JPH06160414A - Fan fault detecting system - Google Patents
Fan fault detecting systemInfo
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- JPH06160414A JPH06160414A JP30745492A JP30745492A JPH06160414A JP H06160414 A JPH06160414 A JP H06160414A JP 30745492 A JP30745492 A JP 30745492A JP 30745492 A JP30745492 A JP 30745492A JP H06160414 A JPH06160414 A JP H06160414A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、複数のファン装置を搭
載する装置（以後ファン使用装置と称する）におけるフ
ァン障害検出方式に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fan failure detection system in a device equipped with a plurality of fan devices (hereinafter referred to as a fan using device).
【０００２】例えば電子交換機等の如く、装置内に多数
の半導体を使用する装置においては、装置内の温度を規
定範囲内に維持する為に、複数の冷却用ファンが搭載さ
れている。In a device such as an electronic exchange that uses a large number of semiconductors, a plurality of cooling fans are mounted in order to maintain the temperature inside the device within a specified range.
【０００３】なおこれ等のファンを一斉に高速回転させ
ると、ファンの発生する騒音が大きくなり、特にファン
使用装置が室内に設置される場合には、室内騒音が上昇
する問題が生ずるので、ファン使用装置内の総てのファ
ンが正常に運転されている場合には、ファンの回転数を
例えば定格値の半分（以後半速と称する）に低下させた
状態で装置内部温度を維持し、一部のファンに障害が発
生した場合に例えばファンの回転数を定格値（以後全速
と称する）迄上げて、装置内部温度を維持することが実
用されている。When these fans are rotated at a high speed all at once, the noise generated by the fans becomes large, and particularly when the fan using device is installed indoors, there is a problem that the indoor noise rises. When all the fans in the equipment used are operating normally, the internal temperature of the equipment is maintained with the fan rotation speed reduced to, for example, half the rated value (hereinafter referred to as half speed). When a failure occurs in a certain fan, for example, the rotational speed of the fan is raised to a rated value (hereinafter referred to as full speed) to maintain the internal temperature of the device.
【０００４】かかるファン使用装置には、各ファンの運
転状態を常時監視し、障害発生を検出すると共に、各フ
ァンの回転数を制御するファン障害監視回路が設けられ
ている。Such a fan using device is provided with a fan failure monitoring circuit for constantly monitoring the operating state of each fan to detect the occurrence of a failure and to control the rotation speed of each fan.
【０００５】[0005]
【従来の技術】図５は従来あるファン障害監視回路の一
例を示す図であり、図６は図５における回転制御回路の
一例を示す図であり、図７は図５におけるファン回転数
変化過程の一例を示す図である。2. Description of the Related Art FIG. 5 is a diagram showing an example of a conventional fan failure monitoring circuit, FIG. 6 is a diagram showing an example of a rotation control circuit shown in FIG. 5, and FIG. It is a figure which shows an example.
【０００６】図５において、１はファン使用装置内に搭
載されているｍ個のファン装置（ＦＡＮ）〔個々のファ
ン装置（ＦＡＮ）を（１i ）（但しｉは１乃至ｍの何れ
か）〕であり、２は図６に示される如き構成を有する回
転制御回路（ＣＴＬ）（２）であり、３は回転数監視回
路（ＳＰ）であり、４および５はゲートである。In FIG. 5, reference numeral 1 denotes m fan devices (FAN) mounted in the fan using device [individual fan device (FAN) is (1 i ) (where i is any of 1 to m). ], 2 is a rotation control circuit (CTL) (2) having a configuration as shown in FIG. 6, 3 is a rotation speed monitoring circuit (SP), and 4 and 5 are gates.
【０００７】なお回転制御回路（ＣＴＬ）（２）、回転
数監視回路（ＳＰ）（３）およびゲート（４）は、各フ
ァン装置（ＦＡＮ）（１）に対応して設けられ、ゲート
（５）は各ファン装置（ＦＡＮ）（１）に共通に設けら
れている。A rotation control circuit (CTL) (2), a rotation speed monitoring circuit (SP) (3), and a gate (4) are provided corresponding to each fan device (FAN) (1), and a gate (5) is provided. ) Is commonly provided to each fan device (FAN) (1).
【０００８】各回転制御回路（ＣＴＬ）（２i ）は、入
力される電源電圧（ＶO ）から給電電圧（Ｖ）を生成
し、対応する各ファン装置（ＦＡＮ）（１i ）に供給す
る。各ファン装置（ＦＡＮ）（１i ）は、対応する回転
制御回路（ＣＴＬ）（２i）から供給される給電電圧
（Ｖ）に比例した回転数（ｎi ）で運転すると共に、回
転数（ｎi ）に同期した回転数情報（ＳＮＳi ）（例え
ば一回転に二個のパルス）を出力する。Each rotation control circuit (CTL) (2 i ) generates a power supply voltage (V) from the input power supply voltage (V O ) and supplies it to each corresponding fan device (FAN) (1 i ). . Each fan device (FAN) (1 i ) operates at a rotation speed (n i ) proportional to the power supply voltage (V) supplied from the corresponding rotation control circuit (CTL) (2 i ) and at the same time the rotation speed (n i ) The rotation speed information (SNS i ) (for example, two pulses per one rotation) synchronized with n i ) is output.
【０００９】各回転数監視回路（ＳＰ）（３i ）は、対
応するファン装置（ＦＡＮ）（１i）から出力される回
転数情報（ＳＮＳi ）を受信してファン装置（ＦＡＮ）
（１ i ）の回転数（ｎi ）を求め、求められた回転数
（ｎi ）を予め定められている障害判定回転数（Ｎ）と
比較し、回転数（ｎi ）が障害判定回転数（Ｎ）以上の
場合には、ファン装置（ＦＡＮ）（１i ）が正常に運転
されていると判定し、出力する個別障害判定信号（ＡＬ
Ｍi ）を論理“０”に設定するが、比較の結果、回転数
（ｎi ）が障害判定回転数（Ｎ）より低下した場合に
は、ファン装置（ＦＡＮ）（１）に障害が発生したと判
定し、出力する個別障害判定信号（ＡＬＭi）を論理
“１”に設定する。Each rotation speed monitoring circuit (SP) (3i) Is a pair
Corresponding fan device (FAN) (1i) Output from
Change information (SNSi) To receive a fan device (FAN)
(1 i) Rotation speed (ni), And the calculated number of revolutions
(Ni) With a predetermined failure determination rotation speed (N)
Compare the number of rotations (ni) Is equal to or higher than the failure determination rotation speed (N)
If the fan device (FAN) (1i) Is operating normally
The individual failure judgment signal (AL
Mi) Is set to logic "0", but the result of comparison is the number of revolutions.
(Ni) Is lower than the failure judgment speed (N)
Has determined that the fan device (FAN) (1) has failed.
Individual fault judgment signal (ALMi) Logic
Set to "1".
【００１０】ゲート（５）は、各回転数監視回路（Ｓ
Ｐ）（３i ）から出力される個別障害判定信号（ＡＬＭ
i ）が総て論理“０”に設定された状態では、出力する
障害検出信号（ＡＬＭ）を論理“０”に設定し、総ての
ファン装置（ＦＡＮ）（１）が正常に運転されているこ
とを表示するが、任意の回転数監視回路（ＳＰ）
（３i）から出力される個別障害判定信号（ＡＬＭi ）
が論理“１”に設定されると、出力する障害検出信号
（ＡＬＭ）を論理“１”に設定し、一台以上のファン装
置（ＦＡＮ）（１i ）に障害が発生したことを表示す
る。The gate (5) is provided for each rotation speed monitoring circuit (S
P) (3 i ) individual fault judgment signal (ALM
When all the i ) are set to the logic "0", the output failure detection signal (ALM) is set to the logic "0", and all the fan devices (FAN) (1) are normally operated. Is displayed, but any rotation speed monitoring circuit (SP)
Individual fault judgment signal (ALM i ) output from (3 i )
Is set to logic "1", the fault detection signal (ALM) to be output is set to logic "1" to indicate that one or more fan units (FAN) (1 i ) have faulted. .
【００１１】各ファン装置（ＦＡＮ）（１i ）に対応す
るゲート（４）には、同一ファン装置（ＦＡＮ）
（１i ）に対応する回転数監視回路（ＳＰ）（３i ）か
ら出力される個別障害判定信号（ＡＬＭi ）が論理値反
転されて入力されると共に、ゲート（５）から出力され
る障害検出信号（ＡＬＭ）が入力される。The same fan unit (FAN) is installed in the gate (4) corresponding to each fan unit (FAN) (1 i ).
A fault output from the gate (5) while the individual fault determination signal (ALM i ) output from the rotation speed monitoring circuit (SP) (3 i ) corresponding to (1 i ) is input with its logical value inverted. The detection signal (ALM) is input.
【００１２】その結果、障害検出信号（ＡＬＭ）が論理
“０”に設定されている場合には、総てのゲート（４）
から出力される回転数制御信号（Ｃ）は論理“０”に設
定されるが、任意の個別障害判定信号（ＡＬＭi ）が論
理“１”に設定され、その結果障害検出信号（ＡＬＭ）
も論理“１”に設定されると、ゲート（４i ）から出力
される回転数制御信号（Ｃi ）のみは論理“０”を維持
するが、その他のゲート（４j ）〔但しｊは１乃至ｍ、
且つｊ≠ｉ〕から出力される回転数制御信号（Ｃj ）は
論理“１”に設定される。As a result, when the fault detection signal (ALM) is set to logic "0", all gates (4) are
The rotation speed control signal (C) output from is set to logic "0", but any individual failure determination signal (ALM i ) is set to logic "1", and as a result, failure detection signal (ALM).
