JPH06283707A - Variable-capacitance circuit - Google Patents

Variable-capacitance circuit

Info

Publication number
JPH06283707A
JPH06283707A JP5090500A JP9050093A JPH06283707A JP H06283707 A JPH06283707 A JP H06283707A JP 5090500 A JP5090500 A JP 5090500A JP 9050093 A JP9050093 A JP 9050093A JP H06283707 A JPH06283707 A JP H06283707A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
drain
electrode
variable
source
capacitance circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5090500A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0770736B2 (en
Inventor
Keiichi Ohata
惠一 大畑
Masahiro Funahashi
政弘 舟橋
Masaaki Kuzuhara
正明 葛原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MIRI UEIBU KK
Original Assignee
MIRI UEIBU KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by MIRI UEIBU KK filed Critical MIRI UEIBU KK
Priority to JP5090500A priority Critical patent/JPH0770736B2/en
Publication of JPH06283707A publication Critical patent/JPH06283707A/en
Publication of JPH0770736B2 publication Critical patent/JPH0770736B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a variable-capacitance circuit in which the series resistance of an element can be made extremely small in the variable-capacitance circuit wherein a gated Schottky diode for a Schottky gate field-effect transistor is used as a variable capacitance. CONSTITUTION:In a variable-capacitance circuit, a gated Schottky diode 3 which is provided with a drain 15 and with a source 14 is used as a variable capacitance. The variable-capacitance circuit is provided with a drain bias electrode 20 which applies a DC bias to the drain 15, with an MIM capacitor 5 which shott-circuits the drain 15 with the source 14 in terms of a high frequency, with a via-hole 16 and with a back grounding electrode 17.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、マイクロ波帯またはミ
リ波帯での電圧制御発振器等に用いられる可変容量回路
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a variable capacitance circuit used for a voltage controlled oscillator or the like in a microwave band or a millimeter wave band.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、マイクロ波帯やミリ波帯の電波を
使用する通信装置においては、周波数変調や発振周波数
の変化あるいはフィードバックループによる安定化のた
めに、電圧制御発振器(VCO)が用いられている。通
常、この回路では、トランジスタあるいはガンダイオー
ド等の能動素子を用いた発振器の共振回路にバラクタ等
の可変容量素子を用いて発振周波数を変化させていた。
ここで用いる発振用能動素子としては、特にミリ波にお
いては、遮断周波数が大きく、利得の高い高電子移動度
トランジスタ(HEMT)等のヘテロ接合の電界効果ト
ランジスタ(FET)を用いるのが有利である。したが
って、このようなVCOをモノリシック集積回路化する
ためには、可変容量回路として、上記トランジスタと同
様な構造を有するヘテロ接合FETのゲートショットキ
ダイオードを用いると好都合である。かかるショットキ
ダイオードは、容量Qを大きくするために直列抵抗を最
大限に小さくする必要があり、通常は、ミリ波モノリシ
ック集積回路の一部2を示す図2のように、ゲートとオ
ーミック電極がインターディジタル型に、換言すれば、
FETのソースとドレインが連結、短絡されソースドレ
イン電極34を形成する構造となっている。図2におい
て、31は半絶縁性GaAs(ガリウム・ヒ素)基板
を、32は能動領域を示している。この能動領域とは、
例えば基板31上にアンドープGaAs、アンドープI
nGaAs(インジウム・ガリウム・ヒ素)チャネル、
N−AlGaAs(アルミニウム・ガリウム・ヒ素)が
積層された領域である。33はゲート電極である。34
はソースドレイン電極であり、Via−Hole36を
通じて裏面接地電極37に接続されている。ゲートショ
ットキダイオードには電極38から制御電圧が印加され
るとともに、伝送線路39により発振回路全体に接続さ
れる。
2. Description of the Related Art Conventionally, a voltage control oscillator (VCO) is used in a communication device that uses a microwave band or a millimeter wave band to stabilize the frequency modulation or oscillation frequency or a feedback loop. ing. Normally, in this circuit, a variable capacitance element such as a varactor is used in the resonance circuit of an oscillator using an active element such as a transistor or a Gunn diode to change the oscillation frequency.
As an active element for oscillation used here, it is advantageous to use a heterojunction field effect transistor (FET) such as a high electron mobility transistor (HEMT) having a high cutoff frequency and a high gain particularly in millimeter waves. . Therefore, in order to make such a VCO into a monolithic integrated circuit, it is convenient to use a gate Schottky diode of a heterojunction FET having a structure similar to that of the transistor as the variable capacitance circuit. In such a Schottky diode, it is necessary to minimize the series resistance in order to increase the capacitance Q, and normally, the gate and the ohmic electrode are interleaved as shown in FIG. 2 showing a part 2 of the millimeter wave monolithic integrated circuit. Digital type, in other words,
The source and drain of the FET are connected and short-circuited to form the source / drain electrode 34. In FIG. 2, 31 indicates a semi-insulating GaAs (gallium arsenide) substrate, and 32 indicates an active region. This active area is
For example, undoped GaAs, undoped I on the substrate 31
nGaAs (indium gallium arsenide) channel,
This is a region in which N-AlGaAs (aluminum, gallium, and arsenic) is stacked. 33 is a gate electrode. 34
Is a source / drain electrode, and is connected to the back surface ground electrode 37 through the Via-Hole 36. A control voltage is applied from the electrode 38 to the gate Schottky diode, and is connected to the entire oscillation circuit by a transmission line 39.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、図2に示すよ
うな上記従来のゲートショットキダイオードを用いた可
変容量回路では、上述のようにソースとドレインとを短
絡接続しても、実験の結果、その直列抵抗は大きく、発
振回路には適さないことが判明した。本発明は、上記の
課題を解決するためになされたものであり、ゲートショ
ットキダイオードを可変容量として用いる可変容量回路
で、素子の直列抵抗を極めて小さくしうる可変容量回路
を提供することを目的とする。
However, in the variable capacitance circuit using the conventional gate Schottky diode as shown in FIG. 2, even if the source and the drain are short-circuited as described above, the result of the experiment is as follows. It has been found that its series resistance is large and it is not suitable for an oscillation circuit. The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a variable capacitance circuit that uses a gate Schottky diode as a variable capacitance and that can reduce the series resistance of elements to an extremely small value. To do.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明に係る可変容量回路は、ドレインとソースと
を有するショットキゲート電界効果トランジスタのゲー
トショットキダイオードを可変容量として用いる可変容
量回路であって、当該ドレインに直流バイアスを印加す
る直流バイアス印加手段と、前記ドレインを高周波的に
前記ソースと短絡させる短絡手段と、を備えて構成され
る。
In order to solve the above problems, a variable capacitance circuit according to the present invention is a variable capacitance circuit using a gate Schottky diode of a Schottky gate field effect transistor having a drain and a source as a variable capacitance. Therefore, it is configured to include a DC bias applying unit that applies a DC bias to the drain, and a short-circuiting unit that short-circuits the drain with the source in high frequency.

