JPH06258181A - Eccentricity measuring apparatus - Google Patents

Eccentricity measuring apparatus

Info

Publication number
JPH06258181A
JPH06258181A JP7097593A JP7097593A JPH06258181A JP H06258181 A JPH06258181 A JP H06258181A JP 7097593 A JP7097593 A JP 7097593A JP 7097593 A JP7097593 A JP 7097593A JP H06258181 A JPH06258181 A JP H06258181A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
light
objective lens
objective
eccentricity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP7097593A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Haruo Ogawa
治男 小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP7097593A priority Critical patent/JPH06258181A/en
Publication of JPH06258181A publication Critical patent/JPH06258181A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To measure the eccentric states of a plurality of the surfaces of a lens under inspection at the same time. CONSTITUTION:An objective lens 4, which projects luminous flux on a first surface 6a and a second surface 6b of a lens' under inspection, is formed of at least two or more objective lenses 4a and 4b having the same optical axis. The objective lenses 4a and 4b are provided so that the lenses can be moved singly in the direction of the optical axis. In this way, the luminous flux from a light source 1, which is transmitted through a collimate lens 2 and a beam splitter 3, is projected on the first surface 6a and the second surface 6b of the lens under inspection 6 at the same time, respectively, through the objective lenses 4a and 4b. The eccentriciy of the lens under inspection 6 is measured at the same time.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、球面または非球面形状
をもつレンズ群の偏心を測定する偏心測定装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an eccentricity measuring device for measuring the eccentricity of a lens unit having a spherical or aspherical shape.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、多くのレンズ面をもつ被検レンズ
の組み立て中もしくは組み立て後に、各レンズ面の偏心
を測定する偏心測定装置としては実開平1−7541号
公報に開示されたものが知られている。図8は、上記偏
心測定装置を示し、51は光源、52はコンデンサーレ
ンズ、53は指標、54は半透鏡、55はコリメートレ
ンズ、56はビームスプリッタ、57,58,59はミ
ラー、60,61は対物レンズ、62は2次元センサ
ー、63はA/D変換器、64はマイクロコンピュータ
ー、65は回転ステージの駆動部、66は回転ステージ
の保持部であり、被検レンズ67は、回転ステージの保
持部66に保持されるようになっている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as an eccentricity measuring device for measuring the eccentricity of each lens surface during or after assembling a lens to be inspected having many lens surfaces, the one disclosed in Japanese Utility Model Laid-Open No. 1-7541 is known. Has been. FIG. 8 shows the eccentricity measuring device, wherein 51 is a light source, 52 is a condenser lens, 53 is an index, 54 is a semi-transparent mirror, 55 is a collimating lens, 56 is a beam splitter, 57, 58 and 59 are mirrors, and 60 and 61. Is an objective lens, 62 is a two-dimensional sensor, 63 is an A / D converter, 64 is a microcomputer, 65 is a driving unit for the rotary stage, 66 is a holding unit for the rotary stage, and a lens 67 is a rotary stage. It is configured to be held by the holding portion 66.

【0003】光源51を点灯すると、光源51からの光
はコンデンサーレンズ52により集光されて指標53を
照明する。照明された指標53からの光は半透鏡54を
透過してコリメートレンズ55により平行光束化され、
この平行光束はビームスプリッタ56により2光束に分
割される。分割された光束の一方は、回転ステージの保
持部66に保持された被検レンズ67の表面側に到る行
路を進むが、この行路には前記対物レンズ60が光軸方
向へ可動に配備されている。
When the light source 51 is turned on, the light from the light source 51 is condensed by the condenser lens 52 and illuminates the index 53. The light from the illuminated index 53 passes through the semi-transparent mirror 54 and is converted into a parallel light flux by the collimator lens 55,
This parallel light beam is split into two light beams by the beam splitter 56. One of the divided luminous fluxes travels along a path reaching the surface side of the lens 67 to be tested held by the holding unit 66 of the rotary stage, and the objective lens 60 is movably arranged in the optical axis direction on this path. ing.

【0004】また、ビームスプリッタ56により分割さ
れた他方の光束は、行路形成部材を構成するミラー5
7,58,59により形成された行路を進み、被検レン
ズ67の裏面に到るが、こちらの行路に前記対物レンズ
61が光軸方向へ可動に配備されている。また、被検レ
ンズ67は、その表面側から裏面側へ向かって、複数の
レンズ面67a,67b,・・・67mを有している。
The other light beam split by the beam splitter 56 is a mirror 5 forming a path forming member.
The objective lens 61 is arranged movably in the optical axis direction along the path formed by 7, 58 and 59 and reaching the back surface of the lens 67 to be inspected. Further, the test lens 67 has a plurality of lens surfaces 67a, 67b, ... 67m from the front surface side to the back surface side.

【0005】次に、上記偏心測定装置の作用を説明す
る。まず、対物レンズ60の位置を調整し、指標53の
像が、被検レンズ面67aの曲率中心Pに投影されるよ
うにする。このとき、レンズ面67aに偏心がなければ
曲率中心点Pは光軸上に位置するが、レンズの偏心によ
り実際には光軸からずれた位置になる。そして、レンズ
面67aによる反射光は、対物レンズ60、ビームスプ
リッタ56、コリメートレンズ55を逆進して半透鏡5
4により反射され、2次元センサー62上に指標53の
反射像P1 を結像する。
Next, the operation of the eccentricity measuring device will be described. First, the position of the objective lens 60 is adjusted so that the image of the index 53 is projected on the center of curvature P of the lens surface 67a to be tested. At this time, if the lens surface 67a is not eccentric, the center point P of curvature is located on the optical axis, but is actually displaced from the optical axis due to the eccentricity of the lens. Then, the light reflected by the lens surface 67 a moves backward through the objective lens 60, the beam splitter 56, and the collimator lens 55, and then the semitransparent mirror 5 is reached.
The reflected image P 1 of the index 53 is imaged on the two-dimensional sensor 62 by being reflected by 4.

