JPH06281426A - 位相パターン差判別装置 - Google Patents
位相パターン差判別装置Info
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- JPH06281426A JPH06281426A JP6868493A JP6868493A JPH06281426A JP H06281426 A JPH06281426 A JP H06281426A JP 6868493 A JP6868493 A JP 6868493A JP 6868493 A JP6868493 A JP 6868493A JP H06281426 A JPH06281426 A JP H06281426A
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- JP
- Japan
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- light
- phase
- optical
- phase object
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 短時間で簡易かつ正確に２つの１次元位相物
体の位相形状の差を測定することが可能な装置を提供す
る。 【構成】 光源１００から出力された可干渉平行光は、
マッハツェンダ干渉計２００に入力し、光分岐器２１０
により略同一の強度を有する光に２分岐し、夫々の光に
関して一方の光は参照位相物体を、他方の光は被測定位
相物体を経由させた後に光路長が略同一となる位置で光
合波器２４０により双方の光を重ね合わせて出力する。
マッハツェンダ干渉計２００を出力した干渉光は、球面
レンズ４１０によって投影面５１０に結像され、ＣＣＤ
カメラ６００によって撮像されて光像データとして計算
機システム７１０に送られる。計算機システム７１０で
は光像データがデジタル化され、ｙ方向についての１次
元フーリエ変換が施される。
体の位相形状の差を測定することが可能な装置を提供す
る。 【構成】 光源１００から出力された可干渉平行光は、
マッハツェンダ干渉計２００に入力し、光分岐器２１０
により略同一の強度を有する光に２分岐し、夫々の光に
関して一方の光は参照位相物体を、他方の光は被測定位
相物体を経由させた後に光路長が略同一となる位置で光
合波器２４０により双方の光を重ね合わせて出力する。
マッハツェンダ干渉計２００を出力した干渉光は、球面
レンズ４１０によって投影面５１０に結像され、ＣＣＤ
カメラ６００によって撮像されて光像データとして計算
機システム７１０に送られる。計算機システム７１０で
は光像データがデジタル化され、ｙ方向についての１次
元フーリエ変換が施される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、２つの１次元位相物体
の屈折率分布、形状等の位相形状の差を検出し、判別す
る位相パターン差判別装置に関するものである。
の屈折率分布、形状等の位相形状の差を検出し、判別す
る位相パターン差判別装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光技術の進歩にともない、光制御に利用
される様々な位相物体が要求されるともに、設計値の位
相分布に対して精度良く一致する位相物体が強く求めら
れている。従来の位相物体の位相形状を測定する方法と
しては、マッハツェンダ干渉計を基礎とした干渉法やホ
ログラフィー法によって得られる干渉縞の解析により、
物体の位相分布または屈折率分布を特定する手法が広く
知られている。
される様々な位相物体が要求されるともに、設計値の位
相分布に対して精度良く一致する位相物体が強く求めら
れている。従来の位相物体の位相形状を測定する方法と
しては、マッハツェンダ干渉計を基礎とした干渉法やホ
ログラフィー法によって得られる干渉縞の解析により、
物体の位相分布または屈折率分布を特定する手法が広く
知られている。
【０００３】マッハツェンダ干渉計を基礎とした干渉法
は、マッハツェンダ干渉計の内部の２つの光路の一方の
光路中に被測定位相物体を配置して、この被測定位相物
体を透過した光と透過しない光とを重ね合わせ、被測定
位相物体の通過による位相のずれを重ね合わされた光の
干渉縞パターンとして計測する。この干渉縞パターンを
解析して、被測定位相物体の屈折率あるいは形状などの
位相形状を決定する。この方式を使用した装置として、
特開昭６３−１３３１８２に開示されている装置などが
ある。
は、マッハツェンダ干渉計の内部の２つの光路の一方の
光路中に被測定位相物体を配置して、この被測定位相物
体を透過した光と透過しない光とを重ね合わせ、被測定
位相物体の通過による位相のずれを重ね合わされた光の
干渉縞パターンとして計測する。この干渉縞パターンを
解析して、被測定位相物体の屈折率あるいは形状などの
位相形状を決定する。この方式を使用した装置として、
特開昭６３−１３３１８２に開示されている装置などが
ある。
【０００４】ホログラフィ法は、ホログラフィの手法で
マッチトフィルタと呼ばれるフィルタを作成し、このマ
ッチトフィルタを使用して得られた光を参照光とし、被
測定位相物体を介した光と参照光とを重ね合わせて干渉
縞を生成する。この干渉縞パターンを計測・解析して、
被測定位相物体の屈折率あるいは形状などの位相形状と
マッチトフィルタに書き込まれた位相パターンとの差を
決定する。
マッチトフィルタと呼ばれるフィルタを作成し、このマ
ッチトフィルタを使用して得られた光を参照光とし、被
測定位相物体を介した光と参照光とを重ね合わせて干渉
縞を生成する。この干渉縞パターンを計測・解析して、
被測定位相物体の屈折率あるいは形状などの位相形状と
マッチトフィルタに書き込まれた位相パターンとの差を
決定する。
【０００５】また、位相分布およびウィグナー分布関数
の関係とその光学的実現方法として、ローマンらによる
研究が知られ（Brenner and Lohmann, Optics Communic
ations 1982 vol.42 no.5 p310-314）、この自己相関に
ついてのウィグナ分布関数を使用すれば原理的に良好な
精度で被測定位相物体の屈折率あるいは形状などの位相
形状を知ることができる。
の関係とその光学的実現方法として、ローマンらによる
研究が知られ（Brenner and Lohmann, Optics Communic
ations 1982 vol.42 no.5 p310-314）、この自己相関に
ついてのウィグナ分布関数を使用すれば原理的に良好な
精度で被測定位相物体の屈折率あるいは形状などの位相
形状を知ることができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、マッハツェン
ダー干渉計を基礎とした干渉法によって得られた干渉縞
のずれにより物体の屈折率分布、形状などを算出する場
合、干渉縞の縞解析の計算時間が長くなること、算出し
た位相の接続に関する不確定さが残ることなどの問題が
あった。また、ホログラフィ法を用い、一つのマッチト
フィルタによって多数の相互相関を一度に得る場合に
は、マッチトフィルタに多重書き込みする数が限られる
ために多くの位相パターンの一致を得ることは困難であ
るという問題がある。更に、微妙な光学系配置が要求さ
れること、及びホログラフィー法における長時間露光、
化学的現像処理などを要求されるといった短所が存在し
た。
