JPH06174656A - Inspection equipment of board - Google Patents

Inspection equipment of board

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Publication number
JPH06174656A
JPH06174656A JP35254692A JP35254692A JPH06174656A JP H06174656 A JPH06174656 A JP H06174656A JP 35254692 A JP35254692 A JP 35254692A JP 35254692 A JP35254692 A JP 35254692A JP H06174656 A JPH06174656 A JP H06174656A
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JP
Japan
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substrate
board
point
unloading
inspected
Prior art date
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Pending
Application number
JP35254692A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichi Tanaka
光一 田中
Takahiro Namura
孝宏 名村
Shunsuke Matsuo
俊介 松尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP35254692A priority Critical patent/JPH06174656A/en
Publication of JPH06174656A publication Critical patent/JPH06174656A/en
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To realize reduction of a space and installations for an inspection line and simplification of a line assembling operation. CONSTITUTION:A board carry-in point 2 and a board carry-in and carryout point 3 are set at the front edge part of a table 15 of inspection equipment 1 of a board and two board carry-out points 4 and 5 at the rear edge part thereof, while carrying conveyors 7, 9 and 10 are made continuous. On the table 15, a board carry-in and carry-out mechanism 6 being movable in the direction of the axis Y is provided, and when a board is carried in, this board carry-in and carry-out mechanism 6 is positioned at a positioning point A and made to receive a board to be inspected from the carrying conveyor 7. After inspection is ended, the carry-in and carry-out mechanism 6 positions the inspected board being a good article at the positioning point A and carries it out from the board carry-out point 4, while it positions the inspected board being a bad article at a positioning point B and carries it out from the board carry-out Point 5.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、プリント配線基板
(以下単に「基板」という)に実装された電子部品につ
き、はんだ付け前は電子部品の有無や姿勢などを、はん
だ付け後ははんだ付けの良否などを、それぞれ自動検査
するための基板検査装置に関し、殊にこの発明は、基板
検査装置に対して基板を搬出入するための方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component mounted on a printed wiring board (hereinafter simply referred to as a "substrate"), the presence / absence and attitude of the electronic component before soldering, and the soldering after soldering. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for loading and unloading a board to and from a board inspection apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の基板検査装置として、テ
ーブル上に搬入された被検査基板を所定の照明下で撮像
装置により撮像し、その撮像パターンより得られた被検
査データを教示データと比較することにより、被検査基
板上の各実装部品についての実装状態やはんだ付けの良
否を判別するようにしたものが存在する。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a substrate inspection apparatus of this type, an image of a substrate to be inspected carried on a table is picked up by an image pickup device under predetermined illumination, and the data to be inspected obtained from the image pickup pattern is used as teaching data. By comparison, there is a device in which the mounting state of each mounted component on the inspected board and the quality of soldering are determined.

【0003】図15は、このような基板検査装置を用い
た基板検査ラインの一例を示す。図中、基板検査装置5
1は、テーブルの前縁側に基板搬入点52が、後縁側に
基板搬出点53が、それぞれ設定され、このテーブル上
には基板搬入点52および基板搬出点53に対応する位
置を原点位置として基板の搬出入方向に直交する方向
(Y軸方向)に移動可能な基板搬出入機構54が設けら
れている。
FIG. 15 shows an example of a board inspection line using such a board inspection apparatus. In the figure, the board inspection device 5
1, a substrate carry-in point 52 is set on the front edge side of the table, and a substrate carry-out point 53 is set on the trailing edge side, and the position corresponding to the substrate carry-in point 52 and the substrate carry-out point 53 is set as the origin position on the table. A substrate loading / unloading mechanism 54 is provided which is movable in a direction (Y-axis direction) orthogonal to the loading / unloading direction.

【0004】前記基板搬入点52および基板搬出点53
には、それぞれコンベヤから成る基板搬送装置55,5
6が連続させてある。上流側の第1の基板搬送装置55
は上流の基板組立ライン50の部品実装装置または自動
はんだ付け装置57からの被検査基板を基板検査装置5
1に導入するためのもので、基板検査装置51は基板搬
入時に前記基板搬出入機構54を原点位置へ移動させて
被検査基板を受け取った後、基板搬出入機構54をY軸
方向に、また図示しない撮像装置を水平方向に、それぞ
れ移動させることにより、搬入された被検査基板の全検
査領域が順次撮像されて所定の検査を行う。
The substrate carry-in point 52 and the substrate carry-out point 53
The substrate transfer devices 55 and 5 each include a conveyor.
6 are continuous. First substrate transfer device 55 on the upstream side
Refers to the board to be inspected from the component mounting apparatus of the upstream board assembly line 50 or the board to be inspected from the automatic soldering apparatus 57.
The substrate inspecting device 51 moves the substrate loading / unloading mechanism 54 to the original position and receives the substrate to be inspected when loading the substrate, and then moves the substrate loading / unloading mechanism 54 in the Y-axis direction to By moving the image pickup device (not shown) in the horizontal direction, the entire inspection area of the substrate to be inspected is sequentially imaged and a predetermined inspection is performed.

【0005】検査が終了すると、基板搬出入機構54は
再び原点位置へと戻り、検査済基板は下流側に設けられ
た第2の基板搬送装置56へ搬出され、さらに下流の振
分装置58へと運ばれる。この振分装置58は、被検査
基板を良品基板と不良品基板に振り分けるもので、良品
基板は基板回収ライン61へ、不良品基板は修正ライン
60上の修正装置59へと搬出される。
When the inspection is completed, the substrate loading / unloading mechanism 54 returns to the original position again, the inspected substrate is unloaded to the second substrate transfer device 56 provided on the downstream side, and further to the sorting device 58 on the downstream side. Is carried. The sorting device 58 sorts the substrate to be inspected into a non-defective substrate and a defective substrate. The non-defective substrate is carried out to the substrate collecting line 61, and the defective substrate is carried to the repairing device 59 on the repairing line 60.

【0006】もし、この基板検査装置51に上流の複数
の組立ラインから被検査基板が供給される場合には、各
基板組立ラインと第1の基板搬送装置55との間に、各
組立ラインからの基板を導入して順次基板搬送装置55
上へ送りだすための受渡し装置が設けられる。
If the substrates to be inspected are supplied to the substrate inspecting apparatus 51 from a plurality of upstream assembling lines, the assembling lines are provided between the respective substrate assembling lines and the first substrate conveying apparatus 55. Substrate transfer device 55
A delivery device is provided for sending out upward.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな構成の検査システムでは、検査ライン上に振分装置
58や受渡し装置などの付属の装置を設置するため、そ
のための設置スペースを確保する必要があり、検査ライ
ンの大型化やコスト高を招くばかりでなく、各装置間の
接続や位置合わせに手数がかかるという問題がある。
However, in the inspection system having the above-described structure, since the attached devices such as the sorting device 58 and the delivery device are installed on the inspection line, it is necessary to secure the installation space for that purpose. However, there is a problem that not only the inspection line becomes large and the cost becomes high, but also it takes time to connect and align each device.

