JPH06151558A - 搬送処理装置 - Google Patents

搬送処理装置

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JPH06151558A
JPH06151558A JP32370392A JP32370392A JPH06151558A JP H06151558 A JPH06151558 A JP H06151558A JP 32370392 A JP32370392 A JP 32370392A JP 32370392 A JP32370392 A JP 32370392A JP H06151558 A JPH06151558 A JP H06151558A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 被処理体の処理前の大気汚染を防止して、製
品歩留りの向上を図り、かつ、設置スペースの有効利用
及び装置の小型化を図る。 【構成】 搬送室4の周囲にゲートバルブ5を介して処
理室1a,1b、収納室2a,2b及び前処理用収納室
3を配設する。搬送室4内に、処理室1a,1b、収納
室2a,2b及び前処理用収納室3内のウエハWの搬出
・搬入を司る搬送手段6を配設する。処理室1a,1
b、収納室2a,2b、前処理用収納室3及び搬送室4
に、それぞれN2 ガス供給管7を介してN2 ガス供給源
8を接続すると共に、排気管9を介して真空ポンプ10
を接続する。これにより、処理室1a,1b、収納室2
a,2b、前処理用収納室3及び搬送室4内をN2 ガス
雰囲気として、未処理及び処理中のウエハW表面への自
然酸化膜やパーティクル等の付着を防止することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば半導体ウエハ
等の被処理体を所定の処理部に搬送する搬送処理装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体ウエハ(以下にウエハと
いう)の製造プロセスにおいて、ウエハの表面に薄膜を
形成する薄膜形成装置、酸化膜を形成する酸化装置や不
純物を導入する不純物導入装置等が使用されている。そ
して、これら薄膜、酸化膜等を形成する装置として、ガ
ス反応と加熱により処理する表面処理装置が使用されて
いる。
【0003】従来、この種の表面処理装置を用いてウエ
ハを処理するには、所定枚数のウエハを収容したカセッ
トから搬送アーム等の搬送手段によってウエハを取出
し、表面処理装置の処理室内に搬送して、熱処理を行っ
た後、処理室からウエハを取出している。また、処理能
率の向上を図るために、複数の表面処理装置を配設する
と共に、各表面処理装置の処理室に対して搬送手段を配
設している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
この種の装置においては、表面処理装置の処理室に被処
理体を搬送する場合、大気中から直接処理室内に搬送し
ているため、被処理体が大気中に晒され、被処理体がご
みの付着や自然酸化膜の形成等によって大気汚染され、
製品歩留りの低下を招く虞れがあった。
【0005】また、処理室を複数設けた場合には、複数
の処理室に対して搬送手段も複数必要とするか、搬送手
段の移動範囲を広くする必要があるため、設置スペース
を大きくすると共に、装置を大型化しなければならない
という問題もあった。
【0006】この発明は上記事情に鑑みなされたもの
で、被処理体の処理前の大気汚染を防止して、製品歩留
りの向上を図り、かつ、設置スペースの有効利用及び装
置の小型化を図れるようにした搬送処理装置を提供する
ことを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の搬送処理装置は、被処理体を処理する処
理室と、被処理体を収納する収納室と、前処理される被
処理体を収納する前処理用収納室と、気密開閉手段を介
して上記処理室、収納室及び前処理用収納室との間に配
設される搬送室と、上記搬送室内に配設されて、上記処
理室,収納室及び前処理用収納室内の被処理体の搬出・
搬入を司る搬送手段とを具備し、上記処理室,収納室,
前処理用収納室及び搬送室内を所定のガス雰囲気とする
ことを特徴とするものである。
【0008】この発明において、上記搬送手段は搬送室
内に配設されて、処理室,収納室及び前処理用収納室内
の被処理体の搬出・搬入を司るものであれば任意の機構
のものでよいが、好ましくは搬送手段を、搬送室内に露
