JPH0623960Y2 - 光学的検査用プローブ - Google Patents

光学的検査用プローブ

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JPH0623960Y2
JPH0623960Y2 JP1991043685U JP4368591U JPH0623960Y2 JP H0623960 Y2 JPH0623960 Y2 JP H0623960Y2 JP 1991043685 U JP1991043685 U JP 1991043685U JP 4368591 U JP4368591 U JP 4368591U JP H0623960 Y2 JPH0623960 Y2 JP H0623960Y2
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JP
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specimen
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JP1991043685U
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JPH0488851U (ja
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俊夫 千竃
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Machida Endoscope Co Ltd
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Machida Endoscope Co Ltd
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Instruments For Viewing The Inside Of Hollow Bodies (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、反射面を有する検体を
光学的に検査するプローブに関する。
【0002】
【従来の技術】反射面を有する検体としては、図2に示
すように表面100aが鏡面(反射面)をなす検体10
0、図3に示すように透明体からなり表面100aが反
射面をなす検体100、図4に示すように多層構造をな
すとともに少なくとも上部層が透明体をなし、その表面
100aが反射面をなしている検体100等がある。な
お、図2の場合には、検体100は透明体であってもよ
いし不透明体であってもよい。図2の検体100として
は例えば研摩された金属がある。また、図4の検体10
0としては、透明材料により多層にコーティングされた
半導体基板等がある。
【0003】図2の検体100では、鏡面をなす表面1
00aの傷,しみ,ごみ等の欠陥aがあるか否かを光学
的に検査することがある。図3の検体では、表面100
a,内部,裏面の欠陥bがあるか否かを光学的に検査す
ることがある。図4の検体100では、表面100aや
層間の傷,しみ,ごみ等の欠陥c、層間の剥離等の欠陥
dがあるか否かを検査することがある。
【0004】上記検体100を光学的に検査する場合に
は、通常、光源から照明光を検体100に照射し、検体
100で反射した反射光を光学系で受光することによっ
て行われている。
【0005】しかしながら、検体100が例えば細い管
であり、その内周面を検査するような場合には、内部空
間が狭いため、光源と光学系とをそれぞれ配置すること
が困難であり、したがって上記通常の検査方法を採用す
ることができない。
【0006】このような場合には、内視鏡タイプのプロ
ーブを用いて検査している。図5はそのような検査方法
の原理図を示すものであり、プローブ120は、先端部
に受光部121と、照射部122とを有している。そし
て、検体100の正面から照明光を照射し、検体100
で反射した反射光を受光部121で受光部することによ
って検査を行なうものである。
【0007】
【考案が解決しようとする課題】しかし、プローブ12
0を介して目視によって検体100の検査を行なう場合
には、表面100aが反射面であるため、検査者には第
7図において想像線で示すように、プローブ120の先
端部の像が見える。このため、検体100の照射部12
2に対応する箇所が過度に明るくなり、受光部121に
対応する箇所が暗くなる。この結果、照射部122によ
って幻惑され、正常な検査を行なうことが困難であっ
た。また、画像信号処理装置によって画像処理する場合
には、S/N比が悪化し、必要とする欠陥像を確実に検
出することができないという問題があった。
【0008】この考案は、上記事情を考慮してなされた
もので、スペースや挿入スペースが小さくて済み、しか
も検体の欠陥を確実に検出できるプローブを提供するこ
とを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本考案は上記の目的を達
成するためになされたものであり、その要旨は、反射面
を有する検体を、光学的に検査するプローブにおいて、
(イ)長尺をなし、先端部の側面に切欠き部を備えたプ
ローブ本体と、(ロ)上記切欠き部においてプローブ本
体の基端に近い側に配置され、照明光を先方に照射する
照射部と、(ハ)上記切欠き部においてプローブ本体の
基端に近い側に配置され、切欠き部の開口を向くように
その光軸がプローブ本体の長手方向に対して傾いている
検体像観察手段の受光部と、(ニ)上記切欠き部におい
てプローブ本体の先端に近い側に配置され、照射部から
の照明光を反射して切欠き部の開口に対峙して配置され
た検体に供給するように、光軸がプローブ本体の長手方
向に対して傾いており、しかも、この検体の反射面で反
射した照明光が上記受光部で収束するように凹面鏡に形
成されている反射面部とを備えたことを特徴とする光学
的検査用プローブにある。
【0010】
【作用】照射部から照射された照明光は、反射面部によ
って反射され、検体に反射されて検体像観察手段の受光
部に入射する。これにより検体像観察手段で検体の傷の
有無を観察することができる。反射面部は凹面鏡をな
し、検体で反射された照明光が受光部に収束されるの
で、検体像観察手段の視野の一部を照射部の像が占める
ことがなくなり、ハレーションを防止できるとともに、
視野の明るさを均一にすることができる。
【0011】
【実施例】以下、本考案の一実施例を図1を参照して説
