JPH0610678Y2 - Substrate dry cleaning equipment - Google Patents

Substrate dry cleaning equipment

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JPH0610678Y2
JPH0610678Y2 JP1987181668U JP18166887U JPH0610678Y2 JP H0610678 Y2 JPH0610678 Y2 JP H0610678Y2 JP 1987181668 U JP1987181668 U JP 1987181668U JP 18166887 U JP18166887 U JP 18166887U JP H0610678 Y2 JPH0610678 Y2 JP H0610678Y2
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JP
Japan
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substrate
spin chuck
ozone
lifter
processing chamber
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JP1987181668U
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Japanese (ja)
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薫 新原
俊充 船吉
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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【考案の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本考案は、半導体ウエハ,ガラス基板,セラミック基板
等(本明細書ではこれらを総称して「基板」と表現す
る)を吸着保持して水平回転するスピンチャックと、こ
のスピンチャックの上方に配置された紫外線照射ランプ
とを備え、基板表面に付着している有機物を紫外線照射
によって分解除去する基板の乾式洗浄装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial field of application> The present invention is designed to horizontally hold a semiconductor wafer, a glass substrate, a ceramic substrate, etc. (collectively referred to as “substrate” in this specification) by suction. The present invention relates to a dry cleaning apparatus for a substrate, which includes a rotating spin chuck and an ultraviolet irradiation lamp arranged above the spin chuck, and decomposes and removes organic substances adhering to the surface of the substrate by ultraviolet irradiation.

<従来の技術> 従来の基板の乾式洗浄装置として、例えば、特開昭61−
224320号公報に記載されているように、スピンチャック
を回転するとともに上下方向に揺動させ(必要に応じて
基板を加熱し)ながら、基板表面に紫外線を照射して、
付着有機物を除去する乾式洗浄装置がある。
<Prior Art> As a conventional dry cleaning apparatus for substrates, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 61-
As described in Japanese Patent No. 224320, while rotating the spin chuck and oscillating in the vertical direction (heating the substrate as necessary), the substrate surface is irradiated with ultraviolet rays,
There is a dry cleaning device that removes adhering organic substances.

この乾式洗浄装置においては、照射した紫外線によって
付着有機物の分子結合を解離するとともに、照射経路中
の酸素を紫外線により2次的にオゾンに変換し、前記の
解離した分子をオゾンによって酸化しCO,HO等
に変化させて基板から分離する。
In this dry cleaning device, the molecular bonds of adhering organic substances are dissociated by the irradiated ultraviolet rays, and oxygen in the irradiation path is secondarily converted to ozone by the ultraviolet rays, and the dissociated molecules are oxidized by the ozone to generate CO 2 , H 2 O, etc. to separate from the substrate.

基板を回転しながら紫外線を照射するので、付着有機物
全面に対する均一な照射が可能である。また、基板を上
下方向に揺動させるため、オゾンとの接触で発生したC
,HO等が付着有機物の表面に停滞することを防
止し、付着有機物表面を常に新しいオゾンと接触させる
ことができる。
Since the substrate is irradiated with ultraviolet rays while rotating, it is possible to uniformly irradiate the entire surface of the attached organic substance. Further, since the substrate is rocked in the vertical direction, C generated by contact with ozone is generated.
It is possible to prevent O 2 , H 2 O, etc. from stagnation on the surface of the attached organic substance, and to keep the surface of the attached organic substance in contact with fresh ozone at all times.

<考案が解決しようとする問題点> しかしながら、スピンチャックを回転と同時に上下方向
に揺動させるための機構が非常に複雑なものにならざる
を得ない上に、オゾンを紫外線の照射によって2次的に
生成することからオゾン量が不足しがちで、付着有機物
の分解除去速度が遅いという問題があった。
<Problems to be solved by the invention> However, the mechanism for swinging the spin chuck in the vertical direction at the same time as the rotation is inevitably complicated, and in addition, ozone is irradiated by ultraviolet rays to cause a secondary problem. However, the ozone amount tends to be insufficient because it is generated, and there is a problem that the rate of decomposition and removal of attached organic matter is slow.

本考案の目的は、基板上の付着有機物の分解除去速度を
高めながらも構造の簡素化を図り、併せて、基板の自動
搬送を容易化することにある。
An object of the present invention is to simplify the structure while increasing the decomposition / removal speed of the organic substances attached to the substrate, and at the same time, to facilitate the automatic transfer of the substrate.

<問題点を解決するための手段> 本考案は、このような目的を達成するために、次のよう
な構成をとる。
<Means for Solving Problems> The present invention has the following configuration in order to achieve such an object.

すなわち、本考案の基板の乾式洗浄装置は、 基板を吸着保持して水平回転するスピンチャックと、こ
のスピンチャックの上方に配置された紫外線照射ランプ
とを備え、基板表面に付着している有機物を紫外線照射
によって分解除去する基板の乾式洗浄装置であって、 前記スピンチャックに内蔵されたヒータと、 上昇によりスピンチャックに設けられた貫通孔を通って
その上面よりも上方に突出し、下降によりスピンチャッ
クに設けられた貫通孔を通ってその下面よりも下方に退
出して基板をスピンチャックに対して離着させるリフタ
ーと、 前記スピンチャックおよび前記リフターを収納する処理
室と、 基板を保持した状態で前記リフターの上昇位置と前記処
理室外との間で水平方向に進退移動し、前記リフターと
の間で基板を受け渡しを行う基板搬入/搬出機構と、 前記紫外線照射ランプを内蔵し、かつ、上昇によりスピ
ンチャック上面よりも上方に移動し、下降により前記処
理室の上方開口部を閉じる蓋体と、 前記スピンチャック上の基板に対してオゾンを供給する
オゾン導入口と、 このオゾン導入口に接続されたオゾン発生器 とを備えたことを特徴とするものである。
That is, the substrate dry cleaning apparatus of the present invention comprises a spin chuck that holds a substrate by suction and horizontally rotates, and an ultraviolet irradiation lamp disposed above the spin chuck to remove organic substances adhering to the substrate surface. A dry cleaning apparatus for a substrate, which is decomposed and removed by irradiation of ultraviolet rays, comprising: a heater built in the spin chuck, a through hole provided in the spin chuck to project upward to project above a top surface thereof, and a spin chuck to descend. A lifter that passes through a through-hole provided in the bottom of the spin chuck and retreats below the bottom surface of the spin chuck to attach and detach the substrate to and from the spin chuck; a processing chamber that houses the spin chuck and the lifter; It moves back and forth in a horizontal direction between the lifted position of the lifter and the outside of the processing chamber to transfer the substrate to and from the lifter. A substrate loading / unloading mechanism, a lid body that incorporates the ultraviolet irradiation lamp, that moves upwards above the spin chuck upper surface and that lowers to close the upper opening of the processing chamber; It is characterized by comprising an ozone inlet for supplying ozone to the substrate and an ozone generator connected to the ozone inlet.

<作用> 本考案の構成による作用は、次のとおりである。<Operation> The operation of the configuration of the present invention is as follows.

外部から基板を水平方向に移動させる基板搬入機構によ
り搬入されてきた基板をスピンチャックに設けられた貫
通孔を通ってその上面よりも上方に突出させたリフター
によって受け取る。リフターを下降することにより基板
をスピンチャック上面に移載する。
The substrate carried in by a substrate carry-in mechanism that moves the substrate from the outside in the horizontal direction is received by a lifter projecting above the upper surface thereof through a through hole provided in the spin chuck. The substrate is transferred onto the upper surface of the spin chuck by lowering the lifter.

スピンチャックとリフターとを収納する処理室を降下し
てきた蓋体によって閉塞し、スピンチャックを回転しつ
つ、オゾン発生器で発生したオゾンをオゾン導入口を介
して処理室内に導入し、スピンチャックに吸着保持され
スピンチャック内のヒータによって加熱した基板の表面
に対して、紫外線照射ランプから紫外線を照射するとと
もにオゾンを供給することにより基板上の付着有機物を
分解除去する。
The processing chamber accommodating the spin chuck and the lifter is closed by the descending lid, and while the spin chuck is rotating, the ozone generated by the ozone generator is introduced into the processing chamber through the ozone inlet, and the spin chuck is turned on. By irradiating the surface of the substrate, which is adsorbed and held by the heater in the spin chuck and heated by the heater, with ultraviolet rays from an ultraviolet ray irradiation lamp and by supplying ozone, organic substances adhering to the substrate are decomposed and removed.

