JPH06177663A - Optic/electric conversion transistor circuit - Google Patents

Optic/electric conversion transistor circuit

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Publication number
JPH06177663A
JPH06177663A JP32519792A JP32519792A JPH06177663A JP H06177663 A JPH06177663 A JP H06177663A JP 32519792 A JP32519792 A JP 32519792A JP 32519792 A JP32519792 A JP 32519792A JP H06177663 A JPH06177663 A JP H06177663A
Authority
JP
Japan
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load means
transistor
connection point
power supply
emitter
Prior art date
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Pending
Application number
JP32519792A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Katsuya Tanaka
勝也 田中
Hiroki Yamashita
寛樹 山下
Atsumi Kawada
篤美 川田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPH06177663A publication Critical patent/JPH06177663A/en
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Abstract

PURPOSE:To provide a grounded base optic/electric conversion transistor (TR) circuit which is less effected by a power supply voltage fluctuation. CONSTITUTION:A collector of a TR Q1 is connected to a power supply VCC 1 via a load resistor R1 and its emitter is connected to a power supply VEE1 at a connecting point N1 via a load resistor R2. Its base is connected to the power supply VCC1 via a load resistor R3 and connected to the N1 via diodes D1, D2. An anode of a photo diode PD is connected to a connecting point between the emitter and the load resistor R2 and a bias voltage VH is given to the cathode. The output signal is obtained from a connecting point OUT1 between the load resistor R1 and the collector. The grounded base optic/electric conversion TR circuit which is less effected by a power supply voltage fluctuation is realized by keeping the difference of voltages between the base of the TRQ1 and the point N1 constant by means of the diodes D1, D2.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光電気変換トランジス
タ回路に関する。
FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a photoelectric conversion transistor circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、ベース接地型増幅回路はエミッ
タ接地型増幅回路と比較して、高周波領域での特性が良
いことが知られている。従って、光検出器の出力信号を
ベース接地型増幅回路に入力することにより、エミッタ
接地型光電気変換回路に比べて高速な光電気変換回路の
実現が期待できる。従来の技術としては、特開平3―7
0305号に記載されている光信号受信装置の等価増幅
回路における前置増幅回路がある。該前置増幅回路の一
例を図11に示す。該回路は、コレクタを出力端子OU
T及び負荷抵抗RLを介して電源VCCに接続し、エミ
ッタを入力端子IN及び負荷抵抗REを介して電源VE
Eに接続し、ベースをダイオードD1及びD2を介して
電源VCCに接続してバイアス電流を供給すると共に、
負荷抵抗RBを介して電源VEEに接続して動作点を設
定するトランジスタQ1と、入力端子INに接続した光
検出器101によって構成される。
2. Description of the Related Art Generally, it is known that a grounded base type amplifier circuit has better characteristics in a high frequency region than a grounded emitter type amplifier circuit. Therefore, by inputting the output signal of the photodetector to the grounded base type amplifier circuit, it is expected to realize a higher speed photoelectric conversion circuit than the grounded emitter type photoelectric conversion circuit. As a conventional technique, Japanese Patent Laid-Open No. 3-7
There is a preamplifier circuit in the equivalent amplifier circuit of the optical signal receiving device described in No. 0305. FIG. 11 shows an example of the preamplifier circuit. The circuit has a collector and an output terminal OU.
It is connected to the power supply VCC via T and the load resistance RL, and the emitter is connected to the power supply VE via the input terminal IN and the load resistance RE.
Connected to E, the base connected to the power supply VCC through the diodes D1 and D2 to supply the bias current,
It is composed of a transistor Q1 which is connected to a power source VEE via a load resistor RB to set an operating point, and a photodetector 101 which is connected to an input terminal IN.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術では、
電源VEEが変動する場合、トランジスタQ1のベース
電位が電源VCCに対して固定されているので、負荷抵
抗REと電源VEEとの接続点N1に対するベース電位
が変動する。該ベース電位が変動すると該回路はエミッ
タ接地型増幅器として動作する。その結果、電源VEE
の変動を増幅して出力してしまう問題点を生ずる。ま
た、電源VCCが変動する場合は、その変動に追従して
電源VEEに対するトランジスタQ1のベース電位が変
動することになり、電源VCCの変動を増幅して出力し
てしまう問題点を生ずる。
SUMMARY OF THE INVENTION In the above conventional technique,
When the power supply VEE changes, the base potential of the transistor Q1 is fixed with respect to the power supply VCC, so the base potential with respect to the connection point N1 between the load resistor RE and the power supply VEE changes. When the base potential changes, the circuit operates as a grounded-emitter amplifier. As a result, the power supply VEE
The problem arises that the fluctuations in the output are amplified and output. Further, when the power supply VCC fluctuates, the base potential of the transistor Q1 with respect to the power supply VEE fluctuates following the fluctuation, which causes a problem of amplifying and outputting the fluctuation of the power supply VCC.

【0004】本発明の目的は、電源電圧変動の影響が少
ないベース接地型光電気変換トランジスタ回路を提供す
ることである。
An object of the present invention is to provide a base-grounded photoelectric conversion transistor circuit which is less affected by power supply voltage fluctuations.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の原理を図12に
示す。本発明の目的は、ベース接地トランジスタQ1の
ベースに与えるバイアスVBを、負荷抵抗REと電源V
EEとの接続点N1の電位の変動に追従する手段によっ
て与えることにより達成できる。
The principle of the present invention is shown in FIG. An object of the present invention is to set the bias VB applied to the base of the grounded base transistor Q1 to the load resistance RE and the power supply V
This can be achieved by providing by means for following the fluctuation of the potential of the connection point N1 with the EE.

