JPH0599744A - 赤外可視変換素子の記録情報消去方法 - Google Patents

赤外可視変換素子の記録情報消去方法

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JPH0599744A
JPH0599744A JP25796091A JP25796091A JPH0599744A JP H0599744 A JPH0599744 A JP H0599744A JP 25796091 A JP25796091 A JP 25796091A JP 25796091 A JP25796091 A JP 25796091A JP H0599744 A JPH0599744 A JP H0599744A
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保暁 田村
Junichi Owaki
純一 大脇
Atsushi Shibukawa
篤 渋川
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 赤外輝尽蛍光体を使用した赤外可視変換素子
において、書き込まれた記録情報を短時間で消去できる
方法を提供する。 【構成】 透明電極2と電極3とによって赤外輝尽蛍光
体1を挟持した構成の赤外可視変換素子を用い、透明電
極2と電極3との間に交流電圧および/またはパルス電
圧を印加して、赤外輝尽蛍光体内に書き込まれた情報を
消去する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、赤外可視変換素子の記
録情報消去方法に関し、特に、情報蓄積型の赤外可視変
換素子における記録情報を電気的に消去する方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】赤外光を可視光に変換する赤外可視変換
素子に使用される蛍光体(赤外可視変換蛍光体)として
は、これまでに多数のものが知られている。中でも、書
き込まれた光エネルギーを蓄積し、赤外光照射によって
書き込まれた情報を読み出すことのできる赤外輝尽蛍光
体は、光書換えメモリ材料、光情報処理用材料として近
年注目を集めている。赤外輝尽蛍光体とは、予め短波長
の光(可視光、紫外光)、あるいはX線やその他の電離
放射線で励起したのち、赤外光で刺激すると可視領域の
発光が発生する蛍光体のことであり、従来より半導体レ
ーザーやYAGレーザーなどからの赤外光の検出に広く
用いられている。硫化カルシウム(CaS)や硫化スト
ロンチウム(SrS)に、ユーロピウム(Eu)とサマ
リウム(Sm)との組み合せあるいはセリウム(Ce)
とサマリウムの組み合せなどをドープしたものが、赤外
可視変換効率の高い赤外輝尽蛍光体として知られてい
る。
【0003】まずここで、この赤外輝尽蛍光体を利用し
た赤外可視変換素子の動作原理について説明する。図5
は赤外輝尽蛍光体の1例であるCaS:Eu,Smのバン
ドモデルを説明する図である。この蛍光体は、以下の励
起過程[図5(a)]、発光過程[図5(b)]の2つの過程
によって動作する。なお、EuはEu2+としてCaSの
価電子帯の上端(図示V.B.)に近い不純物準位を形成
し、SmはSm3+として伝導帯の下端(図示C.B.)に近
い不純物準位を形成している。なお、価電子帯と伝導帯
とのエネルギー差すなわちバンドギャップはEgで示さ
れている。 a)励起過程 可視〜紫外領域の励起光の照射によりEu2+はさらに
イオン化されて伝導帯上に電子を放出し、Eu3+とな
る。
【0004】伝導帯上へ励起された電子はSm3+に捕
獲され、Sm3+はSm2+になる。 b)発光過程 赤外光の刺激によりSm3+に捕獲されていた電子は伝
導帯上に励起され、Sm3+はSm2+になる。
【0005】伝導帯上に励起された電子はEu3+に捕
獲され、Eu3+はEu2+になり、このときEu2+は発光
遷移により基底状態に遷移し、光を放出する。この発光
を赤外輝尽発光と呼ぶ。
【0006】すなわち、上記〜の過程を経ることに
よって赤外輝尽発光が生じるが、この動作原理からわか
るように、Euによる不純物準位が励起光に対する吸収
の波長特性と赤外輝尽発光の発光の波長特性を決定し、
Smによる不純物準位が赤外線刺激に対する波長特性を
決定する。なお、励起光と赤外輝尽発光との特性に関与
する元素を主活性剤、赤外線刺激の特性に関与する元素
を副活性剤と呼んでいる。また、これら波長感度特性
は、蛍光体母体と活性剤の組み合せを変えることによ
り、幅広い波長領域にわたって変化させることができ
る。
【0007】以上の説明からも明らかなように、赤外輝
尽蛍光体は、励起光のエネルギー(励起エネルギー)を
蓄積するエネルギー蓄積型の蛍光体であり、書き込み情
報を蛍光体中に蓄積されたエネルギー量の変化として記
