JPH06274364A - Computer system diagnostic system - Google Patents

Computer system diagnostic system

Info

Publication number
JPH06274364A
JPH06274364A JP5062046A JP6204693A JPH06274364A JP H06274364 A JPH06274364 A JP H06274364A JP 5062046 A JP5062046 A JP 5062046A JP 6204693 A JP6204693 A JP 6204693A JP H06274364 A JPH06274364 A JP H06274364A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
area
input
execution
computer system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5062046A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Harumi Saito
春美 斎藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP5062046A priority Critical patent/JPH06274364A/en
Publication of JPH06274364A publication Critical patent/JPH06274364A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the quality of a product by efficiently testing the product and preventing test omission in the test of data transfer between input/output devices and a main storage device in testing a computer system. CONSTITUTION:The execution control parts 32 of a test program 30 operating under CPU 1 in the computer system equally and randomly gives the starting address and the data transfer quantity of a tested area 31 to be the diagnostic object of the main storage device 3 to test packages 33a to 33n testing the respective input/output devices 2a to 2n. Data transfer between the respective input/output devices and the main storage device is tested by parallely executing the test packages by the processings of each table of a ready table/busy table/ execution table controlled by an execution control part at the same time.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、計算機システムにおけ
る診断方式に関するものであり、更に詳しくは計算機本
体装置に接続される各種の入出力装置、制御装置、及び
主記憶装置の試験を効率的に行うことを目的とした計算
機システムの診断方式に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a diagnostic method in a computer system, and more specifically, to efficiently test various input / output devices, control devices, and main storage devices connected to a computer main unit. The present invention relates to a computer system diagnostic method intended to be performed.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の計算機システムにおける診断方式
について、図9〜図12について説明する。図9は、計
算機システムのシステム診断実行時におけるシステムの
構成を示したブロック図であり、図において1は中央処
理装置、2a〜2nは試験の対象となる入出力装置と制
御装置、3は主記憶装置、30はテスト・プログラム、
31は主記憶装置の試験対象となる被テスト領域であ
る。試験の対象となる周辺装置(2a〜2n)は、中央
処理装置1を介してテスト・プログラム30によって制
御される。図10は、図9で記述した主記憶装置3の構
成を詳しく示した図であり、主記憶装置の0番地からの
低番地領域にはテスト・プログラムが常駐し、これに続
く後の領域が全て被テスト領域31となる。図11は、
従来の方式によって入出力装置、制御装置,及び主記憶
装置の試験方法の手順を示したフローチャートであり、
図12は被テスト領域におけるアクセス方法の例を図示
したものである。
2. Description of the Related Art A conventional diagnosis method in a computer system will be described with reference to FIGS. FIG. 9 is a block diagram showing the configuration of the system at the time of executing the system diagnosis of the computer system. In the figure, 1 is a central processing unit, 2a to 2n are input / output devices and control devices to be tested, and 3 is a main Storage device, 30 is a test program,
Reference numeral 31 is a tested area to be tested by the main memory. The peripheral devices (2a to 2n) to be tested are controlled by the test program 30 via the central processing unit 1. FIG. 10 is a diagram showing in detail the configuration of the main storage device 3 described in FIG. 9, in which the test program resides in the low-address area from the address 0 of the main storage device, and the subsequent area is All of the area to be tested 31 is provided. FIG. 11 shows
It is the flowchart which showed the procedure of the test method of the input / output device, the control device, and the main memory by the conventional method,
FIG. 12 illustrates an example of an access method in the area under test.

