JP3175994B2 - Laser irradiation method and laser irradiation apparatus, and three-dimensional circuit forming method, surface treatment method, and powder adhering method - Google Patents

Laser irradiation method and laser irradiation apparatus, and three-dimensional circuit forming method, surface treatment method, and powder adhering method

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JP3175994B2 JP08834893A JP8834893A JP3175994B2 JP 3175994 B2 JP3175994 B2 JP 3175994B2 JP 08834893 A JP08834893 A JP 08834893A JP 8834893 A JP8834893 A JP 8834893A JP 3175994 B2 JP3175994 B2 JP 3175994B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、基体の表面にレーザ光
を照射する方法及びその装置、並びにこのレーザ光照射
技術を用いた立体回路の形成方法、表面処理方法、粉末
付着方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for irradiating a surface of a substrate with a laser beam, and a method for forming a three-dimensional circuit, a surface treatment method and a powder adhering method using the laser beam irradiation technique. is there.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】基体4
の表面にレーザ光Lを照射すると共にレーザ光Lを走査
させて基体4の表面に描画する一般的な方法として、図
22のようなガルバノメータを操作しておこなう方法が
良く知られている。図22のものは、Xガルバノメータ
21の回動軸21aにXミラー1が、Yガルバノメータ
22の回動軸22aにYミラー2がそれぞれ取り付けて
あり、Xガルバノメータ21の回動軸21aとYガルバ
ノメータ22の回動軸22aは直交するように配置して
ある。そしてレーザ発振器から発振されたレーザ光Lは
Xミラー1で反射されると共にさらにYミラー2で反射
され、基体1の表面に照射されるようになっており、X
ガルバノメータ21及びYガルバノメータ22を制御し
て、Xミラー1を回動軸21aで回動させてレーザ光L
の反射角度をX軸に沿って変位させると共にYミラー2
を回動軸22aで回動させてレーザ光Lの反射角度をY
軸に沿って変位させることによって、基体4の表面に沿
ってレーザ光Lを走査させてレーザ光Lによって任意の
パターンに描画することができるのである。
2. Description of the Related Art Base 4
As a general method of irradiating the surface of the substrate 4 with the laser light L and scanning the laser light L to draw on the surface of the base 4, a method of operating a galvanometer as shown in FIG. 22 is well known. In FIG. 22, the X mirror 1 is attached to the rotation axis 21a of the X galvanometer 21 and the Y mirror 2 is attached to the rotation axis 22a of the Y galvanometer 22, and the rotation axis 21a of the X galvanometer 21 and the Y galvanometer 22 are attached. Are arranged to be orthogonal to each other. The laser light L oscillated from the laser oscillator is reflected by the X mirror 1 and further reflected by the Y mirror 2 to irradiate the surface of the base 1.
By controlling the galvanometer 21 and the Y galvanometer 22, the X mirror 1 is rotated about the rotation shaft 21a, and the laser light L
The reflection angle of the mirror along the X axis and the Y mirror 2
Is rotated by the rotation shaft 22a to change the reflection angle of the laser light L to Y.
By displacing along the axis, the laser beam L can be scanned along the surface of the base 4 and drawn in an arbitrary pattern by the laser beam L.

【0003】しかし、図22の方法は基体4の平面とし
て形成された表面に二次元的に描画する場合には問題が
ないが、図23のように基体4の表面が三次元的な立体
表面8として形成されている場合には、立体表面8の突
部8aの表面と凹部8bの表面とはX・Yミラー1,2
からの距離が異なるために、レーザ光Lの照射のスポッ
ト径が変化すると共にレーザ光Lの走査速度も変化し、
さらにレーザ光Lの照射パワーも変化することになり、
レーザ光Lによる描画パターンの精度が悪くなるもので
あった。
However, the method shown in FIG. 22 has no problem when two-dimensionally drawing on the surface formed as a plane of the substrate 4, but the surface of the substrate 4 has a three-dimensional surface as shown in FIG. 8, the surface of the projection 8a of the three-dimensional surface 8 and the surface of the recess 8b are
Since the distance from the laser beam L is different, the irradiation spot diameter of the laser beam L changes and the scanning speed of the laser beam L also changes,
Furthermore, the irradiation power of the laser light L will also change,
The accuracy of the pattern drawn by the laser beam L is deteriorated.

【0004】上記図23の場合のように基体4の立体表
面8の突部8aと凹部8bの間が傾斜面8cで形成され
ているときには、描画パターンの精度が悪くなることを
容認すれば基体4の立体表面8に三次元的にレーザ光L
を照射することが可能である。しかし、図24の場合の
ように、基体4の立体表面8の突部8aと凹部8bの間
が垂直面8dで形成されているときには、垂直面8dは
影になってレーザ光Lを照射することが不可能になるこ
とがあり、基体4の立体表面8に三次元的にレーザ光L
を照射することができなくなるという問題があった。
When the inclined surface 8c is formed between the protrusion 8a and the concave portion 8b of the three-dimensional surface 8 of the base 4 as in the case of FIG. The three-dimensional surface 8 of the laser beam L
Can be irradiated. However, when the vertical surface 8d is formed between the projection 8a and the concave portion 8b of the three-dimensional surface 8 of the base 4 as in the case of FIG. 24, the vertical surface 8d becomes a shadow and emits the laser beam L. In some cases, laser light L is three-dimensionally applied to the three-dimensional surface 8 of the base 4.
Irradiation cannot be performed.

【0005】一方、基体4の表面に導体回路パターン9
を形成してプリント配線板などを作成するにあたって、
導体回路パターン9を立体形状に設けた立体回路板とし
て作成することがおこなわれている。図25乃至図27
は立体回路板を製造する従来の方法を示すものであり、
図25のものは同図(a)のように平板状の基体4の平
面として形成される表面に導体回路パターン9を形成し
た後に、加圧成形あるいは曲げ成形することによって同
図(b)のように基体4を屈曲させて、導体回路パター
ン9を立体形状に形成するようにしたものである。また
図26のものは同図(a)のように予め屈曲成形してお
いた基体4の表面に導体回路パターン9を設けたフィル
ム23を貼り付けることによって、同図(b)のように
導体回路パターン9を立体形状に形成するようにしたも
のである。さらに図27のものは同図(a)のように金
型24のキャビティ25内に予め導体回路パターン9を
形成しておき、金型24のキャビティ25内に樹脂を射
出成形して基体4を成形すると共に基体4の表面に同図
(b)のように導体回路パターン9を転写することによ
って、基体4に導体回路パターン9を立体形状に形成す
るようにしたものである。
On the other hand, a conductive circuit pattern 9
In forming a printed wiring board etc. by forming
The conductor circuit pattern 9 is formed as a three-dimensional circuit board provided in a three-dimensional shape. 25 to 27
Shows a conventional method of manufacturing a three-dimensional circuit board,
25A is formed by forming a conductive circuit pattern 9 on the surface formed as a flat surface of the flat substrate 4 as shown in FIG. In this manner, the base 4 is bent so that the conductive circuit pattern 9 is formed in a three-dimensional shape. In the case of FIG. 26, a film 23 provided with a conductor circuit pattern 9 is attached to the surface of a substrate 4 which has been bent and formed in advance as shown in FIG. The circuit pattern 9 is formed in a three-dimensional shape. 27, the conductor circuit pattern 9 is previously formed in the cavity 25 of the mold 24 as shown in FIG. The conductor circuit pattern 9 is formed on the substrate 4 in a three-dimensional shape by molding and transferring the conductor circuit pattern 9 to the surface of the substrate 4 as shown in FIG.

【0006】しかし、図25のものでは、基体4を変形
させるための負荷が加わるために、導体回路パターン9
が基体4の表面から剥離するおそれがあり、また導体回
路パターン9の位置や基体4の形状を精度良く複雑に形
成することが難しいという問題もあった。また図26の
ものでは、導体回路パターン9を設けたフィルム21を
基体4の表面に精度良く貼り付けるのが難しく、また複
雑な形状の基体4に対応するのは難しいという問題があ
った。さらに図27のものでは、金型24の形状が複雑
になると共に、このものでも形状が複雑な基体4に対応
することができないという問題があった。そしてこれら
図25乃至図27のものではいずれも、基体4の表面に
直接立体的に導体回路パターン9を形成するものではな
いために、製造工程が複雑になるという問題もあった。
However, in FIG. 25, since a load for deforming the base 4 is applied, the conductor circuit pattern 9 is not provided.
However, there is also a problem that it is difficult to form the position of the conductive circuit pattern 9 and the shape of the base 4 in a complicated and accurate manner. 26 has a problem that it is difficult to accurately attach the film 21 provided with the conductor circuit pattern 9 to the surface of the base 4 and it is difficult to cope with the base 4 having a complicated shape. Further, in the case of FIG. 27, there is a problem that the shape of the mold 24 becomes complicated, and it is impossible to cope with the substrate 4 having a complicated shape. 25 to 27, there is also a problem that the manufacturing process becomes complicated because the conductor circuit pattern 9 is not formed three-dimensionally directly on the surface of the base 4.

【0007】このために、基体4の立体表面8に導体回
路パターン9を直接設ける方法が特開平2−26529
3号公報において提供されている。すなわち、基体4の
立体表面に金属層を設けると共に金属層の上に感光性レ
ジスト層を形成し、図28のように基体4をNC加工台
27の上にセットし、レーザ発振器5からのレーザ光L
をレーザ照射ヘッド28で集束して基体4に照射すると
共にNC制御器29によってNC加工台27を駆動して
レーザ光Lの集束ビームを基体4の立体表面8に沿って
走査させることによって、走査したパターン形状で感光
性レジスト層を露光するようにしてある。図28におい
て30は制御用コンピュータ、31はセンサコントロー
ラ、32は非接触距離センサーである。そしてこのよう
に基体4の立体表面8の感光性レジスト層にレーザ光L
を照射してパターン形状に露光した後、現像し、次に感
光性レジスト層の現像で露出する金属層をエッチング除
去することによって、基体4の立体表面8に導体回路パ
ターン9を形成するようにしてある。
For this purpose, a method of directly providing the conductor circuit pattern 9 on the three-dimensional surface 8 of the base 4 is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 26529/1990.
No. 3 publication. That is, a metal layer is provided on the three-dimensional surface of the base 4 and a photosensitive resist layer is formed on the metal layer. The base 4 is set on the NC processing table 27 as shown in FIG. Light L
Is focused by the laser irradiation head 28 to irradiate the base 4, and the NC controller 29 drives the NC processing table 27 to scan the focused beam of the laser light L along the three-dimensional surface 8 of the base 4. The photosensitive resist layer is exposed in the formed pattern shape. In FIG. 28, 30 is a control computer, 31 is a sensor controller, and 32 is a non-contact distance sensor. Then, the laser light L is applied to the photosensitive resist layer on the three-dimensional surface 8 of the base 4 as described above.
After exposure to a pattern shape by irradiating, a metal layer exposed by development of the photosensitive resist layer is etched away to form a conductive circuit pattern 9 on the three-dimensional surface 8 of the base 4. It is.

【0008】このように特開平2−265293号公報
のものではレーザ光Lを基体4の立体表面8に照射する
ことによって導体回路パターン9を形成するようにして
いるが、このものではNC加工台27を動かすことによ
ってレーザ光Lによる照射を走査させるようにしている
ために露光スピードに限界があり、また上記図22のも
のの場合と同様に立体表面8の形状によってはレーザ光
Lを照射できないことがあり、基体4の立体表面8の形
状によっては導体回路パターン9を形成することができ
ないという問題があった。
As described above, in Japanese Unexamined Patent Publication No. 2-265293, the conductor circuit pattern 9 is formed by irradiating the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 with the laser beam L. There is a limit to the exposure speed because the irradiation by the laser beam L is scanned by moving the laser beam 27, and the laser beam L cannot be irradiated depending on the shape of the three-dimensional surface 8 as in the case of FIG. There is a problem that the conductor circuit pattern 9 cannot be formed depending on the shape of the three-dimensional surface 8 of the base 4.

【0009】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、基体の立体表面に三次元的にレーザ光を照射する
ことができるようにし、また基体の立体表面の形状によ
って制限を受けることなく導体回路パターンを形成する
ことができるようにすることを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above points, and has an object to irradiate a three-dimensional laser beam onto a three-dimensional surface of a substrate and to be limited by the shape of the three-dimensional surface of the substrate. It is an object of the present invention to be able to form a conductor circuit pattern without using the same.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明に係るレーザ照射
方法は、レーザ光LをX軸方向及びY軸方向にX・Yミ
ラー1,2で反射させると共にこの反射されたレーザ光
LをさらにZ軸方向にZミラー3で反射させて基体4の
表面にレーザ光Lを照射するにあたって、レーザ光Lの
光路に応じてレーザ光Lの照射パワー、照射スポット
径、基体4の表面でのレーザ光Lの走査速度の少なくと
も一つを変えて基体4の表面にレーザ光Lを照射する
とを特徴とするものである。
According to the laser irradiation method of the present invention, the laser beam L is reflected by the X and Y mirrors 1 and 2 in the X-axis direction and the Y-axis direction, and the reflected laser beam L is further reflected. When irradiating the surface of the substrate 4 with the laser beam L by reflecting the laser beam L in the Z-axis direction , the laser beam L
Irradiation power and irradiation spot of laser beam L according to optical path
Diameter, the scanning speed of the laser beam L on the surface of the substrate 4 should be small.
Also characterized in the this <br/> irradiating the surface of the substrate 4 by changing the one laser beam L.

【0011】発明にあって、基体4の表面へのレーザ
光Lの入射角度に応じてレーザ光Lの照射パワー、照射
スポット径、基体4の表面でのレーザ光Lの走査速度の
少なくとも一つを変えて基体4の表面にレーザ光Lを照
射することもできる。
According to the present invention, at least one of the irradiation power of the laser beam L, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser beam L on the surface of the substrate 4 according to the angle of incidence of the laser beam L on the surface of the substrate 4. Alternatively, the surface of the base 4 can be irradiated with the laser beam L.

【0012】本発明にあって、基体4の表面の所定の照
射箇所に入射するレーザ光Lの光路が複数路あるときは
最短距離の光路を選択して基体4の表面にレーザ光Lを
照射することができる。また本発明にあって、基体4の
表面の所定の照射箇所に入射するレーザ光Lの光路が複
数路あるときは基体4の表面の入射角度が法線方向に最
も近い光路を選択して基体4の表面にレーザ光Lを照射
することもできる。
In the present invention, when there are a plurality of optical paths of the laser beam L incident on a predetermined irradiation location on the surface of the substrate 4, the shortest distance optical path is selected and the surface of the substrate 4 is irradiated with the laser beam L. can do. Further, in the present invention, when there are a plurality of optical paths of the laser beam L incident on a predetermined irradiation location on the surface of the substrate 4, the optical path whose incident angle on the surface of the substrate 4 is closest to the normal direction is selected. 4 can be irradiated with the laser beam L.

【0013】本発明では、X・Yミラー1,2の反射の
みで基体4の表面にレーザ光Lを照射できるときはZミ
ラー3を使用しないように選択可能にしてもよく、この
場合において、レーザ光Lの光路に応じてレーザ光Lの
照射パワー、照射スポット径、基体4の表面でのレーザ
光Lの走査速度の少なくとも一つを変えて基体4の表面
にレーザ光Lを照射するようにしてもよい。
In the present invention, when capable of irradiating a laser beam L on the surface of the substrate 4 reflected only in the X · Y mirror 1 and 2 rather good even allow choose not to use the Z mirror 3, in this case The surface of the base 4 is irradiated with the laser light L by changing at least one of the irradiation power of the laser light L, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser light L on the surface of the base 4 in accordance with the optical path of the laser light L. You may do so.