【0005】[0005]

【作用】上記従来の可変容量回路では、そのドレインと
ソースとが直流的にも高周波的にも短絡され直流バイア
スがかかっておらず、ヘテロ接合FETにおいては、オ
ーム性電極(ソース)とチャネル(InGaAsあるい
はGaAs)の間に存在するAlGaAs層が一種のバ
リアとなり、電界がかからないとバリア越えの電流が小
さく、このため抵抗が大きいものと考えられるのに対
し、上記構成を有する本発明に係る可変容量回路によれ
ば、ドレインに直流バイアスを印加して電子を加速する
ことができるので、上記のバリア越えが容易に行え、抵
抗を低減することができる。また、本発明の可変容量回
路では、ドレインを高周波的にソースと短絡させている
ので、抵抗値をさらに小さくすることができる。
In the above conventional variable capacitance circuit, the drain and the source thereof are short-circuited in terms of both DC and high frequency and are not biased with DC, and in the heterojunction FET, the ohmic electrode (source) and the channel (source) are connected. The AlGaAs layer existing between (InGaAs or GaAs) serves as a kind of barrier, and the current across the barrier is small unless an electric field is applied, and therefore the resistance is considered to be large. According to the capacitor circuit, since a DC bias can be applied to the drain to accelerate the electrons, the barrier can be easily crossed and the resistance can be reduced. Further, in the variable capacitance circuit of the present invention, since the drain is short-circuited to the source at high frequency, the resistance value can be further reduced.

