JPH06289258A - Semiconductor laser device - Google Patents

Semiconductor laser device

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JPH06289258A
JPH06289258A JP8035193A JP8035193A JPH06289258A JP H06289258 A JPH06289258 A JP H06289258A JP 8035193 A JP8035193 A JP 8035193A JP 8035193 A JP8035193 A JP 8035193A JP H06289258 A JPH06289258 A JP H06289258A
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JP
Japan
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laser
lens
carrier
semiconductor laser
metallized
Prior art date
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Application number
JP8035193A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasutoshi Yagyu
泰利 柳生
Makoto Shimaoka
誠 嶋岡
Kazuyuki Fukuda
和之 福田
Tetsuo Kumazawa
鉄雄 熊沢
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPH06289258A publication Critical patent/JPH06289258A/en
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Abstract

PURPOSE:To eliminate the need for using low melting solder by forming a lens by direct molding on a laser carrier, then fixing a laser element onto the laser carrier. CONSTITUTION:The lens 2 is previously directly molded on the laser carrier 1. A laser sub-mounted fixed with a semiconductor laser element 3 atop this mount and a PD sub-mount 10 fixed with a photodiode (PD) 6 are aligned in optical axis to the lens 2 and are then fixed by soldering onto the laser carrier 1. Since the lens 2 is directly molded on the carrier 1, the assembly of the device is executed simply by aligning the optical axes of the semiconductor laser 3 and the lens 2, then directly fixing the semiconductor laser to the laser carrier 1 by the high melting solder, such as Au/Sn. The joint part by low melting solder is, therefore, eliminated and the generation of optical axis mis- alignment by moving of the lens by the fatigue of the low melting solder after assembly does not arise any more.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザ素子とレ
ンズ及びフォトダイオード(以下PD)を一体化した半
導体レーザ装置に関するものであり、レンズをレーザキ
ャリアに直接成型することにより従来装置にあった強度
の弱い半田接合部を無くし、信頼性向上を実現したこと
を特徴とする。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor laser device in which a semiconductor laser element is integrated with a lens and a photodiode (hereinafter referred to as "PD"), which is present in a conventional device by directly molding the lens into a laser carrier. It is characterized by eliminating solder joints with weak strength and improving reliability.

【0002】本発明による半導体レーザ装置は、光通信
や光計測等の分野で光源として用いることができ、従来
装置に比べて高い信頼性を有する。
The semiconductor laser device according to the present invention can be used as a light source in the fields of optical communication and optical measurement, and has higher reliability than conventional devices.

【0003】[0003]

【従来の技術】従来例として、特開昭58−21890
号公報に記載の発明を図4に示す。図4に示す従来構造
では、半導体レーザ3とレンズ2を別のキャリア1,7
に各々固定し、レンズキャリア7を動かしてレンズ2と
半導体レーザ3の光軸を合わせた後、レンズキャリア7
とレーザキャリア1を半田付けによって固定していた。
2. Description of the Related Art As a conventional example, JP-A-58-21890
The invention described in the publication is shown in FIG. In the conventional structure shown in FIG. 4, the semiconductor laser 3 and the lens 2 are separated into separate carriers 1 and 7.
After fixing each of them and moving the lens carrier 7 to align the optical axes of the lens 2 and the semiconductor laser 3,
And the laser carrier 1 was fixed by soldering.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】図4の従来例では、レ
ンズキャリア7をレーザキャリア1に半田付けで固定し
ていた。その場合、図4の構造では、先にレーザ素子3
をAu/Sn等の高融点半田(融点200℃以上)で固
定し、その後で固定するレンズキャリア7には、Pb/
Sn等の低融点半田(融点200℃以下)を用いざるを
得ない。一般に、低融点半田は強度が低くて温度変動や
経年劣化によりクラックやクリープが生じ易く、その結
果、組立後レンズキャリア7が動いて光軸ずれが起きる
という問題点があり、信頼性が低かった。
In the conventional example of FIG. 4, the lens carrier 7 is fixed to the laser carrier 1 by soldering. In that case, in the structure of FIG.
Is fixed with a high melting point solder (melting point of 200 ° C. or higher) such as Au / Sn, and then Pb /
There is no choice but to use a low melting point solder such as Sn (melting point 200 ° C. or lower). In general, low melting point solder has low strength and is susceptible to cracks and creeps due to temperature fluctuations and deterioration over time. As a result, there is a problem that the lens carrier 7 moves after assembly and the optical axis shifts, resulting in low reliability. .

