JPH06117941A - 温度計測装置 - Google Patents
温度計測装置Info
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- JPH06117941A JPH06117941A JP4269015A JP26901592A JPH06117941A JP H06117941 A JPH06117941 A JP H06117941A JP 4269015 A JP4269015 A JP 4269015A JP 26901592 A JP26901592 A JP 26901592A JP H06117941 A JPH06117941 A JP H06117941A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数の温度計測部の温度を、リレーの接点を
順次切換えてサイクリックに計測する装置において、リ
レー接点の長寿命化と、異常温度発生部の計測回数を増
やして温度変化を詳細に計測すること。 【構成】 温度計測部１Ａ〜１Ｃの温度をサイクリック
に切換えてディジタル温度計測装置３に入力する接点Ｒ
ｙａ〜Ｒｙｃと、この接点を有するリレーＲＹＡ〜ＲＹ
Ｃを切換える切換装置２とから成り、ディジタル温度計
測装置３は、温度計測部の検出温度ＴＡ〜ＴＣと、各温
度計測部１Ａ〜１Ｃの危険温度設定値ＴＡ＊〜ＴＣ＊を
設定する危険温度設定器３２と、これらの信号を入力し
て、リレーの切換時間および計測回数を設定して切換装
置２に切換指令を出すＣＰＵ３４で構成する。
順次切換えてサイクリックに計測する装置において、リ
レー接点の長寿命化と、異常温度発生部の計測回数を増
やして温度変化を詳細に計測すること。 【構成】 温度計測部１Ａ〜１Ｃの温度をサイクリック
に切換えてディジタル温度計測装置３に入力する接点Ｒ
ｙａ〜Ｒｙｃと、この接点を有するリレーＲＹＡ〜ＲＹ
Ｃを切換える切換装置２とから成り、ディジタル温度計
測装置３は、温度計測部の検出温度ＴＡ〜ＴＣと、各温
度計測部１Ａ〜１Ｃの危険温度設定値ＴＡ＊〜ＴＣ＊を
設定する危険温度設定器３２と、これらの信号を入力し
て、リレーの切換時間および計測回数を設定して切換装
置２に切換指令を出すＣＰＵ３４で構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は温度計測装置に関し、特
に半導体、変圧器又は断路器等の主回路電圧が課電され
ている導体部分の多数箇所の温度を常時測定するに適し
た計測装置に関する。
に半導体、変圧器又は断路器等の主回路電圧が課電され
ている導体部分の多数箇所の温度を常時測定するに適し
た計測装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】半導体装置や変圧器又は接触部のある断
路器や遮断器等の温度を常時監視して、機器の故障又は
異常加熱による事故を未然に防止することが行われてい
る。この場合、多数箇所の導体部分にサーミスタ等の温
度検出センサを直接設けて各部の温度を測定することが
行われる。
路器や遮断器等の温度を常時監視して、機器の故障又は
異常加熱による事故を未然に防止することが行われてい
る。この場合、多数箇所の導体部分にサーミスタ等の温
度検出センサを直接設けて各部の温度を測定することが
行われる。
【０００３】図４はかかる温度計測装置の従来例を示
し、その（ａ）は単独検出の場合を示している。同図に
おいて、Ｓ1，Ｓ2，Ｓnはサーミスタによる温度検出セ
ンサーで、被温度検出箇所（図示省略）に取付けられて
いる。Ａ1，Ａ2，Ａnは前記各温度センサＳ1，Ｓ2，Ｓn
に接続され、該センサの検出信号を増巾する絶縁増巾器