【0006】[0006]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面にもとづいて
説明する。本発明の一実施例であるミリ波モノリシック
集積回路(MMIC)の構成の一部を図1に示す。図1
に示すように、このMMIC1は、裏面に裏面接地電極
17を有する半絶縁性GaAs基板11上に形成されて
いる。図は、MMICのうち、ゲートショットキダイオ
ード3の部分を示している。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a part of the configuration of a millimeter wave monolithic integrated circuit (MMIC) which is an embodiment of the present invention. Figure 1
As shown in, the MMIC 1 is formed on the semi-insulating GaAs substrate 11 having the back surface ground electrode 17 on the back surface. The figure shows a part of the gate Schottky diode 3 in the MMIC.

【0007】このゲートショットキダイオード3は、ソ
ース電極14a,14bと、ドレイン電極15と、ゲー
ト電極13とを有している。ソース電極14a,14b
は、Via−Hole16a,16bを通じて基板裏面
の接地電極17に接地されている。また、ドレイン電極
15は、キャパシタ上部電極21、絶縁膜23及びキャ
パシタ下部電極22を有して構成されるMIM(金属−
絶縁膜−金属)キャパシタ5と、Via−Hole16
cとにより高周波的に接地されるとともに、ドレインバ
イアス電極20により直流(DC)電圧が印加される。
したがって、このゲートショットキダイオード3のドレ
イン電極15は、MIMキャパシタ5、Via−Hol
e16c、裏面接地電極17、Via−Hole16
a,16bにより、高周波的にソース電極14a,14
bと短絡されている。ここに、MIMキャパシタ5、V
ia−Hole16c、裏面接地電極17、及びVia
−Hole16a,16bは短絡手段を構成している。
また、ドレインバイアス電極20は、直流バイアス印加
手段に相当している。
The gate Schottky diode 3 has source electrodes 14a and 14b, a drain electrode 15, and a gate electrode 13. Source electrodes 14a and 14b
Is grounded to the ground electrode 17 on the rear surface of the substrate through Via-Hole 16a, 16b. In addition, the drain electrode 15 is configured to include a capacitor upper electrode 21, an insulating film 23, and a capacitor lower electrode 22, and an MIM (metal-metal).
Insulating film-metal) capacitor 5 and Via-Hole 16
It is grounded at a high frequency by means of c and a direct current (DC) voltage is applied by the drain bias electrode 20.
Therefore, the drain electrode 15 of the gate Schottky diode 3 is connected to the MIM capacitor 5 and Via-Hol.
e16c, back surface ground electrode 17, Via-Hole16
a and 16b, the source electrodes 14a and 14
It is short-circuited with b. Here, MIM capacitor 5, V
ia-Hole 16c, backside ground electrode 17, and Via
-Hole 16a, 16b constitutes a short-circuit means.
The drain bias electrode 20 corresponds to a DC bias applying means.

【0008】また、ゲート電極13は、伝送線路19に
より、発振回路(図示せず)に接続されるとともに、電
圧制御電極18により制御電圧Vc が印加される。図1
における能動領域12は、例えば、半絶縁性GaAs基
板11上にアンドープGaAs、アンドープIn0.15G
a0.85As(インジウム・ガリウム・ヒ素)チャネル
層、およびN−Al0.15Ga0.85As(アルミニウム・
ガリウム・ヒ素)電子供給層が積層成長されたものが用
いられる。この能動領域12のソース電極14a,14
bおよびドレイン電極15の下部には、上記の電子供給
層の上に、さらにn+ −GaAsコンタクト層(図示せ
ず)が設けられている。
The gate electrode 13 is connected to an oscillation circuit (not shown) by a transmission line 19, and a control voltage Vc is applied by a voltage control electrode 18. Figure 1
The active region 12 in, for example, is undoped GaAs, undoped In0.15G on the semi-insulating GaAs substrate 11.
a0.85As (indium gallium arsenide) channel layer and N-Al0.15Ga0.85As (aluminum
A gallium / arsenic) electron supply layer is used which has been laminated and grown. The source electrodes 14a, 14 of this active region 12
Below the b and drain electrodes 15, an n + -GaAs contact layer (not shown) is further provided on the above-mentioned electron supply layer.

