JPH06236574A - Optical power meter - Google Patents

Optical power meter

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Publication number
JPH06236574A
JPH06236574A JP5023847A JP2384793A JPH06236574A JP H06236574 A JPH06236574 A JP H06236574A JP 5023847 A JP5023847 A JP 5023847A JP 2384793 A JP2384793 A JP 2384793A JP H06236574 A JPH06236574 A JP H06236574A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
light receiving
oscilloscope
receiving element
outputs
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP5023847A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiromi Takei
浩美 武井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Gunma Ltd
Original Assignee
NEC Gunma Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Gunma Ltd filed Critical NEC Gunma Ltd
Priority to JP5023847A priority Critical patent/JPH06236574A/en
Publication of JPH06236574A publication Critical patent/JPH06236574A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To improve the measuring precision of a semiconductor laser output by head positioning the diferential outputs of two pieces each of quadripartite photodetectors while watching a spot position by an oscilloscope. CONSTITUTION:The photodetector 2 is quartered to A-D, and the outputs of the divided parts A, C are inputted to a differential circuit 7 and the outputs of the divided parts B, D are inputted to the differential circuit 8. The output differences (A-C) and (B-D) of respective divided parts are outputted from the circuits 7, 8, to be inputted to the X, Y axes of the oscilloscope. Then, the center of an incident luminous flux on the photodetector 2 is detected by making to coincide the spot with the intersected point of both axes. Thus, the photodetector 2 is positioned precisely for the luminous flux by moving a head and making to coincide it with the intersected point of both axes while watching the spot position on the oscilloscope, and the output of the semiconductor laser being a pickup light source is measured at the position. The output is displayed on an output display part as the sum of the outputs of the quadripartite A-D of the photodetector 2.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置のピッ
クアップの光源として使用される半導体レーザ光源の光
出力を測定するための光パワーメータに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical power meter for measuring the optical output of a semiconductor laser light source used as a light source for a pickup of an optical disk device.

【0002】[0002]

【従来の技術】図6は従来の光パワーメータの一例を示
す正面図、図7は図6の例の動作を説明するための正面
図である。
2. Description of the Related Art FIG. 6 is a front view showing an example of a conventional optical power meter, and FIG. 7 is a front view for explaining the operation of the example of FIG.

【0003】光ディスク装置のピックアップの光源とし
て使用される半導体レーザ光源の光出力を測定するため
の従来の光パワーメータは、図6に示すように、ピック
アップ37に設けてあるレンズ駆動装置38によって駆
動される対物レンズ39の上方にヘッド31の受光素子
32を配置し、ヘッド31をケーブル36を介して出力
表示部34を有する本体33に接続している。
A conventional optical power meter for measuring the optical output of a semiconductor laser light source used as a light source of a pickup of an optical disk device is driven by a lens driving device 38 provided in a pickup 37, as shown in FIG. The light receiving element 32 of the head 31 is arranged above the objective lens 39, and the head 31 is connected to the main body 33 having the output display section 34 via the cable 36.

【0004】ピックアップ37の光源である半導体レー
ザ40から出射した光束は、測定光35として対物レン
ズ39から出射されて受光素子32に捕捉され、その出
力値を測定される。受光素子32の出力信号は、ケーブ
ル36を介して本体33に伝達され、出力表示部34に
表示される。
A light beam emitted from the semiconductor laser 40, which is the light source of the pickup 37, is emitted as the measurement light 35 from the objective lens 39 and is captured by the light receiving element 32, and its output value is measured. The output signal of the light receiving element 32 is transmitted to the main body 33 via the cable 36 and displayed on the output display section 34.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
光パワーメータは、次のような問題点を有している。
The conventional optical power meter as described above has the following problems.

