JPH0590874A - Surface acoustic wave element - Google Patents
Surface acoustic wave elementInfo
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- JPH0590874A JPH0590874A JP24802991A JP24802991A JPH0590874A JP H0590874 A JPH0590874 A JP H0590874A JP 24802991 A JP24802991 A JP 24802991A JP 24802991 A JP24802991 A JP 24802991A JP H0590874 A JPH0590874 A JP H0590874A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、たとえば高周波フィ
ルタなどに用いることのできる表面弾性波素子に関する
ものであり、特にダイヤモンドを用いた表面弾性波素子
に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface acoustic wave device that can be used for, for example, a high frequency filter, and more particularly to a surface acoustic wave device using diamond.
【0002】[0002]
【従来の技術】表面弾性波素子は、弾性体表面を伝搬す
る表面波を利用した電気−機械変換素子である。図2
は、表面弾性波素子の一般的構造を示している。2. Description of the Related Art A surface acoustic wave element is an electro-mechanical conversion element utilizing surface waves propagating on the surface of an elastic body. Figure 2
Shows the general structure of a surface acoustic wave device.
【0003】図2を参照して、表面弾性波素子10は、
圧電体11の上に1対のくし型電極12および13を形
成することにより構成されている。Referring to FIG. 2, the surface acoustic wave device 10 is
It is configured by forming a pair of comb-shaped electrodes 12 and 13 on the piezoelectric body 11.
【0004】くし型電極12に電気信号を印加すると、
圧電体11に歪が生じ、この歪が表面弾性波となって圧
電体11を伝搬し、もう一方のくし型電極13で電気信
号として取出される。このように表面弾性波素子では、
表面波の励振に圧電体の圧電現象が利用される。When an electric signal is applied to the comb-shaped electrode 12,
Strain occurs in the piezoelectric body 11, and this strain becomes a surface acoustic wave, propagates through the piezoelectric body 11, and is taken out as an electric signal by the other comb-shaped electrode 13. Thus, in the surface acoustic wave device,
The piezoelectric phenomenon of the piezoelectric body is used to excite surface waves.
【0005】この素子の周波数特性は、図2に示すよう
に、くし型電極における電極の周期をλ0 、表面弾性波
の速度をνとすれば、f0 =ν/λ0 で定められる周波
数f 0 を中心とした帯域通過特性となる。The frequency characteristic of this element is as shown in FIG.
And the electrode period in the comb electrode is λ0, Surface acoustic wave
Let ν be the speed of0= Ν / λ0Frequency determined by
Number f 0The band pass characteristic is centered around.
【0006】表面弾性波素子は部品点数が少なく、小型
にすることができ、しかも表面波の伝搬経路上において
信号の出入れが容易である。この素子は、フィルタ、遅
延線、発振器、共振器、コンボルバ、および相関器等に
応用することができる。The surface acoustic wave device has a small number of parts, can be made compact, and can easily input and output signals on the propagation path of the surface wave. This element can be applied to filters, delay lines, oscillators, resonators, convolvers, correlators, and the like.
【0007】特に、表面弾性波フィルタは、早くからテ
レビの中間周波数フィルタとして実用化され、さらにV
TRおよび各種の通信機器用フィルタに応用されてきて
いる。In particular, the surface acoustic wave filter has been put into practical use as an intermediate frequency filter for television from an early stage, and further V
It has been applied to TRs and filters for various communication devices.
【0008】この表面弾性波素子は、LiNbO3 およ
びLiTaO3 等の圧電体単結晶上にくし型電極を形成
することによって製造されてきた。近年、ZnO等の圧
電体薄膜をガラス等の基板上にスパッタ等の技術で成膜
したものが用いられるようになってきている。しかしな
がら、ガラス上に成膜したZnO等の圧電体薄膜は通常
配向性のある多結晶質であり、散乱による損失が多く、
100MHz以上の高周波帯で使用するには適していな
かった。This surface acoustic wave device has been manufactured by forming a comb-shaped electrode on a piezoelectric single crystal such as LiNbO 3 and LiTaO 3 . In recent years, a piezoelectric thin film such as ZnO formed on a substrate such as glass by a technique such as sputtering has been used. However, a piezoelectric thin film such as ZnO formed on glass is usually oriented polycrystalline and has a large loss due to scattering.
