JPH06282604A - Layout verifying device - Google Patents

Layout verifying device

Info

Publication number
JPH06282604A
JPH06282604A JP5093707A JP9370793A JPH06282604A JP H06282604 A JPH06282604 A JP H06282604A JP 5093707 A JP5093707 A JP 5093707A JP 9370793 A JP9370793 A JP 9370793A JP H06282604 A JPH06282604 A JP H06282604A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
node
nodes
matching
unmatched
layout
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5093707A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3640402B2 (en
Inventor
Keiko Shiraishi
圭子 白石
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Xerox Co Ltd filed Critical Fuji Xerox Co Ltd
Priority to JP09370793A priority Critical patent/JP3640402B2/en
Publication of JPH06282604A publication Critical patent/JPH06282604A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3640402B2 publication Critical patent/JP3640402B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To provide a layout verifying device capable of efficiently and exactly detecting nodes causing the unmatching of connection when a circuit diagram does not match with a layout. CONSTITUTION:An identification value imparting means 1 receives an inputted net list or the processing result of a node matching detection means 3 and imparts an identification value which is a kind of attributes to a matching node. A division means 2 receives the result of the identification value imparting means 1 and calculates the attributes for unmatching nodes. Based on the calculated attributes, the unmatching nodes are divided into groups. The node matching detection means 3 receives information grouped by the division means 2, detects the group in one-to-one correspondence and makes the nodes matching. The matching of two net lists is detected when no more unmatching node is present and the unmatching is detected when the unmatching node is present and the group in the one-to-one correspondence is not detected.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、設計したレイアウトと
回路図等の仕様書との電気的な接続関係の一致を検証す
る方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for verifying the matching of electrical connection between a designed layout and a specification such as a circuit diagram.

【0002】[0002]

【従来の技術】レイアウト検証とは、LSIのレイアウ
ト情報から抽出された電気的な接続情報と回路図等の仕
様書から得られる電気的な接続情報の照合を行ない、接
続状態の不一致を起こしている接続点を検出することで
ある。この照合は、トランジスタレベルで行なわれるこ
ともあるし、IC等が配置されたもっと上位のレベルで
行なわれることもある。この照合に用いられる電気的な
接続情報としては、ネットリストが用いられる。ネット
リストは、レイアウトや回路図等において、同電位とな
る部分、例えば、配線されている部分を1つのノードと
し、回路素子などで接続されているノードを線で結ぶこ
とによって得られるグラフである。
2. Description of the Related Art Layout verification is a process of collating electrical connection information extracted from layout information of an LSI with electrical connection information obtained from a specification such as a circuit diagram to cause a mismatch of connection states. Is to detect a connection point that exists. This collation may be performed at the transistor level or may be performed at a higher level where the IC or the like is arranged. A netlist is used as the electrical connection information used for this verification. A netlist is a graph obtained by connecting parts connected to each other with circuit elements or the like with lines in a layout, a circuit diagram, or the like, where a part having the same potential, for example, a wired part is one node. .

【0003】図2は、一般的なレイアウト検証装置の一
例を示すブロック図である。図中、41は回路図ネット
リスト抽出機能、42はレイアウトネットリスト抽出機
能、43は照合機能である。レイアウト検証装置は、図
2に示すように、回路図から接続情報を抽出し、ネット
リストを作成する回路図ネットリスト抽出機能41と、
レイアウトから接続情報を抽出し、ネットリストを作成
するレイアウトネットリスト抽出機能42と、2つのネ
ットリストを用いて電気的な接続情報を照合する照合機
能43から構成されている。
FIG. 2 is a block diagram showing an example of a general layout verification apparatus. In the figure, 41 is a circuit diagram netlist extracting function, 42 is a layout netlist extracting function, and 43 is a collating function. As shown in FIG. 2, the layout verification apparatus extracts a connection information from a circuit diagram and creates a netlist, and a circuit diagram netlist extraction function 41,
The layout netlist extraction function 42 extracts the connection information from the layout and creates a netlist, and the collation function 43 collates the electrical connection information using the two netlists.

【0004】従来の照合機能43における照合の方法と
しては、2つの方法が行なわれている。その一つは、予
め対応するノードを初期対応ノードとして与えておき、
この初期対応ノードを対応させ、残りのまだ一致してい
ないノード、すなわち、未一致対応ノードを、不一致に
なるノードの数が最小になるように対応させて行き、そ
のときのノードの組み合わせを照合の結果とする方法で
ある。
As a collation method in the conventional collation function 43, two methods are performed. One of them is to give the corresponding node as the initial corresponding node in advance,
This initial corresponding node is made to correspond, and the remaining unmatched nodes, that is, unmatched corresponding nodes are matched so that the number of unmatched nodes is minimized, and the node combination at that time is matched. The result is a method.

【0005】しかし、不一致を起こすノードが最小にな
ることだけを基準に接続照合を行なうと、メモリのよう
に、同じ回路が繰り返し配置され、それらの回路を一度
に制御する信号線が存在するLSIにおいて、その信号
線の接続をまちがえた場合には、レイアウトの検証時に
回路図とレイアウトの本質的な不一致ノードを検出する
ことができないという問題があった。この問題を解決す
るために、例えば特開平4−95168号公報等では、
上述の信号線のような、接続している回路素子の多いも
のから対応するノードを探索し、本質的な不一致ノード
を検出しようとする方法が提案されている。しかし、こ
の方法においても、接続している回路素子の多いノード
を一致ノードとするため、このノードが不一致を起こし
ている場合には、これを検出できない場合が発生すると
いう問題がある。
However, if connection verification is performed only on the basis of minimizing the number of nodes that cause a mismatch, the same circuit is repeatedly arranged like a memory, and an LSI having signal lines for controlling those circuits at once exists. However, if the connection of the signal line is wrong, there is a problem in that it is not possible to detect an essentially mismatched node between the circuit diagram and the layout when verifying the layout. In order to solve this problem, for example, in Japanese Patent Laid-Open No. 4-95168,
A method has been proposed in which a corresponding node is searched from many connected circuit elements such as the above-mentioned signal line to detect an essentially mismatched node. However, even in this method, since a node having a large number of connected circuit elements is set as a matching node, there is a problem that if this node causes a mismatch, it may not be detected.