【0008】この発明は、上記問題に着目してなされた
もので、テーブル上に被検査基板の搬入点または検査済
基板の搬出点を複数箇所設けることにより、検査ライン
のスペースや設備の削減およびライン組立作業の簡易化
を実現する基板検査装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems. By providing a plurality of loading points for the substrate to be inspected or unloading the inspected substrate on the table, the inspection line space and equipment can be reduced. It is an object of the present invention to provide a board inspection device that realizes simplification of line assembly work.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】この発明は、テーブル上
に基板搬出入機構が移動可能に設けられた基板検査装置
であって、前記テーブルの前縁側に設定された被検査基
板を搬入する基板搬入点に対し、テーブルの前縁側また
は後縁側であって基板搬出入方向と直交する方向へ位置
ずれした位置に他の基板搬入点または検査済基板を搬出
する基板搬出点を設定し、前記基板搬入点および基板搬
出点に前記基板搬出入機構を位置決め制御するようにし
たものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is a substrate inspecting device having a substrate loading / unloading mechanism movably provided on a table, and a substrate for loading an inspected substrate set on the front edge side of the table. With respect to the carry-in point, another board carry-in point or a board carry-out point for carrying out the inspected board is set at a position displaced in the direction orthogonal to the board carry-in / out direction on the front edge side or the rear edge side of the table, Positioning control of the substrate loading / unloading mechanism is performed at the loading point and the substrate unloading point.

【0010】前記基板搬出入機構は、請求項2の基板検
査装置では、基板搬出入方向と直交する方向に移動可能
に設定されており、また請求項3の基板検査装置では、
基板搬出入方向とその基板搬出入方向と直交する方向の
2方向に移動可能に設定されている。
In the substrate inspection apparatus according to claim 2, the substrate loading / unloading mechanism is set to be movable in a direction orthogonal to the substrate loading / unloading direction, and in the substrate inspection apparatus according to claim 3,
It is set to be movable in two directions: a substrate loading / unloading direction and a direction orthogonal to the substrate loading / unloading direction.

【0011】請求項4の基板検査装置では、前記テーブ
ルに、良品の検査済基板を搬出する良品基板搬出点と、
不良品の検査済基板を搬出する不良品基板搬出点とを設
定し、良品基板搬出点および不良品基板搬出点をテーブ
ルの後縁側に設定すると共に、良品基板搬出点と不良品
基板搬出点とのいずれか一方を、前記基板搬入点に対
し、基板搬出入方向と直交する方向へ位置ずれした位置
に設定してある。
According to another aspect of the substrate inspection apparatus of the present invention, a non-defective substrate unloading point for unloading a non-defective inspected substrate to the table,
Set the defective product board unloading point to carry out the inspected board of the defective product, set the good product board unloading point and the defective product board unloading point to the trailing edge side of the table, and set the good product board unloading point and the defective product board unloading point. One of the two is set at a position displaced from the substrate loading point in the direction orthogonal to the substrate loading / unloading direction.

【0012】請求項5の基板検査装置では、前記テーブ
ルに、良品の検査済基板を搬出する良品基板搬出点と、
不良品の検査済基板を搬出する不良品基板搬出点とを設
定し、良品基板搬出点をテーブルの前縁側であって前記
基板搬入点に対し基板搬出入方向と直交する方向へ位置
ずれした位置に設定すると共に、不良品基板搬出点を前
記テーブルの後縁側に設定してある。
According to another aspect of the substrate inspection apparatus of the present invention, a non-defective substrate unloading point for unloading a non-defective inspected substrate to the table,
A defective board unloading point for unloading a defective inspected board is set, and the good board unloading point is located on the front edge side of the table and displaced from the board loading point in a direction orthogonal to the board unloading direction. In addition, the defective substrate carry-out point is set on the trailing edge side of the table.

【0013】請求項6の基板検査装置では、前記テーブ
ルに、被検査基板を搬入する第1,第2の基板搬入点を
設定し、第2の基板搬入点をテーブルの前縁側であって
第1の基板搬入点に対し基板搬出入方向と直交する方向
へ位置ずれした位置に設定すると共に、前記基板搬出点
を前記テーブルの後縁側に設定してある。
According to another aspect of the substrate inspection apparatus of the present invention, first and second substrate loading points for loading the substrate to be inspected are set in the table, and the second substrate loading point is on the front edge side of the table. The substrate carry-in point is set at a position displaced in the direction orthogonal to the substrate carry-in / out direction, and the substrate carry-out point is set on the trailing edge side of the table.

【0014】[0014]

【作用】テーブルに複数個の被検査基板の搬入点または
検査済基板の搬出点を設定するので、基板検査装置の上
下流に基板の受渡しや振分のための装置を設ける必要が
なくなり、設備およびスペースの削減が実現でき、また
検査ラインの組立が簡易化される。
Since a plurality of loading points for the substrates to be inspected or unloading points for the inspected substrates are set on the table, it is not necessary to provide a device for delivering and distributing the substrates on the upstream and downstream sides of the substrate inspecting device. And space can be reduced, and the assembly of the inspection line can be simplified.

【0015】請求項4の発明では、良品と不良品とをそ
れぞれ別個の基板搬出点から搬出するので、検査終了
後、良品の回収や不良品の修正作業などにスムーズに移
行できる。
According to the fourth aspect of the present invention, since the non-defective product and the defective product are carried out from different substrate carrying-out points respectively, after the inspection is completed, the non-defective product can be recovered and the defective product can be corrected smoothly.

【0016】請求項5の発明では、テーブルの前縁側に
基板搬入点と良品基板搬出点が設定されるので、検査ラ
インが基板の組立ラインから分離したシステムに対応で
きる。
According to the fifth aspect of the present invention, since the board loading point and the non-defective board unloading point are set on the front edge side of the table, it is possible to support a system in which the inspection line is separated from the board assembly line.

【0017】請求項6の発明では、テーブルの前縁側に
複数の基板搬入点が、テーブル後縁側に複数の基板搬出
点が、それぞれ複数個設定されるので、異なる種類の基
板の検査や複数の組立ラインにおける基板検査をひとつ
の基板検査装置で実施できる。
According to the invention of claim 6, a plurality of substrate carry-in points are set on the front edge side of the table and a plurality of substrate carry-out points are set on the trailing edge side of the table. The board inspection in the assembly line can be performed by one board inspection device.

【0018】[0018]

【実施例】図1は、この発明の一実施例にかかる基板検
査装置1が導入された検査ラインの構成を示す。この検
査ラインは、上流側の基板組立ライン(図示せず)から
多数の部品が実装された被検査基板を受け取り、基板検
査装置1によって各部品のはんだ付けの良否などの実装
品質を自動検査する構成のものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows the structure of an inspection line in which a substrate inspection apparatus 1 according to an embodiment of the present invention is introduced. This inspection line receives an inspected board on which a large number of components are mounted from an upstream board assembly line (not shown), and the board inspection apparatus 1 automatically inspects the mounting quality of each component such as the quality of soldering. It is a composition.