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記問題点は、レーザキ
ャリアとレンズキャリアを別部材にして半田固定したこ
とに起因している。そこで、本発明では、レンズとレー
ザ素子を同一のキャリア上に搭載する構造とした。具体
的には、文献((株)旭ガラス 非球面ガラスモールド
レンズ資料)に記載されているように現在では半導体レ
ーザ用の微小レンズを金属部材に直接成形することが可
能であるため、レーザキャリアにレンズを直接成形で形
成し、その後、レーザ素子をレーザキャリア上に固定す
る構造とした。
The above problems are caused by fixing the laser carrier and the lens carrier as separate members by soldering. Therefore, in the present invention, the lens and the laser element are mounted on the same carrier. Specifically, as described in the literature (Asahi Glass Co., Ltd. aspherical glass mold lens material), it is now possible to directly form a minute lens for a semiconductor laser on a metal member. A lens was formed by direct molding on the substrate, and then the laser element was fixed on the laser carrier.

【0006】[0006]

【作用】本発明では、レンズをレーザキャリアに直接成
型しているため、装置の組立は半導体レーザをレンズと
光軸合せした後Au/Sn等の高融点半田で直接レーザ
キャリアに固定するだけで良い。そのため、従来装置に
あったレーザキャリアとレンズキャリア間の低融点半田
による接合部がなくなり、組立後に低融点半田の疲労に
よりレンズが動いて光軸ずれを起こすという前述の問題
点は解決される。
According to the present invention, since the lens is directly molded on the laser carrier, the device can be assembled simply by aligning the optical axis of the semiconductor laser with the lens and then directly fixing it to the laser carrier with a high melting point solder such as Au / Sn. good. Therefore, the above-mentioned problem that the joint between the laser carrier and the lens carrier due to the low melting point solder is eliminated in the conventional device and the lens moves due to fatigue of the low melting point solder after assembly to cause the optical axis shift is solved.

【0007】[0007]

【実施例】図5,図6は、本発明の一実施例の斜視図,
断面図である。レーザキャリア1には予めレンズ2を直
接成形してあり、半導体レーザ素子3を上面に固定した
レーザサブマウント9とPD6を固定したPDサブマウ
ント10をレンズ2と光軸合せした後、レーザキャリア
1上に半田固定してある。
FIG. 5 and FIG. 6 are perspective views of an embodiment of the present invention,
FIG. The lens 2 is directly formed on the laser carrier 1 in advance. The laser submount 9 having the semiconductor laser element 3 fixed to the upper surface and the PD submount 10 having the PD 6 fixed thereto are aligned with the lens 2 in the optical axis. Soldered on top.

【0008】以下に各部材及び組立工程を説明する。図
7に示すレーザキャリア1は、線膨張係数の低いコバー
ルやCu−W合金等(いずれも線膨張係数6×10 ̄6
程度)を材料とし寸法は数mm角程度であり、図に示す
ように、垂直な壁板を有し、表面には半田付けのために
Auメッキが施してある。そして、レンズ成形のために
壁板には直径1mm程度の孔13が空けてある。
Each member and the assembling process will be described below. Laser carrier 1 shown in FIG. 7, lower Kovar or Cu-W alloy or the like having a linear expansion coefficient (both linear expansion coefficient 6 × 10¯ 6
Approximately) is used as a material, and the dimensions are about several mm square. As shown in the figure, it has a vertical wall plate and the surface is plated with Au for soldering. A hole 13 having a diameter of about 1 mm is formed in the wall plate for lens molding.

【0009】次に、図8(a)に示すように、レンズ金
型14をレーザキャリア1の孔13を挾むように配置
し、その間に孔13を埋めるようにレンズ材料15を充
填する。そして、焼成によって図8(b)に示すよう
に、レンズ2をレーザキャリア1に成形する。
Next, as shown in FIG. 8A, a lens mold 14 is disposed so as to sandwich the hole 13 of the laser carrier 1, and a lens material 15 is filled so as to fill the hole 13 therebetween. Then, the lens 2 is formed into a laser carrier 1 by firing, as shown in FIG.

【0010】一方、図8(c),(d)に示すようにP
D6をセラミック製のPDサブマウント10に半田固定
し、図8(e),(f)に示すように、半導体レーザ素
子3をセラミック製のレーザサブマウント9に半田固定
する。これらの半田付けには、Au/Sn(融点280
℃)のような高融点の半田を用いる。そして、まず
(d)のPDサブマウント10をレンズ2と光軸が合う
ように、レーザキャリア1上に配置しAu/Sn等の高
融点半田で固定する。
On the other hand, as shown in FIGS. 8 (c) and 8 (d), P
D6 is soldered and fixed to the PD submount 10 made of ceramic, and the semiconductor laser element 3 is soldered and fixed to the laser submount 9 made of ceramic as shown in FIGS. For soldering these, Au / Sn (melting point 280
Use a high melting point solder such as (° C). Then, first, the PD submount 10 of (d) is arranged on the laser carrier 1 so that the optical axis of the PD submount 10 is aligned with the lens 2, and is fixed with a high melting point solder such as Au / Sn.

