JPH06205338A - Liquid crystal display controller driver - Google Patents

Liquid crystal display controller driver

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Publication number
JPH06205338A
JPH06205338A JP34842392A JP34842392A JPH06205338A JP H06205338 A JPH06205338 A JP H06205338A JP 34842392 A JP34842392 A JP 34842392A JP 34842392 A JP34842392 A JP 34842392A JP H06205338 A JPH06205338 A JP H06205338A
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JP
Japan
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liquid crystal
crystal display
driver
test
voltage
Prior art date
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Application number
JP34842392A
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Japanese (ja)
Inventor
Masahiko Ikemoto
政彦 池本
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

PURPOSE:To execute the test of a liquid crystal display device at a high speed by using a test driver driving the liquid crystal display device at a higher speed than the speed of a liquid crystal display driver. CONSTITUTION:When a signal TEST is received, an output control circuit 10 controls a test driver 14 based on 1st and 2nd outputs. With segment data set to an H level under this control, a transistor (TR) 19 is turned off and a TR 18 is turned on, a voltage VDD is outputted to an external lead 8 and segments of the liquid crystal display device are lighted. With the segment data set to an L level, the TR 18 is turned off and the TR 19 is turned on, a voltage VSS is outputted to the external lead 8 and segments of the liquid crystal display device are extinguished. A 3rd output of the circuit 10 stops the operation of a segment control voltage conversion circuit 3. A liquid crystal display data memory 1 and a liquid crystal display bias control circuit 9 are driven by a high speed clock, segment data are sequentially read and the test of the liquid crystal display device is executed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置又は液晶
表示ドライバを試験する回路を備えた液晶表示コントロ
ーラ・ドライバに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display controller driver having a circuit for testing a liquid crystal display device or a liquid crystal display driver.

【0002】[0002]

【従来の技術】図6は、従来の液晶表示コントローラ・
ドライバの要部ブロック図であり、液晶表示装置のセグ
メント1個を駆動するセグメントドライバ1個及び液晶
表示コントローラを示している。液晶表示データメモリ
1のセグメントデータは、データ線2を介してセグメン
ト制御電圧変換回路3へ入力され、セグメントドライバ
5を制御し得る電圧に変換され、制御線4を介してセグ
メントドライバ5へ入力される。
2. Description of the Related Art FIG. 6 shows a conventional liquid crystal display controller.
FIG. 3 is a block diagram of a main part of a driver, showing one segment driver for driving one segment of a liquid crystal display device and a liquid crystal display controller. The segment data of the liquid crystal display data memory 1 is input to the segment control voltage conversion circuit 3 via the data line 2, converted into a voltage capable of controlling the segment driver 5, and input to the segment driver 5 via the control line 4. It

【0003】セグメントドライバ5はPチャネルトラン
ジスタ6及びNチャネルトランジスタ7よりなる。両ト
ランジスタ6,7のゲートは接続され、入力端として制
御線4に接続されている。両トランジスタ6,7のドレ
インは接続され、出力端として外部リード8を介して図
示しない液晶表示装置のセグメントに接続されている。
両トランジスタ6,7のソースはいずれも液晶表示バイ
アス制御回路9から動作電圧を供給されている。
The segment driver 5 comprises a P-channel transistor 6 and an N-channel transistor 7. The gates of both transistors 6 and 7 are connected and connected to the control line 4 as an input terminal. The drains of both transistors 6 and 7 are connected to each other, and are connected as output terminals to a segment of a liquid crystal display device (not shown) through an external lead 8.
The sources of both transistors 6 and 7 are supplied with operating voltage from the liquid crystal display bias control circuit 9.

【0004】液晶表示バイアス制御回路9は、外部より
4種の液晶表示用電圧VL3,VL2,VL1,VSS(VL3
L2>VL1>VSS)を供給され、この4種の電圧から2
種の電圧を選択する。この電圧選択は、電圧V
L3(VSS)と電圧VL2(VL1)とを図示しないクロック
信号のタイミングに基づいて交互に切換えて選択してい
る。選択された電圧VL3(VL2)は電圧VSHとしてトラ
ンジスタ6のソースに供給され、選択された電圧V
SS(VL1)は電圧VSLとしてトランジスタ7のソースに
供給される。トランジスタ6(7)に電圧VL3(VSS
が供給される場合を表示モードといい、電圧V
L2(VL1)が供給される場合を非表示モードという。表
示モードと非表示モードとは、クロック信号に基づいて
交互に繰返されるよう構成されている。
The liquid crystal display bias control circuit 9 has four types of liquid crystal display voltages V L3 , V L2 , V L1 , V SS (V L3 >) from the outside.
V L2 > V L1 > V SS ) is supplied, and from these four types of voltage, 2
Select seed voltage. This voltage selection is based on the voltage V
L3 (V SS ) and voltage V L2 (V L1 ) are alternately selected based on the timing of a clock signal (not shown). The selected voltage V L3 (V L2 ) is supplied to the source of the transistor 6 as the voltage V SH , and the selected voltage V L3 (V L2 ) is supplied.
SS (V L1 ) is supplied to the source of the transistor 7 as the voltage V SL . The voltage V L3 (V SS ) is applied to the transistor 6 (7).
When the voltage is supplied is called the display mode, the voltage V
The case where L2 (V L1 ) is supplied is called a non-display mode. The display mode and the non-display mode are configured to be repeated alternately based on the clock signal.

【0005】次に動作について説明する。液晶非データ
メモリ1のセグメントデータに応じてセグメント制御電
圧変換回路3はセグメントドライバ5を制御する電圧を
出力し、その制御電圧によりトランジスタ6,7のいず
れか一方がオン状態となり他方がオフ状態となる。セグ
メントデータが ■H" の場合はトランジスタ6がオン
状態となる。この場合において表示モードのときは電圧
L3が出力され、液晶表示装置のセグメントは点灯し、
非表示モードのときは電圧VL2が出力され、液晶表示装
置のセグメントは消灯する。セグメントデータが ■L"
の場合は、トランジスタ7がオン状態となる。この場
合において表示モードのときは電圧VSSが出力され、非
表示モードのときは電圧VL1が出力され、いずれのとき
においても液晶表示装置のセグメントは消灯する。
Next, the operation will be described. The segment control voltage conversion circuit 3 outputs a voltage for controlling the segment driver 5 in accordance with the segment data of the liquid crystal non-data memory 1, and one of the transistors 6 and 7 is turned on by the control voltage and the other is turned off. Become. When the segment data is (1) H ", the transistor 6 is turned on. In this case, in the display mode, the voltage V L3 is output and the segment of the liquid crystal display device is turned on.
In the non-display mode, the voltage V L2 is output and the segment of the liquid crystal display device is turned off. Segment data is ■ L "
In the case of, the transistor 7 is turned on. In this case, the voltage V SS is output in the display mode and the voltage V L1 is output in the non-display mode, and the segment of the liquid crystal display device is turned off at any time.

【0006】液晶表示データメモリ1のセグメントデー
タは、図示しないクロック信号により順次読み出されて
セグメントドライバを駆動し、セグメントデータに応じ
た画面が液晶表示装置に表示される。液晶表示装置のセ
グメントが連続点灯しているように見える場合でも、表
示モードと非表示モードとは交互に繰返えされており、
そのセグメントは点灯と消灯とを繰返えしている。
The segment data of the liquid crystal display data memory 1 is sequentially read by a clock signal (not shown) to drive the segment driver, and a screen corresponding to the segment data is displayed on the liquid crystal display device. Even when the segments of the liquid crystal display appear to be lit continuously, the display mode and non-display mode are repeated alternately,
The segment repeats lighting and extinguishing.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】従来の液晶表示コント
ローラ・ドライバは、液晶表示装置を駆動するセグメン
トドライバを流れる電流を抑えるためセグメントドライ
バの駆動能力を極端に低く設定している。そのため、伝
播遅延が発生するので比較的低速のクロック信号を使用
している。この液晶表示コントローラ・ドライバを使用
して液晶表示装置を試験することがあるが、その場合に
この低速クロック信号を使用せざるを得ないから試験に
長時間を必要とすることになる。
In the conventional liquid crystal display controller / driver, the driving capability of the segment driver is set extremely low in order to suppress the current flowing through the segment driver that drives the liquid crystal display device. Therefore, since a propagation delay occurs, a relatively low speed clock signal is used. The liquid crystal display controller / driver may be used to test the liquid crystal display device, but in this case, it is necessary to use the low-speed clock signal, and thus the test requires a long time.

