JPH06213870A - Ion source for mass spectrometer - Google Patents
Ion source for mass spectrometerInfo
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- JPH06213870A JPH06213870A JP5007341A JP734193A JPH06213870A JP H06213870 A JPH06213870 A JP H06213870A JP 5007341 A JP5007341 A JP 5007341A JP 734193 A JP734193 A JP 734193A JP H06213870 A JPH06213870 A JP H06213870A
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- ionization
- ion source
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は質量分析計に係わり、特
に液体クロマトグラムからの流出する無極性試料から高
極性試料まで効率良くイオン化する装置の改良に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mass spectrometer, and more particularly to improvement of an apparatus for efficiently ionizing nonpolar samples flowing out from a liquid chromatogram to highly polar samples.
【０００２】[0002]
【従来の技術】液体クロマトグラムで分離された試料液
を質量分析装置のイオン源内に直接導入してイオン化す
る手法のポピュラーなものとしてコンティニアスフリッ
トファブ（ＣＦＦ）があり、そのイオン化はアルゴン，
キセノン等を一次イオン種とする一種のＦＡＢイオン化
で、液体クロマトグラムで分離された試料は移動相と一
緒になって流出して来るが、その一部をイオン化のため
の添加剤（グリセロール他）等を加えた後、多孔性部材
の設置したところまで導入し、小さな穴よりにじみ出さ
せる。多孔性部材よりにじみ出たイオン化添加剤（マト
リックス）と試料は、一次イオンビーム発生器より発生
イオンビームにより試料はイオン化され、試料イオンビ
ームとなり、質量分析系に送られ分析される。この様な
従来の装置では、各種マトリックス，試料中の不純物等
がコンタミとなって多孔性部材の上に溜り、バックグラ
ウンドが増加し、長時間の測定は不可能であった他、無
極性の試料のイオン化にはこの方法ではイオン化でき
ず、ＧＣ／ＭＳ等での測定を必要とした。2. Description of the Related Art A continuous frit fab (CFF) is a popular method of directly introducing a sample solution separated by a liquid chromatogram into an ion source of a mass spectrometer to ionize it.
By FAB ionization, which uses xenon as the primary ion species, the sample separated by the liquid chromatogram flows out together with the mobile phase, but part of it is an additive for ionization (glycerol, etc.). Etc. are added, and then the material is introduced to the place where the porous member is installed and exudes from a small hole. The ionizing additive (matrix) exuding from the porous member and the sample are ionized by the ion beam generated by the primary ion beam generator to become the sample ion beam, which is sent to the mass spectrometric system for analysis. In such a conventional device, various matrices, impurities in the sample, etc., become contaminants and accumulate on the porous member, the background increases, and it is impossible to measure for a long time. Ionization of the sample was not possible with this method, and measurement by GC / MS or the like was required.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、イオ
ン化のためのマトリックスによるイオン源内イオン化部
の汚れには何等配慮されていなかった。また液体クロマ
トグラムからの試料は無極性から高極性と幅広い試料を
対象としているが、従来のイオン化であるＦＡＢの様な
イオン化は無極性から低極性の試料のイオン化は不可能
であり、液体クロマトグラムから流出する試料の一部し
か測定できないという問題点があった。In the above-mentioned prior art, no consideration was given to the contamination of the ionization part in the ion source with the matrix for ionization. In addition, samples from liquid chromatograms target a wide range of samples from non-polar to high-polarity, but conventional ionization such as FAB cannot ionize non-polar to low-polarity samples. There is a problem that only a part of the sample flowing out from the gram can be measured.
【０００４】本発明は溶媒による多孔性イオン化台の洗
浄と無極性から低極性試料の電子衝撃イオン化をするこ
とを目的としており、さらに無極性から高極性物質の安
定したイオン化を提供することを目的としている。The present invention is intended to wash a porous ionization table with a solvent and to perform electron impact ionization of a non-polar to low-polarity sample, and further to provide stable ionization of a non-polar to high-polarity substance. I am trying.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段及び作用】上記目的を達成
するため、本発明では試料が液体クロマトグラムで分離
された後、スプリットされ液体クロマトグラムより流出
したうちの一部の試料およびマトリックスがイオン源の
多孔性イオン化台のところまで押し出されイオン化され
るが、その経路上に多孔性イオン化台に付着したマトリ
ックスや試料を洗い流すのに必要な溶媒を注入、なおか
つ温度を上げることによりコンタミ物質の溶解度を上げ
る。また無極性から低極性の試料のイオン化は電子衝撃
法がそのスペクトルの感度，情報量から最良の方法であ
り、そのためには洗浄溶媒を流している経路より
“Ｎ2 ”“Ｈｅ”等のガスを流し、ヒータにより加熱
後、多孔性イオン化台に向け放射することにより、それ
らの試料を気化分子状にし、多孔性イオン化台近傍に設
置したフィラメントより生成される電子流により、試料
分子はイオン化され分析系で分析される。In order to achieve the above object, in the present invention, after a sample is separated by a liquid chromatogram, a part of the sample and matrix out of the split and flowing out from the liquid chromatogram is ionized. It is extruded to the source porous ionization table and ionized, but the solvent necessary for washing away the matrix and sample adhering to the porous ionization table is injected into the path, and the solubility of contaminants is increased by raising the temperature. Raise. The ionization sensitivity of the spectrum is electron impact of low polarity samples from non-polar, is the best way from the information amount, gas such as "N 2" "He" than the path for its are flowing cleaning solvent The sample molecules are ionized by the electron flow generated by the filaments installed near the porous ionization table by irradiating the sample to the porous ionization table and radiating it toward the porous ionization table. It is analyzed by the analysis system.