【0014】またこの場合において、基体4の表面への
レーザ光Lの入射角度に応じてレーザ光Lの照射パワ
ー、照射スポット径、基体4の表面でのレーザ光Lの走
査速度の少なくとも一つを変えて基体4の表面にレーザ
光Lを照射するようにしてもよい。本発明に係るレーザ
照射装置は、レーザ光Lを発振するレーザ発振器5と、
レーザ発振器5から発振されたレーザ光LをX軸方向及
びY軸方向に反射させるX・Yミラー1,2と、X・Y
ミラー1,2で反射されたレーザ光Lを基体3に向けて
反射させるZミラー3とを具備し、Zミラー3を可動に
形成して成ることを特徴とするものである。
In this case, at least one of the irradiation power of the laser beam L, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser beam L on the surface of the substrate 4 according to the angle of incidence of the laser beam L on the surface of the substrate 4. Alternatively, the surface of the base 4 may be irradiated with the laser beam L. The laser irradiation device according to the present invention includes: a laser oscillator 5 that oscillates a laser beam L;
XY mirrors 1 and 2 for reflecting the laser light L oscillated from the laser oscillator 5 in the X-axis direction and the Y-axis direction;
A Z mirror 3 for reflecting the laser beam L reflected by the mirrors 1 and 2 toward the base 3 so that the Z mirror 3 is movable.
It is characterized by being formed .

【0015】[0015]

【0016】本発明では、Zミラー3を円筒状、円錐
状、球面鏡、非球面鏡のいずれかに形成することができ
る。また本発明では、Zミラー3に入射するレーザ光L
の起点がZミラー3の中心軸と同軸でないようにするの
がよい
In the present invention, the Z mirror 3 can be formed in any one of a cylindrical shape, a conical shape, a spherical mirror, and an aspherical mirror. In the present invention, the laser light L incident on the Z mirror 3 is
Is not coaxial with the center axis of the Z mirror 3 .

【0017】本発明に係る立体回路の製造方法は、上記
のレーザ照射方法を用いて基体4の立体表面8にレーザ
光Lを照射することによって、レーザ光Lによる描画形
状に応じたパターンで基体4の立体表面8に導体回路パ
ターン9を形成することを特徴とするものである。また
本発明に係る立体回路の製造方法は、基体4の立体表面
8に導体膜10を設けると共にこの導体膜10の上に感
光性耐エッチング膜11を設け、上記のレーザ照射方法
を用いて感光性耐エッチング膜11にレーザ光Lを照射
して露光した後に現像し、感光性耐エッチング膜11の
現像で露出される導体膜10をエッチングすることによ
って導体回路パターン9を形成することを特徴とするも
のである。
In the method of manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention, the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is irradiated with the laser light L by using the above-described laser irradiation method, so that the substrate is formed in a pattern corresponding to the drawing shape by the laser light L. The conductor circuit pattern 9 is formed on the three-dimensional surface 8 of the fourth embodiment. Further, in the method of manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention, a conductive film 10 is provided on the three-dimensional surface 8 of the base 4 and a photosensitive etching resistant film 11 is provided on the conductive film 10. The conductive circuit pattern 9 is formed by irradiating the photosensitive etching resistant film 11 with a laser beam L, exposing it to light, developing the exposed film, and etching the conductive film 10 exposed by the development of the photosensitive etching resistant film 11. Is what you do.

【0018】また本発明に係る立体回路の製造方法は、
基体4の立体表面8に下地導体膜12を設けると共にこ
の下地導体膜12の上に感光性絶縁膜13を設け、上記
のレーザ照射方法を用いて感光性絶縁膜13にレーザ光
Lを照射して露光した後に現像し、感光性絶縁膜13の
現像で露出される下地導体膜12の上に導体金属14を
厚付けし、次に感光性絶縁膜13を除去した後に、導体
金属14で覆われない下地導体膜12をエッチング除去
することによって導体回路パターン9を形成することを
特徴とするものである。
Further, the method for manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention comprises:
A base conductor film 12 is provided on the three-dimensional surface 8 of the base 4 and a photosensitive insulating film 13 is provided on the base conductor film 12. The photosensitive insulating film 13 is irradiated with a laser beam L by using the laser irradiation method described above. After exposure and development, the conductive metal 14 is thickened on the underlying conductive film 12 exposed by the development of the photosensitive insulating film 13, and after the photosensitive insulating film 13 is removed, the conductive metal 14 is covered with the conductive metal 14. The conductive circuit pattern 9 is formed by etching and removing the underlying conductive film 12 which is not covered.

【0019】また本発明に係る立体回路の製造方法は、
基体4の立体表面8に感光性耐メッキ膜19を設け、上
記のレーザ照射方法を用いて感光性耐メッキ膜19にレ
ーザ光Lを照射して露光した後に現像し、感光性耐メッ
キ膜19の現像で露出される基体4の立体表面8にメッ
キして導体金属14を付着させることによって導体回路
パターン9を形成することを特徴とするものである。
Further, the method for manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention comprises:
A photosensitive plating-resistant film 19 is provided on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4, and the photosensitive plating-resistant film 19 is exposed to laser light L by using the above-described laser irradiation method, exposed to light, and developed. The conductive circuit pattern 9 is formed by plating the three-dimensional surface 8 of the base 4 exposed by the development of the above and attaching the conductive metal 14 thereto.

【0020】また本発明に係る立体回路の製造方法は、
基体4の立体表面8に光反応性材料15を塗布し、請求
項1乃至のいずれかに記載のレーザ照射方法を用いて
光反応性材料15にレーザ光Lを照射して、レーザ光L
で露光された部分の光反応性材料15を反応させると共
に未露光部分の光反応性材料15を除去することを特徴
とするものである。
Further, the method of manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention comprises:
The photoreactive material 15 is applied to the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is irradiated with laser light L to the light reactive material 15 by using the laser irradiation method according to any one of claims 1 to 6, the laser beam L
And reacting the exposed portion of the photoreactive material 15 and removing the unexposed portion of the photoreactive material 15.

【0021】また本発明に係る立体回路の製造方法は、
反応ガス雰囲気中で基体4の立体表面8に上記のレーザ
照射方法を用いてレーザ光Lを照射することによって、
光CVD法で基体4の立体表面8に蒸着膜16を生成さ
せて導体回路パターン9を形成することを特徴とするも
のである。さらに本発明に係る立体回路の製造方法は、
基体4の立体表面8に導体層17を設け、上記のレーザ
照射方法を用いて導体層17にレーザ光Lを照射して、
レーザ光Lで露光された部分の導体層17を除去するか
もしくはレーザ光Lで露光された部分の導体層17を残
して他の部分を除去することによって、導体層17で導
体回路パターン9を形成することを特徴とするものであ
る。
Further, the method of manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention
By irradiating the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 with the laser beam L using the above-described laser irradiation method in a reaction gas atmosphere,
A conductive circuit pattern 9 is formed by forming a vapor-deposited film 16 on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 by a photo-CVD method. Further, the method of manufacturing a three-dimensional circuit according to the present invention,
The conductor layer 17 is provided on the three-dimensional surface 8 of the base 4, and the conductor layer 17 is irradiated with the laser beam L using the laser irradiation method described above.
The conductor circuit pattern 9 is formed by the conductor layer 17 by removing the portion of the conductor layer 17 exposed to the laser beam L or removing the other portion while leaving the portion of the conductor layer 17 exposed to the laser beam L. It is characterized by forming.

【0022】また本発明に係る表面処理方法は、基体4
の立体表面8に、上記のレーザ照射方法を用いてレーザ
光Lを照射することを特徴とするものである。さらに本
発明に係る粉末付着方法は、基体4の立体表面8に粉末
18を供給すると共に、基体4の立体表面8に上記のレ
ーザ照射方法を用いてレーザ光Lを照射することによっ
て、レーザ光Lの照射箇所において基体4の立体表面8
に粉末18を付着させることを特徴とするものである。
In the surface treatment method according to the present invention, the substrate 4
The three-dimensional surface 8 is irradiated with the laser beam L using the above-described laser irradiation method. Further, in the method for applying powder according to the present invention, the three-dimensional surface 8 of the base 4 is supplied with the powder 18 and the three-dimensional surface 8 of the base 4 is irradiated with the laser light L using the above-described laser irradiation method. The three-dimensional surface 8 of the substrate 4 at the irradiation position of L
The method is characterized in that powder 18 is adhered to the substrate.

【0023】[0023]

【作用】レーザ光LをX軸方向及びY軸方向にX・Yミ
ラー1,2で反射させると共にこの反射されたレーザ光
LをさらにZ軸方向にZミラー3で反射させて基体4の
立体表面8にレーザ光Lを照射することによって、X・
Yミラー1,2で基体4のX軸方向及びY軸方向にレー
ザ光Lを走査させることができると共にZミラー3でレ
ーザ光LをZ軸方向に反射させて基体4のZ軸方向にレ
ーザ光Lを走査させることができ、基体4の立体表面8
に三次元的にレーザ光Lを照射することができる。また
このように基体4の立体表面8に三次元的にレーザ光L
を照射することができるために、基体4の立体表面8の
形状によって制限を受けることなく導体回路パターン9
を形成することができる。
The laser beam L is reflected by the X and Y mirrors 1 and 2 in the X-axis direction and the Y-axis direction, and the reflected laser beam L is further reflected by the Z mirror 3 in the Z-axis direction to form a three-dimensional By irradiating the surface 8 with the laser beam L, X ·
The laser light L can be scanned in the X-axis direction and the Y-axis direction of the base 4 by the Y mirrors 1 and 2, and the laser light L is reflected in the Z-axis direction by the Z mirror 3 so that the laser beam can be scanned in the Z-axis direction of the base 4. The light L can be scanned, and the three-dimensional surface 8
Can be three-dimensionally irradiated with the laser light L. Further, as described above, the laser light L is three-dimensionally formed on the three-dimensional surface 8 of the base 4.
Irradiates the conductor circuit pattern 9 without being limited by the shape of the three-dimensional surface 8 of the base 4.
Can be formed.

【0024】[0024]

【実施例】以下本発明を実施例によって詳述する。図1
は本発明の一実施例を原理的に示すものであり、基体4
の立体表面8の上方にXミラー1とYミラー2が配設し
てある。このX・Yミラー1,2は図22の場合と同様
にXガルバノメータ21やYガルバノメータ22に取り
付けてある。またZミラー3はX・Yミラー1,2と基
体4との間において基体4の側方に配設してある。また
図2に示すように制御機器34によってレーザ発振器5
を制御してレーザ光Lの発振を制御すると共に制御機器
34によってXガルバノメータ21やYガルバノメータ
22を制御してX・Yミラー1,2を回動制御するよう
にしてある。
The present invention will be described below in detail with reference to examples. FIG.
1 shows an embodiment of the present invention in principle.
The X mirror 1 and the Y mirror 2 are disposed above the three-dimensional surface 8. The XY mirrors 1 and 2 are attached to the X galvanometer 21 and the Y galvanometer 22 as in the case of FIG. The Z mirror 3 is disposed between the X / Y mirrors 1 and 2 and the base 4 on the side of the base 4. Further, as shown in FIG.
Is controlled to control the oscillation of the laser beam L, and the control device 34 controls the X-galvanometer 21 and the Y-galvanometer 22 to control the rotation of the XY mirrors 1 and 2.

【0025】しかして、レーザ発振器5から発振される
レーザ光LはXミラー1で反射されると共にさらにYミ
ラー2で反射され、基体1の立体表面に照射されるよう
になっており、Xミラー1を回動制御してレーザ光Lの
反射角度をX軸に沿って変位させると共にYミラー2を
回動制御してレーザ光Lの反射角度をY軸に沿って変位
させることによって、基体4の立体表面8に沿ってレー
ザ光Lを走査させて、レーザ光Lによって任意のパター
ンを描画することができる。X・Yミラー1,2でレー
ザ光Lを反射させると二次元描写になり、立体表面8の
突部8aの表面や凹部8bの表面、斜面8cには図1の
1 〜L5 に示すように入射させることができるが、垂
直面8dなど立体表面8にレーザ光Lを入射させること
ができない面には、X・Yミラー1,2で反射させたレ
ーザ光LをさらにZミラー3でZ軸方向に変位させるよ
うに反射させることによって、図1のL6 〜L10に示す
ように垂直面8d等にもレーザ光Lを照射することがで
きる。
The laser light L oscillated from the laser oscillator 5 is reflected by the X mirror 1 and further reflected by the Y mirror 2 so as to irradiate the three-dimensional surface of the base 1. By rotating the mirror 1 to displace the reflection angle of the laser beam L along the X-axis and controlling the rotation of the Y mirror 2 to displace the reflection angle of the laser beam L along the Y-axis, By scanning the laser light L along the three-dimensional surface 8, an arbitrary pattern can be drawn by the laser light L. When the laser beam L is reflected by the XY mirrors 1 and 2, a two-dimensional description is obtained. The surface of the projection 8 a of the three-dimensional surface 8, the surface of the concave portion 8 b, and the slope 8 c are indicated by L 1 to L 5 in FIG. The laser beam L reflected by the XY mirrors 1 and 2 is further reflected by the Z mirror 3 on a surface on which the laser beam L cannot be incident on the three-dimensional surface 8 such as the vertical surface 8d. by reflecting to displace in the Z-axis direction can also be irradiated with the laser beam L on the vertical surface 8d and the like as shown in L 6 ~L 10 of FIG.

【0026】このように、X・Yミラー1,2でレーザ
光LをX軸・Y軸方向に反射させると共にさらにZミラ
ー3でZ軸方向に反射させることによって、レーザ光L
を三次元的に走査させて基体4の立体表面8にレーザ光
Lを三次元描画させることができるものである。ここ
で、上記X,Y,Z軸は、水平面の直交する二つの軸が
X軸及びY軸、水平面と鉛直な軸がZ軸として各90°
で直交するものとして定義することができるが、厳密に
このような軸である必要は必ずしもなく、三次元的に三
つの方向を示す軸であればよい。
As described above, the laser beam L is reflected by the XY mirrors 1 and 2 in the X-axis and Y-axis directions and further reflected by the Z mirror 3 in the Z-axis direction.
Can be three-dimensionally scanned so that the laser light L can be three-dimensionally drawn on the three-dimensional surface 8 of the base 4. Here, the X, Y, and Z axes are 90 ° each with two axes orthogonal to the horizontal plane as the X axis and the Y axis, and the axis perpendicular to the horizontal plane as the Z axis.
Can be defined as orthogonal to each other, but it is not necessarily strictly such an axis, and any axis that shows three directions three-dimensionally may be used.

