JPH0612634A - Device for measuring magnetic head position - Google Patents

Device for measuring magnetic head position

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JPH0612634A
JPH0612634A JP19301092A JP19301092A JPH0612634A JP H0612634 A JPH0612634 A JP H0612634A JP 19301092 A JP19301092 A JP 19301092A JP 19301092 A JP19301092 A JP 19301092A JP H0612634 A JPH0612634 A JP H0612634A
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JP
Japan
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magnetic head
optical system
light beam
drum
reflected light
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Application number
JP19301092A
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Japanese (ja)
Inventor
Koichi Yoshikawa
功一 吉川
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPH0612634A publication Critical patent/JPH0612634A/en
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Abstract

PURPOSE:To measure the positions of the magnetic heads even when the heights of the magnetic heads are different by holding an optical block so as to be moved along the rotary shaft of a rotary drum and optically measuring the projecting amounts of the magnetic heads. CONSTITUTION:Optical system moving mechanisms 40 to 64 are held on specified positions by holding mechanisms 30, 32, 33 and 34 and when an optical system holding member 54 is moved along the rotary shaft of a rotary drum 16 by these mechanisms 40 to 64, the head positions are measured by changing the position of the holding member 54 even when the heights of the magnetic heads are different. Also, by freely attaching and detaching the optical system moving mechanisms 40 to 64 to and from the drum supporting member 12 of the rotary drum 16 the head positions can be measured easily attaching them.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題(図17) 課題を解決するための手段(図2、図4、図8及び図1
1) 作用(図2、図4、図8及び図11) 実施例 (1)測定原理(図1) (2)磁気ヘツド位置測定治具(図2〜図6) (3)光学系移動機構(図2、図3及び図7) (4)光学ブロツク(図2、図3、図8〜図10) (5)位置決め機構(図4及び図11) (6)突出量検出回路(図12〜図16) (7)実施例の効果 (8)他の実施例 発明の効果
[Table of Contents] The present invention will be described in the following order. Field of the Invention Conventional Technology Problem to be Solved by the Invention (FIG. 17) Means for Solving the Problem (FIG. 2, FIG. 4, FIG. 8 and FIG. 1)
1) Action (FIGS. 2, 4, 8 and 11) Example (1) Measuring principle (FIG. 1) (2) Magnetic head position measuring jig (FIGS. 2 to 6) (3) Optical system moving mechanism (FIGS. 2, 3 and 7) (4) Optical block (FIGS. 2, 3, 8-10) (5) Positioning mechanism (FIGS. 4 and 11) (6) Projection amount detection circuit (FIG. 12) (FIG. 16) (7) Effect of the embodiment (8) Other embodiment Effect of the invention

【0002】[0002]

【産業上の利用分野】本発明は磁気ヘツド位置測定装置
に関し、例えばビデオテープレコーダの回転磁気ヘツド
の突出量、磨耗量を測定する場合に適用し得る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetic head position measuring device, which can be applied to, for example, measuring the amount of protrusion and wear of a rotating magnetic head of a video tape recorder.

【0003】[0003]

【従来の技術】従来、この種のビデオテープレコーダに
おいては、回転ドラムの外周面から所定量だけ磁気ヘツ
ドを突出させた状態で、この磁気ヘツドを磁気テープに
摺接させることにより、磁気テープを傷めることなく、
確実に記録再生し得るようになされている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a video tape recorder of this type, the magnetic head is slidably contacted with the magnetic tape while the magnetic head is projected from the outer peripheral surface of the rotary drum by a predetermined amount. Without damaging
It is designed so that recording and reproduction can be surely performed.

【0004】このため組み立て時、この種のビデオテー
プレコーダにおいては、ダイアルゲージ等を用いて磁気
ヘツドの突出量を測定し、この突出量を調整するように
なされている。
Therefore, at the time of assembly, in this type of video tape recorder, the protrusion amount of the magnetic head is measured by using a dial gauge or the like, and the protrusion amount is adjusted.

【0005】またこの種のビデオテープレコーダにおい
ては、長時間使用すると磁気ヘツドが磨耗することによ
り、突出量だけでなく、電磁変換特性も変化する。
In addition, in this type of video tape recorder, not only the amount of protrusion but also the electromagnetic conversion characteristics change due to wear of the magnetic head after long-term use.

【0006】このためこの種のビデオテープレコーダに
おいては、定期的に突出量を測定することによりこの磨
耗量を検出し、必要に応じて磁気ヘツドを交換するよう
になされている。
Therefore, in this type of video tape recorder, the amount of wear is detected by periodically measuring the amount of protrusion, and the magnetic head is replaced as necessary.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところが従来の測定方
法においては、実用上未だ不充分な問題がある。すなわ
ち従来の測定方法においては、プローブを磁気ヘツドに
接触させて突出量を測定することにより、このプローブ
が磨耗すると、その分測定精度が劣化する。さらにプロ
ーブで磁気ヘツドを傷つける場合もある。
However, the conventional measuring method still has a problem in practical use. That is, in the conventional measuring method, the probe is brought into contact with the magnetic head to measure the amount of protrusion, and when the probe is worn, the measurement accuracy deteriorates accordingly. In addition, the probe may damage the magnetic head.

【0008】この問題を解決する一つの方法として、光
学的手法を用いて磁気ヘツドの位置を検出する方法が考
えられる(特開昭 62-158616号公報)。
As one method for solving this problem, a method of detecting the position of the magnetic head by using an optical method can be considered (Japanese Patent Laid-Open No. 62-158616).

【0009】この方法の場合、非接触で測定し得ること
により、この種の問題を解決することができる。
In the case of this method, it is possible to solve this kind of problem because the measurement can be performed without contact.

【0010】ところが図17に示すように、この種のビ
デオテープレコーダにおいては、複数の磁気ヘツドを回
転ドラムに搭載し、この各磁気ヘツドが回転ドラムの軸
方向に異なる位置(すなわちドラム軸方向の高さが相違
する場合でなる)に取り付けられたものがある。
However, as shown in FIG. 17, in this type of video tape recorder, a plurality of magnetic heads are mounted on a rotary drum, and the magnetic heads are located at different positions in the axial direction of the rotary drum (that is, in the drum axial direction). It is attached when the height is different).

【0011】このため光学的手法をこの種のビデオテー
プレコーダに適用する場合、全ての磁気ヘツドについて
簡易に突出量を測定することが困難な問題があつた。
Therefore, when the optical method is applied to this type of video tape recorder, there is a problem that it is difficult to easily measure the protrusion amount for all magnetic heads.

【0012】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、非接触で、異なる高さに磁気ヘツドが取り付けられ
ている場合でも、簡易に突出量及び磨耗量を測定するこ
とができる磁気ヘツド位置測定装置を提案しようとする
ものである。
The present invention has been made in consideration of the above points, and it is possible to easily measure the amount of protrusion and the amount of wear even if magnetic heads are attached to different heights in a non-contact manner. The head position measuring device is proposed.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め第1の発明においては、回転ドラム16に搭載された
磁気ヘツド2A〜2Dに対して光ビームLA1を照射す
ると共に、磁気ヘツド2A〜2Dから得られる光ビーム
LA1の反射光ビームLA2を検出し、反射光ビームL
A2の検出結果S0に基づいて、磁気ヘツド2A〜2D
の位置を検出する磁気ヘツド位置検出装置10におい
て、光ビームLA1を照射する光ビーム照射光学系1、
4と、反射光ビームLA2を受光する反射光ビーム受光
光学系3、5と、光ビーム照射光学系1、4及び反射光
ビーム受光光学系3、5を保持する光学系保持部材54
と、光学系保持部材54を回転ドラム16の回転軸に沿
つて移動させる光学系移動機構40〜64と、光学系移
動機構40〜64を所定位置に保持する保持機構30、
32、33、34とを備えるようにする。
In order to solve the above problems, in the first invention, the magnetic heads 2A to 2D mounted on the rotary drum 16 are irradiated with the light beam LA1 and the magnetic heads 2A to 2D are also irradiated. The reflected light beam LA2 of the light beam LA1 obtained from
Based on the detection result S0 of A2, the magnetic heads 2A to 2D
In the magnetic head position detecting device 10 for detecting the position of the
4, the reflected light beam receiving optical systems 3 and 5 for receiving the reflected light beam LA2, and the optical system holding member 54 for holding the light beam irradiation optical systems 1 and 4 and the reflected light beam receiving optical systems 3 and 5.
An optical system moving mechanism 40 to 64 for moving the optical system holding member 54 along the rotation axis of the rotary drum 16, and a holding mechanism 30 for holding the optical system moving mechanism 40 to 64 at a predetermined position.
32, 33, and 34.