を示す。温度検出センサは被温度検出箇所がサイリスタ
や変圧器又は断路器等の高電圧が課電されている導体に
直接取付けられ、課電されている状態で温度測定される
ので絶縁増巾器が使用され高電圧の主回路と制御部とを
絶縁している。４１は温度監視装置を示し、複数の被温
度検出箇所の温度は個々にこの温度監視装置４１によっ
て計測および監視される。
し、その（ａ）は単独検出の場合を示している。同図に
おいて、Ｓ1，Ｓ2，Ｓnはサーミスタによる温度検出セ
ンサーで、被温度検出箇所（図示省略）に取付けられて
いる。Ａ1，Ａ2，Ａnは前記各温度センサＳ1，Ｓ2，Ｓn
に接続され、該センサの検出信号を増巾する絶縁増巾器
を示す。温度検出センサは被温度検出箇所がサイリスタ
や変圧器又は断路器等の高電圧が課電されている導体に
直接取付けられ、課電されている状態で温度測定される
ので絶縁増巾器が使用され高電圧の主回路と制御部とを
絶縁している。４１は温度監視装置を示し、複数の被温
度検出箇所の温度は個々にこの温度監視装置４１によっ
て計測および監視される。
【０００４】図４（ｂ）は時分割検出の従来例を示し、
絶縁増巾器Ａを１個とし、温度検出センサＳ1〜Ｓnの検
出信号はリレーの接点Ｒy1〜Ｒynを介して絶縁増巾器Ａ
に入力されるようになし、各リレーの接点Ｒy1〜Ｒynは
切換装置５２によってサイクリックに切換えて時分割に
複数の被温度検出部の温度を温度監視装置５１に入力し
て測定する。切換装置５２は、例えば発振器Ｏ，カウン
タＣ，リレー回路Ｒから構成されている。
絶縁増巾器Ａを１個とし、温度検出センサＳ1〜Ｓnの検
出信号はリレーの接点Ｒy1〜Ｒynを介して絶縁増巾器Ａ
に入力されるようになし、各リレーの接点Ｒy1〜Ｒynは
切換装置５２によってサイクリックに切換えて時分割に
複数の被温度検出部の温度を温度監視装置５１に入力し
て測定する。切換装置５２は、例えば発振器Ｏ，カウン
タＣ，リレー回路Ｒから構成されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】図４（ａ）のように単
独検出の場合は、多数の被温度検出部の検出信号を夫々
絶縁増巾器で増巾するので、絶縁増巾器が多数必要と
し、温度計測装置全体のコストアップとなり、また装置
全体が大形となり不経済となる。
独検出の場合は、多数の被温度検出部の検出信号を夫々
絶縁増巾器で増巾するので、絶縁増巾器が多数必要と
し、温度計測装置全体のコストアップとなり、また装置
全体が大形となり不経済となる。
【０００６】また、図４（ｂ）の時分割により検出する
場合は、増巾器が１個で済み上記の課題は解決されるが
常時一定時間間隔で接点を切換えているので、接点の寿
命が短く、且つ異常発熱部の詳細な観測はできないとい
う課題が残されている。
場合は、増巾器が１個で済み上記の課題は解決されるが
常時一定時間間隔で接点を切換えているので、接点の寿
命が短く、且つ異常発熱部の詳細な観測はできないとい
う課題が残されている。
【０００７】そこで、本発明は上記の時分割検出による
計測において、各温度計測部の検出温度が低く安全なと
きは、接点の切換間隔時間を長くし、接点の切換頻度を
減らして接点の寿命を長くするとともに、検出温度が危
険値を超えた場合は、その温度計測部をリレーが選択し
ている時間を長くして、その時間内での計測回数を増や
して詳しく観測できるようにした温度計測装置を提供す
ることを目的とするものである。
計測において、各温度計測部の検出温度が低く安全なと
きは、接点の切換間隔時間を長くし、接点の切換頻度を
減らして接点の寿命を長くするとともに、検出温度が危
険値を超えた場合は、その温度計測部をリレーが選択し
ている時間を長くして、その時間内での計測回数を増や
して詳しく観測できるようにした温度計測装置を提供す