この分解除去の過程においてリフターをスピンチャック
下面よりも下方に退出させておくことにより、リフター
がスピンチャックの回転を妨げることはない。
In the process of disassembling and removing the lifter, the lifter is retracted below the lower surface of the spin chuck so that the lifter does not hinder the rotation of the spin chuck.

分解除去が終了すると、リフターをスピンチャックに設
けられた貫通孔を通ってその上面よりも上方に突出させ
ることにより、スピンチャック上の基板をリフターに移
載し、その状態で基板搬出機構により基板を外部に搬出
する。
When the disassembly and removal is completed, the substrate on the spin chuck is transferred to the lifter by protruding the lifter through the through hole provided in the spin chuck and above the upper surface thereof, and in that state, the substrate is unloaded by the substrate unloading mechanism. To the outside.

この場合、紫外線照射によってオゾンを2次的に生成す
るのではなく、紫外線照射と同時に、最初からオゾンの
かたちで基板の表面に供給するから、オゾンと基板上の
付着有機物との接触頻度が高いものとなる。一方、基板
を回転しながら紫外線を照射するから均一な照射が可能
となり、併せてヒータによって基板を加熱する。
In this case, the ozone is not generated secondarily by the irradiation of ultraviolet rays, but is supplied to the surface of the substrate in the form of ozone from the beginning at the same time as the irradiation of ultraviolet rays, so that the contact frequency of ozone with the organic substances adhering to the substrate is high. Will be things. On the other hand, since ultraviolet rays are emitted while rotating the substrate, uniform irradiation is possible, and the substrate is also heated by the heater.

したがって、全体として有機物の分解除去速度が充分に
速いものとなる。
Therefore, the rate of decomposition and removal of organic substances is sufficiently high as a whole.

また、有機物分解除去の過程におけるスピンチャックの
動作は回転のみであって、従来例のように回転と同時に
上下方向に揺動させるのではないから、スピンチャック
の駆動機構が簡素なものとなる。
Further, the operation of the spin chuck in the process of decomposing and removing the organic matter is only rotation, and is not vertically rocked at the same time as the rotation as in the conventional example, so that the drive mechanism of the spin chuck becomes simple.

また、リフターがスピンチャックに対する基板の離着の
動作と、外部の基板搬入/搬出機構との間での基板の受
け渡しの動作とを兼ねている点でも構造の簡素化が図ら
れるとともに、基板の自動搬送を容易化している。
In addition, the structure is simplified in that the lifter serves both to attach and detach the substrate to and from the spin chuck and to deliver the substrate to and from an external substrate loading / unloading mechanism. It facilitates automatic transportation.

<実施例> 以下、本考案の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
<Example> Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は基板の乾式洗浄装置の全体的な概略構成図、第
2図は要部の拡大断面図、第3図は第2図におけるIII
−III線矢視の平面図、第4図は第2図におけるIV−IV
線矢視の断面図である。
FIG. 1 is an overall schematic configuration diagram of a substrate dry cleaning apparatus, FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of essential parts, and FIG. 3 is III in FIG.
-Plan view in the direction of arrow III, FIG. 4 is IV-IV in FIG.
It is sectional drawing of a line arrow.

まず、全体的な構造を主として第1図に基づいて説明す
る。
First, the overall structure will be described mainly based on FIG.

周壁部1aと底板部1bとからなる処理室1の内部にス
ピンチャック2とリフター3とが設けられている。スピ
ンチャック2の回転軸4は、鉛直方向に延び、処理室1
の底板部1bに固定された軸受部5に回転のみ自在に支
持されている。
A spin chuck 2 and a lifter 3 are provided inside a processing chamber 1 including a peripheral wall portion 1a and a bottom plate portion 1b. The rotation axis 4 of the spin chuck 2 extends in the vertical direction,
Is rotatably supported by a bearing portion 5 fixed to the bottom plate portion 1b.

回転軸4に固定されたプーリー6とモータ7の出力軸に
固定されたプーリー8との間に伝動ベルト9が掛張され
ており、モータ7の駆動によってスピンチャック2が水
平回転するように構成されている。スピンチャック2お
よび軸受部5の具体構造については後述する。
A transmission belt 9 is stretched between a pulley 6 fixed to a rotating shaft 4 and a pulley 8 fixed to an output shaft of a motor 7, and the spin chuck 2 is horizontally rotated by driving the motor 7. Has been done. Specific structures of the spin chuck 2 and the bearing portion 5 will be described later.

軸受部5に上下動自在に外嵌された昇降プレート10に周
方向等配の状態で立設された複数本(この実施例の場合
は6本:第4図参照)のリフターロッド3aが基板Aの
リフター3を構成している。リフター3の昇降機構につ
いては後述する。
A plurality of lifter rods 3a (six in this embodiment: see FIG. 4) are provided upright on a lift plate 10 which is vertically fitted onto a bearing portion 5 so as to be vertically movable. It constitutes the lifter 3 of A. The lifting mechanism of the lifter 3 will be described later.

処理室1を構成する周壁部1aの上端外周にパッキング
11のホルダー12が固着されている。スピンチャック2の
上方には、上下動自在で下降によってパッキング11に圧
着することにより処理室1の上方開口部1cを閉じる蓋
体13が配置されている。
Packing on the outer periphery of the upper end of the peripheral wall portion 1a forming the processing chamber 1.
The holder 12 of 11 is fixed. A lid 13 is disposed above the spin chuck 2 so as to be vertically movable and close to the packing 11 by being lowered to close the upper opening 1c of the processing chamber 1.

処理室1,蓋体13および蓋体13の上方空間が、周壁部14
a,底板部14bおよび円錐状の天板部14cからなるハウジ
ング14によって覆われている。天板部14cには透明材料
製の窓14dが取り付けられ、外部からハウジング14の内
部を観察できるようにしている。処理室1の底板部1b
は、ハウジング14の底板部14bに嵌入し、かつ、気密的
に連結されている。
The processing chamber 1, the lid 13 and the space above the lid 13 form a peripheral wall portion 14.
a, a bottom plate portion 14b, and a conical top plate portion 14c. A window 14d made of a transparent material is attached to the top plate portion 14c so that the inside of the housing 14 can be observed from the outside. Bottom plate portion 1b of the processing chamber 1
Is fitted into the bottom plate portion 14b of the housing 14 and is airtightly connected.

ハウジング14の底板部14bの下面に取り付けられた複数
の蓋体昇降用エアシリンダ15のピストンロッド15aの上
端が蓋体13に連結されており、エアシリンダ15の伸縮に
よって蓋体13が上下動するように構成されている。第1
図では、蓋体13が上昇し処理室1の上方開口部1cが開
放された状態を示している。
The upper ends of the piston rods 15a of a plurality of lid raising / lowering air cylinders 15 attached to the lower surface of the bottom plate portion 14b of the housing 14 are connected to the lid 13, and the lid 13 moves up and down as the air cylinder 15 expands and contracts. Is configured. First
In the figure, the lid 13 is raised and the upper opening 1c of the processing chamber 1 is opened.

蓋体13は、天板13aと、透明板13bと、上下に対向して
流路13cを形成する2枚の石英製の薄板13d,13e等から
構成され、下側の石英製の薄板13eには流路13cに連通す
る多数のオゾン導入孔13fが均一分布の状態で形成され
ている。
The lid 13 is composed of a top plate 13a, a transparent plate 13b, and two quartz thin plates 13d and 13e that face each other vertically and form a channel 13c. A large number of ozone introduction holes 13f communicating with the flow path 13c are formed in a uniformly distributed state.

流路13cの一側端部にはオゾン導入口16が形成され、他
側端部にはパージ用の不活性ガス導入口17が形成されて
いる。蓋体13の下面には、蓋体13が下降したときに処理
室1を密封するためにパッキング11に圧着する閉止用筒
体18が取り付けられている。
An ozone inlet 16 is formed at one end of the flow path 13c, and an inert gas inlet 17 for purging is formed at the other end. On the lower surface of the lid body 13, there is attached a closing cylinder body 18 that is pressed against the packing 11 to seal the processing chamber 1 when the lid body 13 descends.

透明板13bと上側の石英製の薄板13dとの間の空間には紫
外線照射ランプ19が配置されており、この空間には図示
しないランプ冷却手段(水冷式)が設けられている。
An ultraviolet irradiation lamp 19 is arranged in a space between the transparent plate 13b and the upper quartz thin plate 13d, and a lamp cooling means (water cooling type) not shown is provided in this space.