【0014】さらに第2の発明において、光ビーム照射
光学系1、4及び又は反射光ビーム受光光学系3、5
は、磁気ヘツド2A〜2Dから光ビームLA1を射出す
る光源1までの光路及び又は磁気ヘツド2A〜2Dから
反射光ビームLA2を受光する受光素子5までの光路
を、回転ドラム16の回転軸方向とほぼ平行に延長する
ように、直角に折り曲げて形成する。
Further, in the second invention, the light beam irradiation optical systems 1 and 4 and / or the reflected light beam receiving optical systems 3 and 5 are provided.
Is the optical path from the magnetic heads 2A to 2D to the light source 1 that emits the light beam LA1 and / or the optical path from the magnetic heads 2A to 2D to the light receiving element 5 that receives the reflected light beam LA2, in the rotation axis direction of the rotating drum 16. It is formed by bending it at a right angle so that it extends substantially in parallel.

【0015】さらに第3の発明において、保持機構3
0、32、33、34は、光学系移動機構40〜64を
着脱自在に保持する。
Further, in the third invention, the holding mechanism 3
Reference numerals 0, 32, 33, and 34 detachably hold the optical system moving mechanisms 40 to 64.

【0016】さらに第4の発明において、保持機構3
0、32、33、34は、回転ドラム16のドラム支え
部材12に対して、光学系移動機構40〜64を着脱自
在に保持する。
Further, in the fourth invention, the holding mechanism 3
Reference numerals 0, 32, 33, and 34 detachably hold the optical system moving mechanisms 40 to 64 with respect to the drum support member 12 of the rotary drum 16.

【0017】さらに第5の発明において、保持機構3
0、32、33、34は、所定の位置決め機構38を有
し、位置決め機構38は、回転ドラム16を形成する固
定ドラム14に対して、光ビーム照射光学系1、4及び
反射光ビーム受光光学系3、5を所定位置に保持する。
Further, in the fifth invention, the holding mechanism 3
Reference numerals 0, 32, 33, and 34 each have a predetermined positioning mechanism 38, and the positioning mechanism 38, with respect to the fixed drum 14 forming the rotary drum 16, has the light beam irradiation optical systems 1 and 4 and the reflected light beam receiving optical system. Hold the systems 3, 5 in place.

【0018】[0018]

【作用】保持機構30、32、33、34で光学系移動
機構40〜64を所定位置に保持し、この光学系移動機
構40〜64で光学系保持部材54を回転ドラム16の
回転軸に沿つて移動させれば、磁気ヘツド2A〜2Dの
高さが異なる場合でも、各磁気ヘツド2A〜2D毎に光
学系保持部材54の位置を変位させてヘツド位置を測定
することができる。
The holding mechanisms 30, 32, 33 and 34 hold the optical system moving mechanisms 40 to 64 at predetermined positions, and the optical system moving mechanisms 40 to 64 move the optical system holding member 54 along the rotary shaft of the rotary drum 16. If the magnetic heads 2A to 2D have different heights, the head position can be measured by displacing the position of the optical system holding member 54 for each of the magnetic heads 2A to 2D.

【0019】このとき磁気ヘツド2A〜2Dから光ビー
ムLA1を射出する光源1までの光路及び又は磁気ヘツ
ド2A〜2Dから反射光ビームLA2を受光する受光素
子5までの光路を、回転ドラム16の回転軸方向に直角
に折り曲げて形成すれば、その分回転ドラム16回りの
スペースを有効に利用して測定精度を向上し得る。
At this time, the rotating drum 16 rotates through the optical path from the magnetic heads 2A to 2D to the light source 1 for emitting the light beam LA1 and the optical path from the magnetic heads 2A to 2D to the light receiving element 5 for receiving the reflected light beam LA2. If it is formed by bending at a right angle to the axial direction, the space around the rotary drum 16 can be effectively utilized by that much and the measurement accuracy can be improved.

【0020】これに対して光学系移動機構40〜64を
着脱自在に保持すれば、所望の回転ドラムについてヘツ
ド位置を測定することができる。
On the other hand, if the optical system moving mechanisms 40 to 64 are detachably held, the head position of the desired rotating drum can be measured.

【0021】またこのとき回転ドラム16のドラム支え
部材12に対して、光学系移動機構40〜64を着脱自
在に保持すれば、簡易に取り付けてヘツド位置を測定す
ることができる。
At this time, if the optical system moving mechanisms 40 to 64 are detachably held with respect to the drum supporting member 12 of the rotary drum 16, the head position can be measured by simply attaching them.

【0022】位置決め機構38で回転ドラム6を形成す
る固定ドラム14に対して、光ビーム照射光学系1、4
及び反射光ビーム受光光学系3、5を所定位置に保持す
れば、再現性のよい測定結果を得ることができる。
With respect to the fixed drum 14 forming the rotary drum 6 by the positioning mechanism 38, the light beam irradiation optical systems 1, 4 are provided.
If the reflected light beam receiving optical systems 3 and 5 are held at predetermined positions, reproducible measurement results can be obtained.

【0023】[0023]

【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0024】(1)測定原理 図1は、磁気ヘツド位置測定装置の概略構成を示し、レ
ーザダイオード1から射出した光ビームLA1を磁気ヘ
ツド2で反射して位置検出素子3で受光することによ
り、磁気ヘツド2の位置を検出する。
(1) Measuring Principle FIG. 1 shows a schematic structure of a magnetic head position measuring device. A light beam LA1 emitted from a laser diode 1 is reflected by a magnetic head 2 and received by a position detecting element 3. The position of the magnetic head 2 is detected.

【0025】すなわち磁気ヘツド位置測定装置は、レー
ザダイオード1及び対物レンズ4で照射光学系を形成
し、この照射光学系は、レーザダイオード1から射出し
た光ビームLA1を対物レンズ4で集光し、これにより
磁気ヘツド2にレーザダイオード1の光源像を形成す
る。
That is, the magnetic head position measuring apparatus forms an irradiation optical system with the laser diode 1 and the objective lens 4, and this irradiation optical system collects the light beam LA1 emitted from the laser diode 1 with the objective lens 4. As a result, a light source image of the laser diode 1 is formed on the magnetic head 2.

【0026】これに対して磁気ヘツド位置測定装置は、
位置検出素子3及び集光レンズ5で受光光学系を形成
し、この受光光学系は、磁気ヘツド2で反射した反射光
ビームLA2を集光レンズ5で集光し、これにより位置
検出素子3の受光面上にレーザダイオード1の光源像を
形成する。
On the other hand, the magnetic head position measuring device is
A light receiving optical system is formed by the position detecting element 3 and the condensing lens 5, and this light receiving optical system condenses the reflected light beam LA2 reflected by the magnetic head 2 by the condensing lens 5, whereby the position detecting element 3 A light source image of the laser diode 1 is formed on the light receiving surface.

【0027】この照射光学系及び受光光学系は、回転ド
ラム6の回転中心軸に垂直な面内に配置され、突出量が
規定値の1/2の磁気ヘツドを基準にして、光ビームL
A1の入射角と反射光ビームLA2の反射角とが等しく
なるように配置される。
The irradiation optical system and the light receiving optical system are arranged in a plane perpendicular to the rotation center axis of the rotating drum 6, and the light beam L is based on the magnetic head whose protrusion amount is 1/2 of the specified value.
It is arranged so that the incident angle of A1 and the reflection angle of the reflected light beam LA2 are equal.

【0028】すなわち磁気ヘツド位置測定装置は、回転
ドラム6の回転中心から磁気ヘツド2を通つて延長する
延長線Vに対して、この延長線Vと突出量が1/2の磁
気ヘツドの回転軌跡Wとが形成する交点JW を通過し、
かつ延長線Vと45度の角度をなす直線上に光軸を形成す
るように、照射光学系及び受光光学系を配置する。
That is, in the magnetic head position measuring device, with respect to the extension line V extending from the rotation center of the rotary drum 6 through the magnetic head 2, the extension line V and the protrusion of the magnetic head have a rotation locus of 1/2. Pass the intersection J W formed by W and
Further, the irradiation optical system and the light receiving optical system are arranged so that the optical axis is formed on a straight line forming an angle of 45 degrees with the extension line V.

【0029】このように照射光学系及び受光光学系を配
置した状態で、磁気ヘツド2の突出量が変化すると、位
置検出素子3上の光源像の位置が変位する。
When the projection amount of the magnetic head 2 changes with the irradiation optical system and the light receiving optical system thus arranged, the position of the light source image on the position detecting element 3 is displaced.

【0030】すなわち基準位置JW の前後の位置J1及
びJ2で反射した光ビームLA2は受光素子3の受光面
上で光源像I1及びI2を形成し、その分光源像の形成
位置が変位する。
That is, the light beams LA2 reflected at the positions J1 and J2 before and after the reference position J W form the light source images I1 and I2 on the light receiving surface of the light receiving element 3, and the formation position of the light source image is displaced by that amount.

