JPH06158303A - Target for sputtering and its produciton - Google Patents

Target for sputtering and its produciton

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JPH06158303A
JPH06158303A JP31246392A JP31246392A JPH06158303A JP H06158303 A JPH06158303 A JP H06158303A JP 31246392 A JP31246392 A JP 31246392A JP 31246392 A JP31246392 A JP 31246392A JP H06158303 A JPH06158303 A JP H06158303A
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JP
Japan
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silicon
powder
target
aluminum alloy
aluminum
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JP31246392A
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Japanese (ja)
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Munetaka Mashima
宗位 真嶋
Shuji Miki
修司 三木
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Mitsubishi Materials Corp
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Mitsubishi Materials Corp
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Abstract

PURPOSE:To form a high density Si-Al alloy layer capable of prolonging the service life of a target at considerably increased density with enhanced efficiency of utilization of materials. CONSTITUTION:An Si-Al alloy layer 3 is formed on the peripheral surface 2a of a columnar substrate 2 by thermally spraying a mixture of Si powder with Si-Al alloy powder consisting of 5-70wt.% Al and the balance Si to produce the objective target 1 for sputtering.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、基体の外周面に溶射
法によりターゲット素材を接合してなるスパッタリング
用ターゲット及びその製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sputtering target in which a target material is bonded to an outer peripheral surface of a substrate by a thermal spraying method, and a manufacturing method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、スパッタリング用ターゲット(以
下、単にターゲットと略称する)としては円板状もしく
は角板状のプレーナ型のターゲットが広く使用されてい
る。しかし、ガラスやミラー等の大面積基板にスパッタ
リングを行う場合、前記プレーナ型ターゲットでは材料
の使用効率が30〜40%程度と非常に低く、また連続
スパッタリングや長尺物のスパッタリングができない等
の欠点もあるために、最近では円筒状のターゲットが用
いられつつある。とりわけ、ケイ素の円筒ターゲットを
用いた反応性スパッタリングによる酸化ケイ素膜は、基
板表面の保護膜として多用されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a sputtering target (hereinafter, simply referred to as a target), a disk-shaped or rectangular plate-shaped planar type target has been widely used. However, in the case of performing sputtering on a large area substrate such as glass or a mirror, the planar type target has a very low material usage efficiency of about 30 to 40%, and it is not possible to perform continuous sputtering or sputtering of long objects. Therefore, a cylindrical target is being used recently. In particular, a silicon oxide film formed by reactive sputtering using a cylindrical target of silicon is often used as a protective film on the surface of a substrate.

【0003】このケイ素の円筒ターゲットは、直流スパ
ッタリングを可能にするために、純粋なケイ素粉または
不純物として微量のホウ素を添加したp型ケイ素粉に比
抵抗の小さなアルミニウム粉を数重量%程度混ぜて混合
物とし、この混合物を不活性ガス雰囲気中もしくは大気
中において発生したプラズマを用いて溶融し、ステンレ
ス製のバッキングチューブ(基体)の外周面に溶射し、
ケイ素・アルミニウム合金層を有する円筒ターゲットと
する。ここでは、アルミニウム粉は、ケイ素・アルミニ
ウム合金の比抵抗を低下させるとともにケイ素粉同士を
接合するバインダーとしての働きも担っている。
This silicon cylindrical target is obtained by mixing pure silicon powder or p-type silicon powder added with a slight amount of boron as an impurity with aluminum powder having a small specific resistance to several percent by weight in order to enable direct current sputtering. As a mixture, this mixture is melted by using plasma generated in an inert gas atmosphere or in the atmosphere, and sprayed on the outer peripheral surface of a stainless backing tube (base),
A cylindrical target having a silicon-aluminum alloy layer. Here, the aluminum powder not only lowers the specific resistance of the silicon-aluminum alloy but also functions as a binder for joining the silicon powders.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したタ
ーゲットでは、前記アルミニウム粉の表面には通常酸化
アルミニウム膜が形成されているために、溶射時におい
て該アルミニウム粉が溶融しても酸化アルミニウム膜は
溶融せずにそのまま不動態膜として残ってしまい、この
不動態膜によりアルミニウム粉とケイ素粉の密着性が低
下するという欠点があった。この欠点のために、前記バ
ッキングチューブの外周面に溶射されたケイ素・アルミ
ニウム合金層の密度は約50〜60%と低く、したがっ
て、材料の使用効率及びターゲットの寿命が低下すると
いう欠点があった。
By the way, in the above-mentioned target, since an aluminum oxide film is usually formed on the surface of the aluminum powder, even if the aluminum powder is melted during thermal spraying, the aluminum oxide film is not formed. There is a drawback in that it is not melted and remains as it is as a passivation film, and the adhesion between the aluminum powder and the silicon powder is reduced by this passivation film. Due to this defect, the density of the silicon-aluminum alloy layer sprayed on the outer peripheral surface of the backing tube is as low as about 50 to 60%, so that there is a drawback that the use efficiency of the material and the life of the target are reduced. .