【0027】上記のように基体4の表面が三次元的な立
体表面8である場合には、立体表面8の突部8aの表面
と凹部8bの表面とはX・Yミラー1,2やZミラー3
からの距離が異なるために、レーザ光Lの光路長が変化
することになる。そしてこのようにレーザ光Lの光路長
が変化すると、光路長の変化に応じて立体表面8へのレ
ーザ光Lの照射のスポット径が変化し、また立体表面8
でのレーザ光Lの走査速度(描画速度)も変化し、さら
に立体表面8へのレーザ光Lの照射パワーも変化するこ
とになり、この結果、例えばレーザ光Lで露光をおこな
うときには露光のエネルギーが変化して一定の条件で露
光をおこなうことができなくなり、露光線幅が不安定に
なる。つまり、露光のエネルギー密度をE、照射パワー
をP、スポット径をA、走査速度をSとすると、E=P
/(A・S)となり、照射パワーP、スポット径A、走
査速度Sの一つでも変化するとエネルギー密度Eは変化
する。このことは逆にいえば、レーザ光Lの光路長の変
化に伴ってエネルギー密度Eが変化しようとするきに、
照射パワーP、スポット径A、走査速度Sのうち少なく
とも一つを変化させるように調整すれば、エネルギー密
度Eは常に一定にすることができるということを意味す
る。
When the surface of the base 4 is a three-dimensional three-dimensional surface 8 as described above, the surfaces of the projections 8a and the concave portions 8b of the three-dimensional surface 8 correspond to the X and Y mirrors 1, 2 and Z. Mirror 3
Since the distance from the laser beam L differs, the optical path length of the laser beam L changes. When the optical path length of the laser beam L changes in this way, the spot diameter of the irradiation of the laser beam L onto the three-dimensional surface 8 changes according to the change in the optical path length, and the three-dimensional surface 8
The scanning speed (drawing speed) of the laser light L in the laser beam L also changes, and the irradiation power of the laser light L on the three-dimensional surface 8 also changes. As a result, for example, when the exposure is performed with the laser light L, the energy of the exposure is increased. And exposure cannot be performed under certain conditions, and the exposure line width becomes unstable. That is, if the energy density of exposure is E, the irradiation power is P, the spot diameter is A, and the scanning speed is S, E = P
/ (A · S), and if any one of the irradiation power P, the spot diameter A, and the scanning speed S changes, the energy density E changes. Conversely, when the energy density E changes with the change of the optical path length of the laser light L,
Adjusting so as to change at least one of the irradiation power P, the spot diameter A, and the scanning speed S means that the energy density E can always be kept constant.

【0028】そこで本発明では、レーザ光Lの光路に応
じてレーザ光Lの照射パワーP、照射スポット径A、基
体4の表面でのレーザ光Lの走査速度Sの少なくとも一
つを変えて基体4の表面にレーザ光Lを照射することに
よって、基体4の立体表面8に常に一定のエネルギー条
件でレーザ光Lを照射できるようにしてある。図3はレ
ーザ光Lの光路長に応じてレーザ光Lの照射パワーPを
変えることができるようにした実施例を示すものであ
り、レーザ発振器5から発振されるレーザ光Lの光路中
にパワー可変機構6を設けるようにしてある。パワー可
変機構6は例えば図4に示すように、フィルター取付け
板35に円周方向に沿って複数箇所で通孔36を設ける
と共に、各通孔36にNDフィルターなど光透過率が異
なる複数種のフィルター37a,37b,37cを取り
付けて形成してあり、通孔36のうち一つはフィルター
を取り付けずに透過孔36aとしてある。このフィルタ
ー取付け板35はその中心軸35aを回動中心として制
御機構34によって回動制御されているものであり、レ
ーザ発振器5と基体4の立体表面8との間のレーザ光L
の光路長に応じて回動されるようになっている。例え
ば、レーザ発振器5と基体4の立体表面8との間におけ
るレーザ光Lの光路長が長いときには透過孔36aに通
してパワーを減衰させないで、逆にレーザ光Lの光路長
が短くなるにつれて光透過率が大きいフィルター37
a,37b,37cにレーザ光Lを通してパワーを減衰
させるようにすれば、常に一定の照射パワーで立体表面
8にレーザ光Lを照射することができるものであり、そ
してこのようにレーザ光Lの光透過率を調整することに
よって基体4の立体表面8への照射パワーを自由に変え
ることができるものである。図4の実施例では4段階で
照射パワーを変化させて調整することができるが、フィ
ルターの個数を増やすことによってさらに多段階で自由
に照射パワーを調整することが可能になるものである。
Therefore, in the present invention, at least one of the irradiation power P of the laser beam L, the irradiation spot diameter A, and the scanning speed S of the laser beam L on the surface of the substrate 4 is changed according to the optical path of the laser beam L. By irradiating the laser light L to the surface of the substrate 4, the laser light L can always be irradiated to the three-dimensional surface 8 of the base 4 under a constant energy condition. FIG. 3 shows an embodiment in which the irradiation power P of the laser light L can be changed in accordance with the optical path length of the laser light L. The power in the optical path of the laser light L oscillated from the laser oscillator 5 is shown in FIG. A variable mechanism 6 is provided. As shown in FIG. 4, for example, the variable power mechanism 6 has a plurality of through holes 36 provided in the filter mounting plate 35 at a plurality of positions along the circumferential direction, and a plurality of types of ND filters having different light transmittances in each through hole 36. Filters 37a, 37b, and 37c are attached and formed, and one of the through holes 36 is a transmission hole 36a without attaching a filter. The rotation of the filter mounting plate 35 is controlled by a control mechanism 34 about a center axis 35 a of the filter mounting plate 35, and the laser light L between the laser oscillator 5 and the three-dimensional surface 8 of the base 4 is adjusted.
Are rotated in accordance with the optical path length of the optical path. For example, when the optical path length of the laser light L between the laser oscillator 5 and the three-dimensional surface 8 of the base 4 is long, the power is not attenuated through the transmission hole 36a, and conversely, as the optical path length of the laser light L becomes shorter, Filter 37 with high transmittance
If the power is attenuated through the laser light L through the a, 37b, and 37c, the three-dimensional surface 8 can always be irradiated with the laser light L with a constant irradiation power. By adjusting the light transmittance, the irradiation power to the three-dimensional surface 8 of the base 4 can be freely changed. In the embodiment of FIG. 4, the irradiation power can be adjusted by changing the irradiation power in four stages, but the irradiation power can be freely adjusted in more stages by increasing the number of filters.

【0029】図5はレーザ光Lの光路長に応じてレーザ
光Lの照射スポット径(ビーム径)Aを変えることがで
きるようにした実施例を示すものであり、レーザ発振器
5から発振されるレーザ光Lの光路中にビーム径可変機
構7を設けるようにしてある。ビーム径可変機構7は例
えば図6(a)に示すように集光レンズ7aによって形
成してあり、集光レンズ7aはレーザ光Lの光路に沿っ
て前後移動駆動されるようにしてあり、この集光レンズ
7aの駆動は制御機器5で制御するようにしてある。そ
して例えば、レーザ発振器5と基体4の立体表面8との
間におけるレーザ光Lの光路長が短いときは、図6
(a)の破線位置から実線位置へとレーザ発振器5に近
づく方向に集光レンズ7aを移動させ、図6(b)の破
線から実線へとレーザ光Lの集束距離を短くして、基体
4の立体表面8でレーザ光Lを集束させることができ、
またレーザ光Lの光路長が長いときは、レーザ発振器5
から遠くなる方向に集光レンズ7aを移動させてレーザ
光Lの集束距離を短くすることによって、基体4の立体
表面8でレーザ光Lを集束させることができるものであ
り、集光レンズ7aをレーザ光Lの光路長に応じて光路
に沿って移動させることによって、常に一定のビーム径
で立体表面8にレーザ光Lを照射することができるもの
である。そしてこのように集光レンズ7aを移動させる
ことによって基体4の立体表面8へのレーザ光Lの照射
スポット径を自由に変えることができるものである。図
6(a)は一個の集光レンズ7aを用いたが、複数の集
光レンズを組み合わせによって、一層自由に照射スポッ
ト径を自由に変えることができるものである。
FIG. 5 shows an embodiment in which the irradiation spot diameter (beam diameter) A of the laser light L can be changed according to the optical path length of the laser light L. The beam diameter variable mechanism 7 is provided in the optical path of the laser light L. The beam diameter variable mechanism 7 is formed by, for example, a condenser lens 7a as shown in FIG. 6A, and the condenser lens 7a is driven to move back and forth along the optical path of the laser light L. The driving of the condenser lens 7a is controlled by the control device 5. For example, when the optical path length of the laser light L between the laser oscillator 5 and the three-dimensional surface 8 of the base 4 is short, FIG.
The focusing lens 7a is moved in the direction approaching the laser oscillator 5 from the position indicated by the broken line in FIG. 6A to the position indicated by the solid line, and the focusing distance of the laser beam L is shortened from the position indicated by the broken line in FIG. Laser beam L can be focused on the three-dimensional surface 8 of
When the optical path length of the laser light L is long, the laser oscillator 5
The laser beam L can be focused on the three-dimensional surface 8 of the base body 4 by moving the focusing lens 7a in a direction away from the laser beam L to shorten the focusing distance of the laser beam L. By moving the laser beam L along the optical path in accordance with the optical path length, the three-dimensional surface 8 can always be irradiated with the laser beam L with a constant beam diameter. By moving the condenser lens 7a in this way, the irradiation spot diameter of the laser light L on the three-dimensional surface 8 of the base 4 can be freely changed. Although FIG. 6A uses one condensing lens 7a, the irradiation spot diameter can be changed more freely by combining a plurality of condensing lenses.

【0030】また、レーザ光Lの光路に応じてレーザ光
Lの走査速度(描画速度)Sを変えるにあたっては、X
・Yミラー1,2の回動速度を調整することによってお
こなうことができる。また図7の実施例では、Zミラー
3を縦方向に回動駆動できるようにしてあり、Zミラー
3を回動させることによって基体4の立体表面8に沿っ
てレーザ光Lを走査させるようにすると共にZミラー3
の回動速度を調整することによって、基体4の立体表面
8でのレーザ光Lの走査速度Sを変えることができるよ
うにしてある。そして、例えば基体4の立体表面8をレ
ーザ光Lで露光する場合、露光線幅はX・Yミラー1,
2の回動で調整することが可能であるが、Zミラー3を
振動させるように上下方向に回動駆動できるようにし
て、回動の振動周波を調整することによっても、露光線
幅を変えるようにすることもできる。X・Yミラー1,
2やZミラー3の回動速度は制御機器34によって制御
するようにしてある。
When changing the scanning speed (drawing speed) S of the laser beam L according to the optical path of the laser beam L, X
The adjustment can be performed by adjusting the rotation speed of the Y mirrors 1 and 2. In the embodiment shown in FIG. 7, the Z mirror 3 can be driven to rotate in the vertical direction, and the laser beam L is scanned along the three-dimensional surface 8 of the base 4 by rotating the Z mirror 3. And Z mirror 3
The scanning speed S of the laser light L on the three-dimensional surface 8 of the base 4 can be changed by adjusting the rotation speed of the laser beam L. For example, when exposing the three-dimensional surface 8 of the base 4 with the laser beam L, the exposure line width is set to the XY mirror 1,
2 can be adjusted, but the exposure line width can also be changed by adjusting the oscillation frequency of the rotation by allowing the Z mirror 3 to be driven to rotate vertically so as to vibrate. You can also do so. XY mirror 1,
The rotation speed of the 2 and Z mirrors 3 is controlled by the control device 34.

【0031】上記各実施例ではレーザ光Lの光路に応じ
てレーザ光Lの照射パワーP、照射スポット径A、基体
4の表面でのレーザ光Lの走査速度Sの少なくとも一つ
を変えるようにしたが、基体4の立体表面8への入射角
度が変化する場合においてもレーザ光Lの照射エネルギ
ーが変化する。従って本発明では基体4の立体表面8へ
のレーザ光Lの入射角度に応じてレーザ光Lの照射パワ
ーP、照射スポット径A、基体4の表面でのレーザ光L
の走査速度Sの少なくとも一つを変えて基体4の表面に
レーザ光Lを照射することによって、基体4の立体表面
8に常に一定のエネルギー条件でレーザ光Lを照射でき
るようにしてある。
In each of the above embodiments, at least one of the irradiation power P of the laser beam L, the irradiation spot diameter A, and the scanning speed S of the laser beam L on the surface of the substrate 4 is changed according to the optical path of the laser beam L. However, even when the angle of incidence on the three-dimensional surface 8 of the base 4 changes, the irradiation energy of the laser beam L changes. Therefore, in the present invention, the irradiation power P of the laser beam L, the irradiation spot diameter A, and the laser beam L on the surface of the substrate 4 according to the incident angle of the laser beam L on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4.
By irradiating the surface of the substrate 4 with the laser beam L while changing at least one of the scanning speeds S, the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 can always be irradiated with the laser beam L under a constant energy condition.

【0032】ここで、基体4の立体表面8の所定箇所に
レーザ光Lを照射するにあたって、X・Yミラー1,2
で反射したレーザ光Lを基体4の立体表面8に直接入射
させたり、Zミラー3でさらに反射させた後にレーザ光
Lを基体4の立体表面8に入射させたりすることによっ
て、図8に示すように複数の光路でレーザ光Lを基体4
の立体表面8に入射させることが可能な場合がある。こ
のときには複数の光路のうち最短距離の光路を選択して
レーザ光Lを照射するようにするのがよい。最短距離の
光路のレーザ光Lによって照射するのが最も照射条件
(露光条件)の変化が小さく、また制御もし易いので、
最短距離の光路のレーザ光Lを選ぶものである。例えば
図8では光路L1 〜光路L2 (Aの光路)、光路L3
光路L4 (Bの光路)、光路L5 〜光路L6(Cの光路)
の三つの光路で基体4の立体表面8にレーザ光Lを照射
して描画することができるが、Aの光路が最も最短距離
であるために、Aの光路を選択してレーザ光Lを照射す
るようにするのがよい。
Here, when irradiating the laser beam L to a predetermined portion of the three-dimensional surface 8 of the base 4, the XY mirrors 1, 2
The laser light L reflected by the laser beam L is directly incident on the three-dimensional surface 8 of the base 4 or the laser light L is further reflected by the Z mirror 3 and then incident on the three-dimensional surface 8 of the base 4, as shown in FIG. The laser beam L through a plurality of optical paths
May be able to be incident on the three-dimensional surface 8. At this time, it is preferable that the shortest optical path is selected from the plurality of optical paths and the laser beam L is irradiated. Irradiation with the laser beam L in the optical path of the shortest distance has the smallest change in the irradiation condition (exposure condition) and is easy to control.
The laser beam L in the shortest optical path is selected. For example, in FIG. 8, the optical paths L 1 to L 2 (the optical path of A), the optical paths L 3 to
Optical path L 4 (optical path of B), optical path L 5 to optical path L 6 (optical path of C)
Laser light L can be applied to the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 by using the three optical paths described above. However, since the optical path of A is the shortest distance, the optical path of A is selected and the laser light L is applied. It is better to do it.

【0033】また本発明にあって、基体4の立体表面8
の所定の照射箇所に入射するレーザ光Lの光路が複数路
あるときは基体4の立体表面8の入射角度が立体表面8
の法線方向に最も近い光路を選択して基体4の立体表面
にレーザ光Lを照射するのがよい。法線方向に近い入射
角度のレーザ光Lによって照射するのが最も照射条件
(露光条件)の変化が小さく、また制御もし易いので、
入射角度が法線方向に最も近い光路のレーザ光Lを選ぶ
ものである。例えば図8ではAの光路、Bの光路、Cの
光路の三つの光路のうち、Aの光路が最も立体表面8の
法線方向に近いために、Aの光路を選択してレーザ光L
を照射するようにするのがよい。
Further, according to the present invention, the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is provided.
When there are a plurality of optical paths of the laser beam L incident on the predetermined irradiation position, the incident angle of the three-dimensional surface 8 of the base 4 is
It is preferable to select the optical path closest to the normal line direction and irradiate the three-dimensional surface of the base body 4 with the laser light L. Irradiation with a laser beam L having an incident angle close to the normal direction has the smallest change in irradiation conditions (exposure conditions) and is easy to control.
The laser beam L of the optical path whose incident angle is closest to the normal direction is selected. For example, in FIG. 8, the optical path of A is selected from the three optical paths of the optical path of A, the optical path of B, and the optical path of C because the optical path of A is closest to the normal direction of the three-dimensional surface 8.
Is preferably irradiated.