【0006】すなわち、図7(a)に示すように、対物
レンズ39から出射される測定光35をすべて受光素子
32で捕捉して測定しなければならないが、半導体レー
ザ40から出射する光が赤外線領域の波長の光であるた
め、肉眼でそれを確認することがでない。従って、出力
表示部34の表示を見ながらヘッド31を適当な方向に
動かし、出力表示部34の表示が最大値を示す位置を探
してピックアップ37の出力値を計測しなければならな
い。この出力表示部34の表示が最大値を示す位置を探
す操作は、困難な操作であるばかりでなく、精度も低い
ため、図7(b)に示すように、対物レンズ39から出
射される測定光35をすべて受光素子32で捕捉しない
場合も、その位置を最大受光点としてピックアップ37
の出力値を計測することがある。
That is, as shown in FIG. 7A, all the measurement light 35 emitted from the objective lens 39 must be captured and measured by the light receiving element 32, but the light emitted from the semiconductor laser 40 is infrared. Since the light has a wavelength in the range, it cannot be visually confirmed. Therefore, the output value of the pickup 37 must be measured by moving the head 31 in an appropriate direction while observing the display on the output display unit 34 to search for a position where the display on the output display unit 34 shows the maximum value. The operation of searching for the position where the display of the output display unit 34 shows the maximum value is not only a difficult operation, but also the accuracy is low. Therefore, as shown in FIG. 7B, the measurement emitted from the objective lens 39. Even when not all the light 35 is captured by the light receiving element 32, the position is picked up as the maximum light receiving point.
The output value of may be measured.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の光パワーメータ
は、半導体レーザ光源からの光出力を捕捉する4分割さ
れた受光素子および前記受光素子の対向する二つの分割
部からの出力を差動増幅する2個の差動増幅回路を有す
るヘッドと、前記2個の差動増幅回路からの信号をそれ
ぞれ入力する2チャンネルのオシロスコープおよび前記
4分割された受光素子からの信号を入力してそれらの和
を表示する出力表示部を有する本体とを備えたものであ
り、更に、差動増幅回路に自動ゲインコントロール回路
を付加したものである。
SUMMARY OF THE INVENTION An optical power meter of the present invention differentially divides an output from a four-divided light receiving element for capturing an optical output from a semiconductor laser light source and two opposing divided portions of the light receiving element. A head having two differential amplifying circuits for amplifying, a two-channel oscilloscope for respectively inputting signals from the two differential amplifying circuits, and a signal from the four-divided light receiving element for inputting them. And a main body having an output display unit for displaying the sum, and further, an automatic gain control circuit is added to the differential amplifier circuit.

【0008】[0008]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.

【0009】図1は本発明の第一の実施例を示す正面
図、図2は図1の実施例の受光素子動作を示す底面図、
図3は図1の実施例におけるビーム位置検出方法を説明
するための模式図、図4は図1の実施例のオシロスコー
プを示す正面図である。
FIG. 1 is a front view showing the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a bottom view showing the operation of the light receiving element of the embodiment of FIG.
3 is a schematic diagram for explaining the beam position detecting method in the embodiment of FIG. 1, and FIG. 4 is a front view showing an oscilloscope of the embodiment of FIG.

【0010】図1において、受光素子2を有するヘッド
1は、3本のケーブル6によって出力表示部4および2
チャンネルのオシロスコープ5を有する本体3に接続さ
れている。
In FIG. 1, a head 1 having a light receiving element 2 is provided with output cables 4 and 2 via three cables 6.
It is connected to a main body 3 having a channel oscilloscope 5.

【0011】受光素子2は、ピックアップの対物レンズ
の上方に配置されており(図6参照)、図2に示すよう
に、4分割(A部〜D部)されている。A部およびC部
の出力は、ヘッド1に内蔵されている差動回路7に入力
し、B部およびD部の出力は、ヘッド1に内蔵されてい
る差動回路8に入力している。このため、差動回路7か
らは(A部の出力−C部の出力)に相当する差動出力
(A−C)が、また、差動回路8からは(B部の出力−
D部の出力)に相当する差動出力(B−D)が出力され
る。
The light receiving element 2 is arranged above the objective lens of the pickup (see FIG. 6), and as shown in FIG. 2, is divided into four parts (portions A to D). The outputs of the parts A and C are input to the differential circuit 7 incorporated in the head 1, and the outputs of the parts B and D are input to the differential circuit 8 incorporated in the head 1. Therefore, a differential output (AC) corresponding to (output of section A-output of section C) is output from the differential circuit 7, and (output of section B-from the differential circuit 8).
A differential output (BD) corresponding to the output of the D section) is output.