【0005】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
のであって、ケイ素・アルミニウム合金層内に不動態膜
となる酸化アルミニウムが存在せず、該合金層の密度が
向上し、したがって、材料の使用効率及びターゲットの
寿命を向上させることができるスパッタリング用ターゲ
ット及びその製造方法を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and aluminum oxide serving as a passivation film does not exist in the silicon-aluminum alloy layer, and the density of the alloy layer is improved, and therefore, It is an object of the present invention to provide a sputtering target and a method for manufacturing the same, which can improve the use efficiency of materials and the life of the target.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は次の様なスパッタリング用ターゲット及び
その製造方法を採用した。すなわち、請求項1記載のス
パッタリング用ターゲットは、柱状の基体の外周面に、
ケイ素粉とケイ素・アルミニウム合金粉との混合物を溶
射してなるケイ素・アルミニウム合金層を設けたことを
特徴としている。
In order to solve the above problems, the present invention employs the following sputtering target and its manufacturing method. That is, in the sputtering target according to claim 1, the outer peripheral surface of the columnar substrate is
It is characterized in that a silicon-aluminum alloy layer formed by spraying a mixture of silicon powder and silicon-aluminum alloy powder is provided.

【0007】また、請求項2記載のスパッタリング用タ
ーゲットは、請求項1記載のスパッタリング用ターゲッ
トにおいて、前記ケイ素・アルミニウム合金粉は、アル
ミニウムを5〜70重量%含有し、残部がケイ素からな
ることを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a sputtering target according to the first aspect, wherein the silicon-aluminum alloy powder contains aluminum in an amount of 5 to 70% by weight with the balance being silicon. It has a feature.

【0008】また、請求項3記載のスパッタリング用タ
ーゲットの製造方法は、柱状の基体の外周面に、ケイ素
粉とケイ素・アルミニウム合金粉との混合物を溶射する
ことを特徴としている。
The method for manufacturing a sputtering target according to a third aspect is characterized in that a mixture of silicon powder and silicon-aluminum alloy powder is sprayed on the outer peripheral surface of a columnar substrate.

【0009】ここで、ケイ素粉とケイ素・アルミニウム
合金粉との混合物を用いた理由は、化学的に活性である
アルミニウムを化学的に安定なケイ素・アルミニウム合
金とすることにより、該アルミニウムが酸化し難くな
り、したがって、不動態膜である酸化アルミニウムが発
生し難くなるからである。このケイ素・アルミニウム合
金粉は、アルミニウムを5〜70重量%含むケイ素・ア
ルミニウム合金とすることが望ましい。なぜなら、アル
ミニウムの含有量が5重量%未満では溶解困難となり均
一な合金相が得られないからであり、また、アルミニウ
ムの含有量が70重量%を越えるとケイ素・アルミニウ
ム合金粉の表面に酸化アルミニウムを主成分とする不動
態膜が発生し、ケイ素粉とケイ素・アルミニウム合金粉
との密着性が低下し、溶射されたケイ素・アルミニウム
合金の密度が低下するからである。
Here, the reason for using the mixture of silicon powder and silicon-aluminum alloy powder is that when chemically active aluminum is made into a chemically stable silicon-aluminum alloy, the aluminum is oxidized. This is because it becomes difficult to generate aluminum oxide which is a passivation film. The silicon / aluminum alloy powder is preferably a silicon / aluminum alloy containing aluminum in an amount of 5 to 70% by weight. This is because if the content of aluminum is less than 5% by weight, it becomes difficult to dissolve and a uniform alloy phase cannot be obtained, and if the content of aluminum exceeds 70% by weight, the aluminum oxide on the surface of the silicon-aluminum alloy powder is aluminum oxide. This is because a passivation film containing as a main component is generated, the adhesion between the silicon powder and the silicon / aluminum alloy powder is reduced, and the density of the sprayed silicon / aluminum alloy is reduced.