【0006】別の方法として、ネットリストの各ノード
に対して属性を与え、与えられた属性と隣接するノード
の属性によって新たな属性を計算し、これを繰り返すこ
とにより参照する範囲を徐々に広げて行き、ネットリス
ト中で唯一の属性を有するノードが1対1に対応すると
き、これを一致ノードとする照合方法がある。この方法
では、最後の1つのノードになっても、属性の値が一致
するまで照合結果が得られず、また、常にネットリスト
全体に対して一致ノードの探索を行なうため、時間がか
かるという問題があった。
As another method, an attribute is given to each node of the netlist, a new attribute is calculated by the attribute of the adjacent node and the given attribute, and the range to be referred to is gradually widened by repeating this. When there is a one-to-one correspondence between nodes having only one attribute in the netlist, there is a matching method in which this is a matching node. With this method, even if the last one node is reached, the matching result cannot be obtained until the attribute values match, and it also takes time because the entire netlist is always searched for a matching node. was there.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した事
情に鑑みてなされたもので、回路図とレイアウトが一致
していない場合に、接続の不一致を起こしているノード
を効率よく正確に検出することができるレイアウト検証
装置を提供することを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and when a circuit diagram and a layout do not match, a node causing a connection mismatch can be detected efficiently and accurately. It is an object of the present invention to provide a layout verification device that can be used.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、請求項1に記
載の発明においては、回路図等の仕様書から抽出した第
1のネットリストとレイアウトから抽出した第2のネッ
トリストの照合を行ない、レイアウトの検証を行なうレ
イアウト検証装置において、一致ノードに属性の1つと
して識別値を与える識別値付与手段と、未一致ノードに
対して隣接する未一致ノードの属性及び一致ノードの属
性に基づき新たな属性を計算し属性によって未一致ノー
ドをグループに分割する分割手段と、該分割手段により
分割されたグループのうち1対1対応のグループを検出
してノードを一致させるノード一致手段を有し、前記第
1及び第2のネットリストは一致ノードとなる少なくと
も1つの初期対応ノードを有しており、未一致ノードが
なくなるかあるいは1対1対応のグループが検出されな
くなるまで識別値付与手段、分割手段、ノード一致手段
を実行させることを特徴とするものである。
According to a first aspect of the present invention, a first netlist extracted from a specification such as a circuit diagram is collated with a second netlist extracted from a layout. In a layout verification device for performing a layout verification, an identification value giving means for giving an identification value as one of attributes to a matching node, and an attribute of an unmatched node adjacent to an unmatched node and an attribute of the matched node And a dividing unit that calculates a new attribute and divides the unmatched nodes into groups according to the attribute, and a node matching unit that detects a one-to-one correspondence group among the groups divided by the dividing unit and matches the nodes. , The first and second netlists have at least one initial corresponding node that is a matching node, and there are no unmatched nodes or Identification value providing means to the one-to-one correspondence of a group is no longer detected, dividing means, is characterized in that to execute a node matching means.

【0009】また、請求項2に記載の発明においては、
請求項1に記載のレイアウト検証装置において、前記ノ
ード一致手段で未一致ノードが存在しかつ1対1対応の
グループが検出されなかったとき、各グループごとに一
致ノードを検出して未一致ノードとして残されるノード
数を最小化するノード照合手段をさらに有することを特
徴とするものである。
According to the second aspect of the invention,
2. The layout verification apparatus according to claim 1, wherein when the node matching means has an unmatched node and a group having a one-to-one correspondence is not detected, a matched node is detected for each group and is set as an unmatched node. It is characterized by further comprising a node collating means for minimizing the number of remaining nodes.

【0010】[0010]

【作用】本発明によれば、レイアウト検証において、一
致ノードに属性の1つとして識別値を与え、未一致ノー
ドに対して隣接する未一致ノードの属性及び一致ノード
の属性に基づき新たな属性を計算し、計算した属性によ
って未一致ノードをグループに分割し、分割されたグル
ープのうち1対1対応のグループを検出してノードを一
致させるので、ネットリストの初期対応ノード及び一致
が検証されたノードに接続しているノードや、ネットリ
ストの中の固有なノードから照合が進み、効率よく照合
を行なうことができる。
According to the present invention, in layout verification, an identification value is given to a matching node as one of attributes, and a new attribute is created based on the attributes of the unmatching node adjacent to the unmatching node and the attributes of the matching node. It calculates and divides the unmatched nodes into groups according to the calculated attributes, detects the one-to-one correspondence group among the divided groups, and matches the nodes, so that the initial correspondence node and the match in the netlist are verified. Matching proceeds from a node connected to the node or a unique node in the netlist, so that the matching can be performed efficiently.

【0011】また、上述の照合により、複数のノードが
同じ属性を持っており同一グループに複数の対応するノ
ードの候補が存在しているためにそれ以上の照合が行な
えなくなった場合に、照合ができなかった未一致のノー
ドに対しては、ノード照合手段によってグループごとに
矛盾の少ない組み合わせを選んで照合を進めることによ
り、属性の似ているノードが存在している場合でも、照
合を行なうことができる。
Further, by the above-mentioned collation, when plural nodes have the same attribute and plural corresponding node candidates exist in the same group, further collation cannot be performed, the collation is performed. For unmatched nodes that could not be matched, the node matching means selects a combination with less contradiction for each group and advances matching, so that matching is performed even if there are nodes with similar attributes. You can

【0012】[0012]

【実施例】図1は、本発明のレイアウト検証装置の第1
の実施例を示すブロック図である。1は識別値付与手
段、2は分割手段、3はノード一致検出手段である。検
証の対象となる回路図等の仕様及びLSIのレイアウト
は、それぞれ、予めネットリストに変換され、入力され
る。このとき、一致ノードとなる少なくとも1つの初期
対応ノードが指定される。ここで、回路図から抽出した
ネットリストを、回路図ネットリストと呼ぶ。また、レ
イアウトからの抽出したネットリストを、レイアウトネ
ットリストと呼ぶことにする。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows a first layout verification apparatus according to the present invention.
It is a block diagram showing an example of. Reference numeral 1 is an identification value giving means, 2 is a dividing means, and 3 is a node coincidence detecting means. Specifications such as a circuit diagram to be verified and the layout of the LSI are converted into a netlist in advance and input. At this time, at least one initial corresponding node to be the matching node is designated. Here, the netlist extracted from the circuit diagram is called a circuit diagram netlist. The netlist extracted from the layout will be called a layout netlist.

【0013】識別値付与手段1は、入力されるネットリ
ストまたはノード一致検出手段3の処理結果を受け取
り、一致ノードに対して属性の一種である識別値を付与
する。分割手段2は、識別値付与手段1の結果を受け取
り、まず、未一致ノードがあるか否かを判定する。この
結果、未一致ノードがなければ、入力された2つのネッ
トリストは一致したことになるので、一致信号を出力
し、処理を終了する。未一致ノードがある場合には、未
一致ノードに対して、隣接する未一致ノードの属性及び
一致ノードの属性に基づき新たな属性を計算する。計算
された属性が同じ未一致ノードを抽出して、グループに
分割する。ノード一致検出手段3は、分割手段2によっ
てグループ分けされた情報を受け取り、1対1対応のグ
ループを検出してノードを一致させる。すなわち、分割
されたグループ内に要素となるノードが1つ存在し、2
つのネットリスト間で対応がとれたノードを一致ノード
とする。もし、一致ノードが見つかった場合には、識別
値付与手段1に戻り、見つかった一致ノードからも、照
合を行なうことになる。もし、未一致ノードがありなが
ら、一致ノードが見つからなかった場合には、これ以
上、上述の照合処理を繰り返しても一致ノードは見つか
らないので、処理を終了し、未一致ノードを出力する。
The identification value giving means 1 receives the input netlist or the processing result of the node matching detection means 3 and gives the matching node an identification value which is a kind of attribute. The dividing unit 2 receives the result of the identification value assigning unit 1, and first determines whether or not there is an unmatched node. As a result, if there is no unmatched node, it means that the two input netlists match, so a matching signal is output, and the processing ends. If there is an unmatched node, a new attribute is calculated for the unmatched node based on the attribute of the adjacent unmatched node and the attribute of the matched node. Unmatched nodes with the same calculated attributes are extracted and divided into groups. The node coincidence detection means 3 receives the information divided into groups by the division means 2 and detects a one-to-one correspondence group to make the nodes coincide. That is, one element node exists in the divided group, and 2
A node having a correspondence between two netlists is a matching node. If a matching node is found, the process returns to the identification value assigning means 1 and the matching node found is also used for matching. If there is an unmatched node but no matching node is found, the matching node is not found even if the above-mentioned matching process is repeated, and the process is terminated and the unmatched node is output.

