JPH0611348U - Coating agent coating device - Google Patents

Coating agent coating device

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JPH0611348U
JPH0611348U JP5492692U JP5492692U JPH0611348U JP H0611348 U JPH0611348 U JP H0611348U JP 5492692 U JP5492692 U JP 5492692U JP 5492692 U JP5492692 U JP 5492692U JP H0611348 U JPH0611348 U JP H0611348U
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JP
Japan
Prior art keywords
coating agent
coating
guide plate
semiconductor substrate
semiconductor
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Pending
Application number
JP5492692U
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
一雄 飯塚
Original Assignee
日本インター株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 コート剤の塗布を半自動化し、かつ、所定の
塗布範囲に正確に収めることができるコート剤塗布装置
を提供すること。 【構成】 ガイド板11の先端部11aが半導体基板2
の凹部13に摺接しつつ回転し、該半導体基板2の表面
にコート剤7が塗布されるようにしたので、所定部位の
みに正確にコート剤7を塗布することができる。従っ
て、コート剤7がベベル溝4上に塗布されることがな
く、また、コート剤7の塗布が半自動的に行なわれるた
め、作業能率が向上する。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a coating agent coating device which can semi-automatically coat a coating agent and accurately store it within a predetermined coating range. [Structure] The tip 11a of the guide plate 11 is the semiconductor substrate 2
Since the coating agent 7 is applied to the surface of the semiconductor substrate 2 while being slidably contacted with the concave portion 13, the coating agent 7 can be accurately applied only to a predetermined portion. Therefore, the coating agent 7 is not applied onto the bevel groove 4, and the coating agent 7 is applied semi-automatically, so that the work efficiency is improved.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、半導体ペレット表面の必要部分のみにコート剤を塗布するためのコ ート剤塗布装置に関するものである。 The present invention relates to a coating agent coating device for coating a coating agent only on a necessary portion of the surface of a semiconductor pellet.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

大電力用の半導体装置として、例えば、図4乃至図6に示すような構造のサイ リスタがある。 これらの図において、温度補償板1の上面には、サイリスタ構造の半導体基板 2が固着されている。この半導体基板2の外周面は、高耐圧化のためのベベル加 工3が施されている。さらに、その内側にはP2−N1接合部の高耐圧化のため にベベル溝4が形成されている。 半導体基板2の中央部には、制御電極5、その外側には、カソード電極6がそ れぞれ設けられている。また、半導体基板2内には、図6に示すようなP1,N 1,P2,N2層からなるサイリスタ構造のP−N接合部が形成されている。 As a semiconductor device for high power, for example, there is a thyristor having a structure as shown in FIGS. In these figures, a semiconductor substrate 2 having a thyristor structure is fixed to the upper surface of the temperature compensating plate 1. The outer peripheral surface of the semiconductor substrate 2 is provided with a bevel process 3 for increasing the breakdown voltage. Further, a bevel groove 4 is formed on the inner side of the bevel groove 4 in order to increase the breakdown voltage of the P2-N1 joint. A control electrode 5 is provided in the center of the semiconductor substrate 2, and a cathode electrode 6 is provided outside the control electrode 5. Further, in the semiconductor substrate 2, a PN junction portion having a thyristor structure composed of P1, N1, P2 and N2 layers as shown in FIG. 6 is formed.

【0003】 図6は、上記半導体ペレットの製造工程の途中を示す部分断面図である。 図において、半導体基板2は、温度補償板1に固着され、カソード電極6、制 御電極(図示せず)がすでに半導体基板2の表面に形成されている。また、半導 体ペレットの高耐圧化のために、その最外周はベベル加工3が施され、また、そ の内側にはベベル溝4が形成される。さらに、次工程で、この両ベベル表面をケ ミカルエッチングによって表面の機械的損傷部分の除去と表面の洗浄が行なわれ るが、それに先立ち、半導体基板2のベベル溝4より半径方向内側はケミカルエ ッチングがされないようにコート剤7が塗布される。 次いで、半導体基板2の露出部がケミカルエッチングされ、その後に両ベベル 面に絶縁物が塗布され、しかる後、コート剤7は剥離され、図示を省略した上部 電極が配置される。FIG. 6 is a partial cross-sectional view showing the process of manufacturing the semiconductor pellet. In the figure, a semiconductor substrate 2 is fixed to the temperature compensating plate 1, and a cathode electrode 6 and a control electrode (not shown) are already formed on the surface of the semiconductor substrate 2. Further, in order to increase the pressure resistance of the semiconductor pellet, the outermost periphery of the semiconductor pellet is beveled 3 and a bevel groove 4 is formed inside thereof. Further, in the next step, mechanically damaged portions of the both bevel surfaces are removed by chemical etching and the surfaces are cleaned, but prior to this, chemical etching is performed on the inner side in the radial direction of the bevel groove 4 of the semiconductor substrate 2. The coating agent 7 is applied so as not to come off. Next, the exposed portion of the semiconductor substrate 2 is chemically etched, and then an insulating material is applied to both bevel surfaces, after which the coating agent 7 is peeled off and an upper electrode (not shown) is arranged.