【0011】次に、(f)のレーザサブマウント9をレ
ーザ素子3とレンズ2の光軸を合わせた後、レーザキャ
リア1上にAu/Sn等の高融点半田で固定する。これ
らの半田付け時に、先に固定したレーザ3とレーザサブ
マウント9間、及びPD6とPDサブマウント10間の
Au/Sn半田は融けるが、溶融半田の粘性によってレ
ーザ素子3とPD6は大きく動くことはないので、位置
合わせの障害にはならない。こうして本発明で述べた半
導体レーザ装置が完成する。
Next, the laser submount 9 of (f) is fixed on the laser carrier 1 with a high melting point solder such as Au / Sn after aligning the optical axes of the laser element 3 and the lens 2. At the time of soldering, the Au / Sn solder between the laser 3 and the laser submount 9 and the PD 6 and the PD submount 10 which are previously fixed melts, but the laser element 3 and the PD 6 move largely due to the viscosity of the molten solder. Therefore, it does not hinder the alignment. Thus, the semiconductor laser device described in the present invention is completed.

【0012】本発明では、レンズをレーザキャリアに直
接成形しているため、従来例のように低融点半田を用い
る必要がなく、レンズとレーザ素子の光軸ずれは生じ難
い。
In the present invention, since the lens is directly molded on the laser carrier, it is not necessary to use the low melting point solder as in the conventional example, and the optical axis deviation between the lens and the laser element is unlikely to occur.

【0013】ところで、レンズの直接成形では、レンズ
とそれを成形する金属ベースの線膨張係数が大きく異な
ると成形時にレンズに割れが生じる場合があるので、金
属ベースの線膨張係数はレンズの線膨張係数の0.8倍
から1.2倍程度にする必要がある。このように線膨張
係数の値から限定される金属材の熱伝導率は必ずしも高
いことは期待できないが、半導体レーザは発振時に数十
mWから数百mWの熱を発するので、排熱を良くするた
めにレーザを取り付ける金属ベースは熱伝導率が高い方
が望ましい。
By the way, in the direct molding of the lens, if the linear expansion coefficient of the lens and the metal base for molding the lens are largely different from each other, the lens may be cracked during molding. Therefore, the linear expansion coefficient of the metal base is the linear expansion coefficient of the lens. It is necessary to make it 0.8 to 1.2 times the coefficient. As described above, the thermal conductivity of the metal material limited by the value of the linear expansion coefficient cannot be expected to be necessarily high, but the semiconductor laser emits heat of several tens mW to several hundreds mW at the time of oscillation, which improves the exhaust heat. Therefore, it is desirable that the metal base on which the laser is mounted has high thermal conductivity.

【0014】これらの条件を満足するために、線膨張係
数をレンズに合わせたレンズベース18と、熱伝導率を
高くしたレーザベース19を垂直にろう付けして一体化
したものをレーザキャリア1とした例が図9である。実
施例では、レンズベース18としてFe−Ni合金(線
膨張係数8×10 ̄6,熱伝導率0.03[Cal/c
msec℃])を、レーザベース19としてCu−W合
金(線膨張係数6×10 ̄6,熱伝導率0.7[Cal
/cmsec℃])を用いている。
In order to satisfy these conditions, a lens base 18 having a linear expansion coefficient matched to that of a lens and a laser base 19 having a high thermal conductivity are vertically brazed and integrated into a laser carrier 1. An example of this is shown in FIG. In an embodiment, Fe-Ni alloy (coefficient of linear expansion 8 × 10¯ 6 as a lens base 18, the thermal conductivity of 0.03 [Cal / c
The msec ℃]), Cu-W alloy (coefficient of linear expansion 6 × 10¯ 6 as a laser base 19, the thermal conductivity of 0.7 [Cal
/ Cmsec ° C]) is used.

【0015】今までの実施例では、レーザ素子3とPD
6のどちらをも、一旦、サブマウントに半田付けし、そ
のサブマウントを操作して位置決めを行っているが、こ
れは、半導体素子を直接掴んで動かすと、作業ミスによ
り破壊してしまう恐れがあるからである。
In the above embodiments, the laser device 3 and the PD
Both of 6 are once soldered to the submount and the positioning is performed by operating the submount. However, if the semiconductor element is directly grasped and moved, there is a possibility that the semiconductor element may be broken due to a work mistake. Because there is.