【0019】この基板検査装置1は水平なテーブル15
を有し、そのテーブル15の前縁側には、上流の基板組
立工程から被検査基板を搬入するための基板搬入点2と
被検査基板の搬入または検査済基板の搬出のいずれかを
行うことのできる基板搬出入点3とが基板搬出入方向
(X軸方向)と直交する方向(Y軸方向)へ位置ずれさ
せて設定されている。またテーブル15の後縁側であっ
て前記基板搬入点2,基板搬出入点3に対向する位置
に、それぞれ、検査済基板の搬出に用いられる基板搬出
点4,5が設定されている。
This board inspection apparatus 1 has a horizontal table 15
On the front edge side of the table 15, a board carry-in point 2 for carrying in the board to be inspected from the upstream board assembling step and either carrying in the board to be inspected or carrying out the board which has been inspected are provided. The possible substrate loading / unloading point 3 is set to be displaced in the direction (Y axis direction) orthogonal to the substrate loading / unloading direction (X axis direction). Substrate unloading points 4 and 5 used for unloading the inspected substrate are set at positions on the trailing edge side of the table 15 facing the substrate loading point 2 and the substrate loading / unloading point 3, respectively.

【0020】この基板検査装置1のテーブル15上に
は、前記Y軸方向に移動可能な基板搬出入機構6が設け
られる。この基板搬出入機構6は、図中の位置決め点A
に位置するとき、一端が前縁側の基板搬入点2に、他端
が後縁側の第1の基板搬出点4に位置し、位置決め点B
に位置するとき、一端が前縁側の基板搬出入点3に、他
端が後縁側の第2の基板搬出点5に位置する。
A substrate loading / unloading mechanism 6 movable in the Y-axis direction is provided on the table 15 of the substrate inspecting apparatus 1. This substrate loading / unloading mechanism 6 has a positioning point A in the figure.
Position, one end is located at the substrate loading point 2 on the front edge side, and the other end is located at the first substrate unloading point 4 on the trailing edge side.
Position, one end is located at the substrate loading / unloading point 3 on the front edge side, and the other end is located at the second substrate unloading point 5 on the trailing edge side.

【0021】基板検査装置1の上流側には、前記基板搬
入点2および基板搬出入点3にそれぞれ対応させて、搬
送コンベヤ7,8を設けることが可能であり、これらを
介して基板検査装置1と上流の基板組立ラインとの基板
のやりとりが行われる。また下流側には、各基板搬出点
9,10に対応させて、搬送コンベヤ9,10を設ける
ことが可能であり、これらを介して検査済基板を回収お
よび修正するための後処理ラインへ搬送する。
On the upstream side of the board inspecting apparatus 1, it is possible to provide transfer conveyors 7 and 8 corresponding to the board carrying-in point 2 and the board carrying-in / out point 3, respectively. The exchange of the board between 1 and the upstream board assembly line is performed. Further, on the downstream side, it is possible to provide transfer conveyors 9 and 10 corresponding to the respective substrate unloading points 9 and 10, and transfer them to a post-processing line for collecting and correcting the inspected substrates. To do.

【0022】図2は、基板検査装置1の外観を示す。こ
の基板検査装置1は、上流側から送り込まれた被検査基
板11を照明装置12による照明下で撮像装置13によ
り撮像し、その画像を図示しない制御装置により処理し
て、被検査基板11上の各部品についてその実装品質を
自動検査し、検査済基板を上流側または下流側へ送り出
す。
FIG. 2 shows the appearance of the board inspection apparatus 1. The board inspection apparatus 1 captures an image of the board 11 to be inspected fed from the upstream side by an image pickup device 13 under illumination by an illuminating device 12, processes the image by a controller (not shown), and inspects the board 11 to be inspected. The mounting quality of each component is automatically inspected and the inspected substrate is sent to the upstream side or the downstream side.

【0023】前記撮像装置13はX軸テーブル部14に
よりX軸方向へ移動可能に支持され、また基板搬出入機
構6はテーブル15上にY軸方向へ移動可能に支持され
る。従ってX軸テーブル部14および後述する駆動機構
33を制御装置からの制御信号に基づき作動させること
により、被検査基板11上の任意の位置へ撮像装置13
の視野を設定することができる。
The image pickup device 13 is supported by the X-axis table portion 14 so as to be movable in the X-axis direction, and the substrate loading / unloading mechanism 6 is supported on the table 15 so as to be movable in the Y-axis direction. Therefore, by operating the X-axis table portion 14 and a drive mechanism 33 described later based on a control signal from the control device, the imaging device 13 can be moved to an arbitrary position on the inspected substrate 11.
The field of view can be set.

【0024】前記基板搬出入機構6は、図3に示すごと
く、サーボモータなどを駆動源とする駆動機構33に連
繋されており、この駆動機構33を作動させることによ
り基板搬出入機構6をテーブル15の上面に沿いY軸方
向へ移動させて任意の位置に位置決めする。
As shown in FIG. 3, the substrate loading / unloading mechanism 6 is linked to a driving mechanism 33 having a servomotor as a driving source. By operating the driving mechanism 33, the substrate loading / unloading mechanism 6 is moved to a table. It is moved in the Y-axis direction along the upper surface of 15 and positioned at an arbitrary position.

【0025】前記テーブル15の上方にはカバー34が
被せられ、このカバー34の前面には前記基板搬入点2
から基板搬出入点3にわたる大きさの開口部35が、ま
た後面には一方の基板搬出点4から他方の基板搬出点5
にわたる大きさの開口部36が、それぞれ設けられる。
A cover 34 is placed over the table 15, and the front surface of the cover 34 is provided with the substrate loading point 2.
From the substrate loading / unloading point 3 to the opening 35, and on the rear surface, one substrate loading / unloading point 4 to the other substrate loading / unloading point 5.
Openings 36 each having a size ranging from 0 to 1 are provided.

【0026】前記基板搬出入機構6は、水平かつ互いに
平行なレール41,42と図示しない搬出入ベルトとを
有しており、前記搬出入ベルトを駆動することにより、
前記レール41,42を搬出入ガイドとして前記搬送コ
ンベヤ7,8からの被検査基板11の搬出入が行われ
る。
The substrate loading / unloading mechanism 6 has horizontal and parallel rails 41 and 42 and a loading / unloading belt (not shown). By driving the loading / unloading belt,
The substrate 41 to be inspected is carried in and out of the conveyors 7, 8 using the rails 41, 42 as a guide for carrying in and out.

【0027】図2に戻って、前記照明装置12は、異な
る径を有しかつ制御装置からの制御信号に基づき赤色
光,緑色光,青色光を同時に照射する3個の円環状光源
16,17,18により構成されており、各光源16,
17,18をテーブル15中央の真上位置に中心を合わ
せかつテーブル15中央から見て異なる仰角の方向に位
置させてある。
Returning to FIG. 2, the illuminating device 12 has three annular light sources 16 and 17 having different diameters and simultaneously emitting red light, green light and blue light based on a control signal from the control device. , 18, each light source 16,
17 and 18 are centered right above the center of the table 15 and positioned in different elevation angles when viewed from the center of the table 15.

