JPH06259648A - Method for diagnosing cause of defect of electronic apparatus - Google Patents

Method for diagnosing cause of defect of electronic apparatus

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Publication number
JPH06259648A
JPH06259648A JP4422093A JP4422093A JPH06259648A JP H06259648 A JPH06259648 A JP H06259648A JP 4422093 A JP4422093 A JP 4422093A JP 4422093 A JP4422093 A JP 4422093A JP H06259648 A JPH06259648 A JP H06259648A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
defect
production rule
cause
inference engine
Prior art date
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Pending
Application number
JP4422093A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuhiro Toyoshima
康弘 豊島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kubota Corp
Original Assignee
Kubota Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kubota Corp filed Critical Kubota Corp
Priority to JP4422093A priority Critical patent/JPH06259648A/en
Publication of JPH06259648A publication Critical patent/JPH06259648A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To enable even a person other than an experts to diagnose the cause of a defect of an electronic apparatus like a vending machine in a short time. CONSTITUTION:A pertinent defect item is selected from defect items and is inputted to an operation controller provided with a knowledge base 4 and an inference engine 6 through a man-machine interface 10. Production rules are successively interpreted and executed by the inference engine 6 with respect to each of class frames corresponding to the defect item. The inspection position prescribed in the condition part of an executed production rule is displayed on the man-machine interface 10 to indicate the inspection. If the input value of the inspection result of this inspection position is normal, the inference engine 6 interprets and executes the next production rule by linking; but if the input value of the inspection result is abnormal, the diagnosis value prescribed in the operation part of the production rule is outputted as the diagnosis result to the man-machine interface 10.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、自動販売機等の電子機
器の不良原因の診断を支援する電子機器不良原因診断方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for diagnosing a cause of failure in an electronic device such as a vending machine, which assists in diagnosing a cause of failure in an electronic device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、自動販売機等の電子機器の製造ラ
インにおいては、作業者が完成した電子機器に対し、決
められた点検項目に関して作動チェックを行っている。
そして、不良項目が見つかると、過去のデータに基づい
て不良箇所を診断し、別途に用意した回路図や接続図等
を参照して不良原因を発見している。このような不良原
因の診断方法は、診断する電子機器に対する知識と診断
経験を蓄積した熟練者が必要であり、言わば熟練者の知
識と勘に頼って不良原因の診断を行っている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a manufacturing line for electronic devices such as vending machines, an operator performs an operation check on the completed inspection of the electronic devices with respect to predetermined inspection items.
When a defective item is found, the defective portion is diagnosed based on the past data, and the cause of the defect is found by referring to a separately prepared circuit diagram, connection diagram, or the like. Such a method of diagnosing a cause of failure requires a skilled person who has accumulated knowledge and diagnostic experience with respect to the electronic device to be diagnosed, so to speak, the cause of failure is diagnosed based on the knowledge and intuition of the expert.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記したよう
な不良原因の診断方法は熟練者を必要とするが、人手不
足のために作業者にパート工員や臨時工員が多く、熟練
作業者が育ち難い問題がある。また、診断作業を回路図
や接続図を参照しながら診断作業を行っているので、原
因追及に時間がかかる問題があった。さらに、作業者の
熟練度により診断時間や診断方法にムラが発生する問題
があった。
However, the above-described method of diagnosing the cause of a defect requires a skilled worker, but due to lack of manpower, there are many part workers and temporary workers, and skilled workers are trained. I have a difficult problem. Further, since the diagnostic work is performed while referring to the circuit diagram and the connection diagram, there is a problem that it takes time to investigate the cause. Furthermore, there is a problem in that the diagnosis time and the diagnosis method vary depending on the skill level of the operator.