【0014】分割手段2において計算し、また、グルー
プ分けに用いる属性の情報としては、例えば、ノードに
接続している回路素子の端子の数、すなわち、ノードか
ら出ている枝数や、回路素子の端子の種類によりあらか
じめ設定されている値の和(以下、端子値という)等を
用いることができる。また、一致したノードにのみそれ
ぞれの対応に固有の識別値を与え、隣接している一致ノ
ードの識別値の和(以下、隣接値という)の情報を用い
ることが可能である。また、例えば、端子値と隣接値を
加えた値を属性の値としたり、識別値と一致ノードの端
子値を加えた値を隣接している一致ノードについて加
え、その値を隣接値の替わりに用いるなど、種々の値を
用いることができる。これらの値を適宜選択し、組み合
わせて用いることもできる。
As the attribute information calculated by the dividing means 2 and used for grouping, for example, the number of terminals of the circuit element connected to the node, that is, the number of branches coming out of the node and the circuit element. It is possible to use the sum of values preset depending on the type of the terminal (hereinafter referred to as the terminal value). Further, it is possible to give a unique identification value to each correspondence only to the matched nodes and use the information of the sum of the identification values of the adjacent matching nodes (hereinafter referred to as the adjacent value). In addition, for example, the value obtained by adding the terminal value and the adjacent value is used as the attribute value, or the value obtained by adding the identification value and the terminal value of the matching node is added to the adjacent matching node, and that value is used instead of the adjacent value. Various values such as used can be used. These values can be appropriately selected and used in combination.

【0015】与えられるネットリストの初期対応ノード
に、予め識別値を付与しておくこともできる。この場合
には、最初に初期対応ノードに識別値を改めて付与する
必要はないので、ネットリストの情報は分割手段2に与
え、分割手段2、ノード一致手段3、識別値付与手段1
の順で処理を進めればよい。
An identification value may be given to the initial corresponding node of the given netlist in advance. In this case, since it is not necessary to add the identification value to the initial corresponding node first, the information of the netlist is given to the dividing means 2, the dividing means 2, the node matching means 3, and the identification value giving means 1.
You can proceed in the order of.

【0016】図3は、本発明のレイアウト検証装置の第
1の実施例の動作の一例を説明するためのフローチャー
トである。S11において、回路図及びレイアウトのネ
ットリストが与えられると、識別値付与手段1におい
て、予め与えられている初期対応ノードを一致させ、一
致した回路図ネットリストのノードと、レイアウトネッ
トリストのノードに同一の識別値を与える。S12にお
いて、分割手段2で未一致ノードがあるか否かを判定す
る。もし、未一致ノードがなければ、すべての回路図ネ
ットリストのノードとレイアウトネットリストのノード
が一致したことになるので、回路図とレイアウトが一致
した旨の信号を出力して処理を終了する。もし、未一致
ノードがあれば、S13に移る。
FIG. 3 is a flow chart for explaining an example of the operation of the first embodiment of the layout verification apparatus of the present invention. In S11, when the netlist of the circuit diagram and the layout is given, the identification value giving means 1 matches the preliminarily given initial corresponding nodes, and the matched circuit diagram netlist node and the layout netlist node are matched. Give the same identification value. In S12, the dividing unit 2 determines whether or not there is an unmatched node. If there is no unmatched node, it means that all the nodes in the circuit diagram netlist and the nodes in the layout netlist are matched, so that a signal indicating that the circuit diagram and the layout are matched is output and the process is ended. If there is an unmatched node, the process proceeds to S13.

【0017】S13では、分割手段2において、未一致
ノードに対して、ノードに接続している枝数、端子値、
隣接値等の属性を計算し、それらの属性を基準にして回
路図ネットリストのノードとレイアウトネットリストの
ノードをグループに分割する。属性の同じグループに属
している回路図ノードとレイアウトノードが対応する可
能性が高い。そのため、S14では、ノード一致手段3
において、回路図ネットリストのノードとレイアウトネ
ットリストのノードが1対1に対応しているグループが
あるか否かを判定する。もし、1対1に対応しているグ
ループがあれば、S15において、一致したノードとす
る。S16では、識別値付与手段1において、新たに一
致したノードに識別値を与える。そして、S12に戻
り、処理を続ける。S14において、1対1に対応して
いるグループが見つからないときは、回路図とレイアウ
トが不一致であるとして、不一致の情報を出力する。
In S13, in the dividing means 2, for the unmatched node, the number of branches connected to the node, the terminal value,
Attributes such as adjacent values are calculated, and the nodes of the schematic netlist and the nodes of the layout netlist are divided into groups based on those attributes. It is highly possible that a schematic node and a layout node belonging to the same attribute group correspond to each other. Therefore, in S14, the node matching means 3
At, it is determined whether there is a group in which the nodes of the circuit diagram netlist and the nodes of the layout netlist have a one-to-one correspondence. If there is a one-to-one correspondence group, in S15, it is determined as a matched node. In S16, the identification value giving means 1 gives an identification value to the newly matched node. Then, the process returns to S12 to continue the processing. In S14, when a group corresponding to one-to-one is not found, it is determined that the circuit diagram and the layout do not match, and the mismatch information is output.

【0018】図4は、本発明のレイアウト検証装置の第
1の実施例におけるやや具体的な一例を示すブロック構
成図である。図中、21はノード集合記憶手段、22は
一致ノード記憶手段、23は未一致ノード記憶手段、2
4は隣接情報抽出手段、25は集合内ノード比較手段、
26は未一致ノード再編成手段、27は集合間ノード比
較手段、28は一致ノード抽出手段、29は結果通知手
段、30は識別値付与手段である。この具体例では、初
期一致ノードに付与される識別値は予め与えられて、一
致ノード記憶手段22に記憶されるものとする。
FIG. 4 is a block diagram showing a rather concrete example of the first embodiment of the layout verification apparatus of the present invention. In the figure, 21 is a node set storage means, 22 is a matched node storage means, 23 is a non-matched node storage means, 2
4 is the adjacent information extracting means, 25 is the in-set node comparing means,
26 is an unmatched node reorganization means, 27 is an inter-set node comparison means, 28 is a matched node extraction means, 29 is a result notification means, and 30 is an identification value giving means. In this specific example, the identification value given to the initial matching node is given in advance and stored in the matching node storage means 22.