Is also set to the logic "1", only the rotation speed control signal (C i ) output from the gate (4 i ) maintains the logic "0", but the other gates (4 j ) [where j is 1 to m,
In addition, the rotation speed control signal (C j ) output from j ≠ i] is set to logic "1".
【００１３】一方回転制御回路（ＣＴＬ）（２）は、図
６に示される如く、ゲート（４）から出力される回転数
制御信号（Ｃ）が論理“０”に設定されている場合に
は、トランジスタ２１および２２が遮断状態に設定され
る為、入力される電源電圧（Ｖ O ）が抵抗（２８）を介
して、対応するファン装置（ＦＡＮ）（１）に給電電圧
（Ｖ）として供給する為、給電電圧（Ｖ）は電源電圧
（ＶO ）〔例えば直流４８ボルト〕より低電圧〔例えば
直流２４ボルト〕に設定されるが、ゲート（４）から出
力される回転数制御信号（Ｃ）が論理“１”に設定され
ると、トランジスタ２１および２２が導通状態に設定さ
れる為、入力される電源電圧（ＶO ）が、導通状態にあ
るトランジスタ（２２）を介して、対応するファン装置
（ＦＡＮ）（１）に給電電圧（Ｖ）として供給する為、
給電電圧（Ｖ）は電源電圧（ＶO ）〔例えば直流４８ボ
ルト〕と等電圧に設定される。On the other hand, the rotation control circuit (CTL) (2) is
As shown in 6, the rotation speed output from the gate (4)
When the control signal (C) is set to logic "0"
Causes transistors 21 and 22 to be set to the off state.
Input voltage (V O) Is through resistance (28)
Then, supply voltage to the corresponding fan device (FAN) (1).
Since it is supplied as (V), the power supply voltage (V) is the power supply voltage.
(VO) [Eg 48 VDC] lower voltage [eg
DC 24V] is set, but it is output from the gate (4).
The applied rotation speed control signal (C) is set to logic "1".
Will set transistors 21 and 22 to the conducting state.
Input voltage (VO) Is in conduction
Corresponding fan device via a transistor (22)
(FAN) (1) is supplied as a power supply voltage (V),
The power supply voltage (V) is the power supply voltage (VO) [Eg DC 48
Default].
【００１４】各ファン装置（ＦＡＮ）（１）は、給電電
圧（Ｖ）が直流４８ボルトに設定される場合には、全速
回転数（ＮF ）で動作するが、給電電圧（Ｖ）が直流２
４ボルトに設定される場合には、全速回転数（ＮF ）の
略１／２の半速回転数（ＮH）で動作する。Each fan device (FAN) (1) operates at full speed rotation speed (N F ) when the power supply voltage (V) is set to DC 48 V, but the power supply voltage (V) is DC. Two
When it is set to 4 volts, it operates at a half speed (N H ) which is about ½ of the full speed (N F ).
【００１５】従って、総てのファン装置（ＦＡＮ）
（１）が正常に運転している場合には、各個別障害判定
信号（ＡＬＭi ）、並びに障害検出信号（ＡＬＭ）は何
れも論理“０”に設定され、各回転数制御信号（Ｃi ）
も論理“０”に設定され、各給電電圧（Ｖ）は直流２４
ボルトに設定される為、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）
は図７(a) に示される如く、半速回転数（ＮH ）で運転
される。Therefore, all fan devices (FAN)
When (1) is operating normally, each individual failure determination signal (ALM i ) and failure detection signal (ALM) are both set to logic “0” and each rotation speed control signal (C i )
Is also set to logic "0" and each power supply voltage (V) is DC 24
Each fan device (FAN) (1) because it is set to bolt
Is operated at a half speed (N H ) as shown in FIG. 7 (a).
【００１６】以後半速回転数（ＮH ）で運転することを
半速運転と称する。かかる状態で、例えばファン装置
（ＦＡＮ）（１1 ）に障害が発生し、回転数（ｎ1 ）が
障害判定回転数（Ｎ）より低下すると、回転数監視回路
（ＳＰ）（３ 1 ）が出力する個別障害判定信号（ＡＬＭ
1 ）を論理“１”に設定する為、ゲート（５）も出力す
る障害検出信号（ＡＬＭ）を論理“１”に設定する。Thereafter, the half speed rotation speed (NH) To drive
This is called half-speed operation. In such a state, for example, a fan device
(FAN) (11), The rotation speed (n1)But
If the rotation speed falls below the failure judgment rotation speed (N), the rotation speed monitoring circuit
(SP) (3 1) Output individual failure judgment signal (ALM
1) Is set to logic "1", gate (5) is also output.
The fault detection signal (ALM) is set to logic "1".
【００１７】その結果、ゲート（４1 ）のみは出力する
回転数制御信号（Ｃ1 ）を論理“０”に維持するが、そ
の他のゲート（４2 ）乃至（４m ）は何れも出力する回
転数制御信号（Ｃ2 ）乃至（Ｃm ）を論理“１”に設定
する。As a result, only the gate (4 1 ) maintains the output rotation speed control signal (C 1 ) at logic "0", while the other gates (4 2 ) to (4 m ) output. The rotation speed control signals (C 2 ) to (C m ) are set to logic "1".
【００１８】その結果、回転制御回路（ＣＴＬ）
（２1 ）のみは出力する給電電圧（Ｖ）を直流２４ボル
トに維持するが、その他の回転制御回路（ＣＴＬ）（２
2 ）乃至（２m ）は出力する給電電圧（Ｖ）を直流４８
ボルトに設定させる。As a result, the rotation control circuit (CTL)
Only (2 1 ) maintains the output power supply voltage (V) at 24 V DC, but other rotation control circuits (CTL) (2
2 ) to (2 m ) is the output power supply voltage (V) of DC 48
Let the bolt set.
【００１９】その結果、ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）
の回転数（ｎ1 ）は従来通り、障害判定回転数（Ｎ）以
下に低下した儘に維持されるが、その他のファン装置
（ＦＡＮ）（１2 ）乃至（１m ）の回転数（ｎ2 ）乃至
（ｎm ）は、図７(b) に示される如く、全速回転数（Ｎ
F ）に上昇する。As a result, the fan device (FAN) (1 1 )
The rotation speed (n 1 ) of the fan fan (FAN) (1 2 ) to (1 m ) of the other fan devices (1 2 ) to (1 m ) is maintained at the same level as before, but is maintained below the failure determination rotation speed (N). 2 ) to ( nm ) are full speed revolutions (N) as shown in FIG. 7 (b).
F ) to rise.
【００２０】以後全速回転数（ＮF ）で運転することを
全速運転と称する。なお障害が検出されたファン装置
（ＦＡＮ）（１1 ）の給電電圧（Ｖ）も直流４８ボルト
に上昇させると、罹障ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）の
回転数（ｎ1）も略二倍に上昇し、障害判定回転数
（Ｎ）以上となる可能性が生ずる。Hereinafter, operation at full speed (N F ) will be referred to as full speed operation. When the power supply voltage (V) of the fan device (FAN) (1 1 ) in which a failure is detected is also increased to 48 VDC, the rotation speed (n 1 ) of the affected fan device (FAN) (1 1 ) is also reduced. There is a possibility that the speed will double and the speed will exceed the failure determination rotation speed (N).
【００２１】その結果、回転制御回路（ＣＴＬ）
（２1 ）はファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）の障害が回復
したと誤認し、個別障害判定信号（ＡＬＭ1 ）を論理
“０”に設定変更し、再び総てのファン装置（ＦＡＮ）
（１）の給電電圧（Ｖ）が直流２４ボルトに復帰し、再
びファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）の回転数（ｎ1 ）が障
害判定回転数（Ｎ）以下に低下することを繰返し、総て
のファン装置（ＦＡＮ）（１）の運転が不安定となる。As a result, the rotation control circuit (CTL)
(2 1 ) mistakenly recognizes that the failure of the fan device (FAN) (1 1 ) has recovered, changes the setting of the individual failure determination signal (ALM 1 ) to logic “0”, and again all the fan devices (FAN)
The power supply voltage (V) of (1) is returned to DC 24 V, and the number of revolutions (n 1 ) of the fan device (FAN) (1 1 ) is reduced to the failure determination number of revolutions (N) or less, which is repeated. The operation of all fan devices (FAN) (1) becomes unstable.
【００２２】罹障ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）のみの
給電電圧（Ｖ）を直流２４ボルトに維持し、前述の不安
定運転を防止する為に、回転制御回路（ＣＴＬ）（２）
が各ファン装置（ＦＡＮ）（１）に対応して設けられて
いる。A rotation control circuit (CTL) (2) is provided in order to maintain the power supply voltage (V) of only the troubled fan device (FAN) (1 1 ) at 24 VDC and prevent the above-mentioned unstable operation.