【0010】また、溶射法を用いた理由は、極めて短時
間の間にケイ素粉及びケイ素・アルミニウム合金粉を溶
融して均一なケイ素・アルミニウム合金とし基体の外周
面に付着させることができるからである。
The reason why the thermal spraying method is used is that the silicon powder and the silicon-aluminum alloy powder can be melted in a very short time to form a uniform silicon-aluminum alloy and be attached to the outer peripheral surface of the substrate. is there.

【0011】[0011]

【作用】この発明の請求項1記載のスパッタリング用タ
ーゲットでは、基体の外周面に溶射されたケイ素・アル
ミニウム合金層には不動態膜となる酸化アルミニウムが
残存しないので、該合金層の密度が向上し、したがっ
て、材料の使用効率及びターゲットの寿命が向上する。
In the sputtering target according to the first aspect of the present invention, since the aluminum oxide as a passivation film does not remain in the silicon-aluminum alloy layer sprayed on the outer peripheral surface of the substrate, the density of the alloy layer is improved. Therefore, the use efficiency of the material and the life of the target are improved.

【0012】また、請求項2記載のスパッタリング用タ
ーゲットでは、前記ケイ素・アルミニウム合金粉を、ア
ルミニウムを5〜70重量%含有し残部がケイ素からな
る合金とすることにより、均一な合金相が得られ、この
合金粉の表面に酸化アルミニウムを主成分とする不動態
膜が発生することがない。
Further, in the sputtering target according to the second aspect, a uniform alloy phase is obtained by using the silicon-aluminum alloy powder as an alloy containing 5 to 70% by weight of aluminum and the balance being silicon. The passivation film containing aluminum oxide as a main component does not occur on the surface of this alloy powder.

【0013】また、請求項3記載のスパッタリング用タ
ーゲットの製造方法では、柱状の基体の外周面にケイ素
粉とケイ素・アルミニウム合金粉との混合物を溶射する
ことにより、溶射時に粉末表面に酸化アルミニウムから
なる不動態膜が発生する虞がなく、極めて短時間で基体
の外周面に高密度のケイ素・アルミニウム合金層を形成
する。
In the method of manufacturing a sputtering target according to the third aspect of the present invention, the mixture of silicon powder and silicon-aluminum alloy powder is sprayed onto the outer peripheral surface of the columnar substrate, so that the surface of the powder is sprayed from aluminum oxide during spraying. The high-density silicon-aluminum alloy layer is formed on the outer peripheral surface of the substrate in a very short time without the possibility of the formation of a passive film.

【0014】[0014]

【実施例】以下、この発明の一実施例について図面に基
づき説明する。図1は、円筒状のターゲットの断面図で
ある。このターゲット1は、円筒状のステンレス製のバ
ッキングチューブ(基体)2の外周面2aに、ケイ素粉
とケイ素・アルミニウム合金粉との混合物を溶射してな
るケイ素・アルミニウム合金層3が同心円状に形成され
た構成である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view of a cylindrical target. In this target 1, a silicon-aluminum alloy layer 3 formed by spraying a mixture of silicon powder and a silicon-aluminum alloy powder is concentrically formed on an outer peripheral surface 2a of a cylindrical stainless backing tube (base) 2. It is the configured configuration.

【0015】次に、このターゲット1の製造方法につい
て説明する。まず、ケイ素粉とケイ素・アルミニウム合
金粉との混合物を作成する。ここで、ケイ素粉は、真性
半導体である純粋なケイ素粉、不純物として微量のホウ
素等を添加したp型ケイ素粉、不純物として微量のリン
等を添加したn型ケイ素粉等が好適に用いられる。ま
た、ケイ素・アルミニウム合金粉は、その組成がアルミ
ニウムを5〜70重量%含有し残部がケイ素からなるも
ので、ケイ素粉とアルミニウム粉とを所定の割合で混合
し加熱溶融した後に粉砕し、微粉状の合金粉としたもの
である。
Next, a method of manufacturing the target 1 will be described. First, a mixture of silicon powder and silicon-aluminum alloy powder is prepared. Here, as the silicon powder, pure silicon powder which is an intrinsic semiconductor, p-type silicon powder to which a trace amount of boron or the like is added as an impurity, n-type silicon powder to which a trace amount of phosphorus or the like is added as an impurity are preferably used. Further, the silicon-aluminum alloy powder has a composition containing aluminum in an amount of 5 to 70% by weight with the balance being silicon, and the silicon powder and the aluminum powder are mixed at a predetermined ratio, heated and melted, and then pulverized to obtain a fine powder. It is a powdery alloy powder.