【0008】さらにこの液晶表示コントローラ・ドライ
バに内蔵されているセグメントドライバを試験する場合
に試験に必要とする特定の電圧を、試験に必要な期間の
間、セグメントドライバを構成する2個のトランジスタ
のソースに供給しなければならない。そのために液晶表
示バイアス制御回路の機能を制御して所要の電圧を所要
の期間生成していた。従って液晶表示ドライバの試験時
間に液晶表示バイアス制御回路の機能を制御する時間を
さらに必要とするので綜合した試験時間も長時間となる
という問題点があった。
Further, when a segment driver built in the liquid crystal display controller driver is tested, a specific voltage required for the test is applied to the two transistors constituting the segment driver for a period required for the test. Must be sourced. Therefore, the function of the liquid crystal display bias control circuit is controlled to generate a required voltage for a required period. Therefore, the test time of the liquid crystal display driver requires more time to control the function of the liquid crystal display bias control circuit, and thus the total test time becomes long.

【0009】このように従来の液晶表示コントローラ・
ドライバを使用して液晶表示装置又は液晶表示ドライバ
を試験する場合に長時間を必要とすることが液晶表示装
置又は液晶表示コントローラ・ドライバの生産コストの
増加を招いている。このため現在これらの試験を高速に
実現する技術の開発が求められている。本発明はこのよ
うな問題点を解消するためになされたものであり、高速
で動作する試験ドライバ又は任意の試験電圧を生成する
液晶表示コントローラ・ドライバを使用することにより
試験を高速に実現する液晶表示コントローラ・ドライバ
を提供することを目的とする。
As described above, the conventional liquid crystal display controller
The long time required to test the liquid crystal display device or the liquid crystal display driver using the driver causes an increase in the production cost of the liquid crystal display device or the liquid crystal display controller / driver. For this reason, there is currently a demand for the development of a technique for realizing these tests at high speed. The present invention has been made to solve such a problem, and a liquid crystal display that realizes a test at high speed by using a test driver that operates at a high speed or a liquid crystal display controller driver that generates an arbitrary test voltage. The purpose is to provide a display controller driver.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本願の第1発明の液晶表
示コントローラ・ドライバは、液晶表示ドライバより高
速で液晶表示装置を駆動する試験ドライバ及びその試験
ドライバを制御する出力制御回路を備え、試験ドライバ
の出力と液晶表示ドライバの出力とは同一出力路より出
力することを特徴としている。本願の第2発明の液晶表
示コントローラ・ドライバは、液晶表示装置を試験する
場合に試験ドライバと液晶表示ドライバを並列駆動する
手段をさらに備えたことを特徴としている。
A liquid crystal display controller / driver according to a first aspect of the present invention comprises a test driver for driving a liquid crystal display device at a higher speed than the liquid crystal display driver, and an output control circuit for controlling the test driver. The output of the driver and the output of the liquid crystal display driver are output from the same output path. The liquid crystal display controller driver of the second invention of the present application is characterized by further comprising means for driving the test driver and the liquid crystal display driver in parallel when testing the liquid crystal display device.

【0011】本願の第3発明の液晶表示コントローラ・
ドライバは、液晶表示ドライバを試験する場合に、試験
するための電圧を複数の電圧から選択するテスト制御信
号と、表示モードの電圧と非表示モードの電圧とを交互
に現出するためのクロック信号とを切り換える切換手段
と、液晶表示ドライバを構成する両トランジスタのいず
れを試験するかを定めるテスト用データとセグメントデ
ータとを切り換える切換手段とを備えたことを特徴とし
ている。
A liquid crystal display controller according to the third invention of the present application
The driver, when testing the liquid crystal display driver, is a clock control signal for alternately producing a test control signal for selecting a voltage to be tested from a plurality of voltages and a display mode voltage and a non-display mode voltage. And switching means for switching between test data and segment data for determining which of the two transistors forming the liquid crystal display driver is to be tested.

【0012】[0012]

【作用】第1発明では、液晶表示装置を試験する場合、
出力制御回路は試験ドライバを動作させ、液晶表示ドラ
イバの動作を停止させる。試験ドライバは液晶表示デー
タに従って液晶表示装置を高速で駆動するので、液晶表
示装置の入力部に付随する容量が大きい場合でも出力伝
播遅延は少なく、試験を高速に実行できる。第2発明で
は、液晶表示装置を試験する場合、出力制御回路は試験
ドライバ及び液晶表示ドライバを共に駆動するので、試
験ドライバのみで試験する場合よりも大きい出力で液晶
表示装置の試験を実行できる。
In the first aspect of the invention, when testing a liquid crystal display device,
The output control circuit operates the test driver and stops the operation of the liquid crystal display driver. Since the test driver drives the liquid crystal display device at high speed according to the liquid crystal display data, the output propagation delay is small and the test can be executed at high speed even when the capacitance associated with the input part of the liquid crystal display device is large. In the second invention, when the liquid crystal display device is tested, the output control circuit drives both the test driver and the liquid crystal display driver. Therefore, the test of the liquid crystal display device can be performed with a larger output than when the test driver alone tests.

【0013】第3発明では、内蔵されている液晶表示ド
ライバを試験する場合、テスト制御信号により試験する
モードと試験時間を任意に選択可能となり、テスト用デ
ータにより試験するトランジスタを任意に選択可能とな
るので、試験に必要な電圧を任意に選択可能となる。
In the third invention, when testing the built-in liquid crystal display driver, the test mode and test time can be arbitrarily selected by the test control signal, and the transistor to be tested can be arbitrarily selected by the test data. Therefore, the voltage required for the test can be arbitrarily selected.

【0014】[0014]

【実施例】以下本発明をその実施例を示す図面により詳
述する。図1は本願の第1発明に係る液晶表示コントロ
ーラ・ドライバの第1の実施例の要部ブロック図であ
り、液晶表示装置のセグメント1個を駆動する液晶表示
ドライバ5及び試験対象としての液晶表示装置のセグメ
ント1個を高速で駆動する試験ドライバ14各1個並びに
液晶表示コントローラを示している。
The present invention will be described in detail below with reference to the drawings showing the embodiments thereof. FIG. 1 is a block diagram of a main part of a first embodiment of a liquid crystal display controller / driver according to the first invention of the present application, which is a liquid crystal display driver 5 for driving one segment of a liquid crystal display device and a liquid crystal display as a test object. A test driver 14 and a liquid crystal display controller for driving one segment of the device at high speed are shown.

【0015】この液晶表示コントローラ・ドライバは、
通常の液晶表示装置を駆動する場合は図示しないクロッ
ク源の低速クロック信号に基づいて、液晶表示装置を試
験する場合は高速クロック信号に基づいて動作が進行す
る。試験動作を実行するためのテスト信号TESTが入力さ
れると、出力制御回路10は、液晶表示データメモリ1か
らデータ線2を介して入力されるセグメントデータに応
じて第1,第2出力により制御線12,13 を介して試験ド
ライバ14を高速で制御し、第3出力により制御線15を介
してセグメント制御電圧変換回路3の動作を停止させる
ようになしてある。
This liquid crystal display controller driver is
When driving a normal liquid crystal display device, the operation proceeds based on a low-speed clock signal from a clock source (not shown), and when testing the liquid crystal display device, the operation proceeds based on a high-speed clock signal. When the test signal TEST for executing the test operation is input, the output control circuit 10 controls by the first and second outputs according to the segment data input from the liquid crystal display data memory 1 through the data line 2. The test driver 14 is controlled at high speed via the lines 12 and 13, and the operation of the segment control voltage conversion circuit 3 is stopped via the control line 15 by the third output.

【0016】通常の液晶表示装置を駆動する場合は、テ
スト信号TESTは入力されず、液晶表示データメモリ1か
らデータ線2を介して入力されるセグメントデータに応
じてセグメント制御電圧変換回路3は液晶表示ドライバ
5を低速で制御する。その第1出力及び第2出力は、そ
れぞれ制御線16及び制御線17を介して液晶表示ドライバ
5のトランジスタ6及びトランジスタ7のゲートにそれ
ぞれ入力されるようになしてある。
When driving a normal liquid crystal display device, the test signal TEST is not input, and the segment control voltage conversion circuit 3 operates in accordance with the segment data input from the liquid crystal display data memory 1 via the data line 2. The display driver 5 is controlled at a low speed. The first output and the second output are respectively input to the gates of the transistor 6 and the transistor 7 of the liquid crystal display driver 5 via the control line 16 and the control line 17, respectively.