It was not suitable for use in the high frequency band above 100 MHz.
【0009】一方、移動通信等の分野に用いられる表面
弾性波フィルタにおいては、より高い周波数域で使用で
きる素子が望まれている。上述したように、電極周期λ
0 がより小さくなるか、あるいは表面波の速度νがより
大きくなれば、素子の周波数特性はより高い中心周波数
f0 を有するようになる。On the other hand, in the surface acoustic wave filter used in the field of mobile communication and the like, an element which can be used in a higher frequency band is desired. As described above, the electrode period λ
When 0 becomes smaller or the velocity ν of the surface wave becomes larger, the frequency characteristic of the element has a higher center frequency f 0 .
【0010】そこで、弾性波がより速く伝搬される材
料、たとえばサファイアおよびダイヤモンド等の上に圧
電体膜を積層させた表面弾性波素子が開発されてきてい
る(たとえば、特開昭54−38874および特開昭6
4−62911)。Therefore, a surface acoustic wave device has been developed in which a piezoelectric film is laminated on a material that allows elastic waves to propagate faster, such as sapphire and diamond (see, for example, JP-A-54-38874 and JP-A-6
4-62911).
【0011】特に、ダイヤモンド中における音速は最も
速く、さらに熱的および化学的にも安定であるので、表
面弾性波素子を形成する基板としてダイヤモンドが注目
されている。ダイヤモンドを用いる表面弾性波素子は、
生産性および価格の面から、基板上にダイヤモンド薄膜
を形成し、このダイヤモンド薄膜上に圧電体薄膜を形成
するものが主に検討されている。In particular, diamond has attracted attention as a substrate for forming a surface acoustic wave device because it has the highest sound velocity in diamond and is stable both thermally and chemically. The surface acoustic wave device using diamond is
From the viewpoint of productivity and cost, a method of forming a diamond thin film on a substrate and forming a piezoelectric thin film on the diamond thin film is mainly studied.
【0012】図3は、従来の表面弾性波素子を示す断面
図である。図3を参照して、たとえばシリコンなどから
なる基板21の上に、ダイヤモンド薄膜22が形成され
ている。このダイヤモンド薄膜22の上に金属薄膜をエ
ッチングすることによりパターニングされた金属くし型
電極23が形成されている。この金属くし型電極23が
形成されたダイヤモンド薄膜22の上に圧電体層として
ZnO膜24が形成されている。FIG. 3 is a sectional view showing a conventional surface acoustic wave device. Referring to FIG. 3, a diamond thin film 22 is formed on a substrate 21 made of, for example, silicon. On the diamond thin film 22, a metal comb-shaped electrode 23 patterned by etching a metal thin film is formed. A ZnO film 24 is formed as a piezoelectric layer on the diamond thin film 22 having the metal comb electrode 23 formed thereon.
【0013】[0013]
【発明が解決しようとする課題】このような従来の表面
弾性波素子において、変換損失の低減を目的として、く
し型電極の部分における抵抗を小さくするため、くし型
電極の厚みを大きくすると、くし型電極部分において大
きな段差が生じ、これが原因で表面弾性波の反射および
散乱等が生じ、表面弾性波の伝搬損失が大きくなってし
まうという問題があった。In such a conventional surface acoustic wave device, if the thickness of the comb-shaped electrode is increased in order to reduce the resistance in the portion of the comb-shaped electrode for the purpose of reducing the conversion loss. There is a problem that a large step is generated in the mold electrode portion, which causes reflection and scattering of the surface acoustic wave, resulting in a large propagation loss of the surface acoustic wave.
