JPH0627243A - Surface contamination inspecting apparatus - Google Patents
Surface contamination inspecting apparatusInfo
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- JPH0627243A JPH0627243A JP18241092A JP18241092A JPH0627243A JP H0627243 A JPH0627243 A JP H0627243A JP 18241092 A JP18241092 A JP 18241092A JP 18241092 A JP18241092 A JP 18241092A JP H0627243 A JPH0627243 A JP H0627243A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、原子力施設から搬出す
る放射性固体廃棄物の表面汚染を測定する表面汚染検査
装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface contamination inspection apparatus for measuring surface contamination of radioactive solid waste carried out from nuclear facilities.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、原子力施設では、施設内から搬出
しようとする放射性固体廃棄物の表面をろ紙で擦る(ス
ミヤする)とともに、このろ紙の汚染量を測定すること
により、廃棄物の表面に放射性物質が付着されているか
否かを検査し、表面汚染が無いものだけを施設の外へ搬
出するようにしている。このようなスミヤ法による表面
汚染検査を実施する装置として表面汚染検査装置が広く
用いられている。2. Description of the Related Art Conventionally, in a nuclear facility, the surface of radioactive solid waste to be carried out from the facility is rubbed (smeared) with a filter paper, and the amount of contamination of the filter paper is measured to measure the surface of the waste. It inspects whether radioactive substances are attached and only those without surface contamination are carried out of the facility. A surface contamination inspection device is widely used as a device for performing such surface contamination inspection by the smear method.
【0003】図4は、従来の表面汚染検査装置の構成を
示す概略図である。この表面汚染検査装置は、まず、搬
入コンベア1が被検体2を表面検査台3まで搬送し、こ
の表面検査台3は、被検体2を載置する。ここで、スミ
ヤ制御部4が所定の条件により、表面検査台3を用いて
被検体2を回転させながら、またはスミヤアーム5を回
転させながら、スミヤアーム5先端に装着したスミヤ採
取用部材としてのろ紙5aで被検体2をスミヤする。FIG. 4 is a schematic diagram showing the structure of a conventional surface contamination inspection apparatus. In this surface contamination inspection apparatus, first, the carry-in conveyor 1 conveys the object 2 to the surface inspection table 3, and the surface inspection table 3 mounts the object 2 thereon. Here, according to a predetermined condition, the smear control unit 4 rotates the subject 2 using the surface inspection table 3 or while rotating the smear arm 5, and the filter paper 5a as a smear collecting member attached to the tip of the smear arm 5 is used. The subject 2 is smeared with.
【0004】このスミヤが終わると、汚染量測定装置6
がスミヤ後のろ紙5aに付着した放射能汚染量を測定
し、さらに汚染検査装置7が当該放射能汚染量を予め定
められた所定の基準汚染量と比較して、当該被検体2の
汚染の有無を検査する。また、この検査結果に応じて搬
出コンベア8が、当該被検体2を表面検査台3から搬出
する。When the smearing is finished, the pollution amount measuring device 6
Measures the amount of radioactive contamination adhering to the filter paper 5a after smearing, and the contamination inspecting device 7 compares the amount of radioactive contamination with a predetermined reference amount of contamination determined in advance to determine whether contamination of the subject 2 has occurred. Inspect for presence. Further, according to the inspection result, the carry-out conveyor 8 carries out the subject 2 from the surface inspection table 3.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の表面汚染検査装置は、原子力施設内に貯蔵する物体
の検査を対象としていたので、被検体2のスミヤ面積は
狭い範囲でもよかった。そのため、スミヤアーム5が一
本であっても、短時間のうちに検査を完了させることが
できた。By the way, since the above-mentioned conventional surface contamination inspection apparatus is intended for the inspection of the object stored in the nuclear facility, the smear area of the subject 2 may be within a narrow range. Therefore, even if there is only one smear arm 5, the inspection can be completed in a short time.
【0006】ところが、原子力施設からの搬出を図る場
合には、広い面積にわたって被検体2表面の安全を確認
しなければならないため、長い検査時間を要することに
なる。However, when carrying out from a nuclear facility, a long inspection time is required because it is necessary to confirm the safety of the surface of the subject 2 over a wide area.