有機物の分解除去効率を上げるためには、スピンチャッ
ク2上の基板Aと紫外線照射ランプ19との距離をできる
だけ短くするのがよく、そうなるように閉止用筒体18の
高さを定めてある。
In order to increase the efficiency of decomposing and removing organic substances, it is preferable to make the distance between the substrate A on the spin chuck 2 and the ultraviolet irradiation lamp 19 as short as possible, and the height of the closing cylinder 18 is determined so as to do so. .

蓋体13の天板13aには、基板Aからの有機物の分解除去
の完了を検出するための表面処理終点検出手段20が取り
付けられている。
A surface treatment end point detecting means 20 for detecting completion of decomposition and removal of organic substances from the substrate A is attached to the top plate 13a of the lid 13.

この表面処理終点検出手段20は、基板Aに光を照射し、
有機物表面からの反射光と基板A表面からの反射光との
干渉(位相のずれ)をもって有機物の分解除去の状態を
検知し、干渉がなくなったときに分解除去完了を検出す
るものである。
The surface treatment end point detecting means 20 irradiates the substrate A with light,
The state of decomposition and removal of the organic substance is detected by the interference (phase shift) between the reflected light from the surface of the organic material and the reflected light from the surface of the substrate A, and the completion of decomposition and removal is detected when the interference is eliminated.

スピンチャック2の高さ位置に相当する箇所において、
直径方向で対向する状態で基板搬入口21aと、基板搬出
口21bとがハウジング14の周壁部14aに形成され、上下
スライドにより搬入口20a,搬出口21bを開閉するラック
付きのシャッタ22a,22bと、各シャッタ22a,22bのラック
に噛合するピニオンギヤ23a,23bと、各ピニオンギヤ23
a,23bを駆動する図示しないモータとが設けられてい
る。なお、シャッタ22a,22bのラックもピニオンギヤ23
a,23bの歯部も図示を省略してある。
At a position corresponding to the height position of the spin chuck 2,
A substrate carry-in port 21a and a substrate carry-out port 21b are formed on the peripheral wall 14a of the housing 14 so as to face each other in the diametrical direction, and shutters 22a, 22b with racks for opening and closing the carry-in port 20a and the carry-out port 21b by vertical sliding. , The pinion gears 23a, 23b meshing with the racks of the shutters 22a, 22b, and the pinion gears 23
A motor (not shown) for driving a and 23b is provided. The racks of the shutters 22a and 22b are also attached to the pinion gear 23.
The tooth portions of a and 23b are also not shown.

ハウジング14の周壁部14aの外側において、基板搬入口
21aを通して基板Aをハウジング14内に搬入する基板搬
入機構24aと、基板搬出口21bを通してハウジング14か
ら外部に基板Aを搬出する基板搬出機構24bとが設けら
れている。
Outside the peripheral wall portion 14a of the housing 14, the substrate loading port
A substrate loading mechanism 24a for loading the substrate A into the housing 14 through the 21a and a substrate unloading mechanism 24b for loading the substrate A out of the housing 14 through the substrate unloading port 21b are provided.

これら基板搬入機構24aと基板搬出機構24bとは同じ構
造をもつもので、例えば、実開昭60−176548号公報に開
示され、また、第5図にも示すように、モータ25と、モ
ータ25の回転軸に取り付けられた第1アーム26と、第1
アーム26の遊端部に回転自在に取り付けられた第2アー
ム27と、第1アーム26の回転運動を伝達して第2アーム
27を回転させる伝動機構28と、第2アーム27の遊端部に
形成され、載置した基板Aを吸着保持する真空チャック
口29等から構成されている。
The substrate loading mechanism 24a and the substrate unloading mechanism 24b have the same structure and are disclosed, for example, in Japanese Utility Model Laid-Open No. 176548/1985, and as shown in FIG. The first arm 26 attached to the rotary shaft of the
The second arm 27 rotatably attached to the free end of the arm 26 and the second arm 27 by transmitting the rotational movement of the first arm 26.
It is composed of a transmission mechanism 28 for rotating 27, a vacuum chuck port 29 and the like formed on the free end of the second arm 27 for sucking and holding the placed substrate A.

30は酸素ボンベ、31はバルブ、32は流量計、33はフィル
タ、34はバルブ、35はオゾン発生器で、オゾン発生器35
から導出されたオゾン導入管36の先端が上下の石英製の
薄板13d,13e間に臨み、前述のオゾン導入口16を形成し
ている。
30 is an oxygen cylinder, 31 is a valve, 32 is a flow meter, 33 is a filter, 34 is a valve, 35 is an ozone generator, and an ozone generator 35
The tip of the ozone introducing pipe 36 led out from the above faces the upper and lower quartz thin plates 13d and 13e, and forms the ozone introducing port 16 described above.

なお、例えば流量計32をオゾン発生器35のオゾン出口側
へ配設する等のように、オゾン導入口16へオゾンを供給
するための前記各機器の配置順は変更してもよく、第1
図に示した配置順に限定しない。
The arrangement order of the respective devices for supplying ozone to the ozone inlet port 16 may be changed, for example, by disposing the flow meter 32 on the ozone outlet side of the ozone generator 35.
The arrangement order shown in the figure is not limited.

37は窒素等の不活性ガスのボンベ、38はバルブ、39は不
活性ガス導入管で、不活性ガス導入管39の先端が上下の
石英製の薄板13d,13e間に臨み、前述の不活性ガス導入
口17を形成している。
37 is a cylinder of an inert gas such as nitrogen, 38 is a valve, 39 is an inert gas introducing pipe, and the tip of the inert gas introducing pipe 39 faces between the upper and lower quartz thin plates 13d and 13e. The gas inlet 17 is formed.

処理室1の周壁部1aとハウジング14の周壁部14aとの
間にオゾンの排気チャンバ40が形成され、この排気チャ
ンバ40に連通する排気ダクト41がハウジング14の外部に
導出され、図示しないブロワに接続されている。
An ozone exhaust chamber 40 is formed between the peripheral wall portion 1a of the processing chamber 1 and the peripheral wall portion 14a of the housing 14, and an exhaust duct 41 communicating with the exhaust chamber 40 is led out of the housing 14 to a blower (not shown). It is connected.

また、処理室1の下部に有孔板42が設けられ、この有孔
板42と処理室1の底板部1bとの間の空間部から有機物
の分解除去の際に発生したCO,HO等のガスを排
出する排気ダクト43が処理室1の外部に導出され、排気
バルブ44を介して前記の図示しないブロワに接続されて
いる。ハウジング14は、複数本の支柱45を介してベース
46に支持され、このベース46にスピンチャック2を回転
する前述のモータ7が取り付けられている。ベース46に
立設されたリフター昇降用エアシリンダ47のピストンロ
ッド47aは、処理室1の底板部1bに貫通固定されたガ
イド筒48を貫通し、その上端が前述の昇降プレート10に
固定されている。ピストンロッド47aは有孔板42を貫通
している。
Further, a perforated plate 42 is provided in the lower part of the processing chamber 1, and CO 2 and H 2 generated when the organic substances are decomposed and removed from the space between the perforated plate 42 and the bottom plate portion 1b of the processing chamber 1. An exhaust duct 43 for discharging a gas such as O is led out of the processing chamber 1 and is connected to the blower (not shown) via an exhaust valve 44. The housing 14 is a base via a plurality of columns 45.
The above-mentioned motor 7 which is supported by 46 and rotates the spin chuck 2 is attached to this base 46. The piston rod 47a of the lifter lifting air cylinder 47 provided upright on the base 46 penetrates the guide tube 48 fixed through the bottom plate portion 1b of the processing chamber 1, and the upper end thereof is fixed to the lifting plate 10 described above. There is. The piston rod 47a penetrates the perforated plate 42.

リフター3を構成する複数のリフターロッド3aは、ス
ピンチャック2を貫通して上下動し、上昇によりスピン
チャック2の上面よりも上方に突出する一方、下降によ
りスピンチャック2の下面よりも下方に退出するように
構成されている。
The plurality of lifter rods 3a constituting the lifter 3 penetrates the spin chuck 2 and moves up and down, and ascends to project above the upper surface of the spin chuck 2, while descends below the bottom surface of the spin chuck 2. Is configured to.

