温度T0におけるゼロ点ε0を測定す
る。 (3)図3のフロー3に示す如く、ゼロ点ε0を校正圧
力P0、この場合は大気圧状態に換算してゼロ点ε0´を
計算により求める。
【0029】(4)図2、図3のフロー4に示す如く、
差圧測定装置の高圧側と低圧側の圧力を測定圧P1に均
圧状態にして、測定温度T1で得られたゼロ点ε1を測定
する。 (5)図3のフロー5に示す如く、ゼロ点ε1を校正圧
力P0、この場合は大気圧状態、に換算してゼロ点ε1´
を計算により求める。 (6)図3のフロー6に示す如く、ε=ε1´−ε0´を
求める。
【0030】、 (7)図2、図3のフロー7に示す如く、メモリー手段
21にメモリーされたゼロ点特性より、校正温度T0
ら測定温度T1のゼロ点εs=ε11−ε01を求める。 (8)図3のフロー8に示す如く、Z=εs−εを求め
る。 (9)図3のフロー9に示す如く、|Z|≧Z0(Z0
一定のマージンを考慮に入れた誤差)であれば、高圧側
又は低圧側のどちらかのシールダイアフラム31,33
部分より、封入液101,102が漏れていると判定す
る。
【0031】(10)図3のフロー10に示す如く、Z
の符号により、Z<0であれば、高圧側のシールダイア
フラム13部分より、封入液102が漏れている。Z>
0であれば、低圧側のシールダイアフラム12部分よ
り、封入液101が漏れていると判定する。
【0032】次に、封入液101,102が漏れた場合
の差圧測定装置の具体的動作について説明する。今、低
圧側の封入液101がΔVcc漏れたとすると、シール
ダイアフラム12の容積変化定数Vcc/kgf/cm
2とすると、低圧室側のシリコンオイル内圧はΔP変化
する。
【0033】ΔP=ΔV/Vkgf/cm2 低圧側と高圧側とを均圧にすると、ΔP分、零点がシフ
トしているのが検出される。 零点誤差E1=(ΔP/P)・100%
【0034】この結果、封入液101,102の漏洩が
僅かあっても、本発明の差圧測定装置は動作するため、
装置が完全にダウンして初めて、封入液101,102
の漏洩に気付く様な恐れがなく、封入液101,102
の漏洩を容易に早期に検知することができる。また、装
置のダウンする前にダウンの予知診断ができる。
【0035】更に、測定流体の流れを止めることなく、
差圧測定装置の高圧側と低圧側とを均圧にする事は、前
述した如く容易であるので、プロセスの流れを乱すこと
がない差圧測定装置が得られる。図4は本発明の他の実
施例の要部構成説明図、図5は図4の要部構成説明図で
ある。図において、図6と同一記号の構成は同一機能を
表わす。以下、図6と相違部分のみ説明する。
【0036】31は、差圧測定装置の高圧側と低圧側の
圧力を均圧、この場合は大気圧P0、にしながら、所定
の校正温度T0、この場合は20℃、から上下限測定可
能温度−Tn〜Tn迄の、初期ゼロ点出力値の特性をメモ
リーするメモリー手段である。
【0037】32は、自己診断時に差圧測定装置の高圧
側と低圧側の圧力を均圧、この場合は大気圧P0、にし
て測定温度T1で得られたゼロ点ε1と、校正温度T0
得られたゼロ点ε0と、メモリー手段21の初期ゼロ点
出力値の特性値とを比較して、その差Zが所定値Z0
越えた場合に、封入液103,104が漏洩していると
判断するCPUである。
【0038】41は、第1シールダイアフラム13を覆
って設けられ、第1シールダイアフラム13と第3シー
ルダイアフラム室42を構成する第3シールダイアフラ
ムである。43は、第2シールダイアフラム12を覆っ
て設けられ、第2シールダイアフラム12と第4シール
ダイアフラム室44を構成する第4シールダイアフラム
である。
【0039】45は、第1シールダイアフラム13と第
3シールダイアフラム31との間に設けられたボディで
ある。46は、第2シールダイアフラム12と第4シー
ルダイアフラム33との間に設けられたボディである。
103は、第3シールダイアフラム室42に満たされた
封入液である。104は、第4シールダイアフラム室4
4に満たされた封入液である。
【0040】なお、メモリー手段31とCPU32は、
この場合は、変換部ケース内のアンプに収納されてい
る。(図示せず)
【0041】以上の構成において、通常の測定状態にお
いては、高圧側から圧力が作用した場合、シールダイア
フラム41に作用する圧力が封入液102によってシリ