【0006】また、対物レンズ61の位置を光軸上で調
整して、指標53の像が上記曲率中心Pの極近傍の位
置、即ち上記曲率中心点Pが本来位置すべき位置に投影
されるようにする。このとき入射光束はレンズ面67m
〜67bの屈折によりレンズ面67aの裏側の曲率中心
Pに投影される。そして、反射光は入射行路を逆に進ん
で半透鏡54により反射され、2次元センサー62上に
指標53の反射像P2 を結像する。
Further, by adjusting the position of the objective lens 61 on the optical axis, the image of the index 53 is projected to a position in the immediate vicinity of the center of curvature P, that is, the position where the center of curvature P should originally be located. To do so. At this time, the incident light beam has a lens surface of 67 m.
It is projected on the center of curvature P on the back side of the lens surface 67a by refraction of ˜67b. Then, the reflected light travels in the opposite direction of the incident path and is reflected by the semi-transparent mirror 54 to form a reflected image P 2 of the index 53 on the two-dimensional sensor 62.

【0007】図9は、2次元センサー62の受光面62
aに結像した反射像P1 ,P2 を示し、この状態におい
て2次元センサー62の出力は、A/D変換器63によ
りデジタル化されてマイクロコンピュータ64に取り込
まれる。このデータは反射像P1 ,P2 の座標データで
ある。続いて、回転ステージの駆動部65により保持部
66を回転させる。回転に伴い、2次元センサー62上
の反射像P1 ,P2 は、図9に示すようにそれぞれ
1 ,02 を中心とする円を描いて回転する。
FIG. 9 shows the light receiving surface 62 of the two-dimensional sensor 62.
The reflected images P 1 and P 2 formed on a are shown, and in this state, the output of the two-dimensional sensor 62 is digitized by the A / D converter 63 and taken into the microcomputer 64. This data is the coordinate data of the reflection images P 1 and P 2 . Then, the holder 66 is rotated by the drive unit 65 of the rotary stage. Along with the rotation, the reflected images P 1 and P 2 on the two-dimensional sensor 62 rotate in circles centering on 0 1 and 0 2 , respectively, as shown in FIG.

【0008】この円の回転半径はレンズ面67aの偏心
量と比例関係にあり、その比例定数はコリメートレンズ
55と対物レンズ60または61とによる光学系の倍率
から決まる。また、点01 と反射像P1 とのなす直線の
方向により偏心がどの方向に起こっているかを知ること
ができる。
The radius of gyration of this circle is proportional to the amount of eccentricity of the lens surface 67a, and its proportional constant is determined by the magnification of the optical system formed by the collimator lens 55 and the objective lens 60 or 61. Further, it is possible to know in which direction the eccentricity is occurring from the direction of the straight line formed by the point 0 1 and the reflected image P 1 .

【0009】マイクロコンピュータ64は、回転ステー
ジにより被検レンズ67を回転させながら反射像P1
2 の座標データを取り込み、そのデータに基づき所定
の演算を行って上記回転半径を算出し、その値に基づき
被検レンズ67のレンズ面67aの偏心量を算出する。
このようにして、順次被検レンズ67のレンズ面67
a,67b,67c・・・67mの偏心を算出する。そ
して、各レンズ面の偏心量は、それぞれの表裏の偏心量
データの平均値として求める。以上により、被検レンズ
67の各面の偏心の状態を表裏両側から測定することが
できる。
The microcomputer 64 rotates the lens 67 to be inspected by the rotating stage while reflecting the reflected image P 1 ,
The coordinate data of P 2 is taken in, a predetermined calculation is performed based on the data to calculate the radius gyration, and the eccentricity of the lens surface 67a of the lens 67 to be tested is calculated based on the value.
In this way, the lens surface 67 of the lens 67 to be tested is sequentially
The eccentricity of a, 67b, 67c ... 67m is calculated. Then, the eccentricity amount of each lens surface is obtained as an average value of the eccentricity amount data of the respective front and back surfaces. As described above, the eccentricity state of each surface of the lens 67 to be tested can be measured from both front and back sides.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の偏
心測定装置にあっては、被検レンズ67の各レンズ面6
7a,67b,67c・・・67mの偏心状態をそれぞ
れ各レンズ面単独に検出しなければならないため、その
測定に多大な時間を要するという問題点があった。本発
明は、上記従来技術の問題点に鑑みてなされたもので、
被検レンズの複数のレンズ面に対して、同時に偏心の測
定をすることができる偏心測定装置を提供することを目
的とする。
However, in the above-mentioned conventional eccentricity measuring device, each lens surface 6 of the lens 67 to be inspected.
The eccentricity states of 7a, 67b, 67c, ..., 67m must be detected individually for each lens surface, so that there is a problem that it takes a lot of time for the measurement. The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art,
An object of the present invention is to provide an eccentricity measuring device capable of simultaneously measuring eccentricity with respect to a plurality of lens surfaces of a lens to be tested.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、被検レンズに光を投射する対物レンズを
同じ光軸をもつ少なくとも2つ以上の対物レンズで分割
構成するとともに、分割構成した各対物レンズを単独で
光軸方向に移動可能に設け、各対物レンズ毎に被検レン
ズのレンズ面に光を同時に投射し、複数のレンズ面の偏
心を同時に測定し得るようにした。
In order to achieve the above object, the present invention is configured such that an objective lens for projecting light onto a lens under test is divided into at least two objective lenses having the same optical axis, and Each of the divided objective lenses is provided so as to be movable independently in the optical axis direction, and light is simultaneously projected onto the lens surface of the lens to be tested for each objective lens so that the eccentricity of multiple lens surfaces can be measured at the same time. .