ダー干渉計を基礎とした干渉法によって得られた干渉縞
のずれにより物体の屈折率分布、形状などを算出する場
合、干渉縞の縞解析の計算時間が長くなること、算出し
た位相の接続に関する不確定さが残ることなどの問題が
あった。また、ホログラフィ法を用い、一つのマッチト
フィルタによって多数の相互相関を一度に得る場合に
は、マッチトフィルタに多重書き込みする数が限られる
ために多くの位相パターンの一致を得ることは困難であ
るという問題がある。更に、微妙な光学系配置が要求さ
れること、及びホログラフィー法における長時間露光、
化学的現像処理などを要求されるといった短所が存在し
た。
【０００７】また、自己相関のウィグナー分布関数の光
学的実現方法の問題点は、従来の方法がウィグナー分布
関数を出力するにとどまり、形状や屈折率分布を出力す
るまでに至っていない点である。また、像の重ね合わせ
像の検出に写真処理を利用しているため、屈折率分布や
形状等の位相形状を得るに当たって長時間を要する、と
いう問題点があった。
学的実現方法の問題点は、従来の方法がウィグナー分布
関数を出力するにとどまり、形状や屈折率分布を出力す
るまでに至っていない点である。また、像の重ね合わせ
像の検出に写真処理を利用しているため、屈折率分布や
形状等の位相形状を得るに当たって長時間を要する、と
いう問題点があった。
【０００８】また、上記のマッハツェンダ干渉計を基礎
とした干渉法および自己相関のウィグナ分布関数の光学
的実現方法は、被測定位相物体の位相形状の絶対値を測
定するものであり、位相物体の生産の１工程である品質
検査工程で一般的に行われる良品との一致度を見る場合
に必要となる相対的な位相差を検出を行うことができな
い、という問題点があった。
とした干渉法および自己相関のウィグナ分布関数の光学
的実現方法は、被測定位相物体の位相形状の絶対値を測
定するものであり、位相物体の生産の１工程である品質
検査工程で一般的に行われる良品との一致度を見る場合
に必要となる相対的な位相差を検出を行うことができな
い、という問題点があった。
【０００９】そこで、本発明は、短時間で簡易かつ正確
に２つの１次元位相物体の位相形状の差を測定すること
が可能な装置を提供することを目的とする。
に２つの１次元位相物体の位相形状の差を測定すること
が可能な装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明に係る位相パター
ン差判別装置は、参照位相物体を用意し、この参照位相
物体の位相パターンと被測定位相物体の位相パターンと
の相互ウィグナ相関を演算して得られた結果から、双方
の位相パターンの一致度を測定・判定する、ことを特徴
とする。
ン差判別装置は、参照位相物体を用意し、この参照位相
物体の位相パターンと被測定位相物体の位相パターンと
の相互ウィグナ相関を演算して得られた結果から、双方
の位相パターンの一致度を測定・判定する、ことを特徴
とする。
【００１１】すなわち、本発明の位相パターン差判別装
置は、（ａ）可干渉平行光を発生する光源と、（ｂ）光
源の出力光を強度が略同一な２つの光に分岐する光分岐
器と、（ｃ）分岐器が分岐した第１の光路中に設置され
る参照位相物体を、参照位相物体の位相変化方向を前記
第１の光路に対して所定の角度傾けるとともに、参照位
相物体の位相変化方向を第１の光路と垂直な特定方向に
対して所定の回転方向へ略２６．６゜傾けて支持する第
１の固定器と、（ｄ）分岐器が分岐した第２の光路中に
設置される被測定位相物体を、被測定位相物体の位相変
化方向を第２の光路に対して所定の角度傾けるととも
に、被測定位相物体の位相変化方向を特定方向に対応す
る方向に対して前記所定の回転方向の逆方向へ略２６．
６゜傾けて支持する第２の固定器と、（ｅ）参照位相物
体を介した光と被測定位相物体を介した光とを、夫々の
光の光路長が同一な位置で重ね合わせる光合波器と、
（ｆ）合波器から出力された合波光を結像させる結像器
と、（ｇ）結像器により結像した光像を撮像し電気的な
光像データを出力する撮像装置と、（ｈ）撮像装置が撮
像した光像データを入力し、この光像データに前記特定
方向に対応する光像における方向に垂直な方向に関する
１次元フーリエ変換を施して、フーリエ変換後のデータ
を基にして前記参照位相物体の位相と前記被測定位相物
体の位相との差を判定するデータ処理装置と、を備える
ことを特徴とする。
置は、（ａ）可干渉平行光を発生する光源と、（ｂ）光
源の出力光を強度が略同一な２つの光に分岐する光分岐
器と、（ｃ）分岐器が分岐した第１の光路中に設置され
る参照位相物体を、参照位相物体の位相変化方向を前記
第１の光路に対して所定の角度傾けるとともに、参照位
相物体の位相変化方向を第１の光路と垂直な特定方向に
対して所定の回転方向へ略２６．６゜傾けて支持する第
１の固定器と、（ｄ）分岐器が分岐した第２の光路中に
設置される被測定位相物体を、被測定位相物体の位相変
化方向を第２の光路に対して所定の角度傾けるととも
に、被測定位相物体の位相変化方向を特定方向に対応す
る方向に対して前記所定の回転方向の逆方向へ略２６．
６゜傾けて支持する第２の固定器と、（ｅ）参照位相物
体を介した光と被測定位相物体を介した光とを、夫々の
光の光路長が同一な位置で重ね合わせる光合波器と、
（ｆ）合波器から出力された合波光を結像させる結像器
と、（ｇ）結像器により結像した光像を撮像し電気的な
光像データを出力する撮像装置と、（ｈ）撮像装置が撮
像した光像データを入力し、この光像データに前記特定
方向に対応する光像における方向に垂直な方向に関する
１次元フーリエ変換を施して、フーリエ変換後のデータ
を基にして前記参照位相物体の位相と前記被測定位相物
体の位相との差を判定するデータ処理装置と、を備える
ことを特徴とする。
【００１２】また、本発明の他の位相パターン差判別装
置は、上記の本発明の位相パターン差判別装置における
フーリエ変換を光学的に実施することにしたものであ
り、（ａ）可干渉平行光を発生する光源と、（ｂ）光源
の出力光を強度が略同一な２つの光に分岐する光分岐器
と、（ｃ）分岐器が分岐した第１の光路中に設置される
参照位相物体を、参照位相物体の位相変化方向を前記第
１の光路に対して所定の角度傾けるとともに、参照位相
物体の位相変化方向を第１の光路と垂直な特定方向に対
して所定の回転方向へ略２６．６゜傾けて支持する第１
の固定器と、（ｄ）分岐器が分岐した第２の光路中に設
置される被測定位相物体を、被測定位相物体の位相変化
方向を第２の光路に対して所定の角度傾けるとともに、
被測定位相物体の位相変化方向を特定方向に対応する方
向に対して前記所定の回転方向の逆方向へ略２６．６゜
傾けて支持する第２の固定器と、（ｅ）参照位相物体を
介した光と被測定位相物体を介した光とを、夫々の光の
光路長が同一な位置で重ね合わせる光合波器と、（ｆ）
合波器から出力された合波光パターンを結像させる第１
の結像器と、（ｇ）第１の結像器によって結像された光
像を記録するとともに、記録された光像を読み出し可能
な光像記録器と、（ｈ）光像記録器から読み出した光像
に、特定方向に対応する光像記録器から読み出された光
像における方向に垂直な方向に関する１次元フーリエ変
換を光学的に施す１次元フーリエ変換器と、（ｉ）フー
リエ変換された光像を撮像し電気的な光像データを出力
する撮像装置と、（ｊ）撮像装置が撮像した光像データ
を入力し、この光像データを基にして参照位相物体の位
相と被測定位相物体の位相との差を算出するデータ処理
装置と、を備えることを特徴とする。
置は、上記の本発明の位相パターン差判別装置における