Are provided corresponding to each fan device (FAN) (1).
【００２３】また、ファン装置（ＦＡＮ）（１2 ）乃至
（１m ）が全速回転数（ＮF ）で運転中に、更に例えば
ファン装置（ＦＡＮ）（１2 ）に障害が発生した場合に
は、対応する回転数監視回路（ＳＰ）（３2 ）は前述と
同様に、ファン装置（ＦＡＮ）（１2 ）から出力される
回転数情報（ＳＮＳ2 ）から求めたファン装置（ＦＡ
Ｎ）（１2 ）の回転数（ｎ2 ）が障害判定回転数（Ｎ）
より低下したことを検出し、対応するファン装置（ＦＡ
Ｎ）（１2 ）に障害が発生したと判定し、出力する個別
障害判定信号（ＡＬＭ2 ）を論理“１”に設定する。When the fan units (FAN) (1 2 ) to (1 m ) are operating at the full speed revolution (N F ), for example, when the fan unit (FAN) (1 2 ) fails. In the same manner as described above, the corresponding rotation speed monitoring circuit (SP) (3 2 ) outputs the fan device (FA) obtained from the rotation speed information (SNS 2 ) output from the fan device (FAN) (1 2 ).
N) (1 2 ) rotation speed (n 2 ) is the failure determination rotation speed (N)
It is detected that it has become lower, and the corresponding fan device (FA
N) It is determined that a failure has occurred in (1 2 ) and the output individual failure determination signal (ALM 2 ) is set to logic “1”.
【００２４】その結果、ゲート（４2 ）は出力する回転
数制御信号（Ｃ2 ）を論理“０”に設定変更し、回転制
御回路（ＣＴＬ）（２2 ）は給電電圧（Ｖ）を直流４８
ボルトから直流２４ボルトに変更する。As a result, the gate (4 2 ) changes the setting of the output rotation speed control signal (C 2 ) to logic "0", and the rotation control circuit (CTL) (2 2 ) changes the power supply voltage (V) to DC. 48
Change from DC to 24V.
【００２５】やがて罹障ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）
が例えば新品と交換され、回転数（ｎ1 ）が半速回転数
（ＮH ）に復帰すると、回転数監視回路（ＳＰ）
（３1 ）は回転数情報（ＳＮＳ1 ）から求めた回転数
（ｎ1 ）が障害判定回転数（Ｎ）以上に上昇したことを
検出し、罹障中のファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）が復旧
したと判定し、出力する個別障害判定信号（ＡＬＭ1 ）
を論理“０”に設定変更する。Eventually, a fan device (FAN) for disability (1 1 )
, For example, is replaced with a new one, and when the rotation speed (n 1 ) returns to the half speed rotation speed (N H ), the rotation speed monitoring circuit (SP)
(3 1 ) detects that the rotation speed (n 1 ) obtained from the rotation speed information (SNS 1 ) rises above the failure determination rotation speed (N), and the fan device (FAN) ( 11 ) Is determined to have been recovered and is output as an individual failure determination signal (ALM 1 )
Is changed to logic "0".
【００２６】[0026]
【発明が解決しようとする課題】以上の説明から明らか
な如く、従来あるファン使用装置においては、各回転数
監視回路（ＳＰ）（３i ）が対応するファン装置（ＦＡ
Ｎ）（１i ）から出力される回転数情報（ＳＮＳi ）に
より各ファン装置（ＦＡＮ）（１i ）の回転数（ｎi ）
を監視し、回転数（ｎi ）が障害判定回転数（Ｎ）より
低下すると、ファン装置（ＦＡＮ）（１i ）に障害が発
生したと判定し、また罹障ファン装置（ＦＡＮ）
（１i ）の回転数（ｎi ）が障害判定回転数（Ｎ）以上
となると、罹障ファン装置（ＦＡＮ）（１i ）が復旧し
たと判定すると共に、総てのファン装置（ＦＡＮ）
（１）が正常に運転中は、各ファン装置（ＦＡＮ）
（１）への給電電圧（Ｖ）を例えば直流２４ボルトに低
下させて各ファン装置（ＦＡＮ）（１）を半速運転さ
せ、一台以上のファン装置（ＦＡＮ）（１i ）に障害が
検出された場合には、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）へ
の給電電圧（Ｖ）を例えば直流４８ボルトに上昇させて
各ファン装置（ＦＡＮ）（１）を全速運転させていた
が、罹障中のファン装置（ＦＡＮ）（１i ）の障害復旧
を誤認しない為に、各ファン装置（ＦＡＮ）（１i ）の
給電電圧（Ｖ）を個別に制御する必要があり、その結果
各ファン装置（ＦＡＮ）（１i ）に対応して回転制御回
路（ＣＴＬ）（２i ）を設置する必要があり、当該ファ
ン使用装置の小形化および経済化を損なう問題がある。As is apparent from the above description, in the conventional fan-using device, the fan device (FA) to which each rotation speed monitoring circuit (SP) (3 i ) corresponds.
N) (the fan unit by the rotational speed information output from the 1 i) (SNS i) ( FAN) (1 i) of the rotational speed (n i)
When the rotation speed (n i ) is lower than the failure determination rotation speed (N), it is determined that the fan device (FAN) (1 i ) has failed, and the affected fan device (FAN).
(1 i) of the rotational speed (n i) failure judgment rotation speed becomes the (N) or more, Kakasawa fan unit (FAN) with (1 i) is determined to have recovered, all of the fan device (FAN)
While (1) is operating normally, each fan device (FAN)
The power supply voltage (V) to (1) is reduced to, for example, 24 VDC and each fan unit (FAN) (1) is operated at half speed, and one or more fan units (FAN) (1 i ) are damaged. If detected, the power supply voltage (V) to each fan device (FAN) (1) was increased to, for example, 48 VDC to operate each fan device (FAN) (1) at full speed. In order not to misidentify the failure recovery of the fan device (FAN) (1 i ) in trouble, it is necessary to individually control the power supply voltage (V) of each fan device (FAN) (1 i ), and as a result, each fan It is necessary to install the rotation control circuit (CTL) (2 i ) corresponding to the device (FAN) (1 i ), and there is a problem that the device using the fan is downsized and the economy is impaired.
【００２７】また全速運転中のファン装置（ＦＡＮ）
（１）も、半速運転中と同じ障害判定回転数（Ｎ）によ
り障害発生を検出している為、障害検出時の回転数低下
率が半速運転と全速運転とで大きく異なり、ファン装置
（ＦＡＮ）（１）の障害検出条件が運転状態により異な
る問題があった。A fan device (FAN) operating at full speed
Also in (1), since the failure occurrence is detected by the same failure determination rotation speed (N) as during the half-speed operation, the rotation speed decrease rate at the time of failure detection greatly differs between the half-speed operation and the full-speed operation, and the fan device There is a problem that the fault detection condition of (FAN) (1) varies depending on the operating state.
【００２８】また障害が発生したファン装置（ＦＡＮ）
（１）の回転数（ｎ）は一般的に不安定となり、回転数
（ｎ）が障害判定回転数（Ｎ）の上下を頻繁に変動する
状態が継続する場合が少なくなく、その結果各ファン装
置（ＦＡＮ）（１）の給電電圧（Ｖ）も直流２４ボルト
と直流４８ボルトとに頻繁に切替えられることとなり、
各ファン装置（ＦＡＮ）（１）の運転も不安定となる。A fan device (FAN) in which a failure has occurred
The rotation speed (n) of (1) is generally unstable, and the rotation speed (n) frequently fluctuates above and below the failure determination rotation speed (N). The power supply voltage (V) of the device (FAN) (1) is also frequently switched between DC 24 V and DC 48 V,
The operation of each fan device (FAN) (1) is also unstable.
【００２９】本発明は、当該ファン使用装置の小形化・
経済化および運転状態の安定性を損なうこと無く、ファ
ン装置に発生する障害を一定の条件で検出可能とするこ
とを目的とする。The present invention is directed to downsizing of the fan using device.
An object of the present invention is to make it possible to detect a failure occurring in a fan device under a certain condition without impairing economy and stability of an operating state.
【００３０】[0030]
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理を示
す図である。図１において、１はファン使用装置に搭載
される複数のファン装置である。FIG. 1 is a diagram showing the principle of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a plurality of fan devices mounted on the fan using device.
【００３１】１００は、本発明により設けられた障害監
視手段である。Reference numeral 100 is a fault monitoring means provided by the present invention.
【００３２】[0032]
【作用】ファン使用装置は、各ファン装置（１）の回転
数の低下を監視することにより、各ファン装置（１）に
発生する障害を検出し、罹障ファン装置（１）の台数の
増加に応じて各ファン装置（１）の運転回転数を切替え
させている。The fan using device detects a failure occurring in each fan device (1) by monitoring the decrease in the rotation speed of each fan device (1), and increases the number of affected fan devices (1). The operating speed of each fan device (1) is switched according to the above.
【００３３】障害監視手段（１００）は、各ファン装置
（１）に障害が発生したと判定する障害発生判定回転数
（ＮA ）を、各ファン装置（１）の運転回転数に対応し
て変更する。The fault monitoring means (100) determines the fault occurrence determination rotational speed (N A ) for determining that a fault has occurred in each fan device (1) in correspondence with the operating rotational speed of each fan device (1). change.
