JPH06297168A - Method and device for laser irradiation, forming method for three-dimensional circuit, surface treatment method, and method for sticking powder - Google Patents

Method and device for laser irradiation, forming method for three-dimensional circuit, surface treatment method, and method for sticking powder

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JPH06297168A
JPH06297168A JP5088348A JP8834893A JPH06297168A JP H06297168 A JPH06297168 A JP H06297168A JP 5088348 A JP5088348 A JP 5088348A JP 8834893 A JP8834893 A JP 8834893A JP H06297168 A JPH06297168 A JP H06297168A
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良幸 内野々
Kunji Nakajima
勲二 中嶋
Keimei Kitamura
啓明 北村
Sakuo Kamata
策雄 鎌田
Riyuuji Ootani
隆児 大谷
Toshiyuki Suzuki
俊之 鈴木
Takeshi Okamoto
剛 岡本
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Abstract

PURPOSE:To three dimensionally irradiate the three-dimensional surface of a substrate by a laser beam, and to form a conductor circuit pattern without limitation of the shape of the three dimensional surface of the substrate. CONSTITUTION:A laser beam L is allowed to reflect in the X axis direction and in the Y axis direction by X and Y mirrors 1 and 2. Further, this reflected laser beam L is allowed to reflect in the Z axis direction by a Z mirror 3, and the three dimensional surface 8 of the substrate 4 is irradiated by the laser beam L. The surface 8 of the substrate 4 can be three dimensionally irradiated by the laser beam L with the combination of the X. Y mirrors 1, 2 and the Z mirror 3. Also, like this, since the surface 8 of the substrate 4 can be three dimensionally irradiated by the laser beam L, a conductor circuit pattern is formed on the surface 8 of the substrate 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、基体の表面にレーザ光
を照射する方法及びその装置、並びにこのレーザ光照射
技術を用いた立体回路の形成方法、表面処理方法、粉末
付着方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for irradiating a surface of a substrate with laser light, and a method for forming a three-dimensional circuit, a surface treatment method and a powder deposition method using this laser light irradiation technique. is there.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】基体4
の表面にレーザ光Lを照射すると共にレーザ光Lを走査
させて基体4の表面に描画する一般的な方法として、図
22のようなガルバノメータを操作しておこなう方法が
良く知られている。図22のものは、Xガルバノメータ
21の回動軸21aにXミラー1が、Yガルバノメータ
22の回動軸22aにYミラー2がそれぞれ取り付けて
あり、Xガルバノメータ21の回動軸21aとYガルバ
ノメータ22の回動軸22aは直交するように配置して
ある。そしてレーザ発振器から発振されたレーザ光Lは
Xミラー1で反射されると共にさらにYミラー2で反射
され、基体1の表面に照射されるようになっており、X
ガルバノメータ21及びYガルバノメータ22を制御し
て、Xミラー1を回動軸21aで回動させてレーザ光L
の反射角度をX軸に沿って変位させると共にYミラー2
を回動軸22aで回動させてレーザ光Lの反射角度をY
軸に沿って変位させることによって、基体4の表面に沿
ってレーザ光Lを走査させてレーザ光Lによって任意の
パターンに描画することができるのである。
2. Description of the Related Art Substrate 4
As a general method of irradiating the surface of the substrate with the laser light L and scanning the laser light L to draw on the surface of the substrate 4, a method of operating a galvanometer as shown in FIG. 22 is well known. In FIG. 22, the X mirror 1 is attached to the rotary shaft 21a of the X galvanometer 21, and the Y mirror 2 is mounted to the rotary shaft 22a of the Y galvanometer 22. The rotary shaft 21a of the X galvanometer 21 and the Y galvanometer 22 are mounted. The rotating shafts 22a are arranged so as to be orthogonal to each other. The laser light L oscillated from the laser oscillator is reflected by the X mirror 1 and further reflected by the Y mirror 2 so that the surface of the substrate 1 is irradiated with X.
The galvanometer 21 and the Y galvanometer 22 are controlled so that the X mirror 1 is rotated by the rotation shaft 21a so that the laser beam L
The reflection angle of the Y mirror 2 is displaced along the X axis.
By rotating the rotary shaft 22a to change the reflection angle of the laser light L to Y.
By displacing along the axis, the laser light L can be scanned along the surface of the substrate 4 and can be drawn in an arbitrary pattern by the laser light L.

【0003】しかし、図22の方法は基体4の平面とし
て形成された表面に二次元的に描画する場合には問題が
ないが、図23のように基体4の表面が三次元的な立体
表面8として形成されている場合には、立体表面8の突
部8aの表面と凹部8bの表面とはX・Yミラー1,2
からの距離が異なるために、レーザ光Lの照射のスポッ
ト径が変化すると共にレーザ光Lの走査速度も変化し、
さらにレーザ光Lの照射パワーも変化することになり、
レーザ光Lによる描画パターンの精度が悪くなるもので
あった。
However, the method of FIG. 22 has no problem when two-dimensionally drawing on the surface formed as a flat surface of the substrate 4, but as shown in FIG. 23, the surface of the substrate 4 is a three-dimensional solid surface. In the case of being formed as 8, the surface of the projection 8a and the surface of the recess 8b of the three-dimensional surface 8 are the X / Y mirrors 1 and 2.
Since the distance from is different, the spot diameter of the irradiation of the laser light L changes and the scanning speed of the laser light L also changes,
Furthermore, the irradiation power of the laser light L will also change,
The accuracy of the drawing pattern by the laser light L was deteriorated.

【0004】上記図23の場合のように基体4の立体表
面8の突部8aと凹部8bの間が傾斜面8cで形成され
ているときには、描画パターンの精度が悪くなることを
容認すれば基体4の立体表面8に三次元的にレーザ光L
を照射することが可能である。しかし、図24の場合の
ように、基体4の立体表面8の突部8aと凹部8bの間
が垂直面8dで形成されているときには、垂直面8dは
影になってレーザ光Lを照射することが不可能になるこ
とがあり、基体4の立体表面8に三次元的にレーザ光L
を照射することができなくなるという問題があった。
As shown in FIG. 23, when the inclined surface 8c is formed between the projection 8a and the recess 8b of the three-dimensional surface 8 of the substrate 4, it is accepted that the accuracy of the drawing pattern is deteriorated. Laser beam L three-dimensionally on three-dimensional surface 8 of 4
Can be irradiated. However, as in the case of FIG. 24, when the vertical surface 8d is formed between the projection 8a and the concave portion 8b of the three-dimensional surface 8 of the base 4, the vertical surface 8d is shaded and the laser beam L is irradiated. Sometimes becomes impossible, and the laser beam L is three-dimensionally formed on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4.
There was a problem that it could not be irradiated.

【0005】一方、基体4の表面に導体回路パターン9
を形成してプリント配線板などを作成するにあたって、
導体回路パターン9を立体形状に設けた立体回路板とし
て作成することがおこなわれている。図25乃至図27
は立体回路板を製造する従来の方法を示すものであり、
図25のものは同図(a)のように平板状の基体4の平
面として形成される表面に導体回路パターン9を形成し
た後に、加圧成形あるいは曲げ成形することによって同
図(b)のように基体4を屈曲させて、導体回路パター
ン9を立体形状に形成するようにしたものである。また
図26のものは同図(a)のように予め屈曲成形してお
いた基体4の表面に導体回路パターン9を設けたフィル
ム23を貼り付けることによって、同図(b)のように
導体回路パターン9を立体形状に形成するようにしたも
のである。さらに図27のものは同図(a)のように金
型24のキャビティ25内に予め導体回路パターン9を
形成しておき、金型24のキャビティ25内に樹脂を射
出成形して基体4を成形すると共に基体4の表面に同図
(b)のように導体回路パターン9を転写することによ
って、基体4に導体回路パターン9を立体形状に形成す
るようにしたものである。
On the other hand, the conductor circuit pattern 9 is formed on the surface of the substrate 4.
To form a printed wiring board, etc.
A conductor circuit pattern 9 is formed as a three-dimensional circuit board provided in a three-dimensional shape. 25 to 27
Shows a conventional method for manufacturing a three-dimensional circuit board,
In FIG. 25, the conductor circuit pattern 9 is formed on the surface formed as the flat surface of the flat substrate 4 as shown in FIG. Thus, the base 4 is bent to form the conductor circuit pattern 9 in a three-dimensional shape. In addition, as shown in FIG. 26 (a), the conductor 23 shown in FIG. 26 (a) is formed by attaching a film 23 having a conductor circuit pattern 9 on the surface of a base body 4 which has been bent and formed in advance. The circuit pattern 9 is formed into a three-dimensional shape. 27, the conductor circuit pattern 9 is previously formed in the cavity 25 of the mold 24 as shown in FIG. 27A, and the resin is injection-molded in the cavity 25 of the mold 24 to form the base 4. The conductor circuit pattern 9 is formed in a three-dimensional shape on the base body 4 by molding and transferring the conductor circuit pattern 9 onto the surface of the base body 4 as shown in FIG.

【0006】しかし、図25のものでは、基体4を変形
させるための負荷が加わるために、導体回路パターン9
が基体4の表面から剥離するおそれがあり、また導体回
路パターン9の位置や基体4の形状を精度良く複雑に形
成することが難しいという問題もあった。また図26の
ものでは、導体回路パターン9を設けたフィルム21を
基体4の表面に精度良く貼り付けるのが難しく、また複
雑な形状の基体4に対応するのは難しいという問題があ
った。さらに図27のものでは、金型24の形状が複雑
になると共に、このものでも形状が複雑な基体4に対応
することができないという問題があった。そしてこれら
図25乃至図27のものではいずれも、基体4の表面に
直接立体的に導体回路パターン9を形成するものではな
いために、製造工程が複雑になるという問題もあった。
However, in the structure shown in FIG. 25, a load for deforming the substrate 4 is applied, so that the conductor circuit pattern 9 is formed.
May peel off from the surface of the substrate 4, and it is difficult to form the position of the conductor circuit pattern 9 and the shape of the substrate 4 in a complicated manner with high accuracy. Further, in the case of FIG. 26, there is a problem that it is difficult to accurately adhere the film 21 provided with the conductor circuit pattern 9 to the surface of the base body 4, and it is difficult to deal with the base body 4 having a complicated shape. Further, in the case of FIG. 27, there is a problem that the shape of the mold 24 becomes complicated, and even this one cannot cope with the base body 4 having a complicated shape. 25 to 27, there is also a problem that the manufacturing process becomes complicated because the conductor circuit pattern 9 is not formed three-dimensionally directly on the surface of the base body 4.

【0007】このために、基体4の立体表面8に導体回
路パターン9を直接設ける方法が特開平2−26529
3号公報において提供されている。すなわち、基体4の
立体表面に金属層を設けると共に金属層の上に感光性レ
ジスト層を形成し、図28のように基体4をNC加工台
27の上にセットし、レーザ発振器5からのレーザ光L
をレーザ照射ヘッド28で集束して基体4に照射すると
共にNC制御器29によってNC加工台27を駆動して
レーザ光Lの集束ビームを基体4の立体表面8に沿って
走査させることによって、走査したパターン形状で感光
性レジスト層を露光するようにしてある。図28におい
て30は制御用コンピュータ、31はセンサコントロー
ラ、32は非接触距離センサーである。そしてこのよう
に基体4の立体表面8の感光性レジスト層にレーザ光L
を照射してパターン形状に露光した後、現像し、次に感
光性レジスト層の現像で露出する金属層をエッチング除
去することによって、基体4の立体表面8に導体回路パ
ターン9を形成するようにしてある。
For this reason, a method of directly providing the conductor circuit pattern 9 on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is disclosed in JP-A-2-26529.
No. 3 publication. That is, a metal layer is provided on the three-dimensional surface of the substrate 4, a photosensitive resist layer is formed on the metal layer, and the substrate 4 is set on the NC processing table 27 as shown in FIG. Light L
Is focused by the laser irradiation head 28 to irradiate the substrate 4, and the NC processing table 27 is driven by the NC controller 29 to scan the focused beam of the laser light L along the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 for scanning. The photosensitive resist layer is exposed with the above pattern shape. In FIG. 28, 30 is a control computer, 31 is a sensor controller, and 32 is a non-contact distance sensor. Then, in this way, the laser light L is applied to the photosensitive resist layer on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4.
To expose a pattern shape, and then develop, and then etch away the metal layer exposed by the development of the photosensitive resist layer to form the conductor circuit pattern 9 on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4. There is.

【0008】このように特開平2−265293号公報
のものではレーザ光Lを基体4の立体表面8に照射する
ことによって導体回路パターン9を形成するようにして
いるが、このものではNC加工台27を動かすことによ
ってレーザ光Lによる照射を走査させるようにしている
ために露光スピードに限界があり、また上記図22のも
のの場合と同様に立体表面8の形状によってはレーザ光
Lを照射できないことがあり、基体4の立体表面8の形
状によっては導体回路パターン9を形成することができ
ないという問題があった。
As described above, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-265293, the conductor circuit pattern 9 is formed by irradiating the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 with the laser beam L. Since the irradiation of the laser light L is scanned by moving 27, the exposure speed is limited, and the laser light L cannot be irradiated depending on the shape of the three-dimensional surface 8 as in the case of FIG. However, there is a problem that the conductor circuit pattern 9 cannot be formed depending on the shape of the three-dimensional surface 8 of the substrate 4.

【0009】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、基体の立体表面に三次元的にレーザ光を照射する
ことができるようにし、また基体の立体表面の形状によ
って制限を受けることなく導体回路パターンを形成する
ことができるようにすることを目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above points, and makes it possible to three-dimensionally irradiate a three-dimensional surface of a substrate with laser light, and is limited by the shape of the three-dimensional surface of the substrate. It is an object of the present invention to enable a conductor circuit pattern to be formed without using it.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明に係るレーザ照射
方法は、レーザ光LをX軸方向及びY軸方向にX・Yミ
ラー1,2で反射させると共にこの反射されたレーザ光
LをさらにZ軸方向にZミラー3で反射させて基体4の
表面にレーザ光Lを照射することを特徴とするものであ
る。
In the laser irradiation method according to the present invention, the laser light L is reflected by the XY mirrors 1 and 2 in the X-axis direction and the Y-axis direction, and the reflected laser light L is further reflected. It is characterized in that the surface of the substrate 4 is irradiated with the laser light L after being reflected by the Z mirror 3 in the Z-axis direction.

【0011】本発明にあって、レーザ光Lの光路に応じ
てレーザ光Lの照射パワー、照射スポット径、基体4の
表面でのレーザ光Lの走査速度の少なくとも一つを変え
て基体4の表面にレーザ光Lを照射することができる。
また本発明にあって、基体4の表面へのレーザ光Lの入
射角度に応じてレーザ光Lの照射パワー、照射スポット
径、基体4の表面でのレーザ光Lの走査速度の少なくと
も一つを変えて基体4の表面にレーザ光Lを照射するこ
ともできる。
According to the present invention, at least one of the irradiation power of the laser beam L, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser beam L on the surface of the substrate 4 is changed according to the optical path of the laser beam L. The surface can be irradiated with the laser light L.
Further, in the present invention, at least one of the irradiation power of the laser light L, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser light L on the surface of the substrate 4 is set according to the incident angle of the laser light L on the surface of the substrate 4. Alternatively, the surface of the substrate 4 may be irradiated with the laser light L.