【0014】この発明の目的は、このような従来の問題
点を解消し、くし型電極部分の厚みを大きくせずとも、
変換損失の低減を図ることのできる表面弾性波素子を提
供することにある。An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems and to increase the thickness of the comb-shaped electrode portion,
An object is to provide a surface acoustic wave device capable of reducing conversion loss.
【0015】[0015]
【課題を解決するための手段】この発明に従う表面弾性
波素子は、ダイヤモンド層と、ダイヤモンド層上に形成
される圧電体薄膜と、特定の波長の表面弾性波を発生さ
せこれを取出すための1対の電極とを備え、電極の少な
くとも一方が、超電導体から形成されていることを特徴
としている。A surface acoustic wave element according to the present invention is a device for generating and extracting a diamond layer, a piezoelectric thin film formed on the diamond layer, and a surface acoustic wave of a specific wavelength. And a pair of electrodes, and at least one of the electrodes is formed of a superconductor.
【0016】この発明において電極の少なくとも一方を
形成する超電導体は、特に限定されるものではないが、
使用温度の面からは、高い臨界温度を示す酸化物系超電
導材料が好ましい。酸化物系超電導材料としては、ラン
タン系、イットリウム系、ビスマス系、およびタリウム
系などの従来から知られている超電導材料を含めすべて
の酸化物系の超電導材料を用いることができる。また、
この発明の表面弾性波素子では、ダイヤモンドを用いて
いるので、同じ炭素から形成されるC60などの超電導材
料も好ましい。また、これらの超電導材料以外にも金属
系超電導材料および化合物系超電導材料なども使用可能
である。In the present invention, the superconductor forming at least one of the electrodes is not particularly limited,
From the viewpoint of operating temperature, oxide-based superconducting materials exhibiting a high critical temperature are preferable. As the oxide-based superconducting material, all oxide-based superconducting materials including conventionally known superconducting materials such as lanthanum-based, yttrium-based, bismuth-based, and thallium-based materials can be used. Also,
Since diamond is used in the surface acoustic wave device of the present invention, a superconducting material such as C 60 formed of the same carbon is also preferable. In addition to these superconducting materials, metallic superconducting materials and compound superconducting materials can be used.
【0017】この発明においてダイヤモンド層は、シリ
コンなどの基板上に形成されるダイヤモンド薄膜であっ
てもよく、また単結晶のダイヤモンド基板であってもよ
い。In the present invention, the diamond layer may be a diamond thin film formed on a substrate such as silicon, or may be a single crystal diamond substrate.
【0018】ダイヤモンド薄膜を形成する基板として
は、特に限定されないが、たとえば、Si、Mo、W、
GaAs、およびLiNbO3 など半導体材料および無
機材料の基板を用いることができる。The substrate on which the diamond thin film is formed is not particularly limited, but for example, Si, Mo, W,
Substrates of semiconductor and inorganic materials such as GaAs and LiNbO 3 can be used.
【0019】基板上に形成するダイヤモンド薄膜の場合
には、このダイヤモンド薄膜は単結晶であってもよい
し、多結晶であってもよい。またアモルファス状態のダ
イヤモンド状炭素膜であってもよい。In the case of a diamond thin film formed on a substrate, this diamond thin film may be a single crystal or a polycrystal. It may also be an amorphous diamond-like carbon film.
【0020】ダイヤモンド薄膜を基板上に形成させる方
法は、特に限定されるものではないが、たとえば、CV
D法、マイクロ波プラズマCVD法、プラズマCVD
法、PVD法、および熱フィラメント法などの方法を用
いることができる。The method for forming the diamond thin film on the substrate is not particularly limited, but is, for example, CV.
D method, microwave plasma CVD method, plasma CVD
A method such as a method, a PVD method, and a hot filament method can be used.