【００３４】なお障害監視手段（１００）は、罹障中の
各ファン装置（１）が復旧したと判定する障害復旧判定
回転数（ＮR ）を、各ファン装置（１）の運転回転数に
対応して変更することが考慮される。The failure monitoring means (100) uses the failure recovery determination rotation speed (N R ) for determining that the fan device (1) in trouble has recovered to the operating rotation speed of each fan device (1). Corresponding changes are considered.
【００３５】また障害監視手段（１００）は、障害復旧
判定回転数（ＮR ）を障害発生判定回転数（ＮA ）より
高く設定することが考慮される。更に障害監視手段（１
００）は、総てのファン装置（１）が正常時に各ファン
装置（１）を半速で運転し、一台以上の前記ファン装置
（１）に障害が発生した場合に各ファン装置（１）を全
速で運転させる場合に、全速運転時の障害発生判定回転
数（ＮA ）を半速運転時の障害発生判定回転数（ＮA ）
より高く設定し、且つ全速運転時の障害復旧判定回転数
（ＮR ）を全速運転時の障害発生判定回転数（ＮA ）と
全速運転時の運転回転数との間に設定することが考慮さ
れる。Further, it is considered that the failure monitoring means (100) sets the failure recovery judgment rotation speed (N R ) higher than the failure occurrence judgment rotation speed (N A ). Furthermore, failure monitoring means (1
00) operates each fan device (1) at a half speed when all fan devices (1) are normal, and when one or more fan devices (1) fail, each fan device (1) ) to the case of operating at full speed, full speed failure determination speed during operation (N a) a half speed failure determination speed during operation (N a)
Set higher, and considering to be set between the operating speed during full speed operation and full-speed failure recovery determination speed during operation (N R) to full speed failure determination speed during operation (N A) To be done.
【００３６】従って、ファン使用装置は、ファン装置の
運転回転数を変更するに伴い、障害発生判定回転数も変
更する為、罹障ファン装置の検出条件が一定に保持され
ることとなり、また障害発生判定回転数と別個に、障害
発生判定回転数より高い回転数の障害復旧判定回転数を
設け、且つ障害復旧判定回転数もファン装置の運転回転
数に対応して変更する為、各ファン装置の運転状態の安
定化が可能となり、更に罹障ファン装置も含めた総ての
ファン装置の運転回転数を制御可能となる為、当該ファ
ン使用装置の経済性および小形化も向上可能となる。Therefore, the fan-using device changes the failure occurrence determination rotation speed as the operating speed of the fan device is changed, so that the detection condition of the affected fan device is held constant and the failure occurs. Since the failure recovery determination rotation speed higher than the failure generation determination rotation speed is provided separately from the occurrence determination rotation speed, and the failure recovery determination rotation speed is also changed corresponding to the operating rotation speed of the fan device, each fan device Since it is possible to stabilize the operating state and to control the operating speed of all fan devices including the affected fan device, it is possible to improve the economical efficiency and downsizing of the fan using device.
【００３７】[0037]
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面により説明す
る。図２は本発明の一実施例によるファン障害監視回路
を示す図であり、図３は図２における障害監視処理の一
例を示す図であり、図４は図２におけるファン回転数変
化過程の一例を示す図である。なお、全図を通じて同一
符号は同一対象物を示す。また図２に示される回転制御
回路（ＣＴＬ）（２）は、図６に示される通りとする。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 2 is a diagram showing a fan failure monitoring circuit according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a diagram showing an example of the failure monitoring processing in FIG. 2, and FIG. 4 is an example of a fan rotation speed changing process in FIG. FIG. The same reference numerals denote the same objects throughout the drawings. Further, the rotation control circuit (CTL) (2) shown in FIG. 2 is as shown in FIG.
【００３８】図２に示される障害監視回路は、図１にお
ける障害監視手段（１００）としてそれぞれ一組の回転
制御回路（ＣＴＬ）（２）、プロセッサ（ＭＰＵ）
（６）、メモリ（ＭＭ）（７）、走査レジスタ（ＳＣ
Ｎ）（８）、信号分配レジスタ（ＳＤＲ）（９）および
プロセッサバス（１０）から構成されており、プロセッ
サ（ＭＰＵ）（６）内には、図１における障害監視手段
（１００）として、図３に示される如き障害監視処理を
実行する障害監視部（６１）が設けられている。The fault monitoring circuit shown in FIG. 2 includes a pair of rotation control circuits (CTL) (2) and a processor (MPU) as the fault monitoring means (100) in FIG.
(6), memory (MM) (7), scan register (SC
N) (8), a signal distribution register (SDR) (9), and a processor bus (10). The processor (MPU) (6) has a fault monitoring means (100) shown in FIG. A fault monitoring unit (61) for executing the fault monitoring processing as shown in 3 is provided.
【００３９】またメモリ（ＭＭ）（７）内には、半速障
害発生判定回転数（Ｎ1 ）、全速障害発生判定回転数
（Ｎ2 ）および全速障害復旧判定回転数（Ｎ3 ）が、予
め設定されている。In the memory (MM) (7), there are stored a half-speed failure occurrence determination rotation speed (N 1 ), a full-speed failure occurrence determination rotation speed (N 2 ) and a full-speed failure recovery determination rotation speed (N 3 ). It is set in advance.
【００４０】半速障害発生判定回転数（Ｎ1 ）は、図４
に示される如く、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）が半速
回転数（ＮH ）で運転中に発生した障害を検出する為の
障害発生判定回転数（ＮA ）に相当する。The rotation speed (N 1 ) for determining the occurrence of a half-speed failure is shown in FIG.
As shown, each fan unit (FAN) (1) corresponds to half speed rotation speed (N H) failure judgment rotation speed for detecting a fault occurring during operation in the (N A).
【００４１】また全速障害発生判定回転数（Ｎ2 ）は、
図４に示される如く、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）が
全速回転数（ＮF ）で運転中に発生した障害を検出する
為の障害発生判定回転数（ＮA ）に相当する。Further, the full speed failure occurrence determination rotation speed (N 2 ) is
As shown in FIG. 4, corresponding to the fan unit (FAN) (1) is full speed speed (N F) failure judgment rotation speed for detecting a fault occurring during operation in the (N A).
【００４２】更に全速障害復旧判定回転数（Ｎ3 ）は、
図４に示される如く、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）が
全速回転数（ＮF ）で運転中に、罹障中のファン装置
（ＦＡＮ）（１）の障害復旧を検出する為の障害復旧判
定回転数（ＮR ）に相当する。Further, the full speed failure recovery determination rotation speed (N 3 ) is
As shown in FIG. 4, while each fan device (FAN) (1) is operating at full speed (N F ), a failure for detecting the failure recovery of the fan device (FAN) (1) in trouble. Corresponds to the recovery judgment rotation speed (N R ).
【００４３】なお全速障害発生判定回転数（Ｎ2 ）は、
全速障害発生判定回転数（Ｎ2 ）の全速回転数（ＮF ）
に対する比率が、半速障害発生判定回転数（Ｎ1 ）の半
速回転数（ＮH ）に対する比率と略等しくなる如く設定
し、また全速障害復旧判定回転数（Ｎ3 ）は、条件Ｎ2
＜Ｎ3 ≦ＮF を満足する如く設定する。The full speed failure occurrence determination rotation speed (N 2 ) is
Full speed failure occurrence determination rotation speed (N 2 ) full speed rotation speed (N F )
Is set to be substantially equal to the ratio of the half speed failure determination rotation speed (N 1 ) to the half speed rotation speed (N H ), and the full speed failure recovery determination rotation speed (N 3 ) is set to the condition N 2
Set so as to satisfy <N 3 ≦ N F.
【００４４】またメモリ（ＭＭ）（７）には、回転数
（ｎ1 ）乃至（ｎm ）および個別障害判定フラグ（ＦＦ
1 ）乃至（ＦＦm ）が、各ファン装置（ＦＡＮ）
（１1 ）乃至（１m ）に対応して格納されていると共
に、障害検出フラグ（ＡＬＦ）およびタイミングフラグ
（ＴＩＦ）が、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）に共通に
設けられている。In the memory (MM) (7), the rotation speeds (n 1 ) to (n m ) and the individual failure determination flag (FF) are stored.
1 ) to (FF m ) are fan devices (FAN)
The failure detection flag (ALF) and the timing flag (TIF) are stored in correspondence with (1 1 ) to (1 m ) and are commonly provided to each fan device (FAN) (1).
【００４５】なお個別障害判定フラグ（ＦＦi ）は、対
応するファン装置（ＦＡＮ）（１i）の運転正常性を示
すフラグであり、正常に運転中は論理“０”に設定さ
れ、罹障中は論理“１”に設定される。The individual failure determination flag (FF i ) is a flag that indicates the operating normality of the corresponding fan device (FAN) (1 i ) and is set to a logical “0” during normal operation to prevent the failure. Inside is set to logic "1".
【００４６】また障害検出フラグ（ＡＬＦ）は、総ての
ファン装置（ＦＡＮ）（１）の運転正常性を示すフラグ
であり、総てのファン装置（ＦＡＮ）（１）が正常に運
転中は論理“０”に設定され、一台以上のファン装置
（ＦＡＮ）（１）が罹障中は論理“１”に設定される。The fault detection flag (ALF) is a flag indicating the operation normality of all the fan devices (FAN) (1), and when all the fan devices (FAN) (1) are operating normally. It is set to logic "0" and is set to logic "1" when one or more fan units (FAN) (1) are in trouble.