【0012】本発明にあって、基体4の表面の所定の照
射箇所に入射するレーザ光Lの光路が複数路あるときは
最短距離の光路を選択して基体4の表面にレーザ光Lを
照射することができる。また本発明にあって、基体4の
表面の所定の照射箇所に入射するレーザ光Lの光路が複
数路あるときは基体4の表面の入射角度が法線方向に最
も近い光路を選択して基体4の表面にレーザ光Lを照射
することもできる。
In the present invention, when there are a plurality of optical paths of the laser light L incident on a predetermined irradiation position on the surface of the substrate 4, the shortest optical path is selected and the surface of the substrate 4 is irradiated with the laser light L. can do. Further, in the present invention, when there are a plurality of optical paths of the laser light L incident on a predetermined irradiation position on the surface of the substrate 4, the optical path whose incident angle on the surface of the substrate 4 is closest to the normal direction is selected. It is also possible to irradiate the surface of 4 with the laser beam L.

【0013】本発明では、X・Yミラー1,2の反射の
みで基体4の表面にレーザ光Lを照射できるときはZミ
ラー3を使用しないように選択可能にしてもよい。この
場合において、レーザ光Lの光路に応じてレーザ光Lの
照射パワー、照射スポット径、基体4の表面でのレーザ
光Lの走査速度の少なくとも一つを変えて基体4の表面
にレーザ光Lを照射するようにしてもよい。
In the present invention, when the surface of the substrate 4 can be irradiated with the laser light L only by the reflection of the XY mirrors 1 and 2, the Z mirror 3 may be selected not to be used. In this case, at least one of the irradiation power of the laser light L, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser light L on the surface of the base 4 is changed according to the optical path of the laser light L, and the laser light L is applied to the surface of the base 4. May be irradiated.

【0014】またこの場合において、基体4の表面への
レーザ光Lの入射角度に応じてレーザ光Lの照射パワ
ー、照射スポット径、基体4の表面でのレーザ光Lの走
査速度の少なくとも一つを変えて基体4の表面にレーザ
光Lを照射するようにしてもよい。本発明に係るレーザ
照射装置は、レーザ光Lを発振するレーザ発振器5と、
レーザ発振器5から発振されたレーザ光LをX軸方向及
びY軸方向に反射させるX・Yミラー1,2と、X・Y
ミラー1,2で反射されたレーザ光Lを基体3に向けて
反射させるZミラー3とを具備して成ることを特徴とす
るものである。
Further, in this case, at least one of the irradiation power of the laser light L, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser light L on the surface of the base body 4 according to the incident angle of the laser light L on the surface of the base body 4. Alternatively, the surface of the substrate 4 may be irradiated with the laser light L. A laser irradiation apparatus according to the present invention includes a laser oscillator 5 that oscillates a laser beam L,
XY mirrors 1 and 2 for reflecting the laser light L oscillated from the laser oscillator 5 in the X-axis direction and the Y-axis direction;
A Z mirror 3 for reflecting the laser light L reflected by the mirrors 1 and 2 toward the substrate 3 is provided.

【0015】本発明にあって、レーザ光Lの照射パワー
を変えるパワー可変機構6をレーザ光Lの光路に設ける
ことができる。また本発明にあって、レーザ光Lのビー
ム径を変えるビーム径可変機構7をレーザ光Lの光路に
設けることもできる。さらに本発明にあって、Zミラー
3を可動に形成することができる。
In the present invention, the power varying mechanism 6 for changing the irradiation power of the laser light L can be provided in the optical path of the laser light L. Further, in the present invention, the beam diameter changing mechanism 7 for changing the beam diameter of the laser light L can be provided in the optical path of the laser light L. Furthermore, in the present invention, the Z mirror 3 can be formed movably.

【0016】本発明では、Zミラー3を円筒状、円錐
状、球面鏡、非球面鏡のいずれかに形成することができ
る。また本発明では、Zミラー3に入射するレーザ光L
の起点がZミラー3の中心軸と同軸でないようにするの
がよい。さらに本発明では、Zミラー3を平面鏡で形成
することもできる。
In the present invention, the Z mirror 3 can be formed in any of a cylindrical shape, a conical shape, a spherical mirror and an aspherical mirror. Further, in the present invention, the laser light L incident on the Z mirror 3 is
It is preferable that the origin of is not coaxial with the central axis of the Z mirror 3. Further, in the present invention, the Z mirror 3 can be formed by a plane mirror.

【0017】本発明に係る立体回路の製造方法は、上記
のレーザ照射方法を用いて基体4の立体表面8にレーザ
光Lを照射することによって、レーザ光Lによる描画形
状に応じたパターンで基体4の立体表面8に導体回路パ
ターン9を形成することを特徴とするものである。また
本発明に係る立体回路の製造方法は、基体4の立体表面
8に導体膜10を設けると共にこの導体膜10の上に感
光性耐エッチング膜11を設け、上記のレーザ照射方法
を用いて感光性耐エッチング膜11にレーザ光Lを照射
して露光した後に現像し、感光性耐エッチング膜11の
現像で露出される導体膜10をエッチングすることによ
って導体回路パターン9を形成することを特徴とするも
のである。
In the method for manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention, the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is irradiated with the laser light L using the laser irradiation method described above, so that the substrate is formed in a pattern according to the drawing shape of the laser light L. The conductor circuit pattern 9 is formed on the three-dimensional surface 8 of FIG. Further, in the method for manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention, the conductor film 10 is provided on the three-dimensional surface 8 of the base body 4, the photosensitive etching resistant film 11 is provided on the conductor film 10, and the above-mentioned laser irradiation method is used to expose the conductor film 10. The conductive circuit pattern 9 is formed by irradiating the photosensitive etching resistant film 11 with a laser beam L, exposing the same, and developing the conductive film 10 exposed by the development of the photosensitive etching resistant film 11. To do.

【0018】また本発明に係る立体回路の製造方法は、
基体4の立体表面8に下地導体膜12を設けると共にこ
の下地導体膜12の上に感光性絶縁膜13を設け、上記
のレーザ照射方法を用いて感光性絶縁膜13にレーザ光
Lを照射して露光した後に現像し、感光性絶縁膜13の
現像で露出される下地導体膜12の上に導体金属14を
厚付けし、次に感光性絶縁膜13を除去した後に、導体
金属14で覆われない下地導体膜12をエッチング除去
することによって導体回路パターン9を形成することを
特徴とするものである。
The method for manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention is
A base conductor film 12 is provided on the three-dimensional surface 8 of the base body 4, a photosensitive insulating film 13 is provided on the base conductor film 12, and the photosensitive insulating film 13 is irradiated with the laser beam L using the above laser irradiation method. And exposing and then developing, thickening the conductor metal 14 on the underlying conductor film 12 exposed by the development of the photosensitive insulating film 13, then removing the photosensitive insulating film 13, and then covering with the conductor metal 14. The conductor circuit pattern 9 is formed by etching away the uncovered underlying conductor film 12.

【0019】また本発明に係る立体回路の製造方法は、
基体4の立体表面8に感光性耐メッキ膜19を設け、上
記のレーザ照射方法を用いて感光性耐メッキ膜19にレ
ーザ光Lを照射して露光した後に現像し、感光性耐メッ
キ膜19の現像で露出される基体4の立体表面8にメッ
キして導体金属14を付着させることによって導体回路
パターン9を形成することを特徴とするものである。
The method for manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention is
A photosensitive anti-plating film 19 is provided on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4, and the photosensitive anti-plating film 19 is irradiated with the laser beam L by the laser irradiation method described above to be exposed and then developed to obtain the photosensitive anti-plating film 19. The conductor circuit pattern 9 is formed by plating the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 exposed by the development and depositing the conductor metal 14.

【0020】また本発明に係る立体回路の製造方法は、
基体4の立体表面8に光反応性材料15を塗布し、請求
項1乃至8のいずれかに記載のレーザ照射方法を用いて
光反応性材料15にレーザ光Lを照射して、レーザ光L
で露光された部分の光反応性材料15を反応させると共
に未露光部分の光反応性材料15を除去することを特徴
とするものである。
The method for manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention is
The photoreactive material 15 is applied to the three-dimensional surface 8 of the substrate 4, and the photoreactive material 15 is irradiated with the laser light L by using the laser irradiation method according to claim 1, and the laser light L
It is characterized in that the photoreactive material 15 in the exposed portion is reacted and the photoreactive material 15 in the unexposed portion is removed.

【0021】また本発明に係る立体回路の製造方法は、
反応ガス雰囲気中で基体4の立体表面8に上記のレーザ
照射方法を用いてレーザ光Lを照射することによって、
光CVD法で基体4の立体表面8に蒸着膜16を生成さ
せて導体回路パターン9を形成することを特徴とするも
のである。さらに本発明に係る立体回路の製造方法は、
基体4の立体表面8に導体層17を設け、上記のレーザ
照射方法を用いて導体層17にレーザ光Lを照射して、
レーザ光Lで露光された部分の導体層17を除去するか
もしくはレーザ光Lで露光された部分の導体層17を残
して他の部分を除去することによって、導体層17で導
体回路パターン9を形成することを特徴とするものであ
る。
The method for manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention is
By irradiating the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 with the laser light L in the reaction gas atmosphere by using the above laser irradiation method,
The vapor deposition film 16 is formed on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 by the photo-CVD method to form the conductor circuit pattern 9. Furthermore, the method for manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention,
The conductor layer 17 is provided on the three-dimensional surface 8 of the base 4, and the conductor layer 17 is irradiated with the laser beam L using the above laser irradiation method,
The conductor circuit pattern 9 is formed on the conductor layer 17 by removing the conductor layer 17 in the portion exposed by the laser light L or removing the other portion while leaving the conductor layer 17 in the portion exposed by the laser light L. It is characterized by forming.

【0022】また本発明に係る表面処理方法は、基体4
の立体表面8に、上記のレーザ照射方法を用いてレーザ
光Lを照射することを特徴とするものである。さらに本
発明に係る粉末付着方法は、基体4の立体表面8に粉末
18を供給すると共に、基体4の立体表面8に上記のレ
ーザ照射方法を用いてレーザ光Lを照射することによっ
て、レーザ光Lの照射箇所において基体4の立体表面8
に粉末18を付着させることを特徴とするものである。
The surface treatment method according to the present invention also includes a substrate 4
The three-dimensional surface 8 is irradiated with the laser light L by using the above laser irradiation method. Further, in the powder depositing method according to the present invention, the powder 18 is supplied to the three-dimensional surface 8 of the base body 4, and the three-dimensional surface 8 of the base body 4 is irradiated with the laser light L by using the above laser irradiation method. The three-dimensional surface 8 of the substrate 4 at the L irradiation position
The powder 18 is attached to the.

【0023】[0023]

【作用】レーザ光LをX軸方向及びY軸方向にX・Yミ
ラー1,2で反射させると共にこの反射されたレーザ光
LをさらにZ軸方向にZミラー3で反射させて基体4の
立体表面8にレーザ光Lを照射することによって、X・
Yミラー1,2で基体4のX軸方向及びY軸方向にレー
ザ光Lを走査させることができると共にZミラー3でレ
ーザ光LをZ軸方向に反射させて基体4のZ軸方向にレ
ーザ光Lを走査させることができ、基体4の立体表面8
に三次元的にレーザ光Lを照射することができる。また
このように基体4の立体表面8に三次元的にレーザ光L
を照射することができるために、基体4の立体表面8の
形状によって制限を受けることなく導体回路パターン9
を形成することができる。
The laser beam L is reflected by the X / Y mirrors 1 and 2 in the X-axis direction and the Y-axis direction, and the reflected laser beam L is further reflected by the Z mirror 3 in the Z-axis direction to form a solid body of the substrate 4. By irradiating the surface 8 with the laser beam L, X.
The Y mirrors 1 and 2 can scan the laser light L in the X-axis direction and the Y-axis direction of the base body 4, and the Z mirror 3 reflects the laser light L in the Z-axis direction to laser the laser light in the Z-axis direction of the base body 4. The light L can be scanned, and the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 can be scanned.
It is possible to irradiate the laser light L three-dimensionally. Further, in this way, the laser light L is three-dimensionally applied to the three-dimensional surface 8 of the substrate 4.
Therefore, the conductor circuit pattern 9 is not limited by the shape of the three-dimensional surface 8 of the substrate 4.
Can be formed.

【0024】[0024]

【実施例】以下本発明を実施例によって詳述する。図1
は本発明の一実施例を原理的に示すものであり、基体4
の立体表面8の上方にXミラー1とYミラー2が配設し
てある。このX・Yミラー1,2は図22の場合と同様
にXガルバノメータ21やYガルバノメータ22に取り
付けてある。またZミラー3はX・Yミラー1,2と基
体4との間において基体4の側方に配設してある。また
図2に示すように制御機器34によってレーザ発振器5
を制御してレーザ光Lの発振を制御すると共に制御機器
34によってXガルバノメータ21やYガルバノメータ
22を制御してX・Yミラー1,2を回動制御するよう
にしてある。
EXAMPLES The present invention will be described in detail below with reference to examples. Figure 1
In principle, one embodiment of the present invention is shown.
An X mirror 1 and a Y mirror 2 are disposed above the three-dimensional surface 8 of. The X and Y mirrors 1 and 2 are attached to the X galvanometer 21 and the Y galvanometer 22 as in the case of FIG. The Z mirror 3 is arranged laterally of the base body 4 between the X and Y mirrors 1 and 2 and the base body 4. In addition, as shown in FIG.
Is controlled to control the oscillation of the laser light L, and the control device 34 controls the X galvanometer 21 and the Y galvanometer 22 to control the rotation of the X / Y mirrors 1 and 2.

【0025】しかして、レーザ発振器5から発振される
レーザ光LはXミラー1で反射されると共にさらにYミ
ラー2で反射され、基体1の立体表面に照射されるよう
になっており、Xミラー1を回動制御してレーザ光Lの
反射角度をX軸に沿って変位させると共にYミラー2を
回動制御してレーザ光Lの反射角度をY軸に沿って変位
させることによって、基体4の立体表面8に沿ってレー
ザ光Lを走査させて、レーザ光Lによって任意のパター
ンを描画することができる。X・Yミラー1,2でレー
ザ光Lを反射させると二次元描写になり、立体表面8の
突部8aの表面や凹部8bの表面、斜面8cには図1の
1 〜L5 に示すように入射させることができるが、垂
直面8dなど立体表面8にレーザ光Lを入射させること
ができない面には、X・Yミラー1,2で反射させたレ
ーザ光LをさらにZミラー3でZ軸方向に変位させるよ
うに反射させることによって、図1のL6 〜L10に示す
ように垂直面8d等にもレーザ光Lを照射することがで
きる。
The laser light L oscillated from the laser oscillator 5 is reflected by the X mirror 1 and further by the Y mirror 2 so as to be applied to the three-dimensional surface of the base 1. By rotating 1 to displace the reflection angle of the laser light L along the X-axis and by rotating the Y mirror 2 to displace the reflection angle of the laser light L along the Y-axis, the base 4 By scanning the laser light L along the three-dimensional surface 8 of, the laser light L can draw an arbitrary pattern. When reflecting the laser beam L in X · Y mirror 1 becomes a two-dimensional representation, the surface of the surface and the recess 8b of the projection 8a of the three-dimensional surface 8, the inclined surface 8c shown in L 1 ~L 5 in FIG. 1 However, the laser light L reflected by the XY mirrors 1 and 2 is further reflected by the Z mirror 3 on a surface such as the vertical surface 8d on which the laser light L cannot be incident on the three-dimensional surface 8. by reflecting to displace in the Z-axis direction can also be irradiated with the laser beam L on the vertical surface 8d and the like as shown in L 6 ~L 10 of FIG.