【0004】本発明は上記課題を解決するもので、熟練
した作業者の知識と勘に頼っていた電子機器の診断を経
験の少ない作業者でも、熟練者とほぼ同等の診断を行う
ことができる電子機器不良原因診断方法を提供すること
を目的とする。
The present invention solves the above problems, and even a worker with little experience in diagnosing electronic equipment, which relies on the knowledge and intuition of a skilled worker, can make a diagnosis almost equivalent to that of a skilled worker. An object of the present invention is to provide a method for diagnosing the cause of failure in electronic equipment.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の電子機器不良診断方法は、電子機器の不良
原因の診断作業を遂行するための各種の経験則を、条件
部と動作部からなるプロダクション・ルールで規定し、
このプロダクション・ルールを関係する不良項目別に、
かつ階層的にクラス・フレームとして順次分類して格納
した知識ベースと、この知識ベース内の前記プロダクシ
ョン・ルールを解釈して実行する推論エンジンとを備え
た演算制御装置に対し、入力媒体を介して不良項目の中
から該当する不良項目を選択入力し、推論エンジンによ
って前記不良項目に対応するクラス・フレームごとに各
プロダクション・ルールを順次に解釈して実行し、実行
したプロダクション・ルールの条件部に規定する点検箇
所を出力媒体に表示して点検を指示し、この点検箇所に
対する点検結果入力値が”正常”であれば推論エンジン
により次のプロダクション・ルールを連鎖的に解釈して
実行し、点検結果入力値が”異常”であれば当該プロダ
クション・ルールの動作部に規定された診断値を診断結
果として出力媒体に出力する構成としたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above problems, an electronic device failure diagnosing method of the present invention uses various empirical rules for performing a diagnosing operation of a cause of failure of an electronic device, a condition section and an operation. Stipulated by production rules that consist of
For each defective item related to this production rule,
And to the arithmetic and control unit equipped with a knowledge base that is hierarchically classified and stored as a class frame sequentially and stored, and an inference engine that interprets and executes the production rules in this knowledge base, via an input medium. Select and input the corresponding defective item from the defective items, sequentially interpret and execute each production rule for each class frame corresponding to the defective item by the inference engine, and execute it in the condition part of the executed production rule. The specified inspection points are displayed on the output medium to instruct inspection, and if the inspection result input value for this inspection point is "normal", the inference engine will interpret the following production rules in a chained manner and execute the inspection. If the result input value is "abnormal", the diagnostic value specified in the operation part of the production rule is output as the diagnostic result. It is obtained by a configuration to output.

【0006】[0006]

【作用】上記した構成により、不良原因の診断を行うに
際して作業者は、演算処理装置に不良項目を入力した後
に、演算処理装置の指示に沿って点検箇所を点検するだ
けで、不良原因を発見することできる。したがって、熟
練者でなくとも、あるいは特別な知識を有しない作業者
であっても、確実にかつ短時間に不良項目の原因を診断
することができる。
With the above configuration, when diagnosing the cause of the defect, the operator finds the cause of the defect simply by checking the inspection point according to the instruction of the arithmetic processing unit after inputting the defective item into the arithmetic processing unit. You can do it. Therefore, even a person who is not an expert or an operator who has no special knowledge can surely diagnose the cause of the defective item in a short time.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図1は不良診断システム構成図であり、不良原
因診断システム1はエキスパートシステム2および知識
エディッタ3aとデータベース管理ユーティリティ3b
とで構成され、エキスパートシステム2は知識ベース
4、データベース5、推論エンジン6、インタフェース
ルーチン7、8、9およびマンマシンインタフェース1
0で構成されている。そして、不良原因診断システム1
の内、マンマシンインタフェース10を除く各構成要素
は、コンピュータの演算処理装置(図示せず)上に、プ
ログラムによって形成した機能回路を示すものであり、
マンマシンインタフェース10は出力媒体としてのディ
スプレーやプリンター等と、入力媒体としてのキーボー
ド等で構成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a defect diagnosis system. The defect cause diagnosis system 1 includes an expert system 2, a knowledge editor 3a, and a database management utility 3b.
The expert system 2 comprises a knowledge base 4, a database 5, an inference engine 6, interface routines 7, 8, 9 and a man-machine interface 1.
It consists of zero. And defect cause diagnosis system 1
In the figure, each component except the man-machine interface 10 represents a functional circuit formed by a program on an arithmetic processing unit (not shown) of a computer,
The man-machine interface 10 is composed of a display, a printer or the like as an output medium and a keyboard or the like as an input medium.

【0008】知識ベース4は、知識エディッタ3aを介
して熟練者の知識を格納するものであり、電子機器11
の不良原因の診断作業を遂行するための各種の経験則
を、条件部と動作部からなるプロダクション・ルールで
規定し、このプロダクション・ルールを関係する不良項
目別に、かつ階層的にクラス・フレームとして順次分類
して格納したものである。図2〜図4に示すように、最
上位の不良項目フレーム100には、スロットとしてラ
ンプ類フレーム20、コイン関係フレーム30、コラム
関係フレーム40等の大きな分類項目をなす下位フレー
ムを定義している。この各下位フレーム、例えばランプ
類フレーム20においては、小さな分類項目をなす売切
ランプフレーム21、販売ランプフレーム22、釣切ラ
ンプフレーム等のさらに下層の下位フレームを定義して
いる。そして、最下位のフレーム、例えば売切ランプフ
レーム21においては、点検すべき複数の診断箇所を定
義している。
The knowledge base 4 stores the knowledge of the expert through the knowledge editor 3a.
Various rules of thumb for performing the work of diagnosing the cause of failure of the are defined in the production rule consisting of the condition section and the operation section, and this production rule is hierarchically classified into related defective items and hierarchically as a class frame. It is classified and stored sequentially. As shown in FIG. 2 to FIG. 4, in the highest defective item frame 100, lower frames that form large classification items such as lamp frames 20, coin-related frames 30, column-related frames 40 are defined as slots. . In each of these lower frames, for example, the lamps frame 20, lower sold lower frames such as a sold-out lamp frame 21, a sold-out lamp frame 22 and a fishing-out lamp frame, which are small classification items, are defined. In the lowest frame, for example, the sold-out lamp frame 21, a plurality of diagnostic points to be inspected are defined.

