JPH0613475Y2 - 構造物表面の付着物サンプリング及び分析測定装置 - Google Patents

構造物表面の付着物サンプリング及び分析測定装置

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JPH0613475Y2
JPH0613475Y2 JP11332587U JP11332587U JPH0613475Y2 JP H0613475 Y2 JPH0613475 Y2 JP H0613475Y2 JP 11332587 U JP11332587 U JP 11332587U JP 11332587 U JP11332587 U JP 11332587U JP H0613475 Y2 JPH0613475 Y2 JP H0613475Y2
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JP
Japan
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chamber
hole
sampling
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deposits
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JP11332587U
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JPS6375843U (ja
Inventor
昌春 山里
Original Assignee
東亜電波工業株式会社
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、各種構造物の表面に付着した塩分等をサンプ
リングすると同時に、その分析測定を行なう装置に関す
る。
〔従来の技術〕
鉄橋やボイラ容器等の金属の構造物は、腐食を防止する
ために定期的に表面塗装を行なう必要がある。しかし、
これらの構造物の表面には塩分等が付着するので、多量
の塩分等が付着したまゝ表面塗装を行なうと構造物表面
が発錆して塗膜が浮いたり破壊され、そこから錆が一層
広がつて構造物の腐食が進行しやすい。
そこで従来から、構造物の塗装を行なう前に、構造物表
面の付着物の状況を調べ、塩分等の付着量を測定して、
そのまゝ塗装を行なつても良いか又は構造物表面を洗浄
してから塗装すべきかを判定している。しかも、この付
着物の測定は、付着物が構造物表面に散在しているの
で、一定面積の表面から付着物をサンプリングし、分析
する方法に依らなければならない。
かゝる付着物のサンプリング及び分析測定方法として
は、構造物表面の一定面積の周囲をテープ等でマスキン
グし、テープ等で囲まれた表面を清浄なガーゼ等で拭き
取り、これを一定量の水等の抽出液に浸漬して付着物を
溶解させ、イオン活量測定用電極、比色計、電導度計等
を用いて付着物を分析測定する方法が一般的であつた。
しかし、従来の付着物サンプリング及び分析測定方法に
は次に述べるような欠点があつた。
(1)サンプリング操作に非常に多くの時間と手数を要す
る。
(2)狭い場所や足場の悪い場所でのサンプリング操作が
極めて困難である。
(3)サンプリングにガーゼを用いる為、不純物の付着侵
入の防止に慎重を期する必要がある。
(4)サンプリングの手法上、付着物の抽出が難しく、従
つて個人差を生じやすい。
(5)サンプリングと分析測定を別個に別の場所で行なう
ので、煩雑である。
〔考案が解決しようとする問題点〕
本考案は、かかる従来の事情に鑑み、サンプリングと分
析測定を同時に同じ場所で行なうことができ、しかも操
作が簡単で個人差も生じ難い構造物表面の付着物サンプ
リング及び分析測定装置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本考案の構造物表面の付着物サンプリング及び分析測定
装置は、軸方向両端に開口した貫通孔を有する筒状本体
と、貫通孔内に設けられ該貫通孔を一端側の第1室と他
端側の第2室とに分割する隔壁と、隔壁に形成され第1
室と第2室とを連通する少なくとも1つの連通口と、貫
通孔の一端側開口から第1室に気密に挿入したピストン
と、筒状本体に第2室と外部とを連通するように形成し
た少なくとも1つの通気孔と、筒状本体に第2室内に検
出端を露出させて固定した検出用電極と、筒状本体の他
端側開口を除いてその周囲に固定したシール部材と、シ
ール部材の裏面又は外周に固定した磁石とを具えてい
る。
〔実施例〕
本考案装置の一具体例を図面により説明する。
この付着物のサンプリング及び分析測定装置は、軸方向
両端にサンプリングに必要な一定面積で開口した貫通孔
2を有する筒状本体1からなり、この貫通孔2に一端側
から隔壁5を有するシリンダー6が気密に挿着されて、
この貫通孔2を一端側の第1室3と他端側の第2室4と
に分割している。又、隔壁5には第1室3と第2室4と
を連通する1つの連通口7が周辺部に形成してある。シ
リンダー6の隔壁5で仕切られた第1室3内にはピスト
ン8が気密に挿入してあり、ピストン8の出し入れによ
つて精製水等の抽出液を連通口7を通して第1室3と第
2室4の間で循環できるようになつている。
隔壁5に設ける連通口7の配置については、本装置の取
付方向等との関係で、抽出液が第2室4内で最も攪拌さ
れるような数や位置を決定することができる。図示する
ように隔壁5をシリンダ6と一体に形成する等して貫通
孔2内に着脱可能に挿着しておけば、別の連通口7を有
する隔壁5と容易に交換できるので便利である。
筒状本体1の他端側は大径になつていて、第2室4の他
端近傍に第1通気孔9が及び隔壁5付近に第2通気孔
9′が夫々第2室4と外部とを連通するように形成して
ある。これらの第1通気孔9、第2通気孔9′は夫々外
部への開口部を栓14で封鎖できるようになつている。筒
状本体1の他端側には検出用電極10がその検出端を第2
室4内に露出させて固定してあり、リード栓11が検出用
電極10から図示しない表示部等に接続されている。更
に、筒状本体1の他端表面には貫通孔2の開口を除いて
全面にシリコーンゴム等からなるシール部材12が貼付け
てある。このシール部材12の一端寄り内側には円環状の
磁石13が貫通孔2の周りに同心円状に埋め込んであり、
鉄橋等の構造物表面にシール部材12を磁力により圧着で
きるようになつている。
〔作用〕
第1室3内にシリンダー6とピストン8により一定量の
抽出液を計量したのち、そのまゝ他端側シール部材12を
鉄橋等の構造物15の表面に磁石13で液漏れのないように
圧着させる。図示するように構造物15の表面が上にある
場合には、貫通孔2の他端近傍に開口する第1通気孔9
の栓14を外して外部と連通させ、その後ピストン8を押
し込んで第1室3内の抽出液を第2室4内に噴出させ
る。ピストン8を出し入れすれば、抽出液が第1室3と
第2室4を往復すると同時に、第1通気孔9を通して排
気と吸気が行なわれるので、抽出液は第2室4に噴出し
て構造物15の表面に激しく接触し、そこに付着している
塩分等の付着物が抽出液に溶解して抽出される。抽出液
中に溶解した付着物の濃度等は第2室4に露出した検出
用電極10で検出され、電気信号に変換されて表示装置に
表示される。尚、抽出液は電導度の場合は精製水を、イ
オン電極の場合は精製水又は硝酸カリウム水溶液等を用
いる。
図面では構造物15の表面が上にある場合を説明したが、
構造物15の表面が横又は下にある場合も同様にサンプリ
ング及び分析測定が可能である。その場合に最も排気と
吸気が容易になる位置に通気孔を配置し、且つ抽出液の
量を調整する必要がある。例えば構造物15の表面が下に
ある場合には、第2室4の隔壁5近くに開口した第2通
気孔9′を開き、第2通気孔9′に達しない量の抽出液
を用いる必要があり、抽出液の攪拌の為には連通口7に
抽出液に達する細長いチユーブを取付けてピストン8で
抽出液を攪拌するか、若しくは第1通気孔9から送気し
て抽出液を攪拌する等の手段を採つても良い。
〔考案の効果〕
本考案によれば、あらゆる位置にある構造物表面の一定
面積内の付着物をサンプリングすると同時にその場で分
析測定することができ、しかも操作が極めて簡単で個人
差がなく、精度の良い分析測定が可能である。
【図面の簡単な説明】
図面は本考案の構造物表面の付着物サンプリング及び分
析測定装置の一具体例を示す断面図である。 1……筒状本体、2……貫通孔、3……第1室 4……第2室、5……隔壁、6……シリンダー 7……連通口、8……ピストン 9……第1通気孔、9′……第2通気孔 10……検出用電極、12……シール部材 13……磁石、15……構造物
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01N 27/416

