JPH06149941A - Substrate design device - Google Patents

Substrate design device

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Publication number
JPH06149941A
JPH06149941A JP4300958A JP30095892A JPH06149941A JP H06149941 A JPH06149941 A JP H06149941A JP 4300958 A JP4300958 A JP 4300958A JP 30095892 A JP30095892 A JP 30095892A JP H06149941 A JPH06149941 A JP H06149941A
Authority
JP
Japan
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wiring pattern
clearance
substrate
board
data
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4300958A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuo Inoue
一男 井上
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH06149941A publication Critical patent/JPH06149941A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To surely detect the errors of design by automatically inspecting a substrate by the substrate designing device itself after the layout of the substrate is designed by the substrate design device. CONSTITUTION:This device is provided with a keyboard 1, main storage part 2, CRT 3 and CPU 4 or the like and the main storage part 2 stores various data at the time of substrate design and a substrate inspection module (c) or the like. The CPU 4 reads the substrate inspection module and the data from the main storage part 2, judges whether plural clearance holes arranged on the substrate are mutually overlapped or not, and classifies the coordinate data of overlapped clearance holes into sets A and B or the like. Next, the CPU 4 reads the coordinate data of the outline of a wiring pattern from the main storage part 2, compares them with the coordinate data of the respective sets A and B and detects the mutual cross position. Corresponding to this detected result, the CPU 4 judges the quality of layout design and displays the result on the display screen of the CRT 3.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、例えば複数の基板が積
層されて構成される多層プリント配線板などを設計する
基板設計装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a board designing apparatus for designing a multilayer printed wiring board or the like, which is constructed by laminating a plurality of boards.

【0002】[0002]

【従来の技術】基板設計装置を用いて多層プリント配線
板の各層の配線パターンのレイアウト設計を行った場
合、設計上のミス、例えばビアによる内層配線の分断な
どが発生することがあるため、これを洩れなく検査でき
るような検査技術を構築することが望まれている。
2. Description of the Related Art When a layout design of a wiring pattern of each layer of a multilayer printed wiring board is carried out by using a board designing apparatus, a design mistake, for example, a disconnection of inner layer wiring due to a via, may occur. It is desired to construct an inspection technique that can inspect all the items.

【0003】ここで、図6を参照して従来の基板設計装
置について説明する。
Now, a conventional board designing apparatus will be described with reference to FIG.

【0004】一般に、多積層プリント配線板は、同図に
示すように、複数の基板、例えば2層の基板41、42
に3層に配線パターン43、44、45が積層されて構
成されている。各層の配線パターン43、44、45
は、ビア46、47により接続される。なお、ビア47
は内層の配線パターン44と絶縁されている。また、各
配線パターン43、44、45は、各層で信号系および
電源系などに区分されており、特に電源系は電流を流す
関係で内層に広範囲に、この場合、配線パターン44が
島状に形成されることが多い。
Generally, a multi-layer printed wiring board has a plurality of substrates, for example, two-layer substrates 41 and 42, as shown in FIG.
The wiring patterns 43, 44, and 45 are laminated in three layers. Wiring patterns 43, 44, 45 of each layer
Are connected by vias 46 and 47. The via 47
Is insulated from the wiring pattern 44 in the inner layer. Each wiring pattern 43, 44, 45 is divided into a signal system and a power supply system in each layer, and in particular, the power supply system has a wide area in the inner layer due to the current flow, and in this case, the wiring pattern 44 has an island shape. Often formed.

【0005】従来の基板設計装置により、例えばこの内
層の基板42上に配線パターン44およびビア46、4
7をレイアウト設計する場合、まず配線パターン44を
レイアウトした後、ビア46、47のレイアウトを行
う。
With the conventional board designing apparatus, for example, the wiring pattern 44 and the vias 46, 4 are formed on the board 42 of the inner layer.
In the case of layout designing 7, wiring patterns 44 are first laid out, and then vias 46 and 47 are laid out.

【0006】この場合、基板42上で配線パターン44
が占める割合が広いことから配線パターン44にも多く
の貫通穴(ビアホール)が配置される。
In this case, the wiring pattern 44 is formed on the substrate 42.
Since a large proportion is occupied, a large number of through holes (via holes) are also arranged in the wiring pattern 44.