【0012】これらの差動出力(A−C)および差動出
力(B−D)は、それぞれオシロスコープ5の二つのチ
ャンネルの一方にに入力し、オシロスコープ5のブラウ
ン管10上で輝点をX軸およびY軸方向に移動させる。
したがって、輝点をブラウン管10上の中心点に一致さ
せることにより、受光素子2に入射する光束の中心を検
出することができる。
The differential output (A-C) and the differential output (B-D) are input to one of the two channels of the oscilloscope 5, and the bright spot on the cathode-ray tube 10 of the oscilloscope 5 is set to the X-axis. And move in the Y-axis direction.
Therefore, the center of the light beam incident on the light receiving element 2 can be detected by matching the bright point with the center point on the cathode ray tube 10.

【0013】すなわち、受光素子2の4分割されている
A部〜D部に均等に光束9が入射している場合は、図3
(a)に示すように、オシロスコープ5のブラウン管1
0上に表われる輝点11は、X軸線18とY軸線19と
の交点に表示される。
That is, when the light beam 9 is evenly incident on the four parts A to D of the light receiving element 2, FIG.
As shown in (a), the cathode ray tube 1 of the oscilloscope 5
The bright point 11 appearing on 0 is displayed at the intersection of the X axis line 18 and the Y axis line 19.

【0014】受光素子2に入射する光束9がずれてい
て、差動出力(A−C)および差動出力(B−D)が共
に正の場合は、図3(b)に示すように、輝点11は、
ブラウン管10上の第一象限に表われる。また差動出力
(A−C)および差動出力(B−D)が共に負の場合
は、図3(c)に示すように、輝点11は、ブラウン管
10上の第三象限に表われる。
When the light beam 9 incident on the light receiving element 2 is deviated and both the differential output (AC) and the differential output (BD) are positive, as shown in FIG. The bright spot 11 is
Appears in the first quadrant on the cathode ray tube 10. When both the differential output (AC) and the differential output (BD) are negative, the bright spot 11 appears in the third quadrant on the cathode ray tube 10 as shown in FIG. .

【0015】従って、ブラウン管10上の輝点11の位
置を見ながらヘッド1を動かし、輝点11がX軸線18
とY軸線19との交点に表われるようにすることによ
り、光束9に対して受光素子2を正確に位置決めするこ
とができ、その位置でピックアップの光源の半導体レー
ザの出力の測定を行う。出力は、受光素子2の4分割さ
れているA部〜D部の出力の和として本体3の出力表示
部4に表示される。
Therefore, the head 1 is moved while observing the position of the bright spot 11 on the cathode ray tube 10, and the bright spot 11 is moved to the X-axis line 18
And the Y-axis 19 make it possible to accurately position the light receiving element 2 with respect to the light beam 9, and measure the output of the semiconductor laser of the light source of the pickup at that position. The output is displayed on the output display section 4 of the main body 3 as the sum of the outputs of the A section to the D section of the light receiving element 2.

【0016】しかし、受光素子2に入射する光束9が4
分割されているA部〜D部に完全に均等に入射している
必要がない場合がある。すなわち、受光素子2が入射す
る光束9を全部取込んでいる場合は、A部〜D部に完全
に均等に入射してなくても、半導体レーザの出力の測定
に支障はない。
However, when the light beam 9 incident on the light receiving element 2 is 4
In some cases, it is not necessary that the light is evenly incident on the divided parts A to D. That is, when all the incident light flux 9 is received by the light receiving element 2, there is no problem in measuring the output of the semiconductor laser even if the light flux is not evenly incident on the portions A to D.