【0006】[0006]

【作用】ベース接地トランジスタQ1のベースとN1と
の電位差は、N1の電位の変動に追従するバイアス手段
VBによって一定に保たれているので、該回路はエミッ
タ接地型増幅回路として動作せず、電源VEE及び電源
VCCの変動を増幅して出力することはない。従って、
本発明によれば、電源電圧変動の影響が少ないベース接
地型光電気変換回路を提供することが可能となる。
Since the potential difference between the base of the grounded base transistor Q1 and N1 is kept constant by the bias means VB that follows the fluctuation of the potential of N1, the circuit does not operate as a grounded-emitter amplifier circuit, and the power supply does not operate. It does not amplify and output fluctuations of VEE and power supply VCC. Therefore,
According to the present invention, it is possible to provide a base-grounded photoelectric conversion circuit that is less affected by power supply voltage fluctuations.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0008】第1の実施例を図1に示す。トランジスタ
Q1のコレクタを負荷抵抗R1を介して電源VCC1に
接続し、エミッタを負荷抵抗R2を介して電源VEE1
に接続する。ここで、負荷抵抗R2と電源VEE1との
接続点をN1とする。ベースは接続点N2において、負
荷抵抗R3を介して電源VCC1に接続すると共にダイ
オードD1、D2を介してN1に接続する。ホトダイオ
ードPDのアノードをトランジスタQ1のエミッタと負
荷抵抗R2との接続点に接続し、カソードにはバイアス
電圧VHを与える。出力はコレクタと負荷抵抗R1との
接続点OUT1から得る。ホトダイオードPDに光信号
を入力すると光電流が発生し、負荷抵抗R2に流れる。
N2とN1の電位差は、ダイオードD1、D2の順方向
電圧によって一定に保持されているので、トランジスタ
Q1は、ベース・エミッタ間電圧とR2の電圧降下の和
が一定となるようにエミッタ電流を変化させる。エミッ
タ電流の変化はコレクタ電流の変化となり、OUT1の
電位が変化して出力信号となる。今、電源VEE1の電
位が変動した場合のN1とN2の電位変動を考える。N
1の電位は該変動に追従して変化する。一方、N2の電
位はN1に対し、ダイオードD1、D2の順方向電圧を
加えた値となり、N1と同様に電源VEE1の電位変動
に追従して変動することになる。しかし、N2とN1の
電位差は電源VEE1の変動に係わらず一定の値となる
ので、該回路はエミッタ接地回路として動作しない。従
って、本実施例は電源VEE1の変動の影響を受けず、
かつ電源VCC1の変動を増幅して出力しない。また、
ベース電位は、ダイオード1個当たりの順方向電圧、直
列に接続するダイオードの個数、或いはダイオードに流
す電流を変更することにより、所望の電位に設定でき
る。
A first embodiment is shown in FIG. The collector of the transistor Q1 is connected to the power supply VCC1 via the load resistor R1, and the emitter is connected to the power supply VEE1 via the load resistor R2.
Connect to. Here, the connection point between the load resistor R2 and the power supply VEE1 is N1. The base is connected to the power supply VCC1 via the load resistor R3 and the diode N1 via the diodes D1 and D2 at the connection point N2. The anode of the photodiode PD is connected to the connection point between the emitter of the transistor Q1 and the load resistor R2, and the cathode is supplied with the bias voltage VH. The output is obtained from the connection point OUT1 between the collector and the load resistor R1. When an optical signal is input to the photodiode PD, a photocurrent is generated and flows into the load resistor R2.
Since the potential difference between N2 and N1 is kept constant by the forward voltage of the diodes D1 and D2, the transistor Q1 changes the emitter current so that the sum of the base-emitter voltage and the voltage drop of R2 becomes constant. Let A change in the emitter current results in a change in the collector current, which changes the potential of OUT1 and becomes an output signal. Consider now the potential fluctuations of N1 and N2 when the potential of the power supply VEE1 changes. N
The potential of 1 changes following the fluctuation. On the other hand, the potential of N2 becomes a value obtained by adding the forward voltage of the diodes D1 and D2 to N1, and changes in accordance with the potential change of the power supply VEE1 as in N1. However, since the potential difference between N2 and N1 has a constant value regardless of the fluctuation of the power supply VEE1, the circuit does not operate as a grounded-emitter circuit. Therefore, the present embodiment is not affected by the fluctuation of the power source VEE1,
Moreover, the fluctuation of the power supply VCC1 is not amplified and output. Also,
The base potential can be set to a desired potential by changing the forward voltage per diode, the number of diodes connected in series, or the current passed through the diodes.