ることを目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明において上記の課
題を解決するための手段は、複数の温度計測部の温度検
出信号を、サイクリックに切換える切換装置の接点によ
って時分割に切換えて検出し、該検出信号を共通の増巾
器を介してディジタル温度計測装置を計測するようにし
た温度計測装置において、前記ディジタル温度計測装置
は、前記増巾器の出力信号をディジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器と、前記各温度計測部の夫々の危険温度値
を設定する危険温度設定器と、これら危険温度設定値と
前記Ａ／Ｄ変換器の出力信号を入力して温度計測部の温
度計測と前記切換装置の切換時間および計測回数を設定
するＣＰＵとを備え、前記各温度計測部の計測温度が夫
々の危険温度設定値以下の場合は、リレー切換時間をΔ
ｔ3として、その時間内に温度計測をなし、温度計測部
の少なくとも１箇所において危険温度設定値を超えたと
きは、その超えた温度計測部のリレー切換時間をΔｔ3
より長いΔｔ1となし、他の温度計測部のリレー切換時
間を短いΔｔ4（但し、Δｔ1＞Δｔ3＞Δｔ4）とすると
ともに、Δｔ1の時間内の温度計測回数を増加させて詳
しく観測する。
題を解決するための手段は、複数の温度計測部の温度検
出信号を、サイクリックに切換える切換装置の接点によ
って時分割に切換えて検出し、該検出信号を共通の増巾
器を介してディジタル温度計測装置を計測するようにし
た温度計測装置において、前記ディジタル温度計測装置
は、前記増巾器の出力信号をディジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器と、前記各温度計測部の夫々の危険温度値
を設定する危険温度設定器と、これら危険温度設定値と
前記Ａ／Ｄ変換器の出力信号を入力して温度計測部の温
度計測と前記切換装置の切換時間および計測回数を設定
するＣＰＵとを備え、前記各温度計測部の計測温度が夫
々の危険温度設定値以下の場合は、リレー切換時間をΔ
ｔ3として、その時間内に温度計測をなし、温度計測部
の少なくとも１箇所において危険温度設定値を超えたと
きは、その超えた温度計測部のリレー切換時間をΔｔ3
より長いΔｔ1となし、他の温度計測部のリレー切換時
間を短いΔｔ4（但し、Δｔ1＞Δｔ3＞Δｔ4）とすると
ともに、Δｔ1の時間内の温度計測回数を増加させて詳
しく観測する。
【０００９】また、複数の温度計測部の大部分において
危険温度設定値を超えたときは、リレー切換時間を前記
Δｔ3より短くして全温度計測部の温度を多頻度に計測
するようになす。
危険温度設定値を超えたときは、リレー切換時間を前記
Δｔ3より短くして全温度計測部の温度を多頻度に計測
するようになす。
【００１０】
【作用】本発明は以上のように構成しているので、複数
の温度計測部に故障が無く、危険温度設定値以下の場合
は、所定の長さの時間間隔でリレー接点を切換えてサン
プリングして、各温度計測部の温度を測定する。もし、
温度計測部の１箇所又は２箇所に故障があり、異常発熱
により危険温度設定値を超えた場合は、その故障した温
度計測部をリレーが選択している時間を長くしてその時
間内の温度計測回数を増やし、温度の変化状況を詳細に
観測する。
の温度計測部に故障が無く、危険温度設定値以下の場合
は、所定の長さの時間間隔でリレー接点を切換えてサン
プリングして、各温度計測部の温度を測定する。もし、
温度計測部の１箇所又は２箇所に故障があり、異常発熱
により危険温度設定値を超えた場合は、その故障した温
度計測部をリレーが選択している時間を長くしてその時