【0031】このとき光源像I1及びI2、集光レンズ
5の主点Oが形成する三角形△I1I2Oと、位置J1
及びJ2、集光レンズ5の主点Oが形成する三角形△J
1J2Oとは相似することにより、受光素子3から集光
レンズ5の主点Oまでの距離をE1、集光レンズ5の主
点Oから磁気ヘツド2までの距離をE2とすると、次式
At this time, the light source images I1 and I2, the triangle ΔI1I2O formed by the principal point O of the condenser lens 5, and the position J1.
And J2, the triangle ΔJ formed by the principal point O of the condenser lens 5
By analogy with 1J2O, if the distance from the light receiving element 3 to the principal point O of the condenser lens 5 is E1 and the distance from the principal point O of the condenser lens 5 to the magnetic head 2 is E2,

【数1】 [Equation 1]

【数2】 [Equation 2]

【数3】 の関係式が成立する。[Equation 3] The relational expression of is established.

【0032】ここで磁気ヘツド2の突出量をδRとおく
と、次式
If the amount of protrusion of the magnetic head 2 is δR,

【数4】 で表し得ることにより、(1)式に代入して、次式[Equation 4] By substituting into equation (1),

【数5】 の関係式を得ることができる。[Equation 5] The relational expression of can be obtained.

【0033】これにより位置検出素子3の検出結果S0
に基づいて、磁気ヘツド2の突出量δRを検出し得るこ
とが分かり、集光レンズ5の焦点距離を所望の値に選定
して距離E1及びE2を選定することにより、測定精度
を向上し得ることが分かる。
As a result, the detection result S0 of the position detecting element 3 is obtained.
It is found that the protrusion amount δR of the magnetic head 2 can be detected based on the above, and the measurement accuracy can be improved by selecting the focal length of the condenser lens 5 to a desired value and selecting the distances E1 and E2. I understand.

【0034】かくしてこの実施例においては、突出量検
出回路9で位置検出素子3の検出結果S0を処理するこ
とにより、磁気ヘツド2の突出量を磁気ヘツド毎に検出
する。
Thus, in this embodiment, the protrusion amount detection circuit 9 processes the detection result S0 of the position detecting element 3 to detect the protrusion amount of the magnetic head 2 for each magnetic head.

【0035】(2)磁気ヘツド位置測定治具 図2において、10は全体として磁気ヘツド位置測定治
具を示し、図3及び図4に示すように、回転ヘツド装置
7のドラム支え12に取り付けて使用する。
(2) Magnetic head position measuring jig In FIG. 2, reference numeral 10 indicates a magnetic head position measuring jig as a whole, which is attached to the drum support 12 of the rotary head device 7 as shown in FIGS. 3 and 4. use.

【0036】因みに図5に示すように、回転ヘツド装置
7は、下ドラム14、中ドラム16及び上ドラム18を
同軸に保持して形成され、下ドラム14は、シヤーシに
固定されて保持される。
Incidentally, as shown in FIG. 5, the rotary head device 7 is formed by coaxially holding the lower drum 14, the middle drum 16 and the upper drum 18, and the lower drum 14 is fixedly held by the chassis. .

【0037】さらに下ドラム14は、ベアリング20を
介してドラム軸22を軸支し、ドラム軸22は、中ドラ
ム16を支持するようになされている。
Further, the lower drum 14 supports a drum shaft 22 via a bearing 20, and the drum shaft 22 supports the middle drum 16.

【0038】ドラム支え12は、この上ドラム18を下
ドラム14に固定し、これにより回転ドラム装置7にお
いては、上ドラム18及び下ドラム14で磁気テープ2
4をガイドした状態で中ドラム16を回転駆動し、この
中ドラム16に搭載された磁気ヘツド2(2A、2B)
を磁気テープ24に摺接させる。
The drum support 12 fixes the upper drum 18 to the lower drum 14, so that the upper drum 18 and the lower drum 14 in the rotary drum device 7 are connected to the magnetic tape 2 by the magnetic tape 2.
The magnetic drum 2 (2A, 2B) mounted on the intermediate drum 16 is driven by rotating the intermediate drum 16 while guiding the magnetic head 4.
Are brought into sliding contact with the magnetic tape 24.

【0039】ここで図6に示すように、中ドラム22に
おいては、ねじ26を用いて、4つの磁気ヘツド4A〜
4Bを搭載するようになされている。これにより回転ド
ラム装置7においては、この4つの磁気ヘツド4A〜4
Bで磁気テープ24を走査して、順次斜めに記録トラツ
クを形成するようになされている。
Here, as shown in FIG. 6, in the middle drum 22, by using the screws 26, four magnetic heads 4A to 4A.
It is designed to be equipped with 4B. As a result, in the rotary drum device 7, the four magnetic heads 4A to 4A are
The magnetic tape 24 is scanned at B, and recording tracks are sequentially formed obliquely.

【0040】このドラム支え12においては、上側にね
じ穴12Aが形成され(図2)、つまみ30の先端に形
成されたねじ(図示せず)を、アーム32の貫通穴を貫
通させてこのねじ穴12Aにねじ込むことにより、つま
み30を操作して磁気ヘツド位置測定治具10を回転ヘ
ツド装置7に取り付け得るようになされている。
In this drum support 12, a screw hole 12A is formed on the upper side (FIG. 2), and a screw (not shown) formed at the tip of the knob 30 is passed through the through hole of the arm 32 to form this screw. By screwing into the hole 12A, the knob 30 can be operated to attach the magnetic head position measuring jig 10 to the rotary head device 7.

【0041】このアーム32は、先端部分に形成された
回動軸33で、アーム34を回動自在に軸支し、この回
動軸33に取りつけたねじりコイルバネ35(図4)
で、矢印aで示すように回転ヘツド装置7の方向に、ア
ーム34を付勢するようになされている。
The arm 32 has a rotating shaft 33 formed at its tip end, which rotatably supports the arm 34, and a torsion coil spring 35 attached to the rotating shaft 33 (FIG. 4).
The arm 34 is urged in the direction of the rotary head device 7 as indicated by the arrow a.

【0042】このアーム34は、磁気ヘツド位置測定装
置の光学系を形成する光学ブロツク36と、この光学ブ
ロツク36を回転ヘツド装置7の回転軸に沿つて移動さ
せる光学系移動機構と、光学ブロツク36を回転ヘツド
装置7に対して位置決めする位置決め機構38とを搭載
し、これによりつまみ30、アーム32、回動軸33及
びねじりコイルバネ36と共に、磁気ヘツド位置測定治
具10の保持機構を形成する。
The arm 34 comprises an optical block 36 forming an optical system of the magnetic head position measuring device, an optical system moving mechanism for moving the optical block 36 along the rotation axis of the rotary head device 7, and an optical block 36. Is mounted on the rotary head device 7, and thereby a holding mechanism for the magnetic head position measuring jig 10 is formed together with the knob 30, the arm 32, the rotating shaft 33 and the torsion coil spring 36.

【0043】(3)光学系移動機構 アーム34は、回転ヘツド装置7の回転軸と平行に2本
のガイド棒40及び42を植立して保持し、このガイド
棒40及び42で光学系ブロツク36の移動方向をガイ
ドする。
(3) Optical system moving mechanism The arm 34 vertically stands and holds two guide rods 40 and 42 in parallel with the rotation axis of the rotary head device 7, and the guide rods 40 and 42 serve as an optical system block. Guide the moving direction of 36.

【0044】さらに図7に示すようにアーム34は、ス
テツピングモータ44の回転軸48がガイド棒40及び
42と平行になるように、ねじ46でステツピングモー
タ44を保持し、このステツピングモータ44は、継手
50を介して、駆動軸52が連結されるようになされて
いる。
Further, as shown in FIG. 7, the arm 34 holds the stepping motor 44 with a screw 46 so that the rotation shaft 48 of the stepping motor 44 is parallel to the guide rods 40 and 42. The drive shaft 52 is connected via the joint 50.

【0045】この駆動軸52は、先端部分にM3細目の
ねじ加工が施され、ステツピングモータ44を駆動して
所望の回転方向に回転し得るようになされている。
The drive shaft 52 has an M3 fine thread on its tip end so that it can rotate in a desired rotation direction by driving the stepping motor 44.

【0046】これに対して光学ブロツク36のベース部
材54は、ガイド棒40及び42が貫通する貫通穴(図
2及び図4)に加えて、この駆動軸52が貫通する貫通
穴56が形成され、駆動軸52と噛み合うタツプ板58
を、この貫通穴56の上端面にねじ60でねじ留めする
ようになされている。
On the other hand, in the base member 54 of the optical block 36, in addition to the through holes (FIGS. 2 and 4) through which the guide rods 40 and 42 pass, a through hole 56 through which the drive shaft 52 passes is formed. , A tap plate 58 that meshes with the drive shaft 52
Is fastened to the upper end surface of the through hole 56 with a screw 60.