【0012】図1は、本発明の偏心測定装置を概略的に
示す構成図で、光源1と、光源1からの光束を平行にす
るコリメートレンズ2と、コリメートレンズ2からの光
束を被検レンズ6に投射する対物レンズ4と、コリメー
トレンズ2と対物レンズ4の間に配置し被検レンズ6で
反射した光を上記光源1側とは別の行路に変換するビー
ムスプリッタ3と、ビームスプリッタ3で行路変換した
光を集光する集光レンズ7と、集光レンズ7で集光した
点像Pの中心座標を検出する検出部8と、検出部8の信
号により被検レンズ6の偏心を算出する演算部9とから
なり、上記対物レンズ4は、1つの対物レンズをその光
軸を含む面で分割して形成するとともに、それぞれ独立
して光軸方向に移動可能で、被検レンズ6の第1面6a
と第2面6bとにそれぞれ光束を投射する第1の対物レ
ンズ4aと第2の対物レンズ4bとから構成されてい
る。
FIG. 1 is a block diagram schematically showing an eccentricity measuring apparatus of the present invention. A light source 1, a collimator lens 2 for collimating a light beam from the light source 1, and a light beam from the collimator lens 2 are to be tested. 6, an objective lens 4 for projecting light onto the light source 6, a beam splitter 3 arranged between the collimator lens 2 and the objective lens 4 for converting the light reflected by the lens 6 under test into a path different from the light source 1 side, and the beam splitter 3 The condenser lens 7 that condenses the light whose path has been changed by the detector 7, the detector 8 that detects the center coordinates of the point image P condensed by the condenser lens 7, and the eccentricity of the lens 6 to be detected by the signal of the detector 8 The objective lens 4 is formed by dividing one objective lens by a plane including its optical axis, and is movable independently in the optical axis direction. First surface 6a of
And a second objective lens 4b for projecting a light beam onto the second surface 6b, respectively.

【0013】[0013]

【作用】上記構成によれば、光源1からの光は、コリメ
ートレンズ2、ビームスプリッタ3を透過して、第1の
対物レンズ4aと、第2の対物レンズ4bに入射する。
第1の対物レンズ4aはその焦点位置が被検レンズ6の
第1面6aの曲率中心に合致するよう光軸方向で移動配
置され、第1面6aに垂直に光を投射する。一方、第2
の対物レンズ4bは、その焦点位置が被検レンズ6の第
2面6bの曲率中心に合致するよう移動配置され、第2
面6bに垂直に光を投射する。第1面6a、第2面6b
で反射したそれぞれの反射光は、入射光とは逆進してビ
ームスプリッタ3で反射して光路変換され、集光レンズ
7により検出部8にそれぞれ集光されて2つの点像Pを
形成し、この2つの点像Pのそれぞれの中心座標が検出
部8にて検出される。
According to the above construction, the light from the light source 1 passes through the collimator lens 2 and the beam splitter 3 and enters the first objective lens 4a and the second objective lens 4b.
The first objective lens 4a is moved and arranged in the optical axis direction so that the focal position of the first objective lens 4a coincides with the center of curvature of the first surface 6a of the lens 6 to be inspected, and projects light perpendicularly to the first surface 6a. Meanwhile, the second
Objective lens 4b is moved and arranged so that the focal position thereof coincides with the center of curvature of the second surface 6b of the lens 6 to be inspected.
Light is projected perpendicularly to the surface 6b. First surface 6a, second surface 6b
Each of the reflected lights reflected by the laser light travels backward from the incident light, is reflected by the beam splitter 3 and undergoes optical path conversion, and is condensed by the condenser lens 7 on the detector 8 to form two point images P. The center coordinates of the two point images P are detected by the detection unit 8.

【0014】かかる状態において、被検レンズ6をある
基準軸を中心に回転させると、被検レンズ6がその基準
軸に対して偏心している場合、検出部8上の2つの点像
Pはある大きさの半径をもって回転する。この回転半径
を演算部9で求めることにより、被検レンズ6の第1面
6aと第2面6bの偏心状態が求められる。
When the lens 6 to be inspected is rotated about a reference axis in such a state, when the lens 6 to be inspected is eccentric with respect to the reference axis, there are two point images P on the detector 8. Rotate with a radius of size. The eccentricity of the first surface 6a and the second surface 6b of the lens 6 to be measured can be obtained by calculating this radius of gyration by the calculation unit 9.

【0015】[0015]

【実施例1】図2は、本発明の実施例1を概略的に示す
構成図である。本実施例の偏心測定装置は、光源1と、
光源1からの光束を平行にするコリメートレンズ2と、
コリメートレンズ2からの光束を被検レンズ6に投射す
る対物レンズ10と、コリメートレンズ2と対物レンズ
10との間に配置され被検レンズ6で反射した光を光源
1側とは別の光路に変換するビームスプリッタ3と、ビ
ームスプリッタ3で光路変換した光を集光する集光レン
ズ7と、集光レンズ7で集光した点像Pを受光するTV
カメラ11と、TVカメラ11の信号より画像処理し
て、被検レンズ6の偏心を算出する画像処理装置12と
からなっている。
First Embodiment FIG. 2 is a schematic diagram showing a first embodiment of the present invention. The eccentricity measuring apparatus of this embodiment includes a light source 1,
A collimating lens 2 for collimating the light flux from the light source 1,
The objective lens 10 that projects the light beam from the collimator lens 2 onto the lens 6 to be inspected, and the light that is arranged between the collimator lens 2 and the objective lens 10 and reflected by the lens 6 to be inspected is on an optical path different from the light source 1 side. A beam splitter 3 for converting, a condensing lens 7 for condensing the light whose path is changed by the beam splitter 3, and a TV for receiving a point image P condensed by the condensing lens 7.
It is composed of a camera 11 and an image processing device 12 that performs image processing based on a signal from the TV camera 11 to calculate the eccentricity of the lens 6 to be inspected.