【0016】本発明は基本的にはサブマウントがなくて
も実現可能であり、図1,図2,図3には、サブマウン
トを用いずにレーザ素子3とPD6を直接レーザキャリ
ア1上に半田付けした実施例を示す。この場合、レーザ
キャリアの材料は、前と同様に、線膨張係数の低いコバ
ールやCu−W合金を用いている。
The present invention can be basically realized without a submount. In FIGS. 1, 2 and 3, the laser element 3 and the PD 6 are directly mounted on the laser carrier 1 without using the submount. An example of soldering is shown. In this case, as the material of the laser carrier, Kovar or Cu-W alloy having a low linear expansion coefficient is used as in the previous case.

【0017】一方、先に述べたように、レンズとの線膨
張係数の整合及びレーザの排熱が問題となる場合は先と
同様、図10に示すように、線膨張係数をレンズに合わ
せた金属を材料とするレンズベースと熱伝導率の高い金
属を材料とするレーザベースをろう付けして一体化した
ものをレーザキャリアとして用いる。レンズベースとレ
ーザベースの材質は先と同様である。
On the other hand, as described above, when the matching of the linear expansion coefficient with the lens and the exhaust heat of the laser pose a problem, the linear expansion coefficient is adjusted to the lens as shown in FIG. A lens base made of metal and a laser base made of metal having a high thermal conductivity are brazed and integrated to be used as a laser carrier. The materials of the lens base and the laser base are the same as above.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明によれば、レンズをレーザキャリ
アに直接成形しているため、低融点半田を用いる必要が
なくなるという効果がある。
According to the present invention, since the lens is directly molded on the laser carrier, there is an effect that it is not necessary to use a low melting point solder.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による半導体レーザ装置の斜視図であ
る。
FIG. 1 is a perspective view of a semiconductor laser device according to the present invention.

【図2】本発明による半導体レーザ装置の上面図であ
る。
FIG. 2 is a top view of a semiconductor laser device according to the present invention.

【図3】本発明による半導体レーザ装置の断面図であ
る。
FIG. 3 is a sectional view of a semiconductor laser device according to the present invention.

【図4】従来技術による半導体レーザ装置の斜視図であ
る。
FIG. 4 is a perspective view of a semiconductor laser device according to a conventional technique.

【図5】本発明による実施例の斜視図である。FIG. 5 is a perspective view of an embodiment according to the present invention.

【図6】本発明による実施例の断面図である。FIG. 6 is a sectional view of an embodiment according to the present invention.

【図7】三角法によるレーザキャリアの説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram of a laser carrier by a trigonometric method.

【図8】本発明による半導体レーザ装置の組立工程図で
ある。
FIG. 8 is an assembly process diagram of a semiconductor laser device according to the present invention.

【図9】レンズキャリアをレンズベースとレーザベース
のろう付けとした実施例の説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram of an embodiment in which a lens carrier is brazed to a lens base and a laser base.

【図10】レンズキャリアをレンズベースとレーザベー
スのろう付けとし、かつサブマウントを用いない実施例
の説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram of an embodiment in which a lens carrier is brazed to a lens base and a laser base, and a submount is not used.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…レーザキャリア、2…レンズ、3…半導体レーザ素
子、6…PD(フォトダイオード)、9…レーザサブマ
ウント、10…PDサブマウント。
1 ... Laser carrier, 2 ... Lens, 3 ... Semiconductor laser element, 6 ... PD (photodiode), 9 ... Laser submount, 10 ... PD submount.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 熊沢 鉄雄 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Tetsuo Kumazawa 502 Kintatemachi, Tsuchiura, Ibaraki Prefecture