出する搬送駆動部と、上記搬送室と区画される駆動室内
に配設される昇降駆動部とで構成し、上記搬送駆動部と
昇降駆動部との間に、搬送駆動部を搬送室内に最露出し
た際に搬送室と駆動室とを遮断する気密手段を配設し、
かつ上記駆動室内を上記搬送室と別に所定ガス雰囲気に
する方がよい。
【0009】
【作用】上記のように構成されるこの発明の搬送処理装
置によれば、気密開閉手段を介して接続される収納室、
前処理用収納室及び搬送室内を所定のガス雰囲気とする
ことにより、未処理及び処理中の被処理体を大気と遮断
して大気汚染から保護することができる。また、搬送室
を、処理室,収納室及び前処理用収納室の間に配設する
ことにより、1種類の搬送手段によって被処理体の搬送
を行うことができる。また、搬送室から区画される駆動
室内を搬送室と別に所定ガス雰囲気にすることにより、
駆動室内の昇降駆動部を真空雰囲気に晒ずに所定のガス
雰囲気におくことができる。
【0010】
【実施例】以下にこの発明の実施例を図面に基いて詳細
に説明する。ここでは、この発明の搬送処理装置をウエ
ハの表面処理装置に適用した場合について説明する。
【0011】図1はこの発明の搬送処理装置の概略構成
図、図2はその概略斜視図が示されている。
【0012】この発明の搬送処理装置は、被処理体であ
るウエハWを処理する2つの処理室1a,1bと、ウエ
ハWを収納する2つの収納室2a,2bと、前処理され
るウエハWを収納する前処理用収納室3と、気密開閉手
段であるゲートバルブ5を介して処理室1a,1b、収
納室2a,2b及び前処理用収納室3との間に配設され
る搬送室4とを具備してなる。そして、搬送室4内に
は、処理室1a,1b、収納室2a,2b及び前処理用
収納室3内のウエハWの搬出・搬入を司る搬送手段6が
配設されている。また、処理室1a,1b、収納室2
a,2b、前処理用収納室3及び搬送室4には、それぞ
れ例えば窒素(N2 )ガス、アルゴン(Ar)等の不活
性ガスあるいはこれらとの混合ガスの供給管7(以下に
N2 ガス供給管という)を介してN2 ガス供給源8が接
続されると共に、排気管9を介して真空ポンプ10が接
続されている。なお、ガス供給管8及び排気管9にはそ
れぞれバルブ11,12が配設されている。
【0013】ウエハWを収容する収納室2a,2bは、
外部の大気雰囲気との間を開閉するゲートバルブ5a
と、図示しない回転機構によって回転するターンテーブ
ル13とを具備してなり、ターンテーブル13上には、
例えば5個のウエハカセット14が周方向に等間隔に載
置されている。このように構成される収納室2a,2b
は、真空ポンプ10によって所定の真空度まで減圧され
た後、ガス供給管7からN2 ガスが供給された状態で図
示しない通気管よりN2 ガスを排気して常時新たなN2
ガスが流通されることによって、収納室2a,2b内に
発生したパーティクルを排出してウエハWへのパーティ
クルの付着を抑制している。
【0014】搬送室4内に配設される搬送手段6は、図
3に示すように、搬送室4内に露出する搬送駆動部15
と、搬送室4と区画される駆動室16内に配設される昇
降駆動部17とで構成されている。この場合、搬送駆動
部15は、駆動室16内に配設される昇降モータ18に
よって駆動室16の上部を昇降する駆動基部19と、駆
動基部19内に磁気シール等の気密手段20を介して配
設される駆動モータ21によって水平方向に回転される
第1のアーム22aと、第1のアーム22aの先端部に
回転可能に連接される第2のアーム22bと、第2のア
ーム22bの先端部に回転可能に連接されるウエハ保持
アーム22cとからなる多間接搬送アームロボットにて
形成されている。このように構成される搬送手段6は、
昇降モータ18及び駆動モータ21の駆動によって垂直
方向(V)と水平方向の回転(θ)及び伸縮方向(H)
に移動自在に形成されている。なお、図面ではウエハ保
持アーム22cが1つの場合について説明したが、ウエ
ハ保持アーム22cを垂直方向に適宜間隔をおいて複数
(例えば5個)設けることも可能である。また、駆動基
部19の下端部に可動ブロック23が固着されており、
この可動ブロック23は、駆動室16内に垂直方向に平
行に配設される2本のガイドレール24に沿って摺動可
能に配設されると共に、ガイドレール24と平行に配設
されるボールねじ軸25に螺合されている。そして、ボ
ールねじ軸25はギア等の伝達機構26を介して昇降モ
ータ18に連結されている。したがって、昇降モータ1
8の駆動により伝達機構26を介してボールねじ軸25