【0016】上記対物レンズ10は、1つの対物レンズ
をその光軸を含む面で分割して形成した第1の対物レン
ズ10aと第2の対物レンズ10bとから構成されてい
る。第1の対物レンズ10aは、第1のレンズ枠13a
を介して第1の対物レンズ10aの光軸方向に移動可能
な第2の移動ステージ14aに取り付けられるととも
に、第2の対物レンズ10bは、第2のレンズ枠13b
を介して第2の対物レンズ10bの光軸方向に移動可能
な第2の移動ステージ14bに取り付けられ、被検レン
ズ6の任意の2面(図にあっては、第1の対物レンズ1
0aは第1面6a、第2の対物レンズ10bは第2面6
b)にそれぞれコリメートレンズ2からの光束を投射し
得るようになっている。上記被検レンズ6は、レンズ枠
15内に組み立てられた複数枚数のレンズ群からなり、
レンズ枠15の外径を基準ブロック16に押し当てて回
転し得るように保持されている。
The objective lens 10 is composed of a first objective lens 10a and a second objective lens 10b which are formed by dividing one objective lens by a plane including its optical axis. The first objective lens 10a includes a first lens frame 13a.
The second objective lens 10b is attached to the second moving stage 14a that is movable in the optical axis direction of the first objective lens 10a via the second lens frame 13b.
Is attached to a second moving stage 14b that is movable in the optical axis direction of the second objective lens 10b via the lens, and any two surfaces of the lens 6 to be inspected (the first objective lens 1 in FIG.
0a is the first surface 6a, and the second objective lens 10b is the second surface 6a.
The light flux from the collimator lens 2 can be projected on each of b). The test lens 6 includes a plurality of lens groups assembled in the lens frame 15,
The outer diameter of the lens frame 15 is pressed against the reference block 16 and is held so as to be rotatable.

【0017】次に、本実施例の偏心測定装置の作用を説
明する。光源1からの光はコリメートレンズ2、ビーム
スプリッタ3を透過して、第1の対物レンズ10a、第
2の対物レンズ10bに入射する。第1の対物レンズ1
0aは、その焦点位置が被検レンズ6の第1面6aの曲
率中心に合致するよう第1のステージ14aを光軸方向
に移動させて配置され、第1面6aに垂直に光を投射す
る。一方、第2の対物レンズ10bは、その焦点位置が
被検レンズ6の第2面6bの曲率中心に合致するよう第
2の移動ステージ14bを光軸方向に移動させて配置さ
れ、第2面6bに垂直に光を投射する。
Next, the operation of the eccentricity measuring apparatus of this embodiment will be described. The light from the light source 1 passes through the collimator lens 2 and the beam splitter 3, and enters the first objective lens 10a and the second objective lens 10b. First objective lens 1
0a is arranged by moving the first stage 14a in the optical axis direction so that the focal position thereof matches the center of curvature of the first surface 6a of the lens 6 to be inspected, and projects light perpendicularly to the first surface 6a. . On the other hand, the second objective lens 10b is arranged by moving the second moving stage 14b in the optical axis direction so that the focal position of the second objective lens 10b matches the center of curvature of the second surface 6b of the lens 6 to be inspected. Light is projected perpendicularly to 6b.

【0018】投射した光は第1面6a、第2面6bで反
射し、それぞれの反射光は、入射光路を逆進してビーム
スプリッタ3で反射して光路変換され、集光レンズ7に
よりTVカメラ11にそれぞれ集光されて2つの点像P
を形成する。そして、TVカメラ11の信号を画像処理
装置12にて画像処理することにより、この2つの点像
Pのそれぞれの中心座標が求められる。
The projected light is reflected by the first surface 6a and the second surface 6b, and the respective reflected lights travel backward in the incident optical path and are reflected by the beam splitter 3 to be converted into an optical path. Two point images P collected by the camera 11
To form. Then, the signals of the TV camera 11 are subjected to image processing by the image processing device 12, whereby the center coordinates of each of the two point images P are obtained.

【0019】かかる状態において、レンズ枠15の外径
を基準ブロック16に押し当てながら被検レンズ6を回
転させると、被検レンズ6の第1面6aならびに第2面
6bがレンズ枠15の中心軸に対して偏心している場
合、TVカメラ11上の2つの点像Pはある大きさの半
径をもって回転する。この回転半径を画像処理装置12
で求めることにより、被検レンズ6の第1面6aならび
に第2面6bの偏心状態が同時に求められる。
In this state, when the lens under test 6 is rotated while pressing the outer diameter of the lens frame 15 against the reference block 16, the first surface 6a and the second surface 6b of the lens under test 6 are centered on the lens frame 15. When decentered with respect to the axis, the two point images P on the TV camera 11 rotate with a certain radius. This turning radius is used as the image processing device 12.
By the above, the eccentricity of the first surface 6a and the second surface 6b of the lens 6 to be inspected can be obtained at the same time.

【0020】同様にして、第1の対物レンズ10aを、
その焦点位置が被検レンズ6の第3面6cの曲率中心に
合致するよう第1のステージ14aを移動して第3面6
cに垂直に光を投射するとともに、第2の対物レンズ1
0bを、その焦点位置が被検レンズ6の第4面6dの曲
率中心に合致するよう第2の移動ステージ14bを移動
して第4面6dに垂直に光を投射することにより、被検
レンズ6の第3面6cならびに第4面6dの偏心状態が
同時に求められる。このようにして、順次測定すること
により、複数面を持つ被検レンズ6各面の偏心を求める
ことができる。
Similarly, the first objective lens 10a is
The first stage 14a is moved so that the focal position thereof coincides with the center of curvature of the third surface 6c of the lens 6 to be inspected.
The light is projected perpendicularly to c and the second objective lens 1
0b is moved by moving the second moving stage 14b so that the focal position thereof coincides with the center of curvature of the fourth surface 6d of the lens 6 to be inspected to project light perpendicularly to the fourth surface 6d. The eccentric states of the third surface 6c and the fourth surface 6d of 6 are simultaneously obtained. By sequentially measuring in this manner, the eccentricity of each surface of the lens 6 under test having a plurality of surfaces can be obtained.

【0021】本実施例によれば、対物レンズ10を第
1、第2の対物レンズ10a,10bの2つに分割した
ので、被検レンズ6の2つの面の偏心を同時に測定する
ことができる。また、画像処理装置12で点像Pの中心
座標を求めているため、測定に悪影響を及ぼすフレア光
を画像処理でカットできるためより高精度に測定するこ
とができる。
According to this embodiment, since the objective lens 10 is divided into the first and second objective lenses 10a and 10b, the eccentricity of the two surfaces of the lens 6 to be tested can be measured at the same time. . Further, since the image processing device 12 obtains the center coordinates of the point image P, flare light which adversely affects the measurement can be cut by the image processing, and thus the measurement can be performed with higher accuracy.