【０００６】[0006]
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１より説明す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.
【０００７】液体クロマトグラム９より分離されて流出
した試料と移動相とマトリックスは、スプリッター１６
でスプリットされその一部はイオン源内に設置されたイ
オン化室の多孔性イオン化台ににじみ出て来る。この多
孔性イオン化台の上には一次イオンビーム発生器より生
成されたキセノン、アルゴン等のイオンが照射される事
により試料イオンビーム８となって質量分析計へ送られ
分析される。本装置の様なＣＦＦイオン化では各種マト
リックス，試料，試料中の不純物等が多孔性イオン化台
の上に蓄積し、バックグラウンドを増加させるはほか、
装置が不安定となり、長時間安定した測定は不可能であ
る。また液体クロマトグラムより流出する試料は無極性
から高極性と幅が広いが、ＣＦＦ等のイオン化は高極性
の物質は比較的イオン化されやすいが、無極性から低極
性の物質はほとんどイオン化されず、ＬＣ／ＭＳとして
の機能を完全に果たせなかった。本特許では多孔性イオ
ン化台７のクリーニングにはクリーニング溶媒１１より
マトリックス、試料のコンタミ物質等を溶解する溶媒を
流し、流路途中に設置されたヒータ１３により溶媒の温
度を上げ、試料等の溶解度を上げることにより、多孔性
イオン化台７のクリーニングを行い、コンタミをなく
し、安定したＣＦＦ ＬＣ／ＭＳの測定を行う。また、
試料の極性が無極性から低極性の物質のイオン化はＣＦ
Ｆによるイオン化が困難のため、不活性ガス注入系１２
より“Ｎ2 ”“Ｈｅ”等のガスを流したヒータ１３で温
度を上げながら試料，移動相を吹き付け、多孔性イオン
化台７に到達する前に試料を気化させ、イオン化台を出
た後は近傍に設置されたフィラメント１５から生成され
た電子ビーム１４により気化した試料は電子衝撃イオン
化を受け、高感度のＥＩイオンとして分析される。The sample, the mobile phase and the matrix separated and discharged from the liquid chromatogram 9 are separated by the splitter 16
It is split by and it partly oozes out to the porous ionization stand of the ionization chamber installed in the ion source. The sample ion beam 8 is sent to the mass spectrometer for analysis by being irradiated with ions of xenon, argon, etc. generated from the primary ion beam generator on the porous ionization table. In CFF ionization such as this device, various matrices, samples, impurities in the samples, etc. accumulate on the porous ionization table to increase the background.
The device becomes unstable and stable measurement for a long time is impossible. Although the sample flowing out from the liquid chromatogram has a wide range from nonpolar to high polarity, ionization such as CFF is relatively easy to ionize highly polar substances, but nonpolar to low polar substances are hardly ionized. The function as LC / MS could not be fully fulfilled. In this patent, for cleaning the porous ionization table 7, a solvent that dissolves the matrix, the contaminant substances of the sample, and the like is made to flow from the cleaning solvent 11, and the temperature of the solvent is raised by the heater 13 installed in the middle of the flow path to increase the solubility of the sample and the like. By raising the temperature, the porous ionization table 7 is cleaned, contamination is eliminated, and stable CFF LC / MS measurement is performed. Also,
Ionization of substances with non-polar to low-polarity samples is CF
Inert gas injection system 12 because ionization by F is difficult
Further, the sample and the mobile phase are sprayed while the temperature is raised by the heater 13 in which a gas such as “N 2 ” or “He” is flown, the sample is vaporized before reaching the porous ionization table 7, and after leaving the ionization table. The sample vaporized by the electron beam 14 generated from the filament 15 installed in the vicinity undergoes electron impact ionization and is analyzed as high-sensitivity EI ion.
