JPH06104657A - Bias circuit - Google Patents

Bias circuit

Info

Publication number
JPH06104657A
JPH06104657A JP4277974A JP27797492A JPH06104657A JP H06104657 A JPH06104657 A JP H06104657A JP 4277974 A JP4277974 A JP 4277974A JP 27797492 A JP27797492 A JP 27797492A JP H06104657 A JPH06104657 A JP H06104657A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
transistors
output
temperature
emitter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4277974A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2604671B2 (en
Inventor
Joji Kasai
讓治 笠井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Onkyo Corp
Original Assignee
Onkyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Onkyo Corp filed Critical Onkyo Corp
Priority to JP4277974A priority Critical patent/JP2604671B2/en
Publication of JPH06104657A publication Critical patent/JPH06104657A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2604671B2 publication Critical patent/JP2604671B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Amplifiers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide the bias circuit implementing highly accurate temperature compensation regardless of the highest junction temperature of transistors(TRs). CONSTITUTION:A base of a 2nd TR Q3', a collector of a 5th TR Q5, a base of a 4th TR Q4', and a collector of a 3rd TR Q4 are connected to bases of 1st and 2nd output TRS Q1, Q2 respectively. The 1st TR Q3, the 3rd TR Q3 and the 5th TR Q5 are connected in series. A connecting point of emitter resistors ra, rb of the 1st and 2nd output TRs Q1, Q2 and a connecting point of emitter resistors ra, rb of the 3rd and 4th output TRs Q3', Q4' are connected together. The 1st and 2nd TRs Q3, Q3' and the 3rd, 4th TRs Q3', Q4' are respectively coupled densely thermally and the 5th TR Q5 is mounted on a same heat sink on which the 1st and 2nd output TRs Q1, Q2 are mounted.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、温度に対して安定なバ
イアス回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bias circuit which is stable against temperature.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来におけるバイアス回路は、図4のよ
うに、NPN型である第1の出力トランジスタQ1 と、
PNP型である第2の出力トランジスタQ2 と、第1の
出力トランジスタQ1 より小型であり、かつNPN型で
同一特性を有する1対の第1、第2のトランジスタQ3
、Q3'を、熱的に密に結合して、1パッケージにマウ
ントした第1のツイントランジスタ1と、第2の出力ト
ランジスタQ2 より小型であり、かつPNP型で同一特
性を有する1対の第3、第4のトランジスタQ4 、Q4'
を、熱的に密に結合して、1パッケージにマウントした
第2のツイントランジスタ2とを備えており、これら第
1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 及び第1、第2
のツイントランジスタ1、2が同一ヒートシンクに取り
付けられているものであった。第1の出力トランジスタ
Q1 のコレクタは正の電源+VCCに、第2の出力トラン
ジスタQ2 のコレクタは負の電源−VCCに接続され、エ
ミッタ同志はそれぞれ同一抵抗値である第1、第2のエ
ミッタ抵抗ra 、rb を介して接続されている。第1の
出力トランジスタQ1 のベースには、第2のトランジス
タQ3'のベースと第1のトランジスタQ3 のコレクタと
が接続され、第2の出力トランジスタQ2 のベースに
は、第4のトランジスタQ4'のベースと第3のトランジ
スタQ4 のコレクタとが接続されている。第2、第4の
トランジスタQ3'、Q4'のコレクタは、第1、第2の出
力トランジスタQ1 、Q2 のコレクタにそれぞれ接続さ
れており、エミッタ同志はそれぞれ同一抵抗値である第
3、第4のエミッタ抵抗Ra 、Rb を介して接続され、
この第3、第4のエミッタ抵抗Ra 、Rb の接続点は前
記第1、第2のエミッタ抵抗ra 、rb の接続点と接続
されている。第1、第3のトランジスタQ3 、Q4 のエ
ミッタ同志は直接接続、ベース同志は第1の抵抗R1 を
介して接続されており、第1のトランジスタQ3 のベー
スとコレクタは第2の抵抗抵抗R2 を介して、トランジ
スタQ4 のベースとコレクタは第2の抵抗R2 と同一抵
抗値である第3の抵抗R3 を介して接続されている。
2. Description of the Related Art A conventional bias circuit includes a first output transistor Q1 of NPN type, as shown in FIG.
A second output transistor Q2 of PNP type and a pair of first and second transistors Q3 which are smaller than the first output transistor Q1 and have the same characteristics of NPN type.
, Q3 ′ are thermally and tightly coupled to each other and mounted in one package, the first twin transistor 1 and the second output transistor Q2 are smaller in size and are a PNP type pair having the same characteristics. 3, 4th transistor Q4, Q4 '
And a second twin transistor 2 mounted in one package by thermally closely coupling them. The first and second output transistors Q1 and Q2 and the first and second output transistors Q1 and Q2.
The twin transistors 1 and 2 were attached to the same heat sink. The collector of the first output transistor Q1 is connected to the positive power source + VCC, the collector of the second output transistor Q2 is connected to the negative power source -VCC, and the emitters have the same resistance value. It is connected via ra and rb. The base of the first output transistor Q1 is connected to the base of the second transistor Q3 'and the collector of the first transistor Q3, and the base of the second output transistor Q2 is connected to the base of the fourth transistor Q4'. The base is connected to the collector of the third transistor Q4. The collectors of the second and fourth transistors Q3 'and Q4' are connected to the collectors of the first and second output transistors Q1 and Q2, respectively, and the emitters thereof have the same resistance value. Connected through the emitter resistors Ra and Rb of
The connection point of the third and fourth emitter resistors Ra and Rb is connected to the connection point of the first and second emitter resistors ra and rb. The emitters of the first and third transistors Q3 and Q4 are directly connected, the bases thereof are connected to each other through the first resistor R1, and the base and collector of the first transistor Q3 are connected to the second resistor resistor R2. The base and collector of the transistor Q4 are connected via the third resistor R3 having the same resistance value as the second resistor R2.

【0003】次に、このような従来のバイアス回路にお
ける温度補償について図5により説明する。
Next, temperature compensation in such a conventional bias circuit will be described with reference to FIG.

【0004】図5は、従来のバイアス回路の熱等価回路
を示す図であり、図において、 Tj1(Tj2):第1(第2)の出力トランジスタQ1
(Q2 )の接合部温度 TH :ヒートシンクの温度 Ta :周囲温度 Tj3' (Tj4' ):第2(第4)のトランジスタQ3'
(Q4')の接合部温度 Tj3(Tj4):第1(第3)のトランジスタQ3 (Q4
)の接合部温度 P:第1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 のコレク
タ損失 P' :第2、第4のトランジスタQ3'、Q4'のコレクタ
損失 θj1-H(θj2-H):第1(第2)の出力トランジスタQ
1 (Q2 )の接合部−ヒートシンク間の熱抵抗 θH :ヒートシンクの熱抵抗 θj3'-3 (θj4'-4 ):第2(第4)のトランジスタQ
3'(Q4')の接合部−第1(第3)のトランジスタQ3
(Q4 )の接合部間の熱抵抗 θj3'-H (θj4'-H ):第2(第4)のトランジスタQ
3'(Q4')の接合部−ヒートシンク間の熱抵抗 θ3 (θ4 ):第2(第4)のトランジスタQ3'(Q4
')の接合部−周囲温度間の熱抵抗 C1 (C2 ):第1(第2)の出力トランジスタQ1
(Q2 )の熱容量 CH :ヒートシンクの熱容量 C3 (C4 ):第2(第4)のトランジスタQ3'(Q4
')の熱容量 である。
FIG. 5 is a diagram showing a thermal equivalent circuit of a conventional bias circuit. In the figure, Tj1 (Tj2) is the first (second) output transistor Q1.
(Q2) junction temperature TH: heat sink temperature Ta: ambient temperature Tj3 '(Tj4'): second (fourth) transistor Q3 '
(Q4 ') junction temperature Tj3 (Tj4): first (third) transistor Q3 (Q4
) Junction temperature P: collector loss of first and second output transistors Q1 and Q2 P ': collector loss of second and fourth transistors Q3' and Q4 'θj1-H (θj2-H): first (Second) output transistor Q
1 (Q2) junction-heat sink thermal resistance θH: Heat sink thermal resistance θj3'-3 (θj4'-4): Second (fourth) transistor Q
3 '(Q4') junction-first (third) transistor Q3
Thermal resistance between junctions of (Q4) θj3'-H (θj4'-H): Second (fourth) transistor Q
3 '(Q4') junction-heat sink thermal resistance θ3 (θ4): Second (fourth) transistor Q3 '(Q4
') Thermal resistance between junction and ambient temperature C1 (C2): first (second) output transistor Q1
(Q2) heat capacity CH: heat sink heat capacity C3 (C4): second (fourth) transistor Q3 '(Q4
') Heat capacity.