明する。 図中、符号1はプローブを示す。プローブ1は、一般の
硬性内視鏡の挿入部に似た構成をなして長尺に形成され
ている。プローブ1は外套管2(プローブ本体)を有し
ている。外套管2の先端部の側面には、切欠き部3が形
成されている。外套管2内には、画像伝送光学系4と光
ファイバー束8が配置されている。画像伝送光学系4
は、切欠き部3の基端側(図中左側)に配置された受光
窓5(受光部)、対物レンズ6、プリズム7を有し、さら
にプローブ1の基端部に配置された接眼レンズ(図示し
ない)と、この接眼レンズに至るまでのレンズ群(図示し
ない)を有している。受光部5,対物レンズ6は、切欠
き部3の開口を向き、そのの光軸Aは、先端部を除く画
像伝送光学系4の光軸B(外套管2の長手方向と平行)
に対して傾斜し、図中斜め下方に指向している。この光
軸Aと光軸Bは上記プリズム7により連なっている。
【0012】光ファイバー束8の先端面は上記切欠き部
3の基端側に露出して照射部8aとなっている。照射部
8aは、受光部5の近傍位置に配置されている。照射部
8aたる光ファイバー束8の先端面は、斜めに切断さ
れ、かつ研摩されており、照射部8aからの照明光が、
図示のように斜め上方に広がって照射されるようになっ
ている。
【0013】外套管2の切欠き部3の先端側(図中右側)
には反射面部10が形成されている。反射面部10は凹
面鏡からなるものであり、照射部8aと斜めに対向し、
切欠き部3の開口を向き、その光軸は前述の光軸Bに対
して傾いている。反射面部10は、照射部8aから照射
された照明光を集光して検体100に供給するように配
置されている。勿論、検体100に供給された照明光
は、検体100の表面100aで反射され、受光部5,
対物レンズ6に入射するようになっている。特に、外套
管2と検体100との間の距離を所定距離Lにした場合
には、反射面部10の焦点は対物レンズ6と受光部5と
の境に位置する。したがって、検体100が切欠き部3
の開口に対向して配置された状態では、検体100で反
射した照明光が受光部5,対物レンズ6においてほぼ収
束するようになっている。
【0014】なお、光ファイバー束8の基端部は、光源
装置(図示せず)に接続されており、この光源装置の光を
先端の照射部8aから照射するようになっている。ま
た、画像伝送光学系4の基端部では接眼レンズ(図示せ
ず)を通して肉眼で検査を行なったり、カメラやテレビ
等により撮影するようになっている。これら受光部5,
対物レンズ6,プリズム7,画像伝送光学系4,接眼レ
ンズにより検体像観察手段が構成されている。
【0015】上記構成からなるプローブ1の作用を説明
する。 プローブ1によって検体100を検査する場合には、ま
ず、検体100に対してプローブ1をほぼ平行に、しか
も外套管2と検体100との間の距離が所定距離Lにな
るように配置する。なお、本例では図2〜図4に示すい
ずれの検体100でも検査することができる。例えば図
1において想像線100′で示すような筒状の検体にプ
ローブ1を挿入して検査することもできる。
【0016】上記の配置状態で、照射部8aから照明光
を照射する。この照明光は直接検体100に照射され
ず、反射面部10に照射される。そして、照明光は反射
面部10によって集光され、検体100に供給される。
これによって、検体100の所定の範囲が明るく照らし
出される。照らし出された検体100の像は、受光部5
から画像伝送光学系4によって伝送され、目視によって
観察されたり、あるいはテレビカメラ等によって撮像さ
れる。
【0017】ここで、上記のプローブ1においては、照
明光を反射面部10によって集光しているので、S/N
比を向上させることができる。 すなわち、仮に反射面部10として凹面鏡に代えて平面
鏡を用いた場合には、図5に示すようにして検査する場
合と実質的に同一であり、照射部8aの像が平面鏡およ
び検体100で反射して受光部5に入射する。このた
め、ハレーションを生じてS/N比率が悪化する。
【0018】この点、凹面鏡とされた反射部10は、照
射部8aから照射された照明光を集光して検体100に
供給し、しかも検体100で反射された照明光が受光部
5において収束するので、照射部8aの像が検体像観察
手段の視野の一部のみを占めることがない。したがって
ハレーションが発生することがなく、S/N比を向上さ
せることができる。しかも、検体像観察手段の視野の明
るさはむらのない均一なものとなる。なお、この点から
明らかなように、検体像観察手段の視野については、反
射面部10で反射された照明光によって照らし出される
検体の表面範囲より狭くする。
【0019】また、検体100がむらなく照らし出され
るので、検体100の表面100aのみならず、内部,
裏面等の欠陥をも確実に検出できる。なお、検体100
における欠陥が図4に示す剥離dである場合には、虹彩
として検出できる。
【0020】本考案は、上記実施例に制約されず種々の
態様が可能である。例えば上記実施例では光ファイバー
束8の先端によって照射部8aを構成したが、光ファイ
バー束の先端に位置する箇所に電球を配置してもよい。 また、像伝送光学系の代わりに、プリズムに隣接して固
体撮像素子を配置してもよい。
【0021】
【考案の効果】以上説明したように、本考案によれば、
プローブの先端部に照射部と受光部と反射面部とを備え
たので、小さなスペースでの検査が可能になるととも
に、挿入路が狭い場合や一方向に限定されているような
場合にも検査が可能になる。また、検体像観察手段の視
野の中で検体の像を比較的広い領域にわたって観察でき
るので、検体の傷の有無を効率よくチェックできる。し
かも、照射部から反射面部,検体で反射された照明光が
受光部に収束されるので、検体像観察手段の視野の一部
を照射部の像が占めることがなくなり、ハレーションを
防止できるとともに、視野の明るさを均一にすることが
できる。その結果、検体の欠陥を確実に検出することが
できる。また、照射部からの照明光を効率よく利用で
き、検体像観察手段の視野を明るくすることができるの
で、この点からも検体の欠陥を確実に検出することがで
きる
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示す断面図である。
【図2】検体の一態様を示す図である。
【図3】検体の一態様を示す図である。
【図4】検体の一態様を示す図である。
【図5】従来の検査方法の原理を示す図である。
【符号の説明】
1…プローブ 2…外套管(プローブ本体) 3…切欠き部 5…受光部 8a…照射部 10…反射面部 100…検体 100a…検体の表面(反射面)