【0047】これによりベース部材54は、駆動軸52
が回転すると、ガイド棒40及び42でガイドされて矢
印bで示すように上下方向に移動するようになされ、こ
れにより磁気ヘツド位置測定装置においては、ステツピ
ングモータ44を駆動して光学ブロツク36及び位置決
め機構38を回転ヘツド装置7の回転軸に沿つて可動し
得るようになされている。
As a result, the base member 54 is fixed to the drive shaft 52.
When it rotates, it is guided by the guide rods 40 and 42 to move in the vertical direction as shown by the arrow b. Therefore, in the magnetic head position measuring device, the stepping motor 44 is driven to drive the optical block 36 and the optical block 36. The positioning mechanism 38 can be moved along the rotation axis of the rotary head device 7.

【0048】なおタツプ板58の上部には、波型スプリ
ングワツシヤ62を押圧するようにタツプ板64が駆動
軸52にねじ込まれ、このタツプ板64の回転をピン6
6で制限するようになされている。
A tap plate 64 is screwed onto the drive shaft 52 so as to press the corrugated spring washer 62 above the tap plate 58.
It is designed to be restricted by 6.

【0049】これにより磁気ヘツド位置測定治具10に
おいては、この波型スプリングワツシヤ62の広がる力
を利用して、駆動軸52の回転に伴うがたを未然に防止
し、このがたによる測定精度の劣化を未然に防止するよ
うになされている。
As a result, in the magnetic head position measuring jig 10, rattling due to the rotation of the drive shaft 52 is prevented by using the spreading force of the wave spring washer 62, and the measurement by this rattling is performed. It is designed to prevent deterioration of accuracy.

【0050】このピン66は、ベース部材54の上端面
から植立するように保持され、この上端位置がベース部
材54の上端面から所定長さだけ突出するように調整さ
れる。
The pin 66 is held so as to stand upright from the upper end surface of the base member 54, and the upper end position is adjusted so as to project from the upper end surface of the base member 54 by a predetermined length.

【0051】これに対して継手50においては、駆動軸
と直交するようにピン68が配置され、これによりステ
ツピングモータ44を駆動してベース部材54が所定位
置まで上方向に移動すると、それまで回転していたピン
68がピン66に当たるようになされている。
On the other hand, in the joint 50, the pin 68 is arranged so as to be orthogonal to the drive shaft, which drives the stepping motor 44 to move the base member 54 upward to a predetermined position. The rotating pin 68 hits the pin 66.

【0052】これにより磁気ヘツド位置測定治具10に
おいては、所定位置以上ベース部材54が上方向に移動
しないように保持し、この上側の位置をピン66で設定
することにより、簡易な構成で測定のための基準位置を
設定し得るようになされている。
As a result, in the magnetic head position measuring jig 10, the base member 54 is held so as not to move upward more than a predetermined position, and the upper position is set by the pin 66, so that the measurement can be performed with a simple structure. The reference position for is set so that it can be set.

【0053】(4)光学ブロツク 光学ブロツク36は、ベース部材54にレーザ光源等の
光学部品を保持し、これによりこの磁気ヘツド位置測定
治具の光学系を形成する。
(4) Optical Block The optical block 36 holds an optical component such as a laser light source on the base member 54, thereby forming an optical system of this magnetic head position measuring jig.

【0054】すなわち図8に示すように、光学ブロツク
36は、レーザダイオードブロツク70及びレンズブロ
ツク72でレーザダイオード1、絞り74及び対物レン
ズ4をベース部材54に保持し、PSDブロツク76を
介して位置検出素子3をベース部材54に保持する。
That is, as shown in FIG. 8, the optical block 36 holds the laser diode 1, the diaphragm 74, and the objective lens 4 on the base member 54 with the laser diode block 70 and the lens block 72, and the position through the PSD block 76. The detection element 3 is held by the base member 54.

【0055】このとき光学ブロツク36は、集光レンズ
5で集光した反射光ビームLA2をミラー78で直角に
反射することにより、この反射光ビームLA2を回転ヘ
ツド装置7の回転軸に沿つて平行に位置検出素子3に導
く。
At this time, the optical block 36 reflects the reflected light beam LA2 condensed by the condenser lens 5 at a right angle by the mirror 78, so that the reflected light beam LA2 is parallel along the rotation axis of the rotary head device 7. To the position detection element 3.

【0056】すなわち(5)式について上述したよう
に、集光レンズ5から位置検出素子3までの距離E1を
大きくすれば、検出精度を向上し得る。
That is, as described above with respect to the expression (5), the detection accuracy can be improved by increasing the distance E1 from the condenser lens 5 to the position detecting element 3.

【0057】ところがビデオテープレコーダにおいて
は、回転ヘツド装置7の周囲にガイドポスト等の磁気テ
ープ走行系が形成されることにより、回転ヘツド装置7
の周囲にスペースが少なく、反射光ビームLA2を直線
的に位置検出素子3に導いたのでは、この距離E1を大
きくし得ない特徴がある。
However, in the video tape recorder, a magnetic tape running system such as a guide post is formed around the rotary head device 7 so that the rotary head device 7 can be operated.
There is a small space around and the distance E1 cannot be increased if the reflected light beam LA2 is linearly guided to the position detecting element 3.

【0058】ところがこの実施例のように、光路を直角
に折り曲げて形成すれば、その分少ないスペースを有効
利用して距離E1を大きくし得、これにより測定精度を
向上することができる。
However, if the optical path is formed by bending it at a right angle as in this embodiment, the space E can be effectively utilized to increase the distance E1 and the measurement accuracy can be improved.

【0059】なおミラー78は、ベース部材54に形成
した反射光ビームLA2の光路形成用の貫通穴に対し
て、この貫通穴の裏側から所定の止め板80(図2、図
3)でミラー78を抑え、この止め板80をねじ82で
ねじ止めすることにより、ベース部材54に固定され
る。
The mirror 78 has a through hole for forming the optical path of the reflected light beam LA2 formed in the base member 54, and a mirror 78 is provided from the back side of the through hole with a predetermined stop plate 80 (FIGS. 2 and 3). By fixing the stopper plate 80 with a screw 82, the fixing plate 80 is fixed to the base member 54.

【0060】これに対して図9に示すように、対物レン
ズ4においては、ベース部材54の貫通穴に差し込んだ
後、絞り74と共にベース部材54及びレンズブロツク
72で挟み込むようにして保持され、これによりベース
部材54の所定位置に保持される。
On the other hand, as shown in FIG. 9, in the objective lens 4, after being inserted into the through hole of the base member 54, the objective lens 4 is held so as to be sandwiched by the base member 54 and the lens block 72 together with the diaphragm 74. Is held at a predetermined position on the base member 54.

【0061】このときレンズブロツク72は、平行ピン
84をベース部材54の穴86に差し込んで位置決めし
た後、ねじ88でねじ留めされるようになされている。
At this time, the lens block 72 is adapted to be screwed by a screw 88 after the parallel pin 84 is inserted into the hole 86 of the base member 54 for positioning.

【0062】これに対してレーザダイオード1は、レー
ザダイオードブロツク70に差し込まれた後、後側から
レーザダイオード押さえ板90をレーザダイオードブロ
ツク70にねじ89で固定し、これによりレーザダイオ
ードブロツク70に固定される。
On the other hand, the laser diode 1 is inserted into the laser diode block 70, and then the laser diode pressing plate 90 is fixed to the laser diode block 70 from the rear side with the screw 89, thereby fixing to the laser diode block 70. To be done.

【0063】このレーザダイオードブロツク70は、ね
じ92を貫通穴94に差し込んでレンズブロツク72に
ねじ込むことにより、レンズブロツク72を介してベー
ス部材54に固定される。
The laser diode block 70 is fixed to the base member 54 through the lens block 72 by inserting a screw 92 into the through hole 94 and screwing the lens block 72.

【0064】この貫通穴94は、上下方向に延長する長
穴で形成され、これによりレーザダイオードブロツク7
0は、ねじ92でねじ留めする際に上下方向に位置調整
し得るようになされている。
The through hole 94 is formed as an elongated hole extending in the vertical direction, whereby the laser diode block 7 is formed.
The position 0 can be adjusted in the vertical direction when screwed with the screw 92.

【0065】この位置調整作業を簡略化するため、レン
ズブロツク72は、上端に形成したねじ穴を使用してね
じ96でレーザダイオード調整板98をねじ留めする。
In order to simplify this position adjusting work, the lens block 72 is screwed to the laser diode adjusting plate 98 with the screw 96 using the screw hole formed at the upper end.