【0028】前記撮像装置13はカラーテレビカメラで
あって、テーブル15上に下方に向けて位置決めされ
る。これにより被検査基板11の表面の反射光が撮像装
置13により撮像され、三原色のカラー信号に変換され
て制御装置へ供給される。
The image pickup device 13 is a color television camera, and is positioned downward on the table 15. As a result, the reflected light on the surface of the substrate 11 to be inspected is picked up by the image pickup device 13, converted into color signals of the three primary colors, and supplied to the control device.

【0029】前記制御装置は、前記カラー信号を処理
し、その撮像パターンより得た被検査データを教示デー
タと比較することにより、被検査基板11上の各実装部
品の実装品質を判別する。また制御装置は、図12〜図
14に示す制御手順(詳細は後述する)に従ってX軸テ
ーブル部14,駆動機構33,照明装置12および,撮
像装置13の各動作を一連に制御する。
The controller determines the mounting quality of each mounted component on the board 11 to be inspected by processing the color signal and comparing the data to be inspected obtained from the imaged pattern with the teaching data. Further, the control device controls each operation of the X-axis table unit 14, the drive mechanism 33, the lighting device 12, and the imaging device 13 in series according to the control procedure (details will be described later) shown in FIGS. 12 to 14.

【0030】図4〜図7は、上記基板検査装置1の使用
例を示す。図4の実施例は、基板搬入点2に対応して搬
送コンベヤ7を設けて上流の組立ラインからの被検査基
板を搬入するもので、搬入時には、基板搬出入機構6は
第1の位置決め点Aに位置させる。
4 to 7 show examples of use of the board inspection apparatus 1 described above. In the embodiment of FIG. 4, a transfer conveyor 7 is provided corresponding to the substrate loading point 2 to load a substrate to be inspected from an upstream assembly line. At the time of loading, the substrate loading / unloading mechanism 6 has a first positioning point. Position it at A.

【0031】またこの実施例では、各基板搬出点4,5
に対応して搬送コンベヤ9,10を設け、基板搬出入機
構6は、良品の検査済基板については、第1の位置決め
点Aへ移動して基板搬出点4より搬送コンベヤ9へ搬出
し、一方、不良品の検査済基板については、第2の位置
決め点Bへ移動して、基板搬出点5より搬送コンベヤ1
0へ搬出する。
Further, in this embodiment, the respective substrate carry-out points 4, 5
Corresponding to the above, the transfer conveyors 9 and 10 are provided, and the substrate loading / unloading mechanism 6 moves the non-defective inspected substrate to the first positioning point A and unloads it from the substrate unloading point 4 to the transport conveyor 9. , The defective inspected board is moved to the second positioning point B, and is transferred from the board unloading point 5 to the conveyor 1
Carry out to 0.

【0032】図5の実施例は、検査ラインが主工程であ
る組立ラインから分離したタイプに適用され、良品の検
査済基板は再び上流のラインへ戻される。上流側の搬送
コンベヤ7,8はともに上流の組立ラインへ接続されて
おり、従って基板搬出入点3は良品の検査済基板の搬出
点に設定すると共に、搬送コンベヤ8は搬送コンベヤ7
と基板の搬送方向を逆向きに設定する。また不良品の検
査済基板は、自動修正機(図示せず)によって修正可能
なものについては、基板搬出点4から搬送コンベヤ9へ
搬出されて自動修正機へ導かれ、手修正が必要なものに
ついては、基板搬出点5から搬送コンベヤ10へ搬出さ
れて手修正ラインへ導かれる。
The embodiment of FIG. 5 is applied to a type in which the inspection line is separated from the assembly line which is the main process, and the non-defective inspected substrate is returned to the upstream line again. Both the upstream transfer conveyors 7 and 8 are connected to the upstream assembly line. Therefore, the board carry-in / out point 3 is set to the carry-out point of a non-defective inspected board, and the carry conveyor 8 is used.
And the substrate transfer direction is set to the opposite direction. If the defective inspected board can be corrected by an automatic correction machine (not shown), it is carried out from the board unloading point 4 to the transfer conveyor 9 and guided to the automatic correction machine, which requires manual correction. With respect to, the sheet is unloaded from the substrate unloading point 5 to the transport conveyor 10 and guided to the hand correction line.

【0033】図6の実施例は、異なる2種類の基板を検
査するためのもので、上流側の搬送コンベヤ7,8をそ
れぞれ独立した基板組立ラインに接続し、基板搬入点2
および基板搬出入点3に対応する搬送コンベヤ7,8の
搬送方向を同方向に設定する。これにより、基板搬入点
2へは第1の組立ラインからの被検査基板aが、基板搬
出入点3へは第2の組立ラインからの被検査基板bが、
それぞれ搬入される。
The embodiment of FIG. 6 is for inspecting two different types of substrates. The upstream transfer conveyors 7 and 8 are connected to independent substrate assembly lines, respectively, and the substrate loading point 2 is used.
Also, the transport directions of the transport conveyors 7 and 8 corresponding to the substrate loading / unloading point 3 are set to the same direction. As a result, the board to be inspected a from the first assembly line to the board loading / unloading point 2 and the board to be inspected b from the second assembly line to the board loading / unloading point 3,
Each is brought in.

【0034】基板搬出入機構6は、位置決め点A,Bの
いずれかへ移動して各搬送コンベヤ7,8より被検査基
板を受け取り、基板の種類に応じた所定の検査が実施さ
れる。検査が終了すると、良品および不良品の各検査済
基板aは第1の基板搬出点4より搬送コンベヤ9へ、良
品および不良品の検査済基板bは第2の基板搬出点5よ
り搬送コンベヤ10へ、それぞれ搬出される。この実施
例の場合、良否の判定結果は下流側のラインへ伝達する
ことになる。
The substrate loading / unloading mechanism 6 moves to one of the positioning points A and B to receive the substrate to be inspected from each of the conveyors 7 and 8, and a predetermined inspection according to the type of substrate is carried out. When the inspection is completed, the inspected substrates a of good product and defective product are transferred from the first substrate unloading point 4 to the transport conveyor 9, and the inspected substrates of good product and defective product b are transported from the second substrate unloading point 5 to the transfer conveyor 10. To, respectively. In the case of this embodiment, the judgment result of pass / fail is transmitted to the line on the downstream side.

【0035】図7の実施例は、2つの独立した組立ライ
ンから供給される同種の基板を検査するためのもので、
図6の実施例と同様、各搬送コンベヤ7,8は、上流の
組立ラインより被検査基板を受け取って基板検査装置1
へと搬送し、基板搬出入機構6は、適宜位置決め点A,
Bのいずれかへ移動して各搬送コンベヤ7,8より被検
査基板を受け取る。検査完了後は、図4の実施例と同
様、良品の検査済基板は第1の基板搬出点4より搬送コ
ンベヤ9へ、不良品の検査済基板は第2の基板搬出点5
より搬送コンベヤ10へ、それぞれ搬出される。
The embodiment of FIG. 7 is for inspecting the same type of substrates supplied from two independent assembly lines.
Similar to the embodiment of FIG. 6, each of the transfer conveyors 7 and 8 receives the board to be inspected from the upstream assembly line and receives the board inspecting apparatus 1.
To the positioning point A,
It moves to one of B and receives the substrate to be inspected from each of the conveyors 7, 8. After the completion of the inspection, as in the embodiment of FIG. 4, the non-defective inspected substrate is transferred from the first substrate unloading point 4 to the transfer conveyor 9, and the defective inspected substrate is in the second substrate unloading point 5.
Each is carried out to the transport conveyor 10.