間内の温度計測回数を増やし、温度の変化状況を詳細に
観測する。
【００１１】また、複数の温度計測部の大部分が危険温
度設定値を超えた場合は装置全体の故障とみなし健全時
より短い時間でサンプリングを行ない各温度計測部の温
度計測の頻度を高めて観測する。
度設定値を超えた場合は装置全体の故障とみなし健全時
より短い時間でサンプリングを行ない各温度計測部の温
度計測の頻度を高めて観測する。
【００１２】
【実施例】以下、本発明を図面に示す一実施例に基づい
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
【００１３】図１は本発明の一実施例の構成図で、半導
体装置の温度計測点ｎを３とした場合の適用例を示して
いる。図１において、１は被温度測定装置で、半導体装
置への適用を示し、順変換回路１Ａ，直流リアクトル１
Ｂ，インバータ回路１Ｃから構成されている。Ｓ1，
Ｓ2，Ｓ3は順変換回路１Ａ，直流リアクトル１Ｂ，イン
バータ回路１Ｃの主回路部分に設けられた温度検出セン
サ、ＲＹa，ＲＹb，ＲＹCは後述のリレーＲＹＡ，ＲＹ
Ｂ，ＲＹＣの接点で、前記各温度検出センサＳ1，Ｓ2，
Ｓ3と共通の絶縁増巾器Ａ間に接続されている。２は切
換装置で、前記のリレーＲＹＡ，ＲＹＢ，ＲＹ３と、こ
れら各リレーに直列接続されたトランジスタＴＲＡ，Ｔ
ＲＢ，ＴＲＣと、これら各トランジスタＴＲＡ〜ＴＲＣ
を駆動してリレーＲＹＡ〜ＲＹＣをサイクリックに動作
させるリレードライブ回路２１とで構成されている。３
はディジタル温度計測装置で、該温度計測装置は、各温
度検出センサＳ1〜Ｓ3の温度検出信号を増巾する絶縁増
巾器Ａの出力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変
換器３１と、順変換回路１Ａ，直流リアクトル１Ｂ，イ
ンバータ回路１Ｃの夫々の温度危険値ＴＡ＊，ＴＢ＊，
ＴＣ＊を設定する危険温度設定器３２と、これら設定器
３２の設定値をＡ／Ｄ変換器３１の出力信号とを入力し
て各温度計測部の温度を計測し、且つ、これらの入力信
号を演算して出力ポート３３を介して切換装置２に制御
指令を与える中央処理装置（以下ＣＰＵと略称する）３
４とで構成されており、ＣＰＵ３４は適宜のメモリを有
し、温度計測部１Ａ〜１Ｃの測定温度ＴＡ〜ＴＣと、危
険温度設定値ＴＡ＊〜ＴＣ＊とにより、リレーの切換時
間Δｔと計測回数ｍとを定められた条件によって判定
し、出力ポート３３を介して切換装置２を制御する。
体装置の温度計測点ｎを３とした場合の適用例を示して
いる。図１において、１は被温度測定装置で、半導体装
置への適用を示し、順変換回路１Ａ，直流リアクトル１
Ｂ，インバータ回路１Ｃから構成されている。Ｓ1，
Ｓ2，Ｓ3は順変換回路１Ａ，直流リアクトル１Ｂ，イン
バータ回路１Ｃの主回路部分に設けられた温度検出セン
サ、ＲＹa，ＲＹb，ＲＹCは後述のリレーＲＹＡ，ＲＹ
Ｂ，ＲＹＣの接点で、前記各温度検出センサＳ1，Ｓ2，
Ｓ3と共通の絶縁増巾器Ａ間に接続されている。２は切
換装置で、前記のリレーＲＹＡ，ＲＹＢ，ＲＹ３と、こ
れら各リレーに直列接続されたトランジスタＴＲＡ，Ｔ
ＲＢ，ＴＲＣと、これら各トランジスタＴＲＡ〜ＴＲＣ
を駆動してリレーＲＹＡ〜ＲＹＣをサイクリックに動作
させるリレードライブ回路２１とで構成されている。３
はディジタル温度計測装置で、該温度計測装置は、各温
度検出センサＳ1〜Ｓ3の温度検出信号を増巾する絶縁増
巾器Ａの出力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変
換器３１と、順変換回路１Ａ，直流リアクトル１Ｂ，イ
ンバータ回路１Ｃの夫々の温度危険値ＴＡ＊，ＴＢ＊，
ＴＣ＊を設定する危険温度設定器３２と、これら設定器