【0021】原料ガスを分解励起してダイヤモンドを気
相合成法で成長させる方法としては、たとえば、1)熱
電子放射材を1500K以上の温度に加熱して原料ガス
を活性化する方法、2)直流、高周波又はマイクロ波電
界による放電を利用する方法、3)イオン衝撃を利用す
る方法、4)レーザーなどの光を照射する方法、5)原
料ガスを燃焼させる方法、がある。As a method for decomposing and exciting the raw material gas to grow diamond by the vapor phase synthesis method, for example, 1) a method of activating the raw material gas by heating a thermoelectron emitting material to a temperature of 1500 K or higher, 2) There are a method of using discharge by a direct current, a high frequency or a microwave electric field, 3) a method of using ion bombardment, 4) a method of irradiating light such as a laser, and 5) a method of burning a source gas.
【0022】この発明において、使用する原料物質とし
ては、炭素含有化合物が一般的である。この炭素含有化
合物は、好ましくは水素ガスと組合せて用いられる。ま
た必要に応じて、酸素含有化合物および/または不活性
ガスと組合せて用いられる場合もある。In the present invention, the raw material used is generally a carbon-containing compound. This carbon-containing compound is preferably used in combination with hydrogen gas. Further, if necessary, it may be used in combination with an oxygen-containing compound and / or an inert gas.
【0023】炭素含有化合物としては、たとえばメタ
ン、エタン、プロパン、ブタン等のパラフィン系炭化水
素:エチレン、プロピレン、ブチレン等のオレフィン系
炭化水素:アセチレン、アリレン等のアセチレン系炭化
水素:ブタジエン等のジオレフィン系炭化水素:シクロ
プロパン、シクロブタン、シクロペンタン、シクロヘキ
サン等の脂環式炭化水素:シクロブタジエン、ベンゼ
ン、トルエン、キシレン、ナフタレン等の芳香族炭化水
素:アセトン、ジエチルケトン、ベンゾフェノン等のケ
トン類:メタノール、エタノール等のアルコール類:ト
リメチルアミン、トリエチルアミンなどのアミン類:炭
酸ガス、一酸化炭素などを挙げることができる。これら
は、1種を単独で用いることもできるし、2種以上を併
用することもできる。あるいは炭素含有化合物は、グラ
ファイト、石炭、コークスなどの炭素原子のみから成る
物質であってもよい。Examples of the carbon-containing compound include paraffinic hydrocarbons such as methane, ethane, propane and butane: olefinic hydrocarbons such as ethylene, propylene and butylene: acetylene hydrocarbons such as acetylene and allylene: diene such as butadiene Olefinic hydrocarbons: cycloaliphatic hydrocarbons such as cyclopropane, cyclobutane, cyclopentane, and cyclohexane: aromatic hydrocarbons such as cyclobutadiene, benzene, toluene, xylene, and naphthalene: ketones such as acetone, diethyl ketone, and benzophenone: Alcohols such as methanol and ethanol: amines such as trimethylamine and triethylamine: carbon dioxide gas, carbon monoxide and the like. These can be used individually by 1 type and can also use 2 or more types together. Alternatively, the carbon-containing compound may be a substance composed of only carbon atoms, such as graphite, coal or coke.
【0024】酸素含有化合物としては、酸素、水、一酸
化炭素、二酸化炭素、過酸化水素が容易に入手できるゆ
え好ましい。As the oxygen-containing compound, oxygen, water, carbon monoxide, carbon dioxide and hydrogen peroxide are preferable because they are easily available.
【0025】不活性ガスは、たとえば、アルゴン、ヘリ
ウム、ネオン、、クリプトン、キセノン、ラドンであ
る。The inert gas is, for example, argon, helium, neon, krypton, xenon or radon.