フーリエ変換を光学的に実施することにしたものであ
り、（ａ）可干渉平行光を発生する光源と、（ｂ）光源
の出力光を強度が略同一な２つの光に分岐する光分岐器
と、（ｃ）分岐器が分岐した第１の光路中に設置される
参照位相物体を、参照位相物体の位相変化方向を前記第
１の光路に対して所定の角度傾けるとともに、参照位相
物体の位相変化方向を第１の光路と垂直な特定方向に対
して所定の回転方向へ略２６．６゜傾けて支持する第１
の固定器と、（ｄ）分岐器が分岐した第２の光路中に設
置される被測定位相物体を、被測定位相物体の位相変化
方向を第２の光路に対して所定の角度傾けるとともに、
被測定位相物体の位相変化方向を特定方向に対応する方
向に対して前記所定の回転方向の逆方向へ略２６．６゜
傾けて支持する第２の固定器と、（ｅ）参照位相物体を
介した光と被測定位相物体を介した光とを、夫々の光の
光路長が同一な位置で重ね合わせる光合波器と、（ｆ）
合波器から出力された合波光パターンを結像させる第１
の結像器と、（ｇ）第１の結像器によって結像された光
像を記録するとともに、記録された光像を読み出し可能
な光像記録器と、（ｈ）光像記録器から読み出した光像
に、特定方向に対応する光像記録器から読み出された光
像における方向に垂直な方向に関する１次元フーリエ変
換を光学的に施す１次元フーリエ変換器と、（ｉ）フー
リエ変換された光像を撮像し電気的な光像データを出力
する撮像装置と、（ｊ）撮像装置が撮像した光像データ
を入力し、この光像データを基にして参照位相物体の位
相と被測定位相物体の位相との差を算出するデータ処理
装置と、を備えることを特徴とする。
【００１３】ここで、光像記録器は空間光変調器で構成
され、この空間光変調器の記録面への読み出し光の照射
により、空間光変調器からの光像が読み出される、こと
を特徴としてもよい。なお、この光空間変調器は、光空
間変調素子として液晶ライトバルブを備える、ことを特
徴としてもよい。また、双方の位相パターン差判別装置
において、光分岐器および光合波器は、他の２つの反射
鏡と組み合わされて、マッハツェンダ干渉計を構成す
る、ことを特徴としてもよい。
され、この空間光変調器の記録面への読み出し光の照射
により、空間光変調器からの光像が読み出される、こと
を特徴としてもよい。なお、この光空間変調器は、光空
間変調素子として液晶ライトバルブを備える、ことを特
徴としてもよい。また、双方の位相パターン差判別装置
において、光分岐器および光合波器は、他の２つの反射
鏡と組み合わされて、マッハツェンダ干渉計を構成す
る、ことを特徴としてもよい。
【００１４】
【作用】本発明の位相パターン差判別装置では、光源か
ら出力された可干渉平行光が光分岐器によって光強度が
略同一な２つの光に分岐される。分岐された一方の光
は、参照位相物体を透過する。また、分岐された他方の
光は被測定位相物体を透過する。ここで、参照位相物体
と被測定位相物体とは、夫々を透過した光のウィグナ相
関を得るために、位相変化方向が光の入射方向に対して
所定の角度傾き、且つ、位相変化方向が特定方向に対し
て２６．６゜づつ互いに逆に傾けられて固定されてい
る。上記の夫々の位相物体を透過した光は、夫々の光に
ついて略同一の光路長の位置で光合波器によって重ね合
わされて、同一方向へ出力される。
ら出力された可干渉平行光が光分岐器によって光強度が
略同一な２つの光に分岐される。分岐された一方の光
は、参照位相物体を透過する。また、分岐された他方の
光は被測定位相物体を透過する。ここで、参照位相物体
と被測定位相物体とは、夫々を透過した光のウィグナ相
関を得るために、位相変化方向が光の入射方向に対して
所定の角度傾き、且つ、位相変化方向が特定方向に対し
て２６．６゜づつ互いに逆に傾けられて固定されてい
る。上記の夫々の位相物体を透過した光は、夫々の光に
ついて略同一の光路長の位置で光合波器によって重ね合
わされて、同一方向へ出力される。
【００１５】この重ね合わされた光のパターンは結像器
によって結像され、撮像装置によって撮像されて電気的
な光像データとしてデータ処理装置へ通知される。デー
タ処理装置は、通知された光像データに対して光像デー
タにおける上記の特定方向に対応する方向に垂直な方向
に関してフーリエ変換を施し、相互ウィグナ分布関数を
得る。この相互ウィグナ分布関数をデータ処理装置の表
示装置に表示して測定者に報告する。あるいは、更に相
互ウィグナ分布関数を解析して双方の物体の一致度を算
出して測定者に報告する。
によって結像され、撮像装置によって撮像されて電気的
な光像データとしてデータ処理装置へ通知される。デー
タ処理装置は、通知された光像データに対して光像デー
タにおける上記の特定方向に対応する方向に垂直な方向
に関してフーリエ変換を施し、相互ウィグナ分布関数を
得る。この相互ウィグナ分布関数をデータ処理装置の表
示装置に表示して測定者に報告する。あるいは、更に相
互ウィグナ分布関数を解析して双方の物体の一致度を算
出して測定者に報告する。
【００１６】また、本発明の他の位相パターン差判別装
置では、光源から出力された可干渉平行光が光分岐器に
よって光強度が略同一な２つの光に分岐される。分岐さ
れた一方の光は、参照位相物体を透過する。また、分岐
された他方の光は被測定位相物体を透過する。ここで、
参照位相物体と被測定位相物体とは、夫々を透過した光
のウィグナ相関を得るために、位相変化方向が光の入射
方向に対して所定の角度傾き、且つ、位相変化方向が特
定方向に対して２６．６゜づつ互いに逆に傾けられて固
定されている。上記の夫々の位相物体を透過した光は、
夫々の光について略同一の光路長の位置で光合波器によ
って重ね合わされて、同一方向へ出力される。この重ね
合わされた光のパターンは第１の結像器によって結像さ
れ、記録した光像を読み出し可能な光像記録器に記録さ
れる。
置では、光源から出力された可干渉平行光が光分岐器に
よって光強度が略同一な２つの光に分岐される。分岐さ
れた一方の光は、参照位相物体を透過する。また、分岐
された他方の光は被測定位相物体を透過する。ここで、
参照位相物体と被測定位相物体とは、夫々を透過した光
のウィグナ相関を得るために、位相変化方向が光の入射
方向に対して所定の角度傾き、且つ、位相変化方向が特
定方向に対して２６．６゜づつ互いに逆に傾けられて固
定されている。上記の夫々の位相物体を透過した光は、
夫々の光について略同一の光路長の位置で光合波器によ
って重ね合わされて、同一方向へ出力される。この重ね
合わされた光のパターンは第１の結像器によって結像さ
れ、記録した光像を読み出し可能な光像記録器に記録さ
れる。
【００１７】光像記録器に記録された光像は、この光像
における上記の特定方向に対応する方向に垂直な方向に
関する１次元フーリエ変換が円筒レンズによって光学的
に施された後、第２の結像器によって相互ウィグナ分布
関数の光像が結像され、撮像装置によって撮像されて電
気的な光像データとしてデータ処理装置へ通知される。
この相互ウィグナ分布関数をデータ処理装置の表示装置
に表示して測定者に報告する。あるいは、更に相互ウィ
グナ分布関数を解析して双方の物体の一致度を算出して
測定者に報告する。
における上記の特定方向に対応する方向に垂直な方向に
関する１次元フーリエ変換が円筒レンズによって光学的
に施された後、第２の結像器によって相互ウィグナ分布
関数の光像が結像され、撮像装置によって撮像されて電
気的な光像データとしてデータ処理装置へ通知される。
この相互ウィグナ分布関数をデータ処理装置の表示装置
