JPH06169123A - Output controllor for laser device - Google Patents

Output controllor for laser device

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JPH06169123A
JPH06169123A JP4320566A JP32056692A JPH06169123A JP H06169123 A JPH06169123 A JP H06169123A JP 4320566 A JP4320566 A JP 4320566A JP 32056692 A JP32056692 A JP 32056692A JP H06169123 A JPH06169123 A JP H06169123A
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pulse
energy
laser
predetermined
laser device
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Noriaki Itou
仙聡 伊藤
Yoshio Amada
芳穂 天田
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Komatsu Ltd
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Komatsu Ltd
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To precisely control the prevention of spiking phenomenon in a laser device at all times. CONSTITUTION:Discharge voltage, with which the magnitude of energy of each continuous pulse is made equal, is stored in the memory of a laser device 1 in advance. A laser beam is pulse-oscillated under the prescribed condition during the prescribed time when no prescribed treatment is conducted by a stepper 9 using the laser beam L, the energy of the above-mentioned oscillated pulse is detected by a monitor 5, and the discharge voltage, which is stored on the basis of the detected energy magnitude based on the desired energy magnitude and the prescribed conditions, is corrected by an output control part 6. The output control part 6 controls the discharge voltage in such a manner that corrected discharge voltage is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、主として逐次移動型縮
小投影露光装置(以下、「ステッパ」と呼ぶ)の光源と
して用いられ、放電励起されることによってレーザを発
振するレーザ装置の出力制御装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is mainly used as a light source of a stepwise moving reduction projection exposure apparatus (hereinafter referred to as "stepper"), and an output control apparatus of a laser apparatus which oscillates a laser by being discharge-excited. Regarding

【0002】[0002]

【従来の技術】ステッパにおいては、回路パターンの解
像度を一定レベル以上に維持するために厳密な露光量制
御が必要とされる。一方、このステッパの光源として使
用されるエキシマレーザは、いわゆるパルス放電励起ガ
スレーザのために1パルス毎にパルスエネルギーにバラ
ツキがあり、露光量制御の精度向上のためにはこのバラ
ツキを小さくする必要がある。しかも、断続光であるた
めに、連続光である水銀ランプを光源とした場合の従来
のシャッタ制御とは異なった露光量制御が必要である。
2. Description of the Related Art In a stepper, strict exposure amount control is required to maintain the resolution of a circuit pattern at a certain level or higher. On the other hand, the excimer laser used as the light source of this stepper has a variation in pulse energy for each pulse because it is a so-called pulse discharge excitation gas laser, and it is necessary to reduce this variation in order to improve the accuracy of exposure amount control. is there. Moreover, since the light is intermittent light, it is necessary to control the amount of exposure differently from the conventional shutter control when a mercury lamp, which is continuous light, is used as the light source.

【0003】そこで、たとえば、文献(宮地ほか、「エ
キシマレーザリソグラフィ」、国際レーザ/アプリケー
ション’91、セミナーL−5、P36−51)に見ら
れるように、複数のパルスを連続発振して露光を行う、
いわゆる複数パルス露光によって露光量制御の精度向上
を図ろうとするものがある。
Therefore, for example, as seen in the literature (Miyaji et al., "Excimer Laser Lithography", International Laser / Application '91, Seminar L-5, P36-51), a plurality of pulses are continuously oscillated to perform exposure. Do,
There is an attempt to improve the accuracy of exposure amount control by so-called multiple pulse exposure.

【0004】この方法は、エキシマレーザの発振パルス
のエネルギーのバラツキがほぼ正規分布で近似できるた
め、n回パルス発振させて露光した後の積算エネルギー
のバラツキが1パルスのエネルギーのバラツキに対し
て、1/(n)1/2になることを利用したものである。
すなわち、1パルスのエネルギーのバラツキをΔP/
P、必要な露光量制御精度をAとすると、それに必要な
露光パルス数Nは以下の関係で与えられる。
In this method, since the variation in the energy of the oscillation pulse of the excimer laser can be approximated by a normal distribution, the variation in the integrated energy after exposure by oscillating the pulse n times is different from the variation in the energy of one pulse. The fact that it becomes 1 / (n) 1/2 is used.
That is, the variation in energy of one pulse is ΔP /
Assuming that P is P and the required exposure amount control accuracy is A, the number N of exposure pulses required for it is given by the following relationship.

【0005】N≧{(ΔP/P)/A}2 たとえば、1パルスのエネルギのバラツキΔP/Pが1
5%(3σ)、必要な露光量制御精度Aが1.5%(3
σ)であれば、N≧100となり、この100回以上の
連続パルス発振で所望の精度を達成することができる。
N ≧ {(ΔP / P) / A} 2 For example, the energy variation ΔP / P of 1 pulse is 1
5% (3σ), the required exposure control accuracy A is 1.5% (3
σ), N ≧ 100, and the desired accuracy can be achieved by continuous pulse oscillation 100 times or more.

【0006】ところで、ステッパは、露光とステージ移
動とを交互に繰り返す。このため、光源となるエキシマ
レーザの運転状態としては、必然的にいわゆるバースト
モードとなる。なお、バーストモードとは、レーザ光を
所定回数連続してパルス発振させた後、所定時間パルス
発振を休止させる運転を繰り返し行うことをいう。つま
り、短時間の連続パルス発振期間と短時間の発振休止期
間とを交互に繰り返すものである。
By the way, the stepper alternately repeats exposure and stage movement. Therefore, the operating state of the excimer laser, which is the light source, is inevitably the so-called burst mode. The burst mode means that the laser light is continuously pulse-oscillated a predetermined number of times and then the operation of suspending the pulse oscillation for a predetermined time is repeated. That is, the short continuous pulse oscillation period and the short oscillation quiescent period are alternately repeated.

【0007】なお、この明細書において、「連続パル
ス」、「連続パルス発振」というときは、パルス放電を
繰返し行い断続的なパルスレーザ光を繰返し得るという
意味で使用している。したがって、一般にいわれる「連
続発振レーザ」、「CW発振」とは異なる意味で使用し
ている。
In this specification, the terms "continuous pulse" and "continuous pulse oscillation" are used to mean that pulse discharge can be repeated and intermittent pulsed laser light can be repeated. Therefore, the term "continuous oscillation laser" and "CW oscillation" are generally used in different meanings.

【0008】さて、上述したように、エキシマレーザは
パルス放電励起ガスレーザであるため、常に一定の大き
さのパルスエネルギーで発振を続けることが困難であ
る。この原因としては、放電されることによって放電空
間内にレーザガスの密度擾乱が発生し、次回の放電を不
均一に、また不安定にしたり、この不均一放電等のため
放電電極の表面において局所的な温度上昇が発生し、さ
らに次回の放電を劣化させ放電を不均一で不安定なもの
にするためである。特に、上記連続パルス発振期間の初
期においてその傾向が顕著であり、発振休止期間経過後
の最初のパルスでは、安定な放電が得られ比較的高いパ
ルスエネルギーが得られるが、その後は放電が劣化し徐
々にパルスエネルギーが低下するという、いわゆるスパ
イキング現象が現れる。この現象を図10のSに示す。
すなわち、同図に示すように所定のパルスエネルギーP
sを得るために、このエネルギーに対応する所定の放電
電圧で発振したとしても、実際には最初のパルスのエネ
ルギーP1がPsよりも大きくなってしまうという現象で
ある。
As described above, since the excimer laser is a pulse discharge excitation gas laser, it is difficult to always oscillate with pulse energy of a certain magnitude. The cause of this is that the density disturbance of the laser gas occurs in the discharge space due to the discharge, which makes the next discharge non-uniform and unstable, and the non-uniform discharge causes local discharge on the surface of the discharge electrode. This is because a large temperature rise occurs and the next discharge is deteriorated to make the discharge uneven and unstable. In particular, the tendency is remarkable at the beginning of the continuous pulse oscillation period, and stable discharge is obtained and relatively high pulse energy is obtained in the first pulse after the oscillation pause period, but the discharge deteriorates thereafter. A so-called spiking phenomenon that the pulse energy gradually decreases appears. This phenomenon is shown by S in FIG.
That is, as shown in FIG.
This is a phenomenon in which the energy P1 of the first pulse actually becomes larger than Ps even if oscillation is performed at a predetermined discharge voltage corresponding to this energy in order to obtain s.

【0009】このようにバーストモード運転のエキシマ
レーザ装置では、前述した1パルス毎のエネルギのバラ
ツキが露光量制御の精度を低下させるとともに、スパイ
キング現象がさらにバラツキを著しく大きくし露光量制
御の精度をさらに低下させるという問題がある。
As described above, in the burst mode operation excimer laser device, the above-mentioned variation in energy for each pulse deteriorates the accuracy of the exposure amount control, and the spiking phenomenon causes the variation to be significantly increased, thereby increasing the accuracy of the exposure amount control. There is a problem of further lowering.