【0026】このように、X・Yミラー1,2でレーザ
光LをX軸・Y軸方向に反射させると共にさらにZミラ
ー3でZ軸方向に反射させることによって、レーザ光L
を三次元的に走査させて基体4の立体表面8にレーザ光
Lを三次元描画させることができるものである。ここ
で、上記X,Y,Z軸は、水平面の直交する二つの軸が
X軸及びY軸、水平面と鉛直な軸がZ軸として各90°
で直交するものとして定義することができるが、厳密に
このような軸である必要は必ずしもなく、三次元的に三
つの方向を示す軸であればよい。
As described above, the laser light L is reflected by the X / Y mirrors 1 and 2 in the X-axis / Y-axis direction and further reflected in the Z-axis direction by the Z-mirror 3 to obtain the laser light L.
The laser beam L can be three-dimensionally drawn on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 by three-dimensionally scanning. Here, regarding the X, Y, and Z axes, two axes perpendicular to the horizontal plane are the X axis and the Y axis, and an axis perpendicular to the horizontal plane is the Z axis, and each is 90 °.
Can be defined as being orthogonal to each other, but it is not always strictly necessary that such an axis be used, and an axis that shows three directions in three dimensions can be used.

【0027】上記のように基体4の表面が三次元的な立
体表面8である場合には、立体表面8の突部8aの表面
と凹部8bの表面とはX・Yミラー1,2やZミラー3
からの距離が異なるために、レーザ光Lの光路長が変化
することになる。そしてこのようにレーザ光Lの光路長
が変化すると、光路長の変化に応じて立体表面8へのレ
ーザ光Lの照射のスポット径が変化し、また立体表面8
でのレーザ光Lの走査速度(描画速度)も変化し、さら
に立体表面8へのレーザ光Lの照射パワーも変化するこ
とになり、この結果、例えばレーザ光Lで露光をおこな
うときには露光のエネルギーが変化して一定の条件で露
光をおこなうことができなくなり、露光線幅が不安定に
なる。つまり、露光のエネルギー密度をE、照射パワー
をP、スポット径をA、走査速度をSとすると、E=P
/(A・S)となり、照射パワーP、スポット径A、走
査速度Sの一つでも変化するとエネルギー密度Eは変化
する。このことは逆にいえば、レーザ光Lの光路長の変
化に伴ってエネルギー密度Eが変化しようとするきに、
照射パワーP、スポット径A、走査速度Sのうち少なく
とも一つを変化させるように調整すれば、エネルギー密
度Eは常に一定にすることができるということを意味す
る。
When the surface of the substrate 4 is the three-dimensional solid surface 8 as described above, the surfaces of the projections 8a and the recesses 8b of the solid surface 8 are the X / Y mirrors 1, 2 and Z. Mirror 3
Since the distance from is different, the optical path length of the laser light L changes. When the optical path length of the laser light L changes in this way, the spot diameter of the laser light L irradiated to the three-dimensional surface 8 changes according to the change of the optical path length, and the three-dimensional surface 8
The scanning speed (drawing speed) of the laser light L in FIG. 2 also changes, and the irradiation power of the laser light L on the three-dimensional surface 8 also changes. As a result, for example, when the laser light L is used for exposure, the exposure energy is changed. Change and the exposure cannot be performed under certain conditions, and the exposure line width becomes unstable. That is, if the energy density of exposure is E, the irradiation power is P, the spot diameter is A, and the scanning speed is S, then E = P
/ (A · S), and if any one of the irradiation power P, the spot diameter A, and the scanning speed S changes, the energy density E changes. Conversely, in other words, when the energy density E tends to change as the optical path length of the laser light L changes,
This means that the energy density E can be kept constant by adjusting at least one of the irradiation power P, the spot diameter A, and the scanning speed S.

【0028】そこで本発明では、レーザ光Lの光路に応
じてレーザ光Lの照射パワーP、照射スポット径A、基
体4の表面でのレーザ光Lの走査速度Sの少なくとも一
つを変えて基体4の表面にレーザ光Lを照射することに
よって、基体4の立体表面8に常に一定のエネルギー条
件でレーザ光Lを照射できるようにしてある。図3はレ
ーザ光Lの光路長に応じてレーザ光Lの照射パワーPを
変えることができるようにした実施例を示すものであ
り、レーザ発振器5から発振されるレーザ光Lの光路中
にパワー可変機構6を設けるようにしてある。パワー可
変機構6は例えば図4に示すように、フィルター取付け
板35に円周方向に沿って複数箇所で通孔36を設ける
と共に、各通孔36にNDフィルターなど光透過率が異
なる複数種のフィルター37a,37b,37cを取り
付けて形成してあり、通孔36のうち一つはフィルター
を取り付けずに透過孔36aとしてある。このフィルタ
ー取付け板35はその中心軸35aを回動中心として制
御機構34によって回動制御されているものであり、レ
ーザ発振器5と基体4の立体表面8との間のレーザ光L
の光路長に応じて回動されるようになっている。例え
ば、レーザ発振器5と基体4の立体表面8との間におけ
るレーザ光Lの光路長が長いときには透過孔36aに通
してパワーを減衰させないで、逆にレーザ光Lの光路長
が短くなるにつれて光透過率が大きいフィルター37
a,37b,37cにレーザ光Lを通してパワーを減衰
させるようにすれば、常に一定の照射パワーで立体表面
8にレーザ光Lを照射することができるものであり、そ
してこのようにレーザ光Lの光透過率を調整することに
よって基体4の立体表面8への照射パワーを自由に変え
ることができるものである。図4の実施例では4段階で
照射パワーを変化させて調整することができるが、フィ
ルターの個数を増やすことによってさらに多段階で自由
に照射パワーを調整することが可能になるものである。
Therefore, in the present invention, at least one of the irradiation power P of the laser light L, the irradiation spot diameter A, and the scanning speed S of the laser light L on the surface of the base 4 is changed according to the optical path of the laser light L. By irradiating the surface 4 of the laser beam L with the laser beam L, the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 can be always irradiated with the laser beam L under a constant energy condition. FIG. 3 shows an embodiment in which the irradiation power P of the laser light L can be changed according to the optical path length of the laser light L. The power of the laser light L oscillated from the laser oscillator 5 is changed in the optical path. A variable mechanism 6 is provided. For example, as shown in FIG. 4, the power varying mechanism 6 has through holes 36 provided at a plurality of locations along the circumferential direction in the filter mounting plate 35, and each through hole 36 is provided with a plurality of types such as ND filters having different light transmittances. The filter 37a, 37b, 37c is attached and formed, and one of the through holes 36 is a through hole 36a without the filter attached. The filter mounting plate 35 is rotationally controlled by the control mechanism 34 with the central axis 35a as a rotational center, and the laser light L between the laser oscillator 5 and the three-dimensional surface 8 of the base 4 is L.
It is adapted to be rotated according to the optical path length of. For example, when the optical path length of the laser light L between the laser oscillator 5 and the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is long, the power is not attenuated by passing through the transmission hole 36a, and conversely the optical path length of the laser light L becomes shorter. Filter 37 with high transmittance
If the power is attenuated by passing the laser light L through a, 37b, and 37c, the laser light L can be always applied to the three-dimensional surface 8 with a constant irradiation power. The irradiation power on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 can be freely changed by adjusting the light transmittance. In the embodiment of FIG. 4, the irradiation power can be adjusted by changing it in four steps, but it is possible to freely adjust the irradiation power in more steps by increasing the number of filters.

【0029】図5はレーザ光Lの光路長に応じてレーザ
光Lの照射スポット径(ビーム径)Aを変えることがで
きるようにした実施例を示すものであり、レーザ発振器
5から発振されるレーザ光Lの光路中にビーム径可変機
構7を設けるようにしてある。ビーム径可変機構7は例
えば図6(a)に示すように集光レンズ7aによって形
成してあり、集光レンズ7aはレーザ光Lの光路に沿っ
て前後移動駆動されるようにしてあり、この集光レンズ
7aの駆動は制御機器5で制御するようにしてある。そ
して例えば、レーザ発振器5と基体4の立体表面8との
間におけるレーザ光Lの光路長が短いときは、図6
(a)の破線位置から実線位置へとレーザ発振器5に近
づく方向に集光レンズ7aを移動させ、図6(b)の破
線から実線へとレーザ光Lの集束距離を短くして、基体
4の立体表面8でレーザ光Lを集束させることができ、
またレーザ光Lの光路長が長いときは、レーザ発振器5
から遠くなる方向に集光レンズ7aを移動させてレーザ
光Lの集束距離を短くすることによって、基体4の立体
表面8でレーザ光Lを集束させることができるものであ
り、集光レンズ7aをレーザ光Lの光路長に応じて光路
に沿って移動させることによって、常に一定のビーム径
で立体表面8にレーザ光Lを照射することができるもの
である。そしてこのように集光レンズ7aを移動させる
ことによって基体4の立体表面8へのレーザ光Lの照射
スポット径を自由に変えることができるものである。図
6(a)は一個の集光レンズ7aを用いたが、複数の集
光レンズを組み合わせによって、一層自由に照射スポッ
ト径を自由に変えることができるものである。
FIG. 5 shows an embodiment in which the irradiation spot diameter (beam diameter) A of the laser light L can be changed according to the optical path length of the laser light L, and the laser oscillator 5 oscillates. A beam diameter changing mechanism 7 is provided in the optical path of the laser light L. The beam diameter changing mechanism 7 is formed by a condenser lens 7a, for example, as shown in FIG. 6A, and the condenser lens 7a is driven to move back and forth along the optical path of the laser light L. The drive of the condenser lens 7a is controlled by the control device 5. Then, for example, when the optical path length of the laser light L between the laser oscillator 5 and the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is short, as shown in FIG.
The condensing lens 7a is moved in the direction approaching the laser oscillator 5 from the broken line position in FIG. 6A to the solid line position, and the focusing distance of the laser light L is shortened from the broken line in FIG. The laser light L can be focused on the three-dimensional surface 8 of
When the optical path length of the laser light L is long, the laser oscillator 5
The laser beam L can be focused on the three-dimensional surface 8 of the base body 4 by moving the focusing lens 7a in a direction away from the focusing lens 7a to shorten the focusing distance of the laser beam L. By moving along the optical path according to the optical path length of the laser light L, it is possible to irradiate the three-dimensional surface 8 with the laser light L with a constant beam diameter. By moving the condenser lens 7a in this way, the irradiation spot diameter of the laser light L on the three-dimensional surface 8 of the base 4 can be freely changed. Although one condenser lens 7a is used in FIG. 6A, the irradiation spot diameter can be changed more freely by combining a plurality of condenser lenses.

【0030】また、レーザ光Lの光路に応じてレーザ光
Lの走査速度(描画速度)Sを変えるにあたっては、X
・Yミラー1,2の回動速度を調整することによってお
こなうことができる。また図7の実施例では、Zミラー
3を縦方向に回動駆動できるようにしてあり、Zミラー
3を回動させることによって基体4の立体表面8に沿っ
てレーザ光Lを走査させるようにすると共にZミラー3
の回動速度を調整することによって、基体4の立体表面
8でのレーザ光Lの走査速度Sを変えることができるよ
うにしてある。そして、例えば基体4の立体表面8をレ
ーザ光Lで露光する場合、露光線幅はX・Yミラー1,
2の回動で調整することが可能であるが、Zミラー3を
振動させるように上下方向に回動駆動できるようにし
て、回動の振動周波を調整することによっても、露光線
幅を変えるようにすることもできる。X・Yミラー1,
2やZミラー3の回動速度は制御機器34によって制御
するようにしてある。
When changing the scanning speed (drawing speed) S of the laser light L according to the optical path of the laser light L, X
It can be performed by adjusting the rotation speed of the Y mirrors 1 and 2. Further, in the embodiment of FIG. 7, the Z mirror 3 can be driven to rotate in the vertical direction, and by rotating the Z mirror 3, the laser beam L is scanned along the three-dimensional surface 8 of the base 4. And Z mirror 3
The scanning speed S of the laser beam L on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 can be changed by adjusting the rotation speed of the. Then, for example, when the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is exposed with the laser light L, the exposure line width is the X / Y mirror 1,
The exposure line width can be changed by adjusting the rotation frequency of the rotation so that the Z mirror 3 can be driven to rotate in the vertical direction so as to vibrate. You can also do so. XY mirror 1,
The rotation speed of the 2 and the Z mirror 3 is controlled by the control device 34.

【0031】上記各実施例ではレーザ光Lの光路に応じ
てレーザ光Lの照射パワーP、照射スポット径A、基体
4の表面でのレーザ光Lの走査速度Sの少なくとも一つ
を変えるようにしたが、基体4の立体表面8への入射角
度が変化する場合においてもレーザ光Lの照射エネルギ
ーが変化する。従って本発明では基体4の立体表面8へ
のレーザ光Lの入射角度に応じてレーザ光Lの照射パワ
ーP、照射スポット径A、基体4の表面でのレーザ光L
の走査速度Sの少なくとも一つを変えて基体4の表面に
レーザ光Lを照射することによって、基体4の立体表面
8に常に一定のエネルギー条件でレーザ光Lを照射でき
るようにしてある。
In each of the above embodiments, at least one of the irradiation power P of the laser light L, the irradiation spot diameter A, and the scanning speed S of the laser light L on the surface of the substrate 4 is changed according to the optical path of the laser light L. However, the irradiation energy of the laser beam L changes even when the incident angle of the base 4 on the three-dimensional surface 8 changes. Therefore, according to the present invention, the irradiation power P of the laser light L, the irradiation spot diameter A, and the laser light L on the surface of the base 4 are determined according to the incident angle of the laser light L on the three-dimensional surface 8 of the base 4.
By irradiating the surface of the substrate 4 with the laser light L while changing at least one of the scanning speeds S of 1), the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 can be always irradiated with the laser light L under a constant energy condition.

【0032】ここで、基体4の立体表面8の所定箇所に
レーザ光Lを照射するにあたって、X・Yミラー1,2
で反射したレーザ光Lを基体4の立体表面8に直接入射
させたり、Zミラー3でさらに反射させた後にレーザ光
Lを基体4の立体表面8に入射させたりすることによっ
て、図8に示すように複数の光路でレーザ光Lを基体4
の立体表面8に入射させることが可能な場合がある。こ
のときには複数の光路のうち最短距離の光路を選択して
レーザ光Lを照射するようにするのがよい。最短距離の
光路のレーザ光Lによって照射するのが最も照射条件
(露光条件)の変化が小さく、また制御もし易いので、
最短距離の光路のレーザ光Lを選ぶものである。例えば
図8では光路L1 〜光路L2 (Aの光路)、光路L3
光路L4 (Bの光路)、光路L5 〜光路L6(Cの光路)
の三つの光路で基体4の立体表面8にレーザ光Lを照射
して描画することができるが、Aの光路が最も最短距離
であるために、Aの光路を選択してレーザ光Lを照射す
るようにするのがよい。
Here, when the laser beam L is irradiated onto a predetermined portion of the three-dimensional surface 8 of the base body 4, the XY mirrors 1 and 2 are used.
The laser beam L reflected by the laser beam L is directly incident on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4, or is further reflected by the Z mirror 3 and then the laser beam L is incident on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 as shown in FIG. The laser light L in the plurality of optical paths as shown in FIG.
It may be possible to make the light incident on the three-dimensional surface 8 of. At this time, it is preferable to select the shortest optical path among the plurality of optical paths and irradiate the laser light L. Irradiation with the laser light L of the shortest optical path causes the smallest change in the irradiation condition (exposure condition) and is easy to control.
The laser light L of the shortest optical path is selected. For example, in FIG. 8, optical path L 1 to optical path L 2 (optical path of A), optical path L 3 to
Optical path L 4 (optical path of B), optical path L 5 to optical path L 6 (optical path of C)
It is possible to irradiate and draw the laser light L on the three-dimensional surface 8 of the base body 4 by the three optical paths, but since the optical path of A is the shortest distance, the optical path of A is selected and the laser light L is irradiated. It is better to do so.