【0007】ところで、配線パターン44に接続しない
ビア47を配線パターン44上に設けるときは、ビア4
7と絶縁するために、配線パターン44に設けるビアホ
ールの直径よりも一回り大きなクリアランスホール48
を設けるため、この分、配線パターン44が削られる。
By the way, when the via 47 which is not connected to the wiring pattern 44 is provided on the wiring pattern 44, the via 4 is used.
In order to insulate it from the wiring 7, a clearance hole 48 which is one size larger than the diameter of the via hole provided in the wiring pattern 44.
Therefore, the wiring pattern 44 is removed by this amount.

【0008】一方、設計者はこの装置を用いて他の層に
ついてもレイアウト設計を行うが、この際にビア46、
47を増加したりレイアウト変更を行うと、レイアウト
ミスにより内層の配線パターン44のクリアランスホー
ル48が重なり合って繋がってしまい配線パターン44
が分断されてしまうことがある。
On the other hand, the designer also uses this device to design the layout of the other layers.
If 47 is increased or the layout is changed, the clearance holes 48 of the wiring pattern 44 in the inner layer are overlapped and connected due to a layout error, and the wiring pattern 44 is connected.
May be divided.

【0009】したがって、基板設計装置によるレイアウ
ト設計を終了すると、設計者は出来上がったパターン図
を必ず検査する必要がある。
Therefore, when the layout design by the board design device is completed, the designer must inspect the completed pattern diagram.

【0010】しかしながら、この検査は、上層および下
層のそれぞれのビア46、47の位置と、内層の配線パ
ターン44の外形線およびクリアランスホール48など
の位置とを照らし合わせながら目視で細部まで洩れなく
検査するため多くの時間を要する。また、このような目
視検査では、ときとして設計上のミスが発見できず洩れ
ることもあり、実際に多層プリント配線板を作成した後
に、初めて、例えば内層の配線パターンが分断されてい
ることが発見されることもある。
However, this inspection is performed visually by checking the positions of the vias 46 and 47 in the upper and lower layers with the outlines of the wiring pattern 44 in the inner layer and the positions of the clearance holes 48 and the like and visually checking all the details. It takes a lot of time to do so. In such visual inspections, sometimes design mistakes cannot be discovered and may be leaked. It is only after actually creating a multilayer printed wiring board that it is discovered, for example, that the inner layer wiring pattern is divided. It may be done.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】このように従来の基板
設計装置では、出来上がったパターン図を目視で検査す
る必要があり検査に時間を要すると共に検査洩れが生じ
る可能性があるという問題があった。
As described above, in the conventional board designing apparatus, there is a problem that it is necessary to visually inspect the completed pattern diagram, the inspection takes time, and there is a possibility that the inspection may be missed. .

【0012】本発明はこのような課題を解決するために
なされたもの、レイアウト設計後の基板における設計上
のミスを短時間で確実に検出できる基板設計装置を提供
することを目的としている。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a board design apparatus capable of reliably detecting a design error in a board after layout design in a short time.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明の基板設計装置は
上記した目的を達成するために、基板上に設けられた配
線パターンの外形線の座標データおよび複数のビアホー
ルの中心点の座標データと前記各ビアホールから前記配
線パターンを絶縁するためのクリアランス部の半径の大
きさのデータとがそれぞれ格納されたデータ格納部と、
前記データ格納部から前記各ビアホールの中心点および
前記クリアランス部の半径の大きさの各データを読み出
し、それぞれのクリアランス部が互いに重複するか否か
を判定する手段と、前記判定手段の判定結果に基づき、
重複したクリアランス部をその集まり毎に分類する分類
手段と、前記データ格納部から前記配線パターンの外形
線の座標データを読み出し、前記各分類されたクリアラ
ンス部の集まりを示すデータと比較し互いの交差点を検
出する手段と、前記検出手段の検出結果に基づき、その
配線パターンが分断されていることを報知する報知手段
とを具備している。また、この基板設計装置の分類手段
は、前記判定手段の判定結果に基づき、重複したクリア
ランス部の集まり毎にテーブルを設定する手段と、設定
された前記テーブルに各クリアランス部に対応する前記
ビアホールの識別子を割り付ける手段とを有している。
In order to achieve the above-mentioned object, the board designing apparatus of the present invention provides coordinate data of outlines of wiring patterns provided on the board and coordinate data of center points of a plurality of via holes. A data storage unit in which data of the size of the radius of the clearance portion for insulating the wiring pattern from each of the via holes is stored, respectively,
A means for determining whether the center points of the via holes and the radius size of the clearance portion are read from the data storage unit and determining whether or not the clearance portions overlap each other, and a determination result of the determination means. Based on
A classifying unit that classifies the overlapping clearance sections for each group, and coordinate data of the outline of the wiring pattern is read from the data storage section and compared with the data indicating the group of each classified clearance section to cross each other. And a notifying means for notifying that the wiring pattern is divided based on the detection result of the detecting means. Further, the classification means of this board designing device, based on the determination result of the determination means, means for setting a table for each collection of overlapping clearance portions, and the via hole corresponding to each clearance portion in the set table. And means for assigning an identifier.