リフターロッド3aとスピンチャック2の貫通部分との
位置合わせをするために次のような機構が設けられてい
る。
The following mechanism is provided for aligning the lifter rod 3a and the penetrating portion of the spin chuck 2.

すなわち、スピンチャック2の回転軸4の下端に円板49
が固着され、第6図に示すように、この円板49の周縁の
1箇所に凹部49aが形成され、この凹部49aに係合する
ロックピン51をピストンロッド52aの先端に設けた位置
決め用エアシリンダ52がベース46に取り付けられてい
る。
That is, a disc 49 is attached to the lower end of the rotary shaft 4 of the spin chuck 2.
As shown in FIG. 6, a recess 49a is formed at one position on the periphery of the disk 49, and a lock pin 51 that engages with the recess 49a is provided at the tip of the piston rod 52a. The cylinder 52 is attached to the base 46.

そして、凹部49aがロックピン51に丁度対向する位置に
きたときにモータ7を停止するための光学式の回転角セ
ンサ(図示せず)が設けられている。
An optical rotation angle sensor (not shown) is provided for stopping the motor 7 when the recess 49a reaches a position just opposite to the lock pin 51.

次に、第2図および第3図に基づいてスピンチャック2
の具体的構造について説明する。
Next, based on FIGS. 2 and 3, the spin chuck 2 will be described.
The specific structure of will be described.

スピンチャック2は、ヒータ53をサンドイッチ状に挟ん
だ上板2aと下板2bとが周縁近傍の円周上において複
数のボルト54で締め付け固定され、上板2aと下板2b
とにわたってリフター3の各リフターロッド3aを貫通
させるための貫通孔2cが複数個(6個)形成されてい
る。
In the spin chuck 2, an upper plate 2a and a lower plate 2b sandwiching a heater 53 in a sandwich shape are clamped and fixed by a plurality of bolts 54 on the circumference near the periphery of the upper plate 2a and the lower plate 2b.
A plurality of (six) through holes 2c for penetrating the lifter rods 3a of the lifter 3 are formed.

上板2aに十字状に真空吸引路2dが形成され、その真
空吸引路2dから上板2aの表面に貫通する状態で基板
Aを吸着保持するための複数(周方向90度ごとの4つと
中心の1つの合計5つ)の基板吸着孔2eが形成され、
下板2bに形成された真空吸引路2fと上板2aの真空
吸引路2dとが縦方向の連通路2gを介して気密的に連
通接続されている。
A vacuum suction path 2d is formed in a cross shape on the upper plate 2a, and a plurality of vacuum suction paths 2d for adsorbing and holding the substrate A in a state of penetrating from the vacuum suction path 2d to the surface of the upper plate 2a (four for every 90 degrees in the circumferential direction and the center) are provided. Substrate adsorbing holes 2e of a total of 5) are formed,
The vacuum suction passage 2f formed in the lower plate 2b and the vacuum suction passage 2d in the upper plate 2a are airtightly connected to each other via a vertical communication passage 2g.

2h,2iは真空吸引路2d,2fが上板2a,下板2
bの周端面に開口する部分を気密閉塞する栓である。
In 2h and 2i, the vacuum suction paths 2d and 2f are the upper plate 2a and the lower plate 2.
It is a plug for airtightly closing a portion of the peripheral end face of b.

スピンチャック2の中心近傍において、上板2aに熱電
対等の感温センサ55が埋め込まれ、そのリード線55aお
よびヒータ53のリード線53aが下板2bを貫通して下方
に導出されている。
In the vicinity of the center of the spin chuck 2, a temperature sensor 55 such as a thermocouple is embedded in the upper plate 2a, and its lead wire 55a and the lead wire 53a of the heater 53 penetrate the lower plate 2b and are led out downward.

筒状の回転軸4の上端に外嵌固着された連結筒56の上端
がスピンチャック2の下板2bに当接され、上板2aお
よび下板2bを貫通する複数のボルト57によってスピン
チャック2と連結筒56とが固定されている。
The upper end of the connecting cylinder 56, which is externally fitted and fixed to the upper end of the cylindrical rotary shaft 4, is brought into contact with the lower plate 2b of the spin chuck 2, and the spin chuck 2 is attached by a plurality of bolts 57 penetrating the upper plate 2a and the lower plate 2b. And the connecting tube 56 are fixed.

連結筒56には下板2bの真空吸引路2fに連通する真空
吸引路56aが形成されている。56bは栓である。また、
回転軸4の外側には真空吸引路56aに連通する真空吸引
路4aを形成するための外筒58が固着されている。
The connecting cylinder 56 is formed with a vacuum suction passage 56a communicating with the vacuum suction passage 2f of the lower plate 2b. 56b is a stopper. Also,
An outer cylinder 58 for forming the vacuum suction passage 4a communicating with the vacuum suction passage 56a is fixed to the outer side of the rotary shaft 4.

前記のリード線53a,55aは連結筒56の内側を通り、回転
軸4の内部に通線されている。スピンチャック2は、基
板Aの大きさによって交換するものであり、ボルト57の
操作によってスピンチャック2を連結筒56に対して着脱
自在に構成してある。
The lead wires 53a and 55a pass through the inside of the connecting cylinder 56 and are wired inside the rotary shaft 4. The spin chuck 2 is exchanged according to the size of the substrate A, and the spin chuck 2 is detachably attached to the connecting cylinder 56 by operating a bolt 57.

これに伴って、スピンチャック2から導出されたリード
線53a,55aも回転軸4に通線されているリード線59に対
して接続分離自在とする必要があり、リード線53a,55a
とリード線59とがコネクタ60によって接続されている。
Along with this, the lead wires 53a and 55a led out from the spin chuck 2 also need to be connectable and separable with respect to the lead wire 59 extending through the rotary shaft 4.
And the lead wire 59 are connected by a connector 60.

また、スピンチャック2の交換に伴ってリフター3のリ
フターロッド3aの位置を調整する必要がある。このた
め、リフターロッド3aの下端のネジ部3bを昇降プレ
ート10の孔10aに貫通させナット61で固定するように構
成することによってリフターロッド3aを着脱自在なも
のとしている。
Further, it is necessary to adjust the position of the lifter rod 3a of the lifter 3 as the spin chuck 2 is replaced. Therefore, the screw rod 3a at the lower end of the lifter rod 3a is inserted through the hole 10a of the elevating plate 10 and is fixed by the nut 61, so that the lifter rod 3a can be attached and detached.

昇降プレート10には、第4図に示すように、大きな径の
円周上に形成された前記の孔10a以外に、その内側の小
さな円周上に孔10bを形成し、さらにその内側のさらに
小さな円周上に孔10cを形成してある。これらの孔10
a,10b,10cは中心に向かって1列に並んでおり、そ
のような孔列が6組等配されている。
As shown in FIG. 4, in the elevating plate 10, in addition to the hole 10a formed on the circumference of a large diameter, a hole 10b is formed on the inside of the inside of the hole 10b, and the inside of the hole 10b is further formed. A hole 10c is formed on a small circumference. These holes 10
The a, 10b, and 10c are arranged in a line toward the center, and six such hole lines are equally arranged.

基板Aの大きさに応じてスピンチャック2を交換すると
きに、ナット61を外し各リフターロッド3aの取り付け
位置(孔10a,10b,10c)を変更するのである。な
お、10dは昇降プレート10を軽量化するための孔であ
る。
When replacing the spin chuck 2 according to the size of the substrate A, the nut 61 is removed and the mounting positions (holes 10a, 10b, 10c) of the lifter rods 3a are changed. In addition, 10d is a hole for reducing the weight of the elevating plate 10.

次に、軸受部5の構造を第2図および第4図に基づいて
説明する。
Next, the structure of the bearing portion 5 will be described with reference to FIGS. 2 and 4.

軸受部5は、フランジ部62aがボルト63によって処理室
1の底板部1bに固定された筒体状62と、筒状体62の上
部に内嵌されボルト64によって固定された蓋部65と、筒
状体62の上下2箇所に装着され回転軸4を軸支するベア
リング66,67等から構成されている。
The bearing portion 5 includes a tubular body 62 whose flange portion 62a is fixed to the bottom plate portion 1b of the processing chamber 1 by a bolt 63, a lid portion 65 which is fitted inside the tubular body 62 and fixed by a bolt 64, It is composed of bearings 66, 67, etc., which are mounted on the upper and lower portions of the tubular body 62 and support the rotating shaft 4.