が回転し、ボールねじ軸25の回転に伴って可動ブロッ
ク23を介して駆動基部19及び搬送駆動部15が昇降
するようになってる。
【0015】また、駆動基部19の可動ブロック23の
上部に緩衝防止用のステンレス製の蛇腹管27を介して
取付板28が配設されており、この取付板28の上面に
は、駆動室16の上部開口部の周辺下面に当接する気密
手段であるOリング29が装着されている。したがっ
て、昇降モータ18の駆動によって駆動基部19が最上
部まで移動した際にOリング29が駆動室16の上部下
面に当接することにより駆動室16内と搬送室4とが気
密状態に区画される。
【0016】更に、上記のように構成される駆動室16
には、搬送室4に接続されるガス供給管7と別のN2 ガ
ス供給管7aを介してN2 供給源8aが接続されると共
に、通気管30が接続されて、搬送室4とは別系統のガ
ス供給系によって駆動室16内がN2 ガス雰囲気におか
れるようになっている。
【0017】上記のように、搬送手段6を搬送駆動部1
5と昇降駆動部17とに分離形成することにより、昇降
駆動部17の駆動系すなわち昇降モータ18や図示しな
いエンコーダ等を真空用にする必要がなく、通常の大気
用のものを使用することができる。また、搬送駆動部1
5を搬送室4内に最露出した状態で搬送室4内を真空状
態にした後、N2 ガスを供給することができるので、少
ないN2 ガスの使用によって搬送室4内の酸素(O2 )
濃度を低下することができる。
【0018】上記処理室1a,1bは、その内部にウエ
ハWを昇降するウエハボート31を配設してなり、処理
室1a,1bの上方にはウエハボート31にて保持され
た複数枚のウエハWを同時に熱処理する表面処理装置4
0が搭載されている。この場合、ウエハボート31は、
図4に示すように、基台32に対して図示しない駆動機
構によって昇降可能な昇降台33と、この昇降台33上
に図示しない回転機構によって回転自在に支承される回
転板34と、この回転板34上に回転可能に載置される
保温筒35と、保温筒35の上方に立設される4本の支
柱36とで構成されており、各支柱36の対向側面に設
けられた等間隔の保持溝(図示せず)によって複数枚の
ウエハWを間隔をおいて保持し得るようになっている。
【0019】表面処理装置40は、図5に示すように、
同心状に適宜間隔をおいて配設される石英製の内筒41
と石英製の外筒42とからなる反応容器43にて主要部
が構成されている。また、外筒42及び内筒41はそれ
ぞれその下端にて例えばステンレス等にて形成される筒
状のマニホールド45にて保持されており、このマニホ
ールド45は図示しないベースプレートにて固定されて
いる。マニホールド45の下端部の開口部は上記ウエハ
ボート31の昇降台33にて開閉されるようになってい
る。また、マニホールド45の側面から反応容器43内
にインジェクタ46が気密に挿入されており、このマニ
ホールド45の内端側はL字状に屈曲されて、内筒41
の内側に上方に向けて垂直に伸びている。インジェクタ
46の外端側に接続されるガス供給源(図示せず)から
CVD用のガスであるジシラン(CiH2 Cl2 )ガス
やアンモニアガス(NH3 ) がガス流出口46aから反
応容器43内に供給されるようになっている。反応容器
43内で処理に供された処理ガスはマニホールド45の
側面に設けられた排気路47から外部に排出されるよう
になっている。
【0020】一方、前処理用収納室3にはゲートバルブ
5を介して例えば洗浄装置等の前処理装置50が連結さ
れている。この前処理用収納室3内には、前処理の必要
なウエハWを仮収納するウエハ仮保持部37が配設され
ている。このウエハ仮保持部37は、図6に示すよう
に、基台32aに対して図示しない駆動機構によって昇
降自在な昇降台33aに矩形枠状のバッファカセット3
8を載置してなり、バッファカセット38の対向する内
壁に等間隔をおいて設けられた保持溝39にウエハWを
仮保持し得るようになっている。したがって、搬送手段
6にて搬送されるウエハWをバッファカセット38に仮
保持した状態で、前処理装置50側の搬送アーム51に
てウエハWを保持して前処理装置に搬送することがで
き、前処理用収納室3内においてバッチ処理と枚葉処理
とを変換することができる。
【0021】次に、この発明の搬送処理装置の作動態様
について図1を参照して説明する。
【0022】実施例1 まず、使用に際して、真空ポンプ10を作動して収納室
2a,2b、搬送室4、処理室1a,1b及び前処理用
収納室3内を真空状態にした後、N2 ガス供給源8から