【0003】次に動作について図11、及び図12に基
づいて説明する。図11は、従来の計算機システムにお
ける試験方法の手順について概略を示したフローチャー
トである。図11において、ステップ(110)はテス
トに入る前の準備手順を示す。テスト・プログラムは、
各被テスト装置に対して主記憶装置の入出力用のバッフ
ァとしてのテスト領域を与える。この与え方は、固定的
でありテスト・パッケージで使用する領域は、それぞれ
一定となって割り付けられる。ステップ(111)で
は、被テスト装置数を’DEVNO’にセットする。ス
テップ(112)では、デバイスインデックスカウンタ
ー(DEVCNT)をクリアする。ステップ(113)
では、被テスト装置に対してそれぞれの入出力装置と制
御装置に対して入出力起動を行う。これによって、主記
憶装置と入出力装置の間でデータ転送が開始される。ス
テップ(114)では、入出力割込の発生を待つ。すな
わち、入出力動作が完了するのを待つ。入出力割込が発
生したらステップ(115)に進み、テスト領域のデー
タが正しいかどうかテストする。即ち、入出力装置から
主記憶装置のテスト領域へのデータ転送なら主記憶装置
のテスト領域と入出力装置のデータを比較し、データが
一致すればテスト成功と判断する。データ・コンペア等
のエラーが発生すればエラー処理を行う。ステップ(1
16)では、デバイスインデックスカウンター(DEV
CNT)を“1”インクレメントする。ステップ(11
7)では、全ての被テスト装置に対してテスト完了した
かどうか調べ、完了していなければステップ(113)
に戻り、以下同様に次の被テスト装置の診断を行う。全
ての被テスト装置の診断が完了したら、ステップ(11
8)に進む。ステップ(118)では、次のテストを行
うためにテスト項目をカウントアップし、指定された全
てのテストを実行したかどうかチェックする。指定され
た全てのテストを完了していなければステップ(11
1)に戻り、以下同様に試験を行う。
Next, the operation will be described with reference to FIGS. 11 and 12. FIG. 11 is a flowchart outlining steps of a test method in a conventional computer system. In FIG. 11, step (110) shows a preparatory procedure before starting the test. The test program is
A test area as an input / output buffer of the main memory is provided to each device under test. This method is fixed, and the areas used in the test package are assigned in a fixed manner. In step (111), the number of devices under test is set to'DEVNO '. In step (112), the device index counter (DEVCNT) is cleared. Step (113)
Then, input / output is started for each input / output device and control device for the device under test. This starts data transfer between the main storage device and the input / output device. In step (114), the generation of an input / output interrupt is waited for. That is, it waits until the input / output operation is completed. When an input / output interrupt occurs, the process proceeds to step (115) to test whether the data in the test area is correct. That is, in the case of data transfer from the input / output device to the test area of the main storage device, the test area of the main storage device is compared with the data of the input / output device, and if the data match, it is determined that the test is successful. If an error such as data compare occurs, error processing is performed. Step (1
16), the device index counter (DEV
CNT) is incremented by "1". Step (11
In 7), it is checked whether or not the test is completed for all the devices under test, and if not completed, step (113).
Then, the next device under test is similarly diagnosed. When all devices under test have been diagnosed, proceed to step (11
Proceed to 8). In step (118), the test items are counted up to perform the next test, and it is checked whether all specified tests have been executed. If all the specified tests have not been completed, step (11
Return to 1) and repeat the same test.

【0004】図12は、図11で説明した従来方法によ
る試験結果において、被テスト領域がどのようにアクセ
スされて行ったかを示した図であり、それぞれの被テス
ト装置で使用する領域は各々異なっているが、常に、固
定領域を使用していることがわかる。例えば、入出力装
置(2a)を試験するためのテスト・プログラムは常に
テスト領域A1、A2、A3、、を使用している。ここ
で、A1の数字は入出力起動の順番を示しており、何回
実行しても、同じ領域をアクセスする様子がうかがえ
る。
FIG. 12 is a diagram showing how the tested area is accessed and tested in the test result by the conventional method described with reference to FIG. 11, and the areas used by the respective tested devices are different. However, it can be seen that the fixed area is always used. For example, a test program for testing the input / output device (2a) always uses the test areas A1, A2, A3. Here, the number A1 indicates the order of input / output activation, and it can be seen that the same area is accessed no matter how many times it is executed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来の診断方式では、
図12に示したようにテスト領域は、それぞれの入出力
装置に対して常に固定であるため、主記憶装置と入出力
装置のデータ転送の方法も画一的となり、主記憶装置の
アドレスによって微妙に異なる部分のデータ転送の試験
が充分行われないとう問題点があった。さらに、割り当
てられる主記憶装置のテスト領域が常に固定化されてい
るためテストされない空き領域が発生し、試験が不十分
という問題点があった。加えて、従来の診断方式では図
11に示すように、被テスト装置に対する診断がシリア
ル方式で起動されるため、各入出力装置に対し同時に起
動を行うことがなく、従って試験の効率が悪いばかりで
なく、主記憶装置と本体装置を含む入出力制御装置間の
競合状態を配慮した試験内容が不足し、製品の品質を確
保することが容易でないという問題点があった。
In the conventional diagnosis system,
As shown in FIG. 12, since the test area is always fixed for each input / output device, the method of data transfer between the main storage device and the input / output device is also uniform, and it may vary depending on the address of the main storage device. However, there is a problem that the data transfer test of different parts is not sufficiently performed. Further, since the test area of the allocated main storage device is always fixed, an untested free area occurs, and the test is insufficient. In addition, in the conventional diagnostic method, as shown in FIG. 11, the diagnosis for the device under test is activated in a serial manner, so that the I / O devices are not activated at the same time, and therefore the efficiency of the test is poor. In addition, there is a problem that it is not easy to ensure the quality of the product because the contents of the test considering the race condition between the main storage device and the input / output control device including the main body device are insufficient.