【0066】レーザダイオード調整板98は、貫通穴1
00とねじ穴102が形成され、レーザダイオードブロ
ツク70は、この貫通穴100に対応してねじ穴104
が形成されるようになされている。
The laser diode adjusting plate 98 has a through hole 1
00 and a screw hole 102 are formed, and the laser diode block 70 corresponds to the through hole 100 and has a screw hole 104.
Are formed.

【0067】これによりレーザダイオードブロツク70
は、ねじ106を貫通穴100に貫通させてねじ穴10
4にねじ込んだ後、このねじ106を増し締めして上方
向に移動し得るのに対し、ねじ穴102にねじ込んだね
じ108を増し締めしてレーザダイオード調整板98か
らねじ108の突出量を増大させ得、これにより下方向
に移動し得るようになされている。
As a result, the laser diode block 70
Screw the screw 106 through the through hole 100 and
After being screwed in 4, the screw 106 can be further tightened to move upward, whereas the screw 108 screwed in the screw hole 102 can be further tightened to increase the protrusion amount of the screw 108 from the laser diode adjusting plate 98. It is made possible to move downward.

【0068】かくして磁気ヘツド位置調整治具10にお
いては、簡易な調整機構でレーザダイオード1の取り付
け位置を調整し得るようになされている。
Thus, in the magnetic head position adjusting jig 10, the mounting position of the laser diode 1 can be adjusted by a simple adjusting mechanism.

【0069】図10に示すようにPSDブロツク76
は、平行ピン110を衝にしてねじ112でベース部材
54に固定される。
As shown in FIG. 10, a PSD block 76
Is fixed to the base member 54 with a screw 112 with the parallel pin 110 facing.

【0070】さらにPSDブロツク76は、上端面に溝
が形成され、この溝に位置検出素子3を差し込んだ後、
裏側から押さえ板114をねじ116でねじ留めするこ
とにより、位置検出素子3を保持する。
Further, the PSD block 76 has a groove formed on the upper end surface thereof, and after the position detecting element 3 is inserted into this groove,
The position detecting element 3 is held by screwing the pressing plate 114 with screws 116 from the back side.

【0071】この押さえ板11は、溝の延長方向を遮る
ように断面コ字状に形成され、この両側板に形成された
ねじ穴にねじ118をねじ込んでこのねじ118の突出
量を調整することにより、位置検出素子3の両側面をね
じ118を押圧し、これにより簡易な調整機構で位置検
出素子3を位置決めし得るようになされている。
The pressing plate 11 is formed in a U-shaped cross section so as to block the extending direction of the groove, and the screw 118 is screwed into the screw holes formed on both side plates to adjust the protruding amount of the screw 118. Thereby, the screws 118 are pressed against both side surfaces of the position detecting element 3, whereby the position detecting element 3 can be positioned by a simple adjusting mechanism.

【0072】(5)位置決め機構 図11に示すように、位置決め機構38は、回転ヘツド
装置7側に突出する位置決めピン120(図4)の突出
量を調整することにより、回転ヘツド装置7から光学ブ
ロツク36までの距離を調整し、これにより光学ブロツ
ク36を位置決めする。
(5) Positioning Mechanism As shown in FIG. 11, the positioning mechanism 38 adjusts the amount of protrusion of the positioning pin 120 (FIG. 4) protruding toward the rotary head device 7 side so that the rotary head device 7 can be optically moved. The distance to the block 36 is adjusted, thereby positioning the optical block 36.

【0073】すなわち位置決めピン120は、矢印aで
示すように、ねじりコイルバネ36でアーム32が回転
ヘツド装置7側に付勢されることにより、その先端が回
転ヘツド装置7の下ドラムに当接するようになされ、こ
れによりこの突出量を調整して回転ヘツド装置7から光
学ブロツク36までの距離を調整する。
That is, as shown by the arrow a, the position of the positioning pin 120 is such that the arm 32 is biased toward the rotary head device 7 side by the torsion coil spring 36, so that the tip of the arm 32 contacts the lower drum of the rotary head device 7. In this way, the amount of protrusion is adjusted to adjust the distance from the rotary head device 7 to the optical block 36.

【0074】ここで位置決め機構38は、位置決めブロ
ツク122をねじ124でベース部材54に固定するよ
うになされ、このときベース部材54側に開口する溝1
25に位置決め軸126を差し込んで保持する。
Here, the positioning mechanism 38 is configured to fix the positioning block 122 to the base member 54 with the screw 124, and at this time, the groove 1 opening to the base member 54 side.
The positioning shaft 126 is inserted into 25 and held.

【0075】この位置決め軸126は、中間部分にねじ
加工が施された後、テーパが形成され、このテーパの部
分とねじ加工された部分との間に脱落防止用のつばが形
成されるようになされている。
The positioning shaft 126 is formed with a taper after the intermediate portion is threaded so that a fall-preventing collar is formed between the tapered portion and the threaded portion. Has been done.

【0076】位置決め軸126は、このねじ加工された
部分を位置決め軸保持板128のねじ穴にねじ込み、こ
の位置決め軸保持板128は、ねじ130で位置決めブ
ロツク122に固定されるようになされている。
The positioning shaft 126 is configured such that the threaded portion is screwed into the screw hole of the positioning shaft holding plate 128, and the positioning shaft holding plate 128 is fixed to the positioning block 122 with the screw 130.

【0077】さらに位置決め軸126は、ねじ加工部分
から延長する先端部分をつまみ132の貫通穴に差し込
んでセツトスクリユー134で固定され、これによりつ
まみ132を操作して自在に回転し得るようになされて
いる。
Further, the positioning shaft 126 is fixed at the set screw 134 by inserting the tip end portion extending from the threaded portion into the through hole of the knob 132, whereby the knob 132 can be freely rotated by operating the knob 132. ing.

【0078】従つて位置決め軸126は、このつまみ1
32の回転に伴い位置決め軸保持板128のねじ穴でガ
イドされて、矢印dで示すように、溝125に沿つて移
動するようになされている。
Accordingly, the positioning shaft 126 has the knob 1
With the rotation of 32, it is guided by the screw hole of the positioning shaft holding plate 128 and moves along the groove 125 as shown by an arrow d.

【0079】位置決めブロツク122は、この位置決め
軸126を保持した際に、この位置決め軸126のテー
パ部分が位置する部分に、溝125と直交するように貫
通穴を形成し、この貫通穴に位置決めピン120を差し
込んで保持する。
The positioning block 122 has a through hole formed at a position where the tapered portion of the positioning shaft 126 is located when the positioning shaft 126 is held, so as to be orthogonal to the groove 125, and the positioning pin is provided in the through hole. Insert and hold 120.

【0080】このとき位置決め機構38は、位置決めピ
ン120の脱落を防止するため、抜け止め板134をね
じ136で位置決めブロツク122にねじ留めする。
At this time, the positioning mechanism 38 screws the retaining plate 134 to the positioning block 122 with the screw 136 in order to prevent the positioning pin 120 from falling off.

【0081】かくして位置決めピン120においては、
位置決め軸126を溝125に沿つて移動させると、位
置決め軸126のテーパ部分で押し出され、これにより
磁気ヘツド位置測定結果10は、つまみ132を回転さ
せて簡易に位置決めし得るようになされている。
Thus, in the positioning pin 120,
When the positioning shaft 126 is moved along the groove 125, it is pushed out by the taper portion of the positioning shaft 126, whereby the magnetic head position measurement result 10 can be easily positioned by rotating the knob 132.

【0082】(6)突出量検出回路 磁気ヘツド位置検出装置においては、図12に示す突出
量検出回路9で位置検出素子3の出力信号S0を処理
し、これにより磁気ヘツドの突出量を検出する。
(6) Projection amount detection circuit In the magnetic head position detection device, the projection amount detection circuit 9 shown in FIG. 12 processes the output signal S0 of the position detection element 3 to detect the projection amount of the magnetic head. .

【0083】このとき突出量検出回路9においては、併
せて中ドラムの外周について、偏心量(以下周ぶれと呼
ぶ)を検出する。
At this time, the protrusion amount detection circuit 9 also detects the amount of eccentricity (hereinafter referred to as "circular deviation") on the outer periphery of the middle drum.

【0084】すなわち突出量検出回路9においては、回
転ドラムパルス発生器140で中ドラム16の回転周期
で信号レベルが立ち上がる回転ドラムパルスPGを生成
し、クロツクカウンタ142に出力する。
That is, in the protrusion amount detection circuit 9, the rotary drum pulse generator 140 generates the rotary drum pulse PG whose signal level rises in the rotation cycle of the middle drum 16, and outputs it to the clock counter 142.

【0085】回転ドラム周波数発生器144は、中ドラ
ム16が所定角度回転すると信号レベルが切り換わる回
転周波数信号FGを生成し、クロツクカウンタ142に
出力する。
The rotating drum frequency generator 144 generates a rotating frequency signal FG whose signal level is switched when the middle drum 16 rotates by a predetermined angle, and outputs it to the clock counter 142.