【0033】また本発明にあって、基体4の立体表面8
の所定の照射箇所に入射するレーザ光Lの光路が複数路
あるときは基体4の立体表面8の入射角度が立体表面8
の法線方向に最も近い光路を選択して基体4の立体表面
にレーザ光Lを照射するのがよい。法線方向に近い入射
角度のレーザ光Lによって照射するのが最も照射条件
(露光条件)の変化が小さく、また制御もし易いので、
入射角度が法線方向に最も近い光路のレーザ光Lを選ぶ
ものである。例えば図8ではAの光路、Bの光路、Cの
光路の三つの光路のうち、Aの光路が最も立体表面8の
法線方向に近いために、Aの光路を選択してレーザ光L
を照射するようにするのがよい。
Further, according to the present invention, the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is
When there are a plurality of optical paths of the laser light L which is incident on the predetermined irradiation position of, the incident angle of the three-dimensional surface 8 of the base 4 is the three-dimensional surface 8
It is preferable to select the optical path closest to the normal direction to irradiate the laser beam L on the three-dimensional surface of the substrate 4. Irradiation with the laser beam L having an incident angle close to the normal direction causes the smallest change in irradiation condition (exposure condition) and is easy to control.
The laser light L of the optical path whose incident angle is the closest to the normal direction is selected. For example, in FIG. 8, the optical path A is the closest to the normal direction of the three-dimensional surface 8 among the three optical paths A, B, and C, so that the optical path A is selected and the laser light L is selected.
It is better to irradiate.

【0034】図8にみられるように、最短距離の光路や
入射角度が法線方向に最も近い光路は、X・Yミラー
1,2で反射して基体4の立体表面8に直接入射するレ
ーザ光Lであり、Zミラー3でさらに反射されたレーザ
光Lは光路の最短が長くなり、入射角度も法線方向から
離れることになる。従って本発明では、X・Yミラー
1,2で反射させるだけで基体4の立体表面8にレーザ
光Lを照射して三次元描画することができるときには、
レーザ光Lによる描画パターンの精度(露光条件)が許
容できる範囲であれば、Zミラー3を使用しないでレー
ザ光Lの照射をおこなうように、Zミラー3の使用を選
択できるようにしてある。
As shown in FIG. 8, the shortest optical path and the optical path whose incident angle is closest to the normal direction are lasers which are reflected by the XY mirrors 1 and 2 and are directly incident on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4. The laser light L, which is the light L and further reflected by the Z mirror 3, has the shortest optical path, and the incident angle also deviates from the normal direction. Therefore, according to the present invention, when the three-dimensional drawing can be performed by irradiating the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 with the laser light L simply by reflecting the light with the XY mirrors 1 and 2,
The use of the Z mirror 3 can be selected so that the laser light L is irradiated without using the Z mirror 3 as long as the accuracy (exposure condition) of the drawing pattern by the laser light L is within an allowable range.

【0035】図9はZミラー3を示すものであり、図9
(a)のような円筒鏡、図9(b)のような円錐鏡、図
9(c)のような球面鏡、その他非球面鏡など任意の反
射鏡を用いることができる。ここで、Zミラー3を上記
のように形成するにあたって、例えば円筒鏡で形成する
場合、図10(a)のようにZミラー3の中心軸OとZ
ミラー3へ入射するレーザ光Lの起点(すなわちYミラ
ー2による反射点)とが同軸であると、レーザ光LをZ
ミラー3のどの箇所に入射させても同じ中心方向にしか
反射しないが、図10(b)のようにZミラー3の中心
軸Oとレーザ光Lの起点が同軸にならないように若干ず
らせてやることによって、レーザ光LをZミラー3に入
射させる箇所に応じてあらゆる方向に反射させることが
可能になるものである。
FIG. 9 shows the Z mirror 3, which is shown in FIG.
Any reflecting mirror such as a cylindrical mirror as shown in FIG. 9A, a conical mirror as shown in FIG. 9B, a spherical mirror as shown in FIG. 9C, or other aspherical mirror can be used. Here, when forming the Z mirror 3 as described above, for example, when it is formed by a cylindrical mirror, as shown in FIG.
When the origin of the laser light L incident on the mirror 3 (that is, the reflection point by the Y mirror 2) is coaxial, the laser light L is changed to Z.
Although the light is reflected only in the same central direction regardless of where it enters the mirror 3, the central axis O of the Z mirror 3 and the starting point of the laser light L are slightly shifted so as not to be coaxial, as shown in FIG. 10B. As a result, the laser light L can be reflected in all directions depending on the location of incidence on the Z mirror 3.

【0036】またZミラー3としては上記のような曲面
鏡の他に、平面鏡3aを用いることもできる。平面鏡3
aは1枚だけでも可能である場合もあるが、複数枚の平
面鏡3aを組み合わせてZミラー3を形成することもで
きる。図11の実施例では、4枚の平面鏡3aを組み合
わせることによって四角筒状にZミラー3を形成するよ
うにしてある。
As the Z mirror 3, a plane mirror 3a may be used in addition to the curved mirror as described above. Plane mirror 3
Although it may be possible to use only one a, a plurality of plane mirrors 3a may be combined to form the Z mirror 3. In the embodiment shown in FIG. 11, the Z mirror 3 is formed in a rectangular tube shape by combining four plane mirrors 3a.

【0037】ここで、X・Yミラー1,2及びZミラー
3を用いて基体4の立体表面8にレーザ光Lを三次元照
射して露光する操作を図12のフローチャートに基づい
てさらに詳しく説明する。まず図13(a)に示すよう
に基体4の立体表面8の傾斜面8cの傾斜角θ1 を測定
し、基準角θ(例えば45°)と比較してZミラー3を
使用するか否かを決定する。すなわちθ1 ≧θであれば
Zミラー3を使用し、θ1 <θであればZミラー3を使
用しない。次に、Zミラー3を使用する場合には光路が
複数路できるので、光路を決定する必要がある。まず可
能光路をコンピュータで計算して、例えば図8の場合の
ように光路A,B,Cを抽出し、さらに最短光路又は入
射角度が最も法線に近い光路をコンピュータで計算し、
判定することによって例えば図8の場合のように光路A
を決定する。次に露光する線幅を決定する必要がある。
まず光路Aの光路長や入射角度から露光条件を抽出し、
その条件に基づいて露光される線幅をコンピュータで計
算して線幅W1 を抽出し、露光に必要な線幅W0 と線幅
1 を比較してその差を計算し、これに基づいて露光条
件の変更値をコンピュータで計算する。例えば図13
(b)に示すように露光の線幅と照射パワーは一定の関
係を有するので、照射パワーの変更値をコンピュータで
計算することによってW0 =W1 となるようにする。こ
のように照射パワーを決定した後に、X・Yミラー1,
2及びZミラー3に反射させてレーザ光Lを基体4の立
体表面8に照射して露光をおこなうことがきるものであ
る。また、Zミラー3を使用せずX・Yミラー1,2の
みに反射させてレーザ光Lを照射する場合には、光路は
複数路にならないので光路の決定は不要であり、いきな
り露光の線幅を決定するようにすればよい。
Now, the operation of exposing the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 by three-dimensionally irradiating the laser beam L with the X / Y mirrors 1, 2 and the Z mirror 3 will be described in more detail with reference to the flowchart of FIG. To do. First, as shown in FIG. 13A, the inclination angle θ 1 of the inclined surface 8c of the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is measured and compared with the reference angle θ (for example, 45 °) to determine whether or not the Z mirror 3 is used. To decide. That is, if θ 1 ≧ θ, the Z mirror 3 is used, and if θ 1 <θ, the Z mirror 3 is not used. Next, when the Z mirror 3 is used, since there can be a plurality of optical paths, it is necessary to determine the optical path. First, a possible optical path is calculated by a computer, optical paths A, B, and C are extracted as in the case of FIG. 8, and the shortest optical path or the optical path whose incident angle is closest to the normal line is calculated by a computer.
By determining, for example, as in the case of FIG.
To decide. Next, it is necessary to determine the line width to be exposed.
First, the exposure conditions are extracted from the optical path length of the optical path A and the incident angle,
The line width to be exposed is calculated by a computer based on the condition, the line width W 1 is extracted, the line width W 0 necessary for the exposure is compared with the line width W 1 , and the difference is calculated. Then, the computer calculates the change value of the exposure condition. For example, in FIG.
As shown in (b), since the exposure line width and the irradiation power have a constant relationship, the changed value of the irradiation power is calculated by a computer so that W 0 = W 1 . After determining the irradiation power in this way, the XY mirror 1,
The laser beam L is reflected on the second and Z mirrors 3 to irradiate the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 for exposure. Further, when the laser light L is irradiated by reflecting only on the X / Y mirrors 1 and 2 without using the Z mirror 3, it is not necessary to determine the optical paths because the optical paths do not have a plurality of paths. The width should be decided.

【0038】以上のようにして基体4の立体表面8にレ
ーザ光Lを照射して三次元描写するにあたって、このレ
ーザ照射の技術は後述の立体回路の形成の他に、レーザ
加工における切断、穴明け、溶接、表面改質等のあらゆ
る加工に応用することができるものである。次に、上記
のように説明したレーザ照射方法やレーザ照射装置を用
いて、基体4の立体表面8にレーザ光Lを照射すること
によって、レーザ光Lによる描画形状に応じたパターン
で基体4の立体表面8に導体回路パターン9を形成する
方法について説明する。
As described above, when the laser beam L is applied to the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 for three-dimensional drawing, this laser irradiation technique is used in addition to the formation of a three-dimensional circuit described later, cutting in laser processing, and holes. It can be applied to all kinds of processing such as opening, welding and surface modification. Next, by irradiating the three-dimensional surface 8 of the base body 4 with the laser light L using the laser irradiation method and the laser irradiation device described above, the base body 4 is patterned in a pattern according to the drawing shape of the laser light L. A method of forming the conductor circuit pattern 9 on the three-dimensional surface 8 will be described.

【0039】図14はサブトラクティブ法による立体回
路の形成の一実施例を示すものであり、先ず樹脂成形品
等で電気絶縁体として図14(a)のように作成される
基体4の立体表面8を含む全表面に導体膜10を図14
(b)のように形成する。導体膜10は銅を無電解メッ
キや電気メッキなどすることによって例えば厚み10μ
m程度の金属膜として形成することができる。次に図1
4(c)のように導体膜10の全表面に感光性耐エッチ
ング膜11を形成する。感光性耐エッチング膜11とし
てはフォトエッチングレジストを用いることができるも
のであり、ディップ、スプレー、電着等の方法で塗布す
ることによって形成することができる。そして、図14
(d)に示すようにX・Yミラー1,2及びZミラー3
を用いた方法でアルゴンレーザなどのレーザ光Lを基体
4の立体表面8に三次元照射して感光性耐エッチング膜
11をパターン形状に露光し、次に現像をおこなって、
回路形成する箇所を除いて図14(e)のように感光性
耐エッチング膜11を除去する。この後にエッチング処
理をおこなって導体膜10の露出する部分を図14
(f)のように除去し、必要に応じて感光性耐エッチン
グ膜11を除去することによって、図14(g)のよう
に基体4の立体表面8に立体的に導体回路パターン9を
形成することができるものである。
FIG. 14 shows an embodiment of the formation of a three-dimensional circuit by the subtractive method. First, the three-dimensional surface of the base body 4 made of a resin molding or the like as an electric insulator as shown in FIG. 14 (a). The conductor film 10 is formed on the entire surface including 8 in FIG.
It is formed as shown in (b). The conductor film 10 has a thickness of 10 μm, for example, by electroless plating or electroplating of copper.
It can be formed as a metal film of about m. Next in FIG.
4 (c), the photosensitive etching resistant film 11 is formed on the entire surface of the conductor film 10. As the photosensitive etching resistant film 11, a photo etching resist can be used, and it can be formed by applying by a method such as dipping, spraying, electrodeposition or the like. And in FIG.
As shown in (d), the X / Y mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3
By three-dimensionally irradiating the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 with a laser beam L such as an argon laser to expose the photosensitive anti-etching film 11 in a pattern shape, and then developing.
The photosensitive etching resistant film 11 is removed as shown in FIG. 14E except for the portion where the circuit is formed. After that, an etching process is performed to expose the exposed portion of the conductor film 10 in FIG.
By removing as shown in (f) and removing the photosensitive etching resistant film 11 as needed, the conductor circuit pattern 9 is three-dimensionally formed on the three-dimensional surface 8 of the base body 4 as shown in FIG. Is something that can be done.

【0040】尚、感光性耐エッチング膜11としてはフ
ォトエッチングレジストの他に、レーザ光Lの露光によ
り除去可能なエッチング耐性のあるもの種々のものを使
用することができるものであり、例えばPET(ポリエ
チレンテレフタレート)膜などの有機物膜や、チタン膜
などの無機物膜を使用することができるものである。ま
た感光性耐エッチング膜11は図14(g)のように除
去する他に、図14(f)のまま導体回路パターン9の
全部又は一部の表面に保護膜として残しておいてもよ
い。
As the photosensitive etching resistant film 11, various kinds of materials having etching resistance that can be removed by exposure to the laser beam L can be used other than the photo etching resist, for example, PET ( An organic material film such as a polyethylene terephthalate) film or an inorganic material film such as a titanium film can be used. In addition to removing the photosensitive etching resistant film 11 as shown in FIG. 14G, the photosensitive etching resistant film 11 may be left as a protective film on all or part of the surface of the conductor circuit pattern 9 as it is in FIG. 14F.