【0005】ここで、第2、第4のトランジスタQ3'、
Q4'のコレクタ−エミッタ間電圧VCEは、第1、第2の
出力トランジスタQ1 、Q2 のそれと同一であり、第
1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 と第2、第4の
トランジスタQ3'、Q4'のコレクタ損失P、P' はそれ
ぞれのコレクタ電流にほぼ比例するため、第2、第4の
トランジスタQ3'、Q4'のコレクタ損失P' は、 P´=r/R・P ただし、r:第1、第2のエミッタ抵抗(ra 、rb )
の抵抗値 R:第3、第4のエミッタ抵抗(Ra 、Rb )の抵抗値 となり、第2(第4)のトランジスタQ3'(Q4')の接
合部温度Tj3' (Tj4')は、第1(第2)の出力トラ
ンジスタQ1 (Q2 )の接合部温度Tj1(Tj2)に比例
したものになる。
Here, the second and fourth transistors Q3 ',
The collector-emitter voltage VCE of Q4 'is the same as that of the first and second output transistors Q1 and Q2, and the first and second output transistors Q1 and Q2 and the second and fourth transistor Q3', Since the collector losses P and P'of Q4 'are almost proportional to the respective collector currents, the collector losses P'of the second and fourth transistors Q3' and Q4 'are P' = r / R · P, where r : First and second emitter resistances (ra, rb)
Resistance value R: the resistance value of the third and fourth emitter resistors (Ra, Rb) becomes, and the junction temperature Tj3 '(Tj4') of the second (fourth) transistor Q3 '(Q4') becomes It becomes proportional to the junction temperature Tj1 (Tj2) of the first (second) output transistor Q1 (Q2).

【0006】この第2(第4)のトランジスタQ3'(Q
4')の接合部温度Tj3' (Tj4' )は、第2(第4)の
トランジスタQ3'(Q4')と第1(第3)のトランジス
タQ3 (Q4 )とが同一特性を有し、かつ第1(第2)
のツイントランジスタ1(2)において熱的に密に結合
されているため、第1(第3)のトランジスタQ3 (Q
4 )の接合部にすみやかに伝達され、
This second (fourth) transistor Q3 '(Q
The junction temperature Tj3 '(Tj4') of 4 ') has the same characteristics as the second (fourth) transistor Q3' (Q4 ') and the first (third) transistor Q3 (Q4), And the first (second)
In the twin transistor 1 (2) of the above, the first (third) transistor Q3 (Q
4) Promptly transmitted to the joint,

【0007】[0007]

【数1】 となる。[Equation 1] Becomes

【0008】そして、第2(第4)のトランジスタQ3'
(Q4')と第1(第3)のトランジスタQ3 (Q4 )と
が同一パッケージにマウントされ、かつその形状が小型
に形成されているため、 θ3 >>θj3'-3 (θ4 >>θj4'-4 ) であり、一般に、ヒートシンクの熱容量CH に比べて、
第1(第2)の出力トランジスタQ1 (Q2 )の熱容量
C1 (C2 )及び第2(第4)のトランジスタQ3'(Q
4')の熱容量C3 (C4 )は小さく、 C1 <<CH (C2 <<CH ) C3 <<CH (C4 <<CH ) となり、 C3 ・θj3'-H <<θH ・CH であるから、 θj3'-H =R/r・θj1-H(θj4'-H =R/r・θj2-H) となるように、第1(第2)のツイントランジスタ1
(2)のヒートシンクへの取り付け方法を選択すること
により、バイアス設定用の第1(第2)のトランジスタ
Q3 (Q4 )の接合部温度Tj3(Tj4)と、第1(第
2)の出力トランジスタQ1 (Q2 )の接合部温度Tj1
(Tj2)との関係を、 Tj3=Tj1(Tj4=Tj2) とすることができる。
The second (fourth) transistor Q3 '
Since (Q4 ') and the first (third) transistor Q3 (Q4) are mounted in the same package and the shape thereof is small, θ3 >>θj3'-3 (θ4 >>θj4' -4), which is generally higher than the heat capacity CH of the heat sink,
The heat capacity C1 (C2) of the first (second) output transistor Q1 (Q2) and the second (fourth) transistor Q3 '(Q
The heat capacity C3 (C4) of 4 ') is small, C1 << CH (C2 << CH) C3 << CH (C4 << CH), and C3 · θj3′-H << θH · CH, so θj3 The first (second) twin transistor 1 so that'-H = R / r.theta.j1-H (.theta.j4'-H = R / r.theta.j2-H).
By selecting the mounting method (2) to the heat sink, the junction temperature Tj3 (Tj4) of the first (second) transistor Q3 (Q4) for bias setting and the first (second) output transistor Junction temperature Tj1 of Q1 (Q2)
The relationship with (Tj2) can be Tj3 = Tj1 (Tj4 = Tj2).