【００４７】更にタイミングフラグ（ＴＩＦ）は、各フ
ァン装置（ＦＡＮ）（１）の運転回転数（ｎ）を半速回
転数（ＮH ）または全速回転数（ＮF ）に変更する場合
に、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）の回転数（ｎ）が安
定する迄のタイミング時間（ＴB ）（例えば１秒間）の
経過状態を示すフラグであり、タイミング経過中は論理
“１”に設定され、タイミング経過中では無い場合には
論理“０”に設定される。Further, the timing flag (TIF) is used when the operating speed (n) of each fan unit (FAN) (1) is changed to half speed (N H ) or full speed (N F ). rotational speeds of the fan unit (fAN) (1) (n) is a flag indicating the progress state of the timing period until stable (T B) (e.g. 1 sec), in the timing elapsed set to a logic "1" If the timing has not elapsed, it is set to logic "0".
【００４８】なお各フラグは、プロセッサ（ＭＰＵ）
（６）により設定される。図２乃至図４において、当初
ｍ台のファン装置（ＦＡＮ）（１）が総て正常に運転中
であり、プロセッサ（ＭＰＵ）（６）がメモリ（ＭＭ）
（７）内の個別障害判定フラグ（ＦＦ1 ）乃至（Ｆ
Ｆm ）、障害検出フラグ（ＡＬＦ）およびタイミングフ
ラグ（ＴＩＦ）を、総て論理“０”に設定しているもの
とする。Each flag is a processor (MPU).
It is set by (6). 2 to 4, initially, all the m fan devices (FAN) (1) are operating normally, and the processor (MPU) (6) is a memory (MM).
Individual fault determination flags (FF 1 ) to (F) in (7)
F m ), the fault detection flag (ALF) and the timing flag (TIF) are all set to logic “0”.
【００４９】かかる状態で、プロセッサ（ＭＰＵ）
（６）は、プロセッサバス（１０）を介して信号分配レ
ジスタ（ＳＤＲ）（９）に設定するＳＤ信号（ＳＤ）を
論理“０”に設定する。In this state, the processor (MPU)
(6) sets the SD signal (SD) to be set in the signal distribution register (SDR) (9) via the processor bus (10) to logic "0".
【００５０】信号分配レジスタ（ＳＤＲ）（９）は、Ｓ
Ｄ信号（ＳＤ）を論理“０”に設定されると、出力する
回転数制御信号（Ｃ）を論理“０”に設定する。回転制
御回路（ＣＴＬ）（２）（図６参照）は、信号分配レジ
スタ（ＳＤＲ）（９）から出力される回転数制御信号
（Ｃ）が論理“０”に設定されると、前述の如くトラン
ジスタ（２１）および（２２）が遮断状態に設定される
為、出力する給電電圧（Ｖ）を直流２４ボルトに設定
し、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）を半速回転数
（ＮH ）で運転させる。The signal distribution register (SDR) (9) is S
When the D signal (SD) is set to logic "0", the output rotation speed control signal (C) is set to logic "0". The rotation control circuit (CTL) (2) (see FIG. 6), as described above, when the rotation speed control signal (C) output from the signal distribution register (SDR) (9) is set to logic "0". Since the transistors (21) and (22) are set to the cutoff state, the output power supply voltage (V) is set to DC 24 V and each fan unit (FAN) (1) is set to the half speed (N H ). To drive.
【００５１】かかる状態で、プロセッサ（ＭＰＵ）
（６）は、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）から出力され
る回転数情報（ＳＮＳ）を、周期的に走査レジスタ（Ｓ
ＣＮ）（８）およびプロセッサバス（１０）を介して受
信し、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）の回転数（ｎ）を
求め、メモリ（ＭＭ）（７）に格納する。In such a state, the processor (MPU)
(6) periodically scans the rotation speed information (SNS) output from each fan device (FAN) (1) with the scan register (S).
CN) (8) and the processor bus (10), and the rotation speed (n) of each fan unit (FAN) (1) is obtained and stored in the memory (MM) (7).
【００５２】またプロセッサ（ＭＰＵ）（６）は、周期
的に障害監視部（６１）を起動する。起動された障害監
視部（６１）は、メモリ（ＭＭ）（７）内のタイミング
フラグ（ＴＩＦ）を参照し、論理“０”に設定されてい
ることを確認すると（図３ステップＳ１）、続いてメモ
リ（ＭＭ）（７）内の障害検出フラグ（ＡＬＦ）を参照
し、論理“０”に設定されていることを確認すると（ス
テップＳ２）、続いてメモリ（ＭＭ）（７）に格納され
ている回転数（ｎi ）を、同じくメモリ（ＭＭ）（７）
に格納されている半速障害発生判定回転数（Ｎ1 ）と比
較し（ステップＳ３）、回転数（ｎi ）が半速障害発生
判定回転数（Ｎ1 ）以上であることを確認すると、ファ
ン装置（ＦＡＮ）（１i ）が正常に運転中と判断し、メ
モリ（ＭＭ）（７）内の障害検出フラグ（ＡＬＦ）およ
びタイミングフラグ（ＴＩＦ）を論理“０”に設定され
た儘とし、また信号分配レジスタ（ＳＤＲ）（９）に設
定するＳＤ信号（ＳＤ）も論理“０”に設定された儘と
する。The processor (MPU) (6) periodically activates the fault monitoring unit (61). The activated fault monitoring unit (61) refers to the timing flag (TIF) in the memory (MM) (7) and confirms that it is set to logic "0" (step S1 in FIG. 3). Then, referring to the fault detection flag (ALF) in the memory (MM) (7) and confirming that it is set to logic "0" (step S2), it is stored in the memory (MM) (7). The number of rotations (n i ) that has been set is stored in the memory (MM) (7).
Half speed failure judgment rotation speed stored in the (N 1) compared to (step S3), and the rotational speed (n i) to confirm that this is half speed failure judgment rotation speed (N 1) above, It is determined that the fan device (FAN) (1 i ) is operating normally, and the failure detection flag (ALF) and the timing flag (TIF) in the memory (MM) (7) are set to the logic “0”. The SD signal (SD) set in the signal distribution register (SDR) (9) is also set to logic "0".
【００５３】かかる状態で、任意のファン装置（ＦＡ
Ｎ）〔例えばファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）〕に障害が
発生し、回転数（ｎ1 ）が半速障害発生判定回転数（Ｎ
1 ）より低下したとすると、周期的に起動される障害監
視部（６１）は、ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）の回転
数（ｎ1 ）を半速障害発生判定回転数（Ｎ1 ）と比較し
た結果（ステップＳ３）、回転数（ｎ1 ）が半速障害発
生判定回転数（Ｎ1 ）より低下していることを検出する
と、信号分配レジスタ（ＳＤＲ）（９）に設定するＳＤ
信号（ＳＤ）を論理“１”に設定すると共に、メモリ
（ＭＭ）（７）内に設定される障害検出フラグ（ＡＬ
Ｆ）およびタイミングフラグ（ＴＩＦ）をそれぞれ論理
“１”に設定した後（ステップＳ４）、ファン装置（Ｆ
ＡＮ）（１1 ）に対応する個別障害判定フラグ（Ｆ
Ｆ1 ）を論理“１”に設定する（ステップＳ５）。In such a state, an arbitrary fan device (FA
N) [for example, a fan device (FAN) (1 1 )] has a failure, and the rotation speed (n 1 ) is a half-speed failure occurrence determination rotation speed (N
When dropped from 1), the failure monitoring unit which is activated periodically (61), the fan device (FAN) (1 1 Rotation speed of) (n 1) of the half speed failure judgment rotation speed (N 1) As a result of comparison with (step S3), when it is detected that the rotation speed (n 1 ) is lower than the half speed failure occurrence determination rotation speed (N 1 ), SD set in the signal distribution register (SDR) (9) is detected.
The signal (SD) is set to logic "1" and the fault detection flag (AL) set in the memory (MM) (7) is set.
F) and the timing flag (TIF) are set to logic "1" (step S4), and then the fan device (F
AN) individual fault determination flag (F) corresponding to (1 1 )
F 1 ) is set to logic "1" (step S5).
【００５４】信号分配レジスタ（ＳＤＲ）（９）は、Ｓ
Ｄ信号（ＳＤ）を論理“１”に設定されると、出力する
回転数制御信号（Ｃ）を論理“１”に設定する。回転制
御回路（ＣＴＬ）（２）は、信号分配レジスタ（ＳＤ
Ｒ）（９）から出力される回転数制御信号（Ｃ）が論理
“１”に設定されると、前述の如くトランジスタ（２
１）および（２２）が導通状態に設定される為、出力す
る給電電圧（Ｖ）を電源電圧（ＶO ）（直流４８ボル
ト）と等電圧に設定し、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）
を半速回転数（ＮH ）の倍速の全速回転数（ＮF ）で運
転させる。The signal distribution register (SDR) (9) is S
When the D signal (SD) is set to logic "1", the output rotation speed control signal (C) is set to logic "1". The rotation control circuit (CTL) (2) includes a signal distribution register (SD
When the rotation speed control signal (C) output from R) (9) is set to logic "1", the transistor (2
Since 1) and (22) are set to the conductive state, the output power supply voltage (V) is set to the same voltage as the power supply voltage ( VO ) (DC 48 V), and each fan device (FAN) (1)
Is operated at a full speed (N F ) which is a double speed of the half speed (N H ).