蓋部65には、回転軸4と外筒58との間の真空吸引路4a
に連通する真空吸引路65aが形成され、この真空吸引路
65aは図示しない経路を介して図示しない真空ポンプに
接続されている。
The lid 65 has a vacuum suction path 4a between the rotary shaft 4 and the outer cylinder 58.
A vacuum suction path 65a communicating with the vacuum suction path 65a is formed.
65a is connected to a vacuum pump (not shown) via a path (not shown).

次に、この実施例の基板の乾式洗浄装置の動作を順を追
って説明する。
Next, the operation of the substrate dry cleaning apparatus of this embodiment will be described step by step.

初期状態においては、既に、位置決め用エアシリンダ52
が伸長してロックピン51が円板49の凹部49aに係合さ
れ、回転軸4、スピンチャック2の回転が規制されてい
る。この状態では、各リフターロッド3aが、スピンチ
ャック2の各貫通孔2cと位置合わせされている。
In the initial state, the positioning air cylinder 52 has already been
Are extended and the lock pin 51 is engaged with the recess 49a of the disc 49, and the rotation of the rotary shaft 4 and the spin chuck 2 is restricted. In this state, each lifter rod 3a is aligned with each through hole 2c of the spin chuck 2.

また、初期状態において、リード線59,53aを介してヒ
ータ53に通電され、スピンチャック2が加熱された状態
にある。加熱温度は感温センサ55による温度検出に基づ
いて所定の温度に維持される。その温度は通常200℃以
上、300℃以下である。
In the initial state, the heater 53 is energized via the lead wires 59 and 53a to heat the spin chuck 2. The heating temperature is maintained at a predetermined temperature based on the temperature detection by the temperature sensor 55. The temperature is usually 200 ° C or higher and 300 ° C or lower.

ピニオンギヤ23aを駆動してシャッタ22aを下降させ基
板搬入口21aを開く。他方の基板搬出口21bはシャッタ
22bによって閉塞されている。
The pinion gear 23a is driven to lower the shutter 22a and open the substrate loading port 21a. The other substrate outlet 21b is a shutter
It is blocked by 22b.

蓋体昇降用エアシリンダ15を伸長させて蓋体13を上昇さ
せ、蓋体13の下面とスピンチャック2の上面との間に基
板搬入機構24aの第2アーム27が進入し得る空間を確保
する。
The lid raising / lowering air cylinder 15 is extended to raise the lid 13 to secure a space between the lower surface of the lid 13 and the upper surface of the spin chuck 2 to which the second arm 27 of the substrate loading mechanism 24a can enter. .

基板搬入機構24aにおける第2アーム27に基板Aを載置
し真空チャック口29からの真空吸引によって基板Aを保
持させる。モータ25を駆動することにより、第1アーム
26,第2アーム27を変位させて第2アーム27上の基板A
を基板搬入口21aからハウジング14内に搬入し、スピン
チャック2の真上に基板Aがきたタイミングでモータ25
を停止する。
The substrate A is placed on the second arm 27 of the substrate loading mechanism 24a, and the substrate A is held by vacuum suction from the vacuum chuck port 29. By driving the motor 25, the first arm
26, the second arm 27 is displaced to move the substrate A on the second arm 27.
When the substrate A is loaded into the housing 14 from the substrate loading port 21a and the substrate A comes directly above the spin chuck 2, the motor 25
To stop.

リフター昇降用エアシリンダ47を伸長させると、リフタ
ー3を構成する複数本のリフターロッド3aがスピンチ
ャック2の貫通孔2cを通り、その上端部がスピンチャ
ック2の上面よりも上方に突出して基板搬入機構24aの
第2アーム27の高さ位置に達する。このタイミングで真
空チャック口29からの真空吸引を解除する。
When the lifter elevating air cylinder 47 is extended, the plurality of lifter rods 3a constituting the lifter 3 pass through the through holes 2c of the spin chuck 2 and the upper end portions thereof project above the upper surface of the spin chuck 2 to carry in the substrate. The height position of the second arm 27 of the mechanism 24a is reached. At this timing, the vacuum suction from the vacuum chuck port 29 is released.

リフターロッド3aは引き続き上昇し、第2アーム27上
の基板Aを複数本のリフターロッド3aの上端で受け取
る。
The lifter rod 3a continues to rise and receives the substrate A on the second arm 27 at the upper ends of the plurality of lifter rods 3a.

モータ25を逆方向に駆動して第2アーム27を基板搬入口
21aから退避させ、次いで、ピニオンギヤ23aを逆転駆
動してシャッタ22aを上昇させ基板搬入口21aを閉塞す
る。
The motor 25 is driven in the reverse direction to move the second arm 27 to the substrate loading port.
Then, the pinion gear 23a is reversely driven to raise the shutter 22a and close the substrate loading opening 21a.

リフター昇降用エアシリンダ47を収縮してリフター3の
リフターロッド3aをその上端部がスピンチャック2の
下面よりも下方にくるまで退出させる。これは、後工程
でのスピンチャック2の回転の妨げにならないようにす
るためである。
The lifter lifting air cylinder 47 is contracted to retract the lifter rod 3a of the lifter 3 until its upper end is below the lower surface of the spin chuck 2. This is so as not to hinder the rotation of the spin chuck 2 in the subsequent process.

リフターロッド3aの上端部がスピンチャック2の上面
位置を通過したときにリフターロッド3a上の基板Aが
スピンチャック2の上面に移載される。
When the upper end of the lifter rod 3a passes the upper surface position of the spin chuck 2, the substrate A on the lifter rod 3a is transferred to the upper surface of the spin chuck 2.

スピンチャック2は既にヒータ53によって所定温度に加
熱されているため、基板Aはスピンチャック2の上面へ
の移載直後から加熱され始める。これによって、基板A
の表面に塗布された有機物含有のレジスト膜が熱分解し
始める。このレジスト膜の熱分解は、次工程での有機物
の分解除去を促進する。
Since the spin chuck 2 has already been heated to a predetermined temperature by the heater 53, the substrate A starts to be heated immediately after being transferred onto the upper surface of the spin chuck 2. As a result, the substrate A
The organic substance-containing resist film applied to the surface of the film begins to thermally decompose. The thermal decomposition of the resist film promotes decomposition and removal of organic substances in the next step.

蓋体昇降用エアシリンダ15を収縮させて蓋体13を下降さ
せ、蓋体13の閉止用筒体18の下面を処理室1の上端のパ
ッキング11に圧着して処理室1を密閉する。
The air cylinder 15 for raising and lowering the lid body is contracted to lower the lid body 13, and the lower surface of the closing cylinder 18 of the lid body 13 is pressure-bonded to the packing 11 at the upper end of the processing chamber 1 to seal the processing chamber 1.

次いで、真空吸引路65a,4a,56a,2f,連通路2
g,真空吸引路2dを介して基板吸着孔2eに負圧をか
け、基板Aをスピンチャック2上に吸着保持する。
Next, the vacuum suction passages 65a, 4a, 56a, 2f, the communication passage 2
g, a negative pressure is applied to the substrate suction hole 2e via the vacuum suction path 2d to suck and hold the substrate A on the spin chuck 2.

位置決め用エアシリンダ52を収縮してロックピン51を円
板49の凹部49aから離脱し回転軸4をフリーの状態にす
る。
The positioning air cylinder 52 is contracted to separate the lock pin 51 from the recess 49a of the disc 49, and the rotary shaft 4 is set in a free state.

次いで、モータ7を高速で回転することにより、プーリ
ー8,伝動ベルト9,プーリー6を介して回転軸4,ス
ピンチャック2を回転し、スピンチャック2に吸着保持
されている基板Aを高速回転する。
Next, by rotating the motor 7 at high speed, the rotary shaft 4 and the spin chuck 2 are rotated via the pulley 8, the transmission belt 9 and the pulley 6, and the substrate A sucked and held by the spin chuck 2 is rotated at high speed. .

また、バルブ31,34を開き、酸素ボンベ30からオゾン発
生器35に酸素を供給するとともに、オゾン発生器35の電
源を投入して供給されてきた酸素をオゾンに変換し、オ
ゾン導入管36を介してオゾン導入口16から蓋体13の上下
の石英製の薄板13d,13e間に所要流量のオゾンを供給す
る。
Further, the valves 31 and 34 are opened to supply oxygen from the oxygen cylinder 30 to the ozone generator 35, and the power of the ozone generator 35 is turned on to convert the supplied oxygen into ozone, and the ozone introduction pipe 36 is connected. Through the ozone introduction port 16, a required flow rate of ozone is supplied between the upper and lower quartz thin plates 13d and 13e of the lid 13.