【0009】このように、従来のバイアス回路では、第
1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 のコレクタ損失
Pの変化に対して、バイアス設定用の第1、第3のトラ
ンジスタQ3 、Q4 の接合部温度Tj3、Tj4を第1、第
2の出力トランジスタの接合部温度Tj1、Tj2と同じ温
度にすることにより、温度補償を行っている。
As described above, in the conventional bias circuit, the junction of the first and third transistors Q3 and Q4 for bias setting is changed with respect to the change of the collector loss P of the first and second output transistors Q1 and Q2. Temperature compensation is performed by making the section temperatures Tj3 and Tj4 the same as the junction temperatures Tj1 and Tj2 of the first and second output transistors.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】このような従来のバイ
アス回路では、バイアス設定用の第1、第3のトランジ
スタQ3 、Q4 の接合部温度Tj3、Tj4と第1、第2の
出力トランジスタQ1 、Q2 の接合部温度Tj1、Tj2と
が同一温度になるため、それぞれのトランジスタの最高
接合部温度(Tjmax)も同一である必要がある。しか
し、このバイアス回路では、第1、第3のトランジスタ
Q3 、Q4 は、小型のトランジスタが用いられているた
め、その最高接合部温度(Tjmax)は第1、第2の出力
トランジスタQ1 、Q2 のそれよりも低く定められてい
る。例えば、一般に、第1、第2の出力トランジスタQ
1 、Q2 に用いられるパワートランジスタの最高接合部
温度(Tjmax)は150℃で規定されているのに対し、
バイアス設定用の第1、第3のトランジスタQ3 、Q4
に用いられる小信号用小型トランジスタの最高接合部温
度(Tjmax)は125℃で規定されている。そのため、
第1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 の最高接合部
温度(Tjmax)において温度補償を行う場合、バイアス
設定用の第1、第3のトランジスタQ3 、Q4 の信頼性
に問題が生じ、精度の高い温度補償が行えない恐れがあ
る。また、この第1、第3のトランジスタQ3 、Q4
に、第1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 と同じ最
高接合部温度(Tjmax)を有するトランジスタを用いる
場合、このトランジスタの形状が比較的大きくなり、第
2(第3)のトランジスタQ3'(Q4')の接合部−周囲
温度間の熱抵抗θ3 (θ4 )が小さくなるため、前記 θ3 >>θj3'-3 (θ4 >>θj4'-4 ) という条件式が満足されず、精度の高い温度補償を行う
ことができなくなる。
In such a conventional bias circuit, the junction temperature Tj3, Tj4 of the first and third transistors Q3, Q4 for setting the bias and the first and second output transistors Q1, Since the junction temperatures Tj1 and Tj2 of Q2 are the same, the maximum junction temperatures (Tjmax) of the respective transistors must also be the same. However, in this bias circuit, since the first and third transistors Q3 and Q4 are small transistors, the maximum junction temperature (Tjmax) of the first and third transistors Q3 and Q4 is the same as that of the first and second output transistors Q1 and Q2. It is set lower than that. For example, in general, the first and second output transistors Q
1, the maximum junction temperature (Tjmax) of the power transistor used for Q2 is specified at 150 ° C,
Bias setting first and third transistors Q3 and Q4
The maximum junction temperature (Tjmax) of the small-signal small transistor used in the above is specified at 125 ° C. for that reason,
When temperature compensation is performed at the maximum junction temperature (Tjmax) of the first and second output transistors Q1 and Q2, there arises a problem in the reliability of the first and third transistors Q3 and Q4 for bias setting, and the accuracy of High temperature compensation may not be possible. Also, the first and third transistors Q3 and Q4
When a transistor having the same maximum junction temperature (Tjmax) as the first and second output transistors Q1 and Q2 is used, the shape of this transistor becomes relatively large and the second (third) transistor Q3 '( Since the thermal resistance θ3 (θ4) between the junction of Q4 ') and the ambient temperature is small, the conditional expression θ3 >>θj3'-3 (θ4 >>θj4'-4) is not satisfied and the accuracy is high. It becomes impossible to perform temperature compensation.

【0011】そこで本発明は、上記従来例に付する欠点
を解消し、出力トランジスタの接合部温度変化によるベ
ース−エミッタ電圧の変化を、ヒートシンクの温度変化
を検出するトランジスタのベース−エミッタ電圧の変化
と、出力トランジスタの接合部温度変化と比例した温度
変化を検出するトランジスタのベース−エミッタ電圧の
変化とによって補償することにより、出力トランジスタ
の最高接合部温度においても精度の高い温度補償を行う
ことができるバイアス回路を提供することを目的とす
る。
In view of the above, the present invention solves the drawbacks of the conventional example described above, and detects the change in the base-emitter voltage due to the change in the junction temperature of the output transistor, the change in the base-emitter voltage of the transistor for detecting the change in the heat sink temperature. And the change in the base-emitter voltage of the transistor that detects the temperature change proportional to the change in the junction temperature of the output transistor, it is possible to perform highly accurate temperature compensation at the maximum junction temperature of the output transistor. It is an object of the present invention to provide a bias circuit that can be used.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係るバイアス回路は、第1の出力トランジス
タQ1 と第2の出力トランジスタQ2 のエミッタ同志が
それぞれ第1、第2のエミッタ抵抗ra 、rb を介して
接続され、この第1、第2の出力トランジスタQ1 、Q
2 のベースに駆動信号が印加されて上記第1、第2のエ
ミッタ抵抗ra 、rb の接続点から出力が取り出される
プッシュプル増幅器において、同一特性を有する1対の
第1、第2のトランジスタQ3 、Q3'からなる第1のツ
イントランジスタ1と、同一特性を有する1対の第3、
第4のトランジスタQ4 、Q4'からなる第2のツイント
ランジスタ2とが、第1、第2の出力トランジスタQ1
、Q2 が配置されているヒートシンクと熱結合させな
いように配置されており、第1のツイントランジスタ1
における第2のトランジスタQ3'と第2のツイントラン
ジスタ2における第4のトランジスタQ4'のエミッタ同
志がそれぞれ第3、第4のエミッタ抵抗Ra 、Rb を介
して接続され、この接続点が上記第1、第2のエミッタ
抵抗ra 、rb の接続点と接続され、第5のトランジス
タQ5 が、第1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 が
配置されているヒートシンク上に配置されて、第1の出
力トランジスタQ1 に接続されており、第1、第2の出
力トランジスタQ1 、Q2 の熱的変化に比例した熱的変
化を第1、第2のツイントランジスタ1、2により検出
して得られたバイアス電圧と、ヒートシンクの熱的変化
を第5のトランジスタQ5 により検出して得られたバイ
アス電圧とによって、第1、第2の出力トランジスタQ
1 、Q2 のバイアス温度補償を行うことを特徴とする。
In order to achieve the above object, a bias circuit according to the present invention comprises a first output transistor Q1 and a second output transistor Q2 whose emitters are the first and second emitter resistors, respectively. and the first and second output transistors Q1 and Q which are connected to each other through ra and rb.
In a push-pull amplifier in which a drive signal is applied to the base of 2 and an output is taken out from the connection point of the first and second emitter resistors ra and rb, a pair of first and second transistors Q3 having the same characteristics are provided. , Q3 ′ and a pair of third twin transistors 1 having the same characteristics.
The second twin transistor 2 composed of the fourth transistors Q4 and Q4 'is connected to the first and second output transistors Q1.
, Q2 are arranged so as not to be thermally coupled to the heat sink in which the first twin transistor 1 is arranged.
The emitters of the second transistor Q3 'and the fourth transistor Q4' of the second twin transistor 2 are connected to each other through the third and fourth emitter resistors Ra and Rb, respectively, and this connection point is the above-mentioned first point. , A second transistor Q5 connected to the connection point of the second emitter resistances ra and rb, and a fifth transistor Q5 arranged on the heat sink on which the first and second output transistors Q1 and Q2 are arranged, Bias voltage which is connected to the transistor Q1 and which is obtained by detecting the thermal change proportional to the thermal changes of the first and second output transistors Q1 and Q2 by the first and second twin transistors 1 and 2. And the bias voltage obtained by detecting the thermal change of the heat sink by the fifth transistor Q5, the first and second output transistors Q
It is characterized in that bias temperature compensation of 1 and Q2 is performed.

【0013】[0013]

【作用】このような本発明のバイアス回路における温度
補償について図2により説明する。
The temperature compensation in the bias circuit of the present invention will be described with reference to FIG.

【0014】図2は、本発明のバイアス回路の熱等価回
路を示す図であり、図中、従来例の図5と同等部分には
同一符号を付してある。
FIG. 2 is a diagram showing a thermal equivalent circuit of the bias circuit of the present invention. In the figure, the same parts as those in FIG. 5 of the conventional example are designated by the same reference numerals.