【0041】図15はセミアディティブ法による立体回
路の形成の一実施例を示すものであり、先ず樹脂成形品
等で図15(a)のように作成される基体4の立体表面
8に下地導体膜12を図15(b)のように設ける。下
地導体膜12は銅を無電解メッキなどすることによって
例えば厚み2〜5μm程度の薄い金属膜として形成する
ことができる。次に図15(c)のように下地導体膜1
2の全表面に感光性絶縁膜13を形成する。感光性絶縁
膜13としてはフォトレジストを用いることができるも
のであり、ディップ、スプレー、電着等の方法で塗布す
ることによって形成することができる。そして、図15
(d)に示すようにX・Yミラー1,2及びZミラー3
を用いた方法でアルゴンレーザなどのレーザ光Lを基体
4の立体表面8に三次元照射して感光性絶縁膜13をパ
ターン形状に露光し、次に現像をおこなって、回路形成
する箇所の感光性絶縁膜13を図15(e)のように除
去し、回路形成箇所の下地導体膜12を露出させる。こ
の後に下地導体膜12に通電して電気銅メッキなどをお
こなうことによって、図15(f)のように下地導体膜
12の露出表面に導体金属14を例えば20μm程度の
厚みで厚付けし、そして図15(g)のように感光性絶
縁膜13を除去した後に、下地導体膜12の厚み分だけ
溶解するライトエッチング処理をおこなって下地導体膜
12を除去することによって、図15(h)のように基
体4の立体表面8に立体的に導体回路パターン9を形成
することができるものである。導体回路パターン9の表
面には必要に応じてNiメッキやAuメッキをおこなう
ことができる。尚、感光性絶縁膜13としてはレーザ光
Lによる露光により除去可能な電気メッキの付着しない
ものであれば有機物膜や無機物膜など種々のものを使用
することができるものである。図16はフルアディティ
ブ法による立体回路の形成の一実施例を示すものであ
り、先ず樹脂成形品等で図16(a)のように作成され
る基体4の立体表面8に無電解メッキ用の触媒を付着さ
せたり、あるいは無電解メッキ用触媒入りの樹脂成形品
で基体4を作成し、次に基体4の立体表面8を含む全表
面に感光性耐メッキ膜19を図16(b)のように形成
する。感光性耐メッキ膜19としては無電解メッキの付
着しないフォトレジストを用いることができるものであ
り、ディップ、スプレー、電着等の方法で塗布すること
によって形成することができる。そして、図16(c)
に示すようにX・Yミラー1,2及びZミラー3を用い
た方法でアルゴンレーザなどのレーザ光Lを基体4の立
体表面8に三次元照射して感光性耐メッキ膜19をパタ
ーン形状に露光し、次に現像をおこなって、回路形成す
る箇所の感光性耐メッキ膜19を図16(d)のように
除去し、回路形成箇所の基体4の立体表面8を露出させ
る。この後に無電解メッキ浴に基体4を浸漬して銅等の
無電解メッキによって立体表面8の露出面に導体金属を
2〜10μm程度の厚みで付着させて図16(e)のよ
うに導体回路パターン9を形成することができる。そし
て感光性耐メッキ膜19を除去することによって、図1
6(f)のように基体4の立体表面8に立体的に導体回
路パターン9を形成した立体回路を得ることができるも
のである。感光性耐メッキ膜19はこのように除去する
ようにしても、あるいは図16(e)のまま残すように
してもよい。また導体回路パターン9にはさらに電気メ
ッキをして厚みを厚くするようにしてもよく、さらに導
体回路パターン9の表面には必要に応じてNiメッキや
Auメッキをおこなうことができる。尚、感光性耐メッ
キ膜19としてはレーザ光Lによる露光により除去可能
なメッキの付着しないものであれば有機物膜や無機物膜
など種々のものを使用することができるものである。
FIG. 15 shows an embodiment of the formation of a three-dimensional circuit by the semi-additive method. First, a base conductor is formed on the three-dimensional surface 8 of the base body 4 made of a resin molded product or the like as shown in FIG. 15 (a). The film 12 is provided as shown in FIG. The base conductor film 12 can be formed as a thin metal film having a thickness of, for example, about 2 to 5 μm by electroless plating of copper. Next, as shown in FIG. 15C, the underlying conductor film 1
A photosensitive insulating film 13 is formed on the entire surface of 2. Photoresist can be used as the photosensitive insulating film 13, and it can be formed by applying by a method such as dipping, spraying, electrodeposition or the like. And in FIG.
As shown in (d), the X / Y mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3
Is used to three-dimensionally irradiate the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 with a laser beam L such as an argon laser to expose the photosensitive insulating film 13 in a pattern shape, and then development is performed to expose a portion where a circuit is formed. The insulating film 13 is removed as shown in FIG. 15 (e) to expose the underlying conductor film 12 at the circuit formation location. After that, the underlying conductor film 12 is energized to perform electrolytic copper plating or the like, so that the conductor metal 14 is thickened to a thickness of, for example, about 20 μm on the exposed surface of the underlying conductor film 12 as shown in FIG. After removing the photosensitive insulating film 13 as shown in FIG. 15G, a light etching process is performed to dissolve the underlying conductor film 12 by the thickness of the underlying conductor film 12 to remove the underlying conductor film 12, thereby removing the underlying conductor film 12 of FIG. Thus, the conductor circuit pattern 9 can be three-dimensionally formed on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4. The surface of the conductor circuit pattern 9 can be plated with Ni or Au as required. As the photosensitive insulating film 13, various materials such as an organic material film and an inorganic material film can be used as long as they do not have electroplating that can be removed by exposure with the laser beam L. FIG. 16 shows an example of formation of a three-dimensional circuit by the full additive method. First, a three-dimensional surface 8 of a substrate 4 made of a resin molded product or the like as shown in FIG. 16A is used for electroless plating. A substrate is made of a resin molding containing a catalyst or a catalyst for electroless plating, and then a photosensitive anti-plating film 19 is formed on the entire surface of the substrate 4 including a three-dimensional surface 8 as shown in FIG. 16 (b). To form. As the photosensitive anti-plating film 19, a photoresist to which electroless plating does not adhere can be used, and can be formed by applying it by a method such as dipping, spraying, electrodeposition or the like. Then, FIG. 16C
As shown in FIG. 3, the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is three-dimensionally irradiated with a laser beam L such as an argon laser by a method using the X / Y mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3 to form the photosensitive plating resistant film 19 into a pattern shape. After exposure, development is performed to remove the photosensitive plating resistant film 19 at the portion where the circuit is formed as shown in FIG. 16D, and the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 where the circuit is formed is exposed. After that, the substrate 4 is immersed in an electroless plating bath, and a conductor metal is attached to the exposed surface of the three-dimensional surface 8 to a thickness of about 2 to 10 μm by electroless plating of copper or the like to form a conductor circuit as shown in FIG. The pattern 9 can be formed. By removing the photosensitive anti-plating film 19, as shown in FIG.
As shown in 6 (f), a three-dimensional circuit in which the conductor circuit pattern 9 is three-dimensionally formed on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 can be obtained. The photosensitive anti-plating film 19 may be removed as described above, or may be left as it is in FIG. Further, the conductor circuit pattern 9 may be further electroplated to be thickened, and the surface of the conductor circuit pattern 9 may be Ni-plated or Au-plated if necessary. As the photosensitive anti-plating film 19, various films such as an organic film and an inorganic film can be used as long as they do not have plating that can be removed by exposure with the laser light L.

【0042】図17は他の立体回路の形成方法を示すも
のであり、先ず樹脂成形品等で図17(a)のように作
成される基体4の立体表面8を含む全表面に光反応性材
料15を塗布してその膜を図17(b)のように設け
る。光反応性材料15としては、酢酸銅、銅アルコキシ
ド、ジメチルアルミニウム等の有機金属を用いることが
できるものであり、これらをそのままあるいは溶剤に溶
解して塗布することによって基体4の表面に有機金属の
光反応性材料15を付着させることができる。そして、
図17(c)に示すようにX・Yミラー1,2及びZミ
ラー3を用いた方法でレーザ光Lを基体4の立体表面8
に三次元照射して回路形成箇所の光反応性材料15をパ
ターン形状に露光し、有機金属で形成される光反応性材
料15の露光部分をレーザ光Lの光エネルギーで反応さ
せ或いは分解させて、金属膜あるいは金属と有機物の混
合膜を形成し、さらに未露光部分の光反応性材料15を
溶剤で洗浄するなどして除去することによって、金属膜
あるいは金属と有機物の混合膜からなる図17(d)の
ような導体回路パターン9を基体4の立体表面8に立体
的に形成することができるものである。導体回路パター
ン9にはさらに電気メッキ等をして厚みを厚くするよう
にしてもよく、また導体回路パターン9の表面に必要に
応じてNiメッキやAuメッキをおこなってもよい。
FIG. 17 shows another method for forming a three-dimensional circuit. First, all surfaces including the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 made as shown in FIG. The material 15 is applied and the film is provided as shown in FIG. The photoreactive material 15 may be an organic metal such as copper acetate, copper alkoxide, or dimethylaluminum. The organic metal is applied to the surface of the substrate 4 as it is or after being dissolved in a solvent and applied. The photoreactive material 15 can be deposited. And
As shown in FIG. 17C, the laser light L is applied to the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 by the method using the X / Y mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3.
The photoreactive material 15 at the circuit forming portion is exposed in a pattern by three-dimensional irradiation, and the exposed portion of the photoreactive material 15 formed of an organic metal is reacted or decomposed by the light energy of the laser light L. 17, a metal film or a mixed film of a metal and an organic material is formed, and the unexposed portion of the photoreactive material 15 is removed by washing with a solvent or the like to form a metal film or a mixed film of a metal and an organic material. The conductor circuit pattern 9 as shown in (d) can be three-dimensionally formed on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4. The conductor circuit pattern 9 may be further thickened by electroplating or the like, and the surface of the conductor circuit pattern 9 may be Ni-plated or Au-plated if necessary.

【0043】上記実施例では光反応性材料15として有
機金属を用いるようにしたが、光反応性材料15として
はこの他に、光反応によって露光部分のみが基体4に接
着可能となる導電性材料、例えばニッケルや銅等の金属
粉末やカーボン粉末などの導電性の粉末を光硬化性接着
剤に混合して導電性を持たせた材料を用いることができ
る。このものでは図17の場合と同様に基体4の表面に
光反応性材料15を塗布した後に紫外線レーザ等のレー
ザ光Lを照射すると、光反応性材料15のうちレーザ光
Lが照射された箇所のみがパターン形状で硬化して基体
4の立体表面8に硬化接着される。そして未露光で硬化
していない部分の光反応性材料15を溶剤で洗浄して除
去することによって、導電性接着剤の硬化層からなる導
体回路パターン9を基体4の立体表面8に立体的に形成
することができるものである。この場合においても導体
回路パターン9にはさらに電気メッキ等をして厚みを厚
くするようにしてもよく、また導体回路パターン9の表
面に必要に応じてNiメッキやAuメッキをおこなって
もよい。
In the above embodiment, an organic metal is used as the photoreactive material 15. However, as the photoreactive material 15, in addition to this, a conductive material capable of adhering only the exposed portion to the substrate 4 by photoreaction. For example, it is possible to use a material in which a conductive powder such as a metal powder of nickel or copper or a carbon powder is mixed with a photocurable adhesive so as to have conductivity. In this case, as in the case of FIG. 17, when the laser light L such as an ultraviolet laser is applied after the photoreactive material 15 is applied to the surface of the substrate 4, the portion of the photoreactive material 15 to which the laser light L is applied. Only the hardened portion is cured in a pattern shape and hardened and adhered to the three-dimensional surface 8 of the substrate 4. Then, the unreacted and non-cured portion of the photoreactive material 15 is washed and removed with a solvent, so that the conductor circuit pattern 9 composed of the cured layer of the conductive adhesive is three-dimensionally formed on the three-dimensional surface 8 of the base 4. It can be formed. Also in this case, the conductor circuit pattern 9 may be further electroplated or the like to be thickened, and the surface of the conductor circuit pattern 9 may be Ni-plated or Au-plated if necessary.

【0044】図18は光CVD法による立体回路の形成
方法を示すものであり、図18(a)のような立体表面
8を有する基体4を、図18(b)に示すようにレーザ
光Lを透過する透明な蒸着容器39内にセットし、四塩
化チタン、タングステンカーボニル、銅DPM等の反応
ガスの一種あるいは複数種を水素や窒素等のキャリアガ
スとともに導入口40から蒸着容器39内に導入する。
41は排気口である。そして図18(c)に示すよう
に、X・Yミラー1,2及びZミラー3を用いた方法で
レーザ光Lを蒸着容器39を透過して基体4の立体表面
8に三次元照射し、立体表面8を回路形成箇所のパター
ン形状に露光する。このとき基体4の立体表面8で反応
ガスが反応・分解して金属膜が化学蒸着し易くなるよう
に基体4を例えば200℃程度に予備加熱しておくのが
好ましい。しかしてこのように露光すると基体4の立体
表面8で反応ガスが分解反応を生じて、露光パターンで
基体4の表面に金属の蒸着膜16を形成することがき、
金属の蒸着膜16からなる導体パターン9を図18
(c)のように基体4の立体表面8に形成することがで
きるものである。導体回路パターン9にはさらに電気メ
ッキ等をして厚みを厚くするようにしてもよく、また導
体回路パターン9の表面に必要に応じてNiメッキやA
uメッキをおこなってもよい。
FIG. 18 shows a method of forming a three-dimensional circuit by the photo-CVD method. A substrate 4 having a three-dimensional surface 8 as shown in FIG. 18 (a) is converted into a laser beam L as shown in FIG. 18 (b). Is set in a transparent vapor deposition container 39 that transmits water, and one or more kinds of reaction gases such as titanium tetrachloride, tungsten carbonyl, and copper DPM are introduced into the vapor deposition container 39 from an inlet 40 together with a carrier gas such as hydrogen and nitrogen. To do.
41 is an exhaust port. Then, as shown in FIG. 18C, the laser light L is three-dimensionally irradiated onto the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 through the vapor deposition container 39 by the method using the X / Y mirrors 1, 2 and the Z mirror 3. The three-dimensional surface 8 is exposed to the pattern shape of the circuit forming portion. At this time, it is preferable to preheat the substrate 4 to, for example, about 200 ° C. so that the reaction gas reacts and decomposes on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 to facilitate the chemical vapor deposition of the metal film. However, when exposed in this way, the reaction gas undergoes a decomposition reaction on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4, and a metal vapor deposition film 16 can be formed on the surface of the substrate 4 in an exposure pattern.
The conductor pattern 9 formed of the metal vapor deposition film 16 is shown in FIG.
It can be formed on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 as in (c). The conductor circuit pattern 9 may be further thickened by electroplating or the like, and the surface of the conductor circuit pattern 9 may be plated with Ni or A as needed.
You may perform u plating.

【0045】図19はさらに他の立体回路の形成方法を
示すものであり、先ず樹脂成形品等で図19(a)のよ
うに作成される基体4の立体表面8を含む全表面に導体
層17を図19(b)のように設ける。導体層17はニ
ッケルや銅などの金属を無電解メッキしたりPVD法等
の方法で設けることができるものであり例えば厚み0.
5〜2μm程度に薄い膜として形成するのが望ましい。
そして、図19(c)に示すようにX・Yミラー1,2
及びZミラー3を用いた方法でエキシマレーザ等のレー
ザ光Lを基体4の表面に照射し、回路形成箇所以外の箇
所をパターン形状に照射することによって、レーザ光L
のエネルギーで導体層17を飛ばして除去する。このよ
うに回路形成箇所以外の導体層17をレーザ光Lで除去
することによって、導体層17で形成される導体パター
ン9を図19(d)のように基体4の立体表面8に作成
することができるものである。導体回路パターン9には
さらに電気メッキ等をして厚みを厚くするようにしても
よく、また導体回路パターン9の表面に必要に応じてN
iメッキやAuメッキをおこなってもよい。尚、この実
施例では導体層17を金属で形成して回路形成箇所以外
の導体層17をレーザ光Lで除去することによって導体
回路パターン9を形成するようにしたが、例えば図17
の実施例のように、レーザ光Lを照射した箇所のみを基
体4の立体表面8に残すようにして導体回路パターン9
を形成するようにしてもよい。
FIG. 19 shows still another method for forming a three-dimensional circuit. First, a conductor layer is formed on the entire surface including the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 made of a resin molded product or the like as shown in FIG. 19 (a). 17 is provided as shown in FIG. The conductor layer 17 can be formed by electroless plating of a metal such as nickel or copper, or can be provided by a PVD method or the like.
It is desirable to form the film as thin as about 5 to 2 μm.
Then, as shown in FIG.
And a laser beam L such as an excimer laser is applied to the surface of the substrate 4 by a method using the Z mirror 3 to irradiate a pattern shape on a portion other than a circuit formation portion.
The conductor layer 17 is skipped and removed by the energy of. By removing the conductor layer 17 other than the circuit formation portion with the laser light L in this manner, the conductor pattern 9 formed by the conductor layer 17 is formed on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 as shown in FIG. Is something that can be done. The conductor circuit pattern 9 may be further thickened by electroplating or the like, and the surface of the conductor circuit pattern 9 may be N
You may perform i plating and Au plating. In this embodiment, the conductor layer 17 is made of metal, and the conductor layer 17 other than the portion where the circuit is formed is removed by the laser beam L to form the conductor circuit pattern 9. However, for example, FIG.
As in the above embodiment, the conductor circuit pattern 9 is formed so that only the portion irradiated with the laser beam L remains on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4.
May be formed.