【0016】次いで、この混合物を不活性ガス雰囲気中
もしくは大気中において発生したプラズマを用いて溶融
し、ステンレス製のバッキングチューブ2の外周面2a
に溶射し、該外周面2aに同心円状のケイ素・アルミニ
ウム合金層3を形成する。このようにして、高密度のケ
イ素・アルミニウム合金層3を有する円筒状のターゲッ
ト1を製造することができる。
Next, this mixture is melted by using plasma generated in an inert gas atmosphere or in the air, and the outer peripheral surface 2a of the backing tube 2 made of stainless steel is melted.
Then, the silicon-aluminum alloy layer 3 having a concentric circle shape is formed on the outer peripheral surface 2a. In this way, the cylindrical target 1 having the high-density silicon-aluminum alloy layer 3 can be manufactured.

【0017】表1は、上記実施例のターゲット、ケイ素
・アルミニウム合金粉の組成が上記実施例から外れたタ
ーゲット(比較例)及び従来のターゲット(従来例)各
々の組成、及びこれらのターゲットの比密度(理論密度
に対する実際の密度の百分率)を示したものである。こ
こでは、ケイ素粉は、純粋なケイ素粉と、不純物として
微量のホウ素を添加したp型のケイ素粉の2種とした。
Table 1 shows the respective compositions of the targets of the above-mentioned examples, targets (comparative examples) and conventional targets (conventional examples) in which the composition of the silicon-aluminum alloy powder deviates from the above-mentioned examples, and the ratio of these targets. The density (percentage of the actual density with respect to the theoretical density) is shown. Here, the silicon powder is two kinds, that is, pure silicon powder and p-type silicon powder added with a slight amount of boron as an impurity.

【0018】[0018]

【表1】 [Table 1]

【0019】表1によれば、実施例のターゲットでは各
々の比密度が80%を越えており、比較例及び従来例と
比べて大幅に向上していることがわかる。また、比較例
のターゲットにおいても、従来例と比べて比密度が改善
されていることがわかる。さらに、上記実施例のターゲ
ットを用いてスパッタリングを行なったところ、材料の
使用効率及びターゲットの寿命共に向上していることが
確認された。
From Table 1, it can be seen that the specific densities of the targets of the examples exceed 80%, which is a great improvement over the comparative examples and the conventional examples. Further, it can be seen that the target of the comparative example also has an improved specific density as compared with the conventional example. Furthermore, when sputtering was performed using the target of the above example, it was confirmed that both the material usage efficiency and the target life were improved.

【0020】以上説明した様に、この実施例のターゲッ
ト1によれば、円筒状のバッキングチューブ2の外周面
2aに、ケイ素粉とケイ素・アルミニウム合金粉との混
合物を溶射してなるケイ素・アルミニウム合金層3を同
心円状に形成したので、ケイ素・アルミニウム合金層3
自体の密度を大幅に向上させることができ、したがっ
て、材料の使用効率を向上させ、ターゲットの寿命を向
上させることができる。また、筒状のバッキングチュー
ブ2を用いたので、冷却水の供給、マグネットの配置等
を効果的に行うことができ、基体を円筒状に加工する工
程を省くことができ、コストダウンを図ることができ
る。
As described above, according to the target 1 of this embodiment, the outer surface 2a of the cylindrical backing tube 2 is formed by spraying a mixture of silicon powder and silicon-aluminum alloy powder on silicon-aluminum. Since the alloy layer 3 is formed concentrically, the silicon-aluminum alloy layer 3
The density of the material itself can be significantly improved, and therefore, the use efficiency of the material can be improved and the life of the target can be improved. Further, since the cylindrical backing tube 2 is used, it is possible to effectively supply cooling water, arrange magnets, etc., and it is possible to omit the step of processing the base body into a cylindrical shape, thereby achieving cost reduction. You can