【0015】図において、 Tj1(Tj2):第1(第2)のトランジスタQ1 (Q2
)の接合部温度 TH :ヒートシンクの温度 Tj5:第5のトランジスタQ5 の接合部温度 Ta :周囲温度 Tj3' (Tj4' ):第2(第4)のトランジスタQ3'
(Q4')の接合部温度 Tj3(Tj4):第1(第2)のトランジスタQ3 (Q4
)の接合部温度 P:第1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 のコレク
タ損失 P' :第2、第4のトランジスタQ3'、Q4'のコレクタ
損失 θj1-H(θj2-H):第1(第2)の出力トランジスタQ
1 (Q2 )の接合部−ヒートシンク間の熱抵抗 θH :ヒートシンクの熱抵抗 θj3'-3 (θj4'-4 ):第2(第4)のトランジスタQ
3'(Q4')の接合部−第1(第3)のトランジスタQ3
(Q4 )の接合部間の熱抵抗 θj3'-C (θj4'-C ):第2(第4)のトランジスタQ
3'(Q4')の接合部−ケース間の熱抵抗 θj3-C(θj4-C):第1(第3)のトランジスタQ3
(Q4 )の接合部−ケース間の熱抵抗 θ3 (θ4 ):第1、第2(第3、第4)のトランジス
タQ3 、Q3'(Q4 、Q4')のケース−周囲温度間の熱
抵抗 C1 (C2 ):第1(第2)の出力トランジスタQ1
(Q2 )の熱容量 CH :ヒートシンクの熱容量 C3 (C4 ):第1、第2(第3、第4)のトランジス
タQ3 、Q3'(Q4 、Q4')の熱容量 である。
In the figure, Tj1 (Tj2): first (second) transistor Q1 (Q2)
) Junction temperature TH: temperature of heat sink Tj5: junction temperature of fifth transistor Q5 Ta: ambient temperature Tj3 '(Tj4'): second (fourth) transistor Q3 '
(Q4 ') junction temperature Tj3 (Tj4): first (second) transistor Q3 (Q4)
) Junction temperature P: collector loss of first and second output transistors Q1 and Q2 P ': collector loss of second and fourth transistors Q3' and Q4 'θj1-H (θj2-H): first (Second) output transistor Q
1 (Q2) junction-heat sink thermal resistance θH: Heat sink thermal resistance θj3'-3 (θj4'-4): Second (fourth) transistor Q
3 '(Q4') junction-first (third) transistor Q3
Thermal resistance between junctions of (Q4) θj3'-C (θj4'-C): Second (fourth) transistor Q
3 '(Q4') junction-case thermal resistance θj3-C (θj4-C): First (third) transistor Q3
Thermal resistance between the junction of (Q4) and the case θ3 (θ4): Thermal resistance between the case and the ambient temperature of the first and second (third and fourth) transistors Q3 and Q3 '(Q4, Q4'). C1 (C2): first (second) output transistor Q1
(Q2) heat capacity CH: heat sink heat capacity C3 (C4): heat capacity of the first and second (third and fourth) transistors Q3 and Q3 '(Q4, Q4').

【0016】ここで、第2、第4のトランジスタQ3'、
Q4'のコレクタ−エミッタ間電圧VCEは、第1、第2の
出力トランジスタQ1 、Q2 のそれと同一であり、第
1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 と第2、第4の
トランジスタQ3'、Q4'のコレクタ損失P、P' はそれ
ぞれのコレクタ電流にほぼ比例するため、第2、第4の
トランジスタQ3'、Q4'のコレクタ損失P' は、 P´=r/R・P ただし、r:第1、第2のエミッタ抵抗(ra 、rb )
の抵抗値 R:第3、第4のエミッタ抵抗(Ra 、Rb )の抵抗値 となる。
Here, the second and fourth transistors Q3 ',
The collector-emitter voltage VCE of Q4 'is the same as that of the first and second output transistors Q1 and Q2, and the first and second output transistors Q1 and Q2 and the second and fourth transistor Q3', Since the collector losses P and P'of Q4 'are almost proportional to the respective collector currents, the collector losses P'of the second and fourth transistors Q3' and Q4 'are P' = r / R · P, where r : First and second emitter resistances (ra, rb)
Resistance value R: The resistance value of the third and fourth emitter resistances (Ra, Rb).

【0017】本発明のバイアス回路では、第2(第4)
のトランジスタQ3'(Q4')と第1(第3)のトランジ
スタQ3 (Q4 )とが同一パッケージにマウントされて
第1(第2)のツイントランジスタ1(2)を構成し、
その形状が小型であるため、 θ3 >>θj3'-3 (θ4 >>θj4'-4 ) θ3 >>θj3'-C (θ4 >>θj4'-C ) θ3 >>θj3-C(θ4 >>θj4-C) であり、第1、第3のトランジスタQ3 、Q4 の接合部
温度Tj3、Tj4は、
In the bias circuit of the present invention, the second (fourth)
Transistor Q3 '(Q4') and first (third) transistor Q3 (Q4) are mounted in the same package to form a first (second) twin transistor 1 (2),
Due to its small size, θ3 >>θj3'-3 (θ4 >>θj4'-4) θ3 >>θj3'-C (θ4 >>θj4'-C) θ3 >> θj3-C (θ4 >> θj4-C) and the junction temperatures Tj3 and Tj4 of the first and third transistors Q3 and Q4 are

【0018】[0018]

【数2】 [Equation 2]

【0019】[0019]

【数3】 となる。[Equation 3] Becomes

【0020】ここで、 θ3 =θ4 C3 =C4 であり、 Tj3=Tj4 であるため、以後、第1のトランジスタQ3 についての
み考える。
Here, since θ3 = θ4 C3 = C4 and Tj3 = Tj4, only the first transistor Q3 will be considered hereinafter.

【0021】ゆえに、第1のトランジスタQ3 の接合部
温度変化ΔTj3は、
Therefore, the junction temperature change ΔTj3 of the first transistor Q3 is

【0022】[0022]

【数4】 となる。[Equation 4] Becomes

【0023】一方、第1、第2の出力トランジスタQ1
、Q2 の接合部温度Tj1、Tj2は、
On the other hand, the first and second output transistors Q1
, Q2 junction temperature Tj1, Tj2

【0024】[0024]

【数5】 [Equation 5]

【0025】[0025]

【数6】 となる。[Equation 6] Becomes

【0026】ここで、 θj1-H=θj2-H C1 =C2 であり、 Tj1=Tj2 であるため、以後、第1の出力トランジスタQ1 につい
てのみ考える。
Here, since θj1-H = θj2-H C1 = C2 and Tj1 = Tj2, only the first output transistor Q1 will be considered hereinafter.