【0009】推論エンジン6は、知識ベース4内のプロ
ダクション・ルールを解釈して実行するものである。ま
た、データベース5は過去に発生した不良項目とその原
因を記憶するものであり、データベース管理ユーティリ
ティ3bを介して入力する。
The inference engine 6 interprets and executes the production rules in the knowledge base 4. The database 5 stores defective items that have occurred in the past and their causes, and is input via the database management utility 3b.

【0010】以下、上記構成における作用を、図3〜図
4のフローチャート図を参照しながら説明する。始め
に、作業者12はマンマシンインタフェース10を介し
て不良原因診断システム1を起動する。不良原因診断シ
ステム1はマンマシンインタフェース10を介して上位
フレームの不良項目100の内容、つまり大まかな分類
であるランプ類20、コイン関係30、コラム関係40
等の項目を提示し、作業者12に選択を促す。その後、
作業者12の選択した下位フレームの項目、たとえば、
ランプ類20の内容を提示し、作業者12に再度選択を
促す。
The operation of the above structure will be described below with reference to the flow charts of FIGS. First, the worker 12 activates the failure cause diagnosis system 1 via the man-machine interface 10. The defect cause diagnosis system 1 uses the man-machine interface 10 to describe the contents of the defect item 100 in the upper frame, that is, the lamps 20, coins 30, and columns 40, which are roughly classified.
And the like, and prompts the worker 12 to make a selection. afterwards,
Items of the lower frame selected by the worker 12, for example,
The contents of the lamps 20 are presented and the operator 12 is prompted to select again.

【0011】作業者12は下位フレームの項目の中から
マンマシンインタフェース10の入力手段を介して不良
項目、たとえば売切ランプ21を選択入力し、選択終了
51する。このとき、複数の不良項目を選択指示するこ
とができる。
The worker 12 selects and inputs a defective item, for example, the sold-out lamp 21 from the items of the lower frame through the input means of the man-machine interface 10, and finishes the selection 51. At this time, a plurality of defective items can be selected and instructed.

【0012】不良原因診断システム1は推論エンジン6
によって前記不良項目に対応するクラス・フレームごと
に各プロダクション・ルールを解釈し、診断手順推論5
2を行い、マンマシンインタフェース10に選択した不
良項目における過去の不良原因の履歴を提示する。次
に、不良原因診断システム1はプロダクション・ルール
を解釈し、マンマシンインタフェース10を介して診断
手順(1)53を作業者12に提示し、点検箇所を指示
する。この内容は、売切ランプ21のフレームにスロッ
トとして定義したものである。
The failure cause diagnosis system 1 includes an inference engine 6
Interpret each production rule for each class frame corresponding to the defective item by
2 is performed, and the history of past defect causes in the selected defect item is presented on the man-machine interface 10. Next, the failure cause diagnosis system 1 interprets the production rules, presents the diagnosis procedure (1) 53 to the worker 12 via the man-machine interface 10, and instructs the inspection point. This content is defined as a slot in the frame of the sold-out lamp 21.

【0013】作業者12は診断手順(1)53によって
提示された電子機器11の点検箇所、たとえば、「コネ
クターCN36」等を点検した後に、マンマシンインタ
フェース10を介して点検結果入力54を行う。推論エ
ンジン6は点検結果入力値に基づいて「点検結果が異常
か否かを判断」55し、点検箇所に対する点検結果入力
値が”正常”であれば、つまり点検箇所に異常が認めら
れなければ、推論エンジン6は次のプロダクション・ル
ールを連鎖的に解釈して実行し、診断手順(n)56の
提示を繰り返す。また、点検結果入力値が”異常”であ
れば当該プロダクション・ルールの動作部に規定された
診断値を診断結果57としてマンマシンインタフェース
10の出力媒体に出力する。
The operator 12 performs inspection result input 54 via the man-machine interface 10 after inspecting the inspection location of the electronic device 11 presented by the diagnostic procedure (1) 53, for example, "connector CN36". The inference engine 6 "determines whether or not the inspection result is abnormal" 55 based on the inspection result input value. If the inspection result input value for the inspection location is "normal", that is, if the inspection location is not abnormal, The inference engine 6 interprets and executes the next production rule in a chained manner, and repeats the presentation of the diagnostic procedure (n) 56. If the inspection result input value is "abnormal", the diagnostic value defined in the operation part of the production rule is output as the diagnostic result 57 to the output medium of the man-machine interface 10.

