JPH06294644A - 幅長さ計測方法 - Google Patents

幅長さ計測方法

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Publication number
JPH06294644A
JPH06294644A JP10349193A JP10349193A JPH06294644A JP H06294644 A JPH06294644 A JP H06294644A JP 10349193 A JP10349193 A JP 10349193A JP 10349193 A JP10349193 A JP 10349193A JP H06294644 A JPH06294644 A JP H06294644A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
angle
axis
axis direction
scan
length
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP10349193A
Other languages
English (en)
Inventor
Masato Aoki
正人 青木
Haruo Imai
晴雄 今井
Tsutomu Oki
勉 大木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP10349193A priority Critical patent/JPH06294644A/ja
Publication of JPH06294644A publication Critical patent/JPH06294644A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定位置における角度検出のタイミングのバ
ラツキをなくし、高精度計測を実現する幅長さ計測方法
を提供する。 【構成】 対象物のx,y方向に1次元センサを、x,
y方向に同時にスキャンさせ、y軸方向のエッジ位置デ
ータを平均値化させ、測定面上の中心からy軸方向のエ
ッジ位置の角度を求め、この求めた角度を用いて、x軸
方向の各点の長さを求めるものである。各測定位置にお
ける角度検出タイミングのバラツキによる演算誤差を有
効になくすることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、幅長さ計測方法に係
り、特に高精度の長さ演算が可能で、1次元センサを駆
動するモータの角度検出を不必要にし得る幅長さ計測方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、対象物の幅及び長さを計測するた
めに、撮像式1次元センサをスキャンさせることによ
り、対象物のエッジを検出して処理する幅長さ計測方法
が知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
計測方法では、撮像式1次元センサをスキャンさせるこ
とにより、各測定位置での角度を求める必要があるが、
各測定位置における角度検出のタイミングのバラツキ等
に起因して、演算に誤差が生じるという問題があった。
【0004】そこで本発明は、各測定位置における角度
検出のタイミングのバラツキをなくし、高精度計測を実
現する幅長さ計測方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の幅長さ計測方法
は、対象物のx,y方向に沿って、1次元センサをこれ
らx,y方向に同時にスキャンさせ、y軸方向のエッジ
位置データを平均値化し、測定面上の中心からy軸方向
のエッジ位置の角度を求め、この求めた角度を用いて、
x軸方向の各点の長さを求めるものである。
【0006】
【作用】1次元センサから得られた各片のデータを組合
わせて、長いスラブの測定やスキャン角度が大きい場合
の角度補正を行い、特に高精度の長さ演算が可能にな
る。また1次元センサを駆動するためのモータの角度検
出を不必要にすることができる。
【0007】
【実施例】以下、図1乃至図4に基づき、本発明による
幅長さ計測方法の一実施例を説明する。
【0008】図1及び図2は、本発明方法に係る計測装
置の概略構成を示している。図において、ローラテーブ
ル1上に、温度700〜1300℃のスラブ2が搬送さ
れており、本実施例ではこのスラブ2の幅及び長さを計
測するものとする。ローラテーブル1の約20m上方に
位置する上部計測室3内に、本発明方法を実施するため
の計測装置が設置されている。
【0009】この計測装置は、上記スラブ2の全体をそ
の視野範囲内に収めることができ、該スラブ2の左右の
エッジを検出し得るようにスラブ2の搬送方向に対して
直交する水平軸4のまわりに回動可能に設けられ、モー
タ5によって搬送方向に対して前後方向(x方向)に駆
動される一対の1次元センサ6を備えている。またスラ
ブ2の前後のエッジを検出し得るようにスラブ2の搬送
方向に対して平行な平行軸7のまわりに回動可能に設け
られ、モータ8によって搬送方向に対して左右方向(y
方向)に駆動される一対の1次元センサ9を備えてい
る。
【0010】次に、本発明方法による計測手順を図3及
び図4を参照して説明する。先ず、1次元センサ6及び
9によるスキャンが開始される。即ち、1次元センサ6
及び9を、それぞれ駆動モータ5及び8によりy軸スキ
ャン方向及びx軸スキャン方向にスキャンさせる。次
に、各片のエッジ位置をメモリに展開する。即ち、得ら
れたデータは、y軸スキャン方向の場合の開始側を
t 、終了側をyb としてメモリに展開される。またx
軸スキャン方向の場合の開始側をxd 、終了側をxw
してメモリに展開される。
【0011】次に、y軸方向のエッジ位置データを平均