なお、バルブ31,34は常時開けておく、オゾン導入口16
へオゾンを供給しない間、オゾン排出用の排気ダクトを
設けておいて、そこへオゾンを排出するようにしておい
てもよい。
The valves 31 and 34 are always open, and the ozone inlet 16
It is also possible to provide an exhaust duct for discharging ozone while ozone is not supplied to the device, and to discharge ozone to the exhaust duct.

オゾンは、下側の薄板13eに形成されたオゾン導入孔13
fを介してスピンチャック2に吸着保持され高速回転し
ている基板Aの表面に供給される。
The ozone is introduced through the ozone introduction hole 13 formed in the lower thin plate 13e.
It is adsorbed and held by the spin chuck 2 via f and supplied to the surface of the substrate A which is rotating at a high speed.

このオゾン供給と同時に図外のブロワを駆動し排気ダク
ト41を介して排気チャンバ40を負圧にし、処理室1内か
ら不測にオゾンが室内に漏れ出すのを防止する。また、
バルブ44も開けておく。
Simultaneously with this ozone supply, a blower (not shown) is driven to bring the exhaust chamber 40 to a negative pressure through the exhaust duct 41 to prevent the ozone from unexpectedly leaking from the inside of the processing chamber 1. Also,
Leave valve 44 open.

次に、紫外線照射ランプ19を点灯して回転中の基板Aの
表面に対して前記のオゾン供給とともに紫外線の照射を
行う。
Then, the ultraviolet irradiation lamp 19 is turned on to irradiate the surface of the rotating substrate A with the above-mentioned ozone and ultraviolet rays.

照射した紫外線によってオゾンOは活性化された酸素
原子Oに分解され、この酸素原子Oにより基板Aの表面
の例えばレジスト膜等の付着有機物を酸化し、CO
O等に変化させて基板Aから分解除去する。生成し
たCO,HO等のガスは排気ダクト43を介して室外
に排出される。
Ozone O 3 is decomposed into activated oxygen atoms O by the irradiated ultraviolet rays, and the oxygen atoms O oxidize adhered organic substances such as a resist film on the surface of the substrate A, thereby reducing CO 2 ,
It is changed to H 2 O or the like and decomposed and removed from the substrate A. The generated gas such as CO 2 and H 2 O is discharged to the outside through the exhaust duct 43.

なお、前記酸化反応において、紫外線および熱は有機物
の分解および有機物と活性化された酸素原子Oとの結合
を促進する作用がある。
In addition, in the above-mentioned oxidation reaction, ultraviolet rays and heat have a function of promoting decomposition of an organic substance and a bond between the organic substance and the activated oxygen atom O.

基板Aを回転しながら紫外線を照射するので、付着有機
物全面に対する均一な照射が可能である。
Since ultraviolet rays are irradiated while rotating the substrate A, it is possible to uniformly irradiate the entire surface of the attached organic substance.

また、従来例のように紫外線によって空気中の酸素から
オゾンを発生させるのではなく、最初からオゾンのかた
ちで付着有機物に対して直接的に供給するから、供給オ
ゾン量が充分で付着有機物とオゾンとの接触頻度が高
く、付着有機物の分解除去速度が速くなる。
Further, unlike the conventional example, ozone is not generated from oxygen in the air by ultraviolet rays as in the conventional example, but it is directly supplied to the adhered organic matter in the form of ozone from the beginning, so the amount of ozone supplied is sufficient and the adhered organic matter and ozone are The contact frequency is high, and the rate of decomposition and removal of adhered organic matter becomes faster.

また、従来例のようにスピンチャック2を上下方向に揺
動させるための機構は不要であり、構造の簡素化に役立
っている。
Further, unlike the conventional example, a mechanism for vertically swinging the spin chuck 2 is not required, which is useful for simplifying the structure.

回転する基板Aに対してオゾン供給と紫外線照射とを同
時的に行う過程で前述のように付着有機物が次第に分解
除去されていく。その分解除去の程度(例えばレジスト
膜の膜厚の減少量)は表面処理終点検出手段20からの信
号によって監視されており、分解除去が完了したとき
(膜厚がほぼゼロになったとき)の表面処理終点検出手
段20からの完了信号によってオゾンの供給を停止する。
すなわち、オゾン発生器35の電源をオフするとともにバ
ルブ31,34を閉止する。
In the process of simultaneously supplying ozone and irradiating ultraviolet rays to the rotating substrate A, the adhered organic substances are gradually decomposed and removed as described above. The degree of decomposition and removal (for example, the amount of decrease in the film thickness of the resist film) is monitored by a signal from the surface treatment end point detecting means 20, and when the decomposition and removal is completed (when the film thickness becomes almost zero). The supply of ozone is stopped by the completion signal from the surface treatment end point detecting means 20.
That is, the power of the ozone generator 35 is turned off and the valves 31 and 34 are closed.

なお、オゾン発生器35の電源をオフにせず、かつバルブ
31,34を閉止せず、オゾンの生成を続行して、オゾンを
排出するためにオゾン排気ダクトを設け、そこへ排気す
るようにしてもよい。
Note that the ozone generator 35 is not turned off and the valve is
Instead of closing 31, 34, ozone generation may be continued, and an ozone exhaust duct may be provided to discharge ozone, and the ozone may be exhausted there.

オゾン供給停止の後も紫外線の照射を所要時間にわたっ
て継続することにより、基板Aの表面の界面に残留して
いる有機物を引き続き分解除去する。
Even after the ozone supply is stopped, the irradiation of ultraviolet rays is continued for a required time, whereby the organic substances remaining on the interface of the surface of the substrate A are continuously decomposed and removed.

前記所要時間の経過後、紫外線照射ランプ19を消灯す
る。ただし、ヒータ53に対する通電は継続しておく。
After the passage of the required time, the ultraviolet irradiation lamp 19 is turned off. However, energization of the heater 53 is continued.

次いで、バルブ38を開けて不活性ガスボンベ37から不活
性ガス導入管16を介して不活性ガス導入口17から蓋体13
の上下の石英製の薄板13d,13e間に所要流量の不活性ガ
ス(例えば、窒素ガス)を供給する。
Next, the valve 38 is opened, and the inert gas cylinder 37 is introduced through the inert gas introduction pipe 16 and the inert gas introduction port 17 through the lid 13
An inert gas (for example, nitrogen gas) having a required flow rate is supplied between the upper and lower quartz thin plates 13d and 13e.

この不活性ガスは、下側の薄板13eに形成されたオゾン
導入孔13fを介して処理室1内に流入し、処理室1内に
残留しているオゾンや処理室1内で生成されたCO
O等のガスを排気ダクト43を介して室外にパージす
る。
This inert gas flows into the processing chamber 1 through the ozone introduction hole 13f formed in the lower thin plate 13e, and the ozone remaining in the processing chamber 1 and the CO generated in the processing chamber 1 are generated. 2 ,
A gas such as H 2 O is purged outside the room through the exhaust duct 43.

次に、蓋体昇降用エアシリンダ15を伸長させて蓋体13を
上昇させ、処理室1を開放する。そして、モータ7の回
転を高速から低速に切り換える。図示しない光学式の回
転角センサが回転軸4の下端の円板49の所定回転位相を
検出したときにモータ7が停止される。これによって、
円板49の凹部49aがロックピン51に丁度対向する位置で
停止する。
Next, the lid raising / lowering air cylinder 15 is extended to raise the lid 13 to open the processing chamber 1. Then, the rotation of the motor 7 is switched from high speed to low speed. The motor 7 is stopped when an optical rotation angle sensor (not shown) detects a predetermined rotation phase of the disk 49 at the lower end of the rotation shaft 4. by this,
The recess 49a of the disc 49 stops at a position just opposite to the lock pin 51.

次いで、図外の真空ポンプを停止して基板吸着孔2eに
かけていた負圧を解除し、基板Aに対する吸着保持を解
除する。
Next, the vacuum pump (not shown) is stopped to release the negative pressure applied to the substrate suction holes 2e, and the suction holding of the substrate A is released.