【0006】本発明は、このような問題点を解消するた
めになされたもので、主記憶装置と入出力装置のデータ
転送において、主記憶装置の各アドレスによってデータ
転送の制御の方法が微妙に異なる組み合せを作りだし、
主記憶装置における素子、入出力装置と入出力制御装置
の不具合を指摘し、更に、被テスト装置間で実稼動状況
に則した競合状態を作り出すことで、間欠的に発生する
不具合をも容易に発見することにより、設計検証及び製
品の品質を高めることを目的とする。
The present invention has been made to solve such a problem, and in the data transfer between the main storage device and the input / output device, the method of controlling the data transfer is delicately controlled by each address of the main storage device. Create different combinations,
By pointing out the defects in the elements, I / O devices, and I / O control devices in the main memory, and by creating a race condition that matches the actual operating conditions between the devices under test, it is easy to create intermittent problems. By discovering, the purpose is to improve design verification and product quality.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明に係る計算機シス
テムにおける診断方式は、主記憶装置の被テスト領域の
アクセス方法をランダムに、しかも領域を平均的にアク
セス可能とするために、主記憶装置に与える開始領域、
および、その領域長を実行時に不規則に与える手段を備
えるようにしたものである。また、本発明に係る計算機
システムにおける診断方式は、実行制御部とテスト・パ
ッケージを設け、実行制御部が各入出力装置のテスト・
パッケージを制御することにより、パラレルに入出力起
動を行うようにしたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION A diagnostic method in a computer system according to the present invention uses a main memory device in order to randomly access an area under test of the main memory device and to access the area on average. Start area to give,
Also, a means for irregularly giving the area length at the time of execution is provided. Further, the diagnostic method in the computer system according to the present invention is provided with an execution control unit and a test package, and the execution control unit performs the test
By controlling the package, I / O is started in parallel.

【0008】[0008]

【作用】この発明による計算機システムの診断方式は、
主記憶と被試験対象となる入出力装置間のデータ転送制
御において、ランダムに発生し、微妙に異なるデータの
組合せを作り出し得るようにしたため、主記憶領域を均
一にアクセスできる。また、主記憶装置と、入出力装置
間のデータ転送において、各装置間の競合状態を発生さ
せ得るようにしたことにより、間欠的に発生する不具合
をも容易に検出可能としたものである。
The diagnosis method of the computer system according to the present invention is
In the data transfer control between the main memory and the input / output device to be tested, a combination of randomly generated and slightly different data can be created, so that the main memory area can be uniformly accessed. Further, in the data transfer between the main memory device and the input / output device, the race condition between the devices can be generated, so that the intermittent problem can be easily detected.

【0009】[0009]

【実施例】【Example】

実施例1.以下に、図1〜図6に基づいて発明の実施例
1を説明する。図1は、計算機システムの診断実行時に
おけるシステムの構成を示したブロック図であり、図に
おいて、1は中央処理装置、2a〜2nは試験の対象と
なる入出力装置と制御装置、3は主記憶装置、30はテ
スト・プログラム、31は主記憶装置の試験対象となる
被テスト領域、32はテスト・プログラムにおける実行
制御部、33a〜33nは試験対象装置である2a〜2
nに対する各種テスト・パッケージである。
Example 1. Embodiment 1 of the invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a system when a computer system is diagnosed, in which 1 is a central processing unit, 2a to 2n are input / output devices and control units to be tested, and 3 is a main unit. Storage device, 30 is a test program, 31 is a test target area of the main storage device to be tested, 32 is an execution control unit in the test program, and 33a to 33n are test target devices 2a to 2
Various test packages for n.