【0017】そこで、図4に示すように、ブラウン管1
0上にX軸線18とY軸線19との交点を中心とするサ
ークル20を設け、輝点11がこのサークル20内にあ
るときは可とする。サークル20は、光束9の出力が一
定でありその値があらかじめわかっているとき、例え
ば、光束9の中心のずれが50ミクロンのとき、輝点1
1がこのサークル20の円周上にくるように、オシロス
コープ5のレンジと差動回路7および差動回路8のゲイ
ンとを調整しておく。このようにすることにより、光束
9の中心の受光素子2の中心に対するずれが50ミクロ
ン以内となるようにヘッド1の位置決めをすることがで
きる。
Therefore, as shown in FIG.
A circle 20 centering on the intersection of the X-axis line 18 and the Y-axis line 19 is provided on 0, and when the bright spot 11 is in this circle 20, it is acceptable. The circle 20 has a bright spot 1 when the output of the light beam 9 is constant and its value is known in advance, for example, when the deviation of the center of the light beam 9 is 50 microns.
The range of the oscilloscope 5 and the gains of the differential circuit 7 and the differential circuit 8 are adjusted so that 1 is on the circumference of the circle 20. By doing so, the head 1 can be positioned so that the deviation of the center of the light beam 9 from the center of the light receiving element 2 is within 50 microns.

【0018】図5は本発明の第二の実施例を示すブロッ
ク図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention.

【0019】本実施例は、測定しようとするピックアッ
プの半導体レーザの出力値が未知のときに有効なもので
あり、図1の実施例の差動回路7および差動回路8に自
動ゲインコントロール回路(AGC回路)を付加したも
のである。
The present embodiment is effective when the output value of the semiconductor laser of the pickup to be measured is unknown, and the differential circuit 7 and the differential circuit 8 of the embodiment of FIG. (AGC circuit) is added.

【0020】すなわち、光検出部21によって捕捉され
た光束は、2経路に分れる。第一の経路は、差動回路部
22およびAGC回路部23およびオシロスコープ25
を含む経路であり、第一の経路は、光出力計測部26お
よび光出力表示部24を含む経路である。
That is, the light beam captured by the photodetector 21 is divided into two paths. The first path is the differential circuit section 22, the AGC circuit section 23, and the oscilloscope 25.
The first route is a route including the light output measuring unit 26 and the light output display unit 24.

【0021】第二の経路においては、図1の実施例と同
様に、光出力計測部26において光検出部21の4分割
受光素子の出力の和を求め、それを光出力表示部26に
表示する。第一の経路においては、図1の実施例と同様
に、差動回路部22の二つの差動回路において差動出力
を出力するが、それらは、AGC回路部23に入力され
る。AGC回路部23は、測定しようとするピックアッ
プの半導体レーザの出力値が未知のときでも、オシロス
コープ25のブラウン管上のサークル(図4参照)が、
光束の中心の受光素子の中心に対するずれが50ミクロ
ンを表示するように、自動的に差動出力の増幅値を調整
してオシロスコープ25に入力する。従って、測定しよ
うとするピックアップの半導体レーザの出力値が如何な
る値であっても、オシロスコープ25の測定レンジを切
替えずに半導体レーザの出力値を計測することができ
る。
In the second path, as in the embodiment of FIG. 1, the light output measuring unit 26 obtains the sum of the outputs of the four-division light receiving elements of the light detecting unit 21 and displays it on the light output display unit 26. To do. In the first path, as in the embodiment of FIG. 1, two differential circuits of the differential circuit section 22 output differential outputs, which are input to the AGC circuit section 23. Even if the output value of the semiconductor laser of the pickup to be measured is unknown, the AGC circuit section 23 causes the circle on the cathode ray tube of the oscilloscope 25 (see FIG. 4) to
The amplification value of the differential output is automatically adjusted and input to the oscilloscope 25 so that the deviation of the center of the light flux from the center of the light receiving element is displayed as 50 microns. Therefore, regardless of the output value of the semiconductor laser of the pickup to be measured, the output value of the semiconductor laser can be measured without switching the measurement range of the oscilloscope 25.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光パワー
メータは、ヘッドの受光素子として4分割した受光素子
を用い、その二つずつの差動出力を2チャンネルのオシ
ロスコープのX軸とY軸とに入力し、オシロスコープの
ブラウン管上に表われるの輝点の位置を見ながらヘッド
の位置決めを行うことができるようにすることにより、
受光素子に入射するピックアップの半導体レーザからの
光束の中心を正確に受光素子の中心に一致させることが
できるという効果があり、従って半導体レーザの出力の
測定精度を向上し、しかも操作を容易にすることができ
るという効果がある。
As described above, the optical power meter of the present invention uses the light receiving elements divided into four as the light receiving elements of the head, and the differential output of each two is used as the X axis and the Y axis of the 2-channel oscilloscope. By inputting to the axis and enabling to position the head while observing the position of the bright spot appearing on the cathode ray tube of the oscilloscope,
There is an effect that the center of the light flux from the semiconductor laser of the pickup incident on the light receiving element can be accurately aligned with the center of the light receiving element, thus improving the measurement accuracy of the output of the semiconductor laser and facilitating the operation. The effect is that you can.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第一の実施例を示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の実施例の受光素子動作を示す底面図であ
る。
FIG. 2 is a bottom view showing the operation of the light receiving element of the embodiment of FIG.