【0014】さらに、この基板設計装置の報知手段は、
前記検出手段の検出結果に基づき、あるクリアランス部
の集まりに前記配線パターンとの交差点が検出された場
合、各交差点の位置から対応するビアホールを求め、前
記テーブル内のビアホールに前記配線パターンの識別子
を割り付ける手段と、この割付手段により同じ配線パタ
ーンの識別子が前記テーブル内の異なる2以上のビアホ
ールに割り付けられた場合、その配線パターンが分断さ
れていることを報知する手段とを有している。
Further, the notifying means of this board design apparatus is
Based on the detection result of the detection means, when an intersection with the wiring pattern is detected in a collection of certain clearance parts, a corresponding via hole is obtained from the position of each intersection, and the identifier of the wiring pattern is given to the via hole in the table. It has an allocating means and a means for notifying that the wiring pattern is divided when the same wiring pattern identifier is allocated to two or more different via holes in the table by the allocating means.

【0015】[0015]

【作用】本発明では、基板上に設けられたクリアランス
部が重複しているとき、重複したクリアランス部の集ま
り毎にテーブルを設定し、重複したクリアランス部に対
応するビアホールの識別子をそれぞれのテーブルに割り
付ける。そして、基板上に設けられた配線パターンの外
形線の座標データと重複したクリアランス部の外形線の
座標データとをそれぞれ比較し、互いの外形線が交差す
る座標データをそれぞれ検出する。そして、あるクリア
ランス部の集まりに交差点が存在した場合、交差点の位
置から対応するビアホールを求め、テーブル内のビアホ
ールに配線パターンの識別子を割り付ける。この結果、
そのテーブル内の異なる2以上のビアホールに同じ配線
パターンの識別子が対応した場合、その配線パターンが
分断されていることを報知する。
According to the present invention, when the clearance portions provided on the substrate overlap, a table is set for each collection of the overlapping clearance portions, and the identifier of the via hole corresponding to the overlapping clearance portion is set in each table. Allocate. Then, the coordinate data of the outline of the wiring pattern provided on the substrate is compared with the coordinate data of the outline of the clearance portion that overlaps, and the coordinate data at which the outlines intersect each other are detected. When an intersection exists in a certain clearance group, a corresponding via hole is obtained from the position of the intersection, and a wiring pattern identifier is assigned to the via hole in the table. As a result,
When the same wiring pattern identifier corresponds to two or more different via holes in the table, it is notified that the wiring pattern is divided.

【0016】すなわち、基板設計装置を用いて基板のレ
イアウト設計を行った後、そのときにデータ格納部に格
納した各データを用いて基板の検査を自動的に行えるよ
うになり、設計上のミス、例えばビアホールの配置不良
による配線パターンの分断などを短時間にしかも確実に
検出できるようになる。
That is, after the board layout is designed by using the board design device, the board can be automatically inspected by using each data stored in the data storage unit at that time, resulting in a design error. For example, it becomes possible to reliably detect the disconnection of the wiring pattern due to the defective placement of the via holes in a short time.

【0017】[0017]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細
に説明する。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

【0018】図1は本発明に係る一実施例の基板設計装
置のハードウェア構成を示す図、図2は図1の基板設計
装置を用いて設計した多層プリント配線板の内層基板を
示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a hardware configuration of a board designing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a view showing an inner layer board of a multilayer printed wiring board designed using the board designing apparatus of FIG. is there.