【0007】この問題を解決する技術として、まず、検
査時間を長くせずに広い面積を検査するために複数箇所
を同時にスミヤすることが考えられるが、スミヤ後に測
定するろ紙5aが増えることにより、ろ紙5aに付着し
た汚染量の測定時間が長くなるという問題が発生する。
一方、全体の検査時間を短縮するために、スミヤ速度を
速くすることも考えられるが、同時にスミヤ効率を低下
させるという問題が発生する。As a technique for solving this problem, first, it is conceivable to smear at a plurality of points at the same time in order to inspect a large area without increasing the inspection time. However, since the number of filter papers 5a to be measured after the smear increases, There is a problem in that it takes a long time to measure the amount of contamination attached to the filter paper 5a.
On the other hand, it is possible to increase the smear speed in order to shorten the entire inspection time, but at the same time, there arises a problem that the smear efficiency is lowered.
【0008】本発明は上記実情を考慮してなされたもの
で、スミヤ効率を低下させることなく、広い検査表面を
短時間で検査でき、検査の効率の向上を図り得る表面汚
染検査装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in consideration of the above situation, and provides a surface contamination inspection apparatus capable of inspecting a wide inspection surface in a short time without lowering smear efficiency and improving the inspection efficiency. The purpose is to
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明の表面汚染検査装
置は、スミヤ台に載置された被検体の表面を、各々スミ
ヤ採取用部材が装着された複数のスミヤアームでスミヤ
するスミヤ制御手段と、スミヤアームから取り外された
各スミヤ採取用部材より放出される放射線量に基づい
て、被検体の表面汚染を検査する汚染検査手段と、被検
体をスミヤ台まで搬送すると共に、スミヤの終了した被
検体を所定の場所へ搬送する搬送制御手段とを備えて成
り、汚染検査手段がスミヤの終了した被検体の表面汚染
を検査している間に、スミヤ制御手段が次の被検体をス
ミヤするものである。A surface contamination inspection apparatus of the present invention comprises a smear control means for smearing the surface of a subject placed on a smear table with a plurality of smear arms each having a smear sampling member mounted thereon. , A contamination inspection means for inspecting the surface contamination of the subject based on the radiation dose emitted from each smear sampling member removed from the smear arm, and the subject that has been smeared while the subject is transported to the smear table. And a transport control means for transporting the specimen to a predetermined place, and the smear control means smears the next specimen while the contamination inspection means examines the surface contamination of the specimen for which smearing has ended. is there.
【0010】[0010]
【作用】従って、本発明の表面汚染検査装置において
は、スミヤ制御手段が、放射能汚染された被検体に対し
て複数のスミヤアームを用いて同時にスミヤ採取用部材
でスミヤすることにより、短時間で広い面積にわたって
被検体表面をスミヤすることができる。Therefore, in the surface contamination inspection apparatus of the present invention, the smear control means simultaneously smears the radioactively contaminated object with the smear sampling member using a plurality of smear arms, so that the smear sampling member can be used in a short time. The surface of the subject can be smeared over a wide area.
【0011】また、スミヤ採取用部材をスミヤし終えた
ときに、搬送制御手段が、当該被検体をスミヤ台から所
定の他の場所に搬送すると共に、未測定の他の被検体を
スミヤ台に搬入しているので、他の場所にある被検体の
ろ紙に付着した汚染量を測定している間に,次の被検体
をスミヤできるので、複数の被検体を連続して検査する
場合には、前の被検体の測定時間分だけ次の被検体の待
ち時間を削減でき、全体の検査時間を速くすることがで
きる。Further, when the smear collecting member is completely smeared, the transport control means transports the subject from the smear table to a predetermined other place, and at the same time, transfers another unmeasured subject to the smear table. Since it is being carried in, the next subject can be smeared while measuring the amount of contamination adhering to the filter paper of the subject in another place. The waiting time of the next subject can be reduced by the measurement time of the previous subject, and the overall examination time can be shortened.
【0012】すなわち、複数のスミヤアームにより,ス
ミヤ採取用部材が増加して、スミヤ採取用部材に付着し
た汚染量の測定時間が延長したが、この延長分を含めた
としても上記測定時間に対応する待ち時間を無くしたの
で、長い検査時間を要せずに被検体の表面汚染を広面積
にわたって検査することができる。That is, the number of smear sampling members is increased by the plurality of smear arms, and the measurement time of the amount of contamination adhering to the smear sampling member is extended. However, even if this extension is included, it corresponds to the above measurement time. Since the waiting time is eliminated, the surface contamination of the subject can be inspected over a wide area without requiring a long inspection time.
