JPH06288819A - Method for measuring quantity of face inclination of scanning optical system - Google Patents

Method for measuring quantity of face inclination of scanning optical system

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JPH06288819A
JPH06288819A JP9893493A JP9893493A JPH06288819A JP H06288819 A JPH06288819 A JP H06288819A JP 9893493 A JP9893493 A JP 9893493A JP 9893493 A JP9893493 A JP 9893493A JP H06288819 A JPH06288819 A JP H06288819A
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Japan
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scanning
scanning direction
sub
polygon mirror
amount
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JP9893493A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideaki Kamimura
秀明 上村
Fumio Ichikawa
文雄 市川
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

PURPOSE:To provide a method for measuring the quantity of face inclination of a scanning optical system in which the position of the spot of a laser beam in the sub-scanning direction at the time of optically scanning a face to be scanned is detected in only one scanning for one reflection face and rotation fluctuation of a rotating polygon mirror does not influence thereon. CONSTITUTION:A beam which is reflected from a rotating polygon mirror and made to scan the surface to be scanned is received by a photodetector means 2 for every scanning. A plurality of pieces of data taken by the photodetector means at every scanning is stored in real time in a memory 7. The position of the spot of the beam in the sub-scanning direction perpendicular to the main scanning direction is detected by each scanning by utilizing the data stored in the memory to measure the quantity of the face inclination of the rotating polygon mirror.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は走査光学系の面倒れ量測
定方法に関し、特に走査光学系を構成する複数の反射面
より成る回転多面鏡(光偏向器)の各々の反射面(偏向
面)の製造誤差等によって被走査面を光走査する際のレ
ーザービーム(光ビーム)の副走査方向の走査位置のバ
ラツキ(間隔ムラ)、所謂面倒れ量を高精度に測定(評
価)するようにした、例えばレーザービームプリンタ
(LBP)等の装置に用いられる走査光学系の面倒れ量
測定方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for measuring the amount of surface tilt of a scanning optical system, and more particularly to each reflecting surface (deflecting surface) of a rotary polygon mirror (optical deflector) consisting of a plurality of reflecting surfaces constituting the scanning optical system. ), It is possible to measure (evaluate) with high accuracy the variation (interval unevenness) in the scanning position of the laser beam (light beam) in the sub-scanning direction when optically scanning the surface to be scanned due to manufacturing errors, etc. The present invention also relates to a method of measuring the amount of surface tilt of a scanning optical system used in a device such as a laser beam printer (LBP).

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、レーザービームを利用して例えば
記録媒体である感光体ドラム面上を該レーザービームで
光走査して画像の記録を行なうレーザービームプリンタ
(LBP)等の画像記録装置が広く使用されている。
2. Description of the Related Art In recent years, an image recording apparatus such as a laser beam printer (LBP) has been widely used which records an image by using a laser beam to optically scan the surface of a photosensitive drum, which is a recording medium, with the laser beam. It is used.

【0003】図7はこの種の画像記録装置に用いられる
走査光学系の要部概略図である。同図に於いて半導体レ
ーザ等から成る光源手段71から放射されたレーザービ
ームはコリメーターレンズ72により平行なレーザービ
ームとされ、副走査方向に所定の屈折力を有するシリン
ドリカルレンズ73により集光した後、回転多面鏡(ポ
リゴンミラー)より成る光偏向器74の反射面(偏向
面)74aに入射している。
FIG. 7 is a schematic view of a main part of a scanning optical system used in this type of image recording apparatus. In the figure, a laser beam emitted from a light source means 71 composed of a semiconductor laser or the like is made into a parallel laser beam by a collimator lens 72, and after being condensed by a cylindrical lens 73 having a predetermined refracting power in the sub-scanning direction. The light is incident on the reflecting surface (deflecting surface) 74a of the optical deflector 74 formed of a rotating polygon mirror (polygon mirror).

【0004】そして回転多面鏡74の反射面74aで反
射偏向したレーザービームはf−θ特性を有する結像レ
ンズ(fθレンズ)75を介して被走査面である、例え
ば感光体ドラム76面上に導光している。そして回転多
面鏡74を図中矢印A方向に一定速度で回転させること
によって被走査面上を矢印B方向に等速に光走査してい
る。
The laser beam reflected and deflected by the reflecting surface 74a of the rotary polygon mirror 74 is passed through the imaging lens (f.theta. Lens) 75 having the f-.theta. Characteristic to the surface to be scanned, for example, the surface of the photosensitive drum 76. It is guiding light. By rotating the rotary polygon mirror 74 in the direction of arrow A at a constant speed, the surface to be scanned is optically scanned in the direction of arrow B at a constant speed.

【0005】このとき回転多面鏡74の複数の反射面が
回転軸Oに対して同一の角度でなく各反射面毎に傾きに
バラツキがあると、所謂面倒れがあると被走査面上の副
走査方向のレーザービームに間隔ムラが生じてきて正確
な出力画像が得られなくなってくるという問題点があ
る。
At this time, if the plurality of reflecting surfaces of the rotary polygon mirror 74 are not at the same angle with respect to the rotation axis O but the inclinations of the reflecting surfaces vary, the so-called surface tilt will occur and the sub-surface on the surface to be scanned will appear. There is a problem in that the laser beam in the scanning direction becomes uneven in spacing and an accurate output image cannot be obtained.

【0006】従来、このときの面倒れ量を測定する方法
としては、例えば感光体ドラムの代わりに結像位置に受
光手段として複数の画素(検出ビット)を配列した1次
元ラインセンサー(CCD)をレーザービームの走査方
向(主走査方向)と直交する方向(副走査方向)に1ケ
所或いは数カ所に配置して回転多面鏡の各反射面で反射
されたレーザービームを該ラインセンサー面に入射させ
ている。
Conventionally, as a method of measuring the amount of surface tilt at this time, for example, a one-dimensional line sensor (CCD) in which a plurality of pixels (detection bits) are arranged as light receiving means at an image forming position instead of the photosensitive drum is used. The laser beam reflected by each reflecting surface of the rotary polygon mirror is made incident on the line sensor surface by arranging the laser beam at one or several places in a direction (sub-scanning direction) orthogonal to the scanning direction (main scanning direction) of the laser beam. There is.

【0007】そしてラインセンサーに入射するレーザー
ビームの走査位置を検出することにより各反射面毎の面
倒れの影響による副走査方向の走査線の間隔ムラ(バラ
ツキ)を測定している。
Then, the scanning position of the laser beam incident on the line sensor is detected to measure the unevenness (variation) of the scanning line spacing in the sub-scanning direction due to the influence of the surface tilt of each reflecting surface.