【0027】ゆえに、第1の出力トランジスタQ1 の接
合部温度変化ΔTj1は、
Therefore, the junction temperature change ΔTj1 of the first output transistor Q1 is

【0028】[0028]

【数7】 となる。[Equation 7] Becomes

【0029】また、第5のトランジスタQ5 に関して
は、第5のトランジスタQ5 の接合部−ヒートシンク間
の熱抵抗θj5-H、第5のトランジスタQ5 の接合部−周
囲温度間の熱抵抗θ5 、第5のトランジスタQ5 の熱容
量C5 によって熱等価回路が構成される。(図示せず)
しかし、第5のトランジスタQ5 はヒートシンクにねじ
止めされており、 θH >>θj5-H θH >>θ5 CH >>C5 であるため、第5のトランジスタQ5 の接合部温度Tj5
は、
Regarding the fifth transistor Q5, the thermal resistance θj5-H between the junction of the fifth transistor Q5 and the heat sink, the thermal resistance θ5 between the junction of the fifth transistor Q5 and the ambient temperature, and the fifth A heat equivalent circuit is constituted by the heat capacity C5 of the transistor Q5. (Not shown)
However, since the fifth transistor Q5 is screwed to the heat sink and θH >> θj5-H θH >> θ5 CH >> C5, the junction temperature Tj5 of the fifth transistor Q5 is
Is

【0030】[0030]

【数8】 となり、第5のトランジスタQ5 はヒートシンクの温度
TH を検出する。
[Equation 8] Therefore, the fifth transistor Q5 detects the temperature TH of the heat sink.

【0031】ゆえに、第5のトランジスタQ5 の接合部
温度変化ΔTj5は、
Therefore, the junction temperature change ΔTj5 of the fifth transistor Q5 is

【0032】[0032]

【数9】 となる。[Equation 9] Becomes

【0033】そして、第1、第2の出力トランジスタQ
1 、Q2 のベース−エミッタ電圧VBEの温度による変化
ΔVBEは、
Then, the first and second output transistors Q
The change ΔVBE of the base-emitter voltage VBE of 1, Q2 with temperature is

【0034】[0034]

【数10】 ただし、K1 :比例定数 となる。[Equation 10] However, K1: is a constant of proportionality.

【0035】また、第5のトランジスタQ5 によるバイ
アス電圧VB1と、第1、第3のトランジスタQ3 、Q4
によるバイアス電圧VB2の温度による変化ΔVB1、ΔV
B2は、それぞれ、 ΔVB1=−K2 ・ΔTj5 ΔVB2=−K3 ・ΔTj3 ただし、K2 、K3 :比例定数 となり、このバイアス回路全体のバイアス電圧VB の温
度による変化ΔVB は、
The bias voltage VB1 generated by the fifth transistor Q5 and the first and third transistors Q3, Q4
Change in bias voltage VB2 due to temperature ΔVB1, ΔV
B2 is ΔVB1 = −K2 · ΔTj5 ΔVB2 = −K3 · ΔTj3 where K2 and K3 are proportional constants, and the change ΔVB of the bias voltage VB of the entire bias circuit with temperature is

【0036】[0036]

【数11】 となる。[Equation 11] Becomes

【0037】そこで、比例定数K2 、K3 を、 K2 =K1Therefore, the proportional constants K2 and K3 are set as follows: K2 = K1

【0038】[0038]

【数12】 となるように定めると、 ΔVB =ΔVBE であるから、バイアス回路全体のバイアス電圧VB の温
度による変化ΔVB が、第1、第2の出力トランジスタ
Q1 、Q2 のベース−エミッタ電圧VBEの温度による変
化ΔVBEと同一になり、完全な温度補償を行うことがで
きる。
[Equation 12] .DELTA.VB = .DELTA.VBE, the change .DELTA.VB of the bias voltage VB of the entire bias circuit due to the temperature changes .DELTA.VBE of the base-emitter voltage VBE of the first and second output transistors Q1 and Q2. And complete temperature compensation can be performed.

【0039】そして、このようなバイアス回路では、第
1の出力トランジスタQ1 の接合部−ヒートシンク−周
囲温度間の熱抵抗θQ1、第1のトランジスタQ3'の接合
部−ケース−周囲温度間の熱抵抗θQ3' が求められ、第
1の出力トランジスタQ1 、第1のトランジスタQ3'の
温度上昇ΔTQ1、ΔTQ3' が、 ΔTQ1=θQ1・P ΔTQ3' =θQ3' ・P' =r/R・θQ3' ・P であり、第1の出力トランジスタQ1 、第1のトランジ
スタQ3'の最大温度上昇ΔTQ1max 、ΔTQ3'maxが、 ΔTQ1max =Tj1max −Ta ΔTQ3'max=Tj3'max−Ta ただし、Tj1max :第1の出力トランジスタQ1 の最高
接合部温度 Tj3'max:第1のトランジスタQ3'の最高接合部温度 であることから、
In such a bias circuit, the thermal resistance θQ1 between the junction of the first output transistor Q1 and the heat sink and the ambient temperature, and the thermal resistance between the junction of the first transistor Q3 ′, the case and the ambient temperature. θQ3 ′ is obtained, and the temperature rises ΔTQ1 and ΔTQ3 ′ of the first output transistor Q1 and the first transistor Q3 ′ are ΔTQ1 = θQ1 · P ΔTQ3 ′ = θQ3 ′ · P ′ = r / R · θQ3 ′ · P And the maximum temperature rises ΔTQ1max and ΔTQ3′max of the first output transistor Q1 and the first transistor Q3 ′ are ΔTQ1max = Tj1max−Ta ΔTQ3′max = Tj3′max−Ta, where Tj1max: the first output transistor Maximum junction temperature of Q1 Tj3'max: Since it is the maximum junction temperature of the first transistor Q3 ',

【0040】[0040]

【数13】 となるように、第1、第2のエミッタ抵抗ra 、rb の
抵抗値rと第3、第4のエミッタ抵抗Ra 、Rb の抵抗
値Rの比r/Rを任意に選択することによって、使用す
るトランジスタの規定されている最高接合部温度にかか
わらず、精度の高い温度補償を行うことができる。
[Equation 13] To be used by arbitrarily selecting the ratio r / R of the resistance value r of the first and second emitter resistors ra and rb and the resistance value R of the third and fourth emitter resistors Ra and Rb. It is possible to perform highly accurate temperature compensation regardless of the maximum junction temperature of the transistor to be regulated.

【0041】[0041]

【実施例】図1により、本発明の実施例を詳述する。図
1は本発明の実施例におけるバイアス回路の構成を示す
図であり、図において、Q1 はNPN型である第1の出
力トランジスタ、Q2 はPNP型である第2の出力トラ
ンジスタ、1は第1のツイントランジスタ、2は第2の
ツイントランジスタである。第1のツイントランジスタ
1は、同一特性を有する1対の第1、第2のトランジス
タQ3 、Q3'を、熱的に密に結合して、1パッケージに
マウントしたものであり、第2のツイントランジスタ2
は、同一特性を有する1対の第3、第4のトランジスタ
Q4 、Q4'を、熱的に密に結合して、1パッケージにマ
ウントしたものである。また、第1、第2のトランジス
タQ3 、Q3'は、第1の出力トランジスタQ1 より小型
であるNPN型トランジスタであり、第3、第4のトラ
ンジスタQ4 、Q4'は、第2の出力トランジスタQ2 よ
り小型であるPNP型トランジスタである。Q5 はNP
N型である第5のトランジスタ、ra 、rb は第1、第
2のエミッタ抵抗、Ra、Rb は第3、第4のエミッタ
抵抗、R1 、R2 、R3 、R4 、R5 は第1、第2、第
3、第4、第5の抵抗であり、第1のエミッタ抵抗ra
と第2のエミッタ抵抗rb 、第3のエミッタ抵抗Ra と
第4のエミッタ抵抗Rb 、第2の抵抗R2と第3の抵抗
R3 とはそれぞれ同一抵抗値を有している。なお、図
中、従来例の図4と同等部分には同一符号を付してあ
る。
Embodiment An embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a bias circuit according to an embodiment of the present invention. In the figure, Q1 is a first output transistor of NPN type, Q2 is a second output transistor of PNP type, and 1 is a first. 2 is a second twin transistor. The first twin transistor 1 is a package in which a pair of first and second transistors Q3 and Q3 'having the same characteristics are thermally and tightly coupled and mounted in one package. Transistor 2
Shows a pair of third and fourth transistors Q4 and Q4 'having the same characteristics, which are thermally closely coupled and mounted in one package. Also, the first and second transistors Q3 and Q3 'are NPN type transistors which are smaller than the first output transistor Q1, and the third and fourth transistors Q4 and Q4' are the second output transistor Q2. It is a smaller PNP transistor. Q5 is NP
A fifth N-type transistor, ra and rb are first and second emitter resistors, Ra and Rb are third and fourth emitter resistors, R1, R2, R3, R4 and R5 are first and second. , The third, fourth, and fifth resistances, and the first emitter resistance ra
The second emitter resistance rb, the third emitter resistance Ra and the fourth emitter resistance Rb, the second resistance R2 and the third resistance R3 have the same resistance value. In the figure, the same parts as those in FIG. 4 of the conventional example are designated by the same reference numerals.