録することができる。したがって、書き込む情報に応じ
て励起光をこの赤外輝尽蛍光体からなる赤外可視変換素
子に照射すれば情報の記録が行なわれ、再生用の赤外光
をこの素子に照射して赤外輝尽発光を観測すれば書き込
まれた情報を読み出すことができる。
【0008】
【発明が解決しようする課題】上述の赤外可視変換素子
を情報記録媒体として使用する場合、当然のことなが
ら、すでに記録されている情報を全消去しなければなら
ないことがある。この情報の消去は、従来、赤外光を照
射することによって行なわれている。消去に要する時間
は、消去用の赤外光の強度によって変化し、数mW程度
の赤外光を使用したときに数十分、数kWのレーザー光
を使用したときに数msec程度である。このため、赤
外光照射による赤外可視変換素子の記録情報消去には、
高速で情報の書き込み消去を繰り返すために強度の大き
い赤外光源を準備しなければならないという問題点があ
る。
【0009】本発明の目的は、赤外可視変換素子の記録
情報消去を短時間で行なうことのできる記録情報消去方
法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の赤外可視変換素
子の記録情報消去方法は、赤外輝尽蛍光体によって構成
された赤外可視変換素子の記録情報消去方法であって、
交流電圧および/またはパルス電圧を前記赤外輝尽蛍光
体に印加することにより前記赤外可視変換素子に蓄積さ
れた書き込み情報を消去する。
【0011】
【作用】この赤外可視変換素子の記録保持状態は、上述
の赤外輝尽蛍光体のバンドモデルで、不純物準位のSm
に電子が捕獲されている状態に相当する。Smが蛍光体
母体中で作る準位は伝導帯の下端から約1eVと深いと
ころにあるから通常は安定に状態を維持しているが、蛍
光体の両側に交流電圧および/またはパルス電圧を印加
した場合には、Smに捕獲された電子は伝導帯中に放出
される。この伝導帯中に放出された電子は、蛍光体母体
中を移動してEuに再捕獲され、結果としてSmからE
uへの電子移動が生じ、情報の消去が行なわれることに
なる。この電子移動は印加した電界によって高速に行わ
れるから、情報の消去も高速で行われる。
【0012】赤外可視変換素子としては赤外輝尽蛍光体
を用いたものであればよいが、赤外輝尽蛍光体に電圧を
印加するための電極を予め形成しておくことが望まし
い。赤外輝尽蛍光体には光が照射されることを考慮し
て、少なくとも一方が透明である一対の電極と、この電
極間に挟持された赤外輝尽蛍光体とを有するように構成
した赤外可視変換素子を用いるとよい。
【0013】
【実施例】次に本発明の実施例について、図面を参照し
て説明する。図1は本発明の赤外可視変換素子の記録情
報消去方法の実施に用いられる赤外可視変換素子の基本
的構成を示す模式断面図、図2〜4はそれぞれ実施例1
〜3で使用される赤外可視変換素子の構成を示す模式断
面図である。
【0014】図1に示した赤外可視変換素子は、赤外輝
尽蛍光体1を透明電極2と電極3とで挟持した構成とな
っている。透明電極2は、少なくとも赤外光および励起
用の光(可視光あるいは紫外光)を透過する。この赤外
可視変換素子への情報の書き込みは、記録しようとする
情報に応じ赤外輝尽蛍光体1の所定の記録位置に透明電
極2側から励起光を照射して行なわれる。そして書き込
まれた記録の読み出しは、透明電極2側から読み出し用
の赤外光を赤外輝尽蛍光体1に照射して所定の書き込み
位置からの赤外輝尽発光を観測することによって行なわ
れる。書き込まれた情報の消去は、透明電極2と電極3
との間に交流電圧および/またはパルス電圧を印加する
ことによって行なわれる。この電圧を印加することによ
り、例えば赤外輝尽蛍光体1にCaS:Eu,Sm系のも
のを使用していれば、上述の説明のように、Smに捕獲
されていた電子がEuに再捕獲され、書き込まれた情報
の消去が行なわれる。
【0015】次に、本発明の赤外可視変換素子の記録情
報消去方法について、実際の例を具体的数値を挙げて説
明する。
【0016】[実施例1]表面にITO(In23+S
nO2)透明電極を形成した高分子フィルム12と表面
に銅電極を形成した高分子フィルム13との間に、Ca
S:Eu,Sm蛍光体粉末をフッ素ゴム中に分散させたフ
ィルム状とした赤外輝尽蛍光体11を挟持し、さらに全
体を透明高分子フィルム14で挟持した構成の赤外可視
変換素子を用いた。図2はこの赤外可視変換素子の構成
を示す模式断面図である。
【0017】赤外輝尽蛍光体11を作製するにあたって
は、まず、アセトンで溶解したフッ素ゴム中にCaS:
Eu,Sm蛍光体粉末を分散させ、ITO透明電極を形
成した高分子フィルム12上に塗布して乾燥させた。こ
の赤外輝尽蛍光体11を塗布した高分子フィルム12上
に、銅電極を形成した高分子フィルム13を配し、さら