【0046】次に、上記のレーザ照射方法やレーザ光照
射装置を用いて基体4にレーザ光Lを照射する表面処理
方法について説明する。レーザ光Lを照射する対象とな
る基体4の構成材料は樹脂やセラミック、金属などであ
り、レーザ光Lの照射は基体4の平面だけでなく基体4
の立体表面8にもおこなうことができる。またレーザ光
Lの照射のパターンは点や線など任意である。そして基
体4にレーザ光Lを照射することによって、基体4の表
面の粗化、微細凹凸の形成、吸着性の向上、接着性の向
上、化学反応性の向上を図る表面処理をすることができ
る。例えば、基体4に回路形成するにあたっての下地処
理として基体4にレーザ光Lを照射すると、基体4の表
面の粗化によって基体4への回路の密着強度を高めるこ
とができるものである。また基体4に無電解メッキする
にあたって基体4にレーザ光Lを回路のパターンで照射
すると、レーザ光Lの照射部分にのみ無電解メッキ用触
媒が付着し、パターン形状に無電解メッキして回路形成
をすることができるものである。さらに印刷用版のイン
ク付着部にレーザ光Lを照射すると、レーザ光Lの照射
部分にのみインクが付着し、このインクを転写すること
によって印刷をおこなうことができる。またレーザ光L
を照射して塗装・着色の下地処理をおこなうことによっ
て、塗装の塗膜の密着強度を向上させたり、着色の発色
性を向上させたりすることができるものである。
Next, a surface treatment method for irradiating the substrate 4 with the laser light L using the above laser irradiation method and laser light irradiation apparatus will be described. The constituent material of the substrate 4 to be irradiated with the laser light L is resin, ceramic, metal, or the like, and the irradiation of the laser light L is not limited to the plane of the substrate 4 but also to the substrate 4.
It can also be performed on the three-dimensional surface 8 of. The irradiation pattern of the laser beam L is arbitrary such as dots and lines. Then, by irradiating the substrate 4 with the laser beam L, it is possible to perform a surface treatment for roughening the surface of the substrate 4, forming fine irregularities, improving adsorption, improving adhesiveness, and improving chemical reactivity. . For example, when the substrate 4 is irradiated with the laser light L as a base treatment for forming a circuit on the substrate 4, the adhesion strength of the circuit to the substrate 4 can be increased by roughening the surface of the substrate 4. When the substrate 4 is irradiated with the laser light L in a circuit pattern for electroless plating on the substrate 4, the electroless plating catalyst adheres only to the portion irradiated with the laser light L, and the pattern is electrolessly plated to form a circuit. Is something that can be done. Further, when the laser light L is irradiated to the ink-adhered portion of the printing plate, the ink adheres only to the portion irradiated with the laser light L, and printing can be performed by transferring this ink. In addition, laser light L
It is possible to improve the adhesion strength of the coating film for coating and to improve the coloring property of coloring by irradiating the substrate with the coating material and irradiating it with the base material for coating and coloring.

【0047】このように基体4をレーザ光Lで表面処理
して、立体回路を形成する方法の一例について図20に
基づいて説明する。まずポリイミドなどの樹脂成形品で
図20(a)のように作成した基体4の立体表面8に、
回路を形成するパターンで図20(b)のようにX・Y
ミラー1,2及びZミラー3を用いた方法でエキシマレ
ーザ等のレーザ光Lを照射して基体4の表面を粗面化
し、パターン形状にレーザ光Lを照射することによって
粗面化部42をパターン形状で形成する。次に立体表面
8を含む基体4の全表面に図20(c)のように下地導
体膜12を銅の無電解メッキや蒸着、スパッタリング等
の方法で例えば1〜2μm程度の薄い厚みに形成する。
この後に、図20(d)のように下地導体膜12の全表
面にフォトレジストなどをディップ、スプレー、電着等
の方法で塗布することによって感光性絶縁膜13を形成
する。そして、図20(e)に示すようにX・Yミラー
1,2及びZミラー3を用いた方法でレーザ光Lを基体
4の立体表面8に三次元照射して感光性絶縁膜13をパ
ターン形状に露光し、次に現像をおこなって、回路形成
をする箇所の感光性絶縁膜13を図20(f)のように
除去し、回路形成箇所の下地導体膜12を露出させる。
下地導体膜12のうちこの露出する部分の表面は粗面化
部42となっている。この後に下地導体膜12に通電し
て電気銅メッキなどをおこなうことによって、図20
(g)のように下地導体膜12の露出表面に導体金属1
4を例えば20μm程度の厚みで厚付けし、そして図2
0(h)のように感光性絶縁膜13を除去した後に、下
地導体膜12の厚み分だけ溶解するライトエッチング処
理をおこなって下地導体膜12を除去することによっ
て、図20(i)のように基体4の立体表面8に立体的
に導体回路パターン9を形成することができるものであ
る。導体回路パターン9の表面には必要に応じてNiメ
ッキやAuメッキをおこなうことができる。このように
セミアディティブ法で回路形成するにあたって、回路形
成部分はレーザ光Lの照射によって粗面化部42を形成
する粗面化処理をしているために、回路の密着強度を高
く得ることができるものである。
An example of a method for forming a three-dimensional circuit by surface-treating the substrate 4 with the laser light L in this way will be described with reference to FIG. First, on the three-dimensional surface 8 of the base 4 made of a resin molded product such as polyimide as shown in FIG.
A pattern for forming a circuit, as shown in FIG.
The surface of the substrate 4 is roughened by irradiating laser light L such as an excimer laser by a method using the mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3, and the roughened portion 42 is formed by irradiating the laser light L in a pattern shape. It is formed in a pattern shape. Next, as shown in FIG. 20C, a base conductor film 12 is formed on the entire surface of the substrate 4 including the three-dimensional surface 8 to a thin thickness of, for example, about 1 to 2 μm by a method such as electroless plating of copper, vapor deposition, and sputtering. .
After that, as shown in FIG. 20D, the photosensitive insulating film 13 is formed by applying a photoresist or the like on the entire surface of the underlying conductor film 12 by a method such as dipping, spraying, or electrodeposition. Then, as shown in FIG. 20 (e), the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is three-dimensionally irradiated with the laser light L by a method using the XY mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3 to pattern the photosensitive insulating film 13. The shape is exposed, and then development is performed to remove the photosensitive insulating film 13 at the portion where the circuit is to be formed, as shown in FIG. 20F, to expose the underlying conductor film 12 at the portion where the circuit is to be formed.
The surface of the exposed portion of the underlying conductor film 12 is a roughened portion 42. After that, the underlying conductor film 12 is energized to perform electrolytic copper plating, etc.
As shown in (g), the conductor metal 1 is formed on the exposed surface of the underlying conductor film 12.
4 is thickened to a thickness of, for example, about 20 μm, and FIG.
After the photosensitive insulating film 13 is removed as shown in 0 (h), a light etching process is performed to dissolve the underlying conductor film 12 by the thickness of the underlying conductor film 12, and the underlying conductor film 12 is removed. In addition, the conductor circuit pattern 9 can be three-dimensionally formed on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4. The surface of the conductor circuit pattern 9 can be plated with Ni or Au as required. As described above, when the circuit is formed by the semi-additive method, the circuit forming portion is subjected to the surface roughening treatment for forming the surface roughened portion 42 by the irradiation of the laser beam L, so that the adhesion strength of the circuit can be increased. It is possible.

【0048】次に、基体4の立体表面8に粉末18を供
給しつつ、基体4の立体表面8にレーザ光Lを照射する
ことによって、レーザ光Lの照射箇所において基体4の
立体表面8に粉末18を付着させる方法について説明す
る。レーザ光Lを照射する対象となる基体4の構成材料
は少なくとも表面が熱可塑性樹脂であり、レーザ光Lの
照射は基体4の平面だけでなく基体4の立体表面8にも
おこなうことができる。また粉末18としては例えば、
銅、ニッケル、真鍮等の金属粉末や、カーボン粉末、触
媒粉末、カップリング剤粉末等を用いることができ、粉
末18の粒径は数μm〜数百μm程度の範囲が好まし
い。そして基体4の表面に粉末18を供給しつつレーザ
光Lを照射することによって、レーザ光Lのエネルギー
で基体4の表面を軟化・粘着化させることで基体4の表
面に粉末18を付着させることができるものであり、点
や線等の任意の回路パターンや装飾パターンでレーザ光
Lを基体4の表面に照射することによって、このパター
ン形状で粉末18を付着させることができるものであ
る。例えば金属の粉末18をパターン形状で基体4の表
面に付着させることによって基体4の表面に回路を形成
することができ、また無電解メッキ用触媒の粉末18を
基体4の表面にパターン形状で付着させて無電解メッキ
をおこなうことによって、無電解メッキでパターン形状
に回路を形成することができる。基体4の表面への粉末
18の供給は、予め基体4の表面に粉末18を付着させ
ておくことによっておこなうことができるが、レーザ光
Lの照射と同時に又はその直後に粉末18を基体4の表
面の照射部分に吹きつけることによっておこなうことも
できる。このようにして粉末18を付着させて回路を形
成するようにすると、基体4への高い密着強度で回路を
形成することができるものである。
Next, while the powder 18 is being supplied to the three-dimensional surface 8 of the base body 4, the three-dimensional surface 8 of the base body 4 is irradiated with the laser light L, so that the three-dimensional surface 8 of the base body 4 is irradiated with the laser light L. A method of attaching the powder 18 will be described. At least the surface of the constituent material of the substrate 4 to be irradiated with the laser light L is a thermoplastic resin, and the irradiation of the laser light L can be performed not only on the plane of the substrate 4 but also on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4. As the powder 18, for example,
Metal powder such as copper, nickel and brass, carbon powder, catalyst powder, coupling agent powder and the like can be used, and the particle diameter of the powder 18 is preferably in the range of several μm to several hundred μm. Then, the powder 18 is supplied to the surface of the base body 4 and the laser light L is irradiated to soften / adhesive the surface of the base body 4 with the energy of the laser light L so that the powder 18 is attached to the surface of the base body 4. By irradiating the surface of the substrate 4 with the laser light L with an arbitrary circuit pattern or decoration pattern such as dots or lines, the powder 18 can be attached in this pattern shape. For example, a circuit can be formed on the surface of the substrate 4 by depositing the metal powder 18 on the surface of the substrate 4 in a pattern shape, and the powder 18 of the electroless plating catalyst is deposited on the surface of the substrate 4 in a pattern shape. By performing the electroless plating by doing so, the circuit can be formed in a pattern shape by the electroless plating. The powder 18 can be supplied to the surface of the base body 4 by adhering the powder 18 to the surface of the base body 4 in advance. It can also be performed by spraying on the irradiated portion of the surface. By thus adhering the powder 18 to form a circuit, the circuit can be formed with high adhesion strength to the substrate 4.

【0049】このように粉末18を基体4の表面に付着
させて回路を形成する方法の一例を図21に基づいて説
明する。図21(a)のようにABS樹脂などの熱可塑
性樹脂の成形品で作成される基体4の立体表面8に、図
21(b)に示すように、X・Yミラー1,2及びZミ
ラー3を用いた方法でYAGレーザ等のレーザ光Lを三
次元照射して、基体4の立体表面8を加熱して軟化・粘
着化する。そして銅等の金属の粉末18を圧縮ガスなど
を用いて軟化・粘着化した立体表面8にノズル43から
吹きつけることによって、粉末18をこの軟化・粘着化
した箇所において立体表面8に付着させて接着させるこ
とができる。基体4の立体表面8へのレーザ光Lの照射
をパターン形状に走査しておこなうことによって、粉体
18で導体回路パターン9を形成することができるもの
である。導体回路パターン9にはさらに電気メッキ等を
して厚みを厚くするようにしてもよく、また導体回路パ
ターン9の表面に必要に応じてNiメッキやAuメッキ
をおこなってもよい。
An example of the method of forming the circuit by adhering the powder 18 to the surface of the substrate 4 in this way will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 21 (b), the three-dimensional surface 8 of the base body 4 made of a molded product of a thermoplastic resin such as ABS resin as shown in FIG. Laser light L such as a YAG laser is three-dimensionally irradiated by the method using 3 to heat the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 to soften and make it stick. Then, the powder 18 of a metal such as copper is sprayed from the nozzle 43 onto the three-dimensional surface 8 softened / adhered by using compressed gas or the like, so that the powder 18 is attached to the three-dimensional surface 8 at the softened / adhered portion. Can be glued. By irradiating the three-dimensional surface 8 of the base body 4 with the laser light L in a pattern shape, the conductor circuit pattern 9 can be formed of the powder 18. The conductor circuit pattern 9 may be further thickened by electroplating or the like, and the surface of the conductor circuit pattern 9 may be Ni-plated or Au-plated if necessary.

【0050】[0050]

【発明の効果】上記のように本発明に係るレーザ照射方
法は、レーザ光をX軸方向及びY軸方向にX・Yミラー
で反射させると共にこの反射されたレーザ光をさらにZ
軸方向にZミラーで反射させて基体の表面にレーザ光を
照射するようにしたので、X・Yミラーで基体のX軸方
向及びY軸方向にレーザ光を走査させることができると
共にZミラーでレーザ光をZ軸方向に反射させて基体の
Z軸方向にレーザ光を走査させることができ、基体の立
体表面に三次元的にレーザ光を照射することができるも
のである。
As described above, in the laser irradiation method according to the present invention, the laser light is reflected by the XY mirror in the X-axis direction and the Y-axis direction, and the reflected laser light is further Z-turned.
Since the surface of the base is irradiated with the laser light by reflecting the laser light in the axial direction with the Z mirror, the laser light can be scanned in the X-axis direction and the Y-axis direction of the base with the XY mirror, and the Z-mirror can be used. The laser beam can be reflected in the Z-axis direction to scan the laser beam in the Z-axis direction of the base, and the three-dimensional surface of the base can be three-dimensionally irradiated with the laser light.

【0051】またレーザ光の光路や基体の表面への入射
角度に応じてレーザ光の照射パワー、照射スポット径、
基体の表面でのレーザ光の走査速度の少なくとも一つを
変えて基体の表面にレーザ光を照射するようにすれば、
基体の立体表面にレーザ光を照射するにあたって光路長
や入射角度が変化しても、常に一定のエネルギー条件で
レーザ光を照射することができるものである。
Further, the irradiation power of the laser light, the irradiation spot diameter, the
If at least one of the scanning speeds of the laser light on the surface of the base is changed so that the surface of the base is irradiated with the laser light,
Even when the optical path length or the incident angle changes when irradiating the laser beam on the three-dimensional surface of the substrate, the laser beam can always be irradiated under a constant energy condition.