そして、位置決め用エアシリンダ52を伸長してロックピ
ン51を円板49の凹部49aに係合して回転軸4,スピンチ
ャック2の回転を規制する。これによって、リフター3
を構成する各リフターロッド3aが、スピンチャック2
の各貫通孔2cと位置合わせされる。
Then, the positioning air cylinder 52 is extended to engage the lock pin 51 with the concave portion 49a of the disk 49 to restrict the rotation of the rotary shaft 4 and the spin chuck 2. This makes lifter 3
Each of the lifter rods 3a constituting the
Are aligned with the through holes 2c.

リフター昇降用エアシリンダ47を伸長させてリフター3
の複数本のリフターロッド3aをスピンチャック2の貫
通孔2cを通してその上端部をスピンチャック2の上面
よりも上方に突出させる。すると、スピンチャック2上
の基板Aが複数本のリフターロッド3aに移載される。
リフターロッド3aはさらに上昇し、所定の位置で停止
する。
The lifter lifting air cylinder 47 is extended to lift the lifter 3.
The plurality of lifter rods 3 a are projected through the through holes 2 c of the spin chuck 2 so that their upper ends are higher than the upper surface of the spin chuck 2. Then, the substrate A on the spin chuck 2 is transferred onto the plurality of lifter rods 3a.
The lifter rod 3a further rises and stops at a predetermined position.

ピニオンギヤ23bを駆動してシャッタ22bを下降させ基
板搬出口21bを開く。基板搬出機構24bにおけるモータ
25を駆動することにより、第1アーム26,第2アーム27
を変位させて第2アーム27の先端をリフターロッド3a
に支持されている基板Aの下方に進入させ、モータ25を
停止する。
The pinion gear 23b is driven to lower the shutter 22b and open the substrate carry-out port 21b. Motor for board unloading mechanism 24b
By driving 25, the first arm 26, the second arm 27
Is displaced to move the tip of the second arm 27 to the lifter rod 3a.
The motor 25 is stopped by moving the substrate A below the substrate A.

次いで、真空チャック口29からの真空吸引によって基板
Aを第2アーム27に吸着保持させる。
Then, the substrate A is sucked and held by the second arm 27 by vacuum suction from the vacuum chuck port 29.

リフター昇降用エアシリンダ47を収縮してリフターロッ
ド3aをその上端部がスピンチャック2の下面よりも下
方にくるまで退出させる。リフターロッド3aの下降に
よっても基板Aは第2アーム27に吸着保持された状態を
保つ。
The lifter lifting air cylinder 47 is contracted to retract the lifter rod 3a until its upper end is below the lower surface of the spin chuck 2. Even when the lifter rod 3a is lowered, the substrate A is kept sucked and held by the second arm 27.

基板搬出機構24bにおけるモータ25を逆方向に駆動して
第2アーム27を基板搬出口21bから退避させることによ
り、基板Aをハウジング14の外部に搬出する。
The board A is carried out of the housing 14 by driving the motor 25 in the board carry-out mechanism 24b in the reverse direction to retract the second arm 27 from the board carry-out port 21b.

次いで、ピニオンギヤ23bを逆転駆動してシャッタ22b
を上昇させ基板搬出口21bを閉塞する。
Then, the pinion gear 23b is reversely driven to drive the shutter 22b.
To close the substrate outlet 21b.

以上で1つの基板Aに対する有機物分解除去の処理の1
サイクルが終了する。
As described above, one of the processes for decomposing and removing organic substances on one substrate A
The cycle ends.

以上のように、本考案の場合は、従来例のように紫外線
照射によってオゾンを2次的に生成するのではなく、紫
外線照射と同時に、最初からオゾンのかたちで基板Aの
表面に供給し、かつ、そのオゾンをオゾン導入孔13fに
よって均一に拡散するためオゾンと基板Aにおける付着
有機物との接触頻度が高いものとなる。
As described above, in the case of the present invention, ozone is not secondarily generated by irradiation with ultraviolet rays as in the conventional example, but is supplied to the surface of the substrate A in the form of ozone from the beginning simultaneously with irradiation with ultraviolet rays, Moreover, since the ozone is uniformly diffused through the ozone introduction hole 13f, the contact frequency between the ozone and the adhered organic matter on the substrate A becomes high.

一方、基板Aを回転しながら紫外線を照射するから均一
な照射が可能となり、併せてヒータ53によって基板Aを
加熱するので、全体として有機物の分解除去速度を充分
に高いものにすることができる。
On the other hand, since the substrate A is irradiated with ultraviolet rays while being rotated, uniform irradiation is possible, and since the substrate A is also heated by the heater 53, the decomposition rate of organic substances can be sufficiently increased as a whole.

また、有機物分解除去の過程におけるスピンチャック2
の動作は回転のみであって、従来例のように回転と同時
に上下方向に揺動させるのではないから、スピンチャッ
ク2の駆動機構が簡素なものとなる。
In addition, the spin chuck 2 in the process of decomposing and removing organic substances
The operation of is only rotation, and is not oscillated in the vertical direction at the same time as rotation as in the conventional example. Therefore, the drive mechanism of the spin chuck 2 becomes simple.

また、リフター3がスピンチャック2に対する基板Aの
離着の動作と、外部の基板搬入機構24a,基板搬出機構
24bとの間での基板Aの受け渡しの動作とを兼ねている
点でも構造の簡素化が図られるとともに、基板Aの自動
搬送を容易化している。
In addition, the lifter 3 performs the operation of detaching / attaching the substrate A from / to the spin chuck 2, the external substrate loading mechanism 24a, and the substrate unloading mechanism.
The structure is simplified in that it also serves to transfer the substrate A to and from the substrate 24b, and the automatic transfer of the substrate A is facilitated.

なお、この実施例の基板の乾式洗浄装置は、その次段に
並設した湿式洗浄装置と組み合わせて使用することも可
能である。
The dry cleaning apparatus for a substrate of this embodiment can also be used in combination with a wet cleaning apparatus arranged in parallel at the next stage.

その湿式洗浄装置の一例として、スピンチャックに吸着
保持されて高速回転している基板の表面に対して洗浄液
を噴射することによって基板表面を洗浄するものがあ
る。
As an example of the wet cleaning apparatus, there is one that cleans the substrate surface by spraying a cleaning liquid onto the surface of the substrate that is adsorbed and held by a spin chuck and is rotating at high speed.

この場合、乾式洗浄において基板表面に残留したレジス
ト成分の鉄,ナトリウム,カリウム等の金属等を洗浄液
で洗い流すのである。洗浄液に超音波振動を付加すれ
ば、洗浄効果を一層高めることができる。
In this case, the resist components such as iron, sodium, potassium and other metals remaining on the substrate surface in the dry cleaning are washed away with a cleaning liquid. By adding ultrasonic vibration to the cleaning liquid, the cleaning effect can be further enhanced.

また、湿式洗浄装置を並設するのではなく、この実施例
の基板の乾式洗浄装置自体において、蓋体13に洗浄液噴
射ノズルを設け、有機物の分解除去後、蓋体13が上昇し
た段階で基板Aの表面に洗浄液を噴射するように構成し
てもよい。
Further, instead of arranging a wet cleaning device side by side, in the substrate dry cleaning device of this embodiment itself, a cleaning liquid injection nozzle is provided in the lid body 13, and after the organic substance is decomposed and removed, the substrate is lifted when the lid body 13 is raised. The cleaning liquid may be sprayed onto the surface of A.

また、紫外線照射ランプ19を充分に冷却することができ
るのであれば、2枚の石英製の薄板13d,13eのうち上側
の薄板13dを省略し、オゾン導入口16,不活性ガス導入
口17を透明板13bと下側の薄板13との間に配置してもよ
い。
If the ultraviolet irradiation lamp 19 can be sufficiently cooled, the upper thin plate 13d of the two quartz thin plates 13d and 13e is omitted and the ozone inlet 16 and the inert gas inlet 17 are omitted. It may be arranged between the transparent plate 13b and the lower thin plate 13.