【0019】図1において、1はキーボードおよびマウ
スなどの入力部である。2は基板設計上のさまざまなデ
ータ、例えば配線パターンの外形線の座標データ、各配
線パターンに設けられるクリアランス部の半径の大きさ
のデータおよび複数のビアホールの中心点の座標データ
などや、基板設計モジュールおよび基板検査モジュール
などのソフトウェアが格納されたデータ格納部としての
主記憶部である。3はCRTおよびプリンタなどの出力
部である。4は主記憶部2に対してバスを通じてデータ
およびソフトウェアなどの書込および読出処理を行うと
共に、主記憶部2より読み出したソフトウェアに基づき
上記各部を制御してさまざまな処理を実行するCPUで
ある。
In FIG. 1, reference numeral 1 is an input unit such as a keyboard and a mouse. 2 is various data on the board design, for example, coordinate data of the outline of the wiring pattern, data of the radius of the clearance portion provided in each wiring pattern, coordinate data of the center points of a plurality of via holes, and the board design. The main storage unit is a data storage unit that stores software such as modules and board inspection modules. Reference numeral 3 is an output unit such as a CRT and a printer. Reference numeral 4 denotes a CPU that performs writing and reading processing of data, software, and the like to the main storage unit 2 through a bus, and controls the above-mentioned units based on the software read from the main storage unit 2 to execute various processes. .

【0020】この基板設計装置を用いて多層プリント配
線板を設計する場合、キーボード1が所定操作される
と、CPU4は主記憶部2より基板設計モジュールを読
み出し、このモジュールの処理動作を実行する。する
と、CRT3には、基板設計のための処理画面が表われ
基板設計が可能な状態になる。この場合、各層ごとに基
板レイアウトが行える。
When a multilayer printed wiring board is designed using this board designing device, when the keyboard 1 is operated in a predetermined manner, the CPU 4 reads the board designing module from the main memory 2 and executes the processing operation of this module. Then, a processing screen for board design appears on the CRT 3 and the board can be designed. In this case, the substrate layout can be performed for each layer.

【0021】本実施例では、図2に示すように、内層に
位置する基板21のレイアウト設計を行う場合について
説明する。
In this embodiment, as shown in FIG. 2, a case where the layout design of the substrate 21 located in the inner layer is performed will be described.

【0022】同図に示すように、まず、キーボード1を
操作して、CRT3の表示画面上において、内層の基板
21を表示画面上の任意の位置に外形線を描いてレイア
ウトし、この外形線の内側に供給電圧に応じて電源系の
配線パターンの外形線、例えば+3Vを供給する配線パ
ターン22の外形線をほぼ方形に、この+3Vの配線パ
ターン22を避けるように+5Vを供給する配線パター
ン23の外形線をそれぞれ島状に独立させて描く。ま
た、これら各配線パターン22、23と絶縁する貫通
穴、すなわち、配線パターン22、23と接続しないビ
アを設けるためのビアホール24は所定半径で描き、ビ
アホール24を配線パターン22、23上に配置した場
合、ビアホール24と同心のクリアランス部(以下クリ
アランスホールと称す)25を所定半径でビアホール2
4よりも一回り大きく描き、レイアウト設計を終了し
た。
As shown in the figure, first, the keyboard 1 is operated to lay out the inner layer substrate 21 on the display screen of the CRT 3 by drawing a contour line at an arbitrary position on the display screen. The outline of the wiring pattern of the power supply system, for example, the outline of the wiring pattern 22 that supplies + 3V is substantially square inside the wiring pattern 23, and the wiring pattern 23 that supplies + 5V is provided so as to avoid the wiring pattern 22 of + 3V. Draw the outlines of each island independently. In addition, a through hole that is insulated from each of the wiring patterns 22 and 23, that is, a via hole 24 for providing a via that is not connected to the wiring patterns 22 and 23 is drawn with a predetermined radius, and the via hole 24 is arranged on the wiring patterns 22 and 23. In this case, a clearance portion (hereinafter referred to as a clearance hole) 25 that is concentric with the via hole 24 is formed at a predetermined radius in the via hole 2
I drew one size larger than 4, and finished the layout design.

【0023】本実施例では、配線パターン23側に多数
のビアホール24a〜24hとクリアランスホール25
とが配置されており、ビアホール24a、24b、24
c、24d、24gと同心のクリアランスホール25に
より配線パターン22が分断されているレイアウト設計
例を示している。
In this embodiment, a large number of via holes 24a to 24h and clearance holes 25 are provided on the wiring pattern 23 side.
And the via holes 24a, 24b, 24
The layout design example in which the wiring pattern 22 is divided by a clearance hole 25 concentric with c, 24d, and 24g is shown.