【0008】又、この他面倒れ量(間隔ムラ)を測定す
る方法としては、例えば前述と同様に結像位置にV字型
の開口部を有するスリットを配置し、該スリットの後方
にピンフォトダイオード等の光検出器を設けて回転多面
鏡の各反射面で反射偏向されたレーザービームが、この
スリットの2ケ所の開口部を走査(通過)したときの時
間差を該光検出器により検出し、その時間換算により回
転多面鏡の面倒れ量を測定している。
As a method of measuring the amount of tilt (unevenness of spacing) on the other surface, for example, a slit having a V-shaped opening is arranged at the image forming position and a pin photo is formed behind the slit, as in the above-described case. A photodetector such as a diode is provided, and the time difference when the laser beam reflected and deflected by each reflecting surface of the rotating polygon mirror scans (passes) the two openings of this slit is detected by the photodetector. , The surface tilt amount of the rotating polygon mirror is measured by the time conversion.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、1次元
ラインセンサー(CCD)を測定用の受光手段として用
いて面倒れ量を測定する従来の測定方法では、1反射面
当たりの面倒れ量を測定するには1回の位置検出につい
て200〜1000個の大量のデータをラインセンサー
から読み出し、そのデータを利用して副走査方向のレー
ザービームの走査位置を演算し検出していた。
However, in the conventional measuring method for measuring the amount of surface tilt using the one-dimensional line sensor (CCD) as the light receiving means for measurement, the amount of surface tilt per one reflecting surface is measured. For each position detection, a large amount of 200 to 1000 pieces of data was read from the line sensor, and the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction was calculated and detected using the data.

【0010】その為、1反射面当たりの面倒れ量を測定
するのに要する時間が100msec以上もかかってい
た。
Therefore, it takes 100 msec or more to measure the amount of surface tilt per reflecting surface.

【0011】それに対し走査光学系による一走査時間は
3msec 程度と短く、その為連続して一走査毎のレーザ
ービームの走査位置検出ができない。この為、ラインセ
ンサー側で1反射面当たり数10走査分のデータをメモ
リーに蓄積し、それからデータを読み出して副走査方向
のレーザービームの走査位置を検出していた。
On the other hand, one scanning time by the scanning optical system is as short as about 3 msec, so that the scanning position of the laser beam cannot be continuously detected for each scanning. Therefore, the line sensor stores data for several tens of scans per reflecting surface in the memory, and then reads the data to detect the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction.

【0012】又、受光手段として使用するラインセンサ
ー(CCD)の1つ1つの検出ビット(画素)の画素幅
は製作上の条件から一般に、例えば7μm×7μm程度
と狭く設定されている。この為、例えば300m/sec
以上の走査速度で被走査面上を光走査する走査光学系で
は、該検出ビットで読み取るレーザービームの光量の蓄
積時間が2.3×10-8 secしかなく、この為一走査分
のみでの光量ではレーザービームの走査位置が検出でき
ないという問題点がある。
Further, the pixel width of each detection bit (pixel) of the line sensor (CCD) used as the light receiving means is generally set to be narrow, for example, about 7 μm × 7 μm due to manufacturing conditions. Therefore, for example, 300m / sec
In the scanning optical system that optically scans the surface to be scanned at the above scanning speed, the accumulation time of the light amount of the laser beam read by the detection bit is only 2.3 × 10 −8 sec. There is a problem that the scanning position of the laser beam cannot be detected by the light amount.

【0013】その為、前述と同様にラインセンサー側で
1反射面当たり10〜数10走査分のデータをメモリー
に蓄積し、それからデータを読み出して副走査方向のレ
ーザービームの走査位置を検出しなければならなかっ
た。
Therefore, in the same manner as described above, the line sensor side must store data for 10 to several tens of scans per reflecting surface in the memory, and then read the data to detect the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction. I had to do it.

【0014】この様に上述した従来の面倒れ量(間隔ム
ラ)測定方法では、少なくとも10〜数10走査分のデ
ータを用いて面倒れ量の測定を行なわなければならず、
その為厳密には一走査毎の挙動をとらえたものとはなっ
ておらず、例えばより面倒れ量の許容値が小さい高解像
度の画像記録装置の測定(評価)には使用することが難
しいという問題点があった。
As described above, in the above-described conventional method for measuring the amount of surface tilt (unevenness of spacing), the amount of surface tilt must be measured using data for at least 10 to several tens of scans.
Therefore, strictly speaking, it does not capture the behavior for each scanning, and it is difficult to use it for measurement (evaluation) of a high-resolution image recording device having a smaller allowable amount of the amount of tilt error, for example. There was a problem.

【0015】又、V字型の開口部を有するスリットを用
いて面倒れ量を測定する方法では、1反射面当たり一走
査でレーザービームの走査位置を検出することは可能で
あるが時間差からの換算の為、面倒れ量だけでなく回転
多面鏡を駆動させる為のモータ等の回転ムラ(ジッター
成分)の影響も加わる為、真の面倒れ量の測定(評価)
にはなっていなかった。
Further, in the method of measuring the amount of surface tilt using the slit having the V-shaped opening, it is possible to detect the scanning position of the laser beam by one scanning per one reflecting surface, but it is possible to detect the scanning position from the time difference. Because of conversion, not only the amount of face tilt, but also the influence of rotation unevenness (jitter component) of the motor etc. for driving the rotary polygon mirror is added, so the true amount of face tilt is measured (evaluation).
It wasn't.

【0016】その為、前述の面倒れ量測定方法と同様、
より面倒れ量の許容値が小さい高解像度の画像記録装置
の測定(評価)には精度的に問題点があった。
Therefore, similar to the above-mentioned method of measuring the amount of face tilt,
There is a problem in terms of accuracy in the measurement (evaluation) of a high-resolution image recording device having a smaller allowable amount of surface tilt.

