JPH0594618A - Texture treatment of amorphous carbon substrate for magnetic disk - Google Patents

Texture treatment of amorphous carbon substrate for magnetic disk

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JPH0594618A
JPH0594618A JP28052491A JP28052491A JPH0594618A JP H0594618 A JPH0594618 A JP H0594618A JP 28052491 A JP28052491 A JP 28052491A JP 28052491 A JP28052491 A JP 28052491A JP H0594618 A JPH0594618 A JP H0594618A
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JP
Japan
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amorphous carbon
carbon substrate
surface roughness
substrate
magnetic disk
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Application number
JP28052491A
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Japanese (ja)
Inventor
Yukihiro Oota
進博 太田
Shunsuke Takada
俊助 高田
Kazuo Muramatsu
一生 村松
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Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To form a good texture surface by polishing the surface of the amorphous carbon substrate to the roughness of a prescribed range and the ratio of the surface roughness in a circumferential direction and a radial direction in a prescribed range, then subjecting the substrate to a prescribed heating treatment. CONSTITUTION:The surface of the amorphous carbon substrate is polished, by which the surface roughness Ra thereof is made into 4 to 40Angstrom and the ratio Ra2/Ra1 of the surface roughness Ra1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra2 in the radial direction is made within the 0.85 to 1.15 range. The carbon substrate subjected to the surface roughening is subjected to the heating treatment in the presence of an oxidative gas selected from a group consisting of steam, hydrogen, ozone, and carbon dioxide and the texture is thereby formed. The attraction of a magnetic head to a magnetic disk is prevented in this way and the floating height of the magnetic head is decreased. Since the formation of the texture is executed by oxidative gases exclusive of gaseous oxygen, the surface roughness is uniformized.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は磁気ヘッド浮揚面と磁気
ディスク表面との間に吸着現象が発生することを防止す
るためにテクスチャー処理する磁気ディスク用アモルフ
ァスカーボン基板のテクスチャー(Texture )処理方法
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a texture treatment method for an amorphous carbon substrate for a magnetic disk, which is texture-treated in order to prevent an adsorption phenomenon between a magnetic head levitating surface and a magnetic disk surface. ..

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、磁気ディスクはNi−Pメッキ材
等が被覆されたAl基板上に磁性膜を形成して構成され
ている。そして、磁気ディスク再生装置においては、磁
気ディスク上に浮揚型磁気ヘッドを配置し、磁気ディス
クを回転させることにより前記磁気ヘッドを浮揚させた
状態で、この磁気ヘッドにより磁気ディスクへの書込み
又は再生を行う。しかしながら、磁気ディスクへの書込
み又は再生を行う際、ディスク静止時において磁気ヘッ
ド浮揚面と磁気ディスク表面との間に吸着が生じる場合
がある。この吸着現象は磁気ヘッド浮揚面及び磁気ディ
スク表面が極めて平滑であって双方が微小間隔で対面し
ているときに、その間隙がO2 、N2 又はH2 O等の分
子により埋め尽くされて界面張力により大きな吸着力が
発生することに起因する。このような吸着現象が発生す
ると、磁気ディスクを駆動するモータが起動するときに
多大の電力を消費するという不都合を招来する。
2. Description of the Related Art Conventionally, a magnetic disk is constructed by forming a magnetic film on an Al substrate coated with a Ni--P plated material or the like. Then, in the magnetic disk reproducing apparatus, a floating magnetic head is arranged on the magnetic disk, and the magnetic head is levitated by rotating the magnetic disk, and the magnetic head writes or reproduces on the magnetic disk. To do. However, when writing to or reproducing from a magnetic disk, adsorption may occur between the magnetic head levitation surface and the magnetic disk surface when the disk is stationary. This adsorption phenomenon is caused by the fact that when the magnetic head levitation surface and the magnetic disk surface are extremely smooth and both face each other with a minute gap, the gap is filled with molecules such as O 2 , N 2 or H 2 O. This is due to the generation of a large adsorption force due to the interfacial tension. If such an adsorption phenomenon occurs, it causes a disadvantage that a large amount of electric power is consumed when the motor that drives the magnetic disk is started.

【0003】そこで、上述の吸着現象を防止するため、
磁気ディスク用Al基板においては、磁性膜を被着する
に先立ち、基板表面を一旦鏡面仕上げした後、テクスチ
ャー処理を施すことによりその表面粗さを調整してい
る。このテクスチャー処理方法としては、以下に示すも
のがある。即ち、Al基板(Ni−Pメッキ材)を回転
させた状態で、このAl基板に研磨テープをローラで押
し付けて接触させつつ、前記研磨テープをAl基板の半
径方向に移動させる。研磨テープとしては炭化ケイ素、
アルミナ又はダイヤモンド等の砥粒を付着させたものを
使用する。このように機械的なテクスチャー処理を施す
ことにより、磁気ディスク用Al基板の表面に同心円状
の条痕を付し、条痕が円周方向に配向した粗面を得るこ
とができる。
Therefore, in order to prevent the above-mentioned adsorption phenomenon,
In the Al substrate for a magnetic disk, before the magnetic film is deposited, the surface of the substrate is once mirror-finished and then textured to adjust the surface roughness. The following texture processing methods are available. That is, while the Al substrate (Ni-P plated material) is rotated, the polishing tape is moved in the radial direction of the Al substrate while the polishing tape is pressed against the Al substrate by a roller so as to be in contact with the Al substrate. Silicon carbide as polishing tape,
Use those to which abrasive grains such as alumina or diamond are attached. By performing the mechanical texture treatment in this manner, concentric circular scratches are formed on the surface of the Al substrate for a magnetic disk, and a rough surface in which the scratches are oriented in the circumferential direction can be obtained.