【0036】図8および図9は、基板検査装置1の他の
実施例を示す。この基板検査装置1では、撮像装置13
は、テーブル15の中央の上方位置に固定配置されてい
る。基板搬出入機構6はX,Y両方向に移動可能であっ
て、これにより被検査基板11の全検査領域の検査が可
能である。なお他の構成は、前記した実施例と同様であ
り、ここでは対応する構成に同一符号を付することで説
明を省略する。
8 and 9 show another embodiment of the board inspection apparatus 1. In this board inspection device 1, the imaging device 13
Is fixedly arranged at an upper position in the center of the table 15. The substrate loading / unloading mechanism 6 is movable in both the X and Y directions, so that the entire inspection area of the inspected substrate 11 can be inspected. The rest of the configuration is the same as that of the above-described embodiment, and the corresponding components are designated by the same reference numerals and the description thereof is omitted.

【0037】図10および図11は、基板検査装置1の
第3の実施例を示す。この実施例では、テーブル15上
の中央部に前記基板搬出入機構6をX軸方向およびY軸
方向に移動可能に配備し、その上流側には搬送コンベヤ
7,8との間で基板の受渡しを行うための基板受渡し機
構20が、下流側には搬送コンベヤ9,10との間で基
板の受渡しを行うための受渡し機構21が、それぞれY
軸方向に移動可能に配備してある。
10 and 11 show a third embodiment of the board inspection apparatus 1. In this embodiment, the substrate loading / unloading mechanism 6 is arranged in the center of the table 15 so as to be movable in the X-axis direction and the Y-axis direction, and the substrate is transferred between the transport conveyors 7 and 8 on the upstream side. The substrate transfer mechanism 20 for performing the transfer is provided on the downstream side, and the transfer mechanism 21 for transferring the substrate between the transfer conveyors 9 and 10 is provided on the downstream side.
It is arranged so that it can move in the axial direction.

【0038】前記基板搬出入機構6は、上流側の搬送コ
ンベヤ7,8および下流側の搬送コンベヤ9,10より
低位置に位置する。また基板受渡し機構20,21は昇
降機構22,23を備えており、上昇点では搬送コンベ
ヤ7〜10と、下降点では基板搬出入機構6と、それぞ
れ同じ高さとなる。したがって、各基板受渡し機構2
0,21が上昇点に位置するとき、各基板受渡し機構2
0,21により基板搬出入機構6のX軸方向への移動が
妨げられることはない。
The substrate loading / unloading mechanism 6 is located at a lower position than the upstream conveyors 7, 8 and the downstream conveyors 9, 10. Further, the substrate transfer mechanisms 20 and 21 are provided with elevating mechanisms 22 and 23, and have the same height as the transport conveyors 7 to 10 at the ascending point and the substrate loading / unloading mechanism 6 at the descending point. Therefore, each substrate transfer mechanism 2
When 0 and 21 are located at the ascending point, each board transfer mechanism 2
The movement of the substrate loading / unloading mechanism 6 in the X-axis direction is not hindered by 0 and 21.

【0039】各基板受渡し機構20,21は、基板搬出
入機構6と同様、水平かつ互いに平行なレールと搬送ベ
ルトとを有しており、前記搬送ベルトを駆動することに
より、前記レールを搬出入ガイドとして基板の搬出入が
可能である。
Like the substrate loading / unloading mechanism 6, each of the substrate transfer mechanisms 20 and 21 has horizontal and parallel rails and a transport belt. By driving the transport belt, the rails are loaded / unloaded. A substrate can be carried in and out as a guide.

【0040】この実施例では、基板搬出入機構6が位置
決め点Aに位置するとき、一端が基板受渡し機構20を
介して前縁側の基板搬入点2に、他端が基板受渡し機構
21を介して後縁側の第1の基板搬出点4に、それぞれ
対応位置し、位置決め点Bに位置するとき、一端が基板
受渡し機構20を介して前縁側の基板搬出入点3に、他
端が基板受渡し機構21を介して後縁側の第2の基板搬
出点5に、それぞれ対応位置することになる。
In this embodiment, when the substrate loading / unloading mechanism 6 is located at the positioning point A, one end is placed through the substrate delivery mechanism 20 to the substrate loading point 2 on the front edge side, and the other end is placed via the substrate delivery mechanism 21. When corresponding to the first board unloading point 4 on the trailing edge side and located at the positioning point B, one end is connected to the board unloading point 3 on the leading edge side via the board transferring mechanism 20, and the other end is the board transferring mechanism. The second substrate unloading points 5 on the trailing edge side are positioned correspondingly via 21.

【0041】この実施例を図6または図7の使用法で使
用する場合、上流側の基板受渡し機構20は上昇した状
態で搬送コンベヤ7,8いずれかからの被検査基板の搬
入に待機し、また下流側の基板受渡し機構21は上昇し
た状態で搬送コンベヤ9,10いずれかへ検査済基板の
搬出に待機している。
When this embodiment is used in the method of use shown in FIG. 6 or 7, the substrate transfer mechanism 20 on the upstream side is in an ascended state and waits for the substrate to be inspected from any of the transport conveyors 7 and 8 Further, the substrate transfer mechanism 21 on the downstream side is in a raised state and stands by for carrying out the inspected substrate to one of the transport conveyors 9 and 10.

【0042】上流側の搬送コンベヤ7,8から被検査基
板11が搬入される際には、基板受渡し機構20が対応
する基板搬入点2または基板搬出入点3に移動して被検
査基板11を受け取る。この後被検査基板11は基板受
渡し機構20で一旦保持されて基板搬出入機構6への基
板の搬入指令に待機する。基板の搬入指令が基板受渡し
機構20に与えられると、基板受渡し機構20は下降し
た後、被検査基板11を基板搬出入機構6へ送り出す。
このとき基板搬出入機構6は、基板受渡し機構20に対
応する位置決め点A,Bに移動している。基板の送出し
後は、基板受渡し機構20は再び上昇してつぎの被検査
基板11の搬入に待機する。
When the substrate 11 to be inspected is carried in from the upstream conveyors 7, 8, the substrate transfer mechanism 20 moves to the corresponding substrate loading / unloading point 2 or substrate loading / unloading point 3 to move the substrate 11 to be inspected. receive. After that, the substrate 11 to be inspected is once held by the substrate transfer mechanism 20 and waits for a substrate loading command to the substrate loading / unloading mechanism 6. When a board loading command is given to the board transfer mechanism 20, the board transfer mechanism 20 descends and then sends the inspected board 11 to the board transfer mechanism 6.
At this time, the substrate loading / unloading mechanism 6 has moved to the positioning points A and B corresponding to the substrate transfer mechanism 20. After the substrate is delivered, the substrate delivery mechanism 20 moves up again and stands by for the next loading of the inspected substrate 11.