【０００８】[0008]
【発明の効果】本発明により、ＣＦＦのバックグラウン
ドを低減させ、かつ暗定量分析した測定が可能となり、
また液体クロマトグラムより溶出される無極性から高極
性物質の分析が可能となった。Industrial Applicability According to the present invention, it is possible to reduce the background of CFF and perform dark quantitative analysis.
In addition, it has become possible to analyze non-polar to highly polar substances eluted from liquid chromatograms.
【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]
【図１】本発明の実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention.
１…質量分析系、２…イオン源、３…イオン化室、４…
レンズ電極群、５…一次イオンビーム発生器、６…一次
イオンビーム、７…多孔性イオン化台、８…試料イオン
ビーム、９…液体クロマトグラム、１０…流路調整弁、
１１…多孔性イオン化台クリーニング溶媒、１２…不活
性ガス、１３…ヒータ、１４…電子ビーム、１５…フィ
ラメント、１６…スプリッター、１７…スプリッター流
量計。1 ... Mass spectrometry system, 2 ... Ion source, 3 ... Ionization chamber, 4 ...
Lens electrode group, 5 ... Primary ion beam generator, 6 ... Primary ion beam, 7 ... Porous ionization table, 8 ... Sample ion beam, 9 ... Liquid chromatogram, 10 ... Flow path adjusting valve,
11 ... Porous ionization table cleaning solvent, 12 ... Inert gas, 13 ... Heater, 14 ... Electron beam, 15 ... Filament, 16 ... Splitter, 17 ... Splitter flow meter.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 利明 茨城県勝田市堀口字長久保832番地２ 日 立計測エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 板東 智美 茨城県勝田市堀口字長久保832番地２ 日 立計測エンジニアリング株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Toshiaki Takahashi Toshiaki Takahashi 832 Nagakubo, Horiguchi, Katsuta-shi, Ibaraki 2 Nissei Measurement Engineering Co., Ltd. Measurement Engineering Co., Ltd.
Claims (4)
て、移動相溶媒経路または直接多孔材部に、試料等によ
るコンタミを洗い流すための溶媒を流すことを特徴とし
た質量分析計用イオン源。1. An ion source for a mass spectrometer, characterized in that, in a frit Fab LC / MS ion source, a solvent for washing out contaminants such as a sample is flowed through a mobile phase solvent path or directly into a porous material portion.
設置し、溶媒の温度を昇温できるようにし、試料等によ
るコンタミを溶解し易くしたことを特徴とする質量分析
計用イオン源。2. The ion source for a mass spectrometer according to claim 1, wherein a heater is installed in a solvent flow path so that a temperature of the solvent can be raised to easily dissolve a contaminant such as a sample. .
代わりに温度の上がった“Ｎ2 ”“Ｈｅ”ガス等を流
し、ＬＣより流出してきた試料を気化させることを特徴
とした質量分析計用イオン源。3. The mass spectrometry according to claim 2, wherein "N 2 ""He" gas or the like whose temperature has risen is caused to flow in place of the solvent for dissolving the sample and the sample flowing out from the LC is vaporized. Ion source for measurement.
メント等を設置し、それから生成される電子線等により
気化した試料をイオン化することを特徴とした質量分析
計用イオン源。4. An ion source for a mass spectrometer according to claim 3, wherein a filament or the like is installed in the vicinity of the porous material portion, and the vaporized sample is ionized by an electron beam or the like generated therefrom.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5007341A JPH06213870A (en) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | Ion source for mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5007341A JPH06213870A (en) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | Ion source for mass spectrometer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06213870A true JPH06213870A (en) | 1994-08-05 |
Family
ID=11663244
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5007341A Pending JPH06213870A (en) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | Ion source for mass spectrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06213870A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006507509A (en) * | 2002-10-29 | 2006-03-02 | ターゲット・ディスカバリー・インコーポレイテッド | Method for increasing ionization efficiency of mass spectrometry |
-
1993
- 1993-01-20 JP JP5007341A patent/JPH06213870A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006507509A (en) * | 2002-10-29 | 2006-03-02 | ターゲット・ディスカバリー・インコーポレイテッド | Method for increasing ionization efficiency of mass spectrometry |
| US7939797B2 (en) | 2002-10-29 | 2011-05-10 | Target Discovery | Increasing ionization efficiency in mass spectroscopy |
| JP4754831B2 (en) * | 2002-10-29 | 2011-08-24 | ターゲット・ディスカバリー・インコーポレイテッド | Method for increasing ionization efficiency of mass spectrometry |
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