【0013】[0013]
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0014】図1は、本発明に係る表面汚染検査装置の
第1実施例の概略構成を示す図である。なお、図4に示
す装置と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明
は省略し、ここでは異なる部分についてのみ述べる。FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a first embodiment of a surface contamination inspection apparatus according to the present invention. The same parts as those of the apparatus shown in FIG. 4 are designated by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted, and only different parts will be described here.
【0015】すなわち、本発明装置は、スミヤアーム5
を複数個設けて、同時に広い面積をスミヤできるように
するとともに、表面検査台3を、スミヤ台11と他の所
定の場所とに分割して順次被検体2を入れ替えながら常
にスミヤ工程が行われるようにすることにより、スミヤ
後のろ紙5aに付着した放射能汚染量の測定時間に対応
する待ち時間を無くす構成となっている。That is, the device of the present invention is provided with the smear arm 5
In addition to providing a plurality of smears so that a large area can be smeared at the same time, the surface inspection table 3 is divided into a smearing table 11 and another predetermined location, and the smearing step is always performed while sequentially replacing the subject 2. By doing so, the waiting time corresponding to the measurement time of the amount of radioactive contamination attached to the filter paper 5a after smearing is eliminated.
【0016】具体的には、本発明に係る表面汚染検査装
置は、まず、搬入コンベア1が複数の被検体2を順次個
別にスミヤ台11まで搬送し、このスミヤ台11に、被
検体2を載置している。ここで、スミヤ制御手段として
のスミヤ制御部12は、スミヤ台11および複数のスミ
ヤアーム5を制御することにより、被検体2と各スミヤ
アーム5とを相対的に回転させながらアーム5先端のろ
紙5aで被検体2をスミヤする機能を備えている。Specifically, in the surface contamination inspection apparatus according to the present invention, first, the carry-in conveyor 1 sequentially and individually conveys a plurality of specimens 2 to the smear table 11, and the smear table 11 is loaded with the object 2 to be examined. It is placed. Here, the smear control unit 12 as the smear control means controls the smear base 11 and the plurality of smear arms 5 so that the subject 2 and each smear arm 5 are relatively rotated and the filter paper 5a at the tip of the arm 5 is used. It has a function of smearing the subject 2.
【0017】搬送制御手段としての搬送制御部13は、
スミヤが終わると被検体2をスミヤ台11以外の他の場
所として測定時待機台14に搬送すると共に次の被検体
2をスミヤ台11まで搬送するように、搬入コンベア1
を制御する。The transfer control section 13 as the transfer control means is
When the smearing is completed, the inspector 2 is conveyed to the measuring stand-by table 14 as a place other than the smear table 11 and the next sample 2 is conveyed to the smear table 11, so that the carry-in conveyor 1
To control.
【0018】一方、測定制御部15は、各スミヤアーム
5から各ろ紙5aを取り外して汚染量測定装置6に送出
する。この汚染量測定装置6は、各スミヤアーム5から
取り外された各ろ紙5aから放出される放射線量を測定
し、汚染量検査装置7は、この放射線量に基づいて当該
被検体2の表面汚染の有無を検査する。また、搬送制御
部13は、この検査結果に応じて、測定時待機台14か
ら被検体2を他の場所へ搬送するように、搬出コンベア
8を制御する。なお、上記測定制御部15、汚染量測定
装置6および汚染量検査装置7から、汚染検査手段16
を構成している。次に、このような表面汚染検査装置の
動作について説明する。On the other hand, the measurement controller 15 removes each filter paper 5a from each smear arm 5 and sends it to the contamination amount measuring device 6. The contamination amount measuring device 6 measures the radiation amount emitted from each filter paper 5a removed from each smear arm 5, and the contamination amount inspection device 7 determines whether or not the surface of the subject 2 is contaminated based on this radiation amount. To inspect. In addition, the transport control unit 13 controls the unloading conveyor 8 so as to transport the subject 2 from the measurement standby table 14 to another place according to the inspection result. In addition, from the measurement control unit 15, the contamination amount measuring device 6 and the contamination amount inspection device 7, the contamination inspection means 16
Are configured. Next, the operation of such a surface contamination inspection device will be described.