【0026】この発明に用いる圧電体薄膜としては、Z
nO、A1N、Pb(Zr,Ti)O3 、(Pb,L
a)(Zr,Ti)O3 、LiTaO3 、LiNb
O3 、SiO2 、Ta2 O5 、Nb2 O5 、BeO、L
i2 B4 O7 、KNbO3 、ZnS、ZnSeおよびC
dSなどを主成分とするものを使用することができ
る。。圧電体薄膜は、単結晶および多結晶のいずれであ
ってもよいが、素子をより高周波域で使用するために
は、表面波の散乱が少ない単結晶がより好ましい。As the piezoelectric thin film used in the present invention, Z
nO, A1N, Pb (Zr, Ti) O 3 , (Pb, L
a) (Zr, Ti) O 3 , LiTaO 3 , LiNb
O 3 , SiO 2 , Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 , BeO, L
i 2 B 4 O 7 , KNbO 3 , ZnS, ZnSe and C
A material containing dS or the like as a main component can be used. .. The piezoelectric thin film may be either a single crystal or a polycrystal, but in order to use the device in a higher frequency range, a single crystal with less scattering of surface waves is more preferable.
【0027】ZnO、AlNおよびPb(Zr,Ti)
O3 等の圧電体層は、CVD法により形成することがで
きる。ZnO, AlN and Pb (Zr, Ti)
The piezoelectric layer such as O 3 can be formed by the CVD method.
【0028】この発明において超電導体から形成する電
極としては、一般にくし型電極またはインタデジタル・
トランスデューサ(IDT)電極と称される電極があ
る。この電極は、たとえば全体に超電導体の薄膜を形成
させた後にエッチングしてパターニングし作製すること
ができる。このようなエッチングは、たとえばリン酸な
どを用いたウェットエッチングや、ハロゲンガスを用い
たプラズマエッチングならびに反応性イオンエッチング
などで行なうことができる。また、マスクなどを用いて
電極を形成する部分にのみ超電導体薄膜を形成しパター
ニングしてもよい。さらに、全体に超電導体の薄膜を形
成した後、電子線照射などを用いて所定の電極の部分の
みを超電導相に他の部分を非超電相になるようにパター
ニングする方法を採用してもよい。In the present invention, the electrode formed of a superconductor is generally a comb-shaped electrode or an interdigital electrode.
There are electrodes called transducer (IDT) electrodes. This electrode can be manufactured, for example, by forming a thin film of a superconductor on the entire surface and then etching and patterning the thin film. Such etching can be performed by, for example, wet etching using phosphoric acid or the like, plasma etching using a halogen gas, reactive ion etching, or the like. Further, the superconductor thin film may be formed and patterned only on the portions where the electrodes are formed using a mask or the like. Furthermore, a method of forming a thin film of a superconductor on the whole surface and then patterning it by using electron beam irradiation so that only a predetermined electrode portion becomes a superconducting phase and the other portion becomes a non-superconducting phase may be adopted. Good.
【0029】また、この発明において形成される電極の
位置は、特に限定されるものではなく、ダイヤモンド層
と圧電体薄膜との間に形成させてもよいし、圧電体薄膜
の上に形成させてもよい。また短絡電極が併せて設けら
れるような表面弾性波素子であってもよい。The position of the electrode formed in the present invention is not particularly limited, and it may be formed between the diamond layer and the piezoelectric thin film, or may be formed on the piezoelectric thin film. Good. Further, it may be a surface acoustic wave device in which a short-circuit electrode is also provided.
【0030】この発明において形成される超電導体電極
の厚みは、特に限定されるものではないが、電極として
の性能の面からは、30Å以上あることが好ましい。ま
た電極形成によって生ずる段差を小さくするためには、
300Å以下の厚みであることが好ましい。The thickness of the superconductor electrode formed in the present invention is not particularly limited, but from the viewpoint of the performance as an electrode, it is preferably 30 Å or more. Also, in order to reduce the step caused by the electrode formation,
The thickness is preferably 300 Å or less.