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】垂直な壁板を有しその壁板に1個の孔が空
けてありその孔を埋める様にガラスレンズが直接成型で
作られている金属製のレーザキャリアと、少なくとも一
つの面をメタライズされた半導体レーザ素子と、受光面
の裏面がメタライズされているフォトダイオードから成
り、半導体レーザ素子のメタライズ面とフォトダイオー
ドのメタライズ面がレーザキャリアの表面に半田付けで
接合されており、半導体レーザ素子の前面から発せられ
るレーザ光がレンズによって集光され、後面から発せら
れるモニタ光がフォトダイオードに受光される構成にな
っていることを特徴とする半導体レーザ装置。
1. A laser carrier made of metal, which has a vertical wall plate, a hole is formed in the wall plate, and a glass lens is directly molded so as to fill the hole, and at least one It consists of a semiconductor laser element whose surface is metallized and a photodiode whose back surface of the light-receiving surface is metallized, and the metallized surface of the semiconductor laser element and the metallized surface of the photodiode are soldered to the surface of the laser carrier, A semiconductor laser device characterized in that laser light emitted from the front surface of the semiconductor laser element is condensed by a lens, and monitor light emitted from the rear surface is received by a photodiode.
【請求項2】垂直な壁板を有しその壁板に1個の孔が空
けてありその孔を埋める様にガラスレンズが直接成型で
作られている金属製のレーザキャリアと、少なくとも一
つの面をメタライズされた半導体レーザ素子と、受光面
の裏面がメタライズされているフォトダイオードと、セ
ラミックを材料として複数の面をメタライズされたレー
ザサブマウントとフォトダイオードサブマウントから成
り、半導体レーザ素子のメタライズ面とレーザサブマウ
ントのメタライズ面が半田付けされており、レーザサブ
マウントの他方のメタライズ面がレーザキャリアの表面
に半田付けされており、フォトダイオードのメタライズ
面がフォトダイオードサブマウントのメタライズ面に半
田付けされており、フォトダイオードサブマウントの他
方のメタライズ面がレーザキャリアの表面に半田付けさ
れており、半導体レーザ素子の前面から発せられるレー
ザ光がレンズによって集光され、後面から発せられるモ
ニタ光がフォトダイオードに受光される構成になってい
ることを特徴とする半導体レーザ装置。
2. A metal laser carrier having a vertical wall plate, a hole formed in the wall plate, and a glass lens formed by direct molding so as to fill the hole, and at least one laser carrier. A metallized semiconductor laser device consisting of a semiconductor laser device whose surface is metallized, a photodiode whose back surface is metallized, and a laser submount and a photodiode submount which are metallized on multiple surfaces. Surface and the metallized surface of the laser submount are soldered, the other metallized surface of the laser submount is soldered to the surface of the laser carrier, and the metallized surface of the photodiode is soldered to the metallized surface of the photodiode submount. Attached, the other metallized surface of the photodiode submount It is soldered on the surface of the laser carrier, and the laser light emitted from the front surface of the semiconductor laser device is condensed by the lens, and the monitor light emitted from the rear surface is received by the photodiode. Semiconductor laser device.
【請求項3】請求項1または2において、レーザキャリ
アの材料としてコバールまたはCu−W合金を用いた半
導体レーザ装置。
3. A semiconductor laser device according to claim 1, wherein Kovar or a Cu—W alloy is used as a material for the laser carrier.
【請求項4】請求項1または2において、レンズの線膨
張係数の0.8倍から1.2倍の線膨張係数を持つ金属
板であるレンズベースと、熱伝導率がレンズベースより
高い金属で作られた板であるレーザベースを垂直にろう
付けして一体化したものをレーザキャリアとし、レンズ
ベース上にレンズを形成し、半導体レーザ素子を固定し
たレーザサブマウントとフォトダイオードを固定したフ
ォトダイオードサブマウントをレーザベース上に固定し
た半導体レーザ装置。
4. The lens base according to claim 1, which is a metal plate having a linear expansion coefficient of 0.8 to 1.2 times the linear expansion coefficient of the lens, and a metal having a higher thermal conductivity than the lens base. A laser base, which is a plate made by, is vertically brazed and integrated to form a laser carrier, a lens is formed on the lens base, and a laser submount with a semiconductor laser element fixed and a photodiode with a photodiode fixed. A semiconductor laser device with a diode submount fixed on a laser base.
【請求項5】請求項4において、レンズベースの材料と
してFe−Ni合金を、レーザベースの材料としてCu
−W合金を用いた半導体レーザ装置。
5. The Fe-Ni alloy as a lens base material and Cu as a laser base material according to claim 4.
-A semiconductor laser device using a W alloy.
JP8035193A 1993-04-07 1993-04-07 Semiconductor laser device Pending JPH06289258A (en)

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JP8035193A JPH06289258A (en) 1993-04-07 1993-04-07 Semiconductor laser device

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JP (1) JPH06289258A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6813102B2 (en) 2002-04-08 2004-11-02 Opnext Japan, Inc. Optical module with a monitor photo diode
KR100454972B1 (en) * 2002-12-31 2004-11-06 삼성전자주식회사 Passive alignment device for optical element
US7620090B2 (en) 2006-06-30 2009-11-17 Oki Semiconductor Co., Ltd. Semiconductor laser device
CN115302445A (en) * 2022-10-11 2022-11-08 昆山三智达自动化设备科技有限公司 Efficient assembly process of laser pumping source based on module unit

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