【0086】クロツクカウンタ142は、回転ドラムパ
ルスPGを基準にしてカウント値をリセツトして回転周
波数信号FGをカウントし、これにより中ドラム16が
1回転すると信号レベルが切り換わる回転周期信号及び
中ドラム16が所定角度回転すると信号レベルが切り換
わる回転角度信号を生成する。
The clock counter 142 resets the count value based on the rotating drum pulse PG and counts the rotating frequency signal FG. As a result, when the middle drum 16 makes one rotation, the signal level is switched and the middle cycle 16 When the drum 16 rotates a predetermined angle, a rotation angle signal whose signal level is switched is generated.

【0087】タイミングパルス発生回路146は、この
回転周期信号及び回転角度信号を基準にして制御回路1
48から出力される制御信号に基づいて、所定のタイミ
ングで立ち上がるサンプリングパルスを生成し、このサ
ンプリングパルスをサンプルホールド回路(SH)15
0に出力して位置検出素子3の出力信号S0をサンプル
ホールドする。
The timing pulse generating circuit 146 controls the control circuit 1 based on the rotation period signal and the rotation angle signal.
A sampling pulse which rises at a predetermined timing is generated based on a control signal output from 48, and this sampling pulse is sampled and held by a sample hold circuit (SH) 15
The output signal S0 of the position detecting element 3 is sampled and held.

【0088】これにより突出量検出回路9は、中ドラム
16の外周面の位置を所定角度毎に検出して周ぶれを検
出する。
As a result, the protrusion amount detection circuit 9 detects the position of the outer peripheral surface of the intermediate drum 16 at every predetermined angle to detect the circumferential deviation.

【0089】さらに突出量検出回路9は、同様にして磁
気ヘツドの位置検出結果を得、この位置検出結果から中
ドラム18の外周面の位置検出結果を減算して磁気ヘツ
ドの突出量を検出する。
Further, the protrusion amount detection circuit 9 similarly obtains the position detection result of the magnetic head, and subtracts the position detection result of the outer peripheral surface of the middle drum 18 from this position detection result to detect the protrusion amount of the magnetic head. .

【0090】すなわち図13に示すように、出力信号S
0においては、中ドラム18の回転に同期して信号レベ
ルが変化する。
That is, as shown in FIG. 13, the output signal S
At 0, the signal level changes in synchronization with the rotation of the middle drum 18.

【0091】このためこの実施例においては、回転ドラ
ムパルスPG及び回転周波数信号FGから生成した回転
周期信号及び回転角度信号を基準にして出力信号S0を
サンプルホールドすることにより、光ビームLA1の照
射位置を磁気ヘツドが横切るタイミングで出力信号S0
の信号レベルU1を検出し、これにより磁気ヘツドの摺
接面位置を検出する。
Therefore, in this embodiment, the output signal S0 is sampled and held on the basis of the rotation period signal and the rotation angle signal generated from the rotation drum pulse PG and the rotation frequency signal FG, so that the irradiation position of the light beam LA1 can be obtained. Output signal S0 at the timing when the magnetic head crosses the
Signal level U1 of the magnetic head, and the position of the sliding contact surface of the magnetic head is detected.

【0092】さらに光ビームLA1の照射位置を中ドラ
ム18の外周面が横切る期間の間、すなわち時点t1以
前又は時点t2以降の時点で出力信号S0の信号レベル
U2を検出し、これにより次式
Further, the signal level U2 of the output signal S0 is detected during the period in which the outer peripheral surface of the middle drum 18 crosses the irradiation position of the light beam LA1, that is, before the time t1 or after the time t2, and the following expression is obtained.

【数6】 の演算処理を実行して磁気ヘツドの突出量Yを検出す
る。
[Equation 6] Then, the magnetic head projection amount Y is detected.

【0093】このため制御回路148においては、サン
プルホールド回路150のサンプルホールド結果をアナ
ログデイジタル変換回路(AD)152を介して取り込
むようになされ、このときモータ駆動部154を介して
ステツピングモータ44を駆動し、これにより測定対象
となる磁気ヘツドの高さに応じて光学ブロツク36の位
置を調整する。
Therefore, in the control circuit 148, the sample and hold result of the sample and hold circuit 150 is fetched through the analog digital conversion circuit (AD) 152, and at this time, the stepping motor 44 is driven through the motor drive section 154. By driving, the position of the optical block 36 is adjusted according to the height of the magnetic head to be measured.

【0094】すなわち制御回路148においては、所定
の操作子の操作に応動して動作モードを切り換え、測定
開始の操作子が押圧操作されると、図14又は図15の
処理手順を実行する。
That is, in the control circuit 148, the operation mode is switched in response to the operation of a predetermined operator, and when the operator for starting the measurement is pressed, the processing procedure of FIG. 14 or 15 is executed.

【0095】ここで制御回路148においては、周ぶれ
測定モードに設定されて測定開始の操作子が押圧操作さ
れると、ステツプSP1からステツプSP2に移り、こ
こでモータ駆動回路154に制御信号を出力することに
より、ステツピングモータ44を駆動して光学ブロツク
36を上側に移動させる。
Here, in the control circuit 148, when the operation sensor for starting measurement is set in the circumferential shake measurement mode and the measurement start operator is pressed, the operation moves from step SP1 to step SP2, where a control signal is output to the motor drive circuit 154. By doing so, the stepping motor 44 is driven to move the optical block 36 upward.

【0096】このとき制御回路148においては、ステ
ツピングモータ44が回転困難になるまでステツピング
モータ44を回転駆動し、これにより光学ブロツク36
をピン66(図7)の突出量で決まる基準位置まで移動
させる。
At this time, in the control circuit 148, the stepping motor 44 is rotationally driven until the stepping motor 44 becomes difficult to rotate, whereby the optical block 36 is driven.
Is moved to a reference position determined by the protrusion amount of the pin 66 (FIG. 7).

【0097】続いてステツプSP3において制御回路1
48は、ステツピングモータ44を駆動して光学ブロツ
ク36を下側に移動させ、光学ブロツク36を中ドラム
16の外周面と対向させる。
Then, in step SP3, the control circuit 1
Reference numeral 48 drives the stepping motor 44 to move the optical block 36 downward so that the optical block 36 faces the outer peripheral surface of the intermediate drum 16.

【0098】この状態で制御回路148は、続くステツ
プSP4でタイミングパルス発生回路146の動作を切
り換え、これにより中ドラム16が22.5度回転する毎に
サンプルホールド回路150にサンプリングパルスを出
力する。
In this state, the control circuit 148 switches the operation of the timing pulse generation circuit 146 in the subsequent step SP4, and thereby outputs a sampling pulse to the sample hold circuit 150 every time the middle drum 16 rotates 22.5 degrees.

【0099】これにより制御回路148は、アナログデ
イジタル変換回路152を介して順次サンプルホールド
結果を取り込むことにより、中ドラム16の外周面を等
間隔に16等分してサンプル点を設定し、各サンプル点毎
に外周面の位置を検出する。
As a result, the control circuit 148 sequentially takes in the sample and hold results via the analog digital conversion circuit 152, divides the outer peripheral surface of the middle drum 16 into 16 equal intervals, and sets sample points. The position of the outer peripheral surface is detected for each point.

【0100】この外周面の測定が完了すると、制御回路
148はステツプSP6に移り、測定結果を操作表示部
156に表示する。
When the measurement of the outer peripheral surface is completed, the control circuit 148 moves to step SP6 and displays the measurement result on the operation display unit 156.

【0101】ここで図16に示すように操作表示部15
6は、突出量検出結果を選択する磁気ヘツド及びチヤン
ネル選択の操作子160及び162と、その選択結果を
表示するLED164及び166とが配置されるように
なされている。
Here, as shown in FIG. 16, the operation display unit 15
6, the magnetic head and channel selection operators 160 and 162 for selecting the protrusion amount detection result, and the LEDs 164 and 166 for displaying the selection result are arranged.

【0102】さらに操作表示部156は、周ぶれ測定モ
ードを表すLED168と、突出量及び周ぶれ測定結果
を表す表示部170が形成され、表示部170は、突出
量及び周ぶれ量を表す表示部172と、LEDを等角度
で配置して中ドラム16のサンプリング点に対応するよ
うに周ぶれ補正位置を表す調整指示部174が配置され
るようになされている。
Further, the operation display unit 156 is provided with an LED 168 indicating the circumferential shake measurement mode and a display unit 170 showing the projection amount and the circumferential shake measurement result. The display unit 170 is a display unit showing the projection amount and the circumferential shake amount. 172 and an LED are arranged at equal angles, and an adjustment instructing unit 174 is arranged so as to correspond to a sampling point of the middle drum 16 and indicates a circumferential shake correction position.