【0052】さらに、基体の表面の所定の照射箇所に入
射するレーザ光の光路が複数路あるときは、最短距離の
光路を選択し、あるいは基体の表面の入射角度が法線方
向に最も近い光路を選択して、基体の表面にレーザ光を
照射するようにすれば、レーザ光の照射条件の変化を小
さくすることができるものである。本発明に係るレーザ
照射装置は、レーザ光を発振するレーザ発振器と、レー
ザ発振器から発振されたレーザ光をX軸方向及びY軸方
向に反射させるX・Yミラーと、X・Yミラーで反射さ
れたレーザ光を基体に向けて反射させるZミラーとを具
備したので、X・Yミラーで基体のX軸方向及びY軸方
向にレーザ光を走査させると共にZミラーでレーザ光を
Z軸方向に反射させて基体のZ軸方向にレーザ光を走査
させ、基体の立体表面に三次元的にレーザ光を照射する
ことができるものである。
Further, when there are a plurality of optical paths of the laser light incident on the predetermined irradiation position on the surface of the substrate, the optical path of the shortest distance is selected, or the optical path where the incident angle on the surface of the substrate is the closest to the normal direction. By selecting and irradiating the surface of the substrate with the laser light, the change in the irradiation condition of the laser light can be reduced. A laser irradiation apparatus according to the present invention includes a laser oscillator that oscillates laser light, an X / Y mirror that reflects the laser light oscillated from the laser oscillator in the X-axis direction and the Y-axis direction, and an XY mirror that reflects the laser light. And a Z mirror that reflects the laser light toward the base, the X and Y mirrors scan the laser light in the X axis direction and the Y axis direction of the base, and the Z mirror reflects the laser light in the Z axis direction. Then, the laser beam can be scanned in the Z-axis direction of the substrate, and the three-dimensional surface of the substrate can be three-dimensionally irradiated with the laser beam.

【0053】また、レーザ光の照射パワーを変えるパワ
ー可変機構をレーザ光の光路に設けてあるので、レーザ
光の光路や基体への入射角度に応じてレーザ光の照射パ
ワーを変えて常に一定のエネルギー条件でレーザ光を照
射することが可能になるものである。さらに、レーザ光
のビーム径を変えるビーム径可変機構をレーザ光の光路
に設けてあるので、レーザ光の光路や基体への入射角度
に応じてレーザ光のビーム径を変えて常に一定のエネル
ギー条件でレーザ光を照射することが可能になるもので
ある。
Further, since the power varying mechanism for changing the irradiation power of the laser light is provided in the optical path of the laser light, the irradiation power of the laser light is changed in accordance with the optical path of the laser light and the angle of incidence on the substrate to keep a constant value. It is possible to irradiate a laser beam under energy conditions. Furthermore, since a beam diameter changing mechanism that changes the beam diameter of the laser light is provided in the optical path of the laser light, the beam diameter of the laser light is changed according to the incident angle of the laser light on the optical path and the substrate, and constant energy conditions are maintained. It becomes possible to irradiate a laser beam with.

【0054】さらに、Zミラーを可動に形成してあるの
で、レーザ光の光路や基体への入射角度に応じてレーザ
光の走査速度を変えて常に一定のエネルギー条件でレー
ザ光を照射することが可能になるものである。本発明に
係る立体回路の形成方法は、上記のレーザ照射方法を用
いて基体の立体表面にレーザ光を照射することによっ
て、レーザ光による描画形状に応じたパターンで基体の
立体表面に導体回路パターンを形成するようにしたの
で、基体の立体表面に三次元的にレーザ光を照射して、
基体の立体表面の形状によって制限を受けることなく導
体回路パターンを形成することができるものである。
Further, since the Z mirror is movably formed, it is possible to always irradiate the laser light under a constant energy condition by changing the scanning speed of the laser light according to the optical path of the laser light and the angle of incidence on the substrate. It will be possible. A method for forming a three-dimensional circuit according to the present invention includes irradiating a three-dimensional surface of a substrate with laser light by using the above laser irradiation method to form a conductor circuit pattern on the three-dimensional surface of a substrate in a pattern according to a drawing shape by the laser light. Therefore, the three-dimensional surface of the substrate is irradiated with laser light three-dimensionally,
The conductor circuit pattern can be formed without being limited by the shape of the three-dimensional surface of the substrate.

【0055】本発明において立体回路を形成するにあた
って、基体の立体表面に導体膜を設けると共にこの導体
膜の上に感光性耐エッチング膜を設け、上記のレーザ照
射方法を用いて感光性耐エッチング膜にレーザ光を照射
して露光した後に現像し、感光性耐エッチング膜の現像
で露出される導体膜をエッチングすることによって導体
回路パターンを形成するようにしたので、サブトラクテ
ィブ法で基体の立体表面の形状によって制限を受けるこ
となく導体回路パターンを形成することができるもので
ある。
In forming the three-dimensional circuit in the present invention, a conductive film is provided on the three-dimensional surface of the substrate, a photosensitive etching resistant film is provided on the conductive film, and the photosensitive etching resistant film is formed by using the above laser irradiation method. Since the conductive circuit pattern is formed by exposing the conductive film exposed to the laser beam to the conductive film exposed by the development of the photosensitive etching resistant film, the three-dimensional surface of the substrate is subtracted by the subtractive method. The conductor circuit pattern can be formed without being limited by the shape of the.

【0056】本発明において立体回路を形成するにあた
って、基体の立体表面に下地導体膜を設けると共にこの
下地導体膜の上に感光性絶縁膜を設け、上記のレーザ照
射方法を用いて感光性絶縁膜にレーザ光を照射して露光
した後に現像し、感光性絶縁膜の現像で露出される下地
導体膜の上に導体金属を厚付けし、次に感光性絶縁膜を
除去した後に、導体金属で覆われない下地導体膜をエッ
チング除去することによって導体回路パターンを形成す
るようにしたので、セミアディティブ法で基体の立体表
面の形状によって制限を受けることなく導体回路パター
ンを形成することができるものである。
In forming a three-dimensional circuit in the present invention, a base conductive film is provided on the three-dimensional surface of the substrate, a photosensitive insulating film is provided on the base conductive film, and the photosensitive insulating film is formed by using the above laser irradiation method. Laser light on the surface of the photosensitive insulating film to develop it, and then develop the photosensitive insulating film to thicken the conductive metal on the underlying conductive film, and then remove the photosensitive insulating film. Since the conductor circuit pattern is formed by etching away the underlying conductor film that is not covered, the conductor circuit pattern can be formed by the semi-additive method without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the substrate. is there.

【0057】本発明において立体回路を形成するにあた
って、基体の立体表面に感光性耐メッキ膜を設け、上記
のレーザ照射方法を用いて感光性耐メッキ膜にレーザ光
を照射して露光した後に現像し、感光性耐メッキ膜の現
像で露出される基体の立体表面にメッキして導体金属を
付着させることによって導体回路パターンを形成するよ
うにしたので、フルアディティブ法で基体の立体表面の
形状によって制限を受けることなく導体回路パターンを
形成することができるものである。
In forming the three-dimensional circuit in the present invention, a photosensitive plating resistant film is provided on the three-dimensional surface of the substrate, and the photosensitive plating resistant film is irradiated with laser light by the above laser irradiation method to be exposed and then developed. Since the conductive circuit pattern is formed by depositing a conductive metal on the three-dimensional surface of the substrate exposed by the development of the photosensitive anti-plating film, the three-dimensional surface of the substrate can be formed by the full additive method. The conductor circuit pattern can be formed without any limitation.

【0058】本発明において立体回路を形成するにあた
って、基体の立体表面に光反応性材料を塗布し、上記の
レーザ照射方法を用いて光反応性材料にレーザ光を照射
して、レーザ光で露光された部分の光反応性材料を反応
させると共に未露光部分の光反応性材料を除去すること
によって光反応性材料で導体回路パターンを形成するよ
うにしたので、基体の立体表面に三次元的にレーザ光を
照射して、基体の立体表面の形状によって制限を受ける
ことなく光反応性材料で導体回路パターンを形成するこ
とができるものである。
In forming a three-dimensional circuit in the present invention, a photoreactive material is applied to the three-dimensional surface of a substrate, the photoreactive material is irradiated with laser light using the above laser irradiation method, and exposed with laser light. The photoreactive material in the exposed portion is reacted and the photoreactive material in the unexposed portion is removed to form a conductor circuit pattern with the photoreactive material, so that the three-dimensional surface of the substrate is three-dimensionally formed. By irradiating with a laser beam, the conductor circuit pattern can be formed from the photoreactive material without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the substrate.

【0059】本発明において立体回路を形成するにあた
って、反応ガス雰囲気中で基体の立体表面に上記のレー
ザ照射方法を用いてレーザ光を照射することによって、
光CVD法で基体の立体表面に蒸着膜を生成させること
によって導体回路パターンを形成するようにしたので、
光CVD法で基体の立体表面の形状によって制限を受け
ることなく導体回路パターンを形成することができるも
のである。
In forming the three-dimensional circuit in the present invention, the three-dimensional surface of the substrate is irradiated with laser light in the reaction gas atmosphere by using the above laser irradiation method.
Since the conductor circuit pattern is formed by forming a vapor deposition film on the three-dimensional surface of the substrate by the photo-CVD method,
The conductor circuit pattern can be formed by the photo CVD method without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the substrate.

【0060】本発明において立体回路を形成するにあた
って、基体の立体表面に導体層を設け、上記のレーザ照
射方法を用いて導体層にレーザ光を照射して、レーザ光
で露光された部分の導体層を除去するかもしくはレーザ
光で露光された部分の導体層を残して他の部分を除去す
ることによって、導体層で導体回路パターンを形成する
ようにしたので、基体の立体表面に三次元的にレーザ光
を照射して、基体の立体表面の形状によって制限を受け
ることなく導体層で導体回路パターンを形成することが
できるものである。
In forming a three-dimensional circuit in the present invention, a conductor layer is provided on the three-dimensional surface of the substrate, and the conductor layer is irradiated with laser light by using the above laser irradiation method, so that the conductor exposed in the laser light is irradiated. Since the conductor circuit pattern is formed by the conductor layer by removing the layer or leaving the conductor layer of the part exposed by the laser beam and removing the other part, the three-dimensional surface of the substrate is three-dimensionally formed. It is possible to form a conductor circuit pattern on the conductor layer by irradiating the substrate with laser light without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the substrate.

【0061】本発明に係る表面処理方法は、基体の立体
表面に上記のレーザ照射方法を用いてレーザ光を照射す
ることを特徴とするものであり、基体の立体表面に三次
元的にレーザ光を照射して、基体の立体表面の形状によ
って制限を受けることなく表面処理をすることができる
ものである。本発明に係る粉末付着方法は、基体の立体
表面に粉末を供給すると共に、基体の立体表面に上記の
レーザ照射方法を用いてレーザ光を照射することによっ
て、レーザ光の照射箇所において基体の立体表面に粉末
を付着させることを特徴とするものであり、基体の立体
表面に三次元的にレーザ光を照射して、基体の立体表面
の形状によって制限を受けることなく粉末を付着させる
ことができるものである。
The surface treatment method according to the present invention is characterized by irradiating the three-dimensional surface of the substrate with laser light by using the above laser irradiation method, and the three-dimensional laser beam is applied to the three-dimensional surface of the substrate. The surface treatment can be carried out by irradiating with, without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the substrate. In the powder deposition method according to the present invention, the powder is supplied to the three-dimensional surface of the substrate, and the three-dimensional surface of the substrate is irradiated with laser light using the above laser irradiation method, so that the three-dimensional surface of the substrate is irradiated at the laser light irradiation position. It is characterized in that powder is attached to the surface, and the three-dimensional laser beam is applied to the three-dimensional surface of the substrate so that the powder can be attached without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the substrate. It is a thing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an embodiment of the present invention.

【図2】同上の実施例の概略構成図である。FIG. 2 is a schematic configuration diagram of the above-described embodiment.

【図3】本発明の他の実施例の概略構成図である。FIG. 3 is a schematic configuration diagram of another embodiment of the present invention.

【図4】同上の実施例の一部の斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of a part of the above embodiment.

【図5】本発明のさらに他の実施例の概略構成図であ
る。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of still another embodiment of the present invention.

【図6】同上の実施例の一部を示すものであり、(a)
はビーム径可変機構部分の拡大図、(b)は照射部分の
拡大図である。
FIG. 6 shows a part of the above-mentioned embodiment, (a)
FIG. 4 is an enlarged view of a beam diameter changing mechanism portion, and FIG.

【図7】本発明のさらに他の実施例の概略構成図であ
る。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of still another embodiment of the present invention.

【図8】本発明のさらに他の実施例の概略構成図であ
る。
FIG. 8 is a schematic configuration diagram of still another embodiment of the present invention.

【図9】本発明において用いるZミラーの各態様を示す
ものであり、(a),(b)は一部切欠斜視図、(c)
は一部切欠断面図である。
9A and 9B are views showing various aspects of a Z mirror used in the present invention, in which FIGS. 9A and 9B are partially cutaway perspective views, and FIG.
FIG. 3 is a partially cutaway sectional view.

【図10】本発明において用いるZミラーによる反射状
態を示すものであり、(a),(b)は断面図である。
FIG. 10 shows a reflection state by a Z mirror used in the present invention, and (a) and (b) are sectional views.

【図11】本発明において用いるZミラーの他の態様を
示す斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view showing another aspect of the Z mirror used in the present invention.

【図12】本発明におけるレーザ照射による露光の制御
のフローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart of control of exposure by laser irradiation in the present invention.

【図13】(a)は同上における傾斜面の角度を示す基
体の一部の断面図、(b)は露光の線幅と照射パワーの
関係を示すグラフである。
FIG. 13 (a) is a sectional view of a part of the substrate showing the angle of the inclined surface in the above, and FIG. 13 (b) is a graph showing the relationship between the line width of exposure and the irradiation power.

【図14】本発明の立体回路の形成方法の一実施例を示
すものであり、(a)乃至(g)はそれぞれ断面図であ
る。
FIG. 14 shows an embodiment of a method for forming a three-dimensional circuit according to the present invention, in which (a) to (g) are cross-sectional views, respectively.

【図15】本発明の立体回路の形成方法の他の実施例を
示すものであり、(a)乃至(h)はそれぞれ断面図で
ある。
FIG. 15 shows another embodiment of the method for forming a three-dimensional circuit according to the present invention, in which (a) to (h) are sectional views, respectively.

【図16】本発明の立体回路の形成方法のさらに他の実
施例を示すものであり、(a)乃至(f)はそれぞれ断
面図である。
FIG. 16 shows still another embodiment of the method for forming a three-dimensional circuit according to the present invention, in which (a) to (f) are cross-sectional views, respectively.

【図17】本発明の立体回路の形成方法のさらに他の実
施例を示すものであり、(a)乃至(d)はそれぞれ断
面図である。
FIG. 17 shows still another embodiment of the method for forming a three-dimensional circuit according to the present invention, in which (a) to (d) are cross-sectional views, respectively.

【図18】本発明の立体回路の形成方法のさらに他の実
施例を示すものであり、(a)乃至(c)はそれぞれ断
面図である。
FIG. 18 shows still another embodiment of the method for forming a three-dimensional circuit according to the present invention, in which (a) to (c) are sectional views, respectively.

【図19】本発明の立体回路の形成方法のさらに他の実
施例を示すものであり、(a)乃至(d)はそれぞれ断
面図である。
FIG. 19 shows still another embodiment of the method for forming a three-dimensional circuit according to the present invention, in which (a) to (d) are cross-sectional views, respectively.

【図20】本発明の表面処理方法の一実施例を示すもの
であり、(a)乃至(i)はそれぞれ断面図である。
FIG. 20 shows an embodiment of the surface treatment method of the present invention, in which (a) to (i) are sectional views, respectively.

【図21】本発明の粉末の付着方法の一実施例を示すも
のであり、(a),(b)はそれぞれ断面図である。
FIG. 21 shows an example of the method of depositing powder according to the present invention, in which (a) and (b) are cross-sectional views, respectively.

【図22】従来例の斜視図である。FIG. 22 is a perspective view of a conventional example.

【図23】同上の概略図である。FIG. 23 is a schematic view of the above.

【図24】同上の問題点を示す概略構成図である。FIG. 24 is a schematic configuration diagram showing the above problems.