に表示して測定者に報告する。あるいは、更に相互ウィ
グナ分布関数を解析して双方の物体の一致度を算出して
測定者に報告する。
【００１８】
【実施例】実施例の説明に先立って、本発明の位相パタ
ーン差判別装置で採用する相互ウィグナ分布関数と位相
パターン差とを求める原理について簡単に説明する。な
お、以下で表記するｘｙｚ座標系は直交座標系であり、
夫々の物体あるいは光像ごとに定義されるが、同一の表
記を用いる。
ーン差判別装置で採用する相互ウィグナ分布関数と位相
パターン差とを求める原理について簡単に説明する。な
お、以下で表記するｘｙｚ座標系は直交座標系であり、
夫々の物体あるいは光像ごとに定義されるが、同一の表
記を用いる。
【００１９】１次元物体ｆ（ｘ）と１次元物体ｇ（ｘ）
との相互ウィグナー分布関数は、
との相互ウィグナー分布関数は、
【数１】 で定義される。ここで、Ｋ（ｘ，ｙ）は、 Ｋ（ｘ，ｙ）＝ｆ（ｘ＋ｙ／２）ｇ* （ｘ−ｙ／２）…（２） で与えられる。
【００２０】この（２）式におけるｆ（ｘ＋ｙ／２）お
よびｇ（ｘ−ｙ／２）という位相分布を、１次元物体ｆ
（ｘ）および１次元物体ｇ（ｘ）の基にし、且つ位相形
状を変化させずに現出されるには、夫々の物体にｘｙ平
面内での適当な回転を施せばよい。この適当な回転に関
する夫々の物体の回転角は、次のように決定される。
よびｇ（ｘ−ｙ／２）という位相分布を、１次元物体ｆ
（ｘ）および１次元物体ｇ（ｘ）の基にし、且つ位相形
状を変化させずに現出されるには、夫々の物体にｘｙ平
面内での適当な回転を施せばよい。この適当な回転に関
する夫々の物体の回転角は、次のように決定される。
【００２１】１次元物体ｆ（ｘ）に関する回転角を
χ1 、１次元物体ｇ（ｘ）に関する回転角をχ2 とすれ
ば、以下のように変換される。 ｆ（ｘ）→ｆ（ａｘｃｏｓχ1 ＋ａｙｓｉｎχ1 ） ｇ（ｘ）→ｇ（ａｘｃｏｓχ2 ＋ａｙｓｉｎχ2 ） したがって、これらの変換の結果をｆ（ｘ＋ｙ／２）お
よびｇ（ｘ−ｙ／２）と位相形状変化を等価とするに
は、 χ1 ＝２６．６゜ χ2 ＝−２６．６゜ とすればよい。
χ1 、１次元物体ｇ（ｘ）に関する回転角をχ2 とすれ
ば、以下のように変換される。 ｆ（ｘ）→ｆ（ａｘｃｏｓχ1 ＋ａｙｓｉｎχ1 ） ｇ（ｘ）→ｇ（ａｘｃｏｓχ2 ＋ａｙｓｉｎχ2 ） したがって、これらの変換の結果をｆ（ｘ＋ｙ／２）お
よびｇ（ｘ−ｙ／２）と位相形状変化を等価とするに
は、 χ1 ＝２６．６゜ χ2 ＝−２６．６゜ とすればよい。
【００２２】以上のように夫々の物体を設置し、光路が
ｙｚ面内でｚ軸に対して所定の角度（θ）だけ傾けて、
同一位相かつ同一波長（λ）の光を物体に照射する。双
方の物体が存在しない場合には光路長が同一となる位置
で、夫々の物体を透過した光を重ね合わせると、この重
ね合わされた光（ｈ（ｘ，ｙ））は次の式で表される。 ｈ（ｘ，ｙ）＝ｆ（ｘ＋ｙ／２）ｅｘｐ（ｊ２παｙ） ＋ｇ（ｘ−ｙ／２）・ｅｘｐ（−ｊ２παｙ）…（３） ここで、α＝ｓｉｎθ／λ
ｙｚ面内でｚ軸に対して所定の角度（θ）だけ傾けて、
同一位相かつ同一波長（λ）の光を物体に照射する。双
方の物体が存在しない場合には光路長が同一となる位置
で、夫々の物体を透過した光を重ね合わせると、この重
ね合わされた光（ｈ（ｘ，ｙ））は次の式で表される。 ｈ（ｘ，ｙ）＝ｆ（ｘ＋ｙ／２）ｅｘｐ（ｊ２παｙ） ＋ｇ（ｘ−ｙ／２）・ｅｘｐ（−ｊ２παｙ）…（３） ここで、α＝ｓｉｎθ／λ
【００２３】この（３）式の光を像は、強度分布（Ｉ
（ｘ，ｙ））を反映するので次の式で表される。 Ｉ（ｘ，ｙ）＝｜ｈ（ｘ，ｙ）｜2 ＝｜ｆ（ｘ＋ｙ／２）｜2 ＋｜ｇ（ｘ−ｙ／２）｜2 ＋ｆ（ｘ＋ｙ／２）ｇ* （ｘ−ｙ／２) ｅｘｐ（ｊ４παｙ） ＋ｆ* （ｘ＋ｙ／２）ｇ（ｘ−ｙ／２) ｅｘｐ（−ｊ４παｙ）…（４） 上記の（４）式の第３項をｙ方向に関し、１次元のフー
リエ変換を施す。このフーリエ変換後の回折像は以下の
通りとなり、空間周波数軸に関して２αだけ正の方向へ
シフトした相互ウィグナ分布関数となる。
（ｘ，ｙ））を反映するので次の式で表される。 Ｉ（ｘ，ｙ）＝｜ｈ（ｘ，ｙ）｜2 ＝｜ｆ（ｘ＋ｙ／２）｜2 ＋｜ｇ（ｘ−ｙ／２）｜2 ＋ｆ（ｘ＋ｙ／２）ｇ* （ｘ−ｙ／２) ｅｘｐ（ｊ４παｙ） ＋ｆ* （ｘ＋ｙ／２）ｇ（ｘ−ｙ／２) ｅｘｐ（−ｊ４παｙ）…（４） 上記の（４）式の第３項をｙ方向に関し、１次元のフー
リエ変換を施す。このフーリエ変換後の回折像は以下の
通りとなり、空間周波数軸に関して２αだけ正の方向へ
シフトした相互ウィグナ分布関数となる。
【数２】 また、（４）式の第４項をｙ方向に関し、１次元のフー
リエ変換を施す。このフーリエ変換後の回折像は以下の
通りとなり、ｆ（ｘ）＝ｇ（ｘ）の場合には空間周波数
軸に関して２αだけ負の方向へシフトした相互ウィグナ
分布関数となる。
リエ変換を施す。このフーリエ変換後の回折像は以下の
通りとなり、ｆ（ｘ）＝ｇ（ｘ）の場合には空間周波数
軸に関して２αだけ負の方向へシフトした相互ウィグナ
分布関数となる。
【数３】
【００２４】ところで、１次元物体ｆ（ｘ）と１次元物
体ｇ（ｘ）とが同一であると、自己相関のウィグナー分
布関数（以後、自己ウィグナー分布関数と呼ぶ）の定義
により、 Ｗ（ｘ，ｓ）＝Ｗ* （ｘ，ｓ）…（７） が成り立ち、任意の複素物体関数の自己ウィグナー分布
関数は実関数になる。
体ｇ（ｘ）とが同一であると、自己相関のウィグナー分
布関数（以後、自己ウィグナー分布関数と呼ぶ）の定義
により、 Ｗ（ｘ，ｓ）＝Ｗ* （ｘ，ｓ）…（７） が成り立ち、任意の複素物体関数の自己ウィグナー分布
関数は実関数になる。
【００２５】例えば、任意の位相物体関数である ｆ（ｘ）＝ｅｘｐ〔ｊφ（ｘ）〕…（８） の自己ウィグナー分布関数を求める。位相φ（ｘ）の変
化がなめらかであり、式（２）のｙの変化範囲が十分に
小さいと仮定してｙに関してテイラ展開し、ｙの３次微
分以上の高次項を無視すると、（７）式のウィグナー分
布関数は、次式で与えられる。 Ｗ（ｘ，ｓ）＝δ〔ｓ−（１／２π）×（ｄφ（ｘ）／ｄｘ）〕…（９） すなわち、位相物体の自己ウィグナー分布関数は、位相
の変化率分布を表し、ｘ−ｓ平面では曲線（直線を含
む、以下同様）を表す。
化がなめらかであり、式（２）のｙの変化範囲が十分に
小さいと仮定してｙに関してテイラ展開し、ｙの３次微
分以上の高次項を無視すると、（７）式のウィグナー分
布関数は、次式で与えられる。 Ｗ（ｘ，ｓ）＝δ〔ｓ−（１／２π）×（ｄφ（ｘ）／ｄｘ）〕…（９） すなわち、位相物体の自己ウィグナー分布関数は、位相
の変化率分布を表し、ｘ−ｓ平面では曲線（直線を含
む、以下同様）を表す。
【００２６】ｆ（ｘ）とｇ（ｘ）とが同一であり、
（８）式の位相関数に関するなめらかな変化の仮定が成
り立てば、（４）式のｙに関するフーリエ変換は、次の
通りとなる。
（８）式の位相関数に関するなめらかな変化の仮定が成
り立てば、（４）式のｙに関するフーリエ変換は、次の
通りとなる。
【００２７】
【数４】 すなわち、高輝度の１本のｘ軸と一致する細い直線と２
本の細い曲線とがｘ−ｓ平面上で得られる。
本の細い曲線とがｘ−ｓ平面上で得られる。
【００２８】ここで、ｆ（ｘ）とｇ（ｘ）との一致度が
低くなるにつれ、２本の曲線の幅が太くなる。したがっ
て、（１０）式のｘ−ｓ平面上の像を得て、（１０）式
の第３項または第４項の曲線形状と、第３項および第４
項の曲線の関係と、を解析すれば、２つの位相物体の位
相の同一性を判定できる。
低くなるにつれ、２本の曲線の幅が太くなる。したがっ