【0004】 ところで、図6に示すように、ベベル溝4より内側の全面にケミカルエッチン グされないようにコート剤7が塗布されるが、その塗布方法としては、従来では 液状のコート剤7を刷毛塗りするか、注射器等を用いて塗布している。かかる場 合にコート剤7の塗布範囲をベベル溝4の上まで及ばないようにすること及びカ ソード電極6は全てコートされていることが塗布条件となる。 なお、コート剤7の塗布後は、該コート剤7の硬化のため、半導体ペレット全 体を昇温させて所定時間放置される。By the way, as shown in FIG. 6, the coating agent 7 is applied to the entire surface inside the bevel groove 4 so as not to be chemically etched. As a coating method, a liquid coating agent 7 is conventionally used. It is painted or is applied using a syringe or the like. In such a case, the application condition is that the application range of the coating agent 7 does not extend above the bevel groove 4 and that the cathode electrode 6 is all coated. After the coating agent 7 is applied, the temperature of the entire semiconductor pellets is raised and left for a predetermined time in order to cure the coating agent 7.

【0005】[0005]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

従来刷毛又は注射器等を用いたコート剤塗布方法では、コート剤がベベル溝4 にかからないように細心の注意を払い、かつ、カソード電極6が完全に覆われる ようにすることなどの条件を満しつつ、手作業で行なう必要があり、作業能率が 上がらないという解決すべき課題があった。 In the conventional coating agent application method using a brush or a syringe, it is necessary to pay close attention so that the coating agent does not reach the bevel groove 4 and to ensure that the cathode electrode 6 is completely covered. However, there was a problem to be solved that it was necessary to do it manually and the work efficiency did not increase.

【0006】[0006]

【考案の目的】[The purpose of the device]

本考案は、上記のような課題を解決するためになされたもので、コート剤の半 導体基板表面への塗布を半自動化し、かつ、所定の範囲内に正確に収めることが できるコート剤塗布装置を提供することを目的とするものである。 The present invention has been made in order to solve the above problems, and a coating agent coating device capable of semi-automating the coating of a coating agent on the surface of a semiconductor substrate and accurately storing the coating agent within a predetermined range. It is intended to provide.

【0007】[0007]

【問題点を解決するための手段】[Means for solving problems]

本考案のコート剤塗布装置は、半導体ぺレットを載置する回転受台と、該回転 受台上に載置された半導体ペレットの上方に位置するガイド板と、該ガイド板に 支持されたコート剤注入針とを有し、該ガイド板の先端部が半導体ペレットの半 導体基板の外周に形成した凹部に摺接し、前記回転受台を回転させてコート注入 針からコート剤を前記半導体基板の表面の所定部位のみに塗布することを特徴と するものである。 The coating agent coating device of the present invention comprises a rotary pedestal on which a semiconductor pellet is placed, a guide plate located above the semiconductor pellets placed on the rotary pedestal, and a coat supported by the guide plate. And a tip of the guide plate is in sliding contact with a recess formed on the outer periphery of the semiconductor substrate of the semiconductor pellet, and the rotary pedestal is rotated to apply the coating agent from the coat injection needle to the semiconductor substrate. The feature is that it is applied only to a predetermined portion of the surface.

【0008】[0008]

【作用】[Action]

本考案のコート剤塗布装置は、ガイド板の先端部が半導体基板の凹部に摺接し つつ、回転受台が回転し、該半導体基板の表面にコート剤が塗布されるようにし たので、所定部位のみを正確にコート剤を塗布することができる。従って、コー ト剤がベベル溝上に塗布されることがなく、また、コート剤の塗布が半自動的に 行なわれるため、作業能率が向上する。 In the coating agent applying device of the present invention, the tip of the guide plate is brought into sliding contact with the concave portion of the semiconductor substrate, and the rotary pedestal is rotated to apply the coating agent to the surface of the semiconductor substrate. Only the coating agent can be applied accurately. Therefore, the coating agent is not applied to the bevel groove, and the coating agent is applied semi-automatically, which improves the work efficiency.