【００５５】なお罹障ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）の
回転数（ｎ1 ）も二倍に上昇するが、上昇後の回転数
（ｎ1 ）と全速回転数（ＮF ）との比率は、上昇前の回
転数（ｎ1 ）と半速回転数（ＮH ）との比率に略等しく
なる。The rotation speed (n 1 ) of the affected fan device (FAN) (1 1 ) also doubles, but the ratio between the rotation speed (n 1 ) after the increase and the full speed rotation speed (N F ). Becomes approximately equal to the ratio of the rotation speed (n 1 ) before rising and the half speed rotation speed (N H ).
【００５６】なおプロセッサ（ＭＰＵ）（６）は、前述
と同様に、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）から出力され
る回転数情報（ＳＮＳ）を、周期的に走査レジスタ（Ｓ
ＣＮ）（８）およびプロセッサバス（１０）を介して受
信し、各ファン装置（ＦＡＮ）（１）の回転数（ｎ）を
求め、メモリ（ＭＭ）（７）に格納すると共に、周期的
に障害監視部（６１）を起動する。The processor (MPU) (6) periodically outputs the rotation speed information (SNS) output from each fan unit (FAN) (1) to the scan register (S), as described above.
CN) (8) and the processor bus (10), and obtains the rotation speed (n) of each fan unit (FAN) (1), stores it in the memory (MM) (7), and periodically. The failure monitoring unit (61) is activated.
【００５７】起動された障害監視部（６１）は、前述と
同様に、メモリ（ＭＭ）（７）内のタイミングフラグ
（ＴＩＦ）を参照し、論理“１”に設定されていること
を認識すると（ステップＳ１）、各ファン装置（ＦＡ
Ｎ）（１）の回転数（ｎ1 ）乃至（ｎm ）が全速回転数
（ＮF ）に安定する迄のタイミング時間（ＴB ）（例え
ば１秒間）の計時処理を実行し（ステップＳ１１）、タ
イミング時間（ＴB ）が経過すると（ステップＳ１
２）、タイミングフラグ（ＴＩＦ）を論理“０”に設定
する（ステップＳ１３）。The activated fault monitoring section (61) refers to the timing flag (TIF) in the memory (MM) (7) and recognizes that the logic "1" is set, as described above. (Step S1), each fan device (FA
N) The timing process (T B ) (for example, 1 second) until the rotation speeds (n 1 ) to (n m ) of ( 1 ) stabilize at the full speed rotation speed (N F ) is executed (step S11). ), when the timing period (T B) has elapsed (step S1
2) The timing flag (TIF) is set to logic "0" (step S13).
【００５８】以後も障害監視部（６１）は、周期起動さ
れる度にメモリ（ＭＭ）（７）内のタイミングフラグ
（ＴＩＦ）を参照し、論理“０”に設定されていること
を確認すると（ステップＳ１）、続いてメモリ（ＭＭ）
（７）内の障害検出フラグ（ＡＬＦ）を参照し、論理
“１”に設定されていることを確認すると（ステップＳ
２）、続いてメモリ（ＭＭ）（７）に格納されている個
別障害判定フラグ（ＦＦi）を順次参照する（ステップ
Ｓ２１）。After that, the fault monitoring unit (61) refers to the timing flag (TIF) in the memory (MM) (7) every time it is periodically activated, and confirms that the logic flag is set to "0". (Step S1), then memory (MM)
If the fault detection flag (ALF) in (7) is referred to and it is confirmed that it is set to logic "1" (step S
2) Then, the individual failure determination flags (FF i ) stored in the memory (MM) (7) are sequentially referenced (step S21).
【００５９】ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）に対応する
個別障害判定フラグ（ＦＦ1 ）は論理“１”に設定され
ている為、障害監視部（６１）は該当する回転数
（ｎ1 ）を、メモリ（ＭＭ）（７）に格納されている全
速障害復旧判定回転数（Ｎ3 ）と比較し（ステップＳ３
１）、回転数（ｎ1 ）が全速障害復旧判定回転数
（Ｎ3 ）以下であることを確認すると、ファン装置（Ｆ
ＡＮ）（１1 ）が未だ障害を復旧されていないと判断
し、メモリ（ＭＭ）（７）内のファン装置（ＦＡＮ）
（１1 ）に対応する個別障害判定フラグ（ＦＦ1 ）およ
び障害検出フラグ（ＡＬＦ）を論理“１”に設定された
儘とし、またタイミングフラグ（ＴＩＦ）を論理“０”
に設定された儘とし、また信号分配レジスタ（ＳＤＲ）
（９）に設定するＳＤ信号（ＳＤ）も論理“１”に設定
された儘とする。Since the individual failure determination flag (FF 1 ) corresponding to the fan device (FAN) (1 1 ) is set to logic “1”, the failure monitoring unit (61) has the corresponding rotation speed (n 1 ). Is compared with the full speed failure recovery determination rotation speed (N 3 ) stored in the memory (MM) (7) (step S3
1), if it is confirmed that the rotation speed (n 1 ) is less than or equal to the full speed failure recovery determination rotation speed (N 3 ), the fan device (F
AN) (1 1) determines that has not yet been restored the fault memory (MM) (7) fan unit in (FAN)
The individual failure determination flag (FF 1 ) and the failure detection flag (ALF) corresponding to (1 1 ) are set to logic “1”, and the timing flag (TIF) is logic “0”.
And the signal distribution register (SDR)
The SD signal (SD) set in (9) is also set to the logic "1".
【００６０】またファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）以外の
ファン装置（ＦＡＮ）（１j ）〔但しｊは２乃至ｍの何
れか〕に対応する個別障害判定フラグ（ＦＦj ）は論理
“０”に設定されている為、障害監視部（６１）は該当
する回転数（ｎj ）を、メモリ（ＭＭ）（７）に格納さ
れている全速障害発生判定回転数（Ｎ2 ）と比較し（ス
テップＳ２２）、回転数（ｎj ）が全速障害発生判定回
転数（Ｎ2 ）以上であることを確認すると、ファン装置
（ＦＡＮ）（１j ）が正常に運転中と判断し、メモリ
（ＭＭ）（７）内のファン装置（ＦＡＮ）（１j ）に対
応する個別障害判定フラグ（ＦＦj ）を論理“０”に設
定された儘とする。[0060] The fan unit (FAN) (1 1) except the fan unit (FAN) (1 j) [where j is any one of 2 to m] individual fault determination flags corresponding to (FF j) is a logic "0 Since it is set to “”, the failure monitoring unit (61) compares the corresponding rotation speed (n j ) with the full speed failure occurrence determination rotation speed (N 2 ) stored in the memory (MM) (7). (Step S22), if it is confirmed that the rotation speed (n j ) is equal to or higher than the full speed failure occurrence determination rotation speed (N 2 ), it is determined that the fan device (FAN) (1 j ) is operating normally, and the memory ( The individual failure determination flag (FF j ) corresponding to the fan device (FAN) (1 j ) in the MM) (7) is set to the logic “0”.
【００６１】かかる状態で、更にファン装置（ＦＡＮ）
（１1 ）以外の任意のファン装置（ＦＡＮ）〔例えばフ
ァン装置（ＦＡＮ）（１2 ）〕に障害が発生し、回転数
（ｎ 2 ）が全速障害発生判定回転数（Ｎ2 ）より低下し
たとすると、周期的に起動される障害監視部（６１）
は、ファン装置（ＦＡＮ）（１2 ）の回転数（ｎ2 ）を
全速障害発生判定回転数（Ｎ2 ）と比較した結果（ステ
ップＳ２２）、回転数（ｎ2 ）が全速障害発生判定回転
数（Ｎ2 ）より低下していることを検出すると、ファン
装置（ＦＡＮ）（１2 ）に対応する個別障害判定フラグ
（ＦＦ2 ）を論理“１”に設定する（ステップＳ２
３）。In such a state, a fan device (FAN) is further added.
(11Any fan device (FAN) other than
Fan device (FAN) (12)] Has failed and the number of revolutions
(N 2) Is the full speed failure determination rotation speed (N2) Lower than
If so, the fault monitoring unit (61) that is periodically activated.
Is a fan device (FAN) (12) Rotation speed (n2)
Full speed obstacle occurrence determination rotation speed (N2) Compared to
Up S22), rotation speed (n2) Is full speed failure judgment rotation
Number (N2) When it detects that the
Device (FAN) (12) Individual fault judgment flag corresponding to
(FF2) Is set to logic "1" (step S2)
3).