て、（１０）式のｘ−ｓ平面上の像を得て、（１０）式
の第３項または第４項の曲線形状と、第３項および第４
項の曲線の関係と、を解析すれば、２つの位相物体の位
相の同一性を判定できる。
【００２９】以下、添付図面を参照して本発明の実施例
を説明する。なお、図面の説明において同一の要素には
同一の符号を付し、重複する説明を省略する。また、以
下の説明においては、上記のｘｙｚ座標の表記方式を同
様に使用する。 （第１実施例）図１に本発明に係る第１実施例の位相パ
ターン差判別装置の構成図を示す。この装置は、可干渉
平行光を出力する光源１００と、光源１００から出力さ
れた光を入力するマッハツェンダ干渉計２００と、マッ
ハツェンダ干渉計２００内の一方の光路中に参照位相物
体（図示せず）を、参照位相物体の位相変化方向をこの
一方の光路に対して所定の角度（θ）傾けるとともに、
参照位相物体の位相変化方向を一方の光路と垂直な特定
方向（ｘ軸方向）に対して所定の回転方向へ略２６．６
゜傾けて支持する固定器３１０と、マッハツェンダ干渉
計２００内の他方の光路中に被測定位相物体（図示せ
ず）を、被測定参照位相物体の位相変化方向をこの一方
の光路に対して所定の角度（θ）傾けるとともに、被測
定位相物体の位相変化方向を他方の光路と垂直な上記の
特定方向（ｘ軸方向）に対応する方向に対して上記の所
定の回転方向の逆方向へ略２６．６゜傾けて支持する固
定器３２０と、マッハツェンダ干渉計２００から出力光
を結像する球面レンズ４１０と、結像された光像を投影
する投影面５１０と、投影面５１０に投影された光像を
撮像するＣＣＤカメラ６００と、ＣＣＤカメラ６００で
撮像した光像データを入力後デジタルデータ化して、こ
のデジタル光像データに１次元フーリエ変換を施し、結
果を表示する計算機システム７１０と、から構成され
る。
を説明する。なお、図面の説明において同一の要素には
同一の符号を付し、重複する説明を省略する。また、以
下の説明においては、上記のｘｙｚ座標の表記方式を同
様に使用する。 （第１実施例）図１に本発明に係る第１実施例の位相パ
ターン差判別装置の構成図を示す。この装置は、可干渉
平行光を出力する光源１００と、光源１００から出力さ
れた光を入力するマッハツェンダ干渉計２００と、マッ
ハツェンダ干渉計２００内の一方の光路中に参照位相物
体（図示せず）を、参照位相物体の位相変化方向をこの
一方の光路に対して所定の角度（θ）傾けるとともに、
参照位相物体の位相変化方向を一方の光路と垂直な特定
方向（ｘ軸方向）に対して所定の回転方向へ略２６．６
゜傾けて支持する固定器３１０と、マッハツェンダ干渉
計２００内の他方の光路中に被測定位相物体（図示せ
ず）を、被測定参照位相物体の位相変化方向をこの一方
の光路に対して所定の角度（θ）傾けるとともに、被測
定位相物体の位相変化方向を他方の光路と垂直な上記の
特定方向（ｘ軸方向）に対応する方向に対して上記の所
定の回転方向の逆方向へ略２６．６゜傾けて支持する固
定器３２０と、マッハツェンダ干渉計２００から出力光
を結像する球面レンズ４１０と、結像された光像を投影
する投影面５１０と、投影面５１０に投影された光像を
撮像するＣＣＤカメラ６００と、ＣＣＤカメラ６００で
撮像した光像データを入力後デジタルデータ化して、こ
のデジタル光像データに１次元フーリエ変換を施し、結
果を表示する計算機システム７１０と、から構成され
る。
【００３０】ここで、光源１００は、Ｈｅ−Ｎｅレーザ
発信器１１０と、レーザ発信器１１０から出力された光
をコリメートする球面レンズ１２１および球面レンズ１
２２と、から構成される。
発信器１１０と、レーザ発信器１１０から出力された光
をコリメートする球面レンズ１２１および球面レンズ１
２２と、から構成される。
【００３１】また、マッハツェンダ干渉計２００は、光
源１００の出力する可干渉平行光を略同一の強度を有す
る光に２分岐する分岐器２１０と、分岐器２１０の分岐
した一方の光を反射する反射鏡２２０と、分岐器２１０
の分岐した他方の光を反射する反射鏡２３０と、反射鏡
２２０と反射鏡２３０とが反射した光を重ね合わせる合
波器と、から構成される。
源１００の出力する可干渉平行光を略同一の強度を有す
る光に２分岐する分岐器２１０と、分岐器２１０の分岐
した一方の光を反射する反射鏡２２０と、分岐器２１０
の分岐した他方の光を反射する反射鏡２３０と、反射鏡
２２０と反射鏡２３０とが反射した光を重ね合わせる合
波器と、から構成される。
【００３２】以下、参照位相物体ｆ（ｘ）および被測定
位相物体がｇ（ｘ）が次の条件を満たす円筒レンズであ
り、この円筒レンズの中心付近の位相形状の差の測定を
例として、本実施例の装置の動作を説明する。 ｆ（ｘ）＝ｅｘｐ（ｊｋｘ2 ／２ｆ0 ）…（１１） ｇ（ｘ）＝ｅｘｐ（ｊｋｘ2 ／２ｆ1 ）…（１２） ここで、ｋ：光の波数 ｆ0 ：参照円筒レンズの焦点距離 ｆ1 ：被測定円筒レンズの焦点距離
位相物体がｇ（ｘ）が次の条件を満たす円筒レンズであ
り、この円筒レンズの中心付近の位相形状の差の測定を
例として、本実施例の装置の動作を説明する。 ｆ（ｘ）＝ｅｘｐ（ｊｋｘ2 ／２ｆ0 ）…（１１） ｇ（ｘ）＝ｅｘｐ（ｊｋｘ2 ／２ｆ1 ）…（１２） ここで、ｋ：光の波数 ｆ0 ：参照円筒レンズの焦点距離 ｆ1 ：被測定円筒レンズの焦点距離
【００３３】光源１００から出力された可干渉平行光
は、マッハツェンダ干渉計２００に入力する。マッハツ
ェンダ干渉計２００は、入力した光を光分岐器２１０に
より略同一の強度を有する光に２分岐し、夫々の光に異
なる経路を経由させた後に光路長が略同一となる位置で
光合波器２４０により双方の光を重ね合わせて出力す
る。この重ね合わせに先立って、一方の光は固定器３１
０で支持された参照位相物体を、他方の光は固定器３２
０で支持された被測定位相物体を経由する。
は、マッハツェンダ干渉計２００に入力する。マッハツ
ェンダ干渉計２００は、入力した光を光分岐器２１０に
より略同一の強度を有する光に２分岐し、夫々の光に異
なる経路を経由させた後に光路長が略同一となる位置で
光合波器２４０により双方の光を重ね合わせて出力す
る。この重ね合わせに先立って、一方の光は固定器３１
０で支持された参照位相物体を、他方の光は固定器３２
０で支持された被測定位相物体を経由する。
【００３４】マッハツェンダ干渉計２００を出力した干
渉光は、球面レンズ４１０によって投影面５１０に結像
される。図２は、投影面５１０に結像された光像の実験
例である。図２（ａ）はｆ0 ＝ｆ1 ＝２００ｍｍの場合
の光像、図２（ｂ）はｆ0 ＝２００ｍｍ、ｆ1 ＝１００
ｍｍの場合の光像、および図２（ｂ）はｆ0 ＝２００ｍ
ｍ、ｆ1 ＝５０ｍｍの場合の光像である。これらの光像
は、シミュレーション結果と良い一致を示す。
渉光は、球面レンズ４１０によって投影面５１０に結像
される。図２は、投影面５１０に結像された光像の実験
例である。図２（ａ）はｆ0 ＝ｆ1 ＝２００ｍｍの場合
の光像、図２（ｂ）はｆ0 ＝２００ｍｍ、ｆ1 ＝１００
ｍｍの場合の光像、および図２（ｂ）はｆ0 ＝２００ｍ
ｍ、ｆ1 ＝５０ｍｍの場合の光像である。これらの光像
は、シミュレーション結果と良い一致を示す。
【００３５】投影面５１０に投影された光像は、ＣＣＤ
カメラ６００によって撮像され、光像データとして計算
機システム７１０に送られる。計算機システム７１０で
は光像データがデジタル化され、このデジタル光像デー
タに関してｙ方向についての１次元フーリエ変換を行
う。図３（ａ）〜図３（ｃ）は、図２（ａ）〜図２
（ｃ）の光像に関するｙ方向についての１次元フーリエ