【0010】図2は、本発明に係わる処理内容全体の理
解を容易とするため、概略動作をわかりやすくブロック
化したもので、実行制御部32と各テスト、パッケージ
33a、33b、、33nの関係を明確にしている。実
行制御部32では、テスト・パッケージの実行全体の制
御、及び共通処理を行っており入出力割込処理ルーチ
ン、実行制御ルーチン、各種サブルーチンの3つの機能
より構成されている。ここで、入出力割込処理ルーチン
では、入出力割込発生時、割込装置アドレスからテスト
・パッケージのサーチ、装置のステータス等のテスト、
及び実行制御ルーチンで処理されるレディ・テーブルへ
のセットなどの処理を行う。一方、テスト・パッケージ
では、具体的な入出力装置のテストのために、テストの
準備、テスト領域確保の依頼、入出力起動の要求、テス
ト領域のデータのチェック等を行う。即ち、直接的かつ
パッケージ固有の指示はテスト・パッケージで行い、実
行制御部はその指示に従って、診断プログラム全体の制
御を実行するものであり、テスト・パッケージの実行制
御権は実行制御部が管理している。
FIG. 2 is a block diagram of the schematic operation in order to facilitate understanding of the entire processing contents according to the present invention. The relationship between the execution control unit 32 and each test, package 33a, 33b, 33n. Is clear. The execution control unit 32 controls the overall execution of the test package and performs common processing, and is composed of three functions: an input / output interrupt processing routine, an execution control routine, and various subroutines. Here, in the I / O interrupt processing routine, when an I / O interrupt occurs, a test package search from the interrupt device address, a device status test, etc.
Also, processing such as setting to the ready table processed by the execution control routine is performed. On the other hand, the test package prepares a test, requests to secure a test area, requests input / output activation, and checks data in the test area for a specific test of the input / output device. That is, direct and package-specific instructions are given by the test package, and the execution control unit executes the control of the entire diagnostic program according to the instructions. The execution control right of the test package is managed by the execution control unit. ing.

【0011】図3は各テスト・パッケージの実行概略を
示したフローチャート図である。図4は、図3におい
て、被テスト領域31を各テスト・パッケージに与える
ためのテスト領域サーチ方式を詳細に示したフローチャ
ートであり、図5は、図4のフローチャートによるテス
ト領域サーチ方式を説明するための図である。図5で、
90はメモリ管理テーブル、91はメモリ管理テーブル
の1つのエントリー情報、92は、メモリ管理テーブル
サーチポインタである。図6は、本実施例の領域サーチ
方式による被テスト領域31のアクセス結果の例を示し
た図である。
FIG. 3 is a flow chart showing an outline of execution of each test package. 4 is a flow chart showing in detail the test area search method for giving the test area 31 to each test package in FIG. 3, and FIG. 5 illustrates the test area search method according to the flow chart of FIG. FIG. In Figure 5,
Reference numeral 90 is a memory management table, 91 is one entry information of the memory management table, and 92 is a memory management table search pointer. FIG. 6 is a diagram showing an example of the access result of the tested area 31 by the area search method of this embodiment.

【0012】第1の発明の実施例における動作につい
て、図3、及び図4のフローチャートを用いて説明す
る。図3のテスト・パッケージのフローチャートは、図
2の33a〜33nに相当し、制御は、後述する図7の
ステップ(43)から、ステップ(70)に移される。
ステップ(70)では、乱数すなわちランダム・データ
を生成する。ステップ(71)では、ランダム・データ
から使用する被テスト領域31の大きさ、すなわちバッ
ファサイズを決定する。ステップ(72)では、被テス
ト領域の空き領域を探す。具体的には、テスト領域の先
頭アドレスを決定する。このテスト領域の決定は、実行
制御部で行うものでテスト・パッケージはサブルーチン
コールでこの機能を呼び出すことになる。この詳細を説
明したのが図4である。図4については後で説明する。
ステップ(73)では、テスト領域とバッファサイズを
セットして入出力起動を行う。ステップ(74)では、
そのテスト・パッケージをビジー・テーブルにセット
し、入出力割込みを待つ。この後、図2で示した実行制
御部の実行制御ルーチンに戻り、次のテスト・パッケー
ジの処理のための準備を行う。ステップ(75)では、
入出力割込み処理を行い、再び実行制御部によってこの
テスト・パッケージに制御が移ったらテスト領域のデー
タが正しいかどうかテストする。テストが成功ならステ
ップ(76)に進み、このテストで使用したテスト領域
を解放する。ステップ(70)〜ステップ(76)が一
連のテスト・プログラムの動作である。
The operation of the embodiment of the first invention will be described with reference to the flow charts of FIGS. 3 and 4. The flow chart of the test package of FIG. 3 corresponds to 33a to 33n of FIG. 2, and control is transferred from step (43) of FIG. 7 described later to step (70).
In step (70), a random number or random data is generated. In step (71), the size of the test area 31 to be used, that is, the buffer size is determined from the random data. In step (72), an empty area of the area under test is searched. Specifically, the start address of the test area is determined. This test area is determined by the execution control unit, and the test package calls this function by a subroutine call. FIG. 4 illustrates the details. FIG. 4 will be described later.
In step (73), the test area and the buffer size are set and the input / output is started. In step (74),
Place the test package in the busy table and wait for an I / O interrupt. After that, the process returns to the execution control routine of the execution control unit shown in FIG. 2 to prepare for the processing of the next test package. In step (75),
I / O interrupt processing is performed, and when control is transferred to this test package again by the execution control unit, it is tested whether the data in the test area is correct. If the test is successful, proceed to step (76) to free the test area used in this test. Steps (70) to (76) are the operations of the series of test programs.