【００６２】以後も障害監視部（６１）は、周期起動さ
れる度にメモリ（ＭＭ）（７）内のタイミングフラグ
（ＴＩＦ）を参照し、論理“０”に設定されていること
を確認すると（ステップＳ１）、続いてメモリ（ＭＭ）
（７）内の障害検出フラグ（ＡＬＦ）を参照し、論理
“１”に設定されていることを確認すると（ステップＳ
２）、続いてメモリ（ＭＭ）（７）に格納されている個
別障害判定フラグ（ＦＦi）を順次参照する（ステップ
Ｓ２１）。After that, the fault monitoring unit (61) refers to the timing flag (TIF) in the memory (MM) (7) every time it is periodically activated, and confirms that it is set to logic "0". (Step S1), then memory (MM)
If the fault detection flag (ALF) in (7) is referred to and it is confirmed that it is set to logic "1" (step S
2) Then, the individual failure determination flags (FF i ) stored in the memory (MM) (7) are sequentially referenced (step S21).
【００６３】ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）および（１
2 ）に対応する個別障害判定フラグ（ＦＦ1 ）および
（ＦＦ2 ）は論理“１”に設定されている為、障害監視
部（６１）は該当する回転数（ｎ1 ）および（ｎ2 ）
を、全速障害復旧判定回転数（Ｎ 3 ）と順次比較し（ス
テップＳ３１）、回転数（ｎ1 ）および（ｎ2 ）が全速
障害復旧判定回転数（Ｎ3 ）以下であることを確認する
と、ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）および（１2 ）が未
だ障害を復旧されていないと判断し、メモリ（ＭＭ）
（７）内のファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）および
（１2 ）に対応する個別障害判定フラグ（ＦＦ1 ）およ
び（ＦＦ2 ）、並びに障害検出フラグ（ＡＬＦ）を論理
“１”に設定された儘とし、またタイミングフラグ（Ｔ
ＩＦ）を論理“０”に設定された儘とし、また信号分配
レジスタ（ＳＤＲ）（９）に設定するＳＤ信号（ＳＤ）
も論理“１”に設定された儘とする。Fan device (FAN) (11) And (1
2) Individual failure determination flag (FF1)and
(FF2) Is set to logic "1", so failure monitoring
Part (61) is the corresponding number of revolutions (n1) And (n2)
To the full speed failure recovery determination rotation speed (N 3) Sequentially compared to (
Step S31), rotation speed (n1) And (n2) Is full speed
Failure recovery judgment rotation speed (N3) Make sure that
And a fan device (FAN) (11) And (12) Is not
Memory (MM)
Fan device (FAN) in (7) (11)and
(12) Individual failure determination flag (FF1) And
(FF2), And the failure detection flag (ALF)
The timing flag (T
IF) is set to a logic "0" and signal distribution
SD signal (SD) set in register (SDR) (9)
Is also set to logic "1".
【００６４】やがて罹障ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）
および（１2 ）が、例えば新品と交換され、回転数（ｎ
1 ）および（ｎ2 ）が全速回転数（ＮF ）に復帰したと
すると、周期的に起動される障害監視部（６１）は、フ
ァン装置（ＦＡＮ）（１1 ）および（１2 ）の回転数
（ｎ1 ）および（ｎ2 ）を、全速障害復旧判定回転数
（Ｎ3 ）と順次比較した結果（ステップＳ３１）、回転
数（ｎ1 ）および（ｎ2 ）がそれぞれ全速障害復旧判定
回転数（Ｎ3 ）以上に上昇していることを検出すると、
ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）および（１2 ）に対応す
る個別障害判定フラグ（ＦＦ1 ）および（ＦＦ2 ）を順
次論理“０”に設定し（ステップＳ３２）、更に総ての
ファン装置（ＦＡＮ）（１1 ）乃至（１m ）に対応する
個別障害判定フラグ（ＦＦ1 ）乃至（ＦＦm ）が総て論
理“０”に設定されていることを確認すると（ステップ
Ｓ３３）、信号分配レジスタ（ＳＤＲ）（９）に設定す
るＳＤ信号（ＳＤ）を論理“１”から論理“０”に設定
変更すると共に、メモリ（ＭＭ）（７）内の障害検出フ
ラグ（ＡＬＦ）を論理“１”から論理“０”に設定変更
し、更にメモリ（ＭＭ）（７）内のタイミングフラグ
（ＴＩＦ）を論理“０”から論理“１”に設定変更する
（ステップＳ３４）。Eventually, the fan device (FAN) for disability (1 1 )
And (1 2 ) are replaced with new ones, and the rotation speed (n
1 ) and (n 2 ) are returned to the full speed rotation speed (N F ), the fault monitoring unit (61) which is periodically activated, the fan device (FAN) (1 1 ) and (1 2 ) The rotation speeds (n 1 ) and (n 2 ) are sequentially compared with the full speed failure recovery determination rotation speed (N 3 ) (step S31), and the rotation speeds (n 1 ) and (n 2 ) are respectively determined as the full speed failure recovery determination. When it is detected that the number of revolutions (N 3 ) or more is rising,
Fan unit (FAN) (1 1) and corresponding individual failure judgment flag to (1 2) (FF 1) and (FF 2) is set to sequential logic "0" (step S32), further all fan device When it is confirmed that all the individual fault determination flags (FF 1 ) to (FF m ) corresponding to (FAN) (1 1 ) to (1 m ) are set to logic “0” (step S33), the signal The SD signal (SD) set in the distribution register (SDR) (9) is changed from the logical "1" to the logical "0", and the failure detection flag (ALF) in the memory (MM) (7) is set to the logical "0". The setting is changed from 1 "to logical" 0 ", and the timing flag (TIF) in the memory (MM) (7) is changed from logical" 0 "to logical" 1 "(step S34).
【００６５】信号分配レジスタ（ＳＤＲ）（９）は、Ｓ
Ｄ信号（ＳＤ）を論理“０”に設定されると、出力する
回転数制御信号（Ｃ）を論理“０”に設定する。回転制
御回路（ＣＴＬ）（２）は、信号分配レジスタ（ＳＤ
Ｒ）（９）から出力される回転数制御信号（Ｃ）が論理
“０”に設定されると、前述の如くトランジスタ（２
１）および（２２）が遮断状態に設定される為、出力す
る給電電圧（Ｖ）を直流２４ボルトに設定し、各ファン
装置（ＦＡＮ）（１）を半速回転数（ＮH ）で運転させ
る。The signal distribution register (SDR) (9) is S
When the D signal (SD) is set to logic "0", the output rotation speed control signal (C) is set to logic "0". The rotation control circuit (CTL) (2) includes a signal distribution register (SD
When the rotation speed control signal (C) output from R) (9) is set to logic "0", the transistor (2
Since 1) and (22) are set to the cutoff state, the output power supply voltage (V) is set to DC 24 V and each fan unit (FAN) (1) is operated at half speed (N H ). Let
【００６６】一方周期起動される障害監視部（６１）
は、前述と同様に、メモリ（ＭＭ）（７）内のタイミン
グフラグ（ＴＩＦ）を参照し、論理“１”に設定されて
いることを認識すると（ステップＳ１）、各ファン装置
（ＦＡＮ）（１）の回転数（ｎ 1 ）乃至（ｎm ）が半速
回転数（ＮH ）に安定する迄のタイミング時間（ＴB ）
（前例では１秒間）の計時処理を実行し（ステップＳ１
１）、タイミング時間（ＴB ）が経過すると（ステップ
Ｓ１２）、タイミングフラグ（ＴＩＦ）を論理“０”に
設定する（ステップＳ１３）。On the other hand, a fault monitoring unit (61) which is activated periodically
Is the same as that described above in the memory (MM) (7).
Is set to logic "1" by referring to the flag flag (TIF).
When the fan devices are recognized (step S1),
(FAN) (1) rotation speed (n 1) To (nm) Is half speed
Number of rotations (NH) Timing timing (TB)
The timekeeping process (for 1 second in the previous example) is executed (step S1).
1), timing time (TB) Has passed (step
S12), the timing flag (TIF) is set to logic "0"
It is set (step S13).
【００６７】以上の説明から明らかな如く、本実施例に
よれば、総てのファン装置（ＦＡＮ）（１）が正常に運
転中は各ファン装置（ＦＡＮ）（１）の給電電圧（Ｖ）
を例えば直流２４ボルトに設定して半速運転させ、任意
の一台以上のファン装置（ＦＡＮ）（１i ）に障害が発
生すると、罹障ファン装置（ＦＡＮ）（１i ）を含む総
てのファン装置（ＦＡＮ）（１）の給電電圧（Ｖ）を例
えば直流４８ボルトに設定して全速運転させ、その代わ
りに半速障害発生判定回転数（Ｎ1 ）、全速障害発生判
定回転数（Ｎ2 ）および全速障害復旧判定回転数
（Ｎ3 ）をそれぞれ半速回転数（ＮH ）および全速回転
数（ＮF ）に対応して設定する為、回転制御回路（ＣＴ
Ｌ）（２）を全ファン装置（ＦＡＮ）（１）に共用可能
となり、障害監視回路の経済化および小形化が促進さ
れ、また全速障害復旧判定回転数（Ｎ3 ）を全速障害発
生判定回転数（Ｎ2 ）と別に、全速障害発生判定回転数
（Ｎ2 ）より大きい値に設定した為、罹障ファン装置
（ＦＡＮ）（１i ）の回転数（ｎi ）が不安定に変動し
ても、ファン装置（ＦＡＮ）（１）の運転状態が不安定
となることが防止される。As is clear from the above description, according to this embodiment, the power supply voltage (V) of each fan unit (FAN) (1) is normally operating while all the fan units (FAN) (1) are operating normally.