【0017】液晶ドライバ5はPチャネルトランジスタ
6及びNチャネルトランジスタ7よりなり、両トランジ
スタ6,7のドレインは、接続され液晶表示ドライバ5
の出力部として試験ドライバ14の出力部及び外部リード
8に接続されている。また両トランジスタ6,7のソー
スは、液晶表示バイアス制御回路9にそれぞれ接続され
ている。
The liquid crystal driver 5 comprises a P-channel transistor 6 and an N-channel transistor 7. The drains of both transistors 6 and 7 are connected to each other and the liquid crystal display driver 5 is connected.
Is connected to the output of the test driver 14 and the external lead 8. The sources of the transistors 6 and 7 are connected to the liquid crystal display bias control circuit 9, respectively.

【0018】液晶表示バイアス制御回路9は、外部より
4種の液晶表示用電圧VL3,VL2,VL1,VSS(VL3
L2>VL1>VSS)を供給され、その4種の中から2種
の電圧VSH(VL3又はVL2),VSL(VL1又はVSS)を
出力する。また液晶表示バイアス制御回路9は、液晶表
示装置を表示する表示モード及び表示しない非表示モー
ドの2モードを有している。表示モードの場合は、電圧
SHとして電圧VL3が供給され、電圧VSLとして電圧V
SSが供給される。非表示モードの場合は、電圧VSHとし
て電圧VL2が供給され、電圧VSLとして電圧VL1が供給
される。この表示モードと非表示モードとはクロック信
号に従って交互に繰返される。電圧VSHはトランジスタ
6のソースに供給され、電圧VSLはトランジスタ7のソ
ースに供給される。
The liquid crystal display bias control circuit 9 is provided with four types of liquid crystal display voltages V L3 , V L2 , V L1 , V SS (V L3 > from the outside).
V L2 > V L1 > V SS ) is supplied, and two types of voltages V SH (V L3 or V L2 ) and V SL (V L1 or V SS ) are output from the four types. The liquid crystal display bias control circuit 9 has two modes: a display mode for displaying the liquid crystal display device and a non-display mode for not displaying. In the display mode, the voltage V L3 is supplied as the voltage V SH and the voltage V SL is supplied as the voltage V L3.
SS is supplied. For non-display mode, the voltage V L2 is supplied as a voltage V SH, a voltage V L1 is supplied as a voltage V SL. The display mode and the non-display mode are alternately repeated according to the clock signal. The voltage V SH is supplied to the source of the transistor 6, and the voltage V SL is supplied to the source of the transistor 7.

【0019】そして両トランジスタ6,7のスイッチン
グにより電圧VSH,VSLのいずれか一方の電圧が外部リ
ード8に出力され、液晶表示装置のセグメントに供給さ
れるようになしてある。試験ドライバ14は、液晶表示ド
ライバより高速で液晶表示装置を駆動するドライバであ
って、その駆動能力が液晶表示ドライバの数倍以上とな
してあるPチャネルトランジスタ18及びNチャネルトラ
ンジスタ19よりなる。両トランジスタ18,19 のドレイン
は接続され、試験ドライバ14の出力部として外部リード
8に接続され、両トランジスタ18,19 のソースは回路全
体の動作電源(電圧VDD及び電圧VSS)に直接接続され
ている。
Either of the voltages V SH and V SL is output to the external lead 8 by the switching of both the transistors 6 and 7 and is supplied to the segment of the liquid crystal display device. The test driver 14 is a driver that drives the liquid crystal display device at a higher speed than the liquid crystal display driver, and is composed of a P-channel transistor 18 and an N-channel transistor 19 whose driving capability is several times or more that of the liquid crystal display driver. The drains of both transistors 18 and 19 are connected and connected to the external lead 8 as the output of the test driver 14, and the sources of both transistors 18 and 19 are directly connected to the operating power supply (voltage V DD and voltage V SS ) of the entire circuit. Has been done.

【0020】次に動作について説明する。この液晶表示
コントローラ・ドライバは試験対象としての液晶表示装
置を試験するために高速クロックで読み出されたセグメ
ントデータで試験ドライバを制御する試験モードと、通
常の液晶表示装置を駆動するために低速クロックで読み
出されたセグメントデータで液晶表示ドライバを制御す
るセグメント出力モードとの2モードを有しており、試
験モードを実行させるのが信号TESTである。
Next, the operation will be described. This liquid crystal display controller driver has a test mode in which the test driver is controlled by the segment data read with a high-speed clock to test the liquid crystal display device as a test target, and a low-speed clock to drive a normal liquid crystal display device. The signal TEST has two modes, a segment output mode in which the liquid crystal display driver is controlled by the segment data read in step 1) and a test mode is executed.

【0021】(セグメント出力モードにおける動作)信
号TESTを入力しないので、セグメント制御電圧変換回路
3は、その第1,第2出力によりセグメントデータに応
じて両制御線16,17 を介して液晶表示ドライバ5を制御
する。この制御によりセグメントデータが ■H" の場
合は、トランジスタ7がオフ状態でトランジスタ6がオ
ン状態となり、電圧VSHが外部リード8に出力される。
電圧VSHには電圧VL3と電圧VL2が交互に現出してお
り、液晶表示装置のセグメントは点灯,消灯を繰返す。
セグメントデータが ■L" の場合は、トランジスタ6
がオフ状態でトランジスタ7がオン状態となり、電圧V
SLが外部リード8に出力される。電圧VSLには電圧VL1
と電圧VSSが交互に現出しており、そのいずれにおいて
も液晶表示装置のセグメントは消灯している。液晶表示
データメモリ1及び液晶表示バイアス制御回路9は低速
クロックで駆動され、セグメントデータが液晶表示デー
タメモリ1から順次読み出され、液晶表示装置が読み出
されたデータに応じた画面を表示する。
(Operation in the segment output mode) Since the signal TEST is not input, the segment control voltage conversion circuit 3 uses the first and second outputs of the segment control voltage conversion circuit 3 in accordance with the segment data to transmit the liquid crystal display driver through both control lines 16 and 17. Control 5 By this control, when the segment data is H, the transistor 7 is turned off and the transistor 6 is turned on, and the voltage V SH is output to the external lead 8.
The voltage V L3 and the voltage V L2 appear alternately in the voltage V SH , and the segments of the liquid crystal display device are repeatedly turned on and off.
Transistor 6 when segment data is L
Is turned off, the transistor 7 is turned on, and the voltage V
SL is output to the external lead 8. Voltage V L1 in the voltage V SL
And the voltage V SS alternately appear, and in each of them, the segment of the liquid crystal display device is turned off. The liquid crystal display data memory 1 and the liquid crystal display bias control circuit 9 are driven by a low-speed clock, the segment data are sequentially read from the liquid crystal display data memory 1, and the liquid crystal display device displays a screen according to the read data.

【0022】(試験モードにおける動作)信号TESTを入
力すると、出力制御回路10は第1, 第2出力により試験
ドライバ14を制御する。この制御によりセグメントデー
タが ■H" の場合は、トランジスタ19はオフ状態でト
ランジスタ18がオン状態となり、電圧VDDが外部リード
8に出力され液晶表示装置のセグメントは点灯する。そ
してセグメントデータが■L" の場合は、トランジスタ
18はオフ状態でトランジスタ19がオン状態となり、電圧
SSが外部リード8に出力され液晶表示装置のセグメン
トは消灯する。
(Operation in Test Mode) When the signal TEST is input, the output control circuit 10 controls the test driver 14 by the first and second outputs. By this control, when the segment data is (1) H ", the transistor 19 is turned off and the transistor 18 is turned on, the voltage V DD is output to the external lead 8, and the segment of the liquid crystal display device is turned on. If L ", transistor
When the transistor 18 is off, the transistor 19 is turned on, the voltage V SS is output to the external lead 8, and the segment of the liquid crystal display device is turned off.