【0009】この結果、ゲート長0.15μm、ゲート幅50
μm×2本、計 100μmの場合について、0〜60 GHzで
のSパラメータの測定から等価回路を見積もったとこ
ろ、図2に示す従来の例では、制御電圧Vc =−2Vの
ときには、容量C=0.076 pF、直列抵抗R=12.2Ωであ
り、制御電圧Vc =0Vのときには、容量C=0.163 p
F、直列抵抗R=19.8Ωと、直列抵抗値Rが大きかった
のに対し、図1に示す本願発明の実施例では、ドレイン
バイアス電極20への印加電圧が0.3Vの場合、制御
電圧Vc =−2Vのときには、容量C=0.068 pF、直列
抵抗R= 6.7Ωであり、制御電圧Vc =0Vのときに
は、容量C=0.158 pF、直列抵抗R= 5.8Ωと、直列抵
抗値が大きく低減でき、かつ十分な容量変化が実現でき
た。
As a result, the gate length is 0.15 μm and the gate width is 50.
When the equivalent circuit is estimated from the measurement of the S parameter at 0 to 60 GHz for the case of 100 μm in total of μm × 2, in the conventional example shown in FIG. 2, when the control voltage Vc = -2V, the capacitance C = 0.076 pF, series resistance R = 12.2 Ω, and capacitance C = 0.163 p when control voltage Vc = 0V
In contrast to F and the series resistance R = 19.8 Ω, which is large, in the embodiment of the present invention shown in FIG. 1, when the voltage applied to the drain bias electrode 20 is 0.3 V, the control voltage Vc = -2V, capacitance C = 0.068 pF, series resistance R = 6.7Ω, and control voltage Vc = 0V, capacitance C = 0.158 pF, series resistance R = 5.8Ω. And, sufficient capacity change was realized.

【0010】上記の直列抵抗値低減の理由は、図2に示
すゲートショットキダイオード4のような従来の可変容
量回路では、そのドレイン電極とソース電極とが直流的
にも高周波的にも短絡され直流バイアスがかかっておら
ず、ヘテロ接合FETにおいては、オーム性電極(ソー
ス)とチャネル(InGaAsあるいはGaAs)の間
に存在するAlGaAs層が一種のバリアとなり、電界
がかからないとバリア越えの電流が小さく、このため抵
抗が大きいものと考えられるのに対し、上記構成を有す
る本発明に係るゲートショットキダイオード3のような
可変容量回路によれば、ドレイン電極15に直流バイア
スを印加して電子を加速することができるので、上記の
バリア越えが容易に行え、抵抗を低減することができる
ものと考えられる。。また、本発明に係るゲートショッ
トキダイオード3のような可変容量回路では、ドレイン
電極15を高周波的にソース電極14a,14bと短絡
させているので、直列抵抗値をさらに小さくすることが
できるものと考えられる。
The reason why the series resistance value is reduced is that in the conventional variable capacitance circuit such as the gate Schottky diode 4 shown in FIG. 2, the drain electrode and the source electrode are short-circuited both in terms of direct current and high frequency. In a heterojunction FET that is not biased, the AlGaAs layer existing between the ohmic electrode (source) and the channel (InGaAs or GaAs) serves as a kind of barrier, and the current across the barrier is small unless an electric field is applied. For this reason, it is considered that the resistance is large, whereas in the variable capacitance circuit such as the gate Schottky diode 3 according to the present invention having the above-described configuration, a DC bias is applied to the drain electrode 15 to accelerate electrons. Therefore, it is considered that the above barrier can be easily crossed and the resistance can be reduced. . Further, in the variable capacitance circuit such as the gate Schottky diode 3 according to the present invention, since the drain electrode 15 is short-circuited to the source electrodes 14a and 14b at high frequency, it is considered that the series resistance value can be further reduced. To be

【0011】以上の説明では、ゲートショットキダイオ
ードとしてヘテロ接合FET型について説明したが、こ
れは、GaAsMES型FET型の場合であっても、ソ
ースおよびドレインオーム性電極の性質が若干のバリア
を越えるトンネル電流で支配されると考えられ、やはり
ドレインに少し電圧をかけた方が抵抗が小さくなると考
えられるので、この場合にも本願発明が適用できる。
In the above description, the heterojunction FET type was explained as the gate Schottky diode. However, even in the case of the GaAs MES type FET type, this is a tunnel in which the characteristics of the source and drain ohmic electrodes slightly exceed the barrier. It is considered to be governed by the current, and it is considered that the resistance becomes smaller when a voltage is applied to the drain, so that the present invention can be applied to this case.