【0004】なお、従来の他の磁気ディスク用基板とし
て、アモルファスカーボン基板(神戸製鋼技報、vol.3
9、No.4、35乃至38頁、1989年発行)が提案されてい
る。このアモルファスカーボン基板は軽量且つ高強度で
あると共に、耐熱性及び表面精度が優れていて、Al基
板に比して磁気ディスクの記録密度を向上させることが
できるものである。
Incidentally, as another conventional magnetic disk substrate, an amorphous carbon substrate (Kobe Steel Technical Report, vol. 3
9, No. 4, pages 35 to 38, issued in 1989) is proposed. This amorphous carbon substrate is lightweight and has high strength, and is excellent in heat resistance and surface accuracy, and can improve the recording density of the magnetic disk as compared with the Al substrate.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
磁気ディスク用Al基板のテクスチャー処理方法におい
ては、表面粗さを適切なものに調整することが極めて困
難であり、必要以上に粗くなりやすい。磁気ディスクは
記録密度を高めるために、磁気ヘッドの浮上高さ(スペ
ーシング)をより一層小さくすることが好ましいが、上
述の如く、磁気ディスク用Al基板の表面粗さが必要以
上に粗くなると、磁気ヘッドの浮上高さが大きくなり、
磁気ディスクの記録密度を向上させることができない。
更に、従来のアモルファスカーボン基板は磁気ヘッドの
吸着防止及び磁気記録特性の向上の面から表面粗さを検
討すること自体、なされていないという問題点がある。
However, it is extremely difficult to adjust the surface roughness to an appropriate value in the conventional method for texture-treating an Al substrate for a magnetic disk, and it tends to be unnecessarily rough. In order to increase the recording density of the magnetic disk, it is preferable to further reduce the flying height (spacing) of the magnetic head. However, as described above, if the surface roughness of the Al substrate for the magnetic disk becomes larger than necessary, The flying height of the magnetic head increases,
The recording density of the magnetic disk cannot be improved.
Further, the conventional amorphous carbon substrate has a problem that the surface roughness itself has not been examined from the viewpoint of preventing adsorption of the magnetic head and improving magnetic recording characteristics.

【0006】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、磁気ディスクのヘッド吸着を防止できると
共に、磁性膜の特性を改善することができ、磁気ヘッド
の浮上高さを従来より小さくすることができるテクスチ
ャー面を得ることができる磁気ディスク用アモルファス
カーボン基板のテクスチャー処理方法を提供することを
目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems. It is possible to prevent head adsorption of a magnetic disk, improve the characteristics of the magnetic film, and make the flying height of the magnetic head smaller than before. It is an object of the present invention to provide a texture treatment method for an amorphous carbon substrate for a magnetic disk, which can obtain a textured surface that can be obtained.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明に係る磁気ディス
ク用アモルファスカーボン基板のテクスチャー処理方法
は、アモルファスカーボン基板の表面を研磨することに
よりその表面粗さRaを 5乃至40Åにすると共に円周方
向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さRa2 との比
Ra2 /Ra1 を0.85乃至1.15の範囲内又は1.50以上に
する研磨工程と、表面研磨したアモルファスカーボン基
板を水蒸気、水素、オゾン及び二酸化炭素からなる群か
ら選択された酸化性ガスの存在下で加熱処理する加熱工
程とを有することを特徴とする。
A method of texturing an amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to the present invention comprises polishing the surface of an amorphous carbon substrate to have a surface roughness Ra of 5 to 40Å and a circumferential direction. Polishing step for making the ratio Ra 2 / Ra 1 of the surface roughness Ra 1 and the surface roughness Ra 2 in the radial direction within the range of 0.85 to 1.15 or 1.50 or more, and the surface-polished amorphous carbon substrate with water vapor, hydrogen, And a heating step of performing heat treatment in the presence of an oxidizing gas selected from the group consisting of ozone and carbon dioxide.

【0008】[0008]

【作用】本願発明者等はアモルファスカーボン基板がも
つ性質に着目してそのテクスチャー処理方法について種
々研究を重ねた。その結果、アモルファスカーボン基板
を所定の表面粗さに研磨した後に、酸化性雰囲気中にて
所定の温度で加熱処理することにより、アモルファスカ
ーボン基板を磁気ディスク用として適切な表面粗さに処
理することができるということを見い出し、この原理の
下に完成した発明を特願昭2-410434,2-410436として既
に出願した。
The inventors of the present application focused on the properties of the amorphous carbon substrate and conducted various studies on the texture processing method. As a result, after polishing the amorphous carbon substrate to a predetermined surface roughness, the amorphous carbon substrate is heat-treated at a predetermined temperature in an oxidizing atmosphere to process the amorphous carbon substrate to a suitable surface roughness for a magnetic disk. It was found that the invention was completed based on this principle, and we have already applied for it as Japanese Patent Application Nos. 2-410434 and 2-410436.

【0009】即ち、所定の表面粗さに研磨されたアモル
ファスカーボン基板を300乃至1000℃、好ましくは 400
乃至 700℃に加熱すると、C+O2 →CO2 の酸化反応
が起こり、カーボンがガス化されてその研磨面に微細な
凹凸が形成される。従って、処理温度及び時間等の加熱
処理の条件をコントロールすることによりアモルファス
カーボン基板を適切な表面粗さに容易に処理することが
でき、その表面が必要以上に粗くなることはない。これ
により、磁気ディスクのヘッド吸着を防止することがで
きると共に、アモルファスカーボン基板上に形成される
磁性膜の特性を改善することができ、磁気ヘッドの浮上
高さを従来より小さくすることができる。
That is, an amorphous carbon substrate polished to a predetermined surface roughness is 300 to 1000 ° C., preferably 400
When heated to 700 to 700 ° C., an oxidation reaction of C + O 2 → CO 2 occurs, carbon is gasified, and fine irregularities are formed on the polished surface. Therefore, by controlling the heat treatment conditions such as the treatment temperature and time, the amorphous carbon substrate can be easily treated to have an appropriate surface roughness, and the surface will not be roughened more than necessary. As a result, it is possible to prevent head adsorption of the magnetic disk, improve the characteristics of the magnetic film formed on the amorphous carbon substrate, and make the flying height of the magnetic head smaller than before.