【0009】[0009]

【実施例】【Example】

以下に、本考案の実施例を図1及び図2を参照して詳細に説明する。 これらの図において、コート剤塗布装置8は、回転受台9を備え、この回転受 台9上には、半導体ペレット10が載置されている。半導体ペレット10の上方 には、ガイド板11が設けられ、このガイド板11の先端部には、コート剤注入 針12が固定されている。ガイト板11は、図示を省略した支柱に支えられ、図 1に示すように、半導体ペレット10に対してY方向(上下方向)とX方向(直 径方向)に可動できる構造となっている。また、ガイド板11の先端部11aが 半導体ペレット10の凹部13に摺接している時に、X方向、Y方向共にコイル スプリングのばね力を受け、弾発される機構となっている。 また、図示を省略したが、コート剤注入針12の一端はガイド板11の移動に 追従できるように構成され、軟質チューブを介してコート剤の収納容器に接続さ れている。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 and 2. In these figures, the coating agent coating device 8 is provided with a rotary pedestal 9, and the semiconductor pellet 10 is placed on the rotary pedestal 9. A guide plate 11 is provided above the semiconductor pellets 10, and a coating agent injection needle 12 is fixed to the tip of the guide plate 11. The guide plate 11 is supported by columns (not shown), and as shown in FIG. 1, is structured to be movable in the Y direction (vertical direction) and the X direction (radial direction) with respect to the semiconductor pellet 10. Further, when the tip portion 11a of the guide plate 11 is in sliding contact with the concave portion 13 of the semiconductor pellet 10, the spring force of the coil spring is applied in both the X direction and the Y direction so as to be repulsed. Although not shown, one end of the coating agent injection needle 12 is configured to follow the movement of the guide plate 11 and is connected to a coating agent storage container via a soft tube.

【0010】 次に、上記のように構成のコート剤塗布装置8の動作について説明する。 まず、図2に示すように、半導体ペレット10を回転受台9に載置する。次に 、ガイド板11の先端部11aを、図1に示すように、半導体ペレット10の外 周の凹部13に摺接させる。次に、回転受台9を毎分10回転程度の低速で回転 させる。次いで、図示を省略した収納容器からコート剤をコート剤注入針12の 先端部に導き、凹部13内に流出させる。 回転受台9の回転により、半導体ペレット10の外周をガイド板11が一周す ると、凹部13から半径方向内部の所定の部分までコート剤7が塗布されるので 、ガイド板11を上方へ移動させる。Next, the operation of the coating agent coating device 8 configured as described above will be described. First, as shown in FIG. 2, the semiconductor pellets 10 are placed on the rotary pedestal 9. Next, as shown in FIG. 1, the tip portion 11a of the guide plate 11 is brought into sliding contact with the recess 13 on the outer periphery of the semiconductor pellet 10. Next, the rotary pedestal 9 is rotated at a low speed of about 10 revolutions per minute. Next, the coating agent is guided from the storage container (not shown) to the tip of the coating agent injection needle 12 and allowed to flow into the recess 13. When the guide plate 11 makes one round around the outer periphery of the semiconductor pellet 10 by the rotation of the rotary pedestal 9, the coating agent 7 is applied from the recess 13 to a predetermined portion inside the radial direction, so that the guide plate 11 is moved upward. Let

【0011】 次いで、半導体ペレット10の中央部は、コート剤7が塗布されているので、 この未塗布部に対して刷毛でコート剤7を塗布する。この場合の刷毛塗りは、ベ ベル溝4から遠ざかった中央部のみであるので、さほどの注意力を必要としない 。こうしてコート剤7の塗布を完了した半導体ペレット10を図3に示す。 なお、ガイド板11の先端部11aを半導体ペレット10の外周に形成した凹 部13に摺接させつつ、回転させてコート剤7を塗布するのは次の理由による。 すなわち、温度補償板1の中心位置と、半導体ペレット10の上面のカソード やゲートのパターンの中心位置とが若干偏心していてもガイド板11がコイルス プリングのばね力によりX方向に押圧されているので、凹部13にコート剤注入 針12が追従し、その結果、コート剤7は凹部13より内部に塗布され、ベベル 溝4上にコート剤7が塗布されないようにするためである。Next, since the coating agent 7 is applied to the central portion of the semiconductor pellet 10, the coating agent 7 is applied to the non-applied portion with a brush. In this case, the brush coating is applied only to the central portion away from the bevel groove 4, so that a great deal of attention is not required. FIG. 3 shows the semiconductor pellet 10 on which the coating agent 7 has been applied in this manner. The reason for applying the coating agent 7 by rotating the tip 11a of the guide plate 11 while sliding the tip 11a of the guide plate 11 into the recess 13 formed on the outer periphery of the semiconductor pellet 10 is as follows. That is, even if the center position of the temperature compensating plate 1 and the center position of the cathode or gate pattern on the upper surface of the semiconductor pellet 10 are slightly eccentric, the guide plate 11 is pressed in the X direction by the spring force of the coil spring. This is because the coating agent injection needle 12 follows the recess 13 so that the coating agent 7 is applied inside the recess 13 and the coating agent 7 is not applied onto the bevel groove 4.