【0023】出力制御回路10の第3出力はセグメント制
御電圧変換回路3の動作を停止させる。液晶表示データ
メモリ1及び液晶表示バイアス制御回路9は、高速クロ
ックで駆動され、セグメントデータが順次読み出され、
液晶表示装置の試験が実行される。また液晶表示装置を
試験中に画面が通常の表示とは異なる表示をした場合、
その液晶表示装置の良,不良を判定する前に液晶表示コ
ントローラ・ドライバのセグメントデータの内容をモニ
タする必要がある。しかし液晶表示ドライバは液晶表示
装置のセグメントを駆動する能力はあるが、モニタする
ためセグメントデータの出力電圧をチェックする試験装
置を駆動する能力はない。このような場合、試験ドライ
バによりセグメントデータの内容をモニタすることがで
きる。
The third output of the output control circuit 10 stops the operation of the segment control voltage conversion circuit 3. The liquid crystal display data memory 1 and the liquid crystal display bias control circuit 9 are driven by a high-speed clock to sequentially read out segment data,
A liquid crystal display device test is performed. Also, when the LCD display is different from the normal display during the test,
It is necessary to monitor the content of the segment data of the liquid crystal display controller / driver before judging the quality of the liquid crystal display device. However, although the liquid crystal display driver has the ability to drive the segments of the liquid crystal display device, it does not have the ability to drive the test device for checking the output voltage of the segment data for monitoring. In such a case, the test driver can monitor the contents of the segment data.

【0024】図2は本願の第1発明に係る第2の実施例
の要部ブロック図であり、液晶表示装置のセグメント1
個を駆動する液晶表示ドライバ5及び試験対象としての
液晶表示装置のセグメント1個を高速で駆動する試験ド
ライバ14各1個並びに液晶表示コントローラを示してい
る。本実施例に示す液晶表示コントローラ・ドライバ
は、試験モード及びセグメント出力モードのほか、各種
のデータを入出力する汎用モードに活用するため外部デ
ータの取り込み、取り込んだデータの出力、及び外部リ
ード8に接続されている外部装置からのデータの受け入
れの3動作ができるよう構成されている。
FIG. 2 is a block diagram of a main part of a second embodiment according to the first invention of the present application, which is a segment 1 of the liquid crystal display device.
The figure shows a liquid crystal display driver 5 for driving each one, a test driver 14 for driving one segment of a liquid crystal display device as a test object at high speed, and a liquid crystal display controller. The liquid crystal display controller driver shown in the present embodiment is used for not only the test mode and the segment output mode but also the general-purpose mode for inputting / outputting various data, so as to capture external data, output the captured data, and external lead 8. It is configured to perform three operations of receiving data from the connected external device.

【0025】外部から入力される汎用出力用データがデ
ータ線21を介して汎用出力用データ保持回路20に入力さ
れ、その入力データをラッチするため信号線22上のライ
ト信号WRが汎用出力用データ保持回路20に与えられる。
汎用出力用データ保持回路20は信号WRのタイミングによ
りデータ線21上の汎用出力用データを取り込んで保持す
る。その保持されたデータは、データ線23を介して出力
制御回路10へ出力される。そして汎用モードを実行する
ための信号PORTは、信号線24を介して出力制御回路10に
入力される。
General-purpose output data input from the outside is input to the general-purpose output data holding circuit 20 via the data line 21, and the write signal WR on the signal line 22 is used to latch the input data. It is given to the holding circuit 20.
The general-purpose output data holding circuit 20 takes in and holds general-purpose output data on the data line 21 at the timing of the signal WR. The held data is output to the output control circuit 10 via the data line 23. Then, the signal PORT for executing the general-purpose mode is input to the output control circuit 10 via the signal line 24.

【0026】信号PORTが入力されると、出力制御回路10
は、液晶表示データメモリ1のセグメントデータではな
く、汎用出力データ保持回路からデータ線23を介して入
力される汎用出力用データを選択し、その選択したデー
タに応じて第1, 第2出力により試験ドライバを高速で
制御し、第3出力によりセグメント制御電圧変換回路3
の動作を停止させるようなしてある。外部リード8に接
続されている外部装置からのデータを受け入れるため、
外部リード8は汎用入力回路25及びデータ線21を介して
図示しない回路に接続されている。汎用入力回路25に信
号線26によりリード信号RDが与えられると、外部装置か
らのデータが読み込まれるようなしてある。その他の構
成については図2と同様であるので説明を省略する。
When the signal PORT is input, the output control circuit 10
Is not the segment data of the liquid crystal display data memory 1, but the general-purpose output data input from the general-purpose output data holding circuit via the data line 23, and the first and second outputs are selected according to the selected data. The test driver is controlled at high speed, and the segment control voltage conversion circuit 3 is controlled by the third output.
The operation of is stopped. To receive data from an external device connected to the external lead 8,
The external lead 8 is connected to a circuit (not shown) via the general-purpose input circuit 25 and the data line 21. When the read signal RD is given to the general-purpose input circuit 25 through the signal line 26, the data from the external device is read. Other configurations are the same as those in FIG. 2, and thus description thereof will be omitted.

【0027】次に動作について説明する。 (汎用モードにおける動作)外部のデータは、信号WRを
入力することにより汎用出力用データ保持回路20に保持
される。信号PORTを入力すると、出力制御回路10は第
1, 第2出力により試験ドライバ14を制御する。この制
御により汎用出力用データが ■H" の場合は、トラン
ジスタ19はオフ状態でトランジスタ18はオン状態となり
電圧VDDが外部リード8に出力される。そして汎用出力
用データが ■L" の場合は、トランジスタ18がオフ状
態でトランジスタ19がオン状態となり電圧VSSが外部リ
ード8に出力される。さらに出力制御回路10は第3出力
によりセグメント制御電圧変換回路3の動作を停止す
る。
Next, the operation will be described. (Operation in General Mode) External data is held in the general-purpose output data holding circuit 20 by inputting the signal WR. When the signal PORT is input, the output control circuit 10 controls the test driver 14 by the first and second outputs. By this control, when the general-purpose output data is 1H ", the transistor 19 is off and the transistor 18 is on so that the voltage V DD is output to the external lead 8. When the general-purpose output data is 1L". Causes the transistor 18 to be off and the transistor 19 to be on so that the voltage V SS is output to the external lead 8. Further, the output control circuit 10 stops the operation of the segment control voltage conversion circuit 3 by the third output.

【0028】汎用出力用データ保持回路20は高速クロッ
クで駆動され、汎用出力用データ保持回路20のデータが
順次読み出され、外部リード8を介して接続される外部
装置に出力され、汎用の各種用途に供せられる。外部の
対向する装置から伝送されるデータは、信号RDを入力す
ることにより外部リード8から汎用入力回路25及びデー
タ線21を介して読み込まれる。
The general-purpose output data holding circuit 20 is driven by a high-speed clock, the data of the general-purpose output data holding circuit 20 is sequentially read, and is output to an external device connected via the external lead 8 for various general-purpose data. Can be used for purposes. The data transmitted from the external opposing device is read from the external lead 8 via the general-purpose input circuit 25 and the data line 21 by inputting the signal RD.

【0029】図3は本願の第2発明に係る液晶表示コン
トローラ・ドライバの第1の実施例の要部ブロック図で
あり、液晶表示ドライバ5及び試験ドライバ14各1個並
びに液晶表示コントローラを示しており、試験モードに
おいて液晶表示ドライバ5と試験ドライバ14とが並行駆
動されるよう構成されている。液晶表示ドライバ5 には
電圧VDD,VSSが供給され、電圧VSH,VSLと切換使用
ができるよう電源切換スイッチ27,28 が設けられてい
る。即ち電源切換スイッチ27(28)の一方の端子には電圧
SH(VSL)が与えられ、他方の端子には電圧VDD(V
SS)が与えられ、そしてコモン端子はトランジスタ6
(7)のソースに接続されている。さらに信号TESTが信
号線11を介して電源切換スイッチ27(28)に与えられた場
合は、トランジスタ6(7)のソースには電圧VDD(V
SS)が供給され、信号TESTが与えられない場合がノーマ
ルな状態であって、電圧VSH(VSL)が供給されるよう
なしてある。両電源切換スイッチ27,28 はトランジスタ
により構成されている。
FIG. 3 is a block diagram of the essential parts of a first embodiment of a liquid crystal display controller / driver according to the second invention of the present application, showing one liquid crystal display driver 5 and one test driver 14 and a liquid crystal display controller. Therefore, the liquid crystal display driver 5 and the test driver 14 are configured to be driven in parallel in the test mode. The liquid crystal display driver 5 is supplied with the voltages V DD and V SS, and is provided with power source changeover switches 27 and 28 so that it can be switched between the voltages V SH and V SL . That is, the voltage V SH (V SL ) is applied to one terminal of the power source changeover switch 27 (28) and the voltage V DD (V SL ) is applied to the other terminal.
SS ), and the common terminal is transistor 6
It is connected to the source of (7). Further, when the signal TEST is given to the power source changeover switch 27 (28) through the signal line 11, the voltage V DD (V
It is a normal state when SS ) is supplied and the signal TEST is not supplied, and the voltage V SH (V SL ) is supplied. Both power source changeover switches 27, 28 are composed of transistors.