【0019】ノード集合記憶手段21には、少なくとも
1つの初期対応ノードと、素子の数、素子の種類、ノー
ド間の接続関係を備えた回路図ネットリスト及びレイア
ウトネットリストのノード集合が記憶される。一致ノー
ド記憶手段22には、回路図ネットリスト及びレイアウ
トネットリストのノードのうち、一致ノード集合が記憶
される。初期状態では、各ネットリストの初期一致ノー
ドが記憶される。未一致ノード記憶手段23には、未一
致のノード集合が記憶される。初期状態では、各ネット
リストのノード集合のうち、初期対応ノード以外のノー
ドが未一致ノード集合として記憶される。
The node set storage means 21 stores at least one initial corresponding node and a node set of a circuit diagram netlist and a layout netlist having the number of elements, the type of elements, and the connection relationship between the nodes. . The coincidence node storage unit 22 stores a coincidence node set of the nodes of the circuit diagram netlist and the layout netlist. In the initial state, the initial matching node of each netlist is stored. The unmatched node storage means 23 stores unmatched node sets. In the initial state, among the node sets of each netlist, the nodes other than the initial corresponding node are stored as the unmatched node set.

【0020】隣接情報抽出手段24は、ノード集合記憶
手段21より、ノードの隣接関係と、未一致ノード記憶
手段23に記憶されている未一致ノードに隣接するノー
ド数と素子数、一致ノード記憶手段22に記憶されてい
る一致ノード数及び一致ノードの持つ識別値を抽出し、
各未一致ノードの属性の値を計算する。この属性の値
は、未一致ノード記憶手段23に各未一致ノードに対応
して記憶される。集合内ノード比較手段25は、隣接情
報抽出手段24により抽出され、計算された属性の値
を、回路図ネットリスト及びレイアウトネットリストご
とにそれぞれ比較する。未一致ノード再編成手段26
は、集合内ノード比較手段25による比較結果に基づ
き、未一致ノード記憶手段23に含まれる未一致ノード
をグループ分けして再編成し、結果を未一致ノード記憶
手段23に記憶させる。
The adjacency information extraction means 24 includes the adjacency relation of nodes from the node set storage means 21, the number of nodes and the number of elements adjacent to the unmatched nodes stored in the unmatched node storage means 23, and the matched node storage means. The number of matching nodes stored in No. 22 and the identification value of the matching node are extracted,
Calculate the value of the attribute of each unmatched node. The value of this attribute is stored in the unmatched node storage means 23 in association with each unmatched node. The in-set node comparing means 25 compares the attribute values extracted and calculated by the adjacent information extracting means 24 for each of the circuit diagram netlist and the layout netlist. Unmatched node reorganization means 26
Based on the comparison result by the in-set node comparison unit 25, the unmatched nodes included in the unmatched node storage unit 23 are grouped and reorganized, and the result is stored in the unmatched node storage unit 23.

【0021】集合間ノード比較手段27は、未一致ノー
ド再編成手段26により再編成された回路図ネットリス
ト及びレイアウトネットリストの未一致ノード集合間
で、隣接情報抽出手段24により計算された属性の値を
比較する。一致ノード抽出手段28では、集合間ノード
比較手段27による比較結果をもとに、一致しているノ
ード対を検出する。新たに一致を検出した各ノード対
は、固有の識別値が付与されるとともに一致ノード記憶
手段22に記憶され、未一致ノード記憶手段23から削
除される。
The inter-set node comparison means 27 includes the attributes calculated by the adjacency information extraction means 24 between the unmatched node sets of the schematic netlist and the layout netlist reorganized by the unmatched node reorganization means 26. Compare the values. The coincident node extraction means 28 detects a coincident node pair based on the comparison result by the inter-set node comparison means 27. Each node pair for which a new match is detected is given a unique identification value, stored in the matched node storage means 22, and deleted from the unmatched node storage means 23.

【0022】これらの処理が繰り返し行なわれ、未一致
ノード記憶手段23に含まれるノードが無くなったと
き、回路図及びレイアウトが一致したことが結果通知手
段29から出力される。また、一致ノード抽出手段28
により新たに一致するノード対が1つも検出されず、未
一致ノード記憶手段23に記憶されているノードが存在
するときには、回路図とレイアウトは不一致であるとし
て、結果通知手段29から未一致ノード記憶手段23に
記憶されている未一致ノードが不一致ノードとして出力
される。
When these processes are repeated and there are no nodes included in the unmatched node storage means 23, the result notifying means 29 outputs that the circuit diagrams and layouts match. Also, the coincidence node extracting means 28
Therefore, when no new matching node pair is detected and there is a node stored in the unmatched node storage means 23, it is determined that the circuit diagram and the layout do not match, and the result notification means 29 stores the unmatched node storage. The unmatched node stored in the means 23 is output as the unmatched node.

【0023】このように、第1の実施例においては、枝
の数、回路素子の種類、テキストの情報、一致させたノ
ードの情報を利用することにより、すでに一致したノー
ドに接続しているノードや、ネットリストの中の固有な
ノードから照合が進んでいくことになる。しかし、上述
の第1の実施例では、グループに分割した場合に一対一
対応になっていなければ一致していると識別しないた
め、属性の似ているノードが存在していると対応してい
るノードが残っていても検証が終わってしまうという問
題がある。これを回避するため、図1のノード一致手段
3において、未一致ノードが存在し、1対1対応のグル
ープが見つからない場合には、別の照合手段を用いて残
りのノードの検証を行なえばよい。
As described above, in the first embodiment, by utilizing the number of branches, the type of circuit element, the text information, and the matched node information, the nodes already connected to the matched node are used. Or, matching will proceed from a unique node in the netlist. However, in the above-described first embodiment, if there is no one-to-one correspondence when divided into groups, it is not identified as a match, so it is considered that there are nodes with similar attributes. There is a problem that the verification ends even if the node remains. In order to avoid this, if there is a non-matching node in the node matching means 3 in FIG. 1 and a group having a one-to-one correspondence cannot be found, another matching means is used to verify the remaining nodes. Good.

【0024】図5は、本発明のレイアウト検証装置の第
2の実施例を示すブロック図である。図中、図1と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。4はノー
ド照合手段である。ノード照合手段4では、ノード一致
手段3でグループ分けされた各グループごとに一致ノー
ドを検出して、未一致ノードとして残されるノード数を
最小化する。この各グループごとに行なわれる一致ノー
ドの検出は、従来から用いられている方法を用いること
ができる。ノード照合手段4の実行時には、すでにほと
んどのノードで一致が検出されており、また、未一致の
ノードもグループ分けされており、実際にノード照合手
段4で行なわれる照合の処理は、全体の照合処理のごく
一部のみである。そのため、ノード照合手段4に従来の
時間のかかる照合方法を適用したとしても、全体の処理
時間に比べてそれほど影響しない。例えば、すべての組
み合わせを検証するような照合方法を用いたとしても、
検証の時間はノードの個数の自乗に比例するが、属性に
よる照合でほとんどのノードが一致し、また、未一致ノ
ードがグループ分けされているので、組み合わせは非常
に少なくなり、処理はごく短時間で終了する。
FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the layout verification apparatus of the present invention. In the figure, the same parts as those in FIG. Reference numeral 4 is a node matching means. The node matching unit 4 detects a matching node in each group divided by the node matching unit 3 and minimizes the number of nodes left as unmatched nodes. A conventionally used method can be used for the detection of the coincident node performed for each group. When the node matching unit 4 is executed, a match has already been detected in most of the nodes, and unmatched nodes are also grouped. The actual matching process performed by the node matching unit 4 is the entire matching. Only a small part of the processing. Therefore, even if a conventional time-consuming matching method is applied to the node matching means 4, it does not affect the overall processing time so much. For example, even if you use a matching method that verifies all combinations,
The verification time is proportional to the square of the number of nodes, but most of the nodes are matched by attribute matching and unmatched nodes are grouped, so the number of combinations is very small and the processing is very short. Ends with.