【図25】他の従来例を示すものであり、(a),
(b)はそれぞれ断面図である。
FIG. 25 shows another conventional example, (a),
(B) is a sectional view.

【図26】さらに他の従来例を示すものであり、
(a),(b)はそれぞれ断面図である。
FIG. 26 shows still another conventional example,
(A), (b) is sectional drawing, respectively.

【図27】さらに他の従来例を示すものであり、
(a),(b)はそれぞれ断面図である。
FIG. 27 shows still another conventional example,
(A), (b) is sectional drawing, respectively.

【図28】さらに他の従来例を示す概略図である。FIG. 28 is a schematic view showing still another conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 Xミラー 2 Yミラー 3 Zミラー 4 基体 5 レーザ発振器 6 パワー可変機構 7 ビーム径可変機構 8 立体表面 9 導体回路パターン 10 導体膜 11 感光性エッチング膜 12 下地導体膜 13 感光性絶縁膜 14 導体金属 15 光反応性材料 16 蒸着膜 17 導体層 18 粉末 19 感光性耐メッキ膜 1 X Mirror 2 Y Mirror 3 Z Mirror 4 Substrate 5 Laser Oscillator 6 Power Variable Mechanism 7 Beam Diameter Variable Mechanism 8 Solid Surface 9 Conductor Circuit Pattern 10 Conductor Film 11 Photosensitive Etching Film 12 Base Conductor Film 13 Photosensitive Insulating Film 14 Conductor Metal 15 Photoreactive Material 16 Vapor Deposition Film 17 Conductor Layer 18 Powder 19 Photosensitive Plating Resistant Film

フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B23K 26/08 N 7425−4E C23C 16/48 8116−4K G02B 26/10 101 H01S 3/101 8934−4M H05K 3/06 E 6921−4E 3/08 D 6921−4E 3/10 C 7511−4E 3/14 7511−4E 3/18 D 7511−4E (72)発明者 鎌田 策雄 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 大谷 隆児 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 鈴木 俊之 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 岡本 剛 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内Continuation of front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI Technical display location B23K 26/08 N 7425-4E C23C 16/48 8116-4K G02B 26/10 101 H01S 3/101 8934-4M H05K 3/06 E 6921-4E 3/08 D 6921-4E 3/10 C 7511-4E 3/14 7511-4E 3/18 D 7511-4E (72) Inventor Sakuo Kamata 1048 Kadoma, Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Inside the Electric Works Co., Ltd. (72) Inventor Takako Otani 1048, Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Works Co., Ltd. (72) Toshiyuki Suzuki, 1048, Kadoma, Kadoma City, Osaka Matsushita Electric Works Co., Ltd. Inventor Tsuyoshi Okamoto 1048, Kadoma, Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Works Co., Ltd.

Claims (24)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザ光をX軸方向及びY軸方向にX・
Yミラーで反射させると共にこの反射されたレーザ光を
さらにZ軸方向にZミラーで反射させて基体の表面にレ
ーザ光を照射することを特徴とするレーザ照射方法。
1. A laser beam is applied to the X-axis direction and the Y-axis direction by X.
A laser irradiation method characterized in that the laser light is reflected by a Y mirror and the reflected laser light is further reflected by a Z mirror in the Z-axis direction to irradiate the surface of the substrate with the laser light.
【請求項2】 レーザ光の光路に応じてレーザ光の照射
パワー、照射スポット径、基体の表面でのレーザ光の走
査速度の少なくとも一つを変えて基体の表面にレーザ光
を照射することを特徴とする請求項1に記載のレーザ照
射方法。
2. Irradiating the laser beam on the surface of the substrate by changing at least one of the irradiation power of the laser beam, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser beam on the surface of the substrate according to the optical path of the laser beam. The laser irradiation method according to claim 1, which is characterized in that.
【請求項3】 基体の表面へのレーザ光の入射角度に応
じてレーザ光の照射パワー、照射スポット径、基体の表
面でのレーザ光の走査速度の少なくとも一つを変えて基
体の表面にレーザ光を照射することを特徴とする請求項
1又は2に記載のレーザ照射方法。
3. The laser on the surface of the substrate is changed by changing at least one of the irradiation power of the laser light, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser light on the surface of the substrate according to the incident angle of the laser light on the surface of the substrate. The laser irradiation method according to claim 1 or 2, wherein light is irradiated.
【請求項4】 基体の表面の所定の照射箇所に入射する
レーザ光の光路が複数路あるときは最短距離の光路を選
択して基体の表面にレーザ光を照射することを特徴とす
る請求項1乃至3のいずれかに記載のレーザ照射方法。
4. The laser light is irradiated onto the surface of the substrate by selecting the shortest optical path when there are a plurality of optical paths of the laser light incident on a predetermined irradiation position on the surface of the substrate. 4. The laser irradiation method according to any one of 1 to 3.
【請求項5】 基体の表面の所定の照射箇所に入射する
レーザ光の光路が複数路あるときは基体の表面の入射角
度が法線方向に最も近い光路を選択して基体の表面にレ
ーザ光を照射することを特徴とする請求項1乃至3のい
ずれかに記載のレーザ照射方法。
5. When there are a plurality of optical paths of laser light incident on a predetermined irradiation position on the surface of the substrate, the optical path whose incident angle on the surface of the substrate is closest to the normal direction is selected to select the laser beam on the surface of the substrate. The laser irradiation method according to claim 1, wherein the laser irradiation method is irradiating.
【請求項6】 X・Yミラーの反射のみで基体の表面に
レーザ光を照射できるときはZミラーを使用しないよう
にZミラーの使用を選択可能にしたことを特徴とする請
求項1乃至5のいずれかに記載のレーザ照射方法。
6. The use of a Z mirror can be selected so that the Z mirror is not used when the surface of the substrate can be irradiated with laser light only by the reflection of the X and Y mirrors. The laser irradiation method according to any one of 1.
【請求項7】 レーザ光の光路に応じてレーザ光の照射
パワー、照射スポット径、基体の表面でのレーザ光の走
査速度の少なくとも一つを変えて基体の表面にレーザ光
を照射することを特徴とする請求項6に記載のレーザ照
射方法。
7. The surface of the substrate is irradiated with the laser beam by changing at least one of the irradiation power of the laser beam, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser beam on the surface of the substrate according to the optical path of the laser beam. The laser irradiation method according to claim 6, which is characterized in that.
【請求項8】 基体の表面へのレーザ光の入射角度に応
じてレーザ光の照射パワー、照射スポット径、基体の表
面でのレーザ光の走査速度の少なくとも一つを変えて基
体の表面にレーザ光を照射することを特徴とする請求項
6又は7に記載のレーザ照射方法。
8. The laser on the surface of the substrate is changed by changing at least one of the irradiation power of the laser light, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser light on the surface of the substrate according to the incident angle of the laser light on the surface of the substrate. The laser irradiation method according to claim 6 or 7, wherein light is irradiated.
【請求項9】 レーザ光を発振するレーザ発振器と、レ
ーザ発振器から発振されたレーザ光をX軸方向及びY軸
方向に反射させるX・Yミラーと、X・Yミラーで反射
されたレーザ光を基体に向けて反射させるZミラーとを
具備して成ることを特徴とするレーザ照射装置。
9. A laser oscillator that oscillates laser light, an XY mirror that reflects the laser light oscillated from the laser oscillator in the X-axis direction and the Y-axis direction, and laser light that is reflected by the XY mirror. A laser irradiation device comprising: a Z mirror that reflects the light toward a substrate.
【請求項10】 レーザ光の照射パワーを変えるパワー
可変機構をレーザ光の光路に設けて成ることを特徴とす
る請求項9に記載のレーザ照射装置。
10. The laser irradiation apparatus according to claim 9, wherein a power variable mechanism for changing the irradiation power of the laser light is provided in the optical path of the laser light.
【請求項11】 レーザ光のビーム径を変えるビーム径
可変機構をレーザ光の光路に設けて成ることを特徴とす
る請求項9又は10に記載のレーザ照射装置。
11. The laser irradiation apparatus according to claim 9, wherein a beam diameter changing mechanism for changing the beam diameter of the laser light is provided in the optical path of the laser light.
【請求項12】 Zミラーを可動に形成して成ることを
特徴とする請求項9乃至11のいずれかに記載のレーザ
照射装置。
12. The laser irradiation apparatus according to claim 9, wherein a Z mirror is movably formed.
【請求項13】 Zミラーが円筒状、円錐状、球面鏡、
非球面鏡のいずれかに形成されていることを特徴とする
請求項9乃至12のいずれかに記載のレーザ照射装置。
13. The Z mirror is cylindrical, conical, spherical mirror,
The laser irradiation device according to claim 9, wherein the laser irradiation device is formed on any of the aspherical mirrors.
【請求項14】 Zミラーに入射するレーザ光の起点が
Zミラーの中心軸と同軸でないことを特徴とする請求項
9乃至13のいずれかに記載のレーザ照射装置。
14. The laser irradiation apparatus according to claim 9, wherein the starting point of the laser light incident on the Z mirror is not coaxial with the central axis of the Z mirror.
【請求項15】 Zミラーが平面鏡であることを特徴と
する請求項9乃至12のいずれかに記載のレーザ照射装
置。
15. The laser irradiation apparatus according to claim 9, wherein the Z mirror is a plane mirror.
【請求項16】 請求項1乃至8のいずれかに記載のレ
ーザ照射方法を用いて基体の立体表面にレーザ光を照射
することによって、レーザ光による描画形状に応じたパ
ターンで基体の立体表面に導体回路パターンを形成する
ことを特徴とする立体回路の形成方法。
16. A laser beam is irradiated onto the three-dimensional surface of the substrate by using the laser irradiation method according to claim 1, whereby the three-dimensional surface of the substrate is patterned in a pattern corresponding to a drawing shape by the laser beam. A method for forming a three-dimensional circuit, which comprises forming a conductor circuit pattern.
【請求項17】 基体の立体表面に導体膜を設けると共
にこの導体膜の上に感光性耐エッチング膜を設け、請求
項1乃至8のいずれかに記載のレーザ照射方法を用いて
感光性耐エッチング膜にレーザ光を照射して露光した後
に現像し、感光性耐エッチング膜の現像で露出される導
体膜をエッチングすることによって導体回路パターンを
形成することを特徴とする立体回路の形成方法。
17. A photosensitive film is provided on the three-dimensional surface of a substrate, and a photosensitive etching resistant film is provided on the conductive film, and the photosensitive etching resistant film is formed using the laser irradiation method according to claim 1. Description: A method for forming a three-dimensional circuit, comprising forming a conductor circuit pattern by irradiating a film with a laser beam, exposing the film, developing the film, and etching the conductor film exposed by the development of the photosensitive etching resistant film.
【請求項18】 基体の立体表面に下地導体膜を設ける
と共にこの下地導体膜の上に感光性絶縁膜を設け、請求
項1乃至8のいずれかに記載のレーザ照射方法を用いて
感光性絶縁膜にレーザ光を照射して露光した後に現像
し、感光性絶縁膜の現像で露出される下地導体膜の上に
導体金属を厚付けし、次に感光性絶縁膜を除去した後
に、導体金属で覆われない下地導体膜をエッチング除去
することによって導体回路パターンを形成することを特
徴とする立体回路の形成方法。
18. A photosensitive insulating film is provided by using the laser irradiation method according to claim 1, wherein a base conductor film is provided on a three-dimensional surface of a substrate, and a photosensitive insulating film is provided on the base conductor film. The film is irradiated with laser light to be exposed and then developed, and the conductive metal is thickly applied on the underlying conductive film exposed by the development of the photosensitive insulating film, and then the photosensitive insulating film is removed. A method for forming a three-dimensional circuit, comprising forming a conductor circuit pattern by etching and removing a base conductor film not covered with.
【請求項19】 基体の立体表面に感光性耐メッキ膜を
設け、請求項1乃至8のいずれかに記載のレーザ照射方
法を用いて感光性耐メッキ膜にレーザ光を照射して露光
した後に現像し、感光性耐メッキ膜の現像で露出される
基体の立体表面にメッキして導体金属を付着させること
によって導体回路パターンを形成することを特徴とする
立体回路の形成方法。
19. A photosensitive plating-resistant film is provided on the three-dimensional surface of a substrate, and the photosensitive plating-resistant film is irradiated with laser light by using the laser irradiation method according to claim 1, and then exposed. A method for forming a three-dimensional circuit, which comprises forming a conductor circuit pattern by developing and plating a three-dimensional surface of a substrate exposed by the development of a photosensitive anti-plating film to deposit a conductor metal.
【請求項20】 基体の立体表面に光反応性材料を塗布
し、請求項1乃至8のいずれかに記載のレーザ照射方法
を用いて光反応性材料にレーザ光を照射して、レーザ光
で露光された部分の光反応性材料を反応させると共に未
露光部分の光反応性材料を除去することによって光反応
性材料で導体回路パターンを形成することを特徴とする
立体回路の形成方法。
20. A photoreactive material is applied to the three-dimensional surface of a substrate, and the photoreactive material is irradiated with a laser beam by using the laser irradiation method according to claim 1, and the laser beam is applied. A method for forming a three-dimensional circuit, which comprises forming a conductor circuit pattern with the photoreactive material by reacting the photoreactive material in the exposed portion and removing the photoreactive material in the unexposed portion.
【請求項21】 反応ガス雰囲気中で基体の立体表面に
請求項1乃至8のいずれかに記載のレーザ照射方法を用
いてレーザ光を照射することによって、光CVD法で基
体の立体表面に蒸着膜を生成させることによって導体回
路パターンを形成することを特徴とする立体回路の形成
方法。
21. A three-dimensional surface of a substrate is vapor-deposited by a photo-CVD method by irradiating the three-dimensional surface of the substrate with a laser beam by using the laser irradiation method according to any one of claims 1 to 8 in a reaction gas atmosphere. A method for forming a three-dimensional circuit, comprising forming a conductor circuit pattern by forming a film.
【請求項22】 基体の立体表面に導体層を設け、請求
項1乃至8のいずれかに記載のレーザ照射方法を用いて
導体層にレーザ光を照射して、レーザ光で露光された部
分の導体層を除去するかもしくはレーザ光で露光された
部分の導体層を残して他の部分を除去することによっ
て、導体層で導体回路パターンを形成することを特徴と
する立体回路の形成方法。
22. A conductor layer is provided on the three-dimensional surface of a substrate, and the conductor layer is irradiated with a laser beam by using the laser irradiation method according to claim 1, and the portion exposed by the laser beam is irradiated. A method for forming a three-dimensional circuit, characterized in that a conductor circuit pattern is formed by a conductor layer by removing the conductor layer or removing the other portion while leaving the conductor layer exposed by the laser beam.
【請求項23】 基体の立体表面に、請求項1乃至8の
いずれかに記載のレーザ照射方法を用いてレーザ光を照
射することを特徴とする表面処理方法。
23. A surface treatment method, which comprises irradiating a three-dimensional surface of a substrate with laser light by using the laser irradiation method according to claim 1. Description:
【請求項24】 基体の立体表面に粉末を供給すると共
に、基体の立体表面に請求項1乃至8のいずれかに記載
のレーザ照射方法を用いてレーザ光を照射することによ
って、レーザ光の照射箇所において基体の立体表面に粉
末を付着させることを特徴とする粉末付着方法。
24. Irradiation of laser light by supplying powder to the three-dimensional surface of the substrate and irradiating laser light to the three-dimensional surface of the substrate using the laser irradiation method according to claim 1. A powder deposition method, characterized in that powder is deposited on a three-dimensional surface of a substrate at a location.
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