The example is set to DC 24 volts is operated half speed, all containing a failure occurs at any one or more units of the fan unit (FAN) (1 i), Kakasawa fan device (FAN) (1 i) The fan device (FAN) (1) is set at a power supply voltage (V) of, for example, 48 VDC to operate at full speed, and instead, a half-speed failure occurrence determination rotation speed (N 1 ) and a full-speed failure occurrence determination rotation speed ( N 2 ) and full speed failure recovery determination rotation speed (N 3 ) are set corresponding to the half speed rotation speed (N H ) and the full speed rotation speed (N F ), respectively.
L) (2) can be shared by all fan units (FAN) (1), which promotes economic and miniaturization of the fault monitoring circuit, and full speed fault recovery determination rotation speed (N 3 ) is determined as full speed fault occurrence determination rotation number (n 2) separately, full speed failure judgment rotation speed (n 2) for the set to a larger value, Kakasawa fan unit (fAN) rotational speed of the (1 i) (n i) is varied unstably Even if the fan device (FAN) (1) is in an inoperable state, it is prevented.
【００６８】なお、図２乃至図４はあく迄本発明の一実
施例に過ぎず、例えば障害監視手段（１００）の構成は
図示される障害監視回路に限定されることは無く、他に
幾多の変形が考慮されるが、何れの場合にも本発明の効
果は変わらない。またファン装置の障害発生台数と運転
回転数との関係は、全ファン装置が正常時に半速回転
で、一台以上が罹障時に全速回転の二段階に限定される
ことは無く、他に幾多の変形が考慮されるが、何れの場
合にも本発明の効果は変わらない。It is to be noted that FIGS. 2 to 4 are merely embodiments of the present invention, and the configuration of the fault monitoring means (100) is not limited to the fault monitoring circuit shown in the figure, and many other configurations are possible. However, the effect of the present invention does not change in any case. The relationship between the number of fan device failures and the number of operating revolutions is not limited to two stages: half-speed rotation when all fan devices are normal, and full-speed rotation when one or more fan devices are damaged. However, the effect of the present invention does not change in any case.
【００６９】[0069]
【発明の効果】以上、本発明によれば、前記ファン使用
装置において、ファン装置の運転回転数を変更するに伴
い、障害発生判定回転数も変更する為、罹障ファン装置
の検出条件が一定に保持されることとなり、また障害発
生判定回転数と別個に、障害発生判定回転数より高い回
転数の障害復旧判定回転数を設け、且つ障害復旧判定回
転数もファン装置の運転回転数に対応して変更する為、
各ファン装置の運転状態の安定化が可能となり、更に罹
障ファン装置も含めた総てのファン装置の運転回転数を
制御可能となる為、当該ファン使用装置の経済性および
小形化も向上可能となる。As described above, according to the present invention, in the fan-using device, the failure occurrence determination rotation speed is also changed as the operating rotation speed of the fan device is changed, so that the detection condition of the affected fan device is constant. In addition to the failure occurrence determination rotation speed, a failure recovery determination rotation speed that is higher than the failure occurrence determination rotation speed is provided, and the failure recovery determination rotation speed also corresponds to the operating rotation speed of the fan device. To change,
It is possible to stabilize the operating condition of each fan device and to control the operating speed of all fan devices including the affected fan device, so the economy and downsizing of the fan device can be improved. Becomes
【図１】 本発明の原理を示す図FIG. 1 is a diagram showing the principle of the present invention.
【図２】 本発明の一実施例によるファン障害監視回路
を示す図FIG. 2 is a diagram showing a fan failure monitoring circuit according to an embodiment of the present invention.
【図３】 図２における障害監視処理の一例を示す図FIG. 3 is a diagram showing an example of a fault monitoring process in FIG.
【図４】 図２におけるファン回転数変化過程の一例を
示す図FIG. 4 is a diagram showing an example of a process of changing the fan rotation speed in FIG.
【図５】 従来あるファン障害監視回路の一例を示す図FIG. 5 is a diagram showing an example of a conventional fan failure monitoring circuit.
【図６】 図５における回転制御回路の一例を示す図6 is a diagram showing an example of a rotation control circuit in FIG.
【図７】 図５におけるファン回転数変化過程の一例を
示す図FIG. 7 is a diagram showing an example of a fan rotation speed changing process in FIG.
１ ファン装置（ＦＡＮ） ２ 回転制御回路（ＣＴＬ） ３ 回転数監視回路（ＳＰ） ４、５ ゲート ６ プロセッサ（ＭＰＵ） ７ メモリ（ＭＭ） ８ 走査レジスタ（ＳＣＮ） ９ 信号分配レジスタ（ＳＤＲ） １０ プロセッサバス ２１、２２ トランジスタ ２３、２４ ダイオード ２５、２６、２７、２８ 抵抗 ６１ 障害監視部 １００ 障害監視手段 1 Fan Device (FAN) 2 Rotation Control Circuit (CTL) 3 Rotation Speed Monitoring Circuit (SP) 4, 5 Gate 6 Processor (MPU) 7 Memory (MM) 8 Scan Register (SCN) 9 Signal Distribution Register (SDR) 10 Processor Bus 21, 22 Transistor 23, 24 Diode 25, 26, 27, 28 Resistance 61 Fault monitoring unit 100 Fault monitoring means
Claims (4)
各ファン装置（１）の回転数の低下を監視することによ
り、前記各ファン装置（１）に発生する障害を検出し、
罹障ファン装置（１）の台数の増加に応じて前記各ファ
ン装置（１）の運転回転数を切替えるファン使用装置に
おいて、 前記各ファン装置（１）に障害が発生したと判定する障
害発生判定回転数（Ｎ A ）を、前記各ファン装置（１）
の運転回転数に対応して変更する障害監視手段（１０
０）を設けることを特徴とするファン障害検出方式。1. A plurality of fan devices (1) are mounted,
By monitoring the decrease in the rotation speed of each fan device (1)
To detect a failure occurring in each fan device (1),
As the number of disability fan devices (1) increases, each fan
For the fan using device that switches the operating speed of the fan device (1)
At this point, it is determined that a failure has occurred in each fan device (1).
Harm occurrence judgment rotation speed (N A) Each of the fan devices (1)
Fault monitoring means (10
0) is provided to detect a fan failure.
の前記各ファン装置（１）が復旧したと判定する障害復
旧判定回転数（ＮR ）を、前記各ファン装置（１）の運
転回転数に対応して変更することを特徴とする請求項１
記載のファン障害検出方式。2. The failure monitoring means (100) determines a failure recovery determination rotation speed (N R ) of each fan apparatus (1) for determining that the fan apparatus (1) in failure is recovered. The change is made according to the operating speed.
Fan failure detection method described.
害復旧判定回転数（ＮR ）を前記障害発生判定回転数
（ＮA ）より高く設定することを特徴とする請求項１記
載のファン障害検出方式。3. The fan according to claim 1, wherein the failure monitoring means (100) sets the failure recovery determination rotation speed (N R ) higher than the failure occurrence determination rotation speed (N A ). Failure detection method.
前記ファン装置（１）が正常時に前記各ファン装置
（１）を半速で運転し、一台以上の前記ファン装置
（１）に障害が発生した場合に前記各ファン装置（１）
を全速で運転させる場合に、前記全速運転時の障害発生
判定回転数（ＮA ）を前記半速運転時の障害発生判定回
転数（ＮA ）より高く設定し、且つ前記全速運転時の障
害復旧判定回転数（ＮR ）を前記全速運転時の障害発生
判定回転数（ＮA ）と前記全速運転時の運転回転数との
間に設定することを特徴とする請求項１記載のファン障
害検出方式。4. The fault monitoring means (100) operates one or more of the fan devices (1) at a half speed when all the fan devices (1) are normal, and one or more of the fan devices (1). Each fan device (1) in case of failure
To the case of operating at full speed, the set higher than the full rate failure judgment rotation speed during operation (N A) said half-speed failure determination speed during driving (N A), and the failure during full speed operation recovery judgment rotation speed (N R) of the full speed failure determination speed during operation (N a) and said fan failure according to claim 1, characterized in that set between the driving speed during full speed operation Detection method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30745492A JPH06160414A (en) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | Fan fault detecting system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30745492A JPH06160414A (en) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | Fan fault detecting system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06160414A true JPH06160414A (en) | 1994-06-07 |
Family
ID=17969261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30745492A Withdrawn JPH06160414A (en) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | Fan fault detecting system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06160414A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7643376B2 (en) | 2007-11-27 | 2010-01-05 | Denso Corporation | Direction detecting device and direction detecting system |
| CN114814265A (en) * | 2022-05-06 | 2022-07-29 | 阮翔 | Non-contact real-time detection method for fan in high-frequency interference environment |
-
1992
- 1992-11-18 JP JP30745492A patent/JPH06160414A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7643376B2 (en) | 2007-11-27 | 2010-01-05 | Denso Corporation | Direction detecting device and direction detecting system |
| CN114814265A (en) * | 2022-05-06 | 2022-07-29 | 阮翔 | Non-contact real-time detection method for fan in high-frequency interference environment |
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