【0013】次に、テスト領域のサーチ方法について、
図4、及び図5について説明する。まず、テスト・パッ
ケージからテスト領域の決定の依頼を受けると、ステッ
プ(80)にブランチし、メモリ管理テーブル・サーチ
・ポインタ(図5の92)からメモリ管理テーブル90
の内容を取り出す。このメモリ管理テーブル内には使用
フラグ(未使用、使用中)、使用テスト・パッケージ
名、その他の情報が格納されている。ステップ(81)
において、そのテーブルは、未使用かどうかつまりター
ゲットとしているテスト領域が使用されていないかどう
かをフラグ情報に従ってテストする。もし未使用ならス
テップ(82)に進み、それから連続するバッファサイ
ズ分だけ未使用かどうかテストする。ここでバッファサ
イズ分だけ確保できなければステップ(84)に進む。
ここで確保できたならステップ(83)へ進み、メモリ
管理テーブルに使用フラグをセットし、テスト・パッケ
ージ名、各種情報をセットし、呼び出されたテスト・パ
ッケージにテスト領域を与える。この後、図3のステッ
プ(73)に戻る。一方、ステップ(81)とステップ
(82)で、そのテーブルが使用中ならステップ(8
4)にブランチし、メモリ管理テーブル・サーチ・ポイ
ンタ92を“1”増加する。すなわち次のメモリ管理テ
ーブルのサーチを行うための準備を行う。ステップ(8
5)では最後のポインタになったかどうかテストする。
もしそうでなければステップ(80)に戻り以下、同様
に行う。ステップ(85)において、最後のポインタに
なったならステップ(86)に進み、メモリ管理テーブ
ル・サーチ・ポインタ92を“0”に戻す。“0”にす
ることによって被テスト領域を最初の位置に戻す。この
ようにメモリ管理テーブル・サーチ・ポインタを昇順に
制御することにより、平均にテスト領域がアクセスされ
る。
Next, regarding the search method of the test area,
4 and 5 will be described. First, when a request for determining a test area is received from the test package, the process branches to step (80), and the memory management table search pointer (92 in FIG. 5) to the memory management table 90.
Take out the contents of. In this memory management table, used flags (unused, in use), used test package names, and other information are stored. Step (81)
At, the table is tested according to the flag information whether it is unused, that is, whether the target test area is unused. If it is not used, the process proceeds to step (82), and then it is tested whether or not it is unused by the continuous buffer size. If the buffer size cannot be secured, the process proceeds to step (84).
If secured, the process proceeds to step (83) to set the use flag in the memory management table, set the test package name and various information, and give the called test package a test area. Then, the process returns to step (73) in FIG. On the other hand, in step (81) and step (82), if the table is in use, step (8
Branch to 4) and increment the memory management table search pointer 92 by "1". That is, preparations are made for the next memory management table search. Step (8
In 5), it is tested whether it becomes the last pointer.
If not, the process returns to step (80) and the same is performed thereafter. If the last pointer is reached in step (85), the flow advances to step (86) to return the memory management table search pointer 92 to "0". The area under test is returned to the initial position by setting it to "0". By thus controlling the memory management table search pointer in ascending order, the test areas are accessed on average.