【0017】本発明の第1の目的は複数の反射面を有す
る回転多面鏡等の光偏向器の面倒れ量を測定(評価)す
る際、受光手段により取り込んだ一走査毎の面倒れ量に
関するデータを複数個分、リアルタイムでメモリーに格
納し、該メモリーから読み出したデータを用いて走査方
向と直交する方向(副走査方向)のレーザービームの走
査位置を検出することにより、該レーザービームの走査
位置を1反射面当たり一走査のみでリアルタイムで検出
することができ、しかもモータ等の回転ムラの影響も受
けることなく高精度に測定することができる走査光学系
の面倒れ量測定方法の提供にある。
A first object of the present invention relates to the amount of surface tilt for each scan captured by the light receiving means when measuring (evaluating) the amount of surface tilt of an optical deflector such as a rotary polygon mirror having a plurality of reflecting surfaces. Scanning the laser beam by storing a plurality of data in a memory in real time and detecting the scanning position of the laser beam in the direction (sub-scanning direction) orthogonal to the scanning direction using the data read from the memory. To provide a method for measuring the amount of surface tilt of a scanning optical system that can detect the position in real time with only one scan per reflecting surface and can be measured with high accuracy without being affected by uneven rotation of a motor or the like. is there.

【0018】本発明の第2の目的は走査方向と直交する
方向(副走査方向)よりも該走査方向に長い形状の受光
面を有する検出ビット(画素)が副走査方向に複数配列
された受光手段を用いて一走査当たりの光量の蓄積時間
を十分確保することにより、副走査方向のレーザービー
ムの走査位置を1反射面当たり一走査のみで検出するこ
とができ、しかもモータ等の回転ムラの影響も受けるこ
となく高精度に測定することができる走査光学系の面倒
れ量測定方法の提供にある。
A second object of the present invention is to receive light in which a plurality of detection bits (pixels) having a light receiving surface having a shape longer in the scanning direction than the direction (sub-scanning direction) orthogonal to the scanning direction are arranged in the sub-scanning direction. By sufficiently securing the accumulation time of the light quantity per one scanning by using the means, the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction can be detected by only one scanning per one reflecting surface, and the uneven rotation of the motor etc. Another object of the present invention is to provide a method for measuring the amount of surface tilt of a scanning optical system, which can perform highly accurate measurement without being affected.

【0019】[0019]

【課題を解決するための手段】本発明の走査光学系の面
倒れ量測定方法は、 (1−イ)回転多面鏡を回転させたときの該回転多面鏡
からのビームを被走査面上に導光して光走査するビーム
を受光手段により一走査毎に受光し、該受光手段により
取り込んだ一走査毎のデータを複数個分、リアルタイム
でメモリに格納し、該メモリからのデータを利用して主
走査方向と直交する副走査方向の該ビームの走査位置を
一走査毎に検出し、該回転多面鏡の面倒れ量を測定した
ことを特徴としている。
The method of measuring the amount of surface tilt of a scanning optical system according to the present invention comprises: (1-a) a beam from the rotary polygon mirror when the rotary polygon mirror is rotated onto a surface to be scanned. A beam for guiding and optically scanning is received by a light receiving unit for each scanning, and a plurality of data for each scanning captured by the light receiving unit is stored in a memory in real time, and the data from the memory is used. The scanning position of the beam in the sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction is detected for each scanning, and the amount of surface tilt of the rotary polygon mirror is measured.

【0020】(1−ロ)回転多面鏡を回転させたときの
該回転多面鏡からのビームを被走査面上に導光して光走
査しているビームを主走査方向と直交する副走査方向よ
りも該主走査方向に長い形状の検出面を有する検出ビッ
トを副走査方向に複数配列した受光手段に導光し、該受
光手段により一走査毎のビームを受光し、該受光手段か
らの信号を利用して該副走査方向のビームの走査位置を
検出して、該回転多面鏡の面倒れ量を測定したことを特
徴としている。
(1-b) When the rotating polygon mirror is rotated, the beam from the rotating polygon mirror is guided onto the surface to be scanned and optically scanned, and the beam is scanned in the sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction. A detection bit having a detection surface having a shape longer in the main scanning direction is guided to a light receiving means arranged in the sub scanning direction, the beam for each scanning is received by the light receiving means, and a signal from the light receiving means is received. Is used to detect the scanning position of the beam in the sub-scanning direction, and the amount of surface tilt of the rotary polygon mirror is measured.

【0021】(1−ハ)光源手段からの光束を回転多面
鏡に導光し、該回転多面鏡からの反射光束を被走査面上
に導光して光走査する際、該被走査面に相当する位置に
ラインセンサーを主走査方向と直交する副走査方向に複
数の素子が配列するように設け、該ラインセンサーから
の一走査毎のデータを複数個分、リアルタイムでメモリ
に格納し、該メモリに格納したデータを用いて副走査方
向の走査位置を一走査毎に求めて、該回転多面鏡の面倒
れを測定したことを特徴としている。
(1-c) The light flux from the light source means is guided to the rotary polygon mirror, and the reflected light flux from the rotary polygon mirror is guided to the surface to be scanned for optical scanning. A line sensor is provided at a corresponding position so that a plurality of elements are arranged in a sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction, and a plurality of data for each scan from the line sensor is stored in a memory in real time. It is characterized in that the scanning position in the sub-scanning direction is obtained for each scan using the data stored in the memory, and the plane tilt of the rotary polygon mirror is measured.

【0022】(1−ニ)光源手段からの光束を回転多面
鏡に導光し、該回転多面鏡からの反射光束を被走査面上
に導光して光走査する際、主走査方向と直交する副走査
方向に比べて主走査方向に長い形状の受光面を有する検
出ビットを複数個、副走査方向に配置したラインセンサ
ーを該被走査面に相当する位置に設け、該ラインセンサ
ーからの出力信号を用いて一走査毎の該回転多面鏡の面
倒れを測定したことを特徴としている。
(1-d) When the light flux from the light source means is guided to the rotary polygonal mirror and the reflected light flux from the rotary polygonal mirror is guided to the surface to be scanned for optical scanning, it is orthogonal to the main scanning direction. A plurality of detection bits having a light receiving surface having a shape longer in the main scanning direction than in the sub scanning direction, and a line sensor arranged in the sub scanning direction is provided at a position corresponding to the surface to be scanned, and an output from the line sensor It is characterized in that the plane tilt of the rotary polygon mirror for each scanning is measured using a signal.

【0023】[0023]

【実施例】図1は本発明の実施例 1の面倒れ量を測定す
る為の測定機の要部構成図、図2は本実施例における面
倒れ量の測定方法を示すフローチャート図である。
EXAMPLE FIG. 1 is a block diagram of the main part of a measuring machine for measuring the amount of surface tilt of Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 2 is a flow chart showing the method of measuring the amount of surface tilt in this embodiment.