【0010】このように、前記先行出願に係る発明によ
り、従来のテクスチャー処理では得られない効果が得ら
れ、その所期の目的は達成されたものの、その後、以下
に示す不十分な点も見られるようになった。
As described above, according to the invention of the above-mentioned prior application, although the effect which cannot be obtained by the conventional texture processing is obtained and the intended purpose thereof is achieved, the following insufficient points are also found. Came to be.

【0011】即ち、ハードディスクにおいて、安定した
ヘッドの浮上を促進するためには、均一なテクスチャー
処理が必要である。しかし、前記先行出願に係る発明
は、大気中の酸素を使用したカーボン基板のケミカルテ
クスチャー処理であるため、処理温度の変動による粗さ
の変化が比較的大きい。しかも、加熱炉内の温度分布
は、高温になるほど、その温度制御が難しくなる。ま
た、酸化反応が激しく起きるような温度域では、大気の
対流状態から基板位置によって酸化量が異なるという難
点がある。これらの要因から、テクスチャー処理面の粗
さが不均一になりやすい。なお、NiP基板等で実施さ
れているメカニカルテクスチャーをカーボン基板のテク
スチャー処理に適用すると、その表面粗さを適切なもの
に調整することが困難であることは前述のとおりであ
る。
That is, in a hard disk, uniform texture processing is required to promote stable head flying. However, since the invention according to the above-mentioned prior application is the chemical texture treatment of the carbon substrate using oxygen in the atmosphere, the change in roughness due to the change in the treatment temperature is relatively large. Moreover, as the temperature distribution in the heating furnace becomes higher, it becomes more difficult to control the temperature. In addition, in a temperature range where the oxidation reaction occurs violently, there is a problem that the amount of oxidation varies depending on the substrate position from the convection state of the atmosphere. Due to these factors, the roughness of the textured surface is likely to be uneven. As described above, it is difficult to adjust the surface roughness of the NiP substrate or the like when the mechanical texture is applied to the texture treatment of the carbon substrate.

【0012】そこで、本願発明者らが、種々検討を進め
た結果、酸素ガス以外の酸化性ガス、即ち、水蒸気、水
素、オゾン又は二酸化炭素を使用することにより、その
酸化反応速度が遅くなり、基板の全面にわたり、均一な
テクスチャー面を形成することができることを見いだし
た。即ち、本願発明は、研磨工程の後に、水蒸気、水
素、オゾン及び二酸化炭素からなる群から選択された酸
化性ガスの存在下で加熱することにより、その酸化性ガ
スによる基板表面の酸化を利用してテクスチャー処理を
行うことを特徴とする。
Therefore, as a result of various investigations by the present inventors, the use of an oxidizing gas other than oxygen gas, that is, steam, hydrogen, ozone or carbon dioxide, slows down the oxidation reaction rate, It has been found that a uniform textured surface can be formed over the entire surface of the substrate. That is, the present invention utilizes oxidation of the substrate surface by the oxidizing gas by heating after the polishing step in the presence of an oxidizing gas selected from the group consisting of water vapor, hydrogen, ozone and carbon dioxide. It is characterized by performing texture processing.

【0013】カーボン基板の酸化温度における反応定数
は、カーボン基板の焼成温度のほか、酸化剤の種類によ
り異なる。そして、乾式のカーボン基板の酸化反応は酸
素以外に、水蒸気、水素、オゾン及び二酸化炭素によっ
ても生じる。これらの酸化性ガスによるカーボン基板の
酸化反応を以下に示す。 C+H2O=CO+H2 C+2H2=CH4 C+CO2=2CO これらの酸化性ガスはその酸化温度の変動による反応速
度の変化が小さい。このため、これらの酸化性ガスを使
用してテクスチャー処理することにより、その温度管理
を厳密に行わなくても均一なテクスチャー面を形成する
ことができる。これにより、容易に均一な粗さのテクス
チャー面を有するアモルファスカーボン基板を製造する
ことができる。
The reaction constant at the oxidation temperature of the carbon substrate differs depending on the firing temperature of the carbon substrate and the type of oxidizing agent. The oxidation reaction of the dry carbon substrate occurs not only with oxygen but also with water vapor, hydrogen, ozone and carbon dioxide. The oxidation reaction of the carbon substrate with these oxidizing gases is shown below. C + H 2 O = CO + H 2 C + 2H 2 ═CH 4 C + CO 2 = 2CO These oxidizing gases have small changes in reaction rate due to changes in the oxidation temperature. Therefore, by performing the texture treatment using these oxidizing gases, it is possible to form a uniform textured surface without strictly controlling the temperature. This makes it possible to easily manufacture an amorphous carbon substrate having a textured surface with uniform roughness.

【0014】次に、表面研磨工程におけるアモルファス
カーボン基板の表面粗さRa及び円周方向の表面粗さR
1 と半径方向の表面粗さRa2 との比Ra2 /Ra1
の限定理由について説明する。ランダム配向 基板面に対するテクスチャーの方向性をランダム配向に
すると、即ち、アモルファスカーボン基板の表面粗さR
aが円周方向又は半径方向に偏らないようにすると、磁
気ディスクとして実用する際の記録再生エラー及びノイ
ズ(S/N比)を低減することができ、その記録密度を
高めることができる。
Next, the surface roughness Ra and the surface roughness R in the circumferential direction of the amorphous carbon substrate in the surface polishing step.
Ratio of a 1 to surface roughness Ra 2 in the radial direction Ra 2 / Ra 1
The reason for the limitation will be described. Random orientation When the orientation of the texture with respect to the substrate surface is randomly oriented, that is, the surface roughness R of the amorphous carbon substrate
When a is not biased in the circumferential direction or the radial direction, it is possible to reduce the recording / reproducing error and the noise (S / N ratio) in practical use as a magnetic disk, and it is possible to increase the recording density.