【0009】本発明の第2の実施例を図2に示す。第1
の実施例と同様にトランジスタQ1と負荷抵抗R1、R
2によってベース接地回路を構成し、負荷抵抗R2と電
源VEE1との接続点をN1とする。ホトダイオードP
DのアノードをトランジスタQ1のエミッタと負荷抵抗
R2との接続点に接続し、カソードにはバイアス電圧V
Hを与える。出力はトランジスタQ1のコレクタと負荷
抵抗R1との接続点OUT1から得る。トランジスタQ
1のベースに与えるバイアスは、トランジスタQ2、Q
3及び負荷抵抗R4、R5及びR6からなる回路によっ
て与える。トランジスタQ2のコレクタを負荷抵抗R4
を介して電源VCC1に接続し、ベースを負荷抵抗R5
を介して電源VCC1に接続し、エミッタを負荷抵抗R
6を介してN1に接続する。ここで、トランジスタQ2
のベースと負荷抵抗R5の接続点をN2とする。次に、
トランジスタQ3のコレクタをN2に接続し、ベースを
トランジスタQ2のエミッタと負荷抵抗R6との接続点
に接続し、エミッタをN1に接続する。そして、トラン
ジスタQ1のベースをN2に接続する。第1の実施例と
同様な原理に従い、N2とN1の電位差はトランジスタ
Q2とQ3のベース・エミッタ間電圧によって一定に保
持される。従って、本実施例は電源VEE1の変動の影
響を受けず、かつ電源VCC1の変動を増幅して出力し
ない。次に、本実施例特有の効果について述べる。今、
温度変化や製造ばらつきなどの原因により、トランジス
タQ2、Q3のベース・エミッタ間電圧が増加した場合
を考える。すると、トランジスタQ1のベース電位が上
昇しようとするが、同時に負荷抵抗R5を流れる電流が
増加し、負荷抵抗R5に生ずる電圧降下が増大し、N2
の電位は降下する。逆に、トランジスタQ2、Q3のベ
ース・エミッタ間電圧が減少した場合には、トランジス
タQ1のベース電位は降下しようとするが、同時に負荷
抵抗R5を流れる電流が減少し、負荷抵抗R5が生ずる
電圧降下が減少し、N2の電位は上昇する。以上の動作
により、N2とN1の電位差は、トランジスタQ2、Q
3のベース・エミッタ間電圧の増減及び電源VEE1の
変動に係わらず一定値に保持される。
A second embodiment of the present invention is shown in FIG. First
In the same manner as in the above embodiment, the transistor Q1 and the load resistors R1 and R
2 constitutes a base ground circuit, and the connection point between the load resistor R2 and the power source VEE1 is N1. Photodiode P
The anode of D is connected to the connection point of the emitter of the transistor Q1 and the load resistor R2, and the bias voltage V is connected to the cathode.
Give H. The output is obtained from the connection point OUT1 between the collector of the transistor Q1 and the load resistor R1. Transistor Q
The bias applied to the base of 1 is transistors Q2, Q
3 and load resistors R4, R5 and R6. The collector of the transistor Q2 is connected to the load resistor R4
Connected to the power supply VCC1 via the load resistor R5
Connected to the power supply VCC1 via the
Connect to N1 via 6. Here, the transistor Q2
The connection point between the base of R and the load resistor R5 is N2. next,
The collector of the transistor Q3 is connected to N2, the base is connected to the connection point between the emitter of the transistor Q2 and the load resistor R6, and the emitter is connected to N1. Then, the base of the transistor Q1 is connected to N2. According to the same principle as in the first embodiment, the potential difference between N2 and N1 is kept constant by the base-emitter voltage of the transistors Q2 and Q3. Therefore, the present embodiment is not affected by the fluctuation of the power supply VEE1 and does not amplify and output the fluctuation of the power supply VCC1. Next, the effect peculiar to this embodiment will be described. now,
Consider a case where the base-emitter voltage of the transistors Q2 and Q3 is increased due to a change in temperature or manufacturing variation. Then, the base potential of the transistor Q1 tries to rise, but at the same time, the current flowing through the load resistor R5 increases, and the voltage drop generated in the load resistor R5 increases, and N2 increases.
The potential of drops. Conversely, when the base-emitter voltage of the transistors Q2 and Q3 decreases, the base potential of the transistor Q1 tries to drop, but at the same time, the current flowing through the load resistor R5 decreases and the voltage drop caused by the load resistor R5 occurs. Decreases and the potential of N2 rises. By the above operation, the potential difference between N2 and N1 is
It is held at a constant value regardless of the increase / decrease in the base-emitter voltage of 3 and the fluctuation of the power supply VEE1.

【0010】本発明の第3の実施例を図3に示す。第2
の実施例おける負荷抵抗R6の代わりにトランジスタQ
C1を設け、トランジスタQ3とカレントミラー回路を
構成している。この場合も、第2の実施例と同様の効果
を期待できる。
A third embodiment of the present invention is shown in FIG. Second
In place of the load resistor R6 in the embodiment of FIG.
C1 is provided to form a current mirror circuit with the transistor Q3. Also in this case, the same effect as that of the second embodiment can be expected.

【0011】本発明の第4の実施例を図4に示す。本実
施例において、トランジスタQ1のベースに与えるバイ
アスVBを供給する手段は図示していない。本実施例
は、トランジスタQ1と負荷抵抗R1、R2からなるベ
ース接地回路と、トランジスタQ4と負荷抵抗R7から
なるエミッタホロワ回路によって構成される。ホトダイ
オードPDのアノードをトランジスタQ1のエミッタと
負荷抵抗R2との接続点に接続し、カソードにはバイア
ス電圧VHを与える。トランジスタQ4のコレクタを電
源VCC2に接続し、ベースはトランジスタQ1のコレ
クタと負荷抵抗R1との接続点に接続し、エミッタは負
荷抵抗R7を介して電源VEE2と接続する。出力はト
ランジスタQ4のエミッタと負荷抵抗R7との接続点O
UT2から得る。エミッタホロワ回路が無い場合、ベー
ス接地回路の出力インピーダンスは負荷抵抗R1の値と
なり、出力信号線が長い場合には、このR1と配線によ
る浮遊容量がローパス・フィルタを形成することがあ
る。また、該出力インピーダンスと出力端子に接続した
負荷によって出力が分圧され、出力信号振幅が減少する
場合がある。本実施例は、ベース接地型光電気変換回路
にエミッタホロワ回路を接続することにより、回路の出
力インピーダンスを低下させると共に負荷駆動能力を高
め、前記の浮遊容量と負荷に対する影響を少なくする効
果がある。
A fourth embodiment of the present invention is shown in FIG. In this embodiment, the means for supplying the bias VB applied to the base of the transistor Q1 is not shown. This embodiment is composed of a grounded base circuit composed of a transistor Q1 and load resistors R1 and R2, and an emitter follower circuit composed of a transistor Q4 and load resistor R7. The anode of the photodiode PD is connected to the connection point between the emitter of the transistor Q1 and the load resistor R2, and the cathode is supplied with the bias voltage VH. The collector of the transistor Q4 is connected to the power supply VCC2, the base is connected to the connection point between the collector of the transistor Q1 and the load resistance R1, and the emitter is connected to the power supply VEE2 via the load resistance R7. The output is the connection point O between the emitter of the transistor Q4 and the load resistor R7.
Obtained from UT2. When there is no emitter follower circuit, the output impedance of the grounded base circuit becomes the value of the load resistance R1, and when the output signal line is long, this R1 and the stray capacitance due to the wiring may form a low-pass filter. Further, the output may be divided by the output impedance and the load connected to the output terminal, and the output signal amplitude may decrease. In this embodiment, the emitter-follower circuit is connected to the base-grounded photoelectric conversion circuit, so that the output impedance of the circuit is lowered and the load driving capability is enhanced, and the effect on the stray capacitance and the load is reduced.