【0019】まず、ある被検体2が搬入コンベア1から
スミヤ台11に装荷される。このスミヤ台11上では、
スミヤ制御部12が複数のスミヤアーム5を制御して、
各スミヤアーム5に装着したろ紙5aを被検体2表面の
広面積にわたって擦りつけ、いわゆるスミヤ工程を実施
する。First, a subject 2 is loaded on the smear table 11 from the carry-in conveyor 1. On this smear stand 11,
The smear control unit 12 controls the plurality of smear arms 5,
The filter paper 5a attached to each smear arm 5 is rubbed over a large area on the surface of the subject 2 to perform a so-called smear process.
【0020】このスミヤ工程が終わると、スミヤ制御部
12から搬送制御部13へ搬送信号が与えられ、その搬
送信号を受けた搬送制御部13が当該被検体2をスミヤ
台11から測定時待機台14に搬送する。この測定時待
機台14で当該被検体2は、ろ紙5aの検査結果がでる
まで待機する。When this smearing process is completed, a transport signal is given from the smear control unit 12 to the transport control unit 13, and the transport control unit 13 receiving the transport signal transfers the subject 2 from the smear table 11 to a stand-by stand at the time of measurement. Transport to 14. The subject 2 waits on the measurement stand by until the inspection result of the filter paper 5a is obtained.
【0021】一方、測定制御部15は、被検体2のスミ
ヤ工程が終わると、各スミヤアーム5に装着されていた
ろ紙5aを汚染量測定装置6に送出してこのろ紙5aの
汚染量を測定させる。そのろ紙5aを受け取った汚染量
測定装置6では、ろ紙5aから放出される放射線量を測
定する。On the other hand, when the smearing process of the subject 2 is completed, the measurement control section 15 sends the filter paper 5a attached to each smear arm 5 to the contamination amount measuring device 6 to measure the contamination amount of the filter paper 5a. . The contamination amount measuring device 6 that has received the filter paper 5a measures the amount of radiation emitted from the filter paper 5a.
【0022】そして、その放射線測定値を、汚染量測定
信号として汚染検査装置7へ送出する。汚染検査装置7
では、汚染量測定信号から測定時待機台14に載置され
ている被検体2に関する汚染の有無を検査し、その検査
結果がでると、ろ紙測定工程終了信号を搬送制御部13
へ送出する。上記ろ紙測定工程の間に、スミヤ台11で
は、新しくスミヤアーム5に取り付けられたろ紙5aを
用いて次の被検体2に対するスミヤ工程が並行して行わ
れる。搬送制御部13は、ろ紙測定工程終了信号を受け
ると、当該被検体2を搬出コンベア8により搬出する。Then, the radiation measurement value is sent to the contamination inspection device 7 as a contamination amount measurement signal. Contamination inspection device 7
Then, the contamination amount measurement signal is inspected for the presence or absence of contamination of the subject 2 placed on the standby table 14 at the time of measurement, and when the inspection result is obtained, the filter paper measurement process end signal is sent.
Send to. During the filter paper measurement step, the smear table 11 uses the filter paper 5a newly attached to the smear arm 5 to perform the smear step for the next subject 2 in parallel. Upon receiving the filter paper measurement process end signal, the transport control unit 13 carries out the subject 2 by the carry-out conveyor 8.
【0023】しかる後、搬送制御部13および測定制御
手段15により、次の被検体2に対するろ紙測定工程が
開始されるとともに、3番目の被検体2に対するスミヤ
工程が開始される。以下、同様に順次各被検体表面の放
射能汚染が検査されていく。図2は、このような表面汚
染検査工程の様子を示すタイムチャートである。Thereafter, the transport controller 13 and the measurement controller 15 start the filter paper measuring step for the next subject 2 and the smearing step for the third subject 2. Thereafter, similarly, the radioactive contamination on the surface of each subject is similarly inspected. FIG. 2 is a time chart showing a state of such a surface contamination inspection process.