【0030】出力制御回路10は、液晶表示データメモリ
1からのセグメントデータに応じて試験ドライバ14を制
御し、セグメント制御電圧変換回路3の動作には関与し
ない。セグメント制御電圧変換回路3は出力制御回路10
とは無関係に液晶表示データメモリ1からのセグメント
データを液晶表示ドライバ5が制御される電圧まで変換
し、制御線4を介して液晶表示ドライバ5の両トランジ
スタ6,7のゲートに出力するようなしてある。その他
の構成については図2と同様であるので説明を省略す
る。
The output control circuit 10 controls the test driver 14 according to the segment data from the liquid crystal display data memory 1, and does not participate in the operation of the segment control voltage conversion circuit 3. The segment control voltage conversion circuit 3 is an output control circuit 10
Regardless of the above, the segment data from the liquid crystal display data memory 1 is converted to a voltage for controlling the liquid crystal display driver 5, and is output to the gates of both transistors 6 and 7 of the liquid crystal display driver 5 via the control line 4. There is. Other configurations are the same as those in FIG. 2, and thus description thereof will be omitted.

【0031】次に動作について説明する。 (試験モードにおける動作)信号TESTを入力すると、電
源切換スイッチ27(28)はトランジスタ6(7)のソース
電圧が電圧VDD(VSS)となるよう切り換わる。そして
出力制御回路10は試験ドライバ14を、セグメント制御電
圧変換回路3は液晶表示ドライバを、いずれもセグメン
トデータに応じて制御する。この制御によりセグメント
データが ■H" の場合は、外部リード8に電圧VDD
出力され、 ■L" の場合は電圧VSSが出力される。こ
のようにして試験ドライバ14のみで試験する場合よりも
大きい出力で液晶表示装置の試験が実行される。
Next, the operation will be described. (Operation in test mode) When the signal TEST is input, the power supply changeover switch 27 (28) switches so that the source voltage of the transistor 6 (7) becomes the voltage V DD (V SS ). Then, the output control circuit 10 controls the test driver 14 and the segment control voltage conversion circuit 3 controls the liquid crystal display driver according to the segment data. By this control, the voltage V DD is output to the external lead 8 when the segment data is (1) H ", and the voltage V SS is output when the segment data is (1) L". In this way, the test of the liquid crystal display device is executed with a larger output than the test driver 14 alone.

【0032】(セグメント出力モードにおける動作)信
号TESTを入力しないので電源切換スイッチ27(28)はノー
マルの状態を継続し、トランジスタ6(7)のソースに
は電圧VSH(VSL)が供給される。そして出力制御回路
10は動作せず、セグメント制御電圧変換回路3はセグメ
ントデータに応じて液晶表示ドライバ5を制御する。こ
の制御によりセグメントデータが ■H" の場合は外部
リード8に電圧VSHが出力され、 ■L" の場合は電圧
SLが出力されることにより、液晶表示装置のセグメン
トが駆動される。このようにしてセグメントデータに応
じた画面が液晶表示装置に表示される。
(Operation in segment output mode) Since the signal TEST is not input, the power source changeover switch 27 (28) continues to be in the normal state, and the voltage V SH (V SL ) is supplied to the source of the transistor 6 (7). It And output control circuit
The segment control voltage conversion circuit 3 controls the liquid crystal display driver 5 according to the segment data. By this control, the voltage V SH is output to the external lead 8 when the segment data is (H) and the voltage V SL is output when the segment data is (L), thereby driving the segment of the liquid crystal display device. In this way, a screen corresponding to the segment data is displayed on the liquid crystal display device.

【0033】図4は本願の第2発明に係る第2の実施例
の要部ブロック図であり、液晶表示ドライバ5及び試験
ドライバ14各1個並びに液晶表示コントローラを示して
いる。本実施例における液晶表示コントローラ・ドライ
バは試験モードにおいて液晶表示ドライバ5と試験ドラ
イバ14が並行駆動されるほか、さらに汎用モードにおい
ても並行駆動されるよう構成されている。
FIG. 4 is a block diagram of the essential parts of a second embodiment according to the second aspect of the present invention, showing a liquid crystal display driver 5, a test driver 14 and a liquid crystal display controller. The liquid crystal display controller driver according to the present embodiment is configured such that the liquid crystal display driver 5 and the test driver 14 are driven in parallel in the test mode, and also in the general mode.

【0034】外部から入力される汎用出力用データが、
データ線21を介して汎用出力用データ保持回路20に入力
され、その入力データをラッチするための信号線22上の
ライト信号WRが、汎用出力用データ保持回路20に与えら
れる。汎用出力用データ保持回路20は、信号WRのタイミ
ングにより、データ線21上の汎用出力用データを取り込
んで保持する。その保持されたデータは、データ線23を
介して出力制御回路10へ出力される。
General-purpose output data input from the outside is
The write signal WR, which is input to the general-purpose output data holding circuit 20 via the data line 21 and latches the input data, is applied to the general-purpose output data holding circuit 20. The general-purpose output data holding circuit 20 takes in and holds general-purpose output data on the data line 21 at the timing of the signal WR. The held data is output to the output control circuit 10 via the data line 23.

【0035】汎用モードを実行するための信号PORTが、
信号線24を介して出力制御回路10に入力されると、出力
制御回路10はセグメントデータではなく、汎用出力用デ
ータを選択して取り込み、そのデータに応じて第1, 第
2出力により試験ドライバ14を高速で制御し、かつその
データをデータ線35を介してセグメント制御電圧変換回
路3に伝送する。セグメント制御電圧変換回路3は、セ
グメントデータではなく、データ線35上の汎用出力用デ
ータを取り込み、そのデータに応じて液晶表示ドライバ
5を高速で駆動する。信号PORTは信号線24を介して、か
つ信号TESTは信号線11を介していずれも電源切換スイッ
チ制御回路29に与えられ、さらに制御線30を介して両電
源切換スイッチ27,28 を制御するようなしてある。
The signal PORT for executing the general mode is
When input to the output control circuit 10 via the signal line 24, the output control circuit 10 selects not general data but general-purpose output data and fetches it, and the test driver outputs the first and second outputs according to the selected data. 14 is controlled at high speed, and the data is transmitted to the segment control voltage conversion circuit 3 via the data line 35. The segment control voltage conversion circuit 3 takes in not the segment data but general-purpose output data on the data line 35, and drives the liquid crystal display driver 5 at high speed according to the data. The signal PORT is given to the power source changeover switch control circuit 29 via the signal line 24 and the signal TEST is given to the power source changeover switch control circuit 29 via the signal line 11, and further controls both power source changeover switches 27, 28 via the control line 30. Yes.

【0036】汎用モードにおいては、外部リード8に接
続されている外部装置からデータを受け入れることも可
能であって、外部リード8は汎用入力回路25及びデータ
線21を介して図示しない回路に接続されていて、汎用入
力回路25に信号線26によりリード信号RDが与えられる
と、外部装置からのデータが読み込まれるようなしてあ
る。その他の構成については図4と同様であるので説明
を省略する。
In the general-purpose mode, it is possible to receive data from an external device connected to the external lead 8. The external lead 8 is connected to a circuit (not shown) via the general-purpose input circuit 25 and the data line 21. However, when the read signal RD is given to the general-purpose input circuit 25 through the signal line 26, the data from the external device is read. The other configuration is similar to that of FIG. 4, and thus the description is omitted.

【0037】次に動作について説明する。 (セグメント出力モードにおける動作)信号TEST及び信
号PORTはいずれも入力されないので、電源切換スイッチ
27,28はノーマルの状態を継続し、トランジスタ6
(7)のソースには電圧VSH(VSL)が供給される。液
晶表示バイアス制御回路9は、低速クロックで駆動さ
れ、電圧VL3(VSS)と電圧VL2(VL1)とが交互に選
択されて電圧VSH(VSL)として液晶表示ドライバ5に
供給される。そして液晶表示データメモリ1のセグメン
トデータは、低速クロックで読み出され、セグメント制
御電圧変換回路3を介して液晶表示ドライバ5を駆動
し、セグメントデータに応じた電圧VSH(VSL)が、外
部リード8を介して液晶表示装置のセグメントに出力さ
れる。このようにしてセグメントデータに応じて画面が
液晶表示装置に表示される。
Next, the operation will be described. (Operation in segment output mode) Since neither signal TEST nor signal PORT is input, the power switch
27 and 28 continue the normal state, and transistor 6
The voltage V SH (V SL ) is supplied to the source of (7). The liquid crystal display bias control circuit 9 is driven by a low speed clock, and the voltage V L3 (V SS ) and the voltage V L2 (V L1 ) are alternately selected and supplied to the liquid crystal display driver 5 as the voltage V SH (V SL ). To be done. Then, the segment data of the liquid crystal display data memory 1 is read at a low speed clock, drives the liquid crystal display driver 5 via the segment control voltage conversion circuit 3, and the voltage V SH (V SL ) according to the segment data is externally supplied. It is output to the segment of the liquid crystal display device through the lead 8. In this way, the screen is displayed on the liquid crystal display device according to the segment data.