【0015】このテクスチャーのランダム配向性は加熱
処理前の表面研磨により決定される。しかしながら、表
面研磨後におけるアモルファスカーボン基板の円周方向
の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さRa2 との比R
2 /Ra1 が0.85乃至1.15から外れると、磁気ディス
クの記録再生エラー及びノイズ(S/N比)が増加す
る。このため、表面研磨後におけるアモルファスカーボ
ン基板の円周方向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗
さRa2 との比Ra2 /Ra1 は0.85乃至1.15にする。
The random orientation of this texture is determined by surface polishing before heat treatment. However, the ratio R of the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra 2 in the radial direction of the amorphous carbon substrate after surface polishing
When a 2 / Ra 1 is disengaged from 0.85 to 1.15, recording errors and noise of the magnetic disk (S / N ratio) is increased. Therefore, the ratio Ra 2 / Ra 1 of the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra 2 in the radial direction of the amorphous carbon substrate after the surface polishing is set to 0.85 to 1.15.

【0016】表面研磨後におけるアモルファスカーボン
基板の表面粗さ(平均面粗さ)Raが 5Åより小さい
と、磁気ディスクとして実用する際に磁気ヘッドの吸着
が生じやすい。一方、表面粗さRaが40Åを超えると、
磁気ヘッドの浮上高さを約 0.1μm以下にすることが困
難になる。このため、表面研磨後におけるアモルファス
カーボン基板の表面粗さRaは 5乃至40Åにする。
If the surface roughness (average surface roughness) Ra of the amorphous carbon substrate after surface polishing is smaller than 5Å, adsorption of the magnetic head is likely to occur during practical use as a magnetic disk. On the other hand, if the surface roughness Ra exceeds 40Å,
It becomes difficult to reduce the flying height of the magnetic head to about 0.1 μm or less. Therefore, the surface roughness Ra of the amorphous carbon substrate after surface polishing is set to 5 to 40 Å.

【0017】このように、本発明に係る磁気ディスク用
アモルファスカーボン基板は磁気ディスクの記録密度を
高めることができると共に、磁気ヘッドの浮上高さを小
さくすることができるので、特に高性能の磁気ディスク
に使用するのに好適である。なお、本発明におけるアモ
ルファスカーボン基板とは、ガラス質炭素に超高温HI
P(熱間静水圧加圧)処理を施すことにより、気孔を殆
ど消失させて密度を1.80g/cm3 以上と高くし、その特性
をグラファイトに近付けた高密度アモルファスカーボン
からなるものである。
As described above, the amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to the present invention can increase the recording density of the magnetic disk and can reduce the flying height of the magnetic head. It is suitable for use in. It should be noted that the amorphous carbon substrate in the present invention refers to glassy carbon and ultra-high temperature HI.
By performing P (hot isostatic pressing), most of the pores are eliminated and the density is increased to 1.80 g / cm 3 or more, and the characteristics are made of high density amorphous carbon that is close to graphite.

【0018】次に、アモルファスカーボン基板を上述の
表面粗さに研磨するための研磨方法について説明する。
Next, a polishing method for polishing the amorphous carbon substrate to the above-mentioned surface roughness will be described.

【0019】砥粒としてはアモルファスカーボン基板と
同等以上の硬度を有し、工業的に安価なものを使用す
る。例えば、ダイヤモンド、アルミナ、SiC、ZrO
2 、酸化セリウム及びSiO2 からなる群から選択され
た少なくとも 1種の砥粒を使用することが好ましい。こ
の場合、その平均粒径が 1μmを超えると、研磨時にア
モルファスカーボン基板の表面にスクラッチが発生する
ため、表面粗さを所望の精度にすることが困難である。
更に、スクラッチが発生すると、次工程の加熱処理によ
りスクラッチ部分が局所的に酸化され、溝状に拡大して
基板欠陥となるため、磁気ディスクとしての実用上の耐
久性が低下する。また、上記以外の砥粒を使用すること
も可能であるが、砥粒としての切削力が不十分である
と、アモルファスカーボン基板の表面に所謂オレンジピ
ールという微小な窪みが発生する。
As the abrasive grains, those having hardness equal to or higher than that of the amorphous carbon substrate and industrially inexpensive are used. For example, diamond, alumina, SiC, ZrO
It is preferable to use at least one kind of abrasive grain selected from the group consisting of 2 , cerium oxide and SiO 2 . In this case, if the average particle diameter exceeds 1 μm, scratches are generated on the surface of the amorphous carbon substrate during polishing, so that it is difficult to achieve the desired surface roughness.
Further, when scratches occur, the scratch portion is locally oxidized by the heat treatment in the next step and expands in a groove shape to form a substrate defect, which lowers the practical durability as a magnetic disk. It is also possible to use abrasive grains other than those mentioned above, but if the cutting force as the abrasive grains is insufficient, minute recesses called so-called orange peels occur on the surface of the amorphous carbon substrate.

【0020】定盤としてはSn又はCu等からなる軟質
定盤を使用することが好ましい。アモルファスカーボン
基板はAl基板に比して脆いため、鋳鉄等からなる硬質
定盤を使用すると、砥粒が硬質定盤上を転がってアモル
ファスカーボン基板の表面にスクラッチ、オレンジピー
ル及びチッピング等の欠陥が頻繁に発生する。一方、軟
質定盤を使用した場合、砥粒が軟質定盤に若干埋没して
転がらないため、上述の不都合が生じることはない。
It is preferable to use a soft surface plate made of Sn or Cu as the surface plate. Since an amorphous carbon substrate is more brittle than an Al substrate, if a hard surface plate made of cast iron or the like is used, abrasive grains roll on the hard surface plate and defects such as scratches, orange peels and chippings occur on the surface of the amorphous carbon substrate. It happens frequently. On the other hand, when a soft surface plate is used, the above-mentioned inconvenience does not occur because the abrasive grains are slightly buried in the soft surface plate and do not roll.