さらに、下側の薄板13eも省略するとともに、紫外線照
射ランプ19を複数本水平方向に列設し、かつそれらの紫
外線照射ランプ19と透明板13bとの間にオゾン導入口16
および不活性ガス導入口17を配置することによって、紫
外線照射ランプ相互間のスリット状の隙間から、オゾン
や不活性ガスを供給するようにしてもよい。こうするこ
とにより、オゾン導入口16から基板Aまでの距離および
紫外線照射ランプ19と基板Aとの距離が短くなり、有機
物を分解除去する効率を高められる。
Further, the lower thin plate 13e is omitted, and a plurality of ultraviolet irradiation lamps 19 are horizontally arranged in a row, and the ozone introduction port 16 is provided between the ultraviolet irradiation lamps 19 and the transparent plate 13b.
By arranging the inert gas introducing port 17, ozone or an inert gas may be supplied from the slit-shaped gap between the ultraviolet irradiation lamps. By doing so, the distance from the ozone inlet 16 to the substrate A and the distance between the ultraviolet irradiation lamp 19 and the substrate A are shortened, and the efficiency of decomposing and removing organic substances can be improved.

上記実施例では、リフターロッド3aをスピンチャック
2の上下にわたって昇降するのに、スピンチャック2に
貫通孔2cを形成したが、貫通孔2cに代えて切欠き溝
を形成してもよい。
In the above embodiment, the through hole 2c is formed in the spin chuck 2 in order to move the lifter rod 3a up and down the spin chuck 2, but a cutout groove may be formed instead of the through hole 2c.

<考案の効果> 本考案によれば、次の効果が発揮される。<Effects of the Invention> According to the present invention, the following effects are exhibited.

紫外線照射によってオゾンを2次的に生成するのではな
く、紫外線照射と同時に、処理室が密閉された状態で最
初からオゾンのかたちで基板の表面に供給するから、オ
ゾンと基板における付着有機物との接触頻度が高いもの
となり、一方、基板を回転しながら基板に近接した状態
で紫外線を照射するから均一な照射が可能であり、併せ
てヒータによって基板を加熱するので、全体として有機
物の分解除去速度を充分に高いものにすることができ
る。
Ozone is not secondarily generated by UV irradiation, but simultaneously with UV irradiation, ozone is supplied to the substrate surface in the form of ozone from the beginning when the processing chamber is sealed. The contact frequency is high. On the other hand, while the substrate is rotating, it is irradiated with ultraviolet rays in the state of being close to the substrate, so that uniform irradiation is possible, and the substrate is also heated by the heater. Can be sufficiently high.

また、有機物分解除去の過程におけるスピンチャックの
動作は回転のみであって、従来例のように回転と同時に
上下方向に揺動させるのではないから、スピンチャック
の駆動機構を簡素化することができる。
Further, the operation of the spin chuck in the process of decomposing and removing the organic matter is only rotation, and is not oscillated in the vertical direction at the same time as the rotation as in the conventional example. Therefore, the drive mechanism of the spin chuck can be simplified. .

さらに、リフターがスピンチャックに設けられた貫通孔
を通ってそのスピンチャックに対する基板の離着の動作
と、外部の基板搬入/搬出機構との間での基板の受け渡
しの動作とを兼ねている点でも構造の小型化と簡素化を
図ることができるし、基板の自動搬送を容易化する上で
も有利である。
Furthermore, the lifter has both the operation of detaching the substrate from the spin chuck through a through hole provided in the spin chuck and the operation of transferring the substrate to and from an external substrate loading / unloading mechanism. However, the structure can be downsized and simplified, and it is also advantageous in facilitating automatic transfer of the substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図ないし第6図は本考案の実施例に係り、第1図は
基板の乾式洗浄装置の全体的な概略構成図、第2図は要
部の拡大断面図、第3図は第2図におけるIII−III線矢
視の平面図、第4図は第2図におけるIV−IV線矢視の断
面図、第5図は基板搬入機構,基板搬出機構の斜視図、
第6図はスピンチャックのロック機構を示す平面図であ
る。 A…基板 1…処理室 1c…処理室の上方開口部 2…スピンチャック 3…リフター 3a…リフターロッド 13…蓋体 13d…上側の石英製の薄板 13e…下側の石英製の薄板 16…オゾン導入口 19…紫外線照射ランプ 35…オゾン発生器 47…リフター昇降用エアシリンダ 53…ヒータ
1 to 6 relate to an embodiment of the present invention. FIG. 1 is an overall schematic configuration diagram of a dry cleaning apparatus for a substrate, FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of an essential part, and FIG. Fig. 4 is a plan view taken along the line III-III in Fig. 4, Fig. 4 is a sectional view taken along the line IV-IV in Fig. 2, and Fig. 5 is a perspective view of a substrate loading mechanism and a substrate unloading mechanism.
FIG. 6 is a plan view showing a lock mechanism of the spin chuck. A ... Substrate 1 ... Processing chamber 1c ... Processing chamber upper opening 2 ... Spin chuck 3 ... Lifter 3a ... Lifter rod 13 ... Lid 13d ... Upper quartz thin plate 13e ... Lower quartz thin plate 16 ... Ozone Inlet 19 ... UV irradiation lamp 35 ... Ozone generator 47 ... Lift lifter air cylinder 53 ... Heater

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】基板を吸着保持して水平回転するスピンチ
ャックと、このスピンチャックの上方に配置された紫外
線照射ランプとを備え、基板表面に付着している有機物
を紫外線照射によって分解除去する基板の乾式洗浄装置
であって、 前記スピンチャックに内蔵されたヒータと、 上昇によりスピンチャックに設けられた貫通孔を通って
その上面よりも上方に突出し、下降によりスピンチャッ
クに設けられた貫通孔を通ってその下面よりも下方に退
出して基板をスピンチャックに対して離着させるリフタ
ーと、 前記スピンチャックおよび前記リフターを収納する処理
室と、 基板を保持した状態で前記リフターの上昇位置と前記処
理室外との間で水平方向に進退移動し、前記リフターと
の間で基板を受け渡しを行う基板搬入/搬出機構と、 前記紫外線照射ランプを内蔵し、かつ、上昇によりスピ
ンチャック上面よりも上方に移動し、下降により前記処
理室の上方開口部を閉じる蓋体と、 前記スピンチャック上の基板に対してオゾンを供給する
オゾン導入口と、 このオゾン導入口に接続されたオゾン発生器 とを備えたことを特徴とする基板の乾式洗浄装置。
1. A substrate provided with a spin chuck that holds a substrate by suction and horizontally rotates, and an ultraviolet irradiation lamp disposed above the spin chuck, and decomposes and removes organic substances adhering to the surface of the substrate by ultraviolet irradiation. In the dry cleaning device, the heater built into the spin chuck is passed through a through hole provided in the spin chuck to rise to project above the upper surface of the spin chuck, and a through hole provided in the spin chuck is lowered to descend. A lifter that passes through the lower surface of the spin chuck and lowers and attaches the substrate to and from the spin chuck; a processing chamber that houses the spin chuck and the lifter; a lifted position of the lifter while holding the substrate; A substrate loading / unloading mechanism that horizontally moves back and forth between the outside of the processing chamber and transfers the substrate to and from the lifter; A lid that has a built-in ultraviolet irradiation lamp, moves upward from the upper surface of the spin chuck when moved upward, and closes the upper opening of the processing chamber when moved downward, and ozone that supplies ozone to the substrate on the spin chuck. A dry cleaning apparatus for a substrate, comprising an inlet and an ozone generator connected to the ozone inlet.
【請求項2】蓋体が上下に対向する石英製の薄板を有
し、これら上下の薄板の間にオゾン導入口が配置され、
下側薄板にオゾン導入孔が形成され、上側薄板の上部に
紫外線照射ランプを配置している実用新案登録請求の範
囲第(1)項に記載の基板の乾式洗浄装置。
2. The lid has quartz thin plates facing each other in the vertical direction, and an ozone inlet is arranged between the upper and lower thin plates,
The dry cleaning apparatus for a substrate according to claim (1), wherein an ozone introduction hole is formed in the lower thin plate, and an ultraviolet irradiation lamp is arranged above the upper thin plate.
【請求項3】基板の搬入口と搬出口を備え、これらをそ
れぞれ開閉するシャッタを具備し、前記処理室をその外
部より覆うハウジングを有する実用新案登録請求の範囲
第(1)項に記載の基板の乾式洗浄装置。
3. The utility model registration claim (1) according to claim (1), further comprising a substrate inlet and an outlet, shutters for opening and closing the substrates, and a housing for covering the processing chamber from the outside. Substrate dry cleaning equipment.
JP1987181668U 1987-11-28 1987-11-28 Substrate dry cleaning equipment Expired - Lifetime JPH0610678Y2 (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS61194830A (en) * 1985-02-25 1986-08-29 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Organic material removing device for substrate

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