【0025】図6は、本発明のレイアウト検証装置の第
2の実施例の動作の一例を説明するためのフローチャー
トである。図中、S11乃至S16の動作は、第1の実
施例の動作と同様である。すなわち、枝の数、回路素子
の種類、テキストの情報、一致させたノードの情報ノー
ド等を属性として利用し、属性を基準にグループに分割
することにより一致の検証を進めて行く照合方法を実行
する。これらの動作は、識別値付与手段1、分割手段
2、ノード一致手段3により実現される。
FIG. 6 is a flow chart for explaining an example of the operation of the second embodiment of the layout verification apparatus of the present invention. In the figure, the operation of S11 to S16 is the same as the operation of the first embodiment. That is, the number of branches, the type of circuit element, the text information, the information node of the matched node, etc. are used as attributes, and the matching is performed by dividing the groups into groups based on the attributes. To do. These operations are realized by the identification value assigning unit 1, the dividing unit 2, and the node matching unit 3.

【0026】S14において、未一致ノードがまだ存在
するにもかかわらず、1対1対応のグループが見つから
なかった場合、すなわち、複数のノードが同じ属性を持
っており、同一グループに複数の対応するノードの候補
が存在しているためにそれ以上の照合が行なえなくなっ
た場合に、この第2の実施例では、ノード照合手段4に
よる照合を行なう。S17において、ノード照合手段4
は、同一グループ内で一致させたとき最も矛盾の発生が
少ないノードの組み合わせを選択し一致させるように接
続照合を行なう。この照合処理の結果をS18において
判定し、未一致ノードが無くなれば、回路図とレイアウ
トは一致したものとして、一致の信号を出力して処理を
終了する。また、未一致ノードがまだ存在する場合に
は、回路図とレイアウトは不一致であるとして、不一致
の信号を出力して処理を終了する。このとき、不一致の
ノードは、ノード照合手段4による照合の結果、減少し
ており、より正確に不一致部分をユーザに対して提示す
ることができる。
In S14, if a one-to-one correspondence group is not found even though there are still unmatched nodes, that is, a plurality of nodes have the same attribute and a plurality of corresponding groups belong to the same group. In the second embodiment, if the node candidate is present and further verification cannot be performed, the node verification means 4 performs the verification. In S17, the node matching means 4
Selects a combination of nodes that causes the least contradiction when they are matched in the same group, and performs connection matching so that they match. The result of this collation processing is determined in S18, and if there is no unmatched node, it is determined that the circuit diagram and the layout match, and a matching signal is output and the processing ends. If there are still unmatched nodes, it is determined that the circuit diagram and the layout do not match, a mismatch signal is output, and the process ends. At this time, the number of unmatched nodes is decreased as a result of the matching by the node matching unit 4, and the unmatched portion can be presented to the user more accurately.

【0027】次に、本発明のレイアウト検証装置の第
1、第2の実施例における具体例について説明する。図
7は、本発明のレイアウト検証装置の第1、第2の実施
例における具体例で用いる回路例の説明図、図8は、図
7の回路のネットリストである。図中、101乃至11
5は2端子素子、201乃至206は3端子素子、30
1は電源、401乃至420は配線、501乃至520
はノードである。各素子を図7に示すように配線した回
路について考える。2端子素子101乃至115は、そ
れぞれの端子に1,2の重みが付与されている。また、
3端子素子201乃至206には、それぞれの端子に
3,4,5の重みが付与されている。さらに、電源30
1の負極には6、正極には7の重みが付与されている。
図7に示された回路は、図8に示したネットリストに変
換される。図8において、各ノード501乃至520
は、図7の配線401乃至420に対応する。このとき
指定される初期対応ノードは、ノード501とする。
Next, specific examples of the layout verifying apparatus of the present invention in the first and second embodiments will be described. FIG. 7 is an explanatory diagram of a circuit example used in a concrete example of the first and second embodiments of the layout verification apparatus of the present invention, and FIG. 8 is a net list of the circuit of FIG. In the figure, 101 to 11
5 is a 2-terminal element, 201 to 206 are 3-terminal elements, 30
1 is a power source, 401 to 420 are wirings, and 501 to 520
Is a node. Consider a circuit in which each element is wired as shown in FIG. The two-terminal elements 101 to 115 have weights of 1 and 2 assigned to their respective terminals. Also,
Weights of 3, 4, and 5 are given to the terminals of the three-terminal elements 201 to 206, respectively. Furthermore, power source 30
A weight of 6 is given to the negative electrode of 1 and a weight of 7 is given to the positive electrode.
The circuit shown in FIG. 7 is converted into the netlist shown in FIG. In FIG. 8, each node 501 to 520
Correspond to the wirings 401 to 420 in FIG. The initial corresponding node designated at this time is the node 501.

【0028】まず、回路図ネットリストとレイアウトネ
ットリストが一致する場合を、図6に示すフローチャー
ト、および、図9乃至図12に示す過程図を基に説明す
る。図9乃至図12は、具体例のネットリストが一致す
るときの過程図である。以下の説明で用いる属性として
は、ノードから出ている枝数と、端子値、隣接値を組に
して用いるとともに、一致ノードにおいては識別値を用
いる。また、回路図ネットリストとレイアウトネットリ
ストは、ともに図8に示すネットリストになっているも
のとする。
First, the case where the circuit diagram netlist and the layout netlist match will be described with reference to the flowchart shown in FIG. 6 and the process diagrams shown in FIGS. 9 to 12. 9 to 12 are process diagrams when the netlists of the specific example match. As the attribute used in the following description, the number of branches emerging from the node, the terminal value, and the adjacent value are used as a set, and the identification value is used in the matching node. Further, it is assumed that both the circuit diagram netlist and the layout netlist are the netlists shown in FIG.