【0021】なお、上述の軟質定盤は所定期間使用した
後、粗れた表面をドレッシングする必要がある。そこ
で、軟質定盤又は硬質定盤の表面に硬度が60以上のポリ
ウレタン等からなる硬質パッドを被着したものを使用す
ることができる。この場合、軟質定盤と同様にしてアモ
ルファスカーボン基板の表面に欠陥が生じることがない
と共に、定盤の表面をドレッシングする替わりに硬質パ
ッドを交換するだけで良く、処理コストを低減できると
いう利点がある。
It is necessary to dress the rough surface after using the above-mentioned soft surface plate for a predetermined period. Therefore, a soft surface plate or a hard surface plate on which a hard pad made of polyurethane or the like having a hardness of 60 or more is adhered can be used. In this case, similar to the soft surface plate, no defects occur on the surface of the amorphous carbon substrate, and it is only necessary to replace the hard pad instead of dressing the surface of the surface plate, which is advantageous in that the processing cost can be reduced. is there.

【0022】このように本発明においては、平均粒径が
1μm以下のダイヤモンド、アルミナ、SiC、ZrO
2 、酸化セリウム及びSiO2 からなる群から選択され
た少なくとも 1種の砥粒を使用して、軟質定盤又はその
表面に硬度が60以上の硬質パッドが被着された定盤によ
り、アモルファスカーボン基板をラップ研磨することが
好ましい。
As described above, in the present invention, the average particle size is
Diamond less than 1μm, alumina, SiC, ZrO
2 , using at least one type of abrasive grains selected from the group consisting of cerium oxide and SiO 2 , a soft surface plate or a surface plate having a hard pad with a hardness of 60 or more adhered to the surface of the amorphous carbon It is preferable to lapping the substrate.

【0023】テクスチャーの方向性は以下に示すように
してランダム配向にすることができる。即ち、上述の砥
粒のスラリーを滴下した軟質定盤(又は硬質パッド)上
において、アモルファスカーボン基板を加圧しながら、
このアモルファスカーボン基板を自転させると共に公転
させる。これにより、アモルファスカーボン基板の表面
が砥粒により不規則に切削されるため、表面研磨後のア
モルファスカーボン基板の円周方向の表面粗さRa1
半径方向の表面粗さRa2 との比Ra2 /Ra1 を0.85
乃至1.15にすることができる。円周方向配向 ランダム配向の場合と異なり、円周方向配向の場合に
は、この円周方向の磁気特性を向上させることができ
る。この場合に、表面研磨後におけるアモルファスカー
ボン基板の表面粗さ(平均面粗さ)Raが 5Åより小さ
いと、磁気ディスクとして実用する際に磁気ヘッドの吸
着が生じやすい。一方、表面粗さRaが50Åを超える
と、磁気ヘッドの浮上高さを従来より小さくすることが
困難になる。このため、表面研磨後におけるアモルファ
スカーボン基板の表面粗さRaは 5乃至50Åにする。
The orientation of the texture can be randomly oriented as shown below. That is, while pressing the amorphous carbon substrate on the soft surface plate (or hard pad) on which the slurry of the above-mentioned abrasive grains is dropped,
This amorphous carbon substrate is rotated and revolved. As a result, since the surface of the amorphous carbon substrate is irregularly cut by the abrasive grains, the ratio Ra of the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra 2 in the radial direction of the amorphous carbon substrate after surface polishing is Ra. 2 / Ra 1 is 0.85
To 1.15. Circumferential Orientation Unlike the random orientation, the circumferential orientation can improve the magnetic properties in the circumferential direction. In this case, if the surface roughness (average surface roughness) Ra of the amorphous carbon substrate after surface polishing is smaller than 5Å, adsorption of the magnetic head is likely to occur when it is practically used as a magnetic disk. On the other hand, when the surface roughness Ra exceeds 50 Å, it becomes difficult to reduce the flying height of the magnetic head as compared with the conventional one. Therefore, the surface roughness Ra of the amorphous carbon substrate after surface polishing is set to 5 to 50 Å.

【0024】磁気ディスク用アモルファスカーボン基板
をテクスチャー処理する主目的は磁気ヘッドの吸着防止
であるが、基板面に対するテクスチャーの方向性を同心
円状の円周配向にすると、即ち、アモルファスカーボン
基板の表面粗さRaを円周方向に比して半径方向に大き
くすると、円周方向の保磁力及び角形比を半径方向のそ
れに比して 2乃至 3割向上させることができる。そし
て、記録再生時において磁気ヘッドは磁気ディスクに対
して相対的に円周方向に移動するので、上述の如くテク
スチャーの方向性を円周配向にすると、磁性膜の円周方
向の磁気特性を著しく向上させることができる。従っ
て、磁性膜(メディア層)にPt又はTa等の高価な元
素を添加することにより磁性膜の磁気特性を向上させる
必要がない。このテクスチャーの円周配向性は加熱処理
前の表面研磨により決定される。しかしながら、表面研
磨後におけるアモルファスカーボン基板の円周方向の表
面粗さRa1 と半径方向の表面粗さRa2 との比Ra2
/Ra1 が1.50未満であると、テクスチャーの円周配向
が不十分であって円周方向のメディア層の磁気特性の向
上が不十分になる。このため、表面研磨後におけるアモ
ルファスカーボン基板の円周方向の表面粗さRa1 と半
径方向の表面粗さRa2 との比Ra2 /Ra1は1.50以
上にする。
The main purpose of texturing an amorphous carbon substrate for a magnetic disk is to prevent the magnetic head from adsorbing, but if the directionality of the texture with respect to the substrate surface is concentric circular orientation, that is, the surface roughness of the amorphous carbon substrate becomes rough. When Ra is made larger in the radial direction than in the circumferential direction, the coercive force and the squareness ratio in the circumferential direction can be improved by 20 to 30% as compared with those in the radial direction. Since the magnetic head moves in the circumferential direction relative to the magnetic disk during recording and reproduction, if the texture is oriented in the circumferential direction as described above, the magnetic characteristics of the magnetic film in the circumferential direction are remarkably increased. Can be improved. Therefore, it is not necessary to improve the magnetic characteristics of the magnetic film by adding an expensive element such as Pt or Ta to the magnetic film (media layer). The circumferential orientation of this texture is determined by surface polishing before heat treatment. However, the ratio Ra 2 of the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra 2 in the radial direction of the amorphous carbon substrate after surface polishing.
When / Ra 1 is less than 1.50, the circumferential orientation of the texture is insufficient and the magnetic properties of the media layer in the circumferential direction are insufficiently improved. Therefore, the ratio Ra 2 / Ra 1 of the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra 2 in the radial direction of the amorphous carbon substrate after the surface polishing is set to 1.50 or more.