【0022】[0022]

【実施例2】図3は、本発明の実施例2を概略的に示す
構成図である。本実施例の偏心測定装置は、光源1と、
光源1からの光束を平行にするコリメートレンズ2と、
コリメートレンズ2からの光束を被検レンズ6に投射す
る対物レンズ20と、コリメートレンズ2と対物レンズ
20との間に配置され被検レンズ6で反射した光を光源
1側とは別の光路に変換するビームスプリッタ3と、ビ
ームスプリッタ3で光路変換した光を集光する集光レン
ズ7と、集光レンズ7で集光した点像Pの中心座標を検
出する光位置検出素子21と、光位置検出素子21の信
号を処理して被検レンズ6の偏心を算出する信号処理部
22とからなっている。
Second Embodiment FIG. 3 is a schematic diagram showing a second embodiment of the present invention. The eccentricity measuring apparatus of this embodiment includes a light source 1,
A collimating lens 2 for collimating the light flux from the light source 1,
The objective lens 20 that projects the light beam from the collimator lens 2 onto the test lens 6, and the light reflected by the test lens 6 that is arranged between the collimator lens 2 and the objective lens 20 is provided on an optical path different from the light source 1 side. A beam splitter 3 for converting, a condensing lens 7 for condensing the light whose optical path is converted by the beam splitter 3, an optical position detecting element 21 for detecting the central coordinates of the point image P condensed by the condensing lens 7, and a light The signal processing unit 22 processes the signal from the position detection element 21 to calculate the eccentricity of the lens 6 to be inspected.

【0023】対物レンズ20は、1つの対物レンズをそ
の光軸に平行な2つの面で3分割して形成した第1の対
物レンズ20a、第2の対物レンズ20b、第3の対物
レンズ20cとから構成されている。第1,第2,第3
の対物レンズ20a,20b,20cは、上記実施例1
と同様にそれぞれ光軸方向に移動可能な移動ステージ
(図示省略)に取り付けられており、被検レンズ6の任
意の3つの面6a,6b,6cにコリメートレンズ2か
らの光束を投射し得るようになっている。
The objective lens 20 includes a first objective lens 20a, a second objective lens 20b, and a third objective lens 20c which are formed by dividing one objective lens into two planes parallel to the optical axis thereof. It consists of 1st, 2nd, 3rd
The objective lenses 20a, 20b, 20c of Example 1 are the same as those in the first embodiment.
Are mounted on movable stages (not shown) that are movable in the optical axis direction, respectively, so that the light flux from the collimator lens 2 can be projected onto any three surfaces 6a, 6b, 6c of the lens 6 under test. It has become.

【0024】上記ビームスプリッタ3と集光レンズ7と
の間には、液晶シャッター23が配置されている。液晶
シャッター23は、図4に示すように、第1,第2,第
3の対物レンズ20a,20b,20cを通過した反射
光を個別的に通過、遮断し得るように、上記信号処理部
232により制御されて光線を任意に遮断可能な23a
部,23b部,23c部が設けられている。また、被検
レンズ6は6a,6b,6cの3つの面を持ち、面6b
を接合面とした2枚のレンズからなる接合レンズであ
り、回転スピンドル24の上に保持されている。
A liquid crystal shutter 23 is arranged between the beam splitter 3 and the condenser lens 7. As shown in FIG. 4, the liquid crystal shutter 23 is provided with the signal processing unit 232 so that the reflected light that has passed through the first, second, and third objective lenses 20a, 20b, and 20c can individually pass and be blocked. 23a capable of arbitrarily blocking light rays by controlling
Section, 23b section, and 23c section are provided. Further, the lens 6 to be inspected has three surfaces 6a, 6b and 6c, and the surface 6b
It is a cemented lens made up of two lenses with the cemented surface as a cemented surface, and is held on the rotary spindle 24.

【0025】次に、本実施例の偏心測定装置の作用を説
明する。光源1からの光は、コリメートレンズ2,ビー
ムスプリッタ3を通過して、第1の対物レンズ20a、
第2の対物レンズ20b、第3の対物レンズ20cに入
射する。第1のレンズ20aは、その焦点位置が被検レ
ンズ6の第1面6aの曲率中心に合致するよう配置さ
れ、第1面6aに垂直に光を投射する。一方、第2の対
物レンズ20bは、その焦点位置が被検レンズ6の接合
面である第2面6bの曲率中心に合致するよう配置さ
れ、第2面6bに垂直に光を投射する。また、第3の対
物レンズ20cは、その焦点位置が被検レンズ6の第3
面6cの曲率中心に合致するよう配置され、第3面6c
に垂直に光を投射する。そして、投射した光は第1面6
a、第2面6b、第3面6cで反射し、それぞれの反射
光は、入射光路を逆進してビームスプリッタ3で反射し
て光路変換される。
Next, the operation of the eccentricity measuring device of this embodiment will be described. The light from the light source 1 passes through the collimator lens 2 and the beam splitter 3, and the first objective lens 20a,
It is incident on the second objective lens 20b and the third objective lens 20c. The first lens 20a is arranged so that its focal position matches the center of curvature of the first surface 6a of the lens 6 to be inspected, and projects light perpendicularly to the first surface 6a. On the other hand, the second objective lens 20b is arranged so that the focal position thereof coincides with the center of curvature of the second surface 6b which is the cemented surface of the lens 6 to be inspected, and projects light perpendicularly to the second surface 6b. In addition, the focal position of the third objective lens 20c is the third objective lens 20c.
The third surface 6c is arranged so as to match the center of curvature of the surface 6c.
The light is projected vertically to. Then, the projected light is the first surface 6
a, the second surface 6b, and the third surface 6c are reflected, and the respective reflected lights travel backward in the incident optical path and are reflected by the beam splitter 3 to undergo optical path conversion.