【0042】本発明の実施例におけるバイアス回路で
は、第1の出力トランジスタQ1 、第2の出力トランジ
スタQ2 、第5のトランジスタQ5 とを同一ヒートシン
クに取り付けて熱結合させており、このヒートシンクと
第1のツイントランジスタ1、第2のツイントランジス
タ2とは熱結合させていない。
In the bias circuit according to the embodiment of the present invention, the first output transistor Q1, the second output transistor Q2, and the fifth transistor Q5 are attached to the same heat sink to be thermally coupled. The twin transistor 1 and the second twin transistor 2 are not thermally coupled.

【0043】実施例では、第1の出力トランジスタQ1
のコレクタを正の電源+VCCに、第2の出力トランジス
タQ2 のコレクタを負の電源−VCCに接続し、エミッタ
同志をそれぞれ第1、第2のエミッタ抵抗ra 、rb を
介して接続する。第1の出力トランジスタQ1 のベース
には、第2のトランジスタQ3'のベースと第5のトラン
ジスタQ5 のコレクタとを接続し、第2の出力トランジ
スタQ2 のベースには、第4のトランジスタQ4'のベー
スと第3のトランジスタQ4 のコレクタとを接続する。
第2、第4のトランジスタQ3'、Q4'のコレクタを、第
1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 のコレクタにそ
れぞれ接続して、エミッタ同志をそれぞれ第3、第4の
エミッタ抵抗Ra 、Rb を介して接続し、この第3、第
4のエミッタ抵抗Ra 、Rb の接続点を前記第1、第2
のエミッタ抵抗ra 、rb の接続点と接続する。第5の
トランジスタQ5 のエミッタと第1のトランジスタQ3
のコレクタを接続し、第1、第3のトランジスタQ3 、
Q4 のエミッタ同志を接続する。第5のトランジスタQ
5 のベースを、エミッタ、コレクタとそれぞれ第4の抵
抗R4 、第5の抵抗R5 を介して接続する。第1、第3
のトランジスタQ3、Q4 のベース同志を第1の抵抗R1
を介して接続し、第1のトランジスタQ3のベースとコ
レクタ、第3のトランジスタQ4 のベースとコレクタを
それぞれ第2、第3の抵抗R2 、R3 を介して接続す
る。
In the embodiment, the first output transistor Q1
Is connected to the positive power supply + VCC, the collector of the second output transistor Q2 is connected to the negative power supply -VCC, and the emitters thereof are connected via the first and second emitter resistors ra and rb, respectively. The base of the first output transistor Q1 is connected to the base of the second transistor Q3 'and the collector of the fifth transistor Q5, and the base of the second output transistor Q2 is connected to the base of the fourth transistor Q4'. The base is connected to the collector of the third transistor Q4.
The collectors of the second and fourth transistors Q3 'and Q4' are connected to the collectors of the first and second output transistors Q1 and Q2, respectively, and the emitters thereof are connected to the third and fourth emitter resistors Ra and Rb, respectively. And the connection point of the third and fourth emitter resistors Ra and Rb is connected to the first and second
Connected to the connection point of the emitter resistors ra and rb. The emitter of the fifth transistor Q5 and the first transistor Q3
Connected to the collectors of the first and third transistors Q3,
Connect the emitters of Q4. Fifth transistor Q
The base of 5 is connected to the emitter and the collector through the fourth resistor R4 and the fifth resistor R5, respectively. 1st, 3rd
The bases of the transistors Q3 and Q4 of the first resistor R1
The base and collector of the first transistor Q3 and the base and collector of the third transistor Q4 are connected via the second and third resistors R2 and R3, respectively.

【0044】そして、作用の欄で詳述したように、第
1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2 のベース−エミ
ッタ電圧VBEの温度による変化ΔVBE、第5のトランジ
スタQ5 によるバイアス電圧VB1の温度による変化ΔV
B1、第1、第3のトランジスタQ3 、Q4 によるバイア
ス電圧VB2の温度による変化ΔVB2が、 ΔVBE=−K1 ・ΔTj1 ΔVB1=−K2 ・ΔTj5 ΔVB2=−K3 ・ΔTj3 であり、各比例定数K1 、K2 、K3 が、 K2 =K1
As described in detail in the section of the operation, the change ΔVBE in the base-emitter voltage VBE of the first and second output transistors Q1 and Q2 with temperature, and the temperature of the bias voltage VB1 from the fifth transistor Q5. Change ΔV
The change ΔVB2 of the bias voltage VB2 caused by B1, the first and third transistors Q3 and Q4 with temperature is ΔVBE = −K1 · ΔTj1 ΔVB1 = −K2 · ΔTj5 ΔVB2 = −K3 · ΔTj3, and the proportional constants K1 and K2, respectively. , K3, K2 = K1

【0045】[0045]

【数14】 であることから、第1〜第5の抵抗R1 〜R5 の比を設
定する。
[Equation 14] Therefore, the ratio of the first to fifth resistors R1 to R5 is set.

【0046】すなわち、第1、第2の出力トランジスタ
Q1 、Q2 のベース−エミッタ電圧VBEの温度による変
化ΔVBEは、第1の出力トランジスタQ1 のベース−エ
ミッタ電圧VBE1 の温度による変化ΔVBE1 と、第2の
出力トランジスタQ2 のベース−エミッタ電圧VBE2 の
温度による変化ΔVBE2 との和であり、それらは同一で
あるため、トランジスタの温度係数をkとすると、 ΔVBE=ΔVBE1 +ΔVBE2 =−2kΔTj1 であり、上記より、比例定数K1 は、 K1 =2k である。
That is, the change .DELTA.VBE of the base-emitter voltage VBE of the first and second output transistors Q1 and Q2 with temperature is the change .DELTA.VBE1 of the base-emitter voltage VBE1 of the first output transistor Q1 with the second. Is the sum of the base-emitter voltage VBE2 of the output transistor Q2 and the change ΔVBE2 with temperature, and they are the same, so that if the temperature coefficient of the transistor is k, then ΔVBE = ΔVBE1 + ΔVBE2 = −2kΔTj1. The constant of proportionality K1 is K1 = 2k.