【0025】このように、本発明に係る磁気ディスク用
アモルファスカーボン基板は、磁気ヘッドの浮上高さを
小さくすることができると共に、Pt又はTa等の高価
な元素を添加しなくてもメディア層の磁気特性を向上さ
せることができるので、特に低コストの磁気ディスクに
使用するのに好適である。
As described above, the amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to the present invention can make the flying height of the magnetic head small, and can form the media layer without adding an expensive element such as Pt or Ta. Since the magnetic characteristics can be improved, it is particularly suitable for use in a low-cost magnetic disk.

【0026】なお、本発明におけるアモルファスカーボ
ン基板とは、ガラス質炭素に超高温HIP(熱間静水圧
加圧)処理を施すことにより、気孔を殆ど消失させて密
度を1.80g/cm3 以上と高くし、その特性をグラファイト
に近付けた高密度アモルファスカーボンからなるもので
ある。
The amorphous carbon substrate in the present invention is obtained by subjecting glassy carbon to ultra-high temperature HIP (hot isostatic pressing) treatment to eliminate most of the pores and increase the density to 1.80 g / cm 3 or more. It is made of high-density amorphous carbon that is made higher and its characteristics are closer to those of graphite.

【0027】次に、アモルファスカーボン基板を円周方
向配向で上述の表面粗さに研磨するための研磨方法につ
いて説明する。
Next, a polishing method for polishing the amorphous carbon substrate in the circumferential orientation to the above-mentioned surface roughness will be described.

【0028】研磨工程においては、従来の磁気ディスク
用Al基板を機械的にテクスチャー処理する場合に使用
するテープポリッシャー等の研磨材が有効である。即
ち、アモルファスカーボン基板を回転させた状態で研磨
材を前記アモルファスカーボン基板に接触させつつ、こ
の研磨材を前記アモルファスカーボン基板の半径方向
に、例えば基板の外周部から内周部に向けて移動させ
る。前記研磨材には微粉状の砥粒を付着させた研磨テー
プを使用することができる。砥粒としてはアモルファス
カーボン基板と同等以上の硬度を有し、工業的に安価な
もの、例えば、ダイヤモンド、アルミナ、SiC、Zr
2 、酸化セリウム及びSiO2 等を使用する。これに
より、アモルファスカーボン基板の表面はその回転に伴
って前記砥粒により切削される。従って、基板の回転
数、使用する研磨テープの番手及び研磨テープの移動速
度等を適宜選択することにより、表面研磨後におけるア
モルファスカーボン基板の表面粗さRaを 5乃至50Åに
すると共に円周方向の表面粗さRa1 と半径方向の表面
粗さRa2 との比Ra2 /Ra1 を1.50以上にすること
ができ、前記アモルファスカーボン基板の表面に同心円
状の条痕を形成することができる。
In the polishing step, an abrasive material such as a tape polisher used when mechanically texture-processing a conventional Al substrate for magnetic disk is effective. That is, while the abrasive material is brought into contact with the amorphous carbon substrate while the amorphous carbon substrate is rotated, the abrasive material is moved in the radial direction of the amorphous carbon substrate, for example, from the outer peripheral portion to the inner peripheral portion of the substrate. .. A polishing tape to which fine powdery abrasive particles are attached can be used as the polishing material. Abrasive grains having hardness equal to or higher than that of an amorphous carbon substrate and industrially inexpensive, for example, diamond, alumina, SiC, Zr
O 2 , cerium oxide, SiO 2 or the like is used. As a result, the surface of the amorphous carbon substrate is cut by the abrasive grains as it rotates. Therefore, by appropriately selecting the number of rotations of the substrate, the number of the polishing tape to be used, the moving speed of the polishing tape, etc., the surface roughness Ra of the amorphous carbon substrate after the surface polishing is set to 5 to 50Å and the the ratio Ra 2 / Ra 1 and the surface roughness Ra 1 and radial surface roughness Ra 2 can be 1.50 or more, it is possible to form the concentric striations on the surface of the amorphous carbon substrate.