各室内にN2 ガスを供給して各室内をN2 ガス雰囲気に
する。この際、搬送室4内に配設される搬送手段6の搬
送駆動部15を最上位置に移動させて、Oリング29に
より駆動室16と搬送室4とを遮断し、駆動室16内に
別系統のN2 ガス供給源8aからN2 ガスを供給するこ
とによって駆動室16内もN2 ガス雰囲気にし、各室の
O2 濃度を低下させる。
【0023】次に、第1の収納室2aと搬送室4との間
のゲートバルブ5が開放し、搬送手段6のウエハ保持ア
ーム22cが収納室2a内に挿入して収納室2a内に収
納されたウエハカセット14内からウエハWを受取った
後、搬送室4と第1の処理室1aとの間のゲートバルブ
5が開放して、第1の処理室1a内にウエハ保持アーム
22cが挿入して第1の処理室1a内のウエハボート3
1にウエハを受け渡す。
【0024】このようにして所定枚数のウエハWをウエ
ハボート31に受け渡した後、搬送室4と第1の処理室
1aとの間のゲートバルブ5が閉じて、ウエハボート3
1が上昇し、第1の表面処理装置40の反応容器43内
に挿入して、ウエハボート31の昇降台33によって反
応容器43と第1の処理室1aとを遮断した後、所定の
処理を行う。第1の表面処理装置40においてウエハW
の表面処理を行っている間、搬送手段6によって第2の
収納室2b内のウエハWを第2の処理室1b内のウエハ
ボート31に受け渡して、上記と同様に第2の表面処理
装置40にてウエハWの処理を行うことも可能である。
【0025】ウエハWの表面処理が終了した後、反応容
器43からウエハボート31を下降して第1の処理室1
a内に移動した後、前述と逆の動作によって処理済みの
ウエハWを第1の収納室2a内のウエハカセット14に
受け渡してウエハWの処理は完了する。また、同様に第
2の処理室1bの処理済みのウエハWは第2の収納室2
bのウエハカセット14に受け渡される。
【0026】実施例2 上記実施例1と同様に各室を真空引きした後、N2 ガス
を供給して各室内をN2 ガス雰囲気とする。そして、搬
送手段6によって収納室2a,2bから受け取られたウ
エハWを前処理用収納室3に搬送し、前処理用収納室3
のバッファカセット38に仮保持されたウエハWを前処
理装置50に搬送してウエハWに付着したパーティクル
や自然酸化膜等の除去を行う。
【0027】前処理装置50によって前処理が行われた
ウエハWを上記実施例1と同様に処理室1a,1bのウ
エハボート31に受け渡して、表面処理装置40によっ
て表面処理した後、収納室2a,2bのウエハカセット
14に受け渡してウエハWの処理は完了する。
【0028】実施例3 上記実施例1、2では収納室2a又は2bから取出され
たウエハWを1つの処理室1a又は1bに搬送し、表面
処理装置40によって処理する場合について説明した
が、異なる種類の表面処理を連続して行うことも可能で
ある。
【0029】すなわち、例えば第1の表面処理装置40
にて表面処理され、第1の処理室1aにおかれたウエハ
Wを搬送手段6にて受け取った後、第2の処理室1b内
に搬送し、第2の表面処理装置40にて表面処理を行う
ことができる。この場合、第1の表面処理装置40と第
2の表面処理装置40とを逆にしてもよく、また、ウエ
ハWの前処理が必要な場合には、前処理用収納室3に搬
送して、前処理を行った後に第1又は第2の処理室1
a,1b内にウエハWを搬送すればよい。
【0030】なお、上記実施例では搬送室4を中心とし
て、その周囲に2つの処理室1a,1b、2つの収納室
2a,2b及び1つの前処理用収納室3を配設した場合
について説明したが、必ずしもこのような配置構造とす
る必要はなく、少なくとも搬送室4の周囲に1つの処理
室1a又は1b、収納室2a又は2bを配設した構造で
あってもよい。
【0031】上記実施例では被処理体が半導体ウエハの
場合について説明したが、被処理体は必ずしも半導体ウ
エハに限られものではなく、例えばLCD基板あるいは
プリント基板、フォトマスク、セラミック基板、コンパ
クトディスクなどについても同様に搬送処理することが
できる。
【0032】
【発明の効果】以上に説明したように、この発明の搬送
処理装置によれば、上記のように構成されているので、
以下のような効果が得られる。
【0033】1)請求項1記載の搬送処理装置によれ
ば、気密開閉手段を介して接続される収納室、前処理用
収納室及び搬送室内を所定のガス雰囲気とするので、未
処理及び処理中の被処理体を大気と遮断して大気汚染か
ら保護することができると共に、製品歩留りの向上が図