【0024】次に図1に示した測定機の概要について説
明する。図中1は対物レンズであり、走査光学系の回転
多面鏡で反射偏向したレーザービーム(光ビーム径)を
拡大して測定用の受光手段としてのMOS型リニアイメ
ージセンサー2に導いている。MOS型リニアイメージ
センサー(以下単に「MOS型センサー」ともいう。)
2は対物レンズ1で拡大された回転多面鏡の各反射面で
反射偏向されたレーザービームを受光し、そのレーザー
ビームの副走査方向の走査位置を検出している。
Next, an outline of the measuring machine shown in FIG. 1 will be described. In the figure, reference numeral 1 denotes an objective lens, which enlarges a laser beam (light beam diameter) reflected and deflected by a rotary polygon mirror of a scanning optical system and guides it to a MOS linear image sensor 2 as a light receiving means for measurement. MOS linear image sensor (hereinafter also simply referred to as "MOS sensor")
Reference numeral 2 receives the laser beam reflected and deflected by each reflecting surface of the rotary polygon mirror magnified by the objective lens 1 and detects the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction.

【0025】このMOS型センサー2は紫外感度が高く
低暗電流であり、更に大飽和電荷量の為、約44000
の広いダイナミックレンジが得られ、しかも感度ムラも
1%以下と小さい為、一走査のみの露光量でも十分な測
定感度が得られるという特長を有している。
This MOS type sensor 2 has a high ultraviolet sensitivity, a low dark current, and a large saturated charge amount, so that it is about 44,000.
Since it has a wide dynamic range and the sensitivity unevenness is as small as 1% or less, it has a feature that sufficient measurement sensitivity can be obtained even with an exposure amount of only one scanning.

【0026】3はマルチチャンネル検出器(センサ駆動
回路)であり、パルスジェネレータ4からのパルス信号
に基づいてMOS型センサー2を駆動させている。11
はパルス信号供給部であり、MOS型センサー2の駆動
に使用するパルス信号を供給するパルスジェネレータ4
とDC電源5とを有している。6はA/D変換器であ
り、MOS型センサー2からのアナログ信号をデジタル
信号に変換している。
A multi-channel detector (sensor drive circuit) 3 drives the MOS sensor 2 based on the pulse signal from the pulse generator 4. 11
Is a pulse signal supply unit, which supplies a pulse signal used to drive the MOS sensor 2
And a DC power source 5. An A / D converter 6 converts an analog signal from the MOS sensor 2 into a digital signal.

【0027】7はメモリー(記憶装置)であり、A/D
変換器6で変換されたデジタル信号(出力値)も一時保
存している。8はコントローラ(制御部)であり、走査
光学系からのビームトリガ信号を受信してMOS型セン
サー駆動やA/D変換のタイミングを制御している。
Reference numeral 7 denotes a memory (storage device), which is an A / D
The digital signal (output value) converted by the converter 6 is also temporarily stored. A controller (control unit) 8 receives a beam trigger signal from the scanning optical system and controls the timing of driving the MOS type sensor and A / D conversion.

【0028】9はホストコンピュータであり、コントロ
ーラ8への指示やメモリー7から保存されたデータ(セ
ンサー出力値)を読み出し回転多面鏡の面倒れ量を算出
して、その算出結果(データ)を表示部(ディスプレ
イ)10に表示している。
Reference numeral 9 denotes a host computer, which reads an instruction to the controller 8 and data (sensor output value) stored from the memory 7 to calculate the amount of tilt of the rotary polygon mirror, and displays the calculation result (data). It is displayed on the section (display) 10.

【0029】本実施例に於いてはMOS型センサー2で
取り込んだ一走査毎のデータを複数個分、リアルタイム
でメモリー7に格納し、該メモリー7からのデータを用
いてホストコンピュータ9によりレーザービームの副走
査方向の走査位置のバラツキ(間隔ムラ)、所謂面倒れ
量を測定している。
In this embodiment, a plurality of data for each scan captured by the MOS type sensor 2 is stored in the memory 7 in real time, and the laser beam is transmitted by the host computer 9 using the data from the memory 7. The variation in the scanning position in the sub-scanning direction (interval unevenness), that is, the so-called surface tilt amount is measured.

【0030】次に図2に示したフローチャートを基に本
実施例の面倒れ量測定方法の詳細について説明する。
Next, the details of the surface tilt amount measuring method of this embodiment will be described with reference to the flow chart shown in FIG.

【0031】まず図1の測定機のMOS型センサー2に
不要な光が入射しないようにしてダークレベルを設定す
る。次に測定対象である走査光学系を測定機の所定位置
にセットして、例えば半導体レーザから成る光源よりレ
ーザービームを発光させ光走査させる。そして測定機に
測定対象と成る、例えば回転多面鏡(ポリゴンミラー)
の反射面(ポリゴン面)数や測定するデータ数、そして
MOS型センサ駆動タイミング等の条件を入力し設定す
る。
First, the dark level is set so that unnecessary light does not enter the MOS type sensor 2 of the measuring instrument shown in FIG. Next, the scanning optical system to be measured is set at a predetermined position of the measuring machine, and a laser beam is emitted from a light source made of, for example, a semiconductor laser to perform optical scanning. Then, for example, a rotating polygon mirror (polygon mirror) to be measured by the measuring machine.
The number of reflection surfaces (polygon surfaces), the number of data to be measured, and conditions such as the MOS type sensor drive timing are input and set.

【0032】この測定機は測定対象(走査光学系)から
発せられたレーザービームの走査タイミング信号をコン
トローラ8で受け、それをトリガ信号として一定時間後
にMOS型センサー2を駆動させ、次いで該MOS型セ
ンサー2の各ビットに蓄積された面倒れに関する信号
(データ)を順次読み出して、この信号を一走査分のレ
ーザービームの走査位置の算出データとしている。
In this measuring machine, a controller 8 receives a scanning timing signal of a laser beam emitted from an object to be measured (scanning optical system), the trigger signal is used to drive the MOS type sensor 2 after a certain time, and then the MOS type sensor 2 is driven. A signal (data) relating to the surface tilt accumulated in each bit of the sensor 2 is sequentially read, and this signal is used as calculation data of the scanning position of the laser beam for one scanning.

【0033】従って、レーザービームがMOS型センサ
ー2面上を走査(通過)した後に該MOS型センサー2
からの信号を順次読み出すようにセンサ駆動タイミング
を設定している。
Therefore, after the laser beam scans (passes) over the surface of the MOS type sensor 2, the MOS type sensor 2 is scanned.
The sensor drive timing is set so as to sequentially read the signals from.