【0014】以上、説明したようにして、主記憶装置の
テスト領域と入出力装置間で診断が実施されるが、この
時の各テスト・パッケージによるテスト領域のアクセス
結果の例を示したのが図6である。図6(a)におい
て、最初は低いアドレスから割り付けられる。A1の領
域はテスト・パッケージaが1番目にアクセスしたこと
を示す。同様にB1の領域はテスト・パッケージbが1
番目にアクセスしたことを示す。各テスト・パッケージ
の実行では、アクセスはA1→B1→C1→D1→N1
→B2→A2→C2→A3、、という具合に行われる。
最後の領域C48がアクセスされると、再び低いアドレ
スの戻り、以下D42→C48→A52、、、というふ
うにアクセスされる。時間の経過とともに、フェーズ
1、フェーズ2、フェーズ3というふうに行われる。こ
の結果、主記憶装置の各領域はアトランダムに入出力装
置に使用される。図6(b)は、さらに具体的に使用ア
ドレス、サイズを示した図である。例えば、A1の領域
はメモリ・アドレス20000番地から1000バイト
の領域で、ちょうど1ページ分使用することになる。C
38の領域はメモリ・アドレス22130番地から62
8バイトの領域である。この前後は空きの部分が生じる
が、この空きが生じることも重要なポイントである。こ
の空きの部分で、メモリアドレスがいろいろ変化するこ
とにより、入出力装置と主記憶装置間の処理環境条件を
変化させることができる。図からわかるように、使用す
るテスト・パッケージ、領域のアドレス、領域の大きさ
が時間の経過とともにいろいろ変化し、このようにして
各テスト・パッケージが使用する被テスト領域がアトラ
ンダムに割り当てられ、平均的にアクセスされる。
As described above, the diagnosis is performed between the test area of the main memory and the input / output device. An example of the access result of the test area by each test package at this time is shown. It is FIG. In FIG. 6A, the addresses are initially allocated from the lowest address. The area A1 indicates that the test package a accessed first. Similarly, the area of B1 is 1 for the test package b.
Indicates that the second access was made. In the execution of each test package, access is A1 → B1 → C1 → D1 → N1
→ B2 → A2 → C2 → A3, and so on.
When the last area C48 is accessed, the lower address is returned again, and the following D42 → C48 → A52 are accessed. With the passage of time, it is carried out in the phases 1, 2, and 3. As a result, each area of the main storage device is used at random in the input / output device. FIG. 6B is a diagram more specifically showing used addresses and sizes. For example, the area A1 is an area of 1000 bytes from the memory address 20000, and exactly one page is used. C
Area 38 is 62 from memory address 22130
This is an 8-byte area. Before and after this, there is a vacant part, but this vacancy is also an important point. By changing the memory address in this empty portion, the processing environment condition between the input / output device and the main storage device can be changed. As you can see, the test package used, the address of the area, and the size of the area change variously over time, and in this way the area under test used by each test package is assigned at random. Accessed on average.

【0015】実施例2.また、この発明の第2の実施例
について、図2、図7、及び図8に基づいて説明する。
図7は、図2で示した本発明に係る処理概要全体図にお
いて、実行制御部及び入出力割込み処理部のブロック図
をフローチャートで、詳しく説明したものである。図8
は、テスト・パッケージが実行制御部によって処理され
その状態が遷移して行く様子を示したものである。60
は各テスト・パッケージが実行待ちの状態にありレディ
・テーブルにチェーンされている様子を、示している。
61は、各テスト・パッケージが入出力割込み待ちの状
態にあり、ビジー・テーブルにチェーンされている様子
を、62は該テスト・パッケージが実行テーブルに接続
されて、現在実行中にあることを示している。レディ・
テーブルとビジー・テーブルには複数個のテスト・パッ
ケージがチェーンされ、処理後、図に示すように左へつ
められ優先権が一つ高くなる。
Example 2. A second embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 2, 7 and 8.
FIG. 7 is a flow chart showing a detailed block diagram of the execution control unit and the input / output interrupt processing unit in the overall process outline according to the present invention shown in FIG. Figure 8
Shows how the test package is processed by the execution control unit and its state transits. 60
Shows how each test package is queued for execution and chained to the ready table.
61 indicates that each test package is waiting for an input / output interrupt and is chained to the busy table, and 62 indicates that the test package is connected to the execution table and is currently being executed. ing. Lady
Multiple test packages are chained to the table and the busy table, and after processing, they are stuffed to the left as shown in the figure and the priority is increased by one.