【0043】被検査基板11が基板搬出入機構6に導入
されると、基板搬出入機構6がX軸方向およびY軸方向
へ移動しつつ検査が実行される。検査が完了すると、基
板搬出入機構6がいずれか位置決め点A,Bへ移動する
と共に、下流側の基板受渡し機構21が受渡し先に移動
した後下降し、両者間で検査済基板11の受渡しが行わ
れる。検査済基板11を受け取った基板受渡し機構21
は、基板搬出指令があるまでその検査済基板11を保持
する。
When the substrate 11 to be inspected is introduced into the substrate loading / unloading mechanism 6, the substrate loading / unloading mechanism 6 moves in the X-axis direction and the Y-axis direction to perform the inspection. When the inspection is completed, the substrate loading / unloading mechanism 6 moves to one of the positioning points A and B, and the downstream substrate delivery mechanism 21 moves to the delivery destination and then descends to deliver the inspected substrate 11 between them. Done. Substrate delivery mechanism 21 that has received the inspected substrate 11
Holds the inspected substrate 11 until a substrate unloading instruction is issued.

【0044】なお、上記第2,第3の基板検査装置1に
ついても、前記図4〜図7に示したいずれかの使用法を
適用することが可能である。
It should be noted that any of the usages shown in FIGS. 4 to 7 can be applied to the second and third substrate inspection apparatuses 1 described above.

【0045】図12は、第1実施例を図4に示す使用方
法で使用した場合の前記制御装置による制御手順をステ
ップ1(同図中「ST1」で示す)〜ステップ13で示
す。まず同図のステップ1において、前記駆動機構33
を駆動して基板搬出入機構6をY軸方向へ移動させ、図
4に示す第1の位置決め点Aに位置決め停止させ、基板
搬入点2からの被検査基板11の搬入に待機させる。
FIG. 12 shows steps 1 (indicated by "ST1" in the figure) to step 13 of the control procedure by the control device when the first embodiment is used in the method of use shown in FIG. First, in step 1 of FIG.
Is driven to move the substrate loading / unloading mechanism 6 in the Y-axis direction, the positioning is stopped at the first positioning point A shown in FIG. 4, and the loading of the substrate 11 to be inspected from the substrate loading point 2 is waited.

【0046】つぎのステップ2で搬送コンベヤ7から被
検査基板11を基板搬出入機構6へ搬入した後、カウン
タnの値を「1」に初期設定して、撮像装置13の視野
を第n番目(この場合、第1番目)の検査位置に位置決
めする(ステップ3,4)。つぎに、照明装置12によ
る照明下で撮像装置13により被検査基板11を撮像し
て所定の画像処理を行い、実装状態やはんだ付けの良否
などを判定し、前記カウンタnをインクリメントする
(ステップ5,6)。
In the next step 2, after the substrate 11 to be inspected is carried in from the conveyor 7 to the substrate loading / unloading mechanism 6, the value of the counter n is initialized to "1" and the field of view of the image pickup device 13 is set to the nth position. (In this case, the first inspection position) is positioned (steps 3 and 4). Next, the board 11 to be inspected is imaged by the imaging device 13 under the illumination of the illuminating device 12 and predetermined image processing is performed to determine the mounting state and the quality of soldering, and the counter n is incremented (step 5). , 6).

【0047】つぎのステップ7は、前記カウンタnの内
容が検査位置の総数Nを越えたか否かを判定しており、
その判定が「NO」であれば、ステップ4に戻ってつぎ
の検査位置について同様の検査手順を実行する。
In the next step 7, it is judged whether or not the content of the counter n exceeds the total number N of inspection positions,
If the determination is “NO”, the process returns to step 4 and the same inspection procedure is executed for the next inspection position.

【0048】全ての検査箇所を検査すると、ステップ7
の判定が「YES」となり、その結果、良品であると判
定されると、つぎのステップ8の判定が「YES」とな
り、つぎのステップ9,10で基板搬出入機構6を第1
の位置決め点Aに位置決め停止させ、基板搬出点4より
良品の検査済基板を搬送コンベヤ9へ搬出させる。
When all the inspection points are inspected, step 7
If the result of the determination is “YES”, and as a result, it is determined that the product is a non-defective product, the determination of the next step 8 is “YES”, and the substrate loading / unloading mechanism 6 is first moved to the first step in the next steps 9 and 10.
The positioning is stopped at the positioning point A, and a non-defective inspected substrate is unloaded from the substrate unloading point 4 to the transport conveyor 9.

【0049】検査の結果、不良品であると判定される
と、ステップ8の判定が「NO」となり、基板搬出入機
構6を第2の位置決め点Bに位置決め停止させ、基板搬
出点5より不良品の検査済基板を搬送コンベヤ10へ搬
出させる(ステップ11,12)。
If the result of the inspection is that the product is defective, the determination in step 8 becomes "NO", the substrate loading / unloading mechanism 6 is stopped at the second positioning point B, and the substrate loading / unloading mechanism 6 is unloaded. A non-defective inspected substrate is carried out to the transfer conveyor 10 (steps 11 and 12).

【0050】ステップ13は、つぎの被検査基板11に
ついて検査を続行するか否かを判定しており、その判定
が「YES」であれば、ステップ1へ戻って同様の手順
を実行し、もしステップ13の判定が「NO」であれ
ば、検査を終了させる。
In step 13, it is determined whether or not the inspection of the next substrate to be inspected 11 is continued. If the determination is "YES", the process returns to step 1 and the same procedure is executed. If the determination in step 13 is "NO", the inspection is ended.

【0051】図13は、図5に示す使用方法で使用した
場合の制御手順を示す。同図のステップ1〜7で図12
のステップ1〜7と同様の手順が実行された後、被検査
基板が良品であると判定されると、ステップ8の判定が
「YES」となり、つぎに基板搬出入機構6を第2の位
置決め点Bに位置決め停止させ、基板搬出入点3よりこ
の良品の検査済基板を搬送コンベヤ8へ搬出させる(ス
テップ9,10)。
FIG. 13 shows a control procedure when it is used in the usage method shown in FIG. In steps 1 to 7 of FIG.
After the procedure similar to steps 1 to 7 is executed, if the substrate to be inspected is determined to be non-defective, the determination in step 8 becomes “YES”, and then the substrate loading / unloading mechanism 6 is moved to the second positioning position. The positioning is stopped at the point B, and the non-defective inspected substrate is unloaded from the substrate loading / unloading point 3 to the transport conveyor 8 (steps 9 and 10).

【0052】ステップ8が「NO」のときはステップ1
1へ移行し、不良内容についてチェックする。その結
果、自動修正が可能な基板であればステップ11が「Y
ES」となって、基板搬出入機構6を第1の位置決め点
Aに位置決め停止させ、第1の搬出点4より不良品の検
査済基板を搬送コンベヤ9に搬出させる(ステップ1
2,13)。
When step 8 is "NO", step 1
Go to 1 and check the contents of defects. As a result, if the board is capable of automatic correction, step 11 returns “Y
ES ”, the substrate loading / unloading mechanism 6 is positioned and stopped at the first positioning point A, and the defective inspected substrate is unloaded from the first unloading point 4 to the transport conveyor 9 (step 1).
2, 13).