【0029】[0029]

【実施例】以下、本発明の実施例及び本願特許請求の範
囲から外れる比較例に係る磁気ディスク用アモルファス
カーボン基板のテクスチャー処理方法について説明す
る。水蒸気を使用してテクスチャー処理した場合(本実
施例)と、前述の先行出願のように酸素ガス(大気)の
下でテクスチャー処理した場合(比較例)とについて、
その表面粗さの変化を時間の経過と共に下記表1に示
す。但し、比較例の場合には、反応速度を遅くするため
に、炉内に大気を密封した状態でカーボン基板を加熱し
た。また、実施例の場合は、図1に示す処理装置により
水蒸気を発生させてテクスチャー処理した。
EXAMPLES A method of texturing an amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to an example of the present invention and a comparative example outside the scope of the claims of the present application will be described below. Regarding the case of performing texture treatment using water vapor (this example) and the case of performing texture treatment under oxygen gas (atmosphere) as in the above-mentioned prior application (comparative example),
The changes in the surface roughness are shown in Table 1 below with the passage of time. However, in the case of the comparative example, in order to slow down the reaction rate, the carbon substrate was heated while the atmosphere was sealed in the furnace. Further, in the case of the example, steam was generated by the processing apparatus shown in FIG. 1 to perform the texture processing.

【0030】即ち、気密的に栓をした容器1内に、純水
2を封入し、外部から配管3を介してこの容器1内の純
水2内にN2ガスを3リットル/分の速度で導入した。
また、容器と管状炉4とを配管5で気密的に連結し、管
状炉4内にカーボン基板6を装入した。そして、容器1
内の純水2を70乃至80℃に加熱し、通常の温度計に
より管理してこの温度範囲に保持した。一方、管状炉4
は、表1に示すように500乃至900℃の範囲内の種
々の温度に保持した。管状炉4における基板6の加熱時
間は30分間であり、管状炉4内の圧力は1気圧であ
る。
That is, pure water 2 is enclosed in a container 1 which is hermetically sealed, and N 2 gas is introduced into the pure water 2 in the container 1 from the outside through a pipe 3 at a rate of 3 liters / minute. Introduced in.
Further, the container and the tubular furnace 4 were airtightly connected by a pipe 5, and the carbon substrate 6 was loaded in the tubular furnace 4. And container 1
Pure water 2 therein was heated to 70 to 80 ° C., controlled by an ordinary thermometer and kept in this temperature range. On the other hand, tubular furnace 4
Were held at various temperatures within the range of 500 to 900 ° C. as shown in Table 1. The heating time of the substrate 6 in the tubular furnace 4 is 30 minutes, and the pressure in the tubular furnace 4 is 1 atm.

【0031】[0031]

【表1】 [Table 1]

【0032】その結果、表1から明らかなように、酸化
ガスの温度が高くなるにつれて、カーボン基板の表面粗
さが粗くなっているが、本実施例のように、水蒸気を使
用した場合には、カーボン基板の酸化反応が遅いため、
900℃まで加熱した場合にも、テクスチャー面として
十分に使用できる均一な粗さが得られた。これに対し、
酸素ガス(大気)を使用した場合には、700℃で表面
粗さが250Åになり、それ以上高温では粗さを測定で
きなかった。
As a result, as is clear from Table 1, the surface roughness of the carbon substrate becomes rougher as the temperature of the oxidizing gas becomes higher. However, when water vapor is used as in this example. , Because the oxidation reaction of the carbon substrate is slow,
Even when heated to 900 ° C., a uniform roughness that could be sufficiently used as a textured surface was obtained. In contrast,
When oxygen gas (atmosphere) was used, the surface roughness became 250Å at 700 ° C, and the roughness could not be measured at higher temperatures.

【0033】また、表面粗さのばらつきも、本実施例の
水蒸気の場合には、800℃の処理温度±7Åであるの
に対し、比較例の酸素の場合には600℃の処理温度で
±13Åであった。
The variation in surface roughness is 800 ° C. ± 7Å in the case of water vapor of the present embodiment, and ±± 6Å in the case of oxygen of the comparative example at 600 ° C. It was 13Å.

【0034】この表1に示すように、酸化温度を調整す
ることにより、得られるテクスチャー面の表面粗さを制
御することができるが、その外にも、処理時間、使用ガ
ス等の条件を選択することにより、任意の粗さに制御す
ることができる。なお、水蒸気を使用した場合には、コ
スト及び生産性を考慮して、900℃以下で加熱処理す
ることが好ましい。また、例えば、水素ガスを使用した
場合には1000℃以上、二酸化炭素ガスを使用した場
合は600℃以下、オゾンを使用した場合には300℃
以下が好ましい。なお、オゾンの場合には、基板の焼成
温度を600℃以下にしないと、酸化の進行が極めて遅
くなる。
As shown in Table 1, the surface roughness of the obtained textured surface can be controlled by adjusting the oxidation temperature. In addition to this, the conditions such as processing time and used gas can be selected. By doing so, it is possible to control to an arbitrary roughness. When steam is used, it is preferable to perform heat treatment at 900 ° C or lower in consideration of cost and productivity. Also, for example, when hydrogen gas is used, 1000 ° C or higher, when carbon dioxide gas is used, 600 ° C or lower, and when ozone is used, 300 ° C.
The following are preferred. In the case of ozone, unless the baking temperature of the substrate is set to 600 ° C. or lower, the progress of oxidation becomes extremely slow.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、磁
気ディスク用アモルファスカーボン基板の表面を研磨す
ることにより、その表面粗さRaを 5乃至40Åにすると
共に円周方向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さR
2 との比Ra2 /Ra1 を0.85乃至1.15以上にする
か、又は表面粗さRaを5乃至50Åにすると共に、円周
方向の表面粗さRa1と半径方向の表面粗さRa2との比
Ra2/Ra1を1.50以上にした後、この基板を酸素ガス
を含まない酸化性ガスの存在下で加熱処理するから、テ
クスチャーをランダム配向又は円周方向配向にしてその
表面粗さを適切なものにすることができる。このため、
磁気ディスクに対する磁気ヘッドの吸着を防止すること
ができると共に、磁気ヘッドの浮上高さを従来より小さ
くしてアモルファスカーボン基板上に形成される磁性膜
の記録再生特性を向上させることができる。また、テク
スチャーの形成は、酸素ガス以外の酸化性ガスにより行
うから、表面粗さを均一にすることができる。
As described above, according to the present invention, the surface roughness Ra of the amorphous carbon substrate for a magnetic disk is polished to 5 to 40 Å and the surface roughness Ra in the circumferential direction is increased. 1 and surface roughness R in the radial direction
The ratio Ra 2 / Ra 1 with respect to a 2 is set to 0.85 to 1.15 or more, or the surface roughness Ra is set to 5 to 50Å, and the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness Ra 2 in the radial direction are set. Since the ratio Ra 2 / Ra 1 of the substrate is set to 1.50 or more, the substrate is heat-treated in the presence of an oxidizing gas containing no oxygen gas. Can be appropriate. For this reason,
The magnetic head can be prevented from being attracted to the magnetic disk, and the flying height of the magnetic head can be made smaller than in the prior art to improve the recording / reproducing characteristics of the magnetic film formed on the amorphous carbon substrate. Further, since the texture is formed by using an oxidizing gas other than oxygen gas, the surface roughness can be made uniform.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】水蒸気によるテクスチャー処理装置を示す模式
図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a texture processing device using water vapor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1;容器 2;純水 4;管状炉 6;基板 1; container 2; pure water 4; tubular furnace 6; substrate