【0012】本発明の第5の実施例を図5に示す。本実
施例において、トランジスタQ1、Q5のベースに与え
るバイアスVBを供給する手段は図示していない。本実
施例は、少なくともトランジスタQ1、Q5と負荷抵抗
R1、R2、R8、R9からなるベース接地回路群と、
トランジスタQ4、Q6と負荷抵抗R7、R10からな
るエミッタホロワ回路群と、差動増幅器A1によって構
成される。ホトダイオードPDのアノードをトランジス
タQ1のエミッタと負荷抵抗R2との接続点に接続し、
カソードにはバイアス電圧VHを与える。トランジスタ
Q4のエミッタと負荷抵抗R7との接続点N1と、トラ
ンジスタQ6のエミッタと負荷抵抗R10との接続点N
2とを、差動増幅器A1の入力端子、すなわちトランジ
スタQA1とトランジスタQA2のベースと接続する。
差動増幅器A1は、トランジスタQA1、QA2と負荷
抵抗RA1、RA2及び定電流源IGからなる。トラン
ジスタQA1とQA2のコレクタは、それぞれ、出力端
子T1、出力端子T2に接続するとともに、それぞれ、
負荷抵抗RA1、RA2を介して電源VCC3に接続す
る。トランジスタQA1とQA2のエミッタを直結し、
定電流源IGを介して電源VEE3に接続する。本実施
例によれば、電源VCC1の変動は、エミッタホロワ回
路を介して、差動増幅器A1に対し同相信号として入力
される。差動増幅器は同相信号を抑圧する働きがあるの
で、本実施例によれば、電源VCC1の変動の影響を受
けないベース接地型光電気変換回路を実現できる。
A fifth embodiment of the present invention is shown in FIG. In this embodiment, the means for supplying the bias VB applied to the bases of the transistors Q1 and Q5 is not shown. In this embodiment, a base ground circuit group including at least transistors Q1 and Q5 and load resistors R1, R2, R8, and R9,
An emitter follower circuit group including transistors Q4 and Q6 and load resistors R7 and R10, and a differential amplifier A1. The anode of the photodiode PD is connected to the connection point between the emitter of the transistor Q1 and the load resistor R2,
A bias voltage VH is applied to the cathode. A connection point N1 between the emitter of the transistor Q4 and the load resistance R7, and a connection point N between the emitter of the transistor Q6 and the load resistance R10.
2 are connected to the input terminals of the differential amplifier A1, that is, the bases of the transistors QA1 and QA2.
The differential amplifier A1 includes transistors QA1 and QA2, load resistors RA1 and RA2, and a constant current source IG. The collectors of the transistors QA1 and QA2 are connected to the output terminal T1 and the output terminal T2, respectively, and
It is connected to the power supply VCC3 via the load resistors RA1 and RA2. The emitters of the transistors QA1 and QA2 are directly connected,
It is connected to the power supply VEE3 via the constant current source IG. According to the present embodiment, the fluctuation of the power supply VCC1 is input to the differential amplifier A1 as an in-phase signal via the emitter follower circuit. Since the differential amplifier has a function of suppressing the in-phase signal, according to the present embodiment, it is possible to realize the grounded base photoelectric conversion circuit which is not affected by the fluctuation of the power supply VCC1.

【0013】本発明の第6の実施例を図6に示す。本実
施例は、第5の実施例におけるバイアスVBを供給する
手段の一例である。第5の実施例に対し、トランジスタ
Q7と負荷抵抗R11を付加する。トランジスタQ7の
コレクタを負荷抵抗R11を介して電源VCC1に接続
し、ベースをトランジスタQ5のエミッタと負荷抵抗R
9との接続点に接続し、エミッタを負荷抵抗R2と電源
VEE1との接続点に接続する。そして、負荷抵抗R1
1とトランジスタQ7のコレクタの接続点からバイアス
VBを供給する。本実施例におけるトランジスタQ5と
Q7、負荷抵抗R8、R9及びR11からなる回路は、
第2の実施例におけるトランジスタQ1のベースにバイ
アスを与える回路と同じ構成である。従って、本実施例
は第2の実施例と第5の実施例の効果を兼ね備えてお
り、第2の実施例と第5の実施例を別々に構成して組み
合わせるよりも、部品数を少なくできる効果がある。
A sixth embodiment of the present invention is shown in FIG. This embodiment is an example of means for supplying the bias VB in the fifth embodiment. A transistor Q7 and a load resistor R11 are added to the fifth embodiment. The collector of the transistor Q7 is connected to the power supply VCC1 via the load resistor R11, and the base is the emitter of the transistor Q5 and the load resistor R1.
9 and the emitter is connected to the connection point between the load resistor R2 and the power supply VEE1. And the load resistance R1
Bias VB is supplied from the connection point of 1 and the collector of the transistor Q7. The circuit including the transistors Q5 and Q7 and the load resistors R8, R9 and R11 in this embodiment is
It has the same configuration as the circuit for applying a bias to the base of the transistor Q1 in the second embodiment. Therefore, this embodiment combines the effects of the second and fifth embodiments, and the number of parts can be reduced as compared with the case where the second and fifth embodiments are separately configured and combined. effective.