【0053】ステップ11が「NO」のとき、すなわち
自動修正が不可能なときは、ステップ14へと進んで、
基板搬出入機構6を第2の位置決め点Bへ位置決め停止
させ、第2の搬出点5より不良品の検査済基板を搬送コ
ンベヤ10に搬出させる(ステップ15)。
When step 11 is "NO", that is, when automatic correction is impossible, the process proceeds to step 14,
The substrate loading / unloading mechanism 6 is positioned and stopped at the second positioning point B, and the defective inspected substrate is unloaded from the second unloading point 5 to the transport conveyor 10 (step 15).

【0054】ステップ16は、つぎの被検査基板11に
ついて検査を続行するか否かを判定しており、その判定
が「YES」であれば、ステップ1へ戻って同様の手順
を実行し、もしステップ16の判定が「NO」であれ
ば、検査を終了させる。
In step 16, it is determined whether or not the inspection of the next substrate to be inspected 11 is to be continued. If the determination is "YES", the process returns to step 1 and the same procedure is executed. If the determination in step 16 is "NO", the inspection ends.

【0055】図14は、図6に示す使用方法で使用した
場合の制御手順を示す。まず、最初のステップ1,2
で、制御装置はいずれか被検査基板a,bの搬入に待機
する。被検査基板aが搬送コンベヤ7上に搬送されてく
ると、ステップ1が「YES」となって基板搬出入機構
6は第1の位置決め点Aに位置決めされる(ステップ
3)。一方、被検査基板bが搬送コンベヤ8上に搬送さ
れたときはステップ1が「NO」、ステップ2が「YE
S」となって、基板搬出入機構6は第2の位置決め点B
に位置決めされる(ステップ4)。
FIG. 14 shows a control procedure when the method shown in FIG. 6 is used. First, the first steps 1 and 2
Then, the control device stands by for loading either of the inspection target substrates a and b. When the substrate a to be inspected a is transported onto the transport conveyor 7, step 1 becomes "YES" and the substrate loading / unloading mechanism 6 is positioned at the first positioning point A (step 3). On the other hand, when the substrate b to be inspected is carried on the carrying conveyor 8, step 1 is "NO" and step 2 is "YE."
S ”, and the substrate loading / unloading mechanism 6 moves to the second positioning point B.
(Step 4).

【0056】つぎのステップ5で、いずれかの被検査基
板a,bを基板搬出入機構6へ搬入した後、ステップ6
でカウンタnの値を「1」に初期設定し、以下図12,
13のステップ4〜7と同様の手順を実行する(ステッ
プ7〜10)。
In the next step 5, either one of the substrates a and b to be inspected is carried into the substrate loading / unloading mechanism 6, and then step 6
Initially set the value of the counter n to "1" with
The procedure similar to steps 4 to 7 of 13 is executed (steps 7 to 10).

【0057】基板上のすべての検査箇所についての検査
が終了すると、ステップ10が「YES」となり、つぎ
のステップ11で基板の種類をチェックする。検査され
た基板が基板aである場合はステップ11が「YES」
となり、基板搬出入機構6を第1の位置決め点Aに位置
決めし、基板搬出点4より基板aを搬送コンベヤ9上に
搬出させる(ステップ12,13)。また検査された基
板が基板bである場合はステップ11が「NO」とな
り、基板搬出入機構6を第2の位置決め点Bに位置決め
固定し、基板搬出点5より基板bを搬出させる(ステッ
プ14,15)。
When the inspection of all the inspection points on the substrate is completed, step 10 becomes "YES", and the type of the substrate is checked in the next step 11. When the inspected substrate is the substrate a, step 11 is “YES”.
Then, the substrate loading / unloading mechanism 6 is positioned at the first positioning point A, and the substrate a is unloaded from the substrate unloading point 4 onto the transport conveyor 9 (steps 12 and 13). If the inspected substrate is the substrate b, step 11 becomes "NO", the substrate loading / unloading mechanism 6 is positioned and fixed at the second positioning point B, and the substrate b is unloaded from the substrate unloading point 5 (step 14). , 15).

【0058】なお上記3つの実施例ではいずれも、基板
搬出入点3をテーブル15の前縁側に設けているが、こ
れをテーブルの後縁側に設けて修正済の基板を搬入し、
再検査するなどしてもよい。
In each of the above three embodiments, the substrate loading / unloading point 3 is provided on the front edge side of the table 15. However, this is provided on the trailing edge side of the table to carry in the modified substrate.
You may re-examine.

【0059】[0059]

【発明の効果】この発明では、テーブル上に基板搬出入
機構を移動可能に設けるとともに、テーブルの前縁側の
基板搬入点の他に、テーブルの前縁側および後縁側に他
の基板搬入点や基板搬出点を設け、基板の搬出入時に基
板搬出入機構を該当する基板搬入点または基板搬出点に
位置決めするようにしたから、基板検査装置の上下流に
基板の受渡しや振分のための装置を設ける必要がなくな
り、検査ラインのスペースや設備の削減が実現でき、検
査ラインの組立が簡易化される。
According to the present invention, the substrate loading / unloading mechanism is movably provided on the table, and in addition to the substrate loading point on the leading edge side of the table, other substrate loading points and substrates are loaded on the leading edge side and the trailing edge side of the table. Since a carry-out point is provided and the board carry-in / carry-out mechanism is positioned at the corresponding board carry-in point or board carry-out point when the board is carried in and out, an apparatus for delivering and distributing the board is provided upstream and downstream of the board inspection device. Since it is not necessary to provide it, the inspection line space and equipment can be reduced, and the inspection line assembly is simplified.

【0060】請求項4の発明では、テーブルの後縁側に
良品,不良品それぞれについての基板搬出点を設けたの
で、検査終了後、良品の回収や不良品の修正作業などに
スムーズに移行できる。
According to the fourth aspect of the present invention, since the board unloading points for the non-defective products and the defective products are provided on the trailing edge side of the table, it is possible to smoothly shift to the recovery work of the non-defective products and the correction work of the defective products after the inspection.

【0061】請求項5の発明では、テーブルの前縁側に
基板搬入点と良品基板搬出点とを設けたので、検査ライ
ンが基板の組立ラインから分離したシステムについても
対応することができる。
According to the fifth aspect of the present invention, since the board carry-in point and the non-defective board carry-out point are provided on the front edge side of the table, it is possible to cope with a system in which the inspection line is separated from the board assembly line.

【0062】請求項6の発明では、テーブルの前縁側に
複数の基板搬入点を、後縁側に複数の基板搬出点を、そ
れぞれ設けたので、異なる種類の基板の検査や複数の組
立ラインにおける基板検査をひとつの基板検査装置で実
施可能となるなど、発明目的を達成した顕著な効果を奏
する。
According to the sixth aspect of the present invention, a plurality of board carry-in points are provided on the front edge side of the table and a plurality of board carry-out points are provided on the trailing edge side, respectively. The inspection can be carried out by one board inspection device, and the remarkable effects of achieving the object of the invention are achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例である基板検査装置が導入
された検査システムの構成を示す説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a configuration of an inspection system in which a substrate inspection apparatus according to an embodiment of the present invention is introduced.