【0016】次に、動作について説明する。 (1)実行制御部 まず、図7の実行制御ルーチンについて説明する。ステ
ップ(40)ではレディテーブル60から次に実行する
テスト・パッケージのテーブルを取り出す。ここで取り
出した情報が空きかどうかテスト(41)する。空きな
らば次に実行するテスト・パッケージはないということ
で入出力割込待ちのためWait状態になる。空きでな
いならばステップ(42)へ行き、次の動作のためにレ
ディ・テーブル60を左につめる動作を行う。ステップ
(43)ではレディ・テーブルから取り出したテスト・
パッケージを実行テーブル62にセットし、テスト・パ
ッケージの実行に入る。テスト・パッケージの動作につ
いては図3で説明したとおりである。 (2)入出力割込み処理部 次に、実行制御部32の機能として入出力割込み処理ル
ーチンがあり、この動作について説明する。ステップ
(50)では、入出力割込みが発生したらビジー・テー
ブル61より割込みデバイス・アドレスに基づいてテス
ト・パッケージを探し出す処理を行う。次にステップ
(51)では入出力割込みステータス等のテストを行
う。ステップ(52)ではそのテスト・パッケージをレ
ディ・テーブル60にセットする。これで入出力割込み
処理は完了したので実行制御ルーチンにブランチし、次
のテスト・パッケージの実行のための処理を以下同様に
行う。実行制御ルーチンによって、各テスト・パッケー
ジが並行して実行され、入出力装置の試験が並列に処理
される。
Next, the operation will be described. (1) Execution Control Unit First, the execution control routine of FIG. 7 will be described. In step (40), the table of the test package to be executed next is fetched from the ready table 60. A test (41) is made as to whether the information retrieved here is empty. If it is free, it means that there is no test package to be executed next, so the state becomes Wait because it is waiting for an I / O interrupt. If it is not empty, go to step (42) to perform the operation of closing the ready table 60 to the left for the next operation. In step (43), the test
Set the package in the run table 62 and start running the test package. The operation of the test package is as described in FIG. (2) Input / Output Interrupt Processing Unit Next, as a function of the execution control unit 32, there is an input / output interrupt processing routine, and its operation will be described. In step (50), when an input / output interrupt occurs, the busy table 61 is searched for a test package based on the interrupt device address. Next, in step (51), a test of input / output interrupt status and the like is performed. In step (52), the test package is set in the ready table 60. Now that the I / O interrupt process is completed, the process branches to the execution control routine, and the process for executing the next test package is performed in the same manner. The execution control routine executes each test package in parallel and processes the tests of the I / O devices in parallel.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば計算機
システムにおいて主記憶装置と、周辺装置の診断におい
てメモリ領域開始アドレスとメモリ領域サイズを逐次変
化させることにより、設計不具合の指摘、及び効率の良
い診断方式を提供することができる。また、各種の周辺
装置に対するテスト・パッケージを任意に組み合せて平
行に実行できるようにしたので。間欠的に発生する不具
合に対しても発見が容易となり計算機システムの試験を
効率良く行うことができる。
As described above, according to the present invention, design failure is pointed out and efficiency is improved by sequentially changing the memory area start address and the memory area size in the diagnosis of the main memory device and the peripheral device in the computer system. It is possible to provide a good diagnostic method. Also, we have made it possible to run test packages for various peripheral devices in parallel by executing any combination. This makes it easy to find out problems that occur intermittently, and makes it possible to efficiently test computer systems.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の実施例を示すシステム構成図であ
る。
FIG. 1 is a system configuration diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の実施例における診断システムの概略
を示したブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing an outline of a diagnostic system in an embodiment of the present invention.

【図3】この発明の実施例を示す各テスト・パッケージ
の実行概略を示したフローチャート図である。
FIG. 3 is a flowchart showing an outline of execution of each test package showing an embodiment of the present invention.

【図4】この発明の実施例を示す被テスト領域を各テス
ト・パッケージに与えるテスト領域サーチ方式を詳細に
示したフローチャート図である。
FIG. 4 is a flow chart showing in detail a test area search method for giving a test area to each test package according to the embodiment of the present invention.

【図5】この発明の被テスト領域を各テスト・パッケー
ジに与えるテスト領域サーチ方式を説明した図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a test area search method of giving a test area to each test package according to the present invention.

【図6】この発明の実施例による被テスト領域のアクセ
ス結果の例を示した図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example of an access result of an area under test according to an embodiment of the present invention.

【図7】この発明の実施例による実行制御ルーチンと入
出力割込み処理ルーチンを示した図である。
FIG. 7 is a diagram showing an execution control routine and an input / output interrupt processing routine according to the embodiment of the present invention.

【図8】この発明の実施例で示した実行制御部により、
テスト・パッケージの実行状態が遷移していく様子をブ
ロック化して説明した図である。
FIG. 8 is a block diagram of an execution control unit according to the embodiment of the present invention.
It is the figure which made a block and explained how the execution state of the test package transits.

【図9】従来のシステム構成図である。FIG. 9 is a conventional system configuration diagram.

【図10】従来の主記憶装置の構成を示した図である。FIG. 10 is a diagram showing a configuration of a conventional main storage device.

【図11】従来のテスト・プログラムによる周辺装置と
主記憶装置の試験方法の手順を示したフローチャートで
ある。
FIG. 11 is a flowchart showing a procedure of a method of testing a peripheral device and a main memory device by a conventional test program.