【0034】又、測定する反射面からのレーザービーム
がMOS型センサー2面上を走査して次の反射面からの
レーザービームが、該MOS型センサー2面上を走査す
るまでの間に該MOS型センサー2の全ビット分に蓄積
された信号を読み出す必要があるので、例えば該MOS
型センサー2の駆動周波数をfとしたとき、 1/f×MOS型センサーのビット数<レーザービーム
の一走査周期 となるようにMOS型センサー2の駆動周波数fを設定
している。
The laser beam from the reflecting surface to be measured scans the surface of the MOS type sensor 2 and the laser beam from the next reflecting surface scans the surface of the MOS type sensor 2 until the laser beam is scanned. Since it is necessary to read out the signals accumulated in all bits of the type sensor 2, for example, the MOS
The driving frequency f of the MOS sensor 2 is set such that 1 / f × the number of bits of the MOS sensor <one scanning cycle of the laser beam, where f is the driving frequency of the mold sensor 2.

【0035】その為、このMOS型センサー2の駆動周
波数fは各種走査光学系のうち最も一走査周期が短いス
ペックのものに対応できるように設定している。
Therefore, the driving frequency f of the MOS sensor 2 is set so as to correspond to the specifications of the scanning optical system having the shortest one scanning cycle.

【0036】この様に回転多面鏡の反射面からのレーザ
ービームがMOS型センサー2を一走査するだけで、し
かも300m/sec 以上の走査速度で走査(通過)する
ので、このときのMOS型センサー2上の露光量は1n
j/cm2 程度しかならない。
As described above, the laser beam from the reflecting surface of the rotary polygon mirror scans (passes) the MOS type sensor 2 only once, and at a scanning speed of 300 m / sec or more. The exposure amount on 2 is 1n
Only about j / cm 2 .

【0037】従って、この測定に用いるセンサーは高精
度でしかもセンサーの各ビットの感度ムラが小さいこと
が条件となっている。
Therefore, it is a condition that the sensor used for this measurement has high accuracy and that the sensitivity unevenness of each bit of the sensor is small.

【0038】その為、従来、測定用の受光手段として用
いている1次元ラインセンサー(CCD)ではそのダイ
ナミックレンジが約100程度と狭く、又各ビットの感
度ムラも10%と大きく、更には露光量が小さい為、測
定再現性に大きく影響してくることから、本実施例のよ
うに1反射面当たり一走査のみでレーザービームの走査
位置を検出するセンサーとしては適さない。
Therefore, the dynamic range of a one-dimensional line sensor (CCD) conventionally used as a light receiving means for measurement is as narrow as about 100, and the sensitivity unevenness of each bit is as large as 10%. Since the amount is small, the measurement reproducibility is greatly affected. Therefore, it is not suitable as a sensor for detecting the scanning position of the laser beam by only one scanning per one reflecting surface as in the present embodiment.

【0039】これに対し本実施例の測定機に用いるMO
S型センサー2は、前述の如く紫外感度が高く低暗電流
であり、更に大飽和電荷量の為、約44000の広いダ
イナミックレンジが得られ、又感度ムラも1%以下と小
さい為、一走査のみの露光量でも十分な測定感度を得る
ことができる。
On the other hand, the MO used in the measuring machine of this embodiment.
As described above, the S-type sensor 2 has a high ultraviolet sensitivity, a low dark current, a large saturated charge amount, and a wide dynamic range of about 44000. Also, the sensitivity unevenness is as small as 1% or less. Sufficient measurement sensitivity can be obtained with only the exposure amount.

【0040】次に測定対象の条件を測定機に設定した
後、該測定機のデータの取り込みを開始する。そしてト
リガ信号を検知した後、一走査毎にMOS型センサー2
からのアナログ信号を読み出し、その信号をA/D変換
器6によりデジタル信号に変換してリアルタイムにメモ
リー7に格納する。この処理手順を設定されたデータ数
分だけ繰り返す。
Next, after setting the condition of the measuring object to the measuring machine, the data acquisition of the measuring machine is started. After detecting the trigger signal, the MOS sensor 2 is scanned every scanning.
The analog signal from is read out, the signal is converted into a digital signal by the A / D converter 6 and stored in the memory 7 in real time. This processing procedure is repeated for the set number of data.

【0041】尚、本実施例に於いては最高で1000個
の測定データが格納できるようにメモリー7の記憶容量
を256Kバイト(MOS型センサーの1画素当たり2
56階調の多値データ=8bit (1バイト)、センサー
の画素数=256画素なのでメモリ容量=1バイト×2
56画素×1000データ=256Kバイト)と設定し
ているが、測定データ量に応じてこの記憶容量を変更す
ることは可能である。
In the present embodiment, the storage capacity of the memory 7 is 256 Kbytes (2 pixels per pixel of the MOS type sensor) so that a maximum of 1000 pieces of measurement data can be stored.
56 levels of multi-valued data = 8 bits (1 byte), sensor pixel number = 256 pixels, so memory capacity = 1 byte x 2
(56 pixels × 1000 data = 256 Kbytes) is set, but this storage capacity can be changed according to the amount of measured data.

【0042】そして測定データの取込み終了後メモリー
7から各データを読み出し、レーザービームのMOS型
センサー2上での走査位置(照射位置)を算出し、即ち
一走査毎にデータの重心位置をホストコンピュータ9よ
り以下に示す計算式(1)により算出する。
After the measurement data is taken in, each data is read from the memory 7 to calculate the scanning position (irradiation position) of the laser beam on the MOS type sensor 2, that is, the barycentric position of the data is calculated for each scanning. It is calculated by the calculation formula (1) shown below from 9.

【0043】即ち、MOS型センサー2の各ビット毎の
露光量に応じた出力をVi、最大出力値をVp、センサ
ーのビット位置をi,スライスレベルをV1 、センサー
出力がスライスレベルの値となるセンサーのビット位置
を各々a,bとしたとき、一走査毎のデータの重心位置
Zは
That is, the output corresponding to the exposure amount for each bit of the MOS type sensor 2 is Vi, the maximum output value is Vp, the bit position of the sensor is i, the slice level is V 1 , and the sensor output is the slice level value. When the bit position of each sensor is a and b, the barycentric position Z of the data for each scanning is

【0044】[0044]

【数1】 となる。[Equation 1] Becomes

【0045】図3はこのときのMOS型センサー2から
のセンサー出力と、該センサーのビット位置の関係を示
した説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing the relationship between the sensor output from the MOS type sensor 2 and the bit position of the sensor at this time.