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 アモルファスカーボン基板の表面を研磨
することによりその面粗さRaを 5乃至40Åにすると
共に円周方向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さR
2 との比Ra2 /Ra1 を0.85乃至1.15にする研磨工
程と、表面研磨したアモルファスカーボン基板を水蒸
気、水素、オゾン及び二酸化炭素からなる群から選択さ
れた酸化性ガスの存在下で加熱処理する加熱工程とを有
することを特徴とする磁気ディスク用アモルファスカー
ボン基板のテクスチャー処理方法。
1. A circumferential surface roughness Ra 1 and radial surface roughness R together with the table surface roughness Ra to 5 to 40Å by polishing the surface of the amorphous carbon substrate
a polishing step for adjusting the ratio Ra 2 / Ra 1 with a 2 to 0.85 to 1.15, and heating the surface-polished amorphous carbon substrate in the presence of an oxidizing gas selected from the group consisting of water vapor, hydrogen, ozone and carbon dioxide. And a heating step of treating the amorphous carbon substrate for a magnetic disk.
【請求項2】 前記研磨工程は、平均粒径が 1μm以下
のダイヤモンド、アルミナ、SiC、ZrO2 、酸化セ
リウム及びSiO2 からなる群から選択された少なくと
も 1種の砥粒を使用して軟質定盤によりアモルファスカ
ーボン基板をラップ研磨することを特徴とする請求項1
に記載の磁気ディスク用アモルファスカーボン基板のテ
クスチャー処理方法。
2. The polishing step uses at least one kind of abrasive grains selected from the group consisting of diamond, alumina, SiC, ZrO 2 , cerium oxide and SiO 2 having an average grain size of 1 μm or less for softness determination. 2. An amorphous carbon substrate is lap-polished by a disk.
A method for texture-treating an amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to.
【請求項3】 前記研磨工程は平均粒径が 1μm以下の
ダイヤモンド、アルミナ、SiC、ZrO2 、酸化セリ
ウム及びSiO2 からなる群から選択された少なくとも
1種の砥粒を使用してその表面に硬度が60以上の硬質パ
ッドが被着された定盤によりアモルファスカーボン基板
をラップ研磨することを特徴とする請求項1に記載の磁
気ディスク用アモルファスカーボン基板のテクスチャー
処理方法。
3. The polishing step is at least selected from the group consisting of diamond having an average particle size of 1 μm or less, alumina, SiC, ZrO 2 , cerium oxide and SiO 2.
The amorphous carbon for a magnetic disk according to claim 1, wherein the amorphous carbon substrate is lap-polished by a surface plate having a hard pad having a hardness of 60 or more adhered to the surface thereof by using one kind of abrasive grains. Substrate texture processing method.
【請求項4】 アモルファスカーボン基板の表面を研磨
することによりその表面粗さRaを 5乃至50Åにすると
共に円周方向の表面粗さRa1 と半径方向の表面粗さR
2 との比Ra2 /Ra1 を1.50以上にする研磨工程
と、表面研磨したアモルファスカーボン基板を水蒸気、
水素、オゾン及び二酸化炭素からなる群から選択された
酸化性ガスの存在下で加熱処理する加熱工程とを有する
ことを特徴とする磁気ディスク用アモルファスカーボン
基板のテクスチャー処理方法。
4. The surface roughness Ra of the amorphous carbon substrate is adjusted to 5 to 50 Å by polishing the surface thereof, and the surface roughness Ra 1 in the circumferential direction and the surface roughness R in the radial direction are obtained.
a polishing step for making the ratio Ra 2 / Ra 1 with respect to a 2 1.50 or more;
And a heating step of performing heat treatment in the presence of an oxidizing gas selected from the group consisting of hydrogen, ozone and carbon dioxide, and a method for texture-treating an amorphous carbon substrate for a magnetic disk.
【請求項5】 前記研磨工程は、アモルファスカーボン
基板を回転させた状態で研磨材を前記アモルファスカー
ボン基板に接触させつつその半径方向に移動させること
により前記アモルファスカーボン基板の表面に同心円状
の条痕を形成することを特徴とする請求項4に記載の磁
気ディスク用アモルファスカーボン基板のテクスチャー
処理方法。
5. In the polishing step, while the amorphous carbon substrate is being rotated, a polishing material is brought into contact with the amorphous carbon substrate and is moved in the radial direction thereof to form concentric scratches on the surface of the amorphous carbon substrate. The method for texture treatment of an amorphous carbon substrate for a magnetic disk according to claim 4, wherein
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6590745B1 (en) 1999-01-26 2003-07-08 Tdk Corporation Magnetic head, method of manufacturing same, and magnetic disk apparatus

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