【0010】しかも近年、ウエハに塗布する感光剤の感
度が向上しており、少ない連続パルス数での露光が可能
となっており、パルス数減少の傾向にある。
Moreover, in recent years, the sensitivity of the photosensitizer applied to the wafer has been improved, and exposure with a small number of continuous pulses has become possible, and the number of pulses tends to decrease.

【0011】しかし、パルス数が少なくなると、それに
応じてパルスエネルギーのバラツキが大きくなってしま
い、前述した複数パルス露光制御のみによっては露光量
制御の精度の維持が困難になる。このため、パルスエネ
ルギーのバラツキの改善、特にバーストモードにおける
スパイキング現象の影響を除去することが望まれてい
る。
However, when the number of pulses decreases, the variation in pulse energy increases accordingly, and it becomes difficult to maintain the accuracy of the exposure amount control only by the above-described multiple pulse exposure control. Therefore, it is desired to improve the variation in pulse energy and remove the influence of the spiking phenomenon in the burst mode.

【0012】そこで、放電電圧が大きなるにつれて発振
されるパルスのエネルギーが大きくなるという性質を利
用して、バーストモードにおける連続パルス発振の最初
のパルスの放電電圧を小さくし、以後パルスの放電電圧
を徐々に大きくしていくという具合に、放電電圧を各パ
ルスごとに変化させてスパイキング現象による初期のエ
ネルギー上昇を防止する制御、つまりスパイキング発生
防止制御に関する技術が採用され、実施されるに至って
いる。この種の技術に関する文献として「T.Ishihara e
t.al. 'Advanced Krypton Fluoride Excimer Laser Fo
r Microlithography',SPIE Proc.Optical /Laser Micro
lithography V,vol.1674,473(1992)」を挙げることがで
きる。
Therefore, by utilizing the property that the energy of the pulse oscillated increases as the discharge voltage increases, the discharge voltage of the first pulse of the continuous pulse oscillation in the burst mode is reduced and the discharge voltage of the pulse is changed thereafter. Controls that prevent the initial increase in energy due to the spiking phenomenon by changing the discharge voltage for each pulse, such as gradually increasing it, that is, technology related to spiking prevention control have been adopted and implemented. There is. As a literature on this kind of technology, "T. Ishihara e
t.al. 'Advanced Krypton Fluoride Excimer Laser Fo
r Microlithography ', SPIE Proc.Optical / Laser Micro
Lithography V, vol. 1674, 473 (1992) ”.

【0013】かかる技術によれば、スパイキング現象の
影響が除去されるので、露光量制御の精度を、たとえ少
ない連続パルス発振であっても向上させることができ
る。
According to such a technique, the influence of the spiking phenomenon is eliminated, so that the accuracy of exposure amount control can be improved even with a small number of continuous pulse oscillations.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記文献に
は、レーザの稼働条件に応じて最適な制御を行うことま
では開示されていない。すなわち、一般に、スパイキン
グ発生防止制御の内容は、レーザ媒質ガスの組成、各成
分のガスの分圧、放電電極の形状等のレーザの稼働条件
に応じて一義的に定まり、稼働条件に応じた最適な制御
が行われることになる。しかし、これらレーザの稼働条
件が僅かにでも変化すると、最適な制御は行われなくな
り、スパイキング発生防止制御の精度は低下してしま
う。ここに、レーザ媒質ガスに関する変化に対しては、
組成、分圧等をガス制御装置等によってそれら組成等が
一定になるよう正確に管理することで、スパイキング発
生防止制御の精度に影響を与えることにならないように
することが可能であるが、管理が困難な稼働条件、たと
えば電極消耗量、消耗による電極の形状変化等は、予測
困難でもあり、管理も困難であり、そのままスパイキン
グ発生防止制御を続けた場合には、やがて稼働条件の変
化によって精度が低下してしまうことになる。
However, the above document does not disclose that the optimum control is performed according to the operating conditions of the laser. That is, in general, the content of the spiking prevention control is uniquely determined according to the operating conditions of the laser such as the composition of the laser medium gas, the partial pressure of each component gas, the shape of the discharge electrode, and the like. Optimal control will be performed. However, if the operating conditions of these lasers change even slightly, the optimal control is not performed and the accuracy of the spiking prevention control deteriorates. Here, for changes related to the laser medium gas,
It is possible to prevent the accuracy of spiking prevention control from being affected by accurately controlling the composition, partial pressure, etc. by a gas control device etc. so that the composition etc. becomes constant. Operating conditions that are difficult to manage, such as the amount of electrode wear and changes in the electrode shape due to wear, are difficult to predict and are difficult to manage.If the spiking prevention control is continued, the operating conditions will eventually change. Will reduce the accuracy.

【0015】本発明はこうした実状に鑑みてなされたも
のであり、たとえレーザの稼働条件の変化が予測困難
で、管理が困難である場合であっても、スパイキング発
生防止制御を常に精度よく行うことができる装置を提供
することをその目的としている。
The present invention has been made in view of the above situation, and spiking prevention control is always performed accurately even if the change in the operating conditions of the laser is difficult to predict and the management is difficult. It is an object of the present invention to provide a device capable of performing the above.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】そこで、本発明の主たる
発明では、レーザ光を所定回数連続してパルス発振させ
た後、所定時間パルス発振を休止させる運転を繰り返す
バーストモードでレーザ装置を稼働させるとともに、前
記パルスのエネルギーが所定の大きさとなるように放電
電圧を制御し、前記レーザ光を用いて所定の処理を行う
レーザ装置の出力制御装置において、連続パルスの各パ
ルスのエネルギーの大きさを同一にする放電電圧を予め
記憶する記憶手段と、発振されたパルスのエネルギーを
検出する検出手段と、前記所定の処理が行われていない
時間中に、レーザ光を所定条件下でパルス発振させ、こ
の発振されたパルスのエネルギーを前記検出手段によっ
て検出し、この検出されたエネルギーの大きさと前記所
定の大きさと前記所定条件とに基づいて前記記憶された
放電電圧を補正する補正手段と、前記所定の処理が行わ
れる時間中に、前記補正された放電電圧が得られるよう
に放電電圧を制御する手段とを具えている。
Therefore, in the main invention of the present invention, the laser device is operated in a burst mode in which the laser light is continuously pulsed a predetermined number of times and then the pulse oscillation is stopped for a predetermined time. Along with, in the output control device of the laser device that controls the discharge voltage so that the energy of the pulse has a predetermined magnitude, and performs a predetermined process using the laser light, the magnitude of the energy of each pulse of the continuous pulse is changed. Storage means for storing the same discharge voltage in advance, detection means for detecting the energy of the oscillated pulse, during the time when the predetermined processing is not performed, pulse the laser light under a predetermined condition, The energy of the oscillated pulse is detected by the detection means, and the magnitude of the detected energy, the predetermined magnitude, and the A correction unit that corrects the stored discharge voltage based on a constant condition; and a unit that controls the discharge voltage so that the corrected discharge voltage is obtained during the time when the predetermined process is performed. I am.

【0017】[0017]

【作用】かかる構成によれば、連続パルスの各パルスの
エネルギーの大きさを同一にする放電電圧が予め記憶さ
れる。そして、レーザ光を用いる所定の処理が行われて
いない時間中に、レーザ光が所定条件下でパルス発振さ
れ、この発振されたパルスのエネルギーが検出され、こ
の検出されたエネルギーの大きさと所望の所定の大きさ
と上記所定条件とに基づいて記憶された放電電圧が補正
される。そして、レーザ光を用いる所定の処理が行われ
る時間中に、補正された放電電圧が得られるように放電
電圧が制御される。よって、たとえレーザの稼働条件の
変化が予測困難で、変化に対する管理が困難である場合
であっても、レーザの稼働条件の変化が、パルスのエネ
ルギーを検出することによって捕らえられ、これに基づ
いて記憶された放電電圧が最適な値に補正され、この補
正された放電電圧によって制御が常に精度よく行われ
る。
According to this structure, the discharge voltage for equalizing the magnitude of the energy of each pulse of the continuous pulse is stored in advance. Then, during the time when the predetermined processing using the laser light is not performed, the laser light is pulse-oscillated under the predetermined condition, the energy of the oscillated pulse is detected, and the magnitude of the detected energy and the desired energy are detected. The stored discharge voltage is corrected based on the predetermined magnitude and the predetermined condition. Then, the discharge voltage is controlled so that the corrected discharge voltage is obtained during the time when the predetermined process using the laser light is performed. Therefore, even if the change in the operating condition of the laser is difficult to predict and it is difficult to manage the change, the change in the operating condition of the laser is detected by detecting the energy of the pulse, and based on this, The stored discharge voltage is corrected to an optimum value, and the corrected discharge voltage allows control to always be performed accurately.

【0018】[0018]

【実施例】以下、図面を参照して本発明に係るレーザ装
置の出力制御装置の実施例について説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of an output control device for a laser device according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0019】図1に示すように実施例装置は、大きく
は、エキシマレーザ光Lを出力するエキシマレーザ装置
1と、エキシマレーザ装置1を光源とし、出力レーザ光
Lにより縮小投影露光を行うステッパ9とから構成され
ている。
As shown in FIG. 1, the apparatus of the embodiment is roughly composed of an excimer laser device 1 which outputs an excimer laser beam L, and a stepper 9 which uses the excimer laser device 1 as a light source and performs reduction projection exposure with the output laser beam L. It consists of and.

【0020】レーザ装置1の発振器2は、レーザチャン
バ、光共振器等からなり、レーザチャンバ内にはKr、
F2等からなるレーザガスが満たされている。そして、
レーザチャンバ内に配設された電極間で放電を行い、レ
ーザガスを励起させてレーザ発振を行う。発振されたレ
ーザ光は上記光共振器内で共振され、フロントミラーか
ら有効な発振レーザ光Lとして出力される。なお、放電
は所定のパルス幅をもって所定の間隔で行われ、レーザ
光Lが断続的に出力される。
The oscillator 2 of the laser device 1 comprises a laser chamber, an optical resonator, etc., and Kr and
The laser gas such as F2 is filled. And
Discharge is performed between the electrodes arranged in the laser chamber to excite the laser gas to cause laser oscillation. The oscillated laser light is resonated in the optical resonator, and is output as effective oscillated laser light L from the front mirror. The discharge is performed at a predetermined interval with a predetermined pulse width, and the laser light L is intermittently output.

【0021】こうして発振器2から発振されたレーザ光
は、ビームスプリッタ3によって一部サンプリングさ
れ、図示せぬレンズを介して出力モニタ5に入射され
る。この出力モニタ5では、出力レーザ光Lの1パルス
当たりのエネルギー、つまりパルスエネルギーEが検出
される。
The laser light thus oscillated from the oscillator 2 is partially sampled by the beam splitter 3 and is incident on the output monitor 5 through a lens (not shown). The output monitor 5 detects energy per pulse of the output laser light L, that is, pulse energy E.

【0022】出力モニタ5によって検出されたパルスエ
ネルギーEは、出力制御部6に加えられ、該出力制御部
6は、入力されたパルスエネルギーEに基づいて、所望
のパルスエネルギーEdが得られるように、レーザ電源
部8に電圧データを加える。この場合、パワーロック制
御が行われる。
The pulse energy E detected by the output monitor 5 is applied to the output control section 6 so that the desired pulse energy Ed can be obtained based on the input pulse energy E. , Voltage data is added to the laser power supply unit 8. In this case, power lock control is performed.

【0023】なお、パワーロック制御とは、レーザガス
が劣化し同じ放電電圧を与えてもパルスエネルギーEが
低下してしまうことを、劣化に応じて放電電圧を高くす
ることで防止する制御方法の一つである。一般的には、
発振された複数パルスのエネルギーを積算、平均化し、
所望のエネルギーEdと比較することによって次パルス
以降の放電電圧を決定するフィードバック制御である。
決定された放電電圧(所望のエネルギーEdを得るため
の放電電圧)をパワーロック電圧Vplと呼ぶ。なお、
「POWERLOK」は米国Questek社の登録商
標である。これに対してスパイキング発生防止制御は、
次に発振される1パルスのパルスエネルギーを予測し
て、放電電圧を、発振前に決定する予測制御である。
The power lock control is a control method for preventing the pulse energy E from decreasing even if the laser gas deteriorates and the same discharge voltage is applied, by increasing the discharge voltage according to the deterioration. Is one. In general,
Energy of multiple oscillated pulses is integrated and averaged,
This is feedback control that determines the discharge voltage after the next pulse by comparing with the desired energy Ed.
The determined discharge voltage (the discharge voltage for obtaining the desired energy Ed) is called the power lock voltage Vpl. In addition,
"POWERLOK" is a registered trademark of Questek Corporation in the United States. On the other hand, the spiking prevention control is
This is predictive control for predicting the pulse energy of one pulse to be oscillated next and determining the discharge voltage before oscillation.

【0024】レーザ電源部8は、加えられた電圧データ
に応じて上記電極間に電位差Vを与え、上記放電を行
う。ここに、放電させるための電圧は、レーザ電源部8
内に配設された充電回路により一旦充電され、たとえば
サイラトロン等のスイッチ素子の動作により放電され
る。
The laser power supply unit 8 gives a potential difference V between the electrodes according to the applied voltage data, and discharges. Here, the voltage for discharging is the laser power supply unit 8
It is once charged by a charging circuit provided inside and is discharged by the operation of a switching element such as a thyratron.

【0025】出力制御部6は、ステッパ9内のステッパ
制御部10と信号線で接続されており、ステッパ制御部
10から送出されるトリガ信号Trを受信する。出力制
御部6は、送出されてくるトリガ信号Trを受信する
と、1パルスの発振が行なわれるようレーザ電源部8を
制御する。
The output control unit 6 is connected to the stepper control unit 10 in the stepper 9 by a signal line, and receives the trigger signal Tr sent from the stepper control unit 10. Upon receiving the transmitted trigger signal Tr, the output control unit 6 controls the laser power supply unit 8 so that oscillation of one pulse is performed.

【0026】レーザ装置1にはレーザ光射出口1aが形
成されており、この射出口1aを介して発振されたレー
ザ光Lが外部のステッパ9に投光され、ステッパ9にお
いてレーザ光Lを用いた露光処理が行われる。シャッタ
4は、発振されたレーザ光Lを遮断することによりレー
ザ光Lを射出口1aより外部に投光させないようにする
ために設けられており、シャッタ4の開閉制御は、出力
制御部6によりドライバ7を介し行われる。シャッタ4
が開くときは、レーザ光Lは遮断されることなく、ステ
ッパ9へ投光され該ステッパ9においてレーザ光を用い
た露光処理が行われる。一方、シャッタ4が閉じられた
ときは、レーザ光は遮断され、ステッパ9における上記
処理は行われない。
The laser device 1 is provided with a laser beam emission port 1a, and the laser beam L oscillated through this emission port 1a is projected onto an external stepper 9 and the laser beam L is used by the stepper 9. The exposed exposure process is performed. The shutter 4 is provided to block the oscillated laser light L so that the laser light L is not projected to the outside from the emission port 1a, and the opening / closing control of the shutter 4 is performed by the output control unit 6. This is done via the driver 7. Shutter 4
When is opened, the laser light L is projected to the stepper 9 without being blocked, and the exposure process using the laser light is performed in the stepper 9. On the other hand, when the shutter 4 is closed, the laser light is blocked and the above process in the stepper 9 is not performed.

【0027】出力制御部6の図示せぬメモリには、後述
するように、スパイキング現象に寄与するパラメータに
応じて、バーストモードにおける連続パルスの各パルス
のエネルギーの大きさを同一にする放電電圧Vが予め記
憶されている。そして、出力制御部6は、上記シャッタ
4が閉じられレーザ光を用いた上記処理が行われていな
い時間中に、レーザ光を所定条件下でパルス発振させ
る。以下、この発振のことを「調整発振」という。そし
て、この調整発振されたパルスのエネルギーEが上記出
力モニタ5で検出され、この検出されたエネルギーの大
きさEに基づいて記憶された放電電圧Vが補正される。
そして、レーザ光を用いた上記所定の処理が行われる時
間中に、出力制御部6は、補正された放電電圧Vが得ら
れるように放電電圧を制御する。
As will be described later, a memory (not shown) of the output control unit 6 has a discharge voltage that equalizes the energy levels of the continuous pulses in the burst mode according to the parameters contributing to the spiking phenomenon. V is stored in advance. Then, the output control unit 6 causes the laser light to pulse-oscillate under a predetermined condition during the time when the shutter 4 is closed and the above-described processing using the laser light is not performed. Hereinafter, this oscillation is referred to as “adjustment oscillation”. Then, the energy E of the adjusted and oscillated pulse is detected by the output monitor 5, and the stored discharge voltage V is corrected on the basis of the magnitude E of the detected energy.
Then, the output control unit 6 controls the discharge voltage so that the corrected discharge voltage V is obtained during the time when the above-described predetermined process using the laser light is performed.

【0028】以下、かかる出力制御部6で行われる各種
補正処理の内容について説明する。なお、以下の各種補
正処理はそれぞれ単独で行われるようにしてもよく、各
種補正処理のうち任意のものを適宜組み合わせて実施す
るようにしてもよい。
The contents of various correction processes performed by the output control unit 6 will be described below. Note that the following various correction processes may be performed individually, or any of the various correction processes may be appropriately combined and performed.

【0029】・補正処理1 ところで、スパイキング発生防止制御において最も誤差
を生じやすいのは、図10のPL1に示すような、連続
パルス発振の最初のパルス(以下、「第1パルス」と呼
ぶ)である。そこで、この補正処理1では、第1パルス
のみを補正対象としている。
Correction Process 1 By the way, the error that is most likely to occur in the spiking prevention control is the first pulse of continuous pulse oscillation (hereinafter referred to as "first pulse") as shown in PL1 of FIG. Is. Therefore, in the correction processing 1, only the first pulse is a correction target.

【0030】第1パルスPL1のエネルギーEは、直前
の発振休止時間Tppに強く依存し(図10参照)、図5
に示すように発振休止時間Tpp、つまり発振休止開始か
らの経過時間tが長くなるにつれて徐々に大きくなり、
やがてある時刻t3で一定のパルスエネルギーに達す
る。そしてt3以降は休止時間Tppによらず一定とな
る。そして第1パルスPL1のパルスエネルギーEと時
間tとの関係はほぼ比例関係であり、それら関係はほぼ
直線で近似できる。一方、放電電圧Vとパルスエネルギ
ーEとの関係もほぼ直線関係となっているため、スパイ
キング発生を防止するための第1パルスの最適放電電圧
Vも図6に示すように直線で近似できる。
The energy E of the first pulse PL1 strongly depends on the oscillation quiescent time Tpp immediately before (see FIG. 10).
As shown in, the oscillation stop time Tpp, that is, the elapsed time t from the start of the oscillation stop gradually increases,
Eventually, a certain pulse energy is reached at time t3. After t3, it becomes constant regardless of the rest time Tpp. The relationship between the pulse energy E of the first pulse PL1 and the time t is substantially proportional, and the relationship can be approximated by a straight line. On the other hand, since the relationship between the discharge voltage V and the pulse energy E is also a substantially linear relationship, the optimum discharge voltage V of the first pulse for preventing the occurrence of spiking can also be approximated by a straight line as shown in FIG.

【0031】図6に示す内容が出力制御部6のメモリに
予め記憶されておかれ、図2に示すような手順で補正処
理が行われる。以下図7に示すタイミングチャートを併
せ参照して処理内容を説明する。
The contents shown in FIG. 6 are stored in advance in the memory of the output control unit 6, and the correction process is performed in the procedure as shown in FIG. The processing contents will be described below with reference to the timing chart shown in FIG.

【0032】図2に示すように、レーザ運転中、出力制
御部6は、ステッパ9のステッパ制御部10等外部の制
御装置に対して、レーザ光を用いた処理が以後行われな
くなる旨の調整発振開始信号を出力する(図7(c)参
照)。これによって、上記外部の制御装置側において調
整発振開始信号が出力されている間は、レーザ光を用い
た処理を行わないことが了解され、対応する所定の措置
がとられる(ステップ101)。ついで、シャッタ4を
閉状態にするための制御信号がドライバ7に出力され、
以後シャッタ4は閉じられ、ステッパ9にレーザ光Lは
投光されなくなる(ステップ102;図7(b)参
照)。
As shown in FIG. 2, during the laser operation, the output control unit 6 adjusts to the external control device such as the stepper control unit 10 of the stepper 9 that the process using the laser light will not be performed thereafter. An oscillation start signal is output (see FIG. 7 (c)). As a result, it is understood that the processing using the laser light is not performed while the adjusted oscillation start signal is being output on the side of the external control device, and the corresponding predetermined measure is taken (step 101). Then, a control signal for closing the shutter 4 is output to the driver 7,
After that, the shutter 4 is closed and the laser light L is not projected onto the stepper 9 (step 102; see FIG. 7B).

【0033】ついで手順は図2(b)に示す「調整発振
ルーチン1」に移行される(ステップ103)。この調
整発振ルーチン1では、まず、発振休止開始からの時間
tが所定のタイマによって計時され(ステップ10
9)、この計時された時間がt1(図6参照)に達した
ときに、レーザ光Lを1パルス調整発振させるようレー
ザ電源部8を制御する。なお、この調整発振は、通常発
振時においてステッパ制御部10から送出されてくるト
リガ信号Trではなく、出力制御部6自身が発生するト
リガ信号によって行われる(図7(a)参照;ステップ
110)。ついで、この発振されたパルスのエネルギー
Eが出力モニタ5によって検出され、その検出値が一旦
所定のメモリに保持される(ステップ111)。
Then, the procedure shifts to "adjustment oscillation routine 1" shown in FIG. 2 (b) (step 103). In the adjusted oscillation routine 1, first, the time t from the start of oscillation suspension is measured by a predetermined timer (step 10
9) When the counted time reaches t1 (see FIG. 6), the laser power supply unit 8 is controlled so as to oscillate the laser light L by one pulse. Note that this adjustment oscillation is performed by the trigger signal generated by the output control unit 6 itself, not by the trigger signal Tr sent from the stepper control unit 10 during normal oscillation (see FIG. 7A; step 110). . Then, the energy E of the oscillated pulse is detected by the output monitor 5, and the detected value is temporarily held in a predetermined memory (step 111).

【0034】手順はステップ104にリターンされ、再
度、調整発振ルーチン1の処理に移行される。
The procedure is returned to step 104, and the process of the adjusted oscillation routine 1 is performed again.

【0035】前述したのと同様にして、時間tが計時さ
れ(ステップ109)、今度は時間がt2(図6参照)
に達した時点で1パルス調整発振が行われる(図7
(a)参照;ステップ110)。なお、時間t1、t2は
異なる時間であり、それらがt3以下の時間であるよう
に予め選択されている。時間t2で発振されたパルスの
エネルギーは出力モニタ5で検出され、この検出値もメ
モリに保持される(ステップ111)。
In the same manner as described above, the time t is measured (step 109), and this time t2 (see FIG. 6).
1 pulse adjustment oscillation is carried out when it reaches (Fig. 7
See (a); step 110). It should be noted that the times t1 and t2 are different times, and they are preselected so that they are times t3 or less. The energy of the pulse oscillated at time t2 is detected by the output monitor 5, and the detected value is also stored in the memory (step 111).

【0036】ついで、手順はステップ105にリターン
され、上記メモリに保持されたエネルギー検出値と所望
のエネルギーEdとの偏差がとられ、この偏差が所定の
しきい値以上であるか否かにより、レーザ出力が適正で
ないか適正であるかが判断される(ステップ105)。
この判定の結果、両検出値のいずれか一方の検出値が適
正でなくEdからかけはなれていると判定されると、ス
パイキング発生防止制御の精度が低下しているものと判
断し、両検出値に基づいて図6に示す直線を、たとえば
同図の2点鎖線に示すように補正する処理が行われる。
Then, the procedure is returned to step 105, and the deviation between the detected energy value held in the memory and the desired energy Ed is taken. Depending on whether or not this deviation is equal to or more than a predetermined threshold value, It is determined whether the laser output is not proper or proper (step 105).
As a result of this determination, if it is determined that either one of the detected values is not appropriate and is deviated from Ed, it is determined that the accuracy of the spiking prevention control is decreased, and both detected values are detected. A process of correcting the straight line shown in FIG. 6 based on the value as shown by, for example, a two-dot chain line in the figure is performed.

【0037】この場合、経過時間t1、t2にそれぞれ対
応するパルスエネルギー検出値がわかっているので、t
1、t2にそれぞれ対応する適正な放電電圧v1、v2を演
算することは容易であり、補正直線は2点(t1、v
1)、(t2、v2)を結ぶ線分として容易に得られこと
は明かである。このようにこの補正処理1では、直線を
補正するので、少なくとも検出値が2つ取得されていれ
ばよいことがわかる(ステップ106)。
In this case, since the pulse energy detection values corresponding to the elapsed times t1 and t2 are known, t
It is easy to calculate the appropriate discharge voltages v1 and v2 corresponding to 1 and t2, respectively, and the correction straight line has two points (t1, v2).
It is clear that it can be easily obtained as a line segment connecting 1) and (t2, v2). In this way, in this correction processing 1, since the straight line is corrected, it is understood that at least two detection values have to be acquired (step 106).

【0038】一方、ステップ105の判定の結果、両検
出値のいずれの検出値も適正であり、Edからかけはな
れていないと判定されると、スパイキング発生防止制御
の精度は維持されているものと判断し、ステップ106
の補正処理は行わないようにする。
On the other hand, as a result of the judgment in step 105, if it is judged that all the detected values of both the detected values are proper and Ed is not deviated, the accuracy of the spiking prevention control is maintained. And step 106
Do not perform the correction process of.

【0039】ついで、シャッタ4を開状態にするための
制御信号がドライバ7に出力され、以後シャッタ4は開
かれる(ステップ107;図7(b)参照)。ついで、
調整発振開始信号は解除され(図7(c)参照)、これ
により外部のステッパ制御部10においてレーザ光を用
いた処理を行なうことが可能であることが了解される
(ステップ108)。これによりステッパ制御部10は
発振休止時間Tppに達したときにトリガ信号Trを出力
し、再びバーストモードで連続パルス発振を行う(図7
(a)参照)。この場合、連続パルス発振の最初のパル
スは、ステップ106において適正な値に補正された放
電電圧Vをもって発振されている。したがって、スパイ
キング現象発生防止制御は精度よくなされ、最初のパル
スにおいて所望のエネルギーEdが得られることとなる
(2番目以降のパルスにおいても同様に同一のエネルギ
ーEdが得られる)。
Next, a control signal for opening the shutter 4 is output to the driver 7, and thereafter the shutter 4 is opened (step 107; see FIG. 7B). Then,
The adjusted oscillation start signal is released (see FIG. 7C), and it is understood that the external stepper controller 10 can perform the process using the laser light (step 108). As a result, the stepper control section 10 outputs the trigger signal Tr when the oscillation pause time Tpp is reached, and again performs continuous pulse oscillation in the burst mode (FIG. 7).
(See (a)). In this case, the first pulse of the continuous pulse oscillation is oscillated with the discharge voltage V corrected to an appropriate value in step 106. Therefore, the spiking phenomenon occurrence control is accurately performed, and the desired energy Ed is obtained in the first pulse (the same energy Ed is similarly obtained in the second and subsequent pulses).

【0040】なお、この補正処理1では、休止時間Tpp
と第1パルスPL1のエネルギーEとの関係をほぼ比例
関係あるは直線関係として説明しているが、この関係は
装置構成等に依存するため、比例関係以外の関係であっ
てもよい。要はその装置に適合したTppとEに関係を見
いだし、それに基づいて補正処理を行うようにすればよ
い。したがって、以下本発明の実施例にあるパルスエネ
ルギーと発振休止時間、パワーロック電圧等の関係は必
ずしも比例関係あるいは直線関係でなくてもよく、任意
の関数や直線の組み合わせであってもよい。
In the correction process 1, the rest time Tpp
Although the relationship between and the energy E of the first pulse PL1 is described as a substantially proportional relationship or a linear relationship, this relationship depends on the device configuration and the like, and may be a relationship other than the proportional relationship. The point is to find the relationship between Tpp and E that are suitable for the device, and perform the correction process based on that. Therefore, the relationship between the pulse energy and the oscillation quiescent time, the power lock voltage, etc. in the following embodiments of the present invention does not necessarily have to be a proportional relationship or a linear relationship, but may be an arbitrary function or a combination of straight lines.

【0041】また、この補正処理1では、図6に示すよ
うに調整発振の時間t1、t2をt3以下とし、経過時間
tが増大するにつれて放電電圧Vが増加する直線部分を
補正する場合について説明したが、調整発振を時間t3
を越えた時間で行い、放電電圧Vが変化しない直線部分
を補正するような実施も可能である。要は、実際にデー
タとして使用される部分のみを補正するようにすればよ
い。
In the correction process 1, as shown in FIG. 6, the adjustment oscillation times t1 and t2 are set to t3 or less, and the linear portion in which the discharge voltage V increases as the elapsed time t increases is corrected. However, the adjustment oscillation is time t3
It is also possible to carry out in a time period that exceeds the time period and correct the linear portion where the discharge voltage V does not change. In short, it is sufficient to correct only the part actually used as data.

【0042】さらに、この補正処理1では、調整発振を
行う際に、レーザ装置1内部の出力制御部6から外部の
制御装置に対してその旨の信号を出力するようにしてい
るが、外部の制御装置、たとえばステッパ制御部10か
ら調整発振を行ってもよい旨の信号を出力制御部6に対
して出力し、これに応じて調整発振を行うような実施も
可能である。
Further, in the correction processing 1, when the adjustment oscillation is performed, the output control section 6 inside the laser device 1 outputs a signal to that effect to an external control device. A control device, for example, the stepper control unit 10 may output a signal indicating that the adjustment oscillation may be performed to the output control unit 6, and the adjustment oscillation may be performed accordingly.

【0043】・補正処理2 前述したように、スパイキング現象の発生パターンは、
パワーロック電圧Vplによっても変化する。その代表的
な発生パターンは、図8の(a)(パワーロック電圧が
小さい場合)および同図の(b)(パワーロック電圧が
大きい場合)に示される。これら図よりパワーロック電
圧の変化によるパルスのエネルギーの変化は、図8
(b)中のB部に現れるのが明かである。
Correction process 2 As described above, the pattern of occurrence of the spiking phenomenon is
It also changes depending on the power lock voltage Vpl. Typical generation patterns thereof are shown in FIG. 8A (when the power lock voltage is small) and FIG. 8B (when the power lock voltage is large). From these figures, the change in pulse energy due to the change in power lock voltage is shown in FIG.
It is obvious that it appears in the part B in (b).

【0044】図9は、パワーロック電圧Vplと上記B
部に含まれる各パルスのエネルギーEとの関係を示した
ものであり、同図に示すようほぼ直線で近似できる。し
たがって、同図9における縦軸を括弧書きで示すように
放電電圧としたとしても、図6と同様にしてパワーロッ
ク電圧Vplと放電電圧との関係も、直線で近似できるこ
とになる。
FIG. 9 shows the power lock voltage Vpl and the above B
The relationship with the energy E of each pulse included in the section is shown, and can be approximated by a substantially straight line as shown in the figure. Therefore, even if the vertical axis in FIG. 9 is the discharge voltage as shown in parentheses, the relationship between the power lock voltage Vpl and the discharge voltage can be approximated by a straight line as in FIG.

【0045】一方、連続パルス発振の第1パルスの放電
電圧は、上記補正処理1で述べたように発振休止時間T
ppに対して直線的な関係を持っている。そこで、この補
正処理2では、 1)異なる2つの発振休止時間T1、T2 2)異なる2つのパワーロック電圧V1、V2 を選択し、T1、V1で連続パルス発振させるとともに、
T2、V2で連続パルス発振させることにより、図6に示
す直線と図9に示す直線を補正しようとするものであ
る。
On the other hand, the discharge voltage of the first pulse of the continuous pulse oscillation is the oscillation pause time T as described in the correction processing 1 above.
It has a linear relationship with pp. Therefore, in this correction processing 2, 1) two different oscillation pause times T1 and T2 2) two different power lock voltages V1 and V2 are selected, and continuous pulse oscillation is performed at T1 and V1.
This is intended to correct the straight line shown in FIG. 6 and the straight line shown in FIG. 9 by causing continuous pulse oscillation at T2 and V2.

【0046】すなわち、図3に示すように、まず出力制
御部6は、ステッパ9のステッパ制御部10等外部の制
御装置に対して、レーザ光を用いた処理が以後行われな
くなる旨の調整発振開始信号を出力する。これによっ
て、上記外部の制御装置側において調整発振開始信号が
出力されている間は、レーザ光を用いた処理を行わない
ことが了解され、対応する所定の措置がとられる(ステ
ップ201)。ついで、シャッタ4を閉状態にするため
の制御信号がドライバ7に出力され、以後シャッタ4は
閉じられ、ステッパ9にレーザ光Lは投光されなくなる
(ステップ202)。
That is, as shown in FIG. 3, the output control unit 6 first causes the stepper control unit 10 of the stepper 9 and other external control devices to perform adjustment oscillation to the effect that processing using laser light will no longer be performed. Output the start signal. As a result, it is understood that the process using the laser light is not performed while the adjusted oscillation start signal is being output on the side of the external control device, and the corresponding predetermined measure is taken (step 201). Then, a control signal for closing the shutter 4 is output to the driver 7, the shutter 4 is closed thereafter, and the laser light L is not projected onto the stepper 9 (step 202).

【0047】ついで、発振休止時間TppがT1に設定さ
れるともに、パワーロック電圧VplがV1に設定される
(ステップ203)。そして、手順は図3(b)に示す
「調整発振ルーチン2」に移行される(ステップ20
4)。この調整発振ルーチン2では、まず、発振休止開
始からの時間が所定のタイマによって計時され、この計
時された時間が設定された発振休止時間T1に達したと
きに、設定されたパワーロック電圧V1に応じたレーザ
光Lの連続パルス発振(調整発振)が開始されるようレ
ーザ電源部8を制御する。なお、この調整発振は、通常
発振時においてステッパ制御部10から送出されてくる
トリガ信号Trではなく、出力制御部6自身が発生する
トリガ信号によって行われる(ステップ211)。つい
で、この発振された連続パルスの各パルスのエネルギー
Eが出力モニタ5によって検出され、その検出値が一旦
所定のメモリに保持される(ステップ212)。
Next, the oscillation pause time Tpp is set to T1 and the power lock voltage Vpl is set to V1 (step 203). Then, the procedure shifts to "adjustment oscillation routine 2" shown in FIG.
4). In the adjusted oscillation routine 2, first, the time from the start of the oscillation stop is measured by a predetermined timer, and when the measured time reaches the set oscillation stop time T1, the set power lock voltage V1 is reached. The laser power supply unit 8 is controlled so that continuous pulse oscillation (adjustment oscillation) of the corresponding laser light L is started. Note that this adjustment oscillation is performed by the trigger signal generated by the output control unit 6 itself, not by the trigger signal Tr sent from the stepper control unit 10 during normal oscillation (step 211). Then, the energy E of each pulse of the oscillated continuous pulse is detected by the output monitor 5, and the detected value is temporarily held in a predetermined memory (step 212).

【0048】手順はステップ205にリターンされ、発
振休止時間TppがT2に、パワーロック電圧VplがV2に
設定し直される(ステップ205)。そして、手順は図
3(b)に示す「調整発振ルーチン2」に移行される
(ステップ206)。そして、同様にして計時された発
振休止開始からの時間が、設定された発振休止時間T2
に達したときに、設定されたパワーロック電圧V2に応
じたレーザ光Lの連続パルス発振(調整発振)が開始さ
れるようにレーザ電源部8を制御する(ステップ21
1)。ついで、この発振された連続パルスの各パルスの
エネルギーEが出力モニタ5によって検出され、その検
出値が一旦メモリに保持される(ステップ212)。
The procedure returns to step 205, and the oscillation pause time Tpp is reset to T2 and the power lock voltage Vpl is reset to V2 (step 205). Then, the procedure shifts to "adjustment oscillation routine 2" shown in FIG. 3 (b) (step 206). Then, the time from the start of the oscillation stop measured in the same manner is set to the set oscillation stop time T2.
The laser power source unit 8 is controlled so that the continuous pulse oscillation (adjustment oscillation) of the laser light L according to the set power lock voltage V2 is started when the value reaches (step 21).
1). Then, the energy E of each pulse of the oscillated continuous pulse is detected by the output monitor 5, and the detected value is temporarily stored in the memory (step 212).

【0049】ついで、手順はステップ207にリターン
され、上記メモリに保持されたエネルギー検出値と所望
のエネルギーEdとの偏差がとられ、この偏差が所定の
しきい値以上であるか否かにより、レーザ出力が適正で
ないか適正であるかが判断される(ステップ207)。
この判定の結果、いずれかの検出値が適正でなくEdか
らかけはなれていると判定されると、スパイキング発生
防止制御の精度が低下しているものと判断し、各検出値
に基づいて図6に示す直線および図9に示す直線を補正
する処理が行われる。
Then, the procedure returns to step 207, and the deviation between the detected energy value held in the memory and the desired energy Ed is calculated. Depending on whether or not this deviation is equal to or more than a predetermined threshold value, It is determined whether or not the laser output is proper (step 207).
As a result of this determination, if it is determined that any of the detected values is not appropriate and is out of the range of Ed, it is determined that the accuracy of the spiking prevention control is reduced, and based on each detected value Processing for correcting the straight line shown in FIG. 6 and the straight line shown in FIG. 9 is performed.

【0050】この場合、図6の直線は、設定時間T1、
T2と、これら時間をもって連続パルス発振したときの
第1パルスのエネルギー検出値とに基づき、前述したの
と同様にして補正される。 また、図9も図6と同様な
比例関係を有しているので、図6についての補正と同様
に、パワーロック電圧V1、V2とこれらパワーロック電
圧をもって連続パルス発振したときの2番目以降のパル
スのエネルギー検出値とに基づき、補正が行われる(ス
テップ208)。
In this case, the straight line in FIG. 6 is the set time T1,
Based on T2 and the energy detection value of the first pulse when continuous pulse oscillation occurs at these times, correction is performed in the same manner as described above. Further, since FIG. 9 also has a proportional relationship similar to that of FIG. 6, similarly to the correction of FIG. 6, the power lock voltages V1 and V2 and the second and subsequent pulses when continuous pulse oscillation is performed with these power lock voltages. Correction is performed based on the detected energy value of the pulse (step 208).

【0051】一方、ステップ207の判定の結果、検出
値のいずれの検出値も適正であり、Edからかけはなれ
ていないと判定されると、スパイキング発生防止制御の
精度は維持されているものと判断し、ステップ208の
補正処理は行わないようにする。
On the other hand, as a result of the determination in step 207, if it is determined that any of the detected values is proper and that the difference from Ed is not exceeded, the accuracy of spiking prevention control is maintained. It is determined that the correction process in step 208 is not performed.

【0052】ついで、シャッタ4を開状態にするための
制御信号がドライバ7に出力され、以後シャッタ4は開
かれる(ステップ209)。ついで、調整発振開始信号
は解除され、これにより外部のステッパ制御部10にお
いてレーザ光を用いた処理を行なうことが可能であるこ
とが了解される(ステップ210)。これによりステッ
パ制御部10は発振休止時間Tppに達したときにトリガ
信号Trを出力し、再びバーストモードで連続パルス発
振を行う。この場合、連続パルス発振の各パルスは、ス
テップ208において適正な値に補正された放電電圧V
をもって発振されている。したがって、スパイキング現
象発生防止制御は精度よくなされ、連続パルスの各パル
スにおいて所望のエネルギーEdが得られることとな
る。
Then, a control signal for opening the shutter 4 is output to the driver 7, and thereafter the shutter 4 is opened (step 209). Then, the adjusted oscillation start signal is released, and it is understood that the external stepper control unit 10 can perform the process using the laser light (step 210). As a result, the stepper control section 10 outputs the trigger signal Tr when the oscillation pause time Tpp is reached, and again performs continuous pulse oscillation in the burst mode. In this case, each pulse of the continuous pulse oscillation has the discharge voltage V corrected to an appropriate value in step 208.
Is being oscillated. Therefore, the spiking phenomenon occurrence control is accurately performed, and the desired energy Ed is obtained in each pulse of the continuous pulse.

【0053】なお、この補正処理2では、発振休止時間
およびパワーロック電圧をそれぞれ異なる値とした2回
の連続パルス発振を行うことにより、補正を行うように
しているが、発振休止時間およびパワーロック電圧をそ
れぞれ異なる値とした3回以上の連続パルス発振を行っ
た結果により補正を行ってもよく、この場合はより精よ
く補正が行われ、より精度よくスパイキング発生防止制
御を維持することが可能となる。
In the correction process 2, the correction is performed by performing continuous pulse oscillation twice with different values for the oscillation pause time and the power lock voltage. The correction may be performed based on the result of performing continuous pulse oscillation three or more times with different voltages, and in this case, the correction is performed more precisely and the spiking prevention control can be maintained more accurately. It will be possible.

【0054】ところで、高精度でスパイキング発生防止
制御を行う方法として、スパイキング現象の発生する部
分の各パルスについて、それぞれ最適放電電圧を決定す
る関数式を用意する方法がある。たとえば、 V(i)=Vi(Tpp、Vpl) のごとく、関数Vi()を用意してこの関数によって連
続パルスのi番目のパルスの放電電圧V(i)を得る方
法である。この補正処理2では、図8のB部の含まれる
各パルスの最適放電電圧を一括して調整しているが、上
述のように各パルス毎に関数式Vi()が用意されてい
る場合には、各関数式毎に調整するようにしてもよい。
By the way, as a method for performing the spiking generation prevention control with high accuracy, there is a method of preparing a functional expression for determining the optimum discharge voltage for each pulse in the portion where the spiking phenomenon occurs. For example, it is a method of preparing a function Vi () such that V (i) = Vi (Tpp, Vpl) and obtaining the discharge voltage V (i) of the i-th pulse of the continuous pulse by this function. In this correction processing 2, the optimum discharge voltage of each pulse included in the portion B of FIG. 8 is adjusted all at once, but when the functional expression Vi () is prepared for each pulse as described above. May be adjusted for each functional expression.

【0055】また、この補正処理2でも、補正処理1と
同様に、調整発振を行う際に、レーザ装置1内部の出力
制御部6から外部の制御装置に対してその旨の信号を出
力するようにしているが、外部の制御装置、たとえばス
テッパ制御部10から調整発振を行ってもよい旨の信号
を出力制御部6に対して出力し、これに応じて調整発振
を行うような実施も可能である。
Also in this correction processing 2, as in the correction processing 1, when performing the adjustment oscillation, the output control section 6 inside the laser device 1 outputs a signal to that effect to an external control device. However, an external control device, for example, the stepper control unit 10 may output a signal indicating that the adjustment oscillation may be performed to the output control unit 6, and the adjustment oscillation may be performed accordingly. Is.

【0056】・補正処理3 ところで、補正処理2のように、バーストモードで調整
発振を行うような場合、実際の露光処理に使用するバー
ストパターンをもって調整発振を行うことが望ましい。
そこで、この補正処理3では、図1のレーザ装置1に、
このレーザ装置1の稼働中、使用の頻度が高いと思われ
るバーストパターンを記憶しておく記憶手段を設けるよ
うにする。そして、レーザの運転開始前に、その使用頻
度が高いと予想されるバーストパターンを記憶手段に記
憶しておき、レーザの運転立ち上げ時に、調整発振をバ
ーストパターンで行う。そして、調整発振の結果、補正
された放電電圧で、以後レーザ装置の運転を行うように
する。
Correction process 3 By the way, when the adjustment oscillation is performed in the burst mode as in the correction process 2, it is desirable to perform the adjustment oscillation with the burst pattern used for the actual exposure process.
Therefore, in this correction processing 3, the laser device 1 of FIG.
During the operation of the laser device 1, a storage means for storing a burst pattern which is considered to be frequently used is provided. Then, before starting the operation of the laser, a burst pattern which is expected to be used frequently is stored in the storage means, and when the operation of the laser is started, the adjustment oscillation is performed in the burst pattern. Then, as a result of the adjusted oscillation, the laser device is operated thereafter with the corrected discharge voltage.

【0057】また、レーザ装置の運転が開始されてか
ら、使用されるバーストパターンを記憶手段に逐次記憶
していき、調整発振を行う際には、記憶手段の記憶内容
に基づき使用されたバーストパターンのうち、使用頻度
の高いとされるバーストパターンを選択し、この選択さ
れたバーストパターンで調整発振を行なうようにしても
よい。なお、精度向上のため、使用頻度の高いバースト
パターンを複数選択してこれら複数のバーストパターン
で調整発振を行ってもよい。
Further, after the operation of the laser device is started, the burst patterns used are successively stored in the storage means, and when the adjustment oscillation is performed, the burst patterns used based on the storage contents of the storage means. Of these, a burst pattern that is considered to be frequently used may be selected, and the adjusted oscillation may be performed using the selected burst pattern. To improve accuracy, a plurality of frequently used burst patterns may be selected and adjusted oscillation may be performed using these plurality of burst patterns.

【0058】・補正処理4 ところで、図1に示す出力モニタ5はレーザ光のエネル
ギーEを常時モニタしている。このことから、出力モニ
タ5に出力に基づきスパイキング発生防止制御を常時監
視させ、この制御の精度が低下したときのみ調整発振、
補正処理を行うようにすることが考えられる。図4は、
かかる処理内容を示すフローチャートである。
Correction Process 4 By the way, the output monitor 5 shown in FIG. 1 constantly monitors the energy E of the laser light. From this, the output monitor 5 constantly monitors the spiking prevention control based on the output, and only when the accuracy of the control is lowered, the adjustment oscillation,
It is conceivable to perform a correction process. Figure 4
It is a flow chart which shows the contents of such processing.

【0059】すなわち、同図に示すように、レーザ装置
1による運転が開始されると(ステップ301)、以後
使用されたバーストパターンが逐次記憶される(ステッ
プ302)。ついで、出力モニタ5によって、発振され
たパルスのエネルギーEが常時検出される(ステップ3
03)。そして、この検出されたエネルギーEと所望の
エネルギーEdとの偏差に基づいてスパイキング発生防
止制御の精度が低下しているか否かが判断され(ステッ
プ304)、この結果、検出エネルギーEが所望のエネ
ルギーEdからかけはなれており、精度が低下している
と判断されたならば、この場合のみ(ステップ304の
判断YES)、ステップ302の記憶処理に基づき使用
頻度の高いバーストパターンを選択し、この選択したバ
ーストパターンで調整発振を行い、放電電圧の補正処理
を行うようにする。なお、この使用頻度の高いバースト
パターンを使用することは上記補正処理3で述べた内容
に相当している(ステップ305)。
That is, as shown in the figure, when the operation of the laser device 1 is started (step 301), burst patterns used thereafter are sequentially stored (step 302). Then, the output monitor 5 constantly detects the energy E of the oscillated pulse (step 3).
03). Then, it is judged whether or not the accuracy of the spiking prevention control is lowered based on the deviation between the detected energy E and the desired energy Ed (step 304), and as a result, the detected energy E is desired. If it is determined that the accuracy is reduced and the accuracy is reduced from the energy Ed, only in this case (determination YES in step 304), a burst pattern that is frequently used is selected based on the storage processing in step 302, and Adjustment oscillation is performed with the selected burst pattern to perform discharge voltage correction processing. It should be noted that the use of this burst pattern having a high frequency of use corresponds to the contents described in the correction process 3 (step 305).

【0060】なお、以上説明した実施例では、放電電圧
が、発振休止時間Tppまたはパワーロック電圧Vplに対
応して記憶されており、この記憶内容を補正する場合に
ついて、説明したが、要は、スパイキング現象の発生パ
ターンに影響を与えるとされるパラメータに対応して放
電電圧が記憶されているものであればよく、たとえばレ
ーザチャンバ内にレーザガスを新たに封入してからの経
過時間をパラメータとする実施も可能である。
In the embodiment described above, the discharge voltage is stored in correspondence with the oscillation pause time Tpp or the power lock voltage Vpl, and the case of correcting the stored content has been described. It is sufficient that the discharge voltage is stored in correspondence with the parameter that is considered to affect the spiking phenomenon generation pattern. For example, the elapsed time after the laser gas is newly enclosed in the laser chamber is used as the parameter. It is also possible to carry out.

【0061】また、実施例では、パラメータの値に対し
放電電圧が比例関係で記憶されている場合について説明
したが、これに限定されることなく非線形の場合であっ
ても本発明を適用することができる。
In the embodiment, the case where the discharge voltage is stored in a proportional relationship with the parameter value has been described, but the present invention is not limited to this and the present invention can be applied even in a non-linear case. You can

【0062】[0062]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
たとえレーザの稼働条件の変化が予測困難で、管理が困
難である場合であっても、レーザの稼働条件の変化が、
パルスのエネルギーを検出することによって捕らえら
れ、これに基づいて記憶された放電電圧が最適な値に補
正され、この補正された放電電圧によってスパイキング
発生防止制御が常に精度よく行われる。
As described above, according to the present invention,
Even if the change in laser operating conditions is difficult to predict and difficult to manage, the change in laser operating conditions
The discharge voltage that is captured by detecting the energy of the pulse and is stored based on this is corrected to an optimum value, and the spiking prevention control is always performed accurately with this corrected discharge voltage.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は本発明に係るレーザ装置の出力制御装置
の実施例の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of an output control device of a laser device according to the present invention.

【図2】図2は実施例の処理手順を示すフローチャート
である。
FIG. 2 is a flowchart showing a processing procedure of the embodiment.

【図3】図3は実施例の処理手順を示すフローチャート
である。
FIG. 3 is a flowchart showing a processing procedure of the embodiment.

【図4】図4は実施例の処理手順を示すフローチャート
である。
FIG. 4 is a flowchart showing a processing procedure of the embodiment.

【図5】図5は発振休止開始からの経過時間とパルスエ
ネルギーとの関係を示すグラフである。
FIG. 5 is a graph showing the relationship between the elapsed time from the start of oscillation pause and the pulse energy.

【図6】図6は発振休止開始からの経過時間と放電電圧
との関係を示すグラフである。
FIG. 6 is a graph showing the relationship between the elapsed time from the start of oscillation suspension and the discharge voltage.

【図7】図7は図2に示す実施例を説明するために用い
たタイミングチャートである。
FIG. 7 is a timing chart used to explain the embodiment shown in FIG.

【図8】図8はパワーロック電圧の変化がスパイキング
現象の発生パターンに影響を与えることを説明するため
に用いたグラフである。
FIG. 8 is a graph used to explain that a change in power lock voltage affects a pattern in which a spiking phenomenon occurs.

【図9】図9はパワーロック電圧と連続パルスの所定部
分の各パルスのエネルギーとの関係を示すグラフであ
る。
FIG. 9 is a graph showing the relationship between the power lock voltage and the energy of each pulse in a predetermined portion of continuous pulses.

【図10】図10はバーストモードとスパイキング現象
を示すために用いたグラフであり、時間に対するパルス
エネルギーの変化の様子を示すグラフである。
FIG. 10 is a graph used to show the burst mode and the spiking phenomenon, and is a graph showing how the pulse energy changes with time.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ装置 6 出力制御部 10 ステッパ制御部 1 Laser Device 6 Output Control Unit 10 Stepper Control Unit

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザ光を所定回数連続してパルス
発振させた後、所定時間パルス発振を休止させる運転を
繰り返すバーストモードでレーザ装置を稼働させるとと
もに、前記パルスのエネルギーが所定の大きさとなるよ
うに放電電圧を制御し、前記レーザ光を用いて所定の処
理を行うレーザ装置の出力制御装置において、 連続パルスの各パルスのエネルギーの大きさを同一にす
る放電電圧を予め記憶する記憶手段と、 発振されたパルスのエネルギーを検出する検出手段と、 前記所定の処理が行われていない時間中に、レーザ光を
所定条件下でパルス発振させ、この発振されたパルスの
エネルギーを前記検出手段によって検出し、この検出さ
れたエネルギーの大きさと前記所定の大きさと前記所定
条件とに基づいて前記記憶された放電電圧を補正する補
正手段と、 前記所定の処理が行われる時間中に、前記補正された放
電電圧が得られるように放電電圧を制御する手段とを具
えたレーザ装置の出力制御装置。
1. A laser device is operated in a burst mode in which pulsed laser light is continuously pulsed a predetermined number of times, and then pulsed oscillation is suspended for a predetermined time, and the pulse energy is set to a predetermined magnitude. In the output control device of the laser device that controls the discharge voltage to perform a predetermined process using the laser light, a storage unit that stores in advance the discharge voltage that makes the magnitude of the energy of each pulse of the continuous pulse the same, Detecting means for detecting the energy of the oscillated pulse, and pulsing the laser light under a predetermined condition during the time when the predetermined processing is not performed, and detecting the energy of the oscillated pulse by the detecting means. The stored discharge voltage is compensated based on the detected energy level, the predetermined level, and the predetermined condition. An output control device for a laser device, comprising: a correction means for correcting the discharge voltage; and a means for controlling the discharge voltage so that the corrected discharge voltage is obtained during the time when the predetermined processing is performed.
【請求項2】 前記補正手段は、前記検出されたエ
ネルギーの大きさと前記所定の大きさとの偏差が所定の
しきい値以上である場合に、補正を行うと判定するもの
である請求項1記載のレーザ装置の出力制御装置。
2. The correction means determines that correction is to be performed when a deviation between the detected energy magnitude and the predetermined magnitude is equal to or greater than a predetermined threshold value. Laser device output control device.
【請求項3】 前記補正手段による補正は、連続パ
ルス発振直前の休止時間内に行うものである請求項1記
載のレーザ装置の出力制御装置。
3. The output control device of a laser device according to claim 1, wherein the correction by the correction means is performed within a pause time immediately before continuous pulse oscillation.
【請求項4】 前記レーザ装置は、該レーザ装置の
外部にレーザ光を射出して外部の所定の装置で前記所定
の処理が行われるようにするものであり、前記レーザ装
置に、レーザ光の外部への投光を遮断する投光遮断手段
を設け、前記補正手段による補正処理が行われている間
は、前記投光遮断手段をオンさせるようにした請求項1
記載のレーザ装置の出力制御装置。
4. The laser device emits laser light to the outside of the laser device so that the predetermined processing is performed by a predetermined device outside the laser device. 3. A light-projection blocking means for blocking the projection of light to the outside is provided, and the light-projection blocking means is turned on while the correction processing by the correction means is being performed.
An output control device for the laser device described.
【請求項5】 前記記憶手段には、放電電圧が、連
続パルス発振の開始から各パルスのエネルギーが徐々に
低下するスパイキング現象に寄与するパラメータに対し
所定の関係で記憶されており、前記所定の処理が行われ
ていない時間中に、前記パラメータの値をそれぞれ異な
る値にして少なくとも2パルス発振させ、前記補正手段
は、前記パラメータの異なる値と検出された前記2パル
スの各エネルギーの大きさとに基づいて前記記憶手段に
記憶された前記所定の関係を補正するものである請求項
1記載のレーザ装置の出力制御装置。
5. The storage means stores the discharge voltage in a predetermined relationship with a parameter that contributes to a spiking phenomenon in which the energy of each pulse gradually decreases from the start of continuous pulse oscillation. During the time when the process is not performed, the value of the parameter is set to a different value and at least two pulses are oscillated, and the correction means sets a different value of the parameter and the magnitude of each energy of the detected two pulses. 2. The output control device for a laser device according to claim 1, wherein the predetermined relationship stored in the storage means is corrected based on the above.
【請求項6】 前記パラメータは、連続パルス発振
直前の休止時間である請求項5記載のレーザ装置の出力
制御装置。
6. The output control device of a laser device according to claim 5, wherein the parameter is a pause time immediately before continuous pulse oscillation.
【請求項7】 前記パラメータは、レーザガスの劣
化に応じて前記所定の大きさのエネルギーを得るための
パワーロック電圧である請求項5記載のレーザ装置の出
力制御装置。
7. The output control device of the laser apparatus according to claim 5, wherein the parameter is a power lock voltage for obtaining the energy of the predetermined magnitude according to the deterioration of the laser gas.
【請求項8】 前記所定の処理が行われていない時
間中に、前記バーストモードでレーザ光をパルス発振さ
せるようにした請求項1記載のレーザ装置の出力制御装
置。
8. The output control device of a laser device according to claim 1, wherein the laser beam is pulse-oscillated in the burst mode during a time when the predetermined processing is not performed.
【請求項9】 前記記憶手段には、連続パルス発振
の各パルスに対応する放電電圧が、連続パルス発振直前
の休止時間とレーザガスの劣化に応じて前記所定の大き
さのエネルギーを得るためのパワーロック電圧に対しそ
れぞれ所定の関係で記憶されており、前記所定の処理が
行われていない時間中に、前記休止時間および前記パワ
ーロック電圧の値をそれぞれ異なる値にして少なくとも
2回の連続パルス発振を行わせ、前記補正手段は、前記
休止時間および前記パワーロック電圧のそれぞれ異なる
値と検出された2回の連続パルスの各パルスのエネルギ
ーの大きさとに基づいて前記記憶手段に記憶された前記
各所定の関係を補正するものである請求項8記載のレー
ザ装置の出力制御装置。
9. The storage means stores a power for obtaining a predetermined amount of energy as a discharge voltage corresponding to each pulse of continuous pulse oscillation in accordance with a pause time immediately before continuous pulse oscillation and deterioration of laser gas. Each pulse voltage is stored in a predetermined relationship with the lock voltage, and during the time when the predetermined process is not performed, the pause time and the power lock voltage are set to different values, and at least two continuous pulse oscillations are performed. The correction means stores the respective values stored in the storage means based on different values of the rest time and the power lock voltage and the magnitude of energy of each pulse of the detected two consecutive pulses. 9. The output control device of the laser device according to claim 8, which corrects a predetermined relationship.
【請求項10】 前記レーザ装置の運転立ち上げ時
に、前記レーザ装置で使用されるバーストモードのパタ
ーンにしたがい予めバーストモードでレーザ光をパルス
発振させるようにした請求項8記載のレーザ装置の出力
制御装置。
10. The output control of the laser device according to claim 8, wherein the laser device is pulse-oscillated in advance in a burst mode according to a burst mode pattern used in the laser device when the operation of the laser device is started up. apparatus.
【請求項11】 前記検出手段による検出を前記レー
ザ装置の稼働中に常時行い、検出されたエネルギーの大
きさと前記所定の大きさとの偏差が所定のしきい値以上
の場合にのみ、前記補正手段による補正処理を行うよう
にした請求項1記載のレーザ装置の出力制御装置。
11. The correction means is always performed during the operation of the laser device by the detection means, and only when the deviation between the magnitude of the detected energy and the predetermined magnitude is a predetermined threshold value or more. The output control device for a laser device according to claim 1, wherein the correction process is performed by the method.
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