【0014】本発明の第7の実施例を図7に示す。本実
施例は、第5の実施例に対してホトダイオードPDの接
続方法が異なる。本実施例では、ホトダイオードPDの
カソードを負荷抵抗R12を介してバイアスVHと接続
するとともに、該カソードと負荷抵抗R12の接続点を
コンデンサC1を介してトランジスタQ5のエミッタと
負荷抵抗R9との接続点に接続する。負荷抵抗R12と
コンデンサC1で決まる時定数を受信する光パルスの周
期より十分長く設定することにより、光電流は、トラン
ジスタQ5のエミッタ電流を増加させ、トランジスタQ
1のエミッタ電流を減少させる様に流れる。従って、ト
ランジスタQ1が構成するベース接地回路とトランジス
タQ5が構成するベース接地回路とでは、互いに逆相の
信号が入力されるので、互いに逆相の信号を出力するこ
とになる。その結果、差動増幅器A1に互いに逆相の信
号が入力されることになり、単相の信号を入力する場合
に比べて2倍の出力信号振幅を得ることになる。つま
り、本実施例によれば、第5の実施例に比べて2倍の増
幅率を持つ光電気変換回路を実現できる。
A seventh embodiment of the present invention is shown in FIG. This embodiment differs from the fifth embodiment in the method of connecting the photodiode PD. In this embodiment, the cathode of the photodiode PD is connected to the bias VH via the load resistance R12, and the connection point between the cathode and the load resistance R12 is connected to the connection point between the emitter of the transistor Q5 and the load resistance R9 via the capacitor C1. Connect to. By setting the time constant determined by the load resistor R12 and the capacitor C1 to be sufficiently longer than the period of the received optical pulse, the photocurrent increases the emitter current of the transistor Q5, and the photocurrent increases.
It flows so as to reduce the emitter current of 1. Therefore, the base-grounded circuit formed by the transistor Q1 and the base-grounded circuit formed by the transistor Q5 input signals having opposite phases to each other, and thus output signals having opposite phases. As a result, mutually opposite-phase signals are input to the differential amplifier A1, and an output signal amplitude twice as large as that when a single-phase signal is input is obtained. That is, according to this embodiment, it is possible to realize a photoelectric conversion circuit having a double amplification factor as compared with the fifth embodiment.

【0015】本発明の第8の実施例を図8に示す。本実
施例は、4個のベース接地型光電気変換回路201〜2
04を基板301上に集積し、かつ各回路毎にベース接
地トランジスタのためのバイアス回路401〜404を
備えたものである。複数の光電気変換回路を同一基板上
に集積することにより、1個のチップで多チャンネルの
光信号を受信できる。ところが、1個のチップに複数の
ベース接地型光電気変換回路を集積した場合、チップ内
の場所による電源電位の変動によって、回路毎に動作点
がばらつくことがある。本実施例によれば、各回路毎に
ベース接地トランジスタのためのバイアス回路を備えて
いるので、場所による電源電位の変動の影響を抑制でき
る効果がある。また、光検出器を含む回路素子を同一基
板上に集積することにより、配線の寄生リアクタンスの
影響を最小にでき、回路の高速動作が期待できる。光検
出器とトランジスタ素子が集積可能な基板材料として
は、例えばSi、GaAs、InPがある。
An eighth embodiment of the present invention is shown in FIG. In this embodiment, four base-grounded photoelectric conversion circuits 201 to 2 are used.
04 is integrated on the substrate 301, and bias circuits 401 to 404 for grounded base transistors are provided for each circuit. By integrating a plurality of opto-electric conversion circuits on the same substrate, a single chip can receive multi-channel optical signals. However, when a plurality of base-grounded photoelectric conversion circuits are integrated in one chip, the operating point may vary from circuit to circuit due to fluctuations in the power supply potential depending on the location in the chip. According to the present embodiment, each circuit is provided with the bias circuit for the grounded base transistor, so that there is an effect that the influence of the fluctuation of the power supply potential depending on the place can be suppressed. Also, by integrating the circuit elements including the photodetector on the same substrate, the influence of the parasitic reactance of the wiring can be minimized, and high-speed operation of the circuit can be expected. Examples of the substrate material on which the photodetector and the transistor element can be integrated include Si, GaAs, and InP.

【0016】本発明の第9の実施例を図9に示す。本実
施例は、光検出器を除いたベース接地型光電気変換回路
の回路部分501を基板301上に集積し、光検出器1
01を基板301に対してフリップチップ実装したもの
である。光検出器101は、基板301上に作製された
回路501と半田バンプ601、602によって接続さ
れる。第8の実施例のように光検出器と他の回路素子を
モノリシックに集積する技術に比べ、フリッチップ実装
技術による光検出器の集積化は容易である。従って、本
実施例によれば、高速動作可能な回路を容易に実現でき
る。
A ninth embodiment of the present invention is shown in FIG. In this embodiment, the circuit portion 501 of the base-grounded photoelectric conversion circuit excluding the photodetector is integrated on the substrate 301, and the photodetector 1
01 is flip-chip mounted on the substrate 301. The photodetector 101 is connected to the circuit 501 formed on the substrate 301 by solder bumps 601 and 602. Compared to the technique of monolithically integrating the photodetector and other circuit elements as in the eighth embodiment, the photodetector can be easily integrated by the flip-chip mounting technique. Therefore, according to this embodiment, it is possible to easily realize a circuit that can operate at high speed.