【0014】したがって、不良原因の診断を行うに際し
て作業者12は、不良項目を入力した後に、不良原因診
断システム1の指示に沿って点検箇所を点検するだけ
で、不良原因を発見することできる。依って、熟練者で
なくとも、あるいは特別な知識を有しない作業者であっ
ても、確実にかつ短時間に不良項目の原因を診断するこ
とができる。
Therefore, when diagnosing the cause of the defect, the operator 12 can find the cause of the defect only by inputting the defect item and then inspecting the inspection location according to the instruction of the defect cause diagnosis system 1. Therefore, even a person who is not an expert or an operator who does not have special knowledge can surely diagnose the cause of the defective item in a short time.

【0015】また、作業者12はマンマシンインタフェ
ース10およびインタフェース7,9を介して知識ベー
ス4およびデータベース5の内容を推論エンジン6を通
すことなく直接に見ることができる。
Further, the worker 12 can directly see the contents of the knowledge base 4 and the database 5 through the man-machine interface 10 and the interfaces 7 and 9 without passing through the inference engine 6.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、作業
者は、演算処理装置の指示に沿って点検箇所を点検する
だけで、不良原因を発見でき、熟練者でなくとも、ある
いは特別な知識を有しない作業者であっても、確実にか
つ短時間に不良項目の原因を診断することができる。
As described above, according to the present invention, the operator can find out the cause of the defect only by inspecting the inspection point according to the instruction of the arithmetic processing unit, and even if the operator is not skilled or special Even a worker who does not have proper knowledge can surely diagnose the cause of the defective item in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例における不良原因診断システ
ム構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a defect cause diagnosis system according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施例におけるフレームの階層構造を示す図
である。
FIG. 2 is a diagram showing a hierarchical structure of frames in the embodiment.

【図3】同実施例における不良原因診断システムのフロ
ーチャート図である。
FIG. 3 is a flow chart of the defect cause diagnosis system in the embodiment.

【図4】同実施例における不良原因診断システムのフロ
ーチャート図である。
FIG. 4 is a flow chart of the defect cause diagnosis system in the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 不良原因診断システム 2 エキスパートシステム 4 知識ベース 5 データベース 6 推論エンジン 10 マンマシンインタフェース 11 電子機器 12 作業者 1 Failure Cause Diagnosis System 2 Expert System 4 Knowledge Base 5 Database 6 Inference Engine 10 Man-Machine Interface 11 Electronic Equipment 12 Worker

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子機器の不良原因の診断作業を遂行す
るための各種の経験則を、条件部と動作部からなるプロ
ダクション・ルールで規定し、このプロダクション・ル
ールを関係する不良項目別に、かつ階層的にクラス・フ
レームとして順次分類して格納した知識ベースと、この
知識ベース内の前記プロダクション・ルールを解釈して
実行する推論エンジンとを備えた演算制御装置に対し、
入力媒体を介して不良項目の中から該当する不良項目を
選択入力し、推論エンジンによって前記不良項目に対応
するクラス・フレームごとに各プロダクション・ルール
を順次に解釈して実行し、実行したプロダクション・ル
ールの条件部に規定する点検箇所を出力媒体に表示して
点検を指示し、この点検箇所に対する点検結果入力値
が”正常”であれば推論エンジンにより次のプロダクシ
ョン・ルールを連鎖的に解釈して実行し、点検結果入力
値が”異常”であれば当該プロダクション・ルールの動
作部に規定された診断値を診断結果として出力媒体に出
力することを特徴とする電子機器不良原因診断方法。
1. Various types of empirical rules for performing a diagnostic work of a cause of failure of an electronic device are defined by a production rule including a condition section and an operation section, and the production rule is classified according to related defective items and For an arithmetic and control unit equipped with a knowledge base that is hierarchically classified and stored as a class frame sequentially, and an inference engine that interprets and executes the production rules in this knowledge base,
Select and input the corresponding defective item from the defective items via the input medium, sequentially interpret and execute each production rule for each class frame corresponding to the defective item by the inference engine, and execute the executed production rule. The inspection point specified in the condition part of the rule is displayed on the output medium to instruct the inspection. If the inspection result input value for this inspection point is "normal", the inference engine interprets the next production rule in a chain. If the inspection result input value is "abnormal", the diagnostic value defined in the operation part of the production rule is output to the output medium as the diagnostic result, and the method for diagnosing the cause of failure of the electronic device is performed.
JP4422093A 1993-03-05 1993-03-05 Method for diagnosing cause of defect of electronic apparatus Pending JPH06259648A (en)

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