【0024】同図において、スミヤ工程をS,ろ紙の測
定工程をMで表すと、従来、1個目の被検体がスミヤ工
程Sおよびろ紙の測定工程Mを終えるまでには、時刻t
0から始めて時刻t2までかかり、2個目の被検体がス
ミヤ工程Sおよびろ紙の測定工程Mを終えるには、時刻
t2から始めて時刻t4までかかる。以下、同様に3個
目の被検体がスミヤ工程Sおよびろ紙の測定工程Mを終
えるまでには、時刻t4から時刻t6までかかってい
る。In the figure, if the smearing process is represented by S and the filter paper measuring process is represented by M, conventionally, it takes time t until the first object finishes the smearing process S and the filter paper measuring process M.
It takes time from 0 to time t2 until the second object finishes the smear process S and the filter paper measuring process M from time t2 to time t4. Thereafter, similarly, it takes from time t4 to time t6 until the third object finishes the smearing step S and the filter paper measuring step M.
【0025】一方、本実施例における同工程では、従来
工程の被検体の1個目と2個目との間に、他の被検体の
スミヤ工程Sおよび測定工程Mを行い、また、2個目と
3個目の間にも別の他の被検体のスミヤ工程Sおよび測
定工程Mを行っている。すなわち、従来のn個の被検体
に対してのスミヤ工程Sと測定工程Mの間に、新たに
(n−1)個の被検体のスミヤ工程Sおよび測定工程M
を行うことにより、従来と同じ時間内に(2n−1)個
の被検体の汚染を検査している。従って、本実施例にお
ける同工程の処理能力に対して、従来工程の処理能力を
比較した処理倍率mは、次の(1)式で示される。 m=(2n−1)/n …(1) これにより、被検体数nが多くなる連続運転時には、処
理能力が2倍となる。また、スミヤ工程とろ紙の測定工
程に要する時間が大きく異なった場合、以下の調整を行
うことが可能である。On the other hand, in the same process in this embodiment, the smear process S and the measuring process M of another test object are performed between the first and second test objects of the conventional process, and two test objects are performed. Another smear process S and measurement process M of another subject are performed between the eye and the third eye. That is, between the conventional smear process S and measurement process M for n subjects, a new smear process S and measurement process M for (n-1) subjects are performed.
By performing the above, the contamination of (2n-1) test objects is inspected within the same time as the conventional one. Therefore, the processing magnification m obtained by comparing the processing capacity of the conventional process with the processing capacity of the same process in this embodiment is expressed by the following equation (1). m = (2n-1) / n (1) As a result, the processing capacity is doubled during continuous operation in which the number of test objects n increases. When the time required for the smear process and the filter paper measurement process is significantly different, the following adjustments can be made.
【0026】(イ)スミヤ工程時間が測定工程時間より
短ければ、スミヤ工程時間を長くする。これにより、ス
ミヤ速度が遅くなり、スミヤ効率を向上させることがで
きる。 (ロ)スミヤ工程時間が測定工程時間より長ければ、測
定工程時間を長くする。これにより、放射線測定原理
上、検出感度を向上させることができる。(A) If the smear process time is shorter than the measurement process time, the smear process time is lengthened. As a result, the smear speed becomes slower and the smear efficiency can be improved. (B) If the smear process time is longer than the measurement process time, the measurement process time is lengthened. Thereby, the detection sensitivity can be improved on the principle of radiation measurement.
【0027】上述したように、本実施例によれば、複数
のスミヤアーム5を用いて同時にスミヤを行っているの
で、スミヤ効率を低下させることなく、短時間で広い面
積をスミヤすることができる。As described above, according to this embodiment, since smearing is simultaneously performed by using a plurality of smearing arms 5, it is possible to smear a large area in a short time without lowering smearing efficiency.
【0028】また、測定時待機台14を設けて、スミヤ
工程が終了した被検体2を順次スミヤ台11から測定時
待機台14へ搬出し、かつ搬入コンベア1が未測定の他
の被検体2をスミヤ台11に搬入しているので、測定時
待機台14にある被検体2のろ紙5aに付着した汚染量
を測定している間に、次の被検体2をスミヤできるよう
になり、複数の被検体2を連続して検査する場合には、
前の被検体2の測定時間分だけ次の被検体2の待ち時間
を削減でき、全体の検査時間を速くすることができる。Further, a measuring stand-by table 14 is provided, and the specimens 2 having undergone the smear process are successively carried out from the smear stand 11 to the measuring stand-by table 14, and the carry-in conveyor 1 has not yet measured other specimens 2. Is carried into the smear table 11, it becomes possible to smear the next sample 2 while measuring the amount of contamination adhering to the filter paper 5a of the sample 2 in the standby table 14 during measurement. When inspecting the subject 2 of
The waiting time of the next subject 2 can be reduced by the measurement time of the previous subject 2 and the overall examination time can be shortened.