にこれらを2枚の透明高分子フィルム34で挟んで熱圧
着し、赤外可視変換素子を形成した。赤外輝尽蛍光体1
1に添加される添加物の濃度は、Euが300ppm、
Smが150ppmとなるようにし、赤外輝尽蛍光体1
1の膜厚は100μmとした。
【0018】このようにした形成した赤外可視変換素子
に10mWの緑色光を照射し画像情報を記録し、高分子
フィルム12,13のそれぞれに形成された電極間に5
0Hz100Vの交流電圧を1秒間印加した。そののち
赤外光を照射したところ赤外輝尽発光は観測されず、記
録情報が全て消去されていることが確認され、本発明の
赤外可視変換素子の記録情報消去方法によって高速に情
報消去が可能であることが示された。
【0019】[実施例2]図3はこの実施例2で用いた
赤外可視変換素子の構成を示す模式断面図であり、ガラ
ス基板21の上に、ITO透明電極22、シリコン酸化
膜23、シリコン窒化膜24、CaS:Eu,Sm赤外輝
尽蛍光体層25、シリコン窒化膜24、アルミニウム電
極26を順次積層した構成となっている。シリコン酸化
膜23、シリコン窒化膜24を用いなくてもこの赤外可
視変換素子は作動するが、これらの膜を使用することに
より、素子の安定性や信頼性が向上する。
【0020】この赤外可視変換素子を作製するに当たっ
ては、まず、NA−40ガラス基板21を純水、アセト
ンなどで洗浄し、スパッタ法によりこのガラス基板21
の表面にITO透明電極22を200nmの厚さで形成
する。次に、このガラス基板21をECR(電子サイク
ロトロン共鳴)プラズマCVD装置内に設置し、原料ガ
スとしてシラン10sccmと酸素10sccmを導入
し、投入マイクロ波出力600Wの条件で、厚さ100
nmのシリコン酸化膜23を形成した。引き続きECR
プラズマCVD装置により、シラン10sccmと窒素
20sccmを導入し、投入マイクロ波出力600Wの
条件で、厚さ100nmのシリコン窒化膜24を形成し
た。シリコン酸化膜23を設けたのは、このあとの赤外
輝尽蛍光体層25を形成する際の基板加熱によりITO
透明電極22が劣化することを防ぐためである。
【0021】こののち、上述のシリコン窒化膜24まで
を形成したガラス基板21を真空蒸着装置内に設置し、
このシリコン窒化膜24の上に厚さ1μmのCaS:E
u,Sm赤外輝尽蛍光体層25を形成した。この赤外輝
尽蛍光体層25は、酸化ユーロピウム(Eu23)を2
00ppm、酸化サマリウム(Sm23)を200pp
m添加したCaSペレットを蒸発源とし、基板温度50
0℃、薄膜堆積速度50nm/minの条件で、電子ビ
ーム蒸着法により形成した。そして再びこの基板をEC
RプラズマCVD装置内に設置し、厚さ100nmのシ
リコン窒化膜24を形成し、さらにその上にアルミニウ
ム電極26を形成し、ECRプラズマCVD装置から取
り出してITO透明電極21とアルミニウム電極26に
それぞれリード線を接続して赤外可視変換素子を完成さ
せた。
【0022】このようにした形成した赤外可視変換素子
に10mWの緑色光を照射し画像情報を記録し、ITO
透明電極22とアルミニウム電極26との間にピーク電
圧10V、パルス幅100nsecのパルス電圧を印加
した。そののち赤外光を照射したところ赤外輝尽発光は
観測されず、記録情報が全て消去されていることが確認
され、本発明の赤外可視変換素子の記録情報消去方法に
よって高速に情報消去を行なうことが可能であることが
示された。
【0023】[実施例3]図4はこの実施例3で用いた
赤外可視変換素子の構成を示す模式断面図であり、シリ
コン(111)基板31の上に、フッ化カルシウム(C
aF2)膜32、CaS:Eu,Sm赤外輝尽蛍光体層3
3、シリコン窒化膜34、ITO透明電極35を順次積
層した構成となっている。シリコン(111)基板3
2、フッ化カルシウム膜32、CaS:Eu,Sm赤外輝
尽蛍光体層33をこの順に積層して形成すると、Ca
S:Eu,Sm赤外輝尽蛍光体層33は単結晶膜となって
膜中の欠陥が減少する。このため欠陥を経由した電子の
再結合が減少し、光照射によって生じた電子が有効に分
極形成に寄与して感度の高い素子が得られる。
【0024】この赤外可視変換素子を作製するに当たっ
ては、まず、シリコン基板31を沸騰した硝酸中に浸し
て表面酸化膜を形成したのち純水で洗浄し、フッ化水素
酸中に浸し酸化膜を除去し表面欠陥や汚れを除去したの
ち再び純水で洗浄し、塩酸,過酸化水素水,純水を3:
1:1の比率で混合した混酸中に10分間浸し良質な表
面酸化膜を形成し、さらに水洗乾燥する。そののち、こ
のシリコン基板31を分子線エピタキシャル(MBE)
装置内に設置し、MBE装置内を10-8Torr以下に
まで排気し、シリコン基板31を加熱して表面酸化膜を
蒸発させシリコン(111)清浄表面を露出させたの
ち、このシリコン基板31上に厚さ1μmのフッ化カル