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】軸方向両端に開口した貫通孔を有する筒状
    本体と、貫通孔内に設けられ該貫通孔を一端側の第1室
    と他端側の第2室とに分割する隔壁と、隔壁に形成され
    第1室と第2室とを連通する少なくとも1つの連通口
    と、貫通孔の一端側開口から第1室に気密に挿入したピ
    ストンと、筒状本体に第2室と外部とを連通するように
    形成した少なくとも1つの通気孔と、筒状本体に第2室
    内に検出端を露出させて固定した検出用電極と、筒状本
    体の他端側開口を除いてその周囲に固定したシール部材
    と、シール部材の裏面又は外周に固定した磁石とを含
    む、構造物表面の付着物サンプリング及び分析測定装
    置。
  2. 【請求項2】隔壁が貫通孔内に着脱可能に気密に挿着さ
    れていることを特徴とする、実用新案登録請求の範囲
    (1)項記載の構造物表面の付着物サンプリング及び分析
    測定装置。
JP11332587U 1987-07-23 1987-07-23 構造物表面の付着物サンプリング及び分析測定装置 Expired - Lifetime JPH0613475Y2 (ja)

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JP11332587U JPH0613475Y2 (ja) 1987-07-23 1987-07-23 構造物表面の付着物サンプリング及び分析測定装置

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JPS6375843U JPS6375843U (ja) 1988-05-20
JPH0613475Y2 true JPH0613475Y2 (ja) 1994-04-06

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JP11332587U Expired - Lifetime JPH0613475Y2 (ja) 1987-07-23 1987-07-23 構造物表面の付着物サンプリング及び分析測定装置

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JP2010151465A (ja) * 2008-12-24 2010-07-08 Dkk Toa Corp 構造物表面の塩分測定装置
JP5761020B2 (ja) * 2010-03-16 2015-08-12 東亜ディーケーケー株式会社 表面付着成分測定装置

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