変換の結果である。
カメラ６００によって撮像され、光像データとして計算
機システム７１０に送られる。計算機システム７１０で
は光像データがデジタル化され、このデジタル光像デー
タに関してｙ方向についての１次元フーリエ変換を行
う。図３（ａ）〜図３（ｃ）は、図２（ａ）〜図２
（ｃ）の光像に関するｙ方向についての１次元フーリエ
変換の結果である。
【００３６】位相が同一である場合（ｆ（ｘ）＝ｇ
（ｘ））に理論的に期待される１次元フーリエ変換の結
果（Ｊ（ｘ，ｓ））は、（１０）式と（１１）式とによ
り次の通りとなる。 Ｊ（ｘ，ｓ）＝２δ（ｓ）＋δ（（ｓ−２α）−ｘ／λｆ） ＋δ（（ｓ＋２α）＋ｘ／λｆ）…（１３） この（１３）式は、第２項および第３項が絶対値が同一
で符号の異なる傾きを有する細い２直線を示し、位相が
同一である場合の図３（ａ）と一致している。また、図
３（ｂ）、図３（ｃ）と位相の一致度が低くなるほど上
記の２直線の幅が太くなるとともに強度密度が低下して
いる。本実施例の装置では、こうしたフーリエ変換結果
を表示して測定者に報告を行っている。測定者は、表示
画像を見て、位相パターン差を判定する。なお、計算機
システム７１０で上記の２直線の幅を解析して、位相パ
ターン差を判定してもよい。
（ｘ））に理論的に期待される１次元フーリエ変換の結
果（Ｊ（ｘ，ｓ））は、（１０）式と（１１）式とによ
り次の通りとなる。 Ｊ（ｘ，ｓ）＝２δ（ｓ）＋δ（（ｓ−２α）−ｘ／λｆ） ＋δ（（ｓ＋２α）＋ｘ／λｆ）…（１３） この（１３）式は、第２項および第３項が絶対値が同一
で符号の異なる傾きを有する細い２直線を示し、位相が
同一である場合の図３（ａ）と一致している。また、図
３（ｂ）、図３（ｃ）と位相の一致度が低くなるほど上
記の２直線の幅が太くなるとともに強度密度が低下して
いる。本実施例の装置では、こうしたフーリエ変換結果
を表示して測定者に報告を行っている。測定者は、表示
画像を見て、位相パターン差を判定する。なお、計算機
システム７１０で上記の２直線の幅を解析して、位相パ
ターン差を判定してもよい。
【００３７】（第２実施例）図４は、本発明に係る第２
実施例の位相パターン差判別装置の構成図である。この
装置では、第１実施例の装置において計算機システムの
演算機能を使用して実施したフーリエ変換を光学的に実
施するので、第１実施例の装置よりも高速に位相パター
ン差の測定が可能である。本実施例の装置は、可干渉平
行光を出力する光源１００と、光源１００から出力され
た光を入力するマッハツェンダ干渉計２００と、マッハ
ツェンダ干渉計２００内の一方の光路中に参照位相物体
（図示せず）を、参照位相物体の位相変化方向をこの一
方の光路に対して所定の角度（θ）傾けるとともに、参
照位相物体の位相変化方向を一方の光路と垂直な特定方
向（ｘ軸方向）に対して所定の回転方向へ略２６．６゜
傾けて支持する固定器３１０と、マッハツェンダ干渉計
２００内の他方の光路中に被測定位相物体（図示せず）
を、被測定参照位相物体の位相変化方向をこの一方の光
路に対して所定の角度（θ）傾けるとともに、被測定位
相物体の位相変化方向を他方の光路と垂直な上記の特定
方向に対応する方向（ｘ軸方向）に対して上記の所定の
回転方向の逆方向へ略２６．６゜傾けて支持する固定器
３２０と、マッハツェンダ干渉計２００から出力光を結
像する球面レンズ４１０と、結像された光像を記録する
とともに、記録した構造を読み出し可能な光像記録器８
００と、光像記録器８００から読み出した光像にｙ方向
の１次元フーリエ変換を施す光学的フーリエ変換器９０
０と、フーリエ変換後の光像を投影する投影面５２０
と、投影面５２０に投影された光像を撮像するＣＣＤカ
メラ６００と、ＣＣＤカメラ６００で撮像した光像デー
タを表示する計算機システム７２０と、から構成され
る。
実施例の位相パターン差判別装置の構成図である。この
装置では、第１実施例の装置において計算機システムの
演算機能を使用して実施したフーリエ変換を光学的に実
施するので、第１実施例の装置よりも高速に位相パター
ン差の測定が可能である。本実施例の装置は、可干渉平
行光を出力する光源１００と、光源１００から出力され
た光を入力するマッハツェンダ干渉計２００と、マッハ
ツェンダ干渉計２００内の一方の光路中に参照位相物体
（図示せず）を、参照位相物体の位相変化方向をこの一
方の光路に対して所定の角度（θ）傾けるとともに、参
照位相物体の位相変化方向を一方の光路と垂直な特定方
向（ｘ軸方向）に対して所定の回転方向へ略２６．６゜
傾けて支持する固定器３１０と、マッハツェンダ干渉計
２００内の他方の光路中に被測定位相物体（図示せず）
を、被測定参照位相物体の位相変化方向をこの一方の光
路に対して所定の角度（θ）傾けるとともに、被測定位
相物体の位相変化方向を他方の光路と垂直な上記の特定
方向に対応する方向（ｘ軸方向）に対して上記の所定の
回転方向の逆方向へ略２６．６゜傾けて支持する固定器
３２０と、マッハツェンダ干渉計２００から出力光を結
像する球面レンズ４１０と、結像された光像を記録する
とともに、記録した構造を読み出し可能な光像記録器８
００と、光像記録器８００から読み出した光像にｙ方向
の１次元フーリエ変換を施す光学的フーリエ変換器９０
０と、フーリエ変換後の光像を投影する投影面５２０
と、投影面５２０に投影された光像を撮像するＣＣＤカ
メラ６００と、ＣＣＤカメラ６００で撮像した光像デー
タを表示する計算機システム７２０と、から構成され
る。
【００３８】ここで、光像記録器８００は、空間光変調
素子として液晶ライトバルブを含んで構成される。ま
た、光学的フーリエ変換器９００は、読み出し用光源９
１０と、読み出し光を光像記録器８００の記録面に導く
とともに、読み出した光像光を透過するビームスプリッ
タ９２０と、読み出した光像光を通過する球面レンズ９
３０および円筒レンズ９４０と、から構成される。
素子として液晶ライトバルブを含んで構成される。ま
た、光学的フーリエ変換器９００は、読み出し用光源９
１０と、読み出し光を光像記録器８００の記録面に導く
とともに、読み出した光像光を透過するビームスプリッ
タ９２０と、読み出した光像光を通過する球面レンズ９
３０および円筒レンズ９４０と、から構成される。
【００３９】光源１００、マッハツェンダ干渉計２０
０、固定器３１０、固定器３２０、球面レンズ４１０は
第１実施例と同様に構成され、同様に動作する。球面レ
ンズ４１０で結像された重ね合わせ像の干渉強度分布
は、光像記録器８００に入力され、空間光変調素子で光
学的に非線形変換される。空間光変調素子によって非線
形変換された変換像は、光学的フーリエ変換器９００に
よって読み出された後、ｙ方向に関してフーリエ変換が
施され、投影面５２０に投影される。この投影像は、第
１実施例と同一の参照位相物体および被測定位相物体を
使用すれば、図３に示した像と一致する。投影面５２０
に投影された光像は、ＣＣＤカメラ６００によって撮像
され、相互ウィグナ分布関数の演算結果として計算機シ
ステム７２０に送られる。本実施例の装置では、こうし
たフーリエ変換結果を表示して測定者に報告を行ってい
る。測定者は、表示画像を見て、位相パターン差を判定
する。なお、第１実施例と同様に、計算機システム７２
０で上記の２直線の幅を解析して、位相パターン差を判
定してもよい。
０、固定器３１０、固定器３２０、球面レンズ４１０は
第１実施例と同様に構成され、同様に動作する。球面レ
ンズ４１０で結像された重ね合わせ像の干渉強度分布
は、光像記録器８００に入力され、空間光変調素子で光