【0024】このようにレイアウト設計された配線パタ
ーン22、23、複数のビアホール24a〜24hおよ
びクリアランスホール25などの各データは、CPU4
により主記憶部2内の所定領域にそれぞれ格納される。
なお、配線パターン22、23の外形線の座標データ、
各ビアホール24a〜24hの中心点の座標データなど
には、個々に座標データを読み出すための識別コード、
例えば配線パターン22、23には、それぞれ識別コー
ド“a”、“b”などが、ビアホール24a〜24hに
はそれぞれ識別コード“〜”などが割り付けられた
後、主記憶部2に格納される。
The data of the wiring patterns 22 and 23, the layout of which is designed in this way, the plurality of via holes 24a to 24h, the clearance hole 25, and the like are stored in the CPU 4
Are respectively stored in predetermined areas in the main storage unit 2.
In addition, the coordinate data of the outlines of the wiring patterns 22 and 23,
In the coordinate data of the center points of the via holes 24a to 24h, an identification code for individually reading the coordinate data,
For example, the wiring patterns 22 and 23 are assigned identification codes “a” and “b”, respectively, and the via holes 24a to 24h are assigned identification codes “to” and the like, and then stored in the main storage unit 2.

【0025】この基板設計装置では、上層および下層の
各基板の配線パターンについても、上記したような操作
が繰り返されてレイアウト設計され、そのデータが主記
憶部2に格納される。
In this board designing apparatus, the wiring patterns of the upper and lower boards are also subjected to the layout design by repeating the above-described operation, and the data is stored in the main memory 2.

【0026】以下、この基板設計装置による基板検査の
動作について説明する。
The operation of the board inspection by the board designing apparatus will be described below.

【0027】基板のレイアウト設計が終了した段階で、
まず、基板の検査を行うためにキーボード1が所定操作
されると、CPU4が主記憶部2より基板検査モジュー
ルを読み出し、CRT3の表示画面が基板検査処理が可
能な状態になる。この場合、各層ごとに検査が行えるの
で、キーボード1を操作して、例えば内層の基板21に
対して検査を行うためのスタート操作を行うと、以下、
図3のフローチャートに示すように、CPU4により基
板21の検査処理が実行される。
When the layout design of the board is completed,
First, when the keyboard 1 is operated in a predetermined manner to inspect the board, the CPU 4 reads out the board inspecting module from the main storage unit 2, and the display screen of the CRT 3 is ready for the board inspecting process. In this case, since the inspection can be performed for each layer, when the keyboard 1 is operated to perform a start operation for performing an inspection on the substrate 21 of the inner layer, for example,
As shown in the flowchart of FIG. 3, the CPU 4 executes the inspection process of the substrate 21.

【0028】この場合、まず、CPU4により主記憶部
2から各ビアホール24a〜24hの中心点の座標デー
タおよびクリアランスホール25の半径の大きさのデー
タがそれぞれ読み出される(ステップ301 )。そして、
それぞれのクリアランスホール25の大きさが算出され
(ステップ302 )、各クリアランスホール25が互いに
重複するか否かが判定される(ステップ303 )。このと
きの重複判定は、例えば近接する2つのビアホール24
a〜24hの中心点間の距離(各座標データより算出)
が、それらと同心の各クリアランスホール25の直径
(半径を2倍して算出)よりも短いか否かで行われる。
In this case, first, the CPU 4 reads the coordinate data of the center points of the via holes 24a to 24h and the radius size data of the clearance hole 25 from the main memory 2 (step 301). And
The size of each clearance hole 25 is calculated (step 302), and it is determined whether or not the clearance holes 25 overlap each other (step 303). The overlap determination at this time is performed by, for example, two adjacent via holes 24.
Distance between center points a to 24h (calculated from each coordinate data)
Is shorter than the diameter of each clearance hole 25 concentric with them (calculated by doubling the radius).