【0047】これより、比例定数K2 、K3 が、 K2 =2kFrom this, the proportional constants K2 and K3 are K2 = 2k

【0048】[0048]

【数15】 となり、第5のトランジスタQ5 によるバイアス電圧V
B1の温度による変化ΔVB1、第1、第3のトランジスタ
Q3 、Q4 によるバイアス電圧VB2の温度による変化Δ
VB2は、 ΔVB1=−2k・ΔTj5
[Equation 15] And the bias voltage V due to the fifth transistor Q5
Change in B1 with temperature ΔVB1, Change in bias voltage VB2 due to first and third transistors Q3, Q4 Δ
VB2 is ΔVB1 = -2k · ΔTj5

【0049】[0049]

【数16】 となる。[Equation 16] Becomes

【0050】また、第5のトランジスタQ5 によるバイ
アス電圧VB1の温度による変化ΔVB1は、第5のトラン
ジスタQ5 のベース−エミッタ電圧VBE5 の温度による
変化ΔVBE5 から、
Further, the change ΔVB1 of the bias voltage VB1 due to the temperature due to the fifth transistor Q5 from the change ΔVBE5 of the base-emitter voltage VBE5 of the fifth transistor Q5 due to the temperature,

【0051】[0051]

【数17】 であり、第1、第3のトランジスタQ3 、Q4 によるバ
イアス電圧VB2の温度による変化ΔVB2は、第1のトラ
ンジスタQ3 のベース−エミッタ電圧VBE3 の温度によ
る変化ΔVBE3 と第3のトランジスタQ4 のベース−エ
ミッタ電圧VBE4の温度による変化ΔVBE4 とが同一
で、第2、第3の抵抗R2 、R3 の抵抗値が同一である
ことから、
[Equation 17] And the change ΔVB2 of the bias voltage VB2 due to the temperature due to the first and third transistors Q3 and Q4 is equal to the change ΔVBE3 of the base-emitter voltage VBE3 of the first transistor Q3 with respect to the temperature and the base-emitter of the third transistor Q4. Since the change ΔVBE4 of the voltage VBE4 with temperature is the same and the resistance values of the second and third resistors R2 and R3 are the same,

【0052】[0052]

【数18】 であり、第5のトランジスタQ5 のベース−エミッタ電
圧VBE5 の温度による変化ΔVBE5 、第1のトランジス
タQ3 のベース−エミッタ電圧VBE3 の温度による変化
ΔVBE3 は、 ΔVBE5 =−k・ΔTj5 ΔVBE3 =−k・ΔTj3 であることから、 R4 =R5
[Equation 18] The change ΔVBE5 of the base-emitter voltage VBE5 of the fifth transistor Q5 with temperature and the change ΔVBE3 of the base-emitter voltage VBE3 of the first transistor Q3 with temperature are ΔVBE5 = −k · ΔTj5 ΔVBE3 = −k · ΔTj3. Therefore, R4 = R5

【0053】[0053]

【数19】 となるように、第1〜第5の抵抗R1 〜R5 を設定す
る。
[Formula 19] The first to fifth resistors R1 to R5 are set so that

【0054】次に、第1、第2の出力トランジスタQ1
、Q2 のコレクタ損失Pに対する各部の温度による変
化を図3により説明する。
Next, the first and second output transistors Q1
The change in the temperature of each part with respect to the collector loss P of Q2 and Q2 will be described with reference to FIG.

【0055】まず、図3(a)に示すように、第1、第
2の出力トランジスタQ1 、Q2 のコレクタ損失Pが変
化すると、それに比例して第2、第4のトランジスタQ
3'、Q4'のコレクタ損失P' が同図に示すように変化す
る。そして、それに伴って、第1、第2の出力トランジ
スタQ1 、Q2 の接合部温度Tj1、Tj2が図3(b)の
破線で示すように、第1、第3のトランジスタTj3、T
j4が図3(c)に示すように、それぞれ上昇し、また、
第5のトランジスタQ5 の接合部温度Tj5が図3(b)
の実線で示すようにヒートシンクの温度TH に従って上
昇する。これにより、第1、第3のトランジスタQ3 、
Q4 によるバイアス電圧VB2の温度による変化ΔVB2、
第5のトランジスタQ5 によるバイアス電圧VB1の温度
による変化ΔVB1は、それぞれ図3(d)、図3(e)
に示すようになり、図3(f)、図3(g)に示すよう
に、バイアス回路全体のバイアス電圧VB の温度による
変化ΔVB が第1、第2の出力トランジスタQ1 、Q2
のベース−エミッタ電圧VBEの温度による変化ΔVBEと
同一となる。このように、このバイアス回路では完全な
温度補償がなされる。
First, as shown in FIG. 3A, when the collector loss P of the first and second output transistors Q1 and Q2 changes, the second and fourth transistors Q are proportionally changed.
The collector loss P'of 3'and Q4 'changes as shown in FIG. Along with this, the junction temperatures Tj1 and Tj2 of the first and second output transistors Q1 and Q2 are, as shown by the broken line in FIG. 3B, the first and third transistors Tj3 and Tj.
j4 rises as shown in FIG. 3 (c), and
The junction temperature Tj5 of the fifth transistor Q5 is shown in FIG.
As shown by the solid line in FIG. As a result, the first and third transistors Q3,
Change in bias voltage VB2 due to Q4 due to temperature ΔVB2,
The change .DELTA.VB1 of the bias voltage VB1 caused by the fifth transistor Q5 with temperature is shown in FIGS. 3 (d) and 3 (e), respectively.
As shown in FIGS. 3 (f) and 3 (g), the change .DELTA.VB in the bias voltage VB of the entire bias circuit due to temperature changes with the first and second output transistors Q1 and Q2.
Of the base-emitter voltage VBE of the same as the temperature variation ΔVBE. Thus, this bias circuit provides full temperature compensation.

【0056】以上、本発明に係るバイアス回路について
代表的と思われる実施例を基に詳述したが、本発明によ
るバイアス回路の実施態様は、上記実施例の構造に限定
されるものではなく、前記した特許請求の範囲に記載の
構成要件を具備し、本発明にいう作用を呈し、以下に述
べる効果を有する限りにおいて、適宜改変して実施しう
るものである。
Although the bias circuit according to the present invention has been described above in detail based on an example considered to be typical, the embodiment of the bias circuit according to the present invention is not limited to the structure of the above-mentioned embodiment. The present invention can be appropriately modified and implemented as long as it has the constituent features described in the above-mentioned claims, exhibits the action of the present invention, and has the effects described below.

【0057】[0057]

【効果】本発明に係るバイアス回路は、第1、第2の出
力トランジスタのコレクタ損失に比例するコレクタ損失
を有する第2、第4のトランジスタから、第1、第2の
出力トランジスタの接合部温度変化と比例した温度変化
を検出し、第5のトランジスタから第1、第2の出力ト
ランジスタが取り付けられているヒートシンクの温度変
化を検出することにより、第1、第3のトランジスタの
ベース−エミッタ電圧と第5のトランジスタのベース−
エミッタ電圧を変化させ、これらから第1、第2の出力
トランジスタのバイアス電圧を補償する。そのため、第
1、第2のエミッタ抵抗と第3、第4のエミッタ抵抗の
比を任意に設定することで、使用するトランジスタの最
高接合温度にかかわらず、常に精度の高い温度補償をす
ることができる。
According to the bias circuit of the present invention, the junction temperature of the first and second output transistors from the second and fourth transistors having the collector loss proportional to the collector loss of the first and second output transistors. By detecting a temperature change proportional to the change and detecting a temperature change of the heat sink to which the first and second output transistors are attached from the fifth transistor, the base-emitter voltage of the first and third transistors is detected. And the base of the fifth transistor-
The emitter voltage is changed to compensate the bias voltage of the first and second output transistors. Therefore, by setting the ratio of the first and second emitter resistances to the third and fourth emitter resistances arbitrarily, it is possible to always perform highly accurate temperature compensation regardless of the maximum junction temperature of the transistor used. it can.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例におけるバイアス回路の構成を
示す図。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a bias circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明のバイアス回路の熱等価回路を示す図。FIG. 2 is a diagram showing a thermal equivalent circuit of a bias circuit of the present invention.