【0012】[0012]

【考案の効果】[Effect of device]

以上のように、本考案のコート剤塗布装置によれば、コート剤がベベル溝上に 塗布されることがなく、また、コート剤の塗布が半自動的に行なわれるため、作 業能率が向上するなどの効果がある。 As described above, according to the coating agent application device of the present invention, the coating agent is not applied on the bevel groove, and the application of the coating agent is performed semi-automatically, so that the work efficiency is improved. Has the effect of.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案のコート剤塗布装置の概要を示す説明図
である。
FIG. 1 is an explanatory view showing an outline of a coating agent coating device of the present invention.

【図2】同じく上記コート剤塗布装置の概要を示す説明
図である。
FIG. 2 is an explanatory view showing an outline of the coating agent applying apparatus.

【図3】上記コート剤塗布装置を用いてコート剤を塗布
した後の半導体ペレットの部分断面図である。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view of a semiconductor pellet after applying a coating agent using the coating agent application device.

【図4】半導体ペレットの平面図である。FIG. 4 is a plan view of a semiconductor pellet.

【図5】上記半導体ペレットのA−A線に沿う断面図で
ある。
FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line AA of the semiconductor pellet.

【図6】従来のコート剤塗布装置を用いて上記半導体ペ
レットにコート剤を塗布した状態の部分断面図である。
FIG. 6 is a partial cross-sectional view of a state in which a coating agent is applied to the semiconductor pellets using a conventional coating agent application device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 温度補償板 2 半導体基板 3 ベベル加工 4 ベベル溝 5 制御電極 6 カソード電極 7 コート剤 8 コート剤塗布装置 9 回転受台 10 半導体ペレット 11 ガイド板 12 コート剤注入針 13 凹部 1 Temperature Compensation Plate 2 Semiconductor Substrate 3 Bevel Processing 4 Bevel Groove 5 Control Electrode 6 Cathode Electrode 7 Coating Agent 8 Coating Agent Application Device 9 Rotating Stand 10 Semiconductor Pellet 11 Guide Plate 12 Coating Agent Injection Needle 13 Recess

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 半導体ぺレットを載置する回転受台と、
該回転受台上に載置された半導体ペレットの上方に位置
するガイド板と、該ガイド板に支持されたコート剤注入
針とを有し、該ガイド板の先端部が半導体ペレットの半
導体基板の外周に形成した凹部に摺接し、前記回転受台
を回転させてコート注入針からコート剤を前記半導体基
板の表面の所定部位のみに塗布することを特徴とするコ
ート剤塗布装置。
1. A rotary pedestal for mounting a semiconductor pellet,
The semiconductor substrate has a guide plate positioned above the semiconductor pellet mounted on the rotary pedestal and a coating agent injection needle supported by the guide plate, and the tip of the guide plate is a semiconductor substrate of the semiconductor pellet. A coating agent coating device, which is in sliding contact with a concave portion formed on the outer periphery, and rotates the rotary support to apply a coating agent from a coating injection needle only to a predetermined portion of the surface of the semiconductor substrate.
JP5492692U 1992-07-14 1992-07-14 Coating agent coating device Pending JPH0611348U (en)

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JP5492692U JPH0611348U (en) 1992-07-14 1992-07-14 Coating agent coating device

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JP5492692U JPH0611348U (en) 1992-07-14 1992-07-14 Coating agent coating device

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JPH0611348U true JPH0611348U (en) 1994-02-10

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JP (1) JPH0611348U (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012514532A (en) * 2009-01-06 2012-06-28 1366 テクノロジーズ インク. Distributing liquid-containing materials to patterned surfaces using distribution pipes
CN116525488A (en) * 2023-04-26 2023-08-01 华中科技大学 Direct writing filling device for wafer channel

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