値化する。即ち、y軸スキャン方向の開始側のデータの
平均値をytx、終了側のデータの平均値をybxとする。
【0012】次に、y0 上の点Sからytx,ytbの角度
を求める。ここでy0 上の点Sはx軸スキャン方向の1
次元センサ9の位置である。点Sにおけるy0 とytx
bxから成る角度を、各々x軸スキャン方向のスキャン
開始角度θt とスキャン終了角度θb として演算する。
次に、上記角度θt ,θb からx軸スキャン方向の各点
の角度θxiを求める。即ち、角度θxiは、θt 及びθb
の和をx軸スキャン方向の測定点数で割ることにより求
められる。
【0013】次に、x軸方向の長さを求める。即ち、x
軸スキャン方向の各点のエッジ位置データxdi,xwi
角度θxiを用いて、x0 からの距離Ldi,Lwiを演算し
て、x軸方向の各スキャンポイントの長さLi が求めら
れる。更に、x軸方向の各点のデータを用いて、平均
値,最大値及び最小値が求められる。
【0014】ここで、本発明方法による具体的な計測例
を説明する。1次元センサ6及び9を駆動モータ5及び
8により駆動することにより、y軸スキャン方向及びx
軸スキャン方向に約20°の範囲でスキャンする。次
に、y軸スキャン方向の開始側を0、終了側を5mと
し、またx軸スキャン方向の開始側を0、終了側を8m
としてスキャンし、その間で最大150点のデータを採
取してメモリに展開する。次いでy軸方向のエッジ位置
データを平均値化するが、y軸スキャン方向の開始側の
データの平均値をytx、終了側のデータの平均値をybx
とする。この場合、平均値を求める際に異常データは除
去される。
【0015】次に、y0 上の点Sからytx,ytbの角度
を求めるが、点Sはx軸スキャン方向の1次元センサ9
の位置であり、約20mである。点Sにおけるy0 とy
tx,ybxから成る角度を、各々x軸スキャン方向のスキ
ャン開始角度θt とスキャン終了角度θb として演算す
る。次いで上記角度θt ,θb からx軸スキャン方向の
各点の角度θxiを求める。このθxiは、上述したよう
に、θt 及びθb の和をx軸スキャン方向の測定点数で
割ることにより求められる。
【0016】次にx軸スキャン方向の各点のエッジ位置
データxdi,xwiを上記角度θxiを用いて、x0 からの
距離Ldi,Lwiを演算することにより、x軸方向の各ス
キャンポイントの長さLi が求められる。また上記のよ
うに、x軸方向の各点のデータを用いて、平均値,最大
値及び最小値が求められる。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明方法によれ
ば、従来の計測方法では撮像式1次元センサをスキャン
して各測定位置での角度を求める必要があったが、各測
定位置における角度検出のタイミングのバラツキ等によ
る演算誤差をなくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による幅長さ計測方法に係る計測装置の
概略構成を示す図である。
【図2】本発明による上記計測装置の概略構成を示す斜
視図である。
【図3】本発明による幅長さ計測方法の例を示す斜視図
である。
【図4】本発明の幅長さ計測方法の具体的手順のフロー
チャートを示す図である。
【符号の説明】
1 ローラテーブル 2 スラブ 3 計測室 4 水平軸 5 モータ 6 1次元センサ 7 平行軸 8 モータ 9 1次元センサ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対象物の幅及び長さを計測する方法にお
    いて、 前記対象物のx,y方向に沿って1次元センサをこれら
    x,y方向に同時にスキャンさせ、 y軸方向のエッジ位置データを平均値化し、 測定面上の中心からy軸方向のエッジ位置の角度を求
    め、 この求めた角度を用いて、x軸方向の各点の長さを求め
    ることを特徴とする幅長さ計測方法。
JP10349193A 1993-04-06 1993-04-06 幅長さ計測方法 Withdrawn JPH06294644A (ja)

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JP10349193A JPH06294644A (ja) 1993-04-06 1993-04-06 幅長さ計測方法

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JPH06294644A true JPH06294644A (ja) 1994-10-21

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113884020A (zh) * 2021-09-16 2022-01-04 苏州三姆森光电科技有限公司 一种3c产品内部长宽尺寸的测量方法
WO2023035534A1 (zh) * 2021-09-13 2023-03-16 广东三姆森科技股份有限公司 一种3c产品内部尺寸的测量方法及测量装置

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WO2023035534A1 (zh) * 2021-09-13 2023-03-16 广东三姆森科技股份有限公司 一种3c产品内部尺寸的测量方法及测量装置
CN113884020A (zh) * 2021-09-16 2022-01-04 苏州三姆森光电科技有限公司 一种3c产品内部长宽尺寸的测量方法
CN113884020B (zh) * 2021-09-16 2022-06-28 苏州三姆森光电科技有限公司 一种3c产品内部长宽尺寸的测量方法

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