【0026】かかる状態において、信号処理部22で液
晶シャッター23を制御し、第1面6aの反射光が通過
する23a部のみの光を通し、23b部、23c部の光
を遮断することにより、第1面6aの反射光のみが集光
レンズ7によって光位置検出素子21に集光され、その
点像Pが形成される。このとき、信号処理部22により
第1面6aの反射光による点像Pの中心座標が求められ
る。従って、被検レンズ6を回転スピンドル24により
回転させ、液晶シャッター23の21a部、21b部、
21c部のいずれかを順次開きながら信号処理部22に
より点像Pの中心座標を求めることにより、被検レンズ
6の第1面6a、第2面6b、第3面6cそれぞれの前
記回転スピンドル24の回転軸に対する偏心状態が求め
られる。さらに、その後、被検レンズ6の第1面6a、
第3面6cの曲率中心を結ぶ軸を基準として演算すれ
ば、接合面6bの偏心が求められる。このように本実施
例によれば、被検レンズ6である接合レンズの接合面6
bの偏心を短時間に測定することができる。
In this state, the signal processing unit 22 controls the liquid crystal shutter 23 to allow only the light of the portion 23a through which the reflected light of the first surface 6a passes and block the light of the portions 23b and 23c. Only the reflected light from the first surface 6a is condensed by the condenser lens 7 on the optical position detecting element 21, and the point image P is formed. At this time, the signal processing unit 22 obtains the center coordinates of the point image P by the reflected light of the first surface 6a. Therefore, the lens 6 to be inspected is rotated by the rotary spindle 24, and the 21a and 21b parts of the liquid crystal shutter 23 are
The center coordinates of the point image P are obtained by the signal processing unit 22 while sequentially opening any one of the parts 21c, so that the rotary spindle 24 of each of the first surface 6a, the second surface 6b, and the third surface 6c of the lens 6 to be tested. The eccentricity with respect to the rotation axis of is required. Furthermore, after that, the first surface 6a of the lens 6 to be inspected,
The eccentricity of the joint surface 6b can be obtained by calculating with the axis connecting the centers of curvature of the third surfaces 6c as a reference. As described above, according to the present embodiment, the cemented surface 6 of the cemented lens that is the lens 6 to be inspected.
The eccentricity of b can be measured in a short time.

【0027】[0027]

【実施例3】図5は、本発明の実施例3を概略的に示す
構成図である。本実施例の偏心測定装置は、光源1と、
光源1からの光束を平行にするコリメートレンズ2と、
コリメートレンズ2からの光束を被検レンズ6に投射す
る対物レンズ30と、コリメートレンズ2と対物レンズ
30との間に配置され被検レンズ6で反射した光を光源
1側とは別の光路に変換する第1のビームスプリッタ3
1と、第1のビームスプリッタ31で光路変換した光を
2分割する第2の対物レンズ32と、2分された一方の
光を集光する第1の集光レンズ33aと、第1の集光レ
ンズ33aで集光した点像Pの中心座標を検出する第1
の光位置検出素子34aと、上記第2の集光レンズ32
で2分された他方の光を反射させる反射ミラー35と、
反射ミラー35からの光を集光する第2の集光レンズ3
3bと、第2の集光レンズ33bで集光した点像Pの中
心座標を検出する第2の光位置検出素子34bと、前記
第1の光位置検出素子34aと第2の光位置検出素子3
4bからの信号により被検レンズ6の偏心を算出する演
算部36とからなっている。
Third Embodiment FIG. 5 is a schematic diagram showing a third embodiment of the present invention. The eccentricity measuring apparatus of this embodiment includes a light source 1,
A collimating lens 2 for collimating the light flux from the light source 1,
The objective lens 30 which projects the light flux from the collimator lens 2 onto the lens 6 to be inspected, and the light which is arranged between the collimator lens 2 and the objective lens 30 and reflected by the lens 6 to be inspected, is provided on an optical path different from the light source 1 side. First beam splitter 3 for conversion
1, a second objective lens 32 that splits the light whose optical path has been changed by the first beam splitter 31, into two, a first condensing lens 33a that condenses one of the two halved lights, and a first collective lens 33a. First to detect the center coordinates of the point image P condensed by the optical lens 33a
Optical position detecting element 34a and the second condenser lens 32
A reflection mirror 35 that reflects the other light divided by
Second condenser lens 3 for condensing the light from the reflection mirror 35
3b, a second light position detecting element 34b for detecting the center coordinates of the point image P condensed by the second condenser lens 33b, the first light position detecting element 34a and the second light position detecting element. Three
4b, and a calculation unit 36 that calculates the eccentricity of the lens 6 to be inspected.

【0028】上記対物レンズ30は、1つの対物レンズ
を図6に示すように光軸を中心とする円柱面で分割して
形成した円柱状の第1の対物レンズ30aと円環状の第
2の対物レンズ30bとから構成されている。
The objective lens 30 has a cylindrical first objective lens 30a and an annular second objective lens 30a formed by dividing one objective lens by a cylindrical surface centered on the optical axis as shown in FIG. It is composed of an objective lens 30b.

【0029】第1,第2の対物レンズ30a,30b
は、それぞれ光軸方向に移動可能に設けられており、第
1の対物レンズ30aが被検レンズ6の第1面6aの中
心部6gに、第2の対物レンズ30bが上記第1面6a
の周辺部6hにそれぞれコリメートレンズ2からの光束
を投射し得るようになっている。
First and second objective lenses 30a and 30b
Are provided so as to be movable in the optical axis direction, and the first objective lens 30a is located at the central portion 6g of the first surface 6a of the lens 6 to be tested, and the second objective lens 30b is located at the first surface 6a.
The luminous fluxes from the collimator lens 2 can be projected onto the peripheral portions 6h of each.

【0030】上記第2のビームスプリッタ32と第1の
集光レンズ33aの間および上記反射ミラー35と第2
の集光レンズ33bの間には、被検レンズ6の周辺部6
hによる反射光を遮断する第1の遮光板37aおよび被
検レンズ6の中心部6gによる反射光を遮断する遮光板
37bが配置されている。図7(A)および図7(B)
は、第1の遮光板37aおよび第2の遮光板37bを示
す斜視図である。なお、被検レンズ6は、第1面6aの
中心部6gの曲率半径と周辺部67の曲率半径が異なる
片面非被検レンズであり、球面側6bを下にして回転ス
ピンドル24の上に保持されている。
Between the second beam splitter 32 and the first condenser lens 33a and between the reflection mirror 35 and the second
Between the condenser lenses 33b of the
A first light blocking plate 37a that blocks the light reflected by h and a light blocking plate 37b that blocks the light reflected by the central portion 6g of the lens 6 to be tested are arranged. 7 (A) and 7 (B)
[Fig. 4] is a perspective view showing a first light blocking plate 37a and a second light blocking plate 37b. The lens 6 to be inspected is a single-sided non-inspection lens in which the radius of curvature of the central portion 6g of the first surface 6a and the radius of curvature of the peripheral portion 67 are different, and is held on the rotary spindle 24 with the spherical surface side 6b facing downward. Has been done.