【0021】また、この実施例のターゲットの製造方法
によれば、円筒状のバッキングチューブ2の外周面2a
にケイ素粉とケイ素・アルミニウム合金粉との混合物を
溶射することとしたので、溶射時にケイ素・アルミニウ
ム合金粉の表面に不動態膜が発生する虞がなくなり、バ
ッキングチューブ2の外周面2aに高密度のケイ素・ア
ルミニウム合金層3を形成することができる。
Further, according to the target manufacturing method of this embodiment, the outer peripheral surface 2a of the cylindrical backing tube 2 is formed.
Since a mixture of silicon powder and silicon-aluminum alloy powder is sprayed onto the surface of the silicon-aluminum alloy powder, there is no risk of a passivation film being formed on the surface of the silicon-aluminum alloy powder during spraying, and a high density is achieved on the outer peripheral surface 2a of the backing tube 2. The silicon-aluminum alloy layer 3 can be formed.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明した様に、この発明の請求項1
記載のスパッタリング用ターゲットによれば、柱状の基
体の外周面に、ケイ素粉とケイ素・アルミニウム合金粉
との混合物を溶射してなるケイ素・アルミニウム合金層
を設けたので、ケイ素・アルミニウム合金層自体の密度
を大幅に向上させることができ、したがって、材料の使
用効率を向上させ、ターゲットの寿命を向上させること
ができる。
As described above, according to the first aspect of the present invention.
According to the sputtering target described, since the silicon-aluminum alloy layer formed by spraying the mixture of silicon powder and silicon-aluminum alloy powder is provided on the outer peripheral surface of the columnar substrate, the silicon-aluminum alloy layer itself The density can be significantly improved, and thus, the use efficiency of the material can be improved and the life of the target can be improved.

【0023】また、請求項2記載のスパッタリング用タ
ーゲットによれば、前記ケイ素・アルミニウム合金粉
は、アルミニウムを5〜70重量%含有し残部がケイ素
からなることとしたので、均一な合金相を得ることがで
き、この合金粉の表面に酸化アルミニウムを主成分とす
る不動態膜が発生することもない。
According to the sputtering target of the second aspect, the silicon-aluminum alloy powder contains aluminum in an amount of 5 to 70% by weight and the balance is silicon, so that a uniform alloy phase is obtained. It is possible to prevent the formation of a passivation film containing aluminum oxide as a main component on the surface of the alloy powder.

【0024】また、請求項3記載のスパッタリング用タ
ーゲットの製造方法によれば、柱状の基体の外周面に、
ケイ素粉とケイ素・アルミニウム合金粉との混合物を溶
射することとしたので、溶射時にケイ素・アルミニウム
合金粉の表面に不動態膜が発生する虞がなくなり、極め
て短時間で基体の外周面に高密度のケイ素・アルミニウ
ム合金層を形成することができる。
According to the method of manufacturing a sputtering target according to claim 3, the outer peripheral surface of the columnar substrate is
Since a mixture of silicon powder and silicon / aluminum alloy powder is sprayed, there is no risk of a passivation film being formed on the surface of the silicon / aluminum alloy powder during spraying, and high density is achieved on the outer peripheral surface of the substrate in an extremely short time. The silicon-aluminum alloy layer can be formed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のスパッタリング用ターゲットの断面図
である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a sputtering target of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スパッタリング用ターゲット 2 バッキングチューブ 2a 外周面 3 ケイ素・アルミニウム合金層 1 target for sputtering 2 backing tube 2a outer peripheral surface 3 silicon-aluminum alloy layer

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 柱状の基体の外周面に、ケイ素粉とケイ
素・アルミニウム合金粉との混合物を溶射してなるケイ
素・アルミニウム合金層を設けたことを特徴とするスパ
ッタリング用ターゲット。
1. A sputtering target, characterized in that a silicon / aluminum alloy layer formed by spraying a mixture of silicon powder and a silicon / aluminum alloy powder is provided on the outer peripheral surface of a columnar substrate.
【請求項2】 請求項1記載のスパッタリング用ターゲ
ットにおいて、 前記ケイ素・アルミニウム合金粉は、アルミニウムを5
〜70重量%含有し、残部がケイ素からなることを特徴
とするスパッタリング用ターゲット。
2. The sputtering target according to claim 1, wherein the silicon-aluminum alloy powder is aluminum.
A target for sputtering, characterized in that the target is contained in an amount of up to 70% by weight, and the balance is made of silicon.
【請求項3】 柱状の基体の外周面に、ケイ素粉とケイ
素・アルミニウム合金粉との混合物を溶射することを特
徴とするスパッタリング用ターゲットの製造方法。
3. A method for producing a sputtering target, which comprises spraying a mixture of silicon powder and silicon-aluminum alloy powder onto the outer peripheral surface of a columnar substrate.
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