【0031】[0031]
【発明の作用効果】この発明に従う表面弾性波素子で
は、電極の少なくとも一方が超電導体から形成されてい
る。したがって、この超電導体の臨界温度以下で使用す
ることにより、電極における抵抗をほぼ0にすることが
でき、変換損失を著しく低減させることができる。また
電極の厚みを薄くすることができるので、表面弾性波の
伝搬損失を低減させることができる。In the surface acoustic wave device according to the present invention, at least one of the electrodes is made of a superconductor. Therefore, by using the superconductor at a temperature not higher than the critical temperature, the resistance at the electrode can be made almost zero, and the conversion loss can be significantly reduced. Moreover, since the thickness of the electrode can be reduced, the propagation loss of the surface acoustic wave can be reduced.
【0032】[0032]
【実施例】シリコン基板の上にマイクロ波CVD法によ
りダイヤモンド薄膜を成長させた。原料ガスとしてはH
2 およびCH4 を用い、CH4 を全体の0.5%となる
ように混合し、この混合ガスを、全流量が約20scc
mとなるように反応室内導入し、反応室内の圧力を約4
0Torrに維持した。マイクロ波パワー400Wで、
放電してプラズマ状態として、ダイヤモンド薄膜を厚み
25μmとなるよう成長させた。基板温度は約850℃
とした。Example A diamond thin film was grown on a silicon substrate by the microwave CVD method. H as source gas
With 2 and CH 4, were mixed to 0.5% of the total of CH 4, the mixed gas, the total flow rate of about 20scc
It is introduced so that it becomes m, and the pressure in the reaction chamber is about 4
Maintained at 0 Torr. With microwave power of 400W,
A diamond thin film was grown to a thickness of 25 μm in a plasma state by discharging. Substrate temperature is about 850 ° C
And
【0033】ダイヤモンド薄膜成長後、YBa2 Cu3
O7-x の組成の超電導体をスパッタリングにより成長さ
せた。ダイヤモンド薄膜は数十ミクロン以上成長する
と、(110)配向が主になるため、この上に成長させ
る超電導体は主にC軸配向する。したがって格子不整合
率は1.9%になる。After growing the diamond thin film, YBa 2 Cu 3
A superconductor having a composition of O 7-x was grown by sputtering. When the diamond thin film grows to several tens of microns or more, the (110) orientation becomes predominant, so that the superconductor grown on this has the C axis orientation mainly. Therefore, the lattice mismatch rate is 1.9%.
【0034】YBa2 Cu3 O7-x 超電導体を10単位
セル分、すなわち約120Åの厚みに成長させた。この
薄膜の臨界温度は79Kであった。A YBa 2 Cu 3 O 7-x superconductor was grown to a thickness of 10 unit cells, that is, about 120Å. The critical temperature of this thin film was 79K.
【0035】この超電導薄膜をフォトリソグラフィとウ
エットエッチングにより、くし型電極となるようにパタ
ーニングした。この上に圧電体薄膜としてのZnO薄膜
を1.9μmの厚みで形成した。このZnO薄膜は、マ
グネトロンスパッタ装置を用いて形成した。This superconducting thin film was patterned by photolithography and wet etching so as to form a comb-shaped electrode. A ZnO thin film as a piezoelectric thin film was formed thereon with a thickness of 1.9 μm. This ZnO thin film was formed using a magnetron sputtering device.
【0036】図1は、以上のようにして作製したこの発
明に従う表面弾性波素子を示す断面図である。図1を参
照して、基板1の上にはダイヤモンド薄膜2が形成さ
れ、このダイヤモンド薄膜2上に超電導体くし型電極3
が形成されている。この超電導体くし型電極3が形成さ
れたダイヤモンド薄膜2の上にZnO膜が形成されてい
る。FIG. 1 is a sectional view showing the surface acoustic wave device according to the present invention manufactured as described above. Referring to FIG. 1, a diamond thin film 2 is formed on a substrate 1, and a superconductor comb-shaped electrode 3 is formed on the diamond thin film 2.