【0031】次に、本実施例の偏心測定装置の作用を説
明する。光源1からの光は、コリメートレンズ2の第1
のビームスプリッタ31を透過して、第1の対物レンズ
30a、第2の対物レンズ30bに入射する。第1の対
物レンズ30aは、その焦点位置が被検レンズ6の第1
面6aの中心部6gの曲率中心に合致するよう配置さ
れ、中心部6gに垂直に投射する。一方、第2の対物レ
ンズ30bは、その焦点位置が被検レンズ6の第1面6
aの周辺部61hの曲率中心に合致するよう配置され、
周辺部6hに垂直に光を投射する。
Next, the operation of the eccentricity measuring device of this embodiment will be described. The light from the light source 1 is the first light of the collimator lens 2.
After passing through the beam splitter 31, the beam enters the first objective lens 30a and the second objective lens 30b. The focus position of the first objective lens 30a is the first of the lens 6 to be inspected.
It is arranged so as to match the center of curvature of the central portion 6g of the surface 6a and projects perpendicularly to the central portion 6g. On the other hand, the focal point of the second objective lens 30b is the first surface 6 of the lens 6 to be inspected.
It is arranged so as to match the center of curvature of the peripheral portion 61h of a,
Light is projected vertically to the peripheral portion 6h.

【0032】投射された光は、第1面の中心部6g、周
辺部6hで反射し、それぞれの反射光は、入射光路とは
逆進して第1のビームスプリッタ31で反射して光路変
化された後、第2のビームスプリッタ32で2分され
る。第2のビームスプリッタ32を透過した光は、その
周辺部が遮光板37aで遮断され、前記中心部6gでの
反射光のみが第1の集光レンズ33aで集光されて点像
Pが形成され、第1の光位置検出素子34aでその点像
Pの中心座標が検出される。一方、第2のビームスプリ
ッタ40で第1のビームスプリッタ32側とは別の光路
に反射された光は、反射ミラー41で再度反射されて光
路変換され、その中心部が遮光板37bで遮断されるこ
とにより、前記周辺部6hでの反射光のみが第2の集光
レンズ33bで集光されて点像Pが形成され、第2の光
位置検出素子34bでその点像Pの中心座標が検出され
る。
The projected light is reflected by the central portion 6g and the peripheral portion 6h of the first surface, and the respective reflected light travels in the reverse direction of the incident optical path and is reflected by the first beam splitter 31 to change the optical path. Then, the beam is split into two by the second beam splitter 32. The light transmitted through the second beam splitter 32 has its peripheral portion blocked by the light shielding plate 37a, and only the reflected light at the central portion 6g is condensed by the first condenser lens 33a to form a point image P. Then, the center coordinates of the point image P are detected by the first light position detecting element 34a. On the other hand, the light reflected by the second beam splitter 40 on an optical path different from that on the first beam splitter 32 side is reflected again by the reflection mirror 41 and the optical path is changed, and the central portion thereof is blocked by the light shielding plate 37b. As a result, only the reflected light at the peripheral portion 6h is condensed by the second condenser lens 33b to form a point image P, and the center coordinates of the point image P is determined by the second light position detection element 34b. To be detected.

【0033】かかる状態において、被検レンズ6を回転
スピンドル24により回転させると、被検レンズ6の第
1面6aの中心部6gならびに周辺部6hが回転スピン
ドル24の回転軸に対して偏心している場合、第1の光
位置検出素子34a、第2の光位置検出素子34b上の
それぞの点像Pはある大きさの半径をもって回転する。
この回転半径を演算部36で求めることにより、被検レ
ンズ6の第1面6aの中心部6g、周辺部6hの偏心状
態が求められる。さらに、中心部6gを基準として、周
辺部6hの偏心を演算により求めることにより、非球面
の偏心が求められる。このように、本実施例によれば、
被検レンズ6である非球面レンズの非球面軸の偏心が短
時間に測定することができる。
In this state, when the lens 6 to be inspected is rotated by the rotary spindle 24, the central portion 6g and the peripheral portion 6h of the first surface 6a of the lens 6 to be inspected are eccentric with respect to the rotation axis of the rotary spindle 24. In this case, the point images P on the first light position detecting element 34a and the second light position detecting element 34b rotate with a certain radius.
By calculating this radius of gyration by the calculation unit 36, the eccentricity of the central portion 6g and the peripheral portion 6h of the first surface 6a of the lens 6 under test can be determined. Furthermore, the eccentricity of the aspherical surface is obtained by calculating the eccentricity of the peripheral portion 6h with the central portion 6g as a reference. Thus, according to this embodiment,
The decentering of the aspherical axis of the aspherical lens, which is the lens 6 to be inspected, can be measured in a short time.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、対物レ
ンズを複数の対物レンズで分割構成し、分割構成した対
物レンズを光軸方向へ個別的に移動可能として光束を被
検レンズの各レンズ面に投射し得るようにしたので、被
検レンズの複数の面ならびに1つの面の複数の部分の偏
心を同時しに測定でき、短時間に偏心測定を行うことが
できる。
As described above, according to the present invention, the objective lens is divided into a plurality of objective lenses, and the divided objective lenses can be individually moved in the optical axis direction so that the luminous flux of the subject lens can be changed. Since the light can be projected onto each lens surface, the eccentricity of a plurality of surfaces of the lens to be inspected and a plurality of portions of one surface can be measured simultaneously, and the eccentricity measurement can be performed in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の偏心測定装置を概略的に示す構成図で
ある。
FIG. 1 is a configuration diagram schematically showing an eccentricity measuring device of the present invention.