【0103】ここで制御回路148は、周ぶれ測定時、
周ぶれ測定モードを表すLED168を点灯する共に、
各サンプリング点の測定結果から平均値を検出し、この
平均値から最も偏差の大きなサンプリング点について調
整指示部174のLEDを点灯する。
Here, the control circuit 148 determines that
While turning on the LED 168 representing the shake measurement mode,
An average value is detected from the measurement result of each sampling point, and the LED of the adjustment instruction unit 174 is turned on for the sampling point having the largest deviation from this average value.

【0104】さらに制御回路148は、この最も大きな
偏差を表示部172に表示し、これによりオペレータに
おいて、表示部172の表示に基づいて周ぶれ量が規格
値以下か否か簡易に判断し得るようになされている。
Further, the control circuit 148 displays this largest deviation on the display unit 172, so that the operator can easily judge whether or not the amount of circumferential shake is below the standard value based on the display on the display unit 172. Has been done.

【0105】さらに制御回路148は、オペレータにお
いて、周ぶれ量が規格値以上の場合、調整指示部174
の表示に基づいて、簡易に調整箇所を確認し得るように
なされている。
Further, the control circuit 148 determines that the operator is instructed to make an adjustment instructing unit 174 when the amount of shake is not less than the standard value.
Based on the display of, the adjustment location can be easily confirmed.

【0106】さらに制御回路148は、このようにして
表示操作子156を駆動すると、続いてステツプSP6
に移り、再スタートの操作子が押圧操作されたか否か判
断し、ここで肯定結果が得られると、ステツプSP4に
戻る。
Further, when the control circuit 148 drives the display operator 156 in this manner, the control circuit 148 continues to step SP6.
Then, it is determined whether or not the restart operator has been pressed, and if a positive result is obtained here, the process returns to step SP4.

【0107】これによりオペレータにおいては、必要に
応じて周ぶれ測定を再開することにより、即座に調整結
果を確認し得、これにより必要に応じて測定及び調整作
業を繰り返して、簡易に周ぶれを補正することができ
る。
As a result, the operator can immediately confirm the adjustment result by restarting the circumference shake measurement as necessary, and by doing so, repeat the measurement and adjustment work as necessary to easily perform the circumference shake. Can be corrected.

【0108】これに対してステツプSP6において否定
結果が得られと、制御回路148はステツプSP7に移
つて停止の操作子が押圧操作されたか否か判断し、ここ
で否定結果が得られると、ステツプSP6に戻るのに対
し、ここで肯定結果が得られと、ステツプSP8に移つ
て周ぶれの測定を完了する。
On the other hand, if a negative result is obtained in step SP6, the control circuit 148 moves to step SP7 and determines whether or not the stop operator has been pressed. If a negative result is obtained here, the step is judged. While returning to SP6, if a positive result is obtained here, the process proceeds to step SP8 to complete the measurement of the shake.

【0109】かくして光学ブロツク36を回転ヘツド装
置7の回転軸に沿つて移動し得ることにより、磁気ヘツ
ドの突出量だけでなく、周ぶれをも簡易に検出すること
ができる。
Since the optical block 36 can be moved along the rotary shaft of the rotary head device 7 in this way, not only the amount of protrusion of the magnetic head but also the circumferential deviation can be easily detected.

【0110】これに対して周ぶれを調整した後、突出量
測定モードにおいて、測定開始の操作子が押圧操作され
ると、制御回路148は、ステツプSP9からステツプ
SP10に移り(図15)、最も上側に位置する磁気ヘ
ツドについて、この磁気ヘツドに対向する位置まで光学
ブロツク36を移動させる。
On the other hand, when the measurement start operator is pressed in the protrusion amount measurement mode after adjusting the circumferential deviation, the control circuit 148 shifts from step SP9 to step SP10 (FIG. 15), and With respect to the magnetic head located on the upper side, the optical block 36 is moved to a position facing the magnetic head.

【0111】続いて制御回路148は、ステツプSP1
1に移つてタイミングパルス発生回路146に制御信号
を出力し、この磁気ヘツドが光ビームLA1の照射位置
を横切るタイミングで出力信号S0をサンプルホールド
する。
Subsequently, the control circuit 148 proceeds to step SP1.
Then, the control signal is output to the timing pulse generation circuit 146, and the output signal S0 is sampled and held at the timing when the magnetic head crosses the irradiation position of the light beam LA1.

【0112】これにより制御回路148は、最も上側に
位置する磁気ヘツドについて、この磁気ヘツドの摺接面
の位置を検出した後、ステツプSP12に移つて全ての
磁気ヘツドについて測定を完了したか否か判断する。
As a result, the control circuit 148 detects, for the uppermost magnetic head, the position of the sliding contact surface of this magnetic head, and then moves to step SP12 to determine whether or not the measurement has been completed for all magnetic heads. to decide.

【0113】ここで否定結果が得られると、制御回路1
48は、ステツプSP10に戻り、続く磁気ヘツドに対
向する位置まで光学ブロツク36を移動させた後、ステ
ツプSP11に移る。
If a negative result is obtained here, the control circuit 1
Step 48 returns to step SP10, moves the optical block 36 to a position facing the subsequent magnetic head, and then moves to step SP11.

【0114】これにより制御回路148は、順次ステツ
プSP10−SP11−SP12−SP10の処理手順
を実行し、これにより中ドラム16に搭載された各磁気
ヘツドについて、順次光学ブロツク36の位置を移動さ
せて摺接面の位置を検出する。
As a result, the control circuit 148 sequentially executes the processing procedure of steps SP10-SP11-SP12-SP10, thereby sequentially moving the position of the optical block 36 for each magnetic head mounted on the middle drum 16. The position of the sliding contact surface is detected.

【0115】従つて磁気ヘツド位置測定装置において
は、いちいち光学ブロツク36の位置を調整しなくて
も、高さの異なる磁気ヘツドについて、自動的に摺接面
の位置を検出することができ、これにより組み立て作業
及びメンテナンス作業を格段的に簡略化することができ
る。
Therefore, in the magnetic head position measuring device, the position of the sliding contact surface can be automatically detected for the magnetic heads having different heights without adjusting the position of the optical block 36. As a result, the assembling work and the maintenance work can be greatly simplified.

【0116】かくして制御回路148においては、全て
の磁気ヘツドについて測定作業が完了すると、ステツプ
SP12において肯定結果が得られることにより、ステ
ツプSP13に移つて処理手順を完了する。
Thus, in the control circuit 148, when the measurement work is completed for all the magnetic heads, a positive result is obtained in step SP12, so that the process proceeds to step SP13 to complete the processing procedure.

【0117】さらにこのようにして測定結果が得られる
と、制御回路148においては、(5)、(6)式の演
算処理を実行して突出量を検出し、操作子160及び1
62の操作に応動してオペレータの選択した磁気ヘツド
について、表示部172に突出量をμm単位で表示す
る。
Further, when the measurement result is obtained in this way, the control circuit 148 executes the arithmetic processing of the equations (5) and (6) to detect the protrusion amount, and the operation elements 160 and 1
In response to the operation of 62, the projection amount of the magnetic head selected by the operator is displayed on the display unit 172 in units of μm.

【0118】(7)実施例の効果 以上の構成によれば、ステツピングモータを駆動して光
学ブロツクを回転ドラム装置の回転軸に沿つて移動し得
るようにし、順次このステツピングモータを駆動して位
置検出素子の出力信号S0を処理することにより、磁気
ヘツドの高さに応じて光学ブロツクの位置を調整して測
定結果を得ることができ、これにより磁気ヘツドの高さ
が異なる場合でも、磁気ヘツド毎に突出量を検出し得、
これに加えて周ぶれをも検出することができる。
(7) Effects of the Embodiments According to the above construction, the stepping motor is driven so that the optical block can be moved along the rotary shaft of the rotary drum device, and the stepping motor is sequentially driven. By processing the output signal S0 of the position detecting element with the magnetic head, the position of the optical block can be adjusted according to the height of the magnetic head to obtain a measurement result. Therefore, even when the height of the magnetic head is different, The amount of protrusion can be detected for each magnetic head,
In addition to this, it is possible to detect a shake in the circumference.

【0119】(8)他の実施例 なお上述の実施例においては、中ドラムに90度の角間隔
で磁気ヘツドを配置したビデオテープレコーダについて
磁気ヘツドの突出量を検出する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、種々のビデオテープレコーダに
適用して突出量を測定することができる。
(8) Other Embodiments In the above-mentioned embodiments, the case where the protrusion amount of the magnetic head is detected for the video tape recorder in which the magnetic heads are arranged on the middle drum at angular intervals of 90 degrees has been described.
The present invention is not limited to this, and can be applied to various video tape recorders to measure the amount of protrusion.