【0038】(試験モードにおける動作)信号TESTが入
力されると、電圧切換スイッチ27,28 が切り換わり、電
圧VDD(VSS)が液晶表示ドライバ5及び試験ドライバ
14に供給される。そして液晶表示データメモリ1のセグ
メントデータは、高速クロックで読み出され、出力制御
回路10を介して試験ドライバ14を駆動し、セグメント制
御電圧変換回路3を介して液晶表示ドライバ5を駆動す
る。セグメントデータにより並行駆動された試験ドライ
バ14及び液晶表示ドライバ5によりセグメントデータに
応じて電圧VDD(VSS)が外部リード8を介して試験す
べき液晶表示装置に出力される。このようにして試験ド
ライバ14のみで試験するよりも大きい出力で、液晶非装
置の試験が実行される。
(Operation in test mode) When the signal TEST is input, the voltage changeover switches 27 and 28 are switched, and the voltage V DD (V SS ) changes to the liquid crystal display driver 5 and the test driver.
Supplied to 14. Then, the segment data of the liquid crystal display data memory 1 is read at a high speed clock, drives the test driver 14 via the output control circuit 10, and drives the liquid crystal display driver 5 via the segment control voltage conversion circuit 3. The test driver 14 and the liquid crystal display driver 5 driven in parallel by the segment data output the voltage V DD (V SS ) according to the segment data to the liquid crystal display device to be tested through the external lead 8. In this way, the liquid crystal non-device test is executed with a larger output than the test driver 14 alone.

【0039】(汎用モードにおける動作)信号PORTが入
力されると、電源切換スイッチ27,28 が切り換わり電圧
DD(VSS)が、液晶表示ドライバ5に供給される。そ
して汎用出力用データ保持回路20の汎用出力用データ
は、高速クロックで読み出され、出力制御回路10及びセ
グメント制御電圧変換回路3を介して試験ドライバ14及
び液晶表示ドライバ5を並行駆動し、汎用出力用データ
に応じた電圧VSH(VSL)が、外部リード8を介して外
部装置に出力される。このようにして試験ドライバ14の
みで出力するよりも大きい出力が、汎用の各種用途に供
せられる。
(Operation in general mode) When the signal PORT is input, the power source changeover switches 27, 28 are switched and the voltage V DD (V SS ) is supplied to the liquid crystal display driver 5. Then, the general-purpose output data of the general-purpose output data holding circuit 20 is read at a high-speed clock, and the test driver 14 and the liquid crystal display driver 5 are driven in parallel via the output control circuit 10 and the segment control voltage conversion circuit 3, and The voltage V SH (V SL ) corresponding to the output data is output to the external device through the external lead 8. In this way, an output larger than that output by the test driver 14 alone is provided for various general-purpose applications.

【0040】図5は本願の第3発明に係る液晶表示コン
トローラ・ドライバの要部ブロック図であり、1個の液
晶表示ドライバ5及び液晶表示コントローラを示してい
る。この液晶表示コントローラ・ドライバは通常の液晶
表示装置を駆動するセグメント出力モードの場合は、低
速クロックCLK に基づいて動作が進行し、内蔵されてい
る液晶表示ドライバを試験する試験モードの場合は、外
部から入力されるテスト制御信号及びテスト用データに
基づいて動作が進行する。
FIG. 5 is a block diagram of an essential part of a liquid crystal display controller / driver according to the third invention of the present application, showing one liquid crystal display driver 5 and one liquid crystal display controller. This LCD display controller driver operates in the segment output mode to drive a normal LCD device, and the operation progresses based on the low-speed clock CLK. The operation proceeds based on the test control signal and the test data input from the.

【0041】液晶表示データメモリ1のセグメントデー
タは、低速クロックCLK で読み出され、データ線2を介
して入力選択切換回路32に入力される。テスト用データ
は電圧VSHと電圧VSLとから試験に必要な電圧を選択す
るデータであって、データ線33を介して同じく入力選択
切換回路32に入力される。信号TESTは信号線11を介し
て、かつ信号TESTの反転した信号TESTバーは信号線34を
介していずれも入力選択切換回路32に与えられる。入力
選択切換回路32は、信号TESTバーによりセグメントデー
タを選択し、信号TESTによりテスト用データを選択し、
選択したデータをセグメント制御電圧変換回路3へ出力
する。セグメント制御電圧変換回路3は入力されたセグ
メントデータ又はテスト用データを、変換して液晶表示
ドライバ5を制御できる電圧となして制御線4を介して
液晶表示ドライバ5へ出力する。
The segment data of the liquid crystal display data memory 1 is read by the low speed clock CLK and input to the input selection switching circuit 32 via the data line 2. The test data is data for selecting a voltage required for the test from the voltage V SH and the voltage V SL, and is also input to the input selection switching circuit 32 via the data line 33. The signal TEST is given to the input selection switching circuit 32 both through the signal line 11 and the inverted signal TEST bar of the signal TEST through the signal line 34. The input selection switching circuit 32 selects the segment data by the signal TEST bar and the test data by the signal TEST,
The selected data is output to the segment control voltage conversion circuit 3. The segment control voltage conversion circuit 3 converts the input segment data or test data into a voltage that can control the liquid crystal display driver 5 and outputs the voltage to the liquid crystal display driver 5 via the control line 4.

【0042】液晶表示ドライバ5はPチャネルトランジ
スタ6及びNチャネルトランジスタ7よりなる。両トラ
ンジスタ6,7のゲートは接続されて入力端として信号
線4に接続され、両トランジスタ6,7のドレインは接
続されて出力端として外部リード8に接続される。外部
リード8はセグメント出力モードの場合は、液晶表示装
置に接続され、試験モードの場合は、半導体集積回路を
試験する試験機(以下テスタという)に接続される。両
トランジスタ6,7のソースは液晶表示バイアス制御回
路9が生成する電圧VSH,VSLをそれぞれ供給される。
The liquid crystal display driver 5 comprises a P channel transistor 6 and an N channel transistor 7. The gates of both transistors 6 and 7 are connected and connected to the signal line 4 as input ends, and the drains of both transistors 6 and 7 are connected and connected to the external lead 8 as output ends. The external lead 8 is connected to the liquid crystal display device in the segment output mode, and connected to a tester (hereinafter referred to as a tester) for testing the semiconductor integrated circuit in the test mode. The sources of the transistors 6 and 7 are supplied with the voltages V SH and V SL generated by the liquid crystal display bias control circuit 9, respectively.

【0043】テスト制御信号TEST CONT は ■H" と ■
L" とが交互に交替する信号ではなく、 ■H" が一定
期間継続し、次いで ■L" が一定期間継続する信号で
あって、その継続期間は前もって決められているが、試
験の進行状況に応じて制御することが可能である。この
信号TEST CONT 及び低速クロックCLK が制御信号切換回
路36に入力され、かつ信号TESTが同じく制御信号切換回
路36に与えられるようになしてある。制御信号切換回路
36は信号TESTが与えられた場合は信号TEST CONTを選択
し、信号TESTが与えられない場合は低速クロックCLK を
選択し、選択した信号を液晶表示バイアス制御回路9へ
出力する。液晶表示バイアス制御回路9は外部より4種
の電圧VL3,VL2,VL1,VSS(VL3>VL2>VL1>V
SS)を供給されており、低速クロックCLK が入力されて
いる場合は、電圧VL3(VSS)と電圧VL2(VL1)とを
低速クロックに応じて交互に選択し、信号TEST CONT が
入力されている場合は、信号TEST CONT に応じて選択
し、いずれの場合においても2種の電圧VSH及びVSL
して液晶表示ドライバ5に供給するようなしてある。
The test control signal TEST CONT is
L "is not a signal that alternates with each other, but" H "is a signal that continues for a certain period, and then" L "is a signal that continues for a certain period. The duration is determined in advance, but the progress of the test The signal TEST CONT and the low-speed clock CLK are input to the control signal switching circuit 36, and the signal TEST is also supplied to the control signal switching circuit 36. Switching circuit
36 selects the signal TEST CONT when the signal TEST is applied, selects the low speed clock CLK when the signal TEST is not applied, and outputs the selected signal to the liquid crystal display bias control circuit 9. LCD bias control circuit 9 is a voltage V L3 of four externally, V L2, V L1, V SS (V L3> V L2> V L1> V
When SS ) is supplied and the low-speed clock CLK is input, the voltage VL3 ( VSS ) and the voltage VL2 ( VL1 ) are alternately selected according to the low-speed clock, and the signal TEST CONT becomes When it is input, it is selected according to the signal TEST CONT, and in any case, it is supplied to the liquid crystal display driver 5 as two kinds of voltages V SH and V SL .