【図3】本発明の実施例におけるバイアス回路の第1、
第2の出力トランジスタ、のコレクタ損失に対する各部
の温度による変化を示す図。
FIG. 3 shows a first bias circuit according to an embodiment of the present invention,
The figure which shows the change with the temperature of each part with respect to the collector loss of a 2nd output transistor.

【図4】従来例におけるバイアス回路の構成を示す図。FIG. 4 is a diagram showing a configuration of a bias circuit in a conventional example.

【図5】同従来例の熱等価回路を示す図。FIG. 5 is a diagram showing a thermal equivalent circuit of the conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

Q1 、Q2 第1、第2の出力トランジスタ 1、2 第1、第2のツイントランジスタ Q3 、Q3' 第1、第2のトランジスタ Q4 、Q4' 第3、第4のトランジスタ Q5 第5のトランジスタ ra 、rb 第1、第2のエミッタ抵抗 Ra 、Rb 第3、第4のエミッタ抵抗 R1 、R2 、R3 、R4 、R5 第1、第2、第3、第
4、第5の抵抗
Q1, Q2 first and second output transistors 1, 2 first and second twin transistors Q3, Q3 'first and second transistors Q4, Q4' third and fourth transistors Q5 fifth transistor ra , Rb first and second emitter resistances Ra, Rb third and fourth emitter resistances R1, R2, R3, R4, R5 first, second, third, fourth and fifth resistances

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1の出力トランジスタ(Q1 )と第2
の出力トランジスタ(Q2 )のエミッタ同志がそれぞれ
第1、第2のエミッタ抵抗(ra 、rb )を介して接続
され、この第1、第2の出力トランジスタ(Q1 、Q2
)のベースに駆動信号が印加されて上記第1、第2の
エミッタ抵抗(ra 、rb )の接続点から出力が取り出
されるプッシュプル増幅器において、 同一特性を有する1対の第1、第2のトランジスタ(Q
3 、Q3')からなる第1のツイントランジスタ(1)
と、同一特性を有する1対の第3、第4のトランジスタ
(Q4 、Q4')からなる第2のツイントランジスタ
(2)とが、第1、第2の出力トランジスタ(Q1 、Q
2 )が配置されているヒートシンクと熱結合させないよ
うに配置されており、第1のツイントランジスタ(1)
における第2のトランジスタ(Q3')と第2のツイント
ランジスタ(2)における第4のトランジスタ(Q4')
のエミッタ同志がそれぞれ第3、第4のエミッタ抵抗
(Ra 、Rb )を介して接続され、この接続点が上記第
1、第2のエミッタ抵抗(ra 、rb )の接続点と接続
され、第5のトランジスタ(Q5 )が、第1、第2の出
力トランジスタ(Q1 、Q2 )が配置されているヒート
シンク上に配置されて、第1の出力トランジスタ(Q1
)に接続されており、 第1、第2の出力トランジスタ(Q1 、Q2 )の熱的変
化に比例した熱的変化を第1、第2のツイントランジス
タ(1、2)により検出して得られたバイアス電圧と、
ヒートシンクの熱的変化を第5のトランジスタ(Q5 )
により検出して得られたバイアス電圧とによって、第
1、第2の出力トランジスタ(Q1 、Q2)のバイアス
温度補償を行うことを特徴とするバイアス回路。
1. A first output transistor (Q1) and a second output transistor (Q1).
Of the output transistors (Q2) are connected to each other via first and second emitter resistors (ra, rb), respectively, and the first and second output transistors (Q1, Q2) are connected.
), A drive signal is applied to the base of the push-pull amplifier, and an output is taken out from the connection point of the first and second emitter resistors (ra, rb). Transistor (Q
3 、 Q3 ') first twin transistor (1)
And a second twin transistor (2) consisting of a pair of third and fourth transistors (Q4, Q4 ') having the same characteristics, the first and second output transistors (Q1, Q4).
The second twin transistor (1) is arranged so as not to be thermally coupled to the heat sink in which 2) is arranged.
Second transistor (Q3 ') in the second and fourth transistor (Q4') in the second twin transistor (2)
Are connected to each other through third and fourth emitter resistors (Ra, Rb), respectively, and this connection point is connected to the connection point of the first and second emitter resistors (ra, rb), respectively. 5 transistor (Q5) is disposed on the heat sink on which the first and second output transistors (Q1, Q2) are disposed, and the first output transistor (Q1)
), Which is obtained by detecting the thermal change proportional to the thermal change of the first and second output transistors (Q1, Q2) by the first and second twin transistors (1, 2). Bias voltage,
The thermal change of the heat sink is controlled by the fifth transistor (Q5)
A bias circuit for compensating the bias temperature of the first and second output transistors (Q1, Q2) with the bias voltage obtained by the detection.
JP4277974A 1992-09-21 1992-09-21 Bias circuit Expired - Lifetime JP2604671B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4277974A JP2604671B2 (en) 1992-09-21 1992-09-21 Bias circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4277974A JP2604671B2 (en) 1992-09-21 1992-09-21 Bias circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06104657A true JPH06104657A (en) 1994-04-15
JP2604671B2 JP2604671B2 (en) 1997-04-30

Family

ID=17590867

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4277974A Expired - Lifetime JP2604671B2 (en) 1992-09-21 1992-09-21 Bias circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2604671B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013258598A (en) * 2012-06-13 2013-12-26 Mitsubishi Electric Corp Bias circuit

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63279605A (en) * 1987-05-11 1988-11-16 Onkyo Corp Bias circuit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63279605A (en) * 1987-05-11 1988-11-16 Onkyo Corp Bias circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013258598A (en) * 2012-06-13 2013-12-26 Mitsubishi Electric Corp Bias circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JP2604671B2 (en) 1997-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3606876B2 (en) Integrated circuit temperature sensor with programmable offset
US4264873A (en) Differential amplification circuit
JPH0618015B2 (en) Current stabilization circuit
US4700144A (en) Differential amplifier feedback current mirror
US6310510B1 (en) Electronic circuit for producing a reference current independent of temperature and supply voltage
US4739246A (en) Current reference for feedback current source
JP2604671B2 (en) Bias circuit
JP2595545B2 (en) Constant voltage circuit
JPH0680486B2 (en) Constant voltage circuit
JP2598265B2 (en) Bias circuit
De Haan et al. An accurate small-range IC temperature transducer
JPH0449702Y2 (en)
JPH0588767A (en) Band gap reference circuit
SU1628053A1 (en) D c voltage stabilizer
JP2509463Y2 (en) Differential amplifier circuit
JPS6218974Y2 (en)
JP2727634B2 (en) Current source
JP2988858B2 (en) Temperature detection circuit
JPH0435775Y2 (en)
JPH1013165A (en) Voltage/current converting circuit
JPS63182723A (en) Reference voltage generating circuit
JPS5977707A (en) Bias circuit device
JPH05291849A (en) Buffer circuit
JP3087352B2 (en) Non-inverting amplifier
JP3052819B2 (en) Voltage-current converter