【図12】従来例による被テスト領域のアクセスの例を
示した図である。
FIG. 12 is a diagram showing an example of access to an area under test according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 中央処理装置 2a〜2n 入出力装置と制御装置 3 主記憶装置 30 テスト・プログラム 31 被テスト領域 32 実行制御部 33a〜33n 入出力装置と制御装置に対するテスト
・パッケージ 90 メモリ管理テーブル 91 メモリ管理テーブルの内容 92 メモリ管理テーブル・サーチ・ポインタ 60a、60b、60c テスト・パッケージ実行待ち
テーブル 61b、61n テスト・パッケージ入出力割込待ちテ
ーブル 62 テスト・パッケージ実行テーブル
1 Central Processing Units 2a to 2n I / O Devices and Control Units 3 Main Storage Device 30 Test Program 31 Test Area 32 Execution Control Unit 33a to 33n Test Package for I / O Devices and Control Units 90 Memory Management Table 91 Memory Management Table Content 92 Memory management table search pointer 60a, 60b, 60c Test package execution wait table 61b, 61n Test package I / O interrupt wait table 62 Test package execution table

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 周辺装置を含む計算機システムの診断シ
ステムであって、診断処理に係るテストパッケージに対
するメモリ領域の割り当てにおいて、前記メモリ領域の
開始番地、及びメモリ領域サイズを、前記テストパッケ
ージ起動に係るデータ転送要求発生時に、任意に決定
し、前記決定内容に基づいてメモリ領域割付けを行う手
段を備えたことを特徴とする計算機システム診断方式。
1. A diagnostic system for a computer system including a peripheral device, wherein in the allocation of a memory area to a test package related to a diagnostic process, a start address of the memory area and a memory area size are related to the start of the test package. A computer system diagnostic method comprising means for arbitrarily determining when a data transfer request occurs and allocating a memory area based on the content of the determination.
【請求項2】 周辺装置を含む計算機システムの診断シ
ステムであって、 上記周辺装置の診断内容に対応した個々のテスト・パッ
ケージの実行を制御・管理する実行制御部において、 前記実行制御部は、前記テスト・パッケージが実行時に
おいて遷移する複数の実行状態を制御・管理する手段を
備えることにより、 個々のテスト・パッケージが並行して実行できるように
したことを特徴とする計算機システム診断方式。
2. A diagnostic system for a computer system including a peripheral device, wherein the execution control unit controls and manages the execution of individual test packages corresponding to the diagnostic contents of the peripheral device, wherein the execution control unit comprises: A computer system diagnostic method characterized in that the test packages are provided with means for controlling and managing a plurality of execution states transiting at the time of execution so that the test packages can be executed in parallel.
JP5062046A 1993-03-22 1993-03-22 Computer system diagnostic system Pending JPH06274364A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5062046A JPH06274364A (en) 1993-03-22 1993-03-22 Computer system diagnostic system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5062046A JPH06274364A (en) 1993-03-22 1993-03-22 Computer system diagnostic system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06274364A true JPH06274364A (en) 1994-09-30

Family

ID=13188835

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5062046A Pending JPH06274364A (en) 1993-03-22 1993-03-22 Computer system diagnostic system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06274364A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5673388A (en) Memory testing in a multiple processor computer system
US6681300B2 (en) Read lock miss control and queue management
US6199121B1 (en) High speed dynamic chaining of DMA operations without suspending a DMA controller or incurring race conditions
US5530897A (en) System for dynamic association of a variable number of device addresses with input/output devices to allow increased concurrent requests for access to the input/output devices
US6996821B1 (en) Data processing systems and method for batching tasks of the same type in an instruction cache
JPH0570177B2 (en)
TW405090B (en) Predictive cache loading by program address discontinuity history
JPH0798663A (en) Asynchronous i/o control system
JPH06274364A (en) Computer system diagnostic system
KR19980079668A (en) Parallel Data Processing System and Its Control Method
JP3092656B2 (en) Test program execution control method
JPH0713823A (en) File resource management system of virtual computer system
US7877533B2 (en) Bus system, bus slave and bus control method
JP3733402B2 (en) Processor resource selection method, processor resource selection system therefor, and computer-readable program recording medium
US5579495A (en) Information processing in which a simulation of parallelism is achieved
JPH086819A (en) Device and method for testing device driver program
JPH1153327A (en) Multiprocessor system
JP2000163309A (en) Method and device for managing memory and recording medium
JPH0766032B2 (en) Test system
US6308196B1 (en) Method and interface device for sharing physical resources
JPS6257034A (en) Software test system using virtual device
JPH0533409B2 (en)
JPH04266131A (en) Heavy load test system for information processor
JPS59195751A (en) Diagnostic system of information processing device
JPH05241986A (en) Input/output instruction retrying system