【0029】図8に示すネットリスト及び初期対応ノー
ドが与えられると、まずS11において、2つのネット
リストの初期対応ノード501を一致させ、識別値を与
える。ここでは、識別値として1を与えることにする。
S12において、まだ未一致ノードが存在するので、S
13へ進む。S13において、未一致ノードの属性を計
算する。計算した結果を図9に示す。括弧内の数値が属
性の値であり、最初の数値が枝数、次が端子値、最後が
隣接値である。また、黒丸のノードが一致ノードであ
り、単独の数値が識別値である。属性が計算されると、
この属性に基づきグループ分けが行なわれる。ここで
は、一例として、属性が同じものをグループとしてまと
めることにする。すると、ノード503,505,50
7のグループと、ノード504,506,508,51
1,514,516,518のグループと、ノード50
9,515,517,519のグループと、ノード51
2,513のグループが複数のノードで構成され、ノー
ド502,510,520はそれぞれ1つのノードでグ
ループが構成される。S14において、1対1対応のグ
ループがあるか否かが判定される。ノード502,51
0,520は、1対1に対応するグループであるので、
S15において、これらのノードを一致させる。そし
て、S16において、新たに一致したノード502,5
10,520に対して、識別値を与える。例えば、ノー
ド502に識別値2を、ノード510に識別値3を、ノ
ード520に識別値4を与えるものとする。そして、S
12へ戻る。
When the netlist and the initial corresponding node shown in FIG. 8 are given, first, in S11, the initial corresponding nodes 501 of the two netlists are made to coincide with each other and an identification value is given. Here, 1 is given as the identification value.
In S12, there are still unmatched nodes.
Proceed to 13. In S13, the attribute of the unmatched node is calculated. The calculated result is shown in FIG. Numerical values in parentheses are attribute values, the first numerical value is the branch number, the second is the terminal value, and the last is the adjacent value. Also, the black circled nodes are coincident nodes, and a single numerical value is an identification value. Once the attributes are calculated,
Grouping is performed based on this attribute. Here, as an example, groups having the same attribute are grouped together. Then, the nodes 503, 505, 50
7 groups and nodes 504, 506, 508, 51
1,514, 516, 518 groups and node 50
Group of 9,515,517,519 and node 51
A group of 2,513 is composed of a plurality of nodes, and each of the nodes 502, 510, 520 is composed of one node. In S14, it is determined whether or not there is a one-to-one correspondence group. Nodes 502, 51
Since 0,520 is a group corresponding to one to one,
In S15, these nodes are matched. Then, in S16, the newly matched nodes 502, 5
An identification value is given to 10,520. For example, the identification value 2 is given to the node 502, the identification value 3 is given to the node 510, and the identification value 4 is given to the node 520. And S
Return to 12.

【0030】S12において、未一致ノードが存在する
ので、S13へ進む。S13において、未一致ノードの
属性を計算する。計算した結果を図10に示す。属性が
計算されると、この属性に基づきグループ分けが行なわ
れる。すると、ノード504,506,508,51
1,514,516,518のグループは、ノード50
4,506,508のグループと、ノード511のグル
ープと、ノード514,516,518のグループに分
かれる。また、ノード509,515,517,519
のグループは、ノード509のグループと、ノード51
5、517、519のグループに分かれる。その他のグ
ループには変化はない。ここで、ノード511と、ノー
ド509が1対1に対応するグループを構成する。S1
4において、1対1に対応するグループがあることが判
定され、S15において、1対1対応しているノード5
09,511を一致させる。この一致ノード509,5
11は、初期対応ノード以外のノード510から検索さ
れたノードである。このように、本発明の方法では、初
期対応ノード以外のノードからも一致ノードが広がるこ
とになる。S16において、新たに一致ノードとなった
ノード509,511に対して識別値を与える。例え
ば、ノード509に識別値5を、ノード511に識別値
6を与える。そして、S12へ戻る。
At S12, since there is an unmatched node, the process proceeds to S13. In S13, the attribute of the unmatched node is calculated. The calculated result is shown in FIG. When the attribute is calculated, grouping is performed based on this attribute. Then, the nodes 504, 506, 508, 51
The group of 1,514, 516, 518 is the node 50
4, 506, 508, a node 511, and nodes 514, 516, 518. In addition, nodes 509, 515, 517, and 519
Group of nodes 509 and node 51
Divided into 5, 517, 519 groups. The other groups are unchanged. Here, the node 511 and the node 509 form a group corresponding to one to one. S1
4, it is determined that there is a one-to-one correspondence group, and in S15, the one-to-one correspondence node 5
09 and 511 are matched. This matching node 509, 5
Reference numeral 11 is a node retrieved from the node 510 other than the initial corresponding node. As described above, according to the method of the present invention, the matching nodes also spread from nodes other than the initial corresponding node. In S16, an identification value is given to the nodes 509 and 511 that have newly become coincident nodes. For example, the identification value 5 is given to the node 509, and the identification value 6 is given to the node 511. Then, the process returns to S12.

【0031】S12において、未一致ノードが存在する
ので、S13へ進む。S13において、未一致ノードの
属性を計算する。計算した結果を図11に示す。属性が
計算されると、この属性に基づきグループ分けが行なわ
れる。すると、ノード503,504,514,515
が各グループから分割されてそれぞれ独立したグループ
となる。S14において、1対1に対応するグループが
あることが判定され、S15において、1対1対応して
いるノード503,504,514,515を一致させ
る。S16において、新たに一致ノードとなったノード
503,504,514,515に対して識別値を与え
る。そして、S12へ戻る。
At S12, since there is an unmatched node, the process proceeds to S13. In S13, the attribute of the unmatched node is calculated. The calculated result is shown in FIG. When the attribute is calculated, grouping is performed based on this attribute. Then, the nodes 503, 504, 514, 515
Are divided from each group to become independent groups. In S14, it is determined that there is a one-to-one correspondence group, and in S15, the one-to-one correspondence nodes 503, 504, 514, and 515 are matched. In S16, the identification value is given to the nodes 503, 504, 514, 515 that have newly become coincident nodes. Then, the process returns to S12.

【0032】S12において、未一致ノードが存在する
ので、S13において、未一致ノードの属性を計算す
る。この状態を図12に示す。しかし、これ以上分割さ
れて1対1対応となるグループはないので、S14から
S17へ移行する。S17では、最も矛盾の少ないグル
ープ内でのノードの対応を調べる。このときの照合は、
未一致ノードである10個のノードだけである。これに
より、残りの未一致ノード505乃至508と、516
乃至519の一致が照合されることになる。S18にお
いて、未一致ノードがないことが確認され、回路図とレ
イアウトが一致したことを示す信号が出力される。
Since an unmatched node exists in S12, the attribute of the unmatched node is calculated in S13. This state is shown in FIG. However, since there is no group that is further divided into one-to-one correspondence, the process proceeds from S14 to S17. In S17, the correspondence of the nodes in the group with the least contradiction is checked. The collation at this time is
There are only 10 unmatched nodes. As a result, the remaining unmatched nodes 505 to 508 and 516
Through 519 matches will be matched. In S18, it is confirmed that there is no unmatched node, and a signal indicating that the circuit diagram and the layout match is output.

【0033】次に、回路図ネットリストとレイアウトネ
ットリストが不一致の場合を、図6に示すフローチャー
ト、および、図7及び図13に示す回路例、図14,図
15に示す過程図を基に説明する。図13は、誤った回
路例の説明図、図14,図15は、具体例のネットリス
トが不一致のときの過程図である。この具体例では、図
13に示すように、2端子素子107が逆に接続された
場合を考える。ここでは、回路図ネットリストは図7に
示された回路に基づいており、レイアウトネットリスト
は、図13に示された回路相当のレイアウトに基づいて
いるものとする。初期対応ノードはノード501とす
る。
Next, when the circuit diagram netlist and the layout netlist do not match, based on the flowchart shown in FIG. 6, the circuit example shown in FIGS. 7 and 13, and the process diagrams shown in FIGS. 14 and 15. explain. FIG. 13 is an explanatory diagram of an erroneous circuit example, and FIGS. 14 and 15 are process diagrams when the netlists of the specific examples do not match. In this specific example, as shown in FIG. 13, consider a case where the two-terminal element 107 is connected in reverse. Here, it is assumed that the circuit diagram netlist is based on the circuit shown in FIG. 7 and the layout netlist is based on the layout corresponding to the circuit shown in FIG. The initial corresponding node is node 501.