【0029】すなわち、複数のスミヤアーム5により、
ろ紙5aの枚数が増加して、ろ紙5aに付着した汚染量
の測定時間が延長したが、この延長分を含めて上記測定
時間に対応する待ち時間を無くしたので、長い検査時間
を要せずに被検体の表面汚染を広い面積にわたって検査
することができる。次に、本発明の第2の実施例につい
て説明する。That is, by the plurality of smear arms 5,
The number of filter papers 5a increased and the measurement time of the amount of contamination adhering to the filter papers 5a was extended. However, since the waiting time corresponding to the above measurement time including this extension was eliminated, a long inspection time was not required. Moreover, the surface contamination of the subject can be inspected over a wide area. Next, a second embodiment of the present invention will be described.
【0030】図3は、第2の実施例に係る表面汚染検査
装置の構成を示す図であり、図1と同一部分には同一符
号を付してその詳しい説明は省略し、ここでは異なる部
分についてのみ述べる。本実施例の表面汚染検査装置
は、図1に示す装置から測定時待機台14を省略した構
成である。FIG. 3 is a diagram showing the structure of the surface contamination inspection apparatus according to the second embodiment. The same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted. Will be described only. The surface contamination inspection apparatus according to the present embodiment has a configuration in which the standby table 14 for measurement is omitted from the apparatus shown in FIG.
【0031】すなわち、搬入コンベア1により,スミヤ
台11に搬入した被検体2を、スミヤ工程Sの終了後
に、搬出コンベア8によって次検査工程の検査台17へ
移送する。次に、この検査台17で当該被検体2に他の
検査を行う。このとき前記他の検査と並行して、測定制
御部15、汚染量測定装置6および汚染検査装置7によ
り,ろ紙5aの測定工程Mを行う。これにより、次検査
工程および,ろ紙検査工程を同時に行うことができる。
本実施例の表面汚染検査に関する動作は、前記第1の実
施例と同様である。That is, the subject 2 carried into the smear table 11 by the carry-in conveyor 1 is transferred to the inspection table 17 in the next test step by the carry-out conveyor 8 after the smear step S is completed. Next, another inspection is performed on the subject 2 on the inspection table 17. At this time, in parallel with the other inspections, the measurement control unit 15, the contamination amount measuring device 6, and the contamination inspection device 7 perform the measuring step M of the filter paper 5a. Thereby, the next inspection process and the filter paper inspection process can be performed at the same time.
The operation relating to the surface contamination inspection of this embodiment is the same as that of the first embodiment.
【0032】第2の実施例によれば、前記第1の実施例
と同様の効果に加え、スミヤ後に被検体1を移送する所
定の場所として検査システム内の適宜な検査台17を配
置しているので、各種の検査を行う検査システムの一環
として表面汚染検査が行われている場合には、スミヤ後
のろ紙5aの測定工程M中に被検体2を待機させること
なく、検査システム内の他の検査を行うことができる。According to the second embodiment, in addition to the same effect as the first embodiment, an appropriate inspection table 17 in the inspection system is arranged as a predetermined place for transferring the subject 1 after smearing. Therefore, when the surface contamination inspection is performed as a part of the inspection system that performs various inspections, the inspection object is not put on standby during the measurement step M of the filter paper 5a after smearing and other Can be inspected.
【0033】また、検査システムの中で表面汚染検査の
占める時間がスミヤ工程S分のみとなるので、検査シス
テムに占める表面汚染検査の時間割合を大幅に減らすこ
とができるとともに、検査システム全体の処理能力を大
幅に向上させることができる。Further, since the surface contamination inspection occupies only the smear step S in the inspection system, the time ratio of the surface contamination inspection occupying the inspection system can be greatly reduced and the entire inspection system can be processed. The ability can be greatly improved.