【図3】図1の実施例におけるビーム位置検出方法を説
明するための模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram for explaining a beam position detecting method in the embodiment of FIG.

【図4】図1の実施例のオシロスコープを示す正面図で
ある。
FIG. 4 is a front view showing the oscilloscope of the embodiment of FIG.

【図5】本発明の第二の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図6】従来の光パワーメータの一例を示す正面図であ
る。
FIG. 6 is a front view showing an example of a conventional optical power meter.

【図7】図6の例の動作を動作するための正面図であ
る。
FIG. 7 is a front view for operating the operation of the example of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・31 ヘッド 2・32 受光素子 3・33 本体 4・24・34 出力表示部 5・25 オシロスコープ 6・36 ケーブル 7・8 差動回路 9 光束 10 ブラウン管 11 輝点 18 X軸線 19 Y軸線 20 サークル 21 光検出部 22 差動回路部 23 AGC回路部 26 光出力計測部 35 測定光 37 ピックアップ 38 レンズ駆動装置 39 対物レンズ 40 半導体レーザ 1/31 head 2/32 light receiving element 3/33 body 4/24/34 output display 5.25 oscilloscope 6/36 cable 7.8 differential circuit 9 luminous flux 10 cathode ray tube 11 bright spot 18 X-axis 19 Y-axis 20 circle 21 photodetector section 22 differential circuit section 23 AGC circuit section 26 optical output measuring section 35 measuring light 37 pickup 38 lens driving device 39 objective lens 40 semiconductor laser

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体レーザ光源からの光出力を捕捉す
る4分割された受光素子および前記受光素子の対向する
二つの分割部からの出力を差動増幅する2個の差動増幅
回路を有するヘッドと、前記2個の差動増幅回路からの
信号をそれぞれ入力する2チャンネルのオシロスコープ
および前記4分割された受光素子からの信号を入力して
それらの和を表示する出力表示部を有する本体とを備え
ることを特徴とする光パワーメータ。
1. A head having a four-divided light receiving element for capturing an optical output from a semiconductor laser light source and two differential amplifier circuits for differentially amplifying outputs from two facing divided portions of the light receiving element. And a main body having a two-channel oscilloscope for inputting signals from the two differential amplifier circuits and an output display section for inputting signals from the four-divided light receiving elements and displaying the sum thereof. An optical power meter, comprising:
【請求項2】 差動増幅回路に自動ゲインコントロール
回路を付加したことを特徴とする請求項1記載の光パワ
ーメータ。
2. The optical power meter according to claim 1, wherein an automatic gain control circuit is added to the differential amplifier circuit.
JP5023847A 1993-02-12 1993-02-12 Optical power meter Withdrawn JPH06236574A (en)

Priority Applications (1)

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JP5023847A JPH06236574A (en) 1993-02-12 1993-02-12 Optical power meter

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JP (1) JPH06236574A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7164111B2 (en) 2003-04-01 2007-01-16 Nippon Sheet Glass Company, Limited Device for detecting invisible light beam

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