【0046】これにより全データのレーザービームの走
査位置を算出し、次いで算出データを基に一走査毎のセ
ンサー出力グラフや各反射面毎にMAX位置やMIN位
置(検出ビットの並び方向が上下方向(副走査方向)な
ので各走査のうちレーザービームの走査位置が一番上の
ものをMAX位置、一番下のものをMIN位置としてい
る。)そして平均走査位置等の算出や各反射面の走査位
置(傾き)の差=面倒れ量(センサーの測定分解能×重
心位置差(ビット数))の算出を行ない、次いで各算出
結果のデータをモニター10に表示して測定が終了す
る。
Thus, the scanning position of the laser beam of all data is calculated, and then the MAX position or the MIN position (the arrangement direction of the detection bits is the up and down direction) for each sensor output graph and each reflecting surface based on the calculated data. (Since it is in the sub-scanning direction, the one with the highest laser beam scanning position is the MAX position and the one with the lowest laser beam position is the MIN position.) Then, calculation of the average scanning position, etc., and scanning of each reflecting surface The difference between the positions (tilts) = the amount of surface tilt (measurement resolution of the sensor × center-of-gravity position difference (number of bits)) is calculated, and the data of each calculation result is displayed on the monitor 10 to complete the measurement.

【0047】尚、このときの測定結果に基づいて、例え
ば面倒れ補正光学系等により回転多面鏡の面倒れの補正
を行なえば高精度な光走査を行なうことができる。
If the surface tilt of the rotary polygon mirror is corrected by, for example, a surface tilt correction optical system based on the measurement result at this time, highly accurate optical scanning can be performed.

【0048】この様に本実施例においては、前述の如く
回転多面鏡を回転させて光走査しているレーザービーム
を一走査毎にMOS型センサー2で受光し、該MOS型
センサー2により取り込んだ一走査毎のデータを複数個
分、リアルタイムでメモリー7に格納している。そして
該メモリー7からのデータを用いてホストコンピュータ
9により副走査方向のレーザービームの走査位置をリア
ルタイムで検出し、これにより回転多面鏡の各反射面の
相対的な走査位置の差(面倒れ量)を高精度で測定して
いる。
As described above, in this embodiment, the laser beam which is optically scanned by rotating the rotary polygon mirror as described above is received by the MOS type sensor 2 for each scanning, and is taken in by the MOS type sensor 2. A plurality of data for each scan is stored in the memory 7 in real time. The host computer 9 uses the data from the memory 7 to detect the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction in real time, and the difference between the relative scanning positions of the reflecting surfaces of the rotary polygon mirror (the amount of surface tilt). ) Is measured with high accuracy.

【0049】次に本発明の実施例2について図4、図5
を用いて説明する。図4は本発明の実施例2の面倒れ量
を測定する測定機の要部構成図、図5は本実施例におけ
る面倒れ量を測定する測定方法のフローチャート図であ
る。図4において図1に示した要素と同一要素には同符
番を付している。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
Will be explained. FIG. 4 is a configuration diagram of a main part of a measuring machine for measuring the amount of surface tilt according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a flowchart of a measuring method for measuring the amount of surface tilt in the present embodiment. 4, the same elements as those shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals.

【0050】本実施例において、前述の実施例1と異な
る点は測定用の受光手段を走査方向(主走査方向)と直
交する方向(副走査方向)よりも、該主走査方向に長い
形状の受光面を有する検出ビット(画素)が該副走査方
向に複数配列したMOS型リニアイメージセンサー(M
OS型センサー)12を用いて一走査方向の光量の蓄積
時間を延ばしたことである。
This embodiment is different from the above-mentioned first embodiment in that the measuring light receiving means is longer in the main scanning direction than in the direction (sub scanning direction) orthogonal to the scanning direction (main scanning direction). A MOS type linear image sensor (M having a plurality of detection bits (pixels) having a light receiving surface arranged in the sub-scanning direction.
The OS type sensor 12 is used to extend the accumulation time of the light amount in one scanning direction.

【0051】この他の構成及び面倒れ量測定方法に関し
ては基本的には前述の実施例1と略同様である。ここで
は一部重複するが異なる点を中心に説明する。
The other structures and the method of measuring the amount of surface tilt are basically the same as in the first embodiment. Here, the description will be focused on the points that are partially overlapped but different.

【0052】従来、受光手段として用いていた測定用の
ラインセンサー(CCD)は図6(A)に示すように画
素幅7μm×7μmの検出ビット(画素)が副走査方向
に複数配列されており、該ラインセンサー22面上をレ
ーザービームが300m/sec の走査速度で走査してい
る。このときのラインセンサー22面上での露光時間は
略2.3×10-8 secしかならない為、本実施例の様に
一走査毎にレーザービームの走査位置を測定する為には
露光量が不足し使用することは難しい。
In a conventional line sensor (CCD) used as a light receiving means, a plurality of detection bits (pixels) each having a pixel width of 7 μm × 7 μm are arranged in the sub-scanning direction as shown in FIG. 6A. A laser beam scans the surface of the line sensor 22 at a scanning speed of 300 m / sec. At this time, the exposure time on the surface of the line sensor 22 is only about 2.3 × 10 −8 sec. Therefore, in order to measure the scanning position of the laser beam for each scanning as in this embodiment, the exposure amount is It is insufficient and difficult to use.

【0053】又、高解像度の画像記録装置の走査光学系
ではレーザービーム径が小さく、光量そのもの自体も小
さくなる為、一走査のみでレーザービームの走査位置を
測定するには光量不足となり、上記と同様受光手段とし
て使用することは難しい。
In the scanning optical system of the high resolution image recording apparatus, the laser beam diameter is small and the light amount itself is small. Similarly, it is difficult to use it as a light receiving means.

【0054】これに対し本実施例に用いる受光手段12
は図6(B)に示すように副走査方向(面倒れ方向)に
25μm、主走査方向に2.5mmの長さの受光面を有
する検出ビットが副走査方向に複数配列したMOS型セ
ンサー12を用いており、更に面倒れ方向の分解能を上
げる為、対物レンズ1を用いてレーザービーム径を拡大
しており、その分解能は5μmとなっている。
On the other hand, the light receiving means 12 used in this embodiment
As shown in FIG. 6 (B), the MOS sensor 12 has a plurality of detection bits arranged in the sub-scanning direction and having a light receiving surface of 25 μm in the sub-scanning direction (plane tilt direction) and a length of 2.5 mm in the main scanning direction. In order to further increase the resolution in the plane tilt direction, the objective lens 1 is used to expand the laser beam diameter, and the resolution is 5 μm.