【0034】まず、S11において、初期対応ノードを
一致させ、識別値として例えば1を与える。そして、S
12において、未一致ノードがあると判断され、S13
に進む。S13では、未一致ノードに対して属性が計算
される。計算された属性は、回路図ネットリストでは図
7に対応して図9のようになるが、レイアウトネットリ
ストでは、2端子素子107の逆接続のために、ノード
502,508の属性が違ってしまい、図14のように
なる。ここで1対1に対応するノードはノード510の
みである。ノード520は、回路図ネットリストでは一
意に決まるが、レイアウトネットリストではノード50
2とノード520は属性が同じとなり、1対1対応のノ
ードではなくなる。また、レイアウトネットリストにお
けるノード508は、属性としては一意に決まるが、対
応する回路ネットリストにおけるノードが無いため、1
対1対応のノードではない。属性に基づきグループ分け
を行ない、S14では1対1対応のノードがあると判定
されて、S15において、1対1に対応するノード51
0を一致させ、S16において、識別値2を与える。そ
して、S12へ戻り、2回目の処理に移る。
First, in S11, the initial corresponding nodes are made to match, and 1 is given as an identification value. And S
12, it is determined that there is an unmatched node, and S13
Proceed to. At S13, attributes are calculated for the unmatched nodes. The calculated attributes are as shown in FIG. 9 corresponding to FIG. 7 in the schematic netlist, but in the layout netlist, the attributes of the nodes 502 and 508 are different due to the reverse connection of the two-terminal element 107. The result is as shown in FIG. Here, the node corresponding to one-to-one is only the node 510. Although the node 520 is uniquely determined in the schematic netlist, the node 520 is determined in the layout netlist.
2 and the node 520 have the same attribute, and are not one-to-one correspondence nodes. Also, the node 508 in the layout netlist is uniquely determined as an attribute, but since there is no node in the corresponding circuit netlist, 1
It is not a one-to-one correspondence node. Grouping is performed based on the attributes, it is determined in S14 that there is a one-to-one correspondence node, and in S15, the one-to-one correspondence node 51
Match 0 and give an identification value of 2 in S16. Then, the process returns to S12 and shifts to the second processing.

【0035】同様に、2回目の処理では、ノード50
9,511が1対1に対応するので、これらのノードを
一致させ、識別値3,4を与える。3回目の処理では、
ノード503,504,514,515が1対1に対応
するので、これらのノードを一致させ、識別値5,6,
7,8を与える。4回目の処理で、ノード520が1対
1に対応する。この状態を図15に示す。図15(A)
は回路図ネットリストの過程を示し、図15(B)はレ
イアウトネットリストの過程を示している。これによ
り、レイアウトネットリストにおけるノード502が有
する属性は一意に決まるが、対応する回路図ネットリス
トにおけるノードが存在しないので、1対1対応のノー
ドとはならない。ノード520に識別値9を付与する。
Similarly, in the second processing, the node 50
Since 9,511 correspond one-to-one, these nodes are matched and the identification values 3 and 4 are given. In the third processing,
Since the nodes 503, 504, 514, and 515 correspond to each other on a one-to-one basis, these nodes are matched and the identification values 5, 6,
Give 7,8. The nodes 520 correspond one-to-one with the fourth processing. This state is shown in FIG. FIG. 15 (A)
Shows the process of the schematic netlist, and FIG. 15B shows the process of the layout netlist. As a result, the attribute of the node 502 in the layout netlist is uniquely determined, but it does not become a one-to-one correspondence node because there is no corresponding node in the schematic netlist. The identification value 9 is given to the node 520.

【0036】5回目の処理では、1対1に対応するノー
ドがなくなる。そのため、S14において、1対1対応
のグループなしと判定され、S17に移り、最も矛盾の
少ないグループ内でのノードの対応を調べる。このとき
調べるノードは、未一致ノードの9個のノードだけでよ
い。この照合により、ノード505,506,507,
512,513,516,517,518,519が対
応することが判定されるが、ノード502,508につ
いては、一致しない。そのため、S18において、未一
致ノードがあると判断され、回路図とレイアウトが不一
致である旨の信号が出力される。その際に、不一致ノー
ドとなったノード502とノード508が出力される。
この出力に応じて、例えば、回路図またはレイアウトが
表示されているディスプレイ等に不一致の箇所を表示さ
せることができる。これにより、ユーザは、不一致箇所
を認識できる。このとき、不一致となったノード502
とノード508は、2端子素子107に接続されている
ノードであるから、逆接続された2端子素子107を正
しくユーザに示すことができる。ユーザはこれに基づ
き、2端子素子107を点検すればよい。
In the fifth processing, there is no one-to-one corresponding node. Therefore, in S14, it is determined that there is no one-to-one correspondence group, and the process proceeds to S17 to check the correspondence of nodes in the group with the least contradiction. At this time, the nodes to be examined need only be nine unmatched nodes. By this collation, the nodes 505, 506, 507,
It is determined that 512, 513, 516, 517, 518, and 519 correspond, but the nodes 502 and 508 do not match. Therefore, in S18, it is determined that there is an unmatched node, and a signal indicating that the circuit diagram and the layout do not match is output. At this time, the nodes 502 and 508 that have become unmatched nodes are output.
According to this output, for example, a mismatched portion can be displayed on a display or the like on which the circuit diagram or the layout is displayed. As a result, the user can recognize the mismatched portion. At this time, the nodes 502 that do not match
Since the node 508 and the node 508 are connected to the two-terminal element 107, the two-terminal element 107 connected in reverse can be correctly shown to the user. Based on this, the user may inspect the two-terminal element 107.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、レイアウト検証において、回路図とレイアウ
トが一致していない場合に、接続の不一致を起こしてい
るノードを効率よく検出することが可能となるという効
果がある。また、不一致ノードが最小になるようにノー
ドを一致させる照合方法を組み合わせて用いることによ
り、属性によって照合を進めて行く方法によって残され
た未一致ノードがある場合でも、その中から真の不一致
ノードを検出することが可能となるという効果がある。
As is apparent from the above description, according to the present invention, in layout verification, when a circuit diagram and a layout do not match, a node causing a connection mismatch can be efficiently detected. There is an effect that it becomes possible. In addition, even if there is an unmatched node left by the method of advancing the matching depending on the attribute, the true unmatched node is selected from among the unmatched nodes by combining the matching methods that match the nodes so that the unmatched nodes are minimized. Is effective.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明のレイアウト検証装置の第1の実施例
を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a layout verification device of the present invention.

【図2】 一般的なレイアウト検証装置の一例を示すブ
ロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing an example of a general layout verification apparatus.

【図3】 本発明のレイアウト検証装置の第1の実施例
の動作の一例を説明するためのフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart for explaining an example of the operation of the first exemplary embodiment of the layout verification apparatus of the present invention.

【図4】 本発明のレイアウト検証装置の第1の実施例
におけるやや具体的な一例を示すブロック構成図であ
る。
FIG. 4 is a block configuration diagram showing a rather specific example of the first embodiment of the layout verification apparatus of the present invention.

【図5】 本発明のレイアウト検証装置の第2の実施例
を示すブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the layout verification device of the present invention.