れる。また、搬送室を、処理室,収納室及び前処理用収
納室の間に配設するので、1種類の搬送手段によって被
処理体の搬送を行うことができ、設置スペースの有効利
用及び装置の小型化が図れる。
【0034】2)請求項2記載の搬送処理装置によれ
ば、搬送室から区画される駆動室内を搬送室と別に所定
ガス雰囲気にするので、駆動室内の昇降駆動部を真空雰
囲気に晒ずに所定のガス雰囲気におくことができ、構成
部材の低コスト化及び消費ガス量の低減化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の搬送処理装置の概略構成図である。
【図2】この発明の搬送処理装置の概略斜視図である。
【図3】この発明における搬送手段を示す断面図であ
る。
【図4】この発明におけるウエハボートと搬送手段を示
す概略斜視図である。
【図5】この発明における熱処理炉を示す断面図であ
る。
【図6】この発明における前処理収納室の載置台を示す
概略斜視図である。
【符号の説明】
W 半導体ウエハ(被処理体) 1a,1b 処理室 2a,2b 収納室 3 前処理用収納室 4 搬送室 5 ゲートバルブ(気密開閉手段) 6 搬送手段 7,7a N2 ガス供給管 8,8a N2 ガス供給源 10 真空ポンプ 15 搬送駆動部 16 駆動室 17 昇降駆動部 29 Oリング(気密手段) 40 表面処理装置
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成4年12月16日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0019
【補正方法】変更
【補正内容】
【0019】 表面処理装置40は、図5に示すよう
に、同心状に適宜間隔をおいて配設される石英製の内筒
41と石英製の外筒42とからなる反応容器43にて主
要部が構成されている。また、外筒42及び内筒41は
それぞれその下端にて例えばステンレス等にて形成され
る筒状のマニホールド45にて保持されており、このマ
ニホールド45は図示しないベースプレートにて固定さ
れている。マニホールド45の下端部の開口部は上記ウ
エハボート31の昇降台33にて開閉されるようになっ
ている。また、マニホールド45の側面から反応容器4
3内にインジェクタ46が気密に挿入されており、この
マニホールド45の内端側はL字状に屈曲されて、内筒
41の内側に上方に向けて垂直に伸びている。インジェ
クタ46の外端側に接続されるガス供給源(図示せず)
からCVD用のガスであるジシラン(SiH2 Cl2
ガスやアンモニアガス(NH3 ) がガス流出口46aか
ら反応容器43内に供給されるようになっている。反応
容器43内で処理に供された処理ガスはマニホールド4
5の側面に設けられた排気路47から外部に排出される
ようになっている。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩渕 勝彦 神奈川県津久井郡城山町町屋1丁目2番41 号 東京エレクトロン相模株式会社内 (72)発明者 津田 俊武 東京都新宿区西新宿2丁目3番1号 東京 エレクトロン株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被処理体を処理する処理室と、被処理体
    を収納する収納室と、前処理される被処理体を収納する
    前処理用収納室と、気密開閉手段を介して上記処理室、
    収納室及び前処理用収納室との間に配設される搬送室
    と、上記搬送室内に配設されて、上記処理室,収納室及
    び前処理用収納室内の被処理体の搬出・搬入を司る搬送
    手段とを具備し、 上記処理室,収納室,前処理用収納室及び搬送室内を所
    定のガス雰囲気とすることを特徴とする搬送処理装置。
  2. 【請求項2】 搬送手段を、搬送室内に露出する搬送駆
    動部と、上記搬送室と区画される駆動室内に配設される
    昇降駆動部とで構成し、 上記搬送駆動部と昇降駆動部との間に、搬送駆動部を搬
    送室内に最露出した際に搬送室と駆動室とを遮断する気
    密手段を配設し、 上記駆動室内を上記搬送室と別に所定ガス雰囲気にする
    ことを特徴とする請求項1記載の搬送処理装置。
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Cited By (8)

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