３２の設定値をＡ／Ｄ変換器３１の出力信号とを入力し
て各温度計測部の温度を計測し、且つ、これらの入力信
号を演算して出力ポート３３を介して切換装置２に制御
指令を与える中央処理装置（以下ＣＰＵと略称する）３
４とで構成されており、ＣＰＵ３４は適宜のメモリを有
し、温度計測部１Ａ〜１Ｃの測定温度ＴＡ〜ＴＣと、危
険温度設定値ＴＡ＊〜ＴＣ＊とにより、リレーの切換時
間Δｔと計測回数ｍとを定められた条件によって判定
し、出力ポート３３を介して切換装置２を制御する。
【００１４】図２によって更に詳細に説明すると、ＣＰ
Ｕ３４は次の制御を行う。
Ｕ３４は次の制御を行う。
【００１５】なお、以下の説明において、Δｔ1〜Δｔ4
はリレーＲＹＡ〜ＲＹＣが選択されている時間（期間）
を示し、本実施例においては次の関係にあるものとす
る。
はリレーＲＹＡ〜ＲＹＣが選択されている時間（期間）
を示し、本実施例においては次の関係にあるものとす
る。
【００１６】Δｔ1＞Δｔ2＞Δｔ3＞Δｔ4 （１）複数箇所の温度計測部１Ａ〜１Ｃの温度検出セン
サＳ1〜Ｓ3の各検出温度ＴＡ，ＴＢ，ＴＣが夫々危険温
度設定値ＴＡ＊，ＴＢ＊，ＴＣ＊以下、即ち、ＴＡ＜Ｔ
Ａ＊，ＴＢ＜ＴＢ＊，ＴＣ＜ＴＣ＊の場合は、図２
（ａ）に示すように、リレーＲＹＡ〜ＲＹＣの切換点Ｘ
1〜Ｘ3の切換時間はΔｔ3で行われ、その間に温度計測
点Ｙ1〜Ｙ3において各１回の温度計測が行われる。
サＳ1〜Ｓ3の各検出温度ＴＡ，ＴＢ，ＴＣが夫々危険温
度設定値ＴＡ＊，ＴＢ＊，ＴＣ＊以下、即ち、ＴＡ＜Ｔ
Ａ＊，ＴＢ＜ＴＢ＊，ＴＣ＜ＴＣ＊の場合は、図２
（ａ）に示すように、リレーＲＹＡ〜ＲＹＣの切換点Ｘ
1〜Ｘ3の切換時間はΔｔ3で行われ、その間に温度計測
点Ｙ1〜Ｙ3において各１回の温度計測が行われる。
【００１７】（２）温度計測部のいずれか１箇所、例え
ば１Ａのみが異常高温となり、温度検出センサＳ1の検
出温度ＴＡが危険温度設定値ＴＡ＊を超した場合、即
ち、ＴＡ＞ＴＡ＊，ＴＢ＜ＴＢ＊，ＴＣ＜ＴＣ＊のとき
は、図２（ｂ）のように温度計測部１Ａを選択している
時間Δｔ1となし、その時間Δｔ1内の計測回数ｍを
Ｙ1，Ｙ11，Ｙ12，Ｙ13と４回に増やし異常高温部分の
温度を詳細に観測し、他の温度計測部１Ｂ，１Ｃ部分の
切換時間はΔｔ4のように短縮する。温度計測部の温度
計測を一順する１サイクルの時間を（ａ）と同じ場合
は、１Ａの選択比率を増加させる。
ば１Ａのみが異常高温となり、温度検出センサＳ1の検
出温度ＴＡが危険温度設定値ＴＡ＊を超した場合、即
ち、ＴＡ＞ＴＡ＊，ＴＢ＜ＴＢ＊，ＴＣ＜ＴＣ＊のとき
は、図２（ｂ）のように温度計測部１Ａを選択している
時間Δｔ1となし、その時間Δｔ1内の計測回数ｍを
Ｙ1，Ｙ11，Ｙ12，Ｙ13と４回に増やし異常高温部分の
温度を詳細に観測し、他の温度計測部１Ｂ，１Ｃ部分の
切換時間はΔｔ4のように短縮する。温度計測部の温度
計測を一順する１サイクルの時間を（ａ）と同じ場合
は、１Ａの選択比率を増加させる。
【００１８】（３）温度計測部の２箇所、例えば１Ａと
１Ｂが異常高温となった場合、即ち、ＴＡ＞ＴＡ＊，Ｔ
Ｂ＞ＴＢ＊，ＴＣ＜ＴＣ＊のときは、温度計測部１Ａ，
１ＢをリレーＲＹＡ，ＲＹＢが選択している時間をΔｔ
2とΔｔ3より長くし、その時間内での計測回数ｍを
Ｙ1，Ｙ11およびＹ2，Ｙ21と増やし、健全な温度計測部
１Ｃのリレー選択時間をΔｔ4と短かくし、温度計測点
Ｙ3を１回とする。
１Ｂが異常高温となった場合、即ち、ＴＡ＞ＴＡ＊，Ｔ
Ｂ＞ＴＢ＊，ＴＣ＜ＴＣ＊のときは、温度計測部１Ａ，
１ＢをリレーＲＹＡ，ＲＹＢが選択している時間をΔｔ
2とΔｔ3より長くし、その時間内での計測回数ｍを
Ｙ1，Ｙ11およびＹ2，Ｙ21と増やし、健全な温度計測部