【図6】 本発明のレイアウト検証装置の第2の実施例
の動作の一例を説明するためのフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart for explaining an example of the operation of the second embodiment of the layout verification device of the present invention.

【図7】 本発明のレイアウト検証装置の第1、第2の
実施例における具体例で用いる回路例の説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a circuit example used in a specific example in the first and second embodiments of the layout verification device of the present invention.

【図8】 図7の回路のネットリストである。FIG. 8 is a netlist for the circuit of FIG.

【図9】 具体例のネットリストが一致するときの過程
図の一部である。
FIG. 9 is a part of a process diagram when the netlists of the specific example match.

【図10】 具体例のネットリストが一致するときの過
程図の一部である。
FIG. 10 is a part of a process diagram when the netlists of the specific example match.

【図11】 具体例のネットリストが一致するときの過
程図の一部である。
FIG. 11 is a part of a process diagram when the netlists of the specific example match.

【図12】 具体例のネットリストが一致するときの過
程図の一部である。
FIG. 12 is a part of a process diagram when the netlists of the specific example match.

【図13】 誤った回路例の説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram of an erroneous circuit example.

【図14】 具体例のネットリストが不一致のときの過
程図の一部である。
FIG. 14 is a part of a process chart when the netlists of the specific example do not match.

【図15】 具体例のネットリストが不一致のときの過
程図の一部である。
FIG. 15 is a part of a process chart when the netlists of the specific example do not match.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 識別値付与手段、2 分割手段、3 ノード一致検
出手段、4 ノード照合手段、21 ノード集合記憶手
段、22 一致ノード記憶手段、23 未一致ノード記
憶手段、24 隣接情報抽出手段、25 集合内ノード
比較手段、26未一致ノード再編成手段、27 集合間
ノード比較手段、28 一致ノード抽出手段、29 結
果通知手段、30 識別値付与手段。
1 identification value assigning means, 2 dividing means, 3 node matching detecting means, 4 node matching means, 21 node set storing means, 22 matching node storing means, 23 unmatched node storing means, 24 adjacent information extracting means, 25 in-set node Comparison means, 26 unmatched node reorganization means, 27 inter-set node comparison means, 28 matched node extraction means, 29 result notification means, 30 discriminant value giving means.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回路図等の仕様書から抽出した第1のネ
ットリストとレイアウトから抽出した第2のネットリス
トの照合を行ない、レイアウトの検証を行なうレイアウ
ト検証装置において、一致ノードに属性の1つとして識
別値を与える識別値付与手段と、未一致ノードに対して
隣接する未一致ノードの属性及び一致ノードの属性に基
づき新たな属性を計算し属性によって未一致ノードをグ
ループに分割する分割手段と、該分割手段により分割さ
れたグループのうち1対1対応のグループを検出してノ
ードを一致させるノード一致手段を有し、前記第1及び
第2のネットリストは一致ノードとなる少なくとも1つ
の初期対応ノードを有しており、未一致ノードがなくな
るかあるいは1対1対応のグループが検出されなくなる
まで識別値付与手段、分割手段、ノード一致手段を実行
させることを特徴とするレイアウト検証装置。
1. A layout verification device for verifying a layout by collating a first netlist extracted from a specification such as a circuit diagram with a second netlist extracted from a layout, and a matching node having an attribute of 1 Identification value giving means for giving an identification value as one, and dividing means for calculating a new attribute based on the attribute of the unmatched node adjacent to the unmatched node and the attribute of the matched node and dividing the unmatched node into groups by the attribute And a node matching means for matching a node by detecting a one-to-one correspondence group among the groups divided by the dividing means, wherein the first and second netlists are at least one matching node. Identification value assigning means having initial corresponding nodes until there are no unmatched nodes or no one-to-one correspondence group is detected. A layout verification apparatus, characterized in that the layout verification apparatus executes a dividing unit and a node matching unit.
【請求項2】 前記ノード一致手段において、未一致ノ
ードが存在しかつ1対1対応のグループが検出されなか
ったとき、各グループごとに一致ノードを検出して未一
致ノードとして残されるノード数を最小化するノード照
合手段をさらに有することを特徴とする請求項1に記載
のレイアウト検証装置。
2. The number of nodes left as unmatched nodes by detecting the matched nodes in each group when the unmatched nodes exist and no one-to-one correspondence group is detected in the node matching means. The layout verification apparatus according to claim 1, further comprising a node verification unit that minimizes the node verification unit.
JP09370793A 1993-03-29 1993-03-29 Layout verification device Expired - Fee Related JP3640402B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09370793A JP3640402B2 (en) 1993-03-29 1993-03-29 Layout verification device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP09370793A JP3640402B2 (en) 1993-03-29 1993-03-29 Layout verification device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06282604A true JPH06282604A (en) 1994-10-07
JP3640402B2 JP3640402B2 (en) 2005-04-20

Family

ID=14089888

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP09370793A Expired - Fee Related JP3640402B2 (en) 1993-03-29 1993-03-29 Layout verification device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3640402B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015132870A (en) * 2014-01-09 2015-07-23 富士通株式会社 Layout verification method, verification layout data creation method, layout verification program, and verification layout data generation program

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015132870A (en) * 2014-01-09 2015-07-23 富士通株式会社 Layout verification method, verification layout data creation method, layout verification program, and verification layout data generation program

Also Published As

Publication number Publication date
JP3640402B2 (en) 2005-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Prasad et al. Selection of test nodes for analog fault diagnosis in dictionary approach
JP3201945B2 (en) How to compare database tables
CN104756113A (en) Method, apparatus and computer program for detecting deviations in data sources
JP2953975B2 (en) Test pattern generation device and test pattern generation method
CN111475402A (en) Program function testing method and related device
US6941497B2 (en) N-squared algorithm for optimizing correlated events
US7149675B2 (en) System and method for automatically mapping state elements for equivalence verification
US6334199B1 (en) Method of generating test patterns for a logic circuit, a system performing the method, and a computer readable medium instructing the system to perform the method
CN108829903B (en) Method and system for judging consistency of codes of FPGA redundant design and integrated circuit
JPH06282604A (en) Layout verifying device
US20040093476A1 (en) System for preventing memory usage conflicts when generating and merging computer architecture test cases
Ramachandran An improved switch-level simulator for MOS circuits
JP3042446B2 (en) Electrostatic breakdown verification tool
JPH0618626A (en) Method and apparatus for generating circuit data for simulation
JP3573669B2 (en) Semiconductor memory repair operation method and repair operation processing device
JPS62217172A (en) Matching method for circuit
KR20010047758A (en) Method for generating database of exchange
CN117034853A (en) Method and device for checking RO layout correctness and related products
JP2001338008A (en) Method for verifying logical equivalence and device for executing the same method
JP2797955B2 (en) Expected value collation apparatus and method
Dokouzgiannis et al. Determination of combinational logic circuit reliability through generation of fault diagnosis tests
JP3156544B2 (en) Circuit extraction device
JP2658857B2 (en) Equivalent fault extraction method and device
JPH0634692A (en) Layout pattern verification device
CN115906731A (en) Circuit dividing method, equivalence verification method, and storage medium

Legal Events

Date Code Title Description
A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050118

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees