JPH0616364Y2 - High precision movement stage device - Google Patents
High precision movement stage deviceInfo
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- JPH0616364Y2 JPH0616364Y2 JP1986129080U JP12908086U JPH0616364Y2 JP H0616364 Y2 JPH0616364 Y2 JP H0616364Y2 JP 1986129080 U JP1986129080 U JP 1986129080U JP 12908086 U JP12908086 U JP 12908086U JP H0616364 Y2 JPH0616364 Y2 JP H0616364Y2
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- stage
- holder
- guide member
- theta
- drive mechanism
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 [考案の目的] (産業上の利用分野) 本考案は、例えばレチクル欠陥検査装置あるいは寸法測
定装置等における被処理材載置用の高精度移動ステージ
装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial field of application) The present invention relates to a high-precision moving stage device for placing a material to be processed in, for example, a reticle defect inspection device or a size measuring device. .
(従来の技術) 一般に、ステージ上に半導体ウエハやマスクあるいはレ
チクル等の被処理材を載置して処理を施すために用いら
れるレチクル欠陥検査装置または寸法測定装置等の半導
体装置製造用の関連装置では、同一装置で異種サイズの
ウエハやマスク、レチクルまたはウエハとマスクやレチ
クルを取扱う場合、それぞれ専用の被処理材用保持具
(以下、これを単に専用ホルダという)に保持固定させ
た後に所望のステージ上に専用ホルダごと載置固定して
なるものが多い。(Prior Art) Generally, a reticle defect inspecting apparatus or a dimension measuring apparatus or other related apparatus for manufacturing a semiconductor device, which is used to place a processing object such as a semiconductor wafer, a mask, or a reticle on a stage for processing. When handling different sizes of wafers, masks, reticles, or wafers and masks, reticles in the same device, hold them in their respective holders for the workpieces (hereinafter, simply referred to as dedicated holders) and then fix Many of them are mounted and fixed together with a dedicated holder on the stage.
また、このような装置にあっては、専用ホルダごとステ
ージ上に載置したウエハ等の被処理材を回転位置調整す
る必要のあるものは、第3図に示すように、通常、X−
Y軸線方向に位置測定用の平面L字形をしたレーザミラ
ー1が取付けられたX−Y軸方向に移動可能なステージ
2上に、θ方向の水平方向に回転可能にしたシータステ
ージ3を設置し、このシータステージ3にウエハ等の被
処理材Wを載置固定した専用ホルダ4を位置決め固定し
て処理している。そして、前記シータステージ3は、シ
ータガイド5に沿ってシータ駆動機構部6により回転駆
動制御されるような構成となっている。Further, in such an apparatus, as shown in FIG. 3, an apparatus that needs to adjust the rotational position of a material to be processed such as a wafer placed on a stage together with a dedicated holder is usually X-
A theta stage 3 that is rotatable in the horizontal direction in the θ direction is installed on a stage 2 that is movable in the X-Y axis direction, to which a plane L-shaped laser mirror 1 for position measurement in the Y axis direction is attached. A dedicated holder 4 on which a workpiece W such as a wafer is mounted and fixed is positioned and fixed on the theta stage 3 for processing. The theta stage 3 is configured to be rotationally controlled along the theta guide 5 by the theta drive mechanism section 6.
(考案が解決しようとする問題点) このように、従来装置にあっては、レーザミラー1、X
・Yステージ2、シータステージ3、シータガイド5及
びシータ駆動機構部6がすべて一体構成となっており、
処理時、ウエハ等の被処理材Wを専用ホルダ4に載置固
定した後、専用ホルダ4を前記シータステージ3上に自
動または手動によって位置決め固定して被処理材Wへの
処理を行なうため、ステージ構造が複雑化してコストア
ップとなっているばかりでなく、装置の被処理精度も低
下するといった問題があった。本考案は、上記の事情の
もとになされたもので、その目的とするところは、ステ
ージ構造を単純化させて装置の被処理精度を大幅に向上
させることができるようにした高精度移動ステージ装置
を提供することにある。(Problems to be Solved by the Invention) As described above, in the conventional device, the laser mirror 1, X
・ Y stage 2, theta stage 3, theta guide 5, and theta drive mechanism section 6 are all integrated,
During processing, after the workpiece W such as a wafer is placed and fixed on the dedicated holder 4, the dedicated holder 4 is automatically or manually positioned and fixed on the theta stage 3 to perform processing on the workpiece W. There is a problem that not only the stage structure becomes complicated and the cost is increased, but also the precision of processing of the apparatus is lowered. The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to simplify the stage structure and to greatly improve the accuracy of the apparatus to be processed. To provide a device.
[考案の構成] (問題点を解決するための手段) 上記した問題点を解決するために、本考案は、ステージ
上に、被処理材の種類別及び寸法別等に応じた専用的被
処理材用保持具を介して専用的に被処理材を載置してな
る高精度移動ステージ装置において、前記ステージ上に
置かれる前記保持具に係脱可能に形成され該保持具に前
記ステージ上における回転中心を付与すべく前記ステー
ジ上に設けられたガイド部材と、同じく前記ステージ上
に置かれかつ前記ガイド部材に係合している前記保持具
を介して前記ガイド部材に対向し、かつ前記保持具に係
脱可能に形成され、前記ガイド部材を中心として前記保
持具を回転すべく前記ステージ上に設けられた回転駆動
機構部とを具備する構成としたものである。[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a dedicated processing target on a stage according to the type and size of the processing target material. In a high-precision moving stage device in which a material to be processed is exclusively placed via a holder for material, the holder is detachably formed on the holder placed on the stage. A guide member provided on the stage for imparting a rotation center, and a holding member that is also placed on the stage and is engaged with the guide member, faces the guide member, and holds the holding member. And a rotation drive mechanism portion provided on the stage for rotating the holder about the guide member.
(作用) すなわち、本考案は、上記の構成とすることによって、
シータステージが不用になることから、ステージ構造を
単純化することができるため、装置の処理精度を大幅に
向上させることができるとともに、コストダウンを図る
ことが可能になる。(Operation) That is, according to the present invention, with the above configuration,
Since the theta stage becomes unnecessary, the stage structure can be simplified, so that the processing accuracy of the apparatus can be greatly improved and the cost can be reduced.
(実施例) 以下、本考案の一実施例を第1図及び第2図に示す図面
を参照しながら詳細に説明する。なお、本考案に係る図
示の実施例において、第3図に示す従来装置と構成が重
複する部分は同一符号を用いて説明する。(Embodiment) An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings shown in FIGS. 1 and 2. In the illustrated embodiment according to the present invention, the same parts as those of the conventional device shown in FIG.
すなわち、本考案に係る高精度移動ステージ装置は、第
1図及び第2図に示すように、ステージ2上に設けられ
た専用ホルダ4が係合するガイド部材7と、従来装置に
おけるシータ駆動機構部6を第1図において上下方向に
出入り自在に移動させる補助駆動機構部8とを備え、前
記専用ホルダ4は、ステージ2上に載置されたとき前記
ガイド部材7に係合さして、該ガイド部材7を中心に回
転自在になっている一方、前記補助駆動機構部8は、シ
ータ駆動機構部6を第1図において上方へ移動させて、
このシータ駆動機構部6の送りネジ61によって移動さ
れる係合部62を前記ステージ2上に載置された専用ホ
ルダ4の係止部41に係合させ、これによって、このシ
ータ駆動機構部6の駆動で専用ホルダ4をガイド部材7
を中心に回転駆動させることにより、専用ホルダ4の回
転位置調整を可能にしているものである。また、図中6
3及び64は前記シータ駆動機構部6の係合部62に設
けた基準ローラ及び押付けローラで、これらローラ6
3、64間に前記専用ホルダ4の係止部41が係合し得
るようになっている。That is, the high-precision moving stage device according to the present invention, as shown in FIGS. 1 and 2, has a guide member 7 with which a dedicated holder 4 provided on the stage 2 engages, and a theta drive mechanism in a conventional device. 1 is provided with an auxiliary drive mechanism section 8 for moving the section 6 up and down freely so that the dedicated holder 4 engages with the guide member 7 when placed on the stage 2, While being rotatable about the member 7, the auxiliary drive mechanism section 8 moves the theta drive mechanism section 6 upward in FIG.
The engaging portion 62 moved by the feed screw 61 of the theta driving mechanism portion 6 is engaged with the locking portion 41 of the dedicated holder 4 placed on the stage 2, whereby the theta driving mechanism portion 6 is engaged. Drive the dedicated holder 4 to the guide member 7
The rotational position of the dedicated holder 4 can be adjusted by rotationally driving the holder. Also, 6 in the figure
Reference numerals 3 and 64 denote a reference roller and a pressing roller provided on the engaging portion 62 of the theta drive mechanism portion 6, and these roller 6
The locking portion 41 of the dedicated holder 4 can be engaged between the portions 3 and 64.
しかして、上記の構成によれば、被処理材Wの種類ある
いはサイズ等に応じて交換される専用ホルダ4をステー
ジ2上に載置したとき、専用ホルダ4の一方側をガイド
部材7に係合させ、この状態で補助駆動機構部8を駆動
させてシータ駆動機構部6を上昇させることにより、専
用ホルダ4の係止部41にシータ駆動機構部6の係合部
62を係合させる。次に、被処理材Wに設けた図示しな
いアライメントマーク等を使用し、X・Yレーザミラー
1に対する被処理材Wの傾きを測定して必要な回転位置
調整量を算出した後、前記シータ駆動機構部6の送りネ
ジ61の回転駆動によって前記専用ホルダ4をガイド部
材7を回転中心として左右方向に移動させ、回転位置調
整が行なわれる。このとき、専用ホルダ4をステージ2
に対してクランプする後述するクランプ機構部は、専用
ホルダ4の回転中はリリースされた状態にあり、回転位
置調整後に専用ホルダ4をクランプし得るようになって
いる。Therefore, according to the above configuration, when the dedicated holder 4 that is exchanged according to the type or size of the workpiece W is placed on the stage 2, one side of the dedicated holder 4 is engaged with the guide member 7. In this state, the auxiliary drive mechanism section 8 is driven to raise the theta drive mechanism section 6 in this state so that the engagement section 62 of the theta drive mechanism section 6 is engaged with the locking section 41 of the dedicated holder 4. Next, using an alignment mark or the like (not shown) provided on the material W to be processed, the inclination of the material W to be processed with respect to the XY laser mirror 1 is measured to calculate a necessary rotational position adjustment amount, and then theta drive is performed. By rotating the feed screw 61 of the mechanism section 6, the dedicated holder 4 is moved in the left-right direction with the guide member 7 as the center of rotation, and the rotational position is adjusted. At this time, attach the dedicated holder 4 to the stage 2
The later-described clamping mechanism portion for clamping is in a released state during rotation of the dedicated holder 4, and can clamp the dedicated holder 4 after adjusting the rotational position.
シータ駆動機構部6は、回転位置調整後に前記補助駆動
機構部8で第1図において下方へ移動させられて専用ホ
ルダ4との係合状態から離脱させるようになっているも
ので、これによって、シータ駆動機構部6の係合部62
に設けた基準ローラ63及び押付けローラ64との間の
機械的接触をなくし、シータ駆動機構部6及びその送り
ネジ61からの熱の影響をなくしたり、あるいは駆動力
の残留応力によって前記専用ホルダ4が微小回転させら
れるのを防止している。The theta drive mechanism section 6 is adapted to be moved downward in FIG. 1 by the auxiliary drive mechanism section 8 after the rotational position is adjusted so as to be disengaged from the engaged state with the dedicated holder 4. Engagement portion 62 of theta drive mechanism portion 6
No mechanical contact is made between the reference roller 63 and the pressing roller 64 provided in the above, the influence of heat from the theta drive mechanism section 6 and its feed screw 61 is eliminated, or residual stress of the driving force causes the dedicated holder 4 Is prevented from being minutely rotated.
したがって、上記した構成とすることによって、従来の
ようなシータステージ相当部分がなくなり、シータステ
ージの使用により起因する熱変形、振動、クランプ部の
ズレ等による誤差要因がなく、被処理材Wへの処理精度
を向上させることができるとともに、コストダウンを図
ることを可能にしている。Therefore, with the above-described configuration, the portion corresponding to the theta stage as in the conventional case is eliminated, and there is no error factor due to thermal deformation, vibration, displacement of the clamp portion, etc. due to the use of the theta stage, The processing accuracy can be improved and the cost can be reduced.
また、上記専用ホルダ4を回転させるときは、第2図に
示すように、クランプ機構部20の真空仕切弁21を閉
じてエアー仕切弁22を開き、これによってエアー源2
3と接続して、真空チャック兼エアー吹出口24より、
前記専用ホルダ4とステージ2との間の結合面間に空気
による圧縮気体を吹き出させて、専用ホルダ4とステー
ジ2との間の摩擦係数を減じさせるようにする。一方、
回転位置調整後のクランプ時には、逆に真空仕切弁21
を開いてエアー仕切弁22を閉じ、これによって、真空
源25と接続し、前記真空チャック兼エアー吹出口24
を真空にして専用ホルダ4とステージ2との間を吸引ク
ランプし得るようになっている。When the dedicated holder 4 is rotated, the vacuum sluice valve 21 of the clamp mechanism 20 is closed and the air sluice valve 22 is opened, as shown in FIG.
3 and connect from the vacuum chuck and air outlet 24,
A compressed gas of air is blown out between the coupling surfaces between the dedicated holder 4 and the stage 2 to reduce the coefficient of friction between the dedicated holder 4 and the stage 2. on the other hand,
On the contrary, when clamping after rotating position adjustment, the vacuum gate valve 21
Is opened to close the air sluice valve 22, thereby connecting with the vacuum source 25, and the vacuum chuck and air outlet 24
Is evacuated and the space between the dedicated holder 4 and the stage 2 can be suction-clamped.
なお、上記の実施例においては、専用ホルダ4とステー
ジ2との間でのクランプを真空チャックで行なったが、
この部分を機械式摩擦クランプとしたり、回転時の摩擦
低減のためにローラで受けたり、また、回転位置調整の
駆動力としてピエゾモータを使用したりすれば、真空室
内で回転調整をする必要のある電子ビーム描画装置等に
も応用することが可能になる。In the above embodiment, the vacuum chuck was used to clamp between the dedicated holder 4 and the stage 2.
If this part is used as a mechanical friction clamp, or if it is received by a roller to reduce friction during rotation, or if a piezo motor is used as the driving force for adjusting the rotational position, the rotation must be adjusted in the vacuum chamber. It can be applied to an electron beam drawing apparatus and the like.
なお、本考案は、上記の実施例に限定されないものであ
り、本考案の要旨を変えない範囲で種々変更実施可能な
ことは勿論である。It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and it goes without saying that various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
[考案の効果] 以上の説明から明らかなように、本考案によれば、ステ
ージ上に、被処理材の種類別及び寸法別等に応じた専用
的被処理材用保持具を介して専用的に被処理材を載置し
てなる高精度移動ステージ装置において、前記ステージ
上に置かれる前記保持具に係脱可能に形成され該保持具
に前記ステージ上における回転中心を付与すべく前記ス
テージ上に設けられたガイド部材と、同じく前記ステー
ジ上に置かれかつ前記ガイド部材に係合している前記保
持具を介して前記ガイド部材に対向し、かつ前記保持具
に係脱可能に形成され、前記ガイド部材を中心として前
記保持具を回転すべく前記ステージ上に設けられた回転
駆動機構部とを具備する構成としたものである。[Effects of the Invention] As is clear from the above description, according to the present invention, a dedicated holder for a material to be processed is provided on the stage according to the type and size of the material to be processed. In a high-precision moving stage device in which a material to be processed is placed on the stage, the holder placed on the stage is formed to be detachable from the stage so as to give the holder a center of rotation on the stage. And a guide member provided on the stage, facing the guide member via the holding tool that is also placed on the stage and engaged with the guide member, and is formed to be detachable from the holding tool. The rotary drive mechanism section is provided on the stage to rotate the holder about the guide member.
したがって、従来のような回転角位置の位置決め用のシ
ータステージを用いずに回転角位置の位置決めを行うこ
とができ、ステージ構造を単純化することができるた
め、装置の処理精度を大幅に向上させることができると
ともに、コストダウンを図ることができるというすぐれ
た効果を有する高精度移動ステージ装置を提供すること
ができるものである。Therefore, the rotation angle position can be positioned without using the theta stage for positioning the rotation angle position as in the prior art, and the stage structure can be simplified, thereby significantly improving the processing accuracy of the device. Thus, it is possible to provide a high-precision moving stage device having an excellent effect that the cost can be reduced.
第1図は本考案に係る高精度移動ステージ装置の一実施
例を示す平面図、第2図は同じくステージ移動制御状態
を示す断面図、第3図は従来の高精度移動ステージ装置
を示す平面図である。 1……レーザミラー、2……ステージ、 4……被処理材用保持具(専用ホルダ)、 41……係止部、 6……回転駆動機構部(シータ駆動機構部)、 62……係合部、 8……補助駆動機構部、 20……クランプ機構部、W……被処理材。FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a high-precision moving stage device according to the present invention, FIG. 2 is a sectional view showing the same stage movement control state, and FIG. 3 is a plan view showing a conventional high-precision moving stage device. It is a figure. 1 ... Laser mirror, 2 ... Stage, 4 ... Processing material holder (dedicated holder), 41 ... Locking part, 6 ... Rotation drive mechanism part (theta drive mechanism part), 62 ... Joint part, 8 ... Auxiliary drive mechanism part, 20 ... Clamping mechanism part, W ... Material to be processed.
Claims (3)
別等に応じた専用的被処理材用保持具を介して専用的に
被処理材を載置してなる高精度移動ステージ装置におい
て、 前記ステージ上に置かれる前記保持具に係脱可能に形成
され該保持具に前記ステージ上における回転中心を付与
すべく前記ステージ上に設けられたガイド部材と、 同じく前記ステージ上に置かれかつ前記ガイド部材に係
合している前記保持具を介して前記ガイド部材に対向
し、かつ前記保持具に係脱可能に形成され、前記ガイド
部材を中心として前記保持具を回転すべく前記ステージ
上に設けられた回転駆動機構部と、 を具備することを特徴とする高精度移動ステージ装置。1. A high-precision moving stage apparatus in which a material to be processed is exclusively placed on a stage via a dedicated holder for the material to be processed according to the type and size of the material to be processed. A guide member that is detachably formed on the holding tool placed on the stage and is provided on the stage to give the holding tool a center of rotation on the stage, and is also placed on the stage. The stage is formed so as to face the guide member via the holder engaged with the guide member and be detachable from the holder, and to rotate the holder about the guide member. A high-precision moving stage device comprising: a rotation drive mechanism portion provided on the above.
する手段を有していることを特徴とする実用新案登録請
求の範囲第1項に記載の高精度移動ステージ装置。2. A high precision moving stage apparatus according to claim 1, wherein the stage has means for fixing the holder on the stage.
アー吹出口を有していることを特徴とする実用新案登録
請求の範囲第2項に記載の高精度移動ステージ装置。3. A high precision moving stage apparatus according to claim 2, wherein the stage has a vacuum chuck and an air outlet on the upper surface thereof.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986129080U JPH0616364Y2 (en) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | High precision movement stage device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986129080U JPH0616364Y2 (en) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | High precision movement stage device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6335991U JPS6335991U (en) | 1988-03-08 |
JPH0616364Y2 true JPH0616364Y2 (en) | 1994-04-27 |
Family
ID=31025332
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1986129080U Expired - Lifetime JPH0616364Y2 (en) | 1986-08-25 | 1986-08-25 | High precision movement stage device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0616364Y2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2523177B2 (en) * | 1989-04-28 | 1996-08-07 | 日本写真印刷株式会社 | Positioning table |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5567694A (en) * | 1978-11-16 | 1980-05-21 | Tokyo Shibaura Electric Co | Automatic parallel table |
JPS59129636A (en) * | 1983-01-10 | 1984-07-26 | Hitachi Ltd | Controller of stage with freedom of six |
-
1986
- 1986-08-25 JP JP1986129080U patent/JPH0616364Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6335991U (en) | 1988-03-08 |
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