Are formed. A ZnO film is formed on the diamond thin film 2 on which the superconductor comb-shaped electrode 3 is formed.
【0037】以上のようにして得られたこの発明に従う
実施例の表面弾性波素子の77Kにおける挿入損失は、
1.2GHzで、18dBであった。The insertion loss at 77K of the surface acoustic wave device of the example according to the present invention obtained as described above is
It was 18 dB at 1.2 GHz.
【0038】比較として、くし型電極を超電導体ではな
く従来から用いられているアルミニウム金属から形成し
た表面弾性波素子を作製した。アルミニウムくし型電極
の厚みは700Åとし、スパッタリングにより成長さ
せ、反応性イオンエッチングによりパターニングした。
このようにして得られた比較の表面弾性波素子は、77
k、1.2GHzで、22dBの挿入損失であった。For comparison, a surface acoustic wave device was produced in which the comb-shaped electrode was formed of aluminum metal which has been conventionally used instead of a superconductor. The aluminum comb electrode had a thickness of 700 Å, was grown by sputtering, and was patterned by reactive ion etching.
The comparative surface acoustic wave device thus obtained has a thickness of 77
The insertion loss was 22 dB at k and 1.2 GHz.
【0039】以上のことから明らかなように、この発明
に従い、超電導体によりくし型電極を形成した表面弾性
波素子は、従来の表面弾性波素子に比べ挿入損失が低減
されることがわった。As is clear from the above, according to the present invention, the surface acoustic wave device in which the comb-shaped electrode is formed by the superconductor has lower insertion loss than the conventional surface acoustic wave device.
【図1】この発明に従う一実施例を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment according to the present invention.
【図2】表面弾性波素子の一般的構造を示す斜視図であ
る。FIG. 2 is a perspective view showing a general structure of a surface acoustic wave device.
【図3】従来の表面弾性波素子を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a conventional surface acoustic wave device.
1 基板 2 ダイヤモンド薄膜 3 超電導体くし型電極 4 ZnO膜 1 substrate 2 diamond thin film 3 superconductor comb-shaped electrode 4 ZnO film
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤森 直治 兵庫県伊丹市昆陽北一丁目1番1号 住友 電気工業株式会社伊丹製作所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Naoji Fujimori 1-1-1 Kunyokita, Itami City, Hyogo Prefecture Sumitomo Electric Industries, Ltd. Itami Works
Claims (1)
形成される圧電体薄膜と、特定の波長の表面弾性波を発
生させこれを取出すための1対の電極とを備える表面弾
性波素子において、 前記電極の少なくとも一方が、超電導体から形成されて
いることを特徴とする、表面弾性波素子。1. A surface acoustic wave device comprising a diamond layer, a piezoelectric thin film formed on the diamond layer, and a pair of electrodes for generating and extracting a surface acoustic wave of a specific wavelength, wherein: A surface acoustic wave device, wherein at least one of the electrodes is formed of a superconductor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24802991A JPH0590874A (en) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | Surface acoustic wave element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24802991A JPH0590874A (en) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | Surface acoustic wave element |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0590874A true JPH0590874A (en) | 1993-04-09 |
Family
ID=17172144
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24802991A Pending JPH0590874A (en) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | Surface acoustic wave element |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0590874A (en) |
Cited By (3)
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US5426340A (en) * | 1993-01-29 | 1995-06-20 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Surface acoustic wave device and method of manufacturing the same |
US5446329A (en) * | 1992-09-14 | 1995-08-29 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Surface acoustic wave element |
US6416865B1 (en) | 1998-10-30 | 2002-07-09 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Hard carbon film and surface acoustic-wave substrate |
-
1991
- 1991-09-26 JP JP24802991A patent/JPH0590874A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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