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】反射面を有する検体を、光学的に検査する
    プローブにおいて、 (イ)長尺をなし、先端部の側面に切欠き部を備えたプ
    ローブ本体と、 (ロ)上記切欠き部においてプローブ本体の基端に近い
    側に配置され、照明光を先方に照射する照射部と、 (ハ)上記切欠き部においてプローブ本体の基端に近い
    側に配置され、切欠き部の開口を向くようにその光軸が
    プローブ本体の長手方向に対して傾いている検体像観察
    手段の受光部と、 (ニ)上記切欠き部においてプローブ本体の先端に近い
    側に配置され、照射部からの照明光を反射して切欠き部
    の開口に対峙して配置された検体に供給するように、光
    軸がプローブ本体の長手方向に対して傾いており、しか
    も、この検体の反射面で反射した照明光が上記受光部で
    収束するように凹面鏡に形成されている反射面部 とを備えたことを特徴とする光学的検査用プローブ。
JP1991043685U 1991-05-16 1991-05-16 光学的検査用プローブ Expired - Lifetime JPH0623960Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991043685U JPH0623960Y2 (ja) 1991-05-16 1991-05-16 光学的検査用プローブ

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Publication Number Publication Date
JPH0488851U JPH0488851U (ja) 1992-08-03
JPH0623960Y2 true JPH0623960Y2 (ja) 1994-06-22

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JP1991043685U Expired - Lifetime JPH0623960Y2 (ja) 1991-05-16 1991-05-16 光学的検査用プローブ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6239367U (ja) * 1985-08-29 1987-03-09
JPH0764679B2 (ja) * 1987-08-11 1995-07-12 古河電気工業株式会社 セラミックス超電導体薄膜の製造方法

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JPH0488851U (ja) 1992-08-03

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