【0044】次に動作について説明する。 (セグメント出力モードにおける動作)信号TEST及び信
号TEST CONT は入力しない。制御信号切換回路36は低速
クロックCLK を選択して出力するので、液晶表示バイア
ス制御回路9は表示モードの電圧VL3(VSS)と非表示
モードの電圧VL2(VL1)とから低速クロックに基づい
て交互にいずれか一つのモードを選択し、電圧VSH及び
電圧VSLとして液晶表示ドライバ5のトランジスタ6
(7)に供給する。さらに信号TESTバーにより入力選択
切換回路32はテスト用データでなくセグメントデータを
選択する。セグメントデータは、セグメント制御電圧変
換回路3を介して液晶表示ドライバ5を低速で駆動し、
電圧VSH(VSL)を外部リード8に出力して液晶表示装
置のセグメントを点灯(消灯)する。
Next, the operation will be described. (Operation in segment output mode) Do not input signal TEST and signal TEST CONT. Since the control signal switching circuit 36 selects and outputs the low speed clock CLK, the liquid crystal display bias control circuit 9 selects the low speed clock from the display mode voltage VL3 ( VSS ) and the non-display mode voltage VL2 ( VL1 ). One of the modes is alternately selected on the basis of, and the transistor 6 of the liquid crystal display driver 5 is set as the voltage V SH and the voltage V SL.
Supply to (7). Further, the signal TEST bar causes the input selection switching circuit 32 to select the segment data instead of the test data. The segment data is obtained by driving the liquid crystal display driver 5 at a low speed via the segment control voltage conversion circuit 3.
The voltage V SH (V SL ) is output to the external lead 8 to turn on (turn off) the segment of the liquid crystal display device.

【0045】(試験モードにおける動作)信号TEST及び
信号TEST CONT を入力すると、制御信号切換回路36は信
号TEST CONT を選択して出力する。液晶表示バイアス制
御回路9は表示モードの電圧VL3(VSS)と非表示モー
ドの電圧VL2(VL1)とから信号TEST CONT に応じた一
つのモードを選択して電圧VSH及び電圧VSLとして液晶
表示ドライバ5の両トランジスタ6,7に供給する。さ
らに信号TESTにより入力選択切換回路32はセグメントデ
ータでなくテスト用データを選択してセグメント制御電
圧変換回路3に出力する。テスト用データはセグメント
制御電圧変換回路3で変換されて液晶表示ドライバ5を
制御する。この制御によりテスト用データが ■H" (
■L" )の場合はトランジスタ7(6)はオフ状態でト
ランジスタ6(7)はオン状態となり、外部リード8に
電圧VSH(VSL)が出力される。結局4種の電圧
(VL3,VL2,VL1,VSS)のいずれか一の電圧が、テ
スト用データ及び信号TEST CONT に応じて選択し出力さ
れ外部リード8を介してテスタにより試験される。この
ように4種の電圧が信号TEST CONT に応じて表示モード
か非表示モードかが選択され、その選択されたモードの
2種の電圧が液晶表示ドライバに供給される。そしてテ
スト用データが順次入力されることにより液晶表示ドラ
イバが順次駆動され、その出力電流がテスタの抵抗を流
れる。この抵抗の電圧をチェックすることにより液晶表
示ドライバの試験が進行して行く。
(Operation in Test Mode) When the signal TEST and the signal TEST CONT are input, the control signal switching circuit 36 selects and outputs the signal TEST CONT. The liquid crystal display bias control circuit 9 selects one mode corresponding to the signal TEST CONT from the voltage V L3 (V SS ) in the display mode and the voltage V L2 (V L1 ) in the non-display mode to select the voltage V SH and the voltage V SH. It is supplied to both transistors 6 and 7 of the liquid crystal display driver 5 as SL . Further, the input selection switching circuit 32 selects not the segment data but the test data by the signal TEST and outputs it to the segment control voltage conversion circuit 3. The test data is converted by the segment control voltage conversion circuit 3 to control the liquid crystal display driver 5. By this control, the test data can be
(3) L ″), the transistor 7 (6) is in the off state and the transistor 6 (7) is in the on state, and the voltage V SH (V SL ) is output to the external lead 8. Eventually, four types of voltage (V L3 , V L2 , V L1 , V SS ) is selected and output according to the test data and the signal TEST CONT and tested by the tester via the external lead 8. As described above, The display mode or the non-display mode is selected according to the signal TEST CONT, and two kinds of voltages of the selected mode are supplied to the liquid crystal display driver. The display drivers are sequentially driven, and the output current thereof flows through the resistance of the tester, and the test of the liquid crystal display driver proceeds by checking the voltage of this resistance.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上詳述したように本願の第1発明及び
第2発明に係る液晶表示コントローラ・ドライバは、液
晶表示ドライバより高速で液晶表示装置を駆動する試験
ドライバを使用することにより、液晶表示装置の試験を
高速に実行できる効果を奏する。本願の第3発明に係る
液晶表示コントローラ・ドライバは、内蔵されている液
晶表示ドライバを試験するために必要な電圧を任意に生
成することができるので、液晶表示ドライバの試験を迅
速に実行できる効果を奏する。
As described above in detail, the liquid crystal display controller / driver according to the first and second inventions of the present application uses a test driver for driving the liquid crystal display device at a higher speed than the liquid crystal display driver, and thereby An effect that the test of the display device can be executed at high speed is achieved. The liquid crystal display controller / driver according to the third invention of the present application can arbitrarily generate the voltage necessary for testing the built-in liquid crystal display driver, and therefore, the effect of rapidly executing the test of the liquid crystal display driver can be obtained. Play.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本願の第1の発明に係る液晶表示コントローラ
・ドライバのブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a liquid crystal display controller / driver according to a first invention of the present application.

【図2】本願の第1の発明に係る他の液晶表示コントロ
ーラ・ドライバのブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram of another liquid crystal display controller / driver according to the first invention of the present application.

【図3】本願の第2の発明に係る液晶表示コントローラ
・ドライバのブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram of a liquid crystal display controller / driver according to a second invention of the present application.

【図4】本願の第2の発明に係る他の液晶表示コントロ
ーラ・ドライバのブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram of another liquid crystal display controller / driver according to the second invention of the present application.

【図5】本願の第3の発明に係る液晶表示コントローラ
・ドライバのブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram of a liquid crystal display controller / driver according to a third invention of the present application.

【図6】従来の液晶表示コントローラ・ドライバのブロ
ック図である。
FIG. 6 is a block diagram of a conventional liquid crystal display controller / driver.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 液晶表示データメモリ 3 セグメント制御電圧変換回路 5 液晶表示ドライバ 8 外部リード 9 液晶表示バイアス制御回路 10 出力制御回路 14 試験ドライバ 20 汎用出力用データ保持回路 27,28 電源切換スイッチ 29 電源切換スイッチ制御回路 32 入力選択切換回路 36 制御信号切換回路 1 liquid crystal display data memory 3 segment control voltage conversion circuit 5 liquid crystal display driver 8 external lead 9 liquid crystal display bias control circuit 10 output control circuit 14 test driver 20 general-purpose output data holding circuit 27, 28 power supply selector switch 29 power supply selector switch control circuit 32 Input selection switching circuit 36 Control signal switching circuit

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年5月31日[Submission date] May 31, 1993

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0001[Correction target item name] 0001

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示コントローラ
又は液晶表示ドライバを試験する回路を備えた液晶表示
コントローラ・ドライバに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display controller driver having a circuit for testing a liquid crystal display controller or a liquid crystal display driver.