学的に非線形変換される。空間光変調素子によって非線
形変換された変換像は、光学的フーリエ変換器９００に
よって読み出された後、ｙ方向に関してフーリエ変換が
施され、投影面５２０に投影される。この投影像は、第
１実施例と同一の参照位相物体および被測定位相物体を
使用すれば、図３に示した像と一致する。投影面５２０
に投影された光像は、ＣＣＤカメラ６００によって撮像
され、相互ウィグナ分布関数の演算結果として計算機シ
ステム７２０に送られる。本実施例の装置では、こうし
たフーリエ変換結果を表示して測定者に報告を行ってい
る。測定者は、表示画像を見て、位相パターン差を判定
する。なお、第１実施例と同様に、計算機システム７２
０で上記の２直線の幅を解析して、位相パターン差を判
定してもよい。
【００４０】本発明は上記の実施例に限定されるもので
はなく、様々な変形が可能である。例えば、空間変調素
子として液晶ライトバルブを使用したが、ＭＳＬＭ、Ｐ
ＲＯＭ、光屈折効果結晶（ＢＳＯ、ＧａＡｓ、ＢａＴｉ
Ｏ3 等のPhotorefractive crystal ）などを使用しても
よい。強誘電液晶を用いた空間光変調素子は、記憶機
能、２値化機能及び高速動作の面で優れている。また、
強誘電液晶を用いていないものでも、ある程度の光強度
を与えないと動作しない閾値効果特性とある程度以上の
光強度では飽和する飽和特性とを持つため、入射光量を
制御することで２値化機能を持たせることができる。
はなく、様々な変形が可能である。例えば、空間変調素
子として液晶ライトバルブを使用したが、ＭＳＬＭ、Ｐ
ＲＯＭ、光屈折効果結晶（ＢＳＯ、ＧａＡｓ、ＢａＴｉ
Ｏ3 等のPhotorefractive crystal ）などを使用しても
よい。強誘電液晶を用いた空間光変調素子は、記憶機
能、２値化機能及び高速動作の面で優れている。また、
強誘電液晶を用いていないものでも、ある程度の光強度
を与えないと動作しない閾値効果特性とある程度以上の
光強度では飽和する飽和特性とを持つため、入射光量を
制御することで２値化機能を持たせることができる。
【００４１】さらに、空間光変調素子の前に空間位置に
対応した透過率を有するマスクを配置することで、上記
した階調変換を所定の空間的分布で施すこともできる。
この結果、シェーディング補正等を含む非線形変換が可
能になり、得られる相互ウィグナー分布関数のＳ／Ｎ比
の向上を図ることができる。
対応した透過率を有するマスクを配置することで、上記
した階調変換を所定の空間的分布で施すこともできる。
この結果、シェーディング補正等を含む非線形変換が可
能になり、得られる相互ウィグナー分布関数のＳ／Ｎ比
の向上を図ることができる。
【００４２】また、位相物体として円筒レンズの場合を
説明したが、様々な１次元位相物体であれば本装置によ
る位相パターン差の判別が可能である。例えば、超音波
偏向器に被測定信号で変調された電気信号を加えたもの
を被測定位相物体とし、参照位相物体として夫々の位置
に異なった位相パターンを配置したものを使用してもよ
い。
説明したが、様々な１次元位相物体であれば本装置によ
る位相パターン差の判別が可能である。例えば、超音波
偏向器に被測定信号で変調された電気信号を加えたもの
を被測定位相物体とし、参照位相物体として夫々の位置
に異なった位相パターンを配置したものを使用してもよ
い。
【００４３】
【発明の効果】以上、詳細に説明した通り、本発明の位
相パターン差判別装置によれば、まず光学的な手段で上
記の重ね合わせ干渉像を得た後、１次元フーリエ変換処
理を光電変換後の数値計算によって順次行って２つの位
相物体の相互ウィグナ分布関数を求めることとしてたの
で、２つの位相物体の位相パターン差を高速に得ること
ができる。
相パターン差判別装置によれば、まず光学的な手段で上
記の重ね合わせ干渉像を得た後、１次元フーリエ変換処
理を光電変換後の数値計算によって順次行って２つの位
相物体の相互ウィグナ分布関数を求めることとしてたの
で、２つの位相物体の位相パターン差を高速に得ること
ができる。
【００４４】また、本発明の他の位相パターン差判別装
置によれば、まず光学的な手段で上記の重ね合わせ干渉
像を得た後、１次元フーリエ変換処理をも光学的手段で
演算して２つの位相物体の相互ウィグナ分布関数を求め
ることとしてたので、２つの位相物体の位相パターン差
を更に高速に得ることができる。
置によれば、まず光学的な手段で上記の重ね合わせ干渉
像を得た後、１次元フーリエ変換処理をも光学的手段で
演算して２つの位相物体の相互ウィグナ分布関数を求め
ることとしてたので、２つの位相物体の位相パターン差
を更に高速に得ることができる。
【図１】本発明に係る第１実施例の位相パターン差判別
装置の構成図である。
装置の構成図である。
【図２】第１実施例の重ね合わせ光像の説明図である。
【図３】第１実施例の１次元フーリエ変換後の像の説明
図である。
図である。
【図４】本発明に係る第２実施例の位相パターン差判別
装置の構成図である。
装置の構成図である。
１００…光源、２００…マッハツェンダ干渉計、３１
０，３２０…固定器、４１０，４２０…球面レンズ、５
１０，５２０…投影面、６００…ＣＣＤカメラ、７１
０，７２０…計算機システム、８００…空間光変調器、
９００…フーリエ変換器。
０，３２０…固定器、４１０，４２０…球面レンズ、５
１０，５２０…投影面、６００…ＣＣＤカメラ、７１
０，７２０…計算機システム、８００…空間光変調器、
９００…フーリエ変換器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹森 民樹 静岡県浜松市市野町1126番地の１ 浜松ホ トニクス株式会社内
Claims (6)
- 【請求項１】 可干渉平行光を発生する光源と、 前記光源の出力光を強度が略同一な２つの光に分岐する
光分岐器と、 前記分岐器が分岐した第１の光路中に設置される参照位
相物体を、前記参照位相物体の位相変化方向を前記第１
の光路に対して所定の角度傾けるとともに、前記参照位
相物体の位相変化方向を前記第１の光路と垂直な特定方
向に対して所定の回転方向へ略２６．６゜傾けて支持す
る第１の固定器と、 前記分岐器が分岐した第２の光路中に設置される被測定
位相物体を、前記被測定位相物体の位相変化方向を前記
第２の光路に対して前記所定の角度傾けるとともに、前
記被測定位相物体の位相変化方向を前記特定方向に対応
する方向に対して前記所定の回転方向の逆方向へ略２
６．６゜傾けて支持する第２の固定器と、 前記参照位相物体を介した光と前記被測定位相物体を介
した光とを、夫々の光の光路長が略同一な位置で重ね合
わせる光合波器と、 前記合波器から出力された合波光を結像させる結像器
と、 前記結像器により結像した光像を撮像し電気的な光像デ
ータを出力する撮像装置と、 前記撮像装置の出力する光像データを入力し、この光像
データに前記特定方向に対応する前記光像データにおけ
る方向に垂直な方向に関する１次元フーリエ変換を施し
た後、前記フーリエ変換後のデータを基にして前記参照
位相物体の位相と前記被測定位相物体の位相との差を判
定するデータ処理装置と、 を備えることを特徴とする位相パターン差判別装置。 - 【請求項２】 可干渉平行光を発生する光源と、 前記光源の出力光を強度が略同一な２つの光に分岐する
光分岐器と、 前記分岐器が分岐した第１の光路中に設置される参照位
相物体を、前記参照位相物体の位相変化方向を前記第１
の光路に対して所定の角度傾けるとともに、前記参照位
相物体の位相変化方向を前記第１の光路と垂直な特定方