【0034】図8にみられるように、最短距離の光路や
入射角度が法線方向に最も近い光路は、X・Yミラー
1,2で反射して基体4の立体表面8に直接入射するレ
ーザ光Lであり、Zミラー3でさらに反射されたレーザ
光Lは光路の最短が長くなり、入射角度も法線方向から
離れることになる。従って本発明では、X・Yミラー
1,2で反射させるだけで基体4の立体表面8にレーザ
光Lを照射して三次元描画することができるときには、
レーザ光Lによる描画パターンの精度(露光条件)が許
容できる範囲であれば、Zミラー3を使用しないでレー
ザ光Lの照射をおこなうように、Zミラー3の使用を選
択できるようにしてある。
As shown in FIG. 8, the shortest optical path and the optical path whose incident angle is closest to the normal direction are reflected by the XY mirrors 1 and 2 and directly incident on the three-dimensional surface 8 of the base 4. The laser light L, which is light L and further reflected by the Z mirror 3, has a shortest optical path, and the incident angle is also away from the normal direction. Therefore, in the present invention, when three-dimensional drawing can be performed by irradiating the three-dimensional surface 8 of the base body 4 with the laser beam L only by reflecting the light on the X and Y mirrors 1 and 2,
As long as the accuracy (exposure condition) of the drawing pattern by the laser light L is within an allowable range, the use of the Z mirror 3 can be selected so that the irradiation of the laser light L is performed without using the Z mirror 3.

【0035】図9はZミラー3を示すものであり、図9
(a)のような円筒鏡、図9(b)のような円錐鏡、図
9(c)のような球面鏡、その他非球面鏡など任意の反
射鏡を用いることができる。ここで、Zミラー3を上記
のように形成するにあたって、例えば円筒鏡で形成する
場合、図10(a)のようにZミラー3の中心軸OとZ
ミラー3へ入射するレーザ光Lの起点(すなわちYミラ
ー2による反射点)とが同軸であると、レーザ光LをZ
ミラー3のどの箇所に入射させても同じ中心方向にしか
反射しないが、図10(b)のようにZミラー3の中心
軸Oとレーザ光Lの起点が同軸にならないように若干ず
らせてやることによって、レーザ光LをZミラー3に入
射させる箇所に応じてあらゆる方向に反射させることが
可能になるものである。
FIG. 9 shows the Z mirror 3, and FIG.
Any reflecting mirror such as a cylindrical mirror as shown in FIG. 9A, a conical mirror as shown in FIG. 9B, a spherical mirror as shown in FIG. 9C, and other aspherical mirrors can be used. Here, in forming the Z mirror 3 as described above, for example, when it is formed by a cylindrical mirror, as shown in FIG.
When the starting point of the laser light L incident on the mirror 3 (that is, the reflection point by the Y mirror 2) is coaxial, the laser light L
Even if the light is incident on any part of the mirror 3, the light is reflected only in the same center direction. However, as shown in FIG. 10B, the center axis O of the Z mirror 3 and the starting point of the laser beam L are slightly shifted so as not to be coaxial. This makes it possible to reflect the laser light L in all directions according to the position where the laser light L is incident on the Z mirror 3.

【0036】またZミラー3としては上記のような曲面
鏡の他に、平面鏡3aを用いることもできる。平面鏡3
aは1枚だけでも可能である場合もあるが、複数枚の平
面鏡3aを組み合わせてZミラー3を形成することもで
きる。図11の実施例では、4枚の平面鏡3aを組み合
わせることによって四角筒状にZミラー3を形成するよ
うにしてある。
As the Z mirror 3, a plane mirror 3a can be used in addition to the curved mirror as described above. Plane mirror 3
In some cases, a may be only one, but the Z mirror 3 may be formed by combining a plurality of plane mirrors 3a. In the embodiment of FIG. 11, the Z mirror 3 is formed in a square tube shape by combining four plane mirrors 3a.

【0037】ここで、X・Yミラー1,2及びZミラー
3を用いて基体4の立体表面8にレーザ光Lを三次元照
射して露光する操作を図12のフローチャートに基づい
てさらに詳しく説明する。まず図13(a)に示すよう
に基体4の立体表面8の傾斜面8cの傾斜角θ1 を測定
し、基準角θ(例えば45°)と比較してZミラー3を
使用するか否かを決定する。すなわちθ1 ≧θであれば
Zミラー3を使用し、θ1 <θであればZミラー3を使
用しない。次に、Zミラー3を使用する場合には光路が
複数路できるので、光路を決定する必要がある。まず可
能光路をコンピュータで計算して、例えば図8の場合の
ように光路A,B,Cを抽出し、さらに最短光路又は入
射角度が最も法線に近い光路をコンピュータで計算し、
判定することによって例えば図8の場合のように光路A
を決定する。次に露光する線幅を決定する必要がある。
まず光路Aの光路長や入射角度から露光条件を抽出し、
その条件に基づいて露光される線幅をコンピュータで計
算して線幅W1 を抽出し、露光に必要な線幅W0 と線幅
1 を比較してその差を計算し、これに基づいて露光条
件の変更値をコンピュータで計算する。例えば図13
(b)に示すように露光の線幅と照射パワーは一定の関
係を有するので、照射パワーの変更値をコンピュータで
計算することによってW0 =W1 となるようにする。こ
のように照射パワーを決定した後に、X・Yミラー1,
2及びZミラー3に反射させてレーザ光Lを基体4の立
体表面8に照射して露光をおこなうことがきるものであ
る。また、Zミラー3を使用せずX・Yミラー1,2の
みに反射させてレーザ光Lを照射する場合には、光路は
複数路にならないので光路の決定は不要であり、いきな
り露光の線幅を決定するようにすればよい。
The operation of three-dimensionally irradiating the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 with the laser beam L using the XY mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3 for exposure will now be described in more detail with reference to the flowchart of FIG. I do. First, measure the inclination angle theta 1 of the inclined surface 8c of the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 as shown in FIG. 13 (a), whether compared to the reference angle theta (e.g. 45 °) using the Z mirror 3 To determine. That is, if θ 1 ≧ θ, the Z mirror 3 is used, and if θ 1 <θ, the Z mirror 3 is not used. Next, when the Z mirror 3 is used, a plurality of optical paths can be made, so that it is necessary to determine an optical path. First, the possible optical paths are calculated by a computer, and the optical paths A, B, and C are extracted as shown in, for example, FIG. 8, and the shortest optical path or the optical path whose incident angle is closest to the normal is calculated by the computer.
By determining, for example, the optical path A as shown in FIG.
To determine. Next, it is necessary to determine the line width to be exposed.
First, exposure conditions are extracted from the optical path length and the incident angle of the optical path A,
Extract the line width W 1 by calculating the line width to be exposed on the basis of the condition in the computer, the difference was calculated by comparing the line width W 0 and widths W 1 necessary for exposure, based on the Then, the change value of the exposure condition is calculated by the computer. For example, FIG.
Since the line width and the irradiation power of the exposure as shown in (b) has a fixed relationship, so that the W 0 = W 1 by calculating the change value of the irradiation power in the computer. After determining the irradiation power in this way, the XY mirror 1
The laser beam L is reflected by the mirror 2 and the Z mirror 3 to irradiate the three-dimensional surface 8 of the base body 4 to perform exposure. In the case where the laser beam L is irradiated by reflecting only the X and Y mirrors 1 and 2 without using the Z mirror 3, the optical path does not have a plurality of paths, so that it is not necessary to determine the optical path. The width may be determined.

【0038】以上のようにして基体4の立体表面8にレ
ーザ光Lを照射して三次元描写するにあたって、このレ
ーザ照射の技術は後述の立体回路の形成の他に、レーザ
加工における切断、穴明け、溶接、表面改質等のあらゆ
る加工に応用することができるものである。次に、上記
のように説明したレーザ照射方法やレーザ照射装置を用
いて、基体4の立体表面8にレーザ光Lを照射すること
によって、レーザ光Lによる描画形状に応じたパターン
で基体4の立体表面8に導体回路パターン9を形成する
方法について説明する。
In irradiating the three-dimensional surface 8 of the base body 4 with the laser beam L as described above to perform three-dimensional depiction, the laser irradiating technique is used to form a three-dimensional circuit, which will be described later, as well as cutting and drilling in laser processing. It can be applied to all kinds of processing such as dawning, welding, and surface modification. Next, the three-dimensional surface 8 of the base 4 is irradiated with the laser light L by using the laser irradiation method or the laser irradiation apparatus described above, so that the base 4 is formed in a pattern corresponding to the drawing shape by the laser light L. A method for forming the conductor circuit pattern 9 on the three-dimensional surface 8 will be described.

【0039】図14はサブトラクティブ法による立体回
路の形成の一実施例を示すものであり、先ず樹脂成形品
等で電気絶縁体として図14(a)のように作成される
基体4の立体表面8を含む全表面に導体膜10を図14
(b)のように形成する。導体膜10は銅を無電解メッ
キや電気メッキなどすることによって例えば厚み10μ
m程度の金属膜として形成することができる。次に図1
4(c)のように導体膜10の全表面に感光性耐エッチ
ング膜11を形成する。感光性耐エッチング膜11とし
てはフォトエッチングレジストを用いることができるも
のであり、ディップ、スプレー、電着等の方法で塗布す
ることによって形成することができる。そして、図14
(d)に示すようにX・Yミラー1,2及びZミラー3
を用いた方法でアルゴンレーザなどのレーザ光Lを基体
4の立体表面8に三次元照射して感光性耐エッチング膜
11をパターン形状に露光し、次に現像をおこなって、
回路形成する箇所を除いて図14(e)のように感光性
耐エッチング膜11を除去する。この後にエッチング処
理をおこなって導体膜10の露出する部分を図14
(f)のように除去し、必要に応じて感光性耐エッチン
グ膜11を除去することによって、図14(g)のよう
に基体4の立体表面8に立体的に導体回路パターン9を
形成することができるものである。
FIG. 14 shows an embodiment of the formation of a three-dimensional circuit by a subtractive method. First, a three-dimensional surface of a base 4 formed as shown in FIG. The conductor film 10 is provided on the entire surface including
It is formed as shown in FIG. The conductor film 10 has a thickness of, for example, 10 μm by electroless plating or electroplating copper.
m can be formed as a metal film. Next, FIG.
As shown in FIG. 4C, a photosensitive etching resistant film 11 is formed on the entire surface of the conductor film 10. As the photosensitive etching resistant film 11, a photo etching resist can be used, and it can be formed by applying by a method such as dip, spray, and electrodeposition. And FIG.
XY mirrors 1 and 2 and Z mirror 3 as shown in FIG.
The three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is irradiated three-dimensionally with a laser beam L such as an argon laser by a method using
The photosensitive etching resistant film 11 is removed as shown in FIG. Thereafter, the exposed portion of the conductor film 10 is subjected to an etching process so that the exposed portion of FIG.
The conductive circuit pattern 9 is formed three-dimensionally on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 as shown in FIG. Is what you can do.

【0040】尚、感光性耐エッチング膜11としてはフ
ォトエッチングレジストの他に、レーザ光Lの露光によ
り除去可能なエッチング耐性のあるもの種々のものを使
用することができるものであり、例えばPET(ポリエ
チレンテレフタレート)膜などの有機物膜や、チタン膜
などの無機物膜を使用することができるものである。ま
た感光性耐エッチング膜11は図14(g)のように除
去する他に、図14(f)のまま導体回路パターン9の
全部又は一部の表面に保護膜として残しておいてもよ
い。
The photosensitive etching-resistant film 11 may be made of various materials having etching resistance that can be removed by exposure to laser light L, in addition to a photo-etching resist. An organic film such as a polyethylene terephthalate) film or an inorganic film such as a titanium film can be used. In addition to removing the photosensitive etching resistant film 11 as shown in FIG. 14 (g), the photosensitive etching resistant film 11 may be left as a protective film on all or part of the surface of the conductor circuit pattern 9 as shown in FIG. 14 (f).

【0041】図15はセミアディティブ法による立体回
路の形成の一実施例を示すものであり、先ず樹脂成形品
等で図15(a)のように作成される基体4の立体表面
8に下地導体膜12を図15(b)のように設ける。下
地導体膜12は銅を無電解メッキなどすることによって
例えば厚み2〜5μm程度の薄い金属膜として形成する
ことができる。次に図15(c)のように下地導体膜1
2の全表面に感光性絶縁膜13を形成する。感光性絶縁
膜13としてはフォトレジストを用いることができるも
のであり、ディップ、スプレー、電着等の方法で塗布す
ることによって形成することができる。そして、図15
(d)に示すようにX・Yミラー1,2及びZミラー3
を用いた方法でアルゴンレーザなどのレーザ光Lを基体
4の立体表面8に三次元照射して感光性絶縁膜13をパ
ターン形状に露光し、次に現像をおこなって、回路形成
する箇所の感光性絶縁膜13を図15(e)のように除
去し、回路形成箇所の下地導体膜12を露出させる。こ
の後に下地導体膜12に通電して電気銅メッキなどをお
こなうことによって、図15(f)のように下地導体膜
12の露出表面に導体金属14を例えば20μm程度の
厚みで厚付けし、そして図15(g)のように感光性絶
縁膜13を除去した後に、下地導体膜12の厚み分だけ
溶解するライトエッチング処理をおこなって下地導体膜
12を除去することによって、図15(h)のように基
体4の立体表面8に立体的に導体回路パターン9を形成
することができるものである。導体回路パターン9の表
面には必要に応じてNiメッキやAuメッキをおこなう
ことができる。尚、感光性絶縁膜13としてはレーザ光
Lによる露光により除去可能な電気メッキの付着しない
ものであれば有機物膜や無機物膜など種々のものを使用
することができるものである。図16はフルアディティ
ブ法による立体回路の形成の一実施例を示すものであ
り、先ず樹脂成形品等で図16(a)のように作成され
る基体4の立体表面8に無電解メッキ用の触媒を付着さ
せたり、あるいは無電解メッキ用触媒入りの樹脂成形品
で基体4を作成し、次に基体4の立体表面8を含む全表
面に感光性耐メッキ膜19を図16(b)のように形成
する。感光性耐メッキ膜19としては無電解メッキの付
着しないフォトレジストを用いることができるものであ
り、ディップ、スプレー、電着等の方法で塗布すること
によって形成することができる。そして、図16(c)
に示すようにX・Yミラー1,2及びZミラー3を用い
た方法でアルゴンレーザなどのレーザ光Lを基体4の立
体表面8に三次元照射して感光性耐メッキ膜19をパタ
ーン形状に露光し、次に現像をおこなって、回路形成す
る箇所の感光性耐メッキ膜19を図16(d)のように
除去し、回路形成箇所の基体4の立体表面8を露出させ
る。この後に無電解メッキ浴に基体4を浸漬して銅等の
無電解メッキによって立体表面8の露出面に導体金属を
2〜10μm程度の厚みで付着させて図16(e)のよ
うに導体回路パターン9を形成することができる。そし
て感光性耐メッキ膜19を除去することによって、図1
6(f)のように基体4の立体表面8に立体的に導体回
路パターン9を形成した立体回路を得ることができるも
のである。感光性耐メッキ膜19はこのように除去する
ようにしても、あるいは図16(e)のまま残すように
してもよい。また導体回路パターン9にはさらに電気メ
ッキをして厚みを厚くするようにしてもよく、さらに導
体回路パターン9の表面には必要に応じてNiメッキや
Auメッキをおこなうことができる。尚、感光性耐メッ
キ膜19としてはレーザ光Lによる露光により除去可能
なメッキの付着しないものであれば有機物膜や無機物膜
など種々のものを使用することができるものである。
FIG. 15 shows an embodiment of the formation of a three-dimensional circuit by the semi-additive method. First, an underlying conductor is formed on a three-dimensional surface 8 of a base 4 made of a resin molded product or the like as shown in FIG. The film 12 is provided as shown in FIG. The underlying conductor film 12 can be formed as a thin metal film having a thickness of, for example, about 2 to 5 μm by electroless plating of copper or the like. Next, as shown in FIG.
2, a photosensitive insulating film 13 is formed on the entire surface. As the photosensitive insulating film 13, a photoresist can be used, and can be formed by applying a method such as dip, spray, or electrodeposition. And FIG.
XY mirrors 1 and 2 and Z mirror 3 as shown in FIG.
The three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is three-dimensionally irradiated with a laser beam L such as an argon laser by using the method described above, and the photosensitive insulating film 13 is exposed in a pattern shape. The conductive insulating film 13 is removed as shown in FIG. 15E, and the underlying conductive film 12 at the circuit formation location is exposed. Thereafter, the conductive metal 14 is applied with a thickness of, for example, about 20 μm to the exposed surface of the base conductive film 12 as shown in FIG. After the photosensitive insulating film 13 is removed as shown in FIG. 15G, a light etching process for dissolving by the thickness of the underlying conductor film 12 is performed to remove the underlying conductor film 12, thereby obtaining the structure shown in FIG. Thus, the conductor circuit pattern 9 can be formed three-dimensionally on the three-dimensional surface 8 of the base 4. The surface of the conductive circuit pattern 9 can be plated with Ni or Au as needed. As the photosensitive insulating film 13, various materials such as an organic material film and an inorganic material film can be used as long as they do not adhere to electroplating which can be removed by exposure to the laser beam L. FIG. 16 shows an embodiment of the formation of a three-dimensional circuit by the full-additive method. First, a three-dimensional surface 8 of a base 4 made of a resin molded product or the like as shown in FIG. The base 4 is formed from a resin molded article containing a catalyst or a catalyst for electroless plating, and then a photosensitive plating resistant film 19 is formed on the entire surface of the base 4 including the three-dimensional surface 8 as shown in FIG. It is formed as follows. As the photosensitive plating resistant film 19, a photoresist to which electroless plating does not adhere can be used, and can be formed by applying a method such as dip, spray, or electrodeposition. Then, FIG.
The three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is three-dimensionally irradiated with a laser beam L such as an argon laser by a method using the XY mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3 as shown in FIG. Exposure and subsequent development are performed to remove the photosensitive plating-resistant film 19 at the portion where the circuit is to be formed as shown in FIG. 16D, thereby exposing the three-dimensional surface 8 of the base 4 at the portion where the circuit is to be formed. Thereafter, the substrate 4 is immersed in an electroless plating bath, and a conductive metal is adhered to the exposed surface of the three-dimensional surface 8 by electroless plating of copper or the like to a thickness of about 2 to 10 μm to form a conductive circuit as shown in FIG. The pattern 9 can be formed. Then, by removing the photosensitive plating resistant film 19, FIG.
As shown in FIG. 6F, a three-dimensional circuit in which a conductor circuit pattern 9 is formed three-dimensionally on the three-dimensional surface 8 of the base 4 can be obtained. The photosensitive plating resistant film 19 may be removed in this way, or may be left as it is in FIG. The conductive circuit pattern 9 may be further plated by electroplating to increase the thickness, and the surface of the conductive circuit pattern 9 may be plated with Ni or Au as necessary. As the photosensitive plating-resistant film 19, various films such as an organic material film and an inorganic material film can be used as long as they do not adhere to a plating that can be removed by exposure to the laser beam L.

【0042】図17は他の立体回路の形成方法を示すも
のであり、先ず樹脂成形品等で図17(a)のように作
成される基体4の立体表面8を含む全表面に光反応性材
料15を塗布してその膜を図17(b)のように設け
る。光反応性材料15としては、酢酸銅、銅アルコキシ
ド、ジメチルアルミニウム等の有機金属を用いることが
できるものであり、これらをそのままあるいは溶剤に溶
解して塗布することによって基体4の表面に有機金属の
光反応性材料15を付着させることができる。そして、
図17(c)に示すようにX・Yミラー1,2及びZミ
ラー3を用いた方法でレーザ光Lを基体4の立体表面8
に三次元照射して回路形成箇所の光反応性材料15をパ
ターン形状に露光し、有機金属で形成される光反応性材
料15の露光部分をレーザ光Lの光エネルギーで反応さ
せ或いは分解させて、金属膜あるいは金属と有機物の混
合膜を形成し、さらに未露光部分の光反応性材料15を
溶剤で洗浄するなどして除去することによって、金属膜
あるいは金属と有機物の混合膜からなる図17(d)の
ような導体回路パターン9を基体4の立体表面8に立体
的に形成することができるものである。導体回路パター
ン9にはさらに電気メッキ等をして厚みを厚くするよう
にしてもよく、また導体回路パターン9の表面に必要に
応じてNiメッキやAuメッキをおこなってもよい。
FIG. 17 shows another method of forming a three-dimensional circuit. First, a photoreactive material is applied to the entire surface including the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 formed as shown in FIG. The material 15 is applied and a film is provided as shown in FIG. As the photoreactive material 15, an organic metal such as copper acetate, copper alkoxide, or dimethylaluminum can be used. By coating these as they are or by dissolving them in a solvent, the surface of the base 4 is coated with an organic metal. Photoreactive material 15 can be deposited. And
As shown in FIG. 17C, the laser beam L is applied to the three-dimensional surface 8 of the base 4 by using the XY mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3.
To expose the photoreactive material 15 at the circuit formation location in a pattern shape, and react or decompose the exposed portion of the photoreactive material 15 formed of an organic metal with the light energy of the laser beam L. By forming a metal film or a mixed film of a metal and an organic material, and removing the unreacted portion of the photoreactive material 15 by washing with a solvent or the like, a metal film or a mixed film of a metal and an organic material is formed as shown in FIG. The conductor circuit pattern 9 as shown in FIG. 3D can be formed three-dimensionally on the three-dimensional surface 8 of the base 4. The conductive circuit pattern 9 may be further thickened by electroplating or the like, or the surface of the conductive circuit pattern 9 may be plated with Ni or Au as necessary.

【0043】上記実施例では光反応性材料15として有
機金属を用いるようにしたが、光反応性材料15として
はこの他に、光反応によって露光部分のみが基体4に接
着可能となる導電性材料、例えばニッケルや銅等の金属
粉末やカーボン粉末などの導電性の粉末を光硬化性接着
剤に混合して導電性を持たせた材料を用いることができ
る。このものでは図17の場合と同様に基体4の表面に
光反応性材料15を塗布した後に紫外線レーザ等のレー
ザ光Lを照射すると、光反応性材料15のうちレーザ光
Lが照射された箇所のみがパターン形状で硬化して基体
4の立体表面8に硬化接着される。そして未露光で硬化
していない部分の光反応性材料15を溶剤で洗浄して除
去することによって、導電性接着剤の硬化層からなる導
体回路パターン9を基体4の立体表面8に立体的に形成
することができるものである。この場合においても導体
回路パターン9にはさらに電気メッキ等をして厚みを厚
くするようにしてもよく、また導体回路パターン9の表
面に必要に応じてNiメッキやAuメッキをおこなって
もよい。
In the above embodiment, an organic metal is used as the photoreactive material 15. However, the photoreactive material 15 may be any other conductive material capable of adhering only the exposed portion to the substrate 4 by photoreaction. For example, a material having conductivity by mixing a conductive powder such as a metal powder such as nickel or copper or a carbon powder with a photocurable adhesive can be used. In this case, as in the case of FIG. 17, the surface of the base 4 is coated with the photoreactive material 15 and then irradiated with a laser beam L such as an ultraviolet laser. Only the resin is cured in the pattern shape and is cured and adhered to the three-dimensional surface 8 of the base 4. The unreacted and uncured portion of the photoreactive material 15 is removed by washing with a solvent, so that the conductive circuit pattern 9 composed of the cured layer of the conductive adhesive is three-dimensionally formed on the three-dimensional surface 8 of the base 4. It can be formed. Also in this case, the conductor circuit pattern 9 may be further thickened by electroplating or the like, and the surface of the conductor circuit pattern 9 may be plated with Ni or Au as necessary.

【0044】図18は光CVD法による立体回路の形成
方法を示すものであり、図18(a)のような立体表面
8を有する基体4を、図18(b)に示すようにレーザ
光Lを透過する透明な蒸着容器39内にセットし、四塩
化チタン、タングステンカーボニル、銅DPM等の反応
ガスの一種あるいは複数種を水素や窒素等のキャリアガ
スとともに導入口40から蒸着容器39内に導入する。
41は排気口である。そして図18(c)に示すよう
に、X・Yミラー1,2及びZミラー3を用いた方法で
レーザ光Lを蒸着容器39を透過して基体4の立体表面
8に三次元照射し、立体表面8を回路形成箇所のパター
ン形状に露光する。このとき基体4の立体表面8で反応
ガスが反応・分解して金属膜が化学蒸着し易くなるよう
に基体4を例えば200℃程度に予備加熱しておくのが
好ましい。しかしてこのように露光すると基体4の立体
表面8で反応ガスが分解反応を生じて、露光パターンで
基体4の表面に金属の蒸着膜16を形成することがき、
金属の蒸着膜16からなる導体パターン9を図18
(c)のように基体4の立体表面8に形成することがで
きるものである。導体回路パターン9にはさらに電気メ
ッキ等をして厚みを厚くするようにしてもよく、また導
体回路パターン9の表面に必要に応じてNiメッキやA
uメッキをおこなってもよい。
FIG. 18 shows a method of forming a three-dimensional circuit by a photo-CVD method. In FIG. 18A, a substrate 4 having a three-dimensional surface 8 as shown in FIG. And one or more of reactive gases, such as titanium tetrachloride, tungsten carbonyl, copper DPM, etc., together with a carrier gas such as hydrogen or nitrogen are introduced into the vapor deposition vessel 39 through the inlet 40. I do.
41 is an exhaust port. Then, as shown in FIG. 18C, the laser beam L is transmitted three-dimensionally to the three-dimensional surface 8 of the base 4 by passing through the vapor deposition container 39 by a method using the X and Y mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3, The three-dimensional surface 8 is exposed to a pattern shape at a circuit formation location. At this time, it is preferable to preheat the substrate 4 to, for example, about 200 ° C. so that the reaction gas reacts and decomposes on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 to facilitate the chemical vapor deposition of the metal film. Thus, when the exposure is performed in this manner, the reaction gas causes a decomposition reaction on the three-dimensional surface 8 of the base 4, and a metal deposition film 16 can be formed on the surface of the base 4 in an exposure pattern.
The conductor pattern 9 made of the metal deposition film 16 is shown in FIG.
It can be formed on the three-dimensional surface 8 of the base 4 as shown in FIG. The thickness of the conductive circuit pattern 9 may be further increased by electroplating or the like, and Ni plating or A
u plating may be performed.

【0045】図19はさらに他の立体回路の形成方法を
示すものであり、先ず樹脂成形品等で図19(a)のよ
うに作成される基体4の立体表面8を含む全表面に導体
層17を図19(b)のように設ける。導体層17はニ
ッケルや銅などの金属を無電解メッキしたりPVD法等
の方法で設けることができるものであり例えば厚み0.
5〜2μm程度に薄い膜として形成するのが望ましい。
そして、図19(c)に示すようにX・Yミラー1,2
及びZミラー3を用いた方法でエキシマレーザ等のレー
ザ光Lを基体4の表面に照射し、回路形成箇所以外の箇
所をパターン形状に照射することによって、レーザ光L
のエネルギーで導体層17を飛ばして除去する。このよ
うに回路形成箇所以外の導体層17をレーザ光Lで除去
することによって、導体層17で形成される導体パター
ン9を図19(d)のように基体4の立体表面8に作成
することができるものである。導体回路パターン9には
さらに電気メッキ等をして厚みを厚くするようにしても
よく、また導体回路パターン9の表面に必要に応じてN
iメッキやAuメッキをおこなってもよい。尚、この実
施例では導体層17を金属で形成して回路形成箇所以外
の導体層17をレーザ光Lで除去することによって導体
回路パターン9を形成するようにしたが、例えば図17
の実施例のように、レーザ光Lを照射した箇所のみを基
体4の立体表面8に残すようにして導体回路パターン9
を形成するようにしてもよい。
FIG. 19 shows still another method of forming a three-dimensional circuit. First, a conductor layer is formed on the entire surface including the three-dimensional surface 8 of the base 4 made of a resin molded product or the like as shown in FIG. 17 are provided as shown in FIG. The conductor layer 17 can be formed by electroless plating a metal such as nickel or copper or by a method such as a PVD method.
It is desirable to form the film as thin as about 5 to 2 μm.
Then, as shown in FIG.
And irradiating the surface of the substrate 4 with a laser beam L such as an excimer laser by a method using the Z mirror 3 and irradiating a portion other than the circuit forming portion in a pattern shape, thereby obtaining a laser beam L
The conductor layer 17 is removed by flying with the energy of. By removing the conductor layer 17 other than the portion where the circuit is formed with the laser beam L, the conductor pattern 9 formed by the conductor layer 17 is formed on the three-dimensional surface 8 of the base 4 as shown in FIG. Can be done. The thickness of the conductive circuit pattern 9 may be further increased by electroplating or the like.
i plating or Au plating may be performed. In this embodiment, the conductor circuit pattern 9 is formed by forming the conductor layer 17 of a metal and removing the conductor layer 17 other than the circuit formation portion with the laser beam L.
As in the embodiment, only the portion irradiated with the laser beam L is left on the three-dimensional surface 8 of the base 4 so that the conductor circuit pattern 9
May be formed.

【0046】次に、上記のレーザ照射方法やレーザ光照
射装置を用いて基体4にレーザ光Lを照射する表面処理
方法について説明する。レーザ光Lを照射する対象とな
る基体4の構成材料は樹脂やセラミック、金属などであ
り、レーザ光Lの照射は基体4の平面だけでなく基体4
の立体表面8にもおこなうことができる。またレーザ光
Lの照射のパターンは点や線など任意である。そして基
体4にレーザ光Lを照射することによって、基体4の表
面の粗化、微細凹凸の形成、吸着性の向上、接着性の向
上、化学反応性の向上を図る表面処理をすることができ
る。例えば、基体4に回路形成するにあたっての下地処
理として基体4にレーザ光Lを照射すると、基体4の表
面の粗化によって基体4への回路の密着強度を高めるこ
とができるものである。また基体4に無電解メッキする
にあたって基体4にレーザ光Lを回路のパターンで照射
すると、レーザ光Lの照射部分にのみ無電解メッキ用触
媒が付着し、パターン形状に無電解メッキして回路形成
をすることができるものである。さらに印刷用版のイン
ク付着部にレーザ光Lを照射すると、レーザ光Lの照射
部分にのみインクが付着し、このインクを転写すること
によって印刷をおこなうことができる。またレーザ光L
を照射して塗装・着色の下地処理をおこなうことによっ
て、塗装の塗膜の密着強度を向上させたり、着色の発色
性を向上させたりすることができるものである。
Next, a description will be given of a surface treatment method for irradiating the substrate 4 with the laser beam L using the above-described laser irradiation method or laser beam irradiation apparatus. The constituent material of the base 4 to be irradiated with the laser light L is resin, ceramic, metal, or the like. The irradiation of the laser light L is performed not only on the flat surface of the base 4 but also on the base 4.
Can be performed on the three-dimensional surface 8. The irradiation pattern of the laser light L is arbitrary such as a point or a line. By irradiating the substrate 4 with the laser beam L, it is possible to perform a surface treatment for roughening the surface of the substrate 4, forming fine irregularities, improving adsorption, improving adhesion, and improving chemical reactivity. . For example, when the substrate 4 is irradiated with the laser beam L as a base treatment for forming a circuit on the substrate 4, the adhesion strength of the circuit to the substrate 4 can be increased by roughening the surface of the substrate 4. When the substrate 4 is irradiated with the laser beam L in a circuit pattern when the substrate 4 is electrolessly plated, the electroless plating catalyst adheres only to the irradiated portion of the laser beam L, and the circuit is formed by electroless plating in a pattern shape. Is what you can do. Further, when the laser beam L is irradiated on the ink-attached portion of the printing plate, the ink adheres only to the irradiated portion of the laser beam L, and printing can be performed by transferring this ink. Also, the laser light L
By irradiating the substrate with a paint and coloring, it is possible to improve the adhesion strength of the coating film of the coating and to improve the coloring property of the coloring.

【0047】このように基体4をレーザ光Lで表面処理
して、立体回路を形成する方法の一例について図20に
基づいて説明する。まずポリイミドなどの樹脂成形品で
図20(a)のように作成した基体4の立体表面8に、
回路を形成するパターンで図20(b)のようにX・Y
ミラー1,2及びZミラー3を用いた方法でエキシマレ
ーザ等のレーザ光Lを照射して基体4の表面を粗面化
し、パターン形状にレーザ光Lを照射することによって
粗面化部42をパターン形状で形成する。次に立体表面
8を含む基体4の全表面に図20(c)のように下地導
体膜12を銅の無電解メッキや蒸着、スパッタリング等
の方法で例えば1〜2μm程度の薄い厚みに形成する。
この後に、図20(d)のように下地導体膜12の全表
面にフォトレジストなどをディップ、スプレー、電着等
の方法で塗布することによって感光性絶縁膜13を形成
する。そして、図20(e)に示すようにX・Yミラー
1,2及びZミラー3を用いた方法でレーザ光Lを基体
4の立体表面8に三次元照射して感光性絶縁膜13をパ
ターン形状に露光し、次に現像をおこなって、回路形成
をする箇所の感光性絶縁膜13を図20(f)のように
除去し、回路形成箇所の下地導体膜12を露出させる。
下地導体膜12のうちこの露出する部分の表面は粗面化
部42となっている。この後に下地導体膜12に通電し
て電気銅メッキなどをおこなうことによって、図20
(g)のように下地導体膜12の露出表面に導体金属1
4を例えば20μm程度の厚みで厚付けし、そして図2
0(h)のように感光性絶縁膜13を除去した後に、下
地導体膜12の厚み分だけ溶解するライトエッチング処
理をおこなって下地導体膜12を除去することによっ
て、図20(i)のように基体4の立体表面8に立体的
に導体回路パターン9を形成することができるものであ
る。導体回路パターン9の表面には必要に応じてNiメ
ッキやAuメッキをおこなうことができる。このように
セミアディティブ法で回路形成するにあたって、回路形
成部分はレーザ光Lの照射によって粗面化部42を形成
する粗面化処理をしているために、回路の密着強度を高
く得ることができるものである。
An example of a method of forming a three-dimensional circuit by subjecting the substrate 4 to the surface treatment with the laser beam L will be described with reference to FIG. First, a three-dimensional surface 8 of a base 4 made of a resin molded product such as polyimide as shown in FIG.
As shown in FIG. 20 (b), a pattern for forming a circuit
The surface of the substrate 4 is roughened by irradiating a laser beam L such as an excimer laser by a method using the mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3, and the laser beam L is irradiated to the pattern shape to form the roughened portion 42. It is formed in a pattern shape. Next, as shown in FIG. 20C, the underlying conductive film 12 is formed on the entire surface of the base 4 including the three-dimensional surface 8 by a method such as electroless plating, vapor deposition, or sputtering of copper to a thin thickness of, for example, about 1 to 2 μm. .
Thereafter, as shown in FIG. 20D, a photosensitive insulating film 13 is formed by applying a photoresist or the like to the entire surface of the underlying conductor film 12 by a method such as dipping, spraying, and electrodeposition. Then, as shown in FIG. 20E, the photosensitive insulating film 13 is patterned by three-dimensionally irradiating the three-dimensional surface 8 of the substrate 4 with the laser beam L by the method using the XY mirrors 1 and 2 and the Z mirror 3. Exposure to a shape is performed, and then development is performed, and the photosensitive insulating film 13 at a portion where a circuit is to be formed is removed as shown in FIG.
The surface of the exposed portion of the base conductor film 12 is a roughened portion 42. 20. Thereafter, a current is applied to the underlying conductive film 12 to perform electrolytic copper plating, etc.
As shown in (g), the conductive metal 1
4 is thickened to a thickness of, for example, about 20 μm, and FIG.
After the photosensitive insulating film 13 is removed as shown in FIG. 2H, a light etching process is performed to dissolve the thickness of the underlying conductive film 12 to remove the underlying conductive film 12, thereby obtaining as shown in FIG. The conductor circuit pattern 9 can be formed three-dimensionally on the three-dimensional surface 8 of the base 4. The surface of the conductive circuit pattern 9 can be plated with Ni or Au as needed. When a circuit is formed by the semi-additive method as described above, the circuit forming portion is subjected to the surface roughening treatment for forming the roughened portion 42 by irradiation with the laser beam L, so that it is possible to obtain a high adhesion strength of the circuit. You can do it.

【0048】次に、基体4の立体表面8に粉末18を供
給しつつ、基体4の立体表面8にレーザ光Lを照射する
ことによって、レーザ光Lの照射箇所において基体4の
立体表面8に粉末18を付着させる方法について説明す
る。レーザ光Lを照射する対象となる基体4の構成材料
は少なくとも表面が熱可塑性樹脂であり、レーザ光Lの
照射は基体4の平面だけでなく基体4の立体表面8にも
おこなうことができる。また粉末18としては例えば、
銅、ニッケル、真鍮等の金属粉末や、カーボン粉末、触
媒粉末、カップリング剤粉末等を用いることができ、粉
末18の粒径は数μm〜数百μm程度の範囲が好まし
い。そして基体4の表面に粉末18を供給しつつレーザ
光Lを照射することによって、レーザ光Lのエネルギー
で基体4の表面を軟化・粘着化させることで基体4の表
面に粉末18を付着させることができるものであり、点
や線等の任意の回路パターンや装飾パターンでレーザ光
Lを基体4の表面に照射することによって、このパター
ン形状で粉末18を付着させることができるものであ
る。例えば金属の粉末18をパターン形状で基体4の表
面に付着させることによって基体4の表面に回路を形成
することができ、また無電解メッキ用触媒の粉末18を
基体4の表面にパターン形状で付着させて無電解メッキ
をおこなうことによって、無電解メッキでパターン形状
に回路を形成することができる。基体4の表面への粉末
18の供給は、予め基体4の表面に粉末18を付着させ
ておくことによっておこなうことができるが、レーザ光
Lの照射と同時に又はその直後に粉末18を基体4の表
面の照射部分に吹きつけることによっておこなうことも
できる。このようにして粉末18を付着させて回路を形
成するようにすると、基体4への高い密着強度で回路を
形成することができるものである。
Next, while supplying the powder 18 to the three-dimensional surface 8 of the base 4, the three-dimensional surface 8 of the base 4 is irradiated with the laser light L, so that the three-dimensional surface 8 of the base 4 is irradiated at the irradiation position of the laser light L. A method for attaching the powder 18 will be described. The constituent material of the substrate 4 to be irradiated with the laser beam L is a thermoplastic resin at least on the surface, and the irradiation of the laser beam L can be performed not only on the flat surface of the substrate 4 but also on the three-dimensional surface 8 of the substrate 4. As the powder 18, for example,
Metal powders such as copper, nickel, and brass, carbon powders, catalyst powders, coupling agent powders, and the like can be used, and the particle size of the powder 18 is preferably in the range of several μm to several hundred μm. By irradiating the surface of the substrate 4 with the laser beam L while supplying the powder 18 thereto, the energy of the laser beam L softens and adheres the surface of the substrate 4 to adhere the powder 18 to the surface of the substrate 4. By irradiating the surface of the base 4 with the laser beam L in an arbitrary circuit pattern such as a point or a line or a decorative pattern, the powder 18 can be adhered in this pattern shape. For example, a circuit can be formed on the surface of the substrate 4 by attaching the metal powder 18 to the surface of the substrate 4 in a pattern, and the powder 18 of the electroless plating catalyst is attached to the surface of the substrate 4 in a pattern. Then, by performing the electroless plating, a circuit can be formed in a pattern shape by the electroless plating. The powder 18 can be supplied to the surface of the substrate 4 by attaching the powder 18 to the surface of the substrate 4 in advance. It can also be performed by spraying on the irradiated part of the surface. When a circuit is formed by adhering the powder 18 in this manner, a circuit can be formed with high adhesion strength to the base 4.

【0049】このように粉末18を基体4の表面に付着
させて回路を形成する方法の一例を図21に基づいて説
明する。図21(a)のようにABS樹脂などの熱可塑
性樹脂の成形品で作成される基体4の立体表面8に、図
21(b)に示すように、X・Yミラー1,2及びZミ
ラー3を用いた方法でYAGレーザ等のレーザ光Lを三
次元照射して、基体4の立体表面8を加熱して軟化・粘
着化する。そして銅等の金属の粉末18を圧縮ガスなど
を用いて軟化・粘着化した立体表面8にノズル43から
吹きつけることによって、粉末18をこの軟化・粘着化
した箇所において立体表面8に付着させて接着させるこ
とができる。基体4の立体表面8へのレーザ光Lの照射
をパターン形状に走査しておこなうことによって、粉体
18で導体回路パターン9を形成することができるもの
である。導体回路パターン9にはさらに電気メッキ等を
して厚みを厚くするようにしてもよく、また導体回路パ
ターン9の表面に必要に応じてNiメッキやAuメッキ
をおこなってもよい。
An example of a method for forming a circuit by adhering the powder 18 to the surface of the substrate 4 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 21 (a), on the three-dimensional surface 8 of the base 4 made of a molded article of a thermoplastic resin such as ABS resin, as shown in FIG. The three-dimensional surface 8 of the substrate 4 is heated and softened / adhered by three-dimensionally irradiating a laser beam L such as a YAG laser or the like with the method 3. Then, the powder 18 of a metal such as copper is sprayed from a nozzle 43 onto the softened and tackified three-dimensional surface 8 using a compressed gas or the like, so that the powder 18 is attached to the three-dimensional surface 8 at the softened and sticked portion. Can be glued. By irradiating the three-dimensional surface 8 of the base 4 with the laser light L by scanning it in a pattern shape, the conductive circuit pattern 9 can be formed from the powder 18. The conductive circuit pattern 9 may be further thickened by electroplating or the like, or the surface of the conductive circuit pattern 9 may be plated with Ni or Au as necessary.

【0050】[0050]

【発明の効果】上記のように本発明に係るレーザ照射方
法は、レーザ光をX軸方向及びY軸方向にX・Yミラー
で反射させると共にこの反射されたレーザ光をさらにZ
軸方向にZミラーで反射させて基体の表面にレーザ光を
照射するようにしたので、X・Yミラーで基体のX軸方
向及びY軸方向にレーザ光を走査させることができると
共にZミラーでレーザ光をZ軸方向に反射させて基体の
Z軸方向にレーザ光を走査させることができ、基体の立
体表面に三次元的にレーザ光を照射することができるも
のである。
As described above, in the laser irradiation method according to the present invention, the laser light is reflected by the XY mirror in the X-axis direction and the Y-axis direction, and the reflected laser light is further reflected by the Z-axis mirror.
Since the laser light is irradiated on the surface of the base by being reflected by the Z mirror in the axial direction, the laser light can be scanned in the X-axis direction and the Y-axis direction of the base by the XY mirror, and the Z mirror can be used. The laser beam can be reflected in the Z-axis direction to scan the laser beam in the Z-axis direction of the substrate, and the three-dimensional surface of the substrate can be irradiated with the laser beam three-dimensionally.

【0051】またレーザ光の光路や基体の表面への入射
角度に応じてレーザ光の照射パワー、照射スポット径、
基体の表面でのレーザ光の走査速度の少なくとも一つを
変えて基体の表面にレーザ光を照射するようにしたの
、基体の立体表面にレーザ光を照射するにあたって光
路長や入射角度が変化しても、常に一定のエネルギー条
件でレーザ光を照射することができるものである。
Further, the irradiation power of the laser beam, the irradiation spot diameter,
By changing at least one of the scanning speeds of the laser beam on the surface of the substrate, the surface of the substrate is irradiated with the laser beam .
Thus, even when the optical path length or the incident angle changes when irradiating the three-dimensional surface of the substrate with the laser light, the laser light can always be irradiated under a constant energy condition.

【0052】さらに、基体の表面の所定の照射箇所に入
射するレーザ光の光路が複数路あるときは、最短距離の
光路を選択し、あるいは基体の表面の入射角度が法線方
向に最も近い光路を選択して、基体の表面にレーザ光を
照射するようにすれば、レーザ光の照射条件の変化を小
さくすることができるものである。本発明に係るレーザ
照射装置は、レーザ光を発振するレーザ発振器と、レー
ザ発振器から発振されたレーザ光をX軸方向及びY軸方
向に反射させるX・Yミラーと、X・Yミラーで反射さ
れたレーザ光を基体に向けて反射させるZミラーとを具
備したので、X・Yミラーで基体のX軸方向及びY軸方
向にレーザ光を走査させると共にZミラーでレーザ光を
Z軸方向に反射させて基体のZ軸方向にレーザ光を走査
させ、基体の立体表面に三次元的にレーザ光を照射する
ことができるものである。
Further, when there are a plurality of optical paths of the laser beam incident on a predetermined irradiation position on the surface of the substrate, the optical path having the shortest distance is selected, or the optical path whose incident angle on the surface of the substrate is closest to the normal direction is selected. Is selected and the surface of the base is irradiated with laser light, the change in the irradiation condition of laser light can be reduced. A laser irradiation apparatus according to the present invention includes a laser oscillator that oscillates a laser beam, an XY mirror that reflects a laser beam oscillated from the laser oscillator in an X-axis direction and a Y-axis direction, and a laser beam that is reflected by an XY mirror. And a Z mirror for reflecting the laser beam toward the substrate, so that the XY mirror scans the laser beam in the X-axis direction and the Y-axis direction of the substrate, and the Z mirror reflects the laser beam in the Z-axis direction. Then, the laser beam is scanned in the Z-axis direction of the substrate, and the three-dimensional surface of the substrate can be irradiated with the laser beam three-dimensionally.

【0053】[0053]

【0054】しかも、Zミラーを可動に形成してあるの
で、レーザ光の光路や基体への入射角度に応じてレーザ
光の走査速度を変えて常に一定のエネルギー条件でレー
ザ光を照射することが可能になるものである。本発明に
係る立体回路の形成方法は、上記のレーザ照射方法を用
いて基体の立体表面にレーザ光を照射することによっ
て、レーザ光による描画形状に応じたパターンで基体の
立体表面に導体回路パターンを形成するようにしたの
で、基体の立体表面に三次元的にレーザ光を照射して、
基体の立体表面の形状によって制限を受けることなく導
体回路パターンを形成することができるものである。
In addition , since the Z mirror is formed to be movable, it is possible to irradiate the laser beam constantly under constant energy conditions by changing the scanning speed of the laser beam according to the optical path of the laser beam and the angle of incidence on the substrate. It becomes possible. The method for forming a three-dimensional circuit according to the present invention includes irradiating a three-dimensional surface of the base with laser light using the above-described laser irradiation method, thereby forming a conductive circuit pattern on the three-dimensional surface of the base in a pattern corresponding to a drawing shape by the laser. So that the three-dimensional surface of the substrate is irradiated with laser light three-dimensionally,
The conductor circuit pattern can be formed without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the base.

【0055】本発明において立体回路を形成するにあた
って、基体の立体表面に導体膜を設けると共にこの導体
膜の上に感光性耐エッチング膜を設け、上記のレーザ照
射方法を用いて感光性耐エッチング膜にレーザ光を照射
して露光した後に現像し、感光性耐エッチング膜の現像
で露出される導体膜をエッチングすることによって導体
回路パターンを形成するようにしたので、サブトラクテ
ィブ法で基体の立体表面の形状によって制限を受けるこ
となく導体回路パターンを形成することができるもので
ある。
In forming a three-dimensional circuit in the present invention, a conductive film is provided on the three-dimensional surface of the base, and a photosensitive etching-resistant film is provided on the conductive film. The substrate is exposed to laser light, exposed, developed, and the conductive film exposed by the development of the photosensitive etching resistant film is etched to form a conductive circuit pattern. The conductive circuit pattern can be formed without being limited by the shape of the conductive circuit.

【0056】本発明において立体回路を形成するにあた
って、基体の立体表面に下地導体膜を設けると共にこの
下地導体膜の上に感光性絶縁膜を設け、上記のレーザ照
射方法を用いて感光性絶縁膜にレーザ光を照射して露光
した後に現像し、感光性絶縁膜の現像で露出される下地
導体膜の上に導体金属を厚付けし、次に感光性絶縁膜を
除去した後に、導体金属で覆われない下地導体膜をエッ
チング除去することによって導体回路パターンを形成す
るようにしたので、セミアディティブ法で基体の立体表
面の形状によって制限を受けることなく導体回路パター
ンを形成することができるものである。
In forming a three-dimensional circuit in the present invention, an underlying conductor film is provided on the three-dimensional surface of the substrate, a photosensitive insulating film is provided on the underlying conductor film, and the photosensitive insulating film is formed by using the laser irradiation method described above. Developed after irradiating with laser light to expose, develop a conductive metal film on the underlying conductive film exposed by the development of the photosensitive insulating film, then remove the photosensitive insulating film, Since the conductive circuit pattern is formed by etching away the uncovered underlying conductive film, the conductive circuit pattern can be formed by the semi-additive method without being limited by the shape of the three-dimensional surface of the base. is there.

【0057】本発明において立体回路を形成するにあた
って、基体の立体表面に感光性耐メッキ膜を設け、上記
のレーザ照射方法を用いて感光性耐メッキ膜にレーザ光
を照射して露光した後に現像し、感光性耐メッキ膜の現
像で露出される基体の立体表面にメッキして導体金属を
付着させることによって導体回路パターンを形成するよ
うにしたので、フルアディティブ法で基体の立体表面の
形状によって制限を受けることなく導体回路パターンを
形成することができるものである。
In forming a three-dimensional circuit in the present invention, a photosensitive plating-resistant film is provided on the three-dimensional surface of the substrate, and the photosensitive plating-resistant film is irradiated with a laser beam using the above-described laser irradiation method, and then exposed to light. The conductive circuit pattern is formed by plating the three-dimensional surface of the substrate exposed by the development of the photosensitive plating-resistant film and attaching a conductive metal, so that the shape of the three-dimensional surface of the substrate is determined by a full additive method. The conductor circuit pattern can be formed without being restricted.

【0058】本発明において立体回路を形成するにあた
って、基体の立体表面に光反応性材料を塗布し、上記の
レーザ照射方法を用いて光反応性材料にレーザ光を照射
して、レーザ光で露光された部分の光反応性材料を反応
させると共に未露光部分の光反応性材料を除去すること
によって光反応性材料で導体回路パターンを形成するよ
うにしたので、基体の立体表面に三次元的にレーザ光を
照射して、基体の立体表面の形状によって制限を受ける
ことなく光反応性材料で導体回路パターンを形成するこ
とができるものである。
In forming a three-dimensional circuit in the present invention, a photoreactive material is applied to a three-dimensional surface of a substrate, and the photoreactive material is irradiated with laser light using the above-described laser irradiation method, and is exposed to laser light. By reacting the photoreactive material in the exposed portion and removing the photoreactive material in the unexposed portion to form a conductive circuit pattern with the photoreactive material, the three-dimensional surface of the substrate is three-dimensionally formed. By irradiating a laser beam, a conductor circuit pattern can be formed from a photoreactive material without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the base.

【0059】本発明において立体回路を形成するにあた
って、反応ガス雰囲気中で基体の立体表面に上記のレー
ザ照射方法を用いてレーザ光を照射することによって、
光CVD法で基体の立体表面に蒸着膜を生成させること
によって導体回路パターンを形成するようにしたので、
光CVD法で基体の立体表面の形状によって制限を受け
ることなく導体回路パターンを形成することができるも
のである。
In forming a three-dimensional circuit in the present invention, the three-dimensional surface of the substrate is irradiated with laser light in a reaction gas atmosphere by using the above-described laser irradiation method.
Since a conductive circuit pattern was formed by generating a vapor-deposited film on the three-dimensional surface of the substrate by a light CVD method,
The conductor circuit pattern can be formed by the photo-CVD method without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the substrate.

【0060】本発明において立体回路を形成するにあた
って、基体の立体表面に導体層を設け、上記のレーザ照
射方法を用いて導体層にレーザ光を照射して、レーザ光
で露光された部分の導体層を除去するかもしくはレーザ
光で露光された部分の導体層を残して他の部分を除去す
ることによって、導体層で導体回路パターンを形成する
ようにしたので、基体の立体表面に三次元的にレーザ光
を照射して、基体の立体表面の形状によって制限を受け
ることなく導体層で導体回路パターンを形成することが
できるものである。
In forming a three-dimensional circuit in the present invention, a conductor layer is provided on the three-dimensional surface of the substrate, and the conductor layer is irradiated with laser light by using the above-described laser irradiation method, and a portion of the conductor exposed by the laser light is exposed. By removing the layer or removing the other portion while leaving the portion of the conductor layer exposed by the laser beam, a conductor circuit pattern is formed by the conductor layer, so that the three-dimensional surface of the substrate is three-dimensionally formed. Is irradiated with laser light to form a conductor circuit pattern on the conductor layer without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the base.

【0061】本発明に係る表面処理方法は、基体の立体
表面に上記のレーザ照射方法を用いてレーザ光を照射す
ることを特徴とするものであり、基体の立体表面に三次
元的にレーザ光を照射して、基体の立体表面の形状によ
って制限を受けることなく表面処理をすることができる
ものである。本発明に係る粉末付着方法は、基体の立体
表面に粉末を供給すると共に、基体の立体表面に上記の
レーザ照射方法を用いてレーザ光を照射することによっ
て、レーザ光の照射箇所において基体の立体表面に粉末
を付着させることを特徴とするものであり、基体の立体
表面に三次元的にレーザ光を照射して、基体の立体表面
の形状によって制限を受けることなく粉末を付着させる
ことができるものである。
A surface treatment method according to the present invention is characterized in that a three-dimensional surface of a substrate is irradiated with a laser beam using the above-described laser irradiation method, and the three-dimensional surface of the substrate is three-dimensionally irradiated with the laser beam. For surface treatment without being limited by the shape of the three-dimensional surface of the substrate. The powder adhering method according to the present invention comprises supplying the powder to the three-dimensional surface of the substrate, and irradiating the three-dimensional surface of the substrate with laser light using the above-described laser irradiation method. The method is characterized in that powder is attached to the surface, and the three-dimensional surface of the substrate is irradiated with laser light three-dimensionally so that the powder can be attached without being restricted by the shape of the three-dimensional surface of the substrate. Things.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例の概略構成図である。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an embodiment of the present invention.

【図2】同上の実施例の概略構成図である。FIG. 2 is a schematic configuration diagram of the embodiment of the above.

【図3】本発明の他の実施例の概略構成図である。FIG. 3 is a schematic configuration diagram of another embodiment of the present invention.

【図4】同上の実施例の一部の斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of a part of the embodiment.

【図5】本発明のさらに他の実施例の概略構成図であ
る。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram of still another embodiment of the present invention.

【図6】同上の実施例の一部を示すものであり、(a)
はビーム径可変機構部分の拡大図、(b)は照射部分の
拡大図である。
FIG. 6 shows a part of the above embodiment, and (a)
3 is an enlarged view of a beam diameter variable mechanism, and FIG. 3B is an enlarged view of an irradiation part.

【図7】本発明のさらに他の実施例の概略構成図であ
る。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of still another embodiment of the present invention.

【図8】本発明のさらに他の実施例の概略構成図であ
る。
FIG. 8 is a schematic configuration diagram of still another embodiment of the present invention.

【図9】本発明において用いるZミラーの各態様を示す
ものであり、(a),(b)は一部切欠斜視図、(c)
は一部切欠断面図である。
FIGS. 9A and 9B show aspects of a Z mirror used in the present invention, wherein FIGS. 9A and 9B are partially cutaway perspective views, and FIG.
Is a partially cutaway sectional view.

【図10】本発明において用いるZミラーによる反射状
態を示すものであり、(a),(b)は断面図である。
FIGS. 10A and 10B show a state of reflection by a Z mirror used in the present invention, and FIGS. 10A and 10B are cross-sectional views.

【図11】本発明において用いるZミラーの他の態様を
示す斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view showing another embodiment of the Z mirror used in the present invention.

【図12】本発明におけるレーザ照射による露光の制御
のフローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart of control of exposure by laser irradiation in the present invention.

【図13】(a)は同上における傾斜面の角度を示す基
体の一部の断面図、(b)は露光の線幅と照射パワーの
関係を示すグラフである。
FIG. 13A is a cross-sectional view of a part of the substrate showing the angle of the inclined surface in the above, and FIG. 13B is a graph showing the relationship between the exposure line width and the irradiation power.

【図14】本発明の立体回路の形成方法の一実施例を示
すものであり、(a)乃至(g)はそれぞれ断面図であ
る。
FIGS. 14A to 14G show one embodiment of a method for forming a three-dimensional circuit according to the present invention, and FIGS.

【図15】本発明の立体回路の形成方法の他の実施例を
示すものであり、(a)乃至(h)はそれぞれ断面図で
ある。
FIG. 15 shows another embodiment of the method of forming a three-dimensional circuit of the present invention, and (a) to (h) are cross-sectional views.

【図16】本発明の立体回路の形成方法のさらに他の実
施例を示すものであり、(a)乃至(f)はそれぞれ断
面図である。
FIG. 16 shows still another embodiment of the method of forming a three-dimensional circuit according to the present invention, and (a) to (f) are cross-sectional views.

【図17】本発明の立体回路の形成方法のさらに他の実
施例を示すものであり、(a)乃至(d)はそれぞれ断
面図である。
FIG. 17 shows still another embodiment of the method of forming a three-dimensional circuit of the present invention, and (a) to (d) are cross-sectional views.

【図18】本発明の立体回路の形成方法のさらに他の実
施例を示すものであり、(a)乃至(c)はそれぞれ断
面図である。
FIG. 18 shows still another embodiment of the method for forming a three-dimensional circuit according to the present invention, and (a) to (c) are cross-sectional views.

【図19】本発明の立体回路の形成方法のさらに他の実
施例を示すものであり、(a)乃至(d)はそれぞれ断
面図である。
FIG. 19 shows still another embodiment of the method of forming a three-dimensional circuit according to the present invention, and (a) to (d) are cross-sectional views.

【図20】本発明の表面処理方法の一実施例を示すもの
であり、(a)乃至(i)はそれぞれ断面図である。
FIG. 20 shows one embodiment of the surface treatment method of the present invention, and (a) to (i) are cross-sectional views, respectively.

【図21】本発明の粉末の付着方法の一実施例を示すも
のであり、(a),(b)はそれぞれ断面図である。
FIG. 21 shows one embodiment of the method for adhering powder of the present invention, and (a) and (b) are cross-sectional views, respectively.

【図22】従来例の斜視図である。FIG. 22 is a perspective view of a conventional example.

【図23】同上の概略図である。FIG. 23 is a schematic view of the above.

【図24】同上の問題点を示す概略構成図である。FIG. 24 is a schematic configuration diagram showing the above problem.

【図25】他の従来例を示すものであり、(a),
(b)はそれぞれ断面図である。
FIG. 25 shows another conventional example, in which (a),
(B) is a sectional view, respectively.

【図26】さらに他の従来例を示すものであり、
(a),(b)はそれぞれ断面図である。
FIG. 26 shows still another conventional example,
(A), (b) is a sectional view, respectively.

【図27】さらに他の従来例を示すものであり、
(a),(b)はそれぞれ断面図である。
FIG. 27 shows still another conventional example,
(A), (b) is a sectional view, respectively.

【図28】さらに他の従来例を示す概略図である。FIG. 28 is a schematic view showing still another conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 Xミラー 2 Yミラー 3 Zミラー 4 基体 5 レーザ発振器 6 パワー可変機構 7 ビーム径可変機構 8 立体表面 9 導体回路パターン 10 導体膜 11 感光性エッチング膜 12 下地導体膜 13 感光性絶縁膜 14 導体金属 15 光反応性材料 16 蒸着膜 17 導体層 18 粉末 19 感光性耐メッキ膜 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 X mirror 2 Y mirror 3 Z mirror 4 Substrate 5 Laser oscillator 6 Power variable mechanism 7 Beam diameter variable mechanism 8 Solid surface 9 Conductor circuit pattern 10 Conductive film 11 Photosensitive etching film 12 Underlayer conductive film 13 Photosensitive insulating film 14 Conductive metal 15 Photoreactive material 16 Evaporated film 17 Conductive layer 18 Powder 19 Photosensitive plating resistant film

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI C23C 16/48 C23C 16/48 G02B 26/10 101 G02B 26/10 101 H01S 3/101 H01S 3/101 H05K 3/06 H05K 3/06 E 3/08 3/08 D 3/10 3/10 C 3/14 3/14 3/18 3/18 D // B23K 101:42 (72)発明者 鎌田 策雄 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工 株式会社内 (72)発明者 大谷 隆児 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工 株式会社内 (72)発明者 鈴木 俊之 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工 株式会社内 (72)発明者 岡本 剛 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工 株式会社内 (56)参考文献 特開 平6−226473(JP,A) 特開 平6−678(JP,A) 特開 昭63−243218(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B23K 26/00 - 26/08 G02B 26/10 H05K 3/06 - 3/18 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI C23C 16/48 C23C 16/48 G02B 26/10 101 G02B 26/10 101 H01S 3/101 H01S 3/101 H05K 3/06 H05K 3 / 06 E 3/08 3/08 D 3/10 3/10 C 3/14 3/14 3/18 3/18 D // B23K 101: 42 (72) Inventor Sakuo Kamada 1048 Odakadoma, Kazuma, Kazuma, Osaka Matsushita Electric Works, Inc. Goh Okamoto 1048 Kazuma Kadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Works, Ltd. (56) References JP-A-6-226473 (JP, A) JP-A-6-678 (JP, A) JP-A-63-243218 ( JP, A) (58) Survey The field (Int.Cl. 7, DB name) B23K 26/00 - 26/08 G02B 26/10 H05K 3/06 - 3/18

Claims (18)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 レーザ光をX軸方向及びY軸方向にX・
Yミラーで反射させると共にこの反射されたレーザ光を
さらにZ軸方向にZミラーで反射させて基体の表面にレ
ーザ光を照射するにあたって、レーザ光の光路に応じて
レーザ光の照射パワー、照射スポット径、基体の表面で
のレーザ光の走査速度の少なくとも一つを変えて基体の
表面にレーザ光を照射することを特徴とするレーザ照射
方法。
1. A laser beam is applied to an X-axis direction and a Y-axis direction.
When the laser light is reflected by the Y mirror and the reflected laser light is further reflected by the Z mirror in the Z-axis direction to irradiate the surface of the substrate with the laser light, the laser light is irradiated according to the optical path of the laser light.
Laser beam irradiation power, irradiation spot diameter, surface of substrate
At least one of the scanning speeds of the laser light
A laser irradiation method comprising irradiating a surface with laser light .
【請求項2】 レーザ光をX軸方向及びY軸方向にX・
Yミラーで反射させると共にこの反射されたレーザ光を
さらにZ軸方向にZミラーで反射させて基体の表面にレ
ーザ光を照射するにあたって、基体の表面へのレーザ光
の入射角度に応じてレーザ光の照射パワー、照射スポッ
ト径、基体の表面でのレーザ光の走査速度の少なくとも
一つを変えて基体の表面にレーザ光を照射することを特
徴とするレーザ照射方法。
2. The laser beam is applied to the X-axis direction and the Y-axis direction
The reflected laser light is reflected by the Y mirror and
Further, the light is reflected by a Z mirror in the Z-axis direction and is reflected on the surface of the substrate.
In irradiating the laser light, at least one of the irradiation power of the laser light, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser light on the surface of the substrate is changed according to the incident angle of the laser light on the surface of the substrate. features and, Relais chromatography the irradiation method of irradiating a laser beam on the surface.
【請求項3】 レーザ光をX軸方向及びY軸方向にX・
Yミラーで反射させると共にこの反射されたレーザ光を
さらにZ軸方向にZミラーで反射させて基体の表面にレ
ーザ光を照射するにあたって、基体の表面の所定の照射
箇所に入射するレーザ光の光路が複数路あるときは最短
距離の光路を選択して基体の表面にレーザ光を照射する
ことを特徴とするレーザ照射方法。
3. A laser beam is applied to the X-axis direction and the Y-axis direction
The reflected laser light is reflected by the Y mirror and
Further, the light is reflected by a Z mirror in the Z-axis direction and is reflected on the surface of the substrate.
When irradiating the laser light, when there are a plurality of optical paths of the laser light incident on a predetermined irradiation position on the surface of the base, the laser light is irradiated on the surface of the base by selecting the shortest optical path. , Relais over The irradiation method.
【請求項4】 レーザ光をX軸方向及びY軸方向にX・
Yミラーで反射させると共にこの反射されたレーザ光を
さらにZ軸方向にZミラーで反射させて基体の表面にレ
ーザ光を照射するにあたって、基体の表面の所定の照射
箇所に入射するレーザ光の光路が複数路あるときは基体
の表面の入射角度が法線方向に最も近い光路を選択して
基体の表面にレーザ光を照射することを特徴とするレ
ザ照射方法。
4. A laser beam is emitted in X-axis direction and Y-axis direction.
The reflected laser light is reflected by the Y mirror and
Further, the light is reflected by a Z mirror in the Z-axis direction and is reflected on the surface of the substrate.
When irradiating laser light, if there are multiple optical paths of laser light incident on a predetermined irradiation location on the surface of the substrate, select the optical path whose incident angle on the surface of the substrate is closest to the normal direction, and select the optical path. features and, Relais over <br/> the irradiation method of irradiating a laser beam on.
【請求項5】 レーザ光をX軸方向及びY軸方向にX・
Yミラーで反射させると共にこの反射されたレーザ光を
さらにZ軸方向にZミラーで反射させて基体の表面にレ
ーザ光を照射するにあたって、X・Yミラーの反射のみ
で基体の表面にレーザ光を照射できるときはZミラーを
使用しないようにZミラーの使用を選択可能にすると共
に、レーザ光の光路に応じてレーザ光の照射パワー、照
射スポット径、基体の表面でのレーザ光の走査速度の少
なくとも一つを変えて基体の表面にレーザ光を照射する
ことを特徴とするレーザ照射方法。
5. The method according to claim 1, wherein the laser beam is directed to X-axis direction and Y-axis direction.
The reflected laser light is reflected by the Y mirror and
Further, the light is reflected by a Z mirror in the Z-axis direction and is reflected on the surface of the substrate.
When irradiating laser light, only reflections from X and Y mirrors
When the surface of the base can be irradiated with laser light by using
The use of the Z mirror can be selected so that it is not used.
And irradiating the surface of the substrate with the laser beam by changing at least one of the irradiation power of the laser beam, the irradiation spot diameter, and the scanning speed of the laser beam on the surface of the substrate in accordance with the optical path of the laser beam. Relais over The irradiation method.
【請求項6】 レーザ光をX軸方向及びY軸方向にX・
Yミラーで反射させると共にこの反射されたレーザ光を
さらにZ軸方向にZミラーで反射させて基体の表面にレ
ーザ光を照射するにあたって、X・Yミラーの反射のみ
で基体の表面にレーザ光を照射できるときはZミラーを
使用しないようにZミラーの使用を選択可能にすると共
に、基体の表面へのレーザ光の入射角度に応じてレーザ
光の照射パワー、照射スポット径、基体の表面でのレー
ザ光の走査速度の少なくとも一つを変えて基体の表面に
レーザ光を照射することを特徴とするレーザ照射方法。
6. The laser beam is applied to the X-axis direction and the Y-axis direction
The reflected laser light is reflected by the Y mirror and
Further, the light is reflected by a Z mirror in the Z-axis direction and is reflected on the surface of the substrate.
When irradiating laser light, only reflections from X and Y mirrors
When the surface of the base can be irradiated with laser light by using
The use of the Z mirror can be selected so that it is not used.
The irradiation, the irradiation power of the laser light according to the incident angle of the laser beam to the substrate surface, the irradiation spot diameter, at least one by changing the substrate surface of the laser beam scanning speed on the surface of the substrate with laser light features and, Relais chromatography the irradiation method to.
【請求項7】 レーザ光を発振するレーザ発振器と、レ
ーザ発振器から発振されたレーザ光をX軸方向及びY軸
方向に反射させるX・Yミラーと、X・Yミラーで反射
されたレーザ光を基体に向けて反射させるZミラーとを
具備したレーザ照射装置であって、Zミラーを可動に形
して成ることを特徴とするレーザ照射装置。
7. A laser oscillator that oscillates a laser beam, an XY mirror that reflects the laser beam oscillated from the laser oscillator in the X-axis direction and the Y-axis direction, and a laser beam that is reflected by the XY mirror. What is claimed is: 1. A laser irradiation apparatus comprising: a Z mirror that reflects light toward a base;
The laser irradiation apparatus, characterized in that formed by deposition.
【請求項8】 レーザ光を発振するレーザ発振器と、レ
ーザ発振器から発振されたレーザ光をX軸方向及びY軸
方向に反射させるX・Yミラーと、X・Yミラーで反射
されたレーザ光を基体に向けて反射させるZミラーとを
具備したレーザ照射装置であって、Zミラーが円筒状、
円錐状、球面鏡、非球面鏡のいずれかに形成されている
ことを特徴とするレーザ照射装置。
8. A laser oscillator for oscillating laser light, and a laser oscillator.
The laser light emitted from the laser oscillator in the X-axis direction and the Y-axis direction.
XY mirror that reflects light in the direction and XY mirror
And a Z-mirror that reflects the laser beam directed toward the base.
A laser irradiator comprising: a Z mirror having a cylindrical shape;
Conical, spherical mirror, characterized and, Relais chromatography The irradiation apparatus that are formed on one of the non-spherical mirror.
【請求項9】 レーザ光を発振するレーザ発振器と、レ
ーザ発振器から発振されたレーザ光をX軸方向及びY軸
方向に反射させるX・Yミラーと、X・Yミラーで反射
されたレーザ光を基体に向けて反射させるZミラーとを
具備したレーザ照射装置であって、Zミラーに入射する
レーザ光の起点がZミラーの中心軸と同軸でないことを
特徴とするレーザ照射装置。
9. A laser oscillator for oscillating laser light, and a laser
The laser light emitted from the laser oscillator in the X-axis direction and the Y-axis direction.
XY mirror that reflects light in the direction and XY mirror
And a Z-mirror that reflects the laser beam directed toward the base.
A laser irradiation apparatus comprising, features and, Relais chromatography The irradiation device that starting point of the laser beam incident on the Z mirror is not central axis coaxial with the Z mirror.
【請求項10】 請求項1乃至のいずれかに記載のレ
ーザ照射方法を用いて基体の立体表面にレーザ光を照射
することによって、レーザ光による描画形状に応じたパ
ターンで基体の立体表面に導体回路パターンを形成する
ことを特徴とする立体回路の形成方法。
10. A three-dimensional surface of a substrate is irradiated with laser light by using the laser irradiation method according to any one of claims 1 to 6 , so that the three-dimensional surface of the substrate is patterned in accordance with a drawing shape by the laser light. A method of forming a three-dimensional circuit, comprising forming a conductive circuit pattern.
【請求項11】 基体の立体表面に導体膜を設けると共
にこの導体膜の上に感光性耐エッチング膜を設け、請求
項1乃至のいずれかに記載のレーザ照射方法を用いて
感光性耐エッチング膜にレーザ光を照射して露光した後
に現像し、感光性耐エッチング膜の現像で露出される導
体膜をエッチングすることによって導体回路パターンを
形成することを特徴とする立体回路の形成方法。
11. The photosensitive etching resistant film on the conductive film with a three-dimensional surface of a substrate provided with a conductor film provided, a photosensitive etching-resistant using the laser irradiation method according to any one of claims 1 to 6 A method for forming a three-dimensional circuit, comprising: irradiating a film with a laser beam, exposing the film to light, developing the film, and etching the conductive film exposed by developing the photosensitive etching-resistant film to form a conductive circuit pattern.
【請求項12】 基体の立体表面に下地導体膜を設ける
と共にこの下地導体膜の上に感光性絶縁膜を設け、請求
項1乃至いずれかに記載のレーザ照射方法を用いて感
光性絶縁膜にレーザ光を照射して露光した後に現像し、
感光性絶縁膜の現像で露出される下地導体膜の上に導体
金属を厚付けし、次に感光性絶縁膜を除去した後に、導
体金属で覆われない下地導体膜をエッチング除去するこ
とによって導体回路パターンを形成することを特徴とす
る立体回路の形成方法。
12. A photosensitive insulating film provided on a three-dimensional surface of a substrate and a photosensitive insulating film provided on the underlying conductive film by using the laser irradiation method according to any one of claims 1 to 6. Developed after irradiating the laser light and exposing,
The conductive metal is thickened on the underlying conductive film exposed by the development of the photosensitive insulating film, and then the photosensitive insulating film is removed, and then the underlying conductive film that is not covered with the conductive metal is removed by etching. A method for forming a three-dimensional circuit, comprising forming a circuit pattern.
【請求項13】 基体の立体表面に感光性耐メッキ膜を
設け、請求項1乃至のいずれかに記載のレーザ照射方
法を用いて感光性耐メッキ膜にレーザ光を照射して露光
した後に現像し、感光性耐メッキ膜の現像で露出される
基体の立体表面にメッキして導体金属を付着させること
によって導体回路パターンを形成することを特徴とする
立体回路の形成方法。
To 13. The substrate of three-dimensional surface is provided a photosensitive resistant plating layer, after exposure by irradiating a laser beam to the photosensitive resistant plating film using the laser irradiation method according to any one of claims 1 to 6 A method of forming a three-dimensional circuit, comprising: developing and plating a three-dimensional surface of a substrate exposed by development of a photosensitive plating resistant film, and attaching a conductive metal to form a conductive circuit pattern.
【請求項14】 基体の立体表面に光反応性材料を塗布
し、請求項1乃至のいずれかに記載のレーザ照射方法
を用いて光反応性材料にレーザ光を照射して、レーザ光
で露光された部分の光反応性材料を反応させると共に未
露光部分の光反応性材料を除去することによって光反応
性材料で導体回路パターンを形成することを特徴とする
立体回路の形成方法。
14. A photoreactive material is applied to a three-dimensional surface of a substrate, and the photoreactive material is irradiated with laser light by using the laser irradiation method according to any one of claims 1 to 6 ; A method for forming a three-dimensional circuit, comprising: forming a conductive circuit pattern using a photoreactive material by reacting an exposed portion of the photoreactive material and removing an unexposed portion of the photoreactive material.
【請求項15】 反応ガス雰囲気中で基体の立体表面に
請求項1乃至のいずれかに記載のレーザ照射方法を用
いてレーザ光を照射することによって、光CVD法で基
体の立体表面に蒸着膜を生成させることによって導体回
路パターンを形成することを特徴とする立体回路の形成
方法。
15. A three-dimensional surface of a substrate is irradiated with a laser beam using a laser irradiation method according to any one of claims 1 to 6 in a reaction gas atmosphere to deposit the three-dimensional surface of the substrate by a photo-CVD method. A method for forming a three-dimensional circuit, wherein a conductive circuit pattern is formed by forming a film.
【請求項16】 基体の立体表面に導体層を設け、請求
項1乃至のいずれかに記載のレーザ照射方法を用いて
導体層にレーザ光を照射して、レーザ光で露光された部
分の導体層を除去するかもしくはレーザ光で露光された
部分の導体層を残して他の部分を除去することによっ
て、導体層で導体回路パターンを形成することを特徴と
する立体回路の形成方法。
16. A conductor layer is provided on a three-dimensional surface of a substrate, and the conductor layer is irradiated with laser light by using the laser irradiation method according to any one of claims 1 to 6 , thereby forming a portion exposed by the laser light. A method for forming a three-dimensional circuit, wherein a conductor circuit pattern is formed on a conductor layer by removing the conductor layer or leaving a portion of the conductor layer exposed to laser light and removing other portions.
【請求項17】 基体の立体表面に、請求項1乃至
いずれかに記載のレーザ照射方法を用いてレーザ光を照
射することを特徴とする表面処理方法。
To 17. The substrate of three-dimensional surface, surface treatment method, which comprises irradiating a laser beam using the laser irradiation method according to any one of claims 1 to 6.
【請求項18】 基体の立体表面に粉末を供給すると共
に、基体の立体表面に請求項1乃至のいずれかに記載
のレーザ照射方法を用いてレーザ光を照射することによ
って、レーザ光の照射箇所において基体の立体表面に粉
末を付着させることを特徴とする粉末付着方法。
18. Irradiation of laser light by supplying powder to the three-dimensional surface of the substrate and irradiating the three-dimensional surface of the substrate with laser light by using the laser irradiation method according to any one of claims 1 to 6. A powder adhering method, comprising: adhering powder to a three-dimensional surface of a substrate at a location.
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