コンダイアフラム8に伝達される。一方、低圧側から圧
力が作用した場合、シールダイアフラム43に作用する
圧力が封入液101によってシリコンダイアフラム8に
伝達される。
【0042】従って、高圧側と低圧側との圧力差に応じ
てシリコンダイアフラム8が歪み、この歪み量がストレ
インゲ―ジ91に因って電気的に取出され、差圧の測定
が行なわれる。
【0043】次に、自己診断時においては、CPU32
において、測定温度T1、例えば50℃に於いて、差圧
測定装置の高圧側と低圧側の圧力を大気圧P0に均圧状
態にして得られたゼロ点ε1と、校正温度T0、例えば2
0℃に於いて、差圧測定装置の高圧側と低圧側の圧力を
大気圧P0に均圧状態にして得られたゼロ点ε0メモ
リー手段31にメモリーされた初期ゼロ点出力値の特性
値とを比較して、その差Zが所定値Z0を越えた場合に
は、封入液103又は104が漏洩していると判断す
る。
【0044】この結果、封入液103,104の漏洩が
僅かあっても、本発明の差圧測定装置は動作するため、
装置が完全にダウンして初めて、封入液103,104
の漏洩に気付く様な恐れがなく、封入液103,104
の漏洩を容易に早期に検知することができる。また、装
置のダウンする前にダウンの予知診断ができる。
【0045】更に、測定流体の流れを止めることなく、
差圧測定装置の高圧側と低圧側とを均圧にする事は、前
述した如く容易であるので、プロセスの流れを乱すこと
がない差圧測定装置が得られる。
【0046】加えるに、第1シールダイアフラム13を
覆って設けられ、第1シールダイアフラム13と第3シ
ールダイアフラム室32を構成する第3シールダイアフ
ラム31と、第2ールダイアフラム12を覆って設けら
れ、第2シールダイアフラム12と第4シールダイアフ
ラム室34を構成する第4シールダイアフラム33とが
設けられ、第3シールダイアフラム室32と第4シール
ダイアフラム室34とに、封入液103,104が満た
されている。
【0047】従って、腐食性の測定液等により封入液1
03,104が漏れたとしても、封入液101,102
は漏れることが無いので、差圧測定装置としての機能が
全く損ぜられることがない装置が得られる。
【0048】なお、前述の実施例においては、ゼロ点ε
0,ε1は標準状態の圧力即ち校正圧力P0に換算すると
説明したが、これに限ることはなく、校正温度T0から
測定温度T1のゼロ点出力値εsを自己診断時の温度状態
に換算して、比較しても良いことは勿論である。
【0049】また、前述の実施例においては、差圧測定
装置に就いて説明したが、これに限ることはなく、圧力
測定装置でも良い。圧力測定装置は差圧測定装置の一方
の圧力を大気圧或いは真空にしたものであり、実質的に
差圧測定装置であるからである。尚この場合は、測定圧
側を大気圧或いは真空にして零点をチェックすることに
なる。
【0050】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、 (1)高圧側と低圧側の2個の封入液室を有する差圧測
定装置において、該差圧測定装置の高圧側と低圧側の圧
力を均圧にして得られた初期零点出力値をメモリーする
メモリー手段と、自己診断時に前記差圧測定装置の高圧
側と低圧側の圧力を均圧にして得られた診断時の零点出
力値と該メモリー手段の前記初期零点出力値とを比較し
てその差が所定値を越えた場合に前記封入液が漏洩して
いると判断するCPUとを具備したことを特徴とする差
圧測定装置。 (2)ハウジングの両側面にそれぞれ設けられた第1,
第2シールダイアフラムと、該第1,第2シールダイア
フラムに加わる差圧を封入液を介して検出する検出素子
とを具備する差圧測定装置において、前記第1シールダ
イアフラムを覆って設けられ該第1シールダイアフラム
と第3シールダイアフラム室を構成する第3シールダイ
アフラムと、前記第2ールダイアフラムを覆って設けら
れ該第2シールダイアフラムと第4シールダイアフラム
室を構成する第4シールダイアフラムと、前記差圧測定
装置の高圧側と低圧側の圧力を均圧にして得られたゼロ
点出力値の初期圧力特性をメモリーするメモリー手段
と、自己診断時に前記差圧測定装置の高圧側と低圧側の
圧力を均圧にして得られた診断時のゼロ点出力値と該メ
モリー手段の前記ゼロ点出力値の初期圧力特性とを比較