【0055】又、主走査方向の検出ビットの長さは50
0μmの長さ換算になっており、これはラインセンサー
(CCD)22の主走査方向の長さ(7μm)に比べて
略71倍も長く、露光時間もそれに比例して1.7×1
-6 secと長くなっている。
The length of the detection bit in the main scanning direction is 50.
The length conversion is 0 μm, which is about 71 times longer than the length (7 μm) of the line sensor (CCD) 22 in the main scanning direction, and the exposure time is also proportional to 1.7 × 1.
It is as long as 0 -6 sec.

【0056】これは従来、ラインセンサー22を用いた
ときに必要だった数10走査分の蓄積時間よりも長くな
る。これにより本実施例に於いては一走査のみで副走査
方向のレーザービームの走査位置の検出を可能としてい
る。
This is longer than the accumulation time for several tens of scans which is conventionally required when the line sensor 22 is used. As a result, in this embodiment, the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction can be detected with only one scanning.

【0057】本実施例に於いては、このMOS型センサ
ー12を測定用の受光手段として用い、前述の実施例1
と同様に図5に示す面倒れ量測定方法に基づいてレーザ
ービームの副走査方向の走査位置のバラツキ(間隔ム
ラ)、所謂面倒れ量を測定している。
In this embodiment, this MOS type sensor 12 is used as a light receiving means for measurement, and the first embodiment described above is used.
Similarly, the variation of the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction (unevenness of interval), that is, the amount of surface inclination is measured based on the surface inclination measuring method shown in FIG.

【0058】この測定方法は前述の実施例1と基本的に
は略同様であるので、ここでは重複するが簡単に説明す
る。
Since this measuring method is basically the same as that of the above-described first embodiment, it will be briefly described though it is duplicated here.

【0059】まず測定対象の走査光学系を測定機の所定
位置にセットし、該測定機に測定対象の条件を設定した
後、該測定機のデータの取り込みを開始させ、一走査毎
にMOS型センサー12からの信号をデジタル信号に変
換してメモリー7に格納する。この処理手順を測定デー
タ数分だけ繰り返して行なう。
First, the scanning optical system of the measuring object is set at a predetermined position of the measuring machine, the conditions of the measuring object are set in the measuring machine, then the data acquisition of the measuring machine is started, and the MOS type is set for each scanning. The signal from the sensor 12 is converted into a digital signal and stored in the memory 7. This processing procedure is repeated for the number of measurement data.

【0060】そして該データの取込み終了後、メモリー
7から各データを読み出しレーザービームの走査位置
(照射位置)を算出し、即ち一走査毎にデータの重心位
置をホストコンピュータ9により前記(1)式に基づい
て算出する。
After the data is taken in, each data is read from the memory 7 to calculate the scanning position (irradiation position) of the laser beam, that is, the position of the center of gravity of the data is calculated by the host computer 9 for each scanning. It is calculated based on.

【0061】これにより全データのレーザービームの走
査位置を算出し、次いで算出データを基に一走査毎のセ
ンサー出力グラフや各反射面毎にMAX位置、MIN位
置、平均走査位置等の算出や各反射面の走査位置(傾
き)の差=面倒れ量の算出を行ない、次いで各算出結果
のデータをモニター10に表示し測定が終了する。
Thus, the scanning position of the laser beam for all data is calculated, and then the sensor output graph for each scanning and the MAX position, MIN position, average scanning position, etc. for each reflection surface are calculated based on the calculated data. The difference between the scanning positions (tilts) of the reflecting surface = the amount of surface tilt is calculated, and then the data of each calculation result is displayed on the monitor 10 to complete the measurement.

【0062】尚、前述の実施例1と同様に、このときの
測定結果に基づいて、例えば面倒れ補正光学系により回
転多面鏡の面倒れを補正するようにすれば高精度な光走
査を行なうことができる。
As in the case of the first embodiment, based on the measurement result at this time, if the surface tilt of the rotary polygon mirror is corrected by the surface tilt correction optical system, high-precision optical scanning is performed. be able to.

【0063】[0063]

【発明の効果】本発明によれば、 (2−イ)被走査面を光走査する際のレーザービームの
副走査方向の走査位置のバラツキ、所謂面倒れ量を測定
(評価)する際、前述した測定方法に基づいて測定する
ことにより、1反射面当たり一走査のみで副走査方向の
レーザービームの走査位置をリアルタイムで測定するこ
とができ、かつ回転多面鏡を回転させるモータ等の回転
ムラの影響も受けずに1反射面毎の挙動解析を行なうこ
とができ、これにより面倒れ量の許容値が小さい、より
高解像度の画像記録装置の測定にも対応することができ
る走査光学系の面倒れ量測定方法を達成することができ
る。
According to the present invention, (2-a) when measuring (evaluating) the variation in the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction when optically scanning the surface to be scanned, the so-called surface tilt amount, By performing the measurement based on the measurement method described above, the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction can be measured in real time with only one scanning per reflecting surface, and the unevenness of rotation of the motor or the like for rotating the rotary polygon mirror can be measured. The behavior analysis for each reflecting surface can be performed without being affected, and thus the tolerance of the amount of surface tilt is small, and the trouble of the scanning optical system that can be applied to the measurement of a higher resolution image recording device It is possible to achieve a method for measuring the amount of leakage.

【0064】(2−ロ)被走査面を光走査する際のレー
ザービームの副走査方向の走査位置のバラツキ、所謂面
倒れ量を測定(評価)する際、前述の如く受光手段とし
て副走査方向よりも主走査方向に長い受光面を有する検
出ビット(画素)が該副走査方向に複数配列したセンサ
ー(例えばMOS型リニアイメージセンサー)を利用し
て測定することにより、1反射面当たり一走査のみで副
走査方向のレーザービームの走査位置を測定することが
でき、かつ回転多面鏡を回転させるモータ等の回転ムラ
の影響も受けずに1反射面毎の挙動解析を行なうことが
でき、これにより面倒れ量の許容値が小さい、より高解
像度の画像記録装置の測定にも対応することができる走
査光学系の面倒れ量測定方法を達成することができる。
(2-b) When measuring (evaluating) the variation in the scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction when optically scanning the surface to be scanned, the so-called plane tilt amount, as described above, the light receiving means serves as the sub-scanning direction. By using a sensor (for example, a MOS type linear image sensor) in which a plurality of detection bits (pixels) having a light receiving surface longer in the main scanning direction are arranged in the sub scanning direction, only one scanning is performed per reflecting surface. The scanning position of the laser beam in the sub-scanning direction can be measured with, and the behavior of each reflecting surface can be analyzed without being affected by the uneven rotation of the motor that rotates the rotating polygon mirror. It is possible to achieve a method for measuring the amount of surface tilt of a scanning optical system, which has a small allowable value of the amount of surface tilt and can be used for measurement of an image recording apparatus with higher resolution.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施例1の面倒れ量測定機の要部構
成図
FIG. 1 is a configuration diagram of a main part of a surface tilt amount measuring machine according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の実施例1の測定方法を示すフローチ
ャート図
FIG. 2 is a flowchart showing a measuring method according to the first embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の実施例1のセンサー出力とセンサー
ビット位置との関係を示す説明図
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a relationship between a sensor output and a sensor bit position according to the first embodiment of the present invention.