【0120】さらに上述の実施例においては、突出量に
加えて周ぶれを測定する場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、突出量だけ測定するようにしてもよ
い。
Further, in the above-mentioned embodiment, the case where the peripheral shake is measured in addition to the protrusion amount is described, but the present invention is not limited to this, and only the protrusion amount may be measured.

【0121】さらに上述の実施例においては、受光光学
系の光路を90度折り曲げた場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、充分なスペースを確保し得る場合、
光路を直線的に形成してもよい。
Further, in the above embodiment, the case where the optical path of the light receiving optical system is bent by 90 degrees has been described, but the present invention is not limited to this, and when a sufficient space can be secured,
The optical path may be formed linearly.

【0122】さらに上述の実施例においては、制御回路
でステツピングモータを駆動して自動的に突出量を測定
する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、必
要に応じて例えば光学ブロツクを手動で移動させるよう
にしてもよい。
Further, in the above-mentioned embodiment, the case where the control circuit drives the stepping motor to automatically measure the protrusion amount is described. However, the present invention is not limited to this, and if necessary, for example, an optical block may be performed. May be manually moved.

【0123】さらに上述の実施例においては、全体を治
具化して回転ドラム装置に取り外し得るように形成した
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、回転ド
ラム装置に一体化してもよい。このようにすれば、磁気
ヘツドの磨耗量を自己診断することもできる。
Further, in the above-mentioned embodiment, the case where the whole is formed into a jig so as to be detachable from the rotary drum device has been described, but the present invention is not limited to this, and may be integrated into the rotary drum device. . By doing so, it is possible to self-diagnose the wear amount of the magnetic head.

【0124】[0124]

【発明の効果】上述のように本発明によれば、回転ドラ
ムの回転軸に沿つて光学ブロツクを移動し得るように保
持し、この光学ブロツクで光学的に磁気ヘツドの突出量
を測定することにより、磁気ヘツドの高さが異なる場合
でも、光学ブロツクを移動させて磁気ヘツドの位置を測
定することができる。
As described above, according to the present invention, the optical block is held so as to be movable along the rotary shaft of the rotary drum, and the amount of protrusion of the magnetic head is optically measured by this optical block. Thus, even if the height of the magnetic head is different, the position of the magnetic head can be measured by moving the optical block.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の測定原理を示す略線図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing the measurement principle of the present invention.

【図2】磁気ヘツド位置測定治具を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a magnetic head position measuring jig.

【図3】その回転ドラムに取り付けた状態を示す斜視図
である。
FIG. 3 is a perspective view showing a state of being attached to the rotary drum.

【図4】その平面図である。FIG. 4 is a plan view thereof.

【図5】回転ヘツド装置を示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a rotary head device.

【図6】その中ドラムを示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a drum therein.

【図7】光学系移動機構の説明に供する断面図である。FIG. 7 is a sectional view for explaining an optical system moving mechanism.

【図8】光学系の説明に供する一部断面を取つて示す斜
視図である。
FIG. 8 is a perspective view showing a partial cross section for explaining an optical system.

【図9】そのレーザダイオードの周辺を示す分解斜視図
である。
FIG. 9 is an exploded perspective view showing the periphery of the laser diode.

【図10】その位置検出素子の周辺を示す分解斜視図で
ある。
FIG. 10 is an exploded perspective view showing the periphery of the position detecting element.

【図11】位置決めピンの周辺を示す分解斜視図であ
る。
FIG. 11 is an exploded perspective view showing the periphery of a positioning pin.

【図12】突出量検出回路を示すブロツク図である。FIG. 12 is a block diagram showing a protrusion amount detection circuit.

【図13】その動作の説明に供する信号波形図である。FIG. 13 is a signal waveform diagram for explaining the operation.

【図14】その周ぶれ測定の説明に供するフローチヤー
トである。
FIG. 14 is a flow chart used for the description of the measurement of the circumferential shake.

【図15】その磁気ヘツドの位置測定の説明に供するフ
ローチヤートである。
FIG. 15 is a flow chart used for explaining the position measurement of the magnetic head.

【図16】その表示操作部を示す平面図である。FIG. 16 is a plan view showing the display operation unit.

【図17】磁気ヘツドの高さが相違する場合の説明に供
する略線図である。
FIG. 17 is a schematic diagram for explaining the case where the heights of the magnetic heads are different.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1……レーザダイオード、2、2A〜2D……磁気ヘツ
ド、3……位置検出素子、4、5……レンズ、6……回
転ドラム、7……回転ヘツド装置、9……突出量検出回
路、10……磁気ヘツド位置測定治具、12……ドラム
支え、16……中ドラム、36……光学ブロツク、38
……位置決め機構、44……ステツピングモータ、14
8……制御回路。
1 ... Laser diode, 2, 2A to 2D ... Magnetic head, 3 ... Position detecting element, 4, 5 ... Lens, 6 ... Rotating drum, 7 ... Rotating head device, 9 ... Projection amount detecting circuit 10 ... Magnetic head position measuring jig, 12 ... Drum support, 16 ... Medium drum, 36 ... Optical block, 38
...... Positioning mechanism, 44 ...... Stepping motor, 14
8 ... Control circuit.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】回転ドラムに搭載された磁気ヘツドに対し
て光ビームを照射すると共に、上記磁気ヘツドから得ら
れる上記光ビームの反射光ビームを検出し、上記反射光
ビームの検出結果に基づいて、上記磁気ヘツドの位置を
検出する磁気ヘツド位置検出装置において、 上記光ビームを照射する光ビーム照射光学系と、 上記反射光ビームを受光する反射光ビーム受光光学系
と、 上記光ビーム照射光学系及び上記反射光ビーム受光光学
系を保持する光学系保持部材と、 上記光学系保持部材を上記回転ドラムの回転軸の沿つて
移動させる光学系移動機構と、 上記光学系移動機構を所定位置に保持する保持機構とを
具えたことを特徴とする磁気ヘツド位置測定装置。
1. A magnetic head mounted on a rotating drum is irradiated with a light beam, and a reflected light beam of the light beam obtained from the magnetic head is detected, and based on the detection result of the reflected light beam. A magnetic head position detecting device for detecting the position of the magnetic head; a light beam irradiation optical system for irradiating the light beam; a reflected light beam receiving optical system for receiving the reflected light beam; and a light beam irradiation optical system. And an optical system holding member for holding the reflected light beam receiving optical system, an optical system moving mechanism for moving the optical system holding member along the rotation axis of the rotary drum, and holding the optical system moving mechanism at a predetermined position. A magnetic head position measuring device characterized by comprising:
【請求項2】上記光ビーム照射光学系及び又は上記反射
光ビーム受光光学系は、上記磁気ヘツドから上記光ビー
ムを射出する光源までの光路及び又は上記磁気ヘツドか
ら上記反射光ビームを受光する受光素子までの光路を、
上記回転ドラムの回転軸方向とほぼ平行に延長するよう
に、直角に折り曲げて形成したことを特徴とする請求項
1に記載の磁気ヘツド位置測定装置。
2. The light beam irradiating optical system and / or the reflected light beam receiving optical system includes an optical path from the magnetic head to a light source for emitting the light beam and / or a light receiving device for receiving the reflected light beam from the magnetic head. The optical path to the element,
2. The magnetic head position measuring device according to claim 1, wherein the magnetic head position measuring device is formed by bending the rotary drum at a right angle so as to extend substantially parallel to the rotation axis direction of the rotary drum.
【請求項3】上記保持機構は、上記光学系移動機構を着
脱自在に保持することを特徴とする請求項1又は請求項
2に記載の磁気ヘツド位置測定装置。
3. The magnetic head position measuring device according to claim 1, wherein the holding mechanism holds the optical system moving mechanism in a detachable manner.
【請求項4】上記保持機構は、上記回転ドラムのドラム
支え部材に対して、上記光学系移動機構を着脱自在に保
持することを特徴とする請求項3に記載の磁気ヘツド位
置測定装置。
4. The magnetic head position measuring device according to claim 3, wherein the holding mechanism detachably holds the optical system moving mechanism with respect to a drum supporting member of the rotary drum.
【請求項5】上記保持機構は、所定の位置決め機構を有
し、 上記位置決め機構は、上記回転ドラムを形成する固定ド
ラムに対して、上記光ビーム照射光学系及び上記反射光
ビーム受光光学系を所定位置に保持することを特徴とす
る請求項1、請求項2、請求項3又は請求項4に記載の
磁気ヘツド位置測定装置。
5. The holding mechanism has a predetermined positioning mechanism, and the positioning mechanism includes the light beam irradiation optical system and the reflected light beam receiving optical system with respect to a fixed drum forming the rotary drum. The magnetic head position measuring device according to claim 1, 2, 3, or 4, which is held at a predetermined position.
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