【0017】本発明の第10の実施例を図10に示す。
本実施例は、光検出器を除いた回路部分501を基板3
01上に集積し、光検出器101を基板301に設けた
穴701に埋め込み、充填材702により固定したもの
である。光検出器101は該基板上に作製された回路5
01と配線703によって接続される。本実施例によれ
ば、第9の実施例記載のフリップチップ実装技術に比
べ、基板301の表面は平らな面となり、該基板面に対
してさらにフリップチップ実装により、他の電子回路チ
ップ704を集積できる。従って、本実施例によれば、
集積密度の高いトランジスタ回路を実現できる。
A tenth embodiment of the present invention is shown in FIG.
In this embodiment, the circuit portion 501 excluding the photodetector is mounted on the substrate 3
01, the photodetector 101 is embedded in a hole 701 provided in the substrate 301 and fixed by a filling material 702. The photodetector 101 is a circuit 5 formed on the substrate.
01 and the wiring 703. According to the present embodiment, the surface of the substrate 301 becomes a flat surface as compared with the flip chip mounting technology described in the ninth embodiment, and another electronic circuit chip 704 is mounted on the substrate surface by flip chip mounting. Can be accumulated. Therefore, according to this embodiment,
A transistor circuit with high integration density can be realized.

【0018】本発明の第11の実施例を図13に示す。
本実施例は、第1の実施例においてN1とN2をコンデ
ンサC2で接続し、電源VCC1とN2をコンデンサC
3で接続したものである。本実施例によれば、電源VC
C1および、電源VEE1の変動はコンデンサC2およ
びC3によって吸収されるので、第1の実施例に比べ
て、より電源電圧の変動の影響を受けないベース接地型
光電気変換回路を実現できる。
An eleventh embodiment of the present invention is shown in FIG.
In this embodiment, N1 and N2 are connected by a capacitor C2 in the first embodiment, and power supplies VCC1 and N2 are connected by a capacitor C2.
3 are connected. According to this embodiment, the power supply VC
Since the fluctuations of C1 and the power supply VEE1 are absorbed by the capacitors C2 and C3, it is possible to realize a grounded base photoelectric conversion circuit which is less affected by the fluctuations of the power supply voltage as compared with the first embodiment.

【0019】本発明の第12の実施例を図14に示す。
ホトダイオードPD1のカソードをバイアスVH1に接
続し、該アノードをトランジスタQ1のエミッタと第2
の負荷手段との接続点に接続する。そしてホトダイオー
ドPD2のカソードをバイアスVH2に接続し、該アノ
ードをトランジスタQ5のエミッタと負荷抵抗R9との
接続点に接続する。本実施例によれば、ホトダイオード
PD1とPD2に互いに逆相の信号を入力することによ
り、差動の光信号を受信するトランジスタ回路を実現で
きる。
A twelfth embodiment of the present invention is shown in FIG.
The cathode of the photodiode PD1 is connected to the bias VH1 and the anode of the photodiode PD1 is connected to the emitter of the transistor Q1.
Connect to the connection point with the load means of. The cathode of the photodiode PD2 is connected to the bias VH2, and the anode is connected to the connection point between the emitter of the transistor Q5 and the load resistor R9. According to this embodiment, a transistor circuit that receives a differential optical signal can be realized by inputting signals of opposite phases to the photodiodes PD1 and PD2.

【0020】なお、本実施例に用いられるトランジスタ
は、シリコン或いは化合物半導体によるバイポーラトラ
ンジスタだけでなく、電界効果トランジスタを用いても
実現可能であることは容易に類推できる。
It can be easily inferred that the transistor used in this embodiment can be realized not only by using a bipolar transistor made of silicon or a compound semiconductor but also by using a field effect transistor.

【0021】また、本実施例に用いられるホトダイオー
ドは、PINホトダイオード或いはMSMホトダイオー
ドのいずれか、もしくはホトダイオードの代わりに光検
出器としてホトコンダクタを用いることができる。
The photodiode used in this embodiment can be either a PIN photodiode or an MSM photodiode, or a photoconductor can be used as a photodetector instead of the photodiode.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
電源電圧の変動に対して安定なベース接地型光電気変換
回路を実現できる。
As described above, according to the present invention,
It is possible to realize a base-grounded photoelectric conversion circuit that is stable against fluctuations in power supply voltage.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3の実施例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a third embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第4の実施例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a fourth embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第5の実施例を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a fifth embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第6の実施例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a sixth embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第7の実施例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a seventh embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第8の実施例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an eighth embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第9の実施例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a ninth embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第10の実施例を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a tenth embodiment of the present invention.

【図11】従来の技術を説明する図である。FIG. 11 is a diagram illustrating a conventional technique.

【図12】本発明の原理を説明する図である。FIG. 12 is a diagram illustrating the principle of the present invention.

【図13】本発明の第11の実施例を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing an eleventh embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第12の実施例を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing a twelfth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

Q1〜Q7、QA1、QA2、QC1:トランジスタ、 RL、RE、RB、R1〜R12、RA1、RA2:負
荷抵抗、 C1、C2、C3:コンデンサ、 D1、D2:ダイオード、 PD、PD1、PD2:ホトダイオード、 VCC、VCC1、VCC2、VCC3、 VEE、VEE1、VEE2、VEE3:電源、 VB、VH、VH1、VH2:バイアス、 A1:差動増幅器、 IG:定電流源、 N1、N2:素子の接続点、 IN:入力端子、 OUT、OUT1、OUT2、T1、T2:出力端子、 101:光検出器、 201〜204:ベース接地型光電気変換回路、 301:基板、 401〜404:バイアス回路、 501:光検出器を除いたベース接地型光電気変換回路
の回路部分、 601、602:半田バンプ、 701:穴、 702:充填材、 703:配線、 704:電子回路チップ。
Q1-Q7, QA1, QA2, QC1: Transistor, RL, RE, RB, R1-R12, RA1, RA2: Load resistance, C1, C2, C3: Capacitor, D1, D2: Diode, PD, PD1, PD2: Photodiode , VCC, VCC1, VCC2, VCC3, VEE, VEE1, VEE2, VEE3: power supply, VB, VH, VH1, VH2: bias, A1: differential amplifier, IG: constant current source, N1, N2: connection point of elements, IN: input terminal, OUT, OUT1, OUT2, T1, T2: output terminal, 101: photodetector, 201-204: base-grounded photoelectric conversion circuit, 301: substrate, 401-404: bias circuit, 501: light Circuit part of base-grounded photoelectric conversion circuit excluding detector, 601, 602: solder bumps, 701: holes, 702: Filler, 703: Wiring, 704: Electronic circuit chip.