向に対して所定の回転方向へ略２６．６゜傾けて支持す
る第１の固定器と、 前記分岐器が分岐した第２の光路中に設置される被測定
位相物体を、前記被測定位相物体の位相変化方向を前記
第２の光路に対して前記所定の角度傾けるとともに、前
記被測定位相物体の位相変化方向を前記特定方向に対応
する方向に対して前記所定の回転方向の逆方向へ略２
６．６゜傾けて支持する第２の固定器と、 前記参照位相物体を介した光と前記被測定位相物体を介
した光とを、夫々の光の光路長が略同一な位置で重ね合
わせる光合波器と、 前記合波器から出力された合波光パターンを結像させる
第１の結像器と、 前記第１の結像器によって結像された光像を記録すると
ともに、記録された前記光像を読み出し可能な光像記録
器と、 前記光像記録器から読み出した光像に、前記特定方向に
対応する前記光像記録器から読み出された光像における
方向に垂直な方向に関する１次元フーリエ変換を光学的
に施す１次元フーリエ変換器と、 フーリエ変換された光像を撮像し電気的な光像データを
出力する撮像装置と、 前記撮像装置が撮像した光像データを入力し、このデー
タを基にして前記参照位相物体の位相と前記被測定位相
物体の位相との差を算出するデータ処理装置と、 を備えることを特徴とする位相パターン差判別装置。 - 【請求項３】 前記光像記録器は空間光変調器で構成さ
れ、 前記空間光変調器の記録面への読み出し光の照射によ
り、前記空間光変調器からの光像が読み出される、 ことを特徴とする請求項２記載の位相パターン差判別装
置。 - 【請求項４】 前記光空間変調器は、光空間変調素子と
して液晶ライトバルブを備える、ことを特徴とする請求
項３記載の位相パターン差判別装置。 - 【請求項５】 前記１次元フーリエ変換器は、 前記光像記録器の記録面から記録光像を読み出す光を発
生する読み出し光源と、 フーリエ変換を実施する光学レンズ系と、 を備えることを特徴とする請求項２記載の位相パターン
差判別装置。 - 【請求項６】 前記光分岐器および前記光合波器は、他
の２つの反射鏡と組み合わされて、マッハ・ツェンダ干
渉計を構成する、ことを特徴とする請求項１または請求
項２記載の位相パターン差判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06868493A JP3233723B2 (ja) | 1993-03-26 | 1993-03-26 | 位相パターン差判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06868493A JP3233723B2 (ja) | 1993-03-26 | 1993-03-26 | 位相パターン差判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06281426A true JPH06281426A (ja) | 1994-10-07 |
| JP3233723B2 JP3233723B2 (ja) | 2001-11-26 |
Family
ID=13380816
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06868493A Expired - Fee Related JP3233723B2 (ja) | 1993-03-26 | 1993-03-26 | 位相パターン差判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3233723B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0851205A2 (en) * | 1996-12-26 | 1998-07-01 | Hitachi, Ltd. | Optical interferometer and signal synthesizer using the interferometer |
| US6081335A (en) * | 1997-06-25 | 2000-06-27 | Nec Corporation | Phase difference measuring device with visible light source for providing easy alignment of optical axes and method therefor |
| CN100464172C (zh) * | 2005-04-08 | 2009-02-25 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 数字干涉位相差放大方法 |
| CN111623892A (zh) * | 2020-05-27 | 2020-09-04 | 南京工业大学 | 用于时变随机信号测量的自适应光纤型马赫曾德干涉仪 |
-
1993
- 1993-03-26 JP JP06868493A patent/JP3233723B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0851205A2 (en) * | 1996-12-26 | 1998-07-01 | Hitachi, Ltd. | Optical interferometer and signal synthesizer using the interferometer |
| EP0851205A3 (en) * | 1996-12-26 | 2000-01-05 | Hitachi, Ltd. | Optical interferometer and signal synthesizer using the interferometer |
| US6091495A (en) * | 1996-12-26 | 2000-07-18 | Hitachi, Ltd. | Optical interferometer and signal synthesizer using the interferometer |
| US6587278B1 (en) | 1996-12-26 | 2003-07-01 | Hitachi, Ltd. | Optical interferometer and signal synthesizer using the interferometer |
| US6081335A (en) * | 1997-06-25 | 2000-06-27 | Nec Corporation | Phase difference measuring device with visible light source for providing easy alignment of optical axes and method therefor |
| CN100464172C (zh) * | 2005-04-08 | 2009-02-25 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 数字干涉位相差放大方法 |
| CN111623892A (zh) * | 2020-05-27 | 2020-09-04 | 南京工业大学 | 用于时变随机信号测量的自适应光纤型马赫曾德干涉仪 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3233723B2 (ja) | 2001-11-26 |
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