【0029】この判定結果、図4に示すように、主記憶
部2の作業領域にクリアランスホール25が重複したも
のだけの集まり毎にテーブルが設定され(ステップ304
)、重複したクリアランスホール25と同心のビアホ
ールの識別コードが、各テーブルに割り付けられる。こ
の実施例では、この判定によりビアホール24hの識別
コードが排除されて、残った識別コード“”“”
“”“”“”“”“”のうち、識別コード
“”“”“”“”“”が割り付けられたテー
ブルXが一つ設定され、この他の識別コード“”
“”が割り付けられたテーブルYが一つ設定される。
このようにテーブル毎に識別コードを割り付けたことに
より、図5に示すように、重複したクリアランスホール
25は、それぞれの外形線が繋がったような集まりAお
よび集まりBなどに分類されて(ステップ305 )、それ
ぞれの集まりA、B毎に複数のクリアランスホール25
の座標データが比較可能になる。
As a result of this determination, as shown in FIG. 4, a table is set for each collection of only the clearance holes 25 that overlap in the work area of the main memory 2 (step 304).
), The identification code of the via hole concentric with the overlapping clearance hole 25 is assigned to each table. In this embodiment, the identification code of the via hole 24h is eliminated by this determination, and the remaining identification code """"
Of the """""""""", one table X to which the identification code """""""""" is assigned is set, and another identification code ""
One table Y to which "" is assigned is set.
By allocating the identification code to each table in this way, as shown in FIG. 5, the overlapping clearance holes 25 are classified into a group A and a group B in which the respective outlines are connected (step 305). ), Multiple clearance holes 25 for each group A, B
The coordinate data of can be compared.

【0030】次に、主記憶部2から各配線パターン2
2、23の外形線の座標データがCPU4に読み出され
る(ステップ306 )。そして、各外形線の座標データ
は、上記した集まりA、Bの各座標データと順次比較さ
れ、互いの座標データが一致したことにより互いの外形
線が交差した位置が検出される(ステップ307 )。
Next, from the main memory 2 to each wiring pattern 2
The coordinate data of the outlines 2 and 23 are read by the CPU 4 (step 306). Then, the coordinate data of each outline is sequentially compared with the coordinate data of the above-mentioned groups A and B, and when the coordinate data match each other, the position where the outline intersects each other is detected (step 307). .

【0031】この検出結果、あるクリアランスホール2
5の集まりに交差点が存在した場合(ステップ308 )、
それぞれの座標データから対応するビアホールが求めら
れ、このビアホールが割り付けられているテーブルX、
Yに、比較された配線パターン22、23の識別コード
が、各テーブルX、Y内のビアホール24a〜24gの
識別コードに対応して割り付けられる。
As a result of this detection, a certain clearance hole 2
If there is an intersection in the group of 5 (step 308),
A corresponding via hole is obtained from each coordinate data, and the table X to which this via hole is assigned,
The identification codes of the compared wiring patterns 22 and 23 are assigned to Y in correspondence with the identification codes of the via holes 24a to 24g in the respective tables X and Y.

【0032】この実施例では、基板21上に2つの配線
パターン22、23が設けられているので、初めに配線
パターン22の座標データがCPU4に読み出されて、
集まりAの座標データと比較されるが、配線パターン2
2には、ビアホールが設けられていないので、交差する
座標データはなく各テーブルX、Yには、配線パターン
22の識別コード“b”は割り付けられない。続いて、
配線パターン22の座標データは集まりBの座標データ
と比較されるが上記同様に割り付けられない。
In this embodiment, since the two wiring patterns 22 and 23 are provided on the substrate 21, the coordinate data of the wiring pattern 22 is first read by the CPU 4,
The wiring pattern 2 is compared with the coordinate data of the gathering A.
Since the via hole is not provided in No. 2, there is no intersecting coordinate data, and the identification code "b" of the wiring pattern 22 is not assigned to each table X, Y. continue,
The coordinate data of the wiring pattern 22 is compared with the coordinate data of the group B, but not allocated in the same manner as above.

【0033】次に、配線パターン23の座標データが読
み出されて集まりAの座標データと比較される。この比
較結果、交差座標が4か所あり、これらの座標データに
基づきクリアランスホール25が検出され、クリアラン
スホール25と同心のビアホールの識別コード、ここで
は、図4に示したテーブルX内のビアホール24aの識
別コード“”とビアホール24gの識別コード“”
に配線パターン23の識別コード“a”が割り付けられ
る。
Next, the coordinate data of the wiring pattern 23 is read out and compared with the coordinate data of the group A. As a result of this comparison, there are four intersection coordinates, the clearance hole 25 is detected based on these coordinate data, and the identification code of the via hole concentric with the clearance hole 25, here, the via hole 24a in the table X shown in FIG. Identification code "" and the identification code "" of the via hole 24g
The identification code “a” of the wiring pattern 23 is assigned to.