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0026[Correction target item name] 0026

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0026】信号PORTが入力されると、出力制御回路10
は、液晶表示データメモリ1のセグメントデータではな
く、汎用出力データ保持回路からデータ線23を介して入
力される汎用出力用データを選択し、その選択したデー
タに応じて第1, 第2出力により試験ドライバを高速で
制御し、第3出力によりセグメント制御電圧変換回路3
の動作を停止させるようなしてある。外部リード8に接
続されている外部装置からのデータを受け入れるため、
外部リード8は汎用入力回路25及びデータ線21を介して
図示しない回路に接続されている。汎用入力回路25に信
号線26によりリード信号RDが与えられると、外部装置か
らのデータが読み込まれるようなしてある。その他の構
成については図1と同様であるので説明を省略する。
When the signal PORT is input, the output control circuit 10
Is not the segment data of the liquid crystal display data memory 1, but the general-purpose output data input from the general-purpose output data holding circuit via the data line 23, and the first and second outputs are selected according to the selected data. The test driver is controlled at high speed, and the segment control voltage conversion circuit 3 is controlled by the third output.
The operation of is stopped. To receive data from an external device connected to the external lead 8,
The external lead 8 is connected to a circuit (not shown) via the general-purpose input circuit 25 and the data line 21. When the read signal RD is given to the general-purpose input circuit 25 through the signal line 26, the data from the external device is read. It omitted since the other structures are the same as in FIG.

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0036[Correction target item name] 0036

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0036】汎用モードにおいては、外部リード8に接
続されている外部装置からデータを受け入れることも可
能であって、外部リード8は汎用入力回路25及びデータ
線21を介して図示しない回路に接続されていて、汎用入
力回路25に信号線26によりリード信号RDが与えられる
と、外部装置からのデータが読み込まれるようなしてあ
る。その他の構成については図3と同様であるので説明
を省略する。
In the general-purpose mode, it is possible to receive data from an external device connected to the external lead 8. The external lead 8 is connected to a circuit (not shown) via the general-purpose input circuit 25 and the data line 21. However, when the read signal RD is given to the general-purpose input circuit 25 through the signal line 26, the data from the external device is read. The other configuration is similar to that of FIG. 3, and thus the description is omitted.

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0038[Correction target item name] 0038

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0038】(試験モードにおける動作)信号TESTが入
力されると、電圧切換スイッチ27,28 が切り換わり、電
圧VDD(VSS)が液晶表示ドライバ5及び試験ドライバ
14に供給される。そして液晶表示データメモリ1のセグ
メントデータは、高速クロックで読み出され、出力制御
回路10を介して試験ドライバ14を駆動し、セグメント制
御電圧変換回路3を介して液晶表示ドライバ5を駆動す
る。セグメントデータにより並行駆動された試験ドライ
バ14及び液晶表示ドライバ5によりセグメントデータに
応じて電圧VDD(VSS)が外部リード8を介して試験す
べき液晶表示装置に出力される。このようにして試験ド
ライバ14のみで試験するよりも大きい出力で、液晶表示
装置の試験が実行される。
(Operation in test mode) When the signal TEST is input, the voltage changeover switches 27 and 28 are switched, and the voltage V DD (V SS ) changes to the liquid crystal display driver 5 and the test driver.
Supplied to 14. Then, the segment data of the liquid crystal display data memory 1 is read at a high speed clock, drives the test driver 14 via the output control circuit 10, and drives the liquid crystal display driver 5 via the segment control voltage conversion circuit 3. The test driver 14 and the liquid crystal display driver 5 driven in parallel by the segment data output the voltage V DD (V SS ) according to the segment data to the liquid crystal display device to be tested through the external lead 8. In this way, the liquid crystal display is displayed with a larger output than the test driver 14 alone.
The device test is performed.

【手続補正5】[Procedure Amendment 5]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0044[Correction target item name] 0044

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0044】次に動作について説明する。 (セグメント出力モードにおける動作)信号TEST及び信
号TEST CONT は入力しない。制御信号切換回路36は低速
クロックCLK を選択して出力するので、液晶表示バイア
ス制御回路9は表示モードの電圧VL3(VSS)と非表示
モードの電圧VL2(VL1)とから低速クロックに基づい
交互に選択し、電圧VSH及び電圧VSLとして液晶表示
ドライバ5のトランジスタ6(7)に供給する。さらに
信号TESTバーにより入力選択切換回路32はテスト用デー
タでなくセグメントデータを選択する。セグメントデー
タは、セグメント制御電圧変換回路3を介して液晶表示
ドライバ5を低速で駆動し、電圧VSH(VSL)を外部リ
ード8に出力して液晶表示装置のセグメントを点灯(消
灯)する。
Next, the operation will be described. (Operation in segment output mode) Do not input signal TEST and signal TEST CONT. Since the control signal switching circuit 36 selects and outputs the low speed clock CLK, the liquid crystal display bias control circuit 9 selects the low speed clock from the display mode voltage VL3 ( VSS ) and the non-display mode voltage VL2 ( VL1 ). Are alternately selected based on the above, and are supplied to the transistor 6 (7) of the liquid crystal display driver 5 as the voltage V SH and the voltage V SL . Further, the signal TEST bar causes the input selection switching circuit 32 to select the segment data instead of the test data. The segment data drives the liquid crystal display driver 5 at a low speed through the segment control voltage conversion circuit 3 and outputs the voltage V SH (V SL ) to the external lead 8 to turn on (turn off) the segment of the liquid crystal display device.

【手続補正6】[Procedure correction 6]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図1[Name of item to be corrected] Figure 1

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図1】 [Figure 1]

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液晶表示コントローラの制御により液晶
表示装置を駆動する液晶表示ドライバを備える液晶表示
コントローラ・ドライバにおいて、前記液晶表示ドライ
バより高速で液晶表示装置を駆動する試験ドライバと、
前記液晶表示ドライバと試験ドライバの出力を同一出力
路より出力する出力部と、試験ドライバ及び前記液晶表
示ドライバの出力・非出力を制御する制御手段とを備え
たことを特徴とする液晶表示コントローラ・ドライバ。
1. A liquid crystal display controller driver including a liquid crystal display driver for driving a liquid crystal display device under the control of a liquid crystal display controller, comprising: a test driver for driving the liquid crystal display device at a higher speed than the liquid crystal display driver.
A liquid crystal display controller comprising: an output unit that outputs the outputs of the liquid crystal display driver and the test driver from the same output path; and a control unit that controls output / non-output of the test driver and the liquid crystal display driver. driver.
【請求項2】 試験ドライバと液晶表示ドライバとを並
列駆動する手段を備えた請求項1に記載の液晶表示コン
トローラ・ドライバ。
2. The liquid crystal display controller driver according to claim 1, further comprising means for driving the test driver and the liquid crystal display driver in parallel.
【請求項3】 複数の電圧から所要の電圧をクロック信
号に基づいて選択して液晶表示ドライバに供給し、また
液晶表示装置に表示するセグメントデータにより液晶表
示ドライバを駆動する液晶表示コントローラ・ドライバ
において、前記液晶表示ドライバを試験するための電圧
を前記複数の電圧から選択するテスト制御信号と前記ク
ロック信号とを切り換える切換手段と、前記液晶表示ド
ライバを試験するテストデータと前記セグメントデータ
とを切り換える切換手段とを備えたことを特徴とする液
晶表示コントローラ・ドライバ。
3. A liquid crystal display controller / driver for selecting a required voltage from a plurality of voltages based on a clock signal and supplying the selected voltage to a liquid crystal display driver, and driving the liquid crystal display driver according to segment data displayed on the liquid crystal display device. Switching means for switching between a test control signal for selecting a voltage for testing the liquid crystal display driver from the plurality of voltages and the clock signal, and switching for switching between test data for testing the liquid crystal display driver and the segment data And a liquid crystal display controller / driver.
JP34842392A 1992-12-28 1992-12-28 Liquid crystal display controller driver Pending JPH06205338A (en)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990052412A (en) * 1997-12-22 1999-07-05 김영환 Image test apparatus for thin film transistor liquid crystal display panel
KR20030032244A (en) * 2001-10-17 2003-04-26 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 Data masking and test pattern generation circuit for timing controllor
KR100429393B1 (en) * 1997-06-25 2004-08-02 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 Interface circuit for LCM
JP2005291972A (en) * 2004-03-31 2005-10-20 Casio Comput Co Ltd Inspection circuit
KR100535355B1 (en) * 1998-10-29 2006-03-16 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 Interface circuit for liquid crystal module

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