してその差が所定値を越えた場合に前記封入液が漏洩し
ていると判断するCPUとを具備したことを特徴とする
差圧測定装置を構成した。
【0051】この結果、第1請求項の構成によれば、封
入液の漏洩が僅かあっても、本発明の差圧測定装置は動
作するので、装置が完全にダウンして初めて封入液の漏
洩に気付く様な恐れがなく、封入液の漏洩を容易に早期
に検知することができる。また、装置のダウンする前に
ダウンの予知診断ができる。
【0052】更に、測定流体の流れを止めることなく、
差圧測定装置の高圧側と低圧側とを均圧にする事は容易
であり、プロセスの流れを乱すことがない差圧測定装置
が得られる。
【0053】加えるに、第2請求項の構成によれば、腐
食性の測定液等により封入液が漏れたとしても、封入液
は漏れることが無いので、差圧測定装置としての機能が
全く損ぜられることがない装置が得られる。従って、本
発明によれば、測定ラインから差圧測定装置を取外す事
無く、封入液の漏洩を自己診断出来る。加えるに、差圧
測定装置としての機能は全く影響を受けない差圧測定装
置を実現することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の要部構成説明図である。
【図2】図1のゼロ点の温度特性図である。
【図3】図1の動作説明図である。
【図4】本発明の他の実施例の要部構成説明図である。
【図5】図4の要部構成説明図である。
【図6】従来より一般に使用されている従来例の構成説
明図である。
【符号の説明】
1…ハウジング 2…フランジ 3…フランジ 4…導入口 5…導入口 6…圧力測定室 6A…バックプレ―ト 6B…バックプレ―ト 7…センターダイアフラム 8…シリコンダイアフラム 9…支持体 10…圧力導入室 10A…バックプレ―ト 11…圧力導入室 11A…バックプレ―ト 12…シールダイアフラム 13…シールダイアフラム 14…連通孔 15…連通孔 16…連通孔 17…連通孔 21…メモリー手段 22…CPU 31…メモリー手段 32…CPU 41…第3シールダイアフラム 42…第3シールダイアフラム室 43…第4シールダイアフラム 44…第4シールダイアフラム室 45…ボディ 46…ボディ 81…シリコン基板 82…凹部 91…ストレインゲ―ジ 92…リード 93…ハーメチック端子 101…封入液 102…封入液 103…封入液 104…封入液

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】高圧側と低圧側の2個の封入液室を有する
    差圧測定装置において、 該差圧測定装置の高圧側と低圧側の圧力を均圧にして得
    られた初期零点出力値をメモリーするメモリー手段と、 自己診断時に前記差圧測定装置の高圧側と低圧側の圧力
    を均圧にして得られた診断時の零点出力値と該メモリー
    手段の前記初期零点出力値とを比較してその差が所定値
    を越えた場合に前記封入液が漏洩していると判断するC
    PUとを具備したことを特徴とする差圧測定装置。
  2. 【請求項2】ハウジングの両側面にそれぞれ設けられた
    第1,第2シールダイアフラムと、該第1,第2シール
    ダイアフラムに加わる差圧を封入液を介して検出する検
    出素子とを具備する差圧測定装置において、 前記第1シールダイアフラムを覆って設けられ該第1シ
    ールダイアフラムと第3シールダイアフラム室を構成す
    る第3シールダイアフラムと、 前記第2ールダイアフラムを覆って設けられ該第2シー
    ルダイアフラムと第4シールダイアフラム室を構成する
    第4シールダイアフラムと、 前記差圧測定装置の高圧側と低圧側の圧力を均圧にして
    得られたゼロ点出力値の初期圧力特性をメモリーするメ
    モリー手段と、 自己診断時に前記差圧測定装置の高圧側と低圧側の圧力
    を均圧にして得られた診断時のゼロ点出力値と該メモリ
    ー手段の前記ゼロ点出力値の初期圧力特性とを比較して
    その差が所定値を越えた場合に前記封入液が漏洩してい
    ると判断するCPUとを具備したことを特徴とする差圧
    測定装置。
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