【0034】続いて、配線パターン23の座標データは
集まりBの座標データと比較される。この結果では、交
差座標はなくテーブルX、Yには何も割り付けられな
い。
Subsequently, the coordinate data of the wiring pattern 23 is compared with the coordinate data of the group B. In this result, there is no intersection coordinate and nothing is assigned to the tables X and Y.

【0035】最後に、各テーブルX、Yにおいて、同じ
配線パターンの識別コードが異なる2以上のビアホール
の識別コードに割り付けられたとき、CPU4によりそ
の配線パターン23が分断されていることが報知される
(ステップ309 )。
Finally, in each of the tables X and Y, when the identification code of the same wiring pattern is assigned to the identification codes of two or more different via holes, the CPU 4 informs that the wiring pattern 23 is divided. (Step 309).

【0036】すなわち、テーブルXにおいて、配線パタ
ーン23の識別コード“a”が、ビアホール24aの識
別コード“”と、ビアホール24gの識別コード
“”との2つに対応されているので、配線パターン2
3が分断されていることがCRT3の表示画面に表示さ
れる。この報知方法については、配線パターン23が分
断された表示画面上の領域に不良を示すような色を付け
ても良く、配線パターン23の外形線と交差しているビ
アホール24a、24gの識別コード“”“”をC
RT3に表示しても良い。
That is, in Table X, since the identification code "a" of the wiring pattern 23 corresponds to the identification code "" of the via hole 24a and the identification code "" of the via hole 24g, the wiring pattern 2
The fact that 3 is divided is displayed on the display screen of the CRT 3. As for this notification method, the area on the display screen where the wiring pattern 23 is divided may be colored so as to indicate a defect, and the identification code of the via holes 24a and 24g intersecting with the outline of the wiring pattern 23 is """ Is C
It may be displayed on RT3.

【0037】一方、ステップ303 の判断において各クリ
アランスホール25の重複がなかった場合や、ステップ
308 の判断において、同じクリアランスホール25のみ
にしか配線パターン23の外形線が交差しなかった場合
などは、CPU4によりCRT3の表示画面上に、基板
の設計に問題のないことが所定形式で表示される(ステ
ップ310 )。
On the other hand, if there is no overlap between the clearance holes 25 in the judgment of step 303,
In the judgment of 308, if the outlines of the wiring pattern 23 intersect only in the same clearance hole 25, the CPU 4 displays on the display screen of the CRT 3 in a predetermined format that there is no problem in the design of the board. (Step 310).

【0038】このように本実施例の基板設計装置によれ
ば、基板21のレイアウト設計を行った後、入力部1を
所定操作することにより、基板21の検査を主記憶部2
に格納したさまざまなデータに基づいて基板設計装置自
身に行わせることができるので、設計者が目視で検査す
るのに比較して検査時間を飛躍的に短縮化できる。
As described above, according to the board designing apparatus of this embodiment, after the layout of the board 21 is designed, the input section 1 is operated in a predetermined manner so that the board 21 is inspected.
Since it is possible to have the board design apparatus itself perform the processing based on various data stored in, the inspection time can be drastically shortened as compared with the visual inspection by the designer.

【0039】また、基板21の設計ミス、例えばビアホ
ール24a〜24hおよび配線パターン22、23など
のレイアウトミスなどがあり、本例のようにビアホール
24a、24b、24c、24d、24gと同心のクリ
アランスホール25により配線パターン23が分断され
ていることを確実に検出することができる。
Further, there is a design mistake of the substrate 21, for example, a layout mistake of the via holes 24a to 24h and the wiring patterns 22 and 23. As in this example, clearance holes concentric with the via holes 24a, 24b, 24c, 24d and 24g. 25, it is possible to reliably detect that the wiring pattern 23 is divided.

【0040】なお、この基板検査モジュールは、重複し
たクリアランスホールの集まりの外形線と配線パターン
の外形線とが1か所でも交差した場合に不良と見なすよ
う変更することも可能である。
This board inspection module can be modified so that if the outline of a collection of overlapping clearance holes and the outline of a wiring pattern intersect at even one place, it is considered defective.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上説明したように本発明の基板設計装
置によれば、基板のレイアウト設計後に、データ格納部
に格納したさまざまなデータを用いて基板の検査を自動
的に行えるので、設計上のミスを短時間に、しかも確実
に検出できる。
As described above, according to the board designing apparatus of the present invention, after the layout design of the board, the board can be automatically inspected by using various data stored in the data storage unit. The mistake can be detected reliably in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る一実施例の基板設計装置のハード
ウェア構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a hardware configuration of a board designing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の基板設計装置により設計された基板を示
す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a board designed by the board designing apparatus of FIG.