【図2】本発明の実施例1を概略的に示す構成図であ
る。
FIG. 2 is a configuration diagram schematically showing a first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施例2を概略的に示す構成図であ
る。
FIG. 3 is a configuration diagram schematically showing a second embodiment of the present invention.

【図4】実施例2における液晶シャッターを示す図であ
る。
FIG. 4 is a diagram illustrating a liquid crystal shutter according to a second embodiment.

【図5】本発明の実施例3を概略的に示す構成図であ
る。
FIG. 5 is a configuration diagram schematically showing a third embodiment of the present invention.

【図6】実施例3における対物レンズを示す斜視図であ
る。
FIG. 6 is a perspective view showing an objective lens in Example 3;

【図7】実施例3における遮光板を示す斜視図である。FIG. 7 is a perspective view showing a light shielding plate according to a third embodiment.

【図8】従来例の偏心測定装置を概略的に示す構成図で
ある。
FIG. 8 is a configuration diagram schematically showing a conventional eccentricity measuring device.

【図9】従来例の説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 2 コリメートレンズ 3 ビームスプリッタ 4,10,20 対物レンズ 6 被検レンズ 7,33a,33b 集光レンズ 8 検出部 9 演算部 11 TVカメラ 12 画像処理装置 21,34a,34b 光位置検出素子 22 信号処理部 36 演算部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 light source 2 collimator lens 3 beam splitter 4,10,20 objective lens 6 test lens 7, 33a, 33b condensing lens 8 detection part 9 calculation part 11 TV camera 12 image processing device 21, 34a, 34b optical position detection element 22 Signal processing unit 36 Calculation unit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源と、光源からの光束を平行にするコ
リメートレンズと、コリメートレンズを透過した光を被
検レンズに投射する対物レンズと、コリメートレンズと
対物レンズの間に配置し被検レンズで反射した光を上記
光源側とは別の光路に変換するビームスプリッタと、ビ
ームスプリッタで光路変換した光を集光する集光レンズ
と、集光レンズで集光した点像の中心座標を検出する検
出部と、検出部の信号により被検レンズの偏心を算出す
る演算部とからなる偏心測定装置において、前記対物レ
ンズを同じ光軸をもつ少なくとも2つ以上の対物レンズ
で分割構成するとともに、分割構成した各対物レンズを
単独で光軸方向に移動可能に設けたことを特徴とする偏
心測定装置。
1. A light source, a collimator lens for collimating a light flux from the light source, an objective lens for projecting light transmitted through the collimator lens onto a lens under test, and a lens under test arranged between the collimator lens and the objective lens. A beam splitter that converts the light reflected by the optical path to a different optical path from the light source side, a condensing lens that condenses the light whose path is changed by the beam splitter, and the center coordinates of the point image that is condensed by the condensing lens is detected. In the eccentricity measuring device including a detecting unit for calculating the eccentricity of the lens to be inspected by a signal from the detecting unit, the objective lens is divided into at least two objective lenses having the same optical axis, and An eccentricity measuring device, wherein each of the divided objective lenses is provided so as to be independently movable in the optical axis direction.
JP7097593A 1993-03-05 1993-03-05 Eccentricity measuring apparatus Withdrawn JPH06258181A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7097593A JPH06258181A (en) 1993-03-05 1993-03-05 Eccentricity measuring apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7097593A JPH06258181A (en) 1993-03-05 1993-03-05 Eccentricity measuring apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06258181A true JPH06258181A (en) 1994-09-16

Family

ID=13447037

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7097593A Withdrawn JPH06258181A (en) 1993-03-05 1993-03-05 Eccentricity measuring apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06258181A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019049524A (en) * 2017-06-02 2019-03-28 トライオプティクス ゲーエムベーハーTrioptics GmbH Apparatus for detecting modulation transfer function and centering of optical system
JP2020071212A (en) * 2018-11-02 2020-05-07 キヤノン株式会社 Eccentricity measurement method, lens fabrication method, and eccentricity measurement device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019049524A (en) * 2017-06-02 2019-03-28 トライオプティクス ゲーエムベーハーTrioptics GmbH Apparatus for detecting modulation transfer function and centering of optical system
JP2022191392A (en) * 2017-06-02 2022-12-27 トライオプティクス ゲーエムベーハー Apparatus for detecting imaging quality of optical system
JP2020071212A (en) * 2018-11-02 2020-05-07 キヤノン株式会社 Eccentricity measurement method, lens fabrication method, and eccentricity measurement device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5059022A (en) Device for measuring radius of curvature and a method thereof
US4281926A (en) Method and means for analyzing sphero-cylindrical optical systems
JPS61280543A (en) Apparatus for measuring refractive power of optical system
JPH06258181A (en) Eccentricity measuring apparatus
GB2118304A (en) Detecting surface deviations
JP2983673B2 (en) Method and apparatus for measuring radius of curvature
JP2735104B2 (en) Aspherical lens eccentricity measuring apparatus and measuring method
JPS60130711A (en) Focusing method of interferometer
JPH053889B2 (en)
JPS62502421A (en) Equipment for orienting, inspecting and/or measuring two-dimensional objects
JP2505042B2 (en) Lens eccentricity measuring device
JPH0471453B2 (en)
JPH09280819A (en) System for measuring accuracy of rotation
SU1562691A1 (en) Method and apparatus for determining radii of curvature of spherical surfaces
JPH08166209A (en) Polygon mirror evaluating device
JPH0812126B2 (en) Aspherical lens eccentricity measuring device
JP2005043203A (en) Rotation accuracy measuring device of revolving shaft
KR910007629Y1 (en) Measuring apparatus
JPH0426685B2 (en)
JP3618995B2 (en) Eccentricity measuring method and eccentricity measuring device
JPH07128014A (en) Position detector
JPH06273267A (en) Autocollimator device
JPH0810177B2 (en) Astigmatism inspection method and astigmatism inspection apparatus
JPS5932723B2 (en) Object surface defect detection device
JPH11166881A (en) Eccentricity measuring method and device

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20000509