シウム膜32を形成する。そして厚さ1μmのCaS:
Eu,Sm赤外輝尽蛍光体層33を形成した。この赤外
輝尽蛍光体層33は、Eu濃度が500ppm、Sm濃
度が150ppmとなるように別々の蒸発源に充填した
Ca金属、Eu金属、Sm金属をそれぞれ調節して加熱
蒸発させて基板面に堆積させ、さらにこれと同時に硫化
水素ガスを基板面に照射することによって形成した。こ
のときの基板温度は500℃、薄膜堆積速度は50nm
/minとした。
【0025】こののち、赤外輝尽蛍光体層33までが形
成されたシリコン基板31をECRプラズマCVD装置
内に設置し、厚さ100nmのシリコン窒化膜34とを
形成し、さらにその上にITO透明電極35を形成し、
ECRプラズマCVD装置から取り出してシリコン基板
31とITO透明電極35にそれぞれリード線を接続し
て赤外可視変換素子を完成させた。
【0026】このようにした形成した赤外可視変換素子
に10mWの緑色光を照射し画像情報を記録し、シリコ
ン基板31とITO透明電極35との間にピーク電圧5
V、パルス幅100nsecのパルス電圧を印加した。
そののち赤外光を照射したところ赤外輝尽発光は観測さ
れず、記録情報が全て消去されていることが確認され、
本発明の赤外可視変換素子の記録情報消去方法によって
高速に情報を消去することが可能であることが示され
た。
【0027】以上本発明の実施例について説明したが、
本発明の実施に用いられる赤外輝尽蛍光体としては、C
aS:Eu,Sm系のものに限られるものではない。例え
ば、アルカリ土類金属の硫化物あるいはセレン化物に、
Eu,Ce,Mn,Cuの中から選択された少なくとも1
種以上の元素と、Sm,Bi,Pbの中から選択された少
なくとも1種以上の元素をともに添加した赤外輝尽蛍光
体を良好に用いることができる。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、交流電圧
および/またはパルス電圧を赤外輝尽蛍光体に印加する
ことにより、赤外可視変換素子に書き込まれた情報を簡
単な方法で高速に消去できるようになるという効果を有
する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の赤外可視変換素子の記録情報消去方法
の実施に用いられる赤外可視変換素子の基本的構成を示
す模式断面図である。
【図2】実施例1で使用される赤外可視変換素子の構成
を示す模式断面図である。
【図3】実施例2で使用される赤外可視変換素子の構成
を示す模式断面図である。
【図4】実施例3で使用される赤外可視変換素子の構成
を示す模式断面図である。
【図5】(a),(b)はそれぞれ赤外輝尽蛍光体の動作原理
を説明する図である。
【符号の説明】
1,11 赤外輝尽蛍光体 2 透明電極 3 電極 12 ITO透明電極を形成した高分子フィルム 13 銅電極を形成した高分子フィルム 14 透明高分子フィルム 21 ガラス基板 22,35 ITO透明電極 23 シリコン酸化膜 24,34 シリコン窒化膜 25,33 赤外輝尽蛍光体層 26 アルミニウム電極 31 シリコン基板 32 フッ化カルシウム膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11B 7/00 9195−5D G21K 4/00 Z 8805−2G

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 赤外輝尽蛍光体によって構成された赤外
    可視変換素子の記録情報消去方法であって、交流電圧お
    よび/またはパルス電圧を前記赤外輝尽蛍光体に印加す
    ることにより前記赤外可視変換素子に蓄積された書き込
    み情報を消去する、赤外可視変換素子の記録情報消去方
    法。
  2. 【請求項2】 少なくとも一方が透明である一対の電極
    と、前記電極間に挟持された赤外輝尽蛍光体とを有する
    赤外可視変換素子における記録情報消去方法であって、 前記電極間に交流電圧および/またはパルス電圧を印加
    して、前記赤外可視変換素子に蓄積された書き込み情報
    を消去する、赤外可視変換素子の記録情報消去方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08302342A (ja) * 1995-05-09 1996-11-19 Futaba Corp 蛍光体

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH08302342A (ja) * 1995-05-09 1996-11-19 Futaba Corp 蛍光体

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