【図3】この実施例における基板設計装置の検査動作を
示すフロ―チャ―トである。
FIG. 3 is a flowchart showing an inspection operation of the board designing apparatus in this embodiment.

【図4】この実施例における基板設計装置の主記憶部に
設定されるテーブルである。
FIG. 4 is a table set in a main storage unit of the board design apparatus in this embodiment.

【図5】この実施例における基板設計装置の外形線比較
動作例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a contour line comparing operation of the board designing apparatus in this embodiment.

【図6】一般的な多層プリント基板の断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view of a general multilayer printed circuit board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…キーボード、2…主記憶部、3…CRT、4…CP
U、21…基板、22、23…配線パターン、24a〜
24h…ビアホール、25…クリアランスホール。
1 ... Keyboard, 2 ... Main memory, 3 ... CRT, 4 ... CP
U, 21 ... Substrate, 22, 23 ... Wiring pattern, 24a ...
24h ... via hole, 25 ... clearance hole.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に設けられた配線パターンの外形
線の座標データおよび複数のビアホールの中心点の座標
データと前記各ビアホールから前記配線パターンを絶縁
するためのクリアランス部の半径の大きさのデータとが
それぞれ格納されたデータ格納部と、 前記データ格納部から前記各ビアホールの中心点および
前記クリアランス部の半径の大きさの各データを読み出
し、それぞれのクリアランス部が互いに重複するか否か
を判定する手段と、 前記判定手段の判定結果に基づき、重複したクリアラン
ス部をその集まり毎に分類する分類手段と、 前記データ格納部から前記配線パターンの外形線の座標
データを読み出し、前記各分類されたクリアランス部の
集まりを示すデータと比較し互いの交差点を検出する手
段と、 前記検出手段の検出結果に基づき、その配線パターンが
分断されていることを報知する報知手段とを具備するこ
とを特徴とする基板設計装置。
1. The coordinate data of the outline of a wiring pattern provided on a substrate, the coordinate data of the center points of a plurality of via holes, and the size of the radius of a clearance portion for insulating the wiring pattern from each of the via holes. The data storage unit that stores the data and the respective data of the size of the radius of the center point of each of the via holes and the clearance unit are read from the data storage unit, and it is determined whether or not the clearance units overlap each other. Determining means, a classifying means for classifying the overlapping clearance portions for each group based on the determination result of the determining means, and reading the coordinate data of the outline of the wiring pattern from the data storage section, and classifying each of the above. Means for detecting the intersections of the clearances by comparing with the data indicating the collection of the clearance portions, and Based on the results, the substrate design apparatus characterized by comprising a notification means for notifying that the wiring pattern is divided.
【請求項2】 請求項1記載の基板設計装置において、 前記分類手段が、前記判定手段の判定結果に基づき、重
複したクリアランス部の集まり毎にテーブルを設定する
手段と、設定された前記テーブルに各クリアランス部に
対応する前記ビアホールの識別子を割り付ける手段とを
有することを特徴とする基板設計装置。
2. The board design apparatus according to claim 1, wherein the classifying unit sets a table for each set of overlapping clearance portions based on the determination result of the determining unit, and sets the table. And a means for allocating the identifier of the via hole corresponding to each clearance portion.
【請求項3】 請求項2記載の基板設計装置において、 前記報知手段が、前記検出手段の検出結果に基づき、あ
るクリアランス部の集まりに前記配線パターンとの交差
点が検出された場合、各交差点の位置から対応するビア
ホールを求め、前記テーブル内のビアホールに前記配線
パターンの識別子を割り付ける手段と、この割付手段に
より同じ配線パターンの識別子が前記テーブル内の異な
る2以上のビアホールに割り付けられた場合、その配線
パターンが分断されていることを報知する手段とを有す
ることを特徴とする基板設計装置。
3. The board design apparatus according to claim 2, wherein when the notifying unit detects an intersection with the wiring pattern in a set of clearances based on the detection result of the detecting unit, A means for allocating the corresponding via hole from the position and allocating the identifier of the wiring pattern to the via hole in the table, and the case where the allocating means allocates the same wiring pattern identifier to two or more different via holes in the table, A board designing device comprising: means for notifying that the wiring pattern is divided.
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