【図4】 本発明の実施例2の面倒れ量測定機の要部構
成図
FIG. 4 is a configuration diagram of a main part of a surface tilt amount measuring machine according to a second embodiment of the present invention.

【図5】 本発明の実施例2の測定方法を示すフローチ
ャート図
FIG. 5 is a flowchart showing a measuring method according to a second embodiment of the present invention.

【図6】 ラインセンサー(CCD)とMOS型リニア
イメージセンサーを比較した説明図
FIG. 6 is an explanatory diagram comparing a line sensor (CCD) and a MOS linear image sensor.

【図7】 従来の走査光学系の要部概略図FIG. 7 is a schematic view of a main part of a conventional scanning optical system.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 対物レンズ 2,12 MOS型リニアイメージセンサー 3 マルチチャンネル検出器 4 パルスジェネレータ 5 DC電源 6 A/D変換器 7 メモリー 8 コントローラ 9 ホストコンピュータ 10 表示部 1 Objective Lens 2, 12 MOS Linear Image Sensor 3 Multi-Channel Detector 4 Pulse Generator 5 DC Power Supply 6 A / D Converter 7 Memory 8 Controller 9 Host Computer 10 Display

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回転多面鏡を回転させたときの該回転多
面鏡からのビームを被走査面上に導光して光走査するビ
ームを受光手段により一走査毎に受光し、該受光手段に
より取り込んだ一走査毎のデータを複数個分、リアルタ
イムでメモリーに格納し、該メモリーからのデータを利
用して主走査方向と直交する副走査方向の該ビームの走
査位置を一走査毎に検出し、該回転多面鏡の面倒れ量を
測定したことを特徴とする走査光学系の面倒れ量測定方
法。
1. A beam from the rotating polygon mirror when the rotating polygon mirror is rotated is guided onto a surface to be scanned and optically scanned by the light receiving means, and the beam is received by each light receiving means. A plurality of captured data for each scanning is stored in a memory in real time, and the scanning position of the beam in the sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction is detected for each scanning by using the data from the memory. A method for measuring a plane tilt amount of a scanning optical system, which comprises measuring a plane tilt amount of the rotary polygon mirror.
【請求項2】 回転多面鏡を回転させたときの該回転多
面鏡からのビームを被走査面上に導光して光走査してい
るビームを主走査方向と直交する副走査方向よりも該主
走査方向に長い形状の検出面を有する検出ビットを副走
査方向に複数配列した受光手段に導光し、該受光手段に
より一走査毎のビームを受光し、該受光手段からの信号
を利用して該副走査方向のビームの走査位置を検出し
て、該回転多面鏡の面倒れ量を測定したことを特徴とす
る走査光学系の面倒れ量測定方法。
2. The beam from the rotating polygonal mirror when the rotating polygonal mirror is rotated is guided to the surface to be scanned and optically scanned by the beam rather than in the sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction. A detection bit having a long detection surface in the main scanning direction is guided to a light receiving means in which a plurality of detection bits are arranged in the sub scanning direction, the light receiving means receives a beam for each scanning, and a signal from the light receiving means is used. A method of measuring the amount of surface tilt of the rotary polygon mirror by detecting the scanning position of the beam in the sub-scanning direction to measure the amount of surface tilt of the rotary polygon mirror.
【請求項3】 光源手段からの光束を回転多面鏡に導光
し、該回転多面鏡からの反射光束を被走査面上に導光し
て光走査する際、該被走査面に相当する位置にラインセ
ンサーを主走査方向と直交する副走査方向に複数の素子
が配列するように設け、該ラインセンサーからの一走査
毎のデータを複数個分、リアルタイムでメモリーに格納
し、該メモリーに格納したデータを用いて副走査方向の
走査位置を一走査毎に求めて、該回転多面鏡の面倒れを
測定したことを特徴とする走査光学系の面倒れ量測定方
法。
3. A position corresponding to the surface to be scanned when the light beam from the light source means is guided to the rotary polygonal mirror and the reflected light beam from the rotary polygonal mirror is guided to the surface to be scanned for optical scanning. A line sensor is provided so that a plurality of elements are arranged in a sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction, and a plurality of data for each scanning from the line sensor is stored in a memory in real time and stored in the memory. A method for measuring the amount of surface inclination of a scanning optical system, characterized in that the scanning position in the sub-scanning direction is obtained for each scan using the data obtained and the surface inclination of the rotary polygon mirror is measured.
【請求項4】 光源手段からの光束を回転多面鏡に導光
し、該回転多面鏡からの反射光束を被走査面上に導光し
て光走査する際、主走査方向と直交する副走査方向に比
べて主走査方向に長い形状の受光面を有する検出ビット
を複数個、副走査方向に配置したラインセンサーを該被
走査面に相当する位置に設け、該ラインセンサーからの
出力信号を用いて一走査毎の該回転多面鏡の面倒れを測
定したことを特徴とする走査光学系の面倒れ量測定方
法。
4. A sub-scan orthogonal to a main scanning direction when a light beam from a light source means is guided to a rotary polygon mirror and a reflected light beam from the rotary polygon mirror is guided to a surface to be scanned for optical scanning. A plurality of detection bits each having a light receiving surface having a shape longer in the main scanning direction than the scanning direction, and a line sensor arranged in the sub scanning direction is provided at a position corresponding to the surface to be scanned, and an output signal from the line sensor is used. A method for measuring the amount of surface inclination of the scanning optical system, wherein the amount of surface inclination of the rotary polygon mirror is measured for each scan.
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