【図2】図1の基板検査装置の概略構成を示す説明図で
ある。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of the substrate inspection apparatus of FIG.

【図3】テーブルおよび基板搬出入機構の構成を示す斜
面図である。
FIG. 3 is a perspective view showing a configuration of a table and a substrate loading / unloading mechanism.

【図4】図1,2の基板検査装置の使用例を示す説明図
である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of use of the board inspection device of FIGS.

【図5】図1,2の基板検査装置の他の使用例を示す説
明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing another example of use of the board inspection apparatus of FIGS.

【図6】図1,2の基板検査装置の他の使用例を示す説
明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing another example of use of the substrate inspection apparatus of FIGS.

【図7】図1,2の基板検査装置の他の使用例を示す説
明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing another example of use of the board inspection device of FIGS.

【図8】この発明の第2の実施例にかかる基板検査シス
テムの構成を示す説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing a configuration of a substrate inspection system according to a second embodiment of the present invention.

【図9】図8の基板検査装置の概略構成を示す説明図で
ある。
9 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of the substrate inspection apparatus of FIG.

【図10】この発明の第3の実施例にかかる基板検査シ
ステムの構成を示す説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a configuration of a board inspection system according to a third embodiment of the present invention.

【図11】図10の基板検査装置の概略構成を示す説明
図である。
11 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of the board inspection apparatus of FIG.

【図12】図4の使用例についての制御装置の制御手順
を示すフローチャートである。
12 is a flowchart showing a control procedure of the control device for the use example of FIG.

【図13】図5の使用例についての制御装置の制御手順
を示すフローチャートである。
13 is a flowchart showing a control procedure of the control device for the use example of FIG.

【図14】図6の使用例についての制御装置の制御手順
を示すフローチャートである。
14 is a flowchart showing a control procedure of the control device for the use example of FIG.

【図15】従来の検査ラインの構成を示す説明図であ
る。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing a configuration of a conventional inspection line.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板検査装置 2 基板搬入口 3 基板搬出入口 4,5 基板搬出口 6 基板搬出入機構 15 テーブル 1 substrate inspection device 2 substrate loading port 3 substrate loading port 4 and 5 substrate loading port 6 substrate loading and unloading mechanism 15 table

フロントページの続き (72)発明者 松尾 俊介 京都市右京区花園土堂町10番地 オムロン 株式会社内Front page continuation (72) Inventor Shunsuke Matsuo 10 Odoroncho, Hanazono, Ukyo-ku, Kyoto

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 テーブル上に基板搬出入機構が移動可能
に設けられた基板検査装置において、前記テーブルの前
縁側に設定された被検査基板を搬入する基板搬入点に対
し、テーブルの前縁側または後縁側であって基板搬出入
方向と直交する方向へ位置ずれした位置に他の基板搬入
点または検査済基板を搬出する基板搬出点を設定して、
前記基板搬入点および基板搬出点に前記基板搬出入機構
を位置決め制御することを特徴とする基板検査装置。
1. A substrate inspecting device, wherein a substrate loading / unloading mechanism is movably provided on a table, a front edge side of the table or a substrate loading point for loading a substrate to be inspected set on the front edge side of the table or Set another board carry-in point or a board carry-out point for carrying out the inspected board at a position displaced in the direction orthogonal to the board carry-in / out direction on the trailing edge side,
A substrate inspection apparatus, wherein the substrate loading / unloading mechanism is positionally controlled at the substrate loading / unloading point.
【請求項2】 前記基板搬出入機構は、基板搬出入方向
と直交する方向に移動可能である請求項1に記載された
基板検査装置。
2. The substrate inspection apparatus according to claim 1, wherein the substrate loading / unloading mechanism is movable in a direction orthogonal to the substrate loading / unloading direction.
【請求項3】 前記基板搬出入機構は、基板搬出入方向
と、その基板搬出入方向と直交する方向の2方向に移動
可能である請求項1に記載された基板検査装置。
3. The substrate inspection apparatus according to claim 1, wherein the substrate loading / unloading mechanism is movable in two directions: a substrate loading / unloading direction and a direction orthogonal to the substrate loading / unloading direction.
【請求項4】 前記テーブルには、良品の検査済基板を
搬出する良品基板搬出点と、不良品の検査済基板を搬出
する不良品基板搬出点とが設定され、良品基板搬出点お
よび不良品基板搬出点をテーブルの後縁側に設定すると
共に、良品基板搬出点と不良品基板搬出点とのいずれか
一方を、前記基板搬入点に対し、基板搬出入方向と直交
する方向へ位置ずれした位置に設定して成る請求項1〜
3のいずれかに記載された基板検査装置。
4. A non-defective substrate unloading point for unloading a non-defective inspected substrate and a defective substrate unloading point for unloading a defective inspected substrate are set in the table, and the non-defective substrate unloading point and the defective product are set. The board unloading point is set on the trailing edge side of the table, and either the good board unloading point or the defective board unloading point is displaced from the board loading point in the direction orthogonal to the board unloading direction. Claim 1 which is set to
The board inspection apparatus described in any one of 3 above.
【請求項5】 前記テーブルには、良品の検査済基板を
搬出する良品基板搬出点と、不良品の検査済基板を搬出
する不良品基板搬出点とが設定され、良品基板搬出点を
テーブルの前縁側であって前記基板搬入点に対し基板搬
出入方向と直交する方向へ位置ずれした位置に設定する
と共に、不良品基板搬出点を前記テーブルの後縁側に設
定して成る請求項1〜3のいずれかに記載された基板検
査装置。
5. A non-defective substrate unloading point for unloading a non-defective inspected substrate and a defective product unloading point for unloading a defective inspected substrate are set in the table, and the non-defective substrate unloading point is set in the table. 4. The front edge side is set at a position displaced from the substrate loading point in a direction orthogonal to the substrate loading / unloading direction, and the defective substrate loading point is set on the trailing edge side of the table. The board inspection device described in any one of 1.
【請求項6】 前記テーブルには、被検査基板を搬入す
る第1,第2の基板搬入点が設定され、第2の基板搬入
点をテーブルの前縁側であって第1の基板搬入点に対し
基板搬出入方向と直交する方向へ位置ずれした位置に設
定すると共に、前記基板搬出点を前記テーブルの後縁側
に設定して成る請求項1〜3のいずれかに記載された基
板検査装置。
6. The table is provided with first and second substrate loading points for loading a substrate to be inspected, and the second substrate loading point is on the front edge side of the table and is the first substrate loading point. The board inspection device according to claim 1, wherein the board carry-out point is set to a trailing edge side of the table, and the board carry-out point is set to a position displaced in a direction orthogonal to the board carry-in / out direction.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1463390A2 (en) * 2003-03-27 2004-09-29 Pillarhouse International Limited Soldering method and apparatus
JP2007017311A (en) * 2005-07-08 2007-01-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd Appearance inspection system
JP2015096816A (en) * 2013-11-15 2015-05-21 株式会社サキコーポレーション Inspection apparatus

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