【0012】なお、本発明は、上記実施例に限定される
ものではない。上記実施例は、例示であり、本発明の特
許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な
構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなる
ものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
The present invention is not limited to the above embodiment. The above-mentioned embodiment is an exemplification, has substantially the same configuration as the technical idea described in the scope of the claims of the present invention, and has any similar effect to the present invention. It is included in the technical scope of the invention.

【0013】[0013]

【発明の効果】以上説明したように、上記従来の可変容
量回路では、そのドレインとソースとが直流的にも高周
波的にも短絡され直流バイアスがかかっておらず、ヘテ
ロ接合FETにおいては、オーム性電極(ソース)とチ
ャネル(InGaAsあるいはGaAs)の間に存在す
るAlGaAs層が一種のバリアとなり、電界がかから
ないとバリア越えの電流が小さく、このため抵抗が大き
いものと考えられるのに対し、上記構成を有する本発明
に係る可変容量回路によれば、ドレインに直流バイアス
を印加して電子を加速することができるので、上記のバ
リア越えが容易に行え、抵抗を低減することができる。
また、本発明の可変容量回路では、ドレインを高周波的
にソースと短絡させているので、抵抗値をさらに小さく
することができる、という利点を有している。上記よ
り、MMICに適した低抵抗の可変容量回路が実現で
き、高性能な電圧制御発振器、ひいては高性能な小型ミ
リ波通信装置を実現することができる、という利点をも
有している。
As described above, in the conventional variable capacitance circuit described above, the drain and the source thereof are short-circuited both in terms of direct current and high frequency, and no direct current bias is applied. The AlGaAs layer existing between the conductive electrode (source) and the channel (InGaAs or GaAs) serves as a kind of barrier, and if the electric field is not applied, the current across the barrier is small, and therefore the resistance is considered to be large. According to the variable capacitance circuit of the present invention having the configuration, since a DC bias can be applied to the drain to accelerate electrons, the barrier can be easily crossed and resistance can be reduced.
Further, in the variable capacitance circuit of the present invention, since the drain is short-circuited to the source at high frequency, there is an advantage that the resistance value can be further reduced. From the above, there is also an advantage that a low resistance variable capacitance circuit suitable for an MMIC can be realized, and a high-performance voltage controlled oscillator, and further, a high-performance small millimeter wave communication device can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例であるミリ波モノリシック集
積回路の一部の構成を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a partial configuration of a millimeter wave monolithic integrated circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】従来例であるミリ波モノリシック集積回路の一
部の構成を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a partial configuration of a millimeter wave monolithic integrated circuit as a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,2 ミリ波モノリシック集積回路 3,4 ゲートショットキダイオード 5 MIMキャパシタ 11 半絶縁性GaAs基板 12 能動領域 13 ゲート電極 14a,14b ソース電極 15 ドレイン電極 16a〜16c Via−Hole 17 裏面接地電極 18 電圧制御電極 19 伝送線路 20 ドレインバイアス電極 21 キャパシタ上部電極 22 キャパシタ下部電極 23 絶縁膜 31 半絶縁性GaAs基板 32 能動領域 33 ゲート電極 34 ソースドレイン電極 36 Via−Hole 37 裏面接地電極 38 電圧制御電極 39 伝送線路 1, 2 Millimeter-wave monolithic integrated circuit 3, 4 Gate Schottky diode 5 MIM capacitor 11 Semi-insulating GaAs substrate 12 Active region 13 Gate electrode 14a, 14b Source electrode 15 Drain electrode 16a-16c Via-Hole 17 Backside ground electrode 18 Voltage control Electrode 19 Transmission line 20 Drain bias electrode 21 Capacitor upper electrode 22 Capacitor lower electrode 23 Insulating film 31 Semi-insulating GaAs substrate 32 Active region 33 Gate electrode 34 Source drain electrode 36 Via-Hole 37 Backside ground electrode 38 Voltage control electrode 39 Transmission line