１Ｃのリレー選択時間をΔｔ4と短かくし、温度計測点
Ｙ3を１回とする。
【００１９】（４）温度計測部１Ａ〜１Ｃの全てが（又
は温度計測部が多数あって、その大部分が）異常温度と
なり、ＴＡ＞ＴＡ＊，ＴＢ＞ＴＢ＊，ＴＣ＞ＴＣ＊とな
った場合は、リレーによる温度計測部の切換えは、図２
（ｄ）に示すように健全時の切換時間ｔ3に比べて短い
Δｔ4でサンプリングを行ない、全温度計測部の温度を
詳しく観測する。
は温度計測部が多数あって、その大部分が）異常温度と
なり、ＴＡ＞ＴＡ＊，ＴＢ＞ＴＢ＊，ＴＣ＞ＴＣ＊とな
った場合は、リレーによる温度計測部の切換えは、図２
（ｄ）に示すように健全時の切換時間ｔ3に比べて短い
Δｔ4でサンプリングを行ない、全温度計測部の温度を
詳しく観測する。
【００２０】上記（１）〜（４）の各温度モードでのリ
レー切換時間Δｔと計測回数ｍの設定は、ディジタル温
度計測装置３により、検出温度ＴＡ〜ＴＣ及び危険温度
設定値ＴＡ＊〜ＴＣ＊の関係によって判定して行われ
る。
レー切換時間Δｔと計測回数ｍの設定は、ディジタル温
度計測装置３により、検出温度ＴＡ〜ＴＣ及び危険温度
設定値ＴＡ＊〜ＴＣ＊の関係によって判定して行われ
る。
【００２１】図４はそのフローチャートで、（ａ）のリ
レー切換用と、（ｂ）の温度計測モード設定用の２種類
の割り込みプログラムによって実行される。
レー切換用と、（ｂ）の温度計測モード設定用の２種類
の割り込みプログラムによって実行される。
【００２２】
【発明の効果】本発明は以上のように、複数の温度計測
部の１箇所又は２箇所に異常温度が発生し、危険温度設
定値を超えたときは、その異常温度発生部のリレー選択
時間が長くなり、その時間内での計測回数が増えるの
で、通常時に比べて詳しく計測でき、異常温度発生部の
温度変化の状況等を詳細に観測することができる。
部の１箇所又は２箇所に異常温度が発生し、危険温度設
定値を超えたときは、その異常温度発生部のリレー選択
時間が長くなり、その時間内での計測回数が増えるの
で、通常時に比べて詳しく計測でき、異常温度発生部の
温度変化の状況等を詳細に観測することができる。
【００２３】このことは、温度計測部の各温度が危険温
度設定値に達しないときは、温度計測部のリレー切換時
間は安心して長時間に設定でき、リレーの接点の寿命を
長く保つことができる。
度設定値に達しないときは、温度計測部のリレー切換時
間は安心して長時間に設定でき、リレーの接点の寿命を
長く保つことができる。
【００２４】また、複数の温度計測部のすべて又は大部
分が異常温度となり、危険温度設定値を超えた場合は、
リレー切換時間（サンプリング時間）が短くなって、全
温度計測部の温度を詳しく計測することができる。
分が異常温度となり、危険温度設定値を超えた場合は、
リレー切換時間（サンプリング時間）が短くなって、全
温度計測部の温度を詳しく計測することができる。
【００２５】このように本発明においては、リレーの寿
命，結果的に温度計測装置の寿命を従来方式と同じか、
それ以上に保つことができて装置の信頼性を高め、更に
温度計測部に異常温度が生じ、危険温度設定値を超えた
場合は、その異常温度発生部の温度の変化状況を詳細に
観測ができるため、その対策を綿密に行うことができ
る。
命，結果的に温度計測装置の寿命を従来方式と同じか、
それ以上に保つことができて装置の信頼性を高め、更に
温度計測部に異常温度が生じ、危険温度設定値を超えた
場合は、その異常温度発生部の温度の変化状況を詳細に
観測ができるため、その対策を綿密に行うことができ
る。
【００２６】また、従来の温度計測装置がディジタル回
路により構成されている場合は、ソフトウェアを改良す
るのみで対応が可能となる等の優れた効果を奏する。
路により構成されている場合は、ソフトウェアを改良す