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】第1のコレクタを第1の負荷手段を介して
第1の電源に接続し、第1のベースを第1のバイアスに
接続し、第1のエミッタを第2の負荷手段を介して第2
の電源に接続した第1のトランジスタと、 第1のエミッタと第2の負荷手段との接続点に第1の端
子を接続し、第2のバイアスに第2の端子を接続した第
1の光検出器と、 第1の負荷手段と第1のコレクタとの接続点に接続した
第1の出力端子を備えるトランジスタ回路において、 第2の負荷手段と第2の電源との接続点の電位に対し、
第1のバイアスの電位を追従させるバイアス手段を備え
ることを特徴とするトランジスタ回路。
1. A first collector is connected to a first power supply through a first load means, a first base is connected to a first bias, and a first emitter is connected to a second load means. Second through
A first transistor connected to the power supply of the first light source, a first terminal connected to a connection point between the first emitter and the second load means, and a second light source connected to the second bias. In a transistor circuit having a detector and a first output terminal connected to the connection point between the first load means and the first collector, with respect to the potential at the connection point between the second load means and the second power source, ,
A transistor circuit comprising: a bias unit that follows the potential of the first bias.
【請求項2】請求項1記載のトランジスタ回路におい
て、 前記バイアス手段は、1つのダイオード、または2つ以
上のダイオードを直列接続したダイオード回路からな
り、 該ダイオード回路のアノードを第3の負荷手段を介して
第1の電源に接続し、前記ダイオード回路のカソードを
第2の負荷手段と第2の電源との接続点に接続し、 前記アノードと第3の負荷手段との接続点から第1のバ
イアスを得ることを特徴とするトランジスタ回路。
2. The transistor circuit according to claim 1, wherein the bias means comprises one diode or a diode circuit in which two or more diodes are connected in series, and the anode of the diode circuit is connected to the third load means. To the first power source, the cathode of the diode circuit is connected to the connection point of the second load means and the second power source, and the first point is connected to the connection point of the anode and the third load means. A transistor circuit characterized by obtaining a bias.
【請求項3】請求項1記載のトランジスタ回路におい
て、 前記バイアス手段は、 第2のコレクタを第4の負荷手段を介して第1の電源に
接続し、第2のベースを第5の負荷手段を介して第1の
電源に接続し、第2のエミッタを第6の負荷手段を介し
て第2の負荷手段と第2の電源との接続点に接続した第
2のトランジスタと、 第3のコレクタを第2のベースと第5の負荷手段との接
続点に接続し、第3のベースを第2のエミッタと第6の
負荷手段との接続点に接続し、第3のエミッタを第2の
負荷手段と第2の電源との接続点に接続した第3のトラ
ンジスタからなり、 第3のコレクタと第5の負荷手段との接続点から第1の
バイアスを得ることを特徴とするトランジスタ回路。
3. The transistor circuit according to claim 1, wherein the bias means connects the second collector to the first power supply through the fourth load means and the second base to the fifth load means. A second transistor connected to the first power supply via the second transistor, and a second emitter connected to the connection point between the second load means and the second power supply via the sixth load means; The collector is connected to the connection point between the second base and the fifth load means, the third base is connected to the connection point between the second emitter and the sixth load means, and the third emitter is connected to the second Transistor circuit comprising a third transistor connected to a connection point between the load means and the second power source, and obtaining a first bias from a connection point between the third collector and the fifth load means. .
【請求項4】第4のコレクタを第3の電源に接続し、第
4のベースを第1の出力端子に接続し、第4のエミッタ
を第7の負荷手段を介して第4の電源に接続した第4の
トランジスタと、 第4のエミッタと第7の負荷手段との接続点に接続した
第2の出力端子をさらに備えることを特徴とする請求項
1から請求項3のいずれか一つに記載のトランジスタ回
路。
4. The fourth collector is connected to a third power supply, the fourth base is connected to the first output terminal, and the fourth emitter is connected to the fourth power supply via the seventh load means. 4. A fourth transistor connected thereto, and a second output terminal connected to a connection point between the fourth emitter and the seventh load means, further comprising: a fourth output terminal connected to the fourth emitter. The transistor circuit according to.
【請求項5】第5のコレクタを第8の負荷手段を介して
第1の電源に接続し、第5のベースを第1のバイアスに
接続し、第5のエミッタを第9の負荷手段を介して第2
の負荷手段と第2の電源との接続点に接続した第5のト
ランジスタと、 第6のコレクタを第3の電源に接続し、第6のベースを
第5のコレクタと第8の負荷手段との接続点に接続し、
第6のエミッタを第10の負荷手段を介して第4の電源
に接続した第6のトランジスタと、 第10の負荷手段と第6のエミッタとの接続点に接続し
た第3の出力端子と、 第2の出力端子と第3の出力端子が入力として接続され
た差動増幅器をさらに備えることを特徴とする請求項4
記載のトランジスタ回路。
5. A fifth collector is connected to a first power supply via an eighth load means, a fifth base is connected to a first bias, and a fifth emitter is connected to a ninth load means. Second through
A fifth transistor connected to a connection point between the load means and the second power supply, a sixth collector connected to the third power supply, a sixth base connected to the fifth collector and an eighth load means. Connect to the connection point of
A sixth transistor in which the sixth emitter is connected to the fourth power supply through the tenth load means, and a third output terminal connected to a connection point between the tenth load means and the sixth emitter, 5. A differential amplifier further comprising a second output terminal and a third output terminal connected as inputs, the differential amplifier.