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ドレインとソースとを有するショットキ
ゲート電界効果トランジスタのゲートショットキダイオ
ードを可変容量として用いる可変容量回路であって、 当該ドレインに直流バイアスを印加する直流バイアス印
加手段と、 前記ドレインを高周波的に前記ソースと短絡させる短絡
手段と、 を備えたことを特徴とする可変容量回路。
1. A variable capacitance circuit that uses a gate Schottky diode of a Schottky gate field effect transistor having a drain and a source as a variable capacitance, the direct bias applying means for applying a direct current bias to the drain, and the drain having a high frequency. And a short-circuit means for electrically short-circuiting the source.
JP5090500A 1993-03-26 1993-03-26 Variable capacitance circuit Expired - Lifetime JPH0770736B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5090500A JPH0770736B2 (en) 1993-03-26 1993-03-26 Variable capacitance circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5090500A JPH0770736B2 (en) 1993-03-26 1993-03-26 Variable capacitance circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06283707A true JPH06283707A (en) 1994-10-07
JPH0770736B2 JPH0770736B2 (en) 1995-07-31

Family

ID=14000229

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5090500A Expired - Lifetime JPH0770736B2 (en) 1993-03-26 1993-03-26 Variable capacitance circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0770736B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006253263A (en) * 2005-03-09 2006-09-21 New Japan Radio Co Ltd Gunn diode oscillator
JP2011514689A (en) * 2008-03-19 2011-05-06 クリー インコーポレイテッド Integrated device based on nitride and silicon carbide, and method of manufacturing an integrated device based on nitride
US8502235B2 (en) 2003-03-03 2013-08-06 Cree, Inc. Integrated nitride and silicon carbide-based devices

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8502235B2 (en) 2003-03-03 2013-08-06 Cree, Inc. Integrated nitride and silicon carbide-based devices
JP2006253263A (en) * 2005-03-09 2006-09-21 New Japan Radio Co Ltd Gunn diode oscillator
JP2011514689A (en) * 2008-03-19 2011-05-06 クリー インコーポレイテッド Integrated device based on nitride and silicon carbide, and method of manufacturing an integrated device based on nitride

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0770736B2 (en) 1995-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3677350B2 (en) Semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device
JP5632598B2 (en) Oscillator circuit and oscillator
JP2947808B2 (en) Variable attenuator
US5208547A (en) Distributed amplifier having negative feedback
US7088204B2 (en) Transmission line and semiconductor integrated circuit device
US5939941A (en) High efficiency power amplifier using HITFET driver circuit
US6232840B1 (en) Transistor amplifier having reduced parasitic oscillations
US4481487A (en) Monolithic microwave wide-band VCO
US20060197106A1 (en) Semiconductor switches and switching circuits for microwave
US6066997A (en) Frequency multiplier with fundamental wave reflection
Joshi et al. Monolithic microwave gallium arsenide FET oscillators
US4189688A (en) Microwave FET power oscillator
JPH06283707A (en) Variable-capacitance circuit
CN116914408A (en) Antenna device, communication device, and image capturing system
JP3005416B2 (en) Microwave and millimeter wave monolithic integrated circuits
US5159346A (en) Voltage controlled oscillator
JP2793856B2 (en) Voltage controlled oscillator
JP2923851B2 (en) Microwave / millimeter wave oscillator
Ohata et al. A millimeter wave monolithic VCO with an integrated heterojunction FET as a varactor
US4786881A (en) Amplifier with integrated feedback network
US6057741A (en) Radio frequency oscillator having capacitively coupled variable reactance device
Ng et al. Submicrometer devices and monolithic functions using InAlAs/InGaAs heterostructures
JPS6040726B2 (en) Ultra high frequency oscillation circuit
JPH1093348A (en) Voltage controlled oscillator
USRE33469E (en) Monolithic microwave wide-band VCO