るのみで対応が可能となる等の優れた効果を奏する。
【図１】本発明の一実施例の構成図。
【図２】本発明の動作説明図。
【図３】本発明の一実施例のフローチャート。
【図４】従来例の説明図。
１…被温度測定装置 １Ａ〜１Ｃ…温度計測部 Ｓ1〜Ｓ3…温度検出センサ Ａ…絶縁増巾器 ２…切換装置 ２１…リレードライブ回路 ＴＹＡ〜ＴＹＣ…リレー ＴＲＡ〜ＴＲＣ…トランジスタ ３…ディジタル温度計測装置 ３１…Ａ／Ｄ変換器 ３２…危険温度設定器 ３３…出力ポート ３４…ＣＰＵ
Claims (2)
- 【請求項１】 複数の温度計測部の温度検出信号を、サ
イクリックに切換える切換装置の接点によって時分割に
切換えて検出し、該検出信号を共通の増巾器を介してデ
ィジタル温度計測装置で計測するようにした温度計測装
置において、前記ディジタル温度計測装置は、前記増巾
器の出力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器
と、前記各温度計測部の夫々の危険温度値を設定する危
険温度設定器と、これら危険温度設定値と前記Ａ／Ｄ変
換器の出力信号を入力して温度計測部の温度計測と前記
切換装置の切換時間および計測回数を設定するＣＰＵと
を備え、前記各温度計測部の計測温度が、夫々の危険温
度設定値以下の場合はリレー切換時間をΔｔ3として、
その時間内に温度計測をなし、温度計測部の少なくとも
１箇所において危険温度設定値を超えたときは、その超
えた温度計測部のリレー切換時間をΔｔ3より長いΔｔ1
となし、他の温度計測部のリレー切換時間を短いΔｔ4
（但し、Δｔ1＞Δｔ3＞Δｔ4）とするとともに、Δｔ1
の時間内の温度計測回数を増加させて詳細に観測するよ
うにしたことを特徴とする温度計測装置。 - 【請求項２】 複数の温度計測部の大部分において危険
温度設定値を超えたときは、リレー切換時間を前記Δｔ
3より短かくして全温度計測部の温度を多頻度に計測す
るようにしたことを特徴とした請求項１記載の温度計測
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04269015A JP3128989B2 (ja) | 1992-10-08 | 1992-10-08 | 温度計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04269015A JP3128989B2 (ja) | 1992-10-08 | 1992-10-08 | 温度計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06117941A true JPH06117941A (ja) | 1994-04-28 |
| JP3128989B2 JP3128989B2 (ja) | 2001-01-29 |
Family
ID=17466491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04269015A Expired - Fee Related JP3128989B2 (ja) | 1992-10-08 | 1992-10-08 | 温度計測装置 |
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1992
- 1992-10-08 JP JP04269015A patent/JP3128989B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP3128989B2 (ja) | 2001-01-29 |
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