【0034】なお、第1および第2の実施例では、スミ
ヤ採取用部材としてろ紙を用いる場合について説明した
が、これに限らず他のものを用いる構成としても、本発
明を同様に実施できる。その他、本発明は、その要旨を
逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。In the first and second embodiments, the case where the filter paper is used as the smear collecting member has been described, but the present invention is not limited to this, and the present invention can be implemented in the same manner with other structures. In addition, the present invention can be variously modified and implemented without departing from the scope of the invention.
【0035】[0035]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、複
数のスミヤアームを用いて被検体のスミヤを行うととも
に、そのスミヤ工程と、ろ紙測定工程とを並列に実施す
るようにしたので、スミヤ効率を低下させることなく、
広い検査表面を短時間で検査でき、検査の効率の向上を
図ることができる。As described above, according to the present invention, a plurality of smear arms are used to smear a subject, and the smear process and the filter paper measuring process are performed in parallel. Without sacrificing efficiency
A wide inspection surface can be inspected in a short time, and the inspection efficiency can be improved.
【図1】本発明に係る表面汚染検査装置の第1の実施例
の概略構成を示す図。FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a first embodiment of a surface contamination inspection device according to the present invention.
【図2】本発明に係る表面汚染検査工程の様子を示すタ
イムチャート。FIG. 2 is a time chart showing a state of a surface contamination inspection process according to the present invention.
【図3】第2の実施例に係る表面汚染検査装置の構成を
示す図。FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a surface contamination inspection device according to a second embodiment.
【図4】従来の表面汚染検査装置の構成を示す図。FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a conventional surface contamination inspection device.
1…搬入コンベア、2…被検体、4…スミヤアーム、5
a…ろ紙、6…汚染量測定装置、7…汚染検査装置、8
…搬出コンベア、11…スミヤ台、12…スミヤ制御
部、13…搬送制御部、14…測定時待機台、15…測
定制御部、16…汚染検査手段。1 ... carry-in conveyor, 2 ... subject, 4 ... smear arm, 5
a ... filter paper, 6 ... contamination amount measuring device, 7 ... contamination inspection device, 8
... Carry-out conveyor, 11 ... Smear table, 12 ... Smear control section, 13 ... Conveyance control section, 14 ... Measurement stand-by stand, 15 ... Measurement control section, 16 ... Contamination inspection means.
Claims (1)
査装置において、 スミヤ台に載置された被検体の表面を、各々スミヤ採取
用部材が装着された複数のスミヤアームでスミヤするス
ミヤ制御手段と、 前記スミヤアームから取り外された各スミヤ採取用部材
より放出される放射線量に基づいて、前記被検体の表面
汚染を検査する汚染検査手段と、 被検体を前記スミヤ台まで搬送すると共に、スミヤの終
了した被検体を所定の場所へ搬送する搬送制御手段とを
備え、 前記汚染検査手段が前記スミヤの終了した被検体の表面
汚染を検査している間に、前記スミヤ制御手段が次の被
検体をスミヤすることを特徴とする表面汚染検査装置。1. A surface contamination inspecting apparatus for inspecting surface contamination of a subject, wherein smear control means for smearing a surface of a subject placed on a smear stand with a plurality of smear arms each having a smear collecting member mounted thereon. And a contamination inspection means for inspecting the surface contamination of the subject based on the radiation dose emitted from each smear sampling member removed from the smear arm, and transporting the subject to the smear table, A smear control means for transporting the finished specimen to a predetermined place, and while the contamination inspecting means examines the surface contamination of the smear-finished specimen, the smear control means performs the next specimen. Surface contamination inspection device characterized by smearing.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18241092A JPH0627243A (en) | 1992-07-09 | 1992-07-09 | Surface contamination inspecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18241092A JPH0627243A (en) | 1992-07-09 | 1992-07-09 | Surface contamination inspecting apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0627243A true JPH0627243A (en) | 1994-02-04 |
Family
ID=16117813
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18241092A Pending JPH0627243A (en) | 1992-07-09 | 1992-07-09 | Surface contamination inspecting apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0627243A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020091213A (en) * | 2018-12-06 | 2020-06-11 | 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 | Surface contamination density measurement system |
-
1992
- 1992-07-09 JP JP18241092A patent/JPH0627243A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020091213A (en) * | 2018-12-06 | 2020-06-11 | 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 | Surface contamination density measurement system |
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