The transistor circuit described.
【請求項6】第7のコレクタを第11の負荷手段を介し
て第1の電源に接続し、第7のベースを第5のエミッタ
と第9の負荷手段との接続点に接続し、第7のエミッタ
を第2の負荷手段と第2の電源との接続点に接続した第
7のトランジスタをさらに備え、第7のコレクタと第1
1の負荷手段との接続点から第1のバイアスを得ること
を特徴とする請求項5記載のトランジスタ回路。
6. The seventh collector is connected to the first power supply through the eleventh load means, and the seventh base is connected to a connection point between the fifth emitter and the ninth load means. A seventh transistor having an emitter connected to a connection point between the second load means and the second power source, and a seventh collector and a first collector;
6. The transistor circuit according to claim 5, wherein the first bias is obtained from a connection point with one load means.
【請求項7】請求項5記載のトランジスタ回路におい
て、 第2の端子を第12の負荷手段を介して第2のバイアス
に接続し、 第2の端子と第12の負荷手段との接続点と、第5のエ
ミッタと第9の負荷手段との接続点を、第1の容量手段
を介して接続したことを特徴とするトランジスタ回路。
7. The transistor circuit according to claim 5, wherein the second terminal is connected to the second bias via the twelfth load means, and a connection point between the second terminal and the twelfth load means is provided. A transistor circuit, wherein a connection point between the fifth emitter and the ninth load means is connected via the first capacitance means.
【請求項8】前記トランジスタ回路、または該回路から
光検出器を除いたトランジスタ回路が、少なくとも1つ
以上、同一基板にモノリシック集積されていることを特
徴とする請求項1から請求項7のいずれか一つに記載の
トランジスタ回路。
8. The method according to claim 1, wherein at least one or more of the transistor circuits or the transistor circuits excluding the photodetector from the circuit are monolithically integrated on the same substrate. The transistor circuit according to claim 1.
【請求項9】請求項8記載のトランジスタ回路におい
て、 前記トランジスタ回路ごとに第1のバイアスを与えるバ
イアス手段を備えることを特徴とするトランジスタ回
路。
9. The transistor circuit according to claim 8, further comprising a bias unit that applies a first bias to each of the transistor circuits.
【請求項10】請求項8記載のトランジスタ回路におい
て、 前記光検出器は、ホトダイオードまたはホトコンダクタ
から成ることを特徴とするトランジスタ回路。
10. The transistor circuit according to claim 8, wherein the photodetector comprises a photodiode or a photoconductor.
【請求項11】請求項8記載のトランジスタ回路におい
て、 前記光検出器が前記基板上にフリップチップ実装、また
はハイブリッド実装されていることを特徴とするトラン
ジスタ回路。
11. The transistor circuit according to claim 8, wherein the photodetector is flip-chip mounted or hybrid mounted on the substrate.
【請求項12】請求項8記載のトランジスタ回路におい
て、 前記基板がシリコンまたは化合物半導体からなり、 第1から第7のトランジスタが、バイポーラトランジス
タまたは電界効果トランジスタから成ることを特徴とす
るトランジスタ回路。
12. The transistor circuit according to claim 8, wherein the substrate is made of silicon or a compound semiconductor, and the first to seventh transistors are bipolar transistors or field effect transistors.
【請求項13】請求項2または請求項3記載のトランジ
スタ回路において、 第2の負荷手段と第2の電源との接続点、或いは第1の
電源の少なくとも一方に、第1のベースと第1のバイア
スとの接続点を容量手段を介して接続したことを特徴と
するトランジスタ回路。
13. The transistor circuit according to claim 2, wherein at least one of a connection point between the second load means and the second power supply or the first power supply has a first base and a first power supply. A transistor circuit characterized in that the connection point with the bias of is connected via a capacitance means.
【請求項14】請求項5記載のトランジスタ回路におい
て、 第3の端子を第3のバイアスに接続し、 第4の端子を第5のエミッタと第9の負荷手段との接続
点に接続した第2の光検出器を備えることを特徴とする
トランジスタ回路。
14. A transistor circuit according to claim 5, wherein the third terminal is connected to a third bias, and the fourth terminal is connected to a connection point between the fifth emitter and the ninth load means. A transistor circuit comprising two photodetectors.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08279717A (en) * 1995-04-07 1996-10-22 Nec Corp Preamplifier circuit for optical receiver
JPH098563A (en) * 1995-06-20 1997-01-10 Nec Miyagi Ltd Light receiving preamplifier
JP2004072638A (en) * 2002-08-08 2004-03-04 Fujitsu Ltd Distributed amplifier
JP2011155428A (en) * 2010-01-27 2011-08-11 Hitachi Ltd Optical signal reception circuit
WO2014156336A1 (en) * 2013-03-27 2014-10-02 日本電気株式会社 Light reception circuit
JP2016127496A (en) * 2015-01-06 2016-07-11 富士通株式会社 Amplifier circuit

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08279717A (en) * 1995-04-07 1996-10-22 Nec Corp Preamplifier circuit for optical receiver
JPH098563A (en) * 1995-06-20 1997-01-10 Nec Miyagi Ltd Light receiving preamplifier
JP2004072638A (en) * 2002-08-08 2004-03-04 Fujitsu Ltd Distributed amplifier
JP2011155428A (en) * 2010-01-27 2011-08-11 Hitachi Ltd Optical signal reception circuit
WO2014156336A1 (en) * 2013-03-27 2014-10-02 日本電気株式会社 Light reception circuit
JPWO2014156336A1 (en) * 2013-03-27 2017-02-16 日本電気株式会社 Optical receiver circuit
US9621279B2 (en) 2013-03-27 2017-04-11 Nec Corporation Optical receiver circuit
JP2016127496A (en) * 